JP4312771B2 - Differential differential amplifier - Google Patents
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Description
本発明は、概して、微分差動増幅器に関する。 The present invention generally relates to differential differential amplifiers.
低電圧差分信号伝達(LVDS)インターフェースは、電子民生装置の大規模集積回路に対して、ますます使用されている。少なくとも1つの微分差動増幅器(DDA)を有するLVDS受信器は、他の電子回路による使用のために、LVDS信号を受信して増幅するために使用される。 Low voltage differential signaling (LVDS) interfaces are increasingly being used for large scale integrated circuits in electronic consumer devices. An LVDS receiver having at least one differential differential amplifier (DDA) is used to receive and amplify LVDS signals for use by other electronic circuits.
従来のLVDS受信器110の実施例を、図1の回路図に表す。このLVDS受信器110は、2つのDDA120a、bと、1つの差動増幅器130と、マルチプレクサ140とを有する。DDA120a及び120bの従来の実施例を、図2の回路図に表す。このDDA120は、Pチャネル金属酸化膜半導体(PMOS)トランジスタ210a、bの第1の対と、PMOSトランジスタ220a、bの第2の対とを有する。DDA120は、4つのNチャネル金属酸化膜半導体(NMOS)トランジスタ230a〜230dと、4つのPMOSトランジスタ240a〜240dとを更に有し、図2に示すように構成されている。
An example of a
しかし、図1の従来のLVDS受信器110は、信号ノイズの影響を受けやすい。また、このLVDS受信器110は、持ち運び用途によって時々必要とされるように、低電圧で動作することができる。更に、この従来のLVDS受信器110は、入力電圧対(PAD、PADN)の共通モード電圧が、例えば接地であるVSSに近く、一方、基準電圧対(Vref1、Vref2)の共通モード電圧が、VDD/2に近い場合に、正常に動作しなくなりうる。なお、VDDは、電源電圧に相当する。この状態で、図2に示した第1のトランジスタの組210a、bのドレイン電圧は、およそ第2のトランジスタの組220a、bのドレイン電圧のレベルへと引っ張られる。第1のトランジスタの組210a、b及び第2のトランジスタの組220a、bの夫々のドレイン−ソース間電圧は、第1のトランジスタの組210a、bを3極領域で動作させる。3極領域は、抵抗性領域とも呼ばれる。一方、第2のトランジスタの組220a、bは、5極領域で動作する。5極領域は、飽和領域とも呼ばれる。2つのトランジスタの組210a、b、220a、bの夫々の動作領域のこのような差は、ノード250において、入力電圧対(PAD、PADN)の差と基準電圧対(Vref1、Vref2)の差との間の差に比例しない振幅を有する出力電圧Voutをもたらす。
However, the
LVDS受信器の他の変形例は、図3の回路図に表された従来の差動演算増幅器(オペアンプ)310である。この差動演算増幅器310は、NMOSFET320a〜320jと、PMPSFET330a〜330jと、キャパシタ350と、インバータ360とを有し、図3に示すように構成されている。差動演算増幅器310は、より幅広い共通モード範囲(CMR)に亘る動作を可能にしても良い。しかし、この差動演算増幅器310は、また、信号ノイズの影響を受けやすく、一般的に、低電圧で動作することができない。
Another variation of the LVDS receiver is a conventional differential operational amplifier (op-amp) 310 shown in the circuit diagram of FIG. The differential
従って、本発明は、より幅広いCMRに亘って効率的に動作するよう構成されたDDAを提供することを目的とする。また、本発明は、ノイズに対して増大した許容範囲を有するDDAを提供することを目的とする。また、本発明は、低電圧で動作することができるDDAを提供することを目的とする。 Accordingly, it is an object of the present invention to provide a DDA configured to operate efficiently over a wider CMR. Another object of the present invention is to provide a DDA having an increased tolerance for noise. Another object of the present invention is to provide a DDA that can operate at a low voltage.
微分差動増幅器は、第1及び第2の低電源出力端子並びに第1及び第2の高電源出力端子を有し、前記第1及び第2の低電源出力端子のうちの1つ又はそれ以上並びに前記第1及び第2の高電源出力端子のうちの1つ又はそれ以上は、夫々、低電圧端子及び高電圧端子へ結合されている。第1のバイアスレギュレータは、第1のバイアス電圧を供給する第1の出力端子と、第2のバイアス電圧を供給する第2の出力端子とを有する。第2のバイアスレギュレータは、第1及び第2の出力端子を有する。 The differential differential amplifier has first and second low power output terminals and first and second high power output terminals, and one or more of the first and second low power output terminals. And one or more of the first and second high power output terminals are coupled to a low voltage terminal and a high voltage terminal, respectively. The first bias regulator has a first output terminal that supplies a first bias voltage, and a second output terminal that supplies a second bias voltage. The second bias regulator has first and second output terminals.
夫々がゲート、ソース及びドレインを有する第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタも設けられている。これらのトランジスタのソースは、相互に、及び前記高電源出力端子に結合されている。前記第1及び第2の電流制御PMOSトランジスタのゲートは、夫々、差分入力端子の第1の対の第1及び第2の端子へ結合されている。前記第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタのゲートは、夫々、差分入力端子の第2の対の第1及び第2の端子へ結合されている。 First, second, third and fourth current control PMOS transistors are also provided, each having a gate, source and drain. The sources of these transistors are coupled to each other and to the high power supply output terminal. The gates of the first and second current control PMOS transistors are respectively coupled to the first and second terminals of the first pair of differential input terminals. The gates of the third and fourth current control PMOS transistors are coupled to the first and second terminals of the second pair of differential input terminals, respectively.
微分差動増幅器は、夫々がゲート、ソース及びドレインを有する第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタを更に有する。前記第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタのソースは、前記第1の高電源出力端子へ結合されており、前記第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタのゲートは、前記第1のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されている。 The differential differential amplifier further includes first and second load current control PMOS transistors each having a gate, a source and a drain. The sources of the first and second load current control PMOS transistors are coupled to the first high power supply output terminal, and the gates of the first and second load current control PMOS transistors are connected to the first high power output PMOS transistor. Coupled to the first output terminal of the bias regulator.
夫々がゲート、ソース及びドレインを有する第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタも設けられている。前記第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタのソースは、相互に、及び前記低電源出力端子に結合されている。前記第1及び第2の電流制御NMOSトランジスタのゲートは、夫々、差分入力端子の第1の対の第1及び第2の端子へ結合されている。前記第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタのゲートは、夫々、差分入力端子の第2の対の第1及び第2の端子へ結合されている。 First, second, third, and fourth current control NMOS transistors are also provided, each having a gate, source, and drain. The sources of the first, second, third and fourth current control NMOS transistors are coupled to each other and to the low power supply output terminal. The gates of the first and second current control NMOS transistors are coupled to first and second terminals of a first pair of differential input terminals, respectively. The gates of the third and fourth current control NMOS transistors are coupled to the first and second terminals of the second pair of differential input terminals, respectively.
微分差動増幅器は、夫々がゲート、ソース及びドレインを有する第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタを更に有する。前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのソースは、前記第1の低電源出力端子へ結合されており、前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのゲートは、前記第1のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されている。 The differential differential amplifier further includes first and second load current control NMOS transistors each having a gate, a source and a drain. The sources of the first and second load current control NMOS transistors are coupled to the first low power output terminal, and the gates of the first and second load current control NMOS transistors are the first and second load current control NMOS transistors. Coupled to the second output terminal of the bias regulator.
夫々がゲート端子と、少なくとも1つのソース端子と、ドレイン端子とを有する第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路も設けられている。前記第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路の少なくとも1つのソース端子は、前記第1及び第4の電流制御PMOSトランジスタのドレインへ、並びに前記第1の負荷電流制御PMOSトランジスタのドレインへ結合されている。前記第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路の少なくとも1つのソース端子は、前記第2及び第3の電流制御PMOSトランジスタのドレインへ、並びに前記第2の負荷電流制御PMOSトランジスタのドレインへ結合されている。前記第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記第2のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されている。前記第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記第2のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されている。 First and second voltage controlled PMOS transistor circuits are also provided, each having a gate terminal, at least one source terminal, and a drain terminal. At least one source terminal of the first voltage control PMOS transistor circuit is coupled to the drains of the first and fourth current control PMOS transistors and to the drain of the first load current control PMOS transistor. At least one source terminal of the second voltage control PMOS transistor circuit is coupled to the drains of the second and third current control PMOS transistors and to the drain of the second load current control PMOS transistor. The gate terminal of the first voltage control PMOS transistor circuit is coupled to the first output terminal of the second bias regulator. The gate terminal of the second voltage control PMOS transistor circuit is coupled to the second output terminal of the second bias regulator.
更に、夫々がゲート端子と、少なくとも1つのソース端子と、ドレイン端子とを有する第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路が設けられている。前記第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路の少なくとも1つのソース端子は、前記第1及び第4の電流制御NMOSトランジスタのドレインへ、並びに前記第1の負荷電流制御NMOSトランジスタのドレインへ結合されている。前記第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路の少なくとも1つのソース端子は、前記第2及び第3の電流制御NMOSトランジスタのドレインへ、並びに前記第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのドレインへ結合されている。前記第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記第2のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されている。前記第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記第2のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されている。 In addition, first and second voltage controlled NMOS transistor circuits each having a gate terminal, at least one source terminal, and a drain terminal are provided. At least one source terminal of the first voltage control NMOS transistor circuit is coupled to the drains of the first and fourth current control NMOS transistors and to the drain of the first load current control NMOS transistor. At least one source terminal of the second voltage control NMOS transistor circuit is coupled to the drains of the second and third current control NMOS transistors and to the drain of the second load current control NMOS transistor. The gate terminal of the first voltage controlled NMOS transistor circuit is coupled to the first output terminal of the second bias regulator. The gate terminal of the second voltage controlled NMOS transistor circuit is coupled to the second output terminal of the second bias regulator.
前記第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路及び前記第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路のドレイン端子は、一対の差分出力端子の第1の端子へ結合されている。前記第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路及び前記第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路のドレイン端子は、前記一対の差分出力端子の第2の端子へ結合されている。 The drain terminals of the second voltage control PMOS transistor circuit and the second voltage control NMOS transistor circuit are coupled to a first terminal of a pair of differential output terminals. The drain terminals of the first voltage control PMOS transistor circuit and the first voltage control NMOS transistor circuit are coupled to a second terminal of the pair of differential output terminals.
他の実施例では、前記第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタのゲートは、夫々、前記第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合されている。前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのゲートは、夫々、前記第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合されている。前記第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記第2のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されている。前記第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記第2のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されている。前記第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記第2のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されている。前記第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記バイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されている。 In another embodiment, the gates of the first and second load current control PMOS transistors are coupled to first and second output terminals of the second bias regulator, respectively. The gates of the first and second load current control NMOS transistors are coupled to first and second output terminals of the second bias regulator, respectively. The gate terminal of the first voltage control PMOS transistor circuit is coupled to the first output terminal of the second bias regulator. The gate terminal of the second voltage control PMOS transistor circuit is coupled to the second output terminal of the second bias regulator. The gate terminal of the first voltage controlled NMOS transistor circuit is coupled to the first output terminal of the second bias regulator. The gate terminal of the second voltage controlled NMOS transistor circuit is coupled to the second output terminal of the bias regulator.
更なる他の実施例では、前記第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタのゲートは、夫々、前記第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合されている。前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのゲートは、夫々、前記第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合されている。前記第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記第1のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されている。前記第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路のゲート端子は、前記第1のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されている。 In yet another embodiment, the gates of the first and second load current control PMOS transistors are coupled to first and second output terminals of the second bias regulator, respectively. The gates of the first and second load current control NMOS transistors are coupled to first and second output terminals of the second bias regulator, respectively. The gate terminals of the first and second voltage control PMOS transistor circuits are coupled to the first output terminal of the first bias regulator. The gate terminals of the first and second voltage controlled NMOS transistor circuits are coupled to a second output terminal of the first bias regulator.
本発明により、より幅広いCMRに亘って効率的に動作するよう構成されたDDAを提供することが可能となる。また、望ましくは、DDAは、ノイズに対して増大した許容範囲を有することが可能となる。また、より一層望ましくは、DDAは、低電圧で動作することが可能となる。 The present invention makes it possible to provide a DDA configured to operate efficiently over a wider CMR. Desirably, the DDA can also have an increased tolerance for noise. Also more desirably, the DDA can operate at a low voltage.
