JP4190872B2 - 半導体レーザ装置の試験方法及び試験装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体レーザ装置の試験方法及び試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体レーザ装置は、例えばCD−ROM、CD−R/RW、MO、DVD等の光ディスクの記録もしくは再生を行なう光ディスク装置に用いられるものである。半導体レーザ装置については、製造工程でのサージ等による劣化程度、諸特性の安定性、及び寿命等を知るためにスクリーニング試験が行われる。具体的には、所定の温度環境で、所定のレーザ出力が得られる様に半導体レーザ装置を電流駆動し、この電流駆動を一定時間継続している間の半導体レーザ装置の特性変動を検査するという所謂バーンイン試験が行なわれる。
【0003】
バーンイン試験においては、例えば図4に示す様に半導体レーザ装置201からレーザ光を出射させ、このレーザ光を受光素子202で受光して光電変換し、受光素子202の受光出力を電流電圧変換器203により電圧信号に変換し、この電圧信号を自動出力制御回路(APC(Automatic Power Control)回路)204に加える。APC回路204は、電圧信号を入力すると共に、目標レーザ出力に対応する電圧をコントローラ205から指示され、この電圧信号の電圧が目標レーザ出力に対応する電圧となる様にレーザ光の駆動電流を制御する。これにより、半導体レーザ装置201のレーザ出力が目標レーザ出力に維持され続ける。そして、半導体レーザ装置201のレーザ出力を目標レーザ出力に一定時間維持し続け、この期間の半導体レーザ装置201の特性変動を検査する。検査する特性としては、例えば、しきい電流値、発振波長、駆動電流値、CODレベル、特性温度等である。
【0004】
近年、複数の発光源を含む半導体レーザ装置が良く用いられるようになってきた。例えば、CD−R/RW用のレーザ光を出射するレーザダイオード及びDVD−R/RW用のレーザ光を出射するレーザダイオードを含む半導体レーザ装置である。この複数の発光源を含む半導体レーザ装置のバーンイン試験を行なう場合は、各発光源別に、発光源のレーザ出力を一定に制御する必要ある。このため、例えば特許文献1には、半導体レーザ装置の各発光源のレーザ光を光学手段により分離して、各発光源のレーザ光をそれぞれの受光素子に入射させ、各発光源のレーザ出力を各受光素子により検出し、各受光素子の受光出力をそれぞれのAPC回路に加え、各APC回路によりそれぞれの発光源のレーザ出力を制御するという技術が開示されている。
【0005】
【特許文献1】
特開2002−33542号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特許文献1の様に各発光源のレーザ光を光学手段により分離させる場合は、各発光源と光学手段間の位置決め精度を高くせねばならず、かつ光学手段そのものの精度も高くなければならず、コストが高くなり、また装置本体が大型化した。
【0007】
そこで、本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされたものであり、各発光源のレーザ光を分離せずに1つの受光素子で受光し、この受光素子の受光出力を用いて、各発光源のレーザ出力を一定に制御することが可能な半導体レーザ装置の試験方法及び試験装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明は、複数の発光源を含む半導体レーザ装置の試験方法において、各発光源を発光させつつ、各発光源のレーザ出力を検出しており、各発光源を周期的に1つずつ選択して、選択された発光源の発光を継続させるとともに、選択されなかった他の発光源の発光を停止させ、該選択されなかった他の発光源の発光が停止されている期間に、該選択された発光源のレーザ出力を検出して、この検出したレーザ出力が一定となる様に該選択された発光源の駆動電流を自動電流制御方式により調節している。
【0009】
この様な構成の本発明によれば、各発光源を周期的に1つずつ選択して、選択された発光源の発光を継続させるとともに、選択されなかった他の発光源の発光を停止させている。そして、選択されなかった他の発光源の発光が停止され、かつ選択された発光源だけが発光している期間に、該選択された発光源のレーザ出力を検出して、この検出したレーザ出力が一定となる様に該選択された発光源の駆動電流を自動電流制御方式により調節している。これにより、該選択された発光源のレーザ出力を高精度で制御することができる。同様に、他の発光源についても、周期的に選択し、レーザ出力が一定となる様にその駆動電流を自動電流制御方式により調節し、レーザ出力を高精度で制御する。また、各発光源のいずれについても、駆動電流の調節が周期的に行なわれるので、レーザ出力を略一定に保持することができ、それらのバーンイン試験を同時進行させることができる。
