JP4152167B2 - Method for inspecting connection state of transfer portion of liquid crystal display panel and electrode structure used therefor - Google Patents
Method for inspecting connection state of transfer portion of liquid crystal display panel and electrode structure used therefor Download PDFInfo
- Publication number
- JP4152167B2 JP4152167B2 JP2002318258A JP2002318258A JP4152167B2 JP 4152167 B2 JP4152167 B2 JP 4152167B2 JP 2002318258 A JP2002318258 A JP 2002318258A JP 2002318258 A JP2002318258 A JP 2002318258A JP 4152167 B2 JP4152167 B2 JP 4152167B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- visual confirmation
- electrode
- small area
- transfer portion
- forming
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造に係り、特に、導電性ビーズ等のトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた二枚のパネル基板に形成された電極の接続状態を検査するのに好適な液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、ITO(酸化インジウムスズ)等からなる電極を備えた二枚のパネル基板が、シール材を介して互いに貼り合わされ、両パネル基板の間に液晶が封入された液晶表示パネルにおいては、前記シール材内にトランスファ材を混入させることによって両パネル基板の電極を互いに導通させるようになっていた。
【0003】
図5は、このようなトランスファ材による電極の導通がなされた液晶表示パネルを示すものであり、この液晶表示パネル1は、ガラス基板の内側表面に縞状の電極2,3が形成された上下二枚のパネル基板5,6を有している。図5に示すように、下側のパネル基板6は、上側のパネル基板5よりも平面積が大きく形成されており、この大きく形成された部分は、複数本の端子4が整列形成された端子部6aとされている。
【0004】
これら二枚のパネル基板5,6は、平面枠形状のシール材7を介して互いに貼り合わされており、これら両パネル基板5,6および前記シール材7によって囲繞された空間内には、液晶が封入された液晶層8が形成されている。
【0005】
そして、前記シール材7の内部には、導電性ビーズ等からなる図示しないトランスファ材が混入されており、このトランスファ材が混入されたシール材7と電極2,3との重なり部分からなるトランスファ部10によって、上下のパネル基板5,6の電極2,3が互いに導通されるようになっている。
【0006】
そして、従来から、このような液晶表示パネル1の製造に際しては、前記トランスファ部10における接続状態を検査するようになっていた。
【0007】
図6に示すように、前記トランスファ部10のトランスファ材は、前記シール材7の内部に配置された抵抗11とみることができ、その抵抗値は、断線が生じることによって大きくなると考えることができる。
【0008】
トランスファ材は、本来、上下のパネル基板5,6の電極2,3を互いに導通させるものであるため、その抵抗値は低いことが望ましい。
【0009】
しかし、断線によってトランスファ部10の抵抗値が高くなった場合、このトランスファ部10に接触する電極2,3と、この電極2,3に液晶層8を挟んで交差する電極2,3とからなる画素間にかかる電圧が低下し、これによって画素に点灯不良が生じてしまうのである。
【0010】
従って、トランスファ部接続状態の検査は、常温湿度下で液晶表示パネル1を点灯させ、この点灯状態すなわち、液晶表示パネルの表示画素の点灯、不点灯を目視検査することによって、トランスファ部10の断線の有無を判断するようになっていた。
【0011】
【特許文献1】
特開2001−188212号公報(第1図)
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、実際の液晶表示パネル1においては、1個のトランスファ部10の内部に、複数個のトランスファ材が混入されており、これらのトランスファ材が電極2,3を介して互いに並列接続された状態になっているとみることができる。
【0013】
すなわち、図7に示すように、トランスファ部10の抵抗は、互いに並列接続された複数個の抵抗11の合成抵抗と考えることができる。
【0014】
そして、この並列接続される抵抗11の数は、トランスファ部10すなわち前記シール材7と前記電極2,3との重なり部分の平面積に比例して大きくなる。
【0015】
従って、従来は、個々のトランスファ材による電気的接続状態が不良であっても、トランスファ部10の合成抵抗が低減される結果、液晶表示に影響を与えるようなトランスファ部接続状態の不安定な液晶表示パネル1を識別することが困難であった。
【0016】
本発明は、このような問題点に鑑みなされたもので、液晶表示に影響を与えるトランスファ部接続状態の不安定な液晶表示パネルを検査段階において適正に識別することのできるトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造を提供することを目的とするものである。
