JP3980162B2 - Cleaning agent for resin stains of electronic parts - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体基板やリードフレーム等の電子部品の洗浄に好適に用いられる電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、半導体装置の高集積化等をはじめとする電子機器の複雑化に伴って、これら電子機器に用いられる例えば半導体基板やリードフレーム等の電子部品におけるパターンの微細化や複雑化、並びに、薄膜化が進んでいる。
【0003】
これら半導体基板やリードフレーム等の電子部品の表面は非常に敏感であり、これら電子部品表面が汚染されていると、これら電子部品における表面伝導やその他のパラメータに影響を及ぼしたり、pn接合耐圧の低下や膜剥がれ等を招来する。このため、これら電子部品表面の汚染は、これら電子部品の寿命を速めると共に、信頼性の低下につながる。従って、これら電子部品の製造工程において、これら電子部品に付着した汚染物を除去するための洗浄工程は必要不可欠であり、これら電子部品表面の汚染物を除去することにより、これら電子部品の特性の安定性、再現性を著しく改善することができる。
【0004】
これら電子部品表面の汚染としては、例えば、ワックス、レジン、フォトレジスト等の樹脂あるいは未反応モノマーによるいわゆる樹脂汚れや、配線やメッキ等に用いられる銅やニッケル等の金属の(微)粒子および金属イオン並びに金属不純物等の付着が挙げられる。
【0005】
従来、シリコンウェハ上の(微)粒子や金属不純物等の分解除去に用いられる洗浄剤としては、アンモニア水に他の薬品を添加してなる水溶液が多用され、そのなかでも、アンモニア水と過酸化水素と水とを混合したいわゆるSC−1洗浄液が一般的に用いられている。
【0006】
しかしながら、パターンの微細化や複雑化、並びに、薄膜化等が進む近年の電子部品の洗浄事情において、上記SC−1洗浄液は、電子部品表面に付着した(微)粒子等の汚染物除去能力が不充分であり、しかも、金属不純物をシリコンウェハ表面に吸着させ易く、シリコン基板に対してエッチング作用を有するという問題点を有している。
【0007】
そこで、上記の問題点を解決すべく、シリコンウェハ洗浄用の組成物として、特定のフッ素系界面活性剤と二つ以上のホスホン酸基を有する化合物とアンモニアとを含有してなる洗浄剤組成物(特開平9−286999号公報)や、アルカリ性水溶液または酸性水溶液に特定の酸化剤を添加してなる洗浄剤組成物(特開平9−279189号公報)が提案されている。
【0008】
一方、半導体基板やリードフレーム等の樹脂汚れに用いられる洗浄剤としては、水酸化ナトリウムや水酸化カリウムを主成分とするアルカリ洗浄剤や塩化メチレン等が多用されている。さらに、近年では、このような樹脂汚れの洗浄に関し、特定の芳香族単環化合物、グリコールエーテル化合物、およびエチレングリコール系化合物を含む洗浄剤組成物(I)で樹脂汚れを崩壊・溶解し、特定の芳香族化合物、金属封止剤、アルカリ金属水酸化物、および水を含む洗浄剤組成物(II)で樹脂汚れを剥離する方法(特開平9−263792号公報)が提案されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来より樹脂汚れの洗浄剤として用いられている水酸化ナトリウムや水酸化カリウムを主成分とするアルカリ洗浄剤は洗浄力が不充分であり、樹脂汚れを完全に除去するには手間と時間とが必要であるという問題点を有している。さらに、塩化メチレンは、発癌性が問われており、排水や大気中への漏洩に対して厳しく規制されていると共に、その使用の削減あるいは禁止が求められている。
【0010】
また、特開平9−263792号公報に記載の洗浄剤組成物(I)・(II)は、各々単独では洗浄性が充分ではなく、互いに混合して用いるか、あるいは、洗浄剤組成物(I)で洗浄した後、さらに洗浄剤組成物(II)で洗浄する必要がある。このため、洗浄剤組成物の調製が複雑化したり、洗浄に時間を要するため、洗浄にかかる費用が増加し、経済的ではない。
【0011】
さらに、シリコンウェハ等の半導体基板の洗浄に用いられる特開平9−279189号公報に記載の洗浄剤組成物は、アルカリ性水溶液または酸性水溶液の調製に、アンモニア、フッ化水素、(濃)塩酸、または(濃)硫酸等を用いており、毒性や刺激性が強く、取り扱いには注意を要する。
【0012】
また、本願発明者等が検討した結果、特開平9−286999号公報に記載の洗浄剤組成物は、添加した界面活性剤の作用により生じる気泡の消泡性が未だ充分ではなく、しかも、シリコンウェハ表面に付着した粒子の除去能力についても満足し得るものではないことが判った。
【0013】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであり、その目的は、消泡性並びに洗浄性に優れる安価で安全な電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本願発明者等は、上記従来の問題点を解決すべく鋭意検討した結果、モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体を含むモノエチレン性不飽和単量体成分をポリエーテル化合物にグラフト重合してなる水溶性グラフト重合体を含む洗浄剤が、消泡性、洗浄性、安全性に優れ、かつ安価であり、電子部品の洗浄に好適であることを見い出して本発明を完成させるに至った。
【0015】
即ち、発明に係る電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤は、上記の課題を解決するために、モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体を含むモノエチレン性不飽和単量体成分をポリエーテル化合物にグラフト重合してなる水溶性グラフト重合体、アンモニア、過酸化水素、水、フッ素系界面活性剤およびホスホン酸化合物を含むことを特徴としている。上記電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤において、上記水溶性グラフト重合体の配合割合は0.5重量%〜60重量%の範囲内であり、上記アンモニアの配合割合は2重量%〜90重量%の範囲内であり、上記過酸化水素の配合割合は0.5重量%〜70重量%の範囲内であり、上記フッ素系界面活性剤の配合割合は0.1重量%〜40重量%の範囲内であり、上記ホスホン酸化合物の配合割合は0.01重量%〜20重量%の範囲内であることが好ましい。さらに、水は、各成分の合計量を100重量部としたときの残部であり、水の配合割合は5重量%〜98重量%の範囲内であることが好ましい。
【0016】
上記水溶性グラフト重合体は、多価金属イオンのキレート化能並びに分散能に優れ、洗浄液、即ち、被洗浄物の洗浄時における電子部品用の樹脂汚れ洗浄剤中の多価金属イオンをキレートし、被洗浄物への多価金属イオンの(再)付着を抑えることができると共に、被洗浄物から剥離した樹脂や(微)粒子等の汚染物の被洗浄物への再付着を抑制することができる。また、上記水溶性グラフト重合体は、泡立ちが少なく、しかも、消泡性に優れている。
【0017】
さらに、上記の水溶性グラフト重合体は、製造にかかる費用が安価であり、かつ、上記水溶性グラフト重合体を含む電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤が、低泡性、消泡性、洗浄性に優れることから、作業性にも優れ、洗浄時間や洗浄回数、すすぎ水の量等を削減することができ、この結果、洗浄にかかる費用を低減させることができる。また、上記の水溶性グラフト重合体は、残存する単量体量が少なく、ほとんど毒性がない。しかも、上記の水溶性グラフト重合体は、洗浄性を向上させることができるため、より穏和な条件で洗浄を行うことができる。従って、上記の構成によれば、消泡性並びに洗浄性に優れる安価で安全な電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤を提供することができる。
【0018】
以下に本発明を詳しく説明する。
【0019】
本発明にかかる上記水溶性グラフト重合体は、ポリエーテル化合物(A)に、モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体を必須成分として含むモノエチレン性不飽和単量体成分(B)をグラフト重合してなる。
【0020】
本発明において、上記水溶性グラフト重合体の原料として用いられる上記のポリエーテル化合物(A)は、特に限定されるものではないが、好ましくは、エチレンオキサイドを主な構成単位として含む数平均分子量100以上の化合物であり、より好ましくは、エチレンオキサイドを80モル%以上、構成単位として含む化合物である。
【0021】
上記のポリエーテル化合物(A)は、例えば、エチレンオキサイドおよび該エチレンオキサイドと共重合可能なアルキレンオキサイド(以下、その他のアルキレンオキサイドと記す)を水またはアルコールを開始点として公知の方法で重合することにより、容易に得ることができる。
【0022】
上記その他のアルキレンオキサイドとしては、特に限定されるものではないが、プロピレンオキサイドまたはブチレンオキサイドが好ましい。
【0023】
上記ポリエーテル化合物(A)におけるエチレンオキサイドからなる構成単位とその他のアルキレンオキサイドからなる構成単位の割合、即ち、上記ポリエーテル化合物(A)を製造する際のエチレンオキサイドと、その他のアルキレンオキサイドとの使用割合は、エチレンオキサイドが全体の80モル%以上、上記その他のアルキレンオキサイドの量が全体として20モル%未満とすることが好ましい。上記その他のアルキレンオキサイドの量が20モル%以上であれば、該ポリエーテル化合物(A)を用いて得られる水溶性グラフト重合体のグラフト率が低下する虞れがある。
【0024】
また、上記ポリエーテル化合物(A)を得るためのアルコールとしては、具体的には、例えば、メタノール、エタノール、n−プロパノール、n−ブタノール等の炭素数1〜22の1級または2級アルコール;イソプロパノール、2−ブタノール等の炭素数3〜18の2級アルコール;t−ブタノール等の3級アルコール;エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロパンジオール、ブタンジオール、プロピレングリコール等のジオール類;グリセリン、トリメチロールプロパン等のトリオール類;ソルビトール等のポリオール類;フェノール、ナフトール等の芳香族アルコール類;等が挙げられるが、特に限定されるものではない。
【0025】
このようにして得られた上記ポリエーテル化合物(A)の数平均分子量は100以上であることが好ましく、500以上であることがより好ましい。また、上記ポリエーテル化合物(A)の数平均分子量の上限は、特に限定されるものではないが、好ましくは20,000以下であり、ポリエーテル化合物(A)が2つ以上の水酸基を有する場合には、6,000以下であることが好ましい。上記ポリエーテル化合物(A)の数平均分子量が100未満の場合には、グラフト重合に関与しないポリエーテル化合物(A)が多くなる。また、数平均分子量が20,000を越えると、耐ゲル化性能が低下し、多価金属イオンキレート能が低下する虞れがある。
【0026】
尚、上記ポリエーテル化合物(A)としては、全ての末端または一部の末端の水酸基を炭素数2〜22の脂肪酸、コハク酸、無水コハク酸、マレイン酸、無水マレイン酸、アジピン酸等のジカルボン酸でエステル化したものも含まれる。
【0027】
また、上記水溶性グラフト重合体の原料のうち、上記のモノエチレン性不飽和単量体成分(B)は、モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体を必須成分として含むものである。
【0028】
本発明において、上記モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体としては、(メタ)アクリル酸が特に好ましく、上記モノエチレン性不飽和単量体成分(B)中には、(メタ)アクリル酸が、40モル%〜100モル%の範囲内で含まれることが好ましい。
【0029】
また、本発明において、上記ポリエーテル化合物(A)に対するモノエチレン性不飽和単量体成分(B)のグラフト率としては、ポリエーテル化合物(A)100重量%に対してモノエチレン性不飽和単量体成分(B)が25重量%以上グラフト重合されていることが好ましく、モノエチレン性不飽和単量体成分(B)のなかでも、モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体として、(メタ)アクリル酸が、ポリエーテル化合物(A)100重量%に対して20重量%以上グラフト重合されていることがより好ましい。上記ポリエーテル化合物(A)に対するモノエチレン性不飽和単量体成分(B)の割合が25重量%未満であれば、得られる水溶性グラフト重合体のカルボン酸密度が少なくなり、各種性能、例えば、多価金属イオンキレート能、分散能等が満足されないので好ましくない。また、モノエチレン性不飽和単量体成分(B)の使用量が100重量%以上の場合には、得られる水溶性グラフト重合体のカルボン酸量(カルボン酸密度)が高くなりすぎ、多価金属イオンにより、得られる水溶性グラフト重合体がゲル化し易くなる。
【0030】
