JP4251557B2 - 高分子分析装置および高分子分析方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の高分子分析装置の構成を示す図である。図1において、本発明の高分子分析装置10は、レーザー出力部1、レンズ2、パワーメータ3、質量分析部4、イオン化部5から構成されており、質量分析部4はイオントラップ部8を備えている。イオン化部5は、図示しない高分子の試料をイオン化し、イオン化された試料はイオントラップ部8に保持される。一方、レーザー出力部1から出力された赤外線レーザー12は、レンズ2、パワーメータ3を通り、イオントラップ部8に保持された試料に照射される。そして、レーザーを照射されることにより高分子の試料が切断されることとなる。ここで、レーザー出力部1は、出力されるレーザーの波長を変えることができるようになっており、波長を変化させることにより、高分子中の切断される箇所を変化させることができる。そして、切断された試料は、質量分析部4により、その分子量が測定される。したがって、赤外線レーザーの波長を変化させることにより、高分子の種々のフラグメントを得ることができ、これを質量分析することにより、効率的に高分子を分析することが可能となる。
図1の高分子分析装置を用いて、以下の手順でサブスタンス P(配列番号:1、SUB P)を切断した。
実施例1と同様の方法を用い、波長依存性による糖鎖切断部位の選択性を調査した。ここで実験対象としたのは5糖からなるシアリル ルィスXである。
2 レンズ
3 パワーメータ
4 質量分析部
5 イオン化部
8 イオントラップ部
10 高分子分析装置
12 赤外線レーザー
15 自由電子レーザーの出射口
M1〜M8 ミラー
Claims (7)
- イオン化された試料を保持するイオントラップ工程と、
前記イオントラップ工程にて保持したイオン化された前記試料に波長可変の赤外線レーザーを照射し、前記試料を切断する赤外線レーザー照射工程と、
前記赤外線レーザー照射工程にて切断された前記試料の質量分析を行なう質量分析工程と、を含み、
前記赤外線レーザーが、パルスレーザーであり、前記赤外線レーザーの波長を変化させることにより、前記波長に対応する特定の箇所で前記試料を切断することを特徴とする、高分子分析方法。 - 波長可変の赤外線レーザーが、3.5〜9.6μmの範囲で波長を変化させることができることを特徴とする、請求項1に記載の分析方法。
- 波長可変の赤外線レーザーが、5〜9.6μmの範囲で波長を変化させることができることを特徴とする、請求項1に記載の分析方法。
- 赤外線レーザーが、自由電子レーザーであることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の分析方法。
- イオントラップ工程が、超高真空型イオントラップにより行なわれることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の分析方法。
- 質量分析が、フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計により行われることを特徴とする、請求項1〜5のいずれかに記載の分析方法。
- 試料が、タンパク質、ペプチド、糖類、ポリヌクレオチドおよびオリゴヌクレオチドからなる群より選ばれる少なくとも1種であることを特徴する、請求項1〜6のいずれかに記載の分析方法。
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