【0017】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するため本発明の請求項1に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の特徴は、複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て液晶層に臨む位置に至るまで、前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極を延出形成し、この小面積トランスファ部形成用電極に目視確認用パターンを連設し、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極を形成し、この小面積トランスファ部形成用対向電極と、前記目視確認用パターンとが前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンを連設し、その状態で前記端部端子に交流電圧を印加して前記目視確認用画素の点灯状態を確認し、前記目視確認用画素が点灯しなければトランスファ部の接続状態が正常レベルと判定する点にある。
【0018】
そして、このような方法を採用したことにより、断線の影響を反映し易い小面積トランスファ部に連なる目視確認用画素の点灯状態を確認することによってトランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となる。
【0019】
また、請求項2に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の特徴は、請求項1において、前記端部端子の近傍位置に、前記シール材内のトランスファ材を介して前記小面積トランスファ部形成用対向電極および前記目視確認用対向パターンと導通された短絡用電極を形成し、前記目視確認用画素の点灯状態の確認の後に、この目視確認用画素が点灯する液晶表示パネルに対して、前記短絡用電極と前記端部端子とを互いに短絡させて、前記目視確認用画素の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判定する点にある。
【0020】
そして、このような方法を採用したことにより、目視確認用画素の点灯する液晶表示パネルのうちトランスファ部の接続状態が正常レベルと判断し得るものを選別することが可能となる。
【0021】
請求項3に係るトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の特徴は、複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て液晶層に臨む位置に至るまで延出形成された前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、この小面積トランスファ部形成用電極に連設された目視確認用パターンと、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に形成され、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極と、この小面積トランスファ部形成用対向電極に連設され、前記目視確認用パターンと前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンとを有する点にある。
【0022】
そして、このような構成を採用したことにより、前記端部端子に交流電圧を印加して前記目視確認用画素の点灯状態を確認することによって、トランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となる。
【0023】
請求項4に係るトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の特徴は、請求項3において、前記端部端子の近傍位置に、前記シール材内のトランスファ材を介して前記小面積トランスファ部形成用対向電極および前記目視確認用対向パターンと導通するように形成され、前記端部端子と互いに短絡可能とされた短絡用電極を有する点にある。
【0024】
そして、このような構成を採用したことにより、目視確認用画素の点灯状態の確認の後に、この目視確認用画素が点灯する液晶表示パネルに対して、前記短絡用電極と前記端部端子とを互いに短絡させて前記目視確認用画素の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判断することができ、これによって、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判断し得るものを選別することが可能となる。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態について、図1乃至図4を参照して説明する。
【0026】
なお、従来と基本的構成の同一もしくはこれに類する箇所については、同一の符号を用いて説明する。
【0027】
図1に示すように、本実施形態におけるトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造12は、液晶表示パネル13の端子部6aおよびその周辺に形成されている。
【0028】
すなわち、図2および図3に示すように、前記端子部6aに形成された複数本の端子4の両外側に位置する端部端子3aであって、前記シール材7の形成部の外側位置には、前記端部端子3aよりも幅が細く形成された小面積トランスファ部形成用電極14,15が延出形成されている。
