JP4204767B2

JP4204767B2 - Automatic tensile tester for film with specimen recovery mechanism

Info

Publication number: JP4204767B2
Application number: JP2001176056A
Authority: JP
Inventors: 洋二田中; 義照土田; 俊治上村
Original assignee: 株式会社東洋精機製作所
Priority date: 2001-06-11
Filing date: 2001-06-11
Publication date: 2009-01-07
Anticipated expiration: 2021-06-11
Also published as: JP2002365187A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来は、フィルム状試験片を引張試験装置により破断する場合、破断試験片は軽く静電気によりチャックに付着するため、試験片把持部材により破断試験片を把持して除去していた。また、一つの試験片把持部材で破断試験片を回収する機構では、試験片がチャック切れをした場合には把持する部分がなく回収できないため、チャックから両側に突出する除去片部を含めた長さに試験片の長さを設定しておき、一対の試験片把持部材により当該除去片部を把持して除去する試験片除去機構が知られている（特開２０００−３５２５５１）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、図１に示すように一対の試験片把持部材により除去片部を把持して破断試験片を除去する試験片除去機構においても、破断試験片が試験片把持部材に静電気により付着し、更にフィルム状試験片は軽いため自重ではごみ収容箱に落下し難いことがある。このため、破断試験片を引張試験機周辺に散らかさないように、試験片把持部材に付着した破断試験片を取り除く必要があった。
また、図１０に示すように、引張試験後に試験片が破断することなく長く伸びた場合には、そのままチャックを試験開始前の位置に戻すと、試験終了片が絡まったり、引っ掛かったりして回収が困難になるという課題があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明は上記課題を解決するために、試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機において、試験片把持部材に付着した試験片を吸引して回収する吸引装置を備えた試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、静電気によって試験片把持部材に付着して自重で落下できない破断試験片を吸引装置により吸い取って回収するから、破断試験片を引張試験機周辺に散らかすことなく確実に回収することができる。
【０００５】
また、本発明は、一対の試験片把持部材と、一対の試験片把持部材を移動する移動用駆動装置とからなる請求項１に記載の試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、引張試験終了後に試験片のチャック切れが生じたとしても、一対の試験片把持部材がチャックの両側に突出する除去片部を把持して除去することができるから、チャックから破断試験片を回収することができる。
【０００６】
また、本発明は、前記移動用駆動装置がシリンダーからなる請求項２に記載の試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、移動用駆動装置の構造が簡単となるとともに、試験片把持部材の移動が速く、短時間で破断試験片を回収することができるから、引張試験のサイクルタイムを短縮することができる。
【０００７】
また、本発明は、前記試験片把持部材に付着した試験片を扱き落とす扱き孔を備えた請求項１に記載の試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、破断試験片が強い静電気を帯びて吸引装置により吸い取れない程に試験片把持部材に付着している場合であっても、扱き孔を通過するときに扱き落とされるから、吸引装置により破断試験片を回収することができる。
【０００８】
また、本発明は、前記扱き孔にブラシを設けた請求項４に記載の試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、引張試験後にチャック切れが生じて破断試験片が小さいために扱き孔により扱き落とされない場合であっても、ブラシにより破断試験片が掃き落とされるから、吸引装置により確実に回収することができる。
【０００９】
また、本発明は、一対の試験片把持部材と、一対の試験片把持部材をチャック近傍から吸引装置近傍まで移動して試験片を解放し、試験片を扱き落とすために扱き孔を通過するまで移動する２段階の移動用駆動装置とからなる請求項４又は５に記載の試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、試験片把持部材に付着した破断試験片が吸引装置によって吸い取れない場合であっても、２段目の駆動により破断試験片は扱き又は掃き落とされるから、確実に吸引装置により回収することができる。
【００１０】
また、本発明は、前記２段階の移動用駆動装置が一対の試験片把持部材をチャック近傍から吸引装置近傍まで移動する掃除シリンダーと、試験片を扱き落とすために扱き孔を通過するまで移動する扱きシリンダーとからなる請求項６に記載の試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、簡単な構造により２段階の駆動ができるとともに、試験片把持部材の移動が速く、短時間で破断試験片を回収することができるから、引張試験のサイクルタイムを短縮することができる。
【００１１】
また、本発明は、チャックの近傍に試験片回収用吸引装置を設けた試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、試験片の材質によりチャックへの付着が弱い場合には、引張試験後にチャックから破断試験片を直接吸い取ることにより、構造が簡単になるとともに、短時間で回収することができるから引張試験のサイクルタイムを短縮することができる。
