JP4188674B2 - Inspection data creation method - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プリント基板の電子部品実装後における検査において、検査機で作成される検査データ作成方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来からプリント基板実装後において、検査機により実装状態の検査が行われている。
【0003】
以下、図5を参照して、検査機による実装状態の検査の概要を説明する。図5に示すように、プリント基板8に実装された電子部品9は、銅箔部のパッド10に実装された後、あるいは半田付けされた後、検査機7によって実装状態が検査される。図において、11は半田、12は半田の判定条件を示す。この検査を行うためには、あらかじめ検査データが作成される。主たるデータとして、検査位置、検査判定条件、検査アルゴリズムなどをあらかじめ検査対象となるプリント基板の情報に基づき作成しておく必要がある。
【0004】
従来、この作成方法として、実装位置情報および部品形状などをあらかじめCAD情報などで用意しておき、検査判定条件や検査アルゴリズムを検査機で教示して作成する方法が取られていた。
【0005】
また、これに類似するプリント基板の検査プログラム設定方法として、プリント基板検査結果を統計処理して、検査内容に最適の検査プログラムを決定するようにしたものは公知である(例えば、特許文献1参照)
【0006】
【特許文献1】
特開平10−327000号公報(2頁、図1)
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の検査データの作成方法では、以下のような問題点があった。
【0008】
すなわち、検査判定条件や検査アルゴリズムは、オペレータの経験が必要であり、同一部品でも検査機やオペレータによりデータが異なるので、検査精度にばらつきが生じ、検査見逃しや過度な検査を行う要因となっていた。
【0009】
また、現物での検査を行ってデータを作成することを繰り返し、検査精度をあげていく必要があるため、時間と手間を要していた。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、本発明の検査データ作成方法は、複数の検査機から検査ライブラリを取得し、検査ライブラリデータベースへ登録し、同一部品品番のライブラリコードに対して、優先順位をつけ検査ライブラリ管理データベースに登録する第1工程と、検査位置データベースと部品形状データベースより、部品形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求める第2工程と、前工程において、部品形状コードが存在しない場合、部品品番に対応した部品寸法情報より類似の部品を検索し、当該部品形状コードを求め、この形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求め、検査位置とライブラリコードを出力する第3工程から成ることを特徴とする。
【0011】
本発明によると、部品品番のライブラリコードが優先順位を付けて登録されている検査ライブラリ管理データベースより、部品形状コードをキーとして、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置とライブラリコードを出力するので、短時間で検査機の検査判定条件や検査アルゴリズムを含む検査ライブラリコードを作成することができ、また検査判定条件や検査アルゴリズムのバラツキも解消され、検査精度の高い検査が可能になる。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項1に記載の発明は、
複数の検査機に検索結果がライブラリ作成処理されて出力される検査位置データベースと部品形状データベースと、前記複数の検査機のライブラリを一元管理する検査ライブラリ管理データベースを備えたプリント基板の検査を行う検査機データを作成する方法であって、
前記複数の検査機から検査判定材料と、検査アルゴリズムと、検査機コードとを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、同一部品品番のライブラリコードを統計処理し、優先順位をつけ検査ライブラリ管理データベースに再登録する第1工程と、検査位置データベースと部品形状データベースより求めた部品形状コードをキーとして、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを求める第2工程と、前工程において、部品形状コードが存在しない場合、部品品番に対応した部品寸法情報より類似の部品を検索し、当該部品形状コードを求め、この形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求め、検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを出力する第3工程から成り、前記第1工程は、前記複数の検査機からライブラリコードに対応する検査判定材料と、検査アルゴリズムと、前記検査機コードとを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、同一部品品番ごとに、検査判定条件と検査アルゴリズムの統計処理し、検査機コードに対し、優先順位を付け、検査ライブラリ管理データベースに再登録することを特徴とするもので、本発明によると、部品形状コードをキーとして、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置とライブラリコードを出力するので、短時間で検査機の検査判定条件や検査アルゴリズムを含む検査ライブラリコードを作成することができ、また検査判定条件や検査アルゴリズムのバラツキも解消され、検査精度の高い検査が可能になる。
