JP2008047339A - Surface-mounted connector - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface-mounted connector with downsizing of a board aimed at, in one whose electric characteristics are confirmed by being surface mounted on a board. <P>SOLUTION: The surface-mounted connector comprises one of the connector elements 1 mounted on the surface of the board 3, and the other connector element 2 connected in correspondence with the one connector element 1. A test pad 5 with which a measurement pin 40 for confirming the electric characteristics is contacted is provided at a conductive body of the one connector element 1. Further, the surface-mounted connector is provided with a positioning mechanism 6 for positioning the measurement pin 40 onto the test pad 5. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、表面実装コネクタに関し、特に、基板の表面に実装される一方のコネクタ要素と、該一方のコネクタ要素と対応して接続される他方のコネクタ要素とからなり、その電気的特性が確認される表面実装コネクタに関するものである。   The present invention relates to a surface mount connector, and in particular, includes one connector element mounted on the surface of a substrate and the other connector element connected correspondingly to the one connector element, and confirms its electrical characteristics. The present invention relates to a surface mount connector.

コネクタは一般に、一方のコネクタ要素と、この一方のコネクタ要素と対応して接続される他方のコネクタ要素と、により構成されている。そして、表面実装コネクタは、いずれか一方のコネクタ要素が基板に取付けられて、そのリードが導電パターンとはんだ付けされる。図10はこのような基板3’に取付けられた一方のコネクタ要素1’を示したもので、一方のコネクタ要素1’から延びるリード12’が基板3’に形成された穴に通して半田付けされて、この穴の周囲の形成された回路と電気的に導通されている。   A connector is generally constituted by one connector element and the other connector element connected correspondingly to the one connector element. In the surface mount connector, either one of the connector elements is attached to the substrate, and the lead is soldered to the conductive pattern. FIG. 10 shows one connector element 1 ′ attached to such a board 3 ′, and a lead 12 ′ extending from one connector element 1 ′ is soldered through a hole formed in the board 3 ′. And electrically connected to the circuit formed around the hole.

ところで、このようなコネクタにおいては、その通電確認など、製品検査のために電気的計測が行われる。図10に示したコネクタ要素1’の場合、電気的計測を行う際には、基板3’の裏面に突出したリード12’の先端に電気計測ピン40’を接触させる。   By the way, in such a connector, electrical measurement is performed for product inspection such as confirmation of energization. In the case of the connector element 1 ′ shown in FIG. 10, when performing electrical measurement, the electrical measurement pin 40 ′ is brought into contact with the tip of the lead 12 ′ protruding from the back surface of the substrate 3 ′.

また、別の従来の一般的な表面実装コネクタでは、図11に示すように、基板3”に取付けられた一方のコネクタ要素1”のリード12”を基板3”の表面の回路パターンにはんだ付けするため、一方のコネクタ要素1”のリード12”と電気的に導通されるテストランド5”が基板3”の一方のコネクタ要素1”が実装される側の表面に設けられている。電気的計測を行う際には、基板3”の表面に設けられたテストランド5”に電気計測ピン40”を接合する。   In another conventional general surface mount connector, as shown in FIG. 11, the lead 12 "of one connector element 1" attached to the board 3 "is soldered to the circuit pattern on the surface of the board 3". Therefore, a test land 5 ″ that is electrically connected to the lead 12 ″ of one connector element 1 ″ is provided on the surface of the board 3 ″ on the side where the one connector element 1 ″ is mounted. When the measurement is performed, the electric measurement pin 40 ″ is bonded to the test land 5 ″ provided on the surface of the substrate 3 ″.