【００１２】
また、本発明は、前記試験片把持部材又は前記チャックに付着した試験片を吹き落とす空気噴出装置を備えた請求項１乃至８のいずれかに記載の試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、吸引装置によって吸い取れない場合でも、空気を吹き付けて破断試験片を吹き落とすと同時に吸引するから、吸引装置により確実に回収することができる。
【００１３】
また、本発明は、前記試験片把持部材又は前記チャックに付着した試験片の静電気を取り除く静電気除去器を備えた請求項１乃至９のいずれかに記載の試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、破断試験片が強い静電気を帯びて吸引装置により吸い取れない程に試験片把持部材に付着している場合であっても、破断試験片の静電気が取り除かれることから破断試験片は試験片把持部材又チャックへの付着が弱くなり、吸引装置により容易に吸い取り回収することができる。
【００１４】
また、本発明は、引張試験により試験片が破断しない場合に、当該試験片を吸引しながらチャックを試験片回収位置に戻すことを特徴とする請求項１乃至１０のいずれかに記載の試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機を提供するものである。
本発明によれば、チャックが試験片回収位置に戻る際に、長く伸びた試験終了片が絡まったり引っ掛かったりすることがないから、吸い込み口に絡まった試験終了片を取り除くために引張試験を中断することもなく、効率良く引張試験をすることができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を図示する実施例に基づいて説明する。
図３に示す実施例は、試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機において、試験片把持部材１１，１２に付着した破断試験片６，６を吸引して回収する吸引装置１５を備えている。
チャック基台１，２には、図２に示すように、逃げ空間５を設けてある。また、試験片の長さをチャックから両側の逃げ空間５に突出する除去片部９を含めた長さに設定し、又はチャック３，４は除去片部９を得られる形状をなすことにより、試験片把持部材１１，１２がチャック基台１，２の逃げ空間５内に進んできて、チャック３，４の近傍で破断試験片６，６の除去片部９を把持するようにしてある。従って、引張試験後にチャック切れが生じた場合であっても除去片部９を把持して除去できるから、破断試験片６を確実に取り除くことができる。
【００１６】
また、試験片回収機構は、開閉用駆動部２１，２１を介して一対の試験片把持部材１１，１２をプレート１３に取り付けてあり、掃除シリンダー１４によってプレート１３を移動することにより、一対の試験片把持部材１１，１２はチャック３，４の近傍と吸引装置１５の近傍の間を移動するようにしてある。試験片把持部材１１，１２はそれぞれ一対の開閉する挟持片からなり、公知の空気圧駆動部２１の作用により開閉駆動する。開閉用駆動部２１は空気圧作動に限定されるものでなく、開閉機構を有するものであればよい。移動用駆動装置にエアシリンダーを用いたことにより、構造が簡単であるとともに、試験片把持部材１１，１２の移動が速く、短時間で破断試験片を回収することができるから、引張試験のサイクルタイムを短縮することができる。
【００１７】
吸引装置１５は、上下に対になっている試験片把持部材１１，１２のうち、下側の試験片把持部材１２の下に吸い込み口１６を設けてあり、両試験片把持部材１１，１２から破断試験片６，６を吸引して回収するようにしてある。従って、破断試験片６，６が静電気を帯びて両試験片把持部材１１，１２に付着しており、自重により落下し難い場合であっても、吸引装置１５の吸引力によって確実に回収することができる。また、吸引装置１５は、図示のように下から両破断試験片６，６を吸い取る構造の他、各試験片把持部材１１，１２の近傍にそれぞれ設けたものであってもよい。
【００１８】
本実施例の試験片回収機構は、次のように作用する。
フィルム状試験片の引張試験終了後、チャック基台１，２は試験片回収位置に戻り、試験片把持部材１１，１２は掃除シリンダー１４によってチャック基台１，２の逃げ空間５内に移動し、破断試験片６，６を把持する。次に、チャック３，４が開いて破断試験片６，６を解放した後、掃除シリンダー１４により試験片把持部材１１，１２は吸引装置１５の吸い込み口１６の上まで移動し、破断試験片６，６を解放し、吸引装置１５によって吸い込んで回収する。
【００１９】
図４及び図５に示す実施例は、図３に示す実施例に加えて、破断試験片６，６を扱き落とすための扱き孔１９と、扱き孔１９を通過するまで一対の試験片把持部材１１，１２を移動する扱きシリンダー１７，１８を備えている。
扱き孔１９は、吸引装置１５のシリンダー側の傍らに設けてある板に、試験片把持部材１１，１２が通り抜けることができる大きさに空けられてある。また、扱き孔１９は、図示のように板に孔を空けたものに限られず、リング状のもの、上下から板で挟まれたもの、棒状のもの等、破断試験片６，６を扱き落とすことができる形状であればよい。
扱きシリンダー１７，１８は、掃除シリンダー１４によって移動されるプレート１３に取り付けられ、扱きシリンダー１７，１８にはそれぞれ開閉用駆動部２１，２１を介して試験片把持部材１１，１２が取り付けられてある。エアシリンダーを組合せて２段階駆動を行うことにより、構造が簡単であるとともに、試験片把持部材１１，１２の移動が速く、短時間で破断試験片を回収することができるから、引張試験のサイクルタイムを短縮することができる。また、移動用駆動装置は、図示のように、掃除シリンダー１４と扱きシリンダー１７，１８からなる構成の他、モータ駆動等の２段階の駆動ができる駆動装置であってもよい。
【００２０】
本実施例の試験片回収機構は、次のように作用する。
フィルム状試験片の引張試験終了後、チャック基台１，２は試験片回収位置に戻り、試験片把持部材１１，１２は掃除シリンダー１４及び扱きシリンダー１７，１８によってチャック基台１，２の逃げ空間５内に移動し、破断試験片６，６を把持する。次に、チャック３，４が開いて破断試験片６，６を解放した後、試験片把持部材１１，１２は、掃除シリンダー１４により吸引装置１５の吸い込み口１６の上まで移動し、破断試験片６，６を解放し、吸引装置１５によって吸引して回収する（図４図示）。次に、扱きシリンダー１７，１８によって試験片把持部材１１，１２は扱き孔１９を通過するまで移動され、吸引装置１５の吸引力で吸い取ることができない破断試験片６を扱き孔１９を通過する際に扱き落とし、吸引装置１５によって吸い込んで回収する（図５図示）。
