JP4044823B2 - 心臓における刺激しきい値エネルギーを試験するための装置 - Google Patents
心臓における刺激しきい値エネルギーを試験するための装置 Download PDFInfo
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Description
【0001】
この発明は、一般に植込み可能なペースメーカーに関係し、更に詳細には心臓の両室における心臓の捕捉を試験して検出し、刺激信号しきい値データを導出して記憶し、且つエネルギー効率を得るように刺激信号エネルギーを調整するための装置に関係している。
【0002】
【従来の技術】
この明細書において参照される、共有譲渡された米国特許第5320643号に記述されたように、心臓ペースメーカーは、心臓の心筋を収縮させ又は「鼓動」させるように、すなわち心臓を「捕捉する」ように設計された、適当に時間決めされた電気的刺激信号を供給することによって、異常な心臓の自然の心搏調整機能の若干又はすべてに取って代わるために使用される電気的装置である。植込み式ペースメーカーにより供給される刺激パルスは、通常よく定義された振幅及びパルス幅特性を有しており、この特性は、特定の患者についての生理学的要求及び装置電力節約要求を満たすように遠隔プログラミング及び遠隔測定機器によって調整することができる。
【0004】
心搏調整用パルスの強度(振幅)及び持続時間(パルス幅)は、重大な合併症及び死さえも防止するために捕捉が維持されるような刺激しきい値より上のエネルギーの大きさのものでなければならない。しかしそれでも、このエネルギーの大きさは、電池の寿命を長くするために合理的な「安全裕度」のために必要とされる以上に刺激しきい値よりも高くないことが望ましい。心房及び心室における患者の刺激しきい値はしばしば短期的に変動し、且つ長期的に徐々に変化する。最低の刺激しきい値がペースメーカーの植込みの直後に観察されること(急性しきい値)は臨床上観察されている。心搏調整用リード電極の先端部の周りの心臓組織における炎症は、植込み後最初の2ないし6週間の間刺激しきい値を急速にその最高レベル(ピークしきい値)まで引き上げ、従って捕捉を行うためにより大きい心榑調整用パルスエネルギーが必要とされる。炎症のあるものは長期の間に復元してしきい値をピークレベルよりも下(臨床しきい値)に低下させる。しかしながら、信号伝搬のために非線維組織よりも大きいエネルギーを必要とする若干の永久線維組織が電極先端部の周りに残存するので、臨床しきい値は急性レベルまで減小しない。短期的には、しきい値は、例えば運動により減小し、又睡眠を含む種々の活動により増大するであろう。従って、安全裕度は、典型的には計画された最大刺激しきい値を捕捉するためにペースメーカーの植込み時に医師によって決定される。
【0005】
この明細書において参照される、共有譲渡された米国特許第5324310号に記述されたように、医師による刺激しきい値の手術後の決定は、典型的には患者を表面ECG機器に接続してペースメーカープログラマを用いてしきい値ルーチンを行うことを必要とする。ペースメーカープログラマは、パルス幅及び/又は振幅についての連続した臨時の再プログラミングを遠隔的に行って、捕捉が失われている点を確認し、そして結果として生じるしきい値データから強度―持続時間曲線がプロットされ得る。この過程において、心搏調整用(ペーシング)パルスは患者自身の基礎レートより上の試験ペーシングレートでどちらかの心臓室に供給され、そしてペースパルスエネルギーは事前設定のパターンでパルスごとに減小される。ペーシングパルスは表示装置又は記録紙上でスパイクとして観察され、そして捕捉又は捕捉の喪失は各スパイクに続く誘発心臓反応波形の存在又は欠如(P波又はR波)によって観察される。捕捉の喪失時には、ペーシングパルスエネルギーは直ちに復旧され得るので、患者は失神を経験しない。結果として生じるしきい値データはパルスエネルギーを永久に再プログラムするために使用され得る。もちろん、そのような周期的な患者調査は実施するのに時間がかかり且つ費用がかかる。更に、そのような調査は患者の一日の過程及び活動のレベルについての刺激しきい値変動の表示を与えない。植込み可能なパルス発生器(IPG)の寿命は、電池が患者の要求を満たすのに必要なよりも高い速度で消耗するので短くされる。
【0005】
これらの考慮事項の結果として、刺激しきい値を自動的に試験する能力を有する、すなわち「自動捕捉」検出機能を準備している。そして臨床的又は患者の介入を必要とすることなくしきい値を安全裕度だけ超えるようにペーシングパルスエネルギーを再設定するIPGを開発するために、長年にわたって多くの努力が費やされてきた。共有譲渡された米国特許第5324310号及び米国特許第5320643号に並びに更なる米国特許第5165404号、第5165405号、第5172690号、第5222493号及び第5285780号に記述された初期の特許の大量の目録によって反映されるように広範囲の種類の方策がとられてきた。
【0006】
そのようなIPGにおいて、捕捉検出方策は、典型的にはペーシングパルスを供給するために使用されたペーシング(心搏調整用)電極からの誘発心臓反応波形を検出する際の難点を克服しようと試みる種々の形態をとっている。高刺激エネルギーペーシングパルス並びに続いて起こる後電位及び電極組織分極アーティファクトは誘発反応を隠し、且つ又電極に結合されたセンス増幅器をそれらが消散するまで飽和させる。センス増幅器がもはや不感でなくなる時点までに、誘発反応は、もしあれば、一般的には電極を通過している。とられてきた方策の多くは、センス増幅器のためのブランキング期間を含んでおり、これと組み合わされて、飽和期間(及びブランキング期間)をできるだけ短くするためにブランキング期間中センス増幅器入力における合成後供給信号レベルを電子的に抑制する又は減衰される又は補償する努力を含んでいる。
【0007】
代替方法として、ペーシングパルスを供給する際に使用された「近界」電極システムとは別個の「遠界」EGM増幅器及び電極とステムの使用が、上に引用された米国特許第5324310号によって例示されたように、種々の形態において提案されている。
【0008】
更なる方策においては、心臓のメカニズムに対する反応を示す一つ以上の生理学的センサ、例えば圧電若しくはインピーダンスセンサ、又は心臓が捕捉されたときの血液の物理的特性を示すセンサ、例えばペーシングリードにおける血液pH、温度、インピーダンス若しくは血圧センサが又、上に引用された米国特許第5320643号により例示されたように示唆されている。
【0009】
これらの方策の機能及び確度は、次のものを含むがこれに限定されない一つ以上の要因によって悪影響を受けてきた。これらの要因はすなわち、EGMの場合における筋電位(筋運動の産物である電気信号)、漂遊電磁干渉(EMI)、センサ感度についての諸問題(感度があり過ぎるとか又は感度が十分でないとか)、及び圧力センサの場合には、胸圧の変化の結果としての(呼吸、咳又はくしゃみに起因する)検出電気信号の変動である。
【0010】
これらの方策の事実上すべてにおいて、比較的多くのエネルギーを消費し、システムの大きさ及び費用を増し且つ信頼性の問題を持ち出す付加的な構成部分及び回路部に頼ることが必要である。この付加的な構成部分及び回路部は、誘発P波を検出することの困難さが、それの比較的小さい振幅によって更に複雑化される二重室ペースメーカーにおいては更に増大する。従来技術の多くの方策のうちのごくわずかのものしか植込み可能なペースメーカーシステムにおいて試みられておらず、そして更に少数のものが既に臨床上有用であり且つ商業的に成功していることが判明しているにすぎない。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
二重室ペースメーカーにおいて、心房において試験刺激を加えて、心房刺激の供給に続くある心房−心室時間内に発生する伝導心室脱分極の欠如から心室における心房の捕捉の欠如を検出することによって心房刺激しきい値を測定することが、この発明の目的である。
【0012】
二重室ペースメーカーにおいて、心房ペースパルスの供給に続いて心室において試験刺激を加えて、心室刺激の供給に続く心房−心室時間窓における伝導心室脱分極の存在から捕捉の喪失を検出することによって心室刺激しきい値を決定することが、この発明のなお更なる目的である。
【0013】
前の心房又は心室鼓動に対して時間尚早に時間決めされた試験刺激を加えて、予想洞補充(エスケープ)期間の終了時における、より早い鼓動に続く心房又は心室鼓動の存在から捕捉の喪失を検出することによって、それぞれ、心房又は心室における心房又は心室刺激しきい値を測定することが、この発明のなお別の目的である。
【0014】
心房及び心室しきい値データに関して心房及び心室ペーシングパルス振幅及び幅を調整し、データを記憶し、そして外部プログラマの指令によりデータ及び現在のペーシングパルス振幅及び幅を読み出して、周期的な心房及び心室しきい値試験並びに心房及び心室強度−持続時間データの導出のためのシステムを提供することがこの発明のなお更なる目的である。
【0015】
【課題を解決するための手段】
この発明のこれら及びその他の目的は、上述の目的を実行して心房及び/又は心室ペースパルス(Aペース及びVペース)刺激エネルギー強度−持続時間データを導出するように動作する二重室又は単一室心臓ペースメーカーIPGと共に使用するための自動捕捉検出及び刺激しきい値探求装置において実現される。
【0016】
無傷の、規則的なA−V伝導又は第1級ブロックを有する患者、心房及び心室しきい値試験体制について特に使用可能なこの発明の第1態様においては、Aペースパルスが試験補充(エスケープ)期間及びA−V遅延において供給される。トリガされたAペース試験刺激に反応しての心房捕捉喪失(ALOC)が、Aペース試験刺激の供給に続くペースA−V遅延期間の後方部分における検出心室脱分極の欠如(V事象)によって宣言される。心室しきい値試験体制においては、Vペース試験刺激が先行するAペースからの短縮A−V遅延の後に供給される。心室捕捉喪失(VLOC)はVペース試験刺激の心室不応期間におけるV事象の検出によって宣言される。
【0017】
