JP3979170B2 - Auto handler - Google Patents

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JP3979170B2
JP3979170B2 JP2002128846A JP2002128846A JP3979170B2 JP 3979170 B2 JP3979170 B2 JP 3979170B2 JP 2002128846 A JP2002128846 A JP 2002128846A JP 2002128846 A JP2002128846 A JP 2002128846A JP 3979170 B2 JP3979170 B2 JP 3979170B2
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明生 中村
克浩 大高
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、動作試験の対象物である半導体集積回路(被測定デバイス)を半導体集積回路試験装置に引き渡すと共に試験済みの被測定デバイスを半導体集積回路試験装置から回収するオートハンドラに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のオートハンドラは、半導体集積回路試験装置に接続する測定部に被測定デバイスを確実に引き渡すために、試験前の被測定デバイスを収容する供給トレーが位置規制されるようになっている。そして、予め所定位置に位置規制された供給トレー内からピックアンドプレスによって上方から被測定デバイスを吸着・把持して測定部に移送する。そして、ある種のオートハンドラでは、供給トレーを位置規制するための機構として、昇降機構に支持された供給トレーを上方に配置された位置決め用部材の下面に形成された位置決め溝に係合させることによって供給トレーを所定位置に位置規制する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、昇降機構や位置決め用部材あるいはこれらを支持する各種部材の寸法や組み立てのばらつきに起因して、供給トレーと位置決め溝との相対位置関係にばらつきが生じ得る。そして、このようなばらつきが生じた場合、供給トレーを位置決め溝に確実に係合させることができなくなり、この結果、ピックアンドプレスと被測定デバイスとの位置関係も本来の位置関係から変位したものとなるので、ピックアンドプレスが被測定デバイスを確実に吸着・把持できなくなったり、あるいは吸着・把持できた場合であってもピックアンドプレスと被測定デバイスとの位置関係に狂いが生じるので、被測定デバイスを測定部に正確に引き渡すことができなくなるという不具合が生じる。
【0004】
なお、オートハンドラは、試験済みの被測定デバイスを上記供給トレーと同様に位置規制された回収トレー(空トレー)に収納する機能をも有する。このような被測定デバイスを回収トレーに収納する際にも、回収トレーが確実に位置規制されていない場合には、ピックアンドプレスに吸着・把持された被測定デバイスを回収トレー内に確実に収納し得ない状態が生じる。
【0005】
本発明は、上述する問題点に鑑みてなされたもので、供給トレーあるいは/及び回収トレーの位置規制をより確実に行うことを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明に係わる第1の手段において、被測定デバイスが収納された被測定デバイス収納具を昇降機構によって上昇させることによって位置決め溝に係合させて位置決めし、この状態において被測定デバイス吸着機構によって半導体集積回路試験装置に接続する測定部に搬送するオートハンドラであって、前記被測定デバイス収納具は昇降機構に対して遊びを持った支持機構によって支持されているという手段を採用する。
【0007】
第2の手段として、上記第1の手段において、遊びを持った支持機構は、被測定デバイス収納具が所定姿勢で載置されるトレーテーブルと、昇降機構の可動部に固定されると共に貫通孔が形成されたベースプレートと、該ベースプレートと前記トレーテーブルとの間に貫通孔の位置に合わせて介挿された中空状の弾性部材と、前記貫通孔及び弾性部材に挿通状態とされ、方端が前記トレーテーブルに係止されると共に、他端が前記ベースプレートに係止される貫通孔より小径のシャフトにより構成されるという手段を採用する。
【0008】
第3の手段として、上記第2の手段において、弾性部材はバネであるという手段を採用する。
【0009】
第4の手段として、上記第2の手段において、弾性部材はゴムであるという手段を採用する。
