JP4035573B2 - Semiconductor memory device and control method thereof - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体記憶装置において、所定ブロック領域ごとに区画される活性化領域の選択に関するものであり、特に、活性化領域へのアクセス動作のプロテクト機能を有する半導体記憶装置とその制御方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より半導体記憶装置においては、メモリセルアレイを複数のブロックに分け、ブロックごとにアクセス制御が行なわれることが一般的である。アクセス制御としては、データの読み出し、書き込み、消去の他にこれらのアクセス動作を禁止する、いわゆるプロテクト機能なるものがありブロックごとに設定される。
【0003】
特許文献1には、図6に示すような各ブロックへのプロテクト機能の設定を行うためのプロテクト制御回路が開示されている。ロック制御信号LS0乃至LSNにより各ブロックへのプロテクト状態が設定される。ロック制御信号LS0乃至LSNは、ブロックプロテクト制御部100から出力される。ブロックプロテクト制御部100は、ブロックへのアクセス状態の許否を記憶するロックレジスタ110と、ロックレジスタ110への書き込みを禁止するロックダウンレジスタ120とを備えている。
【0004】
ロックレジスタ110には、ブロック選択信号S#(S0乃至SN)と共に、ロックセット信号LSまたはロックリセット信号LRとが入力される。ブロック選択信号S#によりロックセット信号LSまたはロックリセット信号LRが入力可能状態となり、ロックセット信号LSまたはロックリセット信号LRに応じてプロテクト機能の設定状態または解除状態が記憶され、ロック情報DQ00乃至DQ0Nが出力される。ロックダウンレジスタ120には、ブロック選択信号S#(S0乃至SN)と共にロックダウンセット信号LDSが入力される。ブロック選択信号S#によりロックダウンセット信号LDSが入力可能状態となり、ロックダウンセット信号LDSに応じてロックレジスタ110の書き換えが禁止され、ロックダウン情報DQ10乃至DQ1Nが出力される。ロック情報DQ00乃至DQ0Nとロックダウン情報DQ10乃至DQ1Nとは、論理合成部130に入力されてロック制御信号LS0乃至LSNが出力される。
【0005】
ロックダウンセット信号LDSは、ロックダウンレジスタ書換回路300からコマンドに応じて出力される。またブロック選択信号S#は、ブロック選択回路400からコマンドに応じて出力される。更にロックセット信号LSおよびロックリセット信号LRは、ロックレジスタ書換回路200からコマンドに応じて出力される。ここで、ロックレジスタ書換回路200には、ブロック選択信号S#(S0乃至SN)と各ブロックプロテクト制御部100からのロックダウン情報DQ10乃至DQ1Nとが入力される。ロックダウン状態が設定されているブロックについては、ロックセット信号LSおよびロックリセット信号LRの出力を禁止してロックレジスタ110の書き換えを禁止するためである。
【0006】
【特許文献1】
米国特許第6154819号明細書(第5図)
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の従来技術では、ロックレジスタ110の書き換え許否を判断するに際し、選択されるブロック選択信号S#(S0乃至SN)ごとに、ロックダウンの状態を確認するためのロックダウン情報DQ10乃至DQ1Nが必要となる。ロックレジスタ110の書き換え許否の判断は、ロックレジスタ書換回路200において行われるので、ブロック選択回路400からのブロック選択信号S#(S0乃至SN)を伝播する(N+1)本の信号配線と、各ブロックプロテクト制御部100からのロックダウン情報DQ10乃至DQ1Nを伝播する(N+1)本の信号配線とを配線する必要がある。
【0008】
合計で(2N+2)本の信号配線を配線するために多大な配線領域を確保しなければならず、コンパクトなダイサイズを実現することが困難となるおそれがあり問題である。大容量化に伴いブロック数が増大する場合には、必要信号配線数は更に増加することとなり、ダイサイズにおける信号配線領域の割合は更に増加してしまい問題である。
【0009】
本発明は前記従来技術の課題を解消するためになされたものであり、メモリセルアレイを複数のブロックに分割して活性化制御する際、ブロックごとに設定されるプロテクト機能に伴うロックレジスタへのアクセス動作の許否の制御を、コンパクトな回路構成で実現することができる半導体記憶装置およびその制御方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、請求項1に係る半導体記憶装置は、複数のブロックを備え、ブロックごとにアクセス動作の許否が制御される半導体記憶装置であって、ブロックに対するアクセス動作の許否状態の設定を示すロック情報を、書き換え可能に格納するロックレジスタと、ブロック選択信号に応じて活性化され、ロックレジスタに格納されているロック情報が書き換え許可状態にあるか否かを示す書換許否情報を、書き換え可能に格納するロックダウンレジスタと、書換許否情報が書き換え許可状態にあることを示す場合に、ブロック選択信号に応じた選択信号を出力して、ロックレジスタへのロック情報の更新を許可し、書換許否情報が書き換え不許可状態にあることを示す場合に、選択信号を出力せず、ロックレジスタの更新を不許可にする第1論理合成部とを、ブロックごとに備えることを特徴とする。
【0011】
請求項1の半導体記憶装置では、ブロック選択信号に応じて活性化されるロックダウンレジスタに書換許否情報が格納される。第1論理合成部は、書換許否情報が書き換え許可状態にあることを示す場合には、ブロック選択信号に応じて選択信号を出力しロックレジスタへのロック情報の更新を許可する。ロックレジスタには、ブロックに対するアクセス動作の許否状態の設定を示すロック情報が更新されて格納される。書換許否情報が書き換え不許可状態にあることを示す場合には、選択信号を出力せずロックレジスタの更新を不許可にする。これらはブロックごとに備えられる。
【0012】
また、請求項8に係る半導体記憶装置の制御方法は、複数のブロックに分割され、ブロックごとにアクセス動作の許否が制御される半導体記憶装置の制御方法であって、各々の ブロックにおいて、ブロックの選択指示に応じて、ブロックに対するアクセス動作の許否状態の設定を示すロック情報が書き換え許可状態にあるか否かを示す書換許否情報を、書き換え可能に格納する書換許否情報格納ステップと、書換許否情報が書き換え許可状態にある場合、ブロックの選択指示に応じて、ロック情報の更新を許可し、書換許否情報が書き換え不許可状態にある場合、ブロックの選択指示をマスクしてロック情報の更新を不許可とするロック情報書換判断ステップと、ロック情報書換判断ステップにおいてロック情報の書き換えが許可される場合、ロック情報の更新に応じて、格納されている情報を書き換えるロック情報格納ステップとを、有することを特徴とする。
