JP3993614B2 - Test fixture - Google Patents
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Description
本発明は、複数のリードを導出させた電子デバイスの電気特性を測定するために前記リードを導体に接触させた状態に保持するテストフィクスチャに関する。 The present invention relates to a test fixture that holds a lead in contact with a conductor in order to measure electrical characteristics of an electronic device from which a plurality of leads are derived.
電子デバイスの電気特性を測定するには、電子デバイスに測定用信号を与える信号発生部と、電子デバイスから出力された信号を測定する信号処理部とを、電子デバイスの外部端子であるリードに接続しなければならない。このため、電子デバイスを所定位置に保持して信号発生部や信号処理部に接続された測定用基板の導体と電子デバイスのリードとを接触させて導通させるためのテストフィクスチャ(検査治具)が用いられる。 To measure the electrical characteristics of an electronic device, connect a signal generator that provides a measurement signal to the electronic device and a signal processor that measures the signal output from the electronic device to leads that are external terminals of the electronic device. Must. Therefore, a test fixture (inspection jig) for holding the electronic device in a predetermined position and bringing the conductor of the measurement substrate connected to the signal generation unit or the signal processing unit into contact with the lead of the electronic device to conduct. Is used.
例えば、下記特許文献1に開示された電子デバイス測定治具は、図7に示すように、複数本のリード101が配設された電子デバイス100を絶縁性のデバイス支持体102に載せ、このデバイス支持体102の一対の側面に各々形成された複数の溝103に2列各複数本のリード101を保持させる。そして、電子デバイス100のリード101と測定用基板104の導体パターン105が平行となるように2枚の測定用基板104,104をリード101の外側に配置し、2つのブロック106,106を測定用基板104,104の外側にそれぞれ移動可能に配置して、このブロック106で導体パターン105をリード101に押し付けて導通を図っていた。
For example, as shown in FIG. 7, an electronic device measuring jig disclosed in Patent Document 1 below places an
ところが、上述したような電子デバイス測定治具では、図7に示すように、リード101が比較的短い構成であるため、このリード101に導体パターン105を押し付けてリード101の曲がり,位置ずれなどの変形を矯正し、リード101を導体パターン105に正しく接触させることができるが、例えば、リードが細長い棒状に形成されている場合、変形したリードでは、リード全体を押圧したとしても導体パターンと十分に接触しないことがあった。
However, in the electronic device measuring jig as described above, since the
そこで、リードの先端部だけを導体パターンなどの導体と接触させて導通させるテストフィクスチャが本願発明者によって考えられた。このテストフィクスチャは、導体が設けられた基板上の所定位置にリードが配置され、このリードの先端部を導体と接触させるものである。このとき、配置されたリードの先端部以外の部分における特性インピーダンスが所定値となるように整合されている。そして、リード全体を一体的なブロック構造の押圧手段で押さえ付けることで、リードの曲がりを矯正してリードを正しい位置に保持するとともに、リードの先端部を導体に接触させる。
しかしながら、上述したようなテストフィクスチャでは、リードの曲がりを矯正しながら位置決めするための押圧と、リードを導体に接触させるための押圧とを1つの押圧手段で同時に行うため、前記各押圧のタイミングを個々に制御することができなかった。また、リードが導体に接触するときの接圧を調整することが困難であった。これにより、例えば、リードが導体に強い力で接触している状態で、このリードが位置決めされることがあり、この場合、導体に過度の物理的なストレスが生じたり、さらに、リードが導体上を摺動することがあることから導体が損傷することがあった。また、例えば、リードが位置決めされる前に、このリードが導体に強い力で接触している場合など、リードと導体との間に生じる摩擦力でリードがその接触部分で固定されてしまい正しい位置決めが行われずに、電子デバイスの電気特性を正確に測定できないことがあった。 However, in the test fixture as described above, the pressing for positioning the lead while correcting the bending of the lead and the pressing for bringing the lead into contact with the conductor are simultaneously performed by one pressing means. Could not be controlled individually. In addition, it is difficult to adjust the contact pressure when the lead contacts the conductor. As a result, for example, the lead may be positioned in a state in which the lead is in contact with the conductor with a strong force. In this case, excessive physical stress is generated on the conductor, or the lead is placed on the conductor. The conductor could be damaged. In addition, for example, when the lead is in contact with the conductor with a strong force before the lead is positioned, the lead is fixed at the contact portion due to the frictional force generated between the lead and the conductor. In some cases, the electrical characteristics of the electronic device cannot be measured accurately.
