JP4126477B2 - Spectrophotometer - Google Patents
Spectrophotometer Download PDFInfo
- Publication number
- JP4126477B2 JP4126477B2 JP2000022577A JP2000022577A JP4126477B2 JP 4126477 B2 JP4126477 B2 JP 4126477B2 JP 2000022577 A JP2000022577 A JP 2000022577A JP 2000022577 A JP2000022577 A JP 2000022577A JP 4126477 B2 JP4126477 B2 JP 4126477B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- face
- light
- arm
- mirror
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、反射型光測定装置に係わり、特に、光源を用い反射鏡を定位置に移動させて分光分析を行う分光光度計に関する。
【0002】
【従来の技術】
光を試料に照射し試料からの光を分光してスペクトルを測定し、定性、定量分析を行なう分析装置に、紫外及び可視分光光度計、近赤外又は赤外分光光度計、蛍光光度分析装置などがある。光が物質を通過するとき、光のエネルギーによって物質の電子状態に変化を起こし、そのエネルギーの一部を失う。光が失うエネルギーはその物質の電子状態に対応している。そこでどのような光によって変化が起きているかを調べるため、光の波長を連続的に変えながら試料に照射し、光が試料に入る前と、試料から出た後の光の強さを比較して透過パーセントで表わし、照射した光の波長との関係曲線を求めたものが吸収スペクトルである。この吸収スペクトルは、分子の電子状態に関する情報を与えてくれることから、その化合物の構造を知る上での重要な手がかりとなる。
【0003】
図4に従来の反射型の分光光度計のブロック系統図を示す。光源15からの光が、光学系16の凹面反射鏡で収束され、スリットを通って凹面反射鏡で平行な光にされて、分光器17の回折格子で分光され、光学系18の凹面鏡を介して、入力ファイバ20の光ファイバ端面に入力される。光ファイバ1に入力された光はサンプラ部19の光ファイバ1の端面から射出する。測光時には、試料が気体もしくは液体の場合は、試料セル(図示せず)に試料が入れられ、試料が固体の場合は、フイルム状やペースト状に処理されてもしくはATR法で、前記の光ファイバ1の端面にセットされる。試料にあてられた光が試料を透過反射し、再び、光ファイバ1の端面に戻り、出力ファイバ21を介してその他端に導かれる。出力ファイバ21の端面からの光は、光学系22の凹面反射鏡で収束され、検出器23で検出される。また、試料がない状態の参照光を測定する時には、全反射平面鏡のリファレンスミラー13を前記光ファイバ1の端面にセットして、リファレンスミラー13で反射した光が、出力ファイバ21を介してその他端に導かれる。出力ファイバ21の端面からの光は、光学系22の凹面反射鏡で収束され、検出器23で検出される。そして、そのアナログ信号が増幅処理されA/D変換器でデジタル信号に変換され、デジタル処理部で演算処理される。これを各波長について行ない吸収スペクトルを得る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
従来の分光光度計は、以上のように構成されており、試料がない状態の参照光を測定する時には、全反射平面鏡のリファレンスミラー13が光ファイバ1の端面にセットされて、リファレンスミラー13で反射した光が、出力ファイバ21を介してその他端に導かれていたが、リファレンスミラー13を光ファイバ1の端面にセットするとき位置再現性が無いために、測定結果の再現性が得られないという問題があった。また、アーム先端にリファレンスミラー13を取付け、他端を支点にして当て面まで手動で移動させても、当て面に押し当てる圧力が変わると、リファレンスミラー13の位置再現性がないという問題がある。
