JP4251525B2 - Disc master production equipment - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板に電子ビームを照射してディスク原盤を製造する製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、大容量の画像・音声データ、デジタルデータを記録可能な種々の記録媒体の開発がなされている。例えば、DVD(Digital Versatile Disc)等の光ディスクがあり、直径12cmの光ディスクの記憶容量を30GB(Giga-Byte)に高密度化するような研究開発が進められている。
【0003】
しかしながら、従来の可視域や紫外域のレーザ光を用いた光ディスク原盤のカッティングにおいては、記録用レーザ光のスポット径によって記録分解能が制限される。そこで上記した光ディスクの高密度化を図るために、可視域や紫外域のレーザ光よりもスポット径が小さく、記録分解能の向上を図ることが可能な電子ビームを用いたディスク原盤製造装置によって光ディスク原盤の製造、いわゆるカッティングを行うことが検討されている。
【0004】
かかる光ディスク原盤の製造は、基板に電子線用レジストを塗布した後、真空雰囲気中において電子ビームを照射することによってなされる。電子ビームの照射によって微細パターンの潜像が電子線用レジストに形成される(電子ビーム露光)。かかる基板は、現像処理、パターニング及びレジスト除去の処理が行われ、基板上に微細な凹凸パターンが形成される。
【0005】
また、磁気記録用ハードディスク等のディスク基板の製造においても、電子ビームを用いて微細パターンを形成するプロセスが実行される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
電子ビームを用いたディスク原盤製造装置において、高密度ディスクを製造するためには、ディスク基板の回転を高精度で行う必要がある。また、高い記録分解能を得るためには、電子ビームを細く収束しなければならないが、この場合、電子ビームの速度が高速になる。一方、高速の電子ビームでは、電子線用レジスト層で吸収されずに通り抜けてしまうため、露光量が減少して分解能が低下するという問題があった。
【0007】
本発明は、上述した点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、高密度ディスクの製造を可能とする高精度なディスク原盤製造装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明によるディスク原盤製造装置は、電子ビームを基板に照射してディスク原盤を製造する製造装置であって、電子ビームを射出する電子ビーム射出部と、貫通孔を有してその支持面に基板を支持する絶縁性のターンテーブルと、スピンドルハウジングと、スピンドルハウジングに気体軸受を介して回転自在に支持されかつターンテーブルに一端が固定されたスピンドルシャフトと、スピンドルシャフトを回転駆動するモータと、電子ビームの電子線を減速せしめる大きさの減速電圧を基板に印加する電子ビーム減速部と、を有し、電子ビーム減速部は、ターンテーブルの貫通孔を介して支持面から出没自在に付勢された導電部材、及び減速電圧をロータリコネクタを介して導電部材に中継する中継部を含むことを特徴としている。
【0009】
【発明の実施の形態】
本発明の実施例を図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、以下の説明に用いられる図において、同様な構成要素には同一の参照符を付している。
図1は、本発明の実施例である電子ビームを用いたディスク原盤製造装置10の構成を示すブロック図である。
【0010】
まず、光ディスクの原盤を例にその製造工程の概要について以下に説明する。電子ビームは、大気雰囲気中では著しく減衰する特性を有していることから、真空雰囲気中で使用される。従って、電子銃や光ディスク原盤を作製するための基板を載置したターンテーブル等は真空雰囲気中に配される。
光ディスク原盤の製造には、例えば、シリコン(Si)基板が用いられる。シリコン基板は、その主面上に電子線用レジストが塗布される。電子線用レジストが塗布された基板は、ディスク原盤製造装置内において、回転駆動されるとともに情報データ信号によって変調された電子ビームが照射され、ピット、グルーブなどの微細凹凸パターンの潜像が螺旋状に形成される。
【0011】
当該基板は、電子ビーム露光が終了した後、ディスク原盤製造装置から取り出され、現像処理が施される。次に、パターニング及びレジスト除去の処理が行われ、基板上に微細な凹凸パターンが形成される。パターン形成された基板の主面には導電膜が形成され、電鋳処理が施されて光ディスク原盤(スタンパ)が製造される。
【0012】
図1に示すように、ディスク原盤製造装置10は、真空チャンバ11、及び真空チャンバ11内に配されたディスク基板を駆動する駆動装置、及び真空チャンバ11に取り付けられた電子ビーム光学系を含む電子ビーム射出ヘッド部40が設けられている。
光ディスク原盤用の光ディスク基板(以下、単にディスク基板と称する)15は、ターンテーブル16上に載置されている。ターンテーブル16は、ディスク基板15を回転駆動する回転駆動装置であるエアースピンドルモータ17によってディスク基板主面の垂直軸に関して回転駆動される。エアースピンドルモータ17は送りステージ(以下、単にステージと称する)18内に収容されている。ステージ18は、並進駆動装置である送りモータ19に結合され、エアースピンドルモータ17及びターンテーブル16をディスク基板15の主面と平行な面内の所定方向に並進移動することができるようになっている。ターンテーブル16は誘電体、例えば、セラミック等の材料からなり、ディスク基板15は後述する静電チャッキング機構によりターンテーブル16上に保持されている。
【0013】
また、真空チャンバ11には、ディスク基板15の主面の高さを検出するための光源22、光検出器23及び高さ検出部24が設けられている。光検出器23は、例えば、ポジションセンサやCCD(Charge Coupled Device)などを含み、光源22から射出され、ディスク基板15の表面で反射された光ビームを受光し、受光信号を高さ検出部24に供給する。高さ検出部24は、受光信号に基づいてディスク基板15の主面の高さを検出する。