【００２１】
図６に示す実施例は、図５に示す実施例に加えて、扱き孔１９にブラシ２０を設けてある。ブラシ２０は、扱き孔１９に柔軟性を有する複数本の毛状の物、細い素材、又は短冊状の素材を垂らしてあり、試験片把持部材１１，１２が扱き孔１９を通り抜ける際に、試験片把持部材１１，１２に付着した破断試験片７を掃き落とすようにしてある。引張試験終了後にチャック切れが生じると、破断試験片７は小さいために扱き孔１９で扱き落とせない場合がある。この場合でも、ブラシ２０により破断試験片７は掃き落とされるから、吸引装置１５により確実に回収される。また、ブラシ２０は柔軟性を有するから、試験片把持部材１１，１２の移動の妨げにもならない。
【００２２】
図７に示す実施例において、２２はエアノズルである。試験片把持部材１１，１２が破断試験片６，６を解放する位置において、試験片把持部材１１，１２の近傍にエアノズル２２、２２をそれぞれ設けてある。吸引装置１５の吸い込み口１６は広くして、エア吹き付けにより破断試験片６が飛び散らないようにしてある。エアノズル２２，２２により試験片把持部材１１，１２に付着した破断試験片６，６にエアを吹き付けて落とすと同時に、吸引装置１５により吸引して破断試験片６，６を回収する。また、エアノズル２２と吸引装置１５をチャック３，４の近傍にそれぞれ設けることにより、チャック３，４に付着した破断試験片６，６を回収することもできる。
【００２３】
図８に示す実施例において、２３は静電気除去器である。試験片把持部材１１，１２が破断試験片６，６を解放する位置において、試験片把持部材１１，１２の近傍に静電気除去器２３，２３をそれぞれ設けてある。静電気除去器２３は、帯電量を感知するセンサーとイオン供給器からなり、破断試験片６の帯電量を感知し、帯電量に応じたイオンを供給して破断試験片６の静電気を除去する。従って、破断試験片６，６の試験片把持部材１１，１２への付着は弱くなるから、吸引装置１５の吸引力によって容易に回収することができる。また、静電気除去器２３とエアノズル２２を併用することもでき、静電気除去器２３と吸引装置１５をチャック３，４の近傍にそれぞれ設けることにより、チャック３，４に付着した破断試験片６，６を回収することもできる。
【００２４】
図９に示す実施例は、チャック３，４の近傍に吸引装置１５，１５を設けてある。引張試験終了後に、チャック３，４を試験片回収位置に戻し、吸引装置１５，１５のスイッチをＯＮにし、チャック３，４を開いて破断試験片６，６を解放することにより、吸い込み口１６から吸い込んで回収する。フィルム状試験片が静電気を帯び難い材質のものである場合には、破断試験片６，６のチャック３，４への付着は弱いから、吸引装置１５の吸引力によって破断試験片６を回収できる。従って、試験片把持部材を設ける必要がないから、構造が簡単となるとともに短時間で破断試験片を回収できる。
【００２５】
図１１に示す実施例は、引張試験後に試験片が破断することなく長く伸びた場合に、チャック基台１を試験片回収位置に戻す途中から吸引装置１５のスイッチをＯＮにし、試験終了片８を吸い込みながらチャック基台１を試験片回収位置に戻し、チャック３，４を開いて試験終了片８を回収するように構成してある。チャック基台１が試験片回収位置に戻ったときに、試験片の伸びた部分は吸引装置１５に吸い込まれているから、試験終了片８は絡まったり引っ掛かったりすることなく回収することができる。
【００２６】
【発明の効果】
以上の通り、本発明に係る試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機によれば、試験片回収機構を有するフィルム用自動引張試験機において、試験片把持部材に付着した試験片を吸引して回収する吸引装置を備えた構成を有することにより、静電気によって試験片把持部材に付着して自重で落下できない破断試験片を吸引装置により吸い取って回収するから、破断試験片を引張試験機周辺に散らかすことなく確実に回収することができる効果がある。
【００２７】
また、本発明は、一対の試験片把持部材と、一対の試験片把持部材を移動する移動用駆動装置とからなる請求項１に記載の構成を有することにより、引張試験終了後に試験片のチャック切れが生じたとしても、一対の試験片把持部材がチャックの両側に突出する除去片部を把持して除去することができるから、チャックから破断試験片を回収することができる効果がある。
【００２８】
また、本発明は、前記移動用駆動装置がシリンダーからなる請求項２に記載の構成を有することにより、移動用駆動装置の構造が簡単となるとともに、試験片把持部材の移動が速く、短時間で破断試験片を回収することができるから、引張試験のサイクルタイムを短縮することができる効果がある。
【００２９】
また、本発明は、前記試験片把持部材に付着した試験片を扱き落とす扱き孔を備えた請求項１に記載の構成を有することにより、破断試験片が強い静電気を帯びて吸引装置により吸い取れない程に試験片把持部材に付着している場合であっても、扱き孔を通過するときに扱き落とされるから、吸引装置により破断試験片を回収することができる効果がある。
【００３０】
また、本発明は、前記扱き孔にブラシを設けた請求項４に記載の構成を有することにより、引張試験後にチャック切れが生じて破断試験片が小さいために扱き孔により扱き落とされない場合であっても、ブラシにより破断試験片が掃き落とされるから、吸引装置により確実に回収することができる効果がある。
【００３１】
また、本発明は、一対の試験片把持部材と、一対の試験片把持部材をチャック近傍から吸引装置近傍まで移動して試験片を解放し、試験片を扱き落とすために扱き孔を通過するまで移動する２段階の移動用駆動装置とからなる請求項４又は５に記載の構成を有することにより、試験片把持部材に付着した破断試験片が吸引装置によって吸い取れない場合であっても、２段目の駆動により破断試験片は扱き又は掃き落とされるから、確実に吸引装置により回収することができる効果がある。
【００３２】