【0013】
請求項8の半導体記憶装置の制御方法では、書換許否情報格納ステップにより、ブロックの選択指示に応じて、ブロックに対するアクセス動作の許否状態の設定を示すロック情報が書き換え許可状態にあるか否かを示す書換許否情報を、書き換え可能に格納する。ロック情報書換判断ステップでは、書換許否情報による書き換えの許可・不許可状態に応じて、ブロックの選択指示に応じてロック情報の更新を許可し、またはブロックの選択指示をマスクしてロック情報の更新を不許可とする。更に、ロック情報格納ステップでは、ロック情報の書き換えが許可される場合に、ロック情報の更新に応じて、格納されている情報を書き換える。これらの各制御ステップはブロックごとに行なわれる。
【0014】
これにより、ロック情報の書き換え許否の判断は、ブロックごとに格納される書換許否情報に基づき、第1論理合成部が活性化されることにより、またはロック情報書換判断ステップにより、ブロックごとに行われる。従って、ロック情報の書き換え制御のために書換許否情報を外部に出力する必要がない。複数のブロックを備える半導体記憶装置において、ブロックごとの書換許否情報の信号経路を配線する配線領域が不要となり、ロック情報の書き換え制御を実現するためのチップ面積の増大を必要最小限に抑制することができる。
【0015】
また、請求項2に係る半導体記憶装置は、請求項1に記載の半導体記憶装置において、ロック情報に基づき、ブロックに対するアクセス動作の許否を制御するロック制御信号が出力されることを特徴とする。また、請求項9に係る半導体記憶装置の制御方法は、請求項8に記載の半導体記憶装置の制御方法において、ロック情報により、ブロックに対するアクセス動作の許否が制御されることを特徴とする。これにより、ロック情報により設定されるブロックへのアクセス動作の許否情報に応じてブロックのロック状態が制御され、格納されているロック情報とブロックのロック状態が一致する。
【0016】
また、請求項3に係る半導体記憶装置は、請求項1に記載の半導体記憶装置において、強制書換許可信号に応じて、第1論理合成部に書換許否情報に基づく情報を供給する第2論理合成部を備え、書換許否情報に基づく情報として、強制書換許可信号が活性である場合には、ロックダウンレジスタに格納されている書換許否情報に関わらず書き換え可能状態を示す書換許可情報が供給され、強制書換許可信号が非活性である場合には、書換許否情報に応じた情報が供給されることを特徴とする。
【0017】
また、請求項10に係る半導体記憶装置の制御方法は、請求項8に記載の半導体記憶装置の制御方法において、ロック情報書換判断ステップでは、ロック情報の強制書換指令が発行されている場合には、書換許否情報に関わらずロック情報の書き換え可能状態を指示し、ロック情報の強制書換指令が発行されていない場合には、書換許否情報に応じてロック情報の書き換え許可状態の指示が決定されることを特徴とする。
【0018】
これにより、強制書換許可信号が活性である場合、またはロック情報の強制書換指令が発行されている場合には、ブロックごとに格納される書換許否情報に関わらず、第1論理合成部が活性化されることにより、またはロック情報書換判断ステップにより、ブロックごとに分散制御されてロック情報が書き換え可能とされる。従って、書換許否情報に関わらず強制的にロック情報を書き換える場合にも、ロック情報の書き換え制御のために書換許否情報を外部に出力する必要はない。
【0019】
また、請求項4に係る半導体記憶装置は、請求項3に記載の半導体記憶装置において、ロック情報と、第2論理合成部から供給される書換許否情報に基づく情報とが入力され、ブロックに対するアクセス動作の許否を制御するロック制御信号が出力される出力論理合成部を備えることを特徴とする。これにより、ロック情報と書換許否情報に基づく情報との論理合成に応じてロック制御信号を出力することができる。
【0020】
また、請求項5に係る半導体記憶装置は、請求項3に記載の半導体記憶装置において、強制書換許可信号は、外部より入力される信号であることが好ましい。
【0021】
また、請求項6に係る半導体記憶装置は、請求項1に記載の半導体記憶装置において、ロックレジスタおよびロックダウンレジスタには、レジスタ内容を初期化する初期化端子が備えられている。
【0022】
また、請求項7に係る半導体記憶装置は、請求項1に記載の半導体記憶装置において、第1論理合成部は、書換許否情報に基づく情報およびブロック選択信号により各々導通制御され、選択信号の出力端子と所定電源端子との間に直列接続された、第1および第2トランジスタを備えることを特徴とする。これにより、簡易な構成で第1論理合成部を構成することができる。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の半導体記憶装置、およびその制御方法について具体化した実施形態を図1乃至図5に基づき図面を参照しつつ詳細に説明する。
【0024】
図1には第1実施形態のブロックプロテクト制御部10を示す。ブロックに対するアクセス動作の許否状態の設定を示すロック情報DQ0#が格納されるロックレジスタ11は、論理合成部1(14)から出力される選択信号S1#と、ロック情報DQ0#のセット/リセットを制御するロックセット/リセット信号LS/LRとが入力される。選択信号S1#によりロックレジスタ11が活性化された状態で、ロックセット/リセット信号LS/LRによりロック情報DQ0#のセット/リセットが行われる。
【0025】
ロックレジスタ11に格納されているロック情報DQ0#が書き換え許可状態か否かを示すロックダウン情報DQ1#が格納されるロックダウンレジスタ12は、ブロック選択信号S#とロックダウンセット信号LDSとが入力される。ブロック選択信号S#によりロックダウンレジスタ12が活性化された状態で、ロックダウンセット信号LDSによりロックダウン情報DQ1#の格納が行われる。尚、ロックダウンレジスタ12にはリセット信号は入力されておらず、一旦セットされたロックダウン情報DQ1#は、図示しない制御回路により電源の再投入時または半導体記憶装置への強制リセット信号の投入時にのみリセットされる構成である。
【0026】