さらに、テストフィクスチャに設けられた導体への過度の物理的ストレスを防ぎつつ電子デバイスを正確に測定するには、検査対象となる電子デバイスごとにリードが導体に接触するときの接圧を最適に調整する必要があり、従来、この調整作業に時間がかかっていた。 In addition, in order to accurately measure electronic devices while preventing excessive physical stress on the conductors provided in the test fixture, the contact pressure when the lead contacts the conductor is optimized for each electronic device to be inspected. In the past, this adjustment work took time.
そこで本発明は、上記状況に鑑みてなされたもので、リードの曲がりの矯正及び位置決めのための押圧と、リードを導体に接触させるための押圧とを分けてそれぞれの押圧のタイミングを制御可能に構成するとともに、その接圧を容易に調整することができ、この結果、導体の損傷を抑えて長寿命化を実現でき、且つリードを導体に確実に接触させるテストフィクスチャを提供し、もって、組立時の調整作業にかかる時間を短縮でき、電子デバイスの検査工程における作業性の向上によりコストの低減を図ることを目的とする。 Therefore, the present invention has been made in view of the above situation, and it is possible to control the timing of each pressing by dividing the pressing for correcting and positioning the lead and the pressing for bringing the lead into contact with the conductor. It is possible to easily adjust the contact pressure with the structure, and as a result, it is possible to suppress the damage to the conductor, to realize a long life, and to provide a test fixture for reliably contacting the lead with the conductor. The purpose is to reduce the time required for adjustment work during assembly and to reduce the cost by improving workability in the inspection process of the electronic device.
次に、上記の課題を解決するための手段を、実施の形態に対応する図面を参照して説明する。
本発明の請求項1記載のテストフィクスチャ1は、一端面から複数のリード3を導出させた電子デバイス2の電気特性を測定するために前記リード3を導体に接触させるテストフィクスチャ1であって、
前記リード3の間に挿入されるとともに該リード3の先端部3aの一部を突出させ、前記各リード3を長手方向に沿って挿入する溝17が形成されたホルダー板16と、
前記リード3と接触して前記電子デバイス2の電気信号を外部コネクタ8へと導出する導体ライン14,15を有する伝送線路Lと、
前記リード3を前記ホルダー板16の前記溝17内に保持するように押し付ける第1の押圧部材20と、
前記リード3の先端部3aを前記導体ライン14,15に押し付ける第2の押圧部材25と、
前記第1の押圧部材20と前記第2の押圧部材25とを押圧する押圧手段30とを具備し、
前記押圧手段30が、前記第1の押圧部材20を押圧後、時間差を設けて前記第2の押圧部材25を押圧することを特徴とする。
Next, means for solving the above problems will be described with reference to the drawings corresponding to the embodiments.