上記(メタ)アクリル酸と共重合可能なモノエチレン性不飽和単量体、即ち、上記(メタ)アクリル酸以外のモノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体並びにこれらモノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体以外のモノエチレン性不飽和単量体(以下、これらをまとめてその他のモノエチレン性不飽和単量体と記す)としては、特に限定されるものではないが、上記(メタ)アクリル酸以外のモノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体としては、具体的には、例えば、(メタ)アクリル酸、マレイン酸、フマル酸、無水マレイン酸等が挙げられる。また、これらモノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体以外のモノエチレン性不飽和単量体としては、具体的には、例えば、マレイン酸ジメチル、マレイン酸ジエチル等のマレイン酸のアルキルエステル類;フマル酸ジメチル、フマル酸ジエチル等のフマル酸のアルキルエステル類;メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、ステアリル(メア)アクリレート等のアルキル(メタ)アクリレート;ハイドロキシエチル(メタ)アクリレート、ハイドロキシプロピル(メタ)アクリレート等のハイドロキシアルキル(メタ)アクリレート;酢酸ビニル等の酢酸アルケニルエステル類;スチレン等の芳香族ビニル類;(メタ)アクリロニトリル、(メタ)アクロレイン、(メタ)アクリルアミド;ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート等のジアルキルアミノエチル(メタ)アクリレート;2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸等が挙げられる。これらその他のモノエチレン性不飽和単量体は、一種類のみを用いてもよく、適宜二種類以上を混合して用いてもよい。これらその他のモノエチレン性不飽和単量体のなかでも、得られる水溶性グラフト重合体のカルボン酸密度や分散能を高める点から、マレイン酸、フマル酸、無水マレイン酸を上記(メタ)アクリル酸と共用することが好ましい。
【0031】
上記モノエチレン性不飽和単量体成分(B)における(メタ)アクリル酸と共重合可能なその他のモノエチレン性不飽和単量体との割合は、水溶性グラフト重合体へのカルボン酸の導入率や残存単量体量から、(メタ)アクリル酸40モル%〜100モル%に対し、その他のモノエチレン性不飽和単量体0モル%〜60モル%の範囲内(但し、両者の合計は100モル%とする)であることが好ましく、マレイン酸を20モル%〜50モル%の範囲内で使用することがより好ましく、30モル%〜45モル%の範囲内で使用することが最も好ましい。
【0032】
そして、上記モノエチレン性不飽和単量体成分(B)が、その他のモノエチレン性不飽和単量体のなかでも、モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体以外のモノエチレン性不飽和単量体を含む場合には、該不飽和カルボン酸系単量体以外のモノエチレン性不飽和単量体(即ち、カルボキシル基を持たないモノエチレン性不飽和単量体)の含有量は、20モル%以下であることが好ましい。上記不飽和カルボン酸系単量体以外のモノエチレン性不飽和単量体の含有量が20モル%を超えると、得られる水溶性グラフト重合体へのカルボン酸の導入率が低下し、残存する単量体量が多くなると共に、カルボン酸密度が低くなり、多価金属イオンキレート能、分散能等が満足されないので好ましくない。
【0033】
尚、上記その他のモノエチレン性不飽和単量体として(メタ)アクリル酸以外のモノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体を用いる場合には、(メタ)アクリル酸の含有量が40モル%未満であっても、得られる水溶性グラフト重合体のカルボン酸密度は低下しない。しかしながら、この場合には、(メタ)アクリル酸の含有量が40モル%未満であれば、マレイン酸、フマル酸、無水マレイン酸等の上記水溶性グラフト重合体への導入率が低下し、残存する単量体量が多くなる傾向にある。
【0034】
本発明において、上記ポリエーテル化合物(A)とモノエチレン性不飽和単量体成分(B)とのグラフト重合は、重合開始剤の存在下、実質的に触媒並びに溶媒を用いずに行われる。
【0035】
上記ポリエーテル化合物(A)とモノエチレン性不飽和単量体成分(B)とを、水、あるいは、アルコール、トルエン等の有機溶媒の存在下にてグラフト重合した場合、ポリエーテル化合物(A)へのモノエチレン性不飽和単量体(B)のグラフト効率が低下するため好ましくない。従って、重合開始剤やモノエチレン性不飽和単量体成分(B)の添加のために溶媒を使用する場合には、その量を極力少なくすることが好ましい。具体的には、重合反応系の全量に対して5重量%以下の量とするか、溶媒添加後、重合反応系から直ちに留去することが好ましい。
【0036】
上記の重合開始剤としては、公知のラジカル重合開始剤を用いることができるが、そのなかでも有機過酸化物が特に好ましい。本発明においてラジカル重合開始剤として用いることができる上記の有機過酸化物としては、具体的には、例えば、メチルエチルケトンパーオキサイド、シクロヘキサノンパーオキサイド等のケトンパーオキサイド類;t−ブチルハイドロパーオキサイド、クメンハイドロパーオキサイド、ジイソプロピルベンゼンハイドロパーオキサイド、p−メンタンハイドロパーオキサイド、2,5−ジメチルヘキサン−2,5−ジハイドロパーオキサイド、1,1,3,3−テトラメチルブチルハイドロパーオキサイド等のハイドロパーオキサイド類;ジ−t−ブチルパーオキサイド、t−ブチルクミルパーオキサイド、ジクミルパーオキサイド、α,α’−ビス(t−ブチルパーオキシ)p−ジイソプロピルベンゼン、α,α’−ビス(t−ブチルパーオキシ)p−ジイソプロピルヘキシン等のジアルキルパーオキサイド類;t−ブチルパーオキシアセテート、t−ブチルパーオキシラウレート、t−ブチルパーオキシベンゾエート、ジ−t−ブチルパーオキシイソフタレート、2,5−ジメチル−2,5−ジ(ベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパーオキシイソプロピルカーボネート等のパーオキシエステル類;n−ブチル−4,4−ビス(t−ブチルパーオキシ)バレエート、2,2−ビス(t−ブチルパーオキシ)ブタン等のパーオキシケタール類;ジベンゾイルパーオキサイド等のジアシルパーオキサイド類;等が挙げられる。
【0037】
これら重合開始剤の使用量は特に限定されるものではないが、モノエチレン性不飽和単量体成分(B)に対して、0.1重量%〜15重量%の割合で使用することが好ましく、0.5重量%〜10重量%の割合で使用することがさらに好ましい。重合開始剤の使用量が上記の範囲を逸脱する場合には、ポリエーテル化合物(A)に対するモノエチレン性不飽和単量体成分(B)のグラフト重合効率が低下する。尚、重合開始剤は、予めポリエーテル化合物(A)に添加しておいてもよいし、モノエチレン性不飽和単量体成分(B)と同時に添加してもよい。
【0038】
また、重合温度は100℃以上であり、好ましくは110℃〜160℃の範囲内であり、より好ましくは110℃〜140℃の範囲内である。重合温度が100℃よりも低ければ、ポリエーテル化合物(A)へのモノエチレン性不飽和単量体成分(B)のグラフト効率が低下する。一方、重合温度が160℃を超えると、ポリエーテル化合物(A)および得られる水溶性グラフト重合体が熱分解する虞れがある。
【0039】
本発明において、上記グラフト重合を行う際には、上記ポリエーテル化合物(A)の一部、または全量を初期に仕込んでおくことが好ましい。また、モノエチレン性不飽和単量体成分(B)において、前記その他のモノエチレン性不飽和単量体としてマレイン酸、フマル酸、無水マレイン酸等のモノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体を用いる場合には、これらその他のモノエチレン性不飽和単量体の半量以上を予めポリエーテル化合物(A)とともに初期に仕込んで混合し、得られた混合物を100℃以上になるまで加熱した後、この混合物に残りのモノエチレン性不飽和単量体成分(B)と重合開始剤とを各々別々に添加してグラフト重合する方法が特に好ましい。上記モノエチレン性不飽和単量体成分(B)と重合開始剤とを各々別々に添加する方法としては、例えば、滴下装置を用いて、上記モノエチレン性不飽和単量体成分(B)と重合開始剤とを同時に別々の滴下装置から上記混合物に滴下する方法等が挙げられるが、特に限定されるものではない。
【0040】
上記の方法を採用することにより、マレイン酸、フマル酸、無水マレイン酸等のモノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体の水溶性グラフト重合体への導入率を大幅に向上させることができる。尚、ポリエーテル化合物(A)の一部を初期に仕込む場合には、残りのポリエーテル化合物(A)は、重合開始剤またはモノエチレン性不飽和単量体成分(B)と混合して添加してもよい。
【0041】
このようにして得られた水溶性グラフト重合体は、ポリエチレングリコール鎖にグラフトしたモノエチレン性カルボン酸系単量体によるカルボキシル基を多数有するポリアニオン構造であり、泡が立ちにくく、また、消泡性にも優れている。
【0042】
上記水溶性グラフト重合体は、水に対する溶解度が1%以上の重合体である。上記水溶性グラフト重合体は、そのまま用いてもよく、上記グラフト重合反応終了後、塩基性化合物を添加して中和することにより、例えば、ナトリウム塩、カリウム塩等の1価金属塩;カルシウム塩等の2価金属塩;アルミニウム塩等の3価金属塩;アンモニウム塩;モノエタノールアミン塩、トリエタノールアミン塩等の有機アミン塩;等の塩にして用いてもよく、重合前に部分中和または完全中和して用いてもよい。上記塩基性化合物を添加する際に用いられる溶媒としては水が好ましいが、特に限定されるものではない。
【0043】
また、上記水溶性グラフト重合体の重量平均分子量は、特に限定されるものではないが、500〜50,000の範囲内であることが好ましい。上記の重量平均分子量が500未満であれば、キレート力が低下する結果、洗浄性が低下する傾向がある。一方、上記の重量平均分子量が50,000を超えると、多価金属イオンにより該水溶性グラフト重合体がゲル化し易くなり、洗浄性が低下する傾向がある。
【0044】
本発明にかかる電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤(以下、単に洗浄剤と記す)は、上記の水溶性グラフト重合体を含んでなっている。上記洗浄剤による洗浄を適用することができる被洗浄物としては、特に限定されるものではないが、例えば、シリコンウェハ等の半導体基板、リードフレーム、液晶カラーフィルタ、磁気ヘッド等のセラミック電子部品、プリント配線板等が挙げられる。また、上記洗浄剤によって除去される汚染物としては、例えば、ワックス、レジン、フォトレジスト等の樹脂および未反応モノマーや、配線やメッキ等に用いられる銅やニッケル等の金属の(微)粒子および金属イオン並びに金属不純物等が挙げられる。
【0045】
本発明において、上記洗浄剤中に含まれる上記水溶性グラフト重合体以外の成分としては、特に限定されるものではなく、例えば、界面活性剤、ホスホン酸系化合物、アンモニア、過酸化水素、アルカリ金属水酸化物、金属封止剤等のなかから、被洗浄物や除去すべき汚染物の種類等に応じて適宜配合すればよい。
【0046】
本発明にかかる上記の洗浄剤をシリコンウェハ用の洗浄剤として用いる場合には、上記洗浄剤は、上記水溶性グラフト重合体を必須成分とし、さらにアンモニア、過酸化水素、水を含むことが好ましく、これらアンモニア、過酸化水素、水に加えてさらにフッ素系界面活性剤並びにホスホン酸系化合物を含むことがより好ましい。
【0047】
上記洗浄剤における上記水溶性グラフト重合体の配合割合は、洗浄性の面から、0.5重量%〜60重量%の範囲内が好ましく、0.8重量%〜40重量%の範囲内がより好ましく、1重量%〜30重量%の範囲内が最も好ましい。
【0048】
また、上記アンモニアの配合割合は、洗浄性の面から、2重量%〜90重量%の範囲内が好ましく、10重量%〜60重量%の範囲内がより好ましく、20重量%〜50重量%の範囲内が最も好ましい。該アンモニアとしては、市販のアンモニア水を、アンモニアの配合量が上記の範囲内となるように適宜調整して用いることができる。
【0049】
上記過酸化水素の配合割合は、洗浄性の面から、0.5重量%〜70重量%の範囲内が好ましく、1重量%〜50重量%の範囲内がより好ましく、2重量%〜30重量%の範囲内が最も好ましい。該過酸化水素としては、市販の過酸化水素水を、過酸化水素の配合量が上記の範囲内となるように適宜調整して用いることができる。
【0050】
また、上記フッ素系界面活性剤としては、フッ素系界面活性剤として市販されている公知の化合物を用いることができる。該フッ素系界面活性剤としては、例えば、フルオロブチルスルホンアミド等のフルオロアルキルスルホンアミド型のフッ素系界面活性剤等が好適である。これらフッ素系界面活性剤は、一種類のみを用いてもよく、適宜二種類以上を混合して用いてもよい。これらフッ素系界面活性剤は、アンモニア水に溶解して用いられる。
【0051】
