JP4354367B2 - 粒径分布測定装置等におけるゲイン設定方法 - Google Patents
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Description
スイッチW1をオン、スイッチW2をオフの場合
Gain1=Vout1/Iin=R1
スイッチW2をオン、スイッチW1をオフの場合
Gain1=Vout1/Iin=R2
オペアンプA2のゲイン(Gain2)はそれぞれ以下の様になる。
スイッチW3をオン、スイッチW4をオフの場合
Gain2=Vout2/Vout1=(1+R3/R5)
スイッチW4をオン、スイッチW3をオフの場合
Gain2=Vout2/Vout1=(1+R4/R5)
なお、上記の式において、例えば図中Vout1に掛かる電圧をVout1、図中Iinを流れる電流をIin、抵抗R1の抵抗値をR1等として表している。
2…測定装置本体
21…光源
22…光検出器
3…演算装置
31…ゲイン可変アンプ
32…AD変換器
34…ゲイン設定部
35…異常判断部
Claims (4)
- 分散媒中に分散させた粒子群に光を照射する光源と、その光の照射によって発生する回折又は/及び散乱光(以下、回折散乱光という。)の強度を検出する複数の光検出器と、前記各光検出器から出力された光強度信号を受信し、それら光強度信号の値から得られる前記回折散乱光強度の角度分布に基づいて前記粒子群の粒径分布を演算する演算装置とを備えたものである粒径分布測定装置に適用される方法であって、
前記演算装置が、前記光強度信号を受信して増幅するゲイン可変アンプと、そのゲイン可変アンプの出力信号を受信してデジタル変換するAD変換器とを有し、
前記ゲイン可変アンプのゲインを最低レベルに設定した状態での当該ゲイン可変アンプからの出力値を複数回サンプリングして取得し、それら取得したサンプリング値に基づいて、前記ゲイン可変アンプからの出力値がAD変換器の入力定格値を超えない範囲でのできるだけ大きな値となるように、当該ゲイン可変アンプのゲインを設定するオートゲインステップと、前記取得した各サンプリング値が所定以上変動している場合には異常であると判断し、その光検出器に係るチャンネルが異常である旨を示す異常信号を出力する異常判断ステップとを前記演算装置に行わせることを特徴とする粒径分布測定装置におけるゲイン設定方法。 - 粒子群がない状態で光を照射し、前記各光検出器から出力された光強度信号を測定するブランク測定において、前記演算装置に前記オートゲインステップと異常判断ステップとを行わせる請求項1記載のゲイン設定方法。
- 波長帯域の異なる2種類の光源を用い、測定全範囲において一つの波長のレーザ光では感度が低い粒子径域を別の波長のレーザ光を用いて測定する請求項1又は2記載の粒径分布測定方法。
- 分散媒中に分散させた粒子群に光を照射する光源と、その光の照射によって発生する回折散乱光の強度を検出する複数の光検出器と、前記各光検出器から出力された光強度信号を受信し、それら光強度信号の値から得られる前記回折散乱光強度の角度分布に基づいて前記粒子群の粒径分布を演算する演算装置とを備えたものであって、
前記演算装置が、前記光強度信号を受信して増幅するゲイン可変アンプと、そのゲイン可変アンプの出力信号を受信してデジタル変換するAD変換器と、前記ゲイン可変アンプのゲインを最低レベルに設定した状態での当該ゲイン可変アンプからの出力値を複数回サンプリングして取得し、それら取得したサンプリング値に基づいて、前記ゲイン可変アンプからの出力値がAD変換器の入力定格値を超えない範囲でのできるだけ大きな値となるように、当該ゲイン可変アンプのゲインを設定するゲイン設定部と、前記取得した各サンプリング値が、所定以上変動している場合には、異常であると判断し、その光検出器に係るチャンネルが異常である旨を示す異常信号を出力する異常判断部とを備えていることを特徴とする粒径分布測定装置。
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