さらに、コネクタの導通確認をするための従来の技術として、特許文献1が知られている。特許文献1には、筐体内部に設けられたピンと、前記筐体上面に外部端子と前記ピンとが接触可能に設けてある穴部とを有することなどを特徴とするコネクタ装置が開示されている。そして、特許文献1には、「プリント基板1上のテストランド3に図示しない外部端子の一方の端子を接触させる。そして、筐体5上面に設けられた穴部6に外部端子の他方の端子を挿入し、一方の外部端子が接触されているテストランド3と対応するピン8に、他方の外部端子を接触させる。これにより、ピン8とテストランド3の導通確認を行うことができる。」(段落0011)、および、「以上のように本実施例によれば、筐体5の上面に導通確認用の穴部6を設けることにより、筐体5内のピン8とプリント基板1上のテストランド3との接触部のみの導通を確認することができる。」(段落0012)などと記載されている。すなわち、特許文献1では、プリント基板に実装されたコネクタ内のピンとプリント基板のテストランドとの導通を確認するものである。   Furthermore, Patent Document 1 is known as a conventional technique for checking the continuity of a connector. Patent Document 1 discloses a connector device characterized by having a pin provided inside a housing and a hole portion provided on the top surface of the housing so that an external terminal and the pin can come into contact with each other. . Patent Document 1 states that “one terminal of an external terminal (not shown) is brought into contact with the test land 3 on the printed circuit board 1. The other terminal of the external terminal is in contact with the hole 6 provided on the upper surface of the housing 5. Is inserted, and the other external terminal is brought into contact with the pin 8 corresponding to the test land 3 with which one external terminal is in contact, whereby the continuity of the pin 8 and the test land 3 can be confirmed. (Paragraph 0011) and “According to the present embodiment as described above, by providing the hole 6 for conduction confirmation on the upper surface of the housing 5, the pins 8 in the housing 5 and the printed circuit board 1 are It is possible to confirm conduction only at the contact portion with the test land 3 "(paragraph 0012). That is, in Patent Document 1, the continuity between the pins in the connector mounted on the printed board and the test land of the printed board is confirmed.

特開平5−144520号公報JP-A-5-144520

上記従来の技術のうち、図10に示したコネクタにあっては、一方のコネクタ要素1’を基板3’の表面に実装する場合に基板3’の裏面にリード12’が突出することがなくなることから、電気計測ピン40’を接合することができなくなる。   Among the above conventional techniques, in the connector shown in FIG. 10, when one connector element 1 ′ is mounted on the surface of the substrate 3 ′, the lead 12 ′ does not protrude from the back surface of the substrate 3 ′. For this reason, it becomes impossible to join the electrical measuring pin 40 '.

また、上記従来の技術のうち、図11に示したようにテストランド5”を基板3”の表面に設ける場合にあっては、このテストランド5”を基板3”にコネクタ要素1”のリード12“と対応させて複数設けるためのスペースが必要となり、基板3”の表面のなかで大きな面積を占めることとなるため、基板3”が大型化し、基板3”の小型化を図ることができないという問題があった。そして、上記特許文献1においても、テストランドを設けることから、図11に示した従来の技術と同様の問題を有している。   Further, in the conventional technique, when the test land 5 ″ is provided on the surface of the board 3 ″ as shown in FIG. 11, the test land 5 ″ is connected to the board 3 ″ and the lead of the connector element 1 ″. In order to occupy a large area in the surface of the substrate 3 ″, the substrate 3 ″ becomes larger and the substrate 3 ″ cannot be reduced in size. The above-mentioned patent document 1 also has a problem similar to that of the conventional technique shown in FIG.

そして、特許文献1においては、筐体上面に設けられた穴部が、外部端子とピンとを接触可能にする、すなわち、ピンを筐体から露出させて外部端子と接触させるためのものであるにすぎなかった。そのため、外部端子のピンに対する位置決めが容易ではなく、外部端子を所定のピンに正確に接触させて電気的特性の計測を行うことができない場合があり得るという問題もあった。   And in patent document 1, the hole provided in the housing | casing upper surface makes an external terminal and a pin contactable, ie, it is for exposing a pin from a housing | casing and making it contact with an external terminal. It wasn't too much. For this reason, positioning of the external terminal with respect to the pin is not easy, and there is a problem that it may not be possible to measure the electrical characteristics by accurately bringing the external terminal into contact with the predetermined pin.

本発明は、上述した問題に鑑みてなされたもので、基板に実装されてその電気的特性が確認される表面実装コネクタにおいて、基板の小型化を図ることができる表面実装コネクタを提供することを目的とする。
また、本発明は、上述した問題に鑑みてなされたもので、計測ピンをそれぞれ各テストパッドに容易に且つ正確に接触させて電気的特性の計測を行うことができる表面実装コネクタを提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-described problems, and provides a surface-mount connector that can be miniaturized in a surface-mount connector that is mounted on a substrate and whose electrical characteristics are confirmed. Objective.
In addition, the present invention has been made in view of the above-described problems, and provides a surface mount connector capable of measuring electrical characteristics by easily and accurately bringing a measurement pin into contact with each test pad. With the goal.