前記小面積トランスファ部形成用電極14,15は、端部端子3aからシール材7の形成部の外側に沿って平行に延出した後、液晶層8の側へ向かって斜めに屈折した状態で前記シール材7の形成部を通過し、その後、再度屈折して前記液晶層8に臨む所定位置に至るような平面形状に形成されている。
【0029】
さらに、前記各小面積トランスファ部形成用電極14,15の先端部には、それぞれ目視確認用パターン16が連設されている。
【0030】
なお、前記小面積トランスファ部形成用電極14,15と前記目視確認用パターン16,17とは、前記端部端子3aと同一の成膜材料によって一体的に形成するようにしてもよい。
【0031】
一方、前記端子部6aの側のパネル基板6に対向するパネル基板5における前記小面積トランスファ部形成用電極14,15に対向する位置には、前記小面積トランスファ部形成用電極14,15とほぼ同じ幅に形成された小面積トランスファ部形成用対向電極19,20が形成されている。
【0032】
この小面積トランスファ部形成用対向電極19,20は、前記パネル基板5の図2および図3における上端部から下方の液晶層8の側へ向かって前記小面積トランスファ部形成用電極14,15と前記シール材7を挟んで互いに交差するように斜めに延出した後、屈折して前記目視確認用パターン16,17に対向する位置に至るような平面形状に形成されている。
【0033】
そして、前記小面積トランスファ部形成用電極14,15と前記小面積トランスファ部形成用対向電極19,20との交差部によって、小面積トランスファ部21が形成されるようになっている。
【0034】
また、前記各小面積トランスファ部形成用対向電極19,20には、それぞれ目視確認用対向パターン22,23が、液晶層8を挟んだ状態で前記目視確認用パターン16,17と対向するように連設されている。前記目視確認用対向パターン22,23は、前記小面積トランスファ部形成用対向電極19,20と同一の成膜材料によって一体的に形成するようにしてもよい。
【0035】
そして、前記目視確認用パターン16,17と前記目視確認対向パターン22,23との対向部によって、前記小面積トランスファ部21の断線を目視によって確認するための目視確認用画素25が構成されるようになっている。
【0036】
この目視確認用画素25は、前記端部端子3aに交流電圧を印加した状態において、前記小面積トランスファ部21に断線が生じておらず、前記小面積トランスファ部形成用電極14,15と前記小面積トランスファ部形成用対向電極19,20とが同電位に保持されている場合は点灯しないようになっている。一方、前記小面積トランスファ部21に断線が生じており、前記小面積トランスファ部形成用電極14,15と前記小面積トランスファ部形成用対向電極19,20との間に電位差が生じている場合は、点灯するようになっている。
【0037】
ここで、前記小面積トランスファ部21は、通常のトランスファ部10と異なり、平面積が小さく、並列接続の合成抵抗が大きくなっているため、断線の影響を反映し易くなっている。
【0038】
すなわち、小面積トランスファ部21に断線が生じている場合は、この断線を、前記目視確認用画素25が点灯することにより明確に確認することができるようになっている。
【0039】
なお、前記目視確認用画素25は、トランスファ部に断線が生じていない場合においても、小面積トランスファ部21が高抵抗になるなどの小面積トランスファ部21自体の不具合に起因して点灯する場合がある。
【0040】
そこで、本実施形態においては、トランスファ部接続状態の検査後に再度、トランスファ部の接続状態を確認するための電極構造を有している。
【0041】
すなわち、前記端部端子3aの近傍位置には、短絡用電極26,27が、この端部端子3aの近傍位置から前記シール材7の形成部に至る方向に延出形成されており、各短絡用電極26は、トランスファ部10を介して前記目視確認用対向パターン22,23および前記小面積トランスファ部形成用対向電極19,20と互いに導通されている。
【0042】
なお、前記目視確認用対向パターン22,23とトランスファ部10との間には、中継電極28,29が形成されており、この中継電極28,29によって、トランスファ部10から目視確認用対向パターン22,23までの導通が図られるようになっている。
【0043】
そして、前述のように、目視確認用画素25が点灯する液晶表示パネルに対して、例えば導電性ゴム等を前記端部端子3aと前記短絡用電極26,27との双方に跨るように載置することによって、端子3aと短絡用電極26,27とを短絡させたとき、目視確認用画素25の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素25が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判定することができるようになっている。
【0044】
次に、前記電極構造を適用した本発明に係るトランスファ部接続状態の検査方法について説明する。
【0045】
本実施形態においては、前記シール材7を間に挟んだ前記小面積トランスファ部形成用電極14,15と前記小面積トランスファ部形成用対向電極19,20との対向部からなる小面積トランスファ部21と、前記液晶層8を間に挟んだ前記目視確認用パターン16,17と前記目視確認用対向パターン22,23との対向部からなる目視確認用画素25と、前記短絡用電極26,27とが形成された液晶表示パネル13を用意する。
【0046】
そして、まず、セグメント端子と、共通電極端子(図示せず)との間に、交流電圧を印加して、表示部内の画素を点灯させる。
【0047】
このとき、小面積トランスファ部21の接続状態が正常で、断線が生じていない場合は、小面積トランスファ部形成用電極14,15と小面積トランスファ部形成用対向電極19,20とが互いに同電位になるため、小面積トランスファ部形成用電極14,15に連設された目視確認用パターン16,17と、小面積トランスファ部形成用対向電極19,20に連設された目視確認用対向パターン22,23も互いに同電位になる。
