JP4091133B2 - 電子衝撃器におけるクーロン損失を最小化するための方法および電子衝撃器 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 94
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 57
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 18
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 13
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0255—Investigating particle size or size distribution with mechanical, e.g. inertial, classification, and investigation of sorted collections
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Bipolar Transistors (AREA)
- Generation Of Surge Voltage And Current (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
- Compression-Type Refrigeration Machines With Reversible Cycles (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
本発明の主題は、請求項1の前文に記載する様に、電子衝撃器における粒子サイズ分布の測定方法および装置である。
本発明の主題は更に、請求項2の前文に記載する様に電子衝撃器である。
背景技術
環境基準が厳しくなるに連れて、粒子放出のリアルタイム測定の必要性が増している。この測定の必要性は、実際の放出監視プロセスにおいてと同様に異なる燃焼プロセスについての研究において、精製方法の発展のために特に重要である。伝統的に、所謂カスケード衝撃器が粒子測定において使用されている。これらの衝撃器は、粒子サイズに従って粒子を分類する。
伝統的なカスケード衝撃器では、粒子サイズ分布およびその変化のリアルタイムでの測定が出来ない。伝統的カスケード衝撃器から発展した電子衝撃器は、粒子サイズ分布のリアルタイムでの測定を可能とした。
図1は、既知の電子衝撃器の動作原理を表す。ポンプ14は負圧を形成し、これによって観測中の空気流11が先ず帯電器12に吸い込まれ、そこで粒子が帯電される。次にこれらの帯電粒子を含む空気流は、数個のステージからなる衝撃器10中に吸い込まれる。各ステージの後に残された帯電粒子は電流を生成し、この電流は次に電流測定ユニット15に配置された高感度電流計によって、それぞれのレベルが別個に測定される。帯電器12、電流測定ユニット15およびポンプ14の機能は、制御ユニット16によって制御される。
図2は、電気低圧衝撃器の断面を示し、この図においてチャンバー29aおよび29bが示され、これらは衝撃器の最初の2個のステージ20aおよび20bに接続されている。空気流21は、衝撃器のフレーム部分25を介し流入口28を通って第1のチャンバー29aにもたらされる。各ステージはノズル部分22a、22bを有する。粒子を運ぶ空気流21はノズル部分の出口を通って流れる。ノズル部分22a、22bの背後には、コレクタ面23a、23bが存在する。コレクタ面は少なくとも1個の出口30を有し、空気流21はこの出口30を介して次のチャンバーに流れ込みあるいは衝撃器から出ることができる。ステージ20a、20b間に位置する絶縁体24a、24b、24cは異なるステージ20a、20bを互いからおよび衝撃器の第1のステージのカバー部分26から絶縁する。
図3は、コレクタ面23の詳細を示す。ノズル部分の出口を通って流れる空気流21の方向は、コレクタ面23に近づくに従って急速に変化する。十分に低い機械的移動度を有する粒子31は空気流21によって運ばれ、急激でかつ突然の方向変化に従わず、コレクタ面23に衝突する。コレクタ面23に衝突した粒子31は、コレクタ面23上に集まり、固まり32を形成する。
図2に示す様に、帯電粒子がコレクタ面23に衝突するに従って、粒子はコレクタ面の帯電レベルに変化を生ずる。コレクタ面23a、23bは、問題の衝撃器ステージ20a、20bに電気的に接続されており、このステージは更に電気接続体27a、27bを有する電流測定ユニット15に接続され、コレクタ面23a、23bの帯電レベルの変化は、電流として出現し、これは電流測定ユニット15に配置される高感度電流計の援助によって検出することができる。