上記洗浄剤におけるフッ素系界面活性剤の配合割合は、特に限定されるものではないが、0.1重量%〜40重量%の範囲内が好ましく、0.2重量%〜30重量%の範囲内がより好ましく、0.3重量%〜20重量%の範囲内が最も好ましい。上記の割合でフッ素系界面活性剤を用いることにより、洗浄剤の洗浄性がより一層向上され、洗剤剤のいわゆるコンパクト化を図ることができる。上記フッ素系界面活性剤の使用量が0.1重量%未満であれば、界面活性剤としての性能が低下する傾向にある。一方、該フッ素系界面活性剤の使用量を40重量%よりも多くしても、フッ素系界面活性剤量の増加に比例した、洗浄性能等のさらなる向上は望めず、添加したフッ素系界面活性剤の一部が無駄になり、経済的に不利となるので好ましくない。
【0052】
また、上記ホスホン酸系化合物としては、具体的には、例えば、N,N,N',N’−エチレンジアミンテトラ(メチレンホスホン酸)、1−ヒドロキシエチリデン−1、1−ジホスホン酸、ニトリロトリス(メチレンホスホン酸)、グリシン−N,N−ビスメチレンホスホン酸、フイチン酸、メチルジホスホン酸、エチリデンジホスホン酸、エチレンジアミンビス(メチレンホスホン酸)、ジエチレントリアミンペンタ(メチレンホスホン酸)、トリエチレンテトラミンヘキサ(メチレンホスホン酸)、プロピレンジアミンテトラ(メチレンホスホン酸)、ヘキサメチレンジアミンテトラ(メチレンホスホン酸)、グリコールエーテルジアミンテトラ(メチレンホスホン酸)、ヘキセンジアミンテトラキス(メチレンホスホン酸)、トランス−1,2−シクロヘキサンジアミンテトラ(メチレンホスホン酸)、トリアミノトリエチルアミンヘキサ(メチレンホスホン酸)、テトラエチレンペンタミンヘキサ(メチレンホスホン酸)、テトラエチレンペンタミンヘプタ(メチレンホスホン酸)、エチルアミノビス(メチレンホスホン酸)、ドデシルアミノビス(メチレンホスホン酸)、1−ヒドロキシプロピリデン−1,1−ジホスホン酸、1−ヒドロキシブチリデン−1,1−ジホスホン酸等が挙げられる。特に好ましくはN,N,N',N’−エチレンジアミンテトラ(メチレンホスホン酸)、1−ヒドロキシエチリデン−1、1−ジホスホン酸、ニトリロトリス(メチレンホスホン酸)、グリシン−N,N−ビスメチレンホスホン酸等が挙げられるが、特に限定されるものではない。これらホスホン酸系化合物は、一種類のみを用いてもよく、適宜二種類以上を混合して用いてもよい。これらホスホン酸系化合物もアンモニア水に溶解して用いられる。
【0053】
上記洗浄剤におけるホスホン酸系化合物の配合割合は、特に限定されるものではないが、0.01重量%〜20重量%の範囲内が好ましく、0.05重量%〜10重量%の範囲内がより好ましく、0.1重量%〜5重量%の範囲内が最も好ましい。上記の割合でホスホン酸系化合物を用いることにより、洗浄液中の過酸化水素の分解をより一層抑制することができると共に、洗浄剤の洗浄性をより一層向上させることができる。
【0054】
また、上記電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤は、必要に応じて、通常、シリコンウェハ用の洗浄剤中に含まれるその他の添加物を、本発明にかかる効果を損なわない範囲内で含んでいてもよい。
【0055】
上記洗浄剤において、上記水溶性グラフト重合体、アンモニア、過酸化水素、フッ素系界面活性剤、ホスホン酸系化合物、その他の添加物等の各成分を除く残部は水とする。また、上記洗浄剤に用いられるこれら成分は、その合計量が100重量部となるように用いられる。上記洗浄剤中に含まれる水とは、超純水、純水、イオン交換水、蒸留水、水道水等、上記洗浄剤の効果を損なわないものであれば、特に限定されるものではない。上記洗浄剤における水の配合割合は、5重量%〜98重量%の範囲内が好ましく、10重量%〜90重量%の範囲内がより好ましく、20重量%〜80重量%の範囲内が最も好ましい。
【0056】
また、本発明にかかる洗浄剤を半導体基板やリードフレーム等の電子部品における樹脂汚れ用の洗浄剤として用いる場合には、該洗浄剤は、上記水溶性グラフト重合体を必須成分とし、さらにアルカリ金属水酸化物および水を含むことが好ましい。また、上記洗浄剤は、必要に応じて金属封止剤やその他の添加剤を含んでいてもよい。
【0057】
上記洗浄剤における上記水溶性グラフト重合体の配合割合は、洗浄性の面から、0.2重量%〜60重量%の範囲内が好ましく、0.5重量%〜50重量%の範囲内がより好ましく、0.8重量%〜40重量%の範囲内が最も好ましい。
【0058】
上記のアルカリ金属水酸化物としては、具体的には、例えば、水酸化リチウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等が挙げられ、特に水酸化ナトリウム、水酸化カリウムが好適に使用される。これらアルカリ金属水酸化物は一種類のみを用いてもよく、適宜二種類以上を混合して用いてもよい。
【0059】
上記洗浄剤におけるアルカリ金属水酸化物の配合割合は、洗浄性の面から、0.1重量%〜60重量%の範囲内が好ましく、0.5重量%〜40重量%の範囲内がより好ましく、3重量%〜30重量%の範囲内が最も好ましい。上記アルカリ金属水酸化物の使用量が0.1重量%未満であれば、洗浄性が低下する傾向にある。一方、上記アルカリ金属水酸化物の使用量が60重量%を越えると、得られる洗浄剤の均一性が阻害されたり、アルカリによる危険性が増加する場合があるので好ましくない。
【0060】
また、上記金属封止剤としては、具体的には、例えば、グルコン酸、タンニン酸、2,3−ジヒドロキシ安息香酸、3,4−ジヒドロキシ安息香酸、2,3,4−トリヒドロキシ安息香酸、ポリ−α−ヒドロキシアクリル酸、グルクロン酸等のカルボン酸、および、ヘプトン酸、2,3−ジヒドロキシフェノール、2−ヒドロキシフェノール、D−ソルビット、D−マンニット、ズルシット、D−アラビット、キシリット、グルコノラクトン、D−マンノース、D−ガラクト−ス、トレイトール、アミノナフトール、アミノナフトールスルホン酸、並びに、これら例示の化合物とアルカリ金属等との塩類、トリエタノールアミン等が挙げられる。
【0061】
上記金属封止剤は、一種類のみを用いてもよく、適宜二種類以上を混合して用いてもよい。上記金属封止剤のなかでも、グルコン酸、タンニン酸、3,4−ジヒドロキシ安息香酸、2,3,4−トリヒドロキシ安息香酸等のカルボン酸、および、2,3−ジヒドロキシフェノール、D−ソルビット、D−マンニット、グルコノラクトン、D−ガラクトース、アミノナフトール、アミノナフトールスルホン酸、並びに、これら例示の化合物とアルカリ金属等との塩類、トリエタノールアミンが、洗浄性、リンス性の観点から好ましい。
【0062】
上記洗浄剤における上記金属封止剤の配合割合は、0.01重量%〜20重量%の範囲内が好ましく、0.1重量%〜10重量%の範囲内がより好ましく、0.2重量%〜5重量%の範囲内が最も好ましい。上記金属封止剤の使用量が0.01重量%未満であれば、洗浄性が低下する傾向にある。一方、該金属封止剤の使用量が20重量%を越えると、未溶解物が残留したり、粘度が上昇して作業性が低下する虞れがある。
【0063】
また、上記洗浄剤は、必要に応じて、通常、樹脂汚れ用の洗浄剤中に含まれるその他の添加物を、本発明にかかる効果を損なわない範囲内で含んでいてもよい。上記その他の添加物としては、特に限定されるものではないが、具体的には、例えば、キレート剤、防腐剤、防錆剤、シリコーン等の消泡剤、酸化防止剤、アミン系化合物、ヤシ脂肪酸メチルや酢酸ベンジル等のエステル、炭化水素系溶剤、アルコール等が挙げられる。また、上記キレート剤としては、通常、洗浄剤の成分として用いられるヒドロキシエチルアミノ酢酸やヒドロキシエチルイミノ二酢酸およびエチレンジアミンテトラ酢酸等のアミノカルボン酸塩等が挙げられるが、特に限定されるものではない。
【0064】
上記洗浄剤において、上記水溶性グラフト重合体、アルカリ金属水酸化物、金属封止剤、その他の添加物等の各成分を除く残部は水とする。また、上記洗浄剤に用いられるこれら成分は、その合計量が100重量部となるように用いられる。上記洗浄剤中に含まれる水とは、超純水、純水、イオン交換水、蒸留水、水道水等、上記洗浄剤の効果を損なわないものであれば、特に限定されるものではない。上記洗浄剤における水の配合割合は、5重量%〜98重量%の範囲内が好ましく、10重量%〜90重量%の範囲内がより好ましく、20重量%〜80重量%の範囲内が最も好ましい。
【0065】
本発明において、これら洗浄剤を用いて電子部品表面に付着した汚染物を洗浄、除去する方法としては、特に限定されるものではないが、具体的には、例えば、浸漬法、超音波洗浄法、浸漬揺動法、スプレー法等、従来公知の種々の方法から選ばれる方法により洗浄した後、溶剤または(温)水ですすぐ方法が挙げられる。上記のすすぎ水としては、電子部品表面の汚染物を除去できるものであれば特に限定されないが、例えば超純水、純水、イオン交換水、蒸留水、水道水等がリンス性の面から好ましい。
【0066】
以上のように、本発明にかかる電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤は、上記構成の水溶性グラフト重合体を含む構成である。該水溶性グラフト重合体は、耐ゲル化性能や分散能、多価金属イオンのキレート化能に特に優れている。このため、シリコンウェハ等の半導体基板表面に付着した(微)粒子や金属不純物等を分解除去すべく、該水溶性グラフト重合体を、上述したように、例えばアンモニア水並びに過酸化水素と併用した場合、上記洗浄剤を用いた洗浄液中に含まれるかあるいか溶出する多価金属イオンに由来する過酸化水素の無駄な分解を抑制し、この過酸化水素の無駄な分解によって生じる酸素に由来する発泡を抑えることができる。しかも、上記水溶性グラフト重合体は、消泡性にも優れ、例えば界面活性剤と併用した場合でも、泡立ちの低減が可能である。
【0067】
さらに、上記水溶性グラフト重合体は、多価金属イオンのキレート化能に優れることから、洗浄液中の多価金属イオンをキレートし、被洗浄物への多価金属イオンの(再)付着を抑えることができる。また、上記水溶性グラフト重合体は、分散能にも優れ、一旦、被洗浄物から剥離した汚染物の被洗浄物への再付着を抑制することができる。従って、上記の構成によれば、消泡性および洗浄性に優れる電子部品の洗浄に好適な洗浄剤を提供することができる。
【0068】
また、上記の水溶性グラフト重合体は、ポリエーテル化合物(A)およびモノエチレン性不飽和単量体成分(B)からグラフト重合により合成できるため、安価に製造することができると共に、低泡性、消泡性に優れ、しかも従来よりも洗浄性を向上させることができるため、該水溶性グラフト重合体を用いれば、洗浄時間や洗浄回数、すすぎ水の量等を削減することができ、洗浄にかかる費用を低減させることができる。従って、上記電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤は、経済性の高い洗浄剤である。
【0069】
また、上記の水溶性グラフト重合体は、残存する単量体量が少なく、ほとんど毒性がない。しかも、上記の水溶性グラフト重合体は、洗浄性を向上させることができるため、より穏和な条件で洗浄を行うことができる。従って、上記の電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤は、安全性が非常に高いものである。
【0070】
【実施例】
以下、実施例および比較例により、本発明をさらに具体的に説明するが、本発明はこれらにより何ら限定されるものではない。尚、実施例および比較例に記載の「部」は、「重量部」を示しており、「%」は、「重量%」を示している。
〔実施例1〕
温度計、攪拌機、窒素ガス導入管、二つの滴下装置、および還流冷却器を備えたガラス製反応器に、ポリエーテル化合物(A)としての数平均分子量200のポリエチレングリコール100部と、モノエチレン性不飽和単量体成分(B)としてのマレイン酸51.8部およびp−トルエンスルホン酸・1水和物4.5部とを仕込んだ。また、一方の滴下装置に、モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体であるアクリル酸48.2部を仕込み、他方の滴下装置に、重合開始剤としてのパーブチルI(商品名;日本油脂株式会社製、t−ブチルパーオキシイソプロピルモノカーボネート95%含有物)8部を仕込んだ。
【0071】
次に、上記反応器内の内容物を窒素ガス気流下で攪拌しながら加熱して溶解させ、128℃まで昇温した。続いて、上記反応器内の内容物の温度を126℃〜131℃の温度範囲に保持して上記アクリル酸およびパーブチルIを1時間かけて連続的に滴下し、その後、さらに1時間攪拌してグラフト重合を行った。
【0072】
この結果、本発明にかかるグラフト重合体として、重量平均分子量5,000、グラフト率80%、純度85%の水溶性グラフト重合体(1)を得た。続いて、この水溶性グラフト重合体(1)に所定量の水を加え、水酸化ナトリウム水溶液で中和して上記水溶性グラフト重合体(1)の水溶液のpHを8に調整して上記水溶性グラフト重合体(1)のナトリウム塩を得た。
【0073】
続いて、29%アンモニア水5gに対し、上記水溶性グラフト重合体(1)のナトリウム塩0.05g、フルオロアルキルスルホンアミド型のフッ素系界面活性剤であるフルオロブチルスルホンアミド0.5g、ホスホン酸系化合物であるホスホノブタントリカルボン酸0.5gを溶解してアンモニア水溶液(a)を調製した。次に、このアンモニア水溶液(a)と30%過酸化水素水と水とを容量比1:1:6で混合し、本発明にかかる洗浄剤(1)を調製した。この洗浄剤(1)800mlを1リットルビーカーに入れ、50℃に保ち、30分経過後、発生した泡の高さを測定した。この結果を表1に示す。
〔実施例2〕
