JP4270147B2 - マイクロ波回路装置 - Google Patents

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この発明は、例えば、通信装置やレーダ装置などに用いられるマイクロ波回路装置に関し、特に、マイクロ波信号を入出力するために導体シャーシに設けられた同軸コネクタの導体芯線と、導体シャーシ内に設けられた誘電体基板上に形成されたマイクロストリップ線路との接続部の構成に係るマイクロ波回路装置に関するものである。
通信装置やレーダ装置などに用いられるマイクロ波回路装置においては、導体シャーシにマイクロ波信号を入出力するための同軸コネクタを設け、この同軸コネクタの導体芯線を、導体シャーシに設けた穴を介して導体シャーシ内に貫入し、この貫入した導体芯線と導体シャーシ内に設けた電子回路などを有する誘電体基板上に形成したマイクロストリップ線路を、半田などにより接続するのであるが、導体芯線とマイクロストリップ線路を直接接続すると、マイクロ波信号の入出力の際に生じる発熱による導体シャーシと誘電体基板の熱膨張率の差から、導体芯線とマイクロストリップ線路の接続部に熱ストレスが生じ、接続部が破断する場合がある。
このため、通常は、同軸コネクタの導体芯線と誘電体基板上に形成したマイクロストリップ線路の接続部に生じる熱ストレスを吸収するために、導体芯線とマイクロストリップ線路の間を、柔軟性のある導体リボンを用いて接続している。
このような、導体芯線とマイクロストリップ線路を、導体リボンを介して接続するマイクロ波回路装置に係る接続部としては、例えば、導体芯線とマイクロストリップ線路を直列かつ重畳しないように配設し、この導体芯線とマイクロストリップ線路を、導体リボンを熱圧着させて接続したものがある。(例えば、特許文献1参照)
また、別のマイクロ波回路装置に係る接続部として、マイクロストリップ線路を導体芯線に対して、直列かつ重畳しないように配設すると共に、マイクロストリップ線路の端部から順に、一部の幅を変えて、キャパシタンスとなる低インピーダンスマイクロストリップ線路およびインダクタンスとなる高インピーダンスマイクロストリップ線路からなる整合回路を形成し、導体芯線と低インピーダンスマイクロストリップ線路を、導体リボンを介して半田により接続したものがある。(例えば、特許文献2参照)
特開昭63−6903号公報(第2、3頁、第1図) 実開平5−9005号公報(第10、11頁、第1図)
マイクロ波回路装置は、通常、マイクロ波回路装置を構成する各部を、反射を生じないように特性インピーダンスが50Ωになるようにするのであるが、導体芯線とマイクロストリップ線路の接続部においては、特性インピーダンスが、接続部の構成に大きく依存するため、特許文献1に記載の従来のマイクロ波回路装置に係る導体芯線とマイクロストリップ線路の接続部においては、特性インピーダンスが、反射の無い50Ωから外れて反射が生じ、その結果反射特性が悪くなるため、必要とするマイクロ波信号の入出力電力が得られないという問題があった。
また、特許文献2に記載の従来のマイクロ波回路装置に係る導体芯線とマイクロストリップ線路の接続部おいては、前述した特許文献1における接続部の反射特性を改善するために、接続部近傍に位置するマイクロストリップ線路の端部から、マイクロストリップ線路の幅を変えて、順に、低インピーダンスマイクロストリップ線路および高インピーダンスマイクロストリップ線路から成る整合回路を形成することにより、所定の周波数に対して、接続部の特性インピーダンスが、反射の無い50Ωになるよう整合を行うものであるが、整合可能な周波数帯が狭く、このため広い周波数帯に対応させるためには、必要とする周波数毎に、接続部の特性インピーダンスが50Ωになるように、低インピーダンスマイクロストリップ線路と高インピーダンスマイクロストリップ線路の幅を変えた整合回路を有したマイクロ波回路装置を準備しなければならないという問題があった。
この従来技術である特許文献1および特許文献2の結果を示す一例として、図16に、通信装置やレーダ装置で実用される1〜20GHzの周波数帯に対して計算した、マイクロ波回路装置の接続部に係る反射特性を示す。図16において、反射特性は、入射電圧に対する反射電圧の比をログスケール(反射特性=−20log|反射電圧/入射電圧|)表示(dB表示)したもので、負値になるほど反射電圧が少なくなるため、反射特性が良くなることを示している。通常、反射電圧が入射電圧の十分の一になる−20dBを基準値とし、反射特性が、この基準値−20dB以下になることを目標としている。