【0014】
請求項に記載の発明は、第2工程は、検査対象となる基板を特定し、検査位置データベースより、検査位置に対応する部品品番を検索し、部品品番をキーに、部品形状データベースより、部品形状コードを検索し、部品形状コードをキーに、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索することを特徴とする。
【0015】
請求項に記載の発明は、第3工程は、第2工程で、検査ライブラリコードが検索できる場合は、検査位置とライブラリコードを出力し、検索できない場合は、部品形状データベースより、類似する部品形状コードを求め、部品形状コードをキーに、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置とライブラリコードを出力することを特徴とする。
【0016】
上記請求項に記載の発明によると、各検査機からライブラリコードに対応する検査判定条件と検査アルゴリズムを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、これを統計処理して、同一検査機ライブラリコードに対して、優先順位を付け、検査ライブラリ管理データベースに再登録し、検査対象となる基板の検査位置に対応する部品品番をキーにして求めた部品形状コードにより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを出力するようにしたので、短時間で検査機の検査判定条件や検査アルゴリズムを含めた検査ライブラリコードを作成することが可能となり、またオペレータによる検査判定条件や検査アルゴリズムのバラツキも解消され、検査精度の高い検査が可能になる。また、試作基板などの現物がなくても、データ作成が可能となるため、検査データの事前作成が可能となり、データ作成作業を効率化できる。
【0017】
請求項に記載の発明は、検査位置データベースは、基板番号、検査位置、部品品番を、部品形状データベースは、部品品番、部品形状コードを管理し、検査ライブラリ管理データベースは、検査機番号、部品形状コード、検査判定条件、検査アルゴリズム番号、及び優先使用番号を管理し、それぞれの属性は、編集、削除、変更、追加とが可能であることを特徴とする。
【0018】
請求項に記載の発明は、検査ライブラリ管理データベースは、利用に応じて課金できることを特徴とする。
【0019】
【実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態を示す検査データ作成方法について、図面を参照しながら説明する。
【0020】
図1は、本発明の実施の形態の検査データ作成方法の構成を示す図である。図において、検査位置データベース1と部品形状データベース2の検索結果がライブラリ作成処理5に入力され、検査データが作成され、検査機群6の検査機7へ出力される。また、検査機のライブラリは、検査ライブラリ管理データベース3で一元管理される。検査ライブラリ統計処理は、同一電子部品の同一品番において、各検査機ごとに異なる検査判定条件やアルゴリズムの優先レベルを求めるものであり、単に、頻度の高いものから順位づけしてもいいし、判定条件の中央値を求めても良い。
【0021】
統計処理については、既知のものを使用してもよいし、特に規定するものではない。また、各処理とデータベースと検査機はネットワークで接続されていてもよいし、媒体によりデータを転送してもよい。
【0022】
また、データベースは、複数の工場における検査機群の検査機を統合的に管理することも可能であり、インターネットなどを利用して、入出力可能であってもよい。この場合、検査ライブラリ管理データベースは、利用者の頻度に応じて、管理する者が課金してもよい。例えば、1部品形状や1部品品番および入出力回数で課金することもできる。
【0023】
具体的なデータベースの管理項目について、図2に従って説明する。検査位置データベース1は、検査対象のプリント基板を一意に特定する基板番号と、検査位置と、検査位置に実装される電子部品の部品品番から構成される。本データベースは、関係データベースである必要はなく、検査対象のプリント基板が特定されておれば、ファイル形式でもよい。
【0024】
部品形状データベース2は、部品品番と部品形状コードの関連と、部品形状コードの属性である具体的な部品寸法を管理する。複数の部品品番に対し、同一の部品形状コードが対応する場合があるので効率的に管理できる構成としている。ただし、上記構成は、唯一のものではなく重複を許すのであれば他の方法もある。
【0025】
