JP3951750B2 - Substance filling method, film forming method, device and device manufacturing method - Google Patents

Substance filling method, film forming method, device and device manufacturing method Download PDF

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【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、物質充填方法、被膜形成方法、デバイスおよびデバイスの製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に半導体装置は、基板表面に複数の半導体素子を形成し、その上層部に配線パターンを形成して製造されている。図2(1)では、シリコン基板の表面に、半導体素子としてMOSトランジスタ12が形成されている。また、その表面には絶縁膜15として二酸化ケイ素被膜が形成されている。そして、この絶縁膜15の表面に、導電性材料であるITOにより配線パターンを形成する。ここで、配線パターンからゲート電極14への導通を確保する必要があるため、絶縁膜15の表面からゲート電極14にかけて、直径1μm程度の微細凹部(コンタクトホール)20が形成されている。そこで、図2(2)に示すように、その微細凹部20にITOを充填しつつ、二酸化ケイ素被膜の表面にITOによる配線パターン28を形成する。
【0003】
図5及び図6に従来の配線パターン形成方法の説明図を示す。なお、図5及び図6の各図は、図2(1)におけるA部の拡大図である。従来、微細凹部に導電性材料を充填するには、充填材料を微細凹部の直径より小さく加工して、微細凹部に注入する必要があると考えられていた。そこで、図5(1)に示す微細凹部20に対し、図5(2)に示すように、スパッタによりITOを微粒子化して充填していた。なおこれと同時に、二酸化ケイ素被膜の表面には、ITO被膜27が形成される。そこで、図5(3)に示すように、CMP等によりITO被膜27の表面を研磨する。
【0004】
次に、ITO被膜27から配線パターン28を形成する。具体的には、図6(1)に示すように、ITO被膜27の表面にレジスト30を塗布し、フォトリソグラフィによりレジスト30をパターニングする。次に、図6(2)に示すように、パターニングしたレジスト30をマスクとして、ITO被膜27をエッチングする。そして、図6(3)に示すようにレジスト30を除去すれば、ITOによる配線パターン28が形成される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記方法では、スパッタによりITO被膜を形成するが、スパッタは真空装置を必要とするため、多くの製造コストを必要とするという問題がある。
また上記方法では、微細凹部内にITO材料を充填するため、比較的長時間のスパッタを行う必要がある。すると、微細凹部以外の被処理部材表面には、必要厚さ以上のITO被膜が形成されることになり、CMP(化学機械研磨)等により平坦化する作業が必要となる。このCMPに用いる研磨材は高価であることから、結局多くの製造コストが必要になるという問題がある。
【0006】
さらに上記方法では、ITO被膜をエッチングすることによりパターニングを行う必要があるが、ITO被膜のエッチングは困難である。すなわち、フッ素や塩素を含むガスによるエッチングができないため、有機金属やヨウ素等によるエッチングを行う必要があり、多くの製造コストを必要とするという問題がある。
【0007】
