JP4132783B2 - 高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、露光前後のアルカリ溶解速度コントラストが大幅に高く、高感度で高解像性を有し、優れたエッチング耐性と基板密着性を示し、特に超LSI製造用及びフォトマスクの微細パターン形成材料として好適な化学増幅ポジ型レジスト材料のベース樹脂として有効な高分子化合物並びにこの高分子化合物を含むレジスト材料及びパターン形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】
近年、LSIの高集積化と高速度化に伴い、パターンルールのより微細化の求めに応じて遠紫外線リソグラフィーが実用化されてきた。遠紫外線リソグラフィーは、0.3μm以下の加工も可能であり、光吸収の低いレジスト材料を用いた場合、基板に対して垂直に近い側壁を有したパターン形成が可能になる。
【0003】
例えば、酸を触媒とした化学増幅ポジ型レジスト材料(特公平2−27660号公報、特開昭63−27829号公報等記載)は、遠紫外線の光源として高輝度なKrFエキシマレーザーを利用し、感度、解像性、ドライエッチング耐性が高く、優れた特徴を有した遠紫外線リソグラフィー用のレジスト材料である。
【0004】
このような化学増幅ポジ型レジスト材料としては、ベースポリマー、酸発生剤からなる二成分系、ベースポリマー、酸発生剤、酸不安定基を有する溶解阻止剤からなる三成分系が知られている。
【0005】
例えば、特開昭62−115440号公報にはポリ−p−tert−ブトキシスチレンと酸発生剤からなるレジスト材料が提案され、この提案と類似したものとして特開平3−223858号公報に分子内にtert−ブトキシ基を有する樹脂と酸発生剤からなる二成分系レジスト材料、更には特開平4−211258号公報にはメチル基、イソプロピル基、tert−ブチル基、テトラヒドロピラニル基、トリメチルシリル基含有ポリヒドロキシスチレンと酸発生剤からなる二成分系のレジスト材料が提案されている。
【0006】
更に、特開平6−100488号公報にはポリ[3,4−ビス(2−テトラヒドロピラニルオキシ)スチレン]、ポリ[3,4−ビス(tert−ブトキシカルボニルオキシ)スチレン]、ポリ[3,5−ビス(2−テトラヒドロピラニルオキシ)スチレン]等のポリジヒドロキシスチレン誘導体と酸発生剤からなるレジスト材料が提案されている。
【0007】
しかしながら、これらレジスト材料のベース樹脂は、酸不安定基を側鎖に有するものであり、酸不安定基がtert−ブチル基、tert−ブトキシカルボニル基のように強酸で分解されるものであると、そのレジスト材料のパターン形状がT−トップ形状になり易く、一方、エトキシエチル基等のようなアルコキシアルキル基は弱酸で分解されるため、露光から加熱処理までの時間経過に伴ってパターン形状が著しく細るという欠点を有したり、側鎖にかさ高い基を有しているので、耐熱性が下がったり、感度及び解像度が満足できるものでないなど、いずれも問題を有しており、これらの複数の置換基を用いて欠点を補うなどの検討がなされている。
【0008】
また、より高い透明性及び基板への密着性の実現と、基板までの裾引き改善、エッチング耐性向上のためヒドロキシスチレンと、(メタ)アクリル酸三級エステルとの共重合体を使用したレジスト材料も報告されている(特開平3−275149号公報、特開平6−289608号公報)が、この種のレジスト材料は耐熱性や、露光後のパターン形状が悪い等の問題があり、またエッチング耐性も満足できるものではなかった。
【0009】
本発明は上記事情に鑑みなされたもので、従来のレジスト材料を上回る高感度及び高解像度、露光余裕度、プロセス適応性を有し、露光後のパターン形状が良好であり、更に優れたエッチング耐性を示すレジスト材料、特に化学増幅ポジ型レジスト材料のベース樹脂として有効な高分子化合物並びにこの高分子化合物を含むレジスト材料及びパターン形成方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段及び発明の実施の形態】
本発明者らは上記目的を達成するため鋭意検討を重ねた結果、ポリマー主鎖の末端が式(1)で示される酸不安定基を有する末端基構造であるポリマーを添加することによって、レジストの溶解コントラストが飛躍的に向上し、解像性が高まることを見出した。このポリマーは、特に下記一般式(2)において、nで示される繰り返し数と式(1)で示される酸不安定基を有する末端を有し、重量平均分子量が1,000〜500,000の高分子化合物であり、ポジ型レジスト材料、特に化学増幅ポジ型レジスト材料のベース樹脂として有効で、この高分子化合物と酸発生剤と有機溶剤とを含む化学増幅ポジ型レジスト材料が、レジスト膜の溶解コントラスト、解像性が高く、露光余裕度があり、プロセス適応性に優れ、露光後のパターン形状が良好でありながら、より優れたエッチング耐性を示し、これらのことから実用性が高く、超LSI用レジスト材料あるいはフォトマスクパターン形成材料として非常に有効であることを知見し、本発明をなすに至った。
【0011】
従って、本発明は、下記の高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法を提供する。
請求項1:
下記一般式(2)で示される重量平均分子量が1,000〜500,000である高分子化合物。
【化3】
[式中、R1は単結合、又は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状、環状のアルキレン基、有橋環式のアルキレン基及び炭素数6〜10のアリーレン基から選ばれる基であり、R2は下記式(AL−12)で示される酸不安定基である。R3は水素原子又は下記式(AL−10)で示される基、式(AL−11)で示される基、式(AL−12)で示される基、各アルキル基がそれぞれ炭素数1〜6のトリアルキルシリル基、炭素数4〜20のオキソアルキル基から選ばれる酸不安定基である。或いは、R 3 は他のR 3 と下記式(AL−11a)で示される基、式(AL−11b)で示される基、式(AL−12)−19で示される基又は式(AL−12)−20で示される基によって分子内又は分子間架橋されていてもよい。R4は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基であり、R5は水素原子又はメチル基である。R6は炭素数6〜20の芳香環であり、その水素原子のm個がOR3にて置換されている。Zは単結合又は(p+1)価の脂肪族もしくは芳香族炭化水素基で、カルボニル基、エステル基又はエーテル基を含んでいてもよい。mは1〜3の整数であり、pは1又は2である。nは繰り返し数を示し、この高分子化合物の重量平均分子量を1,000〜500,000とする数である。
【化35】
(式(AL−10)、(AL−11)においてR7、R10は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基であり、酸素、硫黄、窒素、フッ素から選ばれるヘテロ原子を含んでもよい。
R8、R9は水素原子、又は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基であり、酸素、硫黄、窒素、フッ素から選ばれるヘテロ原子を含んでもよく、aは0〜10の整数である。R8とR9、R8とR10、R9とR10はそれぞれ結合してこれらが結合する炭素原子や酸素原子と共に炭素数3〜12の環を形成してもよい。
式(AL−12)の−CR 11 R 12 R 13 は、tert−ブチル基、トリエチルカルビル基、1−エチルノルボニル基、1−メチルシクロヘキシル基、1−エチルシクロペンチル基、2−(2−メチル)アダマンチル基、2−(2−エチル)アダマンチル基、tert−アミル基及び下記一般式(AL−12)−1〜(AL−12)−18で示される基から選択される3級アルキル基を示す。
【化36】
(式中、R30は同一又は異種の炭素数1〜8の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基、又は炭素数6〜20のアリール基又はアラルキル基を示す。R31、R33は水素原子あるいは炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基を示す。R32は炭素数6〜20のアリール基又はアラルキル基を示す。))
【化37】
(式中、R19、R20は水素原子又は炭素数1〜8の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基を示す。又は、R19とR20は結合して環を形成してもよく、環を形成する場合にはR19、R20は炭素数1〜8の直鎖状又は分岐状のアルキレン基を示す。R21は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状又は環状のアルキレン基、bは0又は1〜10の整数である。Aは、2価の炭素数1〜50の脂肪族もしくは脂環式飽和炭化水素基、芳香族炭化水素基又はヘテロ環基を示し、これらの基はヘテロ原子を介在してもよく、又はその炭素原子に結合する水素原子の一部が水酸基、カルボキシル基、カルボニル基又はフッ素原子によって置換されていてもよい。Bは−CO−O−、−NHCO−O−又は−NHCONH−を示す。aは1である。)
【化38】
(式中、R30は上記の通り。R34は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキレン基、又はアリーレン基を示し、酸素原子や硫黄原子、窒素原子などのヘテロ原子を含んでいてもよい。bは1〜3の整数である。)]
請求項2:
一般式(2)において、R6で示される芳香環が、ベンゼン環、ナフタレン環又はアントラセン環であることを特徴とする請求項2記載の高分子化合物。
請求項3:
下記式
【化4】
で示される基が、下記群Gの中から選ばれる基である請求項1又は2記載の高分子化合物。
【化30】
(式中、R2は上記の通りである。)
請求項4:
一般式(2)に示される高分子化合物がアニオン重合によって合成されたことを特徴とする請求項1,2又は3記載の高分子化合物。
請求項5:
請求項1乃至4のいずれか1項記載の高分子化合物を含むことを特徴とするレジスト材料。
請求項6:
(A)有機溶剤、
(B)ベース樹脂として請求項1乃至4のいずれか1項記載の高分子化合物、
(C)酸発生剤
を含有してなることを特徴とする化学増幅ポジ型レジスト材料。
請求項7:
更に、(D)溶解阻止剤を含有してなることを特徴とする請求項6記載の化学増幅ポジ型レジスト材料。
請求項8:
更に、(E)添加剤として塩基性化合物を配合したことを特徴とする請求項6又は7記載の化学増幅ポジ型レジスト材料。
請求項9:
請求項5乃至8のいずれか1項に記載のレジスト材料を基板上に塗布する工程と、加熱処理後、フォトマスクを介して高エネルギー線もしくは電子線で露光する工程と、必要に応じて加熱処理した後、現像液を用いて現像する工程とを含むことを特徴とするパターン形成方法。
【0012】
以下、本発明につき更に詳しく説明する。
本発明の高分子化合物は、下記一般式(1)で示される末端構造を有するものである。この場合、この高分子化合物は、下記一般式(2)で示されるものである。
【0013】
【化5】
(式中、R1は単結合、又は炭素数1〜10、好ましくは1〜8の直鎖状、分岐状、環状のアルキレン基、有橋環式のアルキレン基及び炭素数6〜10のアリーレン基から選ばれる基であり、R2は酸不安定基である。R3は水素原子又は酸不安定基である。R4は炭素数1〜20、好ましくは3〜10の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基であり、R5は水素原子又はメチル基である。R6は炭素数6〜20の芳香環であり、その水素原子のm個がOR3にて置換されている。Zは単結合又は(p+1)価の脂肪族もしくは芳香族炭化水素基で、カルボニル基、エステル基又はエーテル基を含んでいてもよい。mは1〜3の整数であり、pは1又は2である。)
【0014】
R1のアルキレン基としては、メチレン基、エチレン基、n−プロピレン基、イソプロピレン基、n−ブチレン基、イソブチレン基、sec−ブチレン基、シクロヘキシレン基、ノルボルニレン、アダマンチレンなどの有橋環式基が挙げられ、特にメチレン基、エチレン基、n−プロピレン基が好ましく用いられる。R1のアリーレン基としては、フェニレン基等が挙げられる。