本願の一部に援用され、且つ、本願の一部を構成する添付の図面は、本発明の実施例を表しており、以下の記述と共に、本発明の利点及び原理を説明するために有用である。 The accompanying drawings, which are incorporated in and constitute a part of this application, illustrate embodiments of the invention and, together with the following description, are useful for explaining the advantages and principles of the invention. is there.
以下、本発明の実施例を詳細に説明する。それら実施例は、添付の図面に表される。可能な限り、同じ参照番号が、同一又は類似する部分を参照するように、全ての図面に亘って使用されうる。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. These embodiments are illustrated in the accompanying drawings. Wherever possible, the same reference numbers may be used throughout the drawings to refer to the same or like parts.
微分差動増幅器(DDA)は、入力電圧の組(VPP、VPN)及び基準電圧の組(VNP、VNN)としてDDAへ印加される2つの異なる入力間の差を増幅するよう構成される。DDAは、下流回路による使用のためのLVDS信号を受信して増幅するよう構成された「低電圧差分信号」(LVDS)の一部として含む様々な用途で使用可能である。 A differential differential amplifier (DDA) is configured to amplify the difference between two different inputs applied to the DDA as a set of input voltages (V PP , V PN ) and a set of reference voltages (V NP , V NN ). Is done. The DDA can be used in a variety of applications, including as part of a “low voltage differential signal” (LVDS) configured to receive and amplify an LVDS signal for use by downstream circuitry.
図4は、本発明に従うDDA410の模範的実施例の回路図である。図4のDDA410は、本発明を説明するためだけに提供され、本発明の適用範囲又は本願で提供される模範的実施例と等価なものを限定するように利用されるべきではない。残りの図面の幾つかに亘って、DDA410は、図5の回路図に示される対象によって表される。
FIG. 4 is a circuit diagram of an exemplary embodiment of
図4に表されるように、DDA410は、入力電圧の組VPP、VPNを夫々受ける第1及び第2の端子420a、420bを有する差動入力端子の第1の組と、基準電圧の組VNP、VNNを夫々受ける第1及び第2の端子420c、420dを有する差動入力端子の第2の組とを有する。DDA410は、また、第1及び第2の端子430a、430bを有する一対の差動出力端子を有する。
As shown in FIG. 4, the
DDA410は、低電圧(VSS)にある低電圧端子470と、高電圧(VDD)にある高電圧端子480とを有する。低電圧VSS及び高電圧VDDのうちの1つ又はそれ以上は、電源から得られる。一実施例において、低電圧VSSは、図4に示されるように、接地である。DDA410は、また、第1及び第2の低電源出力端子450a、450bと、第1及び第2の高電源出力端子460a、460bとを有する。第1及び第2の低電源出力端子450a、450bのうちの1つ又はそれ以上は、低電圧端子470へ結合され、第1及び第2の高電源出力端子460a、460bのうちの1つ又はそれ以上は、高電圧端子480へ結合される。
The
第1のバイアスレギュレータ490は、第1のバイアス電圧を供給する第1の出力端子500と、第2のバイアス電圧を供給する第2の出力端子510とを有する。一実施例において、図4に表されるように、第1のバイアスレギュレータ490は、高電圧VDDへ結合されたソースと、第1の出力端子500へ結合されたドレイン及びソースとを有するPMOSトランジスタ520を有する。第1のバイアスレギュレータ490は、また、低電圧VSSへ結合されたソースと、PMOSトランジスタのドレインへ結合されたドレインと、第2の出力端子510へ結合されたゲートとを有するNMOSトランジスタ530を有する。
The
DDA410は、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dを更に有する。トランジスタ540a〜540dの夫々は、ゲート、ソース及びドレインを有する。電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dのソースは、相互に及び第2の高電源出力端子460bに結合されている。第1及び第2の電流制御PMOSトランジスタ540a、540bのゲートは、夫々、差動入力端子の第1の対の第1及び第2の端子420a、420bへ結合されている。第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540c、540dのゲートは、夫々、差動入力端子の第2の対の第1及び第2の端子420c、420dへ結合されている。
The
DDA410は、また、第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bを更に有する。トランジスタ550a、550bの夫々は、ゲート、ソース及びドレインを有する。負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのソースは、第1の高電源出力端子460aへ結合されている。負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのゲートは、第1のバイアスレギュレータ490の第1の出力端子500へ結合されている。
The
更に、DDA410は、第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dを更に有する。トランジスタ560a〜560dの夫々は、また、ゲート、ソース及びドレインを有する。それらのソースは、相互に及び第2の低電源出力端子450bに結合されている。第1及び第2の電流制御NMOSトランジスタ560a、560bのゲートは、夫々、差動入力端子の第1の対の第1及び第2の端子420a、420bへ結合されている。第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560c、560dのゲートは、夫々、差動入力端子の第2の対の第1及び第2の端子420c、420dへ結合されている。
The
更に、DDA410は、第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bを更に有する。負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bの夫々は、ゲート、ソース及びドレインを有する。それらのトランジスタのソースは、第1の低電源出力端子450aへ結合されており、ゲートは、第1のバイアスレギュレータ490の第2の出力端子510へ結合されている。
Further, the
第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dは、相互にほぼ同じ電気特性を有しても良い。また、第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bは、相互にほぼ同じ電気特性、及び第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dよりも高い導電率を有しても良い。第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dは、また、相互にほぼ同じ電気特性を有しても良い。更に、第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bは、相互にほぼ同じ電気特性、及び第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dよりも高い導電率を有しても良い。
The first, second, third and fourth current
DDA410は、第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bを有する。回路610a、610bの夫々は、ゲート端子、ソース端子及びドレイン端子を有する1つ又はそれ以上のPMOSトランジスタ610a1、610b1を夫々有する。第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路610aのソース端子は、第1及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a、540dのドレインへ並びに第1の負荷電流制御PMOSトランジスタ550aのドレインへ、ノード590aで結合されている。第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610bのソース端子は、第2及び第3の電流制御PMOSトランジスタ540b、540cのドレインへ並びに第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550bのドレインへ、ノード590bで結合されている。第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bも設けられ、回路620a、620bの夫々は、ゲート端子、ソース端子及びドレイン端子を有する1つ又はそれ以上のNMOSトランジスタ620a1、620b1を夫々有する。第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路620aのソース端子は、第1及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a、560dのドレインへ並びに第1の負荷電流制御NMOSトランジスタ570aのドレインへ、ノード590cで結合されている。第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620bのソース端子は、第2及び第3の電流制御NMOSトランジスタ560b、560cのドレインへ並びに第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ570bのドレインへ、ノード590dで結合されている。
The
一対の差動出力端子の第1の端子430aは、第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610bのドレイン端子へ及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620bのドレイン端子へ結合されている。一対の差動出力端子の第2の端子430bは、第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路610aのドレイン端子へ及び第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路620aのドレイン端子へ結合されている。
The first terminal 430a of the pair of differential output terminals is coupled to the drain terminal of the second voltage control
第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bは、相互にほぼ同じ電気特性を有しても良い。第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bは、また、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dよりも高い導電率を有しても良い。更に、第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bは、相互にほぼ同じ電気特性を有しても良い。更に、第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bは、第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dよりも高い導電率を有しても良い。
The first and second voltage control
第2のバイアスレギュレータ630は、第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路610aのゲート端子及び第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路620aのゲート端子へ、第1の出力端子635aで結合され、第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610bのゲート端子及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620bのゲート端子へ、第2の出力端子635bで結合されている。
The
第2のバイアスレギュレータ630の1つの模範的実施例が、図4には示されている。この実施例において、第2のバイアスレギュレータ630は、第1の端子及び第2の端子を有する第1の抵抗器640aを有する。第1の抵抗器640aの第1の端子は、一対の差動出力端子の第2の端子430bへ結合されている。第2の抵抗器640bは、また、第1の端子及び第2の端子を有する。第2の抵抗器640bの第1の端子は、第1の抵抗器640aの第2の端子へ、第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bのゲート端子へ、並びに第1及び第2のNMOSトランジスタ回路620a、620bのゲート端子へ結合されている。第2の抵抗器640bの第2の端子は、一対の差動出力端子の第1の端子430aへ結合されている。近似的に一対の差動出力端子430a、430bでの第1及び第2の差分出力電圧VCP、VCNの大きさの平均値である大きさの中心電圧VCMは、ノード645で発生する。一例としては、第2のバイアスレギュレータ630の第1及び第2の抵抗器640a、640bは、ほぼ同じ電気抵抗を有する。
One exemplary embodiment of the
図6は、第2のバイアスレギュレータ630の他の実施例の回路図を示す。第2のバイアスレギュレータ630に関する本実施例は、また、一対の差動出力端子VCP、VCNの中心電圧VCMを発生させる。第2のバイアスレギュレータ630は、第1、第2、第3、第4、第5及び第6のNMOSトランジスタ650a〜650fを有する。更に、第1及び第2のPMOSトランジスタ660a、660bが設けられる。トランジスタ650a〜650f、660a、660bの夫々は、ゲート、ソース及びドレインを有する。
FIG. 6 shows a circuit diagram of another embodiment of the
第1、第2、第3及び第4のNMOSトランジスタ650a〜650dのソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。第1及び第2のNMOSトランジスタ650a、650bのドレインは、第5のNMOSトランジスタ650eのソースへ結合されている。第3及び第4のNMOSトランジスタ650c、650dのドレインは、第6のNMOSトランジスタ650fのソースへ結合されている。第5のNMOSトランジスタ650eのドレインは、第5のNMOSトランジスタ650eのゲートへ、第6のNMOSトランジスタ650fのゲートへ、第1のPMOSトランジスタ660aのドレインへ、並びに第1及び第2のPMOSトランジスタ660a、660bのゲートへ結合されている。第6のNMOSトランジスタ650fのドレインは、第2のPMOSトランジスタ660bのドレインへ結合されている。第1及び第2のPMOSトランジスタ660a、660bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。第3及び第4のNMOSトランジスタ650c、650dのゲートは、相互に、第6のNMOSトランジスタ650fのドレインへ、並びに第1及び第2の出力端子635a、635bへ結合されている。第1のNMOSトランジスタ650aのゲートは、DDA410の一対の差動出力端子の第2の端子430bへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ650bのゲートは、DDA410の一対の差動出力端子の第1の端子430aへ結合されている。
First, the source of the second, third and fourth NMOS transistors 650a~650d is to receive the low voltage V SS, is coupled to the
図7は、第2のバイアスレギュレータ630の更なる他の模範的実施例の回路図である。第2のバイアスレギュレータ630に関する本実施例において、第1及び第2の出力端子635a、635bは、DDA410の一対の差動出力端子の第2の端子430bへ結合されている。従って、第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a及び第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路610aのゲート端子は、第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610b及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620bのゲート端子へ、並びに一対の差動出力端子の第2の端子430bへ結合されている。