【0014】
真空チャンバ11は、エアーダンパなどの防振台(図示しない)を介して設置され、外部からの振動の伝達が抑制されている。また、真空チャンバ11には、真空ポンプ28が接続されており、これによってチャンバ内を排気することによりチャンバ内部が所定圧力の真空雰囲気となるように設定されている。
また、エアースピンドルモータ17及び送りモータ19を制御するための駆動制御部30が設けられている。駆動制御部30は、ディスク原盤製造装置10全体の制御をなすCPU25の制御の下で動作する。
【0015】
電子ビームを射出するための電子ビーム射出ヘッド部40には、電子銃41、収束レンズ42、ブランキング電極43、アパーチャ44,ビーム偏向電極45、フォーカス調整レンズ46、及び対物レンズ47がこの順で電子ビーム射出ヘッド部40内に配置されている。電子ビーム射出ヘッド部40は、電子銃筒48の先端に設けられた電子ビーム射出口49が真空チャンバ11内の空間に向けられ、真空チャンバ11の天井面に取り付けられている。また、電子ビーム射出口49はターンテーブル16上のディスク基板15の主面に近接した位置に対向して配置されている。
【0016】
電子銃41は、電子銃電源51から供給される高電圧が印加される陰極(図示しない)により、例えば、数10KeVに加速された電子ビームを射出する。収束レンズ42は、射出された電子ビームを収束してアパーチャ44へと導く。ブランキング駆動部54は、記録制御部52からの信号に基づいて動作し、ブランキング電極43を制御して電子ビームのオン・オフ制御を行う。すなわち、ブランキング電極43間に電圧を印加して通過する電子ビームを大きく偏向させる。これにより、電子ビームはアパーチャ44の絞り孔に収束されない状態となって電子ビームがアパーチャ44を通過するのを阻止し、オフ状態とすることができる。
【0017】
ビーム偏向駆動部55は、CPU25からの制御信号に応答して、ビーム偏向電極45に電圧を印加して通過する電子ビームを偏向させる。これにより、ディスク基板15に対する電子ビームスポットの位置制御を行う。フォーカスレンズ駆動部56は、高さ検出部24からの検出信号に基づいてディスク基板15の主面に照射される電子ビームスポットのフォーカス調整を行う。
【0018】
前述のように、ディスク基板15のカッティング(電子ビーム露光)を行う際、ディスク基板15上に形成されたレジスト層に電子ビームが高速で入射すると、電子ビームがレジスト層を通り抜けてしまい、露光量が減少し、分解能が低下してしまう。そのため、本発明においては、ディスク基板15に電子ビームの電子線を減速せしめる大きさの負電圧である減速電圧(−VR)(以下、リターディング電圧と称する)が印加される(以下の説明において、リターディング法と称する)。このリターディング電圧及びチャッキング電圧の印加のために電圧源60が設けられている。具体的には、例えば、電子ビームの加速電圧が50kVのとき、リターディング電圧を−40kVとしている。なお、リターディング電圧の大きさは、電子ビームの加速電圧、レジスト層の感度特性及びディスク原盤に要求される分解能等に応じて適宜定めればよい。
【0019】
次に、図2ないし図4を参照して、ディスク基板15へのリターディング電圧の印加機構及びディスク基板15の静電チャッキング機構について詳細に説明する。
図2は、図1に示すディスク原盤製造装置10のエアースピンドルモータ17及び高電圧供給部37を含むスピンドルハウジング17A内部の構成を模式的に示す断面図である。
【0020】
エアースピンドルモータ17のスピンドルハウジング17A内部には、スピンドルシャフト12と、スピンドルシャフトを回転駆動する電磁モータ13が収容されている。スピンドルシャフト12はスピンドルハウジング17Aに気体軸受14を介して回転自在に支持されかつターンテーブル16に一端が固定されている。この例ではスピンドルシャフト12の端部近傍において、圧力シール(磁性流体シール)35が、スピンドルハウジング17Aの開口部とスピンドルシャフト12との径方向の間隙に介在するように、スピンドルシャフト12を囲繞して設けられている。磁性流体シール35によりスピンドルハウジング17A内部の気密性が保持される。また、スピンドルハウジング17A及びスピンドルシャフト12は磁性流体シール35によって装置本体、すなわち真空チャンバ11に接地されている。
【0021】
スピンドルハウジング17A内のスピンドルシャフト12にはスピンドルシャフト12を回転駆動するモータ(本体)13Aが取り付けられている。ハウジング17B内に設けられたコイル13Bに電流を流すことにより発生した電磁力を利用してスピンドルシャフト12を回転させることができる。これにより、スピンドルハウジング17A外におけるスピンドルシャフト12の端部に固定されたターンテーブル16等を回転させることができる。
【0022】
スピンドルハウジング17A内には、ディスク基板15及び/又はターンテーブル16に高電圧を供給するための同軸ケーブル31が設けられている。より具体的には、同軸ケーブル31は、内部導体(芯線)31A及び外部導体31Bを有し、スピンドルシャフト12の中心に形成された貫通孔内に設けられている。当該同軸ケーブル31には、電圧源60からの供給電圧が、同軸コネクタである電源ケーブルコネクタ38、高電圧供給部37を介して供給される。
【0023】
なお、気体軸受14には、バルブ(図示しない)を介して外部から軸受け用のエアーが供給され、気体軸受14内を循環する。この循環エアーは、スピンドルハウジング17Aからパイプ(図示しない)を介して真空チャンバ11外に排気されている。
図3は、図2に示す高電圧供給部37及び絶縁フランジ36の部分の詳細を模式的に示す断面図である。同軸ケーブル31には数10kVの高電圧が供給されるため、接地電位であるスピンドルシャフト12とは絶縁材料(例えば、アクリル等)からなるパイプ62により絶縁されている。同軸ケーブル31は、スピンドルシャフト12とともに回転する。同軸ケーブル31にはロータリコネクタ61を介して高電圧が供給される。より詳細には、ロータリコネクタ61の回転部の内部導体61A、外部導体61Bはそれぞれ同軸ケーブル31の内部導体31A、外部導体31Bに接続されている。また、ロータリコネクタ61の非回転部(固定部)の内部導体61C、外部導体61Dは、それぞれ電源ケーブルコネクタ38の内部導体38A、外部導体38Bに接続されている。ロータリコネクタ61を支持するための支持部37B及び電源ケーブルコネクタ38は、絶縁部材37Aにより絶縁がとられている。スピンドルハウジング17A内の同軸ケーブル31の端部には絶縁フランジ36が設けられている。図3に示すように、絶縁フランジ36及び絶縁部材37Aは、沿面距離をとることができるような形状に形成されている。