図16において、20は特許文献1に係るマイクロ波回路装置における反射特性の計算結果を示し、21は特許文献2に係るマイクロ波回路装置において、主に衛星通信などに用いられる14GHzの周波数に対する接続部の特性インピーダンスが、反射が生じない略50Ωとなるような整合回路を用いた場合の反射特性の計算結果を示している。
図16において、特許文献1に係るマイクロ波回路装置の反射特性20は、目標値である−20dB以下である周波数帯は、約1〜3GHzのみであり、残りの約3〜20GHzの周波数帯は、目標値である−20dB以下になっておらず、総じて反射特性が悪いことが判る。また、特許文献2に係るマイクロ波回路装置の反射特性21は、14GHzにおいて接続部の特性インピーダンスが略50Ωとなるように整合した整合回路により、14GHz前後の約1GHz(約13〜15GHz)の狭い周波数帯で、反射特性が、目標値である−20dB以下となり改善されるものの、他の周波数帯では、約1〜2GHzの周波数帯を除いて、反射特性が、目標値である−20dB以下にはならず、特許文献1に比して改善するものの、まだ広い周波数帯で反射特性が悪いことが判る。
この発明は、これらの問題を解決するためになされたもので、導体芯線とマイクロストリップ線路の接続部に生じる熱ストレスを吸収し、接続部の破断を防止するとともに、広い周波数帯で反射特性の改善を実現したマイクロ波回路装置を提供するものである。
この発明に係るマイクロ波回路装置は、導体シャーシの外面に固定され、マイクロ波信号を入出力する同軸コネクタから導体シャーシ内に貫入された同軸コネクタの同軸芯線と、導体シャーシ内部に固定され、マイクロ波信号に所定の処理を行なう誘電体基板上に形成されたマイクロストリップ線路を接続する接続部を、同軸芯線とマイクロストリップ線路のそれぞれに対し直角方向に設けた導体リボンにより接続する構成としたものである。
この発明によれば、導体芯線とマイクロストリップ線路の接続部に生じる熱ストレスを吸収して接続部の破断を防止することに加え、広い周波数帯において反射特性の改善が実現されるため、安定したマイクロ波回路装置を提供できる効果がある。
実施の形態1
図1〜図4は、実施の形態1に係るマイクロ波回路装置について示したものである。図1は、マイクロ波回路装置の上面図である。図2は、図1に示すマイクロ波回路装置をX1方向から見た側面図である。図3は、図2に示すマイクロ波回路装置をY1方向から見た側面図である。また図4は、この実施の形態1の一実施例として、通信装置やレーダ装置で実用される1〜20GHzの周波数帯に対して計算したマイクロ波回路装置に係る反射特性を、特許文献1および特許文献2に記載の従来のマイクロ波回路装置に係る反射特性と比較して示したものである。
図1〜図3において、金属導体よりなる導体シャーシ1の外面には、所定のマイクロ波信号を入出力するための同軸コネクタ2が、固定ネジ2aを用いて四ヶ所で固定されている。同軸コネクタ2は、同軸中心に導体芯線2bを有しており、この導体芯線2bは、導体シャーシ1に設けられた貫通穴1aを介して、導体シャーシ1内に貫入している。所定のマイクロ波信号は、この導体芯線2bを利用して、導体シャーシ1内外に入出力される。また、導体シャーシ1内には、例えばPTFEのようなフッ素樹脂などの誘電体からなる誘電体基板3が、無図示の固定ネジにより導体シャーシ1に固定されている。誘電体基板3には、無図示の電子回路が実装あるいは形成され、またこの誘電体基板3の電子回路と導体芯線2bを電気的に接続するためのマイクロストリップ線路3aが、誘電体基板3上に、導体芯線2b近傍まで伸びるとともに、導体芯線2bに対し、所定の間隔を有して平行方向になるように形成されている。なお、図3において、同軸コネクタ2および固定ネジ2aは鎖線で示してある。
そして、導体芯線2bの上面部2cとマイクロストリップ線路3aの上面部3bの間に、導体芯線2bとマイクロストリップ線路3aのそれぞれに対して直角方向に、例えば厚さ約0.1mm程度の柔軟性のある銅箔で形成された導体リボン4を配設した後、半田などにより、導体リボン4を導体芯線2bとマイクロストリップ線路3aに接続して、接続部を構成している。