FIG. 7 is a circuit diagram of yet another exemplary embodiment of the
図8は、第2のバイアスレギュレータ630の更なる模範的実施例の回路図である。本実施例の第2のバイアスレギュレータ630は、第1、第2及び第3の抵抗器670a〜670cを有する。抵抗器670a〜670cの夫々は、第1の端子及び第2の端子を有する。第1の抵抗器670aの第2の端子及び第2の抵抗器670bの第1の端子は、相互に結合されており、第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610b及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620bのゲート端子へ結合するために、第2の出力端子635bへ結合されている。第2の抵抗器670bの第2の端子及び第3の抵抗器670cの第1の端子は、相互に結合されており、第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a及び第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路620aのゲート端子へ結合するために、第1の出力端子635aへ結合されている。第1の抵抗器670aの第1の端子は、DDA410の一対の差動出力端子の第2の端子430bへ結合されている。第3の抵抗器670cの第2の端子は、DDA410の一対の差動出力端子の第1の端子430aへ結合されている。
FIG. 8 is a circuit diagram of a further exemplary embodiment of the
電圧制御PMOS及びNMOSトランジスタ回路610a、610b、620a、620bのために、第2のバイアスレギュレータ630の第1及び第2の出力端子635aと635bとの間の共通モード電圧は、DDA410の差分出力電圧VCP、VCNの中心電圧VCMへの負のフィードバックをもたらし、一方、第2のバイアスレギュレータ630の第1及び第2の出力端子635aと635bとの間の正の差分電圧は、DDA410の差分出力電圧VCP、VCNへの正のフィードバックをもたらす。従って、図8の第2のバイアスレギュレータ630は、DDA410を比較器として機能させる。
For the voltage control PMOS and
DDA410は、図4に示されるように、低電圧VSS及び高電圧VDDをDDA410へ結合するよう、スイッチング電圧源440を有しても良い。スイッチング電圧源440は、(i)第1の低電源出力端子450a及び第2の高電源出力端子460bの夫々、又は(ii)第2の低電源出力端子450b及び第1の高電源出力端子460aの夫々のいずれかを、低電圧端子470及び高電圧端子480へ選択的に結合するよう構成されている。
DDA410, as shown in FIG. 4, to couple the low voltage V SS and the high voltage V DD to DDA410, may have a switching
図4のスイッチング電圧源440の一実施例が図9に表される。スイッチング電圧源440に関する本実施例は、第1及び第2のスイッチングNMOSトランジスタ680a、680bを有する。トランジスタ680a、680bの夫々は、ゲート、ソース及びドレインを有する。第1のスイッチングNMOSトランジスタ680aのドレインは、第1の低電源出力端子450aへ結合されている。第2のスイッチングNMOSトランジスタ680bのドレインは、第2の低電源出力端子450bへ結合されている。第1及び第2のスイッチングNMOSトランジスタ680a、680bのソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。
One embodiment of the switching
本実施例のスイッチング電圧源440は、また、第1及び第2のスイッチングPMOSトランジスタ690a、690bを有する。トランジスタ690a、690bの夫々は、ゲート、ソース及びドレインを有する。第1のスイッチングPMOSトランジスタ690aのドレインは、第1の高電源出力端子460aへ結合されている。第2のスイッチングPMOSトランジスタ690bのドレインは、第2の高電源出力端子460bへ結合されている。第1及び第2のスイッチングPMOSトランジスタ690a、690bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。
The switching
第1及び第2のインバータ700a、700bも、スイッチング電圧源440に関する本実施例中に設けられている。第1及び第2のインバータ700a、700bの夫々は、入力端子及び出力端子を有する。第1のインバータ700aの出力端子は、第2のインバータ700bの出力端子へ並びに第1のスイッチングNMOSトランジスタ680a及び第1のスイッチングPMOSトランジスタ690aのゲートへ結合されている。第1のインバータ700aの入力端子は、第1の入力電圧VPPを受けるよう、差動入力端子の第1の対の第1の端子420aへ結合されており、第2のインバータ700bの入力端子は、第2の入力端子VPNを受けるよう、差動入力端子の第1の対の第2の端子420bへ結合されている。
The first and
スイッチング電圧源440は、入力端子及び出力端子を有する第3のインバータ710を更に有する。第3のインバータ710の入力端子は、第1及び第2のインバータ700a、700bの出力端子へ結合されており、第3のインバータ710の出力端子は、第2のスイッチングNMOSトランジスタ680b及び第2のスイッチングPMOSトランジスタ690bのゲートへ結合されている。
The switching
ゲート、ソース及びドレインを有する負荷電流制御PMOSトランジスタ720も設けられている。負荷電流制御PMOSトランジスタ720のソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。負荷電流制御PMOSトランジスタ720のドレインは、第1及び第2のインバータ700a、700bの出力端子へ結合されており、負荷電流制御PMOSトランジスタ720のゲートは、第3のインバータ710の出力端子へ結合されている。
A load current
更に、ゲート、ソース及びドレインを有する負荷電流制御NMOSトランジスタ730が設けられている。負荷電流制御NMOSトランジスタ730のソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。負荷電流制御NMOSトランジスタ730のドレインは、第1及び第2のインバータ700a、700bの出力端子へ結合されており、負荷電流制御NMOSトランジスタ720のゲートは、第3のインバータ710の出力端子へ結合されている。
Further, a load current
動作時に、差動入力電圧VPP、VPNの第1の対及び差動入力電圧VNP、VNNの第2の対の値が、図9の第1及び第2のインバータ700a、700b並びに負荷電流制御PMOSトランジスタ720によって決定される、より高い閾値電圧よりも高いと、第2の低電源出力端子450bは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合され、第1の高電源出力端子460aは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合される。電流制御NMOSトランジスタ560a〜560d及び負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bは作動し、電流INPP、INPN、INNP、INNNが、夫々、差動入力端電圧VPP、VPN、VNP、VNNに夫々対応する大きさで、第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dを流れる。
In operation, the values of the first pair of differential input voltages V PP , V PN and the second pair of differential input voltages V NP , V NN are the first and
図4に戻り、第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550b、第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610b、並びに第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bが、第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dの導電率よりも大きい導電率を有する場合には、第1及び第2の電流制御NMOSトランジスタ560a、560bは、式1、
(1) VDNP,VDNN=VDD−VthN−|VthP|−VDSP
によって示されるように、十分に一定に保たれたドレイン電圧VDNP、VDNNを、ノード590c、590dにおいて夫々有する。なお、VthPは、第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bのPMOSトランジスタの閾値電圧であり、VthNは、第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bのNMOSトランジスタの閾値電圧であり、VDSPは、負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのドレイン−ソース間電圧である。負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bの導電率は、電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dの導電率よりも大きいので、VDSPは、十分に小さい(即ち、VDSP〜0)。
Returning to FIG. 4, the first and second load current
(1) V DNP , V DNN = V DD −V thN − | V thP | −V DSP
As shown by, the drain voltages V DNP and V DNN are kept sufficiently constant at
第1及び第2の電流制御NMOSトランジスタ560a、560bのドレイン電圧VDNP、VDNNが、電圧VPP−VthN、VPN−VthN、VNP−VthN、VNN−VthNよりも低く保たれる場合には、第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dは、3極(非飽和)領域で動作し、一対の差動入力電圧(VPP−VPN、VNP−VNN)の夫々の電圧間の差は、式2、
(2) IP−IN=G1・(VDD−VthN−|VthP|−VDSP)[(VPP−VPN)−(VNP−VNN)]
によって示されるように、電圧VPP−VPN及びVNP−VNNに比例する差分電流IP−INをもたらす。なお、G1は一定である。差分電流IP−INは、差分電流IP−INに近似的に比例する差分出力電圧VCP−VCNをもたらす。従って、差分電圧VCP−VCNは、式3、
(3) VCP−VCN=R・(IP−IN)
=R・G1・(VDD−VthN−|VthP|−VDSP)[(VPP−VPN)−(VNP−VNN)]
によって与えられる。なお、Rは一定である。
The drain voltages V DNP and V DNN of the first and second current
(2) I P -I N =
As it is shown by the results in the differential current I P -I N proportional to the voltage V PP -V PN and V NP -V NN. Incidentally, a G 1 is constant. Differential current I P -I N results in a differential output voltage V CP -V CN to approximately proportional to the difference current I P -I N. Therefore, the differential voltage V CP −V CN is given by Equation 3,
(3) V CP -V CN = R · (I P -I N)
= R · G 1 · (V DD −V thN − | V thP | −V DSP ) [(V PP −V PN ) − (V NP −V NN )]
Given by. Note that R is constant.
差分入力電圧VPP、VPN、VNP、VNNの第1及び第2の対の値が、図9の第1及び第2のインバータ700a、700b並びに負荷電流制御NMOSトランジスタ730によって決定される、より低い閾値電圧よりも低いと、第1の低電源出力端子450aは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合され、第2の高電源出力端子460bは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合され、電流制御PMOSトランジスタ540a〜540d及び負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bは作動する。電流IPPP、IPPN、IPNP、IPNNが、夫々、差動入力端電圧VPP、VPN、VNP、VNNに夫々対応する大きさで、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dを流れる。第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570b、第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610b、並びに第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bの導電率が、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dの導電率よりも大きい場合には、第1及び第2の電流制御PMOSトランジスタ540a、540bのドレイン電圧VDPP、VDPNは、夫々、ノード590a、590bの夫々において、式4、
(4) VDPP,VDPN=VthN+|VthP|+VDSN
によって示されるように、十分に同じ電圧に保たれる。なお、VDSNは、負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのドレイン−ソース間電圧である。
The first and second pair values of the differential input voltages V PP , V PN , V NP , V NN are determined by the first and
(4) V DPP , V DPN = V thN + | V thP | + V DSN
Is kept at the same voltage sufficiently. V DSN is a drain-source voltage of the load current
第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dのドレイン電圧VDPP、VDPNが、電圧VPP+|VthP|、VPN+|VthP|、VNP+|VthP|、VNN+|VthP|よりも高く保たれる場合には、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dは、3極領域で動作し、電圧VPP−VPN、VNP−VNNは、式5、
(5) IP−IN=G2・(VDD−VthN−|VthP|−VDSN)[(VPP−VPN)−(VNP−VNN)]
によって示されるように、2つの差分入力電圧VPP−VPN及びVNP−VNNの間の差に近似的に比例する差分電流IP−INをもたらす。なお、G2は一定である。差分電流IP−INは、差分電流IP−INに比例する差分出力電圧VCP−VCNをもたらす。従って、差分電圧(VCP−VCN)の間の差は、式6、
(6) VCP−VCN=R2・(IP−IN)
=R2・G2・(VDD−VthN−|VthP|−VDSP)[(VPP−VPN)−(VNP−VNN)]
によって与えられる。なお、R2は一定である。
The drain voltages V DPP and V DPN of the first, second, third and fourth current
(5) I P -I N =
As indicated by the results in the differential current I P -I N be approximately proportional to the difference between the two differential input voltage V PP -V PN and V NP -V NN. Incidentally, a G 2 is constant. Differential current I P -I N results in a differential output voltage V CP -V CN proportional to the difference current I P -I N. Therefore, the difference between the differential voltages (V CP −V CN ) is
(6) V CP -V CN =
= R 2 · G 2 · (V DD −V thN − | V thP | −V DSP ) [(V PP −V PN ) − (V NP −V NN )]
Given by. R 2 is constant.