【0024】
従って、ロータリコネクタ61は、スピンドルハウジング17A及びスピンドルシャフト12から電気的に絶縁されており、従って真空チャンバ11からも電気的に絶縁されている。すなわち、数10kVの高電圧に耐えうるコネクタを用いる必要がなく、小型で低トルク損失のロータリコネクタを用いることが可能である。
【0025】
ロータリコネクタ61には、転がり軸受けが用いられており、回転部及び固定部の接続部には水銀が用いられている。なお、回転部及び固定部をブラシで接続するスリップリングを用いることもできる。また、上記した絶縁フランジ36や絶縁部材37Aの絶縁材料としては、エポキシ樹脂やセラミックを用いることができる。
【0026】
従って、電源ケーブルコネクタ38及びロータリコネクタ61を介して、電圧源60からリターディング電圧(−VR、例えば、−40kV)が同軸ケーブル31の内部導体31Aに供給される。またこれにチャッキング電圧(−VC、例えば、−500V)を加えた電圧(−VR−VC)が同軸ケーブル31の外部導体31Bに供給される。
【0027】
上記したように、高電圧を供給するためにロータリコネクタ61を用いているが、さらに、ロータリコネクタ61の接続によってエアースピンドルモータ17の回転精度の低下を招かない構成を有している。図4(a),(b)は、ロータリコネクタの支持構造及び電気的接続の詳細を示す、互いに直交する方向における断面図である。図5は、回転部61A、61B側から見た場合の平面図である。ロータリコネクタ61の非回転部であるロータリコネクタ本体61Eには、フローティングリング61Fが取り付けられている。フローティングリング61Fにはガイドピン61Gを通すための貫通孔61Hが開けられている。フローティングリング61Fは、ロータリコネクタ支持部37Bに固定されたガイドピン61Gによりガイドされる。貫通孔61Hの直径はガイドピン61Gの直径よりも大きい。すなわち、貫通孔61H及びガイドピン61Gの間には間隙が設けられている。また、ガイドピン61Gの長さはフローティングリング61Fの厚さよりも長い。すなわち、フローティングリング61Fは、ガイドピン61Gの長さの範囲内で自由に動くことができる。これらの間隙の大きさは、例えば0.2〜0.3mmであるが、用いられるエアースピンドルモータやロータリコネクタの種類、性能、及び装置に必要な精度等に応じて適宜定めればよい。従って、ロータリコネクタ61はこれらの間隙の範囲内で、スピンドルシャフト12の中心軸(回転軸)に沿って、及び当該中心軸に垂直な面内において自由に動くことができる。換言すれば、ロータリコネクタ61はフローティング支持されている。尚、必ずしもフローティングリング61Fを用いる必要はなく、例えば、フローティングリング61Fの代わりにロータリコネクタ本体61Eに突起を設けて一定角度以上ロータリコネクタ本体61Eが回転しないような構造にしてもよい。
【0028】
一方、図4(a),(b)に示すように、電源ケーブルコネクタ38の内部導体38Aは第1の接続部材39Aによってロータリコネクタ61の内部導体61Cに電気的に接続されている。また、電源ケーブルコネクタ38の外部導体38Bは第2の接続部材39Bによってロータリコネクタ61の外部導体61Dに電気的に接続されている。これらの第1及び第2の接続部材39A、39Bはロータリコネクタ61の動きの障害とならない一方、ロータリコネクタ61の振動を適度に抑制する程度の小さな弾性定数を有する金属片等で形成されている。さらに、接続部材39A、39Bは接点としての性能の低下を招かない程度の弾性定数、接触抵抗を有している。例えば、第1及び第2の接続部材39A、39Bは金メッキ付きばね用りん青銅で形成されている。
【0029】
図6は、図1に示すディスク原盤製造装置10のターンテーブル16の中央部分の詳細を模式的に示す断面図である。
上記したように、電子ビーム露光時において、ターンテーブル16上に支持されたディスク基板15にリターディング電圧(−VR)を印加し、ディスク基板15に入射する電子ビームの電子線を減速することができるように構成されている。より詳細には、同軸ケーブル31の内部導体31Aから供給されるリターディング電圧(−VR)は、導電体で形成された導電部材26Aを介してディスク基板15に印加される。導電部材26Aは、ターンテーブル16に設けられた貫通孔を26Cを介して支持面から出没自在に付勢されている。例えば、導電部材26Aは、バネ等の弾性部材26Bで付勢されており、ターンテーブル16に載置されたディスク基板15に導電部材26Aが圧着されることによってリターディング電圧がディスク基板15に印加される。導電部材26Aの先端部は滑らかな凸面形状に形成されており、ディスク基板15に常に接触してリターディング電圧が印加されるよう構成されている。
【0030】
ディスク基板15は、静電チャッキング機構によりターンテーブル16上に吸着保持されている。より具体的には、同軸ケーブル31の外部導体31Bから供給される電圧(−VR−VC)がチャッキング電圧導電部27A、27Bを介してチャッキング電極21に印加されている。すなわち、ディスク基板15の電位に対して負の所定チャッキング電圧(−VC)がチャッキング電極21に印加されることによりセラミック等からなるターンテーブル16に静電分極が生起し、これによって吸着力を発揮せしめるものである。
【0031】
以上詳細に説明したように、本発明によれば、回転部及び固定部間の高電圧接続においてロータリコネクタ61を用い、当該ロータリコネクタ61を接地しない構成とした。従って、高耐圧のものを用いる必要がなく、小型で低トルク損失のロータリコネクタを用いることができる。その結果、エアースピンドルモータ17の回転精度を損なわず高電圧を供給することができる。また、ロータリコネクタ61をフローティング支持することによってエアースピンドルモータ17の回転精度に悪影響を及ぼすことなく高電圧を供給することができる。
【0032】
かかる構成を採用することによって、リターディング電圧を印加して電子ビームを減速せしめることによりレジスト層に対する電子ビームの露光量及び分解能の低下を防止するとともに、基板の回転精度を損なうことなく電子ビーム露光を行うことができる。従って、高密度ディスクを短時間かつ高精度に実行することができる。
【0033】
また、ディスク基板15のチャッキング保持のための静電チャッキング機構を用いることによって、回転時においてもターンテーブル16上にディスク基板15を確実に保持することができ、高密度露光を高精度かつ安定して行うことができる。さらに、反ったディスク基板であっても静電吸着によってターンテーブル16上に基板全面に亘って平坦に保持することができ、高密度露光を高精度に行うことができるとともに、電子ビームのフォーカス安定性も向上させることができる。
【0034】
なお、光ディスク原盤の製造装置を例に説明したが、これに限らず電子ビームを用いて、磁気ディスクなどを製造する装置に適用が可能である。また、本発明は、レジストを用いずに電子ビーム直接描画によって微細形状を形成するディスクの製造装置にも適用が可能である。
【0035】
【発明の効果】
上記したことから明らかなように、本発明によれば、高密度ディスクの製造を可能とする高精度なディスク原盤製造装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例である電子ビームを用いたディスク原盤製造装置の構成を示すブロック図である。
【図2】図1に示すディスク原盤製造装置のエアースピンドルモータ及び高電圧供給部を含むスピンドルハウジング内部の構成を模式的に示す断面図である。
【図3】図2に示す高電圧供給部及び絶縁フランジの部分の詳細を模式的に示す断面図である。
【図4】ロータリコネクタの支持構造及び電気的接続の詳細を示す、互いに直交する方向における断面図である。
【図5】ロータリコネクタを回転部側から見た場合の平面図である。
【図6】ターンテーブルの中央部分の詳細を模式的に示す断面図である。
【主要部分の符号の説明】
10 ディスク原盤製造装置
11 真空チャンバ
12 スピンドルシャフト
14 気体軸受
15 ディスク基板
16 ターンテーブル
17 エアースピンドルモータ
17A スピンドルハウジング
18 ステージ
19 送りモータ
21 チャッキング電極
25 CPU
26A,27A 導電部材
26B 弾性部材
30 駆動制御部
31 同軸ケーブル
35 磁性流体シール
36 絶縁フランジ
37 高電圧供給部
40 電子ビーム射出ヘッド部
60 電圧源
61 ロータリコネクタ
61F フローティングリング
61G ガイドピン
61H 貫通孔
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a manufacturing apparatus for manufacturing a master disc by irradiating a substrate with an electron beam.
[0002]
[Prior art]
In recent years, various recording media capable of recording large-capacity image / audio data and digital data have been developed. For example, there are optical discs such as DVDs (Digital Versatile Discs), and research and development are progressing to increase the storage capacity of an optical disc having a diameter of 12 cm to 30 GB (Giga-Byte).
[0003]
However, in conventional cutting of an optical disc master using visible or ultraviolet laser light, the recording resolution is limited by the spot diameter of the recording laser light. Therefore, in order to increase the density of the optical disk described above, the optical disk master is produced by a disk master manufacturing apparatus using an electron beam that has a spot diameter smaller than that of visible or ultraviolet laser light and can improve the recording resolution. Manufacturing, so-called cutting, has been studied.
[0004]
Such an optical disc master is manufactured by applying an electron beam resist to a substrate and then irradiating an electron beam in a vacuum atmosphere. A fine pattern latent image is formed on the electron beam resist by electron beam irradiation (electron beam exposure). Such a substrate is subjected to development processing, patterning and resist removal processing to form a fine uneven pattern on the substrate.