粒子の機械的移動度は既知の仕様でそれらのサイズに依存する。これにより、粒子サイズによる選択分類が可能となる。既知の方法で、ノズル部分22aと22b中のホールの数とサイズを選択することにより、各ステージにおいてコレクタ面23a、23bが希望する値より低い値の機械的移動度を有する粒子、即ちある設定されたサイズより大きな粒子のみを引きつける様に、各衝撃器ステージ20a、20bにおいてノズル部分22a、22bとコレクタ面23a、23b間の距離および流れの速度を設計することが可能である。
図4aは、衝撃器ステージの収集効率42を粒子サイズ(Dp)の関数として表したものである。図4aは、そのカットオフポイントが1μmにセットされた衝撃器ステージの収集効率を示している。理想的な状況では、このステージの収集効率は階段状であるが、しかし理想的でない状況では実際カットオフポイントよりも大きな幾らかの粒子は問題のステージを通過し、カットオフポイントよりも小さな幾つかの粒子はステージに集まる。これは、効率曲線42の階段形状からの逸脱を表す。
例えば図4bに示す様に、ある収集効率は、異なるカットオフポイントを有するステージを順に配置することによって達成される。図4bに示す収集効率を有する衝撃器は、100μm以上の粒子を収集する第1ステージ(収集効率曲線44)と、10〜100μm間の粒子を収集する第2ステージ(曲線43)、およびそれぞれ1〜10μmおよび0.1〜1μmの粒子を収集する第3および第4のステージ(曲線42および41)を有している。
衝撃器(10)の異なるステージ20a、20bのカットオフポイントと、粒子サイズの関数として帯電器12における粒子によって受信された平均の電荷が既知である場合、空気流11中に含まれる粒子のサイズ分布は、各ステージ20a、20bから電流測定ユニット15によって受理される電流に従ってリアルタイムで決定される。
上述した様に、従来技術に従って構成された電気衝撃器の問題は、大きな粒子を収集する衝撃器ステージにおけるより小さい粒子の損失である。これらの損失に基づいて、衝撃器の収集効率41、42、43、44は、カットオフポイントよりも遙に小さい粒子に対して重要である。図4a、4bに示される収集効率曲線41、42、43、44はこの問題を示している。即ち、カットオフポイントよりも小さなサイズにおいてこれらの曲線は零とならない。
大きな粒子を収集するステージにおける小さな粒子の損失の多くの部分は、衝撃器ステージ間の絶縁体における電荷の蓄積およびこれらの電荷によって引き起こされるクーロン損失によるものであることを、本発明者等は見いだした。図5および6は、クーロン相互作用によって生じる力の効果が如何にして上述した小さな粒子の損失をつくり出すかを示している。図5は衝撃器の第1ステージ20を示す。負の電荷が不注意な取り扱いまたは外的環境によって、絶縁体24中に蓄積される。絶縁体24中の負の電荷は空気流21中の正に帯電した粒子に対してクーロン引力を生成し、更にこの正に帯電した粒子を絶縁体24に向かって引き寄せる。図5は、この引力を実線の矢印によって示している。粒子が軽ければ軽いほど、力の効果によってそれらは絶縁体24に向かって容易に移動する。粒子は絶縁体に衝突し、これに粘りつき、その結果観察中の空気流から離れる。
図6は、絶縁体24に粘りついて正に帯電した粒子が如何にしてそれらの回りでクーロン力効果を生じその他の正に帯電した粒子を反発するかを示している。この力の効果によって、小さな質量を有する小さなサイズの粒子はノズル部分22中のホールを通る空気流21に従わず、反対にこの流れから離れ、カバー部分26の下部表面、ノズル部分22またはステージ20の壁に衝突する。これが衝撃器の第2またはそれ以上のステージであると、図6においてカバー部分26に衝突する粒子は、以前のステージにおいてコレクタ面の下部表面に自然に衝突している。ノズル部分22およびコレクタ面23は衝撃器の対応するステージ20と電気的に接触しているため、ノズル部分22の上面、コレクタ面23の下面またはステージ20の壁に衝突する粒子は、衝撃器の本来の設計が意図している様に、電流測定ユニット15において同じ粒子がコレクタ面23に衝突した場合に生じる電流と同様に検出される電流を生じる。
生じた損失により、小さな粒子の一部分は、大きな粒子に対して期待されている様に、ステージに集まりそれらの電荷を問題のステージに移す。この場合、測定電流は大きな粒子のみの電荷によって生じる電流よりも大きい。従って、測定電流に基づいて推測される粒子の数は実際の粒子数とは異なり、その結果測定効果にずれが生じる。