上記の課題を解決するために、本発明に係る表面実装コネクタは、基板の表面に実装される一方のコネクタ要素と、該一方のコネクタ要素と対応して接続される他方のコネクタ要素とからなる表面実装コネクタであって、電気的特性を確認するための計測ピンが接触されるテストパッドを前記一方のコネクタ要素に設けたことを特徴とする。   In order to solve the above problems, a surface mount connector according to the present invention includes one connector element mounted on the surface of a substrate and the other connector element connected corresponding to the one connector element. A surface mount connector, wherein the one connector element is provided with a test pad to which a measurement pin for checking electrical characteristics is contacted.

本発明によれば、基板の表面に実装される一方のコネクタ要素に電気的特性を確認するための計測ピンが接触されるテストパッドを設けたことにより、基板にテストパッドを設ける必要がなくなることから基板の小型化を図ることができる。そして、さらに、計測ピンをテストパッドに対して位置決めする位置決め機構を有することにより、容易に且つ確実に電気的計測を行うことができる。   According to the present invention, it is not necessary to provide a test pad on a board by providing a test pad with which a measurement pin for checking electrical characteristics is in contact with one connector element mounted on the surface of the board. Therefore, the size of the substrate can be reduced. Further, by having a positioning mechanism for positioning the measurement pin with respect to the test pad, electrical measurement can be performed easily and reliably.

(発明の態様)
以下に、本願において特許請求が可能と認識されている発明(以下、「請求可能発明」という場合がある。請求可能発明は、少なくとも、請求の範囲に記載された発明である「本発明」ないし「本願発明」を含むが、本願発明の下位概念発明や、本願発明の上位概念あるいは別概念の発明を含むこともある。)の態様をいくつか例示し、それらについて説明する。各態様は請求項と同様に、項に区分し、各項に番号を付し、必要に応じて他の項の番号を引用する形式で記載する。これは、あくまでも請求可能発明の理解を容易にするためであり、請求可能発明を構成する構成要素の組み合わせを、以下の各項に記載されたものに限定する趣旨ではない。つまり、請求可能発明は、各項に付随する記載,実施例の記載等を参酌して解釈されるべきであり、その解釈に従う限りにおいて、各項の態様にさらに他の構成要素を付加した態様も、また、各項の態様から構成要素を削除した態様も、請求可能発明の一態様となり得るのである。
(Aspect of the Invention)
In the following, the invention that is claimed to be claimable in the present application (hereinafter referred to as “claimable invention”. The claimable invention is at least the “present invention” to the invention described in the claims. Some aspects of the present invention, including subordinate concept inventions of the present invention, superordinate concepts of the present invention, or inventions of different concepts) will be illustrated and described. As with the claims, each aspect is divided into sections, each section is numbered, and is described in a form that cites the numbers of other sections as necessary. This is for the purpose of facilitating the understanding of the claimable invention, and is not intended to limit the combinations of the constituent elements constituting the claimable invention to those described in the following sections. In other words, the claimable invention should be construed in consideration of the description accompanying each section, the description of the embodiments, etc., and as long as the interpretation is followed, another aspect is added to the form of each section. In addition, an aspect in which constituent elements are deleted from the aspect of each item can be an aspect of the claimable invention.