【0048】
これにより、小面積トランスファ部21の接続状態が正常である場合は、目視確認用パターン16,17と目視確認用対向パターン22,23との対向部の間に液晶層8を挟んでなる目視確認用画素25は点灯しない。
【0049】
そして、目視確認用画素25の点灯が生じなかった液晶表示パネル13は、適正品として次の製造工程に進める。
【0050】
一方、小面積トランスファ部21に断線が生じている場合は、小面積トランスファ部形成用電極14,15と小面積トランスファ部形成用対向電極19,20との間に電位差が生じ、同様に、目視確認用パターン16,17と目視確認用対向パターン22,23との間にも電位差が生じる。
【0051】
これにより、小面積トランスファ部21に断線が生じている場合は、前記目視確認用画素25が点灯する。
【0052】
そして、目視確認用画素25が点灯した液晶表示パネル13は、不良品として次の製造工程には進めない。
【0053】
ただし、目視確認用画素25が点灯する液晶表示パネルに対して短絡用電極26,27と端子3aとを短絡させて、目視確認用画素25が消灯する場合は、トランスファ部10の接続状態が正常レベルと判定し、この液晶表示パネル13を次の製造工程に進める。
【0054】
このとき、導電性ゴム等によって短絡用電極26,27と端子3aとを短絡させることによって、目視確認用画素25を消灯させる。
【0055】
したがって、本実施形態によれば、断線の影響を反映させ易い小面積トランスファ部21に連なる目視確認用画素25の点灯状態を確認することによって、トランスファ部10の断線の有無を簡便かつ適正に判断することができる。
【0056】
なお、本発明は前記実施形態のものに限定されるものではなく、必要に応じて種々変更することが可能である。
【0057】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこれに用いる電極構造によれば、トランスファ部の断線に基づく不良品の識別を簡便かつ適正に行うことができ、ひいては信頼性および製造効率の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態において、前記電極構造を備えた液晶表示パネルを示す平面図
【図2】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態を示す平面図
【図3】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態を示す図2と異なる平面図
【図4】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態において、端子部側のパネル基板の電極構造と、端子部に対向する側のパネル基板の電極構造とを示す平面図
【図5】 従来から採用されているトランスファ部を備えた液晶表示パネルを示す平面図
【図6】 トランスファ部の状態を模式的に示した図
【図7】 トランスファ部の状態を模式的に示した図6と異なる図
【符号の説明】
2,3 電極
3a 端部端子
5,6 パネル基板
6a 端子部
7 シール材
8 液晶層
12 電極構造
13 液晶表示パネル
14,15 小面積トランスファ部形成用電極
16,17 目視確認用パターン
19,20 小面積トランスファ部形成用対向電極
21 小面積トランスファ部
22,23 目視確認用対向パターン
25 目視確認用画素
26,27 短絡用電極[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to a method for inspecting a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel and an electrode structure used in the inspection method, and in particular, two sheets bonded to each other via a sealing material mixed with a transfer material such as conductive beads. The present invention relates to a method for inspecting a connection state of a transfer portion of a liquid crystal display panel suitable for inspecting a connection state of electrodes formed on the panel substrate, and an electrode structure used in the inspection method.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in a liquid crystal display panel in which two panel substrates provided with electrodes made of ITO (indium tin oxide) or the like are bonded to each other via a sealing material and liquid crystal is sealed between the two panel substrates, By mixing a transfer material into the sealing material, the electrodes of both panel substrates are made conductive.