【0015】
R4のアルキル基の例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基等が挙げられる。
【0016】
R6は、KrFエキシマレーザー露光用にはベンゼン環が好ましく用いられるが、EB露光用にはナフタレン環あるいはアントラセン環を用いることもできる。KrFエキシマレーザーの248nmの波長においては、ナフタレン環、アントラセン環は強い吸収があるためパターン形成ができないが、EBにおいては吸収がないため、垂直なパターンが形成できる。更に、ドライエッチング耐性はベンゼン環よりもナフタレン環、アントラセン環の方が有利である。
【0017】
Zは、単結合、又は(p+1)価(即ち、2価又は3価)の脂肪族もしくは芳香族炭化水素基であり、この場合、脂肪族炭化水素基では炭素数1〜20のもの、特に1〜12のものが好ましく、芳香族炭化水素基として炭素数6〜20のもの、特に6〜10のものが好ましい。2価の脂肪族炭化水素基としては、直鎖状、分岐状、環状、又は有橋環式のアルキレン基が挙げられ、2価の芳香族炭化水素基としては、フェニレン基等のアリーレン基が挙げられ、これらアルキレン基、アリーレン基としては、R1で例示したものを具体的に例示することができる。3価の脂肪族、芳香族炭化水素基としては、上記2価の脂肪族、芳香族炭化水素基(アルキレン基、アリーレン基)の炭素原子に結合した水素原子の1個が脱離したものが挙げられる。また、上記(p+1)価の脂肪族、芳香族炭化水素基は、カルボニル基(=C=O)、エステル基(−COO−)、又はエーテル基(−O−)を含んでいてもよい。
Zとしては、例えば下記のものを例示することができる。
【0018】
【化6】
【0019】
但し、R0は、単結合、又はR1と同様の炭素数1〜10の直鎖状、分岐状、環状、又は有橋環式のアルキレン基又は炭素数6〜10のアリーレン基であり、カルボニル基、エステル基又はエーテル基を含んでいてもよい。Rは、炭素数1〜6の直鎖状又は分岐状のアルキレン基より水素原子が1個脱離した3価の脂肪族炭化水素基を示す。又は、
【化7】
を形成する基を示す。
【0020】
上記高分子化合物における末端の酸不安定基R2と側鎖の酸不安定基R3は同一でも異なっていてもよく、種々選定されるが、R 2 は下記式(AL−12)で示される基であり、R 3 は特に下記式(AL−10)、(AL−11)で示される基、下記式(AL−12)で示される炭素数4〜40の3級アルキル基、各アルキル基がそれぞれ炭素数1〜6のトリアルキルシリル基、炭素数4〜20のオキソアルキル基等であることが好ましい。また、ポリマー側鎖の酸不安定基R3は1種類でもよく、異なる2種以上を用いてもよい。
【0021】
【化8】
【0022】
式(AL−10)、(AL−11)においてR7、R10は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基であり、酸素、硫黄、窒素、フッ素などのヘテロ原子を含んでもよい。
【0023】
R8、R9は水素原子、又は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基であり、酸素、硫黄、窒素、フッ素などのヘテロ原子を含んでもよく、aは0〜10の整数である。R8とR9、R8とR10、R9とR10はそれぞれ結合してこれらが結合する炭素原子や酸素原子と共に炭素数3〜12、特に3〜8の環を形成してもよい。式(AL−10)に示される化合物を具体的に例示すると、tert−ブトキシカルボニル基、tert−ブトキシカルボニルメチル基、tert−アミロキシカルボニル基、tert−アミロキシカルボニルメチル基、1−エトキシエトキシカルボニルメチル基、2−テトラヒドロピラニルオキシカルボニルメチル基、2−テトラヒドロフラニルオキシカルボニルメチル基等、また下記一般式(AL−10)−1〜(AL−10)−9で示される置換基が挙げられる。
【0024】
【化9】
【0025】
式(AL−10)−1〜(AL−10)−9中、R14は同一又は異種の炭素数1〜8の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基、又は炭素数6〜20のアリール基又はアラルキル基を示す。R15は水素原子、又は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基を示す。R16は炭素数6〜20のアリール基又はアラルキル基を示す。aは前記と同様である。
【0026】
式(AL−11)で示されるアセタール基としては、式(AL−11)−1〜(AL−11)−23で示されるものが例示する。
【0027】
【化10】
【0028】
【化11】
【0029】
また、アセタール構造を有する酸不安定基として、R3の場合、下記一般式(AL−11a)あるいは(AL−11b)で表される酸不安定基によって分子間あるいは分子内架橋されていてもよい。
【0030】
【化12】
【0031】
式中、R19、R20は水素原子又は炭素数1〜8の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基を示す。又は、R19とR20は結合して環を形成してもよく、環を形成する場合にはR19、R20は炭素数1から8の直鎖状又は分岐状のアルキレン基を示す。R21は炭素数1〜10の直鎖状、分岐状又は環状のアルキレン基、bは0又は1〜10の整数である。Aは、2価の炭素数1〜50の脂肪族もしくは脂環式飽和炭化水素基、芳香族炭化水素基又はヘテロ環基を示し、これらの基はヘテロ原子を介在してもよく、又はその炭素原子に結合する水素原子の一部が水酸基、カルボキシル基、カルボニル基又はフッ素原子によって置換されていてもよい。Bは−CO−O−、−NHCO−O−又は−NHCONH−を示す。aは1である。
【0032】
一般式(AL−11a)、(AL−11b)に示される架橋型アセタールは、具体的には下記式(AL−11)−24〜(AL−11)−30で示されるものを挙げることができる。
【0033】
【化13】
【0034】
式(AL−12)に示される3級アルキル基としては、tert−ブチル基、トリエチルカルビル基、1−エチルノルボニル基、1−メチルシクロヘキシル基、1−エチルシクロペンチル基、2−(2−メチル)アダマンチル基、2−(2−エチル)アダマンチル基、tert−アミル基等あるいは下記一般式(AL−12)−1〜(AL−12)−18で示されるものを挙げることができる。
【0035】
【化14】
【0036】
式中、R30は同一又は異種の炭素数1〜8の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基、又は炭素数6〜20のアリール基又はアラルキル基を示す。R31、R33は水素原子あるいは炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基を示す。R32は炭素数6〜20のアリール基又はアラルキル基を示す。
【0037】
更に、式(AL−12)−19、(AL−12)−20に示すように、2価以上のアルキレン基又はアリーレン基であるR34を含んで、ポリマーの分子内あるいは分子間が架橋されていてもよい。式(AL−12)−19中、R30は前述と同様、R34は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキレン基、又はアリーレン基を示し、酸素原子や硫黄原子、窒素原子などのヘテロ原子を含んでいてもよい。bは1〜3の整数である。
【0038】
【化15】
【0039】
更にR30、R31、R32、R33は酸素、窒素、硫黄などのヘテロ原子を有していてもよく、具体的には下記式(AL−13)−1〜(AL−13)−7に示すことができる。
【0040】
【化16】
【0041】
各アルキル基がそれぞれ炭素数1〜6のトリアルキルシリル基としては、トリメチルシリル基、トリエチルシリル基、ジメチル−tert−ブチルシリル基等が挙げられる。
【0042】
本発明に係わる末端に酸不安定基を有するフェノール残基ポリマーを製造する方法としては、リビングアニオン重合中、停止成分として、酸不安定基を有する化合物と反応させる方法が挙げられる。例えば一般式(2)中、R6がベンゼン環の場合、一般式(3)−1で示されるヒドロキシスチレン誘導体、R6がナフタレン環の場合、一般式(3)−2で示されるヒドロキシビニルナフタレン誘導体、R6がアントラセン環の場合、一般式(3)−3で示されるヒドロキシビニルアントラセン誘導体を用いてリビングアニオン重合を開始し、所定量を重合後、一般式(4)で示される化合物を反応させることによって重合を停止させる方法が好ましい。
【0043】
【化17】
【0044】
ここで、R5、mは前述の通りであり、R40は炭素数1〜6の直鎖状、分岐状、環状の1級、2級、3級のアルキル基、式(AL−11)で示されるアセタール基、トリアルキルシリル基などが挙げられる。
【0045】
酸不安定基を有する重合停止剤としては、一般式(4)、特に一般式(4)−1〜(4)−3に示されるものが好ましい。
【化18】
【0046】
ここで、R1、R2、Z、R0、Rは上記の通りであり、Xはハロゲン原子、アルデヒド基、水酸基、カルボキシル基などが挙げられる。
【0047】
更に、一般式(4)−1〜(4)−3に示される重合停止剤は具体的には下記式(4)−1−1〜(4)−1−18、(4)−2−1〜(4)−2−14、(4)−3−1に例示することができる。
【0048】
【化19】
【0049】
【化20】
【0050】
リビングアニオン重合を行う場合、反応溶媒としては、トルエン、ベンゼン、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチルエーテル等の溶媒が好ましく、特にテトラヒドロフラン、ジオキサン、エチルエーテル等の極性溶媒が好ましい、単独でも2種以上混合して使用してもかまわない。
【0051】
開始剤としてはアルキルリチウムが用いられ、その中でも特にsec−ブチルリチウム、n−ブチルリチウムが好ましく、その使用量は設計分子量に比例する。反応温度としては−80〜100℃、好ましくは−70〜0℃であり、反応時間としては0.1〜50時間、好ましくは0.5〜5時間である。
【0052】
上記方法においては、重量平均分子量が1,000〜500,000であり、一般式(2)で示される高分子化合物を得ることができる。
【0053】
本発明の高分子化合物の合成例として反応式(5)を下記に示す。
【化21】
【0054】
この場合、重合開始剤としてsec−ブチルリチウムを用い、重合停止剤としては3−ブロモプロピオン酸tブチルを用いた。
【0055】
重合後、R40の脱保護反応を行い、フェノールの水酸基の水素原子を酸不安定基で置換する。ここで注意しなければならないのはR40の脱保護反応時にR2が脱保護されないようにしなければならないことである。酸で脱保護する場合は、R40はR2より容易に脱保護される保護基、例えばアセタール基やトリメチルシリル基等を選択するべきであるし、できればアルカリ条件で脱保護する方が望ましい。
【0056】
更に、このようにして得られた高分子化合物を単離後、フェノール性水酸基部分に対して、一般式(AL−10)、(AL−11)、(AL−12)で示される酸不安定基を導入することも可能である。例えば、高分子化合物のフェノール性水酸基をアルケニルエーテル化合物と酸触媒下反応させて、部分的にフェノール性水酸基がアルコキシアルキル基で保護された高分子化合物を得ることが可能である。
【0057】
この時、反応溶媒としては、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、テトラヒドロフラン、酢酸エチル等の非プロトン性極性溶媒が好ましく、単独でも2種以上混合して使用してもかまわない。触媒の酸としては、塩酸、硫酸、トリフルオロメタンスルホン酸、p−トルエンスルホン酸、メタンスルホン酸、p−トルエンスルホン酸ピリジニウム塩等が好ましく、その使用量は反応する高分子化合物のフェノール性水酸基の水素原子をその全水酸基の1モルに対して0.1〜10モル%であることが好ましい。反応温度としては−20〜100℃、好ましくは0〜60℃であり、反応時間としては0.2〜100時間、好ましくは0.5〜20時間である。
【0058】
また、ハロゲン化アルキルエーテル化合物を用いて、塩基の存在下、高分子化合物と反応させることにより、部分的にフェノール性水酸基がアルコキシアルキル基で保護された高分子化合物を得ることも可能である。