実施例1において、数平均分子量200のポリエチレングリコールの代わりに、ポリエーテル化合物(A)としての数平均分子量600のナフトキシポリエチレングリコール100部を用いた以外は、実施例1と同様の反応・操作を行って水溶性グラフト重合体(2)を得た。上記ナフトキシポリエチレングリコールにおけるナフトールへのエチレンキサイド平均付加モル数は10モルである。また、得られた水溶性グラフト重合体(2)の重量平均分子量は5,500であり、グラフト率は82%であり、純度は86%であった。続いて、この水溶性グラフト重合体(2)に所定量の水を加え、水酸化ナトリウム水溶液で中和して上記水溶性グラフト重合体(2)の水溶液のpHを8に調整し、上記水溶性グラフト重合体(2)のナトリウム塩を得た。
【0074】
続いて、実施例1において、水溶性グラフト重合体(1)のナトリウム塩の代わりに上記水溶性グラフト重合体(2)のナトリウム塩を用いた以外は、実施例1と同様の操作を行って、本発明にかかる洗浄剤(2)を調製した。この洗浄剤(2)を用いて実施例1と同様の実験を行い、発生した泡の高さを測定した。この結果を表1に示す。
〔実施例3〕
実施例1において、数平均分子量200のポリエチレングリコールの代わりに、ポリエーテル化合物(A)としての数平均分子量1,000のナフトキシポリエチレングリコール200部を用いた以外は、実施例1と同様の反応・操作を行って水溶性グラフト重合体(3)を得た。上記ナフトキシポリエチレングリコールにおけるナフトールへのエチレンオキサイド平均付加モル数は20モルである。また、得られた水溶性グラフト重合体(3)の重量平均分子量は4,300であり、グラフト率は80%であり、純度は83%であった。続いて、この水溶性グラフト重合体(3)に所定量の水を加え、水酸化ナトリウム水溶液で中和して上記水溶性グラフト重合体(3)の水溶液のpHを8に調整し、上記水溶性グラフト重合体(3)のナトリウム塩を得た。
【0075】
続いて、実施例1において、水溶性グラフト重合体(1)のナトリウム塩の代わりに上記水溶性グラフト重合体(3)のナトリウム塩を用いた以外は、実施例1と同様の操作を行って、本発明にかかる洗浄剤(3)を調製した。この洗浄剤(3)を用いて実施例1と同様の実験を行い、発生した泡の高さを測定した。この結果を表1に示す。
〔実施例4〕
実施例1において、数平均分子量200のポリエチレングリコールの代わりに、ポリエーテル化合物(A)として、炭素数12〜15のアルキルにエチレンオキサイドを平均7モルした付加物200部を用いた以外は、実施例1と同様の反応・操作を行って水溶性グラフト重合体(4)を得た。得られた水溶性グラフト重合体(4)の重量平均分子量は6,800であり、グラフト率は78%であり、純度は82%であった。続いて、この水溶性グラフト重合体(4)に所定量の水を加え、水酸化ナトリウム水溶液で中和して上記水溶性グラフト重合体(4)の水溶液のpHを8に調整し、上記水溶性グラフト重合体(4)のナトリウム塩を得た。
【0076】
続いて、実施例1において、水溶性グラフト重合体(1)のナトリウム塩の代わりに上記水溶性グラフト重合体(4)のナトリウム塩を用いた以外は、実施例1と同様の操作を行って、本発明にかかる洗浄剤(4)を調製した。この洗浄剤(4)を用いて実施例1と同様の実験を行い、発生した泡の高さを測定した。この結果を表1に示す。
〔比較例1〕
実施例1において、水溶性グラフト重合体(1)を使用しないことを除けば、実施例1と同様の操作を行って、比較用の洗浄剤(5)を調製した。この洗浄剤(5)を用いて実施例1と同様の実験を行い、発生した泡の高さを測定した。この結果を表1に示す。
【0077】
【表1】

Figure 0003980162
【0078】
〔実施例5〕
ベアシリコンウェハ(直径4インチ)を、ポリスチレンラテックス(日本合成ゴム株式会社製;商品名 STADEX、粒径0.309μm)を分散させた希フッ酸液に浸漬し、ポリスチレンラテックスを上記ベアシリコンウェハ表面に付着させた。ベアシリコンウェハ表面に付着したポリスチレンラテックスの粒子数を表面検査装置(Surfscan 4500)を用いて測定した。
【0079】
その後、このベアシリコンウェハを、実施例(1)で得られた洗浄液(1)を用いて10分間洗浄し、ポリスチレンラテックスの除去を行った。洗浄後のベアシリコンウェハを超純水で5分間水洗し、スピンドライによって所定時間乾燥した後、上記の表面検査装置を用いて、ベアシリコンウェハ表面に残留する、粒子径0.24μm以上のポリスチレンラテックスの粒子数を測定した。この結果を、洗浄前のベアシリコンウェハ表面に付着していたポリスチレンラテックスの粒子数と併せて表2に示す。
〔実施例6〕
実施例5において、洗浄液(1)に代えて、実施例(2)で得られた洗浄液(2)を用いた以外は、実施例5と同様の方法により、洗浄前後のベアシリコンウェハ表面のポリスチレンラテックスの粒子数を測定した。この結果を表2に示す。
〔実施例7〕
実施例5において、洗浄液(1)に代えて、実施例(3)で得られた洗浄液(3)を用いた以外は、実施例5と同様の方法により、洗浄前後のベアシリコンウェハ表面のポリスチレンラテックスの粒子数を測定した。この結果を表2に示す。
〔実施例8〕
実施例5において、洗浄液(1)に代えて、実施例(4)で得られた洗浄液(4)を用いた以外は、実施例5と同様の方法により、洗浄前後のベアシリコンウェハ表面のポリスチレンラテックスの粒子数を測定した。この結果を表2に示す。
〔比較例2〕
実施例5において、洗浄液(1)に代えて、比較例1で得られた比較用の洗浄液(5)を用いた以外は、実施例5と同様の方法により、洗浄前後のベアシリコンウェハ表面のポリスチレンラテックスの粒子数を測定した。この結果を表2に示す。
【0080】
【表2】
Figure 0003980162
【0081】
参考例1
水と、実施例1で得られた水溶性グラフト重合体(1)のナトリウム塩と、アルカリ金属水酸化物とを、80重量%:5重量%:15重量%の割合で混合し、本参考例にかかる洗浄剤(6)を調製した。
【0082】
続いて、上記洗浄液(6)500mlを、500mlガラスビーカーに採取し、該ガラスビーカーを恒温槽(温水槽)に設置した。次いで、上記洗浄液(6)の温度を60℃に昇温させて該温度で保持し、該洗浄液(6)にテストピースを20分間浸漬した。その後、このテストピースを、水道水の流水下で1分間すすぎ、さらに、1分間エアーブローを行った。
【0083】
上記テストピースには、8cm×4cm×0.5mmの鋼板を用いて得られたアクリルメラミン静電塗装品(プライマー:エポキシメラミン樹脂、塗装厚:合計40μm)を用いた。
【0084】
上記テストピース表面に塗装された樹脂の剥離・洗浄の程度を目視で評価することにより、上記洗浄剤(6)の洗浄性を評価した。評価基準は下記の通りである。樹脂が100%完全に剥離・洗浄されているものを「◎」とし、樹脂の少なくとも70%程度が剥離・洗浄されているものを「○」とし、剥離・洗浄されている樹脂の割合が70%未満(一部分)であるものを「△」とし、樹脂が全く剥離・洗浄されていないものを「×」とした。この結果を、主な洗浄条件と併せて表3に示す。
参考例2
水と、実施例(2)で得られた水溶性グラフト重合体(2)のナトリウム塩と、アルカリ金属水酸化物とを、80重量%:5重量%:15重量%の割合で混合し、本参考例にかかる洗浄剤(7)を調製した。
【0085】
続いて、参考例1において、洗浄液(6)に代えて上記洗浄液(7)を用いた以外は、参考例1と同様の操作を行って、テストピース表面に塗装された樹脂の剥離・洗浄の程度を目視で評価することにより、上記洗浄剤(7)の洗浄性を参考例1と同様にして評価した。上記テストピースには、参考例1と同様のアクリルメラミン静電塗装品を用いた。上記評価の結果を、主な洗浄条件と併せて表3に示す。
〔比較例3〕
水とアルカリ金属水酸化物とを、85重量%:15重量%の割合で混合することにより、比較用の洗浄剤(8)を調製した。
【0086】
続いて、参考例1において、洗浄液(6)に代えて上記洗浄液(8)を用いた以外は、参考例1と同様の操作を行って、テストピース表面に塗装された樹脂の剥離・洗浄の程度を目視で評価することにより、上記洗浄剤(8)の洗浄性を参考例1と同様にして評価した。上記テストピースには、参考例1と同様のアクリルメラミン静電塗装品を用いた。上記評価の結果を、主な洗浄条件と併せて表3に示す。
参考例3
水と、実施例(3)で得られた水溶性グラフト重合体(3)のナトリウム塩と、アルカリ金属水酸化物とを、80重量%:5重量%:15重量%の割合で混合し、本参考例にかかる洗浄剤(9)を調製した。
【0087】
続いて、上記洗浄液(9)を、500mlガラスビーカーに採取し、該ガラスビーカーを恒温槽(温水槽)に設置した。次いで、上記洗浄液(9)の温度を60℃に昇温させて該温度で保持し、該洗浄液(9)にテストピースを8時間浸漬した。その後、このテストピースを、参考例1と同様の条件にて、水道水の流水下で1分間すすぎ、さらに、1分間エアーブローを行った。
【0088】
参考例では、上記テストピースとして、8cm×4cm×0.5mmの鋼板を用いて得られたポリエステル粉体静電塗装品(塗装厚:最大4400μm)を用いた。
【0089】
上記テストピース表面に塗装された樹脂の剥離・洗浄の程度を目視で評価することにより、上記洗浄剤(9)の洗浄性を、参考例1と同様にして評価した。この結果を、主な洗浄条件と併せて表3に示す。
参考例4
水と、実施例(4)で得られた水溶性グラフト重合体(4)のナトリウム塩と、アルカリ金属水酸化物とを、80重量%:5重量%:15重量%の割合で混合し、本参考例にかかる洗浄剤(10)を調製した。
【0090】
続いて、実施例11において、洗浄液(9)に代えて上記洗浄液(10)を用いた以外は、参考例3と同様の操作を行って、テストピース表面に塗装された樹脂の剥離・洗浄の程度を目視で評価することにより、上記洗浄剤(10)の洗浄性を実施例9と同様にして評価した。上記テストピースには、参考例3と同様のポリエステル粉体静電塗装品を用いた。上記評価の結果を、主な洗浄条件と併せて表3に示す。
〔比較例4〕
参考例3において、洗浄液(9)に代えて、比較例3と同様の操作により得られた洗浄剤(8)を用いた以外は、参考例3と同様の操作を行って、テストピース表面に塗装された樹脂の剥離・洗浄の程度を目視で評価することにより、上記洗浄剤(8)の洗浄性を参考例1と同様にして評価した。上記テストピースには、参考例3と同様のポリエステル粉体静電塗装品を用いた。上記評価の結果を、主な洗浄条件と併せて表3に示す。
【0091】
【表3】
Figure 0003980162
【0092】
表1〜3に記載の結果から、本発明にかかる水溶性グラフト重合体を洗浄剤の成分として用いれば、上記水溶性グラフト重合体を用いない場合と比較して、洗浄剤を調製してから30分経過後の泡立ちが少なく、しかも、洗浄性に優れていることが判る。
【0093】
【発明の効果】
発明に係る電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤は、以上のように、モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体を含むモノエチレン性不飽和単量体成分をポリエーテル化合物にグラフト重合してなる水溶性グラフト重合体、アンモニア、過酸化水素、水、フッ素系界面活性剤およびホスホン酸化合物を含む構成である。上記電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤において、上記水溶性グラフト重合体の配合割合は0.5重量%〜60重量%の範囲内であり、上記アンモニアの配合割合は2重量%〜90重量%の範囲内であり、上記過酸化水素の配合割合は0.5重量%〜70重量%の範囲内であり、上記フッ素系界面活性剤の配合割合は0.1重量%〜40重量%の範囲内であり、上記ホスホン酸化合物の配合割合は0.01重量%〜20重量%の範囲内であることが好ましい。さらに、水は、各成分の合計量を100重量部としたときの残部であり、水の配合割合は5重量%〜98重量%の範囲内であることが好ましい。
【0094】
上記の構成によれば低発泡性、消泡性に優れると共に、洗浄性に優れた電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤を提供することができるという効果を奏する。
【0095】
また、上記の水溶性グラフト重合体は、製造にかかる費用が安価であり、かつ、上記水溶性グラフト重合体を含む電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤が、低泡性、消泡性、洗浄性に優れることから、作業性にも優れ、洗浄時間や洗浄回数、すすぎ水の量等を削減することができ、洗浄にかかる費用を低減させることができる。また、上記の水溶性グラフト重合体は、残存する単量体量が少なく、ほとんど毒性がない。しかも、上記の水溶性グラフト重合体は、洗浄性を向上させることができるため、より穏和な条件で洗浄を行うことができる。従って、上記電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤は、経済性並びに安全性が非常に高いものである。
【0096】
上記の電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤は、例えば、シリコンウェハ等に付着した樹脂汚れの洗浄・除去に特に好適に用いることができる。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
  The present invention is an electronic component suitably used for cleaning electronic components such as semiconductor substrates and lead frames.Resin stainsIt relates to a cleaning agent.
