JP4366436B2 - Recording apparatus, data processing apparatus and mask manufacturing method - Google Patents

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Description

本発明は、記録装置、データ処理装置およびマスク製造方法に関する。 The present invention relates to a recording apparatus , a data processing apparatus, and a mask manufacturing method.

インクジェットプリンタでは、いわゆるマルチパス記録方式が広く採用されている。マルチパス記録方式は、画像の任意の領域を見たときにその領域の画像を構成するインクドットを記録ヘッドの複数回の走査で分割して形成する方式である。この方式によれば、インクを吐出するノズル(ないし吐出口)ごとのインク吐出方向など吐出性能のばらつきや記録用紙の搬送誤差などに起因した濃度ムラなどを複数回の走査に分散することができる。これにより、濃度ムラが目立たない高品位の画像を記録することが可能となる。   In the ink jet printer, a so-called multi-pass recording method is widely adopted. The multi-pass printing method is a method in which when an arbitrary area of an image is viewed, ink dots constituting the image in that area are divided and formed by a plurality of scans of the print head. According to this method, it is possible to disperse unevenness due to variations in ejection performance, such as the ink ejection direction for each nozzle (or ejection port) that ejects ink, and due to transport errors in the recording paper, etc., to multiple scans. . As a result, it is possible to record a high-quality image in which density unevenness is not noticeable.

ところで、記録画像を構成する複数のインクドットを複数回の走査に分割して形成するためのドット記録データの生成は、一般にはマスクパターン(単に、「マスク」ともいう)を用いたマスク処理にて行う。マスクパターンは、後述する図5に示されるように、記録を許容する画素(以下、「記録許容画素」とも言う)と記録を許容しない画素(以下、「非記録許容画素」とも言う)とを配列したものである。記録許容画素は図5の黒で示される部分に相当し、非記録許容画素は白で示される部分に相当する。そして、このマスクパターンにおける記録許容画素の配置を工夫することによって、複数回のそれぞれの走査で記録するドット数を調整したり、上記濃度ムラを解消したりするなど様々な目的に応じた形態をとることができる。   By the way, the generation of dot recording data for forming a plurality of ink dots constituting a recording image by dividing it into a plurality of scans is generally performed by mask processing using a mask pattern (also simply referred to as “mask”). Do it. As shown in FIG. 5 to be described later, the mask pattern includes pixels that allow recording (hereinafter also referred to as “recording allowable pixels”) and pixels that do not allow recording (hereinafter also referred to as “non-recording allowable pixels”). It is an arrangement. The print permitting pixel corresponds to a portion indicated by black in FIG. 5, and the non-recording permitting pixel corresponds to a portion indicated by white. Then, by devising the arrangement of the print permitting pixels in this mask pattern, it is possible to adjust the number of dots to be recorded in each of a plurality of scans, or to eliminate the above-described density unevenness, etc. Can take.

例えば、以下のような2種類のマスクパターンが画質上の問題に有効である。   For example, the following two types of mask patterns are effective for image quality problems.

典型的なマスクパターンとして、ベイヤー型のパターンをベースにしたマスクパターンがある。しかしながら、このようなパターンは規則的であるため、画像データと干渉が起こりやすく、画質上の問題が起こる場合がある。   As a typical mask pattern, there is a mask pattern based on a Bayer pattern. However, since such a pattern is regular, interference with image data is likely to occur, and image quality problems may occur.

そこで、特許文献2では、マスクパターンにおける記録許容画素の配置にランダム性をもたせ、このようなランダム性を有したマスクパターン(以下、ランダムマスクともいう)を用いることで画像データとの干渉が起こりにくくしている。これにより上記問題が向上する。   Therefore, in Patent Document 2, there is randomness in the arrangement of print permitting pixels in the mask pattern, and interference with image data occurs by using such a random mask pattern (hereinafter also referred to as a random mask). It is difficult. This improves the above problem.

一方、特許文献1では、マスクパターンにおける記録許容画素の配置を分散性に優れたものとし、このような分散性の高いマスクパターンを用いて双方向記録時のドット形成位置のずれによる画像品位の低下を抑制することが記載されている。すなわち、同文献に記載のマスクにおける記録許容画素の配置は、斥力ポテンシャルの概念を用いて良好に分散させたものである。換言すれば、このマスクパターンは、それを用いて形成されるドット同士が近接して配置されることをできるだけ避けるように生成され、これにより、記録許容画素の配置を周波数成分で見たとき低周波数成分が少ないものとなる。そして、このマスクを用いることにより、双方向記録でドット形成位置のずれが生じ、そのずれによって記録画像にマスクパターン自体の模様(テクスチャー)が仮に顕在化しても、それが良好に分散していることにより視認し難くすることができる。   On the other hand, in Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-260260, the arrangement of the print permitting pixels in the mask pattern is excellent in dispersibility, and the image quality due to the deviation of the dot formation position during bidirectional printing using such a mask pattern with high dispersibility is used. It is described that the decrease is suppressed. That is, the arrangement of the print permitting pixels in the mask described in the document is well dispersed using the concept of repulsive potential. In other words, this mask pattern is generated so as to avoid as close as possible the dots formed by using the mask pattern from each other. The frequency component is small. By using this mask, a dot formation position shift occurs in bidirectional recording, and even if the mask pattern itself (texture) appears in the recorded image due to the shift, it is well dispersed. This can make it difficult to visually recognize.

特開2002−144552号公報JP 2002-144552 A 特開平7−052390号公報Japanese Patent Laid-Open No. 7-052390 特開2002−96455号公報JP 2002-96455 A

ところで、近年のインクジェット記録システムでは、その高速化、高密度化、また、インクの種類の多様化に伴い、単位時間当たりに付与されるインク量や記録媒体の単位面積あたりに付与されるインクの量が増大する傾向にある。このため、これまで以上に重要な課題としてビーディング問題があげられる。ビーディングは、記録媒体で吸収しきれないインクが媒体上で接触して連なり、それが記録画像においてムラなどの原因となるものである。   By the way, in recent inkjet recording systems, with the increase in speed and density, and the diversification of ink types, the amount of ink applied per unit time and the amount of ink applied per unit area of the recording medium are increased. The amount tends to increase. For this reason, the beading problem is given as a more important issue than ever. In the beading, ink that cannot be absorbed by the recording medium comes in contact with each other on the medium, which causes unevenness in the recorded image.

ビーディングを低減させるには、短い時間内に付与されるインクを極力異なる位置に配置することが重要である。このために、各色インク毎に、極力異なるマスクパターンを用いるのが有効である。こうすることで、異なる色のインク同士が同じ場所に打ち込まれる確率を下げることができる。   In order to reduce beading, it is important to dispose the ink applied within a short time at different positions as much as possible. For this reason, it is effective to use different mask patterns as much as possible for each color ink. By doing so, it is possible to reduce the probability that different color inks are driven into the same place.

しかしながら、マスクパターンを色毎に異ならせるだけでは、ビーディングの低減は十分ではない。   However, merely reducing the mask pattern for each color does not reduce the beading sufficiently.

図86(a)〜(c)はこの問題を説明する図である。同図は、マルチパス記録におけるある走査でシアン、マゼンタ、イエローの順でそれぞれのインクが記録媒体に打ち込まれて行く過程を示している。図86(a)に示すように、未だ何も打ち込まれていない記録媒体に先ずシアンインクが吐出される。このとき、それぞれのシアンインクが打ち込まれる位置は用いているマスクの記録許容画素の配置に従うことはもちろんである。そして、このインクが記録媒体に完全に吸収される前は、記録媒体上に上記マスクに従った配置でシアンインク滴10Cが存在する。次に、図86(b)に示すように、マゼンタインクが、同様に対応するマスクに従った位置に吐出され、同様に吸収前にはインク滴10Mを形成する。ここで、シアンインクとマゼンタインクについてそれぞれ用いるマスクの記録許容画素配置の関係によっては、シアンインク滴10Cとマゼンタインク滴10Mとが接して連結したインク滴10B(図中、×印を付したもの)を形成することがある。さらに、図86(c)に示すように、イエローインクが、同様に、対応するマスクに従った位置に吐出され吸収前にはインク滴10Yを形成する。この場合も、それぞれのインクについて用いるマスクの記録許容画素配置の関係によって、連結したインク滴10B(図中、×印を付したもの)を形成する。さらに走査が重ねられて、画素に対するインク滴の比率が高くとなると、同じ画素にインク滴が重ねて吐出されることもあり、同様の連結したインク滴を形成する。   86 (a) to 86 (c) are diagrams for explaining this problem. This figure shows a process in which each ink is driven into a recording medium in the order of cyan, magenta, and yellow in a certain scan in multi-pass printing. As shown in FIG. 86 (a), cyan ink is first ejected onto a recording medium on which nothing has been printed yet. At this time, it goes without saying that the positions where the respective cyan inks are applied follow the arrangement of the print permitting pixels of the mask used. Before the ink is completely absorbed by the recording medium, the cyan ink droplet 10C exists on the recording medium in an arrangement according to the mask. Next, as shown in FIG. 86B, magenta ink is similarly ejected to a position according to the corresponding mask, and similarly forms an ink droplet 10M before absorption. Here, depending on the relationship of the printable pixel arrangement of the mask used for each of the cyan ink and magenta ink, the ink droplet 10B in which the cyan ink droplet 10C and the magenta ink droplet 10M are in contact with each other (those marked with an X in the figure). ) May form. Further, as shown in FIG. 86 (c), the yellow ink is similarly ejected to a position according to the corresponding mask to form an ink droplet 10Y before absorption. Also in this case, the connected ink droplets 10B (marked with x in the figure) are formed according to the relationship of the print permitting pixel arrangement of the mask used for each ink. When the scanning is further repeated and the ratio of the ink droplets to the pixels becomes high, the ink droplets may be ejected in the same pixel, and the same connected ink droplets are formed.

このように、順次吐出されるインク滴が隣接ないし近接する画素あるいは同じ画素に付与される場合には、互いが接触して相互の表面張力によって引き合い、2つ分あるいは3つ分の(あるいはそれ以上の)インク滴が合体した大きな滴10B(グレイン)を形成する。一度このようなグレインが形成されると、次に隣接ないし近接した位置に付与されたインク滴はそのグレインに引き寄せられ易くなる。すなわち、最初に発生したグレインが核となって徐々に成長し、やがて大きなグレインを生成する。そして、特に一様な画像領域では、このようなグレインが記録媒体に定着したものが不規則に散らばった状態で散在し、ビーディングとして視認されることとなる。   In this way, when ink droplets that are sequentially ejected are applied to adjacent or adjacent pixels or the same pixel, they contact each other and attract each other by the surface tension of two or three (or more) A large droplet 10B (grain) in which the ink droplets are combined is formed. Once such a grain is formed, the ink droplet applied to the next or adjacent position is likely to be attracted to the grain. That is, the first generated grain gradually grows as a nucleus and eventually produces large grains. In particular, in a uniform image area, the grains fixed on the recording medium are scattered in an irregular manner and are visually recognized as beading.

また、マスクパターンは、一般にそのパターンを2次元方向に繰り返して用いる。このため、上述したグレインの分布は、マスクパターンの繰り返し周期の模様として人間の目に知覚されやすくなってしまう。   In general, a mask pattern is repeatedly used in a two-dimensional direction. For this reason, the above-described grain distribution is likely to be perceived by the human eye as a pattern of the mask pattern repetition period.

これらの問題は、特許文献1、2に記載のマスクパターンでは解消できない。なぜなら、これら特許文献1,2では、異なる色のマスクパターン間で分散を考慮して設計をしていないからである。   These problems cannot be solved by the mask patterns described in Patent Documents 1 and 2. This is because these Patent Documents 1 and 2 do not design in consideration of dispersion between mask patterns of different colors.

異なる色間でこのような関連性を持たせたマスク設計を行っていない特許文献1、2のマスクでは、異なる色同士のマスクを重ねたときの記録許容画素の配置はその分散が悪く、分割記録の途中の画像(中間画像)におけるドットの隣接やさらにはドットの重なりを避けることができない。   In the masks of Patent Documents 1 and 2 in which the mask design with such a relationship between different colors is not performed, the arrangement of the recordable pixels when the masks of different colors are overlapped is poorly distributed. It is impossible to avoid adjacent dots or overlapping dots in an image in the middle of recording (intermediate image).

本発明は、上述した問題点を解消するためになされたものであり、その目的とするところは、分割記録の途中におけるグレインが原因で生じるビーディングによる画質劣化を軽減できる記録装置およびデータ処理装置およびマスク製造方法を提供することにある。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a recording apparatus and a data processing apparatus that can reduce image quality deterioration due to beading caused by grains in the middle of divided recording. And a mask manufacturing method.

なお、上記グレインは、インク同士の表面張力によってのみ生じるものではない。例えば、インクとこれを凝集あるいは不溶化させる処理液など、互いに反応し合う液体が同じ走査で付与される場合、接触した各液滴は、より強固な化学反応によって結合され、これがグレインを形成する場合もある。また、同色のインクが同じ走査で付与される場合も、これらの間でグレインが発生する。従って、本発明の別の目的は、このようなグレインが原因で生じる問題点も解決するものである。   The grain is not generated only by the surface tension between the inks. For example, when liquids that react with each other, such as ink and a treatment liquid that agglomerates or insolubilizes them, are applied in the same scan, each contacted droplet is bound by a stronger chemical reaction, which forms a grain. There is also. Also, when ink of the same color is applied in the same scan, grain occurs between them. Therefore, another object of the present invention is to solve the problems caused by such grains.

上記課題を解決するために本発明は、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1、第2および第3マスクパターンの論理積これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記3つのマスクパターンの論理積を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とする。 In order to solve the above problems, the present invention provides a first nozzle group for forming a first type of dot, a second nozzle group for forming a second type of dot, and a third type of dot. A recording apparatus for recording an image in the predetermined area by scanning a predetermined area of a recording medium a plurality of times with an inkjet recording head having at least a third nozzle group for forming dots. Using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to a plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group is used for each of the plurality of scans. first means for dividing the using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, to be recorded in the predetermined region by the second nozzle group Using a second means for dividing the image data into image data used in each of the plurality of scans, the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, said third nozzle group wherein said image data to be recorded in a predetermined area and a third means for dividing the image data used in each of the plurality of scans, corresponding to a predetermined scanning of the plurality of times of scanning by the first first mask patterns included in one pattern group, the third included in the third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan mask pattern, respectively, different arrangement of print permitting pixels, use of the first, the three mask patterns a logical product of the second and third mask patterns The low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing, based on the correspondence relationship, obtained by performing on the basis of the different relationship from that of the in use relationship a logical product of the three mask patterns It is characterized in that it is less than the low frequency component of the array pattern of the recording allowable pixels.

他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1、第2および第3マスクパターンの論理和これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記3つのマスクパターンの論理和を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とする記録装置。 In another embodiment, a first nozzle group for forming the first type of dot, a second nozzle group for forming the second type of dot, and a third type of dot for forming the dot A recording apparatus that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times with an ink jet recording head having at least a third nozzle group and records an image in the predetermined area, and supports the plurality of scans First means for dividing image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group into image data used for each of the plurality of scans using the first pattern group having the plurality of mask patterns. When using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, said second of said plurality of image data to be recorded in the predetermined area by the nozzle group Using a second means for dividing the into image data used in scanning each of the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plural scans, recorded in the predetermined area by the third nozzle group And third means for dividing the image data to be divided into image data used in each of the plurality of scans , and is included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan among the plurality of scans the first mask pattern, the third mask pattern contained in said third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning included in the second pattern group corresponding to the predetermined scanning, respectively , different arrangement of print permitting pixels, based on the logical sum of said first, second and third mask patterns on a corresponding relationship when using these three mask patterns Low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing, said three arrays of print permitting pixels obtained by performing based on different correspondence logical OR of the mask pattern and the corresponding relationship between the time of the use A recording apparatus characterized by being less than low frequency components of a pattern.

さらに他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1、第2および第3マスクパターンをこれら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて論理積することによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1、第2および第3マスクパターンを前記使用時の対応関係とは異なる対応関係に基づいて論理積することによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少なく、前記第1、第2および第3マスクパターンを前記使用時の対応関係に基づいて論理和することによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1、第2および第3マスクパターンを前記使用時の対応関係とは異なる対応関係に基づいて論理和することによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とする。 In yet another embodiment, a first nozzle group for forming a first type of dot, a second nozzle group for forming a second type of dot, and a third type of dot are formed. A recording apparatus that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times with an inkjet recording head having at least a third nozzle group and records an image in the predetermined area, A first pattern group having a plurality of corresponding mask patterns is used to divide image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group into image data used in each of the plurality of scans. using the second pattern group having a means, a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, before the image data to be recorded in the predetermined area by said second nozzle group Using a second means for dividing the image data used in each of the plurality of scans, the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the predetermined region by the third nozzle group And a third means for dividing the image data to be recorded into image data used in each of the plurality of scans , the first pattern group corresponding to a predetermined scan among the plurality of scans. first mask patterns included, the third mask pattern contained in said third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan each different arrangement of print permitting pixels, said first, second and third mask pattern based on the corresponding relationship when using these three mask patterns Low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by Riseki, the first, to logical product based on a different relationship than the relationship of the time using the second and third mask patterns less than the low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by the first, the print permitting pixels obtained by ORing the basis of the second and third mask patterns on a corresponding relationship during the use low frequency components of the arrangement pattern, the first, low arrangement pattern of print permitting pixels obtained by ORing based on a different relationship to the second and third mask pattern during the use relationship Fewer than frequency components.

さらに他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1、第2および第3マスクパターンの論理積をこれら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンにおける低周波数成分が高周波数成分よりも少ないことを特徴とする。 In yet another embodiment, a first nozzle group for forming a first type of dot, a second nozzle group for forming a second type of dot, and a third type of dot are formed. A recording apparatus that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times with an inkjet recording head having at least a third nozzle group and records an image in the predetermined area, A first pattern group having a plurality of corresponding mask patterns is used to divide image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group into image data used in each of the plurality of scans . first means, said plurality of times of using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the scanning, the image data to be recorded in the predetermined region by the second nozzle group The use of the third pattern group having a second means for dividing the image data used in each of the plurality of scans, a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, said third nozzle group and a third means for dividing the image data to be recorded in the predetermined area in the image data used in each of the plurality of scans by corresponding to a predetermined scanning of the plurality of scans included in the first mask pattern, the predetermined said third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning included in the second pattern group corresponding to scanning included in the first pattern group the third mask pattern, respectively, different arrangement of the print permitting pixels, the first, of a logical product of the second and third mask pattern three mask patterns Low frequency components in the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing, based on the correspondence between the time of use is equal to or less than the high frequency components.

さらに他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配列パターンは、非周期で且つ低周波数成分が高周波数成分よりも少ないことを特徴とする。 In yet another embodiment, a first nozzle group for forming a first type of dot, a second nozzle group for forming a second type of dot, and a third type of dot are formed. A recording apparatus that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times with an inkjet recording head having at least a third nozzle group and records an image in the predetermined area, A first pattern group having a plurality of corresponding mask patterns is used to divide image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group into image data used in each of the plurality of scans . first means, said plurality of times of using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the scanning, the image data to be recorded in the predetermined region by the second nozzle group The use of the third pattern group having a second means for dividing the image data used in each of the plurality of scans, a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, said third nozzle group and a third means for dividing the image data to be recorded in the predetermined area in the image data used in each of the plurality of scans by corresponding to a predetermined scanning of the plurality of scans included in the first mask pattern, the predetermined said third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning included in the second pattern group corresponding to scanning included in the first pattern group the third mask pattern, respectively, different arrangement of the print permitting pixels, and the first mask pattern and the second mask pattern of the third mask pattern The arrangement pattern of print permitting pixels obtained by Riseki is and the low frequency components in a non-cycle, characterized in that less than the high frequency components.

さらに他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1、第2および第3マスクパターンの論理和これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンにおける低周波数成分が高周波数成分よりも少ないことを特徴とする。 In yet another embodiment, a first nozzle group for forming a first type of dot, a second nozzle group for forming a second type of dot, and a third type of dot are formed. A recording apparatus that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times with an inkjet recording head having at least a third nozzle group and records an image in the predetermined area, A first pattern group having a plurality of corresponding mask patterns is used to divide image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group into image data used in each of the plurality of scans . first means, said plurality of times of using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the scanning, the image data to be recorded in the predetermined region by the second nozzle group The use of the third pattern group having a second means for dividing the image data used in each of the plurality of scans, a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, said third nozzle group and a third means for dividing the image data to be recorded in the predetermined area in the image data used in each of the plurality of scans by corresponding to a predetermined scanning of the plurality of scans included in the first mask pattern, the predetermined said third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning included in the second pattern group corresponding to scanning included in the first pattern group the third mask pattern, respectively, different arrangement of the print permitting pixels, the first, the logical sum of the second and third mask patterns of these three mask patterns Low frequency components in the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing, based on the correspondence between the time of use is equal to or less than the high frequency components.

さらに他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配列パターンは、非周期で且つ低周波数成分が高周波数成分よりも少ないことを特徴とする。 In yet another embodiment, a first nozzle group for forming a first type of dot, a second nozzle group for forming a second type of dot, and a third type of dot are formed. A recording apparatus that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times with an inkjet recording head having at least a third nozzle group and records an image in the predetermined area, A first pattern group having a plurality of corresponding mask patterns is used to divide image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group into image data used in each of the plurality of scans . first means, said plurality of times of using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the scanning, the image data to be recorded in the predetermined region by the second nozzle group The use of the third pattern group having a second means for dividing the image data used in each of the plurality of scans, a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, said third nozzle group and a third means for dividing the image data to be recorded in the predetermined area in the image data used in each of the plurality of scans by corresponding to a predetermined scanning of the plurality of scans included in the first mask pattern, the predetermined said third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning included in the second pattern group corresponding to scanning included in the first pattern group the third mask pattern, respectively, different arrangement of the print permitting pixels, and the first mask pattern and the second mask pattern of the third mask pattern The arrangement pattern of print permitting pixels obtained by physical sum, and low frequency components in a non-cycle, characterized in that less than the high frequency components.

また、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とする。 Further, the first to form a first type of dots nozzle group and the second type of the second to form a dot nozzle group and the third type of dot third to form the recording head having at least a nozzle group, there is provided a data processing apparatus for generating image data used in each of the plurality of times of scanning with respect to a predetermined area of the recording medium, having a plurality of mask patterns corresponding to the plural scans using the first pattern group, by dividing the image data to be recorded in the predetermined area by said first nozzle group, in order to generate the divided image data to be recorded by each scanning of said plurality of times first means, by using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans are recorded in the predetermined area by said second nozzle group Third pattern having by dividing the can image data, second means for generating a divided image data to be recorded by each of the plurality of scans, a plurality of mask patterns corresponding to the plural scans A third means for generating divided image data to be recorded in each of the plurality of scans by dividing the image data to be recorded in the predetermined area by the third nozzle group using a group ; has the door, said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second contained in the second pattern group corresponding to the predetermined scan the third mask pattern contained in the mask pattern and the predetermined said third pattern group corresponding to scanning, each different arrangement of print permitting pixels, the first The low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by the mask pattern logical product of said second mask pattern third mask pattern by performing the corresponding relation during use of the three mask patterns, low-frequency arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a different relationship from that of the in use relationship a logical product of the third mask pattern and the first mask pattern and the second mask pattern Fewer than components.

他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とする。 In another embodiment, the first nozzle group for forming the first type of dot, the second nozzle group for forming the second type of dot, and the third type of dot for forming the dot A data processing device for generating image data used in each of a plurality of scans of a predetermined area of a print medium of a print head having at least a third nozzle group, wherein the plurality of masks correspond to the plurality of scans Using the first pattern group having a pattern , the divided image data to be recorded in each of the plurality of scans is generated by dividing the image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. a first means for, by using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plural scans, serial to the predetermined region by the second nozzle group By dividing the image data to be, first with a second means for generating a divided image data to be recorded by each of the plurality of scans, a plurality of mask patterns corresponding to the plural scans with 3 pattern group, by dividing the image data to be recorded in the predetermined area by the third nozzle group, the first for generating the divided image data to be recorded by each of the plurality of scans 3 and means, included in said plurality of predetermined first mask patterns included in the first pattern group corresponding to the scanning, the second pattern group corresponding to said predetermined scanning of the scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning, respectively, different arrangement of print permitting pixels Low-frequency arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a logical sum of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern corresponding relationship when using these three mask patterns components, arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a different relationship from that of the in use relationship a logical sum of said third mask pattern and the first mask pattern and the second mask pattern Less than the low frequency component.

さらに他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少なく、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和を前記使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とする。 In yet another embodiment, a first nozzle group for forming a first type of dot, a second nozzle group for forming a second type of dot, and a third type of dot are formed. A data processing apparatus for generating image data used in each of a plurality of scans of a predetermined area of a print medium of a print head having at least a third nozzle group, wherein a plurality of scan data corresponding to the plurality of scans Using the first pattern group having a mask pattern , the divided image data to be recorded in each of the plurality of scans is obtained by dividing the image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. using a first means for generating to the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the predetermined territory by the second nozzle group By dividing the image data to be recorded on, second means for generating a divided image data to be recorded by each of the plurality of scans, a plurality of mask patterns corresponding to the plural scans In order to generate divided image data to be recorded in each of the plurality of scans by dividing the image data to be recorded in the predetermined region by the third nozzle group using the third pattern group having and a third means, said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning contained, respectively, the sequence of print permitting pixels Becomes, the arrangement pattern of print permitting pixels obtained a logical product of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern by performing the corresponding relation during use of the three mask patterns low frequency components of the print permitting pixels obtained by performing a different relationship from that of the in use relationship a logical product of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern less than the low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a logical sum of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern in the corresponding relation during the use low frequency components of the arrangement pattern is logical in the first said mask pattern and the second mask pattern of the third mask pattern It is characterized in that it is less than the low-frequency component of the array pattern of the print permitting pixels obtained by performing the logical sum with a correspondence different from the correspondence at the time of use .

さらに他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積をこれら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンは、低周波数成分が高周波数成分よりも少ない特性を有することを特徴とする。 In yet another embodiment, a first nozzle group for forming a first type of dot, a second nozzle group for forming a second type of dot, and a third type of dot are formed. A data processing apparatus for generating image data used in each of a plurality of scans of a predetermined area of a print medium of a print head having at least a third nozzle group, wherein a plurality of scan data corresponding to the plurality of scans Using the first pattern group having a mask pattern , the divided image data to be recorded in each of the plurality of scans is obtained by dividing the image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. using a first means for generating to the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the predetermined territory by the second nozzle group By dividing the image data to be recorded on, second means for generating a divided image data to be recorded by each of the plurality of scans, a plurality of mask patterns corresponding to the plural scans In order to generate divided image data to be recorded in each of the plurality of scans by dividing the image data to be recorded in the predetermined region by the third nozzle group using the third pattern group having and a third means, said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning contained, respectively, the sequence of print permitting pixels Becomes, the arrangement pattern of print permitting pixels obtained a logical product of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern by performing the corresponding relation during use of the three mask pattern The low frequency component has less characteristics than the high frequency component.

さらに他の形態では、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和をこれら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンは、低周波数成分が高周波数成分よりも少ない特性を有することを特徴とする。
さらに、マスクパターンの製造方法であって、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第1のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第1決定工程と、第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第2のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第2決定工程と、第3の種類のドットを形成するための第3のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第3のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第3決定工程と、前記第1決定工程は、前記第2および第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含み、前記第2決定工程は、前記第1および第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含み、前記第3決定工程は、前記第1および第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含むことを特徴とする。
他の形態では、マスクパターンの製造方法であって、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第1のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第1決定工程と、第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第2のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第2決定工程と、第3の種類のドットを形成するための第3のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第3のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第3決定工程と、前記第1決定工程は、前記第2および第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含み、前記第2決定工程は、前記第1および第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含み、前記第3決定工程は、前記第1および第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含むことを特徴とする。
さらに他の形態では、マスクパターンの製造方法であって、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第1のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する決定工程を有し、前記決定工程では、第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第2のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置、および、第3の種類のドットを形成するための第3のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第3のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて、前記第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1のマスクパターンと前記第2のマスクパターンと前記第3のマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくすることを特徴とする。
さらに他の形態では、マスクパターンの製造方法であって、第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第1のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する決定工程を有し、前記決定工程では、第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第2のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置、および、第3の種類のドットを形成するための第3のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第3のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて、前記第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1のマスクパターンと前記第2のマスクパターンと前記第3のマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくすることを特徴とする。
In yet another embodiment, a first nozzle group for forming a first type of dot, a second nozzle group for forming a second type of dot, and a third type of dot are formed. A data processing apparatus for generating image data used in each of a plurality of scans of a predetermined area of a print medium of a print head having at least a third nozzle group, wherein a plurality of scan data corresponding to the plurality of scans Using the first pattern group having a mask pattern , the divided image data to be recorded in each of the plurality of scans is obtained by dividing the image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. using a first means for generating to the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the predetermined territory by the second nozzle group By dividing the image data to be recorded on, second means for generating a divided image data to be recorded by each of the plurality of scans, a plurality of mask patterns corresponding to the plural scans In order to generate divided image data to be recorded in each of the plurality of scans by dividing the image data to be recorded in the predetermined region by the third nozzle group using the third pattern group having and a third means, said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to the second mask pattern and the predetermined scanning contained, respectively, the sequence of print permitting pixels Becomes, the arrangement pattern of print permitting pixels obtained logical sum of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern by performing the corresponding relation during use of the three mask pattern The low frequency component has less characteristics than the high frequency component.
Further, in the mask pattern manufacturing method, the first nozzle group for forming the first type of dots thins out the image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium, thereby the first pattern for the predetermined area. A first determination step of determining an arrangement of print permitting pixels in a first mask pattern for generating image data to be recorded in one scan among a plurality of scans of one nozzle group; One of a plurality of scans of the second nozzle group with respect to the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the second nozzle group for forming the types of dots. A second determination step for determining the arrangement of print-allowable pixels in the second mask pattern for generating image data to be recorded in one scan, and a third type of dot Recording is performed in one scan out of a plurality of scans of the third nozzle group with respect to the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the third nozzle group for forming. A third determination step for determining an arrangement of print permitting pixels in a third mask pattern for generating image data to be performed; and the first determination step includes a print permitting pixel in the second and third mask patterns. By changing the arrangement of the print permission pixels in the first mask pattern based on the arrangement of the first mask pattern, the low frequency of the print permission pixel arrangement pattern obtained by the logical product of the first, second and third mask patterns. Including a step of reducing a component, wherein the second determination step includes the second determination step based on the arrangement of the print permission pixels in the first and third mask patterns. A step of reducing a low-frequency component of an arrangement pattern of print permitting pixels obtained by a logical product of the first, second, and third mask patterns by changing the arrangement of print permitting pixels in the mask pattern, In the third determination step, the first, second and second arrangements are changed by changing the arrangement of the print permitting pixels in the third mask pattern based on the arrangement of the print allowance pixels in the first and second mask patterns. And a step of reducing a low-frequency component of the arrangement pattern of the print permitting pixels obtained by the logical product of the three mask patterns.
In another embodiment, the method of manufacturing a mask pattern, wherein the predetermined area is obtained by thinning out image data to be recorded in a predetermined area of a recording medium by a first nozzle group for forming a first type of dot. A first determining step of determining an arrangement of print permitting pixels in a first mask pattern for generating image data to be printed in one of a plurality of scans of the first nozzle group with respect to The second nozzle group for forming the second type of dots thins out the image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium, thereby performing a plurality of scans of the second nozzle group with respect to the predetermined area. A second determination step for determining the arrangement of print-allowable pixels in the second mask pattern for generating image data to be recorded in one scan, and a third type of One scan out of a plurality of scans of the third nozzle group with respect to the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the third nozzle group for forming the nozzle A third determination step for determining the arrangement of the print permitting pixels in the third mask pattern for generating the image data to be recorded in the first and second determination steps are the recording in the second and third mask patterns. By changing the arrangement of the print permitting pixels in the first mask pattern based on the arrangement of the allowance pixels, the arrangement pattern of the print permitting pixels obtained by the logical sum of the first, second and third mask patterns is changed. Including a step of reducing a low-frequency component, wherein the second determination step is performed based on an arrangement of print permission pixels in the first and third mask patterns. A step of reducing the low frequency component of the layout pattern of the print permitting pixels obtained by the logical sum of the first, second, and third mask patterns by changing the layout of the print permitting pixels in the second mask pattern. And the third determining step changes the arrangement of the print permitting pixels in the third mask pattern on the basis of the arrangement of the print permitting pixels in the first and second mask patterns. The method includes a step of reducing a low-frequency component of an arrangement pattern of print permitting pixels obtained by a logical sum of the second and third mask patterns.
In yet another embodiment, a mask pattern manufacturing method is provided, wherein the predetermined data is obtained by thinning out image data to be recorded in a predetermined area of a recording medium by a first nozzle group for forming a first type of dot. A determination step for determining an arrangement of print permitting pixels in the first mask pattern for generating image data to be printed in one of a plurality of scans of the first nozzle group with respect to the region; In the determining step, the second nozzle group for the predetermined area is thinned out by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the second nozzle group for forming the second type of dots. An arrangement of print permitting pixels in the second mask pattern for generating image data to be printed in one of the plurality of scans, and a third One of a plurality of scans of the third nozzle group with respect to the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by a third nozzle group for forming a kind of dot. By changing the arrangement of the print permitting pixels in the first mask pattern based on the arrangement of the print permitting pixels in the third mask pattern for generating image data to be recorded in the scanning of the first, The low frequency component of the arrangement pattern of the print permission pixels obtained by the logical product of the mask pattern, the second mask pattern, and the third mask pattern is reduced.
In yet another embodiment, a mask pattern manufacturing method is provided, wherein the predetermined data is obtained by thinning out image data to be recorded in a predetermined area of a recording medium by a first nozzle group for forming a first type of dot. A determination step for determining an arrangement of print permitting pixels in the first mask pattern for generating image data to be printed in one of a plurality of scans of the first nozzle group with respect to the region; In the determining step, the second nozzle group for the predetermined area is thinned out by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the second nozzle group for forming the second type of dots. An arrangement of print permitting pixels in the second mask pattern for generating image data to be printed in one of the plurality of scans, and a third One of a plurality of scans of the third nozzle group with respect to the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by a third nozzle group for forming a kind of dot. By changing the arrangement of the print permitting pixels in the first mask pattern based on the arrangement of the print permitting pixels in the third mask pattern for generating image data to be recorded in the scanning of the first, The low frequency component of the arrangement pattern of the print permission pixels obtained by the logical sum of the mask pattern, the second mask pattern, and the third mask pattern is reduced.