【0005】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、試料がない状態の参照光を測定する時、全反射平面鏡のリファレンスミラー13を光ファイバ1の端面に再現性良く位置させることが出来る機構を備えた分光光度計を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため本発明の分光光度計は、光源から放射された光を光学系を介して分光器に入れ、分光された光を光学系を介して試料測定室の光入出口の端面まで送り、試料、又は、リファレンスミラーを前記端面にセットして、その反射光を前記端面で捉え、光学系を介し検出器に入力して分析を行なう分光光度計において、アームの先端部にバネ材を介して取り付けられたミラーホルダの内部に設けられたリファレンスミラーと、前記アームに取りつけられ前記アームの他端を中心として、前記アームを回転させる引寄手段と、前記アームの回転を定位置で停止させるブロックと、を備え、前記試料測定室の光出入口の端面を、前記アームが回転する面に対して平行に設け、参照光測定時に前記引寄手段により前記アームを回転させて前記試料測定室の光出入口の端面の縁に前記ミラーホルダを当接させ、さらに、前記試料測定室の光出入口の端面に対する前記ミラーホルダの角度を変えつつ前記アームを前記ブロックまで引寄せ、前記バネ材による定力で前記ミラーホルダを前記端面に押し当て、前記ミラーホルダの内部のリファレンスミラーが前記試料測定室の光出入口の端面から一定の距離を保って平行にセットするミラー移動機構を備えるものである。
【0007】
本発明の分光光度計は上記のように構成されており、リファレンスミラーの移動機構が、回転するアーム、回転するアームを定位置に止める当て面、アームを回転させ一定の力で当て面に押し当てるための引きバネ、アーム先端に板バネを介して取りつけられたミラーホルダ、ミラーホルダ内に取り付けられたリファレンスミラーで構成され、先端にリファレンスミラーが設けられたアームを引きバネによって当て面まで回転させ一定の圧力で保持して、リファレンスミラーを光入出口端面の定位置まで移動させ、同時に、アーム先端に設けられた板バネによりミラーホルダが定力で光入出口端面に押し当てられ、光入出口端面から一定の距離はなれた状態にリファレンスミラーが設定される。そのため再現性のあるリファレンスミラーの位置を保持することができ、信頼性のある測定を行なうことが出来る。そして、参照光の測定が終了すれば、アームを元の位置に戻し、ストッパなどで停止させることが出来る。
【0008】
【発明の実施の形態】
本発明の分光光度計の一実施例を図1を参照しながら説明する。図1は本発明の分光光度計のミラー移動機構を示す図である。このミラー移動機構は、ベース3にファイバホルダ2を介して取りつけられた測定用の光ファイバ1と、ベース3にベアリング6を介して取りつけられた回転軸5と、その回転軸5に取りつけられたアーム4と、アーム4の先端に取りつけられたU型板バネ11と、そのU型板バネ11を介して取りつけられたミラーホルダ12と、そのミラーホルダ12内に設けられた測定光を反射させる参照光測定用のリファレンスミラー13と、そのリファレンスミラー13を参照光測定時に光ファイバ1の端面上に引き寄せ移動させるために、アーム4のバネ支持ピン9aとバネ支持ピン9に掛けられた引きバネ8と、アーム4が回転しリファレンスミラー13が所定の位置になるように設けられた当てブロック7と、ミラーホルダ12が光ファイバ1の端面に移動する時、端面に傷をつけないように設けられたミラーホルダ12の切欠部14と、参照光測定終了後リファレンスミラー13を元の位置に戻して停止させるための抜差可能ストッパ10とから構成されている。
【0009】
回転軸5は精度ある回転をするためにベース3の上下にベアリング6が用いられ、引きバネ8はコイル状のスプリングバネが用いられ、一定の圧力でアーム4を当てブロック7の当て面に押しつけている。U型板バネ11は、図2に示すように、(a)アーム4の回転方向にU型をし、(b)光ファイバ1の端面にミラーホルダ12がすべり込むようにしている。そして、(c)所定の圧力でミラーホルダ12を光ファイバ1の端面に押さえつける。そのため、光ファイバ1の端面からリファレンスミラー13までの距離は常に所定の間隔になる。このミラーホルダ12が光ファイバ1の端面に移動する時、光ファイバ1の端面に傷が付くことがないように、図1に示すように、ミラーホルダ12に切欠部14が設けられている。そして参照光測定が終了すれば、手動でアーム4を元の位置に戻して、抜差可能ストッパ10をベース3に挿入して停止させる。この作業は手動で行なったがモータや電磁石で自動で行なうようにしても良い。
【0010】