粒子を運ぶ空気流21は通常、それが最終ステージに達する迄に数個のステージを通過しなければならないので、初期のステージにおける損失は、衝撃器に入る空気流21の微粒子量に関して、および衝撃器の最終ステージにおける空気流21の微粒子量に関して重大な相違を生じる。この場合、最終ステージで測定される電流と、この測定に基づいて推定される粒子量とは、観測中の空気流11の実際の量から大きく相違している。
本発明の目的は、衝撃器におけるクーロン粒子損失を最小化するための新規な方法および装置、およびクーロン粒子損失を最小化することが可能な衝撃器を得る事である。請求項1の特徴部分に記載された本発明の特徴は、本発明の方法に特徴的な事柄を示している。請求項5の特徴部分は、本発明に従って構成された衝撃器の特徴とする事柄を記載している。従属項は本発明の好ましい実施形態を示している。
従来例に対する本願発明の衝撃器および方法の利点は、粒子損失の減少によってもたらされる測定の信頼性の向上である。
更に、絶縁体において帯電を防止するためおよび生成される可能性のある電荷を除去するために要求されるフェーズを完全に取り除くことあるいは非常に簡略化することが可能なために、本発明の方法は衝撃器の組立てを容易にする。
本発明の方法の1実施形態では、クーロン損失は、導電層を絶縁体と粒子を搬送する流れの間に配置することによって、最小とすることができる。このタイプの導電層は、その最も簡単な形状において、絶縁体の上部に配置された金属リングの助けによって実現することが可能である。
本発明の方法のその他の実施形態において、導電層は、流れに面している絶縁体の表面を導電物質によって処理することによって実現することができる。この実現に当たって、衝撃器のこれ以上の部分に対する必要性はない。
本発明の方法の第3の実施形態において、絶縁体に蓄積される電荷によって生じ流れの中で運ばれる粒子に向かう力の効果は、絶縁体表面が粒子を運ぶ流れから可能なかぎり遠くなるように絶縁体を設計することによって、最小とすることができる。
本発明の方法の第4の実施形態において、衝撃器のステージは、ステージの一部分が絶縁体と流れの間に位置する様に形成し、流れと絶縁体の導電性表面との間に導電面を効果的に形成する。
以下に、図面を参照して本発明を詳細に記載する。
【図面の簡単な説明】
図1は、電気衝撃器に基づく測定システムを示す。
図2は、電気衝撃器の最初の2個のステージを示す。
図3は、どの様にして粒子がコレクタ面に衝突するかを示す。
図4は、衝撃器の一端と更にその後のステージにおける粒子サイズの関数としての収集効率を示す。
図5は、衝撃器中にクーロン損失を発生する電界の形成を示す。
図6は、クーロン損失の形成メカニズムを示す。
図7は、クーロン粒子損失を最小化するための本発明の方法の1実施形態を示す。
図8は、クーロン粒子損失を最小化するための本発明の方法のその他の実施形態を示す。
図9は、クーロン粒子損失を最小化するための本発明の方法の第3の実施形態を示す。
発明を実施するための最良の形態
図1、2、3、4、5および6は、従来例の記載に関して既に議論している。
本発明の方法による解決方法では、衝撃器におけるクーロン損失は、絶縁体24中に形成される電荷の力の効果を、空気流21中で運ばれる帯電粒子上に限定することによって、最小化することができる。
図7は、上記力の効果を限定するための1つの解決方法を示す。この解決方法において、リング70は、少なくともその表面層において電気を通しかつ例えば金属によって形成することが可能である。このリング70は、リング70がカバー部分26と電気的に接触する様に、カバー部分26と絶縁体24間の第1のチャンバー内に配置される。後段のステージにおいて、リングが衝撃器のステージ20aと電気的に接触し、かつ衝撃器の次のステージ20bとは接触しない様に、リング70をステージ20aと絶縁体24間に配置する。更に、絶縁体24と空気流21間に導電層が形成される様にリング70を形成する。この様に、粒子の前面のリング70の導電層が絶縁体24の電荷を隠し、それらによって形成される電界が空気流21に達するのを防止するので、空気流21によって運ばれる帯電粒子は絶縁体24中の電荷に“出会う”ことが無い。この理由によって、帯電粒子は絶縁体に向かう力の効果を経験せず、更にこの理由によって、図6に示す正の帯電雲が絶縁体表面上に集まらない。正の帯電雲が形成されないため、空気流21によって運ばれる粒子はクーロン反発力を受けることが無い。反発力が存在しないことによって、小さな帯電粒子であっても空気流21中に止まり、それによってクーロン損失が形成されない。
絶縁体24と空気流21間に存在する導電層は、衝撃器のステージ20aを、図7に示す様にリング70が衝撃器のステージ20aの必須部分であり分離したリングでは無い様に形成することによっても実現することが可能である。更に本発明の解決方法は、導電層が絶縁体の前後のステージに接続されているかどうかと言う事実に依存しない。