検査ライブラリ管理データベース3、検査ライブラリコードと、この属性を管理するものである。検査ライブラリコードは、同一の部品品番でも検査機により異なることもあるので、検査機番号を項目として持ち、優先使用番号、部品形状コード、検査判定条件、検査アルゴリズム番号が登録される。この場合、オペレータは、工場単位で異なるのであればその項目を追加してもよい。また、判定条件や検査アルゴリズムは、検査機の機構や機能により異なるため、その検査機に応じた数値を用いるものとする。
【0026】
次に、実施例の処理の流れを、図3〜図4に従って説明する。
【0027】
図3は、本発明の第1工程を説明したものである。S1で各検査機からライブラリコードに対応する判定条件や検査アルゴリズムを取得する。S2で取得したデータを検査ライブラリデータベースに登録する。S3で各部品ごとに検査判定条件と検査アルゴリズムの統計処理を行い、同一の検査機コードに対し、優先順位を付ける。S4で処理結果を検査ライブラリ管理データベースへ反映させ再登録する。優先順位をつけるのは、検査機より新たな検査ライブラリを取得した時点でもよいし、手動で任意の時点ですることもできる。また、優先順位や、検査ライブラリ管理データベースの属性は、編集、削除・変更・追加などが行えるものとする。
【0028】
図4は、本発明の第2工程〜第3工程を説明したものである。S5で検査対象となる基板を特定した後、S6で検査位置データベースより対象となる検査位置に対応する部品品番を一点検索する。S7でこの部品品番をキーにして、部品形状データベースより、部品形状コードと部品形状属性を検索する。S8でこの部品形状コードをキーにして、検査ライブラリ管理データベースより、優先使用番号の高い検査ライブラリコードを検索する。この際作業者の判断で、任意の優先使用番号を選んでもよい。S9で検査ライブラリコードが検索できる場合は、S11で検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを検査機に出力し、検査ライブラリコードが検索できない場合は、S10で部品形状属性を用いて、類似の部品形状コードを部品形状データベースより検索し、部品形状コードを求め、S8で部品形状コードをキーにして、優先使用番号の高い検査ライブラリコードを検索し、S11で検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを出力する。S10における検索の方法は、部品の外形寸法の許容値範囲にあるものを検索してもよいし、部品のリードの本数などが同一のものを検索してもよい。
【0029】
検査機の特徴により検索方法をあらかじめ設定しておくものとする。すべての部品品番について、S6〜S11を繰り返す。
【0030】
【発明の効果】
以上のように、本発明によると、各検査機からライブラリコードに対応する検査判定条件と検査アルゴリズムを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、これを統計処理して、同一検査機ライブラリコードに対して、優先順位を付け、検査ライブラリ管理データベースに再登録し、検査対象となる基板の検査位置に対応する部品品番をキーにして求めた部品形状コードにより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを出力するようにしたので、短時間で検査機の検査判定条件や検査アルゴリズムを含めた検査ライブラリコードを作成することが可能となり、またオペレータによる検査判定条件や検査アルゴリズムのバラツキも解消され、検査精度の高い検査が可能となる。また、試作基板などの現物がなくても、データ作成が可能となるため、検査データの事前作成が可能となり、データ作成作業を効率化できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の検査データ作成方法の構成図である。
【図2】本発明の実施のデータベース構成図である。
【図3】同実施の形態の第1工程の流れを示す説明図である。
【図4】同実施の形態の第2工程、第3工程の流れを示す説明図である。
【図5】プリント基板の検査を説明する図である。
【符号の説明】
1 検査位置データベース
2 部品形状データベース
3 検査ライブラリ管理データベース
4 検査ライブラリ統計処理
5 ライブラリ作成処理
6 検査機群
7 検査機
8 プリント基板
9 電子部品
10 パッド
11 半田
12 判定条件
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an inspection data creation method created by an inspection machine in an inspection after mounting electronic components on a printed circuit board.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, after mounting a printed circuit board, a mounting state is inspected by an inspection machine.