次に、本発明の分光光度計を用いての操作を図3を参照しながら説明する。本光度計は、従来の光度計とサンプラ部19のリファレンスミラー13のセッティング方法が異なり、その他は同じである。まず、光度計の電源を投入し、所定の準備がされて装置が安定したところで開始する。次に、準備した測定試料をサンプラ部19の光ファイバ1の端面にセットする。そして、光源1からの光が、光学系16の凹面反射鏡で収束され、スリットを通って凹面反射鏡で平行な光にされて、分光器17の回折格子で分光され、光学系18の凹面鏡を介して、入力ファイバ20の光ファイバ端面に入力される。光ファイバ1に入力された光はサンプラ部19の光ファイバ1の端面から射出する。試料にあてられた光が試料を透過反射し、再び、光ファイバ1の端面に戻り、出力ファイバ21を介してその他端に導かれる。出力ファイバ21の端面からの光は、光学系22の凹面反射鏡で収束され、検出器23で検出される。次に、試料がない状態の参照光を測定するために、サンプラ部19の測定試料を取り除き、図1に示すミラー移動機構の抜差可能ストッパ10をベース3から抜き、アーム4を引きバネ8で引かせて、当てブロック7に当てて一定の力で押さえさせ、同時に、ミラーホルダ12をU型板バネ11で光ファイバ1の端面に押さえ、その端面から所定の距離はなれて、リファレンスミラー13がセットされる。リファレンスミラー13で反射した光が、出力ファイバ21を介してその他端に導かれる。出力ファイバ21の端面からの光は、光学系22の凹面反射鏡で収束され、検出器23で検出される。そして、そのアナログ信号が増幅処理されA/D変換器でデジタル信号に変換され、デジタル処理部で演算処理される。これを各波長について行ない吸収スペクトルを得る。
【0011】
上記の実施例では、アーム4を一定力で当てブロック7に当てる手段に、引きバネ8を用いたが、電磁石などによる他の方法でもよい。また、リファレンスミラー13を端面から一定距離浮かす手段としてミラーホルダ12にU型板バネ11を用いたが、他のバネ機構でも行なうことが出来る。また、回転軸5の振れを上下のベアリング6で持たせたが、ベアリング6に限らず他の精度ある回転機構であれば良い。また、サンプラ部19の光入出口の端面は光ファイバ1のファイバ方式でなくても同様の効果が得られる。
【0012】
【発明の効果】
本発明の分光光度計は上記のように構成されており、試料のない状態の参照光を測定する時に、試料測定室の測定光の入出口端面に、リファレンスミラーを出し入れしても、常に、リファレンスミラーが一定の力でバネにより引き寄せられ当て面で所定の位置に保持され、さらに、リファレンスミラーのホルダに取りつけられたU型板バネでリファレンスミラーと測定光の入出力端面との距離が一定になる。そのため、位置再現性に優れ、測定結果の信頼性が高くなる。さらに、リファレンスミラーがセットされるときに、滑らかに滑って挿入され、ホルダに切欠部が設けられているので、測定光の入出力端面に傷をつけることがない。また、測定終了後はリファレンスミラーを元の位置に戻して、ストッパで回転を止めることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の分光光度計のミラー移動機構の一実施例を示す図である。
【図2】 本発明の分光光度計のリファレンスミラーのセッティングを示す図である。
【図3】 本発明の分光光度計の一実施例を示す図である。
【図4】 従来の分光光度計を示す図である。
【符号の説明】
1…光ファイバ 2…ファイバホルダ
3…ベース 4…アーム
5…回転軸 6…ベアリング
7…当てブロック 8…引きバネ
9…バネ支持ピン 9a…バネ支持ピン
10…抜差可能ストッパ 11…U型板バネ
12…ミラーホルダ 13…リファレンスミラー
14…切欠部 15…光源
16…光学系 17…分光器
18…光学系 19…サンプラ部
20…入力ファイバ 21…出力ファイバ
22…光学系 23…検出器[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a reflection-type light measurement apparatus, and more particularly to a spectrophotometer that performs spectroscopic analysis by moving a reflecting mirror to a fixed position using a light source.