図8は、クーロン損失を最小とするための本発明の解決方法のその他の実施形態を示す。この解決方法において、絶縁体24は、表面層80が衝撃器のステージ20aまたはそのカバー部分26と電気的に接触する様に、導電性の材料によって被覆されている。これによって、この表面層80は、図7に示す様に独立した導電層として動作し、電荷によって形成される絶縁体24の電界が空気流21に達するのを防止する。
図9は、クーロン損失を最小とするための本発明の方法の第3の実施形態を示す。この解決方法において、衝撃器絶縁体90は、空気流21に面する表面が衝撃器ステージ20a、20bの表面よりも更に空気流21から離れる様に形成されている。クーロン相互作用は、距離が大きくなるに連れて2乗で減衰するため、絶縁体中に形成された負の電荷の力効果、およびこれに対応して絶縁体90の表面上に集まる正の帯電粒子に生じる力は、絶縁体90の表面が空気流21から離れれば離れるほど小さくなる。絶縁体90の表面が空気流21から可能な限り離れるように絶縁体90を形成することによって、クーロン損失を最小とすることが可能となる。この絶縁体90は図9に示す様に凹型であるが、絶縁体90表面の空気流21からの距離が可能なかぎり長くなるように、絶縁体の形状を本発明の範囲内で多くの方法で実現することが可能であることは、当業者にとって明白である。
しかしながら、本発明による方法および衝撃器の上記詳細な実施形態は単なる実施形態であり、請求の範囲内で変更することが可能である。特に、導電性リング70および絶縁体90の形状は、請求の範囲内で多くの異なる方法で実現することが可能である。更に、本発明の方法または衝撃器の実施形態は、衝撃器ステージの設計に何らの制限を呈示するものでは無い。
Claims (12)
- 電気衝撃器によって粒子サイズ分布を測定するための方法であって、
荷電粒子を運ぶ流れ(21)を、入口(28)を通ってチャンバー(29、29a、29b)に向かわせるステップであって、前記チャンバ(29、29a、29b)の側壁は、電流測定ユニット(15)に電気的に接続されたステージ(20、20a、20b)とこのステージ(20、20a、20b)をフレーム部分(25)および/またはその他の可能なステージ(20、20a、20b)から電気的に絶縁するための少なくとも1個の絶縁体(24、24a、24b、24c、90)を具備する、ステップと、
前記チャンバー(29、29a、29b)において前記流れ(21)を、該流れ(21)に本質的に垂直で前記ステージ(20、20a、20b)に電気的に接続されたノズル部分(22、22a、22b)のホールを通過する様に方向づける、ステップと、
前記ノズル部分(22、22a、22b)のホールを通過した前記流れ(21)の方向を、コレクタ面(23、23a、23b)を、ノズル部分(22)のホール位置で強固に、ノズル部分(22、22a、22b)の下流でかつノズル部分(22、22a、22b)に近接して配置することによって、急激に偏向させるステップと、
コレクタ面(23、23a、23b)に電気的に接続された電流測定ユニット(15)の支援によって電流を測定するステップであって、該電流は、前記流れ(21)の中の希望のサイズよりも大きい粒子サイズを有する粒子が、流れの方向が急速に変化するに連れて流れ(21)から離れコレクタ面(23、23a、23b)に衝突しその結果それらの電荷をコレクタ面(23、23a、23b)に移すことによって形成される、ステップと、
前記流れ(21)を、コレクタ面(23、23a、23b)上に位置する少なくとも1個の出口(30)を通ってチャンバー(29、29a、29b)の外に向かわせる、ステップと、を備え、
前記絶縁体(90)の前記流れ(21)に面する表面を、前記ステージ(20、20a、20b)の表面よりも前記流れ(21)からさらに離すことによって、前記流れ(21)のルート上で前記絶縁体(90)上に蓄積された電荷によって形成される前記チャンバ(29)内の電界を減少させることを特徴とする、電気衝撃器によって粒子サイズ分布を測定するための方法。 - 前記絶縁体(90)は窪んだ形状を有していることを特徴とする、請求項1に記載の電気衝撃器によって粒子サイズ分布を測定するための方法。
- 粒子サイズ分布測定のための電子衝撃器であって、
少なくとも1個のチャンバー(29、29a、29b)であって、前記チャンバーの側壁は、電流測定ユニット(15)に電気的に接続されたステージ(20、20a、20b)と、該ステージ(20)を本装置のフレーム部分(25)および/または他の可能なステージから電気的に絶縁するための少なくとも1個の絶縁体(24、24a、24b、24c、90)とによって形成される、少なくとも1個のチャンバー(29、29a、29b)と、