【0010】
また、本発明においては、各発光源のレーザ出力の波長が相互に異なる。
【0011】
例えば、CD−R/RW用のレーザ光を出射するレーザダイオード及びDVD−R/RW用のレーザ光を出射するレーザダイオードを含む半導体レーザ装置のバーンイン試験を行なう。
【0012】
更に、本発明においては、各発光源のいずれについても、発光期間に対する発光停止期間の割合が10%以下である。
【0013】
この様に発光停止期間が短ければ、発光期間が長くなり、各発光源のバーンイン試験の精度が向上する。
【0014】
また、本発明においては、各発光源を1つずつ選択する周期を0.1秒乃至10秒の範囲で設定している。
【0015】
この様に各発光源を1つずつ選択する周期を適宜に設定し、これにより各発光源の駆動電流の調節間隔を適宜に設定すれば、各発光源のレーザ出力変動を小さく抑えることができる。
【0016】
更に、本発明においては、選択されなかった他の発光源の駆動電流をIopとすると、該選択されなかった他の発光源の発光を停止させるために、駆動電流Iopを0<Iop<しきい電流値Ithの範囲で設定している。
【0017】
この様に駆動電流Iopを0<Iop<しきい電流値Ithの範囲で設定し、駆動電流Iopを0にしなければ、駆動電流の変動を小さくして、駆動電流の変動に伴う各発光源の諸特性の変化を小さく抑えることができる。
【0018】
次に、本発明は、複数の発光源を含む半導体レーザ装置の試験装置において、各発光源の駆動電流をそれぞれ調節する複数の自動電流制御手段と、各発光源のレーザ出力を検出するレーザ出力検出手段と、各発光源を周期的に1つずつ選択して、選択された発光源の発光を継続させるとともに、選択されなかった他の発光源の発光を停止させる発光停止制御手段とを備え、該選択されなかった他の発光源の発光が停止されている期間に、該選択された発光源のレーザ出力をレーザ出力検出手段により検出して、この検出された発光源のレーザ出力が一定となる様に該選択された発光源の駆動電流を自動電流制御手段により調節している。
【0019】
この様な構成の本発明の装置においても、本発明の方法と同様の作用並びに効果を達成することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
【0021】
図1は、本発明の試験装置の一実施形態を示すブロック図である。本実施形態の試験装置10では、CD用レーザダイオード(以下CD用LDと称す)11a及びDVD用レーザダイオード(以下DVD用LDと称す)11bを含む半導体レーザ装置11のバーンイン試験を行なう。CD用LD11aからはCD−R/RW用のレーザ光が出射され、またDVD用LD11bからはDVD−R/RW用のレーザ光が出射され、これらのレーザ光の波長が相互に異なる。
【0022】
この試験装置10は、各LD11a,11bのレーザ光を受光する1つの受光素子12と、半導体レーザ装置11及び受光素子12の環境温度を一定に維持する温度槽13と、受光素子12の受光出力を電流電圧変換する電流電圧変換器14と、CD用LD11aの駆動電流値を記憶する第1メモリ15aと、DVD用LD11bの駆動電流値を記憶する第2メモリ15bと、第1メモリ15a内の駆動電流値に対応する駆動電流をCD用LD11aに供給する第1自動電流制御駆動回路(以下第1ACC(Automatic Current Control)駆動回路と称す)16aと、第2メモリ15b内の駆動電流値に対応する駆動電流をDVD用LD11bに供給する第2自動電流制御駆動回路(以下第2ACC(Automatic Current Control)駆動回路と称す)16bと、試験装置10全体を制御するコントローラ17とを備えている。
【0023】
次に、図2のフローチャート及び図3のタイミングチャートに従って、試験装置10による処理過程を述べる。
【0024】
まず、コントローラ17は、第1及び第2メモリ15a,15b等を初期化し、予め設定されたそれぞれの駆動電流値を第1及び第2メモリ15a,15bに書き込む。第1ACC駆動回路16aは、第1メモリ15a内の駆動電流値を読み出し、この駆動電流値に対応する駆動電流をCD用LD11aに供給して、CD用LD11aを発光させる。同様に、第2ACC駆動回路16bは、第2メモリ15b内の駆動電流値を読み出し、この駆動電流値に対応する駆動電流をDVD用LD11bに供給して、DVD用LD11bを発光させる(図2のステップS101)。このときには、CD用LD11a及びDVD用LD11bが共に発光している。
【0025】