[0003]
Hereinafter, the outline of mounting state inspection by an inspection machine will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 5, after the electronic component 9 mounted on the printed circuit board 8 is mounted on the pad 10 of the copper foil part or soldered, the mounting state is inspected by the inspection machine 7. In the figure, 11 indicates solder, and 12 indicates solder determination conditions. In order to perform this inspection, inspection data is created in advance. As main data, it is necessary to prepare an inspection position, an inspection determination condition, an inspection algorithm, and the like based on information of a printed circuit board to be inspected in advance.
[0004]
Conventionally, as this creation method, mounting position information, component shape, and the like are prepared in advance using CAD information and the like, and the inspection determination conditions and the inspection algorithm are taught by an inspection machine to create them.
[0005]
Also, as a method for setting an inspection program for a printed circuit board similar to this, a method in which a printed circuit board inspection result is statistically processed to determine an optimal inspection program for inspection contents is known (for example, see Patent Document 1). )
[0006]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laid-Open No. 10-327000 (page 2, FIG. 1)
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, such a conventional method for creating inspection data has the following problems.
[0008]
In other words, inspection judgment conditions and inspection algorithms require experience from the operator, and even with the same parts, the data differs depending on the inspection machine or operator, resulting in variations in inspection accuracy, which is a cause of missed inspections and excessive inspections. It was.
[0009]
In addition, since it is necessary to increase the inspection accuracy by repeatedly performing actual inspection and creating data, it takes time and effort.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, the inspection data creation method of the present invention acquires inspection libraries from a plurality of inspection machines, registers them in the inspection library database, and prioritizes library codes of the same part number. When there is no part shape code in the first process to be registered in the inspection library management database, the second process for obtaining the inspection library code from the inspection position database and the part shape database using the part shape code as a key, and the previous process, Searching for similar parts from the part dimension information corresponding to the part number, obtaining the part shape code, obtaining the inspection library code using the shape code as a key, and outputting the inspection position and library code. It is characterized by.
[0011]
According to the present invention, a high-priority inspection library code is searched from the inspection library management database in which the part code library code is registered with priority, using the part shape code as a key, and the inspection position and library code are obtained. Because it outputs, inspection library code including inspection judgment conditions and inspection algorithms of inspection machines can be created in a short time, and variations in inspection judgment conditions and inspection algorithms are eliminated, enabling inspection with high inspection accuracy. .
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The invention described in claim 1 of the present invention
Inspection for inspecting a printed circuit board having an inspection position database and a part shape database in which search results are processed and output to a plurality of inspection machines, and an inspection library management database for centrally managing the libraries of the plurality of inspection machines A method for creating machine data,
An inspection library including inspection determination materials, inspection algorithms, and inspection machine codes is acquired from the plurality of inspection machines, registered in the inspection library management database, statistically processed for library codes of the same part number, and prioritized. A first step of re-registering in the inspection library management database; a second step of obtaining an inspection library code having a higher priority from the inspection library management database using the part shape code obtained from the inspection position database and the part shape database as a key; If there is no part shape code in the previous process, a similar part is searched from the part dimension information corresponding to the part number, the part shape code is obtained, an inspection library code is obtained using this shape code as a key, and an inspection position And the third work that outputs the library code corresponding to the inspection position The first step includes obtaining an inspection library including an inspection determination material corresponding to a library code, an inspection algorithm, and the inspection machine code from the plurality of inspection machines, and registering the inspection library in an inspection library management database. for each same part No., and statistical processing of the test algorithms and the inspection determination condition for the tested machine code, prioritize, characterized in that to re-register in the inspection library management database, according to the present invention, component Using the shape code as a key, search the inspection library management database for the inspection library code with the highest priority, and output the inspection position and library code, so the inspection library code including the inspection judgment conditions and inspection algorithm of the inspection machine in a short time Variation of inspection judgment conditions and inspection algorithms. Also eliminated, allowing high inspection accuracy inspection.