[0005]
Also in the manufacture of a disk substrate such as a magnetic recording hard disk, a process of forming a fine pattern using an electron beam is performed.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In order to manufacture a high density disk in a disk master manufacturing apparatus using an electron beam, it is necessary to rotate the disk substrate with high accuracy. In order to obtain a high recording resolution, the electron beam must be converged finely. In this case, the electron beam speed is increased. On the other hand, since a high-speed electron beam passes through without being absorbed by the electron beam resist layer, there is a problem that the exposure amount is reduced and the resolution is lowered.
[0007]
The present invention has been made in view of the above-described points, and an object of the present invention is to provide a highly accurate disk master manufacturing apparatus that enables manufacturing of a high-density disk.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
A disk master manufacturing apparatus according to the present invention is a manufacturing apparatus for manufacturing a disk master by irradiating a substrate with an electron beam, and has an electron beam emitting portion for emitting an electron beam, a through hole, and a substrate on its support surface. An insulating turntable that supports the spindle, a spindle housing, a spindle shaft rotatably supported on the spindle housing via a gas bearing, and one end fixed to the turntable, a motor that rotationally drives the spindle shaft, and an electronic An electron beam decelerating unit that applies a deceleration voltage of a magnitude that decelerates the electron beam of the beam to the substrate, and the electron beam decelerating unit is urged from the support surface through the through hole of the turntable. And a relay portion that relays the deceleration voltage to the conductive member via the rotary connector.
[0009]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the drawings used for the following description, the same reference numerals are given to the same components.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a master disk manufacturing apparatus 10 using an electron beam according to an embodiment of the present invention.
[0010]
First, an outline of the manufacturing process will be described below using an optical disc master as an example. The electron beam is used in a vacuum atmosphere because it has a characteristic of being significantly attenuated in the air atmosphere. Therefore, a turntable or the like on which a substrate for producing an electron gun or an optical disc master is placed in a vacuum atmosphere.
For manufacturing an optical disc master, for example, a silicon (Si) substrate is used. The silicon substrate is coated with an electron beam resist on its main surface. The substrate coated with the electron beam resist is rotated and irradiated with an electron beam modulated by an information data signal in the disk master production apparatus, and a latent image of a fine concavo-convex pattern such as pits and grooves is spirally formed. Formed.
[0011]
After the electron beam exposure is completed, the substrate is taken out from the disc master manufacturing apparatus and subjected to development processing. Next, patterning and resist removal processes are performed to form a fine uneven pattern on the substrate. A conductive film is formed on the main surface of the patterned substrate, and an electroforming process is performed to manufacture an optical disc master (stamper).
[0012]
As shown in FIG. 1, a disk master manufacturing apparatus 10 includes an electron including a vacuum chamber 11, a driving device that drives a disk substrate disposed in the vacuum chamber 11, and an electron beam optical system attached to the vacuum chamber 11. A beam emission head unit 40 is provided.
An optical disc substrate (hereinafter simply referred to as a disc substrate) 15 for an optical disc master is placed on a turntable 16. The turntable 16 is rotationally driven with respect to the vertical axis of the main surface of the disk substrate by an air spindle motor 17 which is a rotational drive device that rotationally drives the disk substrate 15. The air spindle motor 17 is accommodated in a feed stage (hereinafter simply referred to as a stage) 18. The stage 18 is coupled to a feed motor 19 which is a translation drive device, and can translate the air spindle motor 17 and the turntable 16 in a predetermined direction in a plane parallel to the main surface of the disk substrate 15. Yes. The turntable 16 is made of a dielectric material such as ceramic, and the disk substrate 15 is held on the turntable 16 by an electrostatic chucking mechanism described later.
[0013]
Further, the vacuum chamber 11 is provided with a light source 22, a light detector 23, and a height detector 24 for detecting the height of the main surface of the disk substrate 15. The photodetector 23 includes, for example, a position sensor, a CCD (Charge Coupled Device), etc., receives a light beam emitted from the light source 22 and reflected by the surface of the disk substrate 15, and receives the received light signal as a height detector 24. To supply. The height detection unit 24 detects the height of the main surface of the disk substrate 15 based on the light reception signal.
[0014]
The vacuum chamber 11 is installed via an anti-vibration table (not shown) such as an air damper, and transmission of vibration from the outside is suppressed. Further, a vacuum pump 28 is connected to the vacuum chamber 11, and the interior of the chamber is set to a vacuum atmosphere at a predetermined pressure by exhausting the inside of the chamber.
Further, a drive control unit 30 for controlling the air spindle motor 17 and the feed motor 19 is provided. The drive control unit 30 operates under the control of the CPU 25 that controls the entire disc master manufacturing apparatus 10.
[0015]
The electron beam emitting head unit 40 for emitting an electron beam includes an electron gun 41, a converging lens 42, a blanking electrode 43, an aperture 44, a beam deflection electrode 45, a focus adjustment lens 46, and an objective lens 47 in this order. The electron beam emission head unit 40 is disposed. The electron beam ejection head unit 40 is attached to the ceiling surface of the vacuum chamber 11 with an electron beam ejection port 49 provided at the tip of the electron gun barrel 48 directed to the space in the vacuum chamber 11. Further, the electron beam exit 49 is disposed to face a position close to the main surface of the disk substrate 15 on the turntable 16.