【0010】
第5の手段として、上記第1〜第4のいずれかの手段において、昇降機構はエアシリンダであるという手段を採用する。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明に係わるオートハンドラの一実施形態について説明する。なお、本実施形態は、水平搬送式オートハンドラに本発明を適用した場合に関する。
【0012】
図1は、本水平搬送式オートハンドラの概要構成を示す正面図である。この図において、符号1は搬送板、2Aは供給トレー用開口、2Bは空トレー用開口、2C〜2Fは回収トレー用開口、3は供給用P&P(測定デバイス吸着機構)、4は回収用P&P(測定デバイス吸着機構)、またTaは供給トレー(被測定デバイス収納具)、Tbは空トレー(被測定デバイス収納具)、Tc〜Tfは回収トレー(被測定デバイス収納具)、Xは測定対象である半導体集積回路(被測定デバイス)である。
【0013】
搬送板1は、方形状の平板な板材であり、被測定デバイスXの搬送基準面を構成している。この搬送板1は、図示するように供給・収容部、リフト部、プレヒート部、測定部、乾燥部及びバッファ部等が設けられると共に、1辺(下辺)に沿って所定間隔で長方形のトレー用開口2A〜2F、つまり供給トレー用開口2A、空トレー用開口2B及び回収トレー用開口2C〜2Fが一列に形成されている。供給トレー用開口2Aには供給トレーTaが配置され、空トレー用開口2Bには空トレーTb、回収トレー用開口2C〜2Fには各々に回収トレーTc〜Tfが配置されている。なお、以下の説明では、これら供給トレーTa、空トレーTb及び回収トレーTc〜Tfを総称する場合には各トレーTa〜Tfと言う。
【0014】
各トレーTa〜Tfは、略長方形であり、被測定デバイスXを収容するための収容溝が複数形成されると共に用途によって名称分けされている。各トレーTa〜Tfのうち、供給トレーTaは、試験前の被測定デバイスXを複数収容するもの、空トレーTbは予備のために用意されたもの、また回収トレーTc〜Tfは、試験結果に応じて分類された被測定デバイスXをそれぞれ収容するものである。供給トレーTa内の被測定デバイスXは、その上面が供給用P&P3によって吸着・把持されて供給・収容部に移送され、矢印で示すように搬送板1上の各部を一巡することによって試験が終了した状態で供給・収容部に戻る。回収用P&P4は、このようにして試験が終了した試験済みの被測定デバイスXを供給用P&P3と同様に吸着・把持し、試験結果に応じて回収トレーTc〜Tfのいずれかに移送する。
【0015】
次に、図2は、上記搬送板1の下に設けられるフレーム構造の斜視図である。本フレーム構造は、上フレーム6と下フレーム7とが左右の縦フレーム5、8によって箱型に組み立てられたものであり、上フレーム6には、各トレーTa〜Tfの形状に合わせて形成された長方形のトレー用開口、つまり供給トレー用開口2A、空トレー用開口2B及び回収トレー用開口2C〜2Fの各位置及び形状に合わせた開口6a〜6fが形成されると共に、当該各開口6a〜6fの直下にはトレー上下搬送機構9A〜9Fがそれぞれ設けられている。
【0016】
これら各トレー上下搬送機構9A〜9Fは全く同様に構成されている。図3は、トレー上下搬送機構9A〜9Fの要部拡大図である。この図において、符号10は支柱、11はエアーシリンダ(昇降機構)、12はベースプレート、13はトレーテーブル、14はテーブル連結機構である。これら各構成要素のうち、ベースプレート12、トレーテーブル13及びテーブル連結機構14は、本実施形態の特徴をなす遊びを持った支持機構を構成している。
【0017】
支柱10は、上記フレーム構造内に等間隔で立設されている。エアーシリンダ11は、この支柱10に沿うようにロッド10a(可動部)の移動方向が上下方向となるように設けられており、ロッド10aの先端部には平板なベースプレート12が水平状態に取り付けられている。このベースプレート12の上面には、テーブル連結機構14によって平板なトレーテーブル13が取り付けられている。
【0018】
トレーテーブル13は、上面に上記各トレーTa〜Tfが水平状態で載置される部分であり、各トレーTa〜Tfを位置決めするための位置決めピン13aが互いに離間した所定位置に複数設けられている。テーブル連結機構14は、このようなトレーテーブル13をベースプレート12に安定して固定するために、トレーテーブル13とベースプレート12との間に所定間隔を隔てて4箇所に介挿されている。
【0019】