【0059】
この時、反応溶媒としては、アセトニトリル、アセトン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、テトラヒドロフラン、ジメチルスルホキシド等の非プロトン性極性溶媒が好ましく、単独でも2種以上混合して使用してもかまわない。塩基としては、トリエチルアミン、ピリジン、ジイソプロピルアミン、炭酸カリウム等が好ましく、その使用量は反応する高分子化合物のフェノール性水酸基の水素原子をその全水酸基の1モルに対して10モル%以上であることが好ましい。反応温度としては−50〜100℃、好ましくは0〜60℃であり、反応時間としては0.5〜100時間、好ましくは1〜20時間である。
【0060】
更に、上記式(AL−10)の酸不安定基の導入は、二炭酸ジアルキル化合物又は、アルコキシカルボニルアルキルハライドと高分子化合物を、溶媒中において塩基の存在下反応を行うことで可能である。反応溶媒としては、アセトニトリル、アセトン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、テトラヒドロフラン、ジメチルスルホキシド等の非プロトン性極性溶媒が好ましく、単独でも2種以上混合して使用してもかまわない。
【0061】
塩基としては、トリエチルアミン、ピリジン、イミダゾール、ジイソプロピルアミン、炭酸カリウム等が好ましく、その使用量は元の高分子化合物のフェノール性水酸基の水素原子をその全水酸基の1モルに対して10モル%以上であることが好ましい。
【0062】
反応温度としては0〜100℃、好ましくは0〜60℃である。反応時間としては0.2〜100時間、好ましくは1〜10時間である。
【0063】
二炭酸ジアルキル化合物としては二炭酸ジ−tert−ブチル、二炭酸ジ−tert−アミル等が挙げられ、アルコキシカルボニルアルキルハライドとしてはtert−ブトキシカルボニルメチルクロライド、tert−アミロキシカルボニルメチルクロライド、tert−ブトキシカルボニルメチルブロマイド、tert−ブトキシカルボニルエチルクロライド等が挙げられる。
但しこれら合成手法に限定されるものではない。
【0064】
本発明の高分子化合物は、レジスト材料、特に化学増幅レジスト材料におけるベース樹脂として好適に使用され、本発明のレジスト材料は、この式(1)で示される酸不安定基含有末端基を有する高分子材料を添加してなることを特徴とするが、この場合本発明の化合物に、末端に酸不安定基を有しない従来型の高分子材料を更に添加、即ちポリマーブレンドすることも可能である。従来型の高分子材料は、置換又は非置換のノボラック、ポリヒドロキシスチレン、ポリヒドロキシスチレン−(メタ)アクリル酸誘導体、(メタ)アクリル誘導体、ノルボルネン誘導体、無水マレイン酸、マレイミド誘導体、アセナフテン誘導体、ビニルナフタレン誘導体、ビニルアントラセン誘導体、ビニルエーテル誘導体、アリルエーテル誘導体、酢酸ビニル、(メタ)アクリロニトリル、ビニルピロリドン、テトラフルオロエチレン、あるいはインデン誘導体、インドール誘導体、ベンゾフラン誘導体、ベンゾチオフェン誘導体などであり、あるいはこれらの共重合体である。上記ポリマーの重合方法は、アニオン重合であってもラジカル重合、カチオン重合であってもよい。更に本発明のレジスト材料において、異なる分子量、分散度の2種以上のポリマーブレンド、あるいは異なる主鎖の酸不安定基、異なる末端の酸不安定基をもつ2種以上のポリマーブレンドも可能である。
【0065】
本発明のレジスト材料は、特にポジ型として良好に使用され、上述した高分子化合物を含むものであるが、この場合、本発明のレジスト材料は、
(A)有機溶剤、
(B)ベース樹脂として上記高分子化合物、
(C)酸発生剤、
更に必要により
(D)溶解阻止剤、
好ましくは
(E)塩基性化合物
を含有する化学増幅ポジ型レジスト材料として用いることが好ましい。
【0066】
ここで、本発明の化学増幅ポジ型レジスト材料において、(A)成分の有機溶剤としては、酢酸ブチル、酢酸アミル、酢酸シクロヘキシル、酢酸3−メトキシブチル、メチルエチルケトン、メチルアミルケトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、3−エトキシエチルプロピオネート、3−エトキシメチルプロピオネート、3−メトキシメチルプロピオネート、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、ジアセトンアルコール、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルプロピオネート、プロピレングリコールモノエチルエーテルプロピオネート、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、3−メチル−3−メトキシブタノール、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、γブチロラクトン、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールプロピルエーテルアセテート、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸プロピル、テトラメチレンスルホン等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。特に好ましいものは、プロピレングリコールアルキルエーテルアセテート、乳酸アルキルエステルである。これらの溶剤は単独でも2種以上混合してもよい。好ましい混合溶剤の例はプロピレングリコールアルキルエーテルアセテートと乳酸アルキルエステルとの混合溶剤である。
【0067】
なお、本発明におけるプロピレングリコールアルキルエーテルアセテートのアルキル基は炭素数1〜4のもの、例えばメチル基、エチル基、プロピル基等が挙げられるが、中でもメチル基、エチル基が好適である。また、このプロピレングリコールアルキルエーテルアセテートには1,2置換体と1,3置換体があり、置換位置の組み合わせで3種の異性体があるが、単独あるいは混合物のいずれの場合でもよい。
【0068】
また、上記の乳酸アルキルエステルのアルキル基は炭素数1〜4のもの、例えばメチル基、エチル基、プロピル基等が挙げられるが、中でもメチル基、エチル基が好適である。
【0069】
溶剤としてプロピレングリコールアルキルエーテルアセテートを添加する際には全溶剤に対して10重量%以上とすることが好ましい。また、プロピレングリコールアルキルエーテルアセテートと乳酸アルキルエステルの混合溶剤を溶剤として用いる際には、その合計量が全溶剤に対して50重量%以上であることが好ましい。この場合、更に好ましくは、プロピレングリコールアルキルエーテルアセテートを20〜100重量%、乳酸アルキルエステルを0〜80重量%の割合とすることが好ましい。プロピレングリコールアルキルエーテルアセテートが少ないと、塗布性劣化等の問題があり、多すぎると溶解性不十分、パーティクル、異物の発生の問題がある。乳酸アルキルエステルが少ないと特に酸発生剤としてオニウム塩を添加している場合の溶解性が不十分、パーティクル、異物の増加等の問題があり、多すぎると粘度が高くなり塗布性が悪くなる上、保存安定性の劣化等の問題がある。
【0070】
これら溶剤の添加量は化学増幅ポジ型レジスト材料のベース樹脂100重量部に対して300〜2,000重量部、好ましくは400〜1,000重量部であるが、既存の成膜方法で可能な濃度であればこれに限定されるものではない。
【0071】
(C)成分の光酸発生剤としては、高エネルギー線照射により酸を発生する化合物であればいずれでもかまわない。好適な光酸発生剤としてはスルホニウム塩、ヨードニウム塩、スルホニルジアゾメタン、N−スルホニルオキシイミド型酸発生剤等がある。以下に詳述するがこれらは単独あるいは2種以上混合して用いることができる。
【0072】
スルホニウム塩はスルホニウムカチオンとスルホネートの塩であり、スルホニウムカチオンとしてトリフェニルスルホニウム、(4−tert−ブトキシフェニル)ジフェニルスルホニウム、ビス(4−tert−ブトキシフェニル)フェニルスルホニウム、トリス(4−tert−ブトキシフェニル)スルホニウム、(3−tert−ブトキシフェニル)ジフェニルスルホニウム、ビス(3−tert−ブトキシフェニル)フェニルスルホニウム、トリス(3−tert−ブトキシフェニル)スルホニウム、(3,4−ジtert−ブトキシフェニル)ジフェニルスルホニウム、ビス(3,4−ジtert−ブトキシフェニル)フェニルスルホニウム、トリス(3,4−ジtert−ブトキシフェニル)スルホニウム、ジフェニル(4−チオフェノキシフェニル)スルホニウム、(4−tert−ブトキシカルボニルメチルオキシフェニル)ジフェニルスルホニウム、トリス(4−tert−ブトキシカルボニルメチルオキシフェニル)スルホニウム、(4−tert−ブトキシフェニル)ビス(4−ジメチルアミノフェニル)スルホニウム、トリス(4−ジメチルアミノフェニル)スルホニウム、2−ナフチルジフェニルスルホニウム、ジメチル2−ナフチルスルホニウム、4−ヒドロキシフェニルジメチルスルホニウム、4−メトキシフェニルジメチルスルホニウム、トリメチルスルホニウム、2−オキソシクロヘキシルシクロヘキシルメチルスルホニウム、トリナフチルスルホニウム、トリベンジルスルホニウム等が挙げられ、スルホネートとしては、トリフルオロメタンスルホネート、ノナフルオロブタンスルホネート、ヘプタデカフルオロオクタンスルホネート、2,2,2−トリフルオロエタンスルホネート、ペンタフルオロベンゼンスルホネート、4−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、4−フルオロベンゼンスルホネート、トルエンスルホネート、ベンゼンスルホネート、4−(4−トルエンスルホニルオキシ)ベンゼンスルホネート、ナフタレンスルホネート、カンファースルホネート、オクタンスルホネート、ドデシルベンゼンスルホネート、ブタンスルホネート、メタンスルホネート等が挙げられ、これらの組み合わせのスルホニウム塩が挙げられる。
【0073】
ヨードニウム塩はヨードニウムカチオンとスルホネートの塩であり、ジフェニルヨードニウム、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウム、4−tert−ブトキシフェニルフェニルヨードニウム、4−メトキシフェニルフェニルヨードニウム等のアリールヨードニウムカチオンとスルホネートとしてトリフルオロメタンスルホネート、ノナフルオロブタンスルホネート、ヘプタデカフルオロオクタンスルホネート、2,2,2−トリフルオロエタンスルホネート、ペンタフルオロベンゼンスルホネート、4−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、4−フルオロベンゼンスルホネート、トルエンスルホネート、ベンゼンスルホネート、4−(4−トルエンスルホニルオキシ)ベンゼンスルホネート、ナフタレンスルホネート、カンファースルホネート、オクタンスルホネート、ドデシルベンゼンスルホネート、ブタンスルホネート、メタンスルホネート等が挙げられ、これらの組み合わせのヨードニウム塩が挙げられる。
【0074】
スルホニルジアゾメタンとしては、ビス(エチルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(1−メチルプロピルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(2−メチルプロピルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(1,1−ジメチルエチルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(シクロヘキシルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(パーフルオロイソプロピルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(フェニルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(4−メチルフェニルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(2,4−ジメチルフェニルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(2−ナフチルスルホニル)ジアゾメタン、4−メチルフェニルスルホニルベンゾイルジアゾメタン、tert−ブチルカルボニル−4−メチルフェニルスルホニルジアゾメタン、2−ナフチルスルホニルベンゾイルジアゾメタン、4−メチルフェニルスルホニル−2−ナフトイルジアゾメタン、メチルスルホニルベンゾイルジアゾメタン、tert−ブトキシカルボニル−4−メチルフェニルスルホニルジアゾメタン等のビススルホニルジアゾメタンとスルホニルカルボニルジアゾメタンが挙げられる。