[0016]
The electron gun 41 emits an electron beam accelerated to, for example, several tens of KeV by a cathode (not shown) to which a high voltage supplied from the electron gun power source 51 is applied. The converging lens 42 converges the emitted electron beam and guides it to the aperture 44. The blanking drive unit 54 operates based on a signal from the recording control unit 52 and controls the blanking electrode 43 to perform on / off control of the electron beam. That is, a voltage is applied between the blanking electrodes 43 to greatly deflect the passing electron beam. As a result, the electron beam is not converged in the aperture hole of the aperture 44, and the electron beam is prevented from passing through the aperture 44, and can be turned off.
[0017]
In response to a control signal from the CPU 25, the beam deflection driving unit 55 applies a voltage to the beam deflection electrode 45 to deflect the passing electron beam. Thus, the position of the electron beam spot with respect to the disk substrate 15 is controlled. The focus lens driving unit 56 adjusts the focus of the electron beam spot irradiated on the main surface of the disk substrate 15 based on the detection signal from the height detection unit 24.
[0018]
As described above, when the cutting (electron beam exposure) of the disk substrate 15 is performed, if the electron beam is incident on the resist layer formed on the disk substrate 15 at a high speed, the electron beam passes through the resist layer, and the exposure amount. Decreases and the resolution decreases. Therefore, in the present invention, a deceleration voltage (−V R ) (hereinafter referred to as a retarding voltage), which is a negative voltage with a magnitude for decelerating the electron beam of the electron beam, is applied to the disk substrate 15 (hereinafter described as a retarding voltage). In the above, it is called a retarding method). A voltage source 60 is provided for applying the retarding voltage and chucking voltage. Specifically, for example, when the acceleration voltage of the electron beam is 50 kV, the retarding voltage is −40 kV. The magnitude of the retarding voltage may be appropriately determined according to the acceleration voltage of the electron beam, the sensitivity characteristics of the resist layer, the resolution required for the disk master, and the like.
[0019]
Next, the retarding voltage application mechanism to the disk substrate 15 and the electrostatic chucking mechanism of the disk substrate 15 will be described in detail with reference to FIGS.
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing an internal configuration of the spindle housing 17A including the air spindle motor 17 and the high voltage supply unit 37 of the disc master production apparatus 10 shown in FIG.
[0020]
A spindle shaft 12 and an electromagnetic motor 13 that rotationally drives the spindle shaft are accommodated in the spindle housing 17A of the air spindle motor 17. The spindle shaft 12 is rotatably supported by a spindle housing 17A via a gas bearing 14, and one end is fixed to the turntable 16. In this example, in the vicinity of the end of the spindle shaft 12, a pressure seal (magnetic fluid seal) 35 surrounds the spindle shaft 12 so as to be interposed in a radial gap between the opening of the spindle housing 17A and the spindle shaft 12. Is provided. The magnetic fluid seal 35 maintains the airtightness inside the spindle housing 17A. The spindle housing 17A and the spindle shaft 12 are grounded to the apparatus main body, that is, the vacuum chamber 11 by a magnetic fluid seal 35.
[0021]
A motor (main body) 13A that rotates the spindle shaft 12 is attached to the spindle shaft 12 in the spindle housing 17A. The spindle shaft 12 can be rotated using an electromagnetic force generated by passing a current through a coil 13B provided in the housing 17B. Thereby, the turntable 16 fixed to the end of the spindle shaft 12 outside the spindle housing 17A can be rotated.
[0022]
A coaxial cable 31 for supplying a high voltage to the disk substrate 15 and / or the turntable 16 is provided in the spindle housing 17A. More specifically, the coaxial cable 31 has an inner conductor (core wire) 31 </ b> A and an outer conductor 31 </ b> B, and is provided in a through hole formed in the center of the spindle shaft 12. A supply voltage from the voltage source 60 is supplied to the coaxial cable 31 via a power cable connector 38 and a high voltage supply unit 37 which are coaxial connectors.
[0023]
The gas bearing 14 is supplied with bearing air from the outside via a valve (not shown) and circulates in the gas bearing 14. This circulating air is exhausted out of the vacuum chamber 11 from the spindle housing 17A through a pipe (not shown).
FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing details of the high voltage supply unit 37 and the insulating flange 36 shown in FIG. Since a high voltage of several tens of kV is supplied to the coaxial cable 31, the coaxial cable 31 is insulated from the spindle shaft 12, which is a ground potential, by a pipe 62 made of an insulating material (for example, acrylic). The coaxial cable 31 rotates with the spindle shaft 12. A high voltage is supplied to the coaxial cable 31 via the rotary connector 61. More specifically, the inner conductor 61A and the outer conductor 61B of the rotating part of the rotary connector 61 are connected to the inner conductor 31A and the outer conductor 31B of the coaxial cable 31, respectively. Further, the inner conductor 61C and the outer conductor 61D of the non-rotating portion (fixed portion) of the rotary connector 61 are connected to the inner conductor 38A and the outer conductor 38B of the power cable connector 38, respectively. The support portion 37B for supporting the rotary connector 61 and the power cable connector 38 are insulated by an insulating member 37A. An insulating flange 36 is provided at the end of the coaxial cable 31 in the spindle housing 17A. As shown in FIG. 3, the insulating flange 36 and the insulating member 37 </ b> A are formed in a shape that can take a creepage distance.
[0024]
Therefore, the rotary connector 61 is electrically insulated from the spindle housing 17 </ b> A and the spindle shaft 12, and thus is electrically insulated from the vacuum chamber 11. That is, it is not necessary to use a connector that can withstand a high voltage of several tens of kV, and a small and low torque loss rotary connector can be used.
[0025]
A rolling bearing is used for the rotary connector 61, and mercury is used for the connecting portion between the rotating portion and the fixed portion. It is also possible to use a slip ring that connects the rotating part and the fixed part with a brush. In addition, as the insulating material of the insulating flange 36 and the insulating member 37A, epoxy resin or ceramic can be used.
[0026]
Accordingly, a retarding voltage (−V R , for example, −40 kV) is supplied from the voltage source 60 to the inner conductor 31 A of the coaxial cable 31 via the power cable connector 38 and the rotary connector 61. Further, a voltage (−V R −V C ) obtained by adding a chucking voltage (−V C , for example, −500 V) to the outer conductor 31 </ b> B of the coaxial cable 31 is supplied.
[0027]
As described above, the rotary connector 61 is used to supply a high voltage. However, the connection of the rotary connector 61 does not cause a decrease in rotational accuracy of the air spindle motor 17. 4 (a) and 4 (b) are cross-sectional views in directions orthogonal to each other, showing details of the support structure and electrical connection of the rotary connector. FIG. 5 is a plan view when viewed from the rotating parts 61A and 61B side. A floating ring 61F is attached to a rotary connector main body 61E which is a non-rotating portion of the rotary connector 61. The floating ring 61F has a through hole 61H through which the guide pin 61G is passed. The floating ring 61F is guided by guide pins 61G fixed to the rotary connector support portion 37B. The diameter of the through hole 61H is larger than the diameter of the guide pin 61G. That is, a gap is provided between the through hole 61H and the guide pin 61G. Further, the length of the guide pin 61G is longer than the thickness of the floating ring 61F. That is, the floating ring 61F can move freely within the range of the length of the guide pin 61G. The size of these gaps is, for example, 0.2 to 0.3 mm, and may be appropriately determined according to the type and performance of the air spindle motor and rotary connector used, the accuracy required for the apparatus, and the like. Accordingly, the rotary connector 61 can freely move along the central axis (rotation axis) of the spindle shaft 12 and in a plane perpendicular to the central axis within the range of these gaps. In other words, the rotary connector 61 is supported floating. It is not always necessary to use the floating ring 61F. For example, a protrusion may be provided on the rotary connector main body 61E instead of the floating ring 61F so that the rotary connector main body 61E does not rotate more than a certain angle.
[0028]
On the other hand, as shown in FIGS. 4A and 4B, the inner conductor 38A of the power cable connector 38 is electrically connected to the inner conductor 61C of the rotary connector 61 by the first connecting member 39A. The external conductor 38B of the power cable connector 38 is electrically connected to the external conductor 61D of the rotary connector 61 by the second connecting member 39B. The first and second connecting members 39A and 39B do not become an obstacle to the movement of the rotary connector 61, but are formed of a metal piece or the like having a small elastic constant that moderately suppresses vibration of the rotary connector 61. . Furthermore, the connecting members 39A and 39B have an elastic constant and contact resistance that do not cause a decrease in performance as a contact. For example, the first and second connection members 39A and 39B are made of gold-plated spring phosphor bronze.
[0029]
FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing details of the central portion of the turntable 16 of the disc master production apparatus 10 shown in FIG.
As described above, during the electron beam exposure, the retarding voltage (−V R ) is applied to the disk substrate 15 supported on the turntable 16, and the electron beam of the electron beam incident on the disk substrate 15 is decelerated. It is configured to be able to. More specifically, the retarding voltage (−V R ) supplied from the inner conductor 31A of the coaxial cable 31 is applied to the disk substrate 15 via the conductive member 26A formed of a conductor. The conductive member 26A is urged so that it can protrude and retract from a support surface through a through-hole provided in the turntable 16 through 26C. For example, the conductive member 26 </ b> A is biased by an elastic member 26 </ b> B such as a spring, and the retarding voltage is applied to the disk substrate 15 by pressing the conductive member 26 </ b> A to the disk substrate 15 placed on the turntable 16. Is done. The leading end of the conductive member 26A is formed in a smooth convex shape, and is configured to always contact the disk substrate 15 and apply a retarding voltage.
[0030]
The disk substrate 15 is attracted and held on the turntable 16 by an electrostatic chucking mechanism. More specifically, the voltage (−V R −V C ) supplied from the outer conductor 31B of the coaxial cable 31 is applied to the chucking electrode 21 via the chucking voltage conductive portions 27A and 27B. That is, when a predetermined chucking voltage (-V C ) negative with respect to the potential of the disk substrate 15 is applied to the chucking electrode 21, electrostatic polarization occurs in the turntable 16 made of ceramic or the like, thereby attracting it It is something that demonstrates its power.
[0031]
As described above in detail, according to the present invention, the rotary connector 61 is used for high voltage connection between the rotating part and the fixed part, and the rotary connector 61 is not grounded. Therefore, it is not necessary to use a high withstand voltage, and a small and low torque loss rotary connector can be used. As a result, a high voltage can be supplied without impairing the rotational accuracy of the air spindle motor 17. In addition, by floatingly supporting the rotary connector 61, a high voltage can be supplied without adversely affecting the rotational accuracy of the air spindle motor 17.