次に図4において、横軸は、通信装置やレーダ装置で実用される1〜20GHzの周波数帯を示し、縦軸は、1〜20GHzの周波数帯に対する反射特性を示している。また、図4の中で、10は、この実施の形態1のマイクロ波回路装置に係る反射特性であり、誘電体基板3として、比誘電率2.6、厚さ0.6mmのフッ素樹脂の基板を使用した場合について計算した反射特性を示している。また同図には、比較のため、20および21に、この実施の形態1と同じ条件で、それぞれ特許文献1および特許文献2に記載の従来のマイクロ波回路装置において計算した反射特性を示してあり、これは図16において示したものと同じものである。この反射特性は、入射電圧に対する反射電圧の比をログスケール(反射特性=−20log|反射電圧/入射電圧|)表示(dB表示)したもので、負値になるほど反射電圧が少なくなるため、反射特性が良くなることを示している。通常、反射電圧が入射電圧の十分の一になる−20dBを基準値とし、反射特性が、この基準値−20dB以下になることを目標としている。
次に、この発明の実施の形態1に係るマイクロ波回路の動作について、図1から図4を用いて説明する。
同軸コネクタ2の導体芯線2bから導体シャーシ1内に入力されたマイクロ波信号は、熱ストレスを吸収し、接続部の破断を防止するための導体リボン4を介して、誘電体基板3上に形成されたマイクロストリップ線路3aに伝送されたのち、誘電体基板3に実装あるいは形成された無図示の電子回路により所定の処理が行なわれる。また同様に、無図示の電子回路により所定の処理が行なわれたマイクロ波信号は、マイクロストリップ線路3aから、導体リボン4、導体芯線2bに伝送され、同軸コネクタ2から出力される。
この時、反射特性は、図4に示した実施の形態1のマイクロ波回路装置に係る反射特性10に示すように、目標値である−20dB以下の周波数帯は、約1〜11GHzとなる。これは、同図に比較のために示した、特許文献1に記載の従来のマイクロ波回路装置に係る反射特性20における−20dB以下の周波数帯(約1〜3GHz)、および特許文献2に記載の従来のマイクロ波回路装置に係る反射特性21における−20dB以下の周波数帯(約1〜2GHz、約13〜15GHz)に比して、目標値である−20dB以下の周波数帯が広くなっており、反射特性が改善することがわかる。また目標値である−20dBに満たない周波数帯(約11GHz〜20GHz)を見ても、反射特性が、従来のマイクロ波回路装置に比して改善することがわかる。よって、実用される1〜20GHzの周波数帯で、従来のマイクロ波回路装置に比して反射特性が改善する。
この実施の形態1によれば、導体シャーシ1の外面に固定された同軸コネクタ2から導体シャーシ1内に貫入された導体芯線2bと、導体シャーシ1の内部に固定された誘電体基板3上に形成されたマイクロストリップ線路3aを接続する接続部を、同軸芯線2bとマイクロストリップ線路3aを所定の間隔を有して平行方向に配設し、同軸芯線2bとマイクロストリップ線路3aに対し直角方向に設けた導体リボン4により、同軸芯線2bとマイクロストリップ線路3aを接続するように構成したため、導体芯線2bとマイクロストリップ線路3aの接続部に生じる熱ストレスを吸収して接続部の破断を防止することに加え、広い周波数帯において反射特性の改善が実現されるため、安定したマイクロ波回路装置を提供できる効果がある。
実施の形態2
実施の形態1では、導体リボン4を導体芯線2bの上面部2cに半田などで接続したものを示したが、図5に示すように、導体リボン4の一端を導体芯線2bの下面部2dと誘電体基板3の間隙に差し込むようにして配設し、導体リボン4と導体芯線2bを半田などで接続してもよい。この場合、実施の形態1と同様の効果を奏する。なお、図5で使用した符号のうち、実施の形態1で使用した符号と同一のものは、同一または相当品を示す。
実施の形態3
また、実施の形態2によれば、図5において、導体リボン4を導体芯線2bとマイクロストリップ線路3aの間で大きく彎曲するような形状のものを示したが、これは熱ストレスによる歪みを吸収するためのものであり、熱ストレスが吸収可能であれば、特に大きく彎曲させる必要はなく、例えば図6に示したような、彎曲の小さい導体リボン4を用いてもよい。この場合も、実施の形態1と同様の効果を奏する。なお、図6で使用した符号のうち、実施の形態1および2で使用した符号と同一のものは、同一または相当品を示す。