[0002]
[Prior art]
An analyzer that performs qualitative and quantitative analysis by irradiating the sample with light and spectroscopically measuring the spectrum of the light, and qualitative and quantitative analysis. Ultraviolet and visible spectrophotometer, near infrared or infrared spectrophotometer, fluorophotometric analyzer and so on. When light passes through a material, the energy of the light causes a change in the electronic state of the material and some of that energy is lost. The energy lost by light corresponds to the electronic state of the material. Therefore, in order to investigate what kind of light caused the change, the sample was irradiated while changing the wavelength of the light, and the intensity of the light before entering the sample and after leaving the sample was compared. The absorption spectrum is obtained by expressing the relationship curve with the wavelength of the irradiated light, which is expressed in percent transmission. Since this absorption spectrum gives information on the electronic state of the molecule, it is an important clue for knowing the structure of the compound.
[0003]
FIG. 4 shows a block system diagram of a conventional reflective spectrophotometer. The light from the
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
The conventional spectrophotometer is configured as described above. When measuring the reference light in the absence of the sample, the
[0005]
The present invention has been made in view of such circumstances, and when measuring reference light in the absence of a sample, the
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the spectrophotometer of the present invention puts light emitted from a light source into a spectroscope through an optical system, and splits the dispersed light into a light entrance / exit of a sample measuring chamber through the optical system. feed to the end face, the sample, or, by setting the reference mirror on the end face, it captures the reflected light at the end face, in a spectrophotometer for analyzing enter the detector through an optical system, the previous end of the arm to a reference mirror provided inside the mirror holder mounted via a spring member, about the other end of the arm attached to the arm, and attracting means for rotating the arm, the rotation of said arm A block that stops at a fixed position, and the end face of the light entrance of the sample measurement chamber is provided in parallel to the surface on which the arm rotates, and the arm is rotated by the attraction means during reference light measurement The mirror holder is brought into contact with the edge of the end face of the light entrance of the sample measuring chamber, and the arm is pulled to the block while changing the angle of the mirror holder with respect to the end face of the light entrance of the sample measuring chamber. , A mirror moving mechanism in which the mirror holder is pressed against the end face with a constant force by the spring material, and a reference mirror inside the mirror holder is set in parallel at a constant distance from the end face of the light entrance of the sample measuring chamber Is provided.
[0007]
The spectrophotometer of the present invention is configured as described above, and the reference mirror moving mechanism includes a rotating arm, a contact surface that stops the rotating arm at a fixed position, and the arm is rotated and pushed against the contact surface with a constant force. It consists of a pulling spring for contact, a mirror holder attached to the tip of the arm via a leaf spring, and a reference mirror mounted in the mirror holder, and the arm with the reference mirror at the tip is rotated to the contact surface by the pulling spring The reference mirror is moved to a fixed position on the light entrance / exit end face, and at the same time, the mirror holder is pressed against the light entrance / exit end face with a constant force by a leaf spring provided at the tip of the arm. The reference mirror is set at a certain distance from the entrance / exit end face. For this reason, the position of the reproducible reference mirror can be maintained, and a reliable measurement can be performed. When the measurement of the reference light is completed, the arm can be returned to the original position and stopped with a stopper or the like.