また、本発明は、前記２段階の移動用駆動装置が一対の試験片把持部材をチャック近傍から吸引装置近傍まで移動する掃除シリンダーと、試験片を扱き落とすために扱き孔を通過するまで移動する扱きシリンダーとからなる請求項６に記載の構成を有することにより、簡単な構造により２段階の駆動ができるとともに、試験片把持部材の移動が速く、短時間で破断試験片を回収することができるから、引張試験のサイクルタイムを短縮することができる効果がある。
【００３３】
また、本発明は、チャックの近傍に試験片回収用吸引装置を設けた構成を有することにより、試験片の材質によりチャックへの付着が弱い場合には、引張試験後にチャックから破断試験片を直接吸い取ることにより、構造が簡単になるとともに、短時間で回収することができるから引張試験のサイクルタイムを短縮することができる効果がある。
【００３４】
また、本発明は、前記試験片把持部材又は前記チャックに付着した試験片を吹き落とす空気噴出装置を備えた請求項１乃至８のいずれかに記載の構成を有することにより、吸引装置によって吸い取れない場合でも、空気を吹き付けて破断試験片を吹き落とすと同時に吸引するから、吸引装置により確実に回収することができる効果がある。
【００３５】
また、本発明は、前記試験片把持部材又は前記チャックに付着した試験片の静電気を取り除く静電気除去器を備えた請求項１乃至９のいずれかに記載の構成を有することにより、破断試験片が強い静電気を帯びて吸引装置により吸い取れない程に試験片把持部材に付着している場合であっても、破断試験片の静電気が取り除かれることから破断試験片は試験片把持部材又チャックへの付着が弱くなり、吸引装置により容易に吸い取り回収することができる効果がある。
【００３６】
また、本発明は、引張試験により試験片が破断しない場合に、当該試験片を吸引しながらチャックを試験片回収位置に戻すことを特徴とする請求項１乃至１０のいずれかに記載の構成を有することにより、チャックが試験片回収位置に戻る際に、長く伸びた試験終了片が絡まったり引っ掛かったりすることがないから、吸い込み口に絡まった試験終了片を取り除くために引張試験を中断することもなく、効率良く引張試験をすることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の実施例を示す正面図
【図２】引張試験機の要部を示す斜視図
【図３】本発明の一実施例を示す正面図
【図４】本発明の別の実施例を示す正面図
【図５】試験終了片を扱き落とす状態を示す正面図
【図６】試験終了片を掃き落とす状態を示す正面図
【図７】本発明のさらに別の実施例を示す正面図
【図８】本発明のさらに別の実施例を示す正面図
【図９】本発明のさらに別の実施例を示す正面図
【図１０】試験終了片が絡まった状態を示す正面図
【図１１】本発明のさらに別の実施例を示す正面図
【符号の説明】
１，２チャック基台
３，４チャック
５逃げ空間
６，７破断試験片
８試験終了片
９除去片部
１１，１２試験片把持部材
１３プレート
１４掃除シリンダー
１５吸引装置
１６吸い込み口
１７，１８扱きシリンダー
１９扱き孔
２０ブラシ
２１開閉用駆動部
２２エアノズル
２３静電気除去器[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an automatic tensile testing machine for a film having a test piece recovery mechanism.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, when a film-like test piece is ruptured by a tensile test apparatus, the rupture test piece is lightly attached to the chuck by static electricity, and therefore, the rupture test piece is grasped and removed by a test piece holding member. Also, with a mechanism that collects a fractured test piece with a single test piece gripping member, if the test piece breaks the chuck, there is no gripping part and it cannot be recovered. A test piece removal mechanism is known in which the length of a test piece is set in advance, and the removal piece portion is grasped and removed by a pair of test piece holding members (Japanese Patent Laid-Open No. 2000-352551).
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, as shown in FIG. 1, even in the test piece removal mechanism that removes the fracture test piece by gripping the removal piece portion with a pair of test piece gripping members, the fracture test piece adheres to the test piece gripping member due to static electricity. Since the film-shaped test piece is light, it may be difficult to fall into the garbage storage box under its own weight. For this reason, it was necessary to remove the breakage test piece adhering to the test piece gripping member so that the breakage test piece was not scattered around the tensile tester.