実施の形態4
さらに、実施の形態1〜3によれば、同軸芯線2bとマイクロストリップ線路3aを所定の間隔を有して平行方向に配設し、同軸芯線2bとマイクロストリップ線路3aに対し直角方向に設けた導体リボン4により、同軸芯線2bとマイクロストリップ線路3aを接続した構成のものを示したが、この導体リボン4は、導体芯線2bとマイクロストリップ線路3aに対して直角方向に接続されていればよいのであり、例えば、図7に示すように、導体リボン4を途中で曲げることにより、導体リボン4を、導体芯線2bとマイクロストリップ線路3aに対して直角方向になるように接続するようにすれば、特に、同軸芯線2bとマイクロストリップ線路3aを所定の間隔を有して平行方向に配設する必要性は無くなる。この場合、実施の形態1と同様の効果を奏する。なお、図7で使用した符号のうち、実施の形態1で使用した符号と同一のものは、同一または相当品を示す。
なお、この実施の形態4においては、実施の形態1に対応するものとして、導体リボン4を導体芯線2bの上面部2cに配設したものを示しているが、当然のことながら、実施の形態2および実施の形態3で示したように、導体リボン4を導体芯線2bの下面部2dに配設可能なことは言うまでもない。
実施の形態5
図8〜図11は、実施の形態5に係るマイクロ波回路装置について示したものである。図8は、マイクロ波回路装置の上面図である。図9は、図8に示すマイクロ波回路装置をX2方向から見た側面図である。図10は、図9に示すマイクロ波回路装置をY2方向から見た断面側面図である。また図11は、この実施の形態5の一実施例として、通信装置やレーダ装置で実用される1〜20GHzの周波数帯に対して計算したマイクロ波回路装置に係る反射特性を、実施の形態1に係るマイクロ波回路装置に係る反射特性と比較して示したものである。なお、図8〜図11で使用した符号のうち、実施の形態1で使用した符号と同一のものは、同一または相当品を示す。
図8〜図11において、実施の形態1と異なるところは、導体芯線2bに対し所定の間隔を有して平行に配設されたマイクロストリップ線路3aに対し、導体芯線2b近傍に位置するマイクロストリップ線路3aの端部から、順にマイクロストリップ線路3aの幅を変えて、所定の周波数に対する接続部の特性インピーダンスが、反射の無い50Ωになるように、キャパシタンスとなる低インピーダンスマイクロストリップ線路3cおよびインダクタンスとなる高インピーダンスマイクロストリップ線路3dからなる整合回路を形成し、導体芯線2bと低インピーダンスマイクロストリップ線路3cを、導体リボン4を用いて半田などにより接続したことである。
次に、図11において、横軸は、通信装置やレーダ装置で実用される1〜20GHzの周波数帯を示し、縦軸は、1〜20GHzに対する反射特性を示している。また、図11の中で、11は、この実施の形態5のマイクロ波回路装置に係る反射特性であり、誘電体基板3として、比誘電率2.6、厚さ0.6mmのフッ素樹脂の基板を使用し、かつ周波数を14GHzとした場合に、接続部の特性インピーダンスが50Ωになるように、低インピーダンスマイクロストリップ線路3cおよび高インピーダンスマイクロストリップ線路3dを形成した場合について計算した反射特性を示している。また、同図には、比較のため、実施の形態1で示したマイクロ波回路装置に係る反射特性10も示している。この反射特性は、入射電圧に対する反射電圧の比をログスケール(反射特性=−20log|反射電圧/入射電圧|)表示(dB表示)したもので、負値になるほど反射電圧が少なくなるため、反射特性が良くなることを示している。通常、反射電圧が入射電圧の十分の一になる−20dBを基準値とし、反射特性が、この基準値−20dB以下になることを目標としている。