図4は、上記テーブル連結機構14の詳細構成を示す断面図である。この図に示すように、本テーブル連結機構14は、ベースプレート12に形成された貫通孔12a及びトレーテーブル13に形成された貫通孔13aの位置に合わせてベースプレート12とトレーテーブル13との間に圧縮バネ15を介挿すると共に、ベースプレート12の貫通孔12aよりも小径のボルト16を各貫通孔12a、13aと圧縮バネ15とを貫くようにベースプレート12側から挿入し、ボルト16の先端に係止用ナット17を装着固定した構造を有する。
【0020】
すなわち、トレーテーブル13とベースプレート12とは、圧縮バネ15を間に挟んだ状態でボルト16(正確にはボルト16の頭部)と係止用ナット18とによって係止されている。しかも、ボルト16の外径はベースプレート12の貫通孔12aの内径よりも小径に設定されているので、トレーテーブル13は、ベースプレート12に対して上下方向のみならず水平方向にもある程度の自由度を持って連結されている。つまり、圧縮バネ15の弾性作用によってトレーテーブル13はベースプレート12に対して上下動可能であり、かつベースプレート12の貫通孔12aとボルト16との間の隙間Sが存在するためにボルト16が傾斜可能なので、トレーテーブル13はベースプレート12に対して水平方向にある程度の範囲で移動可能である。
【0021】
次に、図5は、上記上フレーム6の裏面正面図である。長方形に形成された各開口6a〜6fの周縁部には、各トレーTa〜Tfの各角部の位置を規制する略「コ」の字形状の位置決め部材17a〜17fが対抗するように1対設けられている。図6は、一例として位置決め部材17fの詳細形状を示す拡大図である(図5のA拡大図)。この図に示すように、位置決め部材17fは、略「コ」の字形状のプレートであり、互いに90°の角度をなす2ヶ所の2辺s、sによってトレーTfの各角部k、kを位置規制する。すなわち、トレーTfは、2つの位置決め部材17aによる合計4ヶ所の2辺s、sと上フレーム6の裏面とによって形成される位置決め溝Mによって位置規制される。
【0022】
次に、このように構成された本水平搬送式オートハンドラの要部動作について説明する。
【0023】
まず最初に、稼動初期状態では、例えば最左のトレー上下搬送機構9Aのトレーテーブル13上に供給トレーTaが複数枚積層された状態で載置される一方、右4つのトレー上下搬送機構9C〜9Fの各トレーテーブル13上には回収トレーTc〜Tfが複数枚積層された状態でそれぞれ載置される。なお、残りのトレー上下搬送機構9Bのトレーテーブル13上には、空トレーTbが載置されていない状態である。
【0024】
そして、トレー上下搬送機構9A及びトレー上下搬送機構9C〜9Fの各エアーシリンダ11が作動することによって最上段の供給トレーTaおよび回収トレーTc〜Tfは、上フレーム6の各開口6a、6c〜6fの下側に形成された位置決め溝Mにそれぞれ係合されて位置決めされる。すなわち、上記上フレーム6の開口6aの直上に位置する供給トレー用開口2Aには被測定デバイスXが収容された供給トレーTaが露出状態に載置され、各開口6c〜6fの直上にそれぞれ位置する各回収トレー用開口2C〜2Fには、被測定デバイスXが収容されていない空状態の回収トレーTc〜Tfがそれぞれ露出した状態で配置される。
【0025】
このような状態において、供給トレーTa内の被測定デバイスは、供給用P&P3によって吸着・把持されて供給・収容部に順次搬出される。また一方では、試験済みの被測定デバイスXが回収用P&P4によって回収トレーTc〜Tfに順次搬入される。そして、供給トレーTaが空状態になると、トレー上下搬送機構9Aのエアーシリンダ11が作動してトレーテーブル13が一端降下して空になった最上段の供給トレーTaが除去され、さらにトレーテーブル13が上昇することによって被測定デバイスXが収容された供給トレーTaが供給トレー用開口2Aに露出配置される。
【0026】
一方、各回収トレーTc〜Tfのうちいずれか、例えば回収トレーTcが試験済みの被測定デバイスXで満杯になると、トレー上下搬送機構9Cのトレーテーブル13は一端降下して満杯状態の回収トレーTcが除去され、さらにトレーテーブル13が上昇することによって空状態の回収トレーTcが供給トレー用開口2Cに露出配置される。
【0027】
このような一連の動作において、供給トレーTa及び各回収トレーTc〜Tfは以下のような作用によって各開口6a、6c〜6f(すなわち供給トレー用開口2A及び各回収トレー用開口2C〜2F)に位置決めされる。なお、以下では一例として、供給トレーTaの供給トレー用開口2Aに対する位置決めについて説明する。
【0028】