規則的な測定洞リズムを有する患者における心房又は心室に使用可能なこの発明の第2態様においては、時期尚早のAペース又はVペース試験刺激が平均測定補充期間の小部分として設定された試験補充期間において供給される。試験補充期間より幾分長めであるように設定された非リセット窓の外側における、それぞれ、後続のA事象又はV事象の存在は、それぞれALOC又はVLOCであると宣言される。望ましくは、この実施例においては、パルス幅及び振幅における試験刺激エネルギーは捕捉(CAPTURE)が宣言されて患者の正常なリズムが試験中頻繁に乱されなくなるまで増大される。
【0018】
Aペース及びVペース試験刺激はLOC刺激エネルギーを超えたエネルギーにおいて捕捉宣言を確認するまで繰り返される。LOC及び捕捉の両試験値において、パルスの振幅(強度)及び幅(持続時間)を変えることによって得られた、心房及び心室刺激しきい値データは、遠隔測定及び解析のために且つ又連続したしきい値測定試験の間で使用されるVペース及びAペース正常パルス幅及び振幅の設定における使用のために記憶装置に記憶される。
【0019】
結果として生じるAペース及びVペース刺激しきい値パルス振幅及びパルス幅は、現存の遠隔測定法及び外部プログラマを用いて検索のために現存の記憶装置に記憶されることができる。IPGにおいては、正常なAペース及び/又はVペースパルス幅及び振幅は、適切ならば、電池エネルギーを節約するために適当な安全裕度を考慮して、プログラムされた又は前に設定された値から変更されることができる。
【0020】
好都合には、この発明の装置は、しきい値測定方法を周期的に実施するために単にオペレーティング・アルゴリズムを記憶装置に記憶することによってプログラム可能な単一室IPG又は多重プログラム可能なDDD(R)に適用されることができる。付加的な回路部、センサ又はその他の構成部分はこの方法を実施するためには必要でない。ペースメーカーパルス発生器は、しきい値試験Aペース及び/又はVペース補充期間、A−V遅延期間、並びにその他のタイミング期間を確立するために、心房及び/又は心室パルス発生器を動作させて変化するパルス幅及び振幅でAペース及び/又はVペース試験刺激を供給するために、心室センス増幅器のV事象信号を処理するために、並びにAペース及びVペースパルス幅及び振幅に対する刺激しきい値においてALOC及びVLOCを宣言するために有効に再構成される。
【0021】
【実施例】
この発明の第1の態様に従って、この発明の装置は、無傷の、規則的なAV伝導又は第1級AVブロックを有する患者について特に使用され得る、後続の図1〜9において記述されたような二重室IPGに組み込まれている。この発明の更なる態様においては、特に単一室ペーシング(心搏調整)を必要とするにすぎない又は無傷の規則的なAV伝導の欠如している患者に対して、単一室ペースメーカーにおいて又は二重室ペースメーカーの単一室においてしきい値測定を行うために図10にアルゴリズムが記述されている。多重プログラム可能な歩度(レート)応答式二重室IPG及び遠隔プログラマについての次の詳細な説明は、この発明の一方の又は両方の態様に組み込まれることのできる好適なモードを提供する。単一室ペースメーカー又はペーシングモードが必要に応じて詳細記述のIPG及びプログラマ・アーキテクチャの諸特徴を選択的に組み込むことになることは理解されるであろう。
1.IPG及びリードの説明
図1は二重室IPG26の外部形態を図解しており、このIPGには典型的にはチタンのような生物学的適合性金属で製造された密閉包囲体18が準備されている。包囲体18の上部に取り付けられているのはコネクタブロック組立体12であって、これはリード14及び16の近位端部に配置された電気コネクタを受けている。リード14及び16並びにIPG26の組合せで、植込み可能なペースメーカーを構成している。図1〜3及び関連の図4は「二重室心臓ペ一シングのための方法及び装置(METHOD AND APPARATUS FOR DUAL CHAMBER CARDIAC PACING)」という名称の、1994年3月17日出願された米国特許出願番号08/214933(特表平9−504982号)に記述されており、この出願は言及によりここに組み込まれる。
【0022】
リード16は心房二極式ペーシングリードであって、二つの電極20及び22を所持している。電極20及び22は、心房脱分極(P波)を検出するためと心房ペーシングパルスを供給するためとに使用される。心房ペーシングパルスは、二極式ペーシングモードにおいては電極20と22との間に又は単極式ペーシングモードにおいては電極22とIPG26のハウジング18との間に供給されればよい。P波の検出は、二極式検出モードにおいては電極20と電極22との間で又は単極式検出モードにおいては電極20及び22の一方とIPG26のハウジング18との間で行われればよい。
【0023】
同様に、リード14は心室二極式ペーシングリードを表しており、二つの電極28及び30を所持している。心房リード16に関連して上に論述されたように、電極28及び30は心室を検出し且つ心搏調整するために使用される。二極式心室ペーシングは電極30と28との間で行われることができ、又は単極式心室ペーシングは電極30とIPG26の導電性ハウジング18との間で行われることができる。心室脱分極又はR波の検出は、二極式モードにおいては電極30と28との間で又は単極式検出モードにおいては電極30及び28の一方とIPG26のハウジングとの間に行われることができる。
【0024】
以下で論述されるように、開示されたIPG26の特定の実施例は、望ましくはDDD又はDDDRペーシングモードで動作するが、その場合ペーシングパルスが心房と心室の両方に供給され且つ検出された心房及び心室脱分極は両方共これが検出された室における次の計画されたペーシングパルスの供給を禁止するために有効である。この発明により与えられた心室電極からの心房及び心室捕捉検出は、DDD、DDI、DVI、DDDR、DVIR及びDDIRペーシングモードで動作するペースメーカーに最適に実施されると考えられる。
【0025】
図2は、リード14、16を通して人間の心臓10に結合された、ブロック図形式のIPG26と共に、最新の、多重プログラム可能、植込み可能なペースメーカーをプログラムするために一般的に使用されるものに類似した外部プログラマ40を図解している。IPG26のハウジング内にはペーシング(心搏調整用)回路部320が配置されているが、これにはDDD又はDDDR心臓ペースメーカーの基本的タイミング、刺激及び検出機能のすべてを実施する回路部が含まれており、又ハウジング内にはペーシング回路部320により供給されるタイミング期間を制御するマイクロコンピュータ回路302が配置されている。ペーシング回路部320は又、アンテナ334に結合された二方向性遠隔測定(テレメトリー)回路が含まれており、これは外部プログラマ40からIPG26に情報を伝送してそれのパラメータを変更することを可能にし、又IPG26から外部プログラマ40に情報を伝送することを可能にし、やはり市販されている多重プログラム可能、植込み可能なペースメーカーにおいて現在存在している遠隔測定及びプログラミングシステムに概して類似している。
【0026】
プログラマ40は又遠隔測定/アンテナ駆動器回路102に結合された遠隔測定用アンテナ100を含んでおり、この回路はIPG26のアンテナ334から受信した遠隔測定信号を復調するのに、又この信号を並列又は直列ディジタル形式で入出力(I/O)ユニット108に加えるのに役立つ。遠隔測定信号は次に図形インタフェース110を介してビデオモニタ112に加えられ、並びに/又は中央処理装置114及び/若しくはプリンタ118に供給されることができる。マイクロプロセッサ114は、プログラマ40の動作を制御し、キーボード116による医師入力の指令に応答して、IPG26に送られるプログラミング信号並びにビデオ表示装置112及びプリンタ118の動作を制御することができる。又図2に図解されているのは、患者の身体に配置されるように意図された三つのECG電極106に結合されたECGインタフェース104である。ECGインタフェース104は、検出電気記録図を入出力装置108に供給し、ここで電気記録図は次にビデオ表示装置112、中央処理装置114又はプリンタ118に供給されることができる。
【0027】
図3は、人間の心臓10に接続されたところの、図1及び2に例示されたペースメーカーのより詳細な機能的ブロック図である。例示された組合せ式IPG回路300は、図1に例示されたようなIPG26の導電性ハウジング18内にすべて配置されている。二極式リード14及び16が入出力回路320に直接結合されたものとして概略的に図示されている。しかしながら、実際の植込み可能な装置において、これらのリードは無論図1に例示されたコネクタブロック12に挿入された取外し可能な電気的コネクタを用いて結合されることになるのであろう。
【0028】
IPG回路300は、概してマイクロコンピュータ回路302及びペーシング回路320に分割されている。出力増幅器回路340は、リード14上の電極30及び28によって心臓10の心室に結合された心室パルス発生器回路並びにリード16上に配置された心房電極20及び22によって心臓10の心房に結合された心房パルス発生器回路を含んでいる。同様に、センス増幅器回路360は、それぞれリード14及び16によって心房及び心室に結合された心房センス増幅器及び心室センス増幅器からなっている。出力回路340及びセンス増幅器回路360は、市販されている心臓ペースメーカーにおいて現在使用されているもののいずれかに類似したパルス発生器及びセンス増幅器を含むことができる。この発明を説明する目的のために、心房電極20、22及び心室電極28、30は二極式モードにおいてペーシング及びセンシング(検出)を行うために、それぞれ、心房及び心室のセンス増幅器及びパルス発生器に結合されているものと仮定される。
【0029】
Aセンスに応答して心房センス増幅器により確認された検出心房復調又はP波(A事象)は、A事象線352によりディジタル制御器/タイマ回路330に伝達される。同様に、Vセンスに応答して心室センス増幅器により確認された心室脱分極又はR波(V事象)は、V事象線354によりディジタル制御器/タイマ回路330に伝達される。心室ペーシング又はVペースパルスの発生をトリガするために、ディジタル制御器/タイマ回路330は、Vトリガ線342上にトリガ信号を発生する。同様に、心房ペーシング又はAペースパルスをトリガするために、ディジタル制御器/タイマ回路330は、Aトリガ線344上にトリガパルスを発生する。