この実施の形態5に係る動作として、実施の形態1と異なるところは、反射特性が、図11に示した実施の形態5のマイクロ波回路装置に係る反射特性11に示すように、目標値である−20dB以下の周波数帯で約1〜16GHzとなり、これは同図に比較のために示した、実施の形態1のマイクロ波回路装置に係る反射特性10に比して、目標値である−20dB以下の周波数帯が一層広くなり、反射特性が改善することである。また、実施の形態5のマイクロ波回路装置における反射特性11において、目標値である−20dBに満たない周波数帯(約16GHz〜20GHz)を見ても、実施の形態1のマイクロ波回路装置に係る反射特性10に比して、反射特性が改善している。よって、実施の形態1のマイクロ波回路装置に係る反射特性10に比して、実用される1〜20GHzの全ての周波数帯で反射特性が改善する。
この実施の形態5においては、導体シャーシ1内に貫入された同軸コネクタ2の同軸芯線2bに対し所定の間隔を有して平行に配設されたマイクロストリップ線路3aに対し、導体芯線2b近傍に位置するマイクロストリップ線路3aの端部から、順にマイクロストリップ線路3aの幅を変えて、所定の周波数に対する接続部の特性インピーダンスが、反射の無い50Ωになるように、キャパシタンスとなる低インピーダンスマイクロストリップ線路3cおよびインダクタンスとなる高インピーダンスマイクロストリップ線路3dからなる整合回路を形成し、導体芯線2bと低インピーダンスマイクロストリップ線路3cを、導体リボン4を用いて半田などにより接続するように構成したため、導体芯線2bと低インピーダンスマイクロストリップ線路3cの接続部に生じる熱ストレスを吸収して接続部の破断を防止することに加え、実施の形態1に比して、マイクロ波信号に対して接続部において整合が取れることにより、実用される1〜20GHzの全て周波数帯において反射特性の改善が実現されるため、一層安定したマイクロ波回路装置を提供できる効果がある。
実施の形態6
実施の形態5では、導体リボン4を導体芯線2bの上面部2cに半田などで接続する構成のものを示したが、図12に示すように、導体リボン4の一端を導体芯線2bの下面部2dと誘電体基板3の間隙に差し込むようにして配設し、導体リボン4と導体芯線2bを半田などで接続してもよい。この場合、実施の形態5と同様の効果を奏する。なお、図12で使用した符号のうち、実施の形態5で使用した符号と同一のものは、同一または相当品を示す。
実施の形態7
また、実施の形態6によれば、図12において、導体リボン4を導体芯線2bと低インピーダンスマイクロストリップ線路3cの間で大きく彎曲するような形状のものを示したが、これは熱ストレスによる歪みを吸収するためのものであり、熱ストレスが吸収可能であれば、特に大きく彎曲させる必要はなく、例えば図13に示すように、彎曲の小さい導体リボン4を用いてもよい。この場合も、実施の形態5と同様の効果を奏する。なお、図13で使用した符号のうち、実施の形態5および6で使用した符号と同一のものは、同一または相当品を示す。
実施の形態8
さらに、実施の形態5〜7によれば、同軸芯線2bとマイクロストリップ線路3aを所定の間隔を有して平行方向に配設し、導体芯線2b近傍に位置するマイクロストリップ線路3aの端部から、順にマイクロストリップ線路3aの幅を変えて、低インピーダンスマイクロストリップ線路3cおよび高インピーダンスマイクロストリップ線路3dからなる整合回路を形成し、同軸芯線2bと低インピーダンスマイクロストリップ線路3cに対し直角方向に導体リボン4を接続するようにしたものを示したが、この場合、導体リボン4は、導体芯線2bと低インピーダンスマイクロストリップ線路3cに対して直角方向に接続されていればよく、例えば、図14に示すように、導体リボン4を途中で曲げることにより、導体リボン4を、導体芯線2bと低インピーダンスマイクロストリップ線路3cに対して直角方向になるように接続するようにすれば、特に、同軸芯線2bと低インピーダンスマイクロストリップ線路3cを所定の間隔を有して平行方向に配設する必要性は無い。この場合、実施の形態5と同様の効果を奏する。なお、図14で使用した符号のうち、実施の形態5〜7で使用した符号と同一のものは、同一または相当品を示す。
なお、図14においては、実施の形態5に対応するものとして、導体リボン4を導体芯線2bの上面部2cに配設したものを示しているが、当然のことながら、実施の形態6および実施の形態7で示したように、導体リボン4を導体芯線2bの下面部2dに配設可能なことは言うまでもない。
実施の形態9