【0075】
N−スルホニルオキシイミド型光酸発生剤としては、コハク酸イミド、ナフタレンジカルボン酸イミド、フタル酸イミド、シクロヘキシルジカルボン酸イミド、5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸イミド、7−オキサビシクロ[2.2.1]−5−ヘプテン−2,3−ジカルボン酸イミド等のイミド骨格とトリフルオロメタンスルホネート、ノナフルオロブタンスルホネート、ヘプタデカフオロオクタンスルホネート、2,2,2−トリフルオロエタンスルホネート、ペンタフルオロベンゼンスルホネート、4−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、4−フルオロベンゼンスルホネート、トルエンスルホネート、ベンゼンスルホネート、ナフタレンスルホネート、カンファースルホネート、オクタンスルホネート、ドデシルベンゼンスルホネート、ブタンスルホネート、メタンスルホネート等の組み合わせの化合物が挙げられる。
【0076】
ベンゾインスルホネート型光酸発生剤としては、ベンゾイントシレート、ベンゾインメシレート、ベンゾインブタンスルホネート等が挙げられる。
【0077】
ピロガロールトリスルホネート型光酸発生剤としては、ピロガロール、フロログリシン、カテコール、レゾルシノール、ヒドロキノンのヒドロキシル基の全てをトリフルオロメタンスルホネート、ノナフルオロブタンスルホネート、ヘプタデカフルオロオクタンスルホネート、2,2,2−トリフルオロエタンスルホネート、ペンタフルオロベンゼンスルホネート、4−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、4−フルオロベンゼンスルホネート、トルエンスルホネート、ベンゼンスルホネート、ナフタレンスルホネート、カンファースルホネート、オクタンスルホネート、ドデシルベンゼンスルホネート、ブタンスルホネート、メタンスルホネート等で置換した化合物が挙げられる。
【0078】
ニトロベンジルスルホネート型光酸発生剤としては、2,4−ジニトロベンジルスルホネート、2−ニトロベンジルスルホネート、2,6−ジニトロベンジルスルホネートが挙げられ、スルホネートとしては、具体的にトリフルオロメタンスルホネート、ノナフルオロブタンスルホネート、ヘプタデカフルオロオクタンスルホネート、2,2,2−トリフルオロエタンスルホネート、ペンタフルオロベンゼンスルホネート、4−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、4−フルオロベンゼンスルホネート、トルエンスルホネート、ベンゼンスルホネート、ナフタレンスルホネート、カンファースルホネート、オクタンスルホネート、ドデシルベンゼンスルホネート、ブタンスルホネート、メタンスルホネート等が挙げられる。またベンジル側のニトロ基をトリフルオロメチル基で置き換えた化合物も同様に用いることができる。
【0079】
スルホン型光酸発生剤の例としては、ビス(フェニルスルホニル)メタン、ビス(4−メチルフェニルスルホニル)メタン、ビス(2−ナフチルスルホニル)メタン、2,2−ビス(フェニルスルホニル)プロパン、2,2−ビス(4−メチルフェニルスルホニル)プロパン、2,2−ビス(2−ナフチルスルホニル)プロパン、2−メチル−2−(p−トルエンスルホニル)プロピオフェノン、2−(シクロヘキシルカルボニル)−2−(p−トルエンスルホニル)プロパン、2,4−ジメチル−2−(p−トルエンスルホニル)ペンタン−3−オン等が挙げられる。
【0080】
グリオキシム誘導体型の光酸発生剤の例としては、ビス−o−(p−トルエンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(p−トルエンスルホル)−α−ジフェニルグリオキシム、ビス−o−(p−トルエンスルホニル)−α−ジシクロヘキシルグリオキシム、ビス−o−(p−トルエンスルホニル)−2,3−ペンタンジオングリオキシム、ビス−o−(p−トルエンスルホニル)−2−メチル−3,4−ペンタンジオングリオキシム、ビス−o−(n−ブタンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(n−ブタンスルホニル)−α−ジフェニルグリオキシム、ビス−o−(n−ブタンスルホニル)−α−ジシクロヘキシルグリオキシム、ビス−o−(n−ブタンスルホニル)−2,3−ペンタンジオングリオキシム、ビス−o−(n−ブタンスルホニル)−2−メチル−3,4−ペンタンジオングリオキシム、ビス−o−(メタンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(トリフルオロメタンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(1,1,1−トリフルオロエタンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(tert−ブタンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(パーフルオロオクタンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(シクロヘキシルスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(ベンゼンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(p−フルオロベンゼンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(p−tert−ブチルベンゼンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(キシレンスルホニル)−α−ジメチルグリオキシム、ビス−o−(カンファースルホニル)−α−ジメチルグリオキシム等が挙げられる。
【0081】
中でも好ましく用いられる光酸発生剤としては、スルホニウム塩、ビススルホニルジアゾメタン、N−スルホニルオキシイミドである。
【0082】
ポリマーに用いられる酸不安定基の切れ易さ等により最適な発生酸のアニオンは異なるが、一般的には揮発性がないもの、極端に拡散性の高くないものが選ばれる。この場合好適なアニオンは、ベンゼンスルホン酸アニオン、トルエンスルホン酸アニオン、4−(4−トルエンスルホニルオキシ)ベンゼンスルホン酸アニオン、ペンタフルオロベンゼンスルホン酸アニオン、2,2,2−トリフルオロエタンスルホン酸アニオン、ノナフルオロブタンスルホン酸アニオン、ヘプタデカフルオロオクタンスルホン酸アニオン、カンファースルホン酸アニオンである。
【0083】
本発明の化学増幅ポジ型レジスト材料における光酸発生剤(C)の添加量としては、レジスト材料中のベース樹脂100重量部に対して0.5〜20重量部、好ましくは1〜10重量部である。上記光酸発生剤(C)は単独又は2種以上混合して用いることができる。更に露光波長における透過率が低い光酸発生剤を用い、その添加量でレジスト膜中の透過率を制御することもできる。
【0084】
(D)成分の溶解阻止剤としては、重量平均分子量が100〜1,000で、かつ分子内にフェノール性水酸基を2つ以上有する化合物の該フェノール性水酸基の水素原子を酸不安定基により全体として平均10〜100モル%の割合で置換した化合物が好ましい。なお、上記化合物の重量平均分子量は100〜1,000、好ましくは150〜800である。溶解阻止剤の配合量は、ベース樹脂100重量部に対して0〜50重量部、好ましくは5〜50重量部、より好ましくは10〜30重量部であり、単独又は2種以上を混合して使用できる。配合量が少ないと解像性の向上がない場合があり、多すぎるとパターンの膜減りが生じ、解像度が低下する傾向がある。
【0085】
このような好適に用いられる(D)成分の溶解阻止剤の例としては、ビス(4−(2’−テトラヒドロピラニルオキシ)フェニル)メタン、ビス(4−(2’−テトラヒドロフラニルオキシ)フェニル)メタン、ビス(4−tert−ブトキシフェニル)メタン、ビス(4−tert−ブトキシカルボニルオキシフェニル)メタン、ビス(4−tert−ブトキシカルボニルメチルオキシフェニル)メタン、ビス(4−(1’−エトキシエトキシ)フェニル)メタン、ビス(4−(1’−エトキシプロピルオキシ)フェニル)メタン、2,2−ビス(4’−(2’’−テトラヒドロピラニルオキシ))プロパン、2,2−ビス(4’−(2’’−テトラヒドロフラニルオキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4’−tert−ブトキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(4’−tert−ブトキシカルボニルオキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−tert−ブトキシカルボニルメチルオキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(4’−(1’’−エトキシエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4’−(1’’−エトキシプロピルオキシ)フェニル)プロパン、4,4−ビス(4’−(2’’−テトラヒドロピラニルオキシ)フェニル)吉草酸tertブチル、4,4−ビス(4’−(2’’−テトラヒドロフラニルオキシ)フェニル)吉草酸tertブチル、4,4−ビス(4’−tert−ブトキシフェニル)吉草酸tertブチル、4,4−ビス(4−tert−ブトキシカルボニルオキシフェニル)吉草酸tertブチル、4,4−ビス(4’−tert−ブトキシカルボニルメチルオキシフェニル)吉草酸tertブチル、4,4−ビス(4’−(1’’−エトキシエトキシ)フェニル)吉草酸tertブチル、4,4−ビス(4’−(1’’−エトキシプロピルオキシ)フェニル)吉草酸tertブチル、トリス(4−(2’−テトラヒドロピラニルオキシ)フェニル)メタン、トリス(4−(2’−テトラヒドロフラニルオキシ)フェニル)メタン、トリス(4−tert−ブトキシフェニル)メタン、トリス(4−tert−ブトキシカルボニルオキシフェニル)メタン、トリス(4−tert−ブトキシカルボニルオキシメチルフェニル)メタン、トリス(4−(1’−エトキシエトキシ)フェニル)メタン、トリス(4−(1’−エトキシプロピルオキシ)フェニル)メタン、1,1,2−トリス(4’−(2’’−テトラヒドロピラニルオキシ)フェニル)エタン、1,1,2−トリス(4’−(2’’−テトラヒドロフラニルオキシ)フェニル)エタン、1,1,2−トリス(4’−tert−ブトキシフェニル)エタン、1,1,2−トリス(4’−tert−ブトキシカルボニルオキシフェニル)エタン、1,1,2−トリス(4’−tert−ブトキシカルボニルメチルオキシフェニル)エタン、1,1,2−トリス(4’−(1’−エトキシエトキシ)フェニル)エタン、1,1,2−トリス(4’−(1’−エトキシプロピルオキシ)フェニル)エタン等が挙げられる。
【0086】
(E)成分の塩基性化合物は、光酸発生剤より発生する酸がレジスト膜中に拡散する際の拡散速度を抑制することができる化合物が適しており、このような塩基性化合物の配合により、レジスト膜中での酸の拡散速度が抑制されて解像度が向上し、露光後の感度変化を抑制したり、基板や環境依存性を少なくし、露光余裕度やパターンプロファイル等を向上することができる。
【0087】