帯電粒子の流れ(21)を前記チャンバー(29、29a、29b)に向けるための入口(28)と、
前記流れ(21)を通過させるためのホールを有するノズル部分(22、22a、22b)であって、前記チャンバー(29、29a、29b)のベースを形成しかつ前記流れ(21)に本質的に垂直でかつ前記ステージ(20、20a、20b)に電気的に接続されたノズル部分(22、22a、22b)と、
前記ノズル部分(22、22a、22b)の下流に位置しかつ前記ステージ(20、20a、20b)に電気的に接続されたコレクタ面(23、23a、23b)であって、希望のサイズよりも大きな粒子サイズを有する前記流れ(21)中の粒子は、前記流れの方向が急激に変化するに従って、前記コレクタ面(23、23a、23b)上に衝突する、コレクタ面(23、23a、23b)と、
前記流れ(21)を次のチャンバー(29、29a、29b)またはこの衝撃器外に導くための少なくとも1個の出口(30)、を備える、粒子サイズ分布測定のための電子衝撃器において、
前記流れ(21)に面する前記絶縁体(90)の表面が、前記ステージ(20)の表面よりも前記流れ(21)からさらに離れていることを特徴とする、粒子サイズ分布測定のための電子衝撃器。 - 前記絶縁体(90)は窪んだ形状を有していることを特徴とする、請求項3に記載の粒子サイズ分布測定のための電子衝撃器。
- 電気衝撃器によって粒子サイズ分布を測定するための方法であって、
荷電粒子を運ぶ流れ(21)を、入口(28)を通ってチャンバー(29、29a、29b)に向かわせるステップであって、前記チャンバ(29、29a、29b)の側壁は、電流測定ユニット(15)に電気的に接続されたステージ(20、20a、20b)とこのステージ(20、20a、20b)をフレーム部分(25)および/またはその他の可能なステージ(20、20a、20b)から電気的に絶縁するための少なくとも1個の絶縁体(24、24a、24b、24c、90)とを具備する、ステップと、
前記チャンバー(29、29a、29b)において前記流れ(21)を、該流れ(21)に本質的に垂直で前記ステージ(20、20a、20b)に電気的に接続されたノズル部分(22、22a、22b)のホールを通過する様に方向づけるステップと、
前記ノズル部分(22、22a、22b)のホールを通過した前記流れ(21)の方向を、コレクタ面(23)を、ノズル部分(22)のホール位置で強固に、ノズル部分(22)の下流でかつノズル部分(22)に近接して配置することによって、急激に偏向させるステップと、
コレクタ面(23、23a、23b)に電気的に接続された電流測定ユニット(15)の支援によって電流を測定するステップであって、該電流は、前記流れ(21)の中の希望のサイズよりも大きい粒子サイズを有する粒子が、流れの方向が急速に変化するに連れて流れ(21)から離れコレクタ面(23、23a、23b)に衝突しその結果それらの電荷をコレクタ面(23、23a、23b)に移すことによって形成される、ステップと、
前記流れ(21)を、コレクタ面(23、23a、23b)上に位置する少なくとも1個の出口(30)を通ってチャンバー(29、29a、29b)の外に向かわせる、ステップと、を備え、
前記絶縁体(24)上に蓄積された電荷によって形成される、前記チャンバ(29)内の前記流れ(21)のルート上の電界を、前記絶縁体(24)と前記流れ(21)間に導電層(70、80)を配置することによって減少させることを特徴とする、電気衝撃器によって粒子サイズ分布を測定するための方法。 - 前記導電層は、前記絶縁体とは別体の導電リング(70)であることを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- 前記導電リング(70)は金属リングであることを特徴とする、請求項6に記載の方法。
- 前記導電層は、前記絶縁体(24)の少なくとも一部分をカバーする被覆層(80)であることを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- 粒子サイズ分布測定のための電子衝撃器であって、
少なくとも1個のチャンバー(29、29a、29b)であって、前記チャンバーの側壁は、電流測定ユニット(15)に電気的に接続されたステージ(20、20a、20b)と、該ステージ(20)を本装置のフレーム部分(25)および/または他の可能なステージから電気的に絶縁するための少なくとも1個の絶縁体(24、24a、24b、24C、90)とによって形成される、少なくとも1個のチャンバー(29、29a、29b)と、
帯電粒子の流れ(21)を前記チャンバー(29、29a、29b)に向かわせるための入口(28)と、