[0002]
[Prior art]
  In recent years, along with the complexity of electronic devices such as high integration of semiconductor devices, pattern miniaturization and complexity in electronic components such as semiconductor substrates and lead frames used in these electronic devices, and thin films Is progressing.
[0003]
  The surface of these electronic components such as semiconductor substrates and lead frames is very sensitive. If these electronic component surfaces are contaminated, the surface conduction and other parameters of these electronic components may be affected, or the pn junction breakdown voltage may be reduced. Lowering and film peeling are caused. For this reason, contamination of the surface of these electronic components leads to a shortened life of these electronic components and a decrease in reliability. Accordingly, in the manufacturing process of these electronic components, a cleaning process for removing the contaminants attached to these electronic components is indispensable. By removing the contaminants on the surface of these electronic components, the characteristics of these electronic components are reduced. Stability and reproducibility can be remarkably improved.
[0004]
  Examples of contamination on the surface of these electronic components include, for example, resin such as wax, resin, and photoresist, so-called resin stains due to unreacted monomers, and metal (fine) particles such as copper and nickel used for wiring and plating, and metal Examples include adhesion of ions and metal impurities.
[0005]
  Conventionally, as a cleaning agent used for decomposing and removing (fine) particles and metal impurities on a silicon wafer, an aqueous solution obtained by adding other chemicals to ammonia water is often used. A so-called SC-1 cleaning liquid in which hydrogen and water are mixed is generally used.
[0006]
  However, in the recent cleaning situation of electronic parts where the pattern is becoming finer, more complicated, and thinner, the SC-1 cleaning liquid has the ability to remove contaminants such as (fine) particles adhering to the surface of the electronic part. In addition, there is a problem that metal impurities are easily adsorbed on the surface of the silicon wafer and have an etching action on the silicon substrate.
[0007]
  Accordingly, in order to solve the above problems, a cleaning composition comprising a specific fluorine-based surfactant, a compound having two or more phosphonic acid groups, and ammonia as a composition for cleaning a silicon wafer. (JP 9-286999 A) and a cleaning composition obtained by adding a specific oxidizing agent to an alkaline aqueous solution or an acidic aqueous solution (JP 9-279189 A).
[0008]
  On the other hand, as cleaning agents used for resin stains such as semiconductor substrates and lead frames, alkaline cleaning agents mainly composed of sodium hydroxide or potassium hydroxide, methylene chloride, and the like are frequently used. Furthermore, in recent years, with regard to the cleaning of such resin soil, the resin soil is disintegrated and dissolved with a cleaning composition (I) containing a specific aromatic monocyclic compound, glycol ether compound, and ethylene glycol-based compound. Proposed is a method (Japanese Patent Laid-Open No. 9-263792) for removing resin stains with a detergent composition (II) containing an aromatic compound, a metal sealant, an alkali metal hydroxide, and water.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
  However, the alkali cleaning agents mainly composed of sodium hydroxide and potassium hydroxide, which have been used as a cleaning agent for resin stains, have insufficient cleaning power, and it takes time and effort to completely remove the resin stains. And has the problem that it is necessary. Furthermore, methylene chloride is questioned for its carcinogenicity and is strictly regulated against leakage into drainage and the atmosphere, and its use is required to be reduced or prohibited.
[0010]
  In addition, the cleaning compositions (I) and (II) described in JP-A No. 9-263793 are not sufficient in cleaning properties by themselves and are used by being mixed with each other, or the cleaning compositions (I ), And further washing with the detergent composition (II). For this reason, since preparation of a cleaning composition becomes complicated or time is required for cleaning, the cost for cleaning increases, which is not economical.
[0011]
  Furthermore, the cleaning composition described in JP-A-9-279189 used for cleaning a semiconductor substrate such as a silicon wafer is prepared by preparing ammonia aqueous solution or acidic aqueous solution with ammonia, hydrogen fluoride, (concentrated) hydrochloric acid, or Uses (concentrated) sulfuric acid and is toxic and irritating.
[0012]
  Further, as a result of the study by the inventors of the present application, the cleaning composition described in JP-A-9-286999 is still insufficient in the defoaming property of bubbles generated by the action of the added surfactant, and silicon It has been found that the ability to remove particles adhering to the wafer surface is not satisfactory.
[0013]
  The present invention has been made in view of the above-described conventional problems, and its object is to provide an inexpensive and safe electronic component that is excellent in defoaming and cleaning properties.Resin stainsIt is to provide a cleaning agent.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
  As a result of intensive studies to solve the above-described conventional problems, the inventors of the present application grafted a monoethylenically unsaturated monomer component containing a monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer to a polyether compound. The present invention has been completed by finding that a detergent containing a water-soluble graft polymer is excellent in antifoaming properties, detergency and safety, is inexpensive, and suitable for washing electronic components. .
[0015]
  That is,BookinventionPertaining toElectronic componentsResin stainsIn order to solve the above-described problems, the cleaning agent for water-soluble graft weight obtained by graft polymerization of a monoethylenically unsaturated monomer component containing a monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer to a polyether compound is used. Coalescence, Ammonia, hydrogen peroxide, water, fluorosurfactants and phosphonic acid compoundsIt is characterized by including.In the cleaning agent for resin stains of the electronic component, the blending ratio of the water-soluble graft polymer is in the range of 0.5 wt% to 60 wt%, and the blending ratio of the ammonia is 2 wt% to 90 wt%. The blending ratio of the hydrogen peroxide is in the range of 0.5 to 70% by weight, and the blending ratio of the fluorosurfactant is in the range of 0.1 to 40% by weight. The blending ratio of the phosphonic acid compound is preferably in the range of 0.01 wt% to 20 wt%. Furthermore, water is the balance when the total amount of each component is 100 parts by weight, and the blending ratio of water is preferably in the range of 5% by weight to 98% by weight.
[0016]
  The above water-soluble graft polymer is excellent in chelating ability and dispersibility of polyvalent metal ions, and is used for electronic parts when cleaning a cleaning liquid, that is, an object to be cleaned.Resin stainsChelates polyvalent metal ions in the cleaning agent to suppress (re) adhesion of polyvalent metal ions to the object to be cleaned, as well as contaminants such as resin and (fine) particles that have peeled off the object to be cleaned Reattachment to the object to be cleaned can be suppressed. The water-soluble graft polymer has less foaming and is excellent in antifoaming properties.
[0017]
  Further, the above water-soluble graft polymer is inexpensive to manufacture, and an electronic component comprising the water-soluble graft polymerResin stainsThe cleaning agent is excellent in low-foaming property, defoaming property, and detergency, so it is excellent in workability and can reduce the washing time, the number of washings, the amount of rinse water, etc. Cost can be reduced. Further, the above water-soluble graft polymer has a small amount of remaining monomer and is hardly toxic. And since said water-soluble graft polymer can improve washability, it can wash | clean on milder conditions. Therefore, according to the above configuration, an inexpensive and safe electronic component having excellent defoaming properties and cleanability.Resin stainsA cleaning agent can be provided.
[0018]
  The present invention is described in detail below.
[0019]
  The water-soluble graft polymer according to the present invention grafts a monoethylenically unsaturated monomer component (B) containing a monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer as an essential component to a polyether compound (A). Polymerized.
[0020]
  In the present invention, the polyether compound (A) used as a raw material for the water-soluble graft polymer is not particularly limited, but preferably has a number average molecular weight of 100 containing ethylene oxide as a main constituent unit. These compounds are more preferable, and compounds containing 80 mol% or more of ethylene oxide as a structural unit are more preferable.
[0021]
  For example, the polyether compound (A) is obtained by polymerizing ethylene oxide and an alkylene oxide copolymerizable with the ethylene oxide (hereinafter referred to as other alkylene oxide) by a known method using water or alcohol as a starting point. Thus, it can be easily obtained.
[0022]
  Although it does not specifically limit as said other alkylene oxide, A propylene oxide or a butylene oxide is preferable.
[0023]
  The proportion of the structural unit composed of ethylene oxide and the structural unit composed of other alkylene oxide in the polyether compound (A), that is, the ethylene oxide in producing the polyether compound (A) and the other alkylene oxide The usage ratio is preferably such that ethylene oxide is 80 mol% or more of the whole and the amount of the other alkylene oxide is less than 20 mol% as a whole. If the amount of the other alkylene oxide is 20 mol% or more, the graft ratio of the water-soluble graft polymer obtained using the polyether compound (A) may be lowered.
[0024]
  Moreover, as alcohol for obtaining the said polyether compound (A), specifically, C1-C22 primary or secondary alcohol, such as methanol, ethanol, n-propanol, n-butanol, etc .; Secondary alcohols having 3 to 18 carbon atoms such as isopropanol and 2-butanol; tertiary alcohols such as t-butanol; diols such as ethylene glycol, diethylene glycol, propanediol, butanediol, and propylene glycol; glycerin, trimethylolpropane, and the like Triols; polyols such as sorbitol; aromatic alcohols such as phenol and naphthol;
[0025]
  The polyether compound (A) thus obtained preferably has a number average molecular weight of 100 or more, more preferably 500 or more. Further, the upper limit of the number average molecular weight of the polyether compound (A) is not particularly limited, but is preferably 20,000 or less, and the polyether compound (A) has two or more hydroxyl groups. Is preferably 6,000 or less. When the number average molecular weight of the said polyether compound (A) is less than 100, the polyether compound (A) which does not participate in graft polymerization increases. Moreover, when a number average molecular weight exceeds 20,000, there exists a possibility that a gelatinization-proof performance may fall and a polyvalent metal ion chelating ability may fall.
[0026]
  In addition, as said polyether compound (A), dicarboxylic acid, such as a C2-C22 fatty acid, a succinic acid, a succinic anhydride, a maleic acid, a maleic anhydride, an adipic acid, is used for all the terminal or a part of terminal hydroxyl groups. Those esterified with an acid are also included.
[0027]
  Of the raw materials for the water-soluble graft polymer, the monoethylenically unsaturated monomer component (B) contains a monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer as an essential component.
[0028]
  In the present invention, the monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer is particularly preferably (meth) acrylic acid, and the monoethylenically unsaturated monomer component (B) contains (meth) acrylic acid. Is preferably contained within a range of 40 mol% to 100 mol%.
[0029]
  In the present invention, the graft ratio of the monoethylenically unsaturated monomer component (B) to the polyether compound (A) is as follows: The monomer component (B) is preferably graft-polymerized by 25% by weight or more, and among the monoethylenically unsaturated monomer component (B), as the monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer, ( More preferably, the (meth) acrylic acid is 20% by weight or more graft-polymerized with respect to 100% by weight of the polyether compound (A). If the ratio of the monoethylenically unsaturated monomer component (B) to the polyether compound (A) is less than 25% by weight, the resulting water-soluble graft polymer has a reduced carboxylic acid density, and various performances such as The polyvalent metal ion chelating ability, dispersibility and the like are not satisfactory. Moreover, when the usage-amount of a monoethylenically unsaturated monomer component (B) is 100 weight% or more, the carboxylic acid amount (carboxylic acid density) of the water-soluble graft polymer obtained becomes too high, and polyvalent The resulting water-soluble graft polymer is easily gelled by the metal ions.
[0030]
  Monoethylenically unsaturated monomers copolymerizable with the (meth) acrylic acid, that is, monoethylenically unsaturated carboxylic monomers other than the (meth) acrylic acid, and these monoethylenically unsaturated carboxylic acids Monoethylenically unsaturated monomers other than the monomer based monomers (hereinafter, these are collectively referred to as other monoethylenically unsaturated monomers) are not particularly limited, but the above (meth) Specific examples of the monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer other than acrylic acid include (meth) acrylic acid, maleic acid, fumaric acid, maleic anhydride and the like. Specific examples of monoethylenically unsaturated monomers other than these monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomers include maleic acid alkyl esters such as dimethyl maleate and diethyl maleate; Alkyl esters of fumaric acid such as dimethyl fumarate and diethyl fumarate; alkyl (meth) acrylates such as methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, stearyl (mea) acrylate; hydroxyethyl ( Hydroxyalkyl (meth) acrylates such as meth) acrylate and hydroxypropyl (meth) acrylate; Acetic acid alkenyl esters such as vinyl acetate; Aromatic vinyls such as styrene; (Meth) acrylonitrile, (meth) acrolein, (meth) acrylamide Dialkyl aminoethyl (meth) acrylates such as dimethylaminoethyl (meth) acrylate; 2-acrylamido-2-methylpropane sulfonic acid and the like. These other monoethylenically unsaturated monomers may be used alone or in a suitable mixture of two or more. Among these other monoethylenically unsaturated monomers, maleic acid, fumaric acid and maleic anhydride are selected from the above (meth) acrylic acid in order to increase the carboxylic acid density and dispersibility of the resulting water-soluble graft polymer. It is preferable to share with.