従って、DDA410は、望ましく幅広い共通モード範囲(CMR)に亘って効率的に動作することができる。この幅広いCMRは、幅広い入力範囲を必要とする用途において有利となりうる。例えば、DDA410は、以下でより詳細に記述されるように、LVDS受信器におけるDDA410の適用の際に、幅広い入力範囲に亘って改善された性能を有しうる。
Thus, the
負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550b及び負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのドレイン−ソース間電圧VDSP、VDSNは、夫々、比較的小さくすることができるので、電流制御PMOSトランジスタ540a〜540d及び電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dのドレイン−ソース間電圧も比較的小さい場合には、高電圧VDDは、式7、
(7) VDD>VthN+|NthP|
に従って、電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bのNMOトランジスタの閾値電圧VthNと、電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bのPMOSトランジスタの閾値電圧|VthP|との和にほぼ近い。従って、DDA410は、高電圧VDDの望ましく低いレベルで動作することができる。DDA410において電流制御トランジスタ540a〜540d、560a〜560dを流れる電流は、電圧制御トランジスタ回路610a、610b、620a、620bによって、及び負荷電流制御トランジスタ550a、550b、570a、570bによって制限される。たとえ高電圧VDDが増大するとしても、DDA410の全電流消費は、第1のバイアスレギュレータ490の第1の出力端子500から負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bへの電圧を保つことによって、十分に一定で、低いレベルに保たれうる。
Since the drain-source voltages V DSP and V DSN of the load current
(7) V DD > V thN + | N thP |
Accordingly, the threshold voltage V thN of the NMO transistor of the voltage control
更に、DDA410は、バンドギャップ基準回路又は精密なキャパシタ若しくは抵抗器のような特別なアナログ回路部品に対する必要性を伴わずに制御されうる。更に、DDA410の個々の電子部品は、従来のCMOSロジック製造工程に従って製造可能である。
Furthermore, the
一例としては、図10の模範的実施例の回路図に表されるように、単一出力DDA720は、DDA410と、第1及び第2の入力端子745a、745bを有する単一出力演算増幅器730とを有する。DDA410の一対の差動出力端子の第1及び第2の端子430a、430bは、単一出力演算増幅器730の第1及び第2の入力端子745a、745bへ夫々結合されている。
As an example, as represented in the schematic diagram of the exemplary embodiment of FIG. 10, a
図11は、図10の単一出力DDA720における単一出力演算増幅器730の模範的実施例の回路図である。単一出力演算増幅器730は、第1及び第2のNMOSトランジスタ740a、740bを有する。第1及び第2のPMOSトランジスタ750a、750bも設けられている。NMOS及びPMOSトランジスタの夫々は、ゲート、ソース及びドレインを有する。第1及び第2のNMOSトランジスタ740a、740bのソースは、図11に示された接地のような低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。第1及び第2のPMOSトランジスタ750a、750bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。第1のNMOSトランジスタ740aのドレインは、第1のPMOSトランジスタ750aのドレインへ並びに第1及び第2のPMOSトランジスタ750a、750bのゲートへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ740bのゲートは、単一出力演算増幅器730の第2の入力端子745bへ結合されている。第1のNMOSトランジスタ740aのゲートは、単一出力演算増幅器730の第1の入力端子745aへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ740b及び第2のPMOSトランジスタ750bのドレインは、図11に示されるように、単一出力演算増幅器730のシングルエンド出力760へ結合されている。
FIG. 11 is a circuit diagram of an exemplary embodiment of a single output
他の例としては、図12の模範的実施例の回路図に表されるように、差動出力DDA770は、DDA410及び差動出力演算増幅器775を有する。差動出力演算増幅器775は、第1及び第2の入力端子780a、780bを有する。DDA410の一対の差動出力端子の第1及び第2の端子430a、430bは、差動出力演算増幅器775の第1及び第2の入力端子780a、780bへ夫々結合されている。
As another example, as shown in the circuit diagram of the exemplary embodiment of FIG. 12, the
図13は、差動出力DDA770における差動出力演算増幅器775の模範的実施例の回路図である。差動出力演算増幅器775は、第1及び第2のNMOSトランジスタ782a、782bを有する。第1及び第2のPMOSトランジスタ784a、784bも設けられている。個々のNMOS及びPMOSトランジスタは、ゲート、ソース及びドレインを有する。差動出力演算増幅器775は、第1及び第2の抵抗器786、788を更に有し、個々の抵抗器は、第1の端子及び第2の端子を有する。
FIG. 13 is a circuit diagram of an exemplary embodiment of a differential output
第1及び第2のNMOSトランジスタ782a、782bのソースは、図13に示された接地のような低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。第1及び第2のPMOSトランジスタ784a、784bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。第1の抵抗器786の第2の端子は、第2の抵抗器788の第1の端子へ並びに第1及び第2のPMOSトランジスタ784a、784bのゲートへ結合されている。第1のNMOSトランジスタ782aのゲートは、差動出力演算増幅器775の第1の入力端子780aへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ782bのゲートは、差動出力演算増幅器775の第2の入力端子780bへ結合されている。第1のNMOSトランジスタ782aのドレインは、第1のPMOSトランジスタ784aのドレインへ、第1の抵抗器786の第1の端子へ、及び一対の増幅された差動出力端子の第2の端子790bへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ782bのドレインは、第2のPMOSトランジスタ784bのドレインへ、第2の抵抗器788の第2の端子へ、及び一対の増幅された差動出力端子の第1の端子790aへ結合されている。
First and
更なる他の例としては、図14の模範的実施例の回路図に表されるように、差動出力微分差動比較器820は、DDA410及び差動出力比較器830を有する。差動出力比較器830は、第1及び第2の入力端子880a、880bと、一対の比較器差動出力端子の第1及び第2の端子910a、910bとを有する。DDA410の一対の差動出力端子の第1及び第2の端子430a、430bは、夫々、差動出力比較器830の第1及び第2の入力端子880a、880bへ結合されている。
As yet another example, the differential output differential
図15は、図14の差動出力微分差動比較器820における差動出力比較器830の模範的実施例の回路図である。差動出力比較器830は、第1及び第2のNMOSトランジスタ850a、850bを有する。第1及び第2のPMOSトランジスタ860a、860bも設けられている。個々のトランジスタ850a、850b、860a、860bは、ゲート、ソース及びドレインを有する。第1、第2及び第3の抵抗器870,880,890も設けられている。個々の抵抗器は、第1の端子及び第2の端子を有する。
FIG. 15 is a circuit diagram of an exemplary embodiment of a
第1及び第2のNMOSトランジスタ850a、850bのソースは、図15に示された接地のような低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。第1及び第2のPMOSトランジスタ860a、860bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。第1の抵抗器870の第2の端子及び第2の抵抗器880の第1の端子は、第2のPMOSトランジスタ860bのゲートへ結合されている。第2の抵抗器880の第2の端子及び第3の抵抗器890の第1の端子は、第1のPMOSトランジスタ860aのゲートへ結合されている。第1のNMOSトランジスタ850aのゲートは、差動出力比較器830の第1の入力端子880aへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ850bのゲートは、差動出力比較器830の第2の入力端子880bへ結合されている。第1のNMOSトランジスタ850aのドレインは、第1のPMOSトランジスタ860aのドレインへ、第1の抵抗器870の第1の端子へ、及び一対の比較器差動出力端子の第2の端子910bへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ850bのドレインは、第2のPMOSトランジスタ860bのドレインへ、第3の抵抗器890の第2の端子へ、及び一対の比較器差動出力端子の第1の端子910aへ結合されている。
First and second NMOS transistors 850a, a source of 850b is to receive the low voltage V SS, such as ground shown in FIG. 15, is coupled to the
図16は、図10に示したDDA720のような単一出力DDAを有する差動受信器920の模範的実施例の回路図である。差動受信器920は、オフセット発生器930を有する。オフセット発生器930は、第1、第2及び第3のキャパシタ940a〜940cを有する。キャパシタの夫々は、第1の端子及び第2の端子を有する。第1、第2、第3及び第4のスイッチ950a〜950dも設けられている。個々のスイッチは、第1の端子及び第2の端子を有する。第1のスイッチ950aの第1の端子は、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。第1のスイッチ950aの第2の端子は、第1のキャパシタ940aの第1の端子へ及び第2のスイッチ950bの第2の端子へ結合されている。第2のスイッチ950bの第1の端子は、第3のスイッチ950cの第1の端子へ、第2のキャパシタ940bの第2の端子へ、第3のキャパシタ940cの第2の端子へ、及び高電圧VDDのおよそ半分の電圧レベルである電圧VDD/2へ結合されている。第3のスイッチ950cの第2の端子は、第1のキャパシタ940aの第2の端子へ、第2のキャパシタ940bの第1の端子へ、及び第4のスイッチ950dの第1の端子へ結合されている。第4のスイッチ950dの第2の端子は、第3のキャパシタ940cの第1の端子へ結合されている。
FIG. 16 is a circuit diagram of an exemplary embodiment of a
差動電圧セレクタ960は、単一出力DDA720の差動入力端子の第2の対の第1及び第2の端子420c、420dへ、(i)第3のキャパシタ940cの第1及び第2の端子の夫々、又は(ii)第3のキャパシタ940cの第2及び第1の端子の夫々を、単一出力DDA720の出力に依存して選択的に結合するように設けられている。例えば、差動電圧セレクタ960は、図16に示されるように、更なる一対のスイッチを有しても良い。
The
図17は、図12に示した差動出力DDA770のような差動出力DDAを有する差動受信器970の他の模範的実施例の回路図である。オフセット電圧発生器990の他の模範的実施例は、差動出力DDA770の基準電圧入力に印加されるオフセット電圧を発生させるよう構成されている。
FIG. 17 is a circuit diagram of another exemplary embodiment of a
オフセット電圧発生器は、第1、第2及び第3の抵抗器1000a〜1000cを有する。抵抗器1000a〜1000cの夫々は、第1及び第2の端子を有する。第1の抵抗器1000aの第1の端子は、差動出力DDA770の一対の差動出力端子の第1の端子430aへ結合されている。第1の抵抗器1000aの第2の端子は、第2の抵抗器1000bの第1の端子へ、及び差動出力DDA770の差動入力端子の第2の対の第2の端子420dへ結合されている。第2の抵抗器1000bの第2の端子は、第3の抵抗器1000cの第1の端子へ、及び差動出力DDA770の差動入力端子の第2の対の第1の端子420cへ結合されている。第3の抵抗器1000cの第2の端子は、差動出力DDA770の一対の差動出力端子の第2の端子430bへ結合されている。
The offset voltage generator includes first, second and
図18は、差動受信器を形成するように、DDA410の差動入力端子の第2の対の第1及び第2の端子420c、420dへ印加される基準オフセット電圧を供給するよう構成されたオフセット電圧発生器1010の更なる他の模範的実施例の回路図である。
FIG. 18 is configured to provide a reference offset voltage that is applied to the first and
オフセット電圧発生器1010は、第1、第2、第3、第4、第5及び第6のNMOSトランジスタ1040a〜1040fを有する中心電圧発生器1030を有する。個々のトランジスタは、ゲート、ソース及びドレインを有する。第1、第2、第3及び第4のNMOトランジスタ1040a〜1040dのソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。第1及び第2のNMOSトランジスタ1040a、1040bのドレインは、第5のNMOSトランジスタ1040eのソースへ結合されている。第3及び第4のNMOSトランジスタ1040c、1040dのドレインは、第6のNMOSトランジスタ1040fのソースへ結合されている。第1のNMOSトランジスタ1040aのゲートは、一対の差動出力端子の第2の端子430bへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ1040bのゲートは、一対の差動出力端子の第1の端子430aへ結合されている。
The offset
中心電圧発生器1030は、第1及び第2のPMOSトランジスタ1050a、1050bを更に有する。個々のトランジスタは、ゲート、ソース及びドレインを有する。第5のNMOSトランジスタ1040eのドレインは、第5のNMOSトランジスタ1040eのゲートへ、第6のNMOSトランジスタ1040fのゲートへ、第1のPMOSトランジスタ1050aのドレインへ、並びに第1及び第2のPMOSトランジスタ1050a、1050bのゲートへ結合されている。第3のNMOSトランジスタ1040cのゲートは、第4のNMOSトランジスタ1040dのゲートへ、第6のNMOSトランジスタ1040fのドレインへ、及び第2のPMOSトランジスタ1050bのドレインへ結合されている。第1及び第2のPMOSトランジスタ1050a、1050bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。差分出力電圧VCP及びVCNの中心電圧VCMは、第6のNMOSトランジスタ1040fのドレインで供給される。
The
オフセット電圧発生器1010は、ゲート、ソース及びドレインを有するPMOSトランジスタ1060を有する第1のオフセット電圧回路1055を更に有する。第1、第2及び第3のNMOSトランジスタ1070a〜1070bが、また、設けられており、個々のトランジスタは、ゲート、ソース及びドレインを有する。PMOSトランジスタ1060のソースは、高電圧VDDへ結合されている。PMOSトランジスタ1060のゲートは、中心電圧発生器1030の第2のPMOSトランジスタ1050bのゲートへ結合されている。第3のNMOSトランジスタ1070cのドレインは、PMOSトランジスタ1060のドレインへ、第1のNMOSトランジスタ1070aのゲートへ、及びDDA410の差動入力端子の第2の対の第1の端子420cへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ1070bのゲートは、ノード645において、中心電圧VCMを受けるよう、中心電圧発生器1030の第4のNMOSトランジスタ1040dのゲートへ結合されている。第3のNMOSトランジスタ1070cのゲートは、中心電圧発生器1030の第6のNMOSトランジスタ1040fのゲートへ結合されている。
The offset
オフセット電圧発生器1010は、ゲート、ソース及びドレインを有するPMOSトランジスタ1080を有する第2のオフセット電圧回路1075を更に有する。PMOSトランジスタ1080のゲートは、第1のオフセット電圧回路1055のPMOSトランジスタ1060のゲートへ、及び中心電圧発生器1030の第2のPMOSトランジスタ1050bのゲートへ結合されている。PMOSトランジスタ1080のソースは、高電圧VDDへ結合されている。第1、第2及び第3のNMOSトランジスタ1090a〜1090cも設けられており、個々のトランジスタは、ゲート、ソース及びドレインを有する。第3のNMOSトランジスタ1090cのドレインは、PMOSトランジスタ1080のドレインへ、第1のNMOSトランジスタ1090aのゲートへ、及びDDA410の差動入力端子の第2の対の第2の端子420dへ結合されている。第2のNMOSトランジスタ1090bのゲートは、第1のオフセット電圧回路1055の第2のNMOSトランジスタ1070bのゲートへ結合されている。第3のNMOSトランジスタ1090cのゲートは、第1のオフセット電圧回路1055の第3のNMOSトランジスタ1070cのゲートへ結合されている。
The offset
中心電圧発生器1030の第1、第2、第3及び第4のNMOSトランジスタ1040a〜1040d、並びに第1及び第2のオフセット電圧回路1055、1075の第2のNMOSトランジスタ1070b、1090bは、ほぼ同じ電気的特性を有しても良い。第1のオフセット電圧回路1055の第1のNMOSトランジスタ1070aは、第2のNMOSトランジスタ1070bの導電率よりも小さい導電率を有しても良い。第2のオフセット電圧回路1075の第1のNMOSトランジスタ1090aは、第2のNMOトランジスタ1090bの導電率よりも大きい導電率を有しても良い。
The first, second, third and
中心電圧発生器1030の第5及び第6のNMOSトランジスタ1040e、1040f、並びに第1及び第2のオフセット電圧回路1055、1075の第3のNMOSトランジスタ1070c、1090cは、ほぼ同じ電気的特性を有しても良い。中心電圧発生器1030の第1及び第2のPMOSトランジスタ1050a、1050b、並びに第1及び第2のオフセット電圧回路1055、1075のPMOSトランジスタ1060、1080は、ほぼ同じ電気的特性を有しても良い。
The fifth and
図16、17及び18の模範的実施例に表されるようなオフセット電圧発生器930、990、1010が夫々使用される場合には、それらの図に関して夫々記述されたLVDS受信器920、970、1010の夫々の出力電圧(単一出力ではVout、差動出力ではVout=VoutP−VoutN)は、第1及び第2の差動入力電圧(Vin=VPP−VPN)の間の差に対してヒステリシス電圧Vhを有するよう適合される。ヒステリシス電圧Vhは、オフセット電圧発生器930、990、1010の2つの端子420c、420dの間のノードで与えられる。ヒステリシス電圧Vhは、Vh=VNP−VNNであっても良い。
If offset
図19は、入力電圧の差がより高い閾値電圧(Vh)へと増大し、より高い閾値電圧を横切り、より低い閾値電圧(−Vh)へと戻り、より低い電圧を横切るように、入力電圧の差(Vin)の関数としての出力電圧(Vout)のプロットを示すグラフである。 FIG. 19 shows that the input voltage difference increases to a higher threshold voltage (V h ), crosses the higher threshold voltage, returns to the lower threshold voltage (−V h ), and crosses the lower voltage. FIG. 6 is a graph showing a plot of output voltage (V out ) as a function of input voltage difference (V in ).