このような(E)成分の塩基性化合物としては、第一級、第二級、第三級の脂肪族アミン類、混成アミン類、芳香族アミン類、複素環アミン類、カルボキシ基を有する含窒素化合物、スルホニル基を有する含窒素化合物、ヒドロキシ基を有する含窒素化合物、ヒドロキシフェニル基を有する含窒素化合物、アルコール性含窒素化合物、アミド誘導体、イミド誘導体等が挙げられる。
【0088】
具体的には、第一級の脂肪族アミン類として、アンモニア、メチルアミン、エチルアミン、n−プロピルアミン、イソプロピルアミン、n−ブチルアミン、イソブチルアミン、sec−ブチルアミン、tert−ブチルアミン、ペンチルアミン、tert−アミルアミン、シクロペンチルアミン、ヘキシルアミン、シクロヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、ドデシルアミン、セチルアミン、メチレンジアミン、エチレンジアミン、テトラエチレンペンタミン等が例示され、第二級の脂肪族アミン類として、ジメチルアミン、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン、ジイソプロピルアミン、ジ−n−ブチルアミン、ジイソブチルアミン、ジ−sec−ブチルアミン、ジペンチルアミン、ジシクロペンチルアミン、ジヘキシルアミン、ジシクロヘキシルアミン、ジヘプチルアミン、ジオクチルアミン、ジノニルアミン、ジデシルアミン、ジドデシルアミン、ジセチルアミン、N,N−ジメチルメチレンジアミン、N,N−ジメチルエチレンジアミン、N,N−ジメチルテトラエチレンペンタミン等が例示され、第三級の脂肪族アミン類として、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−プロピルアミン、トリイソプロピルアミン、トリ−n−ブチルアミン、トリイソブチルアミン、トリ−sec−ブチルアミン、トリペンチルアミン、トリシクロペンチルアミン、トリヘキシルアミン、トリシクロヘキシルアミン、トリヘプチルアミン、トリオクチルアミン、トリノニルアミン、トリデシルアミン、トリドデシルアミン、トリセチルアミン、N,N,N’,N’−テトラメチルメチレンジアミン、N,N,N’,N’−テトラメチルエチレンジアミン、N,N,N’,N’−テトラメチルテトラエチレンペンタミン等が例示される。
【0089】
また、混成アミン類としては、例えば、ジメチルエチルアミン、メチルエチルプロピルアミン、ベンジルアミン、フェネチルアミン、ベンジルジメチルアミン等が例示される。芳香族アミン類及び複素環アミン類の具体例としては、アニリン誘導体(例えば、アニリン、N−メチルアニリン、N−エチルアニリン、N−プロピルアニリン、N,N−ジメチルアニリン、2−メチルアニリン、3−メルアニリン、4−メチルアニリン、エチルアニリン、プロピルアニリン、トリメチルアニリン、2−ニトロアニリン、3−ニトロアニリン、4−ニトロアニリン、2,4−ジニトロアニリン、2,6−ジニトロアニリン、3,5−ジニトロアニリン、N,N−ジメチルトルイジン等)、ジフェニル(p−トリル)アミン、メチルジフェニルアミン、トリフェニルアミン、フェニレンジアミン、ナフチルアミン、ジアミノナフタレン、ピロール誘導体(例えば、ピロール、2H−ピロール、1−メチルピロール、2,4−ジメチルピロール、2,5−ジメチルピロール、N−メチルピロール等)、オキサゾール誘導体(例えば、オキサゾール、イソオキサゾール等)、チアゾール誘導体(例えば、チアゾール、イソチアゾール等)、イミダゾール誘導体(例えば、イミダゾール、4−メチルイミダゾール、4−メチル−2−フェニルイミダゾール等)、ピラゾール誘導体、フラザン誘導体、ピロリン誘導体(例えば、ピロリン、2−メチル−1−ピロリン等)、ピロリジン誘導体(例えば、ピロリジン、N−メチルピロリジン、ピロリジノン、N−メチルピロリドン等)、イミダゾリン誘導体、イミダゾリジン誘導体、ピリジン誘導体(例えば、ピリジン、メチルピリジン、エチルピリジン、プロピルピリジン、ブチルピリジン、4−(1−ブチルペンチル)ピリジン、ジメチルピリジン、トリメチルピリジン、トリエチルピリジン、フェニルピリジン、3−メチル−2−フェニルピリジン、4−tert−ブチルピリジン、ジフェニルピリジン、ベンジルピリジン、メトキシピリジン、ブトキシピリジン、ジメトキシピリジン、1−メチル−2−ピリジン、4−ピロリジノピリジン、1−メチル−4−フェニルピリジン、2−(1−エチルプロピル)ピリジン、アミノピリジン、ジメチルアミノピリジン等)、ピリダジン誘導体、ピリミジン誘導体、ピラジン誘導体、ピラゾリン誘導体、ピラゾリジン誘導体、ピペリジン誘導体、ピペラジン誘導体、モルホリン誘導体、インドール誘導体、イソインドール誘導体、1H−インダゾール誘導体、インドリン誘導体、キノリン誘導体(例えば、キノリン、3−キノリンカルボニトリル等)、イソキノリン誘導体、シンノリン誘導体、キナゾリン誘導体、キノキサリン誘導体、フタラジン誘導体、プリン誘導体、プテリジン誘導体、カルバゾール誘導体、フェナントリジン誘導体、アクリジン誘導体、フェナジン誘導体、1,10−フェナントロリン誘導体、アデニン誘導体、アデノシン誘導体、グアニン誘導体、グアノシン誘導体、ウラシル誘導体、ウリジン誘導体等が例示される。
【0090】
更に、カルボキシル基を有する含窒素化合物としては、例えば、アミノ安息香酸、インドールカルボン酸、アミノ酸誘導体(例えば、ニコチン酸、アラニン、アルギニン、アスパラギン酸、グルタミン酸、グリシン、ヒスチジン、イソロイシン、グリシルロイシン、ロイシン、メチオニン、フェニルアラニン、スレオニン、リジン、3−アミノピラジン−2−カルボン酸、メトキシアラニン等)などが例示され、スルホニル基を有する含窒素化合物として、3−ピリジンスルホン酸、p−トルエンスルホン酸ピリジニウム等が例示され、ヒドロキシ基を有する含窒素化合物、ヒドロキシフェニル基を有する含窒素化合物、アルコール性含窒素化合物としては、2−ヒドロキシピリジン、アミノクレゾール、2,4−キノリンジオール、3−インドールメタノールヒドレート、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、N−エチルジエタノールアミン、N,N−ジエチルエタノールアミン、トリイソプロパノールアミン、2,2’−イミノジエタノール、2−アミノエタノール、3−アミノ−1−プロパノール、4−アミノ−1−ブタノール、4−(2−ヒドロキシエチル)モルホリン、2−(2−ヒドロキシエチル)ピリジン、1−(2−ヒドロキシエチル)ピペラジン、1−[2−(2−ヒドロキシエトキシ)エチル]ピペラジン、ピペリジンエタノール、1−(2−ヒドロキシエチル)ピロリジン、1−(2−ヒドロキシエチル)−2−ピロリジノン、3−ピペリジノ−1,2−プロパンジオール、3−ピロリジノ−1,2−プロパンジオール、8−ヒドロキシユロリジン、3−クイヌクリジノール、3−トロパノール、1−メチル−2−ピロリジンエタノール、1−アジリジンエタノール、N−(2−ヒドロキシエチル)フタルイミド、N−(2−ヒドロキシエチル)イソニコチンアミド等が例示される。アミド誘導体としては、ホルムアミド、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、プロピオンアミド、ベンズアミド等が例示される。イミド誘導体としては、フタルイミド、サクシンイミド、マレイミド等が例示される。
【0091】
更に下記一般式(B)−1で示される塩基性化合物から選ばれる1種又は2種以上を添加することもできる。
N(X)n(Y)3-n (B)−1
式中、n=1、2又は3である。側鎖Xは同一でも異なっていてもよく、下記一般式(X)−1〜(X)−3で表すことができる。側鎖Yは同一又は異種の、水素原子もしくは直鎖状、分岐状又は環状の炭素数1〜20のアルキル基を示し、エーテル基もしくはヒドロキシル基を含んでもよい。また、X同士が結合して環を形成してもよい。
【0092】
【化22】
【0093】
ここで、R300、R302、R305は炭素数1〜4の直鎖状又は分岐状のアルキレン基であり、R301、R304は水素原子、又は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基であり、ヒドロキシ基、エーテル基、エステル基、ラクトン環を1あるいは複数含んでいてもよい。
【0094】
R303は単結合、又は炭素数1〜4の直鎖状又は分岐状のアルキレン基であり、R306は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基であり、ヒドロキシ基、エーテル基、エステル基、ラクトン環を1あるいは複数含んでいてもよい。
【0095】
上記一般式(B)−1で表される化合物として具体的には下記のものが例示される。
トリス(2−メトキシメトキシエチル)アミン、トリス{2−(2−メトキシエトキシ)エチル}アミン、トリス{2−(2−メトキシエトキシメトキシ)エチル}アミン、トリス{2−(1−メトキシエトキシ)エチル}アミン、トリス{2−(1−エトキシエトキシ)エチル}アミン、トリス{2−(1−エトキシプロポキシ)エチル}アミン、トリス[2−{2−(2−ヒドロキシエトキシ)エトキシ}エチル]アミン、4,7,13,16,21,24−ヘキサオキサ−1,10−ジアザビシクロ[8.8.8]ヘキサコサン、4,7,13,18−テトラオキサ−1,10−ジアザビシクロ[8.5.5]エイコサン、1,4,10,13−テトラオキサ−7,16−ジアザビシクロオクタデカン、1−アザ−12−クラウン−4、1−アザ−15−クラウン−5、1−アザ−18−クラウン−6、トリス(2−フォルミルオキシエチル)アミン、トリス(2−ホルミルオキシエチル)アミン、トリス(2−アセトキシエチル)アミン、トリス(2−プロピオニルオキシエチル)アミン、トリス(2−ブチリルオキシエチル)アミン、トリス(2−イソブチリルオキシエチル)アミン、トリス(2−バレリルオキシエチル)アミン、トリス(2−ピバロイルオキシキシエチル)アミン、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)2−(アセトキシアセトキシ)エチルアミン、トリス(2−メトキシカルボニルオキシエチル)アミン、トリス(2−tert−ブトキシカルボニルオキシエチル)アミン、トリス[2−(2−オキソプロポキシ)エチル]アミン、トリス[2−(メトキシカルボニルメチル)オキシエチル]アミン、トリス[2−(tert−ブトキシカルボニルメチルオキシ)エチル]アミン、トリス[2−(シクロヘキシルオキシカルボニルメチルオキシ)エチル]アミン、トリス(2−メトキシカルボニルエチル)アミン、トリス(2−エトキシカルボニルエチル)アミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)2−(メトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)2−(メトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)2−(エトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)2−(エトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)2−(2−メトキシエトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)2−(2−メトキシエトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)2−(2−ヒドロキシエトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)2−(2−アセトキシエトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)2−[(メトキシカルボニル)メトキシカルボニル]エチルアミン、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)2−[(メトキシカルボニル)メトキシカルボニル]エチルアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)2−(2−オキソプロポキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)2−(2−オキソプロポキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)2−(テトラヒドロフルフリルオキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)2−(テトラヒドロフルフリルオキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)2−[(2−オキソテトラヒドロフラン−3−イル)オキシカルボニル]エチルアミン、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)2−[(2−オキソテトラヒドロフラン−3−イル)オキシカルボニル]エチルアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)2−(4−ヒドロキシブトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−ホルミルオキシエチル)2−(4−ホルミルオキシブトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−ホルミルオキシエチル)2−(2−ホルミルオキシエトキシカルボニル)エチルアミン、N,N−ビス(2−メトキシエチル)2−(メトキシカルボニル)エチルアミン、N−(2−ヒドロキシエチル)ビス[2−(メトキシカルボニル)エチル]アミン、N−(2−アセトキシエチル)ビス[2−(メトキシカルボニル)エチル]アミン、N−(2−ヒドロキシエチル)ビス[2−(エトキシカルボニル)エチル]アミン、N−(2−アセトキシエチル)ビス[2−(エトキシカルボニル)エチル]アミン、N−(3−ヒドロキシ−1−プロピル)ビス[2−(メトキシカルボニル)エチル]アミン、N−(3−アセトキシ−1−プロピル)ビス[2−(メトキシカルボニル)エチル]アミン、N−(2−メトキシエチル)ビス[2−(メトキシカルボニル)エチル]アミン、N−ブチルビス[2−(メトキシカルボニル)エチル]アミン、N−ブチルビス[2−(2−メトキシエトキシカルボニル)エチル]アミン、N−メチルビス(2−アセトキシエチル)アミン、N−エチルビス(2−アセトキシエチル)アミン、N−メチルビス(2−ピバロイルオキシキシエチル)アミン、N−エチルビス[2−(メトキシカルボニルオキシ)エチル]アミン、N−エチルビス[2−(tert−ブトキシカルボニルオキシ)エチル]アミン、トリス(メトキシカルボニルメチル)アミン、トリス(エトキシカルボニルメチル)アミン、N−ブチルビス(メトキシカルボニルメチル)アミン、N−ヘキシルビス(メトキシカルボニルメチル)アミン、β−(ジエチルアミノ)−δ−バレロラクトンを例示できるが、これらに制限されない。
【0096】
更に下記一般式(B)−2に示される環状構造を持つ塩基性化合物の1種あるいは2種以上を添加することもできる。
【化23】
(式中、Xは前述の通り、R307は炭素数2〜20の直鎖状又は分岐状のアルキレン基であり、カルボニル基、エーテル基、エステル基、スルフィドを1個あるいは複数個含んでいてもよい。)
【0097】
上記式(B)−2は具体的には、1−[2−(メトキシメトキシ)エチル]ピロリジン、1−[2−(メトキシメトキシ)エチル]ピペリジン、4−[2−(メトキシメトキシ)エチル]モルホリン、1−[2−[(2−メトキシエトキシ)メトキシ]エチル]ピロリジン、1−[2−[(2−メトキシエトキシ)メトキシ]エチル]ピペリジン、4−[2−[(2−メトキシエトキシ)メトキシ]エチル]モルホリン、酢酸2−(1−ピロリジニル)エチル、酢酸2−ピペリジノエチル、酢酸2−モルホリノエチル、ギ酸2−(1−ピロリジニル)エチル、プロピオン酸2−ピペリジノエチル、アセトキシ酢酸2−モルホリノエチル、メトキシ酢酸2−(1−ピロリジニル)エチル、4−[2−(メトキシカルボニルオキシ)エチル]モルホリン、1−[2−(t−ブトキシカルボニルオキシ)エチル]ピペリジン、4−[2−(2−メトキシエトキシカルボニルオキシ)エチル]モルホリン、3−(1−ピロリジニル)プロピオン酸メチル、3−ピペリジノプロピオン酸メチル、3−モルホリノプロピオン酸メチル、3−(チオモルホリノ)プロピオン酸メチル、2−メチル−3−(1−ピロリジニル)プロピオン酸メチル、3−モルホリノプロピオン酸エチル、3−ピペリジノプロピオン酸メトキシカルボニルメチル、3−(1−ピロリジニル)プロピオン酸2−ヒドロキシエチル、3−モルホリノプロピオン酸2−アセトキシエチル、3−(1−ピロリジニル)プロピオン酸2−オキソテトラヒドロフラン−3−イル、3−モルホリノプロピオン酸テトラヒドロフルフリル、3−ピペリジノプロピオン酸グリシジル、3−モルホリノプロピオン酸2−メトキシエチル、3−(1−ピロリジニル)プロピオン酸2−(2−メトキシエトキシ)エチル、3−モルホリノプロピオン酸ブチル、3−ピペリジノプロピオン酸シクロヘキシル、α−(1−ピロリジニル)メチル−γ−ブチロラクトン、β−ピペリジノ−γ−ブチロラクトン、β−モルホリノ−δ−バレロラクトン、1−ピロリジニル酢酸メチル、ピペリジノ酢酸メチル、モルホリノ酢酸メチル、チオモルホリノ酢酸メチル、1−ピロリジニル酢酸エチル、モルホリノ酢酸2−メトキシエチルで挙げることができる。
【0098】
更に、一般式(B)−3〜(B)−6で表されるシアノ基を含む塩基性化合物を添加することができる。
【化24】
(式中、X、R307、nは前述の通り、R308、R309は同一又は異種の炭素数1〜4の直鎖状又は分岐状のアルキレン基である。)
【0099】
シアノ基を含む塩基は、具体的には3−(ジエチルアミノ)プロピオノニトリル、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、N,N−ビス(2−ホルミルオキシエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、N,N−ビス(2−メトキシエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、N,N−ビス[2−(メトキシメトキシ)エチル]−3−アミノプロピオノニトリル、N−(2−シアノエチル)−N−(2−メトキシエチル)−3−アミノプロピオン酸メチル、N−(2−シアノエチル)−N−(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピオン酸メチル、N−(2−アセトキシエチル)−N−(2−シアノエチル)−3−アミノプロピオン酸メチル、N−(2−シアノエチル)−N−エチル−3−アミノプロピオノニトリル、N−(2−シアノエチル)−N−(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、N−(2−アセトキシエチル)−N−(2−シアノエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、N−(2−シアノエチル)−N−(2−ホルミルオキシエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、N−(2−シアノエチル)−N−(2−メトキシエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、N−(2−シアノエチル)−N−[2−(メトキシメトキシ)エチル]−3−アミノプロピオノニトリル、N−(2−シアノエチル)−N−(3−ヒドロキシ−1−プロピル)−3−アミノプロピオノニトリル、N−(3−アセトキシ−1−プロピル)−N−(2−シアノエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、N−(2−シアノエチル)−N−(3−ホルミルオキシ−1−プロピル)−3−アミノプロピオノニトリル、N−(2−シアノエチル)−N−テトラヒドロフルフリル−3−アミノプロピオノニトリル、N,N−ビス(2−シアノエチル)−3−アミノプロピオノニトリル、ジエチルアミノアセトニトリル、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)アミノアセトニトリル、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)アミノアセトニトリル、N,N−ビス(2−ホルミルオキシエチル)アミノアセトニトリル、N,N−ビス(2−メトキシエチル)アミノアセトニトリル、N,N−ビス[2−(メトキシメトキシ)エチル]アミノアセトニトリル、N−シアノメチル−N−(2−メトキシエチル)−3−アミノプロピオン酸メチル、N−シアノメチル−N−(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピオン酸メチル、N−(2−アセトキシエチル)−N−シアノメチル−3−アミノプロピオン酸メチル、N−シアノメチル−N−(2−ヒドロキシエチル)アミノアセトニトリル、N−(2−アセトキシエチル)−N−(シアノメチル)アミノアセトニトリル、N−シアノメチル−N−(2−ホルミルオキシエチル)アミノアセトニトリル、N−シアノメチル−N−(2−メトキシエチル)アミノアセトニトリル、N−シアノメチル−N−[2−(メトキシメトキシ)エチル]アミノアセトニトリル、N−(シアノメチル)−N−(3−ヒドロキシ−1−プロピル)アミノアセトニトリル、N−(3−アセトキシ−1−プロピル)−N−(シアノメチル)アミノアセトニトリル、N−シアノメチル−N−(3−ホルミルオキシ−1−プロピル)アミノアセトニトリル、N,N−ビス(シアノメチル)アミノアセトニトリル、1−ピロリジンプロピオノニトリル、1−ピペリジンプロピオノニトリル、4−モルホリンプロピオノニトリル、1−ピロリジンアセトニトリル、1−ピペリジンアセトニトリル、4−モルホリンアセトニトリル、3−ジエチルアミノプロピオン酸シアノメチル、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピオン酸シアノメチル、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)−3−アミノプロピオン酸シアノメチル、N,N−ビス(2−ホルミルオキシエチル)−3−アミノプロピオン酸シアノメチル、N,N−ビス(2−メトキシエチル)−3−アミノプロピオン酸シアノメチル、N,N−ビス[2−(メトキシメトキシ)エチル]−3−アミノプロピオン酸シアノメチル、3−ジエチルアミノプロピオン酸(2−シアノエチル)、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピオン酸(2−シアノエチル)、N,N−ビス(2−アセトキシエチル)−3−アミノプロピオン酸(2−シアノエチル)、N,N−ビス(2−ホルミルオキシエチル)−3−アミノプロピオン酸(2−シアノエチル)、N,N−ビス(2−メトキシエチル)−3−アミノプロピオン酸(2−シアノエチル)、N,N−ビス[2−(メトキシメトキシ)エチル]−3−アミノプロピオン酸(2−シアノエチル)、1−ピロリジンプロピオン酸シアノメチル、1−ピペリジンプロピオン酸シアノメチル、4−モルホリンプロピオン酸シアノメチル、1−ピロリジンプロピオン酸(2−シアノエチル)、1−ピペリジンプロピオン酸(2−シアノエチル)、4−モルホリンプロピオン酸(2−シアノエチル)が例示される。
【0100】
なお、塩基性化合物の配合量は全ベース樹脂100部に対して0.001〜2部、特に0.01〜1部が好適である。配合量が0.001部より少ないと配合効果がなく、2部を超えると感度が低下しすぎる場合がある。
【0101】
本発明の化学増幅ポジ型レジスト材料中には、更に、塗布性を向上させるための界面活性剤を加えることができる。
【0102】