[0031]
  The ratio of the monoethylenically unsaturated monomer component (B) to the other monoethylenically unsaturated monomer copolymerizable with (meth) acrylic acid is the introduction of carboxylic acid into the water-soluble graft polymer. From the rate and the amount of residual monomers, in the range of 0 mol% to 60 mol% of other monoethylenically unsaturated monomers with respect to (meth) acrylic acid 40 mol% to 100 mol% (however, the total of both Is preferably 100 mol%), more preferably maleic acid is used in the range of 20 mol% to 50 mol%, most preferably in the range of 30 mol% to 45 mol%. preferable.
[0032]
  The monoethylenically unsaturated monomer component (B) is a monoethylenically unsaturated monomer other than the monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer, among other monoethylenically unsaturated monomers. When a monomer is included, the content of a monoethylenically unsaturated monomer other than the unsaturated carboxylic acid monomer (that is, a monoethylenically unsaturated monomer having no carboxyl group) is 20 It is preferable that it is below mol%. When the content of the monoethylenically unsaturated monomer other than the unsaturated carboxylic acid monomer exceeds 20 mol%, the introduction rate of the carboxylic acid into the resulting water-soluble graft polymer is lowered and remains. This is not preferable because the amount of monomers increases, the carboxylic acid density decreases, and the polyvalent metal ion chelating ability and dispersibility are not satisfied.
[0033]
  When a monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer other than (meth) acrylic acid is used as the other monoethylenically unsaturated monomer, the content of (meth) acrylic acid is 40 mol%. Even if it is less than this, the carboxylic acid density of the water-soluble graft polymer obtained does not fall. However, in this case, if the content of (meth) acrylic acid is less than 40 mol%, the rate of introduction into the water-soluble graft polymer such as maleic acid, fumaric acid, and maleic anhydride is reduced, and the residual There is a tendency for the amount of monomer to increase.
[0034]
  In the present invention, the graft polymerization of the polyether compound (A) and the monoethylenically unsaturated monomer component (B) is carried out in the presence of a polymerization initiator, substantially without using a catalyst and a solvent.
[0035]
  When the polyether compound (A) and the monoethylenically unsaturated monomer component (B) are graft-polymerized in the presence of water or an organic solvent such as alcohol or toluene, the polyether compound (A) Since the grafting efficiency of the monoethylenically unsaturated monomer (B) onto the resin is lowered, it is not preferable. Therefore, when a solvent is used for the addition of the polymerization initiator or the monoethylenically unsaturated monomer component (B), it is preferable to reduce the amount as much as possible. Specifically, the amount is preferably 5% by weight or less with respect to the total amount of the polymerization reaction system, or it is preferably distilled immediately from the polymerization reaction system after the addition of the solvent.
[0036]
  As the polymerization initiator, known radical polymerization initiators can be used, and among these, organic peroxides are particularly preferable. Specific examples of the organic peroxide that can be used as a radical polymerization initiator in the present invention include ketone peroxides such as methyl ethyl ketone peroxide and cyclohexanone peroxide; t-butyl hydroperoxide, cumene. Hydroperoxide, diisopropylbenzene hydroperoxide, p-menthane hydroperoxide, 2,5-dimethylhexane-2,5-dihydroperoxide, 1,1,3,3-tetramethylbutyl hydroperoxide, etc. Peroxides; di-t-butyl peroxide, t-butylcumyl peroxide, dicumyl peroxide, α, α′-bis (t-butylperoxy) p-diisopropylbenzene, α, α′-bis (t -Butylpa Oxy) dialkyl peroxides such as p-diisopropylhexyne; t-butyl peroxyacetate, t-butyl peroxylaurate, t-butyl peroxybenzoate, di-t-butyl peroxyisophthalate, 2,5- Peroxyesters such as dimethyl-2,5-di (benzoylperoxy) hexane and t-butylperoxyisopropyl carbonate; n-butyl-4,4-bis (t-butylperoxy) valerate, 2,2- Peroxyketals such as bis (t-butylperoxy) butane; diacyl peroxides such as dibenzoyl peroxide; and the like.
[0037]
  The amount of these polymerization initiators used is not particularly limited, but it is preferably used in a proportion of 0.1% by weight to 15% by weight with respect to the monoethylenically unsaturated monomer component (B). More preferably, it is used at a ratio of 0.5 wt% to 10 wt%. When the usage-amount of a polymerization initiator deviates from said range, the graft polymerization efficiency of the monoethylenically unsaturated monomer component (B) with respect to a polyether compound (A) falls. The polymerization initiator may be added to the polyether compound (A) in advance, or may be added simultaneously with the monoethylenically unsaturated monomer component (B).
[0038]
  Moreover, polymerization temperature is 100 degreeC or more, Preferably it exists in the range of 110 to 160 degreeC, More preferably, it exists in the range of 110 to 140 degreeC. If the polymerization temperature is lower than 100 ° C., the grafting efficiency of the monoethylenically unsaturated monomer component (B) onto the polyether compound (A) is lowered. On the other hand, when the polymerization temperature exceeds 160 ° C., the polyether compound (A) and the resulting water-soluble graft polymer may be thermally decomposed.
[0039]
  In the present invention, when the graft polymerization is performed, it is preferable that a part or all of the polyether compound (A) is initially charged. In addition, in the monoethylenically unsaturated monomer component (B), monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomers such as maleic acid, fumaric acid, maleic anhydride and the like as the other monoethylenically unsaturated monomers In the case of using the above, after mixing at least half of these other monoethylenically unsaturated monomers in advance with the polyether compound (A) in advance, and heating the resulting mixture to 100 ° C. or higher The method of graft polymerization by adding the remaining monoethylenically unsaturated monomer component (B) and the polymerization initiator separately to the mixture is particularly preferred. As a method for adding the monoethylenically unsaturated monomer component (B) and the polymerization initiator separately, for example, using a dropping device, the monoethylenically unsaturated monomer component (B) and Although the method etc. of dripping a polymerization initiator at the same time to the said mixture from a separate dripping apparatus are mentioned, It does not specifically limit.
[0040]
  By adopting the above method, it is possible to significantly improve the rate of introduction of monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomers such as maleic acid, fumaric acid and maleic anhydride into the water-soluble graft polymer. When a part of the polyether compound (A) is initially charged, the remaining polyether compound (A) is mixed with a polymerization initiator or a monoethylenically unsaturated monomer component (B) and added. May be.
[0041]
  The water-soluble graft polymer thus obtained has a polyanion structure having a large number of carboxyl groups by a monoethylenic carboxylic acid monomer grafted on a polyethylene glycol chain, is difficult to foam, and has a defoaming property. Also excellent.
[0042]
  The water-soluble graft polymer is a polymer having a solubility in water of 1% or more. The water-soluble graft polymer may be used as it is, and after completion of the graft polymerization reaction, by adding a basic compound and neutralizing, for example, a monovalent metal salt such as sodium salt or potassium salt; calcium salt Divalent metal salts such as aluminum salts; Trivalent metal salts such as aluminum salts; Ammonium salts; Organic amine salts such as monoethanolamine salts and triethanolamine salts; Alternatively, it may be used after complete neutralization. The solvent used when adding the basic compound is preferably water, but is not particularly limited.
[0043]
  The weight average molecular weight of the water-soluble graft polymer is not particularly limited, but is preferably in the range of 500 to 50,000. If said weight average molecular weight is less than 500, there exists a tendency for detergency to fall as a result of a chelate power falling. On the other hand, when the weight average molecular weight exceeds 50,000, the water-soluble graft polymer is easily gelled by polyvalent metal ions, and the detergency tends to decrease.
[0044]
  Electronic component according to the present inventionResin stainsCleaning agent (hereinafter simply referred to as cleaning agent) contains the above water-soluble graft polymer. The object to be cleaned to which the cleaning with the cleaning agent can be applied is not particularly limited. For example, a semiconductor substrate such as a silicon wafer, a lead frame, a liquid crystal color filter, a ceramic electronic component such as a magnetic head, A printed wiring board etc. are mentioned. Examples of contaminants removed by the cleaning agent include, for example, resins such as wax, resin, and photoresist, and unreacted monomers, metal (fine) particles such as copper and nickel used for wiring and plating, and the like. Examples include metal ions and metal impurities.
[0045]
  In the present invention, components other than the water-soluble graft polymer contained in the cleaning agent are not particularly limited, and examples thereof include surfactants, phosphonic acid compounds, ammonia, hydrogen peroxide, and alkali metals. What is necessary is just to mix | blend suitably according to the kind etc. of the to-be-cleaned object or the contaminant which should be removed from hydroxide, a metal sealing agent, etc.
[0046]
  When the cleaning agent according to the present invention is used as a cleaning agent for silicon wafers, the cleaning agent preferably contains the water-soluble graft polymer, and further contains ammonia, hydrogen peroxide, and water. In addition to these ammonia, hydrogen peroxide, and water, it is more preferable to further contain a fluorine-based surfactant and a phosphonic acid-based compound.
[0047]
  The blending ratio of the water-soluble graft polymer in the cleaning agent is preferably in the range of 0.5 wt% to 60 wt%, more preferably in the range of 0.8 wt% to 40 wt%, from the viewpoint of detergency. The range of 1% to 30% by weight is most preferable.
[0048]
  Further, the mixing ratio of the ammonia is preferably in the range of 2% by weight to 90% by weight, more preferably in the range of 10% by weight to 60% by weight, and in the range of 20% by weight to 50% by weight from the viewpoint of detergency. Within the range is most preferred. As the ammonia, commercially available aqueous ammonia can be used by appropriately adjusting so that the blending amount of ammonia is within the above range.
[0049]
  The blending ratio of the hydrogen peroxide is preferably in the range of 0.5% by weight to 70% by weight, more preferably in the range of 1% by weight to 50% by weight from the viewpoint of detergency, and 2% by weight to 30% by weight. % Is most preferred. As the hydrogen peroxide, a commercially available hydrogen peroxide solution can be appropriately adjusted so that the blending amount of hydrogen peroxide is within the above range.
[0050]
  Moreover, as said fluorine-type surfactant, the well-known compound marketed as a fluorine-type surfactant can be used. Examples of the fluorosurfactant include:FluoroA fluoroalkylsulfonamide type fluorosurfactant such as butylsulfonamide is preferred. Only one kind of these fluorine-based surfactants may be used, or two or more kinds may be appropriately mixed and used. These fluorosurfactants are used by dissolving in ammonia water.
[0051]
  The blending ratio of the fluorosurfactant in the cleaning agent is not particularly limited, but is preferably in the range of 0.1% by weight to 40% by weight, and in the range of 0.2% by weight to 30% by weight. Is more preferable, and the range of 0.3% by weight to 20% by weight is most preferable. By using the fluorine-based surfactant at the above ratio, the cleaning property of the cleaning agent is further improved, and the so-called compactness of the detergent agent can be achieved. If the amount of the fluorosurfactant used is less than 0.1% by weight, the performance as a surfactant tends to decrease. On the other hand, even if the amount of the fluorosurfactant used is more than 40% by weight, further improvement in cleaning performance, etc. in proportion to the increase in the fluorosurfactant amount cannot be expected. Part of the agent is wasted, which is not preferable because it is economically disadvantageous.
[0052]
  Specific examples of the phosphonic acid compounds include N, N, N ′, N′-ethylenediaminetetra (methylenephosphonic acid), 1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid, nitrilotris ( Methylenephosphonic acid), glycine-N, N-bismethylenephosphonic acid, phytic acid, methyldiphosphonic acid, ethylidenediphosphonic acid, ethylenediaminebis (methylenephosphonic acid), diethylenetriaminepenta (methylenephosphonic acid), triethylenetetraminehexa ( Methylenephosphonic acid), propylenediaminetetra (methylenephosphonic acid), hexamethylenediaminetetra (methylenephosphonic acid), glycol etherdiaminetetra (methylenephosphonic acid), hexenediaminetetrakis (methylenephosphonic acid), trans 1,2-cyclohexanediaminetetra (methylenephosphonic acid), triaminotriethylamine hexa (methylenephosphonic acid), tetraethylenepentamine hexa (methylenephosphonic acid), tetraethylenepentaminehepta (methylenephosphonic acid), ethylaminobis (methylene Phosphonic acid), dodecylaminobis (methylenephosphonic acid), 1-hydroxypropylidene-1,1-diphosphonic acid, 1-hydroxybutylidene-1,1-diphosphonic acid and the like. Particularly preferably, N, N, N ′, N′-ethylenediaminetetra (methylenephosphonic acid), 1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid, nitrilotris (methylenephosphonic acid), glycine-N, N-bismethylenephosphone Examples of the acid include, but are not particularly limited to. Only one kind of these phosphonic acid compounds may be used, or two or more kinds may be appropriately mixed and used. These phosphonic acid compounds are also used by dissolving in ammonia water.
[0053]
  The blending ratio of the phosphonic acid compound in the cleaning agent is not particularly limited, but is preferably in the range of 0.01% by weight to 20% by weight, and in the range of 0.05% by weight to 10% by weight. More preferably, it is most preferably in the range of 0.1 wt% to 5 wt%. By using the phosphonic acid-based compound at the above ratio, it is possible to further suppress the decomposition of hydrogen peroxide in the cleaning liquid and further improve the cleaning properties of the cleaning agent.