図20は、利得変調入力端子1110を有するDDA1100の回路図である。利得変調入力端子1110に結合された変調装置1120は、出力信号(VCP、VCN)を変調するよう、変調信号をDDA410へ入力することができる。式(3)又は(6)に示したように、DDA410の利得は、電源からの高電圧VDDと、負荷電流制御トランジスタ550a、550b、570a、570bのドレイン−ソース間電圧VDSP、VDSNによって変調可能である。負荷電流制御トランジスタ550a、550b、570a、570bのドレイン−ソース間電圧VDSP、VDSNは、第1のバイアスレギュレータ490の第1及び第2の出力端子500、510によって制御可能である。例えば、変調装置1120は、差動出力端子430a、430bにおける出力信号(VCP、VCN)を変調するよう、図4に示した第1のバイアスレギュレータ490の第2のバイアス出力端子510へ変調信号を入力しても良い。
FIG. 20 is a circuit diagram of a
図21は、DDA1200の他の実施例の回路図である。本実施例において、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dのソース並びに第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dのソース並びに第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。
FIG. 21 is a circuit diagram of another embodiment of the
第1のバイアスレギュレータ490は、第1及び第2の抵抗器1210a、1210bを有する。抵抗器1210a、1210bの夫々は、第1の端子及び第2の端子を有する。入力端子及び出力端子を有するシュミットインバータ1220も設けられている。第1の抵抗器1210aの第2の端子は、第2の抵抗器1210bの第2の端子へ、及びシュミットインバータ1220の入力端子へ結合されている。シュミットインバータ1220の出力端子は、第1のバイアスレギュレータ490の第1及び第2の出力端子500、510へ結合されている。第1の抵抗器1210aの第1の端子は、第1の入力電圧VPPを受けるよう、差動入力端子の第1の対の第1の端子420aへ結合されており、一方、第2の抵抗器1210bの第1の端子は、第2の入力電圧VPNを受けるよう、差動入力端子の第1の対の第2の端子420bへ結合されている。
The
差動入力電圧VPP、VPN、VNP、VNNの第1及び第2の対が第1のバイアスレギュレータ490のシュミットインバータ1220のより高い閾値電圧よりも高いと、シュミットインバータ1220は低電圧を出力する。結果として、負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bはオンとされ、負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bはオフとされる。負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bが電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dの導電率よりも十分に高い導電率を有する場合には、負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのドレイン−ソース間電圧VDSPは相対的に小さい。従って、電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dを流れる電流は、電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dを流れる電流よりも十分に小さいので、電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dを流れる電流は、近似計算の目的のために無視可能である。差分出力電圧(VCP−VCN)の間の差は、上記式(3)によって近似可能である。
When the first and second pairs of differential input voltages V PP , V PN , V NP , V NN are higher than the higher threshold voltage of the
同様に、差動入力電圧VPP、VPN、VNP、VNNの第1及び第2の対が第1のバイアスレギュレータ490のシュミットインバータ1220のより低い閾値電圧よりも低いと、シュミットインバータ1220は高電圧を出力する。結果として、負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bはオフとされ、負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bはオンとされる。負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bが電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dの導電率よりも十分に高い導電率を有する場合には、負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのドレイン−ソース間電圧VDSNは相対的に小さい。従って、電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dを流れる電流は、電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dを流れる電流よりも十分に小さいので、電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dを流れる電流は、近似計算の目的のために無視可能である。差分出力電圧(VCP−VCN)の間の差は、DDA1200が要望通りに動作することを示す上記式(6)によって近似可能である。
Similarly, when the first and second pairs of differential input voltages V PP , V PN , V NP , V NN are lower than the lower threshold voltage of the
図21のDDA1200は、他の微分差動増幅器よりも、シリコン基板のより小さい領域のような、より小さい物理的領域を占有するので、ある用途において有利となりうる。例えば、図21のDDA1200は、DDA1200の第1及び第2の抵抗器1210a、1210b並びにシュミットインバータ1220がDDA410の第1のバイアスレギュレータ490及びスイッチング電圧源に置き換わるので、図4のDDA410よりも小さい領域を占有しうる。
The
図22は、DDA1300の他の実施例の回路図である。本実施例において、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dのソース並びに第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dのソース並びに第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。
FIG. 22 is a circuit diagram of another embodiment of the
第1のバイアスレギュレータ490のPMOSトランジスタ520のソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。PMOSトランジスタ520のドレイン及びゲートは、第1のバイアスレギュレータ490の第1の出力端子500へ結合されている。第1のバイアスレギュレータ490のNMOSトランジスタ530のソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。NMOSトランジスタ530のドレイン及びゲートは、PMOSトランジスタ520のドレインへ、及び第1のバイアスレギュレータ490の第2の出力端子510へ結合されている。DDA1300の第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのゲートは、第1のバイアスレギュレータ490の第1の出力端子500へ結合されており、第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのゲートは、第1のバイアスレギュレータ490の第2の出力端子510へ結合されている。
The source of
動作時に、第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550b並びに第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bは、長時間に亘って十分に一定の電流を供給する。電流制御PMOSトランジスタ540a〜540d及び電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dは、ほぼ同時にオンとされる。負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのドレイン−ソース間電圧VDSP及び負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのドレイン−ソース間電圧VDSNが小さくなるように選択される場合には、式8及び9、
(8) VCM=VthN+Δ
(9) VDD=VthN+|VthP|+Δ
によって示されるように、差分出力電圧VCP、VCNの(ノード645における)中心電圧VCMは、電圧制御NMOSトランジスタ620a、620bの閾値電圧VthNに達し、高電圧VDDは、閾値電圧の和(VthN+|VthP|)に達する。なお、Δは比較的小さな値である。
In operation, the first and second load current
(8) V CM = V thN + Δ
(9) V DD = V thN + | V thP | + Δ
The center voltage V CM (at node 645) of the differential output voltages V CP , V CN reaches the threshold voltage V thN of the voltage controlled
差動入力電圧VPP、VPN、VNP、VNNの第1及び第2の対が差分出力電圧VCP、VCNの(ノード645における)中心電圧VCMよりも高いと、電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dはオフとされ、電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dは、3極領域で動作する。従って、差分出力電圧の間の差(VCP−VCN)は、式10によって与えられる。
When the first and second pairs of differential input voltages V PP , V PN , V NP , V NN are higher than the center voltage V CM (at node 645) of differential output voltages V CP , V CN , current
(10) VCP−VCN=R・G1・VDSN・[(VPP−VPN)−(VNP−VNN)]
差動入力電圧VPP、VPN、VNP、VNNの第1及び第2の対が差分出力電圧VCP、VCNの(ノード645における)中心電圧VCMよりも低いと、電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dはオフとされ、電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dは、3極領域で動作する。従って、差分出力電圧の間の差(VCP−VCN)は、式11によって与えられる。
(10) V CP −V CN = R · G 1 · V DSN · [(V PP −V PN ) − (V NP −V NN )]
When the first and second pairs of differential input voltages V PP , V PN , V NP , V NN are lower than the center voltage V CM (at node 645) of differential output voltages V CP , V CN , current
(11) VCP−VCN=R・G2・VDSP・[(VPP−VPN)−(VNP−VNN)]
従って、DDA1300は、要望通りに動作する。
(11) V CP −V CN = R · G 2 · V DSP · [(V PP −V PN ) − (V NP −V NN )]
Accordingly,
差分入力VNP、VNNの第2の対が中心電圧VCMの近くで一定である場合には、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540c、540d並びに第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560c、560dは、ほぼ同時に、オンとされて3極領域で動作する。第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550b並びに第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bは、ほぼ同時にオンとされるので、差分入力VPP、VPNの第1の対は、VSSに近い値からVDDに近い値へ変化可能であり、一方、差分入力VNP、VNNの第2の対は、中心電圧VCMの近くで一定である。図4の電圧スイッチング電源440のような電圧スイッチング電源又は図21のシュミットインバータ1220のようなシュミットインバータを用いないと、2つの閾値電圧の間には遷移領域が存在せず、DDA1300の動作は、十分に幅広い共通モード入力範囲の全体に亘って継続する。
If the second pair of differential inputs V NP , V NN is constant near the center voltage V CM , the third and fourth current
図23は、DDA1400の他の実施例の回路図である。本実施例において、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dのソース並びに第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dのソース並びに第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。
FIG. 23 is a circuit diagram of another embodiment of the
第1のバイアスレギュレータ490は、如何なる個別電子部品をも含まない。むしろ、本実施例における第1のバイアスレギュレータ490は、第1のバイアスレギュレータ490の第1の出力端子500の、第1のバイアスレギュレータ490の第2の出力端子510への結合及び第2のバイアスレギュレータ630の第1の出力端子635aへの結合を有する。従って、第1の負荷電流制御PMOSトランジスタ550aのゲート及び第1の負荷電流制御NMOSトランジスタ570aのゲートは、第2のバイアスレギュレータ630の第1の出力端子635aへ結合されている。更に、第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550bのゲート及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570bのゲートは、第2のバイアスレギュレータ630の第2の出力端子635bへ結合されている。
The
動作時に、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540c、第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOトランジスタ560a〜560d、第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550b、並びに第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bは、図22のDDA1300におけるトランジスタと同じく、ほぼ同時にオンとされる。第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのドレイン−ソース間電圧VDSP及び第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのドレイン−ソース間電圧VDSNが小さくなるように選択される場合には、式12及び13、
(12) VCM=VthN+Δ
(13) VDD=VthN+VthP+Δ
によって示されるように、差分出力電圧VCP、VCNの(ノード645における)中心電圧VCMは、閾値電圧VthNにほぼ近くなり、高電圧VDDは、閾値電圧VthN、|VthP|の和にほぼ近くなる。
In operation, first, second, third and fourth current
(12) V CM = V thN + Δ
(13) V DD = V thN + V thP + Δ
, The center voltage V CM (at node 645) of the differential output voltages V CP , V CN is approximately close to the threshold voltage V thN , and the high voltage V DD is the threshold voltage V thN , | V thP | Nearly the sum of
差動入力電圧VPP、VPNの第1の対が中心電圧VCMよりも高いと、第1及び第2の電流制御NMOSトランジスタ560a、560bは、3極領域で動作し、一方、第1及び第2の電流制御PMOSトランジスタ540a、540bはオフとされる。差動入力電圧VPP、VPNの第1の対が中心電圧VCMよりも低いと、第1及び第2の電流制御PMOSトランジスタ540a、540bは、3極領域で動作し、一方、第1及び第2の電流制御NMOSトランジスタ560a、560bはオフとされる。
When the first pair of differential input voltages V PP and V PN is higher than the center voltage V CM , the first and second current
差動入力電圧VNP、VNNの第2の対が中心電圧VCMに近いと、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540c、540d並びに第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560c、560dは、オンとされて3極領域で動作する。
When the second pair of differential input voltages V NP and V NN is close to the center voltage V CM , the third and fourth current
第2のバイアスレギュレータ630の第1及び第2の出力端子635a、635bの電圧が、図23に示すように、ノード645における中心電圧VCMとほぼ同じであると、第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bを流れる電流は、ほぼ同じ大きさとなり、第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bを流れる電流は、ほぼ同じ大きさとなる。このような状況下で、図23のDDA1400は、図22のDDA1300に類似した動作をする。
First and
しかし、図8の第2のバイアスレギュレータ630が図23のDDA1400において使用されると、第2のバイアスレギュレータ630の第1の出力端子635aの電圧と第2の出力端子635bの電圧とは、異なる。この電圧差は、第1の負荷電流制御NMOSトランジスタ570aを流れる電流と、第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570bを流れる電流との間の差とともに、第1の負荷電流制御PMOSトランジスタ550aを流れる電流と、第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550bを流れる電流との間の差を含み、このような差は、差分出力電圧VCP、VCNへの正のフィードバックをもたらす。このような状況下で、DDA1400は、微分差動比較器として、利得を増大させながら動作する。
However, when the
電圧制御PMOトランジスタ回路610a、610b及び電圧制御NMOトランジスタ回路620a、620b、並びに、負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550b及び負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bの使用によって、第2のバイアスレギュレータ630の第1及び第2の出力端子635a、635bの共通モード電圧は、中心電圧VCMへの負のフィードバックをもたらし、一方、第2のバイアスレギュレータ630の第1及び第2の出力端子635a、635bの間の正の差分電圧は、差分出力電圧VCP、VCNへの正のフィードバックをもたらす。従って、DDA1400は、微分差動比較器よりも安定した中心電圧及び大きな利得を有しうる。
The use of voltage control
更に、図23のDDA1400の第1のバイアスレギュレータ490は、如何なる電子部品も含まないので、DDA1400は、有利に小さくなるよう製造可能である。例えば、DDA1400は、シリコンの望ましく小さい領域上に形成可能である。
Further, since the
図24は、DDA1500の他の実施例の回路図である。本実施例において、第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dのソース並びに第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dのソース並びに第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。
FIG. 24 is a circuit diagram of another embodiment of the
第1のバイアスレギュレータ490のPMOSトランジスタ520のソースは、高電圧VDDを受けるよう、高電圧端子480へ結合されている。PMOSトランジスタ520のドレイン及びゲートは、第1のバイアスレギュレータ490の第1の出力端子500へ結合されている。第1のバイアスレギュレータ490のNMOSトランジスタ530のソースは、低電圧VSSを受けるよう、低電圧端子470へ結合されている。NMOSトランジスタ530のドレイン及びゲートは、第1のバイアスレギュレータ490の第2の出力端子510へ結合されている。PMOSトランジスタ520及びNMOSトランジスタ530のドレインは、抵抗器1510へ結合されている。第1のバイアスレギュレータ490の第1の出力端子500は、第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bのゲート端子へ結合されており、第1のバイアスレギュレータ490の第2の出力端子510は、第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bのゲート端子へ結合されている。
The source of
DDA1500の第1の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a及び第1の負荷電流制御NMOSトランジスタ570aのゲートは、第2のバイアスレギュレータ630の第1の出力端子635aへ結合されている。第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550b及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570bのゲートは、第2のバイアスレギュレータ630の第2の出力端子635bへ結合されている。
The gates of the first load current
動作時に、負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのドレイン−ソース間電圧VDSP並びに負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのドレイン−ソース間電圧VDSNが、第1のバイアスレギュレータ490の第1及び第2の出力端子の電圧を選択することによって、小さくなるよう選択される場合には、差分出力電圧VCP、VCNの(ノード645における)中心電圧VCMは、およそVDD/2に保たれ、第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550b並びに第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bは、オフとされて、長時間に亘って十分に一定の電流を供給する。電流制御PMOSトランジスタ540a〜540d及び電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dは、ほぼ同時にオンとされて、3極領域で動作する。
In operation, the drain-source voltage V DSP of the load current
電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bのゲート端子及び電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bのゲート端子の電圧は、VDDの幅広い範囲で十分に一定に保たれるので、電流制御PMOSトランジスタ540a〜540d及び電流制御NMOSトランジスタ560a〜560dは、VDDの幅広い範囲において、3極領域で動作する。
Since the voltages at the gate terminals of the voltage control
図25は、DDA1600の他の実施例の回路図である。図24のDDA1500と比較して、DDA1600の第1のバイアスレギュレータ490は、図4に示した第1のバイアスレギュレータ490である。第2のバイアスレギュレータ630は、単一出力を有するよう、図7の第2のバイアスレギュレータ630である。DDA1500の回路の抵抗器の欠如は、標準的なロジックプロセスを用いる、より容易な実施を可能にする。
FIG. 25 is a circuit diagram of another embodiment of the
図26は、DDA1700の更なる他の実施例の回路図である。図25のDDA1600と比較して、電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610b及び電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bは、夫々、(PMOSトランジスタ610a1〜610a3、610b1〜610b3として示された)3つのPMOSトランジスタと、(NMOSトランジスタ620a1〜620a3、620b1〜620b3として示された)3つのNMOSトランジスタとを有する。第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bの第1のPMOSトランジスタ610a1、610b1のソースは、夫々、第1及び第2の電流制御PMOSトランジスタ540a、540bのドレインへ結合されている。第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bの第2のPMOSトランジスタ610a2、610b2のソースは、夫々、第4及び第3の電流制御PMOSトランジスタ540d、540cのドレインへ結合されている。第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bの第3のPMOSトランジスタ610a3、610b3のソースは、夫々、第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550bのドレインへ結合されている。
FIG. 26 is a circuit diagram of still another embodiment of the
第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bの第1のNMOSトランジスタ620a1、620b1のソースは、夫々、第1及び第2の電流制御NMOSトランジスタ560a、560bのドレインへ結合されている。第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bの第2のNMOSトランジスタ620a2、620b2のソースは、夫々、第4及び第3の電流制御NMOSトランジスタ560d、560cのドレインへ結合されている。第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路620a、620bの第3のPMOSトランジスタ620a3、620b3のソースは、夫々、第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ570a、570bのドレインへ結合されている。第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ550a、550b並びに電流制御PMOSトランジスタ540a〜540dは、第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路610a、610bのPMOSトランジスタ610a1〜610a3m610b1〜610b3によって分離されるので、DDA1700は、差分入力が変化する場合に、より安定しうる。
The sources of the first NMOS transistors 620a1, 620b1 of the first and second voltage control
本発明を構成する実施例は、その実施例に関して相当に詳細に記述されているが、他の変形が可能である。例えば、DDA410の個別電子部品は、本願で具体的構造の例として挙げられるものと等価な他の電子的構造を有しても良い。更に、「第1」、「第2」、「第3」及び「第4」のような、相対的又は前後関係に依存する語は、模範的実施例に関して使用され、置き換えが可能である。従って、添付の特許請求の範囲は、本願に含まれる実施例の説明に限定されるべきではない。
While the embodiments making up the present invention have been described in considerable detail with reference to those embodiments, other variations are possible. For example, the individual electronic components of the
110、920、970、1010 LVDS受信器
410、1100〜1700 DDA
420a、b、c、d 差動入力端子
430a、b 差動出力端子
440 スイッチング電圧源
450a、b 低電源出力端子
460a、b 高電源出力端子
470 低電圧端子
480 高電圧端子
490、630 バイアスレギュレータ
540a〜540d 電流制御PMOSトランジスタ
550a、b 負荷電流制御PMOSトランジスタ
560a〜560d 電流制御NMOSトランジスタ
570a、b、720 負荷電流制御NMOSトランジスタ
610a、b 電圧制御PMOSトランジスタ回路
620a、b 電圧制御NMOSトランジスタ回路
640a、b 抵抗器
700a、b、
710 インバータ
720 単一出力DDA
730 単一出力演算増幅器
770 差動出力DDA
775 差動出力演算増幅器
820 差動出力微分差動比較器
830 差動出力比較器
920、970 差動出力受信器
930、990、1010 オフセット電圧発生器
1030 中心電圧発生器
VDD、VSS 電圧
VPP、VPN 入力電圧
VNP、VNN 基準電圧
VCP、VCN 差分出力電圧
VCM 中心電圧
VDNP、VDNN ドレイン−ソース間電圧
VthP、VthN 閾値電圧
110, 920, 970, 1010
420a, b, c, d
710
730 Single Output
775 differential output
Claims (17)
第1のバイアス電圧を供給する第1の出力端子及び第2のバイアス電圧を供給する第2の出力端子を有する第1のバイアスレギュレータと、
第1及び第2の出力端子を有する第2のバイアスレギュレータと、
相互に及び前記第2の高電源出力端子に結合されたソースと、差動入力端子の第1の対の第1及び第2の端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第1及び第2の電流制御PMOSトランジスタ、並びに相互に及び前記第2の高電源出力端子に結合されたソースと、差動入力端子の第2の対の第1及び第2の端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタと、
前記第1の高電源出力端子へ結合されたソースと、前記第1のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタと、
相互に及び前記第2の低電源出力端子に結合されたソースと、差動入力端子の第1の対の第1及び第2の端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第1及び第2の電流制御NMOSトランジスタ、並びに相互に及び前記第2の低電源出力端子に結合されたソースと、差動入力端子の第2の対の第1及び第2の端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタと、
前記第1の低電源出力端子へ結合されたソースと、前記第1のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタと、
前記第1及び第4の電流制御PMOSトランジスタのドレインへ並びに前記第1の負荷電流制御PMOSトランジスタのドレインへ結合された少なくとも1つのソース端子と、前記第2のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されたゲート端子と、ドレイン端子とを有する第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路、並びに、前記第2及び第3の電流制御PMOSトランジスタのドレインへ並びに前記第2の負荷電流制御PMOSトランジスタのドレインへ結合された少なくとも1つのソース端子と、前記第2のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されたゲート端子と、ドレイン端子とを有する第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路と、
前記第1及び第4の電流制御NMOSトランジスタのドレインへ並びに前記第1の負荷電流制御NMOSトランジスタのドレインへ結合された少なくとも1つのソース端子と、前記第2のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されたゲート端子と、ドレイン端子とを有する第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路、並びに、前記第2及び第3の電流制御NMOSトランジスタのドレインへ並びに前記第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのドレインへ結合された少なくとも1つのソース端子と、前記第2のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されたゲート端子と、ドレイン端子とを有する第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路と、
を有し、
前記第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路及び前記第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路のドレイン端子は、一対の差動出力端子のうちの第1の端子へ結合され、第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路及び第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路のドレイン端子は、前記一対の差動出力端子のうちの第2の端子へ結合される、
ことを特徴とする微分差動増幅器。 One or more of the first and second low power output terminals and one or more of the first and second high power output terminals are coupled to the low voltage terminal and the high voltage terminal, respectively. The first and second low power supply output terminals and the first and second high power supply output terminals,
A first bias regulator having a first output terminal for supplying a first bias voltage and a second output terminal for supplying a second bias voltage;
A second bias regulator having first and second output terminals;
A first having a source coupled to each other and to the second high power output terminal, a gate coupled to the first and second terminals of the first pair of differential input terminals, and a drain, respectively. First and second current control PMOS transistors and a source coupled to each other and to the second high power supply output terminal, and a first and second terminals of a second pair of differential input terminals, respectively. Third and fourth current control PMOS transistors each having a gate and a drain,
First and second load current control PMOS each having a source coupled to the first high power supply output terminal, a gate coupled to the first output terminal of the first bias regulator, and a drain. A transistor,
A first having a source coupled to each other and to the second low power output terminal, a gate coupled to the first and second terminals of the first pair of differential input terminals, and a drain, respectively. First and second current control NMOS transistors and a source coupled to each other and to the second low power supply output terminal, and to a first and second terminals of a second pair of differential input terminals, respectively. Third and fourth current control NMOS transistors each having a gate and a drain;
First and second load current control NMOS each having a source coupled to the first low power supply output terminal, a gate coupled to a second output terminal of the first bias regulator, and a drain. A transistor,
At least one source terminal coupled to the drains of the first and fourth current control PMOS transistors and to the drain of the first load current control PMOS transistor and to the first output terminal of the second bias regulator. A first voltage controlled PMOS transistor circuit having a coupled gate terminal and a drain terminal; to the drains of the second and third current controlled PMOS transistors; and to the drain of the second load current controlled PMOS transistor A second voltage controlled PMOS transistor circuit having at least one source terminal coupled, a gate terminal coupled to a second output terminal of the second bias regulator, and a drain terminal;
At least one source terminal coupled to the drains of the first and fourth current control NMOS transistors and to the drain of the first load current control NMOS transistor, and to the first output terminal of the second bias regulator. A first voltage controlled NMOS transistor circuit having a coupled gate terminal and a drain terminal; to the drains of the second and third current controlled NMOS transistors; and to the drain of the second load current controlled NMOS transistor A second voltage controlled NMOS transistor circuit having at least one source terminal coupled, a gate terminal coupled to a second output terminal of the second bias regulator, and a drain terminal;
Have
The drain terminals of the second voltage control PMOS transistor circuit and the second voltage control NMOS transistor circuit are coupled to a first terminal of a pair of differential output terminals, and the first voltage control PMOS transistor circuit and A drain terminal of the first voltage controlled NMOS transistor circuit is coupled to a second terminal of the pair of differential output terminals;
A differential differential amplifier characterized by that.
前記第1の低電源出力端子へ結合されたドレインと、前記低電圧端子へ結合されたソースと、ゲートとを有する第1のスイッチングNMOSトランジスタ、及び前記第2の低電源出力端子へ結合されたドレインと、前記低電圧端子へ結合されたソースと、ゲートとを有する第2のスイッチングNMOSトランジスタと、
前記第1の高電源出力端子へ結合されたドレインと、前記高電圧端子へ結合されたソースと、ゲートとを有する第1のスイッチングPMOSトランジスタ、及び前記第2の高電源出力端子へ結合されたドレインと、前記高電圧端子へ結合されたソースと、ゲートとを有する第2のスイッチングPMOSトランジスタと、
出力端子と、前記差動入力端子の第1の対の第2の端子へ結合された入力端子とを有する第2のインバータ、並びに、第2のインバータの出力端子へ並びに前記第1のスイッチングNMOSトランジスタ及び前記第1のスイッチングPMOSトランジスタへ結合された出力端子と、前記差動入力端子の第1の対の第1の端子へ結合された入力端子とを有する第1のインバータと、
前記第1及び第2のインバータの出力端子へ結合された入力端子と、前記第2のスイッチングNMOSトランジスタ及び前記第2のスイッチングPMOSトランジスタのゲートへ結合された出力端子とを有する第3のインバータと、
前記高電圧端子へと結合するためのソースと、前記第1及び第2のインバータの出力端子へ結合されるドレインと、前記第3のインバータの出力端子へ結合されるゲートとを有する負荷電流制御PMOSトランジスタと、
前記低電圧端子へと結合するためのソースと、前記第1及び第2のインバータの出力端子へ結合されるドレインと、前記第3のインバータの出力端子へ結合されるゲートとを有する負荷電流制御NMOSトランジスタと、
を有することを特徴とする、請求項2記載の微分差動増幅器。 The switching voltage source is:
A first switching NMOS transistor having a drain coupled to the first low power output terminal, a source coupled to the low voltage terminal, and a gate; and coupled to the second low power output terminal A second switching NMOS transistor having a drain, a source coupled to the low voltage terminal, and a gate;
A first switching PMOS transistor having a drain coupled to the first high power output terminal; a source coupled to the high voltage terminal; and a gate; and coupled to the second high power output terminal. A second switching PMOS transistor having a drain, a source coupled to the high voltage terminal, and a gate;
A second inverter having an output terminal and an input terminal coupled to a second terminal of the first pair of differential input terminals; and to the output terminal of a second inverter and to the first switching NMOS A first inverter having a transistor and an output terminal coupled to the first switching PMOS transistor; and an input terminal coupled to a first terminal of the first pair of the differential input terminals;
A third inverter having an input terminal coupled to the output terminals of the first and second inverters, and an output terminal coupled to the gates of the second switching NMOS transistor and the second switching PMOS transistor; ,
Load current control having a source for coupling to the high voltage terminal, a drain coupled to the output terminals of the first and second inverters, and a gate coupled to the output terminal of the third inverter. A PMOS transistor;
Load current control having a source for coupling to the low voltage terminal, a drain coupled to the output terminals of the first and second inverters, and a gate coupled to the output terminal of the third inverter. An NMOS transistor;
The differential differential amplifier according to claim 2, further comprising:
前記第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタのソース並びに前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのソースは、前記低電圧端子へ結合される、
ことを特徴とする請求項1記載の微分差動増幅器。 The sources of the first, second, third and fourth current control PMOS transistors and the sources of the first and second load current control PMOS transistors are coupled to the high voltage terminal;
The sources of the first, second, third and fourth current control NMOS transistors and the sources of the first and second load current control NMOS transistors are coupled to the low voltage terminal;
The differential differential amplifier according to claim 1.
前記一対の差動出力端子の第2の端子へ結合された第1の端子、及び第2の端子を有する第1の抵抗器と、
前記第1の抵抗器の第2の端子へ並びに当該第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合された第1の端子と、前記一対の差動出力端子の第1の端子へ結合された第2の端子とを有する第2の抵抗器と、
を有することを特徴とする、請求項1記載の微分差動増幅器。 The second bias regulator includes:
A first terminal coupled to a second terminal of the pair of differential output terminals; and a first resistor having a second terminal;
A first terminal coupled to a second terminal of the first resistor and to the first and second output terminals of the second bias regulator; and a first terminal of the pair of differential output terminals A second resistor having a second terminal coupled to the
The differential differential amplifier according to claim 1, comprising:
ゲート、ソース及びドレインを夫々が有する第1、第2、第3、第4、第5及び第6のNMOSトランジスタと、
前記低電圧端子へと結合するための前記第1、第2、第3及び第4のNMOSトランジスタのソースと、
前記第5のNMOSトランジスタのソースへ結合された前記第1及び第2のNMOSトランジスタのドレインと、
前記第6のNMOSトランジスタのソースへ結合された前記第3及び第4のNMOSトランジスタのドレインと、
前記一対の差動出力端子の第2の端子へ結合された前記第1のNMOSトランジスタのゲートと、
前記一対の差動出力端子の第1の端子へ結合された前記第2のNMOSトランジスタのゲートと、
ゲート、ソース及びドレインを夫々が有する第1及び第2のPMOSトランジスタと、
前記第5のNMOSトランジスタのゲートへ、前記第6のNMOSトランジスタのゲートへ、前記第1のPMOSトランジスタのドレインへ並びに前記第1及び第2のPMOSトランジスタのゲートへ結合された前記第5のNMOSトランジスタのドレインと、
前記第2のPMOSトランジスタのドレインへ結合された前記第6のNMOSトランジスタのドレインと、
前記第4のNMOSトランジスタのゲートへ、前記第6のNMOSトランジスタのドレインへ並びに当該第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合された第3のNMOSトランジスタのゲートと、
前記高電圧端子へと結合するための前記第1及び第2のPMOSトランジスタのソースと、
を有することを特徴とする、請求項1記載の微分差動増幅器。 The second bias regulator includes:
First, second, third, fourth, fifth and sixth NMOS transistors each having a gate, a source and a drain;
Sources of the first, second, third and fourth NMOS transistors for coupling to the low voltage terminal;
The drains of the first and second NMOS transistors coupled to the source of the fifth NMOS transistor;
Drains of the third and fourth NMOS transistors coupled to a source of the sixth NMOS transistor;
A gate of the first NMOS transistor coupled to a second terminal of the pair of differential output terminals;
A gate of the second NMOS transistor coupled to a first terminal of the pair of differential output terminals;
First and second PMOS transistors each having a gate, a source and a drain;
The fifth NMOS coupled to the gate of the fifth NMOS transistor, to the gate of the sixth NMOS transistor, to the drain of the first PMOS transistor, and to the gates of the first and second PMOS transistors. The drain of the transistor;
A drain of the sixth NMOS transistor coupled to a drain of the second PMOS transistor;
A gate of a third NMOS transistor coupled to the gate of the fourth NMOS transistor, to the drain of the sixth NMOS transistor, and to the first and second output terminals of the second bias regulator;
Sources of the first and second PMOS transistors for coupling to the high voltage terminal;
The differential differential amplifier according to claim 1, comprising:
ことを特徴とする請求項1記載の微分差動増幅器。 Gate terminals of the first and second voltage control NMOS transistor circuits and the first and second voltage control PMOS transistor circuits are coupled to a second terminal of the pair of differential output terminals;
The differential differential amplifier according to claim 1.
第1の端子及び第2の端子を夫々が有する第1、第2及び第3の抵抗器を有し、
前記第1の抵抗器の第2の端子は、前記第2の抵抗器の第1の端子へ並びに前記第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路及び前記第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路のゲート端子へ結合され、
前記第2の抵抗器の第2の端子は、前記第3の抵抗器の第1の端子へ並びに前記第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路及び前記第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路のゲート端子へ結合され、
前記第1の抵抗器の第1の端子は、前記一対の差動出力端子の第2の端子へ結合され、
前記第3の抵抗器の第2の端子は、前記一対の差動出力端子の第1の端子へ結合される、
ことを特徴とする請求項1記載の微分差動増幅器。 The second bias regulator includes:
Having first, second and third resistors each having a first terminal and a second terminal;
The second terminal of the first resistor is coupled to the first terminal of the second resistor and to the gate terminals of the second voltage control PMOS transistor circuit and the second voltage control NMOS transistor circuit. And
The second terminal of the second resistor is coupled to the first terminal of the third resistor and to the gate terminals of the first voltage control PMOS transistor circuit and the first voltage control NMOS transistor circuit. And
A first terminal of the first resistor is coupled to a second terminal of the pair of differential output terminals;
A second terminal of the third resistor is coupled to a first terminal of the pair of differential output terminals;
The differential differential amplifier according to claim 1.
前記第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタは、ほぼ同じ電気特性を有し、
前記第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路は、ほぼ同じ電気特性を有し、
前記第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタ及び前記第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路は、前記第1、第2、第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタよりも大きな導電率を有し、
前記第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタは、ほぼ同じ電気特性を有し、
前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタは、ほぼ同じ電気特性を有し、
前記第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路は、ほぼ同じ電気特性を有し、
前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタ及び前記第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路は、前記第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタよりも大きな導電率を有する、
ことを特徴とする請求項1記載の微分差動増幅器。 The first, second, third and fourth current control PMOS transistors have substantially the same electrical characteristics;
The first and second load current control PMOS transistors have substantially the same electrical characteristics;
The first and second voltage controlled PMOS transistor circuits have substantially the same electrical characteristics;
The first and second load current control PMOS transistors and the first and second voltage control PMOS transistor circuits have greater conductivity than the first, second, third and fourth current control PMOS transistors. Have
The first, second, third and fourth current control NMOS transistors have substantially the same electrical characteristics;
The first and second load current control NMOS transistors have substantially the same electrical characteristics;
The first and second voltage controlled NMOS transistor circuits have substantially the same electrical characteristics;
The first and second load current control NMOS transistors and the first and second voltage control NMOS transistor circuits have greater conductivity than the first, second, third and fourth current control NMOS transistors. Have
The differential differential amplifier according to claim 1.