さらに、実施の形態5〜8によれば、マイクロストリップ線路3aの幅を変えて形成した低インピーダンスマイクロストリップ線路3cおよび高インピーダンスマイクロストリップ線路3dからなる整合回路を、導体芯線2b近傍のマイクロストリップ線路3aの端部に設けたものを示したが、例えば、図15に示すように、マイクロストリップ線路3aの一部に設けることも可能である。この場合も、実施の形態5と同様の効果を奏する。なお、図15で使用した符号のうち、実施の形態5〜7で使用した符号と同一のものは、同一または相当品を示す。
この発明の実施の形態1に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す上面図である。 この発明の実施の形態1に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す側面図である。 この発明の実施の形態1に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す側面図である。 この発明の実施の形態1に係るマイクロ波回路装置における反射特性図である。 この発明の実施の形態2に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す側面図である。 この発明の実施の形態3に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す側面図である。 この発明の実施の形態4に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す上面図である。 この発明の実施の形態5に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す正面図である。 この発明の実施の形態5に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す側面図である。 この発明の実施の形態5に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す側面図である。 この発明の実施の形態5に係るマイクロ波回路装置におけるマイクロ波の周波数帯に対する反射特性図である。 この発明の実施の形態6に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す側面図である。 この発明の実施の形態7に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す側面図である。 この発明の実施の形態8に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す上面図である。 この発明の実施の形態9に係るマイクロ波回路装置の要部構成を示す上面図である。 従来のマイクロ波回路装置に係る反射特性図である。
符号の説明
1 導体シャーシ
1a 貫通穴
2 同軸コネクタ
2a 固定ネジ
2b 導体芯線
2c 導体芯線の上面部
3 誘電体基板
3a マイクロストリップ線路
3b マイクロストリップ線路の上面部
4 導体リボン

Claims (3)

  1. 導体シャーシの外面に固定されたマイクロ波信号を入出力する同軸コネクタと、前記導体シャーシの内部に固定された誘電体基板と、前記同軸コネクタと前記マイクロ波信号を伝送するため前記誘電体基板上に形成されたマイクロストリップ線路とを電気的に接続する接続部を備えたマイクロ波回路装置において、
    前記接続部は、前記導体シャーシ内に貫入された前記同軸コネクタが有する導体芯線と前記マイクロストリップ線路の中心導体それぞれに対し直角方向に接続された導体リボンより構成しており、
    前記導体芯線を前記誘電体基板上に配設したことを特徴とするマイクロ波回路装置。
  2. 前記導体芯線と前記マイクロストリップ線路の中心導体は、所定の間隔を有して平行方向に配設したことを特徴とする請求項1に記載のマイクロ波回路装置。
  3. 前記マイクロストリップ線路に、前記マイクロストリップ線路の中心導体の幅を変えて、キャパシタンスとなる低インピーダンスマイクロストリップ線路とインダクタンスとなる高インピーダンスマイクロストリップ線路からなる整合回路を形成したことを特徴とする請求項1または2のいずれか1項に記載のマイクロ波回路装置。
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