【0030】
ペーシング回路320内のタイミング及びその他の機能の制御はディジタル制御器/タイマ回路330によって与えられるが、この回路330は一組のタイマ及び関連の論理回路を含んでいる。ディジタル制御器/タイマ回路330は基本的ペーシング又は補充(エスケープ)期間を定義するが、この期間は心房センシング(A事象)若しくはペーシング(Aペース)時に開始されそしてその期間の満了時に心房ペーシング(Aペース)をトリガするA−A補充期間の形式をとってもよく、又は心室センシング(V事象)若しくはペーシング(Vペース)時に開始されそしてその期間の満了時は心室パルスペーシング(Vペース)をトリガするV−V補充期間の形式をとってもよい。ディジタル制御器/タイマ回路330は同様に、それぞれ検出A事象及び供給Aペースに続いて始まるA−V遅延期間SAV及びPAVを定義する。定義された期間の特定の値は、パラメータ値及び動作モードにおいてプログラムされてからデータ・制御母線306を用いてマイクロコンピュータ回路302によって制御される。
【0031】
ディジタル制御器/タイマ回路330は又センス増幅器回路360における心房及び心室センス増幅器の動作を制御するための時間を定義する。典型的には、ディジタル制御器/タイマ回路330は、心房センシングが不能化される、Aペースパルスの供給に続く心房ブランキング期間、及び心室センシングが不能化される、心房及び心室ペーシングパルス供給に続く心室ブランキング期間を定義する。ディジタル制御器/タイマ回路330は又、補充期間をリセットする目的のために心房センシングが不能化される又はA事象が無視される、心房不応期間(ARP)を定義する。ARPは、A事象又はAトリガに続くSAV又はPAV期間の開始から心室脱分極の検出又はVペースパルスの供給のトリガの後の所定の時点まで延びている。ディジタル制御器/タイマ回路330は、同様に、V事象又はトリガに続く、心室センシング又はペーシングの後のARPの部分よりも一般に短い心室不応期間(VRP)を定義する。
【0032】
正規の場所外のV事象の場合には、ディジタル制御器/タイマ回路330によりARPから別々に定義されたVRP及び心室後方の心房不応期間(PVARP)が発生されてもよい。ARP、PVARP及びVRPの持続時間は又マイクロコンピュータ302に記憶されたプログラム可能なパラメータとして選択されることもできる。ディジタル制御器/タイマ回路は又、感度制御器350によってセンス増幅器360の感度設定値を制御する。
【0033】
図3に例示された実施例においては、DDDRレート応答性ペーシングを与えて定義されたペーシングレート(A−A補充期間又はV−V補充期間)が血液に酸素を送り込む必要性の増大と共に増大するようにすることを可能にするために、患者の活動性を監視するように意図された圧電センサ316がIPG26に準備されている。センサ316は検出された身体の活動性に応答して電気信号を発生し、これは活動性回路322によって処理されてディジタル制御器/タイマ回路330に供給される。活動性回路322及び関連のセンサ316は、ベツォルド(Betzold)外に発行された米国特許第5052388号、及びアンダーソン(Anderson)外に発行された米国特許第4428378号に開示された回路構成に類似したものでよく、これらの特許はそっくりそのまま言及によりこの明細書に組み込まれる。同様に、この発明は、代替形式のセンサ、例えば酸素化センサ、圧力センサ、pHセンサ及び呼吸センサと共に実施されることができるが、これらのセンサはすべてレート(歩度)応答性ペーシング能力を与える際の使用のために周知である。上述のように、この発明は又非レート応答式ペースメーカーにおいて実施されることもできる。
【0034】
図2に例示された外部プログラム40への及びこれからのデータ伝送は遠隔測定用アンテナ334及び関連のRF送受信機322によって行われるが、この送受信機は、受信したダウンリンク遠隔測定信号を復調するため及びアップリンク遠隔測定信号を送信するための両方に役立つ。例えば、ダウンリンク遠隔測定信号を復調し且つ復号化するための回路構成は、トンプソン(Thompson)外に発行された米国特許第4556063号及びマクドナルド(McDonald)外に発行された米国特許第4257423号に開示されたものに類似したものでよく、又アップリンク遠隔測定機能は、ウィボーニ(Wyborny)外に発行された米国特許第5127404号及びマルコウィッツ(Markowitz)に発行された米国特許第4374382号に従って与えられればよい。アップリンク遠隔測定能力は典型的には、(上に引用のウィボーニ特許の教示に従って)記憶ディジタル情報並びに心房及び/又は心室の電気的活動度の実時間又は記憶EGMを送信する能力、並びに引用のマルコウィッツ特許に開示されたように、心房及び心室における検出及びペースされた脱分極の発生を示すマーカチャネルパルスの送信を含むものである。
【0035】
加えて、この発明に関連して、一連の自動捕捉試験刺激ペース事象からの刺激しきい値データが、プログラマ40の要求による後程の遠隔測定送出のためにマイクロコンピュータ302のRAM310又はRAM/ROMユニット314に記憶されることができる。このデータは、図5に関して後で説明される心房及び心室強度−持続時間曲線の形式での表示及び/又は解析のために、ディジタル形式で符号化されてRF送信機332及びアンテナ334により外部プログラマ40に送信される。
【0036】
水晶発振器回路338はペーシング回路320のための基本的なタイミングクロックを供給する。パワー・オン・リセット回路336は回路の電池への最初の接続に応答して初期動作条件を定義し、又同様に、低電池状態の検出に応答して装置の動作状態をリセットする。基準モード回路326は、ペーシング回路320内のアナログ回路のための安定な電圧基準及び電流を発生し、又アナログ−ディジタル変換器ADC・マルチプレクサ回路328は、アナログ信号及び電圧をディジタル化して、RF送受信機回路332によるアップリンク送信のために、センス増幅器360からの心臓信号ならば実時間遠隔測定信号を与える。電圧基準・バイアス回路326、ADC・マルチプレクサ328、パワー・オン・リセット回路336及び水晶発振器回路338は流通している市販の植込み可能な心臓ペースメーカーにおいて現在使用されているもののいずれかに類似したものでよい。
【0037】
マイクロコンピュータ302は、ディジタル制御器/タイマ324の動作上の機能を制御して、どのタイミング期が使用されるかを指定し、且つ、データ・制御母線306を介して種々のタイミング期間の持続時間を制御する。マイクロコンピュータ302は、マイクロプロセッサ304並びに関連のシステムクロック308、オンプロセッサRAMチップ310及びROMチップ312を含んでいる。加えて、マイクロコンピュータ回路302は、付加的な記憶容量を準備するために別個のRAM/ROMチップ314を含んでいる。マイクロプロセッサ304は割込み駆動されて、平常時には低電力消費モードで動作し、そしてA−トリガ、V−トリガ、A事象及びV事象信号を含むような定義された割込み事象に応答して起こされる。
【0038】
上に記述されたように、IPGがレート応答性モードに合わせてプログラムされているならば、患者の活動度レベルが周期的に監視され且つ補充期間が比例して調整される。マイクロプロセッサ304が活動度回路322の出力を解析してIPGの基本的補充期間(A−A又はV−V)を更新することを可能にするために、例えば2秒ごとの、時間決めされた割込が準備されればよい。マイクロプロセッサ304は又、患者の活動度に応答して確立される補充期間と共に変化する可変A−V期間並びに可変ARP及びVRPを定義することができる。例えば、マイクロプロセッサ304は、心臓レート(ペース又はセンス)が定義された休止又は「開始」レートより上であるときに、定義A−V遅延期間から減算されるべき可変のレート適応性減分期間(RAD)を指定することができる。同様にマイクロプロセッサ304は、開始レートより上のセンス又はペース心臓レートにおける増大に関して持続時間が減小するARP及び/又はVRPを定義することができる。
【0039】
図3の図示されたIPGブロック図は、単に例示的なものであって、現在市販で入手可能な大抵の多重プログラム可能なマイクロプロセッサ制御式DDD(R)心臓ペースメーカーに対応している。この発明は、そのような装置に関連して最も容易に実施され、そしてそれゆえに、この発明は現在入手可能なような現存のマイクロプロセッサ制御式二重室ペースメーカーの基本的ハードウェアを用いて、主としてマイクロコンピュータ回路302のROM312に記憶されたソフトウェアに対して変更を施すことによって、容易に実施されることができるものと考えられる。しかしながら、この発明は又、全部注文の集積回路、例えば、上に引用のベツォルド(Betzold)特許に記述されたような、状態計数器が規定順序の計数器制御の段階(ステップ)に従って計算を行うように演算論理装置を制御するのに役立っている状態マシーンの形式をとっている回路によって有効に実施されることもできる。それ自体、この発明は図3に例示されたようなアーキテクチャを有するペースメーカーに限定されるものと理解されるべきではなく、図3に例示されたような回路アーキテクチャはこの発明の恩恵を享受するための先行必要条件であるとは考えられない。
【0040】
図4は、DDDペーシングモードにおける図1、2及び3に例示されたペースメーカーの正常動作の機能上の流れ図である。簡単のために、不応及びブランキング期間の準備に対応する機能的諸段階(ステップ)は、全体的動作モードのより容易な理解を可能にするように省略されている。図4の流れ図においては、装置の基本的タイミングは、上に記述された方法で固定されることができ又は生理学的センサ、例えば図3の活動度センサ316の出力の結果として変化することができる心房補充期間(A−A期間)の定義のまわりに基礎をおいているものと仮定されている。このA−A期間は、ブロック400において現在のA−V遅延期間SAV及びPAVと共にリセットされる。A−V遅延期間中、装置はブロック402における現在のA−V遅延期間(PAV又はSAV)の時間切れ又はブロック406における心室検出を持つ。心室検出(V事象)がA−V遅延期間の時間切れの前に発生しなければ、心室ペーシングパルスがブロック404においてA−V期間の終了時に発生され、そしてA−V期間の値が、必要ならば、ブロック410において更新される。