[0008]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment of the spectrophotometer of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a view showing a mirror moving mechanism of the spectrophotometer of the present invention. This mirror moving mechanism is attached to the
[0009]
Bearings 6 are used above and below the
[0010]
Next, the operation using the spectrophotometer of the present invention will be described with reference to FIG. This photometer is different from the conventional photometer in the setting method of the
[0011]
In the above embodiment, the tension spring 8 is used as means for applying the arm 4 to the contact block 7 with a constant force. However, another method using an electromagnet or the like may be used. Further, although the U-shaped plate spring 11 is used for the mirror holder 12 as means for lifting the
[0012]
【The invention's effect】
The spectrophotometer of the present invention is configured as described above, and when measuring the reference light without a sample, even if a reference mirror is taken in and out of the entrance / exit end face of the measurement light in the sample measurement chamber, The reference mirror is attracted by a spring with a constant force and held at a predetermined position on the contact surface. Furthermore, the distance between the reference mirror and the input / output end face of the measurement light is constant with a U-shaped plate spring attached to the reference mirror holder. become. Therefore, the position reproducibility is excellent and the reliability of the measurement result is high. Furthermore, when the reference mirror is set, it is inserted smoothly and the notch is provided in the holder, so that the input / output end face of the measurement light is not damaged. Further, after the measurement is completed, the reference mirror can be returned to the original position, and the rotation can be stopped with a stopper.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a mirror moving mechanism of a spectrophotometer according to the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing the setting of a reference mirror of the spectrophotometer of the present invention.
FIG. 3 is a view showing an embodiment of the spectrophotometer of the present invention.
FIG. 4 is a view showing a conventional spectrophotometer.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000022577A JP4126477B2 (en) | 2000-01-31 | 2000-01-31 | Spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000022577A JP4126477B2 (en) | 2000-01-31 | 2000-01-31 | Spectrophotometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001215191A JP2001215191A (en) | 2001-08-10 |
JP4126477B2 true JP4126477B2 (en) | 2008-07-30 |
Family
ID=18548863
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000022577A Expired - Fee Related JP4126477B2 (en) | 2000-01-31 | 2000-01-31 | Spectrophotometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4126477B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7932752B2 (en) | 2005-11-08 | 2011-04-26 | Panasonic Corporation | Correlated double sampling circuit and sample hold circuit |
-
2000
- 2000-01-31 JP JP2000022577A patent/JP4126477B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7932752B2 (en) | 2005-11-08 | 2011-04-26 | Panasonic Corporation | Correlated double sampling circuit and sample hold circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001215191A (en) | 2001-08-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4070222B2 (en) | Instrument for measuring near-infrared transmission spectrum of tablets | |
JP3294605B2 (en) | Optical biosensor device | |
AU751246B2 (en) | Set-up of measuring instruments for the parallel readout of SPR sensors | |
US8208145B2 (en) | Analytical apparatus | |
JP2002527742A (en) | Equipment for optical measurement of thin film materials | |
WO2019092772A1 (en) | Accessory for infrared spectrophotometer | |
JPH0815133A (en) | Analytic element | |
US6535286B1 (en) | Positionable multiple detector system for spectrophotomer, ellipsometer, polarimeter and systems, and methodology of use | |
KR101472504B1 (en) | Method of adjust the path length automatically for sample analysis, and it includes sample analysis method and its device. | |
JP4126477B2 (en) | Spectrophotometer | |
JPH0875639A (en) | Light-absorption-spectrum measuring apparatus making use of slab optical waveguide | |
JP7477072B2 (en) | Light source for variable optical path length systems | |
US5184191A (en) | Sample table for multi-mode spectrum analysis | |
JP2002365211A (en) | Measuring apparatus | |
JPS58143254A (en) | Substance identifying device | |
JP3085179B2 (en) | Emission spectrometer | |
CN221804024U (en) | Spectral analysis module of double-light-source immunochromatography test paper | |
JP3740530B2 (en) | Aligner for total internal reflection X-ray fluorescence analysis | |
JPH0518686Y2 (en) | ||
JP2597515Y2 (en) | Total reflection absorption spectrum measurement device | |
JP2003065934A (en) | Probe opening-creating apparatus and near-field optical microscope using the same | |
US6146900A (en) | Method and apparatus for the production of films | |
JP3564839B2 (en) | Spectrophotometry and equipment | |
US7538877B2 (en) | Variable exposure rotary spectrometer and method of use | |
CN116124756A (en) | Spectrometer device based on combination of Raman spectrum and near infrared spectrum |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060424 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071218 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080214 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080415 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080428 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110523 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110523 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120523 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |