JP4320881B2 - Grain moisture measuring device - Google Patents
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】
この発明は、穀粒乾燥機等に利用する穀粒水分測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】
従来穀粒乾燥機等の昇降機に装着して揚穀穀粒を一粒ごとに取り込む形態の水分計とし、例えば100粒の水分を測定し、未熟粒や粃の割合を算出する形態が公知である(例えば特公平3−5509号公報)。
【0003】
ところで、上記公報に記載される形態では、予め設定した全サンプルデータ数に対する所定偏差幅を超える高含水率データ数の比率とする程度であるから、自ずと該全サンプルデータ数に100粒等の制約が生じる。従って、所定時間間隔で行われる測定毎にばらつきが生じることとなる。
【0004】
【課題を解決するための手段】
この発明は、穀粒送り螺旋(33)などの穀粒繰出機構から供給される穀粒を単粒ごとに圧砕してその電気信号を出力する一対の電極ロール(46a,46b)を備える検出機構部(40b)、該電気信号を処理して水分値に換算する制御回路部(39)からなる穀粒水分測定装置において、当該制御回路部(39)には、あらかじめ設定した粒数区分毎に各測定水分値に基づく度数分布を求めると共にこの度数分布を正規化する正規化処理手段、及びこの正規化された度数分布を穀粒乾燥の進行に従って順次求め、これら正規化された度数分布を累積する累積処理手段を備えて構成してなる。
【0005】
請求項2に記載の発明は、上記累積処理手段による結果得られる度数分布を整粒、青未熟粒、又は粃の割合算出の根拠データとする物である。また、累積処理手段による累積回数は乾燥の進行と共に順次上積みするよう構成するか、又は張り込まれる穀粒量によって決定される構成である。
【0006】
【発明の作用効果】
例えば乾燥途中において、順次所定粒数毎に水分を算出し、この原データを正規化処理する。所定時間間隔で順次実行する水分測定毎に正規化処理を施しながら、累積処理を行い、当該時点での水分分布を表すことができる。
【0007】
原データを正規化処理しながら、順に累積処理を施す作用を行うことによって整粒と青未熟粒又は粃との境界区分の仕分けが精度よく実行でき、各割合算出精度も高くなる。
【0008】
【発明の実施の形態】
この発明の一実施例を図面に基づき説明する。1は穀物乾燥装置の機枠で、内部には貯留室2、乾燥室3、集穀室4の順に積み重ねられ、外部に設ける昇降機5の駆動によって穀物を循環させながら、乾燥室3部でバーナ6燃焼と吸引ファン7とにより発生する熱風を浴びせて乾燥する公知の形態である。
【0009】
8は繰り出しドラムで正逆に回転しながら所定量の穀物を流下させる。9は上記昇降機5に通じる下部移送装置、10は昇降機5上部側に接続する上部移送装置で、貯留室2上部の拡散盤11に穀物供給できる。バーナ6や穀物循環機構等は、乾燥制御に必要な制御プログラムや各種データ等を記憶するメモリを備えるコンピュータによって行なわれる。即ち、操作盤12には液晶形態の表示部13を設け、該表示部13の下縁に沿って4個の押しボタン形態のスイッチ14〜17、及びやや離れて非常停止スイッチ18を配設している。該スイッチ14〜17はその機能が表示部13に表示されるもので、図例では、順に張込・乾燥・排出・通風の各運転用スイッチに構成されるが、表示部13の画面変更に従って異なる機能を具備せしめ得る構成である。
【0010】
内蔵の制御部は操作盤12面のスイッチ情報や乾燥機機枠1各部に配設したセンサ類からの検出情報等を受けて必要な比較演算のもと、バーナ燃焼量の制御,穀物循環系の起動・停止制御,表示部13の表示内容制御等を行う。上記操作盤12のスイッチ類は、張込・乾燥・排出・通風の各設定のほか、穀物種類、設定水分(仕上げ水分)、張込量、タイマ増・減等を設定できる。
【0011】
図5は制御ブロック図を示し、上記操作盤12を有するコントロールボックスに内蔵するコンピュータの演算制御部19には上記スイッチ類からの設定情報のほか、水分計20検出情報、昇降機5の投げ出し部に設ける穀物流れ検出器21の穀物検出情報、熱風温度検出情報等が入力される。一方出力情報としては、バーナ6の燃焼系信号、例えば燃料供給信号,その流量制御信号、あるいは上下移送螺旋,昇降機5,繰出バルブ8等の穀物循環系モータ制御信号、吸引ファン7モータ制御信号,各表示部への表示出力等がある。