【0041】
心室脱分極又はV事象がブロック406において現在のA−V遅延期間の満了前に検出されたならば、ペースメーカーのタイミングはV−A補充期間(その後A−A補充期間マイナス現在のA−V遅延期間に等しい)において、心房ペーシングパルスを供給するためにブロック408において選択的にリセットされることができ、又は装置は直接ブロック410におけるA−V遅延期間の更新に進んで、A−A補充期間の満了時に次に計画された心房ペーシングパルスのタイミングを変更しないようにすることができる。
【0042】
ブロック410における基本A−V遅延期間の更新に続いて、装置はブロック416におけるA−A(又は選択的にV−A)補充期間の満了、VRPの外のブロック420における心室脱分極の検出、又はARPの外のブロック422におけるA事象の検出を待つ。A−A(又はV−A)補充期間がなんらの介在するA事象又はV事象検出を伴わないでブロック416において満了したならば、Aペースパルスがブロック414において発生され、そして次に続くA−V遅延期間がブロック412におけるPAVに等しくなるように定義され、続いてブロック400におけるA−A補充期間及びA−V遅延期間のリセットが行われる。
【0043】
V事象がA−A補充期間の満了前にブロック420において検出された場合には、タイミングがリセットされて、V−A期間(A−A補充期間マイナスPAV)の満了時にAペースをトリガする。この時点で検出されたV事象はSAV及びPAV期間の更新をトリガするのに有効ではない。
【0044】
A事象がA−A(又はV−A)期間の満了前にブロック422において検出されたならば、次のA−V期間がブロック424においてSAVに等しくなるように定義され、そしてA−A補充期間及びA−V遅延期間がブロック400においてリセットされる。
【0045】
IPGの正常な、日常の動作においては、各場合におけるAペース及びVペースパルスエネルギーは、手術後に又は後程の患者の検査においてパルス幅及び振幅をプログラムすることによって最初に確立されることができる。プログラムされた値は、後程この発明の実施の際に、正常な値がプログラム値から変動するように周期的に自動的に調整される。
【0046】
任意の特定の時点でオペレーティング・アルゴリズムによって定義されたA−A補充期間、PAV遅延期間、ARP、VRP及びその他の任意の期間を含む、その他の時間値はROM又はRAMに記憶されて、上に記述されたように取り出されて使用される。このように、図4の一般的アルゴリズムにおける又は下で記述される、強度−持続時間(SD)アルゴリズムにおけるIPGの動作においては、指定の期間は、アルゴリズムのいずれかに指定されたトリガ又は事象信号に応答して各指定段階において取り出されて使用することができる。
2.捕捉検出及びしきい値測定
上に記述された形式の二重室ペースメーカーに組み込まれたこの発明の第1態様についての、及び単一室ペースメーカー又は二重室ペースメーカーの単一室に組み込まれたこの発明の第2態様についての、刺激しきい値の測定及び捕捉回復の特徴が以下に説明される。まずこの発明の動作において考慮されるS−D特性が図5に関して説明される。
【0047】
図5は、上に引用の米国特許第5320643号の図2に概して対応している、ミリ秒単位のパルス幅に対するボルト単位のパルス振幅としてプロットされた心筋組織の電気的刺激に対する典型的なS−D曲線を示している。この図表は、なかんずく、刺激しきい値がパルス幅の減小と共に増大し、従ってパルス幅の増大と共に減小するが、但し基電流(レオベース)200を越えると振幅しきい値における更なる減小は達成され得ないことを示している。それゆえに、(図示した例においては)約1ミリ秒を超えてパルス幅を増大するためには、なお0.5ボルトのしきい値が必要である。又例示的な目的のために図表に含まれているのは、時値(クロナキシー)200、心筋興奮性の測定、であり、これは基電流しきい値の2倍に等しい振幅しきい値を有するために必要とされる最低パルス幅を表している点である。
【0048】
実際に供給されるペーシングパルス幅及び振幅と、強度−持続時間曲線に現れる刺激しきい値との間に安全裕度を与えることは技術上周知である。しかしながら、前に述べられたように、安全裕度の量は時間と共に変化することがあり、電池寿命を最大化する必要性に対して釣合いを保たせられなければならないが、これは振幅及びパルス幅の増大が電池エネルギー消費量の増大を生じさせることになるからである。患者における生理学的変化は最初のプログラム値からしきい値を変えることがあり、不十分な振幅及びパルス幅によって捕捉の喪失につながることがある。
【0049】
二重室実施例
この発明の第1態様においては、この正常ペーシング動作は周期的なスケジュールからはずれて図8及び図9のSDアルゴリズムの制御の下で動作し、心房及び心室の両刺激しきい値データを導出して、遠隔測定送出及び解析のための記憶装置への記憶に備え且つ又電池エネルギーを節約するために連続した自動捕捉試験間で使用されるVペース及びAペース正常パルス幅及び振幅を設定する際の使用に備える。この発明の第1態様に従って動作するペースメーカー回路300は、規則的に予測可能なA−V伝導又は第1級A−Vブロックを有する患者においてALOC及びVLOCを検出することができる。図8の心房SD(ASD)アルゴリズムに従うペースメーカー回路300は、PAV遅延期間の後方部分の期間中における時期尚早のAペース試験刺激に対するV事象応答を捜して、V事象がこの期間に検出されないときにALOCを宣言する。図9の心室SD(VSD)アルゴリズムに従って、ペースメーカー300は、Aペースにより開始された試験PAV期間の終了時に供給されたVペース試験刺激に続くVRPにおけるV事象を捜して、V事象がVRPにおいて検出されたときにVLOCで宣言する。
【0050】
マイクロプロセッサ302はこれらのアルゴリズムにより、周期的に、例えば毎夜患者が眠っているであろうある一定の時刻にAペース及びVペース出力振幅及びパルス幅を自動的に調整して心房及び心室刺激しきい値の試験を行うようにプログラムすることができる。後続の過程は後程の遠隔測定送出のために試験から生じる基電流及び時値刺激しきい値を導出してRAMに記憶し、そして次の試験が行われるまで、安全裕度を反映して正常ペーシングパルス幅及び振幅を自動的にリセットするためにそれらの値を使用する。しきい値を試験する過程においては、プログラムされたパルス幅及び振幅エネルギーでAペース又はVペースパルスをバックアップすることによって、ALOC及びVLOCの検出時に、捕捉が回復させられる。
【0051】
自動調整のパラメータ(振幅又はパルス幅)はここでは試験刺激「試験値」と呼ばれ、そしてその他のパラメータはここでは試験刺激「固定値」と呼ばれる。試験値は(ALOC又はVLOCに対して適用可能な)下で説明される刺激しきい値の決定及び回復法を通じて調整される。固定値は下で記述されるように試験値のLOCしきい値の導出まで一定のままである。
【0052】
この発明は、正常A−V伝導又は第1級A−Vブロックを有する患者における、心房及び心室ペーシングしきい値を自動的に決定する装置を提供する。ASD及びVSDアルゴリズムは、試験値におけるAペース又はVペースがそれぞれ心房又は心室を捕捉するかどうかを検出するためになんらの特定のハードウェア又は付加的な回路を必要としない。それは単にある時間窓内の患者の測定A−V伝導を使用してCAPTURE(捕捉)又はLOCを決定する。アルゴリズムは、各心臓室について少なくとも二つの値を測定してそれを図3のIPGのRAMユニット310又はRAM/ROMユニット314に記録する。記憶された値は図2のプログラマ40によって読み出すことができ、図5に関して上に記述されたように基電流(1.0ミリ秒のパルス幅における振幅しきい値)及び時値(2倍の基電流におけるパルス幅しきい値)として特徴づけられることができる。
【0053】
心房及び心室のパルス幅及びパルス振幅についての記憶値は、心房及び心室ペーシングしきい値試験を行う過程において決定されたようなCAPTURE若しくはLOC又はこの両方における実際の測定値である。記憶されそして後程基電流及び時値として特徴づけされる実際の刺激しきい値データは、それゆえに下で記述されるようにLOC又はCAPTUREとして宣言される測定値として選択することができる。
【0054】
SDアルゴリズムが睡眠の期間中だけ動作すること、及び、可能ならば、それがプログラムされた開始時点によって毎夜同じ時刻ごろに開始されることが意図されている。SDアルゴリズムは、臨床的に容認可能であって不整脈を惹起しないが、ペースメーカーの阻止を生じさせ又は多重融解事象に至る洞補充機構で患者が弱るのを防止するために、十分に速い、選択された心臓室に対する試験ペーシングレートを確立する。これに関連して、試験中のペーシングレートは、冠状動脈の病気があるかもしれない又は速い刺激に対して敏感であるかもしれない患者において耐えられない患者の症状群が急速にペ一シングを行うのを避けるために、100bpmを超えるべきではない。60ないし100bpmのレートは、鼓動がLOCのために低下したときには耐えられない症状群を防止するために十分に速い。下に記述されるLOCからの回復の期間中における心室レートパルスは2秒より長くあるべきではない。
【0055】
アルゴリズムについての次の説明は、ALOC及びVLOCの決定並びに心房SD(ASD)試験及び心室SD(VSD)試験を含む二つの部分に分割されている。図8及び図9に描写されたASD及びVSDアルゴリズムは、DDI(R)、DVI(R)及びDDD(R)モードにおいてだけ、すなわち選択的に可能化された活動度に対するレート応答で可能化された二重室ペーシング及びセンシングにより動作する。
【0056】
心房捕捉喪失(ALOC)の決定