[0003]
FIG. 5 shows a liquid crystal display panel in which the electrodes are electrically connected by such a transfer material. The liquid crystal display panel 1 is an upper and lower side in which striped
[0004]
The two
[0005]
A transfer material (not shown) made of conductive beads or the like is mixed inside the
[0006]
Conventionally, when the liquid crystal display panel 1 is manufactured, the connection state of the
[0007]
As shown in FIG. 6, the transfer material of the
[0008]
Since the transfer material is intended to electrically connect the
[0009]
However, when the resistance value of the
[0010]
Therefore, the transfer unit connection state is inspected by turning on the liquid crystal display panel 1 at room temperature and humidity, and visually checking the lighting state, that is, lighting or non-lighting of the display pixels of the liquid crystal display panel. It came to judge the presence or absence.
[0011]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laid-Open No. 2001-188212 (FIG. 1)
[0012]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the actual liquid crystal display panel 1, a plurality of transfer materials are mixed in one
[0013]
That is, as shown in FIG. 7, the resistance of the
[0014]
The number of
[0015]
Therefore, conventionally, even if the electrical connection state of each transfer material is poor, the combined resistance of the
[0016]
The present invention has been made in view of such problems, and inspecting a transfer unit connection state that can appropriately identify an unstable liquid crystal display panel in a transfer unit connection state that affects liquid crystal display at the inspection stage. It is an object of the present invention to provide a method and an electrode structure used in this inspection method.
[0017]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a method for inspecting a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to claim 1 of the present invention is characterized in that at least one of end terminals located on both outer sides of a plurality of terminals is provided with a sealing material. A small area transfer portion forming electrode having a width smaller than that of the end terminal is extended to the position facing the liquid crystal layer through the forming portion, and a pattern for visual confirmation is formed on the small area transfer portion forming electrode. The small area transfer portion forming electrode intersects with the sealing material sandwiched at a position facing the small area transfer portion forming electrode on the panel substrate facing the terminal portion side panel substrate. By forming the small area transfer portion forming counter electrode to form the small area transfer portion, the small area transfer portion forming counter electrode and the visual confirmation A visual confirmation counter pattern for forming a visual confirmation pixel is formed by facing each other in a state where the liquid crystal layer is sandwiched between the patterns, and in this state, an AC voltage is applied to the end terminal to perform the visual confirmation. The lighting state of the transfer pixel is confirmed. If the visual check pixel is not turned on, the connection state of the transfer unit is determined to be a normal level.
[0018]
By adopting such a method, the presence or absence of disconnection in the transfer unit can be easily and appropriately determined by confirming the lighting state of the visual confirmation pixels connected to the small area transfer unit that easily reflects the influence of the disconnection. It becomes possible.
[0019]
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to the first aspect, wherein the small area transfer device is located near the end terminal via the transfer material in the seal material. A liquid crystal display panel in which the visual check pixel is lit after forming a short-circuit electrode that is electrically connected to the counter electrode for forming a portion and the counter pattern for visual check, and confirming the lighting state of the visual check pixel The short-circuiting electrode and the end terminal are short-circuited with each other, the lighting state of the visual confirmation pixel is checked again, and if the visual confirmation pixel is turned off, the connection state of the transfer unit is determined to be a normal level. There is in point to do.