本水平搬送式オートハンドラでは、エアーシリンダ11が作動することによってトレーテーブル13が上昇し、当該トレーテーブル13条に載置された供給トレーTaが直上に位置する位置決め溝M内に最終的に収容されることによって位置決めが完了する。しかし、図2に示したフレーム構造の各部材の寸法や組み立て精度のばらつきによってトレーテーブル13(すなわち供給トレーTa)と位置決め溝との相対位置関係に偏差が生じることがある。このような場合、供給トレーTaの直上から変位した位置に位置決め溝Mが存在する状態となる。
【0029】
このような状態に対して、供給トレーTaは、テーブル連結機構14の作用によって垂直方向と水平方向とにある程度の幅で移動することを許容された状態でトレーテーブル13上に載置されているので、上記変位にも拘わらず容易に位置決め溝M内に収容される。すなわち、上記変位に起因して供給トレーTaの上面が位置決め部材17aの表面(下面)に当接した場合に、供給トレーTa(すなわちトレーテーブル13)は水平状態から傾斜した状態となるが、ベースプレート12の貫通孔12aとボルト16との間の隙間Sが形成されているので、ボルト16が傾斜したりあるいはベースプレート12に対して移動するので、供給トレーTaは、上記隙間Sがない場合に比較して容易に位置決め溝M内に滑り込むことができ、したがってより確実に位置規制される。
【0030】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のような変形例が考えられる。
(1)上記実施形態は、水平搬送式オートハンドラに本発明を適用した場合に関するものであるが、他の形式のオートハンドラにも適用可能である。
(2)ベースプレート12とトレーテーブル13との間に貫通孔12aの位置に合わせて介挿するものに圧縮バネ15を用いているが、中空状の弾性体なら良く、例えば、ゴムでも良い。
(3)昇降機構11にエアーシリンダを用いているが、例えば、モーター式や電気式の昇降機構でも良い。
【0031】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、オートハンドラ昇降機構や位置決め用部材あるいはこれらを支持する各種部材の寸法や組み立てのばらつきに起因して、各トレーと位置決め溝との相対位置関係にばらつきが生じ、各トレーを位置決め溝に確実に係合させることができない場合であっても、昇降機構に対し支持機構に遊びを持たせてあるので、各トレーを確実に位置決め溝に配置することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態に係わる水平搬送式オートハンドラの概要構成を示す正面図である。
【図2】 本発明の一実施形態に係わる水平搬送式オートハンドラのフレーム構造斜視図である。
【図3】 本発明の一実施形態におけるトレー上下搬送機構9A〜9Fの要部拡大図である。
【図4】 本発明の一実施形態におけるテーブル連結機構14の詳細構成を示す断面図である。
【図5】 本発明の一実施形態における上フレーム6の裏面正面図である。
【図6】 本発明の一実施形態における位置決め部材17fの詳細形状を示す拡大図である。
【符号の説明】
1……搬送板
2A……供給トレー用開口
2B……空トレー用開口
2C〜2F……回収トレー用開口
3……供給用P&P(測定デバイス吸着機構)
4……回収用P&P(測定デバイス吸着機構)
5……縦フレーム
6……上フレーム
6a〜6f……開口
7……下フレーム
8……縦フレーム
9A〜9F……トレー上下搬送機構
10……支柱
10a……ロッド
11……エアーシリンダ(昇降機構)
12……ベースプレート(遊びを持った支持機構)
12a……貫通孔
13……トレーテーブル(遊びを持った支持機構)
13a……位置決めピン
14……テーブル連結機構(遊びを持った支持機構)
15……圧縮バネ
16……ボルト
17a〜17f……位置決め部材
18……ボルト係止用ナット
X……被測定デバイス
S……隙間
s……辺
k……角部
M……位置決め溝
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an auto handler that delivers a semiconductor integrated circuit (device to be measured), which is an object of an operation test, to a semiconductor integrated circuit testing apparatus and collects a tested device to be measured from the semiconductor integrated circuit testing apparatus.