[0054]
  In addition, the above electronicResin dirt on partsIf necessary, the cleaning agent may contain other additives usually contained in the cleaning agent for silicon wafers as long as the effects of the present invention are not impaired.
[0055]
  In the cleaning agent, the remainder other than the water-soluble graft polymer, ammonia, hydrogen peroxide, fluorine-based surfactant, phosphonic acid compound, and other additives is water. Moreover, these components used for the said cleaning agent are used so that the total amount may be 100 weight part. The water contained in the cleaning agent is not particularly limited as long as it does not impair the effects of the cleaning agent, such as ultrapure water, pure water, ion exchange water, distilled water, and tap water. The mixing ratio of water in the cleaning agent is preferably in the range of 5% to 98% by weight, more preferably in the range of 10% to 90% by weight, and most preferably in the range of 20% to 80% by weight. .
[0056]
  In addition, when the cleaning agent according to the present invention is used as a cleaning agent for resin stains in electronic components such as semiconductor substrates and lead frames, the cleaning agent includes the water-soluble graft polymer as an essential component, and an alkali metal. Preferably it contains hydroxide and water. Moreover, the said washing | cleaning agent may contain the metal sealing agent and other additives as needed.
[0057]
  The blending ratio of the water-soluble graft polymer in the cleaning agent is preferably in the range of 0.2% by weight to 60% by weight and more preferably in the range of 0.5% by weight to 50% by weight from the viewpoint of cleaning properties. Preferably, it is in the range of 0.8 wt% to 40 wt%.
[0058]
  Specific examples of the alkali metal hydroxide include lithium hydroxide, sodium hydroxide, potassium hydroxide and the like, and sodium hydroxide and potassium hydroxide are particularly preferably used. Only one kind of these alkali metal hydroxides may be used, or two or more kinds may be appropriately mixed and used.
[0059]
  The blending ratio of the alkali metal hydroxide in the cleaning agent is preferably in the range of 0.1% by weight to 60% by weight and more preferably in the range of 0.5% by weight to 40% by weight from the viewpoint of cleaning properties. Most preferred is in the range of 3% to 30% by weight. If the amount of the alkali metal hydroxide used is less than 0.1% by weight, the detergency tends to decrease. On the other hand, if the amount of the alkali metal hydroxide used exceeds 60% by weight, the uniformity of the resulting cleaning agent may be hindered or the danger due to alkali may increase.
[0060]
  Moreover, as said metal sealing agent, specifically, for example, gluconic acid, tannic acid, 2,3-dihydroxybenzoic acid, 3,4-dihydroxybenzoic acid, 2,3,4-trihydroxybenzoic acid, Carboxylic acids such as poly-α-hydroxyacrylic acid and glucuronic acid, and heptonic acid, 2,3-dihydroxyphenol, 2-hydroxyphenol, D-sorbit, D-mannit, dulcit, D-arabit, xylit, gluco Examples include norlactone, D-mannose, D-galactose, threitol, aminonaphthol, aminonaphtholsulfonic acid, salts of these exemplified compounds with alkali metals, triethanolamine, and the like.
[0061]
  Only one kind of the metal sealant may be used, or two or more kinds may be appropriately mixed and used. Among the above metal sealants, carboxylic acids such as gluconic acid, tannic acid, 3,4-dihydroxybenzoic acid, 2,3,4-trihydroxybenzoic acid, 2,3-dihydroxyphenol, and D-sorbit , D-mannitol, gluconolactone, D-galactose, aminonaphthol, aminonaphtholsulfonic acid, salts of these exemplified compounds with alkali metals, and triethanolamine are preferable from the viewpoints of detergency and rinsing properties. .
[0062]
  The blending ratio of the metal sealant in the cleaning agent is preferably in the range of 0.01 wt% to 20 wt%, more preferably in the range of 0.1 wt% to 10 wt%, and 0.2 wt%. Most preferred is in the range of ˜5% by weight. If the usage-amount of the said metal sealing agent is less than 0.01 weight%, it exists in the tendency for a washability to fall. On the other hand, if the amount of the metal sealant used exceeds 20% by weight, undissolved material may remain or the viscosity may increase and workability may decrease.
[0063]
  Moreover, the said cleaning agent may contain the other additive normally contained in the cleaning agent for resin stains in the range which does not impair the effect concerning this invention as needed. The other additives are not particularly limited, and specific examples include chelating agents, antiseptics, rust inhibitors, antifoaming agents such as silicone, antioxidants, amine compounds, palms, and the like. Examples include esters such as fatty acid methyl and benzyl acetate, hydrocarbon solvents, alcohols and the like. Examples of the chelating agent include aminocarboxylates such as hydroxyethylaminoacetic acid, hydroxyethyliminodiacetic acid and ethylenediaminetetraacetic acid, which are usually used as components of cleaning agents, but are not particularly limited. .
[0064]
  In the above-mentioned cleaning agent, the remainder excluding each component such as the water-soluble graft polymer, alkali metal hydroxide, metal sealant and other additives is water. Moreover, these components used for the said cleaning agent are used so that the total amount may be 100 weight part. The water contained in the cleaning agent is not particularly limited as long as it does not impair the effects of the cleaning agent, such as ultrapure water, pure water, ion exchange water, distilled water, and tap water. The mixing ratio of water in the cleaning agent is preferably in the range of 5% to 98% by weight, more preferably in the range of 10% to 90% by weight, and most preferably in the range of 20% to 80% by weight. .
[0065]
  In the present invention, the method of cleaning and removing contaminants attached to the surface of electronic components using these cleaning agents is not particularly limited, but specifically, for example, immersion method, ultrasonic cleaning method And a method of rinsing with a solvent or (warm) water after washing by a method selected from various conventionally known methods such as an immersion rocking method and a spray method. The rinse water is not particularly limited as long as it can remove contaminants on the surface of the electronic component. For example, ultrapure water, pure water, ion exchange water, distilled water, tap water, and the like are preferable from the viewpoint of rinsing properties. .
[0066]
  As described above, the electronic component according to the present inventionResin stainsThe cleaning agent for water has a structure containing the water-soluble graft polymer having the above structure. The water-soluble graft polymer is particularly excellent in gelation resistance, dispersibility, and chelating ability of polyvalent metal ions. For this reason, the water-soluble graft polymer is used in combination with, for example, aqueous ammonia and hydrogen peroxide as described above in order to decompose and remove (fine) particles, metal impurities, and the like attached to the surface of a semiconductor substrate such as a silicon wafer. In this case, wasteful decomposition of hydrogen peroxide derived from polyvalent metal ions contained in or eluted from the cleaning liquid using the above-described cleaning agent is suppressed, and is derived from oxygen generated by this wasteful decomposition of hydrogen peroxide. Foaming can be suppressed. Moreover, the water-soluble graft polymer is also excellent in antifoaming properties, and for example, foaming can be reduced even when used in combination with a surfactant.
[0067]
  Furthermore, since the water-soluble graft polymer is excellent in the chelating ability of polyvalent metal ions, the polyvalent metal ions in the cleaning liquid are chelated to suppress (re) attachment of the polyvalent metal ions to the object to be cleaned. be able to. In addition, the water-soluble graft polymer is excellent in dispersibility, and it is possible to suppress the reattachment of contaminants once separated from the object to be cleaned to the object to be cleaned. Therefore, according to said structure, the cleaning agent suitable for the washing | cleaning of the electronic component excellent in a defoaming property and a washability can be provided.
[0068]
  In addition, since the above water-soluble graft polymer can be synthesized from the polyether compound (A) and the monoethylenically unsaturated monomer component (B) by graft polymerization, it can be produced at low cost and has low foaming properties. The water-soluble graft polymer can reduce the cleaning time, the number of times of washing, the amount of rinse water, etc. Can be reduced. Therefore, the electronic componentResin stainsThe cleaning agent for cleaning is a highly economical cleaning agent.
[0069]
  Further, the above water-soluble graft polymer has a small amount of remaining monomer and is hardly toxic. And since said water-soluble graft polymer can improve washability, it can wash | clean on milder conditions. Therefore, the above electronic componentsResin stainsThe cleaning agent is very safe.
[0070]
【Example】
  EXAMPLES Hereinafter, although an Example and a comparative example demonstrate this invention further more concretely, this invention is not limited at all by these. In the examples and comparative examples, “part” indicates “part by weight”, and “%” indicates “% by weight”.
[Example 1]
  A glass reactor equipped with a thermometer, a stirrer, a nitrogen gas inlet tube, two dripping devices, and a reflux condenser, 100 parts of polyethylene glycol having a number average molecular weight of 200 as a polyether compound (A), and monoethylenic As the unsaturated monomer component (B), 51.8 parts of maleic acid and 4.5 parts of p-toluenesulfonic acid monohydrate were charged. Also, 48.2 parts of acrylic acid, which is a monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer, was charged into one dropping device, and perbutyl I (trade name; Nippon Oil & Fats Co., Ltd.) as a polymerization initiator was charged into the other dropping device. 8 parts of 95% t-butyl peroxyisopropyl monocarbonate (manufactured by company).
[0071]
  Next, the contents in the reactor were heated and dissolved while stirring under a nitrogen gas stream, and the temperature was raised to 128 ° C. Subsequently, the acrylic acid and perbutyl I were continuously dropped over 1 hour while maintaining the temperature of the contents in the reactor in a temperature range of 126 ° C. to 131 ° C., and then stirred for another hour. Graft polymerization was performed.
[0072]
  As a result, a water-soluble graft polymer (1) having a weight average molecular weight of 5,000, a graft ratio of 80%, and a purity of 85% was obtained as the graft polymer according to the present invention. Subsequently, a predetermined amount of water is added to the water-soluble graft polymer (1), neutralized with an aqueous sodium hydroxide solution to adjust the pH of the aqueous solution of the water-soluble graft polymer (1) to 8, and the water-soluble graft polymer (1). The sodium salt of the graft polymer (1) was obtained.
[0073]
  Subsequently, 0.05 g of the sodium salt of the water-soluble graft polymer (1) with respect to 5 g of 29% aqueous ammonia,FluoroAlkylsulfonamide type fluorosurfactantFluoroAqueous ammonia solution (a) was prepared by dissolving 0.5 g of butylsulfonamide and 0.5 g of phosphonobutanetricarboxylic acid, which is a phosphonic acid compound. Next, this aqueous ammonia solution (a), 30% hydrogen peroxide solution and water were mixed at a volume ratio of 1: 1: 6 to prepare the cleaning agent (1) according to the present invention. 800 ml of this cleaning agent (1) was put into a 1 liter beaker and kept at 50 ° C. After 30 minutes, the height of the generated foam was measured. The results are shown in Table 1.
[Example 2]
  In Example 1, the same reaction and operation as in Example 1 except that 100 parts of naphthoxypolyethylene glycol having a number average molecular weight of 600 as the polyether compound (A) was used instead of polyethylene glycol having a number average molecular weight of 200. To obtain a water-soluble graft polymer (2). The average number of moles of ethylene oxide added to naphthol in the naphthoxypolyethylene glycol is 10 moles. The obtained water-soluble graft polymer (2) had a weight average molecular weight of 5,500, a graft ratio of 82%, and a purity of 86%. Subsequently, a predetermined amount of water is added to the water-soluble graft polymer (2), neutralized with an aqueous sodium hydroxide solution to adjust the pH of the aqueous solution of the water-soluble graft polymer (2) to 8, and the water-soluble graft polymer (2). The sodium salt of the graft polymer (2) was obtained.
[0074]
  Subsequently, in Example 1, the same operation as in Example 1 was performed except that the sodium salt of the water-soluble graft polymer (2) was used instead of the sodium salt of the water-soluble graft polymer (1). A cleaning agent (2) according to the present invention was prepared. Using this cleaning agent (2), the same experiment as in Example 1 was performed, and the height of the generated foam was measured. The results are shown in Table 1.
Example 3
  In Example 1, the same reaction as in Example 1 except that 200 parts of naphthoxypolyethylene glycol having a number average molecular weight of 1,000 as the polyether compound (A) was used instead of polyethylene glycol having a number average molecular weight of 200. -Operation was performed to obtain a water-soluble graft polymer (3). The average number of moles of ethylene oxide added to naphthol in the naphthoxypolyethylene glycol is 20 moles. The obtained water-soluble graft polymer (3) had a weight average molecular weight of 4,300, a graft ratio of 80%, and a purity of 83%. Subsequently, a predetermined amount of water is added to the water-soluble graft polymer (3), neutralized with an aqueous sodium hydroxide solution to adjust the pH of the aqueous solution of the water-soluble graft polymer (3) to 8, Sodium salt of the graft polymer (3) was obtained.
[0075]
  Subsequently, in Example 1, the same operation as in Example 1 was performed except that the sodium salt of the water-soluble graft polymer (3) was used instead of the sodium salt of the water-soluble graft polymer (1). A cleaning agent (3) according to the present invention was prepared. Using this cleaning agent (3), the same experiment as in Example 1 was performed, and the height of the generated foam was measured. The results are shown in Table 1.