In addition, as shown in FIG. 10, when the test piece is elongated for a long time without breaking after the tensile test, if the chuck is returned to the position before the start of the test as it is, the test end piece is entangled or caught and recovered. There was a problem that became difficult.
[0004]
[Means for Solving the Problems]
Therefore, in order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a test strip recovery device equipped with a suction device for sucking and recovering a test strip adhered to a test strip gripping member in a film automatic tensile tester having a test strip recovery mechanism. An automatic tensile testing machine for film having a mechanism is provided.
According to the present invention, since the breakage test piece that adheres to the test piece gripping member due to static electricity and cannot be dropped by its own weight is sucked and collected by the suction device, the breakage test piece can be reliably collected without being scattered around the tensile tester. Can do.
[0005]
The present invention also provides an automatic tensile testing machine for a film having a test strip recovery mechanism according to claim 1, comprising a pair of test strip gripping members and a moving drive device for moving the pair of test strip gripping members. To do.
According to the present invention, even if the chuck of the test piece breaks after the end of the tensile test, the pair of test piece gripping members can grip and remove the removal piece portions protruding on both sides of the chuck. The fracture specimen can be collected.
[0006]
The present invention also provides an automatic tensile testing machine for a film having a test piece recovery mechanism according to claim 2, wherein the moving drive device is a cylinder.
According to the present invention, the structure of the driving device for movement is simplified, the movement of the specimen gripping member is fast, and the fracture specimen can be collected in a short time, so that the cycle time of the tensile test can be shortened. Can do.
[0007]
The present invention also provides an automatic tensile testing machine for a film having a test piece recovery mechanism according to claim 1, further comprising a handling hole for handling the test piece attached to the test piece gripping member.
According to the present invention, even when the rupture test piece is strongly charged with static electricity and cannot be absorbed by the suction device, even if it is attached to the test piece gripping member, it is handled when passing through the handling hole. The fracture specimen can be collected by the suction device.
[0008]
The present invention also provides an automatic tensile testing machine for a film having a test piece recovery mechanism according to claim 4, wherein a brush is provided in the handling hole.
According to the present invention, even if the chuck break occurs after the tensile test and the fracture test piece is small and is not handled by the handling hole, the fracture test piece is swept away by the brush, so that it is reliably recovered by the suction device. can do.
[0009]
The present invention also includes a pair of test piece gripping members and a pair of test piece gripping members that move from the vicinity of the chuck to the vicinity of the suction device, release the test piece, and pass through the handling hole to handle the test piece. An automatic tensile testing machine for a film having a test piece recovery mechanism according to claim 4 or 5 comprising a moving drive device for two stages of movement.
According to the present invention, even if the breakage test piece attached to the test piece gripping member cannot be sucked by the suction device, the breakage test piece is handled or swept away by driving the second stage, so that the suction device is surely provided. Can be recovered.
[0010]
Further, according to the present invention, the two-stage moving drive device moves until the pair of test piece gripping members pass from the vicinity of the chuck to the vicinity of the suction device and the handling hole for handling the test piece. An automatic tensile testing machine for a film having a test piece recovery mechanism according to claim 6, comprising a handling cylinder.
According to the present invention, a simple structure can be driven in two steps, and the specimen gripping member can be moved quickly, and the fracture specimen can be collected in a short time, thereby shortening the cycle time of the tensile test. Can do.
[0011]
The present invention also provides an automatic tensile testing machine for film having a test piece recovery mechanism provided with a test piece recovery suction device in the vicinity of the chuck.
According to the present invention, when adhesion to the chuck is weak due to the material of the test piece, the structure is simplified and can be recovered in a short time by directly sucking the fracture test piece from the chuck after the tensile test. Therefore, the cycle time of the tensile test can be shortened.
[0012]
Furthermore, the present invention provides an automatic tensile test for a film having a test piece collection mechanism according to any one of claims 1 to 8, further comprising an air ejection device that blows off the test piece attached to the test piece gripping member or the chuck. The machine is provided.
According to the present invention, even when it cannot be sucked by the suction device, air is blown to blow off the fracture test piece and suction is performed at the same time, so that the suction device can reliably collect the specimen.
[0013]
Furthermore, the present invention provides an automatic tension for a film having a test strip recovery mechanism according to any one of claims 1 to 9, further comprising a static eliminator that removes static electricity from the test strip attached to the test strip gripping member or the chuck. A testing machine is provided.
According to the present invention, even when the fracture test piece is strongly charged with static electricity and cannot be absorbed by the suction device, even if it is attached to the test piece gripping member, the fracture test piece can be removed from the static test. The piece is weakly attached to the test piece gripping member or the chuck, and can be easily sucked and collected by the suction device.
[0014]
11. The test piece according to claim 1, wherein when the test piece is not broken by a tensile test, the chuck is returned to the test piece collecting position while sucking the test piece. An automatic tensile testing machine for film having a recovery mechanism is provided.
According to the present invention, when the chuck returns to the test piece collection position, the long test end piece does not get tangled or caught, so the tensile test is interrupted to remove the test end piece entangled in the suction port. This makes it possible to efficiently perform a tensile test without doing so.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described based on examples shown in the drawings.
The embodiment shown in FIG. 3 includes a suction device 15 that sucks and collects the fracture test pieces 6 and 6 adhering to the test piece gripping members 11 and 12 in an automatic tensile tester for a film having a test piece collection mechanism. Yes.
The chuck bases 1 and 2 are provided with relief spaces 5 as shown in FIG. Further, the length of the test piece is set to a length including the removal piece portion 9 protruding from the chuck to the escape space 5 on both sides, or the chucks 3 and 4 are formed so as to obtain the removal piece portion 9. The test piece gripping members 11 and 12 are advanced into the clearance space 5 of the chuck bases 1 and 2 so as to grip the removal piece portion 9 of the fracture test pieces 6 and 6 in the vicinity of the chucks 3 and 4. Therefore, even if the chuck breaks after the tensile test, the removal piece portion 9 can be grasped and removed, so that the fracture test piece 6 can be reliably removed.
[0016]
Further, the test piece collection mechanism has a pair of test piece gripping members 11 and 12 attached to the plate 13 via the opening / closing drive units 21 and 21, and the plate 13 is moved by the cleaning cylinder 14, whereby a pair of test pieces is collected. The single gripping members 11 and 12 are configured to move between the vicinity of the chucks 3 and 4 and the vicinity of the suction device 15. Each of the test piece gripping members 11 and 12 is composed of a pair of opening and closing clamping pieces and is driven to open and close by the action of a known pneumatic drive unit 21. The opening / closing drive unit 21 is not limited to the pneumatic operation, and may be any as long as it has an opening / closing mechanism. Since an air cylinder is used for the moving drive device, the structure is simple, the test piece gripping members 11 and 12 are moved quickly, and the fracture test piece can be collected in a short time. Time can be shortened.
[0017]
The suction device 15 is provided with a suction port 16 below the lower test piece gripping member 12 among the test piece gripping members 11 and 12 paired up and down. The fracture test pieces 6 and 6 are sucked and collected. Therefore, even when the fracture test pieces 6 and 6 are electrostatically attached to both the test piece gripping members 11 and 12 and are difficult to fall due to their own weight, they are reliably collected by the suction force of the suction device 15. Can do. Further, the suction device 15 may be provided in the vicinity of each of the test piece gripping members 11 and 12 in addition to a structure for sucking both the fracture test pieces 6 and 6 from below as shown in the figure.
[0018]
The test piece collection mechanism of the present embodiment operates as follows.
After completion of the tensile test of the film-like test piece, the chuck bases 1 and 2 return to the test piece collection position, and the test piece gripping members 11 and 12 are moved into the clearance space 5 of the chuck bases 1 and 2 by the cleaning cylinder 14. The fracture test pieces 6 and 6 are gripped. Next, after the chucks 3 and 4 are opened to release the fracture test pieces 6 and 6, the test specimen gripping members 11 and 12 are moved onto the suction port 16 of the suction device 15 by the cleaning cylinder 14, and the fracture test specimen 6 is moved. 6 are released and sucked and collected by the suction device 15.
[0019]
The embodiment shown in FIGS. 4 and 5 is in addition to the embodiment shown in FIG. 3, a handling hole 19 for handling the rupture test pieces 6 and 6, and a pair of test piece gripping members until the handling hole 19 is passed. Handling cylinders 17 and 18 that move 11 and 12 are provided.
The handling hole 19 is formed in a size that allows the test piece gripping members 11 and 12 to pass through a plate provided on the side of the cylinder of the suction device 15. Further, the handling hole 19 is not limited to the one in which a hole is formed in the plate as shown in the figure, but handles the fracture test pieces 6 and 6 such as a ring-shaped one, one sandwiched between plates from the top and bottom, a rod-shaped one, etc. Any shape can be used.
The handling cylinders 17 and 18 are attached to the plate 13 moved by the cleaning cylinder 14, and the specimen holding members 11 and 12 are attached to the handling cylinders 17 and 18 via opening / closing drive units 21 and 21, respectively. . By performing the two-stage drive in combination with the air cylinder, the structure is simple, the test piece gripping members 11 and 12 move quickly, and the fracture test piece can be collected in a short time. Time can be shortened. Moreover, the drive device for movement may be a drive device capable of two-stage drive such as motor drive, in addition to the configuration including the cleaning cylinder 14 and the handling cylinders 17 and 18 as illustrated.
[0020]
The test piece collection mechanism of the present embodiment operates as follows.
After completion of the tensile test of the film-like test piece, the chuck bases 1 and 2 return to the test piece collection position, and the test piece gripping members 11 and 12 are moved away from the chuck bases 1 and 2 by the cleaning cylinder 14 and the handling cylinders 17 and 18, respectively. It moves into the space 5 and holds the fracture test pieces 6 and 6. Next, after the chucks 3 and 4 are opened and the fracture test pieces 6 and 6 are released, the test specimen gripping members 11 and 12 are moved over the suction port 16 of the suction device 15 by the cleaning cylinder 14, and the fracture test specimen is obtained. 6 and 6 are released, and suctioned and collected by the suction device 15 (shown in FIG. 4). Next, the specimen holding members 11 and 12 are moved by the handling cylinders 17 and 18 until they pass through the handling hole 19, and when the fractured specimen 6 that cannot be sucked by the suction force of the suction device 15 passes through the handling hole 19. And sucked and collected by the suction device 15 (shown in FIG. 5).