[0014]
In the invention according to claim 2 , in the second step, the board to be inspected is specified, the part part number corresponding to the inspection position is searched from the inspection position database, the part part number is used as a key, and the part shape database is used. A part shape code is searched, and an inspection library code having a higher priority is searched from the inspection library management database using the part shape code as a key.
[0015]
In the third aspect of the invention, the third step is the second step, and if the inspection library code can be searched, the inspection position and the library code are output. A shape code is obtained, an inspection library code having a higher priority is searched from the inspection library management database using the part shape code as a key, and an inspection position and a library code are output.
[0016]
According to the invention described in the claim, to get the test library containing a test algorithm and test determination conditions corresponding to the library code from the inspection machine, registered in the inspection library management database, which was statistical processing, the same test Prioritize the machine library code, re-register it in the inspection library management database, and inspect with high priority by the part shape code obtained using the part number corresponding to the inspection position of the board to be inspected as a key Since the library code is searched and the library code corresponding to the inspection position is output, it is possible to create the inspection library code including the inspection judgment conditions and inspection algorithm of the inspection machine in a short time. Also, variations in inspection judgment conditions and inspection algorithms by operators are eliminated, and inspection accuracy is improved. It becomes possible to high inspection. In addition, since data can be created even if there is no actual product such as a prototype board, inspection data can be created in advance, and data creation work can be made more efficient.
[0017]
Invention according to claim 4, inspection location database, a substrate ID, and the inspection position, and a part number, component shape database manages the part number, and a component shape code, the test library management database, and inspection machine number, and the component shape code, and inspection determination condition, the inspection algorithm number, and manages a priority use numbers, each attribute, edit, and delete, and change, that can be added and the Features.
[0018]
The invention described in claim 5 is characterized in that the examination library management database can be charged according to use.
[0019]
Embodiment
Hereinafter, an inspection data creation method showing an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0020]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an inspection data creation method according to an embodiment of the present invention. In the figure, the search results of the inspection position database 1 and the part shape database 2 are input to the library creation process 5, inspection data is generated, and output to the inspection machine 7 of the inspection machine group 6. Further, the library of the inspection machine is centrally managed by the inspection library management database 3. The inspection library statistical processing is to obtain different inspection judgment conditions and algorithm priority levels for each inspection machine with the same part number of the same electronic component. The median value of the conditions may be obtained.
[0021]
About a statistical process, you may use a known thing and it does not prescribe | regulate in particular. In addition, each process, database, and inspection machine may be connected via a network, or data may be transferred by a medium.
[0022]
In addition, the database can also integrally manage inspection machines of a group of inspection machines in a plurality of factories, and may be input / output using the Internet or the like. In this case, the person who manages the examination library management database may charge for the user according to the frequency of the user. For example, it is possible to charge for one part shape, one part product number and the number of input / output times.
[0023]
Specific database management items will be described with reference to FIG. The inspection position database 1 includes a board number that uniquely specifies a printed circuit board to be inspected, an inspection position, and a part number of an electronic component that is mounted at the inspection position. This database does not have to be a relational database, and may be in a file format as long as a printed circuit board to be inspected is specified.
[0024]
The component shape database 2 manages the relationship between the component product number and the component shape code, and specific component dimensions that are attributes of the component shape code. Since the same component shape code may correspond to a plurality of component part numbers, the configuration can be efficiently managed. However, the above configuration is not unique and there are other methods as long as duplication is allowed.
[0025]
The inspection library management database 3, the inspection library code, and these attributes are managed. Since the inspection library code may differ depending on the inspection machine even with the same part product number, the inspection library number has the inspection machine number as an item, and the priority use number, the part shape code, the inspection determination condition, and the inspection algorithm number are registered. In this case, the operator may add the item if it differs from factory to factory. Moreover, since the determination conditions and the inspection algorithm differ depending on the mechanism and function of the inspection machine, numerical values corresponding to the inspection machine are used.