なお、以下の各項において、(1)項が請求項1に相当し、(3)項が請求項2にそれぞれ相当する。
(1)基板の表面に実装される一方のコネクタ要素と、該一方のコネクタ要素と対応して接続される他方のコネクタ要素とからなる表面実装コネクタであって、
電気的特性を確認するための計測ピンが接触されるテストパッドを前記一方のコネクタ要素に設けたことを特徴とする表面実装コネクタ。
(2)テストパッドは、コネクタ内のリードよりも大きい幅を有するように形成されている。そして、この場合においては、テストパッドを千鳥状に配置することができる。
(3)前記計測ピンを前記テストパッドに対して位置決めする位置決め機構を有することを特徴とする(1)に記載の表面実装コネクタ。
(4)位置決め機構は、テストパッドの配置に応じて計測ピンを保持する保持部を一方のコネクタ要素の筐体に対してして位置決めするものとすることができる。
(5)位置決め機構は、テストパッドの配置に応じて保持部に保持された計測ピンをテストパッドへ案内するものとすることができる。
(6)基板に実装されるコネクタに設けられた複数のテストパッドにそれぞれ接触される計測ピンを備えてなるコネクタの電気的特性を確認するための装置であって、コネクタに設けられたテストパッドと対応して計測ピンを保持し、前記コネクタのテストパッドに対して計測ピンを位置決めする保持部を有することを特徴とするコネクタの電気的特性確認装置。
In each of the following items, item (1) corresponds to claim 1 and item (3) corresponds to claim 2.
(1) A surface mount connector comprising one connector element mounted on the surface of a substrate and the other connector element connected correspondingly to the one connector element,
A surface mount connector, wherein a test pad to be contacted with a measurement pin for confirming electrical characteristics is provided on the one connector element.
(2) The test pad is formed to have a larger width than the lead in the connector. In this case, the test pads can be arranged in a staggered manner.
(3) The surface mount connector according to (1), further comprising a positioning mechanism for positioning the measurement pin with respect to the test pad.
(4) The positioning mechanism can position the holding portion that holds the measurement pin with respect to the housing of one connector element according to the arrangement of the test pads.
(5) The positioning mechanism can guide the measurement pin held by the holding unit to the test pad according to the arrangement of the test pad.
(6) A device for confirming the electrical characteristics of a connector comprising measurement pins that are respectively brought into contact with a plurality of test pads provided on a connector mounted on a board, the test pad provided on the connector And a holding part for holding the measuring pin correspondingly and positioning the measuring pin with respect to the test pad of the connector.

本発明の表面実装コネクタの各種実施の形態を、図1〜図9に基づいて詳細に説明する。図において、同一符号は同様の部分または相当する部分に付すものとする。
本発明は、概略、基板3の表面に実装される一方のコネクタ要素1と、この一方のコネクタ要素1と対応して接続される他方のコネクタ要素2と、からなるコネクタであって、電気的特性を確認するための計測ピン40が接触されるテストパッド5を前記一方のコネクタ要素1の導電体10に設けたことを特徴とする。
さらに、本発明のコネクタは、計測ピン40をテストパッド5に対して位置決めする位置決め機構6を有することを特徴とする。
Various embodiments of the surface mount connector of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. In the drawings, the same reference numerals are given to similar or corresponding parts.
The present invention is generally a connector comprising one connector element 1 mounted on the surface of a substrate 3 and the other connector element 2 connected correspondingly to the one connector element 1. A test pad 5 with which a measurement pin 40 for checking characteristics is brought into contact is provided on the conductor 10 of the one connector element 1.
Further, the connector of the present invention is characterized by having a positioning mechanism 6 for positioning the measuring pin 40 with respect to the test pad 5.

図1〜図3は、本発明の表面実装コネクタの第1の実施の形態を示すもので、表面実装コネクタは、そのコネクタ要素として、内部にピン11を有するオス側コネクタ1と、内部にオス側コネクタ1のピン11が差し込まれる端子21を有するメス側コネクタ2と、の一対で構成されている。この実施の形態では、基板3の表面に実装される一方のコネクタ要素をオス側コネクタ1とし、このオス側コネクタ1と接続させる他方のコネクタ要素をメス側コネクタ2として説明する。なお、基板3は、所定のパターンで回路を形成すべくプリント配線されており、回路の端子が基板3の一方の面のオス側コネクタ1を実装する近傍に露出されている。メス側コネクタ2は、全体がオス側コネクタ1の開口15(後述する)に差し込むことができるよう開口15と対応して形成されたもので、オス側コネクタ1の開口15に差し込んだときにオス側コネクタ1の各ピン11(後述する)をそれぞれ受け入れて電気的に接続される端子21が内部に設けられている。各端子21は、メス側コネクタ2の後方(図1〜3の左方)から延びる例えばフラットケーブルなどの導線と接続されている。メス側コネクタ2の上面には、オス側コネクタ1の開口15に対して差し込む方向と平行に突条25aが形成されている。   1 to 3 show a first embodiment of a surface mount connector according to the present invention. The surface mount connector includes a male connector 1 having a pin 11 therein and a male connector inside as a connector element thereof. It is comprised by a pair with the female connector 2 which has the terminal 21 in which the pin 11 of the side connector 1 is inserted. In this embodiment, one connector element mounted on the surface of the substrate 3 will be described as a male connector 1, and the other connector element to be connected to the male connector 1 will be described as a female connector 2. The substrate 3 is printed and wired to form a circuit with a predetermined pattern, and the circuit terminals are exposed in the vicinity of the male connector 1 on one side of the substrate 3 for mounting. The female connector 2 is formed so as to correspond to the opening 15 so that the whole can be inserted into an opening 15 (described later) of the male connector 1. When the female connector 2 is inserted into the opening 15 of the male connector 1, the male connector 2 is male. A terminal 21 that receives and electrically connects each pin 11 (described later) of the side connector 1 is provided inside. Each terminal 21 is connected to a conducting wire such as a flat cable extending from behind the female connector 2 (left side in FIGS. 1 to 3). On the upper surface of the female connector 2, a protrusion 25 a is formed in parallel with the direction of insertion into the opening 15 of the male connector 1.