[0021]
The embodiment shown in FIG. 6 is provided with a brush 20 in the handling hole 19 in addition to the embodiment shown in FIG. The brush 20 has a plurality of flexible hairs, thin materials, or strip-shaped materials suspended in the handling hole 19, and the test piece gripping members 11, 12 are tested when passing through the handling hole 19. The fracture test piece 7 adhering to the piece gripping members 11 and 12 is swept away. If the chuck break occurs after the end of the tensile test, the fracture test piece 7 may be unable to be handled by the handling hole 19 because it is small. Even in this case, since the fracture test piece 7 is swept off by the brush 20, it is reliably recovered by the suction device 15. Further, since the brush 20 has flexibility, it does not hinder the movement of the specimen holding members 11 and 12.
[0022]
In the embodiment shown in FIG. 7, 22 is an air nozzle. Air nozzles 22 and 22 are provided in the vicinity of the test piece gripping members 11 and 12 at positions where the test piece gripping members 11 and 12 release the fracture test pieces 6 and 6, respectively. The suction port 16 of the suction device 15 is made wide so that the fracture test piece 6 is not scattered by air blowing. Air is blown and dropped onto the fracture test pieces 6 and 6 adhering to the test piece gripping members 11 and 12 by the air nozzles 22 and 22, and at the same time, the air is sucked by the suction device 15 to collect the fracture test pieces 6 and 6. Further, by providing the air nozzle 22 and the suction device 15 in the vicinity of the chucks 3 and 4, the fracture test pieces 6 and 6 attached to the chucks 3 and 4 can be recovered.
[0023]
In the embodiment shown in FIG. 8, reference numeral 23 denotes a static eliminator. Static electricity removers 23 and 23 are provided in the vicinity of the test piece gripping members 11 and 12 at positions where the test piece gripping members 11 and 12 release the fracture test pieces 6 and 6, respectively. The static eliminator 23 includes a sensor for detecting the amount of charge and an ion supplier. The static eliminator 23 senses the amount of charge of the breaking test piece 6 and supplies ions according to the amount of charge to remove static electricity from the breaking test piece 6. Therefore, since the adhesion of the fracture test pieces 6 and 6 to the test piece gripping members 11 and 12 becomes weak, it can be easily recovered by the suction force of the suction device 15. Further, the static eliminator 23 and the air nozzle 22 can be used together. By providing the static eliminator 23 and the suction device 15 in the vicinity of the chucks 3 and 4, the fracture test pieces 6 and 6 attached to the chucks 3 and 4, respectively. Can also be recovered.
[0024]
In the embodiment shown in FIG. 9, suction devices 15 and 15 are provided in the vicinity of the chucks 3 and 4. After the end of the tensile test, the chucks 3 and 4 are returned to the specimen collection position, the suction devices 15 and 15 are turned on, the chucks 3 and 4 are opened, and the fracture specimens 6 and 6 are released. Inhale and collect. When the film-shaped test piece is made of a material that is difficult to be charged with static electricity, the breakage test piece 6 can be recovered by the suction force of the suction device 15 because the adhesion of the breakage test pieces 6 and 6 to the chucks 3 and 4 is weak. . Accordingly, since it is not necessary to provide a test piece gripping member, the structure is simplified and the fracture test piece can be collected in a short time.
[0025]
In the embodiment shown in FIG. 11, when the test piece extends long without breaking after the tensile test, the switch of the suction device 15 is turned on in the middle of returning the chuck base 1 to the test piece collection position, and the test end piece 8 , The chuck base 1 is returned to the test piece collection position, the chucks 3 and 4 are opened, and the test end piece 8 is collected. When the chuck base 1 returns to the test piece collection position, the stretched portion of the test piece is sucked into the suction device 15, so that the test end piece 8 can be collected without being tangled or caught.
[0026]
【The invention's effect】
As described above, according to the automatic tensile testing machine for a film having a specimen recovery mechanism according to the present invention, in the automatic tensile testing machine for a film having a specimen recovery mechanism, the specimen attached to the specimen gripping member is sucked. Because it has a configuration equipped with a suction device that collects the test piece, the test piece that adheres to the test piece gripping member due to static electricity and cannot be dropped by its own weight is sucked and collected by the suction device. There is an effect that it can be reliably collected without being scattered.
[0027]
In addition, the present invention has a configuration according to claim 1 comprising a pair of test piece gripping members and a moving drive device that moves the pair of test piece gripping members. Even if the cut occurs, the pair of test piece gripping members can grip and remove the removal piece portions projecting on both sides of the chuck, so that it is possible to collect the fracture test piece from the chuck.
[0028]
Further, according to the present invention, the structure of the driving device for movement can be simplified and the movement of the test piece gripping member can be quickly performed in a short time. Since the fracture test piece can be collected by the method, there is an effect that the cycle time of the tensile test can be shortened.
[0029]
In addition, the present invention has the structure according to claim 1 provided with a handling hole for handling the test piece adhered to the test piece gripping member, so that the fracture test piece is strongly charged with static electricity and sucked by the suction device. Even if it is attached to the specimen gripping member as much as possible, it is handled when passing through the handling hole, so that there is an effect that the fracture specimen can be collected by the suction device.