The test fixture 1 according to claim 1 of the present invention is a test fixture 1 in which the
A
A transmission line L having
A first pressing
A second pressing
A pressing means 30 for pressing the first pressing
The pressing means 30 is configured to press the second pressing
請求項2記載のテストフィクスチャ1は、前記第1の押圧部材20と前記第2の押圧部材25とが相対的に移動可能となるように構成されることを特徴とする。
The test fixture 1 according to
請求項3記載のテストフィクスチャ1は、前記押圧手段30は、前記第1の押圧部材20を押圧する第1の押圧部32と前記第2の押圧部材25を押圧する第2の押圧部33とを備え、
前記第1の押圧部32と前記第2の押圧部33とがそれぞれ可動することを特徴とする。
In the test fixture 1 according to
The first
請求項4記載のテストフィクスチャ1は、前記第2の押圧部材25と前記第2の押圧部33との少なくともいずれか一方に押圧力調整手段が設けられることを特徴とする。
The test fixture 1 according to
請求項5記載のテストフィクスチャ1は、前記第2の押圧部材25には、前記複数のリード3のうち前記伝送線路Lの前記導体ライン14,15と接触するリード以外の非接触リード3Bの先端部3bが挿入されるリード逃げ部29が設けられ、前記第2の押圧部材25の押圧動作が前記非接触リード3Bにより妨害されることを防ぐことを特徴とする。
In the test fixture 1 according to
本発明によるテストフィクスチャによれば、第1の押圧部材によってリードの先端部以外を押し付けるタイミングと、第2の押圧部材によってリードの先端部を押し付けるタイミングとを個々に制御可能なことから、リードの曲がりを矯正しながらこのリードを所定位置に保持し、その後、リードの先端部を導体ライン(導体)に接触させることができるようになる。これにより、リードを導体ラインに所定の位置で確実に接触させることができる。また、これに加えて、リードが導体ラインに接触するときの接圧を調整することができることから、導体に生じる物理的なストレスを低減でき、導体ラインの損傷を抑えることができる。これにより、導体の長寿命化を実現することができる。 According to the test fixture of the present invention, it is possible to individually control the timing of pressing the tip of the lead by the first pressing member and the timing of pressing the tip of the lead by the second pressing member. This lead can be held in a predetermined position while correcting the bending of the lead, and then the tip of the lead can be brought into contact with the conductor line (conductor). Thereby, the lead can be reliably brought into contact with the conductor line at a predetermined position. In addition, since the contact pressure when the lead contacts the conductor line can be adjusted, physical stress generated in the conductor can be reduced, and damage to the conductor line can be suppressed. Thereby, the lifetime extension of a conductor is realizable.
さらに、上記した接圧の調整を容易に行うことができることから、組立時の調整作業にかかる時間を短縮することができるようになる。この結果、検査工程における作業性が向上し、コストを低減することができる。 Furthermore, since the contact pressure can be easily adjusted, the time required for the adjustment work during assembly can be shortened. As a result, the workability in the inspection process is improved, and the cost can be reduced.
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して具体的に説明する。
図1は本発明によるテストフィクスチャの一実施の形態を示す斜視図、図2は同実施の形態の側面図、図3は同実施の形態の主要部を示す上方からの分解斜視図、図4は同実施の形態の主要部を示す下方からの分解斜視図、図5は同実施の形態の主要部を示す底面図、図6(a),(b)は同実施の形態の主要部の動作を示す側断面図である。
Embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a test fixture according to the present invention, FIG. 2 is a side view of the embodiment, and FIG. 3 is an exploded perspective view from above showing a main part of the embodiment. 4 is an exploded perspective view showing the main part of the embodiment from below, FIG. 5 is a bottom view showing the main part of the embodiment, and FIGS. 6A and 6B are main parts of the embodiment. It is a sectional side view which shows this operation | movement.