[0020]
By adopting such a method, it is possible to select liquid crystal display panels in which the visual confirmation pixels are lit, that can be determined to have a transfer unit connection state at a normal level.
[0021]
The feature of the electrode structure used for the inspection of the transfer portion connection state according to claim 3 is that the position facing the liquid crystal layer through the sealing material forming portion on at least one of the end terminals located on both outer sides of the plurality of terminals. An electrode for forming a small area transfer portion that is narrower than the end terminal formed to extend to the end portion, a pattern for visual confirmation continuously provided to the electrode for forming the small area transfer portion, and the terminal portion side A small-area transfer portion is formed at a position facing the small-area transfer portion forming electrode on the panel substrate facing the panel substrate, and intersects the small-area transfer portion forming electrode with the sealing material interposed therebetween. A counter electrode for forming a small area transfer portion, and a counter electrode for forming the small area transfer portion, and the visual confirmation pattern and the liquid In that it has a visual confirmation opposing pattern to form a visual confirmation pixel by facing each other in a state sandwiching the layers.
[0022]
By adopting such a configuration, it is possible to easily and appropriately determine the presence or absence of a disconnection in the transfer unit by applying an AC voltage to the end terminal and confirming the lighting state of the visual confirmation pixel. It becomes possible.
[0023]
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a feature of the electrode structure used for the inspection of the transfer portion connection state according to the third aspect, in which the small area transfer portion is formed in the vicinity of the end terminal via the transfer material in the sealing material. It is in the point which has the electrode for a short circuit formed so that it may conduct | electrically_connect with a counter electrode and the said opposing pattern for visual confirmation, and the said edge part terminal was mutually shortable.
[0024]
And by adopting such a configuration, after confirming the lighting state of the visual confirmation pixel, the shorting electrode and the end terminal are connected to the liquid crystal display panel in which the visual confirmation pixel is lit. If the visual confirmation pixel is turned on again by short-circuiting each other and the visual confirmation pixel is turned off, the connection state of the transfer unit can be determined to be a normal level. Can be selected that can be determined to be normal.
[0025]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of an electrode structure used for inspection of a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to the present invention will be described with reference to FIGS.
[0026]
Note that portions having the same or similar basic configuration as those in the related art will be described using the same reference numerals.
[0027]
As shown in FIG. 1, the
[0028]
That is, as shown in FIG. 2 and FIG. 3,
The small area transfer
[0029]
Further, a
[0030]
The small area transfer
[0031]
On the other hand, at the position facing the small area transfer
[0032]
The
[0033]
A small
[0034]
The
[0035]
And the
[0036]
In the
[0037]
Here, unlike the
[0038]
That is, when a disconnection occurs in the small
[0039]
Note that the
[0040]
Therefore, the present embodiment has an electrode structure for confirming the connection state of the transfer part again after the transfer part connection state is inspected.
[0041]
That is, short-
[0042]
In addition,
[0043]
As described above, for example, a conductive rubber or the like is placed on the liquid crystal display panel in which the
[0044]
Next, the inspection method for the transfer portion connection state according to the present invention to which the electrode structure is applied will be described.
[0045]
In the present embodiment, the small-
[0046]
First, an alternating voltage is applied between the segment terminal and the common electrode terminal (not shown) to light the pixels in the display unit.
[0047]
At this time, when the connection state of the small
[0048]
Thereby, when the connection state of the small
[0049]
Then, the liquid
[0050]
On the other hand, when the disconnection occurs in the small
[0051]
Thereby, when the disconnection has arisen in the small
[0052]
Then, the liquid
[0053]
However, when the short-
[0054]
At this time, the
[0055]
Therefore, according to the present embodiment, the presence / absence of the disconnection of the
[0056]
In addition, this invention is not limited to the thing of the said embodiment, A various change is possible as needed.