次に、コントローラ17は、図3のCD用LD11aの調節期間t1の開始時点で、DVD用LD11bの発光が停止する駆動電流値を第2メモリ15bに書き込み、期間t1の間、第2メモリ15b内の該駆動電流値を保持する。これにより、期間t1の間、第2メモリ15b内の駆動電流値に対応する駆動電流が第2ACC駆動回路16bからDVD用LD11bに供給されて、DVD用LD11bの発光が停止される(ステップS102)。この発光が停止する駆動電流は、該駆動電流をIop2とすると、0<Iop2<しきい電流値Ith2の範囲で設定される。しきい電流値Ith2は、DVD用LD11bのレーザ発振開始時の駆動電流値である。従って、CD用LD11aの調節期間t1では、DVD用LD11bの発光が停止されながらも、僅かの駆動電流がDVD用LD11bに流れる状態となっている。
【0026】
また、コントローラ17は、CD用LD11aの調節期間t1になると、第1メモリ15a内の駆動電流値を書き換えて、この駆動電流値を予め設定された分だけ増大させる。第1ACC駆動回路16aは、第1メモリ15a内の駆動電流値に対応する駆動電流をCD用LD11aに供給して、CD用LD11aのレーザ出力を僅かに上昇させる(ステップS103)。
【0027】
DVD用LD11bが発光せず、CD用LD11aが発光していることから、CD用LD11aのレーザ光だけが受光素子12で受光され、CD用LD11aのレーザ出力に対応する受光出力が受光素子12から電流電圧変換器14に加えられ、CD用LD11aのレーザ出力に対応する電圧信号が電流電圧変換器14からコントローラ17に加えられる(ステップS104)。コントローラ17は、この電圧信号を予め設定された閾値と比較し、この電圧信号が閾値未満であるか否かを判定することにより、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベル未満であるか否かを判定する(ステップS105)。そして、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベル未満であれば(ステップS105で「Yes」)、ステップS103に戻る。従って、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベル未満であれば、ステップS103が繰り返され、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベル以上に調節される。
【0028】
また、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベル未満でなければ(ステップS105で「No」)、コントローラ17は、電流電圧変換器14からの電圧信号が閾値と等しいか否かを判定することにより、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベルであるか否かを判定する(ステップS106)。そして、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベルでなければ(ステップS106で「No」)、コントローラ17は、電流電圧変換器14からの電圧信号が閾値よりも大きいか否かを判定することにより、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベルよりも大きいか否かを判定する(ステップS107)。更に、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベルよりも大きければ(ステップS107で「Yes」)、コントローラ17は、第1メモリ15a内の駆動電流値を予め設定された分だけ減少させる。第1ACC駆動回路16aは、第1メモリ15a内の駆動電流値に対応する駆動電流をCD用LD11aに供給して、CD用LD11aのレーザ出力を僅かに下降させる(ステップS108)。この後、ステップS104に戻る。従って、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベルよりも大きければ、ステップS107が繰り返され、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベル以下に調節される。
【0029】
また、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベルでなく(ステップS106で「No」)、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベルよりも大きくなければ(ステップS107で「No」)、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベル未満であるから、ステップS103に戻り、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベル以上に調節される。
【0030】