界面活性剤の例としては、特に限定されるものではないが、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステリアルエーテル、ポリオキシエチレンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレインエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリオキシエチレンオクチルフェノールエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェノールエーテル等のポリオキシエチレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー類、ソルビタンモノラウレート、ソルビタンモノパルミテート、ソルビタンモノステアレート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエチレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシエチレンソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレンソルビタンモノステアレート、ポリオキシエチレンソルビタントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビタントリステアレート等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステルのノニオン系界面活性剤、エフトップEF301,EF303,EF352(トーケムプロダクツ)、メガファックF171,F172,F173(大日本インキ化学工業)、フロラードFC430,FC431(住友スリーエム)、アサヒガードAG710,サーフロンS−381,S−382,SC101,SC102,SC103,SC104,SC105,SC106、サーフィノールE1004,KH−10,KH−20,KH−30,KH−40(旭硝子)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリマーKP341,X−70−092,X−70−093(信越化学工業)、アクリル酸系又はメタクリル酸系ポリフローNo.75,No.95(共栄社油脂化学工業)が挙げられ、中でもFC430、サーフロンS−381、サーフィノールE1004,KH−20,KH−30が好適である。これらは単独あるいは2種以上の組み合わせで用いることができる。
【0103】
本発明の化学増幅ポジ型レジスト材料中の界面活性剤の添加量としては、レジスト材料組成物中のベース樹脂100重量部に対して2重量部以下、好ましくは1重量部以下である。
【0104】
本発明の(A)有機溶剤と、(B)上記一般式(2)で示される高分子化合物と、(C)酸発生剤を含む化学増幅ポジ型レジスト材料を種々の集積回路製造に用いる場合は、特に限定されないが、公知のリソグラフィー技術を用いることができる。
【0105】
集積回路製造用の基板(Si、SiO2、SiN、SiON、TiN、WSi、BPSG、SOG、有機反射防止膜、各種LowK材料等)、マスクパターン製造用基板(Cr、CrN、CrO、CrON、MoSi、SiO2等)上にスピンコート、ロールコート、フローコート、ディップコート、スプレーコート、ドクターコート、ノズルスキャン等の適当な塗布方法により塗布膜厚が0.1〜2.0μmとなるように塗布し、ホットプレート上で60〜150℃、1〜10分間、好ましくは80〜120℃、1〜5分間プリベークする。次いで、紫外線、遠紫外線、真空紫外線、電子線、X線、エキシマレーザー、γ線、シンクロトロン放射線などから選ばれる光源、好ましくは300nm以下の露光波長で目的とするパターンを所定のマスクを通じて露光を行う。露光量は1〜200mJ/cm2程度、好ましくは1〜100mJ/cm2程度となるように露光することが好ましい。ホットプレート上で60〜180℃、10秒〜5分間、好ましくは80〜150℃、30秒〜3分間ポストエクスポージャベーク(PEB)する。
【0106】
更に、0.1〜5%、好ましくは1〜3%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)等のアルカリ水溶液の現像液を用い、10秒〜3分間、好ましくは20秒〜2分間、浸漬(dip)法、パドル(puddle)法、スプレー(spray)方等の常法により現像することにより基板上に目的のパターンが形成される。なお、本発明のレジスト材料は、特に高エネルギー線の中でも254〜193nmの遠紫外線、157nmの真空紫外線、電子線、軟X線、X線、エキシマレーザー、γ線、シンクロトロン放射線による微細パターンニングに最適である。また、上記範囲を上限及び下限から外れる場合は、目的のパターンを得ることができない場合がある。
【0107】
【発明の効果】
本発明の高分子化合物を用いたレジスト材料は、露光前後のアルカリ溶解速度コントラストが大幅に高く、高感度で高解像性を有し、その上特に優れたエッチング耐性を示し、特に超LSI製造用の微細パターン形成材料として好適な化学増幅型レジスト材料等のレジスト材料を与えることが可能である。
【0108】
【実施例】
以下、合成例、比較合成例、実施例及び比較例を示して本発明を具体的に説明するが、本発明は下記実施例に制限されるものではない。
【0109】
[合成例1]末端プロピオン酸tブチル p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液に3−ブロモプロピオン酸tブチル0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、164gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー164gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えて7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、92gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.03のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0110】
[合成例2]末端プロピオン酸メチル−シクロペンチル p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液に3−ブロモプロピオン酸メチルシクロペンチル0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、164gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー164gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えて7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、92gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.03のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0111】
[合成例3]末端プロピオン酸メチル−2−アダマンタン p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液に3−ブロモプロピオン酸メチル−2−アダマンタン0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、168gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー168gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えて7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、94gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.03のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0112】
[合成例4]末端tブトキシカルボニルノルボルネン p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液に2−tブトキシカルボニル−5−ブロモノルボルネン0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、168gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー168gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えて7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、94gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.03のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0113】
[合成例5]末端酢酸tブチルフェニル−p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液に3−ブロモフェニル酢酸tブチル0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、171gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー171gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えて7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、94gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.03のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0114】
[合成例6]末端エチルマロン酸tブチル−p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液に2ブロモエチルマロン酸tブチル0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、174gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー174gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えて7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、102gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.03のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0115】
[合成例7]末端2−tブトキシカルボニル−2−tブトキシカルボニルメチルノルボルネン−p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液に2−tブトキシカルボニル−2−tブトキシカルボニルメチル−5−ブロモノルボルネン0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、178gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー178gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えて7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、109gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.03のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0116】
[合成例8]末端プロピオン酸tブチル p−ヒドロキシスチレンポリマーのエトキシエチル化
合成例1で得られた末端プロピオン酸tブチル p−ヒドロキシスチレンポリマー10gをテトラヒドロフラン100mLに溶解させ、触媒量のメタンスルホン酸を添加した後、20℃で撹拌しながらエチルビニルエーテル3gを添加した。1時間反応させた後に、濃アンモニア水により中和し、水5Lに中和反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥した。得られたポリマーは、1H−NMRからポリヒドロキシスチレンのエトキシエチル基の置換率を同定し、ポリマー1とした。