前記流れ(21)を通過させるためのホールを有するノズル部分(22、22a、22b)であって、前記チャンバー(29、29a、29b)のベースを形成しかつ前記流れ(21)に本質的に垂直でかつ前記ステージ(20、20a、20b)に電気的に接続されたノズル部分(22、22a、22b)と、
前記ノズル部分(22、22a、22b)の下流に位置しかつ前記ステージ(20)に電気的に接続されたコレクタ面(23、23a、23b)であって、前記流れ(21)中の希望のサイズよりも大きな粒子サイズを有する粒子は、前記流れの方向が急激に変化するに従って、前記コレクタ面(23、23a、23b)上に衝突する、コレクタ面(23、23a、23b)と、
前記流れ(21)を次のチャンバー(29、29a、29b)またはこの衝撃器外に導くための少なくとも1個の出口(30)、を備える、粒子サイズ分布測定のための電子衝撃器において、
前記絶縁体(24)と前記流れ(21)間に導電層(70、80)が配置されていることを特徴とする、粒子サイズ分布測定のための電子衝撃器。 - 前記導電層は、前記絶縁体とは別体の導電リング(70)であることを特徴とする、請求項9に記載の衝撃器。
- 前記導電リング(70)は金属リングであることを特徴とする、請求項10に記載の衝撃器。
- 前記導電層は、前記絶縁体(24)の少なくとも一部分をカバーする被覆層(80)であることを特徴とする、請求項9に記載の衝撃器。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI980178 | 1998-01-27 | ||
FI980178A FI104127B (fi) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | Menetelmä sähköisissä impaktoreissa tapahtuvien coulombisten häviöiden minimoimiseksi ja sähköinen impaktori |
PCT/FI1999/000050 WO1999037990A1 (en) | 1998-01-27 | 1999-01-26 | Method for minimising coulombic losses in electrical impactors and an electrical impactor |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001518195A JP2001518195A (ja) | 2001-10-09 |
JP2001518195A5 JP2001518195A5 (ja) | 2006-07-20 |
JP4091133B2 true JP4091133B2 (ja) | 2008-05-28 |
Family
ID=8550571
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP53795399A Expired - Fee Related JP4091133B2 (ja) | 1998-01-27 | 1999-01-26 | 電子衝撃器におけるクーロン損失を最小化するための方法および電子衝撃器 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6401553B1 (ja) |
EP (1) | EP0970363B1 (ja) |
JP (1) | JP4091133B2 (ja) |
AT (1) | ATE404855T1 (ja) |
DE (1) | DE69939296D1 (ja) |
FI (1) | FI104127B (ja) |
WO (1) | WO1999037990A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI113406B (fi) * | 2000-09-01 | 2004-04-15 | Dekati Oy | Laite aerosolipartikkelien kokojakauman määrittämiseksi |
FI117306B (fi) | 2001-11-21 | 2006-08-31 | Dekati Oy | Mittalaite aerosolien mittaamiseksi |
FI117305B (fi) * | 2001-11-21 | 2006-08-31 | Dekati Oy | Impaktori, impaktorin runko-osa ja impaktorissa käytettäväksi tarkoitettu osa |