本実施の形態によるテストフィクスチャ1は、一端面から複数本のリード3を略垂直に導出させた電子デバイス2の電気特性を測定する目的で、該電子デバイス2を保持してリード3からの電気信号を外部コネクタ8に導出させるために用いられる器具(治具)である。図2において、押圧部材20,25がテストフィクスチャ1の後側から押されて水平方向(後述する押圧方向)に関して図中右方に移動し、リード3を導体ライン14,15(図5参照)に接触させる。
The test fixture 1 according to the present embodiment holds the
このテストフィクスチャ1は、図1,3,4に示すように、主要な構成要素として、本体4と、伝送線路Lと、ホルダー板16と、第1の押圧部材20と、第2の押圧部材25と、押圧手段30とを備えている。
As shown in FIGS. 1, 3, and 4, the test fixture 1 includes, as main components, a
本体4は、図1,2に示すように、両側部にハンドル5,5が設けられたベース基台6上に脚部7を介して螺着されている。本体4は金属などの導体からなり、後述する第1及び第2の伝送線路の電気信号を接地(GND)させる役割を果たす。また、本体4の前端面4a(押圧部材20,25の移動方向に関して前方の面をいう)には、外部接続用の接続端子である外部コネクタ8が設けられている。本実施の形態では、この外部コネクタ8は2個設けられている。さらに、本体4の後端面4b(押圧部材20,25の移動方向に関して後方の面をいう)における両側部には、後述する連結軸が接続される接続孔9が設けられている。また、本体4には、伝送線路Lが形成されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
伝送線路Lは、第1の伝送線路10と、第2の伝送線路12とで略構成されている。
The transmission line L is substantially composed of a
第1の伝送線路10は、図3,6に示すように、前記本体4(GND)と、本体4の後端面4bに配設された絶縁体からなる基板部11と、この基板部11上に配置される前記電子デバイス2のリード3とを構成要素としている。この第1の伝送線路10は、リード3から本体4にかけての特性インピーダンスが所定値(約50Ω)に整合されている。なお、本実施の形態では、基板部11はテフロン(登録商標)で形成されている。
As shown in FIGS. 3 and 6, the
第2の伝送線路12は、図4,5,6に示すように、前記本体4(GND)と、本体4の下面4cに前記第1の伝送線路10を構成する基板部11に対して略直交して配設されるとともに、前記基板部11と端部同士が近接した基板部13と、この基板部13の表面上に形成され、前記電子デバイス2からの電気信号を前記外部コネクタ8へと導出させる導体ラインとしての導体パターン14とを構成要素としている。なお、本実施の形態では、基板部13は、上述した第1の伝送線路10の基板部11と同様にテフロン(登録商標)で形成されている。また、導体パターン14は、銅箔などの金属の薄層で形成されている。
As shown in FIGS. 4, 5, and 6, the
さらに、第2の伝送線路12の導体パターン14上における前記本体4の後端面4b側端部には、例えば、金などのような導電性を有する素材からなる接点部材15が設けられている。この接点部材15は、導体パターン14と共に第2の伝送線路12の導体ラインをなし、リード2との接触面を前記第1の伝送線路10の基板部11に延出させた略L字状に形成されている。
Furthermore, a
ホルダー板16は、図3〜5に示すように、リード3の間に挿入され、各リード3を直径方向に挿入する溝17がリード3に沿って両面に形成されている。ホルダー板16には、溝17に沿ってリード3を挿入することで電子デバイス2が保持される。この溝17の断面形状は略コ字形であり、その深さは、断面円形のリード3が直径方向にちょうど収まる程度に形成されている。各リード3は、この溝17に挿入されることで曲がりなどの変形が簡易的に矯正され、その後、後述する第1の押圧部材によって更に適切に矯正されることとなる。なお、溝17の断面形状はコ字形に限定されず、例えば、V字形,U字形などであってもよい。また、ホルダー板16は、電子デバイス2を保持した状態で、各リード3の先端部3aの一部を一端面から突出させている。さらに、ホルダー板16の上方における両側端部には摘み部18が設けられている。
As shown in FIGS. 3 to 5, the
前述した第1の押圧部材20は、図2〜4に示すように、下部に切欠き21を有する略矩形ブロック状に形成されている。この第1の押圧部材20には、両側部に前述した押圧方向X(図2の矢線方向)に貫通する挿通孔22が設けられている。また、この挿通孔22に、前記本体4の接続孔9に挿通接続された前述した連結軸23が挿通され、第1の押圧部材20は本体4に押圧方向Xに移動可能に連結される。さらに、第1の押圧部材20の下部中央には、切欠き21の内面から押圧方向に貫通して貫通孔24が設けられている。なお、本実施の形態では、この第1の押圧部材は、例えば、テフロン(登録商標)などの絶縁体で形成されている。
The first pressing
第2の押圧手段25は、図2〜5に示すように、略矩形ブロック状に形成され、前記第1の押圧部材20の切欠き21内部に配設されている。また、第2の押圧部材25の後端面(第2の押圧部材25の移動方向に関して後方の面をいう)には略円柱形状の貫通軸26が突設されている。さらに、この貫通軸26の後端面(第2の押圧部材25の移動方向に関して後方の面をいう)にはフランジ27が設けられている。第2の押圧部材25は、貫通軸26が第1の押圧部材20の貫通孔24に挿通されることで、この第1の押圧部材20と押圧方向Xに相対的に移動可能に連結されている。そして、前記本体4の後端面4bとフランジ27との間における貫通軸26の軸周りには戻りバネ28が配設され、第2の押圧部材25は戻りバネ28の引張力によって後側(図2において、押圧方向Xに関して図中右方)へと引っ張られる。また、図5に示すように、第2の押圧部材25には、上下方向に貫通され、前記ホルダー部16(電子デバイス2)を保持した状態で、複数(4本)のリード3のうち後側に配置され、前記接点部材15とは接触しない非接触リード3Bの先端部3bが挿通されるリード逃げ部29が設けられている。このリード逃げ部29は、第2の押圧部材25が押圧方向Xに移動しても非接触リード3Bと接触しない程度の内径に形成されている。なお、本実施の形態では、リード逃げ部29は貫通孔として形成されているが、これに限定されず、例えば、非接触リード3Bの先端部3bと接触しない深さの凹部であってもよい。また、本実施の形態では、第2の押圧手段25は、上記した第1の押圧部材20と同様に、テフロン(登録商標)などの絶縁体で形成されている。
2-5, the 2nd press means 25 is formed in the substantially rectangular block shape, and is arrange | positioned inside the
押圧手段30は、図1に示すように、押圧部31と、操作部38とで略構成されている。 As shown in FIG. 1, the pressing means 30 is roughly constituted by a pressing portion 31 and an operation portion 38.
押圧部31は、図1〜4に示すように、長手方向が押圧方向Xを向いた2本の第1及び第2の押圧部としての上部及び下部プランジャ32,33で略構成されている。これら上下部プランジャ32,33は、連結板34によって上下に連結されている。上部プランジャ32は、前記第1の押圧部材20を押圧方向Xに押圧し、下部プランジャ33は、前記第2の押圧部材25を押圧方向Xに押圧する。なお、上下部プランジャ32,33の先端部には、各押圧部材20,25を最適な押圧力で押圧するための押圧力調整手段としてのバネ(図示せず)が内蔵されている。また、上部プランジャ32の後端には連結シャフト37が同軸的に延設され、連結シャフト37の後端部は、後述する操作部のリンク軸と連結されている。
As shown in FIGS. 1 to 4, the pressing portion 31 is generally configured by two upper and
操作部38は、図1,2に示すように、基台39上に突設された支柱部材40に操作レバー41の一端部が支持されている。操作レバー41は、前述したリンク軸42を介して前記連結シャフト37と連動連結され、この操作レバー41を操作することによって連結シャフト37を押圧方向Xに移動させる。
As shown in FIGS. 1 and 2, one end of the
次に、本実施の形態によるテストフィクスチャ1の作用を説明する。
検査対象となる電子デバイス2をこのテストフィクスチャ1に保持するには、まず、電子デバイス2のリード3の間に、リード3の先端部3aからホルダー板16をスライドさせて挿入し、各リード3を各溝17に配置する。これにより、リード3は、先端部3aをホルダー板16の一端面から突出させて溝16に沿って保持される。
Next, the operation of the test fixture 1 according to the present embodiment will be described.
In order to hold the
次いで、図1,2に示すように、電子デバイス2を装着したホルダー板16を、上方から本体4の後端面4bと第1の押圧部材20との間に挿入する。このとき、図5に示すように、複数のリード3のうち押圧方向Xの後側に配置された非接触リード3Bの先端部3bを第2の押圧部材25のリード逃げ部29内に挿入する。
Next, as shown in FIGS. 1 and 2, the
次いで、操作部38の操作レバー41を操作する(押し下げる)ことで連結シャフト37が押圧方向Xの前側(図2において、押圧方向に関して図中右方)に移動し、更に、上下部プランジャ32,33が押圧方向Xの前側に移動する。これにより、上下部プランジャ32,33は、それぞれ第1及び第2の押圧部材20,25を押圧する。なお、ここでは、上下部プランジャ32,33を上下の配置で説明するが、第1及び第2の押圧部材20,25の配置や形状にあわせて上下以外の位置関係に配置してもよい。
Next, by operating (pushing down) the
ここで、図6を参照して上下部プランジャ32,33による第1及び第2の押圧部材20,25の押圧動作について説明する。
Here, the pressing operation of the first and second
まず、図6(a)に示すように、操作レバー41(図1,2参照)を押し下げることで上下部プランジャ32,33が押圧方向Xの前側(図6(a)において、押圧方向Xに関して図中右方)に移動し、まず、上部プランジャ32による第1の押圧部材20の押圧が始まる。このとき、電子デバイス2のリード3全体がホルダー板16の溝17内に押し付けられ、この溝17内に挿入されただけでは矯正しきれないリード3の曲がりなどの変形が矯正され、且つリード3が所定位置に保持される。
First, as shown in FIG. 6 (a), the upper and
次に、図6(b)に示すように、上部プランジャ32による第1の押圧部材20の押圧が終わると、下部プランジャ33による第2の押圧部材25(フランジ27)の押圧が始まる。このとき、所定位置に保持されたリード3の先端部3aが第2の伝送線路12の接点部材15に押し付けられ、リード3の先端部3aが接点部材15に接触する。また、電子デバイス2の非接触リード3Bはリード逃げ部29内に挿入されることで、第2の押圧部材25が押圧方向Xに移動しても非接触リード3Bがこの移動の妨げとなることを防止している。さらに、第2の押圧部材25は、下部プランジャ33に内蔵されたバネ(図示せず)によって最適な押圧力で押圧される。これにより、リード3の先端部3aが接点部材15に接触するときの接圧が最適となる。
Next, as shown in FIG. 6B, when the pressing of the first pressing
これで、上下部プランジャ32,33による第1及び第2の押圧部材20,25の押圧が完了する。なお、電子デバイス2が装着されたホルダー板16をテストフィクスチャ1から取り外す際は、操作レバー41を押し上げるだけでこのホルダー板16の保持が解除される。
Thus, the pressing of the first and second
電子デバイス2のリード3は、基板部11上における所定位置に配置され、特性インピーダンスが所定値に整合された第1の伝送線路10を構成し、リード3の先端部3aは第2の伝送線路12(接点部材15)と確実に接触することとなる。
The
この実施の形態によるテストフィクスチャ1によれば、第1の押圧部材20によってリード3の先端部3a以外を押し付けるタイミングと、第2の押圧部材25によってリード3の先端部3aを押し付けるタイミングとを個々に制御可能なことから、リード3の曲がりを矯正しながらこのリード3を所定位置に保持し、その後、リード3の先端部3aを接点部材15に接触させることができるようになる。これにより、リード3を接点部材15に確実に接触させることができる。また、これに加えて、リード3が接点部材15に接触するときの接圧を最適に調整することができることから、接点部材15に生じる物理的なストレスを低減でき、接点部材15の損傷を抑えることができる。これにより、接点部材15(導体)の長寿命化を実現することができる。
According to the test fixture 1 according to this embodiment, the timing of pressing the
さらに、下部プランジャ33によって第2の押圧部材25を最適な押圧力で押圧することにより、上述したように、リード3が接点部材15に接触するときの接圧を最適に調整することが容易となり、これまで組立時の調整作業にかかっていた時間を短縮することができるようになる。この結果、検査工程における作業性が向上し、コストを低減することができる。
Furthermore, by pressing the second pressing
また、第2の押圧部材25が、リード3の先端部3aを接点部材15に押圧するときに、複数のリード3のうち押圧方向Xの後側に配置された非接触リード3Bを避けて押圧することが可能となる。
Further, when the second pressing
なお、上述した実施の形態では、リード3の先端部3aを接点部材15に接触させる際、第2の押圧手段25にかかる押圧力を最適に調整するための押圧力調整手段としてのバネは下部プランジャ33側に設ける構成としているが、第2の押圧手段25側に設ける構成としてもよい。これにより、上述した実施の形態と同様に、リード3の先端部3aが第2の伝送線路12の接点部材15に接触するときの接圧を最適に調整することが容易となるという効果が得られる。
In the above-described embodiment, when the
また、上述した実施の形態では、電子デバイス2のリード3を保持するための溝17がホルダー板16に形成されているが、第1の伝送線路10の基板部11における所定位置に溝が形成され、この溝にリード3が保持される構成としてもよい。これにより、上述した実施の形態と同様に、リード3の曲がりが矯正されるという効果に加えて、リード3のより正確な位置決めが可能となる。
In the above-described embodiment, the
1…テストフィクスチャ
2…電子デバイス
3…リード
3B…非接触リード
3a,3b…先端部
8…外部コネクタ
14,15…導体ラインとしての導体パターン,接点部材
16…ホルダー板
17…溝
20…第1の押圧部材
25…第2の押圧部材
29…リード逃げ部
30…押圧手段
32…第1の押圧部としての上部プランジャ
33…第2の押圧部としての下部プランジャ
L…伝送線路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ...
Claims (5)
前記リードの間に挿入されるとともに該リードの先端部(3a)の一部を突出させ、前記各リードを長手方向に沿って挿入する溝(17)が形成されたホルダー板(16)と、
前記リードと接触して前記電子デバイスの電気信号を外部コネクタ(8)へと導出する導体ライン(14,15)を有する伝送線路(L)と、
前記リードを前記ホルダー板の前記溝内に保持するように押し付ける第1の押圧部材(20)と、
前記リードの先端部を前記導体ラインに押し付ける第2の押圧部材(25)と、
前記第1の押圧部材と前記第2の押圧部材とを押圧する押圧手段(30)とを具備し、
前記押圧手段が、前記第1の押圧部材を押圧後、時間差を設けて前記第2の押圧部材を押圧することを特徴とするテストフィクスチャ。 A test fixture (1) for bringing the lead into contact with a conductor in order to measure electrical characteristics of an electronic device (2) in which a plurality of leads (3) are led out from one end surface,
A holder plate (16) having a groove (17) inserted between the leads and projecting a part of the tip (3a) of the lead and inserting each lead along the longitudinal direction;
A transmission line (L) having conductor lines (14, 15) in contact with the leads to lead out electrical signals of the electronic device to an external connector (8);
A first pressing member (20) for pressing the lead so as to be held in the groove of the holder plate;
A second pressing member (25) for pressing the tip of the lead against the conductor line;
Pressing means (30) for pressing the first pressing member and the second pressing member;
A test fixture, wherein the pressing means presses the second pressing member with a time difference after pressing the first pressing member.
前記第1の押圧部と前記第2の押圧部とがそれぞれ可動することを特徴とする請求項1又は2記載のテストフィクスチャ。 The pressing means (30) includes a first pressing portion (32) that presses the first pressing member (20), and a second pressing portion (33) that presses the second pressing member (25). With
The test fixture according to claim 1, wherein the first pressing portion and the second pressing portion are movable.
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