本発明は上記問題点に着目し、製造コストを低減することが可能な、物質充填方法及び膜形成方法の提供を目的とする。また、凹部の洗浄又は封止が可能な、物質充填方法及び膜形成方法の提供を目的とする。加えて、上記の物質充填方法及び膜形成方法を使用して製造したデバイス、およびその製造方法の提供を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明に係る物質充填方法は、凹部を有する被処理部材に対して、凹部内の気体を溶解させ得る溶媒に前記凹部への充填物質からなる溶質を混合させた溶液が充填された液体供給手段により溶液を供給しつつ、液体供給手段と被処理部材表面とを相対移動させ、凹部内の気体を溶解可能な量の液体で凹部開口を覆い、凹部内気体を前記溶媒に溶解させることによって凹部内に液体を充填し、前記凹部内に前記溶液を充填した後に、前記溶液を加熱して前記溶媒を蒸発させることにより、前記凹部内に前記溶質を充填固化させることを特徴としている。これにより、液体を微粒子化することなく凹部内に充填できるので、製造コストを低減することができる。なお、凹部内の気体をすべて溶解可能な量の液体を供給し、一回で凹部内に液体を充填することも可能であり、少量の液体を複数回にわたって供給し、複数回に分けて凹部内に液体を充填することも可能である。
【0009】
また、凹部を有する被処理部材表面に対してインクジェットノズルを前記凹部の開口に沿って相対移動させることにより前記凹部への充填物質からなる溶質と前記凹部内の気体を溶解させ得る溶媒とからなる溶液を前記凹部上に供給する工程と、前記溶液により前記凹部の開口部を覆い、前記凹部内の気体を前記溶媒中に溶解させ、前記凹部内に前記溶液を充填する工程と、前記凹部内に前記溶液を充填した後に、前記溶液を加熱して前記溶媒を蒸発させることにより、前記凹部内に前記溶質を充填固化させる構成とした。この場合、液体供給手段により必要量の液体を連続供給することができるので、製造コストを低減することができる。なお、被処理部材は、シリコン基板やガラス基板などの他に、凹部を有する被膜であってもよい。被膜とは、例えば層間絶縁膜やパッシベーション、あるいはレジスト等の感光性膜などである。
【0010】
なお前記気体溶解性溶媒は、有機溶媒である構成としてもよい。有機溶媒は空気を溶解する性質を有するので、凹部内の空気と置換することができる。従って、空気中での充填作業が可能となり、製造コストを低減することができる。
【0011】
なお、前記溶質は、導電性材料である構成としてもよい。また前記導電性材料は、ITOである構成としてもよい。その他にも、溶質として、層間絶縁膜やパッシベーション、あるいはレジスト等の感光性膜などの原材料を使用することができる。これにより、凹部内に溶質の物質を充填することができる。
【0012】
また、前記凹部内に前記液体を充填する前に、前記凹部を有する前記被処理部材表面を予め撥液処理する構成としてもよい。被処理部材表面が撥液処理されると前記液体は塗布されないが、凹部内が撥液処理されても、凹部内の気体が前記液体と置換されるので、前記液体を充填することができる。従って、凹部内のみに液体を充填することができる。
【0013】
一方、本発明に係るデバイスは、半導体デバイスや電気回路、表示対モジュール、カラーフィルタ、発光素子などとすることができる。
【0014】
一方、本発明に係る膜形成方法は、被処理部材表面の凹部内に膜を形成させる膜形成方法において、凹部内の気体を溶解させ得る溶媒に前記凹部への成膜用充填物質からなる溶質を混合させた溶液が充填された液体供給手段により溶液を供給しつつ、液体供給手段と被処理部材表面とを相対移動させ、凹部内の気体を溶解可能な量の液体で凹部開口を覆い、凹部内気体を前記溶媒に溶解させることによって凹部内に液体を充填し、前記溶液を加熱して前記溶媒を蒸発させることにより、前記被処理部材の凹部内に前記膜材料からなる膜を形成する構成とした。
【0015】
これにより、液体を微粒子化することなく、成膜と同時に凹部内に膜材料を充填することができる。なお、液体供給手段により必要量の液体を連続供給することができる。また、複数の凹部や潜在的な凹部に対して、効率的に膜材料を充填することができる。従って、製造コストを低減することができる。
【0016】
なお、前記液体供給手段の液体供給口と前記被処理部材表面との間の距離を調整することにより、前記被処理部材表面に前記液体を所望厚さで塗布する構成としてもよい。また、前記液体供給手段と前記被処理部材表面とを相対移動させ、前記相対移動の速度を調整することにより、前記被処理部材表面に前記液体を所望厚さで塗布する構成としてもよい。また、前記液体供給手段からの液体供給量を調整することにより、前記被処理部材表面に前記液体を所望厚さで塗布する構成としてもよい。これらにより、膜表面のCMP等による研磨加工が不要となり、製造コストを低減することができる。
【0017】
また、前記被処理部材表面に前記液体を塗布する前に、前記被処理部材表面における膜形成部分以外の部分を予め撥液処理する構成としてもよい。また、前記被処理部材表面に前記液体を塗布する前に、前記被処理部材表面における膜形成部分を予め親液処理する構成としてもよい。これにより、膜形成後のエッチングが不要となり、製造コストを低減することができる。
【0018】
なお前記膜材料は、導電性を有する膜材料である構成としてもよく、ITO膜材料である構成としてもよい。特に、ITO被膜形成後のエッチングが不要となることで、製造コストを大幅に低減することができる。
なお前記膜材料は、電気絶縁性を有する膜材料である構成としてもよく、シリコン酸化物膜材料である構成としてもよい。
【0019】
一方、本発明に係るデバイスは、請求項8ないし11のいずれかに記載の物質充填方法を使用して製造した構成とした。なおデバイスは、半導体デバイスや電気回路、表示対モジュール、カラーフィルタ、発光素子などとすることができる。
【0020】
一方、本発明に係るデバイスの製造方法は、被処理部材の凹部内に液状材料を充填し膜を形成するデバイスの製造方法において、凹部内の気体を溶解させ得る溶媒に前記凹部への成膜用充填物質からなる溶質を混合させた溶液が充填された液体供給手段により溶液を供給しつつ、液体供給手段と被処理部材表面とを相対移動させ、凹部内の気体を溶解可能な量の液体で凹部開口を覆い、凹部内気体を前記溶媒に溶解させることによって凹部内に液体を充填し、前記溶液を加熱して前記溶媒を蒸発させることにより、前記被処理部材表面に前記膜材料からなる膜を形成する構成とした。これにより、製造コストを削減することができる。
【0021】
【発明の実施の形態】
本発明に係る物質充填方法、膜形成方法、デバイスおよびその製造方法の好ましい実施の形態を、添付図面を用いて詳細に説明する。なお以下に記載するのは本発明の実施形態の一態様にすぎず、本発明はこれらに限定されるものではない。
【0022】
最初に、第1実施形態について説明する。図1に第1実施形態に係る物質充填方法の説明図を示す。第1実施形態に係る物質充填方法は、微細凹部2を有する被処理部材1表面に対して、液体供給手段5により液体6を供給しつつ、液体供給手段5と被処理部材1表面とを相対移動させ、微細凹部2内の気体を溶解可能な液体6で、微細凹部2の開口部2aを覆うことにより、微細凹部2内の気体を液体6中に溶解させ、微細凹部2内に液体6を充填するものである。
【0023】
第1実施形態では、被処理部材1に形成された微細凹部2内に、液体6を充填する。なお、被処理部材1は、シリコン基板やガラス基板などの他に、微細凹部を有する被膜であってもよい。被膜とは、例えば層間絶縁膜やパッシベーション、あるいはレジスト等の感光性膜などである。微細凹部2の直径は、例えば4μm程度である。また液体6は、微細凹部2内の気体を溶解可能な物質とし、例えば微細凹部2内の気体が空気である場合には、液体6を有機溶媒とすることができる。有機溶媒は気体の溶解性がよいので好適であるが、とくにこれに限定されず、例えば水溶液等他の気体溶解性を有する溶媒を用いてもよい。一方、液体供給手段5として、スリット型液体供給手段を使用する。スリット型液体供給手段は、紙面の厚さ方向に伸びるスリット状の液体供給口5aを有し、その液体供給口5aから液体6を連続供給できるように形成されている。なお、液体供給口5aの開口幅Wは例えば0.3mm程度であり、その長さ(奥行き)は例えば150〜500mm程度である。なお、スリット型液体供給手段に代えて、インクジェットを使用してもよい。
【0024】
そして、図1(1)に示すように、被処理部材1の上方に液体供給手段5を配置する。なお、液体供給手段5と被処理部材1表面との間隔は、例えば0.2mm程度とする。次に、液体供給口5aから液体6を吐出させる。吐出された液体6は、被処理部材1の表面に放射状に塗れ広がる。なお、被処理部材1の表面が撥液性を有する場合には、吐出された液体6は、例えば直径4mm程度の概略球形状となる。次に、液体供給口5aから液体6を連続供給させつつ、液体供給手段5を矢印8の方向に移動させる。その移動速度は、例えば5mm/sである。すると、被処理部材1の表面に液体6が塗布される。
【0025】
そして、図1(2)に示すように、液体供給手段5を微細凹部2と相対する位置まで移動させる。すると、液体6が微細凹部2の開口部2aを覆う形になる。ここで、例えば微細凹部2内の気体が空気であり液体6が有機溶媒である場合には、有機溶媒は空気を溶解する性質を有するので、微細凹部2内の気体が液体6に溶解する。なお、微細凹部2の容積は非常に小さいので、連続供給される液体6の液量は、微細凹部2内の気体を全て溶解可能な量になっている。従って、微細凹部2内の気体が全て液体6に溶解することにより、図1(3)に示すように、微細凹部2内の気体が液体6に置換され、微細凹部2内に液体6が充填される。
【0026】
なお、図1では被処理部材1の上方に液体供給手段5を配置して、下向きに液体6を吐出させたが、被処理部材1の下方に液体供給手段5を配置して、上向きに液体6を吐出させてもよい。この場合でも、微細凹部2内の気体が液体6に溶解するので、微細凹部2内に液体を充填することができる。
【0027】
上述した第1実施形態に係る物質充填方法では、微細凹部2を有する被処理部材1表面に対して、液体供給手段5により液体6を供給しつつ、液体供給手段5と被処理部材1表面とを相対移動させ、微細凹部2内の気体を溶解可能な量の液体6で、微細凹部2の開口部2aを覆うことにより、微細凹部2内に液体6を充填する構成とした。これにより、液体を微粒子化することなく微細凹部内に充填できる。なお、液体供給手段により必要量の液体を連続供給することができる。また、複数の微細凹部や潜在的な微細凹部に対して、効率的に液体を充填することができる。従って、製造コストを低減することができる。
【0028】
なお、液体6として、空気を溶解する性質を有する有機溶媒を使用すれば、空気雰囲気中で微細凹部の充填を行うことが可能となり、製造コストを低減することができる。また、液体6として被処理部材1の洗浄作用を有する有機溶媒等を使用した場合には、被処理部材1の表面とともに微細凹部2内を洗浄することができる。その場合の例として、例えばオゾン水などが挙げられる。
【0029】
また、液体6として溶質の有機溶媒溶液等を使用した場合には、微細凹部2内に液体6が充填された後に、被処理部材を加熱して有機溶媒を蒸発させることにより、微細凹部2内で溶質を固化させることができる。なお、溶質として、ITO等の導電性材料、層間絶縁膜、パッシベーション、あるいはレジスト等の感光性膜などを使用することができる。
【0030】
なお、上述した第1実施形態に係る物質充填方法を実施する前に、被処理部材1表面を予め撥液処理することができる。具体的な撥液処理としては、被処理部材1表面にフッ素樹脂重合膜等を形成すればよい。これにより、被処理部材1表面に塗布された液体6を簡単に除去することができる。なお、被処理部材1表面と同時に微細凹部2内に撥液処理が施されたとしても、微細凹部2内の気体が液体6と置換されるので、微細凹部2内には液体6を充填することができる。その結果、微細凹部2内のみに液体6を充填することができる。そして、充填された液体の有機溶媒を蒸発させ、微細凹部2内で溶質を固化させることにより、各種基板や各種被膜の補修を行うことができる。
【0031】
次に、第2実施形態について説明する。図3及び図4に第2実施形態に係る膜形成方法の説明図を示す。なお図3及び図4の各図は、図2(1)におけるA部の拡大図である。第2実施形態に係る膜形成方法は、ITOにより配線パターンを形成する方法であって、微細凹部20を有する絶縁膜15に対して、ITO被膜材料の有機溶媒溶液26を液体供給手段により供給しつつ、液体供給手段を相対移動させて絶縁膜15の表面に前記液体26を塗布するとともに、微細凹部20内の気体を溶解可能な量の前記液体26で、微細凹部20の開口部を覆うことにより、微細凹部内の気体を前記液体26中に溶解させ、微細凹部20内に前記液体26を充填した後に、前記液体26を加熱して有機溶媒を蒸発させることにより、絶縁膜15の表面にITO被膜による配線パターンを形成するとともに、微細凹部20内でITO被膜材料を固化させるものである。なお、第1実施形態と同様の構成となる部分については、その説明を省略する。
【0032】
図2(1)では、シリコン等の基板10の表面に、半導体素子としてMOSトランジスタ12が形成されている。MOSトランジスタ12では、ポリシリコン等によりゲート電極14が形成され、その表面にはシリコン酸化膜等により絶縁膜15が形成されている。なお、配線パターンは絶縁膜15の表面に形成するため、ゲート電極14から配線パターンへの導通を確保する必要がある。そこで、ゲート電極14上の絶縁膜15には、微細凹部(コンタクトホール)20が形成されている。第2実施形態では、図2(2)に示すように、この微細凹部20に導電性を有するITOを充填するとともに、絶縁膜15の表面にITOによる配線パターンを形成する。
【0033】