[0002]
[Prior art]
In a conventional auto handler, a supply tray that accommodates a device to be measured before the test is regulated in order to reliably deliver the device to be measured to a measuring unit connected to a semiconductor integrated circuit testing apparatus. Then, the device under measurement is sucked and gripped from above by a pick-and-press from the inside of the supply tray whose position is previously regulated at a predetermined position, and transferred to the measuring unit. In a certain type of auto handler, as a mechanism for regulating the position of the supply tray, the supply tray supported by the lifting mechanism is engaged with a positioning groove formed on the lower surface of the positioning member disposed above. To regulate the position of the supply tray at a predetermined position.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, variations in the relative positional relationship between the supply tray and the positioning grooves may occur due to variations in the dimensions and assembly of the lifting mechanism, the positioning member, and various members that support them. If such a variation occurs, the supply tray cannot be reliably engaged with the positioning groove. As a result, the positional relationship between the pick and press and the device under measurement is also displaced from the original positional relationship. Therefore, the pick and press cannot reliably suck and grip the device under measurement, or even if it can be picked up and gripped, the positional relationship between the pick and press and the device under measurement will be distorted. There arises a problem that the measuring device cannot be accurately delivered to the measuring unit.
[0004]
Note that the auto handler also has a function of storing the tested device to be measured in a collection tray (empty tray) whose position is regulated in the same manner as the supply tray. When storing the device to be measured in the collection tray, if the position of the collection tray is not reliably regulated, the device to be measured that has been picked up and pressed by the pick and press is securely stored in the collection tray. A state that cannot be done occurs.
[0005]
The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to more reliably regulate the position of a supply tray and / or a collection tray.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above-mentioned object, in the first means according to the present invention, the device under test storing the device under test being stored is raised by the lifting mechanism to be engaged with the positioning groove and positioned. In the automatic handler, the device under test is transported to a measurement unit connected to the semiconductor integrated circuit testing apparatus by the device under test suction mechanism, and the device under test storage is supported by a support mechanism having play with respect to the lifting mechanism. Adopt means.
[0007]
As a second means, in the first means, the support mechanism having play is fixed to the tray table on which the device storage device to be measured is placed in a predetermined posture and the movable portion of the lifting mechanism, and has a through hole. A base plate formed with a hollow elastic member interposed between the base plate and the tray table in accordance with the position of the through hole, and inserted into the through hole and the elastic member. A means is adopted in which the other end is constituted by a shaft having a smaller diameter than a through hole which is locked to the tray table and is locked to the base plate.
[0008]
As the third means, in the second means, a means is adopted in which the elastic member is a spring.
[0009]
As a fourth means, in the second means, a means that the elastic member is rubber is adopted.
[0010]
As a fifth means, in any one of the first to fourth means, a means is adopted in which the elevating mechanism is an air cylinder.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of an auto handler according to the present invention will be described with reference to the drawings. This embodiment relates to a case where the present invention is applied to a horizontal conveyance type auto handler.
[0012]
FIG. 1 is a front view showing a schematic configuration of the horizontal conveyance type auto handler. In this figure, reference numeral 1 is a transport plate, 2A is a supply tray opening, 2B is an empty tray opening, 2C to 2F are collection tray openings, 3 is a supply P & P (measuring device suction mechanism), and 4 is a recovery P & P. (Measurement device adsorption mechanism), Ta is a supply tray (device to be measured), Tb is an empty tray (device to be measured), Tc to Tf are collection trays (device to be measured), and X is a measurement object Is a semiconductor integrated circuit (device under test).
[0013]
The transport plate 1 is a rectangular flat plate material and constitutes a transport reference surface of the device to be measured X. The transport plate 1 is provided with a supply / accommodating section, a lift section, a preheating section, a measurement section, a drying section, a buffer section, and the like as shown in the figure, and for a rectangular tray at a predetermined interval along one side (lower side). The openings 2A to 2F, that is, the supply tray opening 2A, the empty tray opening 2B, and the collection tray openings 2C to 2F are formed in a line. A supply tray Ta is arranged in the supply tray opening 2A, an empty tray Tb is arranged in the empty tray opening 2B, and collection trays Tc to Tf are arranged in the collection tray openings 2C to 2F, respectively. In the following description, these supply tray Ta, empty tray Tb, and collection trays Tc to Tf are collectively referred to as trays Ta to Tf.
[0014]
Each tray Ta to Tf has a substantially rectangular shape, and a plurality of receiving grooves for receiving the device to be measured X are formed, and names are classified according to applications. Among the trays Ta to Tf, the supply tray Ta accommodates a plurality of devices to be measured X before the test, the empty tray Tb is prepared for backup, and the recovery trays Tc to Tf indicate the test results. The devices to be measured X classified according to each are accommodated. The upper surface of the device X to be measured in the supply tray Ta is adsorbed and held by the supply P & P3 and transferred to the supply / accommodating unit, and the test is completed by making a round of each part on the transport plate 1 as indicated by the arrows. Return to the supply / accommodation section. The recovery P & P4 sucks and grips the device under test X that has been tested in this manner in the same manner as the supply P & P3, and transfers it to one of the recovery trays Tc to Tf according to the test result.
[0015]
Next, FIG. 2 is a perspective view of a frame structure provided under the transport plate 1. In this frame structure, an upper frame 6 and a lower frame 7 are assembled in a box shape by left and right vertical frames 5 and 8, and the upper frame 6 is formed in accordance with the shape of each tray Ta to Tf. The rectangular tray openings, that is, the openings 6a to 6f corresponding to the positions and shapes of the supply tray opening 2A, the empty tray opening 2B, and the collection tray openings 2C to 2F are formed. Tray vertical transport mechanisms 9A to 9F are provided directly below 6f.
[0016]
Each of the tray vertical transport mechanisms 9A to 9F is configured in exactly the same manner. FIG. 3 is an enlarged view of a main part of the tray vertical transport mechanisms 9A to 9F. In this figure, reference numeral 10 is a support, 11 is an air cylinder (elevating mechanism), 12 is a base plate, 13 is a tray table, and 14 is a table coupling mechanism. Among these components, the base plate 12, the tray table 13, and the table coupling mechanism 14 constitute a support mechanism having play that characterizes the present embodiment.
[0017]
The supports 10 are erected at regular intervals in the frame structure. The air cylinder 11 is provided along the support column 10 such that the moving direction of the rod 10a (movable part) is the vertical direction, and a flat base plate 12 is attached to the tip of the rod 10a in a horizontal state. ing. A flat tray table 13 is attached to the upper surface of the base plate 12 by a table coupling mechanism 14.
[0018]
The tray table 13 is a portion where the trays Ta to Tf are placed in a horizontal state on the upper surface, and a plurality of positioning pins 13a for positioning the trays Ta to Tf are provided at predetermined positions separated from each other. . The table coupling mechanism 14 is inserted at four positions with a predetermined interval between the tray table 13 and the base plate 12 in order to stably fix the tray table 13 to the base plate 12.
[0019]
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a detailed configuration of the table coupling mechanism 14. As shown in this figure, the table coupling mechanism 14 is compressed between the base plate 12 and the tray table 13 according to the positions of the through holes 12a formed in the base plate 12 and the through holes 13a formed in the tray table 13. While inserting the spring 15, a bolt 16 having a diameter smaller than that of the through hole 12 a of the base plate 12 is inserted from the base plate 12 side so as to pass through each of the through holes 12 a, 13 a and the compression spring 15 and locked to the tip of the bolt 16. The nut 17 is mounted and fixed.
[0020]
That is, the tray table 13 and the base plate 12 are locked by the bolt 16 (more precisely, the head of the bolt 16) and the locking nut 18 with the compression spring 15 sandwiched therebetween. Moreover, since the outer diameter of the bolt 16 is set to be smaller than the inner diameter of the through hole 12a of the base plate 12, the tray table 13 has a certain degree of freedom not only in the vertical direction but also in the horizontal direction with respect to the base plate 12. Are connected. That is, the tray table 13 can be moved up and down with respect to the base plate 12 by the elastic action of the compression spring 15, and the bolt 16 can be inclined because there is a gap S between the through hole 12 a of the base plate 12 and the bolt 16. Therefore, the tray table 13 can move in a certain range in the horizontal direction with respect to the base plate 12.
[0021]
Next, FIG. 5 is a rear view of the upper frame 6. A pair of positioning members 17a to 17f having a substantially “U” shape that regulate the positions of the corners of the respective trays Ta to Tf are opposed to the peripheral edge portions of the respective openings 6a to 6f formed in a rectangular shape. Is provided. FIG. 6 is an enlarged view showing a detailed shape of the positioning member 17f as an example (an enlarged view of A in FIG. 5). As shown in this figure, the positioning member 17f is a substantially “U” -shaped plate, and the two corners k, k of the tray Tf are formed by two sides s, s that form an angle of 90 ° with each other. Regulate position. That is, the position of the tray Tf is regulated by the positioning groove M formed by the two two sides s and s of the four positions by the two positioning members 17 a and the back surface of the upper frame 6.
[0022]
Next, the operation of the main part of the horizontal conveyance type auto handler configured as described above will be described.
[0023]
First, in the initial operation state, for example, a plurality of supply trays Ta are stacked on the tray table 13 of the leftmost tray vertical transport mechanism 9A, while the right four tray vertical transport mechanisms 9C to 9C are placed. On each tray table 13 of 9F, a plurality of collection trays Tc to Tf are respectively stacked and stacked. The empty tray Tb is not placed on the tray table 13 of the remaining tray vertical transport mechanism 9B.
[0024]
When the air cylinders 11 of the tray vertical transport mechanism 9A and the tray vertical transport mechanisms 9C to 9F are operated, the uppermost supply tray Ta and the recovery trays Tc to Tf are opened to the openings 6a and 6c to 6f of the upper frame 6, respectively. Each is positioned by being engaged with a positioning groove M formed on the lower side. That is, the supply tray Ta containing the device to be measured X is placed in the exposed state in the supply tray opening 2A located immediately above the opening 6a of the upper frame 6, and is positioned directly above each of the openings 6c to 6f. In each of the collection tray openings 2C to 2F, empty collection trays Tc to Tf in which the device to be measured X is not accommodated are arranged in an exposed state.
[0025]
In such a state, the devices to be measured in the supply tray Ta are sucked and held by the supply P & P 3 and sequentially carried out to the supply / accommodating unit. On the other hand, the device under test X that has been tested is sequentially carried into the collection trays Tc to Tf by the collection P & P4. When the supply tray Ta becomes empty, the air cylinder 11 of the tray up-and-down conveying mechanism 9A is operated, and the tray table 13 is lowered to remove the uppermost supply tray Ta that is empty, and the tray table 13 is further removed. Rises, the supply tray Ta in which the device to be measured X is accommodated is exposed and arranged in the supply tray opening 2A.
[0026]
On the other hand, when any one of the collection trays Tc to Tf, for example, the collection tray Tc is filled with the tested device X to be measured, the tray table 13 of the tray up-and-down transport mechanism 9C is lowered once and the collection tray Tc in the full state is full. Is removed, and the tray table 13 is further lifted, so that the empty collection tray Tc is exposed at the supply tray opening 2C.
[0027]
In such a series of operations, the supply tray Ta and each of the collection trays Tc to Tf are moved to the openings 6a and 6c to 6f (that is, the supply tray opening 2A and the collection tray openings 2C to 2F) by the following actions. Positioned. In the following, positioning of the supply tray Ta with respect to the supply tray opening 2A will be described as an example.
[0028]
In this horizontal transfer type auto handler, the tray table 13 is lifted by the operation of the air cylinder 11, and the supply tray Ta mounted on the tray table 13 is finally accommodated in the positioning groove M positioned immediately above. This completes positioning. However, a deviation may occur in the relative positional relationship between the tray table 13 (that is, the supply tray Ta) and the positioning groove due to variations in dimensions and assembly accuracy of each member of the frame structure shown in FIG. In such a case, the positioning groove M exists at a position displaced from directly above the supply tray Ta.
[0029]
In such a state, the supply tray Ta is placed on the tray table 13 in a state where it is allowed to move with a certain amount of width in the vertical direction and the horizontal direction by the action of the table coupling mechanism 14. Therefore, it is easily accommodated in the positioning groove M regardless of the displacement. That is, when the upper surface of the supply tray Ta comes into contact with the surface (lower surface) of the positioning member 17a due to the displacement, the supply tray Ta (that is, the tray table 13) is inclined from the horizontal state. Since the gap S between the 12 through holes 12a and the bolt 16 is formed, the bolt 16 is inclined or moved with respect to the base plate 12, so that the supply tray Ta is compared with the case where the gap S is not provided. Thus, it can be easily slid into the positioning groove M, and the position is more reliably regulated.
[0030]
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, For example, the following modifications can be considered.
(1) The above embodiment relates to the case where the present invention is applied to a horizontal conveyance type auto handler, but it can also be applied to other types of auto handlers.
(2) The compression spring 15 is used between the base plate 12 and the tray table 13 to be inserted in accordance with the position of the through hole 12a. However, the compression spring 15 may be a hollow elastic body, for example, rubber.