ALOCを決定するアルゴリズムがA−V伝導整合性及び遅延の予想特性を含む幾つかの事柄に依存していることに注目することは重要である。例えば、最も簡単なアルゴリズムは、A−V期間中にV事象を生じることになることごとくのAペースが心房を捕捉し、且つA−V期間中にV事象を生じることにならないことごとくのAペースが心房を捕捉しない、と仮定することができる。ALOCのこの定義は、ことごとくの患者においてA−V期間が持続時間において非常に整合している場合に、及び時期尚早の心室収縮(PVC)がA−V期間中に発生しない場合には機能するであろう。実際には、これらの条件は常に優勢であるとは限らない。
【0057】
従って、心房捕捉及びALOCを決定するためのアルゴリズムは、心房ペーシングレートが整合しているならばA−V伝導が所与の患者において全く整合しているという仮定に基づいており、そして次の規則が順に後に続く。
【0058】
第一に、Aペース試験刺激に続く全ペースA−V(PAV)期間中に心室センスV事象がない場合には、ALOCが宣言される。Aペース試験刺激が心房刺激しきい値より下であったことが仮定される。
【0059】
第二に、最初のAペース試験刺激に続くPAV期間中に心室センスV事象がある場合には、Aペース試験刺激又はV事象により心房の捕捉から患者のA−V伝導を介して生じたV事象がPVCを反映しているかどうかが決定されなければならない。心室センスV事象がPAVの最初の110ミリ秒内にあるならば、現在のサイクルが無視され、そして心室安全ペーシング(VSP)は、可能化されたならば、支援の、プログラムされたVペースパルスにおいて心室をペーシングすることを許される。110ミリ秒窓内でのV事象の検出はPVCの発生を意味するが、これは人間におけるしきい値試験体制に使用された100bpmの最大Aペースレートで先行の心房脱分極によりトリガされた正常な伝導心室脱分極が110ミリ秒を超えるからである。これが発生したならば、同じAペース試験刺激値での心房刺激しきい値試験が(下に定義される)鼓動間のA−A期間サイクルのプログラムされた数の経過後に繰り返される。
【0060】
心室センスV事象がPAV内で且つ最初の110ミリ秒後であるならば、A−CAPTURE状態が宣言され又は定義される。次に、Aペース試験値が減分されて、低い方のエネルギーAペース試験刺激が必要な鼓動(ビート)間サイクル後に供給される。
【0061】
図6はALOC決定用アルゴリズムに関してこれらの原理を図解した一連のペーシングサイクルの高度に簡単化された時間図である。記号「a」及び「b」はそれぞれ時間線に沿って試験A−A期間において供給された、それぞれのAペース試験刺激の試験及び固定値(下で定義されたパルス幅及び振幅の試験値及び固定値)を表している。時間線の上方に現れた記号「C」は心室センスV事象が時間線の下の近接する垂直線として示された直前のAペース試験値の後でPAV期間中に発生したことを意味する。時間線の上方の記号「NC」はペースメーカーがプログラムされたVペース出力設定値でPAV期間の終了時に心室をペースしたことを意味する。図解例においては、時間線の上方に現れた「SEN」は心室センスV事象が試験値「a」のAペース試験刺激値により開始されたPAVの最初の110ミリ秒の期間中に発生した又は直前のV−A期間において検出されたことを意味する。記号「BAK」はNC鼓動に続くプログラムされたAペース出力エネルギー設定値を使用するAペースパルスの供給を表示する。図6は、それゆえにALOC及びA−CAPTURE識別の原理を図解した関連の事象を描写している。
【0062】
図6において、試験値「a」において供給された最初の試験Aペースパルスが110ミリ秒窓の外側のA−V伝導で生じることになる。それゆえに、試験値「a」でのA−CAPTUREが仮定され且つ宣言され、そして次のAペース試験刺激の試験値は「b」に減小される。最初の試験値「b」に対して、最初の試験刺激は全PAV期間にわたって検出されないV事象を生じることになる。この結果は、Aペース試験刺激が心房を捕捉せず、アルゴリズムにALOCを宣言させ、且つペースメーカーにPAV期間の終了時にプログラムVペースを供給させることを示している。このペーシングパルスの次には、BAKにおいてプログラム心房及び心室ペースパルス出力設定値を使用する少なくとも一つの支援ペーシングサイクルがくる。
【0063】
図6における更なる例について続けて言うと、Aペース試験刺激の試験値「a」は支援ペーシングサイクル後に又は別の時点で繰り返されてSENとして分類された110ミリ秒窓内のV事象を生じることになる。この鼓動は無視される。試験値「a」での次のAペース試験刺激は、捕捉及びA−V伝導を示す110ミリ秒窓の外側で検出されたV事象を生じることになる。その結果、A−CAPTUREが宣言され、そしてAペース試験値は「b」に減小される。減小したエネルギーレベル「b」において、最初のAペース試験刺激は、心房捕捉及び/又はA−V伝導の欠如を示すPAV期間におけるV事象無検出を生じることになって、アルゴリズムにALOCを宣言させる。やはり、このペーシングパルスの次には、プログラムされた心房及び心室出力設定値を使用する少なくとも一つの支援サイクルがくる。
【0064】
下で記述されるこの発明の実施例に従って、刺激しきい値は、次に前のエネルギーレベルの「a」における一連の三つの保証鼓動を供給してこのエネルギーにおけるA−CAPTUREを確認することによって確かめられる。別の方法として、しきい値の確認は、エネルギーレベル「b」におけるAペース試験刺激の供給を繰り返すことによって決定することができる。代替的にエネルギーレベルがA−CAPTUREを生じる結果になるたびごとに、エネルギーレベルが減小される前に同じエネルギーレベルが繰り返されてもよい。
【0065】
このように、ALOCは、心房が捕捉されなかったために伝導心室事象が存在していない点までAペース試験刺激の試験値が減小されたことが疑わしくないときに宣言される。A−A及びPAV試験期間の設定は図8及び図9のアルゴリズムに関して以下に述べられる。
【0066】
心室捕捉喪失(VLOC)の決定
ALOCについてと同様に、心室捕捉喪失(VLOC)はA−V伝導及び遅延の予想特性を含む幾つかの事柄に依存している。例えば、最も簡単なVLOC及びV−CAPTUREアルゴリズムは、(1)A事象又はAペースの後のA−V期間における初期に供給されたことごとくのしきい値を超えるVペースが、心室不応期間(VRP)に等しい期間の間、V事象検出を阻止すること、及び(2)しきい値を超えるVペースの捕捉の失敗が先行の心房脱分極のA−V伝導を阻止しないので、A−V期間における初期に供給されたことごとくのしきい値を超えるVペースの次に、A−V期間の満了時に、やはりその供給された試験VペースのVRPに起こる伝導V事象(「Vペース」と呼ばれる)がくること、を仮定することができる。VLOCのこの定義は、PVCがVRPの期間中に発生せず、A−V期間の持続時間において非常に整合しており、且つQRST複合波のT波が検出されず、疑似V事象をトリガするような場合には十分に機能するであろう。これらの条件はありそうもないので、次のアルゴリズムがVLOCを決定するために工夫されている。このVLOC(及びV−CAPTURE識別の)アルゴリズムは、PAV伝導が固定A−A試験ペーシング補充期間/レートでペースされる心臓に全く整合するという仮定に基づいている。
【0067】
第一に、試験PAV期間の終了時に印加されたVペース試験刺激に続くVRPの期間中に心室センス又はV事象がない場合には、V−CAPTUREが宣言される。第二は、そのようなVペース試験刺激に続くVRPの期間中に検出されたV事象がある場合には、VLOCが宣言される。宣言された各VLOCに続いて、少なくとも一つのAペース及びVペースサイクルが次のペーシングサイクルにおいてプログラム出力設定値を用いて供給される。次にV−CAPTUREしきい値は直前の、より大きいVペース試験値における一連の保証鼓動を印加してV−CAPTUREを捜すことによって確認される。
【0068】
図7は一連の状況におけるVLOCアルゴリズムの動作を図解しており、ここで記号「a」及び「b」はそれぞれVペース試験値を表している。記号「C」は線の下に示されたVペース試験刺激後のVRPにおいてV事象が検出されないこと(VRセンスなし)を意味する。記号「NC」はV事象が関連のVペース試験刺激の後のVRPにおいて検出されたことを意味する。これらの図解において、記号「SEN」は、PVCが先行のVペース試験刺激の欠如の際に発生したことを意味する。記号「BAK」は、プログラムされた出力エネルギーパルス幅及び振幅設定値におけるVペースパルスの供給を表示する。
【0069】
図7において、PAVへ供給された試験値「a」における最初のVペースの次にはVRセンスはこない。それゆえに、V−CAPTUREが仮定され且つ宣言されて、Vペース試験刺激試験値は「b」に減小される。試験値「b」において、最初のVペース試験パルスの次にはVRセンスがきて、アルゴリズムにVLOCを宣言させる。このA−A補充期間ペーシングパルスの次にはBAKにおけるプログラムされた心房及び心室出力設定値を使用する支援A−A補充期間サイクルがくる。
【0070】
図7における第2例について続けて言うと、試験値「a」パルスにおけるVペース試験刺激は、PVCが発生したので、SENとして分類され、そしてこのVペース試験刺激の直前のV−A期間中にV事象(図示されていない)として検出された。V−A期間に発生するPVCがPAV期間におけるV事象として検出されることはありそうもないが、このタイミング順序は誤りを生じさせることがある。従って、この鼓動は無視される。試験エネルギー「a」における次のVペース試験刺激に続いて、VRPにおけるV事象はこない。それゆえに、V−CAPTUREが仮定され且つ宣言されて、Vペース試験刺激試験値は試験値「b」に減小される。試験値「b」において、最初のVペース試験刺激の次にはVRPの期間中にV事象がきて、アルゴリズムにVLOCを宣言させる。やはり支援ペースサイクルがあとに続く。
【0071】
上述のALOC及びVLOCアルゴリズムは図8及び図9のASD及びVSDアルゴリズムにおいて具体化されるが、これらはASD試験及びVSD試験についての次の記述において一緒に読まれるように意図されている。ASD及びVSD試験アルゴリズムは、振幅及びパルス幅の両試験値におけるALOC及びVLOCに基づいてS−D曲線しきい値データを導出して、指令による後程の遠隔測定送出のためにマイクロコンピュータのRAMに記憶し、又ASD及びVSDアルゴリズムの連続した呼出し間の期間に、刺激しきい値を上下に自動的に調整するように意図されている。若干のASD及びVSDデータ値の組がRAMに記憶されて、時間についてのしきい値傾向を示すために遠隔測定送出されることができる。
【0072】
下で説明されるASD試験及びVSD試験においては、指定期間の基礎的な時間切れ並びに以下で説明されるAペース及びVペースパルスの供給は、図4に概略的に描写され且つ上に記述されたIPGの動作プログラムによって制御される。図8及び図9のASD及びVSDアルゴリズムは、動作時間並びに試験及び固定ペースパルス及び刺激値を一般的動作プログラムに与え、且つ上述のようにIPGの動作から導出される諸事象を監視する。
【0073】
心房強度−持続時間(ASD)試験
組合せASD及びVSDアルゴリズムは、望ましくは、心臓が通常その休息レートにあり且つ活動度誘発のレート変動が最小であるときの患者の睡眠中に上述のように呼び出される。例えば、時刻を与える組込みクロックによってトリガされた直後に、ASD試験は図8におけるブロック500において始まり、そしてブロック502において八つの連続した固有のA−A期間を測定して、ASD及びVSD試験の期間中に使用するべき、試験レート期間と呼ばれるA−Aペーシング補充期間を決定する。心房不応センスはこの測定の期間中無視される。測定された固有の期間は心房不応センス事象を除外する。
【0074】
これらの八つの連続したA−A期間の最小のものは測定期間と呼ばれる。ブロック504及び506において、ASD試験は、測定期間が800ミリ秒より短い(心臓レートが75bpmより上であるように測定される)ならば、ペースメーカーと固有の心房レートとの間の時間的衝突の機会を低減することによってペーシングしきい値の正確な測定を助けるために終了される。ブロック508において、ASD試験のための試験レートA−A補充期間は、測定期間マイナス200ミリ秒に等しく設定され、そして初期PAVは250ミリ秒に設定される。DDD及びDDDRモードにおいては、非競争的心房ペーシング(NCAP)が可能化され、そして心室後方心房不応期間(PVARP)がASD試験中400ミリ秒に強制される。DDI及びDDIRモードにおいては、PVARPはASD試験中400ミリ秒に強制される。
【0075】
試験レートA−A補充期間が設定された後、八つの鼓動が250ミリ秒の初期PAV期間を用いて供給されてブロック508における固有A−V伝導時間の測定を可能にする。これらの八つの鼓動の期間中、すべてのA−V期間はブロック510で決定されたようにV事象で終わらなければならない。これが起こらなければ、PAV、NCAP及びPVARPはプログラムされた設定値に復帰される。すべてのPAV期間がV事象で終わるならば、最大の測定A−V期間が使用されて、ブロック514において最大PAV期間を最大測定PAVプラス30秒に等しく設定する。
【0076】
各ASD試験は、現在のプログラムされた又は動作パルス出力振幅及びブロック516で設定されたような1.0ミリ秒パルス幅に設定されたAペース試験刺激から始まる。Aペース試験刺激は鼓動間サイクルごとに1回供給されるが、ここで鼓動間サイクルは調整可能な値(範囲0〜7)である。鼓動間サイクルはAペース試験刺激を含む試験サイクル間で最初のプログラムされた又は動作パルス振幅及び幅値において供給されるべきAペース及びPペース刺激のペーシングサイクルの数を表している。図6及び図7の図解は、図解の簡単さのために零に設定された鼓動間サイクルを有していることに注意するべきである。
【0077】
ASD試験中に最初に変化させられる試験値パラメータは、試験値がALOCの宣言という結果に終わるまで、Aペース試験刺激が供給されるにつれて減小するパルス振幅である。次の組の三つのAペース試験刺激は、前にA−CAPTUREの宣言という結果に終わった直前の組のAペース試験値からの振幅値を使用している。これらの三つの試験刺激は保証鼓動と呼ばれ、プログラムされた鼓動(ビート)間サイクルによって分離することができる。ブロック516において、保証鼓動計数器が最初に零にセットされる。保証鼓動は下に記述される段階(ステップ)546〜552において使用されて計数される。
【0078】
センスの数はSD試験法の期間中不適当に発生した検出事象の計数に関連している。A事象又はV事象(心房不応センスの後のPAC、PVC、不応心室センス又は心室センス)がAペース試験刺激前のV−A期間中に発生するならば、又はV事象がPAV期間の最初の110ミリ秒の期間中に発生するならば、Aペース試験刺激は現在の試験サイクルのために中止されそして同じ試験値で次の試験サイクルにおいて続けられる。この制約はPVARP期間中のA事象センスを含んでいる。ASD試験の過程中において、25を超えるサイクルが上で記述されたようにセンスを含んでいるならば、ASD試験は中止される。ブロック516において、センス計数器の数は又センスの数を零にセットすることによって初期化される。予想されることであるが、許容されるべき異常型のA事象及びV事象センスの最大数は過剰センシング又は比較的一定の不整頻搏の存在下で増大した固定レートでのべーシングを避けながら時たまのPAC又はPVCを考慮に入れるために25の程度であろう。
【0079】
すべての計数値及び開始試験値がブロック516において確立された後、ASDアルゴリズムは、ブロック518においてプログラムにされた鼓動間サイクルの完了を待ち続ける。Aペース試験サイクルが発生すると、Aペース試験刺激が発生され、A−A試験サイクル期間を開始し、そして図8のブロック518〜560の諸段階が開始される。判断ブロック520において、センス計数の数が検査され、試験値及び活動度計数器の現在の状態も同様に検査される。患者の活動度レベルの進行中の計算は、図3の線324における信号に応答してレート決定アルゴリズムにおいて並列に行われる。センサ取得の補充期間/ペーシングレートが(下方レートと上方レートとの間のプログラムされた又は計算された値として定義された)休息レートにより大きければ、患者は活動していると考えられ、ASD試験は終了されて、VSD試験アルゴリズムがブロック522において開始される。同様に、センサの数が25に等しいか又は最大パルス幅若しくは振幅が各エネルギー変数のそれぞれのしきい値試験において達成されたならば、VSD試験アルゴリズムがブロック522において開始される。下に示されるように、これらの条件が存続するならば、VSD試験アルゴリズムも又終了される。
【0080】
ASD試験が継続していると仮定して、PVC、V事象がV−A期間において検査されるならば、更なる実効性のないV事象が発生するかもしれない。ブロック524において決定されるように、これが事実であるならば、それぞれのそのような事例も又センスブロック526の増分数において計数される。A−A試験補充期間がその代わりに時間切れになるならば、Aペース試験刺激が発生されてアルゴリズムはブロック530に移動し、PAV期間中の応答を検査する。
【0081】
ブロック530において、PAV期間中の心室脱分極に起因するV事象の発生が捜される。V事象がPAV期間中に発生しなければ、ALOCがブロック532において仮定されて宣言される。ブロック532において、試験値が増分されて保証鼓動が増分値で供給され、そして鼓動間サイクルが零に設定されれば、プログラムされたパルス幅及び振幅における支援Aペースパルスが次のペーシングサイクルにおいて供給されるように強制される。鼓動間サイクルが零以外にプログラムされているときには、次のAペースパルスはいずれの場合でもプログラムされた又は前に決定されたパルスエネルギーにおいてであろう。
【0082】
検出されたV事象があるならば、ブロック534において、それがPAV期間の開始から110ミリ秒の窓内に入ったか否かが決定される。入ったならば、センス計数の数がブロック536において再び増分される。入らなかったならば、A−CAPTUREが発生したことが仮定され、そしてブロック546において、捕捉が、以前のALOCに起因して前に発生した保証鼓動の一のものの結果であったかどうかが決定される。保証鼓動計数がブロック546において検査されて、それが零より大きくなければ、試験値が減分され、そして鼓動間サイクルに対する待機がブロック518において開始される。
【0083】
保証鼓動の計数が(ブロック532においてALOCについて設定されたように)零より大きいが、ブロック550において決定されたように3より小さければ、保証鼓動は供給されている。各供給により、保証鼓動の数はブロック552において増分される。再び、鼓動間サイクルに対する待機が各保証鼓動の供給間でブロック518において開始される。
【0084】
ALOCが保証鼓動のいずれかのものの供給中に再び遭遇されるならば、試験値は再び増分され、そして新しい試験値での三つの保証鼓動の供給が繰り返される。
【0085】
三つの保証鼓動が同じ試験値で供給され且つA−CAPTUREがブロック550で決定されたようにそれらのすべてに対して宣言された後に、現在の試験値として変えられている試験値出カバラメータがブロック554において検査される。それがなおパルス振幅であるならば、ブロック558において若干数の条件が設定されて、ALOCにおけるパルス振幅試験値を記録し、試験値をパルス幅に且つ固定値をパルス振幅に切り換え、そして幅がALOCに合わせて減小されるにつれて試験を繰り返す。描写されたように、基電流値はパルス振幅の最終試験値に設定され、そしてIPGのRAMに記憶される。保証鼓動のパルス振幅ALOC及びA−CAPTURE値に対する試験値はIPGのRAMに記憶することができ、そしてどちらか一つを基電流として特徴づけることができる。パルス幅ALOC決定のためのパルス振幅初期設定値はそこで基電流値の2倍に設定される。次にアルゴリズムは後戻りし、そして鼓動間サイクルを経過させるための待機がブロック518において開始される。
【0086】
このように、ASDパルス振幅試験が完了されて基電流が見いだされた後に、ASDパルス幅試験が開始される。段階518〜554はパルス幅が各組の試験値に対して1段階だけ減小されるにつれて繰り返される。心房パルス幅試験値がALOCを生じる結果になると、次の組の三つの心房試験刺激保証鼓動はA−CAPTUREを生じることになった最後の組の試験値からのパルス幅値を使用する。
【0087】
保証鼓動のすべてがA−CAPTUREを生じることになるならば、ALOC又は最後のA−CAPTUREにおけるパルス幅試験値がブロック556において時値として記録されてIPGのRAMに記憶される。保証鼓動の及びALOCにおける心房パルス幅試験値はIPGのRAMに記憶されることができる。ASDしきい値試験は完了され、そして心房パルス振幅及び幅はVSD試験の持続時間の間それらのプログラム値に戻される。
【0088】
ブロック520に関して上に注記されたように、振幅が振幅試験中に最大電圧(例えば、6V)に達するか、若しくはパルス幅がパルス幅試験中に最大幅(例えば、1.5ミリ秒)に達したならば、又はセンサレートが休息レートを超え且つASD試験が進行中であるならば、心房刺激しきい値試験はブロック522において中止され、そして零の基電流及び時値が記録されて探索失敗を表示する。
【0089】
心室強度−持続時間(VSD)試験
VSD試験アルゴリズムは心房SD試験に類似しており、ブロック566で始まる。VSD試験中に変化させられるパラメータ、パルス幅又は振幅は、同様に試験値と呼ばれ、そして固定パラメータは固定値である。VSD試験の最初の部分については、振幅は試験値がVLOCの宣言という結果に終わるまで減小する。次の組の三つの保証刺激心室試験刺激はV−CAPTUREの宣言という結果に終わった先行の組の試験値からの振幅値を使用する。
【0090】
保証鼓動のすべてがV−CAPTUREに帰するならば、振幅値が基電流として記録され、出力振幅が2倍にされ、そしてパルス幅が1段階だけ減小される。保証鼓動のどれかがVLOCに帰するならば、アルゴリズムは捕捉が失われたと仮定し、次のより大きい振幅段階を試みて、新しい振幅値で保証鼓動を繰り返す。
【0091】
これらの事例はASD試験のそれと同じであり、従ってブロック518〜560に関してのその項での記述は図9のブロック572〜598に大抵適用可能である。VLOC及びV−CAPTURE宣言の原理は、短いPAV期間の終了時におけるVペース試験刺激の供給に続くVRPにおけるV事象の欠如又は存在がそれぞれV−CAPTURE又はVLOCであると宣言されるので異なっている。Vペース試験刺激に続くVRP中のV事象はブロック580において検査される。
【0092】
VSD試験はブロック566においてASD試験に続いて開始され、そしてPAV(及びDDD[R]におけるSAV)は、ブロック568においてVSD試験中30ミリ秒に設定される。各VSD試験は試験値として指定されたパルス振幅で始まり、そして最初のVペース試験刺激はブロック570において現在の出力振幅及び1.0ミリ秒パルス幅に設定される。センスの数及び保証鼓動の数の計数は又ブロック570において零に設定される。試験刺激は鼓動間サイクルごとに1回供給されるが、ここで鼓動間サイクルはやはり調整可能な値(範囲0〜7)である。ASD試験におけるように、鼓動間サイクルは、試験刺激を含んでいるサイクル間で供給されるべきペーシングサイクルの数を表している。
【0093】
ブロック572が満たされた後、センスの数の計数がブロック574において検査され、そして計数が25であるならば、VSD試験はブロック578において終了される。振幅が振幅探索中に6Vに達するか又はパルス幅がパルス幅探索中に1.5ミリ秒に達し且つ心室SD試験が進行中であるならば、VSD試験は中止されて、零の基電流及び時値の値が記録されて探索失敗を表示する。
【0094】
ブロック576において、判断ブロックはPVC若しくはPACセンスの発生又はA−A試験補充期間の終了について決定を行う。PVC又はPACセンスが発生したならば、Vペース試験刺激を含んでいるサイクルは無視されて、心室しきい値試験はブロック572において次のサイクルに続く。
【0095】
A−A補充期間がAペースの供給で終わったならば、アルゴリズムはブロック580において30ミリ秒PAV遅延期間の後のVペース試験刺激、及びVペース試験刺激の供給において開始したVRPの期間中のV事象の発生を待つ。V事象がVRPにおいて検出されたならば、VLOCが宣言され、そして試験値は保証鼓動値のために増分され、支援ペーシングサイクルは必要ならば強制され、そして保証鼓動計数はブロック582において1に設定される。
【0096】
V事象がブロック580においてVRPに検出されなければ、V−CAPTUREが宣言され、そして保証鼓動の数がブロック584において検査される。この数が零であるならば、試験値はブロック586において検査され、そしてアルゴリズムはブロック572に戻って、より小さい振幅のVペース試験刺激で試験を行う。ペース試験サイクルはVLOCが宣言されるまでブロック572〜586を繰り返し、そして保証鼓動はブロック588及び590について3回供給される。
【0097】
保鉦鼓動を供給し、基電流値を記録し、パルス振幅固定値を決定し、且つブロック584〜592により試験値としてのパルス幅でVSD試験を開始する動作は、ブロック546〜554に関して上に記述されたのと同じである。上に記述されたように、VLOC及び保証鼓動パルス振幅試験値は又IPGのRAMに記憶することができ、そして一つは基電流値として記録され又は使用される。次にVSD試験は試験値としての心室パルス幅について繰り返される。
【0098】
パルス幅VLOC値が達成され且つ保証鼓動が供給されると、保証鼓動V−CAPTURE試験値は、ブロック596においてVSD時値の値として記録される。保証鼓動及びVLOCパルス幅試験値は又両方共IPGのRAMに記憶することができる。Vペースパルス幅及び振幅値はブロック596においてプログラム値に戻され、そしてVSD試験はブロック598において終了される。
【0099】
このように、刺激しきい値データがASD及びVSDアルゴリズムにおいて導出されると、ALOC及びVLOCパルス幅及び振幅試験値並びに保証鼓動として確認されたA−CAPTURE及びV−CAPTURE試験値は、外部プログラマ40の指令による遠隔測定送出に備えてRAM312又はRAM/ROMユニット314に記憶される。データは、どちらかの又は両方の組のCAPTURE及びLOCデータを用いて技術上周知の方法で、プログラマ表示装置112においてASD及びVSD曲線で描写され又はプリンタ114においてプリントアウトされる。
【0100】
IPG回路300内では、データは前のVペース及びAペースパルス幅及び振幅設定値を確立する又は確認するために使用することができる。図4におけるIPGの一般的動作プログラムは又記憶値の関数としてAペース及びVペースパルス幅及び振幅の再設定を呼び出すことができる。
【0101】
簡単化された単一室ALOC及びVLOC決定
この発明の更なる実施例においては、ペーシングサイクル内で時期尚早に試験刺激を注入し、自然の又は伝導の脱分極が先行する自然の又は伝導の脱分極の次にくると予想されるような時間窓において検出事象を監視し、そして検出事象の欠如を注入試験刺激によるCAPTURE(捕捉)として且つ検出事象の存在をLOCとして宣言するという、(VSDアルゴリズムにおいて上に具体化された)この発明の一般的概念は又、単一室ペースメーカー関連若しくは心房若しくは心室刺激しきい値を試験するための動作モードにおいて又は二重室ペースメーカー関連若しくは順次ALOC及びVLOCを試験してASD及びVSDしきい値データを導出するための動作モードにおいて適用することができる。図10のアルゴリズムは、正常なA−V伝導を享受していない、第2又は第3級ブロックを有している患者に植え込まれた二重室IPGにおいて代替的しきい値試験モードを与える。所与の患者において使用されるべき特定のアルゴリズムの選択はその関連におけるプログラム可能な選択であろう。
【0102】
明確には、規則的な固有の心房及び/又は心室洞レートを有するが、完全なA−V伝導又は第1級ブロックを必ずしも有しない患者においては、図10に示されたような代替的ASD及び/又はVSDアルゴリズムをパルス振幅及び幅刺激しきい値を試験するために周期的に呼び出すことができる。図10において、ASD試験は心房しきい値を試験する例について詳述されており、ブロック600で開始される。患者の固有の心房洞レートはブロック602において若干数の連続したサイクルについて監視される。ブロック604において、A−A期間長(又はこれの平均値)が最小期間と比較され、そして試験は、図8のブロック500〜506におけるように、固有のレートが大きすぎるならばブロック606において放棄される。瞬時又は平均レートが十分に小さければ、それはブロック608において規則性に関して検査される。測定A−A期間がある範囲の規則性を越して不規則であるならば、試験はやはりブロック606において放棄される。
【0103】
洞レートが遅く且つ十分に規則的に進行するならば、洞A−A補充期間において時期尚早に注入されるべき試験刺激のための試験補充期間は、ブロック610において、例えば平均測定期間の50%になるように設定される。試験刺激の心臓室への供給に続く適当な非リセット窓(NRW)期間又はセンス試験窓の期間中、その同じ室の脱分極を検出するためのセンス増幅器は心臓の次の自然脱分極を検出するために(約100ミリ秒より小さい適当なブランキング期間の後に)動作させられる。供給試験刺激から次に検出のA事象の発生までの期間は時間決めされ、そして時間切れはNRWと比較される。これは、NRWの期間中に検出されたA事象が、試験刺激が捕捉に対して不十分であってALOCが宣言されたことを意味する先行のA事象から平均測定補充期間の付近において発生した自然脱分極ではなさそうであることを保証する。A事象がNRWの後で検出されるならば、A−CAPTUREが仮定されて宣言される。ブロック512において、NRWは、例えば試験補充期間(平均測定A−A期間の50%)プラス100ミリ秒に設定される。
【0104】
ブロック614において、試験値はパルス振幅として検出され、パルス幅は1.0ミリ秒に設定され、そして保証鼓動は零に設定される。このSD試験においては、前に使用されたセンスの数は関連があると考えられていない。この時点で、図10のアルゴリズムはブロック616に移動して、プログラムされた鼓動間サイクルが零にカウントダウンするのを待つ(それは零に設定されることもできる)。次にブロック618〜643において、パルス振幅及びパルス幅LOC並びに保証鼓動CAPTURE試験値は図9のブロック572〜598に関して上に記述された方法に類似した方法で若干異なって決定される。
【0105】
第1の主要な差異は、試験刺激がLOCに帰することの確かであるパルス振幅又は幅において試験パルスエネルギーレベルで開始され、そしてそのパルス振幅又は幅がパルス幅又は振幅試験値についてCAPTUREの宣言をされるまで段階的に増大されることである。第2の差異は、保証鼓動が、必要ならば刺激しきい値を確認するためにCAPTUREしきい値において、支援サイクルの供給後に繰り返されるように設定されることである。CAPTUREは心臓レートの上昇を生じることになるので心臓室の高レートペーシングの不必要な繰返しを避けることが望ましい。
【0106】
ブロック618及び620において、ASDアルゴリズムは最大パルス幅又は振幅で放棄され、そしてアルゴリズムが二重室ペースメーカーにおける両方の室に関して可能化されたならば、VSD試験がブロック600において開始されることができる。この時点において、試験値及び試験補充期間における次のAパルス(すなわち、心房試験刺激)の供給は、IPGの一般的動作アルゴリズムにおいて次のA事象に続いて供給されるように可能化される。ブロック622において、試験刺激の供給後のAセンス時間がNRWと比較され、そしてそれがNRWより小さければ、ALOCがその試験値に対して宣言される。ブロック626において、保証鼓動が零と比較され、そしてそれがなお零である(A−CAPTUREが以前に宣言されなかったことを意味する)ならば、心房パルス振幅試験値が増分される。次のより大きいパルス振幅心房試験刺激がそこでブロック616〜620を満足した後に供給される。
【0107】
試験刺激エネルギーが心房を捕捉するのに十分であるならば、試験AペースAセンス期間はブロック622においてNRWを超えることになり、そして鼓動間サイクルが零においてプログラムされているならば、保証鼓動計数は増分されて支援サイクルがブロック624において強制される。次の二つのAペース試験刺激は、ブロック630が満足させられるまで同じパルス振幅試験値エネルギーで供給される。供給数が3であるときには、試験値はパルス振幅であるので、パルス幅に対するA−CAPTUREが宣言され、基電流がA−CAPTUREパルス幅試験値に設定され、そしてAペースパルス幅についてしきい値試験を始めるための諸条件がすべてブロック636において設定される。
【0108】
開始のAペース試験刺激パルス幅はブロック636において最小値に設定され、そして段階616〜634は、A−CAPTUREが再びしきい値パルス幅において宣言されるまでパルス幅の増大と共に繰り返される。時値試験値が記録され、そして正常なAペースパルス振幅及び幅がブロック638において再確認される。プログラムされているならば、VSD試験がブロック640において行われる。この例では、VSD試験は適当な試験値があらかじめ選択されているブロック600〜640のASD試験と同じである。図10のSDアルゴリズムはASD試験のために特に特性を記述されているけれども、アルゴリズムが心室パルス発生器及びセンス増幅器を用いて同じ方法でVSD試験だけのために使用され得ることは理解されるであろう。
【0109】
この発明のその他の応用例及び実施例
図8〜図10の上述のASD及びVSDアルゴリズムは患者が休息しているときの特定の時刻に呼び出されることは予期しているけれども、この発明の原理がLOCの試験のために他の時点で呼び出され得ることは理解されるであろう。ブロック516、570及び614において、鼓動間サイクルは、試験刺激の供給がプログラム可能な数まで順次的であっても又は正常なペーシングパルスにより分離されてもよいように設定される。やはり理解されることであろうが、この発明の刺激及び検出概念は、選択された減小したエネルギーで試験Aペース又はVペース刺激を供給することによって短縮した試験補充期間において心室又は心房捕捉を周期的に試験し、それぞれの宣言されたA−CAPTURE/V−CAPTURE又はALOC/VLOCの記録が後程の遠隔測定送出及び診断上の検討に備えて関連の時刻及び/又はその他の動作条件と共にIPGのRAMに記憶され得るようにするために使用することができる。例えば、そのような記録は活動度センサにより同時に決定されたような患者の活動度レベル又は現在のペーシングレートと相関させて編集することができる。
【0110】
図8〜図10に呈示されたアルゴリズム及び上の変形例は又、既述の方法でS−Dしきい値データを導出することなく、ペースパルスエネルギー、例えばパルス振幅若しくは幅又は両方の事前設定の組合せ、における単純な減小により簡単化されて実施することができる。加えて、この発明の原理に従うしきい値試験は、プログラムを使用した遠隔トリガ又は簡単化されたトリガ装置によって呼び出すことができる。
【0111】
通常の心房及び心室パルス発生器から試験刺激を供給し且つ上述の方法で通常のセンス増幅器及びペース/センス電極から応答を検出するこの発明のその他の応用例は、技術上技能のある者には明らかであろう。この発明はマイクロプロセッサ準拠式アーキテクチャに関連して記述されたけれども、所望ならば、ディジタル論理準拠式注文集積回路(IC)アーキテクチャのようなその他の技法においてこの発明が実施され得るであろうことは理解されるであろう。この発明が二重室ペースメーカー、カーディオバータ、ディフィブリレータなどにおいて実施され得ることも又理解されるであろう。
【0112】
この発明に対する変形例及び変更例は上の開示があれば可能である。しかしながら、そのような変形例及び変更例はこの明細書により請求されたこの発明の範囲内にあるものと解釈される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、人間の心臓の切断面に配置されて図解されている、関連した一組の心臓ペーシングリードと共にこの発明による二重室ペースメーカーを例示した図である。
【図2】 図2は、この発明の心房及び心室捕捉検出並びに自動しきい値設定機能を実施するために使用可能な、外部プログラマ/監視ユニットと関連した、図1に例示された二重室ペースメーカーの機能的ブロック図である。
【図3】 図3は、装置の機能的構成部分を更に詳細に図解した、図1及び図2に例示された二重室ペースメーカーのブロック図である。
【図4】 図4は、図1〜図3のペースメーカーの全体的動作の流れ図である。
【図5】 図5は、心臓刺激信号に関する典型的な強度−持続時間曲線である。
【図6】 図6は、心房刺激しきい値レベルを試験して捕捉と捕捉の喪失とを識別するためのアルゴリズムの機能を図解した簡単化された時間図である。
【図7】 図7は、心室刺激しきい値レベルを試験して捕捉と捕捉の喪失とを識別するためのアルゴリズムの機能を図解した簡単化された時間図である。
【図8a】 図8aは、図8bと共に、心房及び心室しきい値試験を自動的に行い且つこれから心房及び心室強度−持続時間刺激しきい値データを導出するためのこの発明の一実施例のアルゴリズムを描写している。
【図8b】 図8bは、図8aと共に、心房及び心室しきい値試験を自動的に行い且つこれから心房及び心室強度−持続時間刺激しきい値データを導出するためのこの発明の一実施例のアルゴリズムを描写している。
【図9a】 図9aは、図9bと共に、心房及び心室しきい値試験を自動的に行い且つこれから心房及び心室強度−持続時間刺激しきい値データを導出するためのこの発明の他の実施例のアルゴリズムを描写している。
【図9b】 図9bは、図9aと共に、心房及び心室しきい値試験を自動的に行い且つこれから心房及び心室強度−持続時間刺激しきい値データを導出するためのこの発明の他の実施例のアルゴリズムを描写している。
【図10a】 図10aは、図10bと共に、同じ心臓室において心房及び心室しきい値試験を自動的に行い且つこれから心房及び心室強度−持続時間刺激しきい値データを導出するためのこの発明の更なる他の実施例のアルゴリズムを描写している。
【図10b】 図10bは、図10aと共に、同じ心臓室において心房及び心室しきい値試験を自動的に行い且つこれから心房及び心室強度−持続時間刺激しきい値データを導出するためのこの発明の更なる他の実施例のアルゴリズムを描写している。
【符号の説明】
10 心臓
12 コネクタブロック組立体
14、16 リード
18 ハウジング(密閉包囲体)
20、22、28、30 電極
26 二重室IPG(植込み可能なパルス発生器)
40 外部プログラマ
100 遠隔測定用アンテナ
102 遠隔測定/アンテナ駆動器回路
104 ECGインタフェース
106 ECG電極
108 入出力(I/O)ユニット
110 図形インタフェース
112 ビデオモニタ
114 中央処理装置
116 キーボード
118 プリンタ
302 マイクロコンピュータ回路
320 ペーシング(心搏調整用)回路部
334 アンテナ
Claims (1)
- 心房及び心室ペーシングバルスを発生し且つ心房及び心室に印加して刺激脱分極を誘発し且つ心房及び心室を捕捉するようにするためのパルス発生器と、心房及び心室の自然脱分極を検出するためのセンス増幅器とを有するペースメーカーパルス発生器において、心臓における刺激しきい値エネルギーを試験するための装置であって、
心室の自然脱分極が、先行する心房の自然又は刺激脱分極に続いて起こるものと予想される期間を決定し、且つこの期間の終端を含む時間窓を画定するための手段、
前記パルス発生器を動作させて、前記決定された期間中で且つ前記先行する心房の自然又は刺激脱分極に続く前記予想された心室の自然脱分極に先立つ時点において、心房に試験エネルギーレベルの試験ペーシングパルスを印加するようにするための手段、
前記時間窓の間に前記センス増幅器を動作させて、心室の脱分極を検出するようにするための手段、
心室の脱分極が前記時間窓において検出されるならば前記試験ペーシングパルスによって心房の捕捉を宣言するための手段、及び
心室の脱分極が前記時間窓において検出されないならば前記試験ペーシングパルスによって心房の捕捉喪失を宣言するための手段、
を含んでいる、心臓における刺激しきい値エネルギーを試験するための装置。
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