JP3967747B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
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Description
本発明は光ディスク装置に関し、より詳細には、光ディスクへのレーザー光の照射角度を規定する対物レンズのチルト角度を常に最適化することにより、光ディスクからのデータの読み込みを高精度で実行することが可能な光ディスク装置に関する。
従来、CDやDVDの各種光ディスクは、光ピックアップから照射されたレーザー光が光ディスクの記録面に垂直に照射されていることを前提に設計がなされている。
しかしながら、上記各種の光ディスクは、ポリカーボネート等の樹脂からなる2枚の円盤状体が記録層や反射層を挟み込んだ状態でプレス成形されており、光ディスクは反りを有していることが多い。このように実際に使用される光ディスクにおいては、レーザー光は必ずしも記録面に対して垂直に照射されず、設計どおりの読み取り品位を得ることができないことがある。
しかしながら、上記各種の光ディスクは、ポリカーボネート等の樹脂からなる2枚の円盤状体が記録層や反射層を挟み込んだ状態でプレス成形されており、光ディスクは反りを有していることが多い。このように実際に使用される光ディスクにおいては、レーザー光は必ずしも記録面に対して垂直に照射されず、設計どおりの読み取り品位を得ることができないことがある。
そこで、レーザー光を光ディスクの記録面に照射すると共に、光ディスクの記録面からの反射光の状態を観察し、観察された反射光の状態に応じて光ディスクの記録面に対するレーザー光の照射角度を設定する対物レンズのチルト角度調整方法が提案されている。このようなチルト角度調整方法としては、例えば特許文献1にあるような方法が開示されている。
特許文献1によるチルト角度調整方法を具体的に説明すると、対物レンズの傾きを調整するチルト調整用コイルを備えた光学式ピックアップを使用する光ディスク記録再生装置において、前記チルト調整用コイルに供給するチルト電圧を変更する毎に光ディスクより再生される信号に含まれるエラー数をカウントし、カウント値が適正値になったとき、その状態におけるチルト電圧を最適なチルト電圧として設定するものである。
特許文献1に記載の発明により、対物レンズから光ディスクの記録面に照射されるレーザー光線の照射角度を、エラー数が最小となる最適な状態にしてデータを読み取りすることが可能である。
特開2003−196867号公報
しかしながら、特許文献1における光ディスク再生記録装置のチルト調整方法においては、チルト調整用コイルに供給するチルト電圧を変更する毎にディスクより再生される信号に含まれるエラー数をカウントし、カウント値が適正値になったとき、その状態におけるチルト電圧を最適なチルト電圧として設定している。このため、予め設定されている適正値を光ディスクの各位置に応じて設定しなければならず煩雑であると共に、適正値の決定が困難であるといった課題や、適正値の設定を誤ると適切なチルト角度調整にならなくなってしまうといった課題がある。
本発明は、光ディスクのデータ記録領域全体において、光ディスクの記録面からの反射光に含まれるエラー数をカウントし、カウントされたエラー数に基づいて光ディスクの記録面に対するレーザー光の照射角度を適正に制御することにより、光ディスクの全データ記録領域におけるデータ読み込み品質を大幅に向上させることが可能な光ディスク装置の提供を目的とするものである。
本発明は、対物レンズを有し、光ディスクにレーザー光線を照射すると共に、光ディスクからの反射光を受光し、光ディスクの記録面に対する対物レンズの角度を変更可能に保持するアクチュエータを有する光ピックアップと、前記アクチュエータの動作を制御する制御手段と、記憶手段と、を具備し、前記制御手段は、前記光ディスクのデータ記録領域を所定の長さの区間ごとに区切り、該区間ごとに、前記対物レンズの角度を第1の角度または第2の角度のいずれかの角度に設定して、当該区間内に記録されているデータを読み出し、該区間ごとに読み出したデータのPIエラー数を測定して前記記憶手段に記憶し、該区間が複数連続してなる計測区間の先頭から終了までの間で、前記対物レンズの角度が、第1の角度と第2の角度とに設定された隣接する2つの区間どうしのPIエラー数を比較し、該比較の結果PIエラー数が少ない方の角度に対応するポイントを付与し、第1の角度に対応するポイントの累積値と、第2の角度に対応するポイントの累値との差をパラメータとして算出し、前記対物レンズを、算出したパラメータに対応する角度となるように前記アクチュエータを制御することを特徴とする光ディスク装置である。
また、前記制御手段は、前記パラメータに対応する角度に設定した前記対物レンズの角度を、新たに第1の角度として設定し、前記光ディスクのデータ記録領域を所定の長さの区間ごとに区切り、該区間ごとに、前記対物レンズの角度を第1の角度または第2の角度のいずれかの角度に設定して、当該区間内に記録されているデータを読み出し、該区間ごとに読み出したデータのPIエラー数を測定して前記記憶手段に記憶し、該区間が複数連続してなる計測区間の先頭から終了までの間で、前記対物レンズの角度が、第1の角度と第2の角度とに設定された隣接する2つの区間どうしのPIエラー数を比較し、該比較の結果PIエラー数が少ない方の角度に対応するポイントを付与し、第1の角度に対応するポイントの累積値と、第2の角度に対応するポイントの累積値との差をパラメータとして算出し、前記対物レンズを、算出したパラメータに対応する角度となるように前記アクチュエータを制御すること繰り返し実行することを特徴とする。
これにより光ディスクの全データ記録領域において適切なチルト角度調整を行うことができる。また、レーザー光線の照射によって生じる光ディスクの変形についても対応することができる。
これにより光ディスクの全データ記録領域において適切なチルト角度調整を行うことができる。また、レーザー光線の照射によって生じる光ディスクの変形についても対応することができる。
また、前記区間ごとの角度の設定は、前記PIエラー数を互いに比較するために対となる2つの連続する区間内では、2つの連続する区間のうち最初に位置する区間においては、前記対物レンズの角度を前記第1の角度または前記第2の角度に設定し、該最初に位置する区間の後に隣接する区間においては前記対物レンズの角度を前記最初に位置する区間で設定した角度とは異なる前記第1の角度または前記第2の角度のいずれか他方の角度に設定し、これら2つの連続する区間の後に隣接して位置し、前記PIエラー数を互いに比較するために対となる2つの連続する区間内では、該2つの連続する区間のうち、最初に位置する区間においては、前記対物レンズの角度を、先に対とした2つの連続する区間のうち後の区間で設定された角度と同じ角度となるように、前記第1の角度または前記第2の角度のいずれか他方の角度に設定することを特徴とする。
このように、対物レンズのチルト角度を第1の角度、第2の角度、第2の角度、第1の角度、第1の角度、第2の角度、第2の角度・・・と2区間にわたってチルト角度を同じ状態にしながら交互に繰り返すことにより、光ディスクへのデータ記録品位を原因とするPIエラー傾向の影響を軽減することができる。これにより、光ディスクの変形によるPIエラーのみを抽出することができる。
このように、対物レンズのチルト角度を第1の角度、第2の角度、第2の角度、第1の角度、第1の角度、第2の角度、第2の角度・・・と2区間にわたってチルト角度を同じ状態にしながら交互に繰り返すことにより、光ディスクへのデータ記録品位を原因とするPIエラー傾向の影響を軽減することができる。これにより、光ディスクの変形によるPIエラーのみを抽出することができる。
また、前記記憶手段には、前記パラメータの値に応じた前記対物レンズの角度調整量を示す参照データが予め記憶されていることを特徴とする。
これにより、制御手段が光ピックアップの角度変化量を計算する必要がなくなり、制御手段であるCPUに過度な負担をかけることなく、チルト角度の制御が可能になり、光ディスク装置の円滑な動作が実現する。
これにより、制御手段が光ピックアップの角度変化量を計算する必要がなくなり、制御手段であるCPUに過度な負担をかけることなく、チルト角度の制御が可能になり、光ディスク装置の円滑な動作が実現する。
また、前記制御手段は、前記パラメータの値が閾値以下であった場合、前記対物レンズの角度調整量をゼロにすることを特徴とする。
これにより、データの読み取り品位に影響を及ぼさない範囲においては、必要以上のチルト角度調整を行わないようにすることが可能になり、読み取り速度を向上させることができる。
これにより、データの読み取り品位に影響を及ぼさない範囲においては、必要以上のチルト角度調整を行わないようにすることが可能になり、読み取り速度を向上させることができる。
本発明にかかる光ディスク装置によれば、光ディスクのデータ記録領域のすべてにおいて反射光に含まれるエラー数を最小となるようにチルト角度が制御される。これにより、光ディスクのデータ記憶領域のすべてにおいてデータ読み取り品位を最適な状態にすることができ、常に最高品質でのデータの読み込みが可能になる。
以下、本発明にかかる光ディスク装置10の実施の形態について、図面に基づいて説明する。
図1は、本実施の形態における光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
図1は、本実施の形態における光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
本実施の形態における光ディスク装置10は、光ディスクDを載置するターンテーブルTと、ターンテーブルTを介して光ディスクDを回転させるスピンドルモータMと、光ディスクDにレーザー光Lを照射すると共に光ディスクDからの反射光を検出し、対物レンズ14を光ディスクDの記録面に対して傾斜させるアクチュエータ16を具備する光ピックアップ12と、光ピックアップ12が検出した光ディスクDからの反射光信号をディジタル信号に変換するRFアンプ17と、光ディスク装置10の各種動作を制御する制御手段20とを有している。
制御手段20は、CPU22およびサーボプロセッサ24等により構成され、メモリ等の記憶手段30に予め記憶させている制御プログラムに基づいて動作する。
制御手段20は、CPU22およびサーボプロセッサ24等により構成され、メモリ等の記憶手段30に予め記憶させている制御プログラムに基づいて動作する。
光ディスクDは、各種CDおよびDVDといった公知の光ディスクが用いられる。光ディスクDは、データを示すピットが形成される記録面を有している。光ディスク装置10は、この記録面に対し、光ピックアップ12からレーザー光Lを垂直に照射し、レーザー光Lの記録面からの反射光を検出することにより、光ディスクDからデータの読み取りをおこなう。一方光ディスクDへのデータの書き込みは、光ディスクDの記録面に光ピックアップ12から記録面に対し、垂直に照射したレーザー光Lが記録面にピットを形成することによりなされる。このように、光ディスクDからのデータの読み取り、光ディスクDへのデータの書き込みといった光ディスクDへのアクセスは、光ピックアップ12から照射されるレーザー光Lが光ディスクDの記録面へ垂直に照射されていることを前提としている。
光ディスクDは光ディスク装置10のターンテーブルTに固定され、スピンドルモータMによりターンテーブルTを介して回転される。
光ディスクDは光ディスク装置10のターンテーブルTに固定され、スピンドルモータMによりターンテーブルTを介して回転される。
光ピックアップ12は、光ディスクDの記録面にレーザー光Lを照射集光するための対物レンズ14と、対物レンズ14が観測した反射光の信号強度を測定するためのフォトダイオード(図示せず)と、対物レンズ14を保持すると共に、水平面に対する対物レンズ14の光軸を調整するためのアクチュエータ16とにより構成されている。光ピックアップ12内の対物レンズ14は、光ディスクDがターンテーブルTに水平に固定されている前提のもと、その光軸が水平面に対して垂直になるように配設されている。
アクチュエータ16は、光ディスクDの記録面に対する対物レンズ14の保持状態を変化させるためのものである。具体的には、対物レンズ14と光ディスクDとの距離や光ディスクDの記録面に対して照射するレーザー光Lの照射角度、すなわち光ディスクDの記録面に対する対物レンズ14の光軸の角度がアクチュエータ16により調整される。
アクチュエータ16は、具体的には、対物レンズ14の近傍に対物レンズ14を挟持するようにして配設された電磁コイルであり、このコイルにサーボプロセッサ24からのチルト制御信号を供給することで対物レンズ14の保持状態を変化させている。
アクチュエータ16は、具体的には、対物レンズ14の近傍に対物レンズ14を挟持するようにして配設された電磁コイルであり、このコイルにサーボプロセッサ24からのチルト制御信号を供給することで対物レンズ14の保持状態を変化させている。
光ピックアップ12は、担体18に載置されている。担体18は、光ディスク装置10内において光ディスクDの記録面から所要距離離れた位置における水平面内を光ディスクDの径方向に移動する。
このようにして構成された光ピックアップ12により、光ディスクDの記録面に照射したレーザー光Lの反射光を読み取って、光ディスクのデータの読み書きが行われる。
このようにして構成された光ピックアップ12により、光ディスクDの記録面に照射したレーザー光Lの反射光を読み取って、光ディスクのデータの読み書きが行われる。
RFアンプ17は、光ピックアップ12のフォトダイオードにより測定された反射光の信号強度(光強度)をディジタル信号に変換し、サーボプロセッサ24に反射光からの各種信号を抽出させるためのものである。
記憶手段30はメモリやHDD等を単数又は複数用いることにより構成されている。記憶手段30には、制御手段20の動作を制御するための制御プログラムの他、制御手段20がチルト角度調整をする際における参照データ等が予め記憶されている。
記憶手段30はメモリやHDD等を単数又は複数用いることにより構成されている。記憶手段30には、制御手段20の動作を制御するための制御プログラムの他、制御手段20がチルト角度調整をする際における参照データ等が予め記憶されている。
次に、本実施の形態における光ディスク装置10の対物レンズ14のチルト角度制御方法について説明する。図2は、本実施の形態におけるチルト角度調整処理におけるフロー図である。図3は、本実施の形態におけるチルト角度調整処理動作概要を示す説明図である。
光ディスク装置10に光ディスクDが装着される(S1)と、サーボプロセッサ24を介して対物レンズ14が所定の角度に設定された第1の角度となるようにセットされる(S2)。
光ディスク装置10に光ディスクDが装着される(S1)と、サーボプロセッサ24を介して対物レンズ14が所定の角度に設定された第1の角度となるようにセットされる(S2)。
CPU22は、光ピックアップ12に光ディスクDからの反射光を所定の長さの区間(本実施の形態においては、50ECCブロックとしている)にわたって検出させ、検出した反射光をRFアンプ17にディジタル信号に変換させて、PIエラー数を測定すると共に記憶手段30に第1の角度のPIエラー数として記憶させる(S3)。続いてサーボプロセッサ24が、アクチュエータ16を作動させて、対物レンズ14を第1の角度から所定の角度だけ傾斜させ、第2の角度となるようにセットする(S4)。CPU22は、第2の角度にセットされた光ピックアップ12に光ディスクDからの反射光を50ECCブロックにわたって検出させた後、検出した反射光をRFアンプ17によりディジタル信号に変換させて、PIエラー数を測定すると共に、記憶手段30に第2の角度におけるPIエラー数として記憶させる(S5)。
CPU22は、それぞれのPIエラー数を比較した際に、PIエラー数が少ない方の角度に対し所定のポイントを付与し、付与されたポイントの累積状態(パラメータPの値)により、最終的にPIエラー数を少なくする(有利な)角度状態を決定している。なお、パラメータPの値は記憶手段30に記憶される。
具体的には、CPU22は、第1の角度のPIエラー数と第2の角度におけるPIエラー数を比較し(S6)、第1の角度におけるPIエラー数が第2の角度におけるPIエラー数より少ない場合には、パラメータPにマイナス1ポイントを加算し、その逆の場合には、パラメータPに1ポイントを加え、第1の角度におけるPIエラー数と第2の角度におけるPIエラー数が等しい場合にはパラメータPに現状値を維持させる処理(J1)を行う。パラメータPに対するポイント加算処理が実行された後、記憶手段30にパラメータPを記憶させ(S7)、第1のPIエラー数および第2のPIエラー数をそれぞれクリアする(S8)。
具体的には、CPU22は、第1の角度のPIエラー数と第2の角度におけるPIエラー数を比較し(S6)、第1の角度におけるPIエラー数が第2の角度におけるPIエラー数より少ない場合には、パラメータPにマイナス1ポイントを加算し、その逆の場合には、パラメータPに1ポイントを加え、第1の角度におけるPIエラー数と第2の角度におけるPIエラー数が等しい場合にはパラメータPに現状値を維持させる処理(J1)を行う。パラメータPに対するポイント加算処理が実行された後、記憶手段30にパラメータPを記憶させ(S7)、第1のPIエラー数および第2のPIエラー数をそれぞれクリアする(S8)。
続けてCPU22は、第2の角度に設定された対物レンズ16の状態における光ピックアップ12に、再度所定の長さの区間(50ECCブロック)にわたって反射光を検出させ、検出した反射光をRFアンプ17によりディジタル化させ、PIエラーを測定すると共に記憶手段30に第2の角度におけるPIエラー数として記憶手段30に記憶させる(S9)。続いてサーボプロセッサ24が、アクチュエータ16を作動させて、対物レンズ14のチルト角度を第1の角度にセットする(S10)。CPU22は、第1の角度にセットされた光ピックアップ12に光ディスクDからの反射光を所定の長さの区間にわたって検出させ、検出した反射光をRFアンプ17によりディジタル化させ、PIエラーを測定すると共に記憶手段30に第1の角度におけるPIエラー数として記憶させる(S11)。
CPU22は、第2の角度のPIエラー数と第1の角度におけるPIエラー数を比較し(S12)、第1の角度におけるPIエラー数が第2の角度におけるPIエラー数より少ない場合には、パラメータPにマイナス1ポイント加算し、その逆の場合には、パラメータPに1ポイントを加算し、第1の角度におけるPIエラー数と第2の角度におけるPIエラー数が等しい場合にはパラメータPの値を維持させる処理(J2)を行う。パラメータPに対するポイント加算処理が実行された後、記憶手段30にパラメータPを記憶させ(S13)、第1のPIエラー数および第2のPIエラー数をそれぞれクリアする(S14)。
CPU22は、現時点における光ディスクDからの反射光に含まれるウォブル情報により、光ピックアップ12の位置を把握し、予め設定されている計測区間(本実施の形態においては、16区間、すなわち、800ECCブロック)におけるデータの読み出しを完了しているか否かを判断する(S15)。現時点における光ピックアップ12が所定数の区間におけるデータ読み出しを完了していない場合には、S3からS14の処理を繰り返し実行し、パラメータPの値を累積させる(S15のNo側ルート)。
また、現時点における光ピックアップ12が予め設定されている計測区間のデータ読み出しを完了している場合には、CPU22は、記憶手段30に予め記憶されている参照データを参照し、参照データにおけるパラメータPの累積値に対応するチルト制御角度情報を入手する(S16)。サーボプロセッサ24は、参照データから入手したチルト角度情報に基づいてアクチュエータ16を作動させ、対物レンズ16のチルト角度を調整する(S17)。
本実施の形態における参照データのチルト角度情報は、DAC値で与えられている。サーボプロセッサ24は、DAC値に基づいてアクチュエータ16を作動させ、対物レンズ14のチルト角度を調整する。対物レンズ14のチルト角度が調整された後、CPU22は、パラメータPの値をクリアする(S18)。
また、現時点における光ピックアップ12が予め設定されている計測区間のデータ読み出しを完了している場合には、CPU22は、記憶手段30に予め記憶されている参照データを参照し、参照データにおけるパラメータPの累積値に対応するチルト制御角度情報を入手する(S16)。サーボプロセッサ24は、参照データから入手したチルト角度情報に基づいてアクチュエータ16を作動させ、対物レンズ16のチルト角度を調整する(S17)。
本実施の形態における参照データのチルト角度情報は、DAC値で与えられている。サーボプロセッサ24は、DAC値に基づいてアクチュエータ16を作動させ、対物レンズ14のチルト角度を調整する。対物レンズ14のチルト角度が調整された後、CPU22は、パラメータPの値をクリアする(S18)。
CPU22は、光ディスクDからの反射光に含まれるウォブル情報に基づいて、光ピックアップ12の現在位置が、光ディスクDのデータ記録領域内にあるか否かの判断をする(S19)。光ピックアップ12の現在位置が光ディスクDの記録領域外である場合には、チルト角度調整処理は終了する。一方、現時点における光ピックアップ12が光ディスクDのデータ記録領域にある場合には、現時点における対物レンズ14のチルト角度状態を新たに第1の角度に設定した(S20)後、再びS3〜S20の処理が繰り返し実行されるよう、CPU22によって制御されている。
以上に説明したようにして、光ディスクDのデータ記録領域全体にわたって光ピックアップ12のチルト角度の調整が継続的になされることになる。
以上に説明したようにして、光ディスクDのデータ記録領域全体にわたって光ピックアップ12のチルト角度の調整が継続的になされることになる。
なお、パラメータPの値を累積させる際は、図4に示すように、各角度状態に対するカウンタC1,C2を設定し、PIエラー数が少ない角度状態に対応させたカウンタC1またはC2に1ポイントを加算し、それぞれのカウンタC1,C2を累積させ、所定区間におけるカウンタC1、C2の累積が完了した後にカウンタC1、C2の差を求めることにより実現することもできる。
また、本実施の形態においては、パラメータPを累積させる際において、各PIエラー数の差がいかようなものであっても、単純にパラメータPに1ポイントずつ加減算処理する形態について説明しているが、この実施形態に限定されるものではない。
例えば、各PIエラーの数の差に基づくパラメータP(カウンタC1,C2)への加減算は、各PIエラー数の差を加減算すべきポイントとしてパラメータP(カウンタC1,C2)に加減算する処理形態とすることができるのはもちろんである。
例えば、各PIエラーの数の差に基づくパラメータP(カウンタC1,C2)への加減算は、各PIエラー数の差を加減算すべきポイントとしてパラメータP(カウンタC1,C2)に加減算する処理形態とすることができるのはもちろんである。
また、本実施の形態においては、参照データに収容されているチルト角度情報はDAC値を用いているが、チルト角度そのものを参照データとして収容する形態としてもよい。
さらには、参照データの替わりに、予め記憶手段30にパラメータPの値に対応する定数を記憶させておき、CPU22がパラメータPの値とパラメータPに対応する定数を用いてチルト角度をその都度計算により求める形態とすることも可能である。
さらにまた、参照データまたはパラメータPの値に対応する定数は、パラメータPの値が所定の値(閾値)以下であった場合には、その時点における対物レンズ14チルト角度を変更しないように設定することももちろん可能である。
さらには、参照データの替わりに、予め記憶手段30にパラメータPの値に対応する定数を記憶させておき、CPU22がパラメータPの値とパラメータPに対応する定数を用いてチルト角度をその都度計算により求める形態とすることも可能である。
さらにまた、参照データまたはパラメータPの値に対応する定数は、パラメータPの値が所定の値(閾値)以下であった場合には、その時点における対物レンズ14チルト角度を変更しないように設定することももちろん可能である。
10 光ディスク装置
12 光ピックアップ
14 対物レンズ
16 アクチュエータ
17 RFアンプ
20 制御手段
22 CPU
24 サーボプロセッサ
30 記憶手段
D 光ディスク
12 光ピックアップ
14 対物レンズ
16 アクチュエータ
17 RFアンプ
20 制御手段
22 CPU
24 サーボプロセッサ
30 記憶手段
D 光ディスク
Claims (5)
- 対物レンズを有し、光ディスクにレーザー光線を照射すると共に、光ディスクからの反射光を受光し、光ディスクの記録面に対する対物レンズの角度を変更可能に保持するアクチュエータを有する光ピックアップと、
前記アクチュエータの動作を制御する制御手段と、
記憶手段と、を具備し、
前記制御手段は、
前記光ディスクのデータ記録領域を所定の長さの区間ごとに区切り、該区間ごとに、前記対物レンズの角度を第1の角度または第2の角度のいずれかの角度に設定して、当該区間内に記録されているデータを読み出し、
該区間ごとに読み出したデータのPIエラー数を測定して前記記憶手段に記憶し、
該区間が複数連続してなる計測区間の先頭から終了までの間で、
前記対物レンズの角度が、第1の角度と第2の角度とに設定された隣接する2つの区間どうしのPIエラー数を比較し、
該比較の結果PIエラー数が少ない方の角度に対応するポイントを付与し、
第1の角度に対応するポイントの累積値と、第2の角度に対応するポイントの累積値との差をパラメータとして算出し、
前記対物レンズを、算出したパラメータに対応する角度となるように前記アクチュエータを制御することを特徴とする光ディスク装置。 - 前記制御手段は、
前記パラメータに対応する角度に設定した前記対物レンズの角度を、新たに第1の角度として設定し、
前記光ディスクのデータ記録領域を所定の長さの区間ごとに区切り、該区間ごとに、前記対物レンズの角度を第1の角度または第2の角度のいずれかの角度に設定して、当該区間内に記録されているデータを読み出し、
該区間ごとに読み出したデータのPIエラー数を測定して前記記憶手段に記憶し、
該区間が複数連続してなる計測区間の先頭から終了までの間で、
前記対物レンズの角度が、第1の角度と第2の角度とに設定された隣接する2つの区間どうしのPIエラー数を比較し、
該比較の結果PIエラー数が少ない方の角度に対応するポイントを付与し、
第1の角度に対応するポイントの累積値と、第2の角度に対応するポイントの累積値との差をパラメータとして算出し、
前記対物レンズを、算出したパラメータに対応する角度となるように前記アクチュエータを制御すること繰り返し実行することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記区間ごとの角度の設定は、
前記PIエラー数を互いに比較するために対となる2つの連続する区間内では、2つの連続する区間のうち最初に位置する区間においては、前記対物レンズの角度を前記第1の角度または前記第2の角度に設定し、
該最初に位置する区間の後に隣接する区間においては前記対物レンズの角度を前記最初に位置する区間で設定した角度とは異なる前記第1の角度または前記第2の角度のいずれか他方の角度に設定し、
これら2つの連続する区間の後に隣接して位置し、前記PIエラー数を互いに比較するために対となる2つの連続する区間内では、該2つの連続する区間のうち、最初に位置する区間においては、前記対物レンズの角度を、先に対とした2つの連続する区間のうち後の区間で設定された角度と同じ角度となるように、前記第1の角度または前記第2の角度のいずれか他方の角度に設定することを特徴とする請求項1または2記載の光ディスク装置。 - 前記記憶手段には、前記パラメータの値に応じた前記対物レンズの角度調整量を示す参照データが予め記憶されていることを特徴とする請求項1〜3のうちいずれか一項記載の光ディスク装置。
- 前記制御手段は、前記パラメータの値が閾値以下であった場合、
前記対物レンズの角度調整量をゼロにすることを特徴とする請求項1〜4記載の光ディスク装置。
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