[0026]
Next, the processing flow of the embodiment will be described with reference to FIGS.
[0027]
FIG. 3 illustrates the first step of the present invention. In S1, determination conditions and an inspection algorithm corresponding to the library code are acquired from each inspection machine. The data acquired in S2 is registered in the inspection library database. In S3, statistical processing of the inspection determination condition and the inspection algorithm is performed for each part, and a priority is given to the same inspection machine code. In S4, the processing result is reflected in the inspection library management database and registered again. The priorities may be given when a new inspection library is acquired from the inspection machine or manually at an arbitrary time. In addition, the priority order and the attributes of the inspection library management database can be edited, deleted, changed, added, and the like.
[0028]
FIG. 4 illustrates the second to third steps of the present invention. After specifying the board to be inspected in S5, one part part number corresponding to the inspection position to be inspected is searched from the inspection position database in S6. In step S7, the part shape code and the part shape attribute are searched from the part shape database using the part number as a key. In S8, using this part shape code as a key, an inspection library code having a higher priority use number is searched from the inspection library management database. At this time, an arbitrary priority use number may be selected at the operator's discretion. If the inspection library code can be searched in S9, the inspection position and the library code corresponding to the inspection position are output to the inspection machine in S11. If the inspection library code cannot be searched, a similar component shape attribute is used in S10. The part shape code is searched from the part shape database, and the part shape code is obtained. In step S8, an inspection library code having a high priority use number is searched using the part shape code as a key. In step S11, the library corresponding to the inspection position and the inspection position is searched. Output code. As a search method in S10, a search may be made for a part within the allowable range of the external dimensions of the part, or a search for parts having the same number of lead parts.
[0029]
The search method is set in advance according to the characteristics of the inspection machine. S6 to S11 are repeated for all part numbers.
[0030]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, an inspection library including the inspection determination condition and inspection algorithm corresponding to the library code is acquired from each inspection machine, registered in the inspection library management database, and statistically processed to obtain the same inspection. Prioritize the machine library code, re-register it in the inspection library management database, and inspect with high priority by the part shape code obtained using the part number corresponding to the inspection position of the board to be inspected as a key Since the library code is searched and the library code corresponding to the inspection position is output, it is possible to create the inspection library code including the inspection judgment conditions and inspection algorithm of the inspection machine in a short time. In addition, variations in inspection judgment conditions and inspection algorithms by the operator are eliminated, and inspection accuracy is improved. There inspection is possible. In addition, since data can be created even if there is no actual product such as a prototype board, inspection data can be created in advance, and data creation work can be made more efficient.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of an inspection data creation method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a database configuration diagram according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a flow of a first step in the same embodiment.
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a flow of second and third steps in the embodiment.