Example 4
  In Example 1, instead of polyethylene glycol having a number average molecular weight of 200, the polyether compound (A) was used except that 200 parts of an adduct having an average of 7 moles of ethylene oxide in an alkyl having 12 to 15 carbon atoms was used. The same reaction and operation as in Example 1 were carried out to obtain a water-soluble graft polymer (4). The obtained water-soluble graft polymer (4) had a weight average molecular weight of 6,800, a graft ratio of 78%, and a purity of 82%. Subsequently, a predetermined amount of water is added to the water-soluble graft polymer (4), neutralized with an aqueous sodium hydroxide solution to adjust the pH of the aqueous solution of the water-soluble graft polymer (4) to 8, The sodium salt of the graft polymer (4) was obtained.
[0076]
  Subsequently, in Example 1, the same operation as in Example 1 was performed except that the sodium salt of the water-soluble graft polymer (4) was used instead of the sodium salt of the water-soluble graft polymer (1). A cleaning agent (4) according to the present invention was prepared. Using this cleaning agent (4), the same experiment as in Example 1 was performed, and the height of the generated foam was measured. The results are shown in Table 1.
[Comparative Example 1]
  In Example 1, except that the water-soluble graft polymer (1) was not used, the same operation as in Example 1 was performed to prepare a comparative cleaning agent (5). Using this cleaning agent (5), the same experiment as in Example 1 was performed, and the height of the generated foam was measured. The results are shown in Table 1.
[0077]
[Table 1]
Figure 0003980162
[0078]
Example 5
  A bare silicon wafer (4 inches in diameter) is immersed in a dilute hydrofluoric acid solution in which polystyrene latex (manufactured by Nippon Synthetic Rubber Co., Ltd .; trade name STADEX, particle size 0.309 μm) is dispersed, and the polystyrene latex is surfaced on the bare silicon wafer. Adhered to. The number of polystyrene latex particles adhering to the bare silicon wafer surface was measured using a surface inspection device (Surfscan 4500).
[0079]
  Then, this bare silicon wafer was washed for 10 minutes using the cleaning liquid (1) obtained in Example (1) to remove the polystyrene latex. The cleaned bare silicon wafer is washed with ultrapure water for 5 minutes, dried for a predetermined time by spin drying, and then remains on the bare silicon wafer surface using the above-described surface inspection apparatus. The polystyrene having a particle diameter of 0.24 μm or more. The number of latex particles was measured. This result is shown in Table 2 together with the number of polystyrene latex particles adhering to the bare silicon wafer surface before cleaning.
Example 6
  In Example 5, in place of the cleaning liquid (1), the polystyrene on the bare silicon wafer surface before and after cleaning was obtained in the same manner as in Example 5 except that the cleaning liquid (2) obtained in Example (2) was used. The number of latex particles was measured. The results are shown in Table 2.
Example 7
  In Example 5, in place of the cleaning liquid (1), the polystyrene on the bare silicon wafer surface before and after cleaning was obtained in the same manner as in Example 5 except that the cleaning liquid (3) obtained in Example (3) was used. The number of latex particles was measured. The results are shown in Table 2.
Example 8
  In Example 5, instead of the cleaning liquid (1), the polystyrene on the bare silicon wafer surface before and after cleaning was obtained in the same manner as in Example 5 except that the cleaning liquid (4) obtained in Example (4) was used. The number of latex particles was measured. The results are shown in Table 2.
[Comparative Example 2]
  In Example 5, instead of the cleaning liquid (1), the comparative cleaning liquid (5) obtained in Comparative Example 1 was used, and the bare silicon wafer surface before and after cleaning was subjected to the same method as in Example 5. The number of particles of polystyrene latex was measured. The results are shown in Table 2.
[0080]
[Table 2]
Figure 0003980162
[0081]
[Reference example 1]
  Water, a sodium salt of the water-soluble graft polymer (1) obtained in Example 1 and an alkali metal hydroxide were mixed at a ratio of 80% by weight: 5% by weight: 15% by weight,Reference exampleA cleaning agent (6) was prepared.
[0082]
  Subsequently, 500 ml of the cleaning liquid (6) was collected in a 500 ml glass beaker, and the glass beaker was placed in a constant temperature bath (warm water bath). Next, the temperature of the cleaning liquid (6) was raised to 60 ° C. and held at that temperature, and the test piece was immersed in the cleaning liquid (6) for 20 minutes. Thereafter, the test piece was rinsed for 1 minute under running tap water and further air blown for 1 minute.
[0083]
  As the test piece, an acrylic melamine electrostatic coating product (primer: epoxy melamine resin, coating thickness: 40 μm in total) obtained using an 8 cm × 4 cm × 0.5 mm steel plate was used.
[0084]
  The cleaning property of the cleaning agent (6) was evaluated by visually evaluating the degree of peeling and cleaning of the resin coated on the test piece surface. The evaluation criteria are as follows. “◎” indicates that the resin is completely peeled and washed, and “◯” indicates that at least about 70% of the resin is peeled and washed, and the ratio of the resin that is peeled and washed is 70. % (Part) was defined as “Δ”, and “x” was defined as the resin having not been peeled off or washed at all. The results are shown in Table 3 together with main cleaning conditions.
[Reference example 2]
  Water, a sodium salt of the water-soluble graft polymer (2) obtained in Example (2), and an alkali metal hydroxide were mixed in a ratio of 80% by weight: 5% by weight: 15% by weight; BookReference exampleA cleaning agent (7) was prepared.
[0085]
  continue,Reference example 1Except that the cleaning liquid (7) was used instead of the cleaning liquid (6).Reference example 1By performing the same operation as above and visually evaluating the degree of peeling and cleaning of the resin coated on the surface of the test piece, the cleaning property of the cleaning agent (7) is improved.Reference example 1And evaluated in the same manner. In the above test piece,Reference example 1The same acrylic melamine electrostatic coating product was used. The results of the evaluation are shown in Table 3 together with main cleaning conditions.
[Comparative Example 3]
  A comparative cleaning agent (8) was prepared by mixing water and alkali metal hydroxide in a ratio of 85% by weight to 15% by weight.
[0086]
  continue,Reference example 1Except that the cleaning liquid (8) was used instead of the cleaning liquid (6).Reference example 1By performing the same operation as above and visually evaluating the degree of peeling and cleaning of the resin coated on the test piece surface, the cleaning property of the cleaning agent (8) is improved.Reference example 1And evaluated in the same manner. In the above test piece,Reference example 1The same acrylic melamine electrostatic coating product was used. The results of the evaluation are shown in Table 3 together with main cleaning conditions.
[Reference example 3]
  Water, a sodium salt of the water-soluble graft polymer (3) obtained in Example (3), and an alkali metal hydroxide were mixed at a ratio of 80% by weight: 5% by weight: 15% by weight; BookReference exampleA cleaning agent (9) was prepared.
[0087]
  Then, the said washing | cleaning liquid (9) was extract | collected to the 500 ml glass beaker, and this glass beaker was installed in the thermostat (warm water tank). Next, the temperature of the cleaning liquid (9) was raised to 60 ° C. and held at that temperature, and the test piece was immersed in the cleaning liquid (9) for 8 hours. After that, this test pieceReference example 1Under the same conditions as above, the sample was rinsed for 1 minute under running tap water and further air blown for 1 minute.
[0088]
  BookReference exampleThen, as the test piece, a polyester powder electrostatic coating product (coating thickness: maximum 4400 μm) obtained using a steel plate of 8 cm × 4 cm × 0.5 mm was used.
[0089]
  By visually evaluating the degree of peeling and cleaning of the resin coated on the test piece surface, the cleaning property of the cleaning agent (9)Reference example 1And evaluated in the same manner. The results are shown in Table 3 together with main cleaning conditions.
[Reference example 4]
  Water, a sodium salt of the water-soluble graft polymer (4) obtained in Example (4), and an alkali metal hydroxide were mixed in a ratio of 80% by weight: 5% by weight: 15% by weight; BookReference exampleA cleaning agent (10) was prepared.
[0090]
  Subsequently, in Example 11, except that the cleaning liquid (10) was used instead of the cleaning liquid (9),Reference example 3The cleaning performance of the cleaning agent (10) was evaluated in the same manner as in Example 9 by performing the same operation as above and visually evaluating the degree of peeling and cleaning of the resin coated on the surface of the test piece. In the above test piece,Reference example 3The same polyester powder electrostatic coating product was used. The results of the evaluation are shown in Table 3 together with main cleaning conditions.
[Comparative Example 4]
  Reference example 3However, instead of the cleaning liquid (9), except that the cleaning agent (8) obtained by the same operation as Comparative Example 3 was used,Reference example 3By performing the same operation as above and visually evaluating the degree of peeling and cleaning of the resin coated on the test piece surface, the cleaning property of the cleaning agent (8) is improved.Reference example 1And evaluated in the same manner. In the above test piece,Reference example 3The same polyester powder electrostatic coating product was used. The results of the evaluation are shown in Table 3 together with main cleaning conditions.
[0091]
[Table 3]
Figure 0003980162
[0092]
  From the results described in Tables 1 to 3, if the water-soluble graft polymer according to the present invention is used as a component of the cleaning agent, compared with the case where the water-soluble graft polymer is not used, the cleaning agent is prepared. It can be seen that there is little foaming after 30 minutes and the cleaning property is excellent.
[0093]
【The invention's effect】
  BookinventionPertaining toElectronic componentsResin stainsAs described above, the detergent is a water-soluble graft polymer obtained by graft-polymerizing a monoethylenically unsaturated monomer component containing a monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer to a polyether compound., Ammonia, hydrogen peroxide, water, fluorosurfactants and phosphonic acid compoundsIt is the structure containing.In the cleaning agent for resin stains of the electronic component, the blending ratio of the water-soluble graft polymer is in the range of 0.5 wt% to 60 wt%, and the blending ratio of the ammonia is 2 wt% to 90 wt%. The blending ratio of the hydrogen peroxide is in the range of 0.5 to 70% by weight, and the blending ratio of the fluorosurfactant is in the range of 0.1 to 40% by weight. The blending ratio of the phosphonic acid compound is preferably in the range of 0.01 wt% to 20 wt%. Furthermore, water is the balance when the total amount of each component is 100 parts by weight, and the blending ratio of water is preferably in the range of 5% by weight to 98% by weight.
[0094]
  According to the above configuration,Electronic components with excellent low-foaming and defoaming properties as well as excellent cleaning propertiesResin stainsThere is an effect that a cleaning agent can be provided.
[0095]
  In addition, the water-soluble graft polymer is inexpensive in production, and an electronic component comprising the water-soluble graft polymerResin stainsThe cleaning agent has excellent low-foaming properties, defoaming properties, and detergency, so it has excellent workability and can reduce the washing time, the number of washings, the amount of rinse water, etc., and reduce the cost of washing. Can be made. Further, the above water-soluble graft polymer has a small amount of remaining monomer and is hardly toxic. And since said water-soluble graft polymer can improve washability, it can wash | clean on milder conditions. Therefore, the electronic componentResin stainsThe cleaning agent is very economical and safe.
[0096]
  The above electronic componentsResin stainsThe cleaning agent is, for example, a silicon waferAttached toIt can be particularly suitably used for washing and removing resin stains.

Claims (3)

モノエチレン性不飽和カルボン酸系単量体を含むモノエチレン性不飽和単量体成分をポリエーテル化合物にグラフト重合してなる水溶性グラフト重合体、アンモニア、過酸化水素、水、フッ素系界面活性剤およびホスホン酸化合物を含むことを特徴とする電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤。Water-soluble graft polymer obtained by graft polymerization of a monoethylenically unsaturated monomer component containing a monoethylenically unsaturated carboxylic acid monomer to a polyether compound , ammonia, hydrogen peroxide, water, fluorine-based surface activity A cleaning agent for resin stains of electronic parts , comprising an agent and a phosphonic acid compound . 上記水溶性グラフト重合体の配合割合は0.5重量%〜60重量%の範囲内であり、上記アンモニアの配合割合は2重量%〜90重量%の範囲内であり、上記過酸化水素の配合割合は0.5重量%〜70重量%の範囲内であり、上記フッ素系界面活性剤の配合割合は0.1重量%〜40重量%の範囲内であり、上記ホスホン酸化合物の配合割合は0.01重量%〜20重量%の範囲内であることを特徴とする請求項1に記載の電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤。The blending ratio of the water-soluble graft polymer is in the range of 0.5 wt% to 60 wt%, the blending ratio of the ammonia is in the range of 2 wt% to 90 wt%, and the blending ratio of the hydrogen peroxide The ratio is in the range of 0.5 wt% to 70 wt%, the blending ratio of the fluorosurfactant is in the range of 0.1 wt% to 40 wt%, and the blending ratio of the phosphonic acid compound is The cleaning agent for resin stains of electronic components according to claim 1, wherein the cleaning agent is in the range of 0.01 wt% to 20 wt%. 水は、各成分の合計量を100重量部としたときの残部であり、水の配合割合は5重量%〜98重量%の範囲内であることを特徴とする請求項2に記載の電子部品の樹脂汚れ用洗浄剤。The electronic component according to claim 2, wherein water is a balance when the total amount of each component is 100 parts by weight, and a mixing ratio of water is in a range of 5% by weight to 98% by weight. Cleaning agent for resin stains.
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