前記高電圧端子へと結合するためのソース、並びに当該第1のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されたドレイン及びゲートを有するPMOSトランジスタと、
前記低電圧端子へと結合するためのソース、並びに前記PMOSトランジスタのドレイン及び当該第1のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されたドレイン及びゲートを有するNMOSトランジスタと、
を有することを特徴とする、請求項1記載の微分差動増幅器。 The first bias regulator includes:
A PMOS transistor having a source for coupling to the high voltage terminal and a drain and gate coupled to a first output terminal of the first bias regulator;
An NMOS transistor having a source for coupling to the low voltage terminal, and a drain and gate coupled to a drain of the PMOS transistor and a second output terminal of the first bias regulator;
The differential differential amplifier according to claim 1, comprising:
入力端子及び出力端子を有するシュミット・インバータと、
第1の端子及び第2の端子を夫々が有する第1及び第2の抵抗器と、を有し、
前記第1の抵抗器の第2の端子は、前記第2の抵抗器の第2の出力端子へ及び前記シュミット・インバータの入力端子へ結合され、
前記シュミット・インバータの出力端子は、当該第1のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合され、
前記第1の抵抗器の第1の端子は、前記差動入力端子の第1の対の第1の端子へ結合され、
前記第2の抵抗器の第1の端子は、前記差動入力端子の第1の対の第2の端子へ結合される、
ことを特徴とする請求項1記載の微分差動増幅器。 The first bias regulator includes:
A Schmitt inverter having an input terminal and an output terminal;
A first resistor and a second resistor each having a first terminal and a second terminal;
A second terminal of the first resistor is coupled to a second output terminal of the second resistor and to an input terminal of the Schmitt inverter;
An output terminal of the Schmitt inverter is coupled to first and second output terminals of the first bias regulator;
A first terminal of the first resistor is coupled to a first pair of first terminals of the differential input terminal;
A first terminal of the second resistor is coupled to a second pair of second terminals of the differential input terminal;
The differential differential amplifier according to claim 1.
ゲート、ソース及びドレインを夫々が有するPMOSトランジスタ並びにNMOSトランジスタと、
第1の端子及び第2の端子を有する抵抗器と、を有し、
前記PMOSトランジスタのソースは、前記高電圧端子へ結合され、
前記PMOSトランジスタのドレインは、前記PMOSトランジスタのゲートへ及び当該第1のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合され、
前記NMOSトランジスタのソースは、前記低電圧端子へ結合され、
前記NMOSトランジスタのドレインは、前記NMOSトランジスタのゲートへ及び当該第1のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合され、
前記抵抗器の第1及び第2の端子は、夫々、当該第1のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合される、
ことを特徴とする請求項1記載の微分差動増幅器。 The first bias regulator includes:
A PMOS transistor and an NMOS transistor each having a gate, a source and a drain;
A resistor having a first terminal and a second terminal;
The source of the PMOS transistor is coupled to the high voltage terminal;
The drain of the PMOS transistor is coupled to the gate of the PMOS transistor and to the first output terminal of the first bias regulator;
A source of the NMOS transistor is coupled to the low voltage terminal;
The drain of the NMOS transistor is coupled to the gate of the NMOS transistor and to the second output terminal of the first bias regulator;
The first and second terminals of the resistor are coupled to first and second output terminals of the first bias regulator, respectively.
The differential differential amplifier according to claim 1.
前記第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路の夫々の少なくとも1つのソース端子は、複数のソース端子を有し、
前記第1及び第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路の夫々のPMOSトランジスタのゲートは、前記PMOSトランジスタ回路のゲート端子へ結合され、前記PMOSトランジスタのドレインは、前記PMOSトランジスタ回路のドレイン端子へ結合され、前記PMOSトランジスタのソースは、前記PMOSトランジスタ回路のソース端子へ夫々結合され、
前記第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路は、夫々、複数のNMOSトランジスタを有し、
前記第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路の夫々の少なくとも1つのソース端子は、複数のソース端子を有し、
前記第1及び第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路の夫々のMMOSトランジスタのゲートは、前記NMOSトランジスタ回路のゲート端子へ結合され、前記NMOSトランジスタのドレインは、前記NMOSトランジスタ回路のドレイン端子へ結合され、前記NMOSトランジスタのソースは、前記NMOSトランジスタ回路のソース端子へ夫々結合される、
ことを特徴とする請求項1記載の微分差動増幅器。 Each of the first and second voltage control PMOS transistor circuits includes a plurality of PMOS transistors,
At least one source terminal of each of the first and second voltage controlled PMOS transistor circuits has a plurality of source terminals;
The gate of each PMOS transistor of the first and second voltage controlled PMOS transistor circuits is coupled to the gate terminal of the PMOS transistor circuit, the drain of the PMOS transistor is coupled to the drain terminal of the PMOS transistor circuit, The sources of the PMOS transistors are respectively coupled to the source terminals of the PMOS transistor circuit;
The first and second voltage control NMOS transistor circuits each have a plurality of NMOS transistors,
At least one source terminal of each of the first and second voltage controlled NMOS transistor circuits has a plurality of source terminals;
The gate of each MMOS transistor of the first and second voltage controlled NMOS transistor circuits is coupled to the gate terminal of the NMOS transistor circuit, the drain of the NMOS transistor is coupled to the drain terminal of the NMOS transistor circuit, The sources of the NMOS transistors are respectively coupled to the source terminals of the NMOS transistor circuits;
The differential differential amplifier according to claim 1.
前記第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタのソース並びに前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのソースは、前記低電圧端子へ結合され、
前記第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタのゲートは、前記第1のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合され、
前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのゲートは、前記第1のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合される、
ことを特徴とする請求項1記載の微分差動増幅器。 The sources of the first, second, third and fourth current control PMOS transistors and the sources of the first and second load current control PMOS transistors are coupled to the high voltage terminal;
The sources of the first, second, third and fourth current control NMOS transistors and the sources of the first and second load current control NMOS transistors are coupled to the low voltage terminal;
Gates of the first and second load current control PMOS transistors are coupled to a first output terminal of the first bias regulator;
Gates of the first and second load current control NMOS transistors are coupled to a second output terminal of the first bias regulator;
The differential differential amplifier according to claim 1.
前記第1、第2、第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタのソース並びに前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのソースは、前記低電圧端子へ結合され、
前記第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタのゲートは、夫々、前記第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合され、
前記第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのゲートは、夫々、前記第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ結合される、
ことを特徴とする請求項1記載の微分差動増幅器。 The sources of the first, second, third and fourth current control PMOS transistors and the sources of the first and second load current control PMOS transistors are coupled to the high voltage terminal;
The sources of the first, second, third and fourth current control NMOS transistors and the sources of the first and second load current control NMOS transistors are coupled to the low voltage terminal;
Gates of the first and second load current control PMOS transistors are respectively coupled to first and second output terminals of the second bias regulator;
The gates of the first and second load current control NMOS transistors are coupled to first and second output terminals of the second bias regulator, respectively.
The differential differential amplifier according to claim 1.
第1のバイアス電圧を供給する第1の出力端子及び第2のバイアス電圧を供給する第2の出力端子を有する第1のバイアスレギュレータと、
第1及び第2の出力端子を有する第2のバイアスレギュレータと、
相互に及び前記第2の高電源出力端子に結合されたソースと、差動入力端子の第1の対の第1及び第2の端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第1及び第2の電流制御PMOSトランジスタ、並びに相互に及び前記第2の高電源出力端子に結合されたソースと、差動入力端子の第2の対の第1及び第2の端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第3及び第4の電流制御PMOSトランジスタと、
前記第1の高電源出力端子へ結合されたソースと、前記第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第1及び第2の負荷電流制御PMOSトランジスタと、
相互に及び前記第2の低電源出力端子に結合されたソースと、差動入力端子の第1の対の第1及び第2の端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第1及び第2の電流制御NMOSトランジスタ、並びに相互に及び前記第2の低電源出力端子に結合されたソースと、差動入力端子の第2の対の第1及び第2の端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第3及び第4の電流制御NMOSトランジスタと、
前記第1の低電源出力端子へ結合されたソースと、前記第2のバイアスレギュレータの第1及び第2の出力端子へ夫々結合されたゲートと、ドレインとを夫々が有する第1及び第2の負荷電流制御NMOSトランジスタと、
前記第1及び第4の電流制御PMOSトランジスタのドレインへ並びに前記第1の負荷電流制御PMOSトランジスタのドレインへ結合された少なくとも1つのソース端子と、前記第1のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されたゲート端子と、ドレイン端子とを有する第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路、並びに、前記第2及び第3の電流制御PMOSトランジスタのドレインへ並びに前記第2の負荷電流制御PMOSトランジスタのドレインへ結合された少なくとも1つのソース端子と、前記第1のバイアスレギュレータの第1の出力端子へ結合されたゲート端子と、ドレイン端子とを有する第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路と、
前記第1及び第4の電流制御NMOSトランジスタのドレインへ並びに前記第1の負荷電流制御NMOSトランジスタのドレインへ結合された少なくとも1つのソース端子と、前記第1のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されたゲート端子と、ドレイン端子とを有する第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路、並びに、前記第2及び第3の電流制御NMOSトランジスタのドレインへ並びに前記第2の負荷電流制御NMOSトランジスタのドレインへ結合された少なくとも1つのソース端子と、前記第1のバイアスレギュレータの第2の出力端子へ結合されたゲート端子と、ドレイン端子とを有する第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路と、
を有し、
前記第2の電圧制御PMOSトランジスタ回路及び前記第2の電圧制御NMOSトランジスタ回路のドレイン端子は、一対の差動出力端子のうちの第1の端子へ結合され、第1の電圧制御PMOSトランジスタ回路及び第1の電圧制御NMOSトランジスタ回路のドレイン端子は、前記一対の差動出力端子のうちの第2の端子へ結合される、
ことを特徴とする微分差動増幅器。 One or more of the first and second low power output terminals and one or more of the first and second high power output terminals are coupled to the low voltage terminal and the high voltage terminal, respectively. The first and second low power supply output terminals and the first and second high power supply output terminals,
A first bias regulator having a first output terminal for supplying a first bias voltage and a second output terminal for supplying a second bias voltage;
A second bias regulator having first and second output terminals;
A first having a source coupled to each other and to the second high power output terminal, a gate coupled to the first and second terminals of the first pair of differential input terminals, and a drain, respectively. First and second current control PMOS transistors and a source coupled to each other and to the second high power supply output terminal, and a first and second terminals of a second pair of differential input terminals, respectively. Third and fourth current control PMOS transistors each having a gate and a drain,
First and second each having a source coupled to the first high power supply output terminal, a gate coupled to the first and second output terminals of the second bias regulator, and a drain, respectively. A load current control PMOS transistor;
A first having a source coupled to each other and to the second low power output terminal, a gate coupled to the first and second terminals of the first pair of differential input terminals, and a drain, respectively. First and second current control NMOS transistors and a source coupled to each other and to the second low power supply output terminal, and to a first and second terminals of a second pair of differential input terminals, respectively. Third and fourth current control NMOS transistors each having a gate and a drain;
First and second each having a source coupled to the first low power supply output terminal, a gate coupled to the first and second output terminals of the second bias regulator, and a drain, respectively. A load current control NMOS transistor;
At least one source terminal coupled to the drains of the first and fourth current control PMOS transistors and to the drain of the first load current control PMOS transistor, and to the first output terminal of the first bias regulator. A first voltage controlled PMOS transistor circuit having a coupled gate terminal and a drain terminal; to the drains of the second and third current controlled PMOS transistors; and to the drain of the second load current controlled PMOS transistor A second voltage controlled PMOS transistor circuit having at least one source terminal coupled, a gate terminal coupled to a first output terminal of the first bias regulator, and a drain terminal;
At least one source terminal coupled to the drains of the first and fourth current control NMOS transistors and to the drain of the first load current control NMOS transistor, and to the second output terminal of the first bias regulator. A first voltage controlled NMOS transistor circuit having a coupled gate terminal and a drain terminal; to the drains of the second and third current controlled NMOS transistors; and to the drain of the second load current controlled NMOS transistor A second voltage controlled NMOS transistor circuit having at least one source terminal coupled, a gate terminal coupled to a second output terminal of the first bias regulator, and a drain terminal;
Have
The drain terminals of the second voltage control PMOS transistor circuit and the second voltage control NMOS transistor circuit are coupled to a first terminal of a pair of differential output terminals, and the first voltage control PMOS transistor circuit and A drain terminal of the first voltage controlled NMOS transistor circuit is coupled to a second terminal of the pair of differential output terminals;
A differential differential amplifier characterized by that.
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CN100562353C (en) * | 2004-10-21 | 2009-11-25 | 松下电器产业株式会社 | Oxygen-permeable film, oxygen see through sheet and comprise their battery |
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