【0012】
昇降機5はバケット式で、無端ベルト30に多数のバケット31,31…を取り付け、外周を側壁5aにより覆った構造で、バケット31により集穀室4より出る穀粒を掬い上げて上昇し貯留室2へと運ぶ。昇降機5の側壁5aの正面内側に、一粒式水分計20の穀粒取り込み部32の前縁をバケット用無端ベルト30のバケット31の近くまで差し込んで設置し、側壁5aの内側で、穀粒取り込み部32の底部排出口下方に、穀粒送り螺旋33の始端部をのぞませる。
【0013】
この穀粒取り込み部32の前縁と穀粒送り螺旋33の始端部は、バケット用無端ベルト30の上昇側と下降側のベルト内側に位置するので、ベルト30やバケット31の移動に支障はない。一粒水分計の筐体は、フレーム34と、そのフレーム34を覆うカバー35とからなる。このうち、フレーム34は、昇降機5の側面に沿い、昇降機5との間を仕切る底板36と、底板36上に一体的に起立させた仕切板37とからなり、フレーム34に組付けたモータ38,制御部39と機構部40とを当該仕切板37により仕切る。
【0014】
仕切板37にモータ38の駆動軸41を貫通して水平に固定し、この駆動軸41の先端に、はすば歯車42を固定する。上記はすば歯車42とは回転軸心を一致させて順次下位に第2はすば歯車43,第3はすば歯車44を噛合させるものである。そして、第2はすば歯車43の軸45には第1電極ロール46aを、第3はすば歯車44の軸47には第2電極ロール46bを夫々固定するものである。
【0015】
上記仕切板37と平行に、いずれも透明の樹脂材からなる中間仕切48と電極ロール取付板49とを、仕切板37から突出すべく一体に成形する取付脚部50,50…に着脱自在にボルト(図示せず)止めにより共締めしている。なお、仕切板37と中間仕切48との間隔は上記取付脚部50の存在によって確保し、中間仕切48と電極ロール取付板49との間隔はこの取付板49と一体成形する幅狭の起立部51によって確保する。従って、前記軸45及び軸47は一端を仕切板37に軸受し、他端を電極ロール取付板49に軸受支持させる構成である。
【0016】
さらに、底板36の所定位置に、穀粒送り螺旋33の回転軸52を挿通し、この回転軸52にはすば歯車53を固定し、駆動軸41のはすば歯車42と直角に噛合する。図8は一粒式水分計を昇降機5内側から見た背面図で、穀粒取り込み部32は、底板36より昇降機5内部に突出し、その上部開口55の開口縁を斜め下方に傾斜させ、開口面積を大きく形成すると共に、この開口55に複数の弾線を並べてその根元を固定することにより、櫛状の異物除去体56を形成している。
【0017】
穀粒取り込み部32の下部は、断面V字状に間隔を狭め、その一側を穀粒送り螺旋33の真上まで延伸し、他側の下端に底部排出口57を形成し、これに穀粒送り螺旋33の先端部を接続する。そして穀粒送り螺旋33と平行で上縁を穀粒取り込み部32の外側に回転自在に軸支した穀粒送り板58を垂設し、バネ59により穀粒送り螺旋33の外周に接するように付勢する。
【0018】
前記穀粒送り螺旋33の終端部の下方に穀粒落下路60を設ける。この穀粒落下路60の上部入口と穀粒送り板58との間に形成される間隙に穀粒飛込防止板(図示せず)を設置してこの間隙を閉鎖している。穀粒落下路60は、第1,第2電極ロール46a,46bが斜めに位置してこれらの接近する部分に向けて誘導壁を形成し、穀粒を電極ロール46a,46bの間隙に誘導する。なお穀粒落下路60は、電極ロール46a,46bの左右に接近する中間仕切48と電極ロール取付板49とによって形成されるものであるが、その間隔は、両電極ロール46a,46bによる圧砕部付近では圧砕穀粒の侵入を防止しうるよう狭く形成している。すなわち、当該圧砕部付近の間隔が狭くなるよう中間仕切48と電極ロール取付板49の内壁面をやや膨出状に形成するものである。
【0019】
なお、穀粒送り螺旋33は、円柱体の外周に2本の線状突起62の間に穀粒の1粒に見合う浅い凹部63を形成し、穀粒送り螺旋33の先端の一定範囲を除き、上記2本の線状突起53の外側を断面台形に切削して螺旋状の深い溝64を形成する。
【0020】
65は、傾斜状に配設する電極ロール46a,46bの下方に沿って設ける圧砕済穀粒の排出案内部で、この圧砕済穀粒を昇降機内空間へ還元案内する構成である。この排出案内部65は、前記電極ロール取付板48と一体成形される起立部51と同様に成形される構成である。
【0021】
ところで前記電極ロール46a,46bは、穀粒圧砕のために表面に規則正しい斜め方向のローレット処理を施すものであるが、軸方向矢視において、その端面カット処理は施さず、当該端面側に位置する左右のロール46a,46bが頂端線同士で接触し合うよう、つまり頂点p,p…が最外側ラインLに沿って形成されるよう加工及び軸への組付けを行っている。こうすることにより、左右ロール間隙が適正であるかの確認作業等に非常に便利である。
【0022】
前記制御部39には、回路基板66上に各種制御回路を構成するものであるが、この基板66には数ボルトまでの弱電回路を一まとめにして構成する。一方、モータトランス67に代表される強電部はこの基板66から離れた位置に、例えばモータ38と制御部39との間の底板36に支持させる構成としている。
【0023】
68は、前記操作盤12を備えるコントローラと水分計の制御回路39やモータトランス67を接続するためのハーネスであって、底板36に開口69を形成すると共に、昇降機5にはこの開口69に一致して断面矩形のトンネル状貫通筒70を当該昇降機5の前後に亘って設けてある。
【0024】
前記カバー35は、逆皿型の形状となし、前記仕切板37,中間仕切48,電極ロール取付板49の上端面に接するように取付られるもので、このカバー35の取付状態で、左右に、モータ38,制御基板66及びモータトランス67を配置する制御部39、歯車を上下に配置する伝動機構部40a、並びに一対の電極ロール46a,46bを備える検出機構部40bに区分けされる。
【0025】
前記制御部39の機能について説明する。この制御部39から所定時間間隔で水分測定信号が出力される。例えば15分間隔である。水分測定信号が出力されると、モータ38が起動し各部を回転連動し、穀粒の取り込みが始まり、各粒毎の電気信号が入力される。制御部39ではこれら電気信号を夫々に処理して水分値信号として記憶する。所定粒数、例えば100粒の電気信号が入力されると、先ずノイズや異常粒信号を取り除くための上下限カット処理が行われる。この上下限カット処理は、100粒の平均水分値Xや標準偏差σから例えば、上限カット閾水分値(=MH)、下限カット閾水分値(=ML)を決定することにより実行できる。なお、MH=平均水分値X+3×標準偏差σ、ML=平均水分値X−1.1×標準偏差σとすると、取り込み粒Mは、ML<M<MHとなる。上記のように算出された後、正規化手段による正規化処理が行われる。この正規化処理は、一粒水分値x、平均水分値x、標準偏差σとするとき、一粒水分値と平均水分値との差(x−X)を標準偏差σで徐した値(=uとする)の分布状況をもって表される。即ち、平均値「0」、標準偏差「1」の正規化状態を得るものである(例えば図11(a)(b)(c)など)。
【0026】
同じ要領で次回測定信号が出力されたときの100粒についても、上下限カット処理及び正規化処理が施される。ある籾乾燥をサンプルとして横軸に検出水分値を表し、縦軸に度数を表すと、乾燥初期、乾燥途中、仕上がり、の水分測定分布は図12のようになり、穀粒乾燥が進むにしたがって低水分側に移動している。これを上記上下限カット処理及び正規化処理を施しつつ、初回からn回目までを累積して「n」で徐した結果が図13のAに示される(累積処理)。産地や品種の異なる籾の場合が同図B,Cのように表される。
【0027】
こうして求められた度数分布に基づき、青未熟粒割合や粃割合を算出することができる。その一例を示せば、正規化され、累積処理された度数分布において、予め実験的に決定された度数aを基準ラインとして、高水分域及び低水分域夫々において当該基準ラインよりも低い度数部分の合算α又はβの全度数Nに対する比率をもって青未熟粒割合RA又は粃割合RSとする。
【0028】
即ち、RA=(α/N)×100(%)、RS=(β/N)×100(%)である。上記正規化,累積の一連の処理のうち、累積処理にあたっては、その累積回数を初回から乾燥の進行に従い順次上積みする構成とするが、次のように累積回数を設定してもよい。即ち、別途構成する張込量センサからの検出結果に基づき、予め設定してある穀粒量−累積回数関係グラフ(図14)により累積回数を求める形態である。このように構成すると、穀粒の多小に応じた累積回数が設定でき、穀粒量が多いにも拘らず累積回数が少ないと乾燥機内全体を測定できない恐れをなくし、判定に要する時間の最適化ひいては判定精度の向上がはかれる。なお、張込量データとしては目視確認による手動設定のデータでもよい。またこれらのほか、予め設定した回数をもって累積回数とすることもできる。
【0029】
上記いずれの累積処理を行っても、その結果得られる青未熟粒割合、及び粃割合の算出精度はきわめて高い。その裏付けは、図15に示されている。即ち、外観品位測定装置(図示せず)で測定した青未熟粒の結果と、本件実施例による正規化,累積処理の手順を経た結果とを比較することによってその精度が測れる。図は横軸に測定回数をとり、縦軸に本件実施例による算出比率値と外観品位測定装置による算出値との「差」を真の青未熟粒割合(≒外観品位測定装置の検出値)で徐した値(×100%)としている。図中実線は実施例による正規化,累積処理の手順を経た値に関するもので、ほとんど外観品位測定装置の結果と一致していることが判明した。
【0030】
なお、図中破線は正規化処理のみの結果との比較であるが、大きく上下に変動していて精度の粗さは否めない。このように、原データを正規化処理しながら、順に累積処理を施すことによって整粒と青未熟粒又は粃との境界区分の仕分けが精度よく実行でき、各割合算出精度も高くなる効果がある。
【0031】
上例の作用について説明する。基本画面を呼び出しスイッチ14をONすると、ホッパに投入された乾燥すべき穀物は昇降機5を経て貯留部2に張り込まれる。張込完了すると、停止スイッチ16をONして各部を一旦停止する。次には乾燥作業に移行するためスイッチ15をONし、画面を穀物種類・乾燥モード設定画面に切り替え、前段で穀物種類設定スイッチ14を押して当該張込穀物の種類を設定し、かつ乾燥モードを選択設定する。尚別途に設ける設定画面により同じ要領で水分設定機能スイッチをもって希望の乾燥仕上げ水分値を設定する。
【0032】
こうすることにより、昇降機5上下移送螺旋、繰出バルブ等は運転を開始し、かつバーナ6も駆動状態におかれて熱風乾燥を開始するものである。ここで、熱風温度は選択された穀物種類毎に予め乾燥速度が決められており、当該乾燥速度にそって熱風温度が決定されることとなり、乾燥室3の穀物流路を流下するうち熱風が作用して乾燥し、集穀室4から昇降機5を経て貯留室2に戻され調質作用を受ける。このような循環を所定水分に達するまで繰返し行う。
【0033】
上記の乾燥運転中、所定時間間隔で水分測定が行われる。即ち所定時間間隔で一粒水分計のモータ38に駆動指令信号が出力される。昇降機5内バケット31で掻き上げられる穀粒の一部は溢出流下し、その一部が穀粒取り込み部32を経て穀粒送り螺旋33と穀粒送り板58との間で受けられ、一粒毎に穀粒送り螺旋33終端側、つまり水分計本体内へ導入される。この穀粒送り螺旋3の終端部から穀粒落下路60を流下しながら通過して電極ロール46a,46bの間に案内される。電極ロール46a,46bは互いに逆回転していて、穀粒を取り込みつつ圧砕しながらその電気抵抗値が検出されるものとなる。制御回路部39では、所定粒数、例えば100粒の電気抵抗値に見合う電気信号が入力される。制御回路部39では、前記した正規化処理及び累積処理が施され、穀粒の平均水分値とし表示部13画面に表示出力すると共に、同時に青未熟粒割合や粃割合を求める。
【0034】
前記の正規化処理及び累積処理に基づく度数分布表に基づき乾燥制御を行う。例えば、図13のA,B又はCのように表された度数分布のうち+(プラス)側度数と−(マイナス)側度数の比率を算出し、その算出結果に基づき、乾燥初期等の通風乾燥の要否判定を行わせる構成である。{(+(プラス)側度数)/(−(マイナス)側度数)}×100(%)がNを越えるか下回るかで上記通風乾燥の要否を判定する。Nを越えるときは、ばらつき解消乾燥運転は必要でなく、例えば「通風乾燥不要」とし、逆にN%を下回るときは「通風乾燥要」と判定する。Nは例えば「1」に設定される。
【0035】
又、図17に示すものは、正規化処理及び累積処理に基づく度数分布に予め設定した基準度数分布を重ね、両者の誤差の大小に基づき、所謂通風乾燥を施すか否かを決定するものである。つまり正規性を推測することができるから、精度の高い乾燥制御運転を実行できる。ここで基準度数分布の設定にあたっては、累積された度数分布のピーク値が平均値「0」に一致すべく平行移動して得るなど種々の方法がある。
【0036】
上記のように、正規化,累積処理によって精度の高い青未熟粒割合や粃割合を算出することができるが、図11(a)(b)(c)の正規化の状態から青未熟粒比率の概要を知ることができる。即ち、図11(a)(b)(c)において、青未熟粒比率は(a)<(b)<(c)の関係にあることは容易に知ることとなるが、この傾向は、正規化された度数分布の級数「0」の度数を比較することと等しい。つまり、当該級数「0」ブロックの度数を算出するのみで、予め制御装置に記憶させておく設定度数との比較によって青未熟粒が「多い」「普通」「少ない」などの表示が可能となるが、上記の構成にあっては、複雑な算出式を要しないため迅速容易に表示出力が行われて便利である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 穀物乾燥機の正面図である。
【図2】 穀物乾燥機の正断面図である。
【図3】 水分計の分解斜視図である。
【図4】 コントロールボックスの制御盤正面図である。
【図5】 制御ブロック図である。
【図6】 水分計の正断面図である。
【図7】 同上の側断面図である。
【図8】 同上の背面図である。
【図9】 電極ロールの平面図である。
【図10】 電極ロールのローレット部拡大側面図である。
【図11】 (a)(b)(C)正規処理した水分分布一例である。
【図12】 原データによる水分分布一例である。
【図13】 正規化,累積処理した度数分布一例である。
【図14】 張込量−累積回数関係グラフである。
【図15】 外観品位測定装置との比較線図である。
【図16】 フローチャートである。
【図17】 正規化,累積処理した度数分布別例である。
【符号の説明】
1…乾燥機枠,2…貯留室,3…乾燥室,4…集穀室,5…昇降機,6…バーナ,7…吸引ファン,8…繰出バルブ,9…下部移送装置,10…上部移送装置,11…拡散盤,12…操作盤,13…表示部,14〜17…スイッチ,18…非常停止スイッチ,19…演算制御部,20…水分計,30…無端ベルト,31…バケット,32…穀粒取り込み部,33…穀粒送り螺旋,34…フレーム,35…カバー,36…底板,37…仕切板,38…モータ,39…制御部,40…機構部,41…駆動軸,42…はすば歯車,43…はすば歯車,44…はすば歯車,45…軸,46a…第1電極ロール,46b…第2電極ロール,47…軸,48…中間仕切,49…電極ロール取付板,50…取付脚部,51…起立部,52…回転軸,53…はすば歯車,55…開口,56…異物除去体,57…底部排出口,58…穀粒送り板,59…バネ,60…穀粒落下路,61…穀粒飛込防止板,62…線状突起,63…凹部,64…深い溝,65…排出案内部,66…回路基板[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to a grain moisture measuring device used for a grain dryer or the like.
[0002]
[Prior art and problems to be solved by the invention]
Conventionally, it is a moisture meter that is mounted on a lifting machine such as a grain dryer and takes in the whole grains, and for example, 100 forms of moisture are measured and the ratio of immature grains and straw is calculated. Yes (for example, Japanese Patent Publication No. 3-5509).
[0003]
By the way, in the form described in the above publication, since the ratio is the ratio of the high moisture content data number exceeding the predetermined deviation width to the preset total sample data number, the total sample data number is naturally limited to 100 grains or the like. Occurs. Therefore, variation occurs for each measurement performed at predetermined time intervals.
[0004]
[Means for Solving the Problems]
This invention is a detection mechanism provided with a pair of electrode rolls ( 46a, 46b ) that crushes the grains supplied from a grain feeding mechanism such as a grain feed spiral ( 33 ) into individual grains and outputs the electrical signals. part (40b), the control circuit section (39) grain moisture measuring apparatus comprising a which processes the electrical signal is converted to a water content, to the control circuit unit (39), number of grains classified each preset to Normalization processing means for obtaining a frequency distribution based on each measured moisture value and normalizing the frequency distribution, and sequentially obtaining the normalized frequency distribution according to the progress of grain drying, and accumulating these normalized frequency distributions And accumulating processing means.
[0005]
The invention described in
[0006]
[Effects of the invention]
For example, during the drying process, moisture is calculated for each predetermined number of grains, and the original data is normalized. Accumulation processing is performed while performing normalization processing for each moisture measurement sequentially executed at predetermined time intervals, and the moisture distribution at the time point can be expressed.
[0007]
By performing the process of performing the accumulation process in order while normalizing the original data, the classification of the boundary between the sized particle and the blue immature particle or cocoon can be executed with high accuracy, and the ratio calculation accuracy is also increased.
[0008]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a machine frame of a grain drying device, which is stacked in the order of a
[0009]
A predetermined amount of grain 8 flows down while rotating forward and reverse by a feeding drum 8. Reference numeral 9 denotes a lower transfer device that communicates with the
[0010]
The built-in control unit receives the switch information on the
[0011]
FIG. 5 is a control block diagram. In addition to the setting information from the switches, the
[0012]
The
[0013]
Since the leading edge of the grain take-in
[0014]
A
[0015]
In parallel with the
[0016]
Further, the rotary shaft 52 of the
[0017]
The lower part of the
[0018]
A
[0019]
In addition, the grain feeding spiral 33 forms a shallow concave portion 63 corresponding to one grain of grain between two linear protrusions 62 on the outer periphery of the cylindrical body, except for a certain range at the tip of the
[0020]
65 is a discharge guide part of the crushed grain provided along the lower side of the electrode rolls 46a, 46b disposed in an inclined manner, and this crushed grain is reduced and guided to the elevator space. The
[0021]
By the way, the electrode rolls 46a and 46b are for subjecting the surface to a regular oblique knurling process for grain crushing, but are not subjected to the end face cutting process in the axial direction, and are located on the end face side. Processing and assembly to the shaft are performed so that the left and right rolls 46a and 46b come into contact with each other at the top end lines, that is, the apexes p, p... Are formed along the outermost line L. By doing so, it is very convenient for checking whether the left and right roll gaps are appropriate.
[0022]
The
[0023]
Reference numeral 68 denotes a harness for connecting the controller having the
[0024]
The
[0025]
The function of the
[0026]
The upper and lower limit cut processing and normalization processing are performed on 100 grains when the next measurement signal is output in the same manner. When a certain moisture drying is used as a sample and the detected moisture value is represented on the horizontal axis and the frequency is represented on the vertical axis, the moisture measurement distribution in the initial stage of drying, during drying, and finishing is as shown in FIG. It moves to the low moisture side. FIG. 13A shows a result obtained by accumulating the first to n-th times and gradually increasing the value by “n” while performing the above-described upper and lower limit cut processing and normalization processing (accumulation processing). Cases with different origins and varieties are represented as shown in FIGS.
[0027]
Based on the frequency distribution thus obtained, the ratio of blue immature grains and the percentage of wrinkles can be calculated. For example, in a normalized and cumulative frequency distribution, the frequency a determined experimentally in advance is used as a reference line, and the frequency portion lower than the reference line in each of the high moisture region and the low moisture region is used. The ratio of the total α or β to the total frequency N is defined as the blue immature grain ratio RA or the wrinkle ratio RS.
[0028]
That is, RA = (α / N) × 100 (%), RS = (β / N) × 100 (%). Of the series of normalization and accumulation processes, in the accumulation process, the accumulation number is sequentially stacked from the first time as the drying progresses. However, the accumulation number may be set as follows. That is, it is a form which calculates | requires the frequency | count of accumulation by the grain amount-accumulation frequency relationship graph (FIG. 14) set beforehand based on the detection result from the tension amount sensor comprised separately. When configured in this way, the number of accumulations can be set according to the size of the kernel, and there is no risk that the entire dryer can not be measured if the number of accumulations is small despite the large amount of kernels. As a result, determination accuracy can be improved. The insertion amount data may be manually set data by visual confirmation. In addition to these, a cumulative number of times may be set in advance.
[0029]
Regardless of which accumulation process is performed, the accuracy of calculating the ratio of blue immature grains and the percentage of wrinkles obtained as a result is extremely high. The support is shown in FIG. That is, the accuracy can be measured by comparing the result of the blue immature grains measured by an appearance quality measuring device (not shown) with the result of normalization and accumulation processing according to the present embodiment. In the figure, the horizontal axis shows the number of measurements, and the vertical axis shows the “difference” between the calculated ratio value according to this example and the calculated value by the appearance quality measuring device, the true blue immature grain ratio (≈ detected value of the appearance quality measuring device). The value is slow (× 100%). The solid line in the figure relates to the value after the normalization and accumulation process according to the example, and it was found that it almost coincided with the result of the appearance quality measuring device.
[0030]
In addition, although the broken line in the figure is a comparison with the result of only the normalization process, it fluctuates greatly up and down and the accuracy of the roughness cannot be denied. In this way, the normal data is normalized, and the accumulation process is performed in order, so that the classification of the boundary between the sized particle and the blue immature particle or cocoon can be performed with high accuracy, and each ratio calculation accuracy is also increased. .
[0031]
The operation of the above example will be described. When the basic screen is called and the
[0032]
By doing so, the
[0033]
During the drying operation, moisture measurement is performed at predetermined time intervals. That is, a drive command signal is output to the single
[0034]
Drying control is performed based on the frequency distribution table based on the normalization process and the accumulation process. For example, in the frequency distribution represented as A, B or C in FIG. 13, the ratio of the + (plus) side frequency and the − (minus) side frequency is calculated, and the ventilation at the initial stage of drying is calculated based on the calculation result. In this configuration, the necessity of drying is determined. Whether {(+ (plus) side frequency) / (− (minus) side frequency)} × 100 (%) exceeds or falls below N determines whether or not the air drying is necessary. When N exceeds N, the dispersion-resolving drying operation is not necessary. For example, it is determined that “ventilation drying is unnecessary”, and conversely, when it is less than N%, it is determined that “ventilation drying is necessary”. N is set to “1”, for example.
[0035]
In addition, what is shown in FIG. 17 is to superimpose a preset reference frequency distribution on the frequency distribution based on the normalization process and the accumulation process, and determines whether to perform so-called ventilation drying based on the magnitude of the error between the two. is there. That is, since normality can be estimated, highly accurate drying control operation can be performed. Here, in setting the reference frequency distribution, there are various methods such as a method in which the peak value of the accumulated frequency distribution is translated so as to coincide with the average value “0”.
[0036]
As described above, the blue immature grain ratio and the wrinkle ratio with high accuracy can be calculated by normalization and accumulation processing, but the blue immature grain ratio can be calculated from the normalized state of FIGS. 11 (a), (b), and (c). You can get an overview of That is, in FIGS. 11A, 11B, and 11C, it is easy to know that the ratio of blue immature grains is in the relationship of (a) <(b) <(c). It is equivalent to comparing the frequency of the series “0” of the generalized frequency distribution. In other words, only by calculating the frequency of the series “0” block, it is possible to display “large”, “normal”, “low”, etc., for the blue immature grains by comparison with the preset frequency stored in the control device in advance. However, since the above configuration does not require a complicated calculation formula, display output is performed quickly and easily, which is convenient.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front view of a grain dryer.
FIG. 2 is a front sectional view of a grain dryer.
FIG. 3 is an exploded perspective view of a moisture meter.
FIG. 4 is a front view of the control box of the control box.
FIG. 5 is a control block diagram.
FIG. 6 is a front sectional view of a moisture meter.
FIG. 7 is a side sectional view of the above.
FIG. 8 is a rear view of the above.
FIG. 9 is a plan view of an electrode roll.
FIG. 10 is an enlarged side view of a knurled portion of an electrode roll.
FIGS. 11A, 11B, and 11C are examples of moisture distribution subjected to normal processing. FIGS.
FIG. 12 is an example of moisture distribution based on original data.
FIG. 13 is an example of a frequency distribution that has been normalized and accumulated.
FIG. 14 is a graph illustrating the relationship between the amount of pasting and the cumulative number of times.
FIG. 15 is a comparison diagram with an appearance quality measuring device.
FIG. 16 is a flowchart.
FIG. 17 shows examples of frequency distributions that have been normalized and accumulated.
[Explanation of symbols]
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