[0030]
Further, the present invention is a case where the handling hole is provided with a brush according to claim 4 and the chuck breakage occurs after the tensile test, and the fracture test piece is small so that it is not handled by the handling hole. However, since the fracture test piece is swept away by the brush, there is an effect that it can be reliably collected by the suction device.
[0031]
The present invention also includes a pair of test piece gripping members and a pair of test piece gripping members that move from the vicinity of the chuck to the vicinity of the suction device, release the test piece, and pass through the handling hole to handle the test piece. By having the structure according to claim 4 or 5 comprising the two-stage moving drive device that moves, even if the rupture specimen attached to the specimen gripping member cannot be absorbed by the suction device, 2 Since the fracture specimen is handled or swept away by driving the stage, there is an effect that it can be reliably collected by the suction device.
[0032]
Further, according to the present invention, the two-stage moving drive device moves until the pair of test piece gripping members pass from the vicinity of the chuck to the vicinity of the suction device and the handling hole for handling the test piece. By having the structure according to claim 6 comprising a handling cylinder, it is possible to drive in two stages with a simple structure, to move the specimen gripping member quickly, and to collect the fracture specimen in a short time. Therefore, the cycle time of the tensile test can be shortened.
[0033]
Further, the present invention has a configuration in which a suction device for collecting a test piece is provided in the vicinity of the chuck, so that when the adhesion to the chuck is weak due to the material of the test piece, the fracture test piece is directly removed from the chuck after the tensile test. By sucking, the structure becomes simple and the cycle time of the tensile test can be shortened because the structure can be collected in a short time.
[0034]
In addition, the present invention has a configuration according to any one of claims 1 to 8 that includes an air ejection device that blows off the test piece attached to the test piece gripping member or the chuck, so that the suction device can absorb the test piece. Even if not, since air is blown to blow off the fracture test piece and sucked at the same time, there is an effect that it can be reliably collected by a suction device.
[0035]
Moreover, this invention has a structure in any one of Claims 1 thru | or 9 equipped with the static eliminator which removes the static electricity of the test piece adhering to the said test-piece holding member or the said chuck | zipper, and a break test piece is provided. Even if it is attached to the specimen gripping member so that it cannot be absorbed by the suction device due to strong static electricity, the fracture specimen is removed from the specimen gripping member or chuck because the static electricity of the fracture specimen is removed. Adhesion becomes weak, and there is an effect that it can be easily sucked and collected by a suction device.
[0036]
The invention according to any one of claims 1 to 10, wherein when the test piece is not broken by a tensile test, the chuck is returned to the test piece collection position while sucking the test piece. When the chuck returns to the test piece collection position, the extended test end piece will not get tangled or caught, so the tensile test should be interrupted to remove the test end piece entangled in the suction port. There is also an effect that a tensile test can be performed efficiently.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front view showing a conventional embodiment. FIG. 2 is a perspective view showing an essential part of a tensile testing machine. FIG. 3 is a front view showing an embodiment of the invention. FIG. 4 is another embodiment of the invention. Front view showing an example [FIG. 5] Front view showing a state in which a test end piece is scraped off [FIG. 6] Front view showing a state in which a test end piece is swept away [FIG. 7] Front view showing still another embodiment of the present invention FIG. 8 is a front view showing still another embodiment of the present invention. FIG. 9 is a front view showing still another embodiment of the present invention. FIG. 10 is a front view showing a state in which test end pieces are tangled. 11 is a front view showing still another embodiment of the present invention.
1, 2 Chuck base 3, 4 Chuck 5 Escape space 6, 7 Break test piece 8 Test end piece 9 Removal piece 11, 12 Test piece gripping member 13 Plate 14 Cleaning cylinder 15 Suction device 16 Suction port 17, 18 Handling cylinder 19 Handling hole 20 Brush 21 Opening and closing drive part 22 Air nozzle 23 Static eliminator

Claims

In an automatic tensile testing machine for a film having a test piece collecting mechanism, a suction device for sucking and collecting the test piece attached to the pair of test piece holding members is provided, and the test piece attached to the test piece holding member is handled. An automatic tensile testing machine for a film having a hole and having a specimen recovery mechanism for moving a pair of specimen gripping members from the vicinity of the chuck to the vicinity of the suction device to release the specimen and to handle the specimen. An automatic tensile testing machine for film having a test piece collection mechanism provided with a two-stage moving drive device that moves until it passes through the handling hole .

The automatic tensile testing machine for films which has the test piece collection | recovery mechanism of Claim 1 which provided the brush in the said handling hole.

The two-stage moving drive device comprises a cleaning cylinder that moves a pair of test piece gripping members from the vicinity of the chuck to the vicinity of the suction device, and a handling cylinder that moves until it passes through the handling hole to handle the test piece. Item 3. An automatic tensile testing machine for a film having the specimen collection mechanism according to Item 2.

4. The film having a test piece collection mechanism according to claim 1 , wherein when the test piece is not broken by a tensile test, the chuck is returned to the test piece collection position while sucking the test piece. 5. Automatic tensile testing machine.