CD用LD11aの調節期間t1では、各ステップS103〜S108が繰り返され、これによりCD用LD11aのレーザ出力が一定レベルに調節される(ステップS106で「Yes」)。
【0031】
このとき、コントローラ17は、CD用LD11aのレーザ出力が一定レベルとなった第1メモリ15a内の駆動電流値を保持し、第1ACC駆動回路16aからCD用LD11aへの駆動電流を維持する。また、コントローラ17は、CD用LD11aの調節期間t1の開始時点で書き換えられた第2メモリ15b内の駆動電流値を該調節期間t1の直前の駆動電流値に戻す。この戻された駆動電流値に対応する駆動電流が第2ACC駆動回路16bからDVD用LD11bに供給され、該調節期間t1の直前のDVD用LD11bのレーザ出力が復帰する(ステップS109)。この後、次のDVD用LD11bの調節期間t2を待機する(ステップS110)。
【0032】
次に、コントローラ17は、DVD用LD11bの調節期間t3の開始時点で、CD用LD11aの発光が停止する駆動電流値を第1メモリ15aに書き込み、期間t3の間、第1メモリ15a内の該駆動電流値を保持する。これにより、期間t3の間、第2メモリ15b内の駆動電流値に対応する駆動電流が第1ACC駆動回路16aからCD用LD11aに供給されて、CD用LD11aの発光が停止される(ステップS111)。この発光が停止する駆動電流は、該駆動電流をIop1とすると、0<Iop1<しきい電流値Ith1の範囲で設定される。しきい電流値Ith1は、CD用LD11aの発光開始時の駆動電流値である。
【0033】
また、コントローラ17は、DVD用LD11bの調節期間t3になると、第2メモリ15b内の駆動電流値を書き換えて、この駆動電流値を予め設定された分だけ増大させ、第2ACC駆動回路16bからDVD用LD11bに供給される駆動電流を僅かに増大させて、DVD用LD11bのレーザ出力を僅かに上昇させる(ステップS112)。
【0034】
CD用LD11aが発光せず、DVD用LD11bが発光していることから、DVD用LD11bのレーザ光だけが受光素子12で受光され、DVD用LD11bのレーザ出力に対応する受光出力が受光素子12から電流電圧変換器14に加えられ、DVD用LD11bのレーザ出力に対応する電圧信号が電流電圧変換器14からコントローラ17に加えられる(ステップS113)。コントローラ17は、この電圧信号を予め設定された閾値と比較し、この電圧信号が閾値未満であるか否か、つまりDVD用LD11bのレーザ出力が一定レベル未満であるか否かを判定する(ステップS114)。そして、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベル未満であれば(ステップS114で「Yes」)、ステップS112に戻る。従って、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベル未満であれば、ステップS112が繰り返され、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベル以上に調節される。
【0035】
また、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベル未満でなければ(ステップS114で「No」)、コントローラ17は、電流電圧変換器14からの電圧信号が閾値未満と等しいか否か、つまりDVD用LD11bのレーザ出力が一定レベルであるか否かを判定する(ステップS115)。そして、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベルでなければ(ステップS115で「No」)、コントローラ17は、電流電圧変換器14からの電圧信号が閾値よりも大きいか否か、つまりDVD用LD11bのレーザ出力が一定レベルよりも大きいか否かを判定する(ステップS116)。更に、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベルよりも大きければ(ステップS116で「Yes」)、コントローラ17は、第2メモリ15b内の駆動電流値を予め設定された分だけ減少させて、第1ACC駆動回路16aからCD用LD11aに供給される駆動電流を僅かに減少させ、CD用LD11aのレーザ出力を僅かに下降させる(ステップS117)。この後、ステップS113に戻る。従って、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベルよりも大きければ、ステップS116が繰り返され、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベル以下に調節される。
【0036】