図2および図3に示すように、オス側コネクタ1の底面には、基板3に対して固定するためのはんだ付けランド16が設けられている。オス側コネクタ1の筐体(本体)の前面(図1〜図3における左方)には、メス側コネクタ2を差し込むための開口15が形成されている。開口15の天上面には、メス側コネクタ2の上面に形成された突条25aと対応する溝15aが、メス側コネクタ2を差し込む方向と平行に形成されている。オス側コネクタ1の筐体の後方(図1〜図3における右方)は段部17が形成されている。筐体内には複数の導電体10が埋設されている。各導電体10の一端は、開口15内に突出されており、開口15内にメス側コネクタ2を差し込んだときに、メス側コネクタ2の端子21内に進入するピン11を構成している。また、各導電体10の他端は、オス側コネクタ1の後方から延びて、基板3に形成された回路パターンの端子と接合されるリード12を構成している。各導電体10のピン11とリード12の間の部分は、筐体後方の段部17の上面に露出しており、部分的に幅を広げるよう形成されたテストパッド5を備えている。   As shown in FIGS. 2 and 3, a soldering land 16 for fixing to the board 3 is provided on the bottom surface of the male connector 1. An opening 15 for inserting the female connector 2 is formed on the front surface (left side in FIGS. 1 to 3) of the housing (main body) of the male connector 1. On the top surface of the opening 15, a groove 15 a corresponding to the protrusion 25 a formed on the upper surface of the female connector 2 is formed in parallel to the direction in which the female connector 2 is inserted. A step portion 17 is formed behind the housing of the male connector 1 (on the right side in FIGS. 1 to 3). A plurality of conductors 10 are embedded in the housing. One end of each conductor 10 protrudes into the opening 15 and constitutes a pin 11 that enters the terminal 21 of the female connector 2 when the female connector 2 is inserted into the opening 15. The other end of each conductor 10 extends from the rear of the male connector 1 and constitutes a lead 12 that is joined to a terminal of a circuit pattern formed on the substrate 3. A portion between each pin 10 and the lead 12 of each conductor 10 is exposed on the upper surface of the stepped portion 17 at the rear of the housing, and includes a test pad 5 formed to partially widen the width.

この実施の形態では、ピン11は開口内で一列に配設されており、互いに隣接する導電体10のテストパッド5が千鳥状に配設されるように交互に位置を異ならせて形成されている。さらに、導電体10は、互いに隣接するリード12が異なる高さで交互に筐体から延びるように、一つおきにテストパッド5の後方が直線状に形成されたもの10A(図2を参照)と、下方に折り曲げられたもの10B(図3を参照)とが配設されている。   In this embodiment, the pins 11 are arranged in a line in the opening, and are formed by alternately shifting the positions so that the test pads 5 of the conductors 10 adjacent to each other are arranged in a staggered manner. Yes. Furthermore, the conductors 10 are formed such that the backs of the test pads 5 are linearly formed so that the adjacent leads 12 alternately extend from the housing at different heights (see FIG. 2). And 10B (see FIG. 3) bent downward.

以上のように構成された表面実装コネクタでは、その電気的特性を確認するに際して、電気的特性確認装置が使用される。電気的特性確認装置は、図2および図3に鎖線で示すように、オス側コネクタ1のテストパッド5とそれぞれ接触される計測ピン40と、各計測ピン40をオス側コネクタ1のテストパッド5と対応するよう保持する保持部41と、を備えている。保持部41は、この実施の形態の場合、オス側コネクタ1の筐体の段部17の垂直な端面17aと摺接することにより、各計測ピン40がテストパッド5と接触するよう形成されている。すなわち、この実施の形態においては、オス側コネクタ1の筐体の段部17の端面17aが、保持部41の一側面と協働して計測ピン40をテストパッド5に対して位置決めする。計測ピン40は、電気的特性確認装置として、テスタなどの一方の電極を構成する。計測ピン40をテストパッド5に接触させるとともに、テスタの他方の電極を、リード12や、リード12とはんだ付けされた基板3の回路、あるいは、オス側コネクタ1と接続されたメス側コネクタ2の導電体20など、所定の計測対象に接触させた状態で、例えば電流を印可してその電流値や電圧値を計測することなどにより、基板3に実装されたオス側コネクタ1の電気的特性を確認することができる。   In the surface mount connector configured as described above, an electrical characteristic confirmation device is used when confirming the electrical characteristics. 2 and 3, the electrical characteristic confirmation device includes a measurement pin 40 that is in contact with the test pad 5 of the male connector 1, and each measurement pin 40 that is connected to the test pad 5 of the male connector 1. And a holding portion 41 that holds the corresponding portions. In the case of this embodiment, the holding portion 41 is formed so that each measurement pin 40 comes into contact with the test pad 5 by sliding contact with the vertical end surface 17 a of the step portion 17 of the housing of the male connector 1. . That is, in this embodiment, the end surface 17 a of the step portion 17 of the housing of the male connector 1 cooperates with one side surface of the holding portion 41 to position the measurement pin 40 with respect to the test pad 5. The measurement pin 40 constitutes one electrode such as a tester as an electrical characteristic confirmation device. The measurement pin 40 is brought into contact with the test pad 5, and the other electrode of the tester is connected to the lead 12, the circuit of the substrate 3 soldered to the lead 12, or the female connector 2 connected to the male connector 1. The electrical characteristics of the male connector 1 mounted on the board 3 are measured by applying a current and measuring the current value or voltage value in a state where the conductor 20 is in contact with a predetermined measurement target, for example. Can be confirmed.

オス側コネクタ1のはんだ付けランド16を基板3にはんだ付けし、各リード12を基板3の回路の端子と接合し終えて電気特性を確認する場合には、電気的特性確認装置の保持部41をオス側コネクタ1の筐体の段部17の端面17aに摺接させるよう保持して、各計測ピン40をオス側コネクタ1の段部17の上面に露出しているテストパッド5と接触させる。テストパッド5が従来の技術のように基板3にではなく、オス側コネクタ1の筐体に設けられているため、基板3にテストパッド5’(図11を参照)を設ける必要がなくなることから、基板3の小型化を図ることができる。また、保持部41の一側面とオス側コネクタ1の段部17の端面17aとを摺接することにより、各計測ピン40がテストパッド5に対して正確に接触されるため、確実に各導電体10の電気的特性を確認することができる。なお、電気的特性の確認が終了したら、電気的特性確認装置の保持部41は、オス側コネクタ1の筐体の段部17の端面17aから容易に引き離すことができる。   When the soldering lands 16 of the male connector 1 are soldered to the board 3 and each lead 12 is joined to the circuit terminal of the board 3 to check the electric characteristics, the holding part 41 of the electric characteristic checking apparatus is used. Is held in sliding contact with the end surface 17a of the stepped portion 17 of the housing of the male connector 1, and each measurement pin 40 is brought into contact with the test pad 5 exposed on the upper surface of the stepped portion 17 of the male connector 1. . Since the test pad 5 is provided not on the board 3 as in the prior art but on the housing of the male connector 1, it is not necessary to provide the test pad 5 ′ (see FIG. 11) on the board 3. The substrate 3 can be downsized. In addition, since each measurement pin 40 is accurately brought into contact with the test pad 5 by slidingly contacting one side surface of the holding portion 41 and the end surface 17a of the step portion 17 of the male connector 1, each conductor is surely provided. Ten electrical characteristics can be confirmed. When the confirmation of the electrical characteristics is completed, the holding part 41 of the electrical characteristic confirmation apparatus can be easily separated from the end surface 17a of the stepped portion 17 of the casing of the male connector 1.