本発明によれば、分割記録の途中におけるグレインが原因で生じるビーディングによる画質劣化を軽減できる。   According to the present invention, it is possible to reduce image quality deterioration due to beading caused by grains in the middle of divided recording.

以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

本発明の実施形態は、マルチパス記録の各走査で用いる2値のドット記録データを生成するためのマスクの製造ないしそのマスクパターンに関するものである。本発明の具体的ないくつかの実施形態を説明する前に、マスクパターンを製造しあるいはマスクパターンを用いてドット記録データを生成するための構成について説明する。ここで、本明細書において「ドット記録データ」とは、ドットの記録を示すデータを意味する。   Embodiments of the present invention relate to the manufacture of a mask for generating binary dot recording data used in each scan of multi-pass recording or the mask pattern thereof. Before describing some specific embodiments of the present invention, a configuration for manufacturing a mask pattern or generating dot recording data using the mask pattern will be described. Here, “dot recording data” in this specification means data indicating dot recording.

図1は、本発明の一実施形態に係るホスト機器として機能するパーソナルコンピュータ(以下、単にPCとも言う)の主にハードウェアおよびソフトウェアの構成を示すブロック図である。このホスト機器は、プリンタ104で記録する画像データを生成する。   FIG. 1 is a block diagram mainly showing hardware and software configurations of a personal computer (hereinafter also simply referred to as a PC) functioning as a host device according to an embodiment of the present invention. This host device generates image data to be recorded by the printer 104.

図1において、ホストコンピュータであるPC100は、オペレーティングシステム(OS)102によって、アプリケーションソフトウェア101、プリンタドライバ103、モニタドライバ105の各ソフトウェアを動作させる。アプリケーションソフトウェア101は、ワープロ、表計算、インターネットブラウザなどに関する処理を行う。モニタドライバ105は、モニタ106に表示する画像データを作成するなどの処理を実行する。   In FIG. 1, a PC 100 as a host computer operates application software 101, a printer driver 103, and a monitor driver 105 by an operating system (OS) 102. The application software 101 performs processing related to a word processor, spreadsheet, internet browser, and the like. The monitor driver 105 executes processing such as creating image data to be displayed on the monitor 106.

プリンタドライバ103は、アプリケーションソフトウェア101からOS102へ発行される各種描画命令群(イメージ描画命令、テキスト描画命令グラフィクス描画命令など)を描画処理して、最終的にプリンタ104で用いる2値の画像データを生成する。詳しくは、図2で後述される画像処理を実行することにより、プリンタ104で用いる複数のインク色それぞれの2値の画像データを生成する。   The printer driver 103 draws various drawing command groups (image drawing command, text drawing command, graphics drawing command, etc.) issued from the application software 101 to the OS 102, and finally outputs binary image data used by the printer 104. Generate. Specifically, binary image data for each of a plurality of ink colors used in the printer 104 is generated by executing image processing described later with reference to FIG.

ホストコンピュータ100は、以上のソフトウェアを動作させるための各種ハードウェアとして、CPU108、ハードディスク(HD)107、RAM109、ROM110などを備える。すなわち、CPU108は、ハードディスク107やROM110に格納されている上記のソフトウェアプログラムに従ってその処理を実行し、RAM109はその処理実行の際にワークエリアとして用いられる。   The host computer 100 includes a CPU 108, a hard disk (HD) 107, a RAM 109, a ROM 110, and the like as various hardware for operating the above software. That is, the CPU 108 executes the process according to the software program stored in the hard disk 107 or the ROM 110, and the RAM 109 is used as a work area when the process is executed.

本実施形態のプリンタ104は、インクを吐出する記録ヘッドを記録媒体に対して走査し、その間にインクを吐出して記録を行ういわゆるシリアル方式のプリンタである。記録ヘッドは、C、M、Y、Kそれぞれのインクに対応して用意され、これらがキャリッジに装着されることにより、記録用紙などの記録媒体に対して走査することができる。それぞれの記録ヘッドは、吐出口の配列密度が1200dpiであり、それぞれの吐出口から3.0ピコリットルのインク滴を吐出する。また、それぞれの記録ヘッドの吐出口の数は512個である。   The printer 104 according to the present embodiment is a so-called serial printer that performs recording by scanning a recording medium that ejects ink with respect to a recording medium and ejecting ink during that time. The recording head is prepared corresponding to each of the C, M, Y, and K inks, and can be scanned with respect to a recording medium such as a recording sheet by being mounted on the carriage. Each recording head has an ejection port array density of 1200 dpi, and ejects 3.0 picoliter of ink droplets from each ejection port. Further, the number of ejection ports of each recording head is 512.

プリンタ104はマルチパス記録を実行可能な記録装置である。そのために、後述の各実施形態で説明されるマスクを所定のメモリに格納しておき、記録の際は走査およびインク色ごとに定められたマスクを用いて2値の分割画像データを生成する処理を行う。   The printer 104 is a recording device that can execute multi-pass recording. For this purpose, a mask described in each embodiment described later is stored in a predetermined memory, and at the time of printing, binary divided image data is generated using a mask determined for each scanning and ink color. I do.

また、マスクパターンが所定のメモリに予め格納されておらずPC100がマスク製造のためのデータ処理装置として機能するときは、後述の各実施形態でそれぞれ説明されるマスク製造処理を実行する。そして、製造したマスクデータは、プリンタ104の所定のメモリに格納される。   Further, when the mask pattern is not stored in a predetermined memory in advance and the PC 100 functions as a data processing device for mask manufacture, a mask manufacturing process described in each embodiment described later is executed. The manufactured mask data is stored in a predetermined memory of the printer 104.

図2は、図1に示した構成においてプリンタ104で記録を行う際のPC100およびプリンタ104における主なデータ処理過程を説明するブロック図である。本実施形態のインクジェットプリンタ104は、上述したようにシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックの4色のインクによって記録を行うものであり、そのためにこれら4色のインクを吐出する記録ヘッドJ0010を備える。   FIG. 2 is a block diagram for explaining main data processing steps in the PC 100 and the printer 104 when recording is performed by the printer 104 in the configuration shown in FIG. As described above, the ink jet printer 104 according to the present embodiment performs recording with ink of four colors of cyan, magenta, yellow, and black, and includes a recording head J0010 that ejects ink of these four colors.

ホストPC100のアプリケーション101を介して、ユーザはプリンタ104で記録する画像データを作成することができる。そして、記録を行うときはアプリケーション101で作成された画像データがプリンタドライバ103に渡される。   A user can create image data to be recorded by the printer 104 via the application 101 of the host PC 100. When recording, the image data created by the application 101 is transferred to the printer driver 103.

プリンタドライバ103は、その処理として、前段処理J0002、後段処理J0003、γ補正J0004、2値化処理J0005、および印刷データ作成J0006をそれぞれ実行する。前段処理J0002では、アプリケーションによる画面を表示する表示器が持つ色域をプリンタ104の色域に変換する色域変換を行う。具体的には、R、G、B夫々が8ビットで表現された画像データR、G、Bを3次元LUTにより、プリンタの色域内の8ビットデータR、G、Bに変換する。次いで、後段処理J0003では、変換された色域を再現する色をインク色に分解する。具体的には、前段処理J0002にて得られた8ビットデータR、G、Bが表す色を再現するためのインクの組合せに対応した8ビットデータC、M、Y、Kを求める処理を行う。γ補正J0004では、色分解で得られたCMYKのデータ夫々についてγ補正を行う。具体的には、色分解で得られた8ビットデータCMYK夫々がプリンタの階調特性に線形的に対応づけられるような変換を行う。次いで、2値化処理J0005では、γ補正がなされた8ビットデータC、M、Y、Kそれぞれを1ビットデータC、M、Y、Kに変換する量子化処理を行う。最後に、印刷データ作成処理J0006では、2値化された1ビットデータC、M、K、Yを内容とする2値の画像データに印刷制御データなどを付して印刷データを作成する。ここで、2値の画像データは、ドットの記録を示すドット記録データと、ドットの非記録を示すドット非記録データを含む。なお、印刷制御データは、「記録媒体情報」、「記録品位情報」、および給紙方法等のような「その他制御情報」とから構成されている。以上のようにして生成された印刷データは、プリンタ4へ供給される。   As the processing, the printer driver 103 executes a pre-stage process J0002, a post-stage process J0003, a γ correction J0004, a binarization process J0005, and a print data creation J0006. In the pre-stage process J0002, color gamut conversion is performed to convert the color gamut of the display device that displays the screen by the application into the color gamut of the printer 104. Specifically, image data R, G, and B in which R, G, and B are each expressed by 8 bits are converted into 8-bit data R, G, and B in the printer color gamut by a three-dimensional LUT. Next, in post-processing J0003, the color that reproduces the converted color gamut is separated into ink colors. Specifically, a process for obtaining 8-bit data C, M, Y, and K corresponding to the combination of inks for reproducing the colors represented by the 8-bit data R, G, and B obtained in the preceding process J0002 is performed. . In γ correction J0004, γ correction is performed on each of the CMYK data obtained by color separation. Specifically, conversion is performed so that each of the 8-bit data CMYK obtained by color separation is linearly associated with the gradation characteristics of the printer. Next, in the binarization process J0005, a quantization process is performed to convert the 8-bit data C, M, Y, and K subjected to the γ correction into 1-bit data C, M, Y, and K, respectively. Finally, in the print data creation process J0006, print data is created by attaching print control data or the like to binary image data containing binarized 1-bit data C, M, K, and Y. Here, the binary image data includes dot recording data indicating dot recording and dot non-recording data indicating non-recording of dots. The print control data includes “recording medium information”, “recording quality information”, and “other control information” such as a paper feed method. The print data generated as described above is supplied to the printer 4.

一方、プリンタ104は、入力されてきた印刷データに含まれる2値の画像データに対しマスクデータ変換処理J0008を行う。マスクデータ変換処理J0008では、予めプリンタの所定のメモリに格納されている、後述の各実施形態で説明されるマスクパターンを用い、入力されてきた2値の画像データに対しAND処理をかける。これにより、マルチパス記録におけるそれぞれの走査で用いられる2値の分割画像データが生成されると共に、実際にインクが吐出されるタイミングが決定される。なお、2値の分割画像データには、ドット記録データとドット非記録データが含まれる。   On the other hand, the printer 104 performs a mask data conversion process J0008 on binary image data included in the input print data. In the mask data conversion process J0008, an AND process is applied to the input binary image data using a mask pattern which is stored in advance in a predetermined memory of the printer and described in each embodiment described later. As a result, binary divided image data used in each scan in multipass printing is generated, and the timing at which ink is actually ejected is determined. The binary divided image data includes dot recording data and dot non-recording data.

図3は、インクジェットプリンタ104を示す斜視図である。キャリッジM4000は、記録ヘッドおよびこれにシアン(C)、マゼンタ(M)、イエロー(Y)、ブラック(K)それぞれのインクを供給するインクタンクH1900を搭載した状態で図のX方向(主走査方向)に移動し、記録ヘッドの各ノズルは、2値の分割画像データに基づき所定のタイミングでインクを吐出する。記録ヘッドの1回の主走査が終了すると、記録媒体は図のY方向(副走査方向)に所定量だけ搬送される。以上の記録主走査と副走査とを交互に繰り返すことにより、マルチパス記録による画像が順次形成されていく。   FIG. 3 is a perspective view showing the inkjet printer 104. The carriage M4000 includes a recording head and an ink tank H1900 for supplying each ink of cyan (C), magenta (M), yellow (Y), and black (K) to the X direction (main scanning direction). ), And each nozzle of the recording head ejects ink at a predetermined timing based on the binary divided image data. When one main scan of the recording head is completed, the recording medium is conveyed by a predetermined amount in the Y direction (sub-scanning direction) in the figure. By alternately repeating the recording main scanning and the sub scanning described above, images by multipass recording are sequentially formed.

以下では、上述の記録システムにおいて用いられあるいは製造される、マルチパス記録の画像を完成する走査(以下、パスとも言う)回数と記録許容画素の比率によって区別されるマスクパターンの製造方法およびそれによるマスクパターンのいくつかの実施形態を説明する。   In the following, a mask pattern manufacturing method used or manufactured in the above-described recording system and distinguished by the ratio of the number of scans (hereinafter also referred to as “pass”) to complete a multi-pass recording image and a print-allowable pixel, and thereby, Several embodiments of mask patterns are described.

〔実施形態1:2パス記録用100%均等マスク〕
(1)本実施形態の概要
本実施形態は、シアン(C)、マゼンタ(M)、イエロー(Y)、ブラック(K)の各インクについて2回の走査で画像を完成する2パスのマルチパス記録に関する。そして、この2パス記録に用いるインク色のそれぞれについて複数(本実施形態では2)回の走査それぞれに用いるマスク(以下では、「1プレーン」のマスクと言う)が良好に分散しているだけでなく、これらのマスクの任意の複数のプレーンを合わせたものも良好に分散したものである。
[Embodiment 1: 100% uniform mask for 2-pass printing]
(1) Outline of the present embodiment This embodiment is a two-pass multi-pass that completes an image in two scans for each ink of cyan (C), magenta (M), yellow (Y), and black (K). Regarding recording. In addition, the mask used for each of a plurality of (two in the present embodiment) scans (hereinafter referred to as “one-plane mask”) for each of the ink colors used for the two-pass printing is only well dispersed. In addition, a combination of arbitrary plural planes of these masks is also well dispersed.

図4は、2パス記録を説明するために、記録ヘッド、マスクパターンおよび記録媒体を模式的に示した図である。なお、この図では、図示および説明の簡略化のため、シアン、マゼンタ、イエローの3色で2パス記録を行う場合について説明する。以下で説明するマスクについても同様である。   FIG. 4 is a diagram schematically illustrating a recording head, a mask pattern, and a recording medium in order to explain two-pass recording. In this figure, for simplification of illustration and description, a case where two-pass printing is performed with three colors of cyan, magenta, and yellow will be described. The same applies to the mask described below.

シアン、マゼンタ、イエローの各色ノズル群は第1グループおよび第2グループの2つのグループに分割され、各グループには256個ずつのノズルが含まれている。各グループには本実施形態のマスクパターン(C1、C2、M1、M2、Y1、Y2)が対応付けられており、各マスクパターンの副走査方向(搬送方向)の大きさは各グループのノズル個数と同じ256画素分となっている。また、走査方向の大きさも256画素分となっている。また、同色インクのノズル群に対応する2つのマスクパターン(C1とC2、あるいはM1とM2、あるいはY1とY2)は互いに補完の関係にあり、これらを重ね合わせると256×256画素に対応した領域の記録が完成される構成となっている。   The cyan, magenta, and yellow color nozzle groups are divided into two groups, a first group and a second group, and each group includes 256 nozzles. Each group is associated with the mask pattern (C1, C2, M1, M2, Y1, Y2) of this embodiment, and the size of each mask pattern in the sub-scanning direction (conveyance direction) is the number of nozzles in each group. The same as 256 pixels. The size in the scanning direction is also 256 pixels. Also, the two mask patterns (C1 and C2, or M1 and M2, or Y1 and Y2) corresponding to the same color ink nozzle group are complementary to each other, and when these are superimposed, an area corresponding to 256 × 256 pixels. The record is completed.

各色ノズル群はノズル配列方向と略直交する方向(図の矢印で示した「ヘッド走査方向」)へ走査しながら記録媒体にインクを吐出する。この例では、各領域に対してC,M,Yのインク吐出が行われる。また、走査が終了するたびに、記録媒体は走査方向と直交する方向(図の矢印で示した「記録媒体搬送方向」)に1つのブループの幅分(ここでは、256画素分)ずつ搬送される。これにより、記録媒体の各グループの幅に対応する大きさの領域は2回の走査によって画像が完成する。   Each color nozzle group ejects ink onto a recording medium while scanning in a direction substantially perpendicular to the nozzle arrangement direction (“head scanning direction” indicated by an arrow in the figure). In this example, C, M, and Y ink ejection is performed on each region. Each time scanning is completed, the recording medium is conveyed by the width of one group (here, 256 pixels) in a direction orthogonal to the scanning direction ("recording medium conveyance direction" indicated by an arrow in the figure). The Thereby, an image having a size corresponding to the width of each group of the recording medium is completed by scanning twice.

さらに具体的に説明すると、第1走査では記録媒体上の領域Aに対して、Cノズル群の第1グループ、Mノズル群の第1グループ、Yノズル群の第1グループを用いてCMYの順番で記録が行われる。そして、この第1走査では領域Aに対してはマスクパターンC1、マスクパターンM1、マスクパターンY1が用いられる。   More specifically, in the first scan, for the area A on the recording medium, the first group of the C nozzle group, the first group of the M nozzle group, and the first group of the Y nozzle group are used in the order of CMY. Recording is done. In the first scan, the mask pattern C1, the mask pattern M1, and the mask pattern Y1 are used for the region A.

次に、第2走査では、第1走査での記録が終了した領域Aに対して、Cノズル群の第2グループ、Mノズル群の第2グループ、Yノズル群の第2グループをYMCの順番で用いて残りの記録が行われるとともに、未記録状態の領域Bに対して、Cノズル群の第1グループ、Mノズル群の第1グループ、Yノズル群の第1グループを用いてYMCの順番で記録が行われる。従って、第2走査では領域Aに対してマスクパターンC2、マスクパターンM2、マスクパターンY2が用いられるとともに、領域Bに対してマスクパターンC1、マスクパターンM1、マスクパターンY1が用いられる。更に、このような動作を続けることで、C1M1Y1Y2M2C2の順番、あるいはY1M1C1C2M2Y2の順番で各領域について記録が行われていく。   Next, in the second scan, the second group of the C nozzle group, the second group of the M nozzle group, and the second group of the Y nozzle group are arranged in the order of YMC with respect to the area A where the printing in the first scan is completed. And the remaining recording is performed, and for the unrecorded region B, the first group of the C nozzle group, the first group of the M nozzle group, and the first group of the Y nozzle group are used in the order of YMC. Recording is done. Accordingly, in the second scan, the mask pattern C2, the mask pattern M2, and the mask pattern Y2 are used for the region A, and the mask pattern C1, the mask pattern M1, and the mask pattern Y1 are used for the region B. Further, by continuing such an operation, recording is performed for each area in the order of C1M1Y1Y2M2C2 or the order of Y1M1C1C2M2Y2.

図5は、図4で説明した2パス記録に用いるマスクとその補完関係を概念的に説明する模式図である。図5において、P0001は、図4に示したC、M、Yのうち、1つの色の記録ヘッドを示し、ここでは、図示の簡略化のため8個のノズルを有するものとして示している。ノズルは、上述したように第1および第2の2つのグループに分割され、各ノズルグループにはそれぞれ4つのノズルが含まれる。P0002AおよびP0002Bは、この第1および第2グループのノズル列にそれぞれ対応したマスクパターンを示す。すなわち、第1走査で用いるマスクパターンP0002A(同図中、下側のパターン)と第2走査で用いるマスクパターンP0002B(同図中、上側のパターン)をである。これらがそれぞれ1プレーンのマスクとなる。それぞれのマスクパターンは、記録許容画素が黒塗りで示されており、非記録許容画素が白で示されている。第1走査用のマスクパターンP0002Aと第2走査用のマスクパターンP0002Bは互いに補完関係にあり、従って、これらを重ね合わせると記録許容画素が4×4のエリアを総て埋めるパターンとなる。なお、図に示すパターンは説明を容易にするため、以下で示す本実施形態のマスクパターンとは異なるパターンとして示している。この図では、記録許容画素の配置が千鳥、逆千鳥となっているが、このような配置のマスクパターンは本発明の範囲に含まれない。   FIG. 5 is a schematic diagram conceptually illustrating the mask used in the two-pass printing described in FIG. 4 and its complementary relationship. In FIG. 5, P0001 indicates a recording head of one color among C, M, and Y shown in FIG. 4, and here, it is shown as having eight nozzles for simplification of illustration. The nozzles are divided into first and second groups as described above, and each nozzle group includes four nozzles. P0002A and P0002B indicate mask patterns corresponding to the nozzle rows of the first and second groups, respectively. That is, the mask pattern P0002A (lower pattern in the figure) used in the first scan and the mask pattern P0002B (upper pattern in the figure) used in the second scan. Each of these becomes a mask of one plane. In each mask pattern, the printable pixels are shown in black, and the non-printable pixels are shown in white. The mask pattern P0002A for the first scan and the mask pattern P0002B for the second scan are complementary to each other. Therefore, when these are overlaid, the print permitting pixels fill the entire 4 × 4 area. Note that the pattern shown in the figure is shown as a pattern different from the mask pattern of the present embodiment shown below for easy explanation. In this figure, the arrangement of the print permitting pixels is zigzag and reverse zigzag, but the mask pattern having such arrangement is not included in the scope of the present invention.

ここで、「記録許容画素」と「非記録許容画素」について定義する。「記録許容画素」とは、上述したように、ドットの記録(インクの吐出)を許容する画素のことである。この記録画素に対応する2値の画像データが吐出を示すデータであればドット記録が行われ、非吐出を示すデータならばドット記録は行われない。一方、「非記録許容画素」とは、2値の画像データに関わらず記録を許容しない画素のことである。従って、仮に、この非記録許容画素に対応する2値の画像データがインク吐出を示すデータであっても記録は行われない。   Here, “recording allowable pixels” and “non-recording allowable pixels” are defined. As described above, the “recording allowable pixel” is a pixel that allows dot recording (ink ejection). If the binary image data corresponding to the recording pixel is data indicating ejection, dot recording is performed, and if it is data indicating non-ejection, dot recording is not performed. On the other hand, “non-recording-permitted pixels” are pixels that do not permit recording regardless of binary image data. Accordingly, even if the binary image data corresponding to the non-recording-permitted pixels is data indicating ink ejection, recording is not performed.

P0003およびP0004は、2パス記録によって完成する画像を、それを構成するドット配置で示している。なお、この画像は、説明を容易にするため、総ての画素にドットを形成するいわゆるベタ画像であり、従って、そのドット記録データの生成に用いるマスクP0002の記録許容画素の配置がそのまま反映されたドット配置を示している。第1走査では、第1グループのドット記録データは、マスクパターンP0002Aを用いて生成される。そして、記録媒体は図の矢印の方向にノズルグループの幅分ずつ搬送される。次の、第2走査では、上記搬送量分ずれた領域に対する第1グループのドット記録データは、同じくマスクパターンP0002Aを用いて生成され、上記第1グループで記録された領域に対する第2グループのドット記録データは、マスクパターンP0002Aを用いて生成される。この2回の記録走査によって画像が完成する。   P0003 and P0004 indicate images that are completed by two-pass printing, with the dot arrangement constituting them. Note that this image is a so-called solid image in which dots are formed on all pixels for the sake of easy explanation. Therefore, the arrangement of the print allowable pixels of the mask P0002 used for generating the dot print data is reflected as it is. The dot arrangement is shown. In the first scan, the first group of dot recording data is generated using the mask pattern P0002A. The recording medium is conveyed by the width of the nozzle group in the direction of the arrow in the figure. In the next second scan, the first group of dot recording data for the area shifted by the carry amount is generated using the mask pattern P0002A, and the second group of dots for the area recorded in the first group. The recording data is generated using the mask pattern P0002A. The image is completed by the two recording scans.

図6は、C、M、Yのインクを用いて(上述したようにブラックKは説明の簡略化ため省かれている)、図4および図5で説明した2パス記録を行う場合を説明する図である。図6に示すように、マスクC1、M1、Y1、C2、M2、Y2を用い、2回の走査(図6に示す例では、往走査と復走査)でC、M、Yそれぞれのインクを吐出し、カラー画像を記録する。   FIG. 6 illustrates a case where the two-pass printing described with reference to FIGS. 4 and 5 is performed using C, M, and Y inks (black K is omitted for simplicity of description as described above). FIG. As shown in FIG. 6, using the masks C1, M1, Y1, C2, M2, and Y2, the inks of C, M, and Y are respectively applied in two scans (in the example shown in FIG. 6, forward scan and backward scan). Discharge and record a color image.

図6(a)は、往走査(図4の右方向への走査)、復走査(図4の左方向への走査)の順で記録される領域の画像が完成していく様子を示したものである。1回目の走査である往走査では、最初に、1パス目のシアン用マスク(マスクC1)を用いて生成したシアンの分割画像データのドット記録データに基づいてシアン画像を記録する。同じ走査で、マゼンタおよびイエローそれぞれのマスク(マスクM1、Y1)を用いて生成した分割画像データのドット記録データに基づき、マゼンタ画像をそれより前に記録したシアン画像に重ねて、さらに、イエロー画像をそれより前に記録したシアン、マゼンタ画像に重ねて順次記録する。記録媒体を所定量搬送した後の、2回目の走査である復走査では、同様に、順次、マスクY2、M2、C2を用いて生成したそれぞれイエロー、マゼンタおよびシアンのドット記録データに基づき、それより前に記録した画像に重ねて記録する。   FIG. 6A shows a state in which an image of an area recorded in the order of forward scanning (scanning in the right direction in FIG. 4) and backward scanning (scanning in the left direction in FIG. 4) is completed. Is. In the forward scan, which is the first scan, a cyan image is first recorded based on the dot recording data of the cyan divided image data generated using the first-pass cyan mask (mask C1). Based on the dot recording data of the divided image data generated using the magenta and yellow masks (masks M1 and Y1) in the same scan, the magenta image is superimposed on the cyan image recorded before that, and further the yellow image Are sequentially recorded on the cyan and magenta images recorded before that. In the reverse scan, which is the second scan after the recording medium is conveyed by a predetermined amount, similarly, based on the respective yellow, magenta and cyan dot recording data generated using the masks Y2, M2, and C2, It is recorded over the previously recorded image.

一方、図6(b)は、復走査(図4の左方向への走査)、往走査(図4の右方向への走査)の順で記録される領域の画像が完成していく様子を示したものである。1回目の走査である復走査では、最初に、1パス目のイエロー用マスク(マスクY1)を用いて生成したイエローの分割画像データのドット記録データに基づいてイエロー画像を記録する。同じ走査で、マゼンタおよびシアンそれぞれのマスク(マスクM1、C1)を用いて生成した分割画像データのドット記録データに基づき、マゼンタ画像をそれより前に記録したイエロー画像に重ねて、さらに、シアン画像をそれより前に記録したイエロー、マゼンタ画像に重ねて順次記録する。記録媒体を所定量搬送した後の、2回目の走査である往走査では、同様に、順次、マスクC2、M2、Y2を用いて生成したそれぞれシアン、マゼンタおよびイエローのドット記録データに基づき、それより前に記録した画像に重ねて記録する。   On the other hand, FIG. 6B shows a state in which an image of an area recorded in the order of backward scanning (scanning in the left direction in FIG. 4) and forward scanning (scanning in the right direction in FIG. 4) is completed. It is shown. In the reverse scan, which is the first scan, first, a yellow image is recorded based on the dot recording data of the yellow divided image data generated using the first-pass yellow mask (mask Y1). Based on the dot recording data of the divided image data generated by using the magenta and cyan masks (masks M1 and C1) in the same scan, the magenta image is superimposed on the yellow image recorded earlier and further the cyan image. Are sequentially recorded on the yellow and magenta images recorded earlier. In the forward scan, which is the second scan after the recording medium is transported by a predetermined amount, similarly, based on the cyan, magenta, and yellow dot recording data respectively generated using the masks C2, M2, and Y2, It is recorded over the previously recorded image.

このように、C、M、Yの3色を用い、2回の走査で画像を完成する2パス記録を行うときは、1パス目のシアン画像と1パス目のマゼンタ画像を合わせた画像、この画像にさらに1パス目のイエロー画像を重ねた画像、さらに、これら1パス目の画像に2パス目のイエロー画像を重ねた画像、といったマスクのプレーンごとの画像を重ねた中間画像が存在する。このような中間画像では、図86(a)〜(c)で説明したグレインが生じることがある。特に、記録の高速化、高密度化、また、用いるインクの種類の多様化に伴い、単位時間当たりに付与されるインク量や記録媒体の単位面積あたりに付与されるインクの量が増大する場合には、中間画像におけるこのグレインの発生は顕著となる。そして、中間画像で発生したグレインは、そのまま定着して完成した画像において不規則なまだら模様などのビーディングとして視認される。   In this way, when performing two-pass printing that uses three colors of C, M, and Y to complete an image in two scans, an image obtained by combining a cyan image in the first pass and a magenta image in the first pass, There is an intermediate image in which an image for each mask plane is superimposed, such as an image obtained by further superimposing the first pass yellow image on this image, and an image obtained by superimposing the second pass yellow image on the first pass image. . In such an intermediate image, the grain described in FIGS. 86A to 86C may occur. Especially when the amount of ink applied per unit time or the amount of ink applied per unit area of the recording medium increases as the recording speed increases, the density increases, and the type of ink used diversifies. The occurrence of this grain in the intermediate image becomes remarkable. Then, the grain generated in the intermediate image is visually recognized as beading such as an irregular mottled pattern in an image that is fixed and completed as it is.

本実施形態では、このような中間画像におけるグレインの発生を避けるべく、それぞれのプレーンのマスクを重ねたときの記録許容画素の配置が低周波数成分が少ない特性を有するようにしている。低周波数成分が少ないため、各段階における中間画像におけるインクドットの偏りを少ない状態に保つことができる。また、重要な特性として、画像データやその他ノイズなどとの干渉を防ぐために、非周期なパターン特性をもたせる。つまり、プレーンのマスクを重ねたときの記録許容画素の配置が非周期で且つ低周波数成分が少ない特性を有するようにし、分散性の優れたものにしている。これにより、画像の完成に至る各段階の中間画像におけるドットの近接ないし隣接、また、ドットの重なりを、極力排除するようにする。また、仮に、ドットの重なりや隣接が排除しきれない場合でも、そのような重なり箇所などについても分散性の高いものとする。   In the present embodiment, in order to avoid the occurrence of grains in such an intermediate image, the arrangement of the print permitting pixels when the masks of the respective planes are overlapped has a characteristic that there are few low frequency components. Since there are few low frequency components, the deviation of the ink dots in the intermediate image at each stage can be kept small. Further, as an important characteristic, in order to prevent interference with image data and other noises, an aperiodic pattern characteristic is provided. That is, the arrangement of the print permitting pixels when the plane masks are superposed is aperiodic and has a low frequency component and has excellent dispersibility. As a result, the proximity or adjacency of dots in the intermediate image at each stage leading to the completion of the image and the overlap of dots are eliminated as much as possible. Further, even if dot overlap and adjacency cannot be excluded, such an overlap portion is assumed to have high dispersibility.

なお、「低周波数成分」とは、周波数成分(パワースペクトル)が存在する空間周波数領域のうち、半分より低周波側にある成分を指す。   The “low frequency component” refers to a component on the lower frequency side than half of the spatial frequency region where the frequency component (power spectrum) exists.

(2)マスクの製法
本発明の実施形態に係るマスクの製造方法は、大別して、複数パス分のマスクを同時に生成する方法(同時生成)と、パスごとに順次マスクを生成する方法(パスごとの生成)の2つの方法のいずれかで実施することができる。前者の同時生成方法は、(画像を完成するパス数(走査回数)−1)パス分のマスクを同時に生成し、残りの1パス分のマスクは、その記録許容画素が同時生成されたマスクの記録許容画素の配置に対して排他的になるように生成するものである。後者のパスごとの生成方法は、画像を完成する複数のパス(走査)ごとに順次マスクを生成する方法であり、最後のパス分のマスクは、前者の方法と同様に、記録許容画素がそれまでに生成されたマスクの記録許容画素の配置に対して排他的になるように生成する。なお、本実施形態の場合は、2パス記録に用いるマスクであることから、同時生成とパスごとの生成は同じものとなる。
(2) Mask Manufacturing Method The mask manufacturing method according to the embodiment of the present invention can be broadly divided into a method for simultaneously generating a mask for a plurality of passes (simultaneous generation) and a method for generating a mask sequentially for each pass (for each pass). Can be implemented in one of two ways. In the former simultaneous generation method, a mask for (pass number for completing an image (number of scans) -1) passes is generated at the same time, and the mask for the remaining one pass is a mask for which the print allowable pixels are simultaneously generated. It is generated so as to be exclusive to the arrangement of the print permitting pixels. The latter generation method for each pass is a method in which a mask is sequentially generated for each of a plurality of passes (scans) for completing an image, and the mask for the last pass is the same as the former method in which printable pixels are set. It is generated so as to be exclusive to the arrangement of the print permitting pixels of the mask generated so far. In the case of this embodiment, since it is a mask used for two-pass printing, simultaneous generation and generation for each pass are the same.

さらに、上記2つの生成方法それぞれについて、具体的に記録許容画素の配置を定める仕方として、マスクの総ての記録許容画素を予め所定の配置としこれらを移動させながら、生成されるマスク全体で分散性を上げて行く方法(以下、「配置移動法」)と、生成されるマスク全体で分散性を上げながら記録許容画素を1つずつ配置して行く方法(以下、「順次配置法」)とを実行することができる。   Furthermore, for each of the above two generation methods, as a method of determining the arrangement of the print permitting pixels specifically, all the print permitting pixels of the mask are set in a predetermined arrangement in advance, and these are moved and distributed throughout the generated mask. A method of increasing the image quality (hereinafter referred to as “placement moving method”), a method of disposing the print permitting pixels one by one while increasing the dispersibility in the entire generated mask (hereinafter referred to as “sequential placement method”), Can be executed.

図7は、本実施形態の2パス記録に用いるマスクの製法を概念的に示す図である。   FIG. 7 is a diagram conceptually showing a method for manufacturing a mask used in the two-pass printing of the present embodiment.

マスク生成のステップ1として、1パス目に用いるそれぞれのプレーンのマスクC1、M1、Y1を生成する。そして、ステップ2として、2パス目に用いるそれぞれのプレーンのマスクC2、M2、Y2を、上記1パス目のマスクC1、M1、Y1とそれぞれ補完の関係を持つように生成する。すなわち、色ごとに、2パス目のマスクは、その記録許容画素の配置は1パス目のマスクの記録許容画素の配置と排他的な関係となるように生成される。   As Step 1 of mask generation, masks C1, M1, and Y1 of the respective planes used in the first pass are generated. In step 2, the masks C2, M2, Y2 of the planes used for the second pass are generated so as to have a complementary relationship with the masks C1, M1, Y1 of the first pass. That is, the mask for the second pass is generated for each color so that the arrangement of the print permitting pixels has an exclusive relationship with the arrangement of the print permitting pixels of the first pass mask.

以上のマスクの製法において、1パス目のマスクC1、M1、Y1それぞれの記録許容画素の配置は、次のように行われる。最初に配置移動法について説明し、次に、順次配置法について説明する。なお、これらの配置方法のいずれを用いてもよいことはもちろんである。   In the above mask manufacturing method, the arrangement of the print permitting pixels for the first-pass masks C1, M1, and Y1 is performed as follows. First, the arrangement movement method will be described, and then the sequential arrangement method will be described. Of course, any of these arrangement methods may be used.

配置移動法
図8は、本実施形態の2パス記録に用いるマスクの記録許容画素の配置移動法による配置決定処理を示すフローチャートである。
Arrangement Movement Method FIG. 8 is a flowchart showing the arrangement determination process by the arrangement movement method of the print permitting pixels of the mask used in the two-pass printing of this embodiment.

先ず、ステップS801で、1パス目のマスクC1、M1、Y1それぞれのプレーンのサイズに対応したC、M、Yそれぞれの50%濃度の画像を取得する。そして、ステップS802で、それぞれの画像について誤差拡散法などの2値化手法を用いて2値化を行う。これにより、マスクC1、M1、Y1それぞれのプレーンについて、1ビットのデータが“1”である記録許容画素がマスク画素全体の50%に配された初期配置を得ることができる。なお、この2値化の手法を用いて記録許容画素の初期配置を得るのは、その用いる2値化の手法に応じてある程度、初期状態で分散性のよい配置を得ることができるからであり、これにより、その後の最終的な配置決定までの演算時間ないし収束時間を短くできるからである。換言すれば、本発明を適用する上で初期配置を得る方法は本質ではなく、例えば、マスクのプレーンにおいて、1ビットのデータが“1”である記録許容画素をランダムに配置した初期配置であってもよい。   First, in step S801, 50% density images of C, M, and Y corresponding to the sizes of the planes of the masks C1, M1, and Y1 in the first pass are acquired. In step S802, each image is binarized using a binarization method such as an error diffusion method. Accordingly, it is possible to obtain an initial arrangement in which the recording allowable pixels whose 1-bit data is “1” are arranged in 50% of the entire mask pixels for each of the masks C1, M1, and Y1. Note that the reason why the initial arrangement of the print permitting pixels is obtained by using this binarization method is that an arrangement with good dispersibility in the initial state can be obtained to some extent according to the binarization method used. This is because the calculation time or convergence time until the final placement determination can be shortened. In other words, the method of obtaining the initial arrangement is not essential in applying the present invention. For example, in the mask plane, the initial arrangement is such that the print permitting pixels whose 1-bit data is “1” are randomly arranged. May be.

次に、ステップS803で、上記のようにして得たマスクC1、M1、Y1それぞれのプレーンの総ての記録許容画素について斥力ポテンシャルを計算する。具体的には、
(i)同一プレーン内の記録許容画素間に距離に応じた斥力を与える。
(ii)さらに、異なるプレーン間の記録許容画素にも斥力を与える。
(iii)同一プレーンと異なるプレーン間に異なる斥力を与える。
(iv)異なるプレーンの記録許容画素の重なりを認め、記録許容画素の重なり(2つの記録許容画素重なり、3つの記録許容画素重なり、…)同士も組み合わせに応じた斥力を与える。
Next, in step S803, the repulsive potential is calculated for all the print permitting pixels of the respective planes of the masks C1, M1, and Y1 obtained as described above. In particular,
(I) A repulsive force corresponding to the distance is applied between the recording allowable pixels in the same plane.
(Ii) Further, a repulsive force is given to the recording allowable pixels between different planes.
(Iii) Apply different repulsive forces between the same plane and different planes.
(Iv) Recognizing the overlap of print permitting pixels on different planes, the overlap of the print permitting pixels (two print permitting pixel overlaps, three record permitting pixel overlaps,...) Also gives a repulsive force according to the combination.

図9は、本実施形態に係る基本斥力ポテンシャルE(r)の関数を模式的に示す図である。   FIG. 9 is a diagram schematically showing a function of the basic repulsive potential E (r) according to the present embodiment.

同図に示すように、本実施形態で規定する斥力関数は、その斥力が及ぶ範囲をr=16(画素;記録許容画素が配置されるマスクの画素)までとする。このような距離とともに減衰するポテンシャルを用いることにより、基本的に、記録許容画素が接近して配置されるとエネルギーが高い状態、すなわち不安定な状態となり、収束計算の結果、接近した配置はできるだけ選択されないようにすることができる。   As shown in the figure, the repulsive function defined in this embodiment has a repulsive range up to r = 16 (pixels: pixels of a mask in which print permitting pixels are arranged). By using a potential that decays with such a distance, basically, when the recording allowable pixels are arranged close to each other, the energy is high, that is, an unstable state. It can be prevented from being selected.

なお、この斥力の形状は、マスク画素全体に対する記録許容画素の割合により決定することがより望ましい。   It is more desirable to determine the shape of the repulsive force based on the ratio of the print allowable pixels to the entire mask pixels.

また、複数色のインクを用いて記録を行う場合、インクドットを配置できる位置(解像度1200場合の場合は、1インチ四方に1200×1200個の可能位置がある)以上に重ねてインクドットを配置するため、各記録許容画素について斥力ポテンシャルを計算する際には、記録許容画素の上に記録許容画素が重なることを考慮する。このため、r=0において有限の斥力ポテンシャルを持つように関数を定義する。これにより、記録許容画素の重なりをも考慮した分散が可能となる。   In addition, when recording is performed using a plurality of colors of ink, ink dots are arranged over the position where ink dots can be arranged (in the case of resolution 1200, there are 1200 × 1200 possible positions in one inch square). Therefore, when calculating the repulsive potential for each print permitting pixel, it is considered that the record permitting pixel overlaps the record permitting pixel. For this reason, a function is defined so as to have a finite repulsive potential at r = 0. As a result, it is possible to perform dispersion in consideration of the overlap of the print allowable pixels.

本実施形態では、同一プレーンの記録許容画素同士に関してαE(r)、異なるプレーン間の記録許容画素同士に関してβE(r)、重なる記録許容画素同士に関してγs(n)E(r)の斥力ポテンシャルを与えて計算を行う。つまり、ある記録許容画素が存在することによるポテンシャルは、距離r以内の範囲にある、同プレーンの記録許容画素、異なるプレーンの記録許容画素、さらには異なるプレーンの重なる記録許容画素についての斥力ポテンシャルが加算される。   In the present embodiment, the repulsive potential of αE (r) is set for the print permitting pixels on the same plane, βE (r) is set for the print permitting pixels between different planes, and γs (n) E (r) is set for the overlapped print permitting pixels. Give the calculation. In other words, the potential due to the presence of a certain print-permitted pixel is the repulsive potential for a print-permitted pixel in the same plane, a print-permitted pixel in a different plane, and a print-permitted pixel in which different planes overlap. Is added.

なお、マスクパターンのサイズは有限であるが(本実施形態の場合、256×256画素となる)、ポテンシャル計算においては、256×256画素の同じパターンがあたかも繰り返しているような周期境界条件を用いる。よってマスクパターンの左端は右端と隣接しており、下は上と隣接していることとなる。   Although the size of the mask pattern is finite (in this embodiment, the size is 256 × 256 pixels), the potential calculation uses a periodic boundary condition as if the same pattern of 256 × 256 pixels is repeated. . Therefore, the left end of the mask pattern is adjacent to the right end, and the bottom is adjacent to the top.

上記の斥力ポテンシャルにおいて、係数α、β、γは重み付け係数であり、本実施形態では、α=3、β=1、γ=3の値を用いる。このα、β、γの値によって記録許容画素の分散性が影響を受ける。このα、β、γの値は、例えば、実際には実験を行い、マスクを用いて記録される記録画像を参照した最適化により求めることができる。   In the above repulsive potential, the coefficients α, β, and γ are weighting coefficients, and in this embodiment, values of α = 3, β = 1, and γ = 3 are used. The dispersibility of the print-allowed pixels is affected by the values of α, β, and γ. The values of α, β, and γ can be obtained, for example, by performing an experiment in practice and optimizing with reference to a recorded image recorded using a mask.

また、係数s(n)は、重なる記録許容画素を分散させるためにγに加えてさらに積算する係数である。この係数s(n)は、重なりが多いほどそれらの記録許容画素をより分散させるべく重なりの数に応じた値とするものである。本願発明者の実験によれば、次の2つの式いずれかによって求められるs(n)を用いることにより、分散に関してよい結果を得ることができる。   Further, the coefficient s (n) is a coefficient that is further integrated in addition to γ in order to disperse the overlapping recordable pixels. The coefficient s (n) is set to a value corresponding to the number of overlaps in order to disperse these recordable pixels as the overlap increases. According to the experiment of the present inventor, good results regarding dispersion can be obtained by using s (n) obtained by either of the following two expressions.

Figure 0004366436
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すなわち、nを重なりの数とするとき、組合せの数の和をs(n)とするものである。詳細には、斥力を計算する注目記録許容画素に対して重なる(同じプレーンまたは異なるプレーンにおける同じ位置の)記録許容画素を調べるとともに、注目記録許容画素から距離rに位置する記録許容画素を調べる。この場合に、注目記録許容画素およびその画素と同じ位置で重なる他のプレーンの記録許容画素と、距離rにある各プレーンのその画素で同じように重なる記録許容画素の共通する重なりの数をnとする。そして、これら2つの画素間の重なった記録許容画素同士による斥力を考える。   That is, when n is the number of overlaps, the sum of the number of combinations is s (n). Specifically, the print permitting pixels that overlap with the target record permitting pixel for calculating the repulsive force (at the same position in the same plane or different planes) are checked, and the record permitting pixel located at the distance r from the target record permitting pixel is checked. In this case, the number of common overlaps of the recording allowable pixel and the recording allowable pixel of another plane that overlaps at the same position as the target recording allowable pixel and the recording allowable pixel that overlaps similarly at the pixel of each plane at the distance r is n. And Then, consider the repulsive force caused by the overlapping print permitting pixels between these two pixels.

この場合、例えば、ある2画素間で第1プレーン、第2プレーンおよび第3プレーンにそれぞれ共通に記録許容画素が存在する例を考えると、n=3となる。そして、それらの画素間には3つの記録許容画素の重なりに起因する斥力を作用させる。ここで、3つの記録許容画素の重なりによる斥力を考えるとき、3つの記録許容画素の重なりとともに、2つの記録許容画素の重なり同士や1つの記録許容画素同士の斥力が多重的に作用すると考える。換言すれば、第3プレーンを考えなければ、第1プレーンと第2プレーンの2つの記録許容画素の重なりと考えることができ、また、第2プレーンを考えなければ第1プレーンと第3プレーンの2つの記録許容画素の重なりとも考えられる。第1プレーンを考えなければ第2プレーンと第3プレーンの重なりと考えられる。このような記録許容画素が重なることの多重的な効果を計算するために、重なりの組合せによる斥力を定義し上記のようなs(n)を用いる。これによれば、分散性のよい記録許容画素配置を得ることができることが実験上確認されている。   In this case, for example, n = 3 when considering an example in which there are print-allowed pixels in common in the first plane, the second plane, and the third plane between certain two pixels. Then, a repulsive force caused by the overlap of the three recordable pixels is applied between these pixels. Here, when considering the repulsive force caused by the overlap of the three print permitting pixels, it is considered that the overlap of the two print permitting pixels and the repulsive force of one record permitting pixel act in a multiplexed manner. In other words, if the third plane is not considered, it can be considered as an overlap of the two print-permitted pixels of the first plane and the second plane, and if the second plane is not considered, the first plane and the third plane are not overlapped. It can also be considered as an overlap of two recordable pixels. If the first plane is not considered, it is considered that the second plane and the third plane overlap. In order to calculate the multiple effect of overlapping such print permitting pixels, the repulsive force due to the combination of overlaps is defined and s (n) as described above is used. According to this, it has been experimentally confirmed that it is possible to obtain a recording allowable pixel arrangement with good dispersibility.

再び、図8を参照すると、ステップS803で、総ての記録許容画素の斥力ポテンシャルを合計した総エネルギーが求まっている。そして、この総エネルギーを減衰させる処理を行う。   Referring to FIG. 8 again, in step S803, the total energy obtained by summing up the repulsive potentials of all the print permitting pixels is obtained. And the process which attenuates this total energy is performed.

この処理では、総ての記録許容画素について順に、距離rが4以内の画素の中で斥力ポテンシャルが最も下がる画素に記録許容画素を移す。このような処理を繰り返していくことによって(ステップS804)、総ての記録許容画素の斥力ポテンシャルの合計値である総エネルギーを低下させて行く。すなわち、この総エネルギーが徐々に順次減少して行く過程は、記録許容画素の配置が順次分散性を高める過程、つまり記録許容画素配置の低周波数成分が順次少なくなって行く過程である。   In this process, the print permitting pixel is moved to the pixel having the lowest repulsive potential among the pixels having the distance r within 4 in order for all the print permitting pixels. By repeating such processing (step S804), the total energy, which is the total value of the repulsive potentials of all the print permitting pixels, is decreased. That is, the process in which the total energy gradually decreases is a process in which the disposition of the print permitting pixels sequentially increases the dispersibility, that is, a process in which the low frequency components of the record permitting pixel disposition are sequentially decreased.

ステップS805では、ステップS804における総エネルギーの低下率を計算し、それが所定値以下であると判断すると、エネルギー減衰処理を終了する。なお、この所定値は、例えば、実際に印刷を行った結果をもとに、低周波数成分が適切に抑えられた画像を記録できる低下率として求めることができる。   In step S805, the reduction rate of the total energy in step S804 is calculated, and if it is determined that it is equal to or less than a predetermined value, the energy attenuation process is terminated. The predetermined value can be obtained as a reduction rate at which an image in which low frequency components are appropriately suppressed can be recorded based on the result of actual printing.

最後にステップS806で、上記のように総エネルギーの低下率が所定値以下となった状態の各プレーンを1パス目のマスクC1、M1、Y1として設定する。さらに、これらマスクの記録許容画素の配置に対するそれぞれ排他的位置を記録許容画素の配置とした2パス目のマスクC2、M2、Y2を設定する。   Finally, in step S806, each plane in which the rate of decrease in total energy is equal to or less than a predetermined value as described above is set as the first-pass masks C1, M1, and Y1. Furthermore, masks C2, M2, and Y2 for the second pass are set with the print-permitted pixel positions at positions exclusive to the print-permitted pixel positions of these masks.

なお、本実施形態では、ステップS805において総エネルギーの低下率が所定値以下となったか否かを判定し、低下率が所定値以下となったらステップS806へ移行するようにしている。しかし、本実施形態はこの例に限られるものではない。例えば、ステップS805において総エネルギーが所定値以下となったか否かを判定し、総エネルギーが所定値以下となったらステップS806へ移行するようにしてもよい。   In this embodiment, it is determined whether or not the reduction rate of the total energy is equal to or less than a predetermined value in step S805. If the reduction rate is equal to or less than the predetermined value, the process proceeds to step S806. However, the present embodiment is not limited to this example. For example, it may be determined in step S805 whether the total energy has become a predetermined value or less, and when the total energy has become a predetermined value or less, the process may proceed to step S806.

図10(a)〜(d)は、上述した斥力ポテンシャルの計算と総エネルギーの減衰処理を模式的に説明する図である。詳しくは、本実施形態に係るC1、M1、Y1の3プレーンを斜視図で示し、また、特に記録許容画素の移動を平面図で示す図である。ここで、最小の正方形はマスクの画素を示し、3プレーンの重なりにおいて重なる画素がプレーン間で同じ画素位置に対応する。   FIGS. 10A to 10D are diagrams schematically illustrating the above-described repulsive potential calculation and total energy attenuation processing. Specifically, the three planes C1, M1, and Y1 according to the present embodiment are shown in a perspective view, and in particular, the movement of a print permitting pixel is shown in a plan view. Here, the smallest square represents a mask pixel, and overlapping pixels in the overlap of the three planes correspond to the same pixel position between the planes.

図10(a)は、同一プレーンに記録許容画素が存在する場合にそれら記録許容画素間の斥力によってポテンシャルが加えられる(増す)ことを説明する図である。図に示す例では、プレーンC1の注目画素の記録許容画素Doと同じプレーンで距離r離れた画素に記録許容画素が1個存在する例であり、この場合、α=3が適用され、記録許容画素Doのポテンシャルとして1×αE(r)のポテンシャルが加えられる。   FIG. 10A is a diagram for explaining that potential is applied (increased) by repulsive force between the print permitting pixels when the print permitting pixels exist in the same plane. The example shown in the figure is an example in which one recording allowable pixel exists in a pixel separated by a distance r in the same plane as the recording allowable pixel Do of the target pixel of the plane C1. In this case, α = 3 is applied, and recording allowable A potential of 1 × αE (r) is added as the potential of the pixel Do.

図10(b)は、注目記録許容画素Doとは異なるプレーン(プレーンM1、Y1)に記録許容画素が存在する場合に、それら2個の記録許容画素との関係で加えられる斥力ポテンシャルを説明する図である。異なるプレーン間の記録許容画素との関係であるから、β=1が適用され記録許容画素Doのポテンシャルとして記録許容画素2個分の2×βE(r)のポテンシャルが加えられる。   FIG. 10B illustrates the repulsive potential applied in relation to the two print permitting pixels when the print permitting pixels exist in a plane (plane M1, Y1) different from the target recording permitting pixel Do. FIG. Because of the relationship with the print permitting pixels between different planes, β = 1 is applied, and the potential of 2 × βE (r) corresponding to 2 print permitting pixels is added as the potential of the print permitting pixel Do.

図10(c)は、上記の2つの場合である、同一プレーンに記録許容画素が存在する場合と異なるプレーンに記録許容画素が存在する場合に加え、異なるプレーンの同一画素に記録許容画素が存在して記録許容画素の重なりが存在する場合に、それらの記録許容画素との関係で加えられる斥力ポテンシャルを説明する図である。図10(a)および(b)の場合に加え、注目記録許容画素DoのプレーンC1と異なるプレーンY1の同じ画素に記録許容画素が存在することにより、同プレーンの斥力ポテンシャル1×αE(r)と、同じ画素の異なるプレーンの1個の記録許容画素による斥力ポテンシャル1×βE(0)と、異なるプレーンの2個の記録許容画素による斥力ポテンシャル2×βE(r)と、重なる数n=2でγ=3が適用される、重なりによる斥力ポテンシャルγs(2)×E(r)のポテンシャルが加えられる。この結果、図10(c)に示す記録許容画素配置において注目記録許容画素Doが存在することによる斥力ポテンシャルの合計は、1×βE(0)+1×αE(r)+2×βE(r)+γs(2)×E(r)となる。   FIG. 10 (c) shows the above two cases, where there are print permitting pixels in different planes compared to the case where print permitting pixels exist in the same plane, and there are print permitting pixels in the same pixel in different planes. FIG. 6 is a diagram for explaining a repulsive potential that is applied in relation to the print permitting pixels when there is an overlap of the print permitting pixels. In addition to the cases shown in FIGS. 10A and 10B, the presence of a print-allowed pixel in the same pixel of the plane Y1 that is different from the plane C1 of the print-allowable pixel Do of interest allows the repulsive potential 1 × αE (r) of the same plane. And the repulsive potential 1 × βE (0) due to one recording allowance pixel in different planes of the same pixel and the repulsive potential 2 × βE (r) due to two recording allowance pixels in different planes, the number n = 2 In this case, a repulsive potential γs (2) × E (r) due to overlap is applied, where γ = 3 is applied. As a result, the total repulsive potential due to the presence of the target recording allowable pixel Do in the recording allowable pixel arrangement shown in FIG. 10C is 1 × βE (0) + 1 × αE (r) + 2 × βE (r) + γs. (2) × E (r).

図10(d)は、図10(c)に示す記録許容画素配置において、記録許容画素Doを移動させることにより、その記録許容画素の斥力ポテンシャルの合計が変化することを説明する図である。図10(d)に示すように、記録許容画素Do(プレーンC1の記録許容画素)が同じプレーンの隣の画素に移ると、その記録許容画素Doが存在することによる斥力ポテンシャルの合計は、距離がr2、重なり同士の数nが0となることなどにより、βE(1)+1×αE(r2)+2×βE(r2)に変化する。そして、図10(c)に示す記録許容画素配置の場合の斥力ポテンシャルの合計1×βE(0)+2×αE(r)+1×βE(r)+γs(2)×E(r)と、図10(d)の記録許容画素Doが移動したことによる斥力の合計とを比較し、この移動前後の斥力ポテンシャルの合計の変化を知ることができる。   FIG. 10D is a diagram for explaining that the total repulsive potential of the print permitting pixel changes by moving the print permitting pixel Do in the print permitting pixel arrangement shown in FIG. As shown in FIG. 10D, when the recording allowable pixel Do (recording allowable pixel of the plane C1) moves to a pixel adjacent to the same plane, the total repulsive potential due to the presence of the recording allowable pixel Do is the distance. Changes to .beta.E (1) + 1.times..alpha.E (r2) + 2.times..beta.E (r2). Then, the total repulsive potential 1 × βE (0) + 2 × αE (r) + 1 × βE (r) + γs (2) × E (r) in the case of the print allowable pixel arrangement shown in FIG. By comparing the total repulsive force resulting from the movement of the recording allowable pixel Do of 10 (d), the change in the total repulsive potential before and after the movement can be known.

なお、この斥力ポテンシャルの合計は、上記の説明では、2つの画素または記録許容画素移動させたときは3つの画素の記録許容画素によるエネルギーの合計を求めるものとしているが、これは説明を簡易にするためであり、実際は、これらの記録許容画素以外に存在し得る他の画素の記録許容画素を含めた記録許容画素との関係に基づく斥力ポテンシャルの積分として求められるものであることはもちろんである。   In the above description, the sum of the repulsive potentials is obtained by calculating the sum of the energy of the recording allowable pixels of three pixels when the two pixels or the recording allowable pixels are moved. In fact, it is a matter of course that it is obtained as an integral of the repulsive potential based on the relationship with the print permitting pixels including the print permitting pixels of other pixels that may exist other than these print permitting pixels. .

図10(a)〜(c)に示したように斥力ポテンシャルの合計が計算される各記録許容画素の中で、例えば、記録許容画素Doが斥力ポテンシャルの合計が最も大きい場合、図10(d)で説明したようにその移動前後の斥力ポテンシャルの変化を求め、移動前後で最も斥力ポテンシャルの合計が低くなる画素に記録許容画素Doを移動させる。このような処理を繰り返すことによって3プレーン全体の総エネルギーを下げることができる。すなわち、3プレーンのマスクの重なりにおいて記録許容画素分布が、低周波数成分が少なく良好に分散された配置となる。   As shown in FIGS. 10A to 10C, among the print permitting pixels for which the total repulsive potential is calculated, for example, when the print permitting pixel Do has the largest total repulsive potential, FIG. ), The change in repulsive potential before and after the movement is obtained, and the recording allowable pixel Do is moved to the pixel having the lowest total repulsive potential before and after the movement. By repeating such processing, the total energy of the entire three planes can be reduced. That is, the print permitting pixel distribution is an arrangement in which the low-frequency component is small and is well distributed in the overlap of the three plane masks.

そして、このように3プレーンのマスクC1、M1、Y1の重なりにおいて記録許容画素が良好に分散されることによって、これらとそれぞれ補完関係にあるマスクC2、M2、Y2もそれぞれ記録許容画素が良好に分散したものとなる。また、これら6プレーンのうち任意の数(2、3、4または5)のプレーンの重なりにおける記録許容画素の分布も、低周波数成分が少ない良好に分散されたものとなる。本実施形態の場合の往復の順で画像が記録される領域については、1パス目のマスクC1、1パス目のマスクM1、1パス目のマスクY1、2パス目のマスクY2、2パス目のマスクM2、2パス目のマスクC2の順で、それぞれのマスクパターンが重なるように用いられて記録が行われる。従って、中間画像である、「1パス目のC+1パス目のM」、「1パス目のC+1パス目のM+1パス目のY」、「1パス目のC+1パス目のM+1パス目のY+2パス目のY」、「1パス目のC+1パス目のM+1パス目のY+2パス目のY+2パス目のM」、「1パス目のC+1パス目のM+1パス目のY+2パス目のY+2パス目のM+2パス目のC」それぞれのインクドットの分布は、低周波数成分が少なく分散性に優れたものとなる。同様に、復往の順で画像が記録される領域については、1パス目のマスクY1、1パス目のマスクM1、1パス目のマスクC1、2パス目のマスクC2、2パス目のマスクM2、2パス目のマスクY2の順で、それぞれのマスクパターンが重なるように用いられて記録が行われる。従って、中間画像である、「1パス目のY+1パス目のM」、「1パス目のY+1パス目のM+1パス目のC」、「1パス目のY+1パス目のM+1パス目のC+2パス目のC」、「1パス目のY+1パス目のM+1パス目のC+2パス目のC+2パス目のM」、「1パス目のY+1パス目のM+1パス目のC+2パス目のC+2パス目のM+2パス目のY」それぞれのインクドットの分布は、低周波数成分が少なく分散性に優れたものとなる。そして、このようなマスクを用いて生成される各パスのドット記録データによって記録されるドットも良好に分散したものとなる。すなわち、上述のとおり、マスクの記録許容画素の配置パターンはその低周波数成分が少ないことにより、そのマスクを用いて記録されるドットの配置パターンは、マスク処理される前の元の画像におけるドット配置パターンにおける偏りなどが現れないものとなる。つまり、各パスのマスクを用いて記録されるそれぞれのドットパターンも、マスクパターンと同様に低周波数成分が少なく分散性の良いものとなる。   In addition, since the print permitting pixels are well dispersed in the overlap of the three-plane masks C1, M1, and Y1, the mask permitting pixels C2, M2, and Y2 that are complementary to these masks are also excellent in print permitting pixels. It will be distributed. Further, the distribution of the print permitting pixels in the overlap of an arbitrary number (2, 3, 4, or 5) of these 6 planes is also well distributed with few low frequency components. In the case of the present embodiment, for the area where the images are recorded in the order of reciprocation, the first pass mask C1, the first pass mask M1, the first pass mask Y1, the second pass mask Y2, and the second pass. The mask M2 and the mask C2 in the second pass are used so that the mask patterns overlap each other and printing is performed. Therefore, the intermediate image is “the first pass C + 1 pass M”, “the first pass C + 1 pass M + 1 pass Y”, “the first pass C + 1 pass M + 1 pass Y + 2 pass. "Y of the first pass", "C of the first pass, C + 1 pass, M + 1 pass, Y + 2 pass, Y + 2 pass M", "1st pass, C + 1 pass, M + 1 pass, Y + 2 pass, Y + 2 pass. The distribution of each ink dot of “M + 2nd pass C” has few low frequency components and excellent dispersibility. Similarly, for the area where the images are recorded in the order of return, the first pass mask Y1, the first pass mask M1, the first pass mask C1, the second pass mask C2, and the second pass mask. Recording is performed by using the mask patterns so as to overlap each other in the order of M2 and the second-pass mask Y2. Accordingly, the intermediate image is “M of the first Y + 1 pass”, “M of the first Y + 1 pass of the M + 1 pass of C”, and “the first pass of the Y + 1 pass of the M + 1 pass of the C + 1 pass. Eye C ”,“ Y + 1 pass M + 1 pass C + 1 pass C + 2 pass C + 2 pass M ”,“ 1 pass Y + 1 pass M + 1 pass C + 2 pass C + 2 pass The distribution of each ink dot of “M + 2nd pass Y” has few low frequency components and excellent dispersibility. The dots recorded by the dot recording data of each pass generated using such a mask are also well dispersed. That is, as described above, since the low-frequency component of the arrangement pattern of the print permitting pixels of the mask is small, the dot arrangement pattern recorded using the mask is the dot arrangement in the original image before mask processing. There will be no bias in the pattern. That is, each dot pattern recorded using the mask of each pass also has a low frequency component and good dispersibility like the mask pattern.

これにより、インクと記録媒体との相対的な関係から、仮に、中間画像の段階でインクの浸透が十分に行われなくても、インクドットが分散しているため浸透が不十分なインク同士が接触してグレインを作る確率は低いものとなり、いわゆるグレインインによるビーディングの発生を抑制することができる。また、仮に、グレインが発生しても、これらのグレインが良好に分散した分布となるので、それらグレインが記録画像の品位に及ぼす影響を少なくすることができる。   As a result, from the relative relationship between the ink and the recording medium, even if the ink does not sufficiently penetrate at the intermediate image stage, the ink dots are dispersed, so that the inks that are insufficiently penetrated The probability of making grains by contact is low, and so-called beading due to grains can be suppressed. Even if grains are generated, the distribution of these grains is excellently distributed, so that the influence of the grains on the quality of the recorded image can be reduced.

そして、このように、結果として中間画像の段階でインク浸透が必ずしも十分に行われなくてもよいことを考慮すると、プリンタ104において、各プレーン間の記録時間差、つまり吐出時間差を短くすることが可能となる。例えば、キャリッジ速度もしくは吐出周波数を大きくでき、あるいはマルチパス記録におけるパス数を、例えばインクが十分に浸透することを考慮して4パスとしているところ、より少ない2パスにした印刷を実行することも可能となる。   Thus, in consideration of the fact that ink penetration does not always have to be performed at the intermediate image stage as a result, in the printer 104, the recording time difference between the planes, that is, the ejection time difference can be shortened. It becomes. For example, the carriage speed or ejection frequency can be increased, or the number of passes in multi-pass printing is set to 4 passes in consideration of sufficient ink penetration, for example. It becomes possible.

なお、上述の配置移動法は、2パスのマスクのうち1パス目に用いる3プレーンのマスクについて適用する場合に関するものであるが、この方法はこの態様に限られず、総てのプレーンに適用して記録許容画素の配置を決定してもよい。本実施形態の2パス記録に用いるマスクの場合、C、M、Yそれぞれの2パス分の6プレーンのマスクに配置移動法を適用してもよい。この場合は、記録許容画素を移動させる範囲を近傍画素に限定せずに、他のプレーンの記録許容画素との関係で配置画素を入れ替える移動を許すものとする。具体的には、例えば、あるプレーンの記録許容画素を同じプレーンの記録許容画素が配置されていない画素に移動させるとともに、その移動した画素に対応する他のプレーンの画素に配置される記録許容画素をその同じプレーンの、前者の記録許容画素があった画素に対応する画素に移動させる、といった入れ替えを行う。これにより、斥力ポテンシャルの計算に係わるプレーン総てにおける記録許容画素の配置関係が変化し、ポテンシャルエネルギーが最小となる入れ替え移動が可能となる。   Although the above-described arrangement movement method is applied to the case of applying to the three-plane mask used in the first pass among the two-pass masks, this method is not limited to this mode, and is applied to all planes. Thus, the arrangement of the recording allowable pixels may be determined. In the case of a mask used for two-pass printing according to the present embodiment, the arrangement movement method may be applied to a six-plane mask for two passes of C, M, and Y, respectively. In this case, it is assumed that the range in which the print permitting pixels are moved is not limited to the neighboring pixels, but the movement of replacing the arranged pixels in relation to the print permitting pixels of other planes is allowed. Specifically, for example, a print permitting pixel arranged in a pixel of another plane corresponding to the moved pixel is moved to a pixel where the record allowance pixel of the same plane is not arranged. Is moved to a pixel corresponding to the pixel having the former recordable pixel in the same plane. As a result, the arrangement relationship of the print permitting pixels in all the planes related to the calculation of the repulsive potential is changed, and the replacement movement that minimizes the potential energy is possible.

順次配置法
この方法は、上述したように、マスクのプレーンの記録許容画素が未だ配置されていない部分に順次記録許容画素を配置して行く方法である。
Sequential Arrangement Method As described above, this method is a method in which the print permitting pixels are sequentially arranged in a portion of the mask plane where the record permitting pixels are not yet arranged.

図11は、本実施形態の順次配置法による記録許容画素の配置決定処理を示すフローチャートである。   FIG. 11 is a flowchart showing the arrangement determination process of the print permission pixels by the sequential arrangement method of the present embodiment.

図11に示す処理は、3つのプレーンに順次1つずつ記録許容画素を配置し、それを繰り返すことにより、それぞれのプレートで50%の記録許容画素の配置を行うものである。先ず、ステップS1101で、記録許容画素を配置しようするときに、その記録許容画素とマスクC1、M1、Y1の各プレーンにおいて既に配置されている記録許容画素との間に発生する斥力ポテンシャルを計算する。   The process shown in FIG. 11 is to arrange 50% print permitting pixels on each plate by sequentially arranging print permitting pixels one by one on three planes and repeating that. First, in step S1101, when a print permitting pixel is arranged, a repulsive potential generated between the print permitting pixel and the print permitting pixel already arranged in each plane of the masks C1, M1, and Y1 is calculated. .

斥力ポテンシャルの計算自体は、上述の配置移動法で説明したものと同じである。異なる点は、例えば、図10(a)〜(c)に示す例を参照して説明すると、上述の配置移動法とは異なり、記録許容画素Doが同図に示す画素が既に置いてあるのではなく、記録許容画素Doを新たに置くと仮定したときに、既に配置され同じプレーンC1や異なるプレーンM1、Y1の記録許容画素との関係基づいて斥力ポテンシャルを計算する。以上からも明らかなように、未だ記録許容画素が1つも配置されていない最初の段階では、記録許容画素をどこにおいても斥力ポテンシャルは同じ値となる。   The calculation of the repulsive potential itself is the same as that described in the above-described arrangement movement method. The difference will be described with reference to the examples shown in FIGS. 10A to 10C, for example. Unlike the above-described arrangement movement method, the recording allowable pixels Do already have the pixels shown in FIG. Instead, when it is assumed that a new print permitting pixel Do is placed, the repulsive potential is calculated based on the relationship with the print permitting pixels already arranged and on the same plane C1 and different planes M1 and Y1. As is clear from the above, in the first stage where no print permitting pixels are arranged yet, the repulsive potential is the same regardless of the print permitting pixels.

次に、ステップS1102で、それぞれのマスク画素に置いたとしたときに計算される斥力ポテンシャルの中で、最小のポテンシャルエネルギーとなるマスク画素を決定する。そして、ステップS1103では、その最小のエネルギーとなるマスク画素が複数あるか否かを判断する。複数ある場合には、ステップS1107で、乱数を用いてその複数の画素の中から1つのマスク画素を決定する。なお、本実施形態では、同じプレーンでは既に記録許容画素が配置されている画素には重ねて配置しないという条件の下で、最小エネルギーの画素を決定する。これは、重み付け係数や斥力ポテンシャル関数などのパラメータによっては、斥力ポテンシャルの計算において同じプレーンで重ねた場合の方が他のプレーンの記録許容画素との関係などでエネルギーが最小となることがあり、その場合に、マスクは1つのマスク画素に1つの記録許容画素のみが許されるので重なりを禁ずるようにするためである。   Next, in step S1102, the mask pixel having the minimum potential energy is determined among the repulsive potentials calculated when it is placed on each mask pixel. In step S1103, it is determined whether there are a plurality of mask pixels having the minimum energy. If there are a plurality of pixels, a mask pixel is determined from the plurality of pixels using a random number in step S1107. In the present embodiment, the pixel having the minimum energy is determined under the condition that it is not placed on the pixel where the print permitting pixel is already placed in the same plane. Depending on the parameters such as weighting coefficient and repulsive potential function, energy may be minimized when recoiling on the same plane in the calculation of repulsive potential due to the relationship with the recordable pixels of other planes, etc. In this case, the mask is for prohibiting overlap because only one print permitting pixel is allowed for one mask pixel.

ステップS1104では、決定した最小ポテンシャルエネルギーのマスク画素に記録許容画素を配置する。すなわち、その画素のマスクデータを“1”とする。   In step S1104, a print-allowed pixel is placed on the mask pixel having the determined minimum potential energy. That is, the mask data of the pixel is set to “1”.

ステップS1105では、C、M、Yのプレーンについて各1つずつ記録許容画素画が配置されたか否かを判定する。配置されていない場合には、ステップS1101からの処理を繰返す。   In step S1105, it is determined whether or not one recordable pixel image is arranged for each of the C, M, and Y planes. If not, the process from step S1101 is repeated.

プレーンC1、M1、Y1とこの順で1つずつ記録許容画素を配置すると、ステップS1106で、3つのプレーンそれぞれの全マスク画素に対して50パーセントまで記録許容画素が配置されか否かを判断する。それぞれのプレーンで50%まで記録許容画素の配置がなされていないときは、ステップS1101からの処理を繰返す。そして、3つのプレーンの総てで50%の記録許容画素が配置されると、本処理を終了する。以上のようにして1パス目のマスクC1、M1、Y1を設定すると、これらと補完関係にあるマスクC2、M2、Y2を続いて設定する。   When the print permitting pixels are arranged one by one in this order in the order of planes C1, M1, and Y1, it is determined in step S1106 whether or not the print permitting pixels are arranged up to 50% with respect to all the mask pixels of each of the three planes. . If the printable pixels are not arranged up to 50% in each plane, the processing from step S1101 is repeated. Then, when 50% of print permitting pixels are arranged in all three planes, this processing is terminated. When the first-pass masks C1, M1, and Y1 are set as described above, the masks C2, M2, and Y2 that are complementary to these are subsequently set.

以上説明した順次配置法によっても上述した配置移動法と同様の特性を持つマスクを得ることができる。すなわち、順次配置法による3プレーンのマスクC1、M1、Y1は、それらの重なりにおいて記録許容画素が良好に分散されたものとなる。また、それによって、それぞれ補完関係にあるマスクC2、M2、Y2もそれぞれ記録許容画素が良好に分散したものとなる。また、これら6プレーンのうち任意の数(2、3、4または5)のプレーンの重なりにおける記録許容画素の分布も、低周波数成分が少ない良好に分散したものとなる。   Also by the sequential placement method described above, a mask having the same characteristics as the placement movement method described above can be obtained. That is, the three-plane masks C1, M1, and Y1 according to the sequential arrangement method have the print permitting pixels well dispersed in the overlap. As a result, the masks C2, M2, and Y2 that are complementary to each other also have well-distributed recording allowable pixels. In addition, the distribution of the print permitting pixels in the overlap of an arbitrary number (2, 3, 4, or 5) of these 6 planes is also well distributed with few low frequency components.

なお、上述したマスク製法の他の特徴として、記録許容画素の配置が規則的に繰り返されるような周期パターンが生成されることはない、ということがある。例えば、千鳥パターンやベイヤー型の配置が繰り返されるような周期性を持ったパターンは生成されない。万が一生成されたとしても、斥力ポテンシャルのパラメータを設定し直すことで周期パターンを避ける状態に収束させることができる。このように本実施形態のマスク製法によって生成されるマスクは非周期のパターンとなる。   As another feature of the mask manufacturing method described above, there is no generation of a periodic pattern that regularly repeats the arrangement of recordable pixels. For example, a pattern having periodicity that repeats a staggered pattern or a Bayer pattern is not generated. Even if it is generated, it can be converged to avoid the periodic pattern by resetting the repulsive potential parameter. Thus, the mask produced | generated by the mask manufacturing method of this embodiment becomes a non-periodic pattern.

また、上述したマスク製法においては、各プレーンにおいて、特にどこかの記録許容画素を使わない設定は行っていない。しかしながら敢えて、各プレーンにおいて記録許容画素として使わない画素を設定したとしても、その画素をさけながらも低周波数成分が少ない良好に分散したものを得ることができる。   Further, in the above-described mask manufacturing method, setting that does not particularly use any print permitting pixel is not performed in each plane. However, even if a pixel that is not used as a print-allowed pixel is set in each plane, it is possible to obtain a well-distributed pixel with few low frequency components while avoiding the pixel.

(3)マスク特性評価
マスクにおける斥力ポテンシャルの重み付け係数α、β、γs(n)の効果
先ず、以上説明した本実施形態のマスク製法によって製造されたマスクに対して、斥力ポテンシャル計算の(距離の議論はしていない、係数の影響のみ)重み付け係数α、β、γs(n)それぞれがどのように影響しているかについて具体的に説明する。上述したように係数αは同一プレーンにおける記録許容画素の分散に影響し、係数βは異なるプレーン間の記録許容画素の分散に影響し、また、γs(n)は異なるプレーンの記録許容画素が同じ位置の画素にあって重なる場合のこの重なりの分散に影響している。
(3) Mask characteristic evaluation
Effects of Weighting Factors α, β, γs (n) of Repulsive Potential in Mask First, repulsive potential calculation (with no discussion of distance ) is performed on the mask manufactured by the mask manufacturing method of the present embodiment described above. Only the influence of the coefficients) How each of the weighting coefficients α, β, γs (n) affects will be described in detail. As described above, the coefficient α affects the dispersion of the print permission pixels in the same plane, the coefficient β affects the dispersion of the print permission pixels between different planes, and γs (n) is the same for the print permission pixels of the different planes. This influences the dispersion of the overlap in the case of overlapping at the pixel at the position.

なお、本実施形態では、E(r)として同じ関数(図9)を総ての項に用いているが、異なるポテンシャル関数をそれぞれの項に用いることもできる。この場合は、それぞれの関数E(r)と対応するそれぞれの重み付け係数α、β、γ(n)の積であるαE(r)、βE(r)´、γE(r)´´の違いが、本質的に以下で説明する、分散の違いとなって影響を及ぼすことはもちろんである。   In this embodiment, the same function (FIG. 9) is used for all terms as E (r), but different potential functions can be used for each term. In this case, the difference between αE (r), βE (r) ′, and γE (r) ″, which is the product of the respective weighting coefficients α, β, and γ (n) corresponding to each function E (r). Of course, the difference in dispersion, which will be explained below, has an influence.

仮に、同一のプレーン内の記録許容画素間のみに斥力ポテンシャルを定義しエネルギーを減衰させて記録許容画素分布を決める場合、すなわち、αE(r)でα=1、β=γ=0とする場合、1つのプレーンの記録許容画素分布は、それぞれプレーンにおける記録許容画素の配置の分散性がよい。これはαE(r)の効果によるものである。しかし、2つ(複数)のプレーンを重ねたものから重なる記録許容画素(論理積、論理和)、のパターンを抽出したものは、記録許容画素の配置に偏りがあり低周波数成分の多いものとなる。2つのプレーン間でたまたま重なってしまう記録許容が素が発生してしまったり、2つのプレーン間に関連がないために偏りが生じたりするためである。   If the repulsive potential is defined only between the print allowable pixels in the same plane and the energy is attenuated to determine the print allowable pixel distribution, that is, α = 1 (α) and β = γ = 0 in αE (r). The recording allowable pixel distribution of one plane has good dispersibility of the arrangement of the recording allowable pixels in each plane. This is due to the effect of αE (r). However, a pattern obtained by extracting a pattern of overlapping print permitting pixels (logical product, logical sum) from a superposition of two (plural) planes has a bias in the arrangement of the print permitting pixels and has many low frequency components. Become. This is because a recording allowance that happens to overlap between two planes may occur, or a bias may occur because there is no relationship between the two planes.

なお、[論理積]パターンとは、文字通り、図12に示すように、複数プレーン間の同じ画素位置について論理積の演算を行うことで得られるパターンである。具体的には、複数(図に示す例では、2つ)のプレーンの対応する画素位置に記録許容画素(“1”)がともに存在するとき、その位置を抽出したパターンが論理積パターンである。この論理積パターンは、異なるプレーン間で記録許容画素の重なりがある場合にその分布を示すものである。   The “logical product” pattern is literally a pattern obtained by performing a logical product operation on the same pixel position between a plurality of planes, as shown in FIG. Specifically, when there are both print-permitted pixels (“1”) at corresponding pixel positions in a plurality of (two in the example shown in the figure) planes, a pattern obtained by extracting the positions is a logical product pattern. . This logical product pattern shows the distribution when there is an overlap of print permitting pixels between different planes.

なお、[論理和]パターンとは、文字通り、図13に示すように、複数プレーン間の同じ画素位置について論理和の演算を行うことで得られるパターンである。具体的には、複数(図に示す例では、2つ)のプレーンのいずれかの画素位置に記録許容画素(“1”)が存在するとき、その位置を抽出したパターンが論理和パターンである。この論理和パターンは、異なるプレーンそれぞれの記録許容画素の配置を1つのプレーンで示すものである。   The “logical sum” pattern is literally a pattern obtained by performing a logical sum operation on the same pixel position between a plurality of planes, as shown in FIG. Specifically, when a print permitting pixel (“1”) is present at any pixel position of a plurality of (two in the example shown in the figure) plane, the pattern obtained by extracting the position is a logical sum pattern. . This logical sum pattern shows the arrangement of print permitting pixels on different planes as a single plane.

次に、3プレーンの総ての記録許容画素に同じ斥力ポテンシャルを加えた場合、すなわち、αE(r)およびβE(r)において、α=β=1、γ=0の場合を仮定する。この場合は、それぞれのプレーンの記録許容画素分布は、ある大きさの低周波数成分を持ち分布に偏りがある。一方、上記の3色のプレーンを重ねたものの記録許容画素分布(論理和)は分散がよい。これはα、βが同じ値であることによって、同一プレーンの記録許容画素を分散させる効果が、他のプレーンの記録許容画素を分散させる効果と同じであるため、結果として、それぞれのプレーンでは、記録許容画素分布の分散が不十分になるからである。   Next, it is assumed that the same repulsive potential is applied to all the recording allowed pixels of the three planes, that is, α = β = 1 and γ = 0 in αE (r) and βE (r). In this case, the recording allowable pixel distribution of each plane has a low frequency component of a certain size and the distribution is biased. On the other hand, the recordable pixel distribution (logical sum) of the above-described three-color planes is well distributed. Since α and β are the same value, the effect of distributing the recording allowable pixels of the same plane is the same as the effect of distributing the recording allowable pixels of the other planes. This is because the recording allowable pixel distribution is insufficiently distributed.

そこで、同一プレーンと異なるプレーン間で斥力ポテンシャルを変えるべく、例えば、α=3、β=1とする。これにより、他のプレーンの影響を相対的に小さくでき同一プレーン内の分散性がよくなる。さらに、2つのプレーンを重ねたものの記録許容画素分布(論理和パターン)は、低周波数成分の少ない分散の良い分布となる。このように、同一プレーン、異なるプレーンの記録許容画素の分散性の両方がよくなる。つまり、αE(r)とβE(r)の項を作用させ、かつαとβの値を異ならせることにより、同一プレーン内、異プレーン内両方の分散性が良くなる。   Therefore, in order to change the repulsive potential between the same plane and different planes, for example, α = 3 and β = 1. Thereby, the influence of other planes can be made relatively small, and the dispersibility within the same plane is improved. Furthermore, the print allowable pixel distribution (logical sum pattern) of the two planes overlapped is a distribution with good low dispersion with low frequency components. As described above, both the dispersibility of the print permitting pixels in the same plane and different planes are improved. That is, by causing the terms αE (r) and βE (r) to act and making the values of α and β different, the dispersibility both in the same plane and in different planes is improved.

次に、記録許容画素の重なりがある場合において、先ず、γs(n)E(r)の項を用いない場合を考える。低周波数成分をもたない記録許容画素分布を持った2つのプレーンを、γs(n)E(r)の項を作用させずに、重ねて得られるものの記録許容画素分布から重なり記録許容画素を抽出したもの(論理積)は、低周波数成分が多い分散の悪い分布となる。   Next, let us consider a case where the term of γs (n) E (r) is not used when there is an overlap of print permitting pixels. An overlap recording allowable pixel is obtained from the recording allowable pixel distribution of the two planes having the recording allowable pixel distribution having no low frequency component, which are obtained without overlapping the term of γs (n) E (r). The extracted one (logical product) has a distribution with many low frequency components and poor dispersion.

これに対して、γs(n)E(r)の項を加えた場合、先ず、それぞれのプレーンについて、低周波数成分をもたない記録許容画素分布が得られる。そして、これらのプレーンを重ねたものの記録許容画素分布から重なり記録許容画素を抽出したもの(論理積)の分布も、低周波数成分をもたない記録許容画素の配置となる。   On the other hand, when the term of γs (n) E (r) is added, first, a recording allowable pixel distribution having no low frequency component is obtained for each plane. Then, the distribution (logical product) obtained by extracting the overlapping recording allowable pixels from the recording allowable pixel distribution obtained by superimposing these planes (logical product) is also an arrangement of the recording allowable pixels having no low frequency component.

このように、γs(n)E(r)の項は、基本的に、重なる記録許容画素同士が良好に分散する効果を与えるものであるが、図10(a)〜(d)にて説明したように、この項が、重なりが多いほどポテンシャルが高くなるよう設定され、そのポテンシャルに応じて記録許容画素を1つずつ移動し、または配置してエネルギーを減らすことにより、エネルギーを減らす処理の過程で重なりの数を減らす効果を与えている。これは、同じプレーンで隣接する記録許容画素について、αE(r)が隣接する記録許容画素の数を減らす効果を与えることと同じことを意味している。このように、γs(n)E(r)の項は、単に重なる記録許容画素同士をできるだけ分散させるようにするだけでなく、その重なりの数を減らす効果をも与えている。そして、この効果によって、隣接や重なりによる記録許容画素の塊における記録許容画素の数はできるだけ少なくし、結果として低周波数成分の少ない記録許容画素分布を得ることができる。   As described above, the term of γs (n) E (r) basically gives the effect of good dispersion of the overlapping recording allowable pixels, but will be described with reference to FIGS. 10 (a) to 10 (d). As described above, this term is set so that the potential increases as the overlap increases. By moving or arranging the recording allowable pixels one by one according to the potential and reducing the energy, the energy is reduced. This has the effect of reducing the number of overlaps in the process. This means that αE (r) has the same effect of reducing the number of adjacent print permitting pixels for adjacent print permitting pixels in the same plane. As described above, the term of γs (n) E (r) not only merely disperses the overlapping print permitting pixels as much as possible, but also has an effect of reducing the number of overlaps. By this effect, the number of print permitting pixels in the block of print permitting pixels due to adjacent or overlapping is reduced as much as possible, and as a result, a print permitting pixel distribution with few low frequency components can be obtained.

以上の観点から、本実施形態では、上述したようにα=3、β=1、γ=3の値を用いる。   From the above viewpoint, in this embodiment, the values of α = 3, β = 1, and γ = 3 are used as described above.

なお、例えば、α、β<<γとして、複数のプレーンの重なりにおいて抽出される重なる記録許容画素に特に注目し、上記γs(n)E(r)の項の効果によって、重なる記録許容画素が、特に低周波数成分が少ない分散が良いものとすることも可能となる。   Note that, for example, as α and β << γ, pay particular attention to the overlapping recording allowable pixels extracted in the overlapping of a plurality of planes, and due to the effect of the term of γs (n) E (r), the overlapping recording allowable pixels are In particular, it is possible to achieve good dispersion with less low frequency components.

また、本実施形態では、プレーン間の斥力はすべて、βE(r)としているが、相互作用の大きさなどを考えて各プレーン間で相互作用を異ならせることは有効である。例えば、プレーン数が多い場合になるべく近い時間に打ち込まれるインクに用いるマスクのプレーン間の斥力ポテンシャルを他の斥力ポテンシャルに対して大きくする、つまりβE(r)の係数やE(r)の形をプレーン間で変えることも有効である。また、例えば、反応系を用いた定着において、反応液またはそのような成分を有したインクを記録ヘッドによって吐出する場合に、その反応液等に用いるマスクのプレーンとその反応液等と反応作用が大きいインクに用いるマスクのプレーンの斥力ポテンシャルを通常より多くすることも有効である。斥力ポテンシャルの関数を変える具体例として、斥力が及ぶ範囲の距離rを変える例を挙げることができる。例えば、処理にかかる画像データの階調値が50%階調のとき、上記のようにr=16とし、階調値が50%より大きくまたは小さくなるほどrを大きくするようにすることができる。   In this embodiment, the repulsive force between the planes is all βE (r), but it is effective to make the interactions different between the planes in consideration of the magnitude of the interaction. For example, when the number of planes is large, the repulsive potential between the mask planes used for ink that is applied as close as possible is made larger than other repulsive potentials, that is, the coefficient of βE (r) and the shape of E (r) are increased. It is also effective to change between planes. Also, for example, in the case of fixing using a reaction system, when a reaction liquid or ink having such a component is ejected by a recording head, the mask plane used for the reaction liquid or the like reacts with the reaction liquid or the like. It is also effective to increase the repulsive potential of the mask plane used for large inks. As a specific example of changing the repulsive potential function, an example of changing the distance r in the range where the repulsive force can be given can be given. For example, when the gradation value of the image data to be processed is 50% gradation, r = 16 as described above, and r can be increased as the gradation value is larger or smaller than 50%.

なお、本明細書では、記録許容画素ないしその重なりが均一に分散するほど、「より良好な分散」もしくは「分散がより良いこと」を意味する。そして、「均一な分散」とは、上記の斥力ポテンシャルの例で言えば総エネルギーを可能な限り低くした状態、すなわち、記録許容画素の重なりや隣接による塊があるときはそれらの重なりや隣接の数をできるだけ少なくした状態であり、さらに、このような状態で、記録許容画素を可能な限り均等に配置することである。さらに、「低周波数成分が少なくなる(小さくなる)」とは、上記のように分散が良いとき、その分布について後述されるパワースペクトルにおける、人間の視覚特性における感度の高い領域(低周波数領域)の周波数成分が、その分散が良い程度に応じて少なくなる(小さくなる)ことを意味する。   In the present specification, the more uniformly the print-permitted pixels or their overlaps are distributed, the more “good dispersion” or “the better the dispersion” is. “Uniform dispersion” refers to a state where the total energy is as low as possible in the example of the repulsive potential, that is, when there are overlapping or adjacent lumps of recording allowable pixels, the overlapping or adjacent This is a state where the number is as small as possible. Further, in such a state, the print permitting pixels are arranged as evenly as possible. Furthermore, “low frequency component is reduced (decreased)” means that when the dispersion is good as described above, a region having a high sensitivity in human visual characteristics (low frequency region) in the power spectrum described later regarding the distribution. This means that the frequency component decreases (decreases) depending on the degree of good dispersion.

マスク特性評価
図14〜図16は、上述した製法によって製造された本実施形態のマスクC1、M1、Y1(以下「積層マスク」という)それぞれの記録許容画素の配置パターンを示す図である。また、図17は、特許文献1の記載に従って作成した、シアンインクの1パス目に用い得るマスク(「自プレーンのみの分散マスク」という)のパターンを示し、図18は、特許文献2に記載に従って作成されたランダムマスクのパターンを示している。図14〜図16に示される各マスクパターンは、256×256の画素のエリアを有している。各パターンにおいて、白く示した画素は非記録許容画素(すなわちその画素の画像データによらずマスキングされてしまう画素)を、黒く示した画素は記録許容画素(すなわちその画素の画像データに応じてドット形成がなされることになる画素)をそれぞれ表している。
Mask Characteristic Evaluation FIGS. 14 to 16 are diagrams showing an arrangement pattern of print permitting pixels of the masks C1, M1, and Y1 (hereinafter referred to as “laminated masks”) of the present embodiment manufactured by the above-described manufacturing method. FIG. 17 shows a pattern of a mask (referred to as “distributed mask of only its own plane”) that can be used in the first pass of cyan ink , created according to the description of Patent Document 1 , and FIG. The pattern of the random mask created according to is shown. Each mask pattern shown in FIGS. 14 to 16 has an area of 256 × 256 pixels. In each pattern, the pixels shown in white are non-printable pixels (that is, pixels that are masked regardless of the image data of the pixels), and the pixels shown in black are dots that are printable pixels (that is, dots corresponding to the image data of the pixels). Each pixel is to be formed.

これらの図に示すように、図18に示すランダムマスクのみが、他のマスク(積層マスクおよび自プレーンのみの分散マスク)に比べて、視覚的なザラツキ感が高く、滑らかさに乏しい印象を受ける。これは、ランダムマスクパターンを作成する際に、特にそのプレーン内のドット配置の相関関係を考慮(係数α)することなしに、ランダムにドットの記録許容画素の配置を定めているからである。これに対し、「自プレーンのみの分散マスク」(図17)や積層マスクのパターン(図14〜図16)は、特に、係数αの効果によって同一プレーン内の分散性を考慮した記録許容画素が配置されているので、記録許容画素の分散に偏りが無く、全体的に滑らかな印象を受ける。 As shown in these figures, only the random mask shown in FIG. 18 has a higher visual roughness and less smoothness than other masks ( laminated mask and self-plane only dispersion mask ). . This is because when the random mask pattern is created, the arrangement of the print permitting pixels of the dots is determined at random without particularly considering the correlation of the dot arrangement in the plane (coefficient α). On the other hand, in the “dispersion mask of only the own plane” (FIG. 17) and the pattern of the lamination mask (FIGS. 14 to 16), in particular, the print permitting pixel considering the dispersibility in the same plane due to the effect of the coefficient α. Since they are arranged, there is no bias in the dispersion of the recordable pixels, and the overall impression is smooth.

図19および図20は、それぞれ、図14および図15に示した2つの積層マスク(C1、M1)の論理和パターンおよび論理積パターンを示す図である。また、図21および図22は、図14、図15および図16に示した積層マスクC1、M1、Y1のそれぞれ論理和パターンおよび論理積パターンを示す図である。さらに、図23および図24は、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクのそれぞれ論理和パターンおよび論理積パターンを示す図であり、図25および図26は、色毎に異ならせたランダムマスクのそれぞれ論理和パターンおよび論理積パターンを示す図である。なお、論理和パターンとは、図13を用いて説明した通り、2つのマスクを論理和することによって得られる記録許容画素の配列パターンであり、また、論理積パターンとは、図12を用いて説明した通り、2つのマスクを論理積することによって得られる記録許容画素の配列パターンである。 19 and 20 are diagrams showing the logical sum pattern and logical product pattern of the two stacked masks (C1, M1) shown in FIGS. 14 and 15, respectively . FIGS. 21 and 22 are diagrams showing a logical sum pattern and a logical product pattern of the stacked masks C1, M1, and Y1 shown in FIGS. 14, 15, and 16, respectively. Furthermore, random 23 and 24, each of the dispersion mask only own planes different for each color is a diagram showing a logical sum pattern and logical product patterns, which 25 and 26 are different for each color It is a figure which shows each the logical sum pattern and logical product pattern of a mask. As described with reference to FIG. 13, the logical sum pattern is an array pattern of print permitting pixels obtained by logically summing two masks, and the logical product pattern is shown in FIG. As described above, this is an array pattern of print permitting pixels obtained by ANDing two masks.

図19および図20に示すように、本実施形態の2つのマスクを重ねた場合の記録許容画素の配置(論理和)と、その中から記録許容画素が重なったものを抽出したものの配置(論理積)は、ともに分散がよくざらつき感のないものとなっている。これは、上述したように、2つのプレーン相互で記録許容画素の分散を考慮(係数β)するとともに、重なり自体の分散を考慮(係数γs(n))しているからである。   As shown in FIGS. 19 and 20, the arrangement (logical sum) of print permitting pixels when the two masks of the present embodiment are overlapped, and the arrangement (logical logic) of those obtained by overlapping the print permitting pixels are extracted. The product) is well distributed and has no rough feeling. This is because, as described above, the dispersion of the print allowable pixels is considered between the two planes (coefficient β) and the dispersion of the overlap itself is taken into account (coefficient γs (n)).

また、図21に示すように、本実施形態の3つのマスクを重ねた場合の記録許容画素の論理和パターンは全体に隙間なく記録許容画素が配置されたものとなる。すなわち、本実施形態は3つのプレーン相互で記録許容画素の分散を考慮(係数β)していることから、3つのプレーン相互の記録許容画素は良好に分散し、その結果、全体に隙間なく配置されることとなる。さらに、それぞれのプレーンは2パス記録用の均等マスクであることから50%密度で記録許容画素を配置している。従って、3つのプレーンを重ねたものの密度は150%となって重なりを排除できないが、本実施形態はその重なりを、係数γs(n)によって2つの重なりまでとしている。その結果、図22に示すように、3つの重なりを抽出した論理積パターンではその重なりが存在しないものとなる。   Further, as shown in FIG. 21, the logical sum pattern of the print permitting pixels when the three masks of this embodiment are overlapped is such that the print permitting pixels are arranged without any gaps. In other words, since the present embodiment considers the dispersion of the recordable pixels among the three planes (coefficient β), the recordable pixels between the three planes are well dispersed, and as a result, are arranged without gaps throughout. Will be. Further, since each plane is a uniform mask for two-pass printing, print permitting pixels are arranged at 50% density. Accordingly, the density of the three planes overlapped is 150%, and the overlap cannot be excluded, but in the present embodiment, the overlap is limited to two overlaps by the coefficient γs (n). As a result, as shown in FIG. 22, in the logical product pattern in which three overlaps are extracted, the overlap does not exist.

これに対し、色毎に異ならせた「自プレーンのみの分散マスク」について異なる色のプレーンを重ねたときの論理和パターンと論理積パターンは、それぞれ図23および図24に示すように、図19および図20に示される論理和および論理積のパターンと較べて分散がよくないものとなっている。これは、上述したように特許文献1では、同じプレーン内の分散は考慮しているものの、プレーン相互の記録許容画素の分散(係数β)や記録許容画素の重なりの分散(係数γs(n))を考慮していないからである。色毎に異ならせたランダムマスクの場合も、図25および図26に示すように、同様に論理和パターンおよび論理積パターンはいずれも分散が良くない。 In contrast, the logical sum pattern and logical product pattern when overlapping different color planes for was different for each color "dispersion mask only self plane", as shown in FIGS. 23 and 24, 19 Also, the dispersion is not as good as the pattern of logical sum and logical product shown in FIG . As described above, in Patent Document 1, although dispersion in the same plane is taken into consideration, the dispersion of the print allowable pixels between the planes (coefficient β) and the dispersion of the overlap of the print allowable pixels (coefficient γs (n)). ) Is not taken into account. Also in the case of random masks that differ for each color , as shown in FIGS. 25 and 26, both the logical sum pattern and the logical product pattern are not well dispersed.

マスクパターンの他の評価方法として、「重ね合わせ」パターンを用いたものを定義する。この「重ね合わせ」パターンは、図27に示すように、複数(図に示す例では2つ)のプレーンのいずれかのマスク画素に記録許容画素(“1”)が存在するとき、その対応する画素に記録許容画素を示すデータ“1”が存在し、かつ記録許容画素が同じマスク画素で重なるときはその数に応じたデータが存在するパターンである。たとえば、重なりが2である場合は“2”、3である場合には“3”というようにする。そして、後述する「重ね合わせパターン」はそのデータが示す数に応じた濃度で表される。すなわち、記録許容画素の重なりが多いほど、黒濃度が濃くなるように示している。この重ね合わせパターンは、異なるプレーンそれぞれの記録許容画素の配置を1つのプレーンで示すとともに、記録許容画素の重なりの配置をその重なりの程度とともに示すことができる。   As another evaluation method of the mask pattern, a method using an “overlapping” pattern is defined. As shown in FIG. 27, this “overlapping” pattern corresponds to a case where a print allowable pixel (“1”) exists in any mask pixel of a plurality of (two in the example shown in the figure) planes. When the data “1” indicating the print permitting pixel exists in the pixel and the print permitting pixel overlaps with the same mask pixel, the data according to the number exists. For example, when the overlap is 2, “2” is set, and when it is 3, “3” is set. A “superimposition pattern” to be described later is represented by a density corresponding to the number indicated by the data. That is, it is shown that the black density becomes higher as the recording allowable pixels overlap. This superposition pattern can indicate the arrangement of print permitting pixels of different planes as a single plane, and can also indicate the arrangement of overlap of print permitting pixels together with the degree of overlap.

図28および図29は、本実施形態の積層マスクをそれぞれ2つおよび3つ重ねたときの「重ね合わせ」パターンを示す図である。   FIG. 28 and FIG. 29 are diagrams illustrating “overlapping” patterns when two and three stacked masks of the present embodiment are stacked, respectively.

これらの図28、図29に示すパターンは、本実施形態のマスクを用いて記録を行うときのそれぞれ中間画像のインクドットのパターンに近いものを表している。従って、これらのパターンからも、中間画像におけるインクドットやそれらの重なりが良好に分散していることがわかる。   The patterns shown in FIGS. 28 and 29 represent patterns close to the ink dot pattern of the intermediate image when printing is performed using the mask of this embodiment. Therefore, it can be seen from these patterns that ink dots and their overlap in the intermediate image are well dispersed.

図30は、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクを2つ重ねたときの「重ね合わせ」パターンを示す図である。図31は、色毎に異ならせたランダムマスクを2つ重ねたときの「重ね合わせ」パターンを示す図である。これら図30〜図31に示されるように、これら「重ね合わせ」パターンも、記録許容画素およびその重なりの分散性がよくないことがわかる。 Figure 30 is a Ru FIG der showing a "superposing" pattern obtained when the dispersion mask only own planes different for each color two superposed. FIG. 31 is a diagram showing an “overlapping” pattern when two random masks different for each color are overlapped . As shown in these figures 30 through 31, these "superposing" patterns, it can be seen that the dispersibility of the print permitting pixel and the overlapping is not good.

パワースペクトルによる評価
次に、マスクパターンの周波数特性を示すパワースペクトルによって本実施形態のマスクを評価する。以下で説明するパワースペクトルは、記録許容画素をドットの配置に置き換えたときに得られるものであり、256画素×256画素のサイズのプレーンについてパワースペクトルを求めたものである。ここで、パワースペクトルは、2次元空間周波数を1次元として扱える、「T. Mitsa and K. J. Parker, “Digital Halftoning using a Blue Noise Mask”, Proc. SPIE 1452, pp.47-56(1991)」に記載のradially averaged power spectrum である。
Evaluation by Power Spectrum Next, the mask of this embodiment is evaluated by a power spectrum indicating the frequency characteristics of the mask pattern. The power spectrum described below is obtained when the print permitting pixels are replaced with the dot arrangement, and is obtained for a plane having a size of 256 pixels × 256 pixels. Here, the power spectrum can be treated as a one-dimensional two-dimensional spatial frequency, “T. Mitsa and KJ Parker,“ Digital Halftoning using a Blue Noise Mask ”, Proc. SPIE 1452, pp. 47-56 (1991)”. It is described as a radially averaged power spectrum.

図32は、積層マスク、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクおよび色毎に異ならせたランダムマスクそれぞれについて、単独のマスクパターン(C1)の周波数特性を説明する図である。図33は、これら3種のマスクそれぞれについて、2つマスク(C1、M1)の論理和パターンの周波数特性を説明する図である。図34は、これら3種のマスクそれぞれについて、2つマスク(C1、M1)の論理積パターンの周波数特性を説明する図である。 FIG. 32 is a diagram for explaining the frequency characteristics of a single mask pattern (C1) for each of the laminated mask, the dispersion mask of only the own plane made different for each color, and the random mask made different for each color . FIG. 33 is a diagram illustrating the frequency characteristics of the logical sum pattern of two masks (C1, M1) for each of these three types of masks. FIG. 34 is a diagram illustrating the frequency characteristics of the logical product pattern of two masks (C1, M1) for each of these three types of masks.

図32において、各曲線は、それぞれのマスクパターンの、空間周波数に対するパワースペクトルを示している。曲線aは、積層マスクのマスクパターン(図14)のパワースペクトルを、曲線bは、自プレーンのみの分散マスクのパターン(図17)のパワースペクトルを、また、曲線cは、ランダムマスクのパターン(図18)のパワースペクトルをそれぞれ示す。これら3つの曲線を比較すると、ランダムマスク(曲線c)は、空間周波数の全域に対し略一律なパワーを有していることがわかる。ランダムマスクは、ランダムに記録許容画素の配置を定めているために、記録許容画素が分散する間隔に特別な特徴を有していない。従って、低周波数領域から高周波数領域にかけて略一様な分布となる。一方、積層マスクおよび自プレーンのみの分散マスク(曲線aおよびb)は、低周波数の領域でのパワーが低く、パワーのピークが高周波に存在しており、低周波数成分が高周波数成分よりも少なくなっている。これは、記録許容画素同士がある程度の距離を維持しながらも、略均等に分散していることを示している。 In FIG. 32, each curve indicates a power spectrum with respect to a spatial frequency of each mask pattern. Curve a represents the power spectrum of the mask pattern (FIG. 14) of the laminated mask, curve b represents the power spectrum of the dispersion mask pattern (FIG. 17) of only its own plane, and curve c represents the random mask pattern ( The power spectrum of FIG. 18) is shown respectively. Comparing these three curves, it can be seen that the random mask (curve c) has substantially uniform power over the entire spatial frequency. The random mask does not have a special feature in the interval at which the print permitting pixels are dispersed because the print permitting pixels are randomly arranged. Therefore, the distribution is substantially uniform from the low frequency region to the high frequency region. On the other hand, the laminated mask and the dispersion mask (curves a and b) having only the own plane have low power in the low frequency region, the power peak is present at high frequency , and the low frequency component is less than the high frequency component. It has become. This indicates that the print permitting pixels are distributed substantially evenly while maintaining a certain distance.

マスクパターンの性能評価として、マスクパターンのパワースペクトルが存在する周波数領域のうち、およそ半分より低周波数側にある「低周波数成分」に着目することが本発明の大きな特徴である。マスクパターンの低周波数成分が低く抑えられている状態で、上述したようにグレインの分布に起因するビーディングは現れにくく、また視認されにくい。結果として、記録した画像は視覚的にはざらつき感がないものとなる。また、特に、マスクパターンは、1つのパターンを記録する画像に対して2次元的に繰り返し用いる。この一定のマスクパターンを繰り返した場合は、マスクパターンの低周波数成分が多ければ多いほど、その繰り返しパターンの模様が人の目に認識されやすい。そして、その模様はビーデイングの発生および見え方に大きく影響するため、マスク周期に関連したザラツキ感が発生する。そこで、繰り返しパターンに着目して、マスクパターンの低周波数成分側を抑える設計が重要となる。つまり本発明では、視覚的にザラツキなどが気になる低周波数領域に焦点をあてて、その低周波域の成分を低く抑えるようにしている。すなわち、本発明のマスクパターンはそのような低周波数のパワーが低く抑えられていることが特徴である。   As a performance evaluation of a mask pattern, it is a major feature of the present invention to pay attention to a “low frequency component” on the lower frequency side than about half of the frequency region where the power spectrum of the mask pattern exists. In the state where the low frequency component of the mask pattern is kept low, beading due to the grain distribution hardly appears as described above, and is hardly visible. As a result, the recorded image is not visually rough. In particular, the mask pattern is repeatedly used two-dimensionally for an image on which one pattern is recorded. When this certain mask pattern is repeated, the more low frequency components of the mask pattern are, the more easily the pattern of the repeated pattern is recognized by human eyes. Since the pattern greatly affects the occurrence and appearance of beading, a rough feeling related to the mask cycle occurs. Therefore, it is important to pay attention to the repetitive pattern and to suppress the low frequency component side of the mask pattern. In other words, the present invention focuses on the low frequency region where the roughness or the like is visually worrisome, and suppresses the low frequency region component to a low level. That is, the mask pattern of the present invention is characterized in that such low-frequency power is kept low.

さらに、人間の目の感度に関する周波数特性は、記録物と人の目の距離などに依存し、例えば、ドーリイ(Dooley)の文献(「R.P. Dooley:Prediction Brightness Appearance at Edges Using Linear and Non−Liner Visual Describing Functions, SPES annual Meeting (1975)」)などによってこれまで多く論じられている。様々な実験から記録物を見る場合には、およそ10cycles/mmより低い周波数領域の成分が人の目に認識しやすいと言われている。このことに関して、本発明者も実験的に確認している。そこで、10cycles/mmより低周波数側を含む領域(低周波数領域)に着目することが重要といえる。なお、後述する各実施形態のマスク評価(例えば、図50)で着目している低周波数領域は、おおよそこれらの範囲と重なっている。   Further, the frequency characteristic related to the sensitivity of the human eye depends on the distance between the recorded material and the human eye, and is described, for example, by Dooley ("RP Dooley: Prediction Brightness Appearance at Edges Using Linear and Non"). -Liner Visual Describing Functions, SPES annual Meeting (1975) "). When viewing recorded matter from various experiments, it is said that components in a frequency region lower than about 10 cycles / mm are easily recognized by human eyes. In this regard, the present inventor has also confirmed experimentally. Therefore, it can be said that it is important to pay attention to a region (low frequency region) including a frequency lower than 10 cycles / mm. Note that the low-frequency region of interest in mask evaluation (for example, FIG. 50) of each embodiment described later substantially overlaps these ranges.

図33および図34積層マスク、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクおよび色毎に異ならせたランダムマスクそれぞれについて、2つのマスク(C、M)の論理和および論理積パターンのパワースペクトルを示す図である。図33および図34から明らかなように、積層マスク(曲線a)の論理和パターンおよび論理積パターンの低周波数成分は高周波数成分よりも少なくなっており、上述した通り、これら論理和および論理積パターンの記録許容画素の配置は分散性に優れたものとなっているまた、図33および図34のいずれの場合も、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスク(曲線b)の低周波数成分積層マスク(曲線a)より多くなっている。すなわち、図23および図24に示したような、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクにおける記録許容画素の配置は、図19および図20に示したような、積層マスクに比べ、その分散が劣る。 FIG. 33 and FIG. 34 show the logical sum and logical product pattern of two masks (C, M) for a stacked mask, a dispersion mask of only its own plane made different for each color, and a random mask made different for each color . It is a figure which shows a power spectrum . As is clear from FIGS. 33 and 34, the low frequency component of the logical sum pattern and logical product pattern of the laminated mask (curve a) is smaller than the high frequency component, and as described above, these logical sum and logical product. The arrangement of the pattern recordable pixels is excellent in dispersibility . In both cases of FIGS. 33 and 34, the low frequency component of the dispersion mask (curve b) of only its own plane that is different for each color is larger than that of the laminated mask (curve a). That is, as shown in FIGS. 23 and 24, the arrangement of the print permitting pixels in the dispersion mask of only the own plane made different for each color is compared with the laminated mask as shown in FIGS. Dispersion is inferior.

図35および図36は、積層マスク、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクおよび色毎に異ならせたランダムマスクをそれぞれ2つおよび3つ重ねたときの「重ね合わせ」パターンのパワースペクトルを示す図である。それぞれの図において、曲線aは、本実施形態の積層マスクの重ね合わせパターン(図28、図29)のパワースペクトルを示し、曲線bは、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクの重ね合わせパターン(図30)のパワースペクトルを示し、曲線cは、色毎に異ならせたランダムマスクの重ね合わせパターン(図31)のパワースペクトルをそれぞれ示している。 FIG. 35 and FIG. 36 show the power spectrum of the “superposition” pattern when two and three layer masks, a dispersion mask of only its own plane made different for each color, and a random mask made different for each color are overlaid, respectively. FIG. In each figure, a curve a represents the power spectrum of the overlay pattern (FIGS. 28 and 29) of the laminated mask of the present embodiment, and a curve b represents the overlay of the dispersion mask of only its own plane that is different for each color. The power spectrum of the matching pattern (FIG. 30) is shown, and the curve c shows the power spectrum of the overlay pattern (FIG. 31) of the random mask made different for each color .

3つの曲線を比較すると、ランダムマスクは、上記単独マスク、論理和パターンおよび論理積パターンのパワースペクトルと同様に、空間周波数の全域に対し略一律なパワーを有している。一方、曲線bで示す自プレーンのみの分散マスクの重ね合わせパターンは、図32に示した単一の自プレーンのみの分散マスクに比べ、低周波数成分が多くなっている。また、曲線bで示す自プレーンのみの分散マスクマスクの重ね合わせパターンは、曲線aで示す積層マスクの重ね合わせパターンに比べ、低周波数成分が多くなっている。すなわち、図30に示したように分散が悪くなりパターンのざらつき感が増す。 Comparing the three curves, the random mask has substantially uniform power over the entire spatial frequency as in the power spectrum of the single mask, logical sum pattern, and logical product pattern. On the other hand, the overlapping pattern of the dispersion mask of only the own plane shown by the curve b has more low frequency components than the dispersion mask of only the single own plane shown in FIG. In addition, the superposed pattern of the dispersion mask mask having only its own plane indicated by the curve b has more low frequency components than the superposed pattern of the laminated mask indicated by the curve a . That is, as shown in FIG. 30, the dispersion becomes worse and the feeling of roughness of the pattern increases.

これに対し、図35および図36の曲線aで示す積層マスクの重ね合わせパターンの低周波数成分は、図32に示した単一の積層マスクと比較しても殆ど変わっていない。これは、3つのプレーンを重ね合わせた状態においても、記録許容画素同士がある程度の距離を保ちながら、略均等に分散していることを示している。 On the other hand, the low-frequency component of the overlay pattern of the laminated mask indicated by curve a in FIGS. 35 and 36 is hardly changed even when compared with the single laminated mask shown in FIG. This indicates that even in a state where the three planes are overlapped, the print permitting pixels are distributed substantially evenly while maintaining a certain distance.

ずらしによる評価
本発明の実施形態に係るマスクが上述したランダムマスクや自プレーンのみの分散マスクと異なる点の1つは、異なるプレーンのマスクを正規の位置で重ねた場合と正規ではない位置で重ねた場合の分散性の変化である。本発明の実施形態に係るマスクは、異なるプレーンのマスクの重ね方を意図的にずらした場合、記録許容画素の分散性が大きく低下する。すなわち、本実施形態では、異なるプレーン間でも分散を考慮していることから、その分散を考慮するときの正規の重ね方とは異なる重ね方をすると分散性が大きく低下する。一方、ランダムマスクや自プレーンのみの分散マスクの場合、異なるプレーン間での分散性は考慮していないため、正規の重ね方とは異なる重ね方をしても分散性に変化はない。
Evaluation by Shifting One of the differences between the mask according to the embodiment of the present invention and the dispersion mask of only the self-plane described above is that the masks of different planes are overlapped at the normal positions and the masks at the non-normal positions. Change in dispersibility. In the mask according to the embodiment of the present invention, when the masks of different planes are intentionally shifted, the dispersibility of the print permitting pixels is greatly reduced. That is, in the present embodiment, since dispersion is taken into consideration even between different planes, dispersibility is greatly reduced if a superposition method different from the normal superposition method when considering the dispersion is used. On the other hand, in the case of a random mask or a dispersion mask that includes only its own plane, dispersibility between different planes is not taken into consideration, and therefore the dispersibility does not change even if the overlay method is different from the normal overlay method.

このずれの評価は次のように行う。上述した製法によって作成したC1、M1、Y1を、それぞれから各色ラスター方向にずらす。このときマスク自体は周期的に並ぶためずらすことが可能である。   This deviation is evaluated as follows. C1, M1, and Y1 created by the manufacturing method described above are shifted from each to the direction of each color raster. At this time, the masks themselves can be shifted because they are periodically arranged.

図37〜図39は、マスク(C1、M1)をずらして論理和した場合の論理和パターン場合マスク(C1、M1)をずらして論理積した場合の論理積パターン、および、マスク(C1、M1)をずらして重ね合せた場合の重ね合わせパターンを示す図である。これらの図から明らかなように、本実施形態の積層マスクC1、M1の重ね位置をずらした重ねパターンの論理和、論理積、「重ね合わせ」のいずれも分散性が低下し、パターンを観察したときのざらつき感が増している。 FIGS. 37 39, if the logical sum pattern of the case where the logical OR shifting the mask (C1, M1), the logical product pattern when the logical product is shifted masks (C1, M1), and the mask (C1, It is a figure which shows the superimposition pattern at the time of superimposing by shifting M1) . As is clear from these figures, the dispersibility of all of the logical sum, logical product, and “superposition” of the superposition patterns in which the superposition positions of the lamination masks C1 and M1 of the present embodiment are shifted is lowered, and the pattern is observed. The feeling of roughness is increasing.

図40は、積層マスク(C1、M1)をずらして論理和した場合に得られる論理和パターン、および、積層マスク(C1、M1)をずらさないで論理和した場合(つまり、正規の位置で論理和場合)に得られる論理和パターンのパワースペクトルを示す図である。図41は、色毎に異ならせた自プレーンのみ分散マスク(C1、M1)をずらして論理和した場合に得られる論理和パターン、および、色毎に異ならせた自プレーンのみ分散マスク(C1、M1)をずらさないで論理和した場合(つまり、正規の位置で論理和場合)に得られる論理和パターンのパワースペクトルを示す図である。図42は、色毎に異ならせたランダムマスク(C1、M1)をずらして論理和した場合に得られる論理和パターン、および、色毎に異ならせたランダムマスク(C1、M1)をずらさないで論理和した場合(つまり、正規の位置で論理和場合)に得られる論理和パターンのパワースペクトルを示す図である。 Figure 40 is a logical sum pattern obtained when a logical sum staggered stacked masks (C1, M1), and, when the logical sum is not shifted stacked masks (C1, M1) (i.e., logic in the normal position It is a figure which shows the power spectrum of the logical sum pattern obtained in the sum case. FIG. 41 shows a logical sum pattern obtained when the dispersion masks (C1, M1) are shifted and ORed only for the own plane that is different for each color, and only the own plane that is different for each color. It is a figure which shows the power spectrum of the logical sum pattern obtained when the logical sum is performed without shifting M1) (that is, the logical sum at the normal position). FIG. 42 shows a logical sum pattern obtained by logically summing random masks (C1, M1) that are different for each color, and a random mask (C1, M1) that is different for each color. It is a figure which shows the power spectrum of the logical sum pattern obtained when the logical sum is obtained (that is, the logical sum at the normal position).

図40に示す本実施形態の積層マスクは、ずらした場合の低周波数成分は、ずらし無しの場合に較べて比較的大きくなる。これは、上述したように、積層マスクは、異なるプレーン間でも分散を考慮していることから、その分散を考慮するときの正規の重ね方とは異なる重ね方としたときは、分散性が大きく低下するからである。   In the laminated mask of the present embodiment shown in FIG. 40, the low frequency component when shifted is relatively large as compared with the case without shifting. This is because, as described above, since the laminated mask considers dispersion even between different planes, when the overlay method is different from the normal overlay method when considering the dispersion, the dispersibility is large. It is because it falls.

これに対し、図41および図42に示す色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクおよび色毎に異ならせたランダムマスクは、ずらした場合とずらし無しの場合とでパワースペクトルの低周波数成分に殆ど変化がない。これは、これらのマスクが、もともと異なるプレーン間での記録許容画素の分散を考慮していないため、重ね位置がずれてもそれによって重ねたときのパターンにおける分散に大きな違いを生じないからである。 On the other hand, the dispersion mask of only the own plane and the random mask different for each color shown in FIG. 41 and FIG. 42 are the low frequency components of the power spectrum in the case of shifting and the case of no shifting. There is almost no change. This is because these masks do not originally take into account the dispersion of recording-allowed pixels between different planes, so even if the overlapping position is shifted, there is no significant difference in the dispersion in the pattern when superimposed. .

図43〜図45は、図40〜図42と同様、マスク(C1、M1)の論理積を行う位置をずらした場合とずらさない場合のパワースペクトルの比較図である。図43〜図45は、それぞれ積層マスク、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクおよび色毎に異ならせたランダムマスクの論理積パターンのパワースペクトルを示す図である。また、図46〜図48は、マスク(C1、M1)重ね合わせ位置をずらした場合とずらさない場合のパワースペクトルの比較図であり、それぞれ積層マスク、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクおよび色毎に異ならせたランダムマスクの「重ね合わせ」パターンのパワースペクトルを示す図である。これらの図からも明らかなように、積層マスクは、ずらした場合の低周波数成分がずらし無しの場合に較べて大きく増す。一方、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクおよび色毎に異ならせたランダムマスクは、ずらした場合とずらし無しの場合とでパワースペクトルの低周波数成分に殆ど変化がない。図49に示す本実施形態の3つの積層マスクC1、M1、Y1をずらして重ねたときの「重ね合わせ」パターンのパワースペクトルでも、同様に、ずらしたときに周波数領域の全体としてパワーが増大する。 43 to 45 are comparison diagrams of power spectra in the case where the position where the logical product of the masks (C1, M1) is shifted is not shifted as in FIGS. FIG. 43 to FIG. 45 are diagrams showing the power spectrum of the logical product pattern of the laminated mask, the dispersion mask of only the own plane made different for each color, and the random mask made different for each color . Further, FIGS. 46 to 48, the mask (C1, M1) is a comparison diagram of the power spectrum when not shifted with the case of shifting the overlapping position, the only self-planes respectively stacked masks, different for each color dispersion It is a figure which shows the power spectrum of the "superposition" pattern of the random mask made different for every mask and color . As can be seen from these figures, in the laminated mask, the low frequency component when shifted is greatly increased as compared with the case where there is no shift. On the other hand, the dispersion mask of only the own plane made different for each color and the random mask made different for each color have almost no change in the low frequency component of the power spectrum between the case of shifting and the case of no shifting. Similarly, in the power spectrum of the “superposition” pattern when the three stacked masks C1, M1, and Y1 of the present embodiment shown in FIG. 49 are shifted and overlapped, the power increases as a whole in the frequency domain when shifted. .

図50〜図52は、以上のずらしによる評価を低周波数成分の量で表した図であり、それぞれ本実施形態の積層マスク、色毎に異ならせた自プレーンのみの分散マスクおよび色毎に異ならせたランダムマスクに示している。ここで、低周波数成分の量は、パワースペクトルが存在する空間周波数領域のおよそ半分に相当する90以下の成分を積分したものである。 FIG. 50 to FIG. 52 are diagrams showing the evaluation by the above shift in terms of the amount of the low frequency component. Each of the stacked masks of the present embodiment, the dispersion mask of only the own plane made different for each color, and each color are different. This is shown in the random mask. Here, the amount of the low frequency component is obtained by integrating 90 or less components corresponding to about half of the spatial frequency region where the power spectrum exists.

図50に示すように、本実施形態の積層マスクの場合、ずらしたものは、マスクC1、M1のそれぞれ論理和、論理積、「重ね合わせ」のパターンおよびマスクC1、M1、Y1の「重ね合わせ」パターンのいずれにおいても、ずらしていない場合と比較して、低周波数成分の量が多くなることがわかる。   As shown in FIG. 50, in the case of the laminated mask of the present embodiment, the shifted masks are the logical sum, logical product, “superposition” pattern of the masks C1, M1, and the “superposition” of the masks C1, M1, Y1. It can be seen that in any of the patterns, the amount of the low-frequency component is increased as compared with the case where the pattern is not shifted.

これに対し、図51に示す自プレーンのみの分散マスクおよび図52に示すランダムマスクのいずれもずらした場合とずらしていない場合とで低周波数成分の量に変化はない。   On the other hand, there is no change in the amount of the low frequency component between the case where both the dispersion mask of only the own plane shown in FIG. 51 and the random mask shown in FIG. 52 are shifted.

以上のように、2つのマスクの論理和、論理積あるいは重ね合わせを行う場合に、この位置をずらしたときとずらないときとで分散性に係る評価値が大きく変化するか否かによって、本発明を適用したマスクか否かを判断することができる。すなわち、上述のずらしによる評価は、本発明を適用したマスクが論理和、論理積あるいは重ね合わせにおける分散性を考慮してあることを証明するものである。 As described above, when the logical sum, logical product or superposition of two masks is performed , depending on whether or not the evaluation value related to dispersibility changes greatly depending on whether the position is shifted or not. It can be determined whether or not the mask is applied with the invention. That is, the evaluation by the above-mentioned shift proves that the mask to which the present invention is applied takes into consideration the dispersibility in the logical sum, logical product or superposition.

〔実施形態2:4パス記録用100%均等マスク〕
(1)本実施形態の概要
本実施形態は、シアン(C)、マゼンタ(M)、イエロー(Y)、ブラック(K)の各インクについて4回の走査で画像を完成する4パスのマルチパス記録に関する。そして、この4パス記録に用いるインク色のそれぞれについて複数(本実施形態では4)回の走査それぞれに用いるマスクが良好に分散しているだけでなく、これらのマスクの任意の複数のプレーンを合わせたものも良好に分散したものである。
[Embodiment 2: 100% uniform mask for 4-pass printing]
(1) Outline of the present embodiment The present embodiment is a four-pass multi-pass that completes an image with four scans for each ink of cyan (C), magenta (M), yellow (Y), and black (K). Regarding recording. In addition, the masks used for each of a plurality of (four in the present embodiment) scans for each of the ink colors used for the four-pass printing are not only well dispersed, but also a plurality of arbitrary planes of these masks are aligned. Are also well dispersed.

以下では、図示および説明の簡略化のため、シアン、マゼンタ、イエローの3色で4パス記録を行う場合について説明する。   In the following, for simplification of illustration and description, a case where 4-pass printing is performed with three colors of cyan, magenta, and yellow will be described.

シアン、マゼンタ、イエローの各色ノズル群は、第1グループ〜第4グループの4つのグループに分割され、各グループには128個ずつのノズルが含まれている。各グループには本実施形態のマスクパターン(C1、C2、C3、C4、M1、M2、M3、M4、Y1、Y2、Y3、Y4)が対応付けられており、各マスクパターンの副走査方向(搬送方向)の大きさは各グループのノズル個数と同じ128画素分となっている。一方、走査方向の大きさは256画素分となっている。また、同色インクのノズル群に対応する4つのマスクパターン(C1、C2、C3およびC4、M1、M2、M3およびM4、Y1、Y2、Y3およびY4)はそれぞれ4つのパターンで補完して総ての画素に対応する関係にあり、これらを重ね合わせると128×256画素に対応した領域の記録が完成される構成となっている。   Each nozzle group of cyan, magenta, and yellow is divided into four groups of first to fourth groups, and each group includes 128 nozzles. Each group is associated with the mask pattern (C1, C2, C3, C4, M1, M2, M3, M4, Y1, Y2, Y3, Y4) of this embodiment, and the sub-scanning direction ( The size in the transport direction is 128 pixels, which is the same as the number of nozzles in each group. On the other hand, the size in the scanning direction is 256 pixels. Also, the four mask patterns (C1, C2, C3 and C4, M1, M2, M3 and M4, Y1, Y2, Y3 and Y4) corresponding to the nozzle group of the same color ink are complemented by four patterns, respectively. In other words, recording of an area corresponding to 128 × 256 pixels is completed by superimposing these pixels.

これらのマスクを用いた記録動作では、各色ノズル群はノズル配列方向と略直交する方向へ走査しながら記録媒体にインクを吐出する。例えば、各領域に対してC,M,Yのインク吐出が行われる。また、走査が終了するたびに、記録媒体は走査方向と直交する方向に1つのブループの幅分(すなわち、128画素分)ずつ搬送される。これにより、記録媒体の各グループの幅に対応する大きさの領域は4回の走査によって画像が完成する。   In a recording operation using these masks, each color nozzle group ejects ink onto a recording medium while scanning in a direction substantially perpendicular to the nozzle arrangement direction. For example, C, M, and Y ink ejection is performed on each region. Each time scanning is completed, the recording medium is conveyed by the width of one loop (that is, 128 pixels) in the direction orthogonal to the scanning direction. As a result, an image having a size corresponding to the width of each group on the recording medium is completed by four scans.

さらに具体的に説明すると、記録媒体におけるそれぞれノズルグループの幅に対応する大きさの連続した4つの領域を記録媒体の搬送方向に順に領域A、B、C、Dとするとき、第1走査では記録媒体上の領域Aに対して、Cノズル群の第1グループ、Mノズル群の第1グループ、Yノズル群の第1グループを用いて記録が行われる。そして、この第1走査では領域Aに対してはマスクパターンC1、マスクパターンM1、マスクパターンY1が用いられる。   More specifically, when four continuous areas each having a size corresponding to the width of the nozzle group in the recording medium are sequentially set as areas A, B, C, and D in the conveyance direction of the recording medium, Recording is performed on the area A on the recording medium using the first group of the C nozzle group, the first group of the M nozzle group, and the first group of the Y nozzle group. In the first scan, the mask pattern C1, the mask pattern M1, and the mask pattern Y1 are used for the region A.

次に、第2走査では、第1走査での記録が終了した領域Aに対して、Cノズル群の第2グループ、Mノズル群の第2グループ、Yノズル群の第2グループを用いて記録が行われるとともに、未記録状態の領域Bに対して、Cノズル群の第1グループ、Mノズル群の第1グループ、Yノズル群の第1グループを用いて記録が行われる。従って、第2走査では領域Aに対してマスクパターンC2、マスクパターンM2、マスクパターンY2が用いられるとともに、領域Bに対してマスクパターンC1、マスクパターンM1、マスクパターンY1が用いられる。   Next, in the second scan, recording is performed using the second group of the C nozzle group, the second group of the M nozzle group, and the second group of the Y nozzle group with respect to the area A in which the recording in the first scan is completed. In addition, recording is performed on the unrecorded region B using the first group of the C nozzle group, the first group of the M nozzle group, and the first group of the Y nozzle group. Accordingly, in the second scan, the mask pattern C2, the mask pattern M2, and the mask pattern Y2 are used for the region A, and the mask pattern C1, the mask pattern M1, and the mask pattern Y1 are used for the region B.

さらに、第3走査では、第2走査での記録が終了した領域Aに対して、Cノズル群の第3グループ、Mノズル群の第3グループ、Yノズル群の第3グループを用いて記録が行われるとともに、領域Bに対して、Cノズル群の第2グループ、Mノズル群の第2グループ、Yノズル群の第2グループを用いて記録が行われ、さらに、未記録状態の領域Cに対して、Cノズル群の第1グループ、Mノズル群の第1グループ、Yノズル群の第1グループを用いて記録が行われる。従って、第3走査では領域Aに対してマスクパターンC3、マスクパターンM3、マスクパターンY3が用いられ、領域Bに対してマスクパターンC2、マスクパターンM2、マスクパターンY2が用いられ、領域Cに対してマスクパターンC1、マスクパターンM1、マスクパターンY1が用いられる。   Further, in the third scan, recording is performed using the third group of the C nozzle group, the third group of the M nozzle group, and the third group of the Y nozzle group with respect to the area A where the recording in the second scan is completed. In addition, recording is performed on the area B using the second group of the C nozzle group, the second group of the M nozzle group, and the second group of the Y nozzle group, and further, the area C is recorded in the unrecorded area C. On the other hand, recording is performed using the first group of the C nozzle group, the first group of the M nozzle group, and the first group of the Y nozzle group. Accordingly, in the third scan, the mask pattern C3, the mask pattern M3, and the mask pattern Y3 are used for the region A, the mask pattern C2, the mask pattern M2, and the mask pattern Y2 are used for the region B, and The mask pattern C1, the mask pattern M1, and the mask pattern Y1 are used.

さらに、第4走査では、第3走査の記録が終了した領域Aに対して、Cノズル群の第4グループ、Mノズル群の第4グループ、Yノズル群の第4グループを用いて記録が行われるとともに、領域Bに対して、Cノズル群の第3グループ、Mノズル群の第3グループ、Yノズル群の第3グループを用いて記録が行われ、領域Cに対して、Cノズル群の第2グループ、Mノズル群の第2グループ、Yノズル群の第2グループを用いて記録が行われ、さらに、未記録状態の領域Dに対して、Cノズル群の第1グループ、Mノズル群の第1グループ、Yノズル群の第1グループを用いて記録が行われる。従って、第4走査では領域Aに対してマスクパターンC4、マスクパターンM4、マスクパターンY4が用いられ、領域Bに対してマスクパターンC3、マスクパターンM3、マスクパターンY3が用いられ、領域Cに対してマスクパターンC2、マスクパターンM2、マスクパターンY2が用いられ、さらに、領域Dに対してマスクパターンC1、マスクパターンM1、マスクパターンY1が用いられる。   Further, in the fourth scan, recording is performed using the fourth group of the C nozzle group, the fourth group of the M nozzle group, and the fourth group of the Y nozzle group with respect to the area A where the recording of the third scan is completed. In addition, recording is performed on the region B using the third group of the C nozzle group, the third group of the M nozzle group, and the third group of the Y nozzle group. Recording is performed using the second group, the second group of the M nozzle group, and the second group of the Y nozzle group, and further, the first group of the C nozzle group and the M nozzle group for the unrecorded region D. The first group and the first group of the Y nozzle group are used for recording. Accordingly, in the fourth scan, the mask pattern C4, the mask pattern M4, and the mask pattern Y4 are used for the area A, the mask pattern C3, the mask pattern M3, and the mask pattern Y3 are used for the area B, and The mask pattern C2, the mask pattern M2, and the mask pattern Y2 are used, and the mask pattern C1, the mask pattern M1, and the mask pattern Y1 are used for the region D.

以上説明したように、4回の走査で記録媒体上の領域Aに対する画像の記録が完成する。また、領域Bや後続の領域についても同様に記録が行われていく。   As described above, the image recording for the area A on the recording medium is completed by four scans. Further, the recording is performed in the same manner for the area B and the subsequent area.

本実施形態では、上述した実施形態1と同様、中間画像におけるグレインの発生を避けるべく、それぞれのプレーンのマスクを重ねたときの記録許容画素の配置を非周期で低周波数成分が少なく分散性の良いものとしている。これにより、画像の完成に至る各段階の中間画像におけるドットの近接ないし隣接、また、ドットの重なりを、極力排除するようにする。また、仮に、ドットの重なりや隣接が排除しきれない場合でも、そのような重なりなどについても分散性の高いものとするものである。   In this embodiment, as in Embodiment 1 described above, in order to avoid the occurrence of grains in the intermediate image, the arrangement of the print permitting pixels when the masks of the respective planes are overlaid is aperiodic and has low frequency components and low dispersibility. It is good. As a result, the proximity or adjacency of dots in the intermediate image at each stage leading to the completion of the image and the overlap of dots are eliminated as much as possible. Further, even if dot overlap and adjacency cannot be completely eliminated, such overlap is highly dispersible.

(2)マスクの製法
本実施形態においても、マスクの製造方法として、実施形態1で説明した同時生成法とパスごとの生成法のいずれをも用いることができる。但し、本実施形態では、同時生成法とパスごとの生成法が同じものとはならない。以下、これらの方法について順に説明する。
(2) Mask Manufacturing Method Also in this embodiment, any of the simultaneous generation method described in the first embodiment and the generation method for each pass can be used as a mask manufacturing method. However, in the present embodiment, the simultaneous generation method and the generation method for each path are not the same. Hereinafter, these methods will be described in order.

同時生成
図53は、本実施形態の同時生成法を概念的に説明する図である。
Simultaneous Generation FIG. 53 is a diagram conceptually illustrating the simultaneous generation method of the present embodiment.

同図に示すように、本実施形態の同時生成法は、1パス目〜3パス目用のマスクであるマスク(C1、M1、Y1)、(C2、M2、Y2)および(C3、M3、Y3)を、ステップ1で同時に生成する。そして、ステップ2として、4パス目に用いるそれぞれのプレーンのマスク(C4、M4、Y4)を、上記1パス目〜3パス目のマスク(C1、M1、Y1)、(C2、M2、Y2)および(C3、M3、Y3)とそれぞれの色が補完の関係を持つように生成する。すなわち、色ごとに、4パス目のマスクは、その記録許容画素の配置が1パス目〜パス目のマスクの記録許容画素の配置と排他的な関係となるように生成される。   As shown in the figure, the simultaneous generation method of the present embodiment uses masks (C1, M1, Y1), (C2, M2, Y2) and (C3, M3, Y3) is generated simultaneously in step 1. In step 2, the masks (C4, M4, Y4) of the respective planes used for the fourth pass are changed to the masks (C1, M1, Y1), (C2, M2, Y2) of the first to third passes. And (C3, M3, Y3) and each color are generated so as to have a complementary relationship. That is, for each color, the mask for the fourth pass is generated so that the arrangement of the print permitting pixels is in an exclusive relationship with the arrangement of the print permitting pixels of the masks for the first pass through the pass.

1パス目〜3パス目用のマスクの生成における記録許容画素の具体的な配置の仕方は、実施形態1にて説明した「配置移動法」または「順次移動法」のいずれかを以下に示すようにして用いることができる。   As a specific arrangement method of the print permitting pixels in the generation of the first-pass to third-pass masks, either the “placement movement method” or the “sequential movement method” described in the first embodiment is shown below. Can be used.

(配置移動法)
この方法を用いるときの処理は、基本的に、実施形態1について図8にて説明して処理と同様である。すなわち、図8のステップS801と同様、1パス目〜3パス目のそれぞれの色のマスク(C1、M1、Y1)、(C2、M2、Y2)、(C3、M3、Y3)それぞれのプレーンのサイズに対応したC、M、Yそれぞれの25%濃度の画像を取得する。そして、ステップS802と同様、それぞれの画像について誤差拡散法などの2値化手法を用いて2値化を行う。これにより、それぞれのマスク(C1、M1、Y1)、(C2、M2、Y2)、(C3、M3、Y3)それぞれのプレーンについて、記録許容画素がマスク画素全体の25%に配された初期配置を得ることができる。
(Placement transfer method)
Processing when this method is used is basically the same as the processing described in the first embodiment with reference to FIG. That is, as in step S801 in FIG. 8, the respective masks (C1, M1, Y1), (C2, M2, Y2), and (C3, M3, Y3) of the respective colors in the first to third passes. Acquire 25% density images of C, M, and Y corresponding to the size. As in step S802, each image is binarized using a binarization method such as an error diffusion method. As a result, for each of the masks (C1, M1, Y1), (C2, M2, Y2), (C3, M3, Y3), the initial arrangement in which the recordable pixels are arranged in 25% of the entire mask pixels. Can be obtained.

次に、ステップS803と同様、上記のようにして得たマスク(C1、M1、Y1)、(C2、M2、Y2)、(C3、M3、Y3)それぞれのプレーンの総ての記録許容画素について斥力ポテンシャルを計算する。   Next, in the same manner as in step S803, all the print allowable pixels of each plane of the masks (C1, M1, Y1), (C2, M2, Y2), (C3, M3, Y3) obtained as described above are obtained. Calculate the repulsive potential.

この斥力ポテンシャルの計算で、実施形態1の処理と異なる点は次のとおりである。例えば、プレーンC2のある許容画素の斥力ポテンシャルを計算するとき、異なる色の他のプレーンの距離rにある記録許容画素による影響;βE(r)の重み付け係数βの値は実施形態と同じく1とする。一方、同じ色の異なるプレーンC1、C3おいて距離rにある記録許容画素からの影響;βE(r)の重み付け係数βの値は2とする。これにより、同じ色のマスクを重ねたときの記録許容画素の分散(βが2)が、異なる色の記録許容画素との分散(βが1)に優先して確保される。   The calculation of the repulsive potential differs from the processing of the first embodiment as follows. For example, when calculating the repulsive potential of a certain allowable pixel on the plane C2, the influence of the recording allowable pixel on the distance r between other planes of different colors; the value of the weighting coefficient β of βE (r) is 1 as in the embodiment. To do. On the other hand, it is assumed that the influence of the recording allowable pixels at the distance r in the different planes C1 and C3 of the same color; the value of the weighting coefficient β of βE (r) is 2. Thereby, the dispersion (β = 2) of the print permission pixels when the masks of the same color are overlapped is ensured in preference to the dispersion (β = 1) with the print permission pixels of different colors.

次に、図8のステップS804と同様、図10(a)〜(d)にて説明したように、エネルギー減衰を行う。ここで、実施形態1と異なる点は次の通りである。すなわち、それまでの処理で計算した9プレーンの総ての記録許容画素について順次、その記録許容画素からの距離rが4以内の画素の中で斥力ポテンシャルが最も下がる画素に記録許容画素を移すが、その際、同じ色(プレーン)での記録許容画素の重なりを禁止する点である。これにより、3パス用の同じ色のマスク相互の補完関係を得ることができる。   Next, as in step S804 of FIG. 8, energy attenuation is performed as described with reference to FIGS. Here, the differences from the first embodiment are as follows. That is, for all nine print permitting pixels calculated in the process so far, the record permitting pixels are sequentially transferred to the pixel having the lowest repulsive potential among the pixels whose distance r from the record permitting pixel is 4 or less. In this case, the overlapping of the print permitting pixels in the same color (plane) is prohibited. Thereby, the complementary relationship between the masks of the same color for 3 passes can be obtained.

(順次配置法)
同時生成における順次配置法は、実施形態1について図11で説明した処理と基本的に同じである。異なる点は、上記配置移動法で説明したことと同じである。すなわち、斥力ポテンシャルを計算する際の、異なる色の他のプレーンの記録許容画素による影響;βE(r)の重み付け係数βの値を1とするとともに、同じ色の異なるプレーンにある記録許容画素からの影響;βE(r)の重み付け係数βの値を2とする。また、斥力ポテンシャルが最も下がる画素にその注目記録許容画素を配置する際、同じ色(プレーン)での記録許容画素の重なりを禁止する。
(Sequential placement method)
The sequential arrangement method in the simultaneous generation is basically the same as the processing described in the first embodiment with reference to FIG. The difference is the same as that described in the arrangement movement method. That is, when calculating the repulsive potential, the influence of the print permitting pixels of other planes of different colors; the value of the weighting coefficient β of βE (r) is set to 1, and the print permitting pixels on the different planes of the same color are used. The value of the weighting coefficient β of βE (r) is 2. Further, when the target recording allowable pixel is arranged at the pixel having the lowest repulsive potential, overlapping of the recording allowable pixels in the same color (plane) is prohibited.

そして、この配置が各プレーン25%の数を配置する処理を終了する(図11のステップS1106参照)。   Then, this arrangement ends the process of arranging the number of planes 25% (see step S1106 in FIG. 11).

パスごとの生成
図54は、本実施形態のパスごとの生成法を概念的に説明する図である。
Generation for Each Path FIG. 54 is a diagram for conceptually explaining the generation method for each path according to the present embodiment.

同図に示すように、本実施形態の同時生成法は、ステップ1で、1パス目用のマスク(C1、M1、Y1)を生成し、次のステップ2で、2パス目用のマスク(C2、M2、Y2)を生成し、さらにステップ3で、3パス目用のマスク(C3、M3、Y3)を生成する。そして、ステップ4として、4パス目に用いるそれぞれのプレーンのマスク(C4、M4、Y4)を、上記生成された1パス目〜3パス目のマスク(C1、M1、Y1)、(C2、M2、Y2)および(C3、M3、Y3)とそれぞれの色が補完の関係を持つように生成する。すなわち、色ごとに、4パス目のマスクは、その記録許容画素の配置が1パス目〜パス目のマスクの記録許容画素の配置と排他的な関係となるように生成される。   As shown in the figure, in the simultaneous generation method of the present embodiment, a mask for the first pass (C1, M1, Y1) is generated in Step 1, and a mask for the second pass (Step 1) (C1, M1, Y1). C2, M2, Y2) are generated, and in step 3, a mask (C3, M3, Y3) for the third pass is generated. In step 4, the masks (C4, M4, Y4) of the planes used for the fourth pass are used as the masks (C1, M1, Y1), (C2, M2) of the generated first to third passes. , Y2) and (C3, M3, Y3) and the respective colors are generated in a complementary relationship. That is, for each color, the mask for the fourth pass is generated so that the arrangement of the print permitting pixels is in an exclusive relationship with the arrangement of the print permitting pixels of the masks for the first pass through the pass.

1パス目〜3パス目用のマスクの生成における記録許容画素の具体的な配置の仕方は、実施形態1にて説明した「配置移動法」または「順次移動法」のいずれかを以下に示すようにして用いることができる。   As a specific arrangement method of the print permitting pixels in the generation of the first-pass to third-pass masks, either the “placement movement method” or the “sequential movement method” described in the first embodiment is shown below. Can be used.

(配置移動法)
この方法を用いるときの処理は、基本的に、実施形態1について図8にて説明して処理と同様である。すなわち、図8のステップS801と同様、1パス目のそれぞれの色のマスク(C1、M1、Y1)それぞれのプレーンのサイズに対応したC、M、Yそれぞれの25%濃度の画像を取得する。そして、ステップS802と同様、それぞれの画像について誤差拡散法などの2値化手法を用いて2値化を行う。これにより、それぞれのマスク(C1、M1、Y1)それぞれのプレーンについて、記録許容画素がマスク画素全体の25%に配された初期配置を得ることができる。
(Placement transfer method)
Processing when this method is used is basically the same as the processing described in the first embodiment with reference to FIG. That is, similarly to step S801 in FIG. 8, images of 25% density of C, M, and Y corresponding to the sizes of the planes of the respective colors (C1, M1, and Y1) in the first pass are acquired. As in step S802, each image is binarized using a binarization method such as an error diffusion method. Thereby, it is possible to obtain an initial arrangement in which the print permitting pixels are arranged in 25% of the entire mask pixels for each plane of each mask (C1, M1, Y1).

次に、ステップS803と同様、上記のようにして得たマスク(C1、M1、Y1)それぞれのプレーンの総ての記録許容画素について斥力ポテンシャルを計算する。   Next, as in step S803, the repulsive potential is calculated for all the print permitting pixels of each plane of the mask (C1, M1, Y1) obtained as described above.

この斥力ポテンシャルの計算で、実施形態1の付与処理と異なる点は、上述の同時生成における配置移動法と同じである。すなわち、ある許容画素の斥力ポテンシャルを計算するとき、異なる色の他のプレーンの距離rにある他の記録許容画素による影響;βE(r)の重み付け係数βの値は実施形態と同じく1とする。一方、同じ色の異なるプレーンおいて距離rにある記録許容画素からの影響;βE(r)の重み付け係数βの値は3とする。これにより、同じ色のマスクを重ねたときの記録許容画素の分散(βが3)が、異なる色の記録許容画素との分散(βが1)に優先して確保される。また、異なる色のプレーンからの影響;βE(r)の係数βの値が実施形態1と同じく1であることにより、例えば、C、M、Yそれぞれの記録許容画素の集まりが分散性が高く配置されるようなパターンを求めることができる。   In this repulsive potential calculation, the difference from the application process of the first embodiment is the same as the arrangement movement method in the simultaneous generation described above. That is, when calculating the repulsive potential of a certain allowable pixel, the influence of other recording allowable pixels at the distance r between other planes of different colors; the value of the weighting coefficient β of βE (r) is 1 as in the embodiment. . On the other hand, the influence from the print permitting pixels at the distance r in different planes of the same color; the value of the weighting coefficient β of βE (r) is 3. Thereby, the dispersion (β is 3) of the print permitting pixels when the same color masks are overlapped is ensured in preference to the dispersion (β is 1) with the print permitting pixels of different colors. In addition, the influence of different color planes; the value of the coefficient β of βE (r) is 1 as in the first embodiment, so that, for example, a collection of recording allowable pixels of C, M, and Y has high dispersibility. A pattern to be arranged can be obtained.

以上のようにして1パス目のマスク(C1、M1、Y1)の記録許容画素の配置を得ると、以下、同様にして、2パス目(ステップ2)、3パス目(ステップ3)のマスクパターンを求める。この際、記録許容画素を配置する際(図8のステップS804参照)、それまで生成されたパスのパターン;記録許容画素の配置は固定する。これにより、1パス目〜3パス目までのマスクパターン相互の補完性を保証することができる。   When the arrangement of the print permitting pixels of the first-pass mask (C1, M1, Y1) is obtained as described above, the second-pass (step 2) and third-pass (step 3) masks are performed in the same manner. Ask for a pattern. At this time, when the print permitting pixels are arranged (see step S804 in FIG. 8), the pass pattern generated so far; the arrangement of the print permitting pixels is fixed. Thereby, the mutual complementarity of the mask patterns from the first pass to the third pass can be guaranteed.

(順次配置法)
パスごとの生成における順次配置法は、実施形態1について図11で説明した処理と基本的に同じである。異なる点は、上記配置移動法で説明したことと同じである。すなわち、斥力ポテンシャルを計算する際の、異なる色の他のプレーンの記録許容画素による影響;βE(r)の重み付け係数βの値を1とするとともに、同じ色の異なるプレーンにある記録許容画素からの影響;βE(r)の重み付け係数βの値を3とする。また、斥力ポテンシャルが最も下がる画素にその注目記録許容画素を配置する際、それまで生成されたパスのパターン;記録許容画素の配置は固定する。これにより、1パス目〜3パス目までのマスクパターン相互の補完性を保証することができる。
(Sequential placement method)
The sequential arrangement method in the generation for each path is basically the same as the processing described in the first embodiment with reference to FIG. The difference is the same as that described in the arrangement movement method. That is, when calculating the repulsive potential, the influence of the print permitting pixels of other planes of different colors; the value of the weighting coefficient β of βE (r) is set to 1, and from the print permitting pixels on different planes of the same color The value of the weighting coefficient β of βE (r) is set to 3. Further, when the target recording allowable pixel is arranged at the pixel having the lowest repulsive potential, the pass pattern generated so far; the arrangement of the recording allowable pixel is fixed. Thereby, the complementarity between the mask patterns in the first pass to the third pass can be guaranteed.

そして、この配置が各プレーン25%の数を配置する処理を終了する(図11のステップS1106参照)。   Then, this arrangement ends the process of arranging the number of planes 25% (see step S1106 in FIG. 11).

(3)マスク特性評価
図55〜図57は、上述したいずれかの製法によって製造された本実施形態の1プレーン分の積層マスクC1、M1、Y1それぞれの記録許容画素の配置パターンを示す図である。各マスクパターンは、128×256の画素のエリアを有したものである。
(3) Mask Characteristic Evaluation FIGS. 55 to 57 are diagrams showing an arrangement pattern of print permission pixels for each of the laminated masks C1, M1, and Y1 for one plane of this embodiment manufactured by any of the above-described manufacturing methods. is there. Each mask pattern has an area of 128 × 256 pixels.

これらの図に示すように、本実施形態のマスクのパターンは、特に、係数αの効果によって同一プレーン内の分散性を考慮した記録許容画素が配置されているので、全体的としては滑らかな印象を受ける。   As shown in these drawings, the mask pattern of the present embodiment has a printable pixel in consideration of dispersibility in the same plane due to the effect of the coefficient α in particular, so that the overall impression is smooth. Receive.

図58〜図60は、本実施形態の積層マスクをそれぞれ3つ(C1、M1、Y1)、6つ(C1、M1、Y1、C2、M2、Y2)および9つ(C1、M1、Y1、C2、M2、Y2、C3、M3、Y3)を正規の位置で重ねたときの「重ね合わせ」パターンを示す図である。これらの積層マスクを複数重ねたときの「重ね合わせ」パターンは、それらのマスクの論理和パターンを薄い濃度で、論理積パターンをより濃い濃度で表している。   58 to 60, there are three (C1, M1, Y1), six (C1, M1, Y1, C2, M2, Y2) and nine (C1, M1, Y1, It is a figure which shows a "superposition" pattern when superimposing C2, M2, Y2, C3, M3, Y3) in the regular position. The “overlapping” pattern when a plurality of these laminated masks are superimposed represents the logical sum pattern of those masks with a lighter density and the logical product pattern with a higher density.

これらの図に示す「重ね合わせ」のパターンは、本実施形態のマスクを用いて記録を行うときのそれぞれ中間画像のインクドットのパターンに近いものを表している。従って、これらのパターンからも、中間画像におけるインクドットやそれらの重なりが良好に分散していることがわかる。   The “overlapping” patterns shown in these drawings represent patterns close to the ink dot pattern of the intermediate image when recording is performed using the mask of the present embodiment. Therefore, it can be seen from these patterns that ink dots and their overlap in the intermediate image are well dispersed.

ずらしによる評価
本実施形態に係る4パス用積層マスクについても、上記の実施形態1と同様のずらしによる評価を行う。
Evaluation by Shift The evaluation by shift similar to that of the first embodiment is performed for the four-pass laminated mask according to this embodiment.

図61は、図58に示した3つの積層マスク(C1、M1、Y1)のそれぞれをずらして重ねたときの「重ね合わせ」のパターンを示す図である。また、図62は、図59に示した6つの積層マスク(C1、M1、Y1、C2、M2、Y2)のそれぞれをずらして重ねたときの「重ね合わせ」のパターンを示す図である。さらに、図63は、図60に示した9つの積層マスク(C1、M1、Y1、C2、M2、Y2、C3、M3、Y3)のそれぞれをずらして重ねたときの「重ね合わせ」のパターンを示す図である。   FIG. 61 is a diagram showing a “superposition” pattern when the three lamination masks (C1, M1, Y1) shown in FIG. FIG. 62 is a diagram showing a “superposition” pattern when the six laminated masks (C1, M1, Y1, C2, M2, Y2) shown in FIG. Further, FIG. 63 shows the “overlapping” pattern when the nine stacked masks (C1, M1, Y1, C2, M2, Y2, C3, M3, Y3) shown in FIG. FIG.

これらの図から明らかなように、本実施形態の積層マスクの重ね位置をずらした重ね合わせパターン(図61〜図63)のいずれも、重ね位置をずらさないパターン(図58〜図60)に比べて分散性が低下し、パターンを観察したときのざらつき感が増している。   As is clear from these drawings, any of the overlapping patterns (FIGS. 61 to 63) in which the overlapping positions of the laminated masks of this embodiment are shifted are compared with the patterns (FIGS. 58 to 60) in which the overlapping positions are not shifted. As a result, the dispersibility is lowered, and the feeling of roughness when the pattern is observed is increased.

図64は、以上のずらしによる評価を低周波数成分の量で表した図である。ここでは、上述した3つ(C1、M1、Y1)、6つ(C1、M1、Y1、C2、M2、Y2)および9つ(C1、M1、Y1、C2、M2、Y2、C3、M3、Y3)の積層マスクそれぞれについて、「重ね合わせ」パターンをずらした場合(図61〜図63)とずらさない場合(図58〜図60)の低周波数成分の量を比較して示している。   FIG. 64 is a diagram showing the evaluation based on the above shift in terms of the amount of low frequency components. Here, the above-mentioned three (C1, M1, Y1), six (C1, M1, Y1, C2, M2, Y2) and nine (C1, M1, Y1, C2, M2, Y2, C3, M3, For each layered mask of Y3), the amount of the low frequency component when the “overlapping” pattern is shifted (FIGS. 61 to 63) and when not shifted (FIGS. 58 to 60) is shown in comparison.

同図に示すように、本実施形態の積層マスクの場合、ずらしたものは、いずれのパターンにおいても、ずらしていない場合(つまり、正規の位置で重ねた場合)と比較して、低周波数成分の量が多くなることがわかる。   As shown in the figure, in the case of the laminated mask of the present embodiment, the shifted components are low frequency components compared to the case where they are not shifted in any pattern (that is, when they are stacked at regular positions). It can be seen that the amount of increases.

以上のように、マスクを重ね合わせる場合に、その重ね位置をずらしたとき分散性に係る評価値が大きく変化するか否かによって、本発明を適用したマスクか否かを判断することができることは前述したとおりである。   As described above, when masks are overlaid, it is possible to determine whether or not the mask is the one to which the present invention is applied depending on whether or not the evaluation value related to dispersibility changes greatly when the overlapping position is shifted. As described above.

なお、本実施形態におけるマスクパターンは、横:256画素×縦:128画素のサイズとなっており、縦横のサイズが異なる。このようなパターンについて周波数成分を求めるときは、マスクパターンの縦横サイズを揃えてから周波数成分を求めるようにする。本実施形態では、縦横サイズを長手方向のサイズ(本実施形態の場合、横方向の256画素)に揃えるため、縦にパターンを繰り返し、256画素×256画素のパターンとして周波数成分を評価した。   The mask pattern in the present embodiment has a size of horizontal: 256 pixels × vertical: 128 pixels, and the vertical and horizontal sizes are different. When obtaining frequency components for such a pattern, the frequency components are obtained after aligning the vertical and horizontal sizes of the mask pattern. In the present embodiment, in order to align the vertical and horizontal sizes with the size in the longitudinal direction (in the present embodiment, 256 pixels in the horizontal direction), the pattern is repeated vertically and the frequency component is evaluated as a 256 pixel × 256 pixel pattern.

その他のサイズの場合も同様であり、縦横サイズを長手方向のサイズに揃えたパターンについて周波数成分を評価する。具体的には、パターンの短手方向のサイズが長手方向のサイズ以上になるまで短手方向にパターンを繰り返し、その中からパターンを切り出し、その切り出したパターンについて評価する。その際、周波数変換を行うときに高速フーリエ変換を使えるよう、縦横サイズは2のn乗(nは正の整数)であることが好ましい。2のn乗でない場合には、長手方向のサイズに最も近い2のn乗を特定し、その特定した2のn乗のサイズで切り出せるようにパターンを縦横に繰り返す。そして、この繰り返しにより生成されたパターンの中から、上記特定した2のn乗のサイズのパターンを切り出し、その切り出したパターンについて評価を行う。例えば、マスクパターンが横:500画素×縦:320画素であった場合について考える。この場合、長手方向のサイズは「500」なので、この「500」に最も近い2のn乗を特定する。最も近い2のn乗は「512」と特定される。そこで、512画素×512画素のパターンを切り出すために、横方向と縦方向に1回づつパターンを繰り返し、1000画素×640画素のパターンを生成する。こうして生成された1000画素×640画素のパターンの中から512画素×512画素のパターンを切り出し、切り出したパターンについて評価を行う。   The same applies to other sizes, and the frequency component is evaluated for a pattern in which the vertical and horizontal sizes are aligned in the longitudinal direction. Specifically, the pattern is repeated in the short direction until the size in the short direction of the pattern is equal to or greater than the size in the long direction, the pattern is cut out from the pattern, and the cut pattern is evaluated. At that time, the vertical and horizontal sizes are preferably 2 to the nth power (n is a positive integer) so that the fast Fourier transform can be used when performing the frequency conversion. If it is not 2 to the power of n, the 2 n power closest to the size in the longitudinal direction is specified, and the pattern is repeated vertically and horizontally so that it can be cut out with the specified 2 n size. Then, from the pattern generated by this repetition, the specified pattern of 2 n size is cut out, and the cut out pattern is evaluated. For example, consider a case where the mask pattern is horizontal: 500 pixels × vertical: 320 pixels. In this case, since the size in the longitudinal direction is “500”, the 2 n power closest to “500” is specified. The nearest 2 to the power of n is identified as “512”. Therefore, in order to cut out a pattern of 512 pixels × 512 pixels, the pattern is repeated once in the horizontal direction and the vertical direction to generate a pattern of 1000 pixels × 640 pixels. A 512 pixel × 512 pixel pattern is cut out from the 1000 pixel × 640 pixel pattern thus generated, and the cut pattern is evaluated.

〔実施形態3:2パス記録用100%グラデーションマスク〕
本実施形態は、いわゆるグラデーションマスクに関するものである。グラデーションマスクは、例えば、特許文献3によって知られたものである。グラデーションとは、ノズル列端部の記録率が低く、中央部の記録率が高く設定されているような、ノズル位置に応じて記録率が異なるマスクである。このマスクによれば、マルチパス記録で各パスの記録領域の境界で弊害の原因となりやすい端部ノズルの吐出をその頻度を相対的に少なくすることにより、画像品位を向上させる効果が得られる。
[Embodiment 3: 100% gradation mask for 2-pass printing]
This embodiment relates to a so-called gradation mask. The gradation mask is known from, for example, Patent Document 3. The gradation is a mask having a different recording rate depending on the nozzle position, such that the recording rate at the end of the nozzle row is low and the recording rate at the center is set high. According to this mask, the effect of improving the image quality can be obtained by relatively reducing the frequency of the discharge of the end nozzle, which is likely to cause a harmful effect at the boundary of the recording area of each pass in multi-pass printing.

ここで、上述したマスクパターンの「記録率」とは、マスクパターンにおける一定の領域に含まれる全画素数(記録許容画素と非記録許容画素の和)に対する記録許容画素数の割合である。例えば、単一ノズルに対応するマスクパターンの記録率とは、その単一ノズルに対応する領域(単一ラスタ領域)に含まれる全画素数に対する記録許容画素の割合である。   Here, the “recording rate” of the mask pattern described above is the ratio of the number of pixels allowed for printing to the total number of pixels (the sum of pixels allowed for printing and pixels not allowed for printing) included in a certain area in the mask pattern. For example, the printing rate of the mask pattern corresponding to a single nozzle is the ratio of printing allowable pixels to the total number of pixels included in the region (single raster region) corresponding to the single nozzle.

このようなマスクの場合、ノズル列全体に対応したマスクパターンを空間周波数でみたとき、領域ごとの記録率の変化に起因した低周波数成分の増大が見られる。しかしながら、このような記録率が徐々に変化するような記録許容画素の配置を許容しつつ、それ以外の不必要な低周波成分が抑えられたマスクパターンが実現されれば、グレインの発生を抑えると言う本発明の効果を得ることはできる。従って、マスクにおいて変化する記録率のそれぞれに対応した複数の領域それぞれで分散性を高く保ちつつ、各領域間では記録率に変化を持たせたグラデーションマスクとすることによって、本発明と特許文献3に記載の双方の効果を得ることが可能となる。   In the case of such a mask, when a mask pattern corresponding to the entire nozzle row is viewed at a spatial frequency, an increase in low frequency components due to a change in recording rate for each region is observed. However, if such a mask pattern in which unnecessary low-frequency components are suppressed while allowing the arrangement of the print permitting pixels such that the recording rate gradually changes is generated, the generation of grains can be suppressed. The effect of the present invention can be obtained. Therefore, the present invention and Patent Document 3 can be realized by providing a gradation mask in which a plurality of areas corresponding to each of the recording rates changing in the mask maintain a high dispersibility while changing the recording rate between the areas. It is possible to obtain both effects described in.

図65(a)および(b)は、本実施形態に係るグラデーションマスクのノズル位置に対応させた記録率、および2プレーンの相互に排他的なマスクパターンを示す図である。   FIGS. 65A and 65B are diagrams showing a recording rate corresponding to the nozzle position of the gradation mask according to the present embodiment and mutually exclusive mask patterns of two planes.

この2プレーンのマスクは、本実施形態の場合、シアンの2プレーンのマスクC1、C2、マゼンタの2プレーンのマスクM1、M2、またはイエローの2プレーンのマスクY1、Y2である。これらのマスクのうち、図では代表的にシアンのマスクC1、C2を示している。そして、上記の実施形態1で説明したように、これら6つのマスクの記録許容画素の配置は相互に分散したものとなっている。   In this embodiment, the two-plane masks are cyan two-plane masks C1 and C2, magenta two-plane masks M1 and M2, or yellow two-plane masks Y1 and Y2. Of these masks, in the figure, cyan masks C1 and C2 are representatively shown. As described in the first embodiment, the arrangement of the print permitting pixels of these six masks is dispersed with respect to each other.

これらの図に示すように、各走査では、番号0〜255のノズルがマスクC2に対応し、番号256〜511のノズルがマスクC1に対応して記録が行われる。なお、上述の通り、マスクC1とマスクC2は補完関係にある。そして、走査と走査の間には、256個分のノズル配列の長さに対応した量だけ記録媒体が搬送される。このように走査と搬送を繰り返すことで、上記256個分のノズル配列に対応した領域をマスクC1とマスクC2で補完する、2パス記録が行われる。   As shown in these drawings, in each scan, printing is performed with the nozzles numbered 0 to 255 corresponding to the mask C2, and the nozzles numbered 256 to 511 corresponding to the mask C1. As described above, the mask C1 and the mask C2 have a complementary relationship. Then, between the scans, the recording medium is conveyed by an amount corresponding to the length of the 256 nozzle arrays. By repeating scanning and conveyance in this way, two-pass printing is performed in which the areas corresponding to the 256 nozzle arrays are complemented by the mask C1 and the mask C2.

図65(a)に示すように、マスクC1およびマスクC2は、それぞれ記録率が0.3から0.7までラスター(ノズル)ごとに変化するとともに、それぞれのプレーン全体で合計50%の記録率を有する。これにより、マスクの各ラスターの記録許容画素の数は、上記記録率によって定まる。例えば、記録率が0.4(40%)のラスターでは、そのマスクのラスター方向サイズが1000画素あるとすると、約400個の記録許容画素が配置される。   As shown in FIG. 65 (a), the mask C1 and the mask C2 each have a recording rate varying from 0.3 to 0.7 for each raster (nozzle), and a total recording rate of 50% for each plane. Have As a result, the number of print permitting pixels of each raster of the mask is determined by the recording rate. For example, in a raster with a printing rate of 0.4 (40%), assuming that the size of the mask in the raster direction is 1000 pixels, about 400 printable pixels are arranged.

(2)マスクの製法
本実施形態に係るマスクの製造方法は、基本的に実施形態1で説明した方法と同じ方法を用いることができる。すなわち、全プレーンを同時に生成する方法と、パスごとに順次マスクを生成する方法の2つの方法のいずれでも実施することができる。本実施形態の2パス記録の場合、実施形態1で上述したように、同時生成とパスごとの生成の方法は同じものとなる。また、上記2つの生成方法それぞれについて、配置移動法と順次配置法のいずれも実施できることも同じである。以下、本実施形態に係る配置移動法と順次配置法を順に説明する。
(2) Mask Manufacturing Method The mask manufacturing method according to the present embodiment can use basically the same method as described in the first embodiment. That is, any of the two methods of generating all the planes simultaneously and sequentially generating the mask for each pass can be performed. In the case of two-pass printing according to this embodiment, as described above in the first embodiment, the simultaneous generation method and the generation method for each pass are the same. Moreover, it is the same that both the placement movement method and the sequential placement method can be implemented for each of the two generation methods. Hereinafter, the placement movement method and the sequential placement method according to the present embodiment will be described in order.

配置移動法
図66は、本実施形態の2パス記録に用いるグラデーションマスクの記録許容画素の配置移動法による配置決定処理を示すフローチャートである。同図に示す処理は、基本的に実施形態1に関して図8に示した処理と同様である。以下では、異なる点を主に説明する。
Arrangement moving method Figure 66 is a flowchart showing the arrangement determining process by the arrangement moving method of the recording permitting pixels of the gradation mask used in 2-pass printing in the embodiment. The processing shown in the figure is basically the same as the processing shown in FIG. 8 regarding the first embodiment. Below, a different point is mainly demonstrated.

ステップS6601、S6602の処理は、図8に示したステップS801、S802の処理と同様である。また、ステップS6603の処理も、ステップS803の処理と同様であり、マスクC1、M1、Y1それぞれのプレーンで上記のようにラスターごとに配置された総ての記録許容画素について斥力ポテンシャルを計算する。   The processing in steps S6601 and S6602 is the same as the processing in steps S801 and S802 shown in FIG. Also, the processing in step S6603 is the same as the processing in step S803, and the repulsive potential is calculated for all the print permitting pixels arranged for each raster in the planes of the masks C1, M1, and Y1, as described above.

次に、ステップS6604で、図8のステップS804と同じく、各プレーンの記録許容画素について上記のようにして得ることができる斥力ポテンシャルを3つのプレーンC1、M1およびY1について合計して総エネルギーを求める。そして、図10(a)〜(d)にて上述したように、記録許容画素の配置を移動させて行く。   Next, in step S6604, as in step S804 of FIG. 8, the repulsive potentials that can be obtained as described above for the recording allowable pixels of each plane are totaled for the three planes C1, M1, and Y1 to obtain the total energy. . Then, as described above with reference to FIGS. 10A to 10D, the arrangement of the print permitting pixels is moved.

その際、最もポテンシャルエネルギーが低い位置に移動させるとそのラスターの上述した配置数の制限を超えるときは、そのラスターへは移動させず配置数が制限以内となるラスターで、次にエネルギーの低い画素があるラスターのそのエネルギーの低い画素に移動させる。これにより、ラスターごとの記録率を保持しつつ分散性の高い記録許容画素の配置を得ることができる。   At this time, if the limit of the number of arrangements of the raster exceeds the limit of the number of arrangements when the potential energy is moved to the lowest position, the pixel having the next lowest energy is a raster in which the number of arrangements is within the limit without moving to the raster. Move that raster to that low energy pixel. As a result, it is possible to obtain an arrangement of print permitting pixels with high dispersibility while maintaining the print rate for each raster.

以下は、図8の処理と同じように、総エネルギーの低下率を計算し、それが所定値以下であると判断すると、エネルギー減衰処理を終了する。そして、総エネルギーの低下率が所定値以下となった状態の各プレーンを1パス目のマスクC1、M1、Y1として設定する。さらに、これらマスクの記録許容画素の配置に対するそれぞれ排他的位置を記録許容画素の配置とした2パス目のマスクC2、M2、Y2を設定する。なお、ここでも、上述した実施形態1と同様、エネルギーの減衰処理を終了させるか否かの判断を、総エネルギーの低下率で判断するのではなく、総エネルギー所定置以下となったかどうかで判断するようにしてもよい。   In the following, as in the process of FIG. 8, the reduction rate of the total energy is calculated, and when it is determined that it is equal to or less than a predetermined value, the energy attenuation process is terminated. Then, each plane in a state where the reduction rate of the total energy is equal to or less than a predetermined value is set as the first-pass masks C1, M1, and Y1. Furthermore, masks C2, M2, and Y2 for the second pass are set with the print-permitted pixel positions at positions exclusive to the print-permitted pixel positions of these masks. Here again, as in the first embodiment described above, whether or not to end the energy attenuation process is determined based on whether or not the total energy is equal to or less than a predetermined position, not based on the total energy reduction rate. You may make it do.

順次配置法
この方法も、基本的に実施形態1に関して図11にて上述した方法と同じである。図67は、本実施形態の順次配置法による記録許容画素の配置決定処理を示すフローチャートである。
Sequential placement method This method is also basically the same as the method described above with reference to FIG. FIG. 67 is a flowchart showing the arrangement determination process of the print permission pixels by the sequential arrangement method of the present embodiment.

図67のステップS6701〜S6703、S6705、S6706およびS6707の処理は、図11のS1101〜S1103、S1105、S1106およびS1107の処理と同じである。   The processes in steps S6701 to S6703, S6705, S6706, and S6707 in FIG. 67 are the same as the processes in S1101 to S1103, S1105, S1106, and S1107 in FIG.

異なる点は、ステップS6704で、プレーン内で最小エネルギーの画素に記録許容画素を置く際に、上述したように記録率に応じて定まるラスターごとの配置数を超えるときは、配置数の制限以内であるラスターで、次にエネルギーの低い画素があるラスターのそのエネルギーの低い画素に配置する点である。これにより、記録率をラスターごとに変化させながら、分散性の高いグラデーションマスクを得ることができる。   The difference is that in step S 6704, when placing the recording allowable pixel on the pixel of the minimum energy in the plane, if the number of arrangements per raster determined according to the recording rate is exceeded as described above, it is within the limitation of the number of arrangements. The point is that the pixel having the next lower energy in one raster is arranged in the pixel having the lower energy in the raster. Thereby, a gradation mask with high dispersibility can be obtained while changing the recording rate for each raster.

なお、上述したいずれの製法の例でも、ラスターごとに配置数を管理するものとしたが、これに限られることはない。例えば、マスクパターンを所定の複数のラスターごとに記録率を定める場合は、その複数のラスターごとに配置数の制限を行うようにする。   In any example of the manufacturing method described above, the number of arrangements is managed for each raster, but the present invention is not limited to this. For example, when the recording rate of a mask pattern is determined for each of a plurality of predetermined rasters, the arrangement number is limited for each of the plurality of rasters.

(3)マスク特性評価
図68〜図70は、上述したいずれかの製法によって製造された本実施形態の1プレーン分のマスクC1、M1、Y1それぞれの記録許容画素の配置パターンを示す図である。各マスクパターンは、256×256の画素のエリアを有したものである。
(3) Mask Characteristic Evaluation FIGS. 68 to 70 are diagrams showing the arrangement patterns of the print permitting pixels for the masks C1, M1, and Y1 for one plane of this embodiment manufactured by any of the above-described manufacturing methods. . Each mask pattern has an area of 256 × 256 pixels.

これらの図に示すように、本実施形態のマスクのパターンは、特に、係数αの効果によって同一プレーン内の分散性を考慮した記録許容画素が配置されているので、グラーデーションが持つ記録許容画素の偏りを除いて、記録許容画素の分散に偏りが無く、全体的としては滑らかな印象を受ける。   As shown in these figures, in the mask pattern of the present embodiment, since the print permitting pixels in consideration of the dispersibility in the same plane are arranged particularly by the effect of the coefficient α, the record permitting pixels possessed by the gradient are included. In other words, there is no bias in the dispersion of the print permitting pixels, and the overall impression is smooth.

図71および図72は、図68および図69に示した本実施形態の積層マスクC1、M1のそれぞれ論理和パターンおよび論理積パターンを示す図である。   71 and 72 are diagrams showing a logical sum pattern and a logical product pattern of the stacked masks C1 and M1 of the present embodiment shown in FIGS. 68 and 69, respectively.

図71および図72に示すように、本実施形態の2つのマスクを重ねた場合の記録許容画素の配置(論理和)と、その中から記録許容画素が重なったものを抽出したものの配置(論理積)は、グラデーションによる分散の偏りを除いて、ともに分散がよくざらつき感のないものとなっている。これは、上述したように、2つのプレーン相互で記録許容画素の分散を考慮(係数β)するとともに、重なり自体の分散を考慮(係数γs(n))しているからである。   As shown in FIGS. 71 and 72, the arrangement (logical sum) of the print permitting pixels when the two masks of the present embodiment are overlapped, and the arrangement (logic) of the extracted printable pixels that overlap with each other. The product is well distributed and has no rough feeling except for the uneven distribution due to gradation. This is because, as described above, the dispersion of the print allowable pixels is considered between the two planes (coefficient β) and the dispersion of the overlap itself is taken into account (coefficient γs (n)).

図73および図74は、本実施形態の積層マスクをそれぞれ2つおよび3つ重ねたときの「重ね合わせ」パターンを示す図である。積層マスクC1、M1を重ねたときの「重ね合わせ」パターンは、これら2つのマスクの論理和パターン(図71)を薄い濃度で、論理積パターン(図72)をより濃い濃度で表している。また、積層マスクC1、M1、Y1を重ねたときの「重ね合わせ」パターンは、これら3つのマスクの論理和パターンを薄い濃度で、論理積パターンをより濃い濃度で表している。   73 and 74 are diagrams showing “overlapping” patterns when two and three stacked masks of this embodiment are stacked, respectively. The “overlapping” pattern when the stacked masks C1 and M1 are overlapped represents the logical sum pattern (FIG. 71) of these two masks with a lighter density and the logical product pattern (FIG. 72) with a higher density. The “overlapping” pattern when the stacked masks C1, M1, and Y1 are overlapped represents the logical sum pattern of these three masks with a low density and the logical product pattern with a darker density.

図73および図74に示す「重ね合わせ」のパターンは、本実施形態のマスクを用いて記録を行うときのそれぞれ中間画像のインクドットのパターンに近いものを表している。従って、これらのパターンからも、中間画像におけるインクドットやそれらの重なりが良好に分散していることがわかる。   The “overlapping” patterns shown in FIGS. 73 and 74 represent patterns that are close to the ink dot pattern of the intermediate image when printing is performed using the mask of this embodiment. Therefore, it can be seen from these patterns that ink dots and their overlap in the intermediate image are well dispersed.

ずらしによる評価
本実施形態に係るグラデーションマスクについても、上記の各実施形態と同様ずらしによる評価を行う。
Evaluation by shifting The gradation mask according to the present embodiment is also evaluated by shifting as in the above embodiments.

図75〜図77は、図68、図69に示したマスクC1、M1をずらして重ねたときの論理和、論理積および「重ね合わせ」のパターンを示す図である。これらの図から明らかなように、本実施形態の積層マスクC1、M1の重ね位置をずらした場合の論理和、論理積、「重ね合わせ」のパターンは、正規の位置で重ねた各種パターン(図71〜図73)に比べて、分散性が低下し、パターンを観察したときのざらつき感が増している。   75 to 77 are diagrams showing patterns of logical sum, logical product, and “superposition” when the masks C1 and M1 shown in FIGS. As is clear from these figures, the logical sum, logical product, and “superposition” patterns when the superposition positions of the lamination masks C1 and M1 of the present embodiment are shifted are various patterns (FIG. Compared with 71-FIG. 73), dispersibility falls and the feeling of roughness when a pattern is observed is increasing.

図78は、積層マスクC1、M1、Y1をずらして重ねたときの「重ね合わせ」のパターンを示す図である。この図から明らかなように、本実施形態の積層マスクC1、M1、Y1の重ね位置をずらした場合の「重ね合わせ」パターンも、正規の位置で重ねたパターン(図74)に比べて、分散性が低下し、パターンを観察したときのざらつき感が増している。   FIG. 78 is a diagram showing an “overlapping” pattern when the stacked masks C1, M1, and Y1 are shifted and overlapped. As is clear from this figure, the “superposition” pattern when the superposition positions of the lamination masks C1, M1, and Y1 of the present embodiment are shifted is also more dispersed than the pattern superposed at the regular positions (FIG. 74). And the feeling of roughness when the pattern is observed is increased.

図79〜図81は、重ね位置をずらした場合と重ね位置をずらさない場合(つまり、正規の位置で重ねた場合)のパワースペクトルを比較した図である。詳しくは、本実施形態の2つの積層マスクC1,M1の論理和、論理積、および[重ね合わせ]パターンをずらした場合とずらさない場合のパワースペクトルを示す図である。また、図82は、本実施形態の3つの積層マスクの[重ね合わせ]パターンをずらした場合とずらさない場合のパワースペクトルを示す図である。   79 to 81 are diagrams comparing the power spectra when the overlapping position is shifted and when the overlapping position is not shifted (that is, when overlapping is performed at the normal position). Specifically, it is a diagram showing a power spectrum when the logical sum, logical product, and [overlapping] pattern of the two laminated masks C1 and M1 of this embodiment are shifted and not shifted. FIG. 82 is a diagram showing a power spectrum when the [overlapping] pattern of the three laminated masks of this embodiment is shifted and when it is not shifted.

これらの図に示すように、本実施形態の積層マスクは、論理和、論理積、および[重ね合わせ]のいずれの場合も、ずらした場合の低周波数成分は、ずらし無しの場合に較べて大きくなる。これは、上述したように、積層マスクは、異なるプレーン間でも分散を考慮していることから、その分散を考慮するときの正規の重ね方とは異なる重ね方としたときは、分散性が大きく低下するからである。   As shown in these figures, in the laminated mask of this embodiment, the low frequency component when shifted is larger than that when no shift is performed in any of logical sum, logical product, and [superposition]. Become. This is because, as described above, since the laminated mask considers dispersion even between different planes, when the overlay method is different from the normal overlay method when considering the dispersion, the dispersibility is large. It is because it falls.

また、それぞれの図のずらし無しのパワースペクトルにおいて、空間周波数が1から20あたりでパワーが大きくなっている。これは、グラデーションマスクとして記録率を変化させていることに起因するものである。すなわち、このような比較的小さな空間周波数、つまり大きな周期の記録許容画素の配置の偏りは、とりもなおさずグラデーションとして認識されるものであり、これは本発明で制御しようとしている不必要な低周波数成分の偏りとして認識されるものではない。   Moreover, in the power spectrum without a shift of each figure, the power is large when the spatial frequency is around 1 to 20. This is because the recording rate is changed as a gradation mask. That is, such a relatively small spatial frequency, that is, a bias in the arrangement of the recordable pixels having a large period is recognized as gradation for the time being, and this is an unnecessary low to be controlled by the present invention. It is not recognized as a frequency component bias.

図83は、以上のずらしによる評価を低周波数成分の量で表した図である。ここでは、本実施形態の2つの積層マスクC1、M1の論理和、論理積、「重ね合わせ」のパターン、およびマスクC1、M1、Y1の「重ね合わせ」パターンについて、ずらした場合とずらさない場合の低周波数成分の量を比較して示している。   FIG. 83 is a diagram showing the evaluation based on the shift described above in terms of the amount of low frequency components. Here, the logical sum, logical product, “overlapping” pattern of the two stacked masks C1, M1 and the “overlapping” pattern of the masks C1, M1, Y1 are shifted and not shifted. The amount of the low frequency component is compared and shown.

同図に示すように、本実施形態の積層マスクの場合、ずらしたものは、マスクC1、M1のそれぞれ論理和、論理積、「重ね合わせ」のパターンおよびマスクC1、M1、Y1の「重ね合わせ」パターンのいずれにおいても、ずらしていない場合と比較して、低周波数成分の量が多くなることがわかる。   As shown in the figure, in the case of the laminated mask of the present embodiment, the shifted ones are the logical sum, logical product, “superposition” pattern of the masks C1, M1, and the “superposition” of the masks C1, M1, Y1. It can be seen that in any of the patterns, the amount of the low-frequency component is increased as compared with the case where the pattern is not shifted.

以上のように、マスクを重ね合わせる場合に、その重ね位置をずらしたとき分散性に係る評価値が大きく変化するか否かによって、本発明を適用したマスクか否かを判断することができることは前述したとおりである。   As described above, when masks are overlaid, it is possible to determine whether or not the mask is the one to which the present invention is applied depending on whether or not the evaluation value related to dispersibility changes greatly when the overlapping position is shifted. As described above.

〔実施形態4:2パス記録用150%均等マスク〕
上述の各実施形態では、同じ色の複数のプレーンのマスクは相互に補完関係にあり、記録許容画素の配置はプレーン間で排他的なものである。本発明の適用はこのようなマスク限られない。同じ色の複数のマスクそれぞれの記録率を合わせたときに100%を超える複数プレーンのマスクにも本発明を適用することができる。100%を超えるマスクを使用すれば、画像データの解像度が低い場合であっても、最大インク打ち込み量を増やすことができる。
[Embodiment 4: 150% uniform mask for 2-pass printing]
In each of the above-described embodiments, the masks of a plurality of planes of the same color are in a complementary relationship with each other, and the arrangement of print permitting pixels is exclusive between the planes. The application of the present invention is not limited to such a mask. The present invention can be applied to a mask having a plurality of planes exceeding 100% when the recording rates of a plurality of masks of the same color are combined. If a mask exceeding 100% is used, the maximum ink ejection amount can be increased even when the resolution of the image data is low.

本発明の第4の実施形態は、2パス記録に用いられる同色の2つのプレーンがそれぞれ75パーセントの記録率を持ち、合わせて150%の記録率となるマスクに関するものである。   The fourth embodiment of the present invention relates to a mask in which two planes of the same color used for two-pass printing each have a recording rate of 75% and a combined recording rate of 150%.

図84は、この2パス記録に用いるマスクを概念的に説明する模式図である。図84において、P0001は、C、M、Yのうち、1つの色の記録ヘッドを示し、ここでは、図示の簡略化のため8個のノズルを有するものとして示している。ノズルは、第1および第2の2つのグループに分割され、各ノズルグループにはそれぞれ4つのノズルが含まれる。P0002AおよびP0002Bは、この第1および第2グループのノズル列にそれぞれ対応したマスクパターンを示す。すなわち、第1走査で用いるマスクパターンP0002A(同図中、下側のパターン)と第2走査で用いるマスクパターンP0002B(同図中、上側のパターン)である。これらがそれぞれ1プレーンのマスクとなる。それぞれのマスクパターンは、記録許容画素が黒塗りで示されており、非記録許容画素が白で示されている。第1走査用のマスクパターンP0002Aと第2走査用のマスクパターンP0002Bはそれぞれ75%の記録率、すなわち、それぞれのパターンにおける全マスク画素に対する記録許容画素の数の割合が75%のパターンである。従って、これらを重ね合わせると記録許容画素が4×4のエリアに対して150%、すなわち、重なりを含んだパターンとなる。なお、図に示すパターンは説明を容易にするため、以下で示す本実施形態のマスクパターンとは異なり概念的に示すパターンとしている。   FIG. 84 is a schematic diagram conceptually illustrating a mask used for the two-pass printing. In FIG. 84, P0001 indicates a print head of one color among C, M, and Y, and here, it is shown as having eight nozzles for simplification of illustration. The nozzles are divided into first and second groups, and each nozzle group includes four nozzles. P0002A and P0002B indicate mask patterns corresponding to the nozzle rows of the first and second groups, respectively. That is, the mask pattern P0002A (lower pattern in the figure) used in the first scan and the mask pattern P0002B (upper pattern in the figure) used in the second scan. Each of these becomes a mask of one plane. In each mask pattern, the printable pixels are shown in black, and the non-printable pixels are shown in white. The first scanning mask pattern P0002A and the second scanning mask pattern P0002B each have a recording rate of 75%, that is, a pattern in which the ratio of the number of print-allowable pixels to all mask pixels in each pattern is 75%. Therefore, when these are overlaid, the pattern allows for a recordable pixel of 150% with respect to a 4 × 4 area, that is, a pattern including an overlap. Note that the pattern shown in the drawing is conceptually different from the mask pattern of the present embodiment shown below for easy explanation.

P0003およびP0004は、2パス記録によって完成する画像を、それを構成するドット配置で示している。画素にドットが1個配置される場合は「1」、ドットが2個配置される場合は「2」として表している。なお、この画像は、説明を容易にするため、総ての画素にドットを形成するいわゆるベタ画像であり、従って、そのドット記録データの生成に用いるマスクP0002の記録許容画素の配置がそのまま反映されたドット配置を示している。第1走査では、第1グループのドット記録データは、マスクパターンP0002Aを用いて生成される。これにより、ベタ画像の場合は全画素の75%のドットが埋まる画像が形成される。そして、記録媒体は図中、上方にノズルグループの幅分搬送される。   P0003 and P0004 indicate images that are completed by two-pass printing, with the dot arrangement constituting them. When one dot is arranged in a pixel, it is represented as “1”, and when two dots are arranged, it is represented as “2”. Note that this image is a so-called solid image in which dots are formed on all pixels for the sake of easy explanation. Therefore, the arrangement of the print allowable pixels of the mask P0002 used for generating the dot print data is reflected as it is. The dot arrangement is shown. In the first scan, the first group of dot recording data is generated using the mask pattern P0002A. Thereby, in the case of a solid image, an image in which 75% of dots of all pixels are filled is formed. The recording medium is conveyed upward in the drawing by the width of the nozzle group.

次の、第2走査では、上記搬送量分ずれた領域に対する第1グループのドット記録データは、同じくマスクパターンP0002Aを用いて生成され、上記第1グループで記録された領域に対する第2グループのドット記録データは、マスクパターンP0002Bを用いて生成される。この2回の記録走査によって画像が完成する。このとき、完成した画像は、ベタ画像の場合、全画素の150%のドットが埋まる画像が形成される。   In the next second scan, the first group of dot recording data for the area shifted by the carry amount is generated using the mask pattern P0002A, and the second group of dots for the area recorded in the first group. The recording data is generated using the mask pattern P0002B. The image is completed by the two recording scans. At this time, if the completed image is a solid image, an image in which 150% of all pixels are filled is formed.

本実施形態のマスクの製造方法は、基本的に実施形態1と同様に行うことができる。   The mask manufacturing method of this embodiment can be performed basically in the same manner as in the first embodiment.

異なる点は、同時生成法およびパスごとの生成のいずれの場合も(図7参照)、ステップ1で1パス目の75%マスクパターンを生成した後、ステップ2では、実施形態1のように排他位置に記録許容画素を配置するのではなく、ステップ1と同様の処理繰り返し75%の2パス目のマスクパターンを生成する。以下、さらに具体的に配置法である配置移動法と順次配置法について、実施形態1と異なる点について説明する。   The difference is that in both the simultaneous generation method and the generation for each pass (see FIG. 7), after the 75% mask pattern of the first pass is generated in Step 1, the exclusive in Step 2 is as in Embodiment 1. Instead of arranging the printable pixel at the position, a second-pass mask pattern of 75% processing repetition similar to Step 1 is generated. In the following, the arrangement movement method and the sequential arrangement method, which are arrangement methods, will be described in more detail with respect to differences from the first embodiment.

配置移動法
本実施形態の配置移動法も実施形態1に係る図8の処理と基本的に同様の処理を行う。異なるのは、ステップS801と同様の処理では、上記ステップ1および2のいずれの生成でも、初期配置として各プレーンについて、75%の2値データを求める。また、ステップ2の生成で、図8のステップS804と同様の処理では、記録許容画素の移動に際して、同じ色の異なるプレーンの記録許容画素との重なりを禁止しない。すなわち、エネルギーが最も低く位置に移動させようとしたとき、その位置で同じ色の他のプレーンの記録許容画素と重なってもそこに配置する。これにより、2つのマスクを重ねたものが100%の記録率を超えた150%の記録率のマスクを生成することができる。
Arrangement Movement Method The arrangement movement method of this embodiment also performs basically the same processing as the processing of FIG. 8 according to the first embodiment. The difference is that in the same processing as step S801, 75% binary data is obtained for each plane as the initial arrangement in any of the generations of steps 1 and 2 above. Further, in the generation of step 2, the same processing as in step S804 in FIG. 8 does not prohibit the overlap of the print permitting pixels of different planes of the same color when moving the print permitting pixels. That is, when an attempt is made to move to a position where the energy is the lowest, even if it overlaps with a print permitting pixel of another plane of the same color at that position, it is arranged there. As a result, it is possible to generate a mask having a recording rate of 150%, in which two masks are overlaid and the recording rate exceeds 100%.

順次配置法
順次移動法についても実施形態1に係る図11に示した処理と基本的に同様の処理を行う。異なるのは、ステップS1106と同様の処理では、上記ステップ1および2のいずれの生成でも、75%まで記録許容画素が配置されたか否かを判断する。また、上記ステップ2の2パス目用のマスク生成では、図11のステップS1104と同様の処理で、記録許容画素を配置するに際して、同じ色の異なるプレーンの記録許容画素との重なりを禁止しない。すなわち、エネルギーが最も低く位置に配置しようとしたとき、その位置で同じ色の他のプレーンの記録許容画素と重なってもそこに配置する。これにより、2つのマスクを重ねたものが100%の記録率を超えた150%の記録率のマスクを生成することができる。
For the sequential placement method and the sequential movement method, basically the same processing as that shown in FIG. 11 according to the first embodiment is performed. The difference is that, in the same process as in step S1106, it is determined whether or not the print permitting pixels have been arranged up to 75% in both generations of steps 1 and 2 above. Further, in the mask generation for the second pass in step 2 described above, the same process as in step S1104 in FIG. 11 does not prohibit overlapping the print permitting pixels of the same color and different planes when arranging the print permitting pixels. That is, when an attempt is made to arrange at the position where the energy is the lowest, even if it overlaps with the print permitting pixel of another plane of the same color at that position, it is arranged there. As a result, it is possible to generate a mask having a recording rate of 150%, in which two masks are overlaid and the recording rate exceeds 100%.

以上の製法により製造したマスクを用いれば、ドットが2個配置される場所(画素の位置)の分散性を向上させることができる。   If the mask manufactured by the above manufacturing method is used, the dispersibility of the place (pixel position) where two dots are arranged can be improved.

〔実施形態5:クラスタサイズがm×nのマスク〕
本発明は、m×n個の記録許容画素を1つの単位とする、いわゆるクラスタマスクについても適用することができる。
[Embodiment 5: Mask with Cluster Size of m × n]
The present invention can also be applied to a so-called cluster mask in which m × n recording allowable pixels are used as one unit.

図85は、2パス記録用の、クラスタサイズが1×2の100%均等マスクの概念を説明する図である。図85において、P0001は、C、M、Yのうち、1つの色の記録ヘッドを示し、ここでは、図示の簡略化のため8個のノズルを有するものとして示している。ノズルは、第1および第2の2つのグループに分割され、各ノズルグループにはそれぞれ4つのノズルが含まれる。P0002AおよびP0002Bは、この第1および第2グループのノズル列にそれぞれ対応したマスクパターンを示す。すなわち、第1走査で用いるマスクパターンP0002A(同図中、下側のパターン)と第2走査で用いるマスクパターンP0002B(同図中、上側のパターン)である。これらがそれぞれ1プレーンのマスクとなる。それぞれのマスクパターンは、1×2のサイズのクラスタ記録許容画素が黒塗りで示されており、1×2のサイズのクラスタ非記録許容画素が白で示されている。第1走査用のマスクパターンP0002Aと第2走査用のマスクパターンP0002Bはそれぞれ50%の記録率のパターンである。従って、これらを重ね合わせるとクラスタ記録許容画素が4×4のエリアに対して100%のパターンとなる。   FIG. 85 is a diagram for explaining the concept of a 100% uniform mask having a cluster size of 1 × 2 for 2-pass printing. In FIG. 85, P0001 indicates a recording head of one color among C, M, and Y, and here, it is illustrated as having eight nozzles for simplification of illustration. The nozzles are divided into first and second groups, and each nozzle group includes four nozzles. P0002A and P0002B indicate mask patterns corresponding to the nozzle rows of the first and second groups, respectively. That is, the mask pattern P0002A (lower pattern in the figure) used in the first scan and the mask pattern P0002B (upper pattern in the figure) used in the second scan. Each of these becomes a mask of one plane. In each mask pattern, the 1 × 2 size cluster recording permissible pixel is shown in black, and the 1 × 2 size cluster non-recording permissible pixel is shown in white. The mask pattern P0002A for the first scan and the mask pattern P0002B for the second scan are patterns with a recording rate of 50%, respectively. Therefore, when these are overlaid, the cluster recording allowable pixel becomes a 100% pattern with respect to a 4 × 4 area.

P0003およびP0004は、2パス記録によって完成する画像を、それを構成する1×2個のドットを単位とする配置で示している。なお、この画像は、説明を容易にするため、総ての画素にドットを形成するいわゆるベタ画像であり、従って、そのドット記録データの生成に用いるマスクP0002の記録許容画素の配置がそのまま反映されたドット配置となる。第1走査では、第1グループのドット記録データは、マスクパターンP0002Aを用いて生成される。これにより、ベタ画像の場合は全画素の50%のドットが埋まる画像が形成される。そして、記録媒体は図中、上方にノズルグループの幅分搬送される。次の、第2走査では、上記搬送量分ずれた領域に対する第1グループのドット記録データは、同じくマスクパターンP0002Aを用いて生成され、上記第1グループで記録された領域に対する第2グループのドット記録データは、マスクパターンP0002Bを用いて生成される。この2回の記録走査によって画像が完成する。このとき、完成した画像は、ベタ画像の場合、全画素の100%に1×2個の単位のドットが埋まる画像が形成される。   P0003 and P0004 show an image completed by two-pass printing in an arrangement with 1 × 2 dots constituting the image as a unit. Note that this image is a so-called solid image in which dots are formed on all pixels for the sake of easy explanation. Therefore, the arrangement of the print allowable pixels of the mask P0002 used for generating the dot print data is reflected as it is. Dot arrangement. In the first scan, the first group of dot recording data is generated using the mask pattern P0002A. As a result, in the case of a solid image, an image in which 50% of all pixels are filled is formed. The recording medium is conveyed upward in the drawing by the width of the nozzle group. In the next second scan, the first group of dot recording data for the area shifted by the carry amount is generated using the mask pattern P0002A, and the second group of dots for the area recorded in the first group. The recording data is generated using the mask pattern P0002B. The image is completed by the two recording scans. At this time, when the completed image is a solid image, an image in which 1 × 2 unit dots are filled in 100% of all pixels is formed.

以上の説明からも明らかなように、m×n(本実施形態では、1×2)のサイズの記録許容画素を1単位とするとき、実施形態1で説明したのと同様にマスクを製造できることは容易に理解できる。また、本実施形態のマスクは、実施形態1で説明した効果とほぼ同様の効果を得ることができる。   As is clear from the above description, when a recording allowable pixel having a size of m × n (1 × 2 in the present embodiment) is defined as one unit, a mask can be manufactured as described in the first embodiment. Is easy to understand. In addition, the mask of the present embodiment can obtain substantially the same effect as that described in the first embodiment.

〔他の実施形態〕
上述した実施形態以外に、例えば、実施形態2に示した4パスの態様とそれぞれ実施形態3、実施形態4、実施形態5との組み合わせも可能であり、また、実施形態3に示したグラデーションの態様とそれぞれ実施形態4、実施形態5との組み合わせも可能である。さらに、実施形態4と実施形態5との組み合わせも可能であり、これらの組み合わせは、それぞれの実施形態の説明からように実施することができる。
[Other Embodiments]
In addition to the above-described embodiment, for example, the four-pass mode shown in the second embodiment can be combined with the third, fourth, and fifth embodiments, respectively, and the gradation shown in the third embodiment can also be combined. A combination of the embodiment and the fourth and fifth embodiments is also possible. Furthermore, the combination of Embodiment 4 and Embodiment 5 is also possible, and these combinations can be implemented from the description of each embodiment.

また、本発明で適用できるインクの種類は、上述の実施形態で説明したインクの種類に限定されるものではない。例えば、CMYの基本色よりも濃度の低い淡インク(淡シアンインク、淡マゼンタインク)やレッド、ブルー、グリーンなどの特色インクをさらに加えて用いることができる
また、本発明は、記録装置で用いる複数種類のインク全てについて、上述の実施形態で説明した積層マスクを適用してもよいし、あるいは、記録装置で用いる複数種類のインクの一部のインクの組み合わせについて、積層マスクを適用してもよい。
Further, the type of ink that can be applied in the present invention is not limited to the type of ink described in the above embodiment. For example, light ink (light cyan ink, light magenta ink) having a lower density than the basic colors of CMY and special color inks such as red, blue, and green can be further added and used. The present invention is also used in a recording apparatus. The laminated mask described in the above embodiment may be applied to all types of ink, or the laminated mask may be applied to a combination of some of the multiple types of ink used in the recording apparatus. Good.

例えば、シアン(C)、マゼンタ(M)、イエロー(Y)、ブラック(K)、淡シアン(Lc)、淡マゼンタ(Lm)の6色インクを用いる場合、これら6色全てに対して積層マスクを適用してもよい。この場合、6色分の積層マスクを上記実施形態で説明した製法によって生成することになる。   For example, when six color inks of cyan (C), magenta (M), yellow (Y), black (K), light cyan (Lc), and light magenta (Lm) are used, a laminated mask for all these six colors. May be applied. In this case, a laminated mask for six colors is generated by the manufacturing method described in the above embodiment.

一方、これら6色のうち一部の色(2色、3色、4色、5色)の組み合わせについて積層マスクを適用してもよい。この場合、2つの形態が考えられる。第1の形態は、上記一部の色分だけ積層マスクを生成し、それ以外の色についてのマスク製法を問わない形態である。例えば、6色のうち3色(例えば、CMY)については上述の実施形態で説明した製法によって積層マスクを生成し、それ以外の3色(KLcLm)については周知の製法によってマスクを生成する。第2の形態は、上記一部の色分だけ積層マスクを生成し、それ以外の色については上記一部の色のために生成した積層マスクの中から選択したものを割り当てる形態である。例えば、6色のうちCMYの3色については上述の実施形態で説明した製法によって積層マスクを生成し、それ以外の3色(KLcLm)についてはCMYのために生成した積層マスクの中なら選択したものを適用する。   On the other hand, a laminated mask may be applied to combinations of some of the six colors (two colors, three colors, four colors, and five colors). In this case, two forms are possible. The first mode is a mode in which a laminated mask is generated for the above-mentioned part of the colors, and the mask manufacturing method for other colors is not limited. For example, for three colors (for example, CMY) among the six colors, a laminated mask is generated by the manufacturing method described in the above embodiment, and for the other three colors (KLcLm), a mask is generated by a known manufacturing method. The second form is a form in which a laminated mask is generated for the part of the colors, and for the other colors, one selected from the laminated masks generated for the part of colors is assigned. For example, for the three colors CMY among the six colors, a laminated mask is generated by the manufacturing method described in the above embodiment, and for the other three colors (KLcLm), it is selected from among the laminated masks generated for CMY. Apply things.

また、上述の実施形態では、異なるインク色の組み合わせについて積層マスクを適用する場合について説明したが、本発明は、この形態に限られるものではない。同じ色で径の異なるドット(吐出体積の異なる同色インク)を用いて記録を行う形態にも適用可能である。この場合、同色で径の異なるドット(例えば、大ドット、小ドット)について上述の積層マスクを適用してもよい。例えば、大シアン、小シアン、大マゼンタ、小マゼンタ、イエロー、ブラックの6種類のドットを用いる場合を考える。この場合、大シアンと小シアン、あるいは大マゼンタと小マゼンタについて、上述の実施形態で説明した製法により積層マスクを生成する。   In the above-described embodiment, the case where the laminated mask is applied to a combination of different ink colors has been described. However, the present invention is not limited to this embodiment. The present invention is also applicable to a mode in which printing is performed using dots of the same color and different diameters (same color inks having different ejection volumes). In this case, the above-described laminated mask may be applied to dots having the same color and different diameters (for example, large dots and small dots). For example, consider a case where six types of dots of large cyan, small cyan, large magenta, small magenta, yellow, and black are used. In this case, a laminated mask is generated for the large cyan and small cyan or large magenta and small magenta by the manufacturing method described in the above embodiment.

さらには、同色で径の異なるドット(例えば、大ドット、小ドット)を用いる形態において、異色ドットの組み合わせについては上述の積層マスクを適用し、径の異なる同色ドットの組み合わせについては同じマスクを適用する形態であってもよい。例えば、上述の6種類のドットを用いる場合において、大シアンと大マゼンタについて上記実施形態で説明した製法により積層マスクを生成し、且つ小シアンについては大シアンと同じマスクを適用し、小マゼンタについては大マゼンタと同じマスクを適用するのである。   Furthermore, in the form of using dots of the same color and different diameters (for example, large dots and small dots), the above-described laminated mask is applied to the combination of different color dots, and the same mask is applied to the combination of the same color dots having different diameters. It may be a form to do. For example, in the case of using the above-described six types of dots, a stacking mask is generated by the manufacturing method described in the above embodiment for large cyan and large magenta, and the same mask as that for large cyan is applied to small cyan. Applies the same mask as large magenta.

なお、同色で径の異なるドットの種類数は、大小2種類に限られるものではなく、大中小の3種類であってもよいし、それ以上であってもよい。また、本発明は、色および大きさの少なくとも一方が異なるドットについて適用した場合においてのみ効果を発揮するものではなく、例えば、離間したノズル群から異なるタイミングで吐出される同色インクについて適用しても効果を発揮する。例えば、ヘッドの主走査方向に沿ってCMYMCの順でノズル群が配列されている形態にあっては、離間した同色ノズル群(Cノズル群、Mノズル群)に対して上記製法によって製造した積層マスクを適用するのである。   The number of types of dots having the same color and different diameters is not limited to two types of large and small, and may be three types of large, medium, and small, or more. Further, the present invention is not effective only when applied to dots having at least one of different colors and sizes. For example, the present invention may be applied to the same color ink ejected from different nozzle groups at different timings. Demonstrate the effect. For example, in the form in which the nozzle groups are arranged in the order of CMYMC along the main scanning direction of the head, the stack manufactured by the above manufacturing method for the same color nozzle groups (C nozzle group, M nozzle group) that are separated from each other. Apply the mask.

また、本発明は、上述した通り、色材を含有するインク以外の液体を用いる形態においても適用可能である。色材を含有するインク以外の液体としては、インク中の色材を凝集あるいは不溶化させる反応液が挙げられる。この場合、少なくとも、ある1種のインクと反応液について、上記実施形態で説明した製法により積層マスクを生成することになる。 Further, as described above, the present invention can also be applied to a form using a liquid other than the ink containing the color material . Examples of the liquid other than the ink containing the color material include a reaction liquid that aggregates or insolubilizes the color material in the ink. In this case, for at least one kind of ink and reaction liquid, a laminated mask is generated by the manufacturing method described in the above embodiment.

なお、本発明では、色材として染料を含有する染料インク、色材として顔料を含有する顔料インク、色材として染料および顔料を含有する混合インクのいずれについても適用可能である。   In the present invention, any of a dye ink containing a dye as a color material, a pigment ink containing a pigment as a color material, and a mixed ink containing a dye and a pigment as a color material can be applied.