論理合成部2(15)は、ロックダウン情報DQ1#の入力に対して、強制書換許可信号WP#により制御されてロックダウン制御情報DQ2#が出力される。ロックダウン制御情報DQ2#は、論理合成部1(14)および出力論理合成部130に入力される。ロックダウン制御情報DQ2#は、強制書換許可信号WP#が非活性状態であり強制的なロック情報DQ0#の書き換え可能状態を指示しない場合には、ロックダウン情報DQ1#に応じて出力される。すなわち、ロックダウン情報DQ1#がロック情報DQ0#の書き換え許可状態を指示する場合には、ロックダウン制御情報DQ2#は書き換え許可状態を指示し、ロック情報DQ0#の書き換え不許可状態を指示する場合には、ロックダウン制御情報DQ2#は書き換え不許可状態を指示する。これに対して、強制書換許可信号WP#が活性状態であり強制的なロック情報DQ0#の書き換え可能状態を指示する場合には、ロックダウン情報DQ1#の書換許否状態に関わらずロックダウン制御情報DQ2#は書き換え許可状態を指示する。
【0027】
論理合成部1(14)は、ロックダウン制御情報DQ2#により制御され、入力されるブロック制御信号S#に応じて選択信号S1#を出力する。すなわち、ロックダウン制御情報DQ2#がロック情報DQ0#の書き換え許可状態を指示する場合には、ブロック選択信号S#に応じた選択信号S1#をロックレジスタ11に入力する。ブロックが選択されることを示すブロック選択信号S#に対して選択信号S1#によりロックレジスタ11が活性化されロック情報DQ0#が書き換え可能状態となる。ロックダウン制御情報DQ2#がロック情報DQ0#の書き換え不許可状態を指示する場合には、ブロック選択信号S#に関わらず選択信号S1#は活性化されず、ロックレジスタ11が非活性化されロック情報DQ0#が書き換えられることはない。
【0028】
出力論理合成部130は、ロック情報DQ0#とロックダウン制御情報DQ2#との論理和演算を行い、演算結果をロック制御信号LS#として出力する。従って、ブロックへのアクセス動作は、ロック情報DQ0#がアクセス動作の不許可状態に設定されている場合、またはロックダウン制御情報DQ2#がロック情報DQ0#の書き換え不許可状態を指示している場合に禁止される。ロック情報DQ0#によるアクセス動作の不許可状態に加えてロック情報DQ2#の書き換え不許可状態においてアクセス動作が禁止される構成である。
【0029】
図2に第1実施形態のブロックプロテクト制御部10の具体例を示す。ロックレジスタ11Aは、ラッチ回路L1でロック情報DQ0#が保持される。ラッチ回路L1の各々の端子は、ロック情報DQ0#のロックセット/リセット信号LS/LRで制御されるNMOSトランジスタM1、M2が接続され、論理合成部1(14A)を介して接地電圧に接続される。
【0030】
論理合成部1(14A)は、ロックレジスタ11Aに接続されているNMOSトランジスタM7と、接地電圧に接続されているNMOSトランジスタM8とが直列に接続された構成である。NMOSトランジスタM7はブロック選択信号S#で制御されると共に、NMOSトランジスタM8は後述する論理合成部2(15A)から出力されるロックダウン制御情報DQ2#、/DQ2#のうち、ローアクティブ信号/DQ2#で制御される。ローアクティブのロックダウン制御情報/DQ2#は、ロック情報DQ0#の書き換えの不許可状態を指示する場合にローレベル信号となり、許可状態を指示する場合にハイレベル信号となる。従って、書き換え許可状態においてNMOSトランジスタM8が導通状態となり、ブロック選択信号S#によるブロック選択に応じてNMOSトランジスタM7が導通することに応じてラッチ回路L1が活性化されて後述するロック情報DQ0#の書き換えが行われる。書き換え不許可状態においては、NMOSトランジスタM8は非導通状態を維持する。ブロック選択信号S#に関わらずラッチ回路L1は非活性状態を維持しロック情報DQ0#の書き換えは禁止される。
【0031】
ラッチ回路L1が活性化された状態において、ロックセット信号LSによりNMOSトランジスタM1が導通するとラッチ回路L1はセットされ、ロック情報DQ0#としてハイレベル信号が格納される。ロックリセット信号LRによりNMOSトランジスタM2が導通するとラッチ回路L1はリセットされロック情報DQ0#としてローレベル信号が格納される。これにより、ロック情報DQ0#の書き換えが行われる。
【0032】
更に、NMOSトランジスタM1と並列にNMOSトランジスタM3が接続されており、リセット信号RSTにより制御される。ハイレベルのリセット信号RSTに応じてNMOSトランジスタM3が導通するとラッチ回路L1はセットされ、ロック情報DQ0#としてハイレベル信号が格納される。ここでリセット信号RSTとは、電源投入時または強制リセット時に活性化され、内部回路を初期化状態にする信号である。初期化状態においてはロック情報DQ0#をセット状態にし(DQ0#=“H”)、ブロックへのアクセス動作を不許可状態にセットすることにより不測の誤アクセスを防止することができる。
【0033】
ロックダウンレジスタ12Aはロックレジスタ11Aと同様な回路構成を備えている。ラッチ回路L2でロックダウン情報DQ1#が保持される。ラッチ回路L2の各々の端子には、直列接続されたNMOSトランジスタM4、M5と、NMOSトランジスタM6とが接続されている。NMOSトランジスタM4、M5は、各々、ロックダウンセット信号LDS、ブロック選択信号S#で制御される。ブロック選択信号S#がハイレベル信号となりブロック選択がされた状態で、ハイレベルのロックダウンセット信号LDSが入力されることによりハイレベルのロックダウン情報DQ1#が格納される。尚、ラッチ回路L2に格納されたロックダウン情報DQ1#のリセットは、NMOSトランジスタM6を制御するリセット信号RSTのハイレベル信号に応じて行われる。前述したように、リセット信号RSTは、電源投入時または強制リセット時に活性化される信号である。従って、通常使用状態において、一旦セットされたロックダウン情報DQ1#が誤ってリセットされることはない。
【0034】
論理合成部2(15A)は、ナンドゲートA1による論理演算により強制書換許可信号WP#に応じたロックダウン制御情報DQ2#の出力制御が行われる。ナンドゲートA1の入力端子には、ロックダウン情報DQ1#と、インバータゲートI2を介した強制書換許可信号WP#の反転信号とが入力されている。ナンドゲートA1からは、ハイレベルのロックダウン情報DQ1#とローレベルの強制書換許可信号WP#との場合、すなわちロックダウン情報DQ1#により書き換え不許可状態が指示されている状態で、かつ強制書換許可信号WP#が非活性で強制的なロック情報DQ0#の書き換え指示のない場合についてのみ、ロックダウン制御情報DQ2#が活性状態となる(DQ2#=“H”、/DQ2#=“L”)。ロック情報DQ0#の書き換えが禁止されると共に、ノアゲートO1とインバータゲートI1により論理和演算を行う出力論理合成部13Aにより、ロック制御信号LS#が活性化されてブロックへのアクセス動作が禁止される。これに対して、ロックダウン情報DQ1#により書き換えの不許可状態がセットされていない場合(DQ1#=“L”)、または強制書換許可信号WP#が活性で強制的な書き換えが許可されている場合(WP#=“H”)、の少なくとも何れか一方の状態が維持されている場合には、ロックダウン制御情報DQ2#は非活性状態となる(DQ2#=“L”、/DQ2#=“H”)。
【0035】
図3には、第1実施形態のブロックプロテクト制御部10(図1)、具体的には図2に示す具体例に対する動作波形を示す。図3においては、コマンドに応じてロック情報DQ0#やロックダウン情報DQ1#が格納される場合を示している。
【0036】
先ず、ロックセットコマンドに応じて、ブロック選択信号S#がハイレベルとなりブロックが選択されると共にハイレベルパルスのロックセット信号LSが入力される。この時点では、ロックダウンセット信号LDSは入力されないため、ロックダウンレジスタ12、12Aには書き換え不許可状態は格納されず、ロックダウン情報DQ1#はローレベルに維持される。従って、論理合成部2(15、15A)からは書き換え許可状態を示すローレベルのロックダウン制御情報DQ2#が出力される。その反転信号/DQ2#はハイレベルとなり、論理合成部1(14、14A)が活性化され、ロックレジスタ11、11Aが活性化される。活性化されたロックレジスタ11、11Aは、ハイレベルパルスのロックセット信号LSによりハイレベルのロック情報DQ0#が格納されブロックへのアクセス動作の禁止状態が設定される。ハイレベルのロック情報DQ0#は出力論理合成部13、13Aを介してハイレベルのロック制御信号LS#として出力され、ブロックへのアクセスは禁止される。プロテクト状態に移行する。
【0037】
次に、ロックダウンセットコマンドに応じて、ロックダウンレジスタ12、12Aにロックダウンセット信号LDSが入力され、ハイレベルのロックダウン情報DQ1#が格納される。この時点では、強制書換許可信号WP#はローレベルが維持されており強制的な書き換えは許可されていない。従って、論理合成部2(15、15A)からのロックダウン制御情報DQ2#はハイレベルに遷移すると共に、反転信号/DQ2#がローレベルに遷移する。論理合成部1(14、14A)が非活性化されることに応じてロックレジスタ11、11Aへのロック情報DQ0#の書き換えは禁止される。ロック情報DQ0#に加えロックダウン制御情報DQ2#もハイレベルとなり、出力論理合成部13、13Aを介して出力されるロック制御信号LS#はハイレベルに維持され、ブロックへのアクセス動作は禁止状態に維持される。
【0038】
ロックダウン情報DQ1#がセットされた後にロックリセットコマンドが入力され、ハイレベルパルスのロックリセット信号LRが入力されるとする。この場合には、ロックダウンレジスタ12、12Aにハイレベルのロックダウン情報DQ1#が保持されており、論理合成部2(15、15A)からはハイレベルのロックダウン制御情報DQ2#が出力されている(反転信号/DQ2#はローレベル)。このため、論理合成部1(14、14A)は非活性状態に維持され、ロックレジスタ11、11Aの書き換えは禁止状態である。従って、ハイレベルパルスのロックリセット信号LRが入力されてもロックレジスタ11、11Aの内容は書き換えられずハイレベルのロック情報DQ0#が保持され続ける。ロックリセットコマンドは無効となる。
【0039】
ロックダウンレジスタ12、12Aへの書き換え不許可状態の格納の後、強制書換許可信号WP#がハイレベルとなり強制的な書き換え許可指令が入力されると、論理合成部2(15、15A)の出力は、書き換え不許可状態を示すハイレベルのロックダウン情報DQ1#に関わらずロックダウン制御情報DQ2#が書き換え許可状態を示すローレベルに遷移する(反転信号/DQ2#はハイレベルに遷移する)。これにより、論理合成部1(14、14A)が活性状態に遷移してロックレジスタ11、11Aは活性化される。この状態でロックリセットコマンドが再度入力されると、ハイレベルパルスのロックリセット信号LRによりロックレジスタ11、11Aに格納されているロック情報DQ0#はローレベルに遷移し、ブロックへのアクセス動作の許可状態が設定される。ローレベルのロック情報DQ0#は出力論理合成部13、13Aを介してローレベルのロック制御信号LS#として出力され、ブロックへのアクセスは許可される。アンプロテクト状態に移行する。
【0040】
図1乃至図3において説明したブロックプロテクト制御部10を各ブロックに展開したプロテクト制御回路を図4に示す。図4の制御回路では、各ブロックプロテクト制御部10内において、論理合成部1(14)から出力される選択信号S#(S10乃至S1N)に応じてロックレジスタ11の活性化状態を制御することによりロック情報DQ0#(DQ00乃至DQ0N)の書き換え制御を行う。従って、従来技術のプロテクト制御回路(図6)において、ロックレジスタ書換回路200から出力されるロックセット/リセット信号LS/LRの出力制御によりロックレジスタ110へのロック情報DQ0#(DQ00乃至DQ0N)の格納が行なわれる場合に比して、以下の点が異なる。
【0041】
すなわち、従来技術のプロテクト制御回路(図6)では、各ブロックプロテクト制御部100に格納されているロックダウン情報DQ1#(DQ10乃至DQ1N)をロックレジスタ書換回路200に入力するための(N+1)本の信号配線が必要であるところ、第1実施形態のプロテクト制御回路(図4)では、ロックレジスタ書換回路16へのロックダウン情報DQ1#(DQ10乃至DQ1N)の(N+1)本の信号配線が不要となる。更に、ロックレジスタ書換回路200では、選択されるブロックに応じてロックセット/リセット信号LS/LRの出力制御を行う必要からブロック選択信号S#(S0乃至SN)の入力が必要であるところ、第1実施形態のプロテクト制御回路(図4)では、ロックレジスタ書換回路16へのブロック選択信号S#(S0乃至SN)の(N+1)本の信号配線が不要となる。
【0042】
以上、詳細に説明したように第1実施形態のブロックプロテクト制御部10によれば、ロック情報DQ0#の書き換え許否の判断は、ブロックごとに格納される書換許否情報であるロックダウン情報DQ1#に基づき、第1論理合成部である論理合成部1(14)が活性化されることにより、ブロックプロテクト制御部10内でブロックごとに分散制御される。従って、ロック情報DQ0#の書換制御のためにロックダウン情報DQ1#を外部に出力する必要がない。複数のブロックを備える半導体記憶装置において、ブロックごとのロックダウン情報DQ1#の信号経路を配線する配線領域が不要となり、ロック情報DQ0#の書換制御を実現するためのチップ面積の増大を必要最小限に抑制することができる。
【0043】
また、強制書換許可信号WP#が活性である場合には、ブロックごとに格納されるロックダウン情報DQ1#に関わらず、論理合成部1(14)が活性化されることにより、ブロックプロテクト制御部10内でブロックごとに分散制御されてロック情報DQ0#が書き換え可能状態となる。従って、ロックダウン情報DQ1#に関わらず強制的にロック情報DQ0#を書き換える場合にも、ロック情報DQ0#の書き換え制御のためにロックダウン情報DQ1#を外部に出力する必要はない。
【0044】
また、ロックレジスタ書換回路16への、ロックダウン情報DQ1#(DQ10乃至DQ1N)の(N+1)本の信号配線、およびブロック選択信号S#(S0乃至SN)の(N+1)本の信号配線が不要となり、ロック情報DQ0#(DQ00乃至DQ0N)の書換制御を実現するためのチップ面積の増大を必要最小限に抑制することができる。
【0045】
ここで、論理合成部14Aは、NMOSトランジスタM7と、M8とが直列に接続された簡略な構成である。簡略な構成で第1論理合成部を構成することができる。
【0046】
図5に示す第2実施形態のブロックプロテクト制御部20は、第1実施形態のブロックプロテクト制御部10(図1)における出力論理合成部130を削除し、ロック情報DQ0#とロックダウン制御情報DQ2#との論理和演算結果として出力されていたロック制御信号LS#に代えて、ロック情報DQ0#をロック制御信号LS#として出力する構成である。
【0047】
第2実施形態のブロックプロテクト制御部20によれば、ロック情報DQ0#により設定されるブロックへのアクセス動作の許否情報に応じてロック制御信号LS#が出力され、ブロックのロック状態が制御される。ロックレジスタ11に格納されているロック情報DQ0#とブロックのロック状態が一致する。出力論理合成部130が不要となる。
【0048】
尚、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変形が可能であることは言うまでもない。
本発明における半導体記憶装置とは、揮発性、不揮発性を問わずブロックごとにアクセス動作の許否が制御されるものであれば適用可能であることは言うまでもない。
また、本発明においては、半導体記憶装置において適用することを例にとり説明したが、本発明ははこれに限定されるものではなく、半導体記憶装置が半導体集積回路装置の一機能としてチップ上に構成されている場合にも適用できる。
更に、本発明は、半導体記憶装置以外の半導体集積回路装置に対しても、ブロックごとにアクセス動作の許否制御が行なわれる半導体集積回路装置についても適用可能であることは言うまでもない。
【0049】
【発明の効果】
本発明によれば、メモリセルアレイを複数のブロックに分割して活性化制御する際、ブロックごとに設定されるプロテクト機能に伴うロックレジスタへのアクセス動作の許否の制御を、コンパクトな回路構成で実現することができる半導体記憶装置およびその制御方法を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1実施形態のブロックプロテクト制御部を示す回路ブロック図である。
【図2】 第1実施形態の具体例を示す回路図である。
【図3】 第1実施形態の具体例の動作波形図である。
【図4】 第1実施形態のプロテクト制御回路を示す回路ブロック図である。
【図5】 第2実施形態のブロックプロテクト制御部を示す回路ブロック図である。
【図6】 従来技術のプロテクト制御回路を示す回路図である。
【符号の説明】
10 ブロックプロテクト制御部
11、11A ロックレジスタ
12、12A ロックダウンレジスタ
14、14A 論理合成部1
15、15A 論理合成部2
16、200 ロックレジスタ書換回路
130 出力論理合成部
DQ0# ロック情報
DQ1# ロックダウン情報
DQ2#、/DQ2# ロックダウン制御情報
LDS ロックダウンセット信号
LR ロックリセット信号
LS ロックセット信号
LS# ロック制御信号
S# ブロック選択信号
S1# 選択信号
WP# 強制書換許可信号[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to selection of an activation region partitioned for each predetermined block region in a semiconductor storage device, and more particularly to a semiconductor storage device having a protection function for an access operation to an activation region and a control method thereof. It is.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in a semiconductor memory device, a memory cell array is generally divided into a plurality of blocks, and access control is performed for each block. As access control, there is a so-called protection function that prohibits these access operations in addition to reading, writing, and erasing data, and is set for each block.
[0003]
[0004]
A lock set signal LS or a lock reset signal LR is input to the
[0005]
The lockdown set signal LDS is output from the lockdown
[0006]
[Patent Document 1]
US Pat. No. 6,154,819 (FIG. 5)
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above prior art, when determining whether or not the
[0008]
In order to route a total of (2N + 2) signal wires, it is necessary to secure a large wiring area, which may be difficult to realize a compact die size. When the number of blocks increases as the capacity increases, the number of necessary signal wirings further increases, and the ratio of the signal wiring area in the die size further increases.
[0009]
The present invention has been made to solve the problems of the prior art, and when the activation control is performed by dividing the memory cell array into a plurality of blocks, access to a lock register associated with a protection function set for each block. An object of the present invention is to provide a semiconductor memory device and a method for controlling the semiconductor memory device which can realize the control of whether or not the operation is permitted with a compact circuit configuration.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a semiconductor memory device according to a first aspect of the present invention is a semiconductor memory device including a plurality of blocks, in which permission / prohibition of access operation is controlled for each block, and the access operation permission / denial state for the block is controlled. The lock information indicating the setting is stored in a rewritable manner, and the lock information that is activated in response to the block selection signal is rewritten.PermissionStatusIt is inA lockdown register that stores rewrite permission / inhibition information indicating whether or not rewritable,Rewrite permission informationRewrite permission statusWhat is inIndicateIn case,Outputs a selection signal according to the block selection signal and lock registerWhen the update of lock information to the device is permitted and the rewrite permission / inhibition information indicates that rewrite is not permitted, the selection signal is not output and the lock register is not permitted to be updated.A first logic synthesis unit is provided for each block.
[0011]
According to another aspect of the semiconductor memory device of the present invention, rewrite permission / inhibition information is stored in a lockdown register activated in response to a block selection signal. In the first logic synthesis unit, the rewrite permission / inhibition information is in a rewrite permitted state.To indicate thatA lock register that outputs a selection signal according to the block selection signalAllow update of lock information to. BThe lock register contains lock information indicating the setting of permission / inhibition status of access operation for the block.UpdatedStored.When the rewrite permission / inhibition information indicates that the rewrite is not permitted, the selection register is not output and the lock register is not permitted to be updated.These are provided for each block.
[0012]
A method for controlling a semiconductor memory device according to claim 8 is a method for controlling a semiconductor memory device, wherein the semiconductor memory device is divided into a plurality of blocks, and permission / inhibition of an access operation is controlled for each block,Each In the block,The lock information indicating the setting of permission / inhibition status of access operation to the block is rewritten according to the block selection instruction.PermissionStatusIt is inWhether or notCalligraphyPass / fail information,RewritableStore inRewrite permission information storage step and,bookPass / fail informationIs in a rewrite-enabled stateDepending on the block selection instruction, the lock informationAllow update and writePass / fail informationIs in a rewrite disallowed state, Mask the block selection instructions and lock informationDisallow updatesLock information rewrite determination step and lock information rewrite determination stepAllowedLock information ifThe stored information in response toRewriteGetLock information storing step,HaveIt is characterized by that.
[0013]
9. The method of controlling a semiconductor memory device according to claim 8, wherein in the rewrite permission / rejection information storage step, the lock information indicating the setting of the permission state of the access operation for the block is rewritten according to the block selection instruction.PermissionStatusInIndicates whether there isCalligraphyPass / fail informationTheRewritableStore in. In the lock information rewrite determination step, rewrite permission / rewrite based on rewrite permission / inhibition informationDisapprovalDepending on the status, the lock informationAllow updatesOr by masking the block selection instructionsDisallow updates. In the lock information storage step, the lock information is rewritten.AllowedLock information whenThe stored information in response toRewriteGet. Each of these control steps is block by blockIn lineBe made.
[0014]
As a result, whether or not the lock information can be rewritten is determined by activating the first logic synthesis unit based on the rewrite permission / rejection information stored for each block, or by the lock information rewrite determination step.Done every. Therefore, it is not necessary to output the rewrite permission / rejection information to the outside for the rewrite control of the lock information. In a semiconductor memory device having a plurality of blocks, the wiring area for wiring the signal path of the rewritability information for each block becomes unnecessary, and the increase in the chip area for realizing the lock information rewrite control is suppressed to the minimum necessary. Can do.
[0015]
A semiconductor memory device according to claim 2 is characterized in that, in the semiconductor memory device according to
[0016]
According to a third aspect of the present invention, there is provided the semiconductor memory device according to the first aspect, wherein the second logic synthesis supplies information based on the rewrite permission / inhibition information to the first logic synthesis unit in response to the forced rewrite permission signal. A rewrite permission information indicating a rewritable state regardless of the rewrite permission / rejection information stored in the lockdown register, when the forced rewrite permission signal is active as information based on the rewrite permission / rejection information, When the forcible rewrite permission signal is inactive, information according to rewrite permission / denial information is supplied.
[0017]
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor memory device control method according to the eighth aspect, wherein, in the lock information rewrite determining step, a lock information forcible rewrite command is issued. Instructing the rewritable state of the lock information regardless of the rewritability information, and if the lock information forced rewrite command is not issued, the lock information rewritable state instruction is determined according to the rewrite permission information. It is characterized by that.
[0018]
As a result, when the forced rewrite permission signal is active, or when a forced rewrite command for lock information is issued, the first logic synthesis unit is activated regardless of the rewrite permission / rejection information stored for each block. As a result, or by the lock information rewrite determination step, the lock information can be rewritten by performing distributed control for each block. Therefore, even when the lock information is forcibly rewritten regardless of the rewrite permission / rejection information, it is not necessary to output the rewrite permission / rejection information to the outside for the rewrite control of the lock information.
[0019]
According to a fourth aspect of the present invention, in the semiconductor memory device according to the third aspect, the lock information and the information based on the rewrite permission / prohibition information supplied from the second logic synthesis unit are input, and access to the block is performed. An output logic synthesis unit for outputting a lock control signal for controlling whether or not the operation is permitted is provided. Thereby, the lock control signal can be output in accordance with the logical synthesis of the lock information and the information based on the rewrite permission / inhibition information.
[0020]
According to a fifth aspect of the present invention, in the semiconductor memory device according to the third aspect, the forced rewrite permission signal is preferably a signal input from the outside.
[0021]
A semiconductor memory device according to a sixth aspect is the semiconductor memory device according to the first aspect, wherein the lock register and the lock-down register are provided with an initialization terminal for initializing the register contents.
[0022]
According to a seventh aspect of the present invention, in the semiconductor memory device according to the first aspect, the first logic synthesizer is controlled in conduction by the information based on the rewritability information and the block selection signal, and the selection signal is output. It is characterized by comprising first and second transistors connected in series between a terminal and a predetermined power supply terminal. Thus, the first logic synthesis unit can be configured with a simple configuration.
[0023]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of a semiconductor memory device and a control method thereof according to the present invention will be described below in detail with reference to FIGS.
[0024]
FIG. 1 shows a block protect
[0025]
The
[0026]
The logic synthesizer 2 (15) is controlled by the forced rewrite permission signal WP # in response to the input of the lockdown information DQ1 #, and outputs the lockdown control information DQ2 #. The lockdown control information DQ2 # is input to the logic synthesis unit 1 (14) and the output
[0027]
The logic synthesis unit 1 (14) is controlled by the lockdown control information DQ2 #, and outputs a selection signal S1 # according to the input block control signal S #. That is, when the lockdown control information DQ2 # indicates the rewrite permission state of the lock information DQ0 #, the selection signal S1 # corresponding to the block selection signal S # is input to the
[0028]
The output
[0029]
FIG. 2 shows a specific example of the block protect
[0030]
The logic synthesis unit 1 (14A) has a configuration in which an NMOS transistor M7 connected to the
[0031]
In a state where the latch circuit L1 is activated, when the NMOS transistor M1 is turned on by the lock set signal LS, the latch circuit L1 is set and a high level signal is stored as the lock information DQ0 #. When the NMOS transistor M2 is turned on by the lock reset signal LR, the latch circuit L1 is reset and a low level signal is stored as the lock information DQ0 #. As a result, the lock information DQ0 # is rewritten.
[0032]
Further, an NMOS transistor M3 is connected in parallel with the NMOS transistor M1, and is controlled by a reset signal RST. When the NMOS transistor M3 is turned on in response to the high level reset signal RST, the latch circuit L1 is set and a high level signal is stored as the lock information DQ0 #. Here, the reset signal RST is a signal that is activated at the time of power-on or a forced reset and sets the internal circuit to an initialized state. In the initialized state, the lock information DQ0 # is set (DQ0 # = “H”), and the access operation to the block is set to the non-permitted state, thereby preventing unexpected erroneous access.
[0033]
The
[0034]
The logic synthesis unit 2 (15A) performs output control of the lockdown control information DQ2 # according to the forced rewrite permission signal WP # by a logical operation by the NAND gate A1. The lockdown information DQ1 # and the inverted signal of the forced rewrite permission signal WP # via the inverter gate I2 are input to the input terminal of the NAND gate A1. In the case of the high-level lockdown information DQ1 # and the low-level forced rewrite permission signal WP # from the NAND gate A1, that is, in a state where the rewrite disapproval state is instructed by the lockdown information DQ1 # and forcible rewrite permission Only when the signal WP # is inactive and the lock information DQ0 # is not forcibly rewritten, the lockdown control information DQ2 # is activated (DQ2 # = "H", / DQ2 # = "L"). . The rewrite of the lock information DQ0 # is prohibited, and the lock logic signal LS # is activated and the block access operation is prohibited by the
[0035]
FIG. 3 shows operation waveforms for the block protect control unit 10 (FIG. 1) of the first embodiment, specifically, the specific example shown in FIG. FIG. 3 shows a case where lock information DQ0 # and lockdown information DQ1 # are stored according to the command.
[0036]
First, in response to a lock set command, the block selection signal S # becomes a high level to select a block, and a lock set signal LS of a high level pulse is input. At this time, since the lockdown set signal LDS is not input, the lockdown registers 12 and 12A do not store the rewrite non-permission state, and the lockdown information DQ1 # is maintained at the low level. Therefore, the logic synthesis unit 2 (15, 15A) outputs the low-level lockdown control information DQ2 # indicating the rewrite permission state. The inverted signal / DQ2 # becomes high level, the logic synthesis unit 1 (14, 14A) is activated, and the lock registers 11, 11A are activated. The activated lock registers 11 and 11A store high-level lock information DQ0 # by a high-level pulse lock set signal LS, and a block access prohibition state is set. The high level lock information DQ0 # is output as the high level lock control signal LS # via the output
[0037]
Next, in response to the lockdown set command, the lockdown set signal LDS is input to the lockdown registers 12 and 12A, and high-level lockdown information DQ1 # is stored. At this time, the forced rewrite permission signal WP # is maintained at a low level, and forced rewriting is not permitted. Accordingly, the lockdown control information DQ2 # from the logic synthesis unit 2 (15, 15A) transitions to a high level, and the inverted signal / DQ2 # transitions to a low level. Rewriting the lock information DQ0 # to the lock registers 11 and 11A is prohibited in accordance with the deactivation of the logic synthesis unit 1 (14, 14A). In addition to the lock information DQ0 #, the lockdown control information DQ2 # is also set to the high level, the lock control signal LS # output via the output
[0038]
Assume that a lock reset command is input after the lockdown information DQ1 # is set, and a lock reset signal LR having a high level pulse is input. In this case, high-level lockdown information DQ1 # is held in the lockdown registers 12 and 12A, and high-level lockdown control information DQ2 # is output from the logic synthesis unit 2 (15 and 15A). (Inverted signal / DQ2 # is low level). Therefore, the logic synthesis unit 1 (14, 14A) is maintained in an inactive state, and rewriting of the lock registers 11, 11A is prohibited. Accordingly, even if the high level pulse lock reset signal LR is input, the contents of the lock registers 11 and 11A are not rewritten, and the high level lock information DQ0 # continues to be held. The lock reset command is invalid.
[0039]
After the rewrite disapproval state is stored in the lockdown registers 12 and 12A, when the forced rewrite permission signal WP # becomes high level and a forced rewrite permission command is input, the output of the logic synthesis unit 2 (15, 15A) Regardless of the high level lockdown information DQ1 # indicating the rewrite disapproval state, the lockdown control information DQ2 # transitions to the low level indicating the rewrite permission state (the inverted signal / DQ2 # transitions to the high level). As a result, the logic synthesis unit 1 (14, 14A) transitions to the active state, and the lock registers 11, 11A are activated. When the lock reset command is input again in this state, the lock information DQ0 # stored in the lock registers 11 and 11A is changed to the low level by the high level pulse lock reset signal LR, and the access operation to the block is permitted. The state is set. The low-level lock information DQ0 # is output as the low-level lock control signal LS # via the output
[0040]
FIG. 4 shows a protection control circuit in which the block
[0041]
That is, in the protection control circuit of the prior art (FIG. 6), (N + 1) number for inputting the lockdown information DQ1 # (DQ10 to DQ1N) stored in each block
[0042]
As described above in detail, according to the block protect
[0043]
When the forced rewrite permission signal WP # is active, the logic synthesizer 1 (14) is activated regardless of the lockdown information DQ1 # stored for each block, so that the block protect
[0044]
In addition, (N + 1) signal lines for lockdown information DQ1 # (DQ10 to DQ1N) and (N + 1) signal lines for block selection signals S # (S0 to SN) to the lock
[0045]
Here, the
[0046]
The block protect
[0047]
According to the block protect
[0048]
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that various improvements and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
It goes without saying that the semiconductor memory device according to the present invention is applicable as long as access permission / denial is controlled for each block regardless of whether it is volatile or nonvolatile.
Although the present invention has been described by taking as an example application to a semiconductor memory device, the present invention is not limited to this, and the semiconductor memory device is configured on a chip as a function of the semiconductor integrated circuit device. It is also applicable when
Furthermore, it goes without saying that the present invention can also be applied to a semiconductor integrated circuit device in which permission / inhibition of access operation is performed for each block even for a semiconductor integrated circuit device other than a semiconductor memory device.
[0049]
【The invention's effect】
According to the present invention, when activation control is performed by dividing a memory cell array into a plurality of blocks, it is possible to control permission / inhibition of an access operation to a lock register accompanying a protection function set for each block with a compact circuit configuration. It is possible to provide a semiconductor memory device and a control method thereof.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit block diagram illustrating a block protect control unit according to a first embodiment.
FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific example of the first embodiment.
FIG. 3 is an operation waveform diagram of a specific example of the first embodiment.
FIG. 4 is a circuit block diagram showing a protection control circuit of the first embodiment.
FIG. 5 is a circuit block diagram showing a block protect control unit of a second embodiment.
FIG. 6 is a circuit diagram showing a protection control circuit according to the prior art.
[Explanation of symbols]
10 Block protect controller
11, 11A Lock register
12, 12A Lockdown register
14, 14A
15, 15A Logic synthesis unit 2
16,200 Lock register rewrite circuit
130 Output logic synthesis unit
DQ0 # Lock information
DQ1 # Lockdown information
DQ2 #, / DQ2 # Lockdown control information
LDS lockdown set signal
LR lock reset signal
LS Lock set signal
LS # Lock control signal
S # Block selection signal
S1 # selection signal
WP # Forced rewrite permission signal
Claims (10)
前記ブロックに対するアクセス動作の許否状態の設定を示すロック情報を、書き換え可能に格納するロックレジスタと、
ブロック選択信号に応じて活性化され、前記ロックレジスタに格納されている前記ロック情報が書き換え許可状態にあるか否かを示す書換許否情報を、書き換え可能に格納するロックダウンレジスタと、
前記書換許否情報が書き換え許可状態にあることを示す場合に、前記ブロック選択信号に応じた選択信号を出力して、前記ロックレジスタへの前記ロック情報の更新を許可し、前記書換許否情報が書き換え不許可状態にあることを示す場合に、前記選択信号を出力せず、前記ロックレジスタの更新を不許可にする第1論理合成部とを、前記ブロックごとに備えることを特徴とする半導体記憶装置。A semiconductor memory device comprising a plurality of blocks, wherein access permission / non-permission of each block is controlled,
A lock register for storing rewritable lock information indicating setting of permission / inhibition state of access operation to the block;
Is activated in response to the block select signal, and a lockdown register the rewrite permission information indicating whether or not the lock information stored in the lock register is rewritten in the authorized state, rewritable store,
To indicate that it is in the grant state the rewriting permission information rewriting, and outputs a selection signal corresponding to said block selection signal, to allow updating of the lock information into the lock register, the rewrite permission information rewriting A semiconductor memory device comprising: a first logic synthesis unit that does not output the selection signal and does not permit updating of the lock register for each block when indicating that the block is in a non-permitted state .
前記書換許否情報に基づく情報として、前記強制書換許可信号が活性である場合には、前記ロックダウンレジスタに格納されている前記書換許否情報に関わらず書き換え許可状態を示す書換許可情報が供給され、前記強制書換許可信号が非活性である場合には、前記書換許否情報に応じた情報が供給されることを特徴とする請求項1に記載の半導体記憶装置。A second logic synthesis unit that supplies information based on the rewrite permission / inhibition information to the first logic synthesis unit in response to a forced rewrite permission signal;
Wherein as the information based on the rewrite permission information, if the forced rewrite permission signal is active, rewriting permission information indicating the rewriting permitted state regardless of the rewriting permission information stored in the lockdown register is supplied, 2. The semiconductor memory device according to claim 1, wherein when the forcible rewrite permission signal is inactive, information corresponding to the rewrite permission / inhibition information is supplied.
各々のブロックにおいて、
前記ブロックの選択指示に応じて、前記ブロックに対するアクセス動作の許否状態の設定を示すロック情報が書き換え許可状態にあるか否かを示す書換許否情報を、書き換え可能に格納する書換許否情報格納ステップと、
前記書換許否情報が書き換え許可状態にある場合、前記ブロックの選択指示に応じて、前記ロック情報の更新を許可し、前記書換許否情報が書き換え不許可状態にある場合、前記ブロックの選択指示をマスクして前記ロック情報の更新を不許可とするロック情報書換判断ステップと、
前記ロック情報書換判断ステップにおいて前記ロック情報の書き換えが許可される場合、前記ロック情報の更新に応じて、格納されている情報を書き換えるロック情報格納ステップとを、有することを特徴とする半導体記憶装置の制御方法。A method for controlling a semiconductor memory device, wherein the method is divided into a plurality of blocks, and permission / inhibition of an access operation is controlled for each block,
In each block
Depending on the selection instruction of the block, the block permission whether the shown to manual換許unnecessary information lock information indicating a setting state rewritten in the authorized state of the access operation to the rewritable rewritable permission information storage for storing Steps,
When in the enabled state before Symbol rewriting permission information is rewritten in accordance with the selection instruction of the block, the allow updates of lock information, if the previous SL is disallowed state rewriting permission information is rewritten, the selection instruction of the block A lock information rewrite determination step that masks the update and disallows the update of the lock information;
If rewriting the lock information in the lock information rewriting determination step is permitted, a semiconductor, characterized in that in response to said update lock information, and the stored information write changeover obtain lock information storing step is, having Storage device control method.
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