次に、本発明の第2の実施の形態を図4および図5に基づいて説明する。なお、この実施の形態においては、上述した第1の実施の形態と同様のまたは相当する部分については同じ符号を付してその説明を省略し、異なる部分のみを説明することとする。
この実施の形態におけるオス側コネクタ1の段部17の外周縁には、位置決め機構6を構成する壁部60が形成されている。電気的特性を確認するに際しては、オス側コネクタ1の筐体の段部17の端面17aと壁部60とによって囲まれるように形成される部分に電気的特性確認装置の保持部41を差し込み保持する。これにより、第1の実施の形態のように保持部41を段部17の端面17aに摺接させるよう保持した状態を維持し続ける必要なく、計測ピン40をテストパッド5に接触させ続けることができる。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In this embodiment, parts that are the same as or correspond to those in the above-described first embodiment are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different parts are described.
A wall portion 60 constituting the positioning mechanism 6 is formed on the outer peripheral edge of the step portion 17 of the male connector 1 in this embodiment. When checking the electrical characteristics, the holding part 41 of the electrical characteristic checking apparatus is inserted and held in a part formed so as to be surrounded by the end surface 17a of the stepped part 17 of the housing of the male connector 1 and the wall part 60. To do. Thereby, it is possible to keep the measuring pin 40 in contact with the test pad 5 without having to keep maintaining the holding portion 41 in sliding contact with the end surface 17a of the stepped portion 17 as in the first embodiment. it can.

次に、本発明の第3の実施の形態を図6および図7に基づいて説明する。なお、この実施の形態においては、上述した第1および第2の実施の形態と同様のまたは相当する部分については同じ符号を付してその説明を省略し、異なる部分のみを説明することとする。
この実施の形態におけるオス側コネクタ1の筐体は、上述した実施の形態のような段部17が形成されておらず、導電体10に設けられたテストパッド5と対応する位置に、位置決め機構6を構成する穴61が上面に開口するよう形成されている。また、電気的特性確認装置の計測ピン40は、穴61の深さ以上の長さを有している。電気的特性を確認するに際しては、電気的特性確認装置の計測ピン40を穴61に挿入してその先端をテストパッド5に接触させる。これにより、計測ピン40は、穴61に案内され保持されて自重でテストパッド5に確実に接触し続け、しかも互いに隣接する計測ピン40同士が接触することがない。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In this embodiment, parts that are the same as or correspond to those in the first and second embodiments described above are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and only different parts are described. .
The casing of the male connector 1 in this embodiment is not formed with the step portion 17 as in the above-described embodiment, and is positioned at a position corresponding to the test pad 5 provided on the conductor 10. 6 is formed so as to open on the upper surface. Further, the measuring pin 40 of the electrical characteristic confirmation device has a length that is equal to or greater than the depth of the hole 61. When confirming the electrical characteristics, the measuring pin 40 of the electrical characteristics confirmation device is inserted into the hole 61 and the tip thereof is brought into contact with the test pad 5. As a result, the measurement pin 40 is guided and held in the hole 61 and continues to reliably contact the test pad 5 with its own weight, and the measurement pins 40 adjacent to each other do not contact each other.

次に、本発明の第4の実施の形態を図8および図9に基づいて説明する。なお、この実施の形態においては、上述した第1〜第3の実施の形態と同様のまたは相当する部分については同じ符号を付してその説明を省略し、異なる部分のみを説明することとする。
この実施の形態における表面実装コネクタは、メス側コネクタ2の端子21およびオス側コネクタ1のピン11が2段に設けられている。また、オス側コネクタ1の導電体10は、ピン11を構成する一端とリード12を構成する他端との間の中間部分を分岐させて、その先端にテストパッド5が構成されている。なお、この実施の形態においても、上述した第2の実施の形態のようにオス側コネクタ1の段部17の外周縁に壁部60を形成したり、第3の実施の形態のようにオス側コネクタ1の上面に穴61を開口するよう形成してもよい。
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In this embodiment, the same or corresponding parts as those in the first to third embodiments described above are denoted by the same reference numerals, the description thereof is omitted, and only different parts are described. .
In the surface mount connector in this embodiment, the terminal 21 of the female connector 2 and the pin 11 of the male connector 1 are provided in two stages. Further, the conductor 10 of the male connector 1 branches an intermediate portion between one end constituting the pin 11 and the other end constituting the lead 12, and the test pad 5 is constituted at the tip thereof. Also in this embodiment, a wall 60 is formed on the outer peripheral edge of the step 17 of the male connector 1 as in the second embodiment described above, or a male as in the third embodiment. You may form so that the hole 61 may be opened in the upper surface of the side connector 1. FIG.