また、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベルでなく(ステップS115で「No」)、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベルよりも大きくなければ(ステップS116で「No」)、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベル未満であるから、ステップS112に戻り、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベル以上に調節される。
【0037】
DVD用LD11bの調節期間t3では、各ステップS112〜S117が繰り返され、これによりDVD用LD11bのレーザ出力が一定レベルに調節される(ステップS115で「Yes」)。
【0038】
このとき、コントローラ17は、DVD用LD11bのレーザ出力が一定レベルとなった第2メモリ15b内の駆動電流値を保持し、第2ACC駆動回路16bからDVD用LD11bへの駆動電流を維持する。また、コントローラ17は、DVD用LD11bの調節期間t3の開始時点で書き換えられた第1メモリ15a内の駆動電流値を該調節期間t3の直前の駆動電流値に戻す。この戻された駆動電流値に対応する駆動電流が第1ACC駆動回路16aからCD用LD11aに供給され、該調節期間t3の直前のCD用LD11aのレーザ出力が復帰する(ステップS118)。この後、次のCD用LD11aの調節期間t1を待機する(ステップS119)。
【0039】
以降同様に、CD用LD11aの調節期間t1が一定周期t2で設定され、この調節期間t1にDVD用LD11bの発光が停止されて、CD用LD11aのレーザ光だけが受光素子12で受光され、受光素子12の受光出力に基づいて、CD用LD11aのレーザ出力が一定となる様にCD用LD11aの駆動電流が調節される。同様に、DVD用LD11bの調節期間t3が一定周期t4で設定され、この調節期間t3にCD用LD11aの発光が停止されて、DVD用LD11bのレーザ光だけが受光素子12で受光され、受光素子12の受光出力に基づいて、DVD用LD11bのレーザ出力が一定となる様にDVD用LD11bの駆動電流が調節される。
【0040】
このため、CD用LD11aのレーザ出力及びDVD用LD11bのレーザ出力をそれぞれの一定レベルに保ちつつ、CD用LD11aの特性変動及びDVD用LD11bの特性変動を同時に検査することができる。つまり、CD用LD11aのバーンイン検査及びDVD用LD11bのバーンイン検査を同時進行させることができる。
【0041】
また、CD用LD11aの発光を停止させているときでも、0<Iop1<しきい電流値Ith1の範囲で駆動電流Iop1を設定して、駆動電流Iop1をCD用LD11aに流し、かつDVD用LD11bの発光を停止させているときでも、0<Iop2<しきい電流値Ith2の範囲で駆動電流Iop2を設定して、駆動電流Iop2をDVD用LD11bに流していることから、半導体レーザ装置11全体での駆動電流の変動を小さくすることができ、駆動電流の変動に伴う半導体レーザ装置11の温度変化や特性変化を低く抑えて、バーンイン試験の誤差を小さくすることができる。
【0042】
ここで、調節期間t1と周期t2の比t1/t2、及び調節期間t3と周期t4の比t3/t4は、10%以下に設定することが望ましい。これらの比を10%よりも大きくすると、CD用LD11aの通電時間及びDVD用LD11bの通電時間が短くなりすぎる。
【0043】
また、例えば各比t1/t2,t3/t4を10%に設定し、CD用LD11aの通電時間及びDVD用LD11bの通電時間を10時間に設定するならば、バーンイン試験に要する時間が(10時間+10時間×(1−0.1))=11時間とる。仮に、CD用LD11aのバーンイン試験及びDVD用LD11bのバーンイン試験を別々に行なうならば、それぞれのバーンイン試験に10時間を要するので、全体で20時間を費やしてしまう。従って、本実施形態の試験装置10を用いれば、試験時間を短縮化することができる。
【0044】
更に、半導体レーザ装置に含まれる各発光源の個数が多くなる程、バーンイン試験に要する時間の短縮化の程度が著しくなる。
【0045】
また、CD用LD11aの調節期間t1を設定する周期t2は、CD用LD11aのレーザ出力変動を小さく抑えるために、0.1秒〜10秒の範囲で設定することが好ましい。周期t2が短すぎると、CD用LD11aのレーザ出力のオンオフ回数が増えすぎ、また周期t2が長すぎると、CD用LD11aのレーザ出力変動が大きくなる。同様の理由で、DVD用LD11bの調節期間t3を設定する周期t4は、0.1秒〜10秒の範囲で設定することが好ましい。
【0046】
尚、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、多様に変形することができる。例えば、他の種類の半導体レーザ装置であっても、本発明を適用することができる。