FIU20100360U0 (fi) | 2010-08-20 | 2010-08-20 | Kauko Janka | Sähköinen hiukkasmittauslaite |
JP5700594B2 (ja) | 2011-02-22 | 2015-04-15 | 株式会社日立製作所 | 大気中微生物等の捕集装置及びその捕集方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4312180A (en) * | 1979-09-28 | 1982-01-26 | Battelle Development Corporation | Detecting particles |
DE3104878A1 (de) | 1981-02-11 | 1982-08-19 | Natalija Georgievna Moskva Bulgakova | Verfahren und einrichtung zur analyse disperser aerosolzusammensetzungen |
DE3417525C1 (de) | 1984-05-11 | 1986-01-09 | Matter + Siegmann Ag, Wohlen | Vorrichtung zur quantitativen und qualitativen Erfassung von kohlenwasserstoffhaltigen Schwebeteilchen in Gasen |
USRE36074E (en) * | 1990-11-30 | 1999-02-02 | Toa Medical Electronics Co., Ltd. | Particle detector and particle detecting apparatus having the detector |
-
1998
- 1998-01-27 FI FI980178A patent/FI104127B/fi not_active IP Right Cessation
-
1999
- 1999-01-26 WO PCT/FI1999/000050 patent/WO1999037990A1/en active IP Right Grant
- 1999-01-26 DE DE69939296T patent/DE69939296D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-01-26 US US09/380,494 patent/US6401553B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-01-26 JP JP53795399A patent/JP4091133B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1999-01-26 EP EP99902557A patent/EP0970363B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-01-26 AT AT99902557T patent/ATE404855T1/de not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI980178A0 (fi) | 1998-01-27 |
FI104127B1 (fi) | 1999-11-15 |
EP0970363B1 (en) | 2008-08-13 |
FI104127B (fi) | 1999-11-15 |
WO1999037990A1 (en) | 1999-07-29 |
JP2001518195A (ja) | 2001-10-09 |
US6401553B1 (en) | 2002-06-11 |
ATE404855T1 (de) | 2008-08-15 |
EP0970363A1 (en) | 2000-01-12 |
FI980178A (fi) | 1998-11-15 |
DE69939296D1 (de) | 2008-09-25 |
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A601 | Written request for extension of time |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080228 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307 Year of fee payment: 3 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |