JP4313022B2 - Method for inspecting connection state of transfer part of liquid crystal display panel and electrode structure used therefor - Google Patents

Method for inspecting connection state of transfer part of liquid crystal display panel and electrode structure used therefor Download PDF

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造に係り、特に、導電性ビーズ等のトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた二枚のパネル基板に形成された電極の接続状態を検査するのに好適な液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、ITO(酸化インジウムスズ)等からなる透明電極を備えた二枚のパネル基板が、シール材を介して互いに貼り合わされ、両パネル基板の間に液晶が封入された液晶表示パネルにおいては、前記シール材内にトランスファ材を混入させることによって両パネル基板の電極を互いに導通させるようになっていた。
【0003】
図9は、このようなトランスファ材による電極の導通がなされた液晶表示パネルを示すものであり、この液晶表示パネル1は、ガラス基板の内側表面に縞状の電極2,3が形成された上下二枚のパネル基板5,6を有している。図9に示すように、下側のパネル基板6は、上側のパネル基板5よりも平面積が大きく形成されており、この大きく形成された部分は、複数本の端子3aが整列形成された端子部6aとされている。
【0004】
これら二枚のパネル基板5,6は、平面枠形状のシール材7を介して互いに貼り合わされており、これら両パネル基板5,6および前記シール材7によって囲繞された空間内には、液晶が封入された液晶層8が形成されている。
【0005】
そして、前記シール材7の内部には、導電性ビーズ等からなる図示しないトランスファ材が混入されており、このトランスファ材が混入されたシール材7と電極2,3との重なり部分からなるトランスファ部10によって、上下のパネル基板5,6の電極2,3が互いに導通されるようになっている。
【0006】
そして、従来から、このような液晶表示パネル1の製造に際しては、前記トランスファ部10における両パネル基板5,6の電極の接続状態を検査するようになっていた。
【0007】
図10に示すように、前記トランスファ部10は、前記シール材7の内部に配置された抵抗11とみることができ、その抵抗値は、断線が生じることによって大きくなると考えることができる。
【0008】
トランスファ部10は、本来、上下のパネル基板5,6の電極2,3を互いに導通させるものであるため、その抵抗値は低いことが望ましい。
【0009】
しかし、断線によってトランスファ部10の抵抗値が高くなった場合、このトランスファ部10に接触する電極2,3と、この電極2,3に液晶層8を挟んで対向する電極2,3とからなる画素間にかかる電圧が低下し、これによって画素に点灯不良が生じてしまうのである。
【0010】
従って、トランスファ部接続状態の検査は、常温湿度下で液晶表示パネル1を点灯させ、この点灯状態すなわち、表示画素の点灯、不点灯を目視検査することによって、トランスファ部10の断線の有無を判断するようになっていた。
【0011】
【特許文献1】
特開平8−160371号公報(第1図)
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、実際の液晶表示パネル1においては、1個のトランスファ部10の内部に、複数個のトランスファ材が混入されており、これらのトランスファ材が電極2,3を介して互いに並列接続された状態になっているとみることができる。
【0013】
すなわち、図11に示すように、トランスファ部10の抵抗は、互いに並列接続された複数個の抵抗11の合成抵抗と考えることができる。
【0014】
そして、この並列接続される抵抗11の数は、トランスファ部10すなわち前記シール材7と前記電極2,3との重なり部分の平面積に比例して大きくなる。
【0015】
従って、従来は、個々のトランスファ材による電気的接続状態が不良であっても、トランスファ部10の抵抗が低減される結果、液晶表示に液晶を与えるようなトランスファ部接続状態の不安定な液晶表示パネル1を識別することが困難であった。
【0016】
本発明は、このような問題点に鑑みなされたもので、パネル基板におけるシール材形成部内に、抵抗値の大きな小面積トランスファ部を形成することによって、液晶表示に影響を与える不安定な液晶表示パネルを検査段階において適正に識別することのできるトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造を提供することを目的とするものである。
【0017】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するため本発明の請求項1に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の特徴は、端子部側のパネル基板におけるシール材の形成部に、端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極を形成し、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記シール材の形成部に、前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用対向電極を前記小面積トランスファ部形成用電極と前記シール材を挟んで互いに対向するように形成し、その状態で、前記小面積トランスファ部形成用電極と小面積トランスファ部形成用対向電極との対向部およびこの対向部に挟まれた前記シール材からなる小面積トランスファ部の電気抵抗を測定することによって、トランスファ部の断線の有無を検査し、その際に、前記小面積トランスファ部形成用電極を、前記端子部に形成されたテスト用端子に連設し、このテスト用端子を、前記端子部に所定の間隔を設けて複数本並設し、かつ、前記小面積トランスファ部形成用対向電極を、前記複数本の小面積トランスファ部形成用電極の間の間隙部に臨むように複数本並設し、さらに、前記各小面積トランスファ部形成用対向電極を、互いに隣位する一対のテスト用端子に形成された小面積トランスファ部形成用電極と前記シール材を挟んで互いに対向させることによって、互いに直列接続された複数個の小面積トランスファ部を形成した状態で、これら複数個の小面積トランスファ部の直列接続の合成抵抗を、前記複数本のテスト用端子を介して測定する点にある。
【0018】
そして、このような方法を採用したことにより、断線の影響を反映し易い小面積トランスファ部の抵抗値を測定することによってトランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となり、その際に、テスト用端子にテスタ等の抵抗測定器を接続することによって、互いに隣位する小面積トランスファ部の直列接続の合成抵抗を簡便に測定することが可能となる。
【0021】
また、請求項に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の特徴は、接続状態を検査する小面積トランスファ部は、端子部側のパネル基板に設けられた端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、前記端子部側のパネル基板にシール材を挟んで対向する他方のパネル基板に設けられた前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用対向電極とから構成され、前記小面積トランスファ部形成用電極は前記端子部に形成された定電流入力用第1端子と電圧検出用第1端子にそれぞれ接続されており、前記小面積トランスファ部形成用対向電極は前記端子部に形成された定電流入力用第2端子電圧検出用第2端子にそれぞれ前記シール材を介して電気的に接続されており、 前記定電流入力用第1端子および前記定電流入力用第2端子を介して前記小面積トランスファ部に一定電流を入力し、前記電圧検出用第1端子と前記電圧検出用第2端子との間の電圧を検出することによって、前記小面積トランスファ部の電気抵抗を測定することにより、トランスファ部の断線の有無を検査する点にある。
【0022】
そして、このような方法を採用したことにより、断線の影響を反映し易い小面積トランスファ部の抵抗値を測定することによってトランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となり、その際に、引き回し抵抗の影響を受けることなく純粋に小面積トランスファ部の抵抗を測定することが可能となる。
また、請求項3に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の特徴は、請求項1または2において、前記小面積トラスファ部を、前記端子部における端子整列方向の両端部の端子の近傍にそれぞれ配設する点にある。
【0023】
また、請求項4に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の特徴は、端子部側のパネル基板におけるシール材の形成部に形成された端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記シール材の形成部に前記小面積トランスファ部形成用電極と前記シール材を挟んで互いに対向するように形成された前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用対向電極とを有し、前記小面積トランスファ部形成用電極と小面積トランスファ部形成用対向電極との対向部およびこの対向部に挟まれた前記シール材からなる小面積トランスファ部の電気抵抗を測定することによって、トランスファ部の断線を検査し得るようにされてなり、前記小面積トランスファ部形成用電極は、前記端子部に形成されたテスト用端子に連設され、このテスト用端子は、前記端子部に所定の間隔を設けて複数本並設され、前記小面積トランスファ部形成用対向電極は、前記複数本の小面積トランスファ部形成用電極の間の間隙部に臨むように複数本並設され、前記各小面積トランスファ部形成用対向電極が、互いに隣位する一対のテスト用端子に形成された小面積トランスファ部形成用電極と前記シール材を挟んで互いに対向することによって、互いに直列接続された複数個の小面積トランスファ部が形成され、これら複数個の小面積トランスファ部の直列接続の合成抵抗を、前記複数本のテスト用端子を介して測定可能とされてなる点にある。
【0024】
そして、このような構成を採用したことにより、断線の影響を反映し易い小面積トランスファ部の抵抗値を測定することによってトランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となり、その際に、互いに隣位する小面積トランスファ部の直列接続の合成抵抗を簡便に測定することが可能となる。
【0027】
また、請求項に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の特徴は、接続状態を検査する小面積トランスファ部は、端子部側のパネル基板に設けられた端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、前記端子部側のパネル基板にシール材を挟んで対向する他方のパネル基板に設けられた前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用対向電極とから構成され、前記小面積トランスファ部形成用電極は前記端子部に形成された定電流入力用第1端子と電圧検出用第1端子にそれぞれ接続されており、前記小面積トランスファ部形成用対向電極は前記端子部に形成された定電流入力用第2端子電圧検出用第2端子にそれぞれ前記シール材を介して電気的に接続されており、前記定電流入力用第1端子および前記定電流入力用第2端子を介して前記小面積トランスファ部に一定電流を入力し、前記電圧検出用第1端子と前記電圧検出用第2端子との間の電圧を検出することによって、前記小面積トランスファ部の電気抵抗を測定可能とする点にある。
【0028】
そして、このような構成を採用したことにより、断線の影響を反映し易い小面積トランスファ部の抵抗値を測定することによってトランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となり、その際に、引き回し抵抗の影響を受けることなく純粋に小面積トランスファ部の抵抗を測定することが可能となる。
また、請求項6に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の特徴は、請求項4または5において、前記小面積トラスファ部は、前記端子部における端子整列方向の両端部の端子の近傍にそれぞれ配設されている点にある。
【0029】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第一実施形態について、図1乃至図4を参照して説明する。
【0030】
なお、従来と基本的構成の同一もしくはこれに類する箇所については、同一の符号を用いて説明する。
【0031】
図1に示すように、本実施形態におけるトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造12は、液晶表示パネル13の端子部6aにおける両外側端子の近傍に形成されている。
【0032】
すなわち、図2および図3に示すように、前記端子部6aに形成された複数本の端子3aのうち、両端部の端子の近傍には、前記端子3aの長手方向に沿って長尺とされた複数本(図1において4本)のテスト用端子14が、所定の間隔を設けるようにして並設されている。
【0033】
各テスト用端子14におけるシール材7の側の端部には、このシール材7の側の端部から前記シール材7の形成部内に至るまで、前記テスト用端子14に沿って長尺とされた一対の小面積トランスファ部形成用電極15が、互いに所定の間隔を設けるようにして連設されている。前記小面積トランスファ部形成用電極15は、前記テスト用端子14よりもその長手方向に直交する幅方向の寸法が細く形成されている。
【0034】
一方、前記端子部6aに対向する側のパネル基板5における前記各テスト用端子14の間の間隙部に臨む位置には、前記小面積トランスファ部形成用電極15に沿って長尺とされた複数個(図1において3個)の小面積トランスファ部形成用対向電極16が形成されている。前記小面積トランスファ部形成用対向電極16は、前記小面積トランスファ部形成用電極15とその長手方向に直交する幅方向の寸法がほぼ同一に形成されている。
【0035】
各小面積トランスファ部形成用対向電極16は、前記パネル基板5における液晶層8の側から、前記シール材7の形成部内に至る位置まで形成され、前記シール材7の形成部内において、一対のテスト用端子14に形成された小面積トランスファ部形成用電極15と前記シール材7を挟んだ状態で互いに対向するようになっている。
【0036】
そして、前記複数個の小面積トランスファ部形成用対向電極16と、これらに対応する各一対の小面積トランスファ部形成用電極15との対向部および各対向部に挟まれたシール材7によって、複数個の小面積トランスファ部18が構成されるようになっている。
【0037】
前記各小面積トランスファ部18は、通常のトランスファ部10と異なり、平面積が小さく、並列接続の合成抵抗が大きくなっているため、断線の影響を反映し易くなっている。
【0038】
従って、前記テスト用端子14を介して前記小面積トランスファ部18の電気抵抗を測定することによって、トランスファ部10の断線の有無を簡便かつ適正に判断することができるようになっている。
【0039】
次に、前記電極構造12を適用した本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の第一実施形態について説明する。
【0040】
本実施形態においては、前述のように複数個の小面積トランスファ部形成用対向電極16とこれらに対応する各一対の小面積トランスファ部形成用電極15とをシール材7を挟んで互いに対向させることによって複数個の小面積トランスファ部18を形成しているが、このように形成した電極構造12は、図4の等価回路に示すように、複数個(図4において2個)の抵抗11を直列接続した状態に等しい。従って、前記電極構造12が形成された検査前の液晶表示パネル13を用意し、この液晶表示パネル13の互いに隣位する一対のテスト用端子14に、テスタ等の抵抗測定器における正極および負極の端子をそれぞれ接触させることによって、これら一対のテスト用端子14に連設された2個の小面積トランスファ部18の直列接続の合成抵抗を測定する。
【0041】
このとき、小面積トランスファ部18は、平面積が小さく形成されることによって、抵抗が従来よりも大きくなっているため、2個の小面積トランスファ部18の直列接続の合成抵抗を測定することによって、小面積トランスファ部18の接続状態を明確に判断することができる。
【0042】
そして、測定された小面積トランスファ部18の電気抵抗値が異常である場合、例えば、電気抵抗値が予め設定した適正品の値に比べて大きくなる場合は、トランスファ部10に断線が生じているものと判断することができる。
【0043】
次に、本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第二実施形態について、図5乃至図8を参照して説明する。
【0044】
本実施形態における電極構造20は、前記第一実施形態における電極構造12と同様に、端子部6aにおける端子3aの両端部外側近傍位置に形成されている。また、本実施形態における電極構造20は、小面積トランスファ部形成用電極21と、この小面積トランスファ部形成用電極21にシール材7を挟んで互いに対向する小面積トランスファ部形成用対向電極22とによって小面積トランスファ部23を構成している点においては、前記第一実施形態における電極構造12と基本的に同様である。
【0045】
しかしながら、本実施形態における電極構造20は、引き回し抵抗の影響を受けることなく小面積トランスファ部23の電気抵抗を測定するための構造を有している点で、前記第一実施形態と差異を有している。
【0046】
すなわち、図6および図7に示すように、本実施形態における小面積トランスファ部形成用電極21は、端子部6aの端子3aよりもその長手方向に直交する幅方向の寸法が細く形成されている。そして、前記小面積トランスファ部形成用電極21は、端子部3aに形成された定電流入力用第1端子25におけるシール材7の側の端部と、定電流入力用第1端子25に隣位するように形成された電圧検出用第1端子26におけるシール材7の側の端部との間に連設されている。
【0047】
また、小面積トランスファ部形成用対向電極22は、端子部6aの端子3aよりもその長手方向に直交する幅方向の寸法が細く形成されるとともに、前記端子部6aに形成された定電流入力用第2端子27および電圧検出用第2端子28の双方に導通可能に形成されている。すなわち、前記小面積トランスファ部形成用対向電極22は、この小面積トランスファ部形成用対向電極22の同一平面上に形成された平面凹状の中継電極30に連設されており、この中継電極30における両端部は、それぞれトランスファ部10を介して前記定電流入力用第2端子27と前記電圧検出用第2端子28とに電気的に接続されている。
【0048】
図8は、このように構成された本実施形態における電極構造20の等価回路を示したものである。
【0049】
図8に示すように、本実施形態においては、前記定電流入力用第1端子25および前記定電流入力用第2端子27を介して前記小面積トランスファ部23に一定の入力電流(定電流)を入力し、前記電圧検出用第1端子26と前記電圧検出用第2端子28との間の電圧を検出することによって、前記小面積トランスファ部23の電気抵抗を間接的に測定することができるようになっている。
【0050】
なお、図8の等価回路からも分かるように、前記電圧検出用第1端子26と前記電圧検出用第2端子28との間の測定電圧は、前記トランスファ部23に一定の電流が流れることにより生じる電圧降下を示す。先にも述べたように、トランスファ部10の電気抵抗は、小面積トランスファ部23に比べて非常に小さく、電圧測定側のトランスファ部10には電流が流れないため無視することができる。従って、測定電圧と入力電流との比から間接的に求められた小面積トランスファ部23の電気抵抗により、小面積トランスファ部23の断線の有無を判断することが可能である。
【0051】
また、本実施形態においては、上記のように電極構造20を構成することによって、引き回し抵抗の影響を受けることなく純粋に小面積トランスファ部23の抵抗を測定することができるようになっている。
【0052】
本実施形態においては、前記電極構造20が形成された検査前の液晶表示パネル24を用意し、この液晶表示パネル24の前記定電流入力用第1端子25と、前記定電流入力用第2端子27との間に、定電流電源を接続するとともに、前記電圧検出用第1端子26と前記電圧検出用第2端子28との間に電圧計を接続する。
【0053】
この状態で前記定電流電源のスイッチをオンにすることによって、前記定電流入力用第1端子25および前記定電流入力用第2端子27を介して小面積トランスファ部23に直流の定電流を入力する。
【0054】
そして、前記電圧計によって、前記電圧検出用第1端子26と前記電圧検出用第2端子28との間の電圧を検出する。
【0055】
そして、検出された電圧と、入力電流の値から、間接的に小面積トランスファ部の電気抵抗を得る。
【0056】
そして、得られた電気抵抗が異常である場合、例えば、電気抵抗が予め設定した適正品の値に比べて大きくなる場合は、小面積トランスファ部23に断線が生じているものと判断することができる。
【0057】
従って、本実施形態によれば、断線の影響を電気抵抗に反映し易い小面積トランスファ部18,23によって、トランスファ部10の断線の有無を簡便かつ適正に判断することができる。
【0058】
なお、本発明は前記実施形態のものに限定されるものではなく、必要に応じて種々変更することが可能である。
【0059】
例えば、第一実施形態においては、小面積トランスファ部18の抵抗測定の際に、互いに隣位する一対のテスト用端子14に抵抗測定器を接続することによって、2個の小面積トランスファ部18の合成抵抗を測定しているが、これに限る必要はなく、例えば、中央のテスト用端子14の左右に位置する一対のテスト用端子14に抵抗測定器を接続するようにしてもよい。この場合においては、4個の小面積トランスファ部23の直列の合成抵抗を得ることができる。
【0060】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこれに用いる電極構造によれば、小面積トランスファ部の電気抵抗に基づく不良品の識別を簡便かつ適正に行うことができ、ひいては信頼性および製造効率の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第一実施形態において、前記電極構造を備えた液晶表示パネルを示す平面図
【図2】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第一実施形態を示す平面図
【図3】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第一実施形態を示す図2と異なる平面図
【図4】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第一実施形態において、電極構造の等価回路を示した図
【図5】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第二実施形態において、前記電極構造を備えた液晶表示パネルを示す平面図
【図6】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第二実施形態を示す平面図
【図7】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第二実施形態を示す図6と異なる平面図
【図8】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の第二実施形態において、電極構造の等価回路を示した図
【図9】 従来から採用されているトランスファ部を備えた液晶表示パネルを示す平面図
【図10】 トランスファ部の状態を模式的に示した図
【図11】 トランスファ部の状態を模式的に示した図10と異なる図
【符号の説明】
2,3 電極
3a 端子
5,6 パネル基板
6a 端子部
7 シール材
8 液晶層
12,20 電極構造
13,31 液晶表示パネル
15,21 小面積トランスファ部形成用電極
16,22 小面積トランスファ部形成用対向電極
18,23 小面積トランスファ部
25 定電流入力用第1端子
26 電圧検出用第1端子
27 定電流入力用第1端子
28 電圧検出用第2端子
[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to a method for inspecting a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel and an electrode structure used in the inspection method, and in particular, two sheets bonded to each other via a sealing material mixed with a transfer material such as conductive beads. The present invention relates to a method for inspecting a connection state of a transfer part of a liquid crystal display panel suitable for inspecting a connection state of electrodes formed on the panel substrate, and an electrode structure used in the inspection method.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in a liquid crystal display panel in which two panel substrates provided with transparent electrodes made of ITO (indium tin oxide) or the like are bonded to each other via a sealing material, and liquid crystal is sealed between both panel substrates, By mixing a transfer material into the sealing material, the electrodes of both panel substrates are made conductive.
[0003]
FIG. 9 shows a liquid crystal display panel in which the electrodes are electrically connected by such a transfer material. The liquid crystal display panel 1 includes upper and lower stripe electrodes 2 and 3 formed on the inner surface of a glass substrate. Two panel substrates 5 and 6 are provided. As shown in FIG. 9, the lower panel substrate 6 has a larger plane area than the upper panel substrate 5, and this larger portion is a terminal in which a plurality of terminals 3a are aligned. Part 6a.
[0004]
The two panel substrates 5 and 6 are bonded to each other via a planar frame-shaped sealing material 7. In the space surrounded by the panel substrates 5 and 6 and the sealing material 7, liquid crystal is contained. An encapsulated liquid crystal layer 8 is formed.
[0005]
A transfer material (not shown) made of conductive beads or the like is mixed inside the seal material 7, and a transfer portion consisting of an overlapping portion of the seal material 7 mixed with the transfer material and the electrodes 2 and 3. 10, the electrodes 2 and 3 of the upper and lower panel substrates 5 and 6 are electrically connected to each other.
[0006]
Conventionally, when the liquid crystal display panel 1 is manufactured, the connection state of the electrodes of the two panel substrates 5 and 6 in the transfer unit 10 is inspected.
[0007]
As shown in FIG. 10, the transfer portion 10 can be regarded as a resistor 11 disposed inside the sealing material 7, and the resistance value can be considered to increase as a result of disconnection.
[0008]
Since the transfer unit 10 is intended to electrically connect the electrodes 2 and 3 of the upper and lower panel substrates 5 and 6 to each other, it is desirable that the transfer unit 10 has a low resistance value.
[0009]
However, when the resistance value of the transfer unit 10 increases due to disconnection, the electrodes 2 and 3 are in contact with the transfer unit 10 and the electrodes 2 and 3 are opposed to the electrodes 2 and 3 with the liquid crystal layer 8 interposed therebetween. The voltage applied between the pixels decreases, which causes a lighting failure in the pixels.
[0010]
Accordingly, the transfer unit connection state is checked by lighting the liquid crystal display panel 1 at room temperature and humidity, and by visually inspecting this lighting state, that is, whether the display pixels are lit or not, whether or not the transfer unit 10 is disconnected is determined. I was supposed to.
[0011]
[Patent Document 1]
JP-A-8-160371 (FIG. 1)
[0012]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the actual liquid crystal display panel 1, a plurality of transfer materials are mixed in one transfer unit 10, and these transfer materials are connected in parallel via the electrodes 2 and 3. It can be seen that
[0013]
That is, as shown in FIG. 11, the resistance of the transfer unit 10 can be considered as a combined resistance of a plurality of resistors 11 connected in parallel to each other.
[0014]
The number of resistors 11 connected in parallel increases in proportion to the plane area of the transfer portion 10, that is, the overlapping portion of the sealing material 7 and the electrodes 2 and 3.
[0015]
Therefore, conventionally, even if the electrical connection state of each transfer material is poor, the resistance of the transfer unit 10 is reduced, and as a result, the liquid crystal display with an unstable transfer unit connection state that gives liquid crystal to the liquid crystal display It was difficult to identify panel 1.
[0016]
The present invention has been made in view of such a problem, and an unstable liquid crystal display that affects liquid crystal display by forming a small-area transfer portion having a large resistance value in a sealing material forming portion in a panel substrate. It is an object of the present invention to provide a transfer portion connection state inspection method capable of properly identifying a panel in an inspection stage and an electrode structure used in the inspection method.
[0017]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the method of inspecting the transfer portion connection state of the liquid crystal display panel according to claim 1 of the present invention is characterized in that the seal material forming portion on the terminal portion side panel has a narrower width than the terminal. An area transfer portion forming electrode is formed, and a small area transfer portion forming counter electrode that is narrower than the terminal is formed in the small area on the sealing material forming portion of the panel substrate facing the terminal portion side panel substrate. The transfer part forming electrode and the sealing material are formed so as to face each other, and in this state, the small area transfer part forming electrode and the small area transfer part forming counter electrode by measuring the electrical resistance of the small area transfer unit consisting sandwiched by the sealing material, checks for disconnection of the transfer unit, the time, the small A product transfer portion forming electrode is connected to a test terminal formed on the terminal portion, and a plurality of test terminals are arranged in parallel at a predetermined interval on the terminal portion, and the small area is provided. A plurality of transfer portion forming counter electrodes are arranged side by side so as to face a gap between the plurality of small area transfer portion forming electrodes, and each of the small area transfer portion forming counter electrodes is adjacent to each other. In a state where a plurality of small area transfer portions connected in series with each other are formed by opposing the small area transfer portion forming electrodes formed on the pair of test terminals and the seal material therebetween, The combined resistance of the plurality of small area transfer units connected in series is measured through the plurality of test terminals .
[0018]
By employing such a method, can be easily and properly determine the presence or absence of disconnection of the transfer unit by measuring the resistance of the likely small area transfer unit to reflect the impact of disconnection and Do Ri In this case, by connecting a resistance measuring instrument such as a tester to the test terminal, it is possible to easily measure the combined resistance of the series connection of the small area transfer units adjacent to each other.
[0021]
Further, according to the second aspect of the present invention, the transfer area connection state inspection method for the liquid crystal display panel is characterized in that the small area transfer portion for inspecting the connection state is smaller in width than the terminals provided on the terminal side panel substrate. An area transfer part forming electrode and a counter electrode for forming a small area transfer part having a narrower width than the terminal provided on the other panel substrate facing the panel substrate on the terminal part side with a sealant interposed therebetween. the small area transfer unit forming electrode are respectively connected to the first terminal and the first terminal voltage detecting constant current input which is formed prior SL terminal unit, the small area transfer unit forming the counter electrode before serial are electrically connected respectively to the second terminal and the second terminal voltage detecting constant current input which is formed in the terminal portion through said sealing member, the first terminal and the constant for the constant current input By inputting a constant current to the small area transfer unit via the second terminal for current input and detecting the voltage between the first terminal for voltage detection and the second terminal for voltage detection, the small area is obtained. By measuring the electrical resistance of the transfer part, the presence or absence of disconnection of the transfer part is inspected .
[0022]
And by adopting such a method, it becomes possible to easily and appropriately determine the presence or absence of disconnection of the transfer part by measuring the resistance value of the small area transfer part that easily reflects the influence of disconnection, In this case, it is possible to measure the resistance of the small area transfer section purely without being affected by the routing resistance.
According to a third aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to the first or second aspect, wherein the small area transfer portion is arranged in the vicinity of terminals at both end portions in the terminal alignment direction of the terminal portion. In the point which is each arrange | positioned.
[0023]
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an electrode structure used for inspecting a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel. The portion forming electrode and the sealing material forming portion of the panel substrate facing the terminal portion side panel substrate are formed so as to face each other across the small area transfer portion forming electrode and the sealing material A counter electrode for forming a small area transfer portion that is narrower than the terminal, the counter portion between the electrode for forming the small area transfer portion and the counter electrode for forming the small area transfer portion, and the seal sandwiched between the counter portions by measuring the electrical resistance of the small area transfer unit made of wood, Ri Na is adapted to inspect disconnection of the transfer unit, the small area Trang The electrode for forming a part is connected to a test terminal formed on the terminal part, and a plurality of test terminals are arranged in parallel at a predetermined interval on the terminal part to form the small area transfer part. A plurality of counter electrodes are arranged in parallel so as to face a gap between the plurality of small area transfer portion forming electrodes, and each of the small area transfer portion forming counter electrodes is adjacent to each other. A plurality of small-area transfer portions connected in series are formed by facing a small-area transfer portion-forming electrode formed on a terminal and the seal material therebetween, and the plurality of small-area transfer portions The combined resistance of the series connection can be measured through the plurality of test terminals .
[0024]
By employing such a configuration, it is possible to easily and properly determine the presence or absence of disconnection of the transfer unit by measuring the resistance of the likely small area transfer unit to reflect the impact of disconnection and Do Ri In this case, it is possible to easily measure the combined resistance of the series connection of the small area transfer units adjacent to each other.
[0027]
Further, the electrode structure used for the inspection of the connection state of the transfer part of the liquid crystal display panel according to claim 5 is characterized in that the small area transfer part for inspecting the connection state is narrower than the terminal provided on the panel substrate on the terminal part side. An electrode for forming a small area transfer portion having a width, and a counter electrode for forming a small area transfer portion having a narrower width than the terminal provided on the other panel substrate facing the panel substrate on the terminal portion side with a sealant interposed therebetween consists, the small area transfer unit forming electrode are respectively connected to the first terminal and the first terminal voltage detecting constant current input which is formed prior SL terminal unit, the small area transfer unit forming face the electrodes are connected before SL respectively to the second terminal and the second terminal voltage detecting constant current input which is formed in the terminal portion through the sealing member electrically, the first terminal for the constant current input And inputting a constant current to the small area transfer unit via the second terminal for constant current input, and detecting a voltage between the first terminal for voltage detection and the second terminal for voltage detection, in that it allows measuring the electrical resistance of the small area transfer unit.
[0028]
And by adopting such a configuration, it becomes possible to easily and appropriately determine the presence or absence of a break in the transfer part by measuring the resistance value of the small area transfer part that easily reflects the influence of the break, In this case, it is possible to measure the resistance of the small area transfer section purely without being affected by the routing resistance.
The electrode structure used for the inspection of the transfer portion connection state of the liquid crystal display panel according to claim 6 is characterized in that, in claim 4 or 5, the small area transfer portion is formed at both end portions of the terminal portion in the terminal alignment direction. They are located in the vicinity of the terminals.
[0029]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a first embodiment of an electrode structure used for inspection of a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4.
[0030]
Note that portions having the same or similar basic configuration as those in the related art will be described using the same reference numerals.
[0031]
As shown in FIG. 1, the electrode structure 12 used for the inspection of the transfer portion connection state in this embodiment is formed in the vicinity of both outer terminals in the terminal portion 6 a of the liquid crystal display panel 13.
[0032]
That is, as shown in FIGS. 2 and 3, among the plurality of terminals 3 a formed in the terminal portion 6 a, the vicinity of the terminals at both ends is elongated along the longitudinal direction of the terminal 3 a. A plurality of (four in FIG. 1) test terminals 14 are arranged in parallel so as to provide a predetermined interval.
[0033]
The end of each test terminal 14 on the seal material 7 side is elongated along the test terminal 14 from the end on the seal material 7 side to the inside of the formation portion of the seal material 7. The pair of small-area transfer portion forming electrodes 15 are continuously provided so as to have a predetermined distance from each other. The small area transfer portion forming electrode 15 is formed to be narrower in the width direction perpendicular to the longitudinal direction than the test terminal 14.
[0034]
On the other hand, at the position facing the gap between the test terminals 14 on the panel substrate 5 on the side facing the terminal portion 6a, a plurality of lengths along the small area transfer portion forming electrode 15 are provided. A plurality (three in FIG. 1) of small-area transfer portion forming counter electrodes 16 are formed. The counter electrode 16 for forming the small area transfer part is formed to have substantially the same dimension in the width direction perpendicular to the longitudinal direction as the electrode 15 for forming the small area transfer part.
[0035]
Each counter electrode 16 for forming a small area transfer portion is formed from the liquid crystal layer 8 side of the panel substrate 5 to a position reaching the formation portion of the sealing material 7, and a pair of test pieces are formed in the formation portion of the sealing material 7. The small area transfer portion forming electrode 15 formed on the terminal 14 and the seal material 7 are opposed to each other.
[0036]
A plurality of small area transfer portion forming counter electrodes 16, a pair of small area transfer portion forming electrodes 15 corresponding thereto, and a plurality of sealing materials 7 sandwiched between the counter portions. A small area transfer section 18 is configured.
[0037]
Each of the small area transfer units 18 is different from the normal transfer unit 10 in that the plane area is small and the combined resistance of the parallel connection is large, so that it is easy to reflect the influence of disconnection.
[0038]
Therefore, by measuring the electric resistance of the small area transfer unit 18 via the test terminal 14, it is possible to easily and appropriately determine whether or not the transfer unit 10 is disconnected.
[0039]
Next, a first embodiment of the inspection method for the transfer portion connection state of the liquid crystal display panel according to the present invention to which the electrode structure 12 is applied will be described.
[0040]
In the present embodiment, as described above, the plurality of small-area transfer portion forming counter electrodes 16 and the corresponding pair of small-area transfer portion forming electrodes 15 are opposed to each other with the sealant 7 interposed therebetween. A plurality of small area transfer portions 18 are formed by the above-described structure. In the electrode structure 12 formed as described above, a plurality of (two in FIG. 4) resistors 11 are connected in series as shown in the equivalent circuit of FIG. Equivalent to connected state. Therefore, a pre-inspection liquid crystal display panel 13 in which the electrode structure 12 is formed is prepared, and the positive and negative electrodes of a resistance measuring instrument such as a tester are connected to a pair of test terminals 14 adjacent to each other on the liquid crystal display panel 13. By bringing the terminals into contact with each other, the combined resistance of two small area transfer units 18 connected in series to the pair of test terminals 14 is measured.
[0041]
At this time, since the small area transfer portion 18 is formed to have a smaller plane area, the resistance is larger than that of the conventional one. Therefore, by measuring the combined resistance of the two small area transfer portions 18 connected in series. The connection state of the small area transfer unit 18 can be clearly determined.
[0042]
When the measured electric resistance value of the small area transfer unit 18 is abnormal, for example, when the electric resistance value becomes larger than a preset value of an appropriate product, the transfer unit 10 is disconnected. Can be judged.
[0043]
Next, a second embodiment of the electrode structure used for the inspection of the transfer portion connection state of the liquid crystal display panel according to the present invention will be described with reference to FIGS.
[0044]
Similarly to the electrode structure 12 in the first embodiment, the electrode structure 20 in the present embodiment is formed at positions near both ends of the terminal 3a in the terminal portion 6a. In addition, the electrode structure 20 in this embodiment includes a small area transfer portion forming electrode 21 and a small area transfer portion forming counter electrode 22 facing each other with the sealing material 7 sandwiched between the small area transfer portion forming electrode 21. This is basically the same as the electrode structure 12 in the first embodiment in that the small-area transfer unit 23 is configured.
[0045]
However, the electrode structure 20 in the present embodiment is different from the first embodiment in that the electrode structure 20 has a structure for measuring the electric resistance of the small area transfer unit 23 without being affected by the routing resistance. is doing.
[0046]
That is, as shown in FIGS. 6 and 7, the small-area transfer portion forming electrode 21 in the present embodiment is formed to have a narrower dimension in the width direction perpendicular to the longitudinal direction than the terminal 3 a of the terminal portion 6 a. . The small area transfer portion forming electrode 21 is adjacent to the end portion of the first constant current input terminal 25 formed in the terminal portion 3 a on the seal material 7 side and the first constant current input first terminal 25. The voltage detection first terminal 26 formed in such a manner is connected to the end of the sealing material 7 side.
[0047]
Further, the counter electrode 22 for forming the small area transfer portion is formed with a dimension in the width direction perpendicular to the longitudinal direction of the terminal 3a of the terminal portion 6a, and for constant current input formed on the terminal portion 6a. The second terminal 27 and the voltage detection second terminal 28 are formed to be conductive. That is, the small area transfer portion forming counter electrode 22 is connected to a planar concave relay electrode 30 formed on the same plane as the small area transfer portion forming counter electrode 22. Both end portions are electrically connected to the constant current input second terminal 27 and the voltage detection second terminal 28 via the transfer unit 10, respectively.
[0048]
FIG. 8 shows an equivalent circuit of the electrode structure 20 in the present embodiment configured as described above.
[0049]
As shown in FIG. 8, in the present embodiment, a constant input current (constant current) is supplied to the small area transfer unit 23 via the first terminal 25 for constant current input and the second terminal 27 for constant current input. , And the voltage between the voltage detection first terminal 26 and the voltage detection second terminal 28 is detected, whereby the electrical resistance of the small area transfer unit 23 can be indirectly measured. It is like that.
[0050]
As can be seen from the equivalent circuit of FIG. 8, the measured voltage between the voltage detection first terminal 26 and the voltage detection second terminal 28 is caused by a constant current flowing through the transfer unit 23. Indicates the resulting voltage drop. As described above, the electrical resistance of the transfer unit 10 is very small compared to the small area transfer unit 23, and no current flows through the voltage measurement side transfer unit 10, and therefore can be ignored. Therefore, it is possible to determine the presence or absence of disconnection of the small area transfer unit 23 based on the electrical resistance of the small area transfer unit 23 obtained indirectly from the ratio between the measured voltage and the input current.
[0051]
In the present embodiment, by configuring the electrode structure 20 as described above, the resistance of the small-area transfer unit 23 can be measured purely without being affected by the routing resistance.
[0052]
In the present embodiment, a pre-inspection liquid crystal display panel 24 on which the electrode structure 20 is formed is prepared, and the constant current input first terminal 25 and the constant current input second terminal of the liquid crystal display panel 24 are prepared. 27 is connected to a constant current power source, and a voltmeter is connected between the voltage detection first terminal 26 and the voltage detection second terminal 28.
[0053]
In this state, by turning on the switch of the constant current power source, a DC constant current is input to the small area transfer section 23 via the constant current input first terminal 25 and the constant current input second terminal 27. To do.
[0054]
Then, the voltage between the first voltage detection terminal 26 and the second voltage detection terminal 28 is detected by the voltmeter.
[0055]
Then, the electrical resistance of the small area transfer unit is obtained indirectly from the detected voltage and the value of the input current.
[0056]
When the obtained electrical resistance is abnormal, for example, when the electrical resistance is larger than the preset value of the appropriate product, it can be determined that a disconnection has occurred in the small area transfer unit 23. it can.
[0057]
Therefore, according to the present embodiment, it is possible to easily and appropriately determine whether or not the transfer unit 10 is disconnected by the small area transfer units 18 and 23 that easily reflect the influence of the disconnection on the electric resistance.
[0058]
In addition, this invention is not limited to the thing of the said embodiment, A various change is possible as needed.
[0059]
For example, in the first embodiment, when measuring the resistance of the small area transfer unit 18, by connecting a resistance measuring device to a pair of test terminals 14 adjacent to each other, the two small area transfer units 18 are connected. Although the combined resistance is measured, the present invention is not limited to this. For example, a resistance measuring instrument may be connected to a pair of test terminals 14 located on the left and right of the central test terminal 14. In this case, a combined resistance in series of the four small area transfer units 23 can be obtained.
[0060]
【The invention's effect】
As described above, according to the inspection method of the connection state of the transfer part of the liquid crystal display panel and the electrode structure used therefor according to the present invention, the defective product is easily and appropriately identified based on the electric resistance of the small area transfer part. As a result, reliability and manufacturing efficiency can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing a liquid crystal display panel provided with the electrode structure in a first embodiment of an electrode structure used for inspection of a transfer portion connection state of the liquid crystal display panel according to the invention. FIG. 3 is a plan view showing a first embodiment of an electrode structure used for inspection of a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel. FIG. 3 is a first embodiment of an electrode structure used for inspection of a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to the present invention. FIG. 4 is a diagram showing an equivalent circuit of the electrode structure in the first embodiment of the electrode structure used for the inspection of the transfer portion connection state of the liquid crystal display panel according to the present invention. The top view which shows the liquid crystal display panel provided with the said electrode structure in 2nd embodiment of the electrode structure used for the test | inspection of the transfer part connection state of the liquid crystal display panel which concerns on this invention. FIG. 7 is a plan view showing a second embodiment of an electrode structure used for inspecting a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to the present invention. FIG. 7 shows an electrode structure used for inspecting a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to the present invention. FIG. 8 is a plan view different from FIG. 6 showing the second embodiment. FIG. 8 is a diagram showing an equivalent circuit of the electrode structure in the second embodiment of the electrode structure used for the inspection of the transfer portion connection state of the liquid crystal display panel according to the present invention. FIG. 9 is a plan view showing a liquid crystal display panel provided with a transfer unit that has been conventionally used. FIG. 10 schematically shows a state of the transfer unit. FIG. 11 schematically shows a state of the transfer unit. Figure different from Figure 10 [Explanation of symbols]
2, 3 Electrode 3a Terminal 5, 6 Panel substrate 6a Terminal 7 Sealing material 8 Liquid crystal layer 12, 20 Electrode structure 13, 31 Liquid crystal display panel 15, 21 Small area transfer part forming electrode 16, 22 Small area transfer part forming Counter electrode 18, 23 Small area transfer section 25 First terminal for constant current input 26 First terminal for voltage detection 27 First terminal for constant current input 28 Second terminal for voltage detection

Claims (6)

電極を備え、液晶層を挟んで互いに対向する二枚のパネル基板のうちの一方に、端子が形成された端子部を設け、これら二枚のパネル基板が、両パネル基板の電極を互いに電気的に接続するためのトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた液晶表示パネルの前記両電極の接続状態を検査するトランスファ部接続状態の検査方法において、
前記端子部側のパネル基板における前記シール材の形成部に、前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極を形成し、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記シール材の形成部に、前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用対向電極を前記小面積トランスファ部形成用電極と前記シール材を挟んで互いに対向するように形成し、その状態で、前記小面積トランスファ部形成用電極と小面積トランスファ部形成用対向電極との対向部およびこの対向部に挟まれた前記シール材からなる小面積トランスファ部の電気抵抗を測定することによって、トランスファ部の断線の有無を検査し、
その際に、前記小面積トランスファ部形成用電極を、前記端子部に形成されたテスト用端子に連設し、このテスト用端子を、前記端子部に所定の間隔を設けて複数本並設し、かつ、前記小面積トランスファ部形成用対向電極を、前記複数本の小面積トランスファ部形成用電極の間の間隙部に臨むように複数本並設し、さらに、前記各小面積トランスファ部形成用対向電極を、互いに隣位する一対のテスト用端子に形成された小面積トランスファ部形成用電極と前記シール材を挟んで互いに対向させることによって、互いに直列接続された複数個の小面積トランスファ部を形成した状態で、これら複数個の小面積トランスファ部の直列接続の合成抵抗を、前記複数本のテスト用端子を介して測定することを特徴とする液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法。
One of two panel substrates provided with electrodes and facing each other across the liquid crystal layer is provided with a terminal portion on which terminals are formed, and these two panel substrates electrically connect the electrodes of both panel substrates to each other. In the transfer portion connection state inspection method for inspecting the connection state of the electrodes of the liquid crystal display panel bonded to each other via a sealing material mixed with a transfer material for connection to
The sealing material in the panel substrate facing the terminal substrate panel is formed by forming a small area transfer portion forming electrode narrower than the terminal in the sealing material forming portion in the terminal substrate panel. Forming a small-area transfer portion forming counter electrode having a width smaller than that of the terminal so as to face each other with the small-area transfer portion forming electrode and the sealing material interposed therebetween. By measuring the electrical resistance of the opposing portion of the area transfer portion forming electrode and the opposing electrode for forming the small area transfer portion and the small area transfer portion made of the sealing material sandwiched between the opposing portions, the transfer portion is disconnected. Check for presence ,
At that time, the small area transfer portion forming electrode is connected to the test terminal formed in the terminal portion, and a plurality of the test terminals are arranged in parallel at a predetermined interval in the terminal portion. In addition, a plurality of the counter electrodes for forming the small area transfer portion are arranged in parallel so as to face a gap between the plurality of electrodes for forming the small area transfer portion, and further, for forming each of the small area transfer portions. A plurality of small area transfer portions connected in series with each other are formed by opposing the counter electrodes to each other with the seal material sandwiched between the electrodes for forming the small area transfer portion formed on a pair of test terminals adjacent to each other. in forming state, the combined resistance of the series connection of these plurality of small area transfer unit, the liquid crystal display panel transformer, characterized by measuring through the test terminals of the plurality of Inspection method of § part connection state.
電極を備え、液晶層を挟んで互いに対向する二枚のパネル基板のうちの一方に、端子が形成された端子部を設け、これら二枚のパネル基板が、両パネル基板の電極を互いに電気的に接続するためのトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた液晶表示パネルの前記両電極の接続状態を検査するトランスファ部接続状態の検査方法において、
前記接続状態を検査する小面積トランスファ部は、前記端子部側のパネル基板に設けられた前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、前記端子部側のパネル基板に前記シール材を挟んで対向する他方のパネル基板に設けられた前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用対向電極とから構成され、
前記小面積トランスファ部形成用電極は前記端子部に形成された定電流入力用第1端子と電圧検出用第1端子にそれぞれ接続されており、前記小面積トランスファ部形成用対向電極は前記端子部に形成された定電流入力用第2端子電圧検出用第2端子にそれぞれ前記シール材を介して電気的に接続されており、
前記定電流入力用第1端子および前記定電流入力用第2端子を介して前記小面積トランスファ部に一定電流を入力し、前記電圧検出用第1端子と前記電圧検出用第2端子との間の電圧を検出することによって、前記小面積トランスファ部の電気抵抗を測定することにより、トランスファ部の断線の有無を検査することを特徴とする液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法。
One of two panel substrates provided with electrodes and facing each other across the liquid crystal layer is provided with a terminal portion on which terminals are formed, and these two panel substrates electrically connect the electrodes of both panel substrates to each other. In the transfer portion connection state inspection method for inspecting the connection state of the electrodes of the liquid crystal display panel bonded to each other via a sealing material mixed with a transfer material for connection to
The small area transfer portion for inspecting the connection state includes a small area transfer portion forming electrode narrower than the terminal provided on the terminal portion side panel substrate, and the sealing material on the terminal portion side panel substrate. A counter electrode for forming a small area transfer portion that is narrower than the terminal provided on the other panel substrate facing the other side,
The small area transfer unit forming electrode are respectively connected to the first terminal and the first terminal voltage detecting constant current input which is formed prior SL terminal unit, the small area transfer unit forming the counter electrode before Symbol The constant current input second terminal and the voltage detection second terminal formed in the terminal portion are electrically connected to each other through the sealing material,
A constant current is input to the small area transfer section via the first terminal for constant current input and the second terminal for constant current input, and between the first terminal for voltage detection and the second terminal for voltage detection. by detecting the voltage, the by measuring the electrical resistance of the small area transfer unit, the inspection method of the transfer unit connection state to that the liquid crystal display panel, characterized in that to inspect the presence or absence of disconnection of the transfer unit.
前記小面積トラスファ部を、前記端子部における端子整列方向の両端部の端子の近傍にそれぞれ配設する請求項1または2に記載の液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法。3. The method for inspecting a transfer part connection state of a liquid crystal display panel according to claim 1, wherein the small area transfer part is disposed in the vicinity of terminals at both ends in the terminal alignment direction of the terminal part. 電極を備え、液晶層を挟んで互いに対向する二枚のパネル基板のうちの一方に、端子が形成された端子部を設け、これら二枚のパネル基板が、両パネル基板の電極を互いに電気的に接続するためのトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた液晶表示パネルの前記両電極の接続状態を検査する電極構造において、
前記端子部側のパネル基板における前記シール材の形成部に形成された前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記シール材の形成部に前記小面積トランスファ部形成用電極と前記シール材を挟んで互いに対向するように形成された前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用対向電極とを有し、前記小面積トランスファ部形成用電極と小面積トランスファ部形成用対向電極との対向部およびこの対向部に挟まれた前記シール材からなる小面積トランスファ部の電気抵抗を測定することによって、トランスファ部の断線を検査し得るようにされてなり、
前記小面積トランスファ部形成用電極は、前記端子部に形成されたテスト用端子に連設され、このテスト用端子は、前記端子部に所定の間隔を設けて複数本並設され、前記小面積トランスファ部形成用対向電極は、前記複数本の小面積トランスファ部形成用電極の間の間隙部に臨むように複数本並設され、前記各小面積トランスファ部形成用対向電極が、互いに隣位する一対のテスト用端子に形成された小面積トランスファ部形成用電極と前記シール材を挟んで互いに対向することによって、互いに直列接続された複数個の小面積トランスファ部が形成され、これら複数個の小面積トランスファ部の直列接続の合成抵抗を、前記複数本のテスト用端子を介して測定可能とされてなることを特徴とする液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法に用いる電極構造。
One of two panel substrates provided with electrodes and facing each other across the liquid crystal layer is provided with a terminal portion on which terminals are formed, and these two panel substrates electrically connect the electrodes of both panel substrates to each other. In the electrode structure for inspecting the connection state of the two electrodes of the liquid crystal display panel bonded to each other through a sealing material mixed with a transfer material for connection to
The electrode for forming a small-area transfer portion narrower than the terminal formed in the sealing material forming portion in the terminal portion side panel substrate, and the sealing material in the panel substrate facing the terminal portion side panel substrate The small-area transfer portion forming electrode and the counter electrode for forming the small-area transfer portion having a narrower width than the terminal formed so as to face each other across the sealing material. Inspecting the disconnection of the transfer part by measuring the electrical resistance of the opposing part of the transfer part forming electrode and the counter electrode for forming the small area transfer part and the small area transfer part made of the sealing material sandwiched between the opposing parts. Ri name is as to be in,
The small area transfer portion forming electrode is connected to a test terminal formed on the terminal portion, and a plurality of the test terminals are arranged in parallel at a predetermined interval on the terminal portion. A plurality of transfer portion forming counter electrodes are arranged side by side so as to face a gap between the plurality of small area transfer portion forming electrodes, and the respective small area transfer portion forming counter electrodes are adjacent to each other. A plurality of small area transfer portions connected in series with each other are formed by facing a small area transfer portion forming electrode formed on a pair of test terminals and the seal material therebetween. the combined resistance of the series connection of area transfer unit, the transfer unit connection state of the plurality of the formed by the measurable via the test terminals you wherein liquid crystal display panel Electrode structure used in the inspection process.
電極を備え、液晶層を挟んで互いに対向する二枚のパネル基板のうちの一方に、端子が形成された端子部を設け、これら二枚のパネル基板が、両パネル基板の電極を互いに電気的に接続するためのトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた液晶表示パネルの前記両電極の接続状態を検査する電極構造において、
前記接続状態を検査する小面積トランスファ部は、前記端子部側のパネル基板に設けられた前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、前記端子部側のパネル基板に前記シール材を挟んで対向する他方のパネル基板に設けられた前記端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用対向電極とから構成され、
前記小面積トランスファ部形成用電極は前記端子部に形成された定電流入力用第1端子と電圧検出用第1端子にそれぞれ接続されており、前記小面積トランスファ部形成用対向電極は前記端子部に形成された定電流入力用第2端子電圧検出用第2端子にそれぞれ前記シール材を介して電気的に接続されており、
前記定電流入力用第1端子および前記定電流入力用第2端子を介して前記小面積トランスファ部に一定電流を入力し、前記電圧検出用第1端子と前記電圧検出用第2端子との間の電圧を検出することによって、前記小面積トランスファ部の電気抵抗を測定可能とすることを特徴とする液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法に用いる電極構造。
One of two panel substrates provided with electrodes and facing each other across the liquid crystal layer is provided with a terminal portion on which terminals are formed, and these two panel substrates electrically connect the electrodes of both panel substrates to each other. In the electrode structure for inspecting the connection state of the two electrodes of the liquid crystal display panel bonded to each other through a sealing material mixed with a transfer material for connection to
The small area transfer portion for inspecting the connection state includes a small area transfer portion forming electrode narrower than the terminal provided on the terminal portion side panel substrate, and the sealing material on the terminal portion side panel substrate. A counter electrode for forming a small area transfer portion that is narrower than the terminal provided on the other panel substrate facing the other side,
The small area transfer unit forming electrode are respectively connected to the first terminal and the first terminal voltage detecting constant current input which is formed prior SL terminal unit, the small area transfer unit forming the counter electrode before Symbol The constant current input second terminal and the voltage detection second terminal formed in the terminal portion are electrically connected to each other through the sealing material,
A constant current is input to the small area transfer section via the first terminal for constant current input and the second terminal for constant current input, and between the first terminal for voltage detection and the second terminal for voltage detection. by detecting the voltage, the electrode structure for use the in the inspection method of the transfer unit connection state of the liquid crystal display panel characterized in that to enable measuring the electrical resistance of the small area transfer unit.
前記小面積トラスファ部は、前記端子部における端子整列方向の両端部の端子の近傍にそれぞれ配設されている請求項4または5に記載の液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法に用いる電極構造。The electrode used for the inspection method of the transfer portion connection state of the liquid crystal display panel according to claim 4, wherein the small area transfer portion is provided in the vicinity of terminals at both ends in the terminal alignment direction of the terminal portion. Construction.
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