【0117】
[合成例9]末端プロピオン酸tブチル p−ヒドロキシスチレンポリマーのエトキシエチル化、ブタンジオールジビニルエーテル架橋
合成例1で得られた末端プロピオン酸tブチル p−ヒドロキシスチレンポリマー10gをテトラヒドロフラン100mLに溶解させ、触媒量のメタンスルホン酸を添加した後、20℃で撹拌しながらエチルビニルエーテル2.5g、ブタンジオールジビニルエーテル0.75gを添加した。1時間反応させた後に、濃アンモニア水により中和し、水5Lに中和反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥した。得られたポリマーは、1H−NMRからポリヒドロキシスチレンのエトキシエチル基の置換率を同定し、ポリマー2とした。
【0118】
[合成例10]末端プロピオン酸tブチル p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
合成例2で得られた末端プロピオン酸tブチル p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、ポリマー3とした。
【0119】
[合成例11]末端プロピオン酸メチル−シクロペンチル p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
合成例2で得られた末端プロピオン酸メチル−シクロペンチル p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、ポリマー4とした。
【0120】
[合成例12]末端プロピオン酸メチル−2−アダマンタン p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
合成例3で得られた末端プロピオン酸メチル−2−アダマンタン p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、ポリマー5とした。
【0121】
[合成例13]末端tブトキシカルボニルノルボルネン p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
合成例4で得られた末端tブトキシカルボニルノルボルネン p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、ポリマー6とした。
【0122】
[合成例14]末端酢酸tブチルフェニル−p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
合成例5で得られた末端酢酸tブチルフェニル−p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、ポリマー7とした。
【0123】
[合成例15]末端エチルマロン酸tブチル−p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
合成例6で得られた末端エチルマロン酸tブチル−p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、ポリマー8とした。
【0124】
[合成例16]末端2−tブトキシカルボニル−2−tブトキシカルボニルメチルノルボルネン−p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
合成例7で得られた末端2−tブトキシカルボニル−2−tブトキシカルボニルメチルノルボルネン−p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、ポリマー9とした。
【0125】
[比較合成例1]末端メトキシ p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液にメタノール0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、164gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー164gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えて7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、92gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.03のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0126】
[比較合成例2]末端フェニル p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液にブロモベンゼン0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、164gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー164gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えて7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、92gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.01のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0127】
[比較合成例3]末端カルボキシル基 p−ヒドロキシスチレンポリマーの合成
1Lのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン1,000mL、開始剤としてsec−ブチルリチウム0.01molを仕込んだ。この混合溶液に−78℃でp−トリメチルシロキシスチレン173gを添加し、30分撹拌しながら重合させた。この反応溶液は赤色を呈した。重合停止反応として反応溶液に3−ブロモプロピオン酸テトラヒドロピラニル0.1molを添加して行った。
次に、ポリマーを精製するために、反応混合物をメタノール中に注ぎ、得られた重合体を沈澱させた後、分離し、乾燥させたところ、164gの白色重合体が得られた。
更に、p−ヒドロキシスチレンポリマーとするために、上記ポリマー164gをアセトン1,000mLに溶解し、20℃で少量の濃塩酸を加えてトリメチルシリル基と末端のテトラヒドロピラニル基を脱離させ、7時間撹拌後、水に注ぎ、ポリマーを沈殿させ、洗浄・乾燥したところ、92gのポリマーが得られた。また、GPCによる分析、1H−NMRでトリメチルシリル基と末端のテトラヒドロピラニル基に由来するピークが観測されないこと、Mw11,000、Mw/Mn1.01のp−ヒドロキシスチレンポリマーであることが確認された。
【0128】
[比較合成例4]末端メトキシ基−p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
比較合成例1で得られた末端メトキシ基−p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、比較ポリマー1とした。
【0129】
[比較合成例5]末端フェニル基−p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
比較合成例2で得られた末端フェニル基−p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、比較ポリマー2とした。
【0130】
[比較合成例6]末端カルボキシル基−p−ヒドロキシスチレンポリマーのt−BOC化
比較合成例3で得られた末端カルボキシル基−p−ヒドロキシスチレンポリマー20gをピリジン200mLに溶解させ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−tert−ブチル11.6gを添加した。1時間反応させた後、水3Lに反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン100mLに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、真空乾燥させ、ポリマーを得た。1H−NMRからポリヒドロキシスチレンの水酸基の水素原子のt−BOC化率を同定し、比較ポリマー3とした。
【0131】
【化25】
【0132】
【化26】
【0133】
【化27】
【0134】
[実施例、比較例]
露光パターニング評価
上記合成例、比較合成例で得られたポリマーを使用し、表1に示す組成でレジスト材料を調製し、下記方法で露光パターニングを評価した。結果を表1に示す。
表1に示される組成で溶解させた溶液を0.2μmサイズのフィルターで濾過してレジスト溶液を調製した。シリコンウエハーにDUV−30(日産化学製)を55nmの膜厚で成膜した基板上にレジスト液をスピンコーティングし、ホットプレートを用いて120℃で90秒間ベークし、レジストの厚みを300nmにした。
これをエキシマレーザーステッパー(ニコン社、NSR−S202A,NA−0.6、σ0.75、2/3輪帯照明)を用いて露光し、露光後直ちに130℃で90秒間ベークし、2.38%のテトラメチルアンモニウムヒドロキシドの水溶液で60秒間現像を行って、ポジ型のパターンを得た。
【0135】
得られたレジストパターンを次のように評価した。
評価方法:
0.18μmのラインアンドスペースを1:1で解像する露光量をレジストの感度として、この露光量において分離しているラインアンドスペースの最小線幅を評価レジストの解像度とした。
【0136】
【表1】
PGMEA:プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート
【0137】
【化28】
【0138】
本発明の末端に酸不安定基を有するポリマーを添加したレジスト材料は、感度と解像性が高く、更なる微細加工を達成するに有望な材料であることが判明した。
Claims (9)
- 下記一般式(2)で示される重量平均分子量が1,000〜500,000である高分子化合物。
R8、R9は水素原子、又は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基であり、酸素、硫黄、窒素、フッ素から選ばれるヘテロ原子を含んでもよく、aは0〜10の整数である。R8とR9、R8とR10、R9とR10はそれぞれ結合してこれらが結合する炭素原子や酸素原子と共に炭素数3〜12の環を形成してもよい。
式(AL−12)の−CR 11 R 12 R 13 は、tert−ブチル基、トリエチルカルビル基、1−エチルノルボニル基、1−メチルシクロヘキシル基、1−エチルシクロペンチル基、2−(2−メチル)アダマンチル基、2−(2−エチル)アダマンチル基、tert−アミル基及び下記一般式(AL−12)−1〜(AL−12)−18で示される基から選択される3級アルキル基を示す。
- 一般式(2)において、R6で示される芳香環が、ベンゼン環、ナフタレン環又はアントラセン環であることを特徴とする請求項1記載の高分子化合物。
- 一般式(2)に示される高分子化合物がアニオン重合によって合成されたことを特徴とする請求項1,2又は3記載の高分子化合物。
- 請求項1乃至4のいずれか1項記載の高分子化合物を含むことを特徴とするレジスト材料。
- (A)有機溶剤、
(B)ベース樹脂として請求項1乃至4のいずれか1項記載の高分子化合物、
(C)酸発生剤
を含有してなることを特徴とする化学増幅ポジ型レジスト材料。 - 更に、(D)溶解阻止剤を含有してなることを特徴とする請求項6記載の化学増幅ポジ型レジスト材料。
- 更に、(E)添加剤として塩基性化合物を配合したことを特徴とする請求項6又は7記載の化学増幅ポジ型レジスト材料。
- 請求項5乃至8のいずれか1項に記載のレジスト材料を基板上に塗布する工程と、加熱処理後、フォトマスクを介して高エネルギー線もしくは電子線で露光する工程と、必要に応じて加熱処理した後、現像液を用いて現像する工程とを含むことを特徴とするパターン形成方法。
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