【0047】
【発明の効果】
以上説明した様に本発明によれば、選択されなかった他の発光源の発光が停止され、かつ選択された発光源だけが発光している期間に、該選択された発光源のレーザ出力を検出して、この検出したレーザ出力が一定となる様に該選択された発光源の駆動電流を自動電流制御方式により調節している。これにより、該選択された発光源のレーザ出力を高精度で制御することができる。同様に、他の発光源についても、周期的に選択し、レーザ出力が一定となる様にその駆動電流を自動電流制御方式により調節し、レーザ出力を高精度で制御する。また、各発光源のいずれについても、駆動電流の調節が周期的に行なわれるので、レーザ出力を略一定に保持することができ、それらのバーンイン試験を同時進行させることができる。
【0048】
また、各発光源のいずれについても、発光期間に対する発光停止期間の割合が10%以下に設定されているため、発光期間が長くなり、各発光源のバーンイン試験の精度が向上する。更に、各発光源の駆動電流の調節間隔を適宜に設定しているため、各発光源のレーザ出力変動を小さく抑えることができる。
【0049】
また、発光源の発光を停止させるために、駆動電流Iopを0<Iop<しきい電流値Ithの範囲で設定しているので、駆動電流の変動を小さくして、駆動電流の変動に伴う各発光源の諸特性の変化を小さく抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の試験装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図2】図1の試験装置による処理過程を示すフローチャートである。
【図3】図1の試験装置におけるCD用レーザダイオード及びDVD用レーザダイオードの発光タイミングを示すタイミングチャートである。
【図4】従来の試験装置を例示するブロック図である。
【符号の説明】
10 試験装置
11 半導体レーザ装置
11a CD用レーザダイオード(CD用LD)
11b DVD用レーザダイオード(DVD用LD)
12 受光素子
13 温度槽
14 電流電圧変換器
15a 第1メモリ
15b 第2メモリ
16a 第1自動電流制御駆動回路(第1ACC駆動回路)
16b 第2自動電流制御駆動回路(第2ACC駆動回路)
17 コントローラ
Claims (5)
- 複数の発光源を含む半導体レーザ装置の試験方法において、
各発光源を発光させつつ、各発光源のレーザ出力を1つの受光素子によって検出しており、
各発光源を周期的に1つずつ選択して、選択された発光源の発光を継続させつつ、選択されなかった他の発光源の駆動電流I op を0<I op <しきい電流値I th の範囲で設定し、この選択されなかった他の発光源の駆動電流I op の設定期間に、該選択された発光源のレーザ出力を検出して、この検出したレーザ出力が一定となる様に該選択された発光源の駆動電流を自動電流制御方式により調節することを特徴とする半導体レーザ装置の試験方法。 - 各発光源のレーザ出力の波長が相互に異なることを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ装置の試験方法。
- 各発光源のいずれについても、発光期間に対する前記駆動電流I op の設定期間の割合が10%以下であることを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ装置の試験方法。
- 各発光源を1つずつ選択する周期を0.1秒乃至10秒の範囲で設定したことを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ装置の試験方法。
- 複数の発光源を含む半導体レーザ装置の試験装置において、
各発光源のレーザ出力を1つの受光素子によって検出するレーザ出力検出手段と、
各発光源の駆動電流をそれぞれ調節することにより、各発光源を周期的に1つずつ選択して、選択された発光源の発光を継続させつつ、選択されなかった他の発光源の駆動電流I op を0<I op <しきい電流値I th の範囲で設定する自動電流制御手段とを備え、
前記選択されなかった他の発光源の駆動電流I op の設定期間に、該選択された発光源のレーザ出力を前記レーザ出力検出手段により検出して、この検出したレーザ出力が一定となる様に該選択された発光源の駆動電流を自動電流制御方式により調節することを特徴とする半導体レーザ装置の試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002344024A JP4190872B2 (ja) | 2002-11-27 | 2002-11-27 | 半導体レーザ装置の試験方法及び試験装置 |
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