(3) Although an air cylinder is used for the elevating mechanism 11, for example, a motor type or electric type elevating mechanism may be used.
[0031]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the relative positional relationship between each tray and the positioning groove varies due to variations in dimensions and assembly of the auto handler lifting mechanism, the positioning member, and various members that support them. Even if each tray cannot be reliably engaged with the positioning groove, the support mechanism has a play with respect to the lifting mechanism, so that each tray can be reliably placed in the positioning groove. Is possible.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front view showing a schematic configuration of a horizontal conveyance type auto handler according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view of a frame structure of a horizontal conveyance type auto handler according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is an enlarged view of a main part of tray vertical transport mechanisms 9A to 9F according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a detailed configuration of a table coupling mechanism 14 in an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a rear view of the upper frame 6 according to an embodiment of the present invention.
FIG. 6 is an enlarged view showing a detailed shape of a positioning member 17f according to an embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Conveyance board 2A ... Opening tray opening 2B ... Empty tray opening 2C-2F ... Collection tray opening 3 ... Supply P & P (measuring device adsorption mechanism)
4 ... P & P for collection (measuring device adsorption mechanism)
5 …… Vertical frame 6 …… Upper frames 6a to 6f …… Opening 7 …… Lower frame 8 …… Vertical frames 9A to 9F …… Tray vertical transport mechanism 10 …… Post 10a …… Rod 11 …… Air cylinder mechanism)
12 ... Base plate (support mechanism with play)
12a …… Through hole 13 …… Tray table (support mechanism with play)
13a …… Positioning pin 14 …… Table coupling mechanism (support mechanism with play)
15 ...... Compression spring 16 ...... Bolts 17 a to 17 f ...... Positioning member 18 ...... Bolt locking nut X ...... Device to be measured S …… Gap s ...... Side k ...... Corner M ...... Positioning groove

Claims (4)

被測定デバイス(X)が収納された被測定デバイス収納具(Ta)を昇降機構(11)によって上昇させることによって位置決め溝(M)に係合させて位置決めし、この状態において被測定デバイス吸着機構(3)によって半導体集積回路試験装置に接続する測定部に搬送するオートハンドラであって、前記被測定デバイス収納具(Ta)は昇降機構(11)に対して遊びを持った支持機構によって支持され
遊びを持った支持機構は、被測定デバイス収納具(Ta)が所定姿勢で載置されるトレーテーブル(13)と、昇降機構(11)の可動部(10a)に固定されると共に貫通孔(12a)が形成されたベースプレート(12)と、該ベースプレート(12)と前記トレーテーブル(13)との間に貫通孔(12a)の位置に合わせて介挿された中空状の弾性部材(15)と、前記貫通孔(12)及び弾性部材(15)に挿通状態とされ、方端が前記トレーテーブル(13)に係止されると共に、他端が前記ベースプレート(12)に係止される貫通孔(12a)より小径のボルト(16)により構成される
ことを特徴とするオートハンドラ。
The device under test (Ta) in which the device under test (X) is stored is moved up by the elevating mechanism (11) to be engaged with the positioning groove (M) and positioned in this state. The auto-handler transported to the measuring unit connected to the semiconductor integrated circuit test apparatus according to (3), wherein the device under test device (Ta) is supported by a support mechanism having play with respect to the lifting mechanism (11). ,
The support mechanism with play is fixed to the tray table (13) on which the device-under-measurement device (Ta) is placed in a predetermined posture and the movable part (10a) of the elevating mechanism (11) and the through hole ( 12a) and a hollow elastic member (15) inserted between the base plate (12) and the tray table (13) in accordance with the position of the through hole (12a). And the through hole (12) and the elastic member (15) are inserted, the one end is locked to the tray table (13), and the other end is locked to the base plate (12). An auto handler comprising a bolt (16) having a diameter smaller than that of the hole (12a) .
弾性部材(15)はバネであることを特徴とする請求項1記載のオートハンドラ。The auto handler according to claim 1, wherein the elastic member (15) is a spring . 弾性部材(15)はゴムであることを特徴とする請求項1記載のオートハンドラ。 The autohandler according to claim 1, wherein the elastic member (15) is rubber . 昇降機構(11)はエアーシリンダであることを特徴とする請求項1〜3いずれかに記載のオートハンドラ。The auto handler according to any one of claims 1 to 3, wherein the elevating mechanism (11) is an air cylinder .
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