ITOは、酸化インジウム(In23)に酸化錫(SnO2)を1〜5重量%ドープしたものである。第2実施形態では、ITOの超微粒子を有機溶媒に分散させた液体を使用する。つまり、本発明においては、液体とは、上記のごとく、例えばITOの超微粒子を有機溶媒に分散させたような液状体も含む。なお、ジブチルスズジアセテート(DBTDA)およびインジウムアセチルアセトナート(InAA)を有機溶媒に溶解した液体(錫(Sn)2〜10%添加)を使用することもできる。有機溶媒には、オクタン(C818)、エタノール、炭素数5以上の高級アルコール類、またはn−酢酸ブチル等の有機エステル類などが使用可能であり、濃度0.02mol/L程度に希釈して使用する。なお、液体供給手段の構成は第1実施形態と同様である。
【0034】
次に、第2実施形態に係る膜形成方法の具体的な手順を、図3及び図4を使用して説明する。なお、図3及び図4の各図は、図2(1)におけるA部の拡大図である。
【0035】
まず、図3(1)に示す絶縁膜15の表面全体に撥液処理を施す。具体的には、図3(2)に示すように、絶縁膜15の表面全体に、有機溶媒に対して撥液性を有するフッ素樹脂重合膜22を形成する。なお、有機溶媒に対して撥液性を有するものであればよく、フッ素樹脂重合膜以外に、例えばシリコーン樹脂重合膜等を形成してもよい。なお、紫外線等の電磁波に対して揮発性を有する膜を形成することが好ましい。フッ素樹脂重合膜の原料液として、C410やC818などの直鎖状PFCからなる液体有機物を使用する。この直鎖状PFCのガスをプラズマ化すると、直鎖状PFCが活性となり、これが絶縁膜15の表面に到達して重合することにより、絶縁膜15の表面にフッ素樹脂重合膜が形成される。
【0036】
次に、図3(3)に示すように、絶縁膜15表面の配線パターン形成部分に親液処理を施す。具体的には、配線パターン形成部分に形成されているフッ素樹脂重合膜22に対して、紫外線を照射する。紫外線の照射によりフッ素樹脂重合膜22の結合が切断されて除去される。また、当該部分に付着していた有機物等も分解・除去される。これにより、微細凹部20を含む絶縁膜15表面の配線パターン形成部分に、有機溶媒に対する親液性が付与される。換言すれば、配線パターン形成部分以外の部分に、撥液処理を施したことになる。
【0037】
次に、図4(1)に示すように、絶縁膜15の表面に、ITOの超微粒子を有機溶媒に分散させた液体26を塗布する。その具体的な方法は第1実施形態と同様である。まず、液体供給手段の液体供給口から液体26を吐出させ、その先端を絶縁膜15表面の一方端部に接触させる。次に、液体供給手段を移動させて、絶縁膜15表面に液体26を塗布する(図1(1)参照)。次に、液体供給手段を微細凹部20と相対する位置まで移動させる(図1(2)参照)。そして、微細凹部20内に液体26を充填させる(図1(3)参照)。その後、液体供給手段を絶縁膜15表面の他方端部まで移動させて、絶縁膜15表面の全体に液体26を塗布する。
【0038】
ここで、絶縁膜15表面の配線パターン形成部分以外の部分には、有機溶媒に対する撥液処理が施されているので、液体26がほとんど残留しない。なお、わずかに残留する液体は、被処理部材を傾斜させる等により、簡単に除去することができる。結果として、配線パターン形成部分のみに液体26が塗布された形になる。なお、配線パターン形成部分の端部では、フッ素樹脂重合膜22の撥液性により液体26が盛り上がった状態で塗布されるので、フッ素樹脂重合膜22より厚く液体26を塗布することができる。
【0039】
なお、絶縁膜15の表面に液体26を塗布する際に、液体供給手段の液体供給口と絶縁膜15表面との距離を調整することにより、塗布される液体26の厚さを調整することができる。また、液体供給手段と絶縁膜15表面との相対移動の速度を調整することによっても、塗布される液体26の厚さを調整することができる。また、液体供給手段からの液体供給量を調整することによっても、塗布される液体26の厚さを調整することができる。そして、塗布される液体26の厚さを調整することにより、その液体26の乾燥後に所望厚さの被膜を得ることができる。
【0040】
なお、微細凹部20内に液体26を充填させるためには、微細凹部20内の気体を溶解可能な量の液体26を供給する必要がある。そこで、微細凹部20に相対する位置において、液体供給手段の液体供給口と絶縁膜表面との距離を近づけることにより、十分な量の液体を供給することができる。また