なお、本発明は、上述した実施の形態に限定されることはなく、例えばメス側コネクタ2を基板3上に実装する場合にも適用することができる。この場合にあっては、メス側コネクタ2の導電体20の端子21とは反対側の端子が基板3の回路に接続されるリードを構成し、端子21とリードとの間にテストパッド5が設けられる。そして、メス側コネクタ2の筐体に、第1の実施の形態におけるオス側コネクタの段部17のようにテストパッド5を露出させる段部を形成し、また、第2の実施の形態におけるオス側コネクタの壁部60のように段部の外周縁に壁部を形成し、あるいは、第3の実施の形態におけるオス側コネクタの穴61のようにメス側コネクタ2の上面に穴を開口するよう形成してもよい。   In addition, this invention is not limited to embodiment mentioned above, For example, it can apply also when mounting the female connector 2 on the board | substrate 3. FIG. In this case, the terminal opposite to the terminal 21 of the conductor 20 of the female connector 2 constitutes a lead connected to the circuit of the substrate 3, and the test pad 5 is provided between the terminal 21 and the lead. Provided. And the step part which exposes the test pad 5 like the step part 17 of the male side connector in 1st Embodiment is formed in the housing | casing of the female side connector 2, and the male in 2nd Embodiment is formed. A wall portion is formed on the outer peripheral edge of the step portion like the wall portion 60 of the side connector, or a hole is opened in the upper surface of the female side connector 2 like the hole 61 of the male side connector in the third embodiment. You may form so.

本発明の表面実装コネクタの第1の実施の形態を説明するために一部を断面として示した平面図である。It is the top view which showed a part as a cross section in order to demonstrate 1st Embodiment of the surface mount connector of this invention. 図1に示した表面実装コネクタのオス側コネクタの断面図である。It is sectional drawing of the male side connector of the surface mount connector shown in FIG. 図1に示した表面実装コネクタのオス側コネクタの第2図とは異なる部分の断面図である。It is sectional drawing of the part different from FIG. 2 of the male side connector of the surface mount connector shown in FIG. 本発明の表面実装コネクタのオス側コネクタの第2の実施の形態を説明するために一部を断面として示した平面図である。It is the top view which showed a part as a cross section in order to demonstrate 2nd Embodiment of the male side connector of the surface mount connector of this invention. 図4の断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of FIG. 4. 本発明の表面実装コネクタのオス側コネクタの第3の実施の形態を説明するために示した平面図である。It is the top view shown in order to demonstrate 3rd Embodiment of the male side connector of the surface mount connector of this invention. 図6の断面図である。It is sectional drawing of FIG. 本発明の表面実装コネクタの第4の実施の形態を説明するために示した斜視図である。It is the perspective view shown in order to demonstrate 4th Embodiment of the surface mount connector of this invention. 図8の断面図である。It is sectional drawing of FIG. 従来の一般的なコネクタとその電気的特性を確認する状態を説明するために示した説明図である。It is explanatory drawing shown in order to demonstrate the state which confirms the conventional general connector and its electrical property. 従来の一般的なコネクタと、テストランドが設けられた基板を説明するために示した説明図である。It is explanatory drawing shown in order to demonstrate the board | substrate with which the conventional general connector and the test land were provided.

符号の説明Explanation of symbols

1:オス側コネクタ(一方のコネクタ要素)、 2メス側コネクタ(他方のコネクタ要素)、 3:基板、5:テストパッド、6:位置決め機構、 11:ピン、 12:リード、 15:開口、17:段部、 21:端子、 40:計測ピン、 41:保持部
1: male connector (one connector element), 2 female connector (the other connector element), 3: substrate, 5: test pad, 6: positioning mechanism, 11: pin, 12: lead, 15: opening, 17 : Step part, 21: Terminal, 40: Measuring pin, 41: Holding part

Claims (2)

基板の表面に実装される一方のコネクタ要素と、該一方のコネクタ要素と対応して接続される他方のコネクタ要素とからなる表面実装コネクタであって、
電気的特性を確認するための計測ピンが接触されるテストパッドを前記一方のコネクタ要素に設けたことを特徴とする表面実装コネクタ。
A surface mount connector comprising one connector element mounted on the surface of a substrate and the other connector element connected corresponding to the one connector element,
A surface mount connector, wherein a test pad to be contacted with a measurement pin for confirming electrical characteristics is provided on the one connector element.
前記計測ピンを前記テストパッドに対して位置決めする位置決め機構を有することを特徴とする請求項1に記載の表面実装コネクタ。
The surface mount connector according to claim 1, further comprising a positioning mechanism that positions the measurement pin with respect to the test pad.
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