FIG. 5 is a diagram illustrating inspection of a printed circuit board.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection position database 2 Component shape database 3 Inspection library management database 4 Inspection library statistical process 5 Library creation process 6 Inspection machine group 7 Inspection machine 8 Printed circuit board 9 Electronic component 10 Pad 11 Solder 12 Judgment conditions

Claims (5)

複数の検査機に検索結果がライブラリ作成処理されて出力される検査位置データベースと部品形状データベースと、前記複数の検査機のライブラリを一元管理する検査ライブラリ管理データベースを備えたプリント基板の検査を行う検査機データを作成する方法であって、
前記複数の検査機から検査判定材料、検査アルゴリズムと、検査機コードとを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、同一部品品番のライブラリコードを統計処理し、優先順位をつけ検査ライブラリ管理データベースに再登録する第1工程と、検査位置データベースと部品形状データベースより求めた部品形状コードをキーとして、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを求める第2工程と、前工程において、部品形状コードが存在しない場合、部品品番に対応した部品寸法情報より類似の部品を検索し、当該部品形状コードを求め、この形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求め、検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを出力する第3工程から成り、前記第1工程は、前記複数の検査機からライブラリコードに対応する検査判定材料と、検査アルゴリズムと、前記検査機コードとを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、同一部品品番ごとに、検査判定条件と検査アルゴリズムの統計処理し、検査機コードに対し、優先順位を付け、検査ライブラリ管理データベースに再登録することを特徴とする検査データ作成方法。
Inspection conducted an inspection location database and component shape database search results in a plurality of inspection machines are output is the library creation process, the inspection of printed circuit board with a test library management database to centrally manage the library of the plurality of inspection machines A method for creating machine data,
Wherein the plurality of inspection determining material from the inspection machine, the inspection algorithm, and obtains the test library containing an inspection machine code, registered in the inspection library management database, statistical processing library code of the same part number, prioritizing A first step of re-registering in the inspection library management database; a second step of obtaining an inspection library code having a higher priority from the inspection library management database using the part shape code obtained from the inspection position database and the part shape database as a key; If there is no part shape code in the previous process, a similar part is searched from the part dimension information corresponding to the part number, the part shape code is obtained, an inspection library code is obtained using this shape code as a key, and an inspection position And the third work that outputs the library code corresponding to the inspection position Made, the first step, an inspection determination criteria corresponding to the library code from said plurality of inspection machines to obtain a test library comprising a checking algorithm, and said inspection machine code, registered in the inspection library management database, A method for creating inspection data, wherein statistical processing of inspection determination conditions and inspection algorithms is performed for each part number, priorities are assigned to inspection machine codes, and re-registration is performed in an inspection library management database .
第2工程は、検査対象となる基板を特定し、検査位置データベースより、検査位置に対応する部品品番を検索し、部品品番をキーに、部品形状データベースより、部品形状コードを検索し、部品形状コードをキーに、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索することを特徴とする請求項1記載の検査データ作成方法。  In the second step, the board to be inspected is specified, the part part number corresponding to the inspection position is searched from the inspection position database, the part shape code is searched from the part shape database using the part part number as a key, and the part shape is searched. 2. The test data creation method according to claim 1, wherein a test library code having a higher priority is searched from the test library management database using the code as a key. 第3工程は、第2工程で、検査ライブラリコードが検索できる場合は、検査位置とライブラリコードを出力し、検索できない場合は、部品形状データベースより、類似する部品形状コードを求め、部品形状コードをキーに、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置とライブラリコードを出力することを特徴とする請求項1記載の検査データ作成方法。  In the third step, if the inspection library code can be searched in the second step, the inspection position and the library code are output. If the inspection library code cannot be searched, a similar part shape code is obtained from the part shape database, and the part shape code is obtained. 2. The test data creation method according to claim 1, wherein a test library code having a higher priority is searched from a test library management database as a key, and a test position and a library code are output. 検査位置データベースは、基板番号、検査位置、部品品番を、部品形状データベースは、部品品番、部品形状コードを管理し、検査ライブラリ管理データベースは、検査機番号、部品形状コード、検査判定条件、検査アルゴリズム番号、及び優先使用番号を管理し、それぞれの属性は、編集、削除、変更、追加とが可能であることを特徴とする請求項1記載の検査データ作成方法。Inspection location database, a substrate ID, and the inspection position, and a part number, component shape database, and Part No., manages and component shape code, the test library management database, and inspection machine number, and the component shape code , an inspection determination condition, and manages the inspection algorithm number, and a priority use numbers, each attribute, editing and, delete and change the, according to claim 1, wherein the can be added and the Inspection data creation method. 検査ライブラリ管理データベースは、利用に応じて課金できることを特徴とする請求項1記載の検査データ作成方法。  The inspection data creation method according to claim 1, wherein the inspection library management database can be charged according to usage.
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