[0057]
【The invention's effect】
As described above, according to the inspection method of the connection state of the transfer portion of the liquid crystal display panel and the electrode structure used therefor according to the present invention, it is possible to easily and appropriately identify a defective product based on the disconnection of the transfer portion. As a result, reliability and manufacturing efficiency can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing a liquid crystal display panel having the electrode structure in an embodiment of an electrode structure used for inspection of a transfer portion connection state of the liquid crystal display panel according to the present invention. FIG. 3 is a plan view showing an embodiment of an electrode structure used for inspection of a transfer portion connection state of a panel. FIG. 3 is different from FIG. 2 showing an embodiment of an electrode structure used for inspection of a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to the present invention. FIG. 4 is a plan view of an electrode structure used for inspecting a transfer portion connection state of a liquid crystal display panel according to the present invention, and an electrode structure of a panel substrate on a terminal portion side and a panel substrate on a side facing the terminal portion. FIG. 5 is a plan view showing a liquid crystal display panel provided with a transfer portion that has been conventionally used. FIG. 6 is a schematic view of the state of the transfer portion. Figure 7 [Description of symbols] and 6 to the state of the transfer unit shown schematically different views shown in
2, 3
Claims (4)
前記複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て前記液晶層に臨む位置に至るまで、前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極を延出形成し、この小面積トランスファ部形成用電極に目視確認用パターンを連設し、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極を形成し、この小面積トランスファ部形成用対向電極と、前記目視確認用パターンとが前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンを連設し、その状態で前記端部端子に交流電圧を印加して前記目視確認用画素の点灯状態を確認し、前記目視確認用画素が点灯しなければトランスファ部の接続状態が正常レベルと判定することを特徴とするトランスファ部接続状態の検査方法。Provided with a terminal portion in which a plurality of terminals are aligned on one of two panel substrates facing each other across the liquid crystal layer, the two panel substrates being electrodes of both panel substrates In the inspection method of the transfer portion connection state of the liquid crystal display panel bonded to each other through a sealing material mixed with a transfer material for electrically connecting the two,
A small-area transfer section that is narrower than the end terminals until it reaches a position facing the liquid crystal layer through at least one of the end terminals positioned on both outer sides of the plurality of terminals through a sealing material forming section. A forming electrode is extended and formed, and a visual confirmation pattern is continuously provided on the small area transfer portion forming electrode, and is opposed to the small area transfer portion forming electrode on the panel substrate facing the terminal side panel substrate. A small area transfer portion forming counter electrode that forms a small area transfer portion by crossing the small area transfer portion forming electrode with the sealing material sandwiched therebetween, and forming the small area transfer portion A visual confirmation pixel is formed by opposing the forming counter electrode and the visual confirmation pattern to each other with the liquid crystal layer sandwiched therebetween. In this state, an alternating voltage is applied to the end terminal to check the lighting state of the visual confirmation pixel. If the visual confirmation pixel is not lit, the connection state of the transfer unit is A method for inspecting a transfer unit connection state, characterized by determining a normal level.