[0032]
By adopting such a configuration, a retarding voltage is applied to decelerate the electron beam, thereby preventing a reduction in the exposure amount and resolution of the electron beam to the resist layer, and electron beam exposure without impairing the rotation accuracy of the substrate. It can be performed. Therefore, a high-density disk can be executed in a short time and with high accuracy.
[0033]
Further, by using an electrostatic chucking mechanism for chucking and holding the disk substrate 15, the disk substrate 15 can be reliably held on the turntable 16 even during rotation, and high-density exposure can be performed with high accuracy. It can be performed stably. Further, even a warped disk substrate can be held flat on the turntable 16 over the entire surface of the turntable 16 by electrostatic adsorption, so that high-density exposure can be performed with high accuracy and the focus of the electron beam is stable. Can also be improved.
[0034]
In addition, although the manufacturing apparatus of the optical disk master was described as an example, the present invention is not limited to this, and can be applied to an apparatus for manufacturing a magnetic disk or the like using an electron beam. The present invention can also be applied to a disk manufacturing apparatus that forms a fine shape by direct electron beam drawing without using a resist.
[0035]
【The invention's effect】
As is apparent from the above, according to the present invention, it is possible to realize a highly accurate disk master manufacturing apparatus that enables manufacturing of a high-density disk.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a master disk manufacturing apparatus using an electron beam according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view schematically showing a configuration inside a spindle housing including an air spindle motor and a high voltage supply unit of the disk master production apparatus shown in FIG. 1;
FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing details of a high voltage supply section and an insulating flange portion shown in FIG. 2;
FIG. 4 is a cross-sectional view in the direction perpendicular to each other, showing details of the support structure and electrical connection of the rotary connector.
FIG. 5 is a plan view of the rotary connector as viewed from the rotating part side.
FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing details of a central portion of the turntable.
[Explanation of main part codes]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Disc master production apparatus 11 Vacuum chamber 12 Spindle shaft 14 Gas bearing 15 Disc substrate 16 Turntable 17 Air spindle motor 17A Spindle housing 18 Stage 19 Feed motor 21 Chucking electrode 25 CPU
26A, 27A Conductive member 26B Elastic member 30 Drive control unit 31 Coaxial cable 35 Magnetic fluid seal 36 Insulating flange 37 High voltage supply unit 40 Electron beam injection head unit 60 Voltage source 61 Rotary connector 61F Floating ring 61G Guide pin 61H Through hole

Claims (6)

電子ビームを基板に照射してディスク原盤を製造する製造装置であって、
前記電子ビームを射出する電子ビーム射出部と、
貫通孔を有してその支持面に前記基板を支持する絶縁性のターンテーブルと、
スピンドルハウジングと、
前記スピンドルハウジングに気体軸受を介して回転自在に支持されかつ前記ターンテーブルに一端が固定されたスピンドルシャフトと、
前記スピンドルシャフトを回転駆動するモータと、
前記電子ビームの電子線を減速せしめる大きさの減速電圧を前記基板に印加する電子ビーム減速部と、を有し、
前記電子ビーム減速部は、前記ターンテーブルの貫通孔を介して前記支持面から出没自在に付勢された導電部材、及び前記減速電圧をロータリコネクタを介して前記導電部材に中継する中継部を含むことを特徴とする製造装置。
A manufacturing apparatus for manufacturing a disk master by irradiating a substrate with an electron beam,
An electron beam emitting section for emitting the electron beam;
An insulating turntable that has a through hole and supports the substrate on its support surface;
A spindle housing;
A spindle shaft rotatably supported by the spindle housing via a gas bearing and having one end fixed to the turntable;
A motor for rotationally driving the spindle shaft;
An electron beam decelerating unit that applies to the substrate a deceleration voltage having a magnitude that decelerates the electron beam of the electron beam,
The electron beam decelerating unit includes a conductive member that is urged from the support surface through the through hole of the turntable, and a relay unit that relays the deceleration voltage to the conductive member via a rotary connector. The manufacturing apparatus characterized by the above-mentioned.
前記ターンテーブルを前記電子ビーム射出部に対して相対的に並進移動せしめる並進駆動部を有することを特徴とする請求項1記載の製造装置。The manufacturing apparatus according to claim 1, further comprising a translation drive unit that translates the turntable relative to the electron beam emitting unit. 前記中継部は、前記スピンドルシャフトを中空としてこれに挿通された絶縁性パイプと前記絶縁性パイプに挿通された高電圧ケーブルとからなることを特徴とする請求項1記載の製造装置。The manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the relay portion includes an insulating pipe inserted through the spindle shaft as a hollow and a high voltage cable inserted through the insulating pipe. 前記導電部材は弾性部材により付勢されていることを特徴とする請求項1記載の製造装置。The manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the conductive member is biased by an elastic member. 前記ロータリコネクタは接地電位から絶縁されていることを特徴とする請求項1記載の製造装置。The manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the rotary connector is insulated from a ground potential. 前記スピンドルシャフトは、前記スピンドルハウジング及び前記スピンドルシャフト間に介在する導電性磁性流体シールを介して接地され、前記ロータリコネクタは前記スピンドルシャフト及び前記スピンドルハウジングから絶縁されていることを特徴とする請求項1記載の製造装置。The spindle shaft is grounded through a conductive magnetic fluid seal interposed between the spindle housing and the spindle shaft, and the rotary connector is insulated from the spindle shaft and the spindle housing. The manufacturing apparatus according to 1.
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