本発明の一実施形態に係る画像処理装置としてのPCのハードウェアおよびソフトウェアの構成を主に示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram mainly illustrating hardware and software configurations of a PC as an image processing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態のインクジェット記録システムにおける、画像データ変換処理の流れを説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the flow of the image data conversion process in the inkjet recording system of one Embodiment of this invention. 本発明の実施形態に適用可能なインクジェット記録装置を示した斜視図である。1 is a perspective view showing an ink jet recording apparatus applicable to an embodiment of the present invention. 2パス記録を説明するために、記録ヘッド、マスクパターンおよび記録媒体を模式的に示した図である。FIG. 3 is a diagram schematically illustrating a recording head, a mask pattern, and a recording medium in order to explain 2-pass recording. 2パスのマルチパス記録を説明するために、記録ヘッドおよび記録パターンを模式的に示した図である。FIG. 6 is a diagram schematically illustrating a recording head and a recording pattern for explaining two-pass multi-pass recording. (a)および(b)は、C、M、Yそれぞれの2分割記録に係る6つのプレーンの2値データを模式的に示す図である。(A) And (b) is a figure which shows typically the binary data of the six planes which concern on each 2 division | segmentation recording of C, M, and Y. FIG. 本発明の第一の実施形態に係るマスク製法を説明する図である。It is a figure explaining the mask manufacturing method concerning a first embodiment of the present invention. 本発明の第一の実施形態に係るマスク製法の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the mask manufacturing method which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る基本斥力ポテンシャルE(r)の関数を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the function of the basic repulsive potential E (r) which concerns on embodiment of this invention. (a)〜(d)は、本発明の第一の実施形態にかかる斥力ポテンシャルの付与と総エネルギーの減衰処理を模式的に説明する図である。(A)-(d) is a figure which illustrates typically the provision of the repulsive potential and attenuation | damping process of total energy concerning 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る他のマスク製法の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the other mask manufacturing method which concerns on 1st embodiment of this invention. マスクパターンの論理積を説明する図である。It is a figure explaining the logical product of a mask pattern. マスクパターンの論理和を説明する図である。It is a figure explaining the logical sum of a mask pattern. 本発明の第一の実施形態に係るマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the mask pattern which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係るマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the mask pattern which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係るマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the mask pattern which concerns on 1st embodiment of this invention. 自プレーンのみ分散マスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the recording permissible pixel of a dispersion | distribution mask pattern only for an own plane . ランダムマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the recording permissible pixel of a random mask pattern. 本発明の第一の実施形態に係る2つのマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターン(論理和パターン)を示す図である。It is a figure which shows the arrangement | positioning pattern (logical sum pattern) of the print permission pixel obtained by the logical sum of two mask patterns which concern on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る2つのマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターン(論理積パターン)を示す図である。It is a figure which shows the arrangement | positioning pattern (logical product pattern) of the printing permissible pixel obtained by the logical product of two mask patterns which concern on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る3つのマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターン(論理和パターン)を示す図である。It is a figure which shows the arrangement | positioning pattern (logical sum pattern) of the printing permissible pixel obtained by the logical sum of the three mask patterns concerning 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る3つのマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターン(論理積パターン)を示す図である。It is a figure which shows the arrangement | positioning pattern (logical product pattern) of the printing permissible pixel obtained by the logical product of the three mask patterns which concern on 1st embodiment of this invention. 2つの自プレーンのみ分散マスクパターンの論理和の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the print permission pixel of the logical sum of a dispersion | distribution mask pattern only for two self-planes . 2つの自プレーンのみ分散マスクパターンの論理積の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the logical product of a dispersion | distribution mask pattern only for two self-planes . 2つのランダムマスクパターンの論理和の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the recording permission pixel of the logical sum of two random mask patterns. 2つのランダムマスクパターンの論理積の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the print permission pixel of the logical product of two random mask patterns. マスクパターンの「重ね合わせ」パターンを説明する図である。It is a figure explaining the "superposition" pattern of a mask pattern. 本発明の第一の実施形態に係る2つのマスクパターンの「重ね合わせ」によって得られる記録許容画素の配置パターン(重ね合わせパターン)を示す図である。It is a figure which shows the arrangement | positioning pattern (superimposition pattern) of the printing allowable pixel obtained by "superposition" of two mask patterns which concern on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る3つのマスクパターンの「重ね合わせ」によって得られる記録許容画素の配置パターン(重ね合わせパターン)を示す図である。It is a figure which shows the arrangement | positioning pattern (superimposition pattern) of the printing permissible pixel obtained by "superimposition" of the three mask patterns which concern on 1st embodiment of this invention. 2つの自プレーンのみ分散マスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing | stacking permissible pixel of "superposition" of a dispersion | distribution mask pattern only in two self-planes . 2つのランダムマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing | stacking permissible pixel of "superposition" of two random mask patterns. マスクの周波数特性を説明する図である。It is a figure explaining the frequency characteristic of a mask. 2つのマスクの論理和パターンの周波数特性を説明する図である。It is a figure explaining the frequency characteristic of the logical sum pattern of two masks. 2つのマスクの論理積パターンの周波数特性を説明する図である。It is a figure explaining the frequency characteristic of the logical product pattern of two masks. 2つのマスクの「重ね合わせ」パターンの周波数特性を説明する図である。It is a figure explaining the frequency characteristic of the "superposition" pattern of two masks. 3つのマスクの「重ね合わせ」パターンの周波数特性を説明する図である。It is a figure explaining the frequency characteristic of the "superposition" pattern of three masks. 本発明の第一の実施形態のマスク(C1、M1)をずらし論理和した場合に得られる記録許容画素の配置パターンを示す図である。It is a figure which shows the arrangement | positioning pattern of the recording permissible pixel obtained when the mask (C1, M1) of 1st embodiment of this invention is shifted and ORed. 本発明の第一の実施形態のマスク(C1、M1)をずらし論理積した場合に得られる記録許容画素の配置パターンを示す図である。Slide the mask (C1, M1) of the first embodiment of the present invention is a drawing illustrating an arrangement pattern of print permitting pixels obtained when the logical product. 本発明の第一の実施形態のマスク(C1、M1)をずらし「重ね合わせ」を行った場合に得られる記録許容画素の配置パターンを示す図である。It is a figure which shows the arrangement | positioning pattern of the recording permissible pixel obtained when the mask (C1, M1) of 1st embodiment of this invention is shifted and "superimposition" is performed . 本発明の第一の実施形態のマスク(C1、M1)をずらさないで論理和した場合の論理和パターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして論理和した場合の論理和パターンのパワースペクトルを示す図である。The power spectrum of the logical sum pattern when logically summed without shifting the masks (C1, M1) of the first embodiment of the present invention and the logical sum pattern when logically summed with the masks (C1, M1) shifted are shown. FIG. 自プレ−ンのみ分散マスク(C1、M1)をずらさないで論理和した場合の論理和パターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして論理和した場合の論理和パターンのパワースペクトルを示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a power spectrum of a logical sum pattern when logical sum is performed without shifting the dispersion mask (C1, M1) only in its own plane and a logical sum pattern when logical sum is performed by shifting the mask (C1, M1). is there. ランダムマスク(C1、M1)をずらさないで論理和した場合の論理和パターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして論理和した場合の論理和パターンのパワースペクトルを示す図である。It is a figure which shows the power spectrum of the logical sum pattern at the time of carrying out logical sum without shifting the random mask (C1, M1), and the logical sum pattern when shifting the mask (C1, M1). 本発明の第一の実施形態のマスク(C1、M1)をずらさないで論理積した場合の論理積パターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして論理積した場合の論理積パターンのパワースペクトルを示す図である。The power spectrum of the logical product pattern when the logical product is obtained without shifting the masks (C1, M1) of the first embodiment of the present invention and the logical product pattern when the logical product is obtained by shifting the masks (C1, M1). FIG. 自プレ−ンのみ分散マスク(C1、M1)をずらさないで論理積した場合の論理和パターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして論理積した場合の論理和パターンのパワースペクトルを示す図である。A diagram showing a power spectrum of logical sum pattern of the case where the logical product by shifting the logical sum pattern and the mask in the case of logical (C1, M1) is not shifted to N'nomi dispersion mask (C1, M1) - own Pre is there. ランダムマスク(C1、M1)をずらさないで論理積した場合の論理和パターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして論理積した場合の論理和パターンのパワースペクトルを示す図である。It is a figure which shows the power spectrum of the logical sum pattern at the time of logical product without shifting the random mask (C1, M1) and the logical sum pattern when shifting the mask (C1, M1). 本発明の第一の実施形態のマスク(C1、M1)をずらさないで重ね合わせた場合の重ね合わせパターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして重ね合わせた場合の重ね合わせパターンのパワースペクトルを示す図である。The power spectrum of the superposition pattern when the masks (C1, M1) of the first embodiment of the present invention are superposed without being shifted and the superposition pattern when the masks (C1, M1) are superposed are shifted. FIG. 自プレ−ンのみ分散マスク(C1、M1)をずらさないで重ね合わせた場合の重ね合わせパターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして重ね合わせた場合の重ね合わせパターンのパワースペクトルを示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a power spectrum of a superposition pattern when superposition is performed without shifting the dispersion mask (C1, M1) only for the own plane and a superposition pattern when superposition is performed while the mask (C1, M1) is superposed . is there. ランダムマスク(C1、M1)をずらさないで重ね合わせた場合の重ね合わせパターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして重ね合わせた場合の重ね合わせパターンのパワースペクトルを示す図である。Is a diagram showing the power spectrum of the superposition pattern when superimposed by shifting superimposition pattern and the mask (C1, M1) in the case of superposed without offset the random mask (C1, M1). 本発明の第一の実施形態のマスク(C1、M1、Y1)をずらさないで重ね合わせた場合の重ね合わせパターンおよび上記マスク(C1、M1、Y1)をずらして重ね合わせた場合の重ね合わせパターンのパワースペクトルを示す図である。 Overlay pattern when superimposed shifting the mask overlay pattern and the mask in the case of superposed without offset a (C1, M1, Y1) ( C1, M1, Y1) of the first embodiment of the present invention It is a figure which shows no power spectrum. 本発明の第一の実施形態のマスクをずらさないで論理和、論理積および「重ね合わせ」を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンと、上記マスクをずらし論理和、論理積および[重ね合わせ]を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンとの低周波数成分の違いを示す図である。The first logical sum is not shifted mask embodiment of the present invention, the arrangement pattern of print permitting pixels obtained when performing logical product and "superposing", a logical sum by shifting the mask, a logical product FIG. 5 is a diagram illustrating a difference in low frequency components from an array pattern of print permitting pixels obtained when [overlay] is performed . 自プレ−ンのみ分散マスクをずらさないで論理和、論理積および「重ね合わせ」を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンと、上記マスクをずらし論理和、論理積および[重ね合わせ]を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンとの低周波数成分の違いを示す図である。 Own pre - N'nomi logical sum is not shifted dispersion mask, a sequence pattern of print permitting pixels obtained when performing logical product and "superposing", a logical sum by shifting the mask, logical product and Cascade It is a figure which shows the difference of a low frequency component with the arrangement | sequence pattern of a printing permissible pixel obtained when performing "combination". ランダムマスクをずらさないで論理和、論理積および「重ね合わせ」を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンと、上記マスクをずらし論理和、論理積および[重ね合わせ]を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンとの低周波数成分の違いを示す図である。 Logical sum is not shifted random mask was performed with sequence patterns of print permitting pixels obtained when performing logical product and "superposing", a logical sum by shifting the mask, a logical product and [overlay] It is a figure which shows the difference of the low frequency component with the arrangement | sequence pattern of the recording permissible pixel obtained in the case . 本発明の第二の実施形態に係るマスク製法を説明する図である。It is a figure explaining the mask manufacturing method concerning a second embodiment of the present invention. 本発明の第二の実施形態に係るマスク製法を説明する図である。It is a figure explaining the mask manufacturing method concerning a second embodiment of the present invention. 本発明の第二の実施形態に係るマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the mask pattern which concerns on 2nd embodiment of this invention. 本発明の第二の実施形態に係るマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the mask pattern which concerns on 2nd embodiment of this invention. 本発明の第二の実施形態に係るマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the mask pattern which concerns on 2nd embodiment of this invention. 本発明の第二の実施形態に係る3つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the print | recording permissible pixel of "superposition" of the three mask patterns concerning 2nd embodiment of this invention. 本発明の第一の実施形態に係る6つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing | stacking permissible pixel of "superposition" of six mask patterns which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第二の実施形態に係る9つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing | non-printing permissible pixel of "superposition" of nine mask patterns which concerns on 2nd embodiment of this invention. 本発明の第二の実施形態のマスクをずらしたときの3つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the print | recording permissible pixel of "superposition" of three mask patterns when the mask of 2nd embodiment of this invention is shifted. 本発明の第二の実施形態のマスクをずらしたときの6つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing | stacking permissible pixel of "superposition" of six mask patterns when the mask of 2nd embodiment of this invention is shifted. 本発明の第二の実施形態のマスクをずらしたときの9つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing allowable pixel of "superposition" of nine mask patterns when the mask of 2nd embodiment of this invention is shifted. 本発明の第二の実施形態のマスクをずらさないで「重ね合わせ」を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンと、上記マスクをずらし[重ね合わせ]を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンとの低周波数成分の違いを示す図である。The arrangement pattern of print permitting pixels obtained when performing "superposition" not shifted the mask of the second embodiment of the present invention, obtained when subjected to [overlay] by shifting the mask It is a figure which shows the difference of the low frequency component with the arrangement | sequence pattern of a recording permissible pixel . (a)および(b)は、本発明の第三の実施形態に係るマスクを説明する図である。(A) And (b) is a figure explaining the mask which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係るマスク製法の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the mask manufacturing method which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係る他のマスク製法の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the other mask manufacturing method which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係るマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the mask pattern which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係るマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the mask pattern which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係るマスクパターンの記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing permissible pixel of the mask pattern which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係る2つのマスクパターンの論理和の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the recording permission pixel of the logical sum of two mask patterns which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係る2つのマスクパターンの論理積の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the print permission pixel of the logical product of two mask patterns which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係る2つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the print | permission permission pixel of "superposition" of two mask patterns which concerns on 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態に係る3つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the print | recording permissible pixel of "superposition" of the three mask patterns concerning 3rd embodiment of this invention. 本発明の第三の実施形態のマスクをずらしたときの2つのマスクパターンの論理和の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the recording permission pixel of the logical sum of two mask patterns when the mask of 3rd embodiment of this invention is shifted. 本発明の第三の実施形態のマスクをずらしたときの2つのマスクパターンの論理積の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the printing allowable pixel of the logical product of two mask patterns when the mask of 3rd embodiment of this invention is shifted. 本発明の第三の実施形態のマスクをずらしたときの2つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the print | recording permissible pixel of "superposition" of two mask patterns when the mask of 3rd embodiment of this invention is shifted. 本発明の第三の実施形態のマスクをずらしたときの3つのマスクパターンの「重ね合わせ」の記録許容画素の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the print | recording permissible pixel of "superposition" of three mask patterns when the mask of 3rd embodiment of this invention is shifted. 本発明の第三の実施形態のマスク(C1、M1)をずらさないで論理和した場合の論理和パターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして論理和した場合の論理和パターンのパワースペクトルを示す図である。The power spectrum of the logical sum pattern when the logical sum is performed without shifting the masks (C1, M1) of the third embodiment of the present invention and the logical sum pattern when the logical sum is performed while shifting the masks (C1, M1). FIG. 本発明の第三の実施形態のマスク(C1、M1)をずらさないで論理積した場合の論理積パターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして論理積した場合の論理積パターンのパワースペクトルを示す図である。The power spectrum of the logical product pattern when the logical product is obtained without shifting the masks (C1, M1) of the third embodiment of the present invention and the logical product pattern when the logical product is obtained by shifting the masks (C1, M1). FIG. 本発明の第三の実施形態のマスク(C1、M1)をずらさないで重ね合わせた場合の重ね合わせパターンおよび上記マスク(C1、M1)をずらして重ね合わせた場合の重ね合わせパターンのパワースペクトルを示す図である。The power spectrum of the superposition pattern when the masks (C1, M1) of the third embodiment of the present invention are superposed without shifting and the superposition pattern when the masks (C1, M1) are superposed while shifting is shown. FIG. 本発明の第三の実施形態のマスク(C1、M1、Y1)をずらさないで重ね合わせた場合の重ね合わせパターンおよび上記マスク(C1、M1、Y1)をずらして重ね合わせた場合の重ね合わせパターンのパワースペクトルを示す図である。 Overlay pattern when superimposed shifting the mask overlay pattern and the mask in the case of superposed without offset a (C1, M1, Y1) ( C1, M1, Y1) of the third embodiment of the present invention It is a figure which shows no power spectrum. 本発明の第三の実施形態のマスクをずらさないで論理和、論理積および「重ね合わせ」を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンと、上記マスクをずらし論理和、論理積および[重ね合わせ]を行った場合に得られる記録許容画素の配列パターンとの低周波数成分の違いを示す図である。Third logical sum is not shifted mask embodiment of the present invention, the arrangement pattern of print permitting pixels obtained when performing logical product and "superposing", a logical sum by shifting the mask, a logical product FIG. 5 is a diagram illustrating a difference in low frequency components from an array pattern of print permitting pixels obtained when [overlay] is performed . 本発明の第四の実施形態に係る2パスのマルチパス記録に用いるマスクを説明する図である。It is a figure explaining the mask used for the multipass printing of 2 passes based on the 4th embodiment of this invention. 本発明の第五の実施形態に係る2パスのマルチパス記録に用いるマスクを説明する図である。It is a figure explaining the mask used for 2-pass multipass printing concerning a 5th embodiment of the present invention. 従来技術の問題点を説明する図である。It is a figure explaining the problem of a prior art.

符号の説明Explanation of symbols

100 ホストコンピュータ(PC)
101、J0001 アプリケーション
102 OS
103 プリンタドライバ
104 プリンタ
107 HD
108 CPU
109 RAM
110 ROM
J0005 2値化処理
J0006 印刷データ作成
J0008 マスクデータ変換処理
100 Host computer (PC)
101, J0001 Application 102 OS
103 Printer driver 104 Printer 107 HD
108 CPU
109 RAM
110 ROM
J0005 Binarization processing J0006 Print data creation J0008 Mask data conversion processing

Claims (25)

第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1、第2および第3マスクパターンの論理積これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記3つのマスクパターンの論理積を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とする記録装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A recording device that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times and records an image in the predetermined area,
An image used in each of the plurality of scans using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. A first means for dividing the data;
The second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and the image data to be recorded in the predetermined area by the second nozzle group is used for each of the plurality of scans. A second means for dividing the data;
An image used in each of the plurality of scans using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the third nozzle group. A third means for dividing the data,
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
The first, low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by the logical product of the second and third mask patterns performed on the basis of the correspondence between the use of these three mask pattern, the three A recording apparatus characterized in that the number of low frequency components of an array pattern of print-allowable pixels obtained by performing a logical product of mask patterns based on a correspondence relationship different from the correspondence relationship at the time of use is less.
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1、第2および第3マスクパターンの論理和これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記3つのマスクパターンの論理和を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とする記録装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A recording device that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times and records an image in the predetermined area,
An image used in each of the plurality of scans using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. A first means for dividing the data;
The second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and the image data to be recorded in the predetermined area by the second nozzle group is used for each of the plurality of scans. A second means for dividing the data;
An image used in each of the plurality of scans using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the third nozzle group. A third means for dividing the data,
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
The first, low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by the logical sum of the second and third mask patterns performed on the basis of the correspondence between the use of these three mask pattern, the three A recording apparatus characterized in that the mask pattern has fewer logical components than the low-frequency component of an array pattern of print-allowable pixels obtained by performing a logical sum of mask patterns based on a correspondence relationship different from the correspondence relationship at the time of use .
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割する第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1、第2および第3マスクパターンをこれら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて論理積することによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1、第2および第3マスクパターンを前記使用時の対応関係とは異なる対応関係に基づいて論理積することによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少なく、
前記第1、第2および第3マスクパターンを前記使用時の対応関係に基づいて論理和することによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1、第2および第3マスクパターンを前記使用時の対応関係とは異なる対応関係に基づいて論理和することによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とする記録装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A recording device that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times and records an image in the predetermined area,
An image used in each of the plurality of scans using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. A first means for dividing the data;
The second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and the image data to be recorded in the predetermined area by the second nozzle group is used for each of the plurality of scans. A second means for dividing the data;
An image used in each of the plurality of scans using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the third nozzle group. A third means for dividing the data,
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
The first, low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by logical product based on the second and third mask patterns on a corresponding relationship when using the three mask pattern, the first, less than the low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by logical product based on a different relationship than the relationship of the time the use of the second and third mask pattern,
The first, low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by ORing the basis of the second and third mask patterns on a corresponding relationship during the use, the first, second and third The recording apparatus is characterized in that the number of the mask patterns is less than the low-frequency component of the array pattern of the print permitting pixels obtained by performing a logical OR based on the correspondence different from the correspondence at the time of use .
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1、第2および第3マスクパターンの論理積をこれら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンにおける低周波数成分が高周波数成分よりも少ないことを特徴とする記録装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A recording device that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times and records an image in the predetermined area,
An image used in each of the plurality of scans using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. A first means for dividing the data;
The second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and the image data to be recorded in the predetermined area by the second nozzle group is used for each of the plurality of scans. A second means for dividing the data;
An image used in each of the plurality of scans using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the third nozzle group. A third means for dividing the data,
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
The first, lower-frequency components are high frequency components in the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing, based on the correspondence between the use of these three mask patterns a logical product of the second and third mask patterns A recording device characterized by having a small amount.
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配列パターンは、非周期で且つ低周波数成分が高周波数成分よりも少ないことを特徴とする記録装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A recording device that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times and records an image in the predetermined area,
An image used in each of the plurality of scans using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. A first means for dividing the data;
The second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and the image data to be recorded in the predetermined area by the second nozzle group is used for each of the plurality of scans. A second means for dividing the data;
An image used in each of the plurality of scans using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the third nozzle group. A third means for dividing the data,
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
The arrangement pattern of print permitting pixels obtained by the logical product of the first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern, it and the low-frequency component by the aperiodic less than the high frequency component A recording apparatus.
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1、第2および第3マスクパターンの論理和これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係に基づいて行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンにおける低周波数成分が高周波数成分よりも少ないことを特徴とする記録装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A recording device that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times and records an image in the predetermined area,
An image used in each of the plurality of scans using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. A first means for dividing the data;
The second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and the image data to be recorded in the predetermined area by the second nozzle group is used for each of the plurality of scans. A second means for dividing the data;
An image used in each of the plurality of scans using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the third nozzle group. A third means for dividing the data,
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
The first, lower-frequency components are high frequency components in the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing, based on the correspondence between the use of these three mask patterns a logical sum of the second and third mask patterns A recording apparatus characterized by a small amount.
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有するインクジェット記録ヘッドを記録媒体の所定領域に対して複数回走査して、前記所定領域に画像を記録するための記録装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを前記複数回の走査それぞれで用いられる画像データに分割するための第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配列パターンは、非周期で且つ低周波数成分が高周波数成分よりも少ないことを特徴とする記録装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A recording device that scans a predetermined area of a recording medium a plurality of times and records an image in the predetermined area,
An image used in each of the plurality of scans using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. A first means for dividing the data;
The second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and the image data to be recorded in the predetermined area by the second nozzle group is used for each of the plurality of scans. A second means for dividing the data;
An image used in each of the plurality of scans using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, and image data to be recorded in the predetermined area by the third nozzle group. A third means for dividing the data,
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
The arrangement pattern of print permitting pixels obtained by the logical sum of the first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern, it and the low-frequency component by the aperiodic less than the high frequency component A recording apparatus.
前記第1、第2および第3マスクパターンは、それぞれ、非周期で且つ低周波数成分が高周波数成分よりも少ない特性を有することを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の記録装置。 Said first, second and third mask pattern, respectively, recorded according to any one of claims 1 to 7, characterized in that and the low frequency component by the aperiodic has fewer properties than the high-frequency component apparatus. 前記第1の種類のドットはシアンのドットであり、
前記第2の種類のドットはマゼンタのドットであり、
前記第3の種類のドットはイエローのドットであることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の記録装置。
The first type of dot is a cyan dot;
The second type of dot is a magenta dot,
The recording apparatus according to claim 1, wherein the third type of dot is a yellow dot.
前記第1、第2および第3の種類のドットは、シアン、マゼンタ、イエロー、ブラック、淡シアン、淡マゼンタのドットから選ばれる3種類のドットであることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の記録装置。 9. The first, second, and third types of dots are three types of dots selected from a cyan, magenta, yellow, black, light cyan, and light magenta dot group. A recording apparatus according to any one of the above. 前記所定の走査は、前記所定領域に対する1回目の走査であることを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載の記録装置 The recording apparatus according to claim 1, wherein the predetermined scan is a first scan with respect to the predetermined area . 前記低周波数成分は、前記配列パターンに基づいて決定される最高の空間周波数の半分より低周波側にある周波数成分であることを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載の記録装置。The recording apparatus according to claim 1, wherein the low frequency component is a frequency component on a lower frequency side than a half of a highest spatial frequency determined based on the arrangement pattern. 前記低周波数成分は、10cycle/mmよりも低周波側にある周波数成分であることを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載の記録装置 12. The recording apparatus according to claim 1, wherein the low frequency component is a frequency component on a low frequency side with respect to 10 cycles / mm . 第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とするデータ処理装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A data processing device for generating image data used in each of a plurality of scans of a predetermined area of a recording medium of a recording head having at least
Using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the plurality of scans is performed by dividing image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. First means for generating divided image data to be recorded in each;
Using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the second nozzle group, thereby performing the plurality of scans. A second means for generating divided image data to be recorded respectively;
Using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the third nozzle group, thereby performing the plurality of scans. And a third means for generating divided image data to be recorded respectively.
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
Low-frequency arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a logical product of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern corresponding relationship when using these three mask patterns components, arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a different relationship from that of the in use relationship a logical product of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern A data processing apparatus characterized by being less than the low frequency component.
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とするデータ処理装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A data processing device for generating image data used in each of a plurality of scans of a predetermined area of a recording medium of a recording head having at least
Using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the plurality of scans is performed by dividing image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. First means for generating divided image data to be recorded in each;
Using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the second nozzle group, thereby performing the plurality of scans. A second means for generating divided image data to be recorded respectively;
Using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the third nozzle group, thereby performing the plurality of scans. And a third means for generating divided image data to be recorded respectively.
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
Low-frequency arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a logical sum of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern corresponding relationship when using these three mask patterns components, arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a different relationship from that of the in use relationship a logical sum of said third mask pattern and the first mask pattern and the second mask pattern A data processing apparatus characterized by being less than the low-frequency component.
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積これら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少なく、
前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和を前記使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分は、前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和を前記使用時の対応関係とは異なる対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンの低周波数成分よりも少ないことを特徴とするデータ処理装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A data processing device for generating image data used in each of a plurality of scans of a predetermined area of a recording medium of a recording head having at least
Using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the plurality of scans is performed by dividing image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. First means for generating divided image data to be recorded in each;
Using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the second nozzle group, thereby performing the plurality of scans. A second means for generating divided image data to be recorded respectively;
Using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the third nozzle group, thereby performing the plurality of scans. And a third means for generating divided image data to be recorded respectively.
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
Low-frequency arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a logical product of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern corresponding relationship when using these three mask patterns components, arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a different relationship from that of the in use relationship a logical product of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern Less than the low frequency component of
Low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a logical OR of said third mask pattern and the first mask pattern and the second mask pattern at the corresponding relation during said use, said first than the low frequency components of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a logical OR of 1 wherein the mask pattern and the second mask pattern of the third mask pattern in a different relationship than the relationship of time of the use A data processing apparatus characterized by having a small number.
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理積をこれら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンは、低周波数成分が高周波数成分よりも少ない特性を有することを特徴とするデータ処理装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A data processing device for generating image data used in each of a plurality of scans of a predetermined area of a recording medium of a recording head having at least
Using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the plurality of scans is performed by dividing image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. First means for generating divided image data to be recorded in each;
Using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the second nozzle group, thereby performing the plurality of scans. A second means for generating divided image data to be recorded respectively;
Using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the third nozzle group, thereby performing the plurality of scans. And a third means for generating divided image data to be recorded respectively.
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
The arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a logical product of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern corresponding relationship when using the three mask pattern, low A data processing apparatus characterized in that a frequency component has a characteristic smaller than that of a high frequency component.
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群と第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群と第3の種類のドットを形成するための第のノズル群とを少なくとも有する記録ヘッドの、記録媒体の所定領域に対する複数回の走査それぞれで用いられる画像データを生成するデータ処理装置であって、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第1パターン群を用いて、前記第1のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第1手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第2パターン群を用いて、前記第2のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第2手段と、
前記複数回の走査に対応した複数のマスクパターンを有する第3パターン群を用いて、前記第3のノズル群によって前記所定領域に記録されるべき画像データを分割することによって、前記複数回の走査それぞれで記録されるべき分割画像データを生成するための第3手段とを有し、
前記複数回の走査のうち所定の走査に対応した前記第1パターン群に含まれる第1マスクパターン、前記所定の走査に対応した前記第2パターン群に含まれる第2マスクパターンおよび前記所定の走査に対応した前記第3パターン群に含まれる第3マスクパターンは、それぞれ、記録許容画素の配列が異なり、
前記第1マスクパターンと前記第2マスクパターンと前記第3マスクパターンの論理和をこれら3つのマスクパターンの使用時の対応関係で行うことによって得られる記録許容画素の配列パターンは、低周波数成分が高周波数成分よりも少ない特性を有することを特徴とするデータ処理装置。
Third nozzle group for forming a first nozzle group and a second nozzle group for forming a second type of dots third type of dots for forming a first type of dots A data processing device for generating image data used in each of a plurality of scans of a predetermined area of a recording medium of a recording head having at least
Using the first pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the plurality of scans is performed by dividing image data to be recorded in the predetermined area by the first nozzle group. First means for generating divided image data to be recorded in each;
Using the second pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the second nozzle group, thereby performing the plurality of scans. A second means for generating divided image data to be recorded respectively;
Using the third pattern group having a plurality of mask patterns corresponding to the plurality of scans, the image data to be recorded in the predetermined area is divided by the third nozzle group, thereby performing the plurality of scans. And a third means for generating divided image data to be recorded respectively.
Said plurality of first mask patterns included in the first pattern group corresponding to a predetermined scan of the scan, the second mask pattern and the included in the second pattern group corresponding to the predetermined scan third mask patterns included in the third pattern group corresponding to a predetermined scan, respectively, different arrangement of print permitting pixels,
The arrangement pattern of print permitting pixels obtained by performing a logical sum of said first mask pattern and the second mask pattern 3 of the mask pattern corresponding relationship when using the three mask pattern, low A data processing apparatus characterized in that a frequency component has less characteristics than a high frequency component.
前記所定の走査は、前記所定領域に対する1回目の走査であることを特徴とする請求項14乃至18のいずれかに記載のデータ処理装置 The data processing apparatus according to claim 14, wherein the predetermined scan is a first scan with respect to the predetermined area . 前記低周波数成分は、前記配列パターンに基づいて決定される最高の空間周波数の半分より低周波側にある周波数成分であることを特徴とする請求項14乃至19のいずれかに記載のデータ処理装置。20. The data processing apparatus according to claim 14, wherein the low frequency component is a frequency component that is on a lower frequency side than half of the highest spatial frequency determined based on the arrangement pattern. . 前記低周波数成分は、10cycle/mmよりも低周波側にある周波数成分であることを特徴とする請求項14乃至19のいずれかに記載のデータ処理装置 The data processing apparatus according to any one of claims 14 to 19, wherein the low frequency component is a frequency component on a lower frequency side than 10 cycles / mm . マスクパターンの製造方法であって、A mask pattern manufacturing method comprising:
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第1のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第1決定工程と、  Of the plurality of scans of the first nozzle group with respect to the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the first nozzle group for forming the first type of dots. A first determination step of determining an arrangement of print permitting pixels in a first mask pattern for generating image data to be recorded in one scan of
第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第2のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第2決定工程と、Of the plurality of scans of the second nozzle group for the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the second nozzle group for forming the second type of dots. A second determination step of determining an arrangement of print permitting pixels in the second mask pattern for generating image data to be recorded in one scan of
第3の種類のドットを形成するための第3のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第3のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第3決定工程と、  Of the plurality of scans of the third nozzle group for the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the third nozzle group for forming the third type of dots. A third determination step of determining the arrangement of the print allowable pixels in the third mask pattern for generating the image data to be recorded in one scan of
前記第1決定工程は、前記第2および第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含み、  In the first determination step, the first, second, and second are determined by changing the arrangement of the print permitting pixels in the first mask pattern based on the arrangement of the print permitting pixels in the second and third mask patterns. Including a step of reducing a low-frequency component of an arrangement pattern of print permitting pixels obtained by a logical product of the third mask pattern,
前記第2決定工程は、前記第1および第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含み、In the second determining step, the first, second and second arrangements are changed by changing the arrangement of the print permission pixels in the second mask pattern based on the arrangement of the print permission pixels in the first and third mask patterns. Including a step of reducing a low-frequency component of an arrangement pattern of print permitting pixels obtained by a logical product of the third mask pattern,
前記第3決定工程は、前記第1および第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含むことを特徴とするマスクパターンの製造方法。  In the third determination step, the first, second and second arrangements are changed by changing the arrangement of the print permitting pixels in the third mask pattern based on the arrangement of the print allowance pixels in the first and second mask patterns. A method of manufacturing a mask pattern, comprising a step of reducing a low frequency component of an arrangement pattern of print permission pixels obtained by a logical product of the third mask pattern.
マスクパターンの製造方法であって、A mask pattern manufacturing method comprising:
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第1のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第1決定工程と、  Among a plurality of scans of the first nozzle group with respect to the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the first nozzle group for forming the first type of dots. A first determination step of determining an arrangement of print permitting pixels in a first mask pattern for generating image data to be recorded in one scan of
第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第2のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第2決定工程と、  Of the plurality of scans of the second nozzle group for the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the second nozzle group for forming the second type of dots. A second determination step of determining an arrangement of print permitting pixels in the second mask pattern for generating image data to be recorded in one scan of
第3の種類のドットを形成するための第3のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第3のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する第3決定工程と、  Of the plurality of scans of the third nozzle group for the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the third nozzle group for forming the third type of dots. A third determination step of determining the arrangement of the print allowable pixels in the third mask pattern for generating the image data to be recorded in one scan of
前記第1決定工程は、前記第2および第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含み、  In the first determination step, the first, second, and second are determined by changing the arrangement of the print permitting pixels in the first mask pattern based on the arrangement of the print permitting pixels in the second and third mask patterns. Including a step of reducing a low-frequency component of an arrangement pattern of print permitting pixels obtained by a logical sum of a third mask pattern,
前記第2決定工程は、前記第1および第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含み、  In the second determining step, the first, second and second arrangements are changed by changing the arrangement of the print permission pixels in the second mask pattern based on the arrangement of the print permission pixels in the first and third mask patterns. Including a step of reducing a low-frequency component of an arrangement pattern of print permitting pixels obtained by a logical sum of a third mask pattern,
前記第3決定工程は、前記第1および第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて前記第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1、第2および第3のマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくする工程を含むことを特徴とするマスクパターンの製造方法。  In the third determination step, the first, second and second arrangements are changed by changing the arrangement of the print permitting pixels in the third mask pattern based on the arrangement of the print allowance pixels in the first and second mask patterns. A method of manufacturing a mask pattern, comprising a step of reducing a low frequency component of an arrangement pattern of print permitting pixels obtained by a logical sum of third mask patterns.
マスクパターンの製造方法であって、  A mask pattern manufacturing method comprising:
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第1のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する決定工程を有し、  Among a plurality of scans of the first nozzle group with respect to the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the first nozzle group for forming the first type of dots. A determination step of determining an arrangement of print permitting pixels in the first mask pattern for generating image data to be recorded in one scan of
前記決定工程では、第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第2のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置、および、第3の種類のドットを形成するための第3のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第3のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて、前記第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1のマスクパターンと前記第2のマスクパターンと前記第3のマスクパターンの論理積によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくすることを特徴とするマスクパターンの製造方法。  In the determining step, a plurality of the second nozzle groups for the predetermined area are thinned out by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the second nozzle group for forming the second type of dots. Of the print-allowable pixels in the second mask pattern for generating image data to be recorded in one of the scans, and the third for forming the third type of dots. Image data to be recorded in one scan out of a plurality of scans of the third nozzle group for the predetermined area is generated by thinning out the image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the nozzle group. Changing the arrangement of the print permitting pixels in the first mask pattern based on the arrangement of the print permitting pixels in the third mask pattern for Method for producing a mask pattern, characterized in that to reduce the low-frequency component of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by the logical product of 1, wherein the mask pattern and the second mask pattern of the third mask pattern.
マスクパターンの製造方法であって、  A mask pattern manufacturing method comprising:
第1の種類のドットを形成するための第1のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第1のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を決定する決定工程を有し、  Of the plurality of scans of the first nozzle group with respect to the predetermined area by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the first nozzle group for forming the first type of dots. A determination step of determining an arrangement of print permitting pixels in the first mask pattern for generating image data to be recorded in one scan of
前記決定工程では、第2の種類のドットを形成するための第2のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第2のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第2のマスクパターンにおける記録許容画素の配置、および、第3の種類のドットを形成するための第3のノズル群によって記録媒体の所定領域に記録されるべき画像データを間引くことにより前記所定領域に対する前記第3のノズル群の複数回の走査のうちの1回の走査で記録されるべき画像データを生成するための第3のマスクパターンにおける記録許容画素の配置に基づいて、前記第1のマスクパターンにおける記録許容画素の配置を変化させることで、前記第1のマスクパターンと前記第2のマスクパターンと前記第3のマスクパターンの論理和によって得られる記録許容画素の配置パターンの低周波成分を少なくすることを特徴とするマスクパターンの製造方法。  In the determining step, a plurality of the second nozzle groups for the predetermined area are thinned out by thinning out image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the second nozzle group for forming the second type of dots. Of the print-allowable pixels in the second mask pattern for generating image data to be recorded in one of the scans, and the third for forming the third type of dots. Image data to be recorded in one scan out of a plurality of scans of the third nozzle group for the predetermined area is generated by thinning out the image data to be recorded in the predetermined area of the recording medium by the nozzle group. Changing the arrangement of the print permitting pixels in the first mask pattern based on the arrangement of the print permitting pixels in the third mask pattern for Method for producing a mask pattern, characterized in that to reduce the low-frequency component of the arrangement pattern of print permitting pixels obtained by the logical sum of 1 wherein the mask pattern and the second mask pattern of the third mask pattern.
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