前記複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て前記液晶層に臨む位置に至るまで延出形成された前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、
この小面積トランスファ部形成用電極に連設された目視確認用パターンと、
前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に形成され、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極と、
この小面積トランスファ部形成用対向電極に連設され、前記目視確認用パターンと前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンと
を有することを特徴とする電極構造。Provided with a terminal portion in which a plurality of terminals are aligned on one of two panel substrates facing each other across the liquid crystal layer, the two panel substrates being electrodes of both panel substrates In the electrode structure used for the inspection of the transfer portion connection state of the liquid crystal display panel bonded to each other through a sealing material mixed with a transfer material for electrically connecting the two,
At least one of the end terminals located on both outer sides of the plurality of terminals is narrower than the end terminal formed to extend to a position facing the liquid crystal layer through a sealing material forming portion. An electrode for forming a small area transfer portion;
A pattern for visual confirmation connected to the electrode for forming the small area transfer portion,
Formed at a position facing the small area transfer portion forming electrode on the panel substrate facing the terminal portion side panel substrate, and intersecting the small area transfer portion forming electrode with the sealing material interposed therebetween. A counter electrode for forming a small area transfer part, which forms a small area transfer part by
Continuing to the counter electrode for forming the small area transfer part, the visual confirmation pattern and a visual confirmation counter pattern forming a visual confirmation pixel by facing each other with the liquid crystal layer sandwiched therebetween. Characteristic electrode structure.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002318258A JP4152167B2 (en) | 2002-10-31 | 2002-10-31 | Method for inspecting connection state of transfer portion of liquid crystal display panel and electrode structure used therefor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002318258A JP4152167B2 (en) | 2002-10-31 | 2002-10-31 | Method for inspecting connection state of transfer portion of liquid crystal display panel and electrode structure used therefor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004151517A JP2004151517A (en) | 2004-05-27 |
JP4152167B2 true JP4152167B2 (en) | 2008-09-17 |
Family
ID=32461429
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002318258A Expired - Fee Related JP4152167B2 (en) | 2002-10-31 | 2002-10-31 | Method for inspecting connection state of transfer portion of liquid crystal display panel and electrode structure used therefor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4152167B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4566677B2 (en) * | 2004-10-01 | 2010-10-20 | シャープ株式会社 | LCD panel |
KR101127837B1 (en) | 2005-03-30 | 2012-03-21 | 엘지디스플레이 주식회사 | Apparatus for Bonding Liquid Crystal Display Device and Flexible Print Circuit, Method for Inspection of the Same |
-
2002
- 2002-10-31 JP JP2002318258A patent/JP4152167B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004151517A (en) | 2004-05-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101652705B (en) | Liquid crystal display panel and its inspecting method | |
US10126604B2 (en) | Liquid crystal display panel, sealing performance testing method thereof and display device | |
CN100594759C (en) | Circuit member, electrode connecting structure and display device provided with such electrode connecting structure | |
JP2610328B2 (en) | Manufacturing method of liquid crystal display element | |
CN102012593B (en) | array substrate of liquid crystal display device | |
EP3574373B1 (en) | Method for detecting breakage of a substrate of a switchable optical element and switchable optical device | |
US10509285B2 (en) | Method and system for repairing short circuit defect in display panel | |
CN101984391A (en) | Touch panel and repair method thereof | |
WO2014040315A1 (en) | Tft-lcd array substrate, and test method therefor | |
CN104051409B (en) | For the line construction of reparation and the flat panel display equipment with this line construction | |
CN103680317A (en) | Array substrate, manufacturing method thereof and displaying device | |
JP2019117315A (en) | Display device, manufacturing method for display device, and inspection method for display device | |
CN100346200C (en) | Display assembly and assembling method thereof | |
JP4152167B2 (en) | Method for inspecting connection state of transfer portion of liquid crystal display panel and electrode structure used therefor | |
JPH11119683A (en) | Method of inspecting liquid crystal display panel | |
WO2010018758A1 (en) | Liquid crystal panel unit and method for inspecting same | |
JP4313022B2 (en) | Method for inspecting connection state of transfer part of liquid crystal display panel and electrode structure used therefor | |
JPS60170831A (en) | Inspecting method of sticking precision of substrate | |
JP2006003741A (en) | Liquid crystal display panel | |
JP4089886B2 (en) | Display panel | |
JPH11109302A (en) | Liquid crystal display element inspecting method | |
JP4067238B2 (en) | Liquid crystal display panel and short-circuit inspection method between electrodes | |
JP3617352B2 (en) | Board inspection structure | |
JPH0535425Y2 (en) | ||
CN103616786A (en) | Thin film transistor substrate and repair method thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051024 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080528 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080624 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080701 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140711 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140711 Year of fee payment: 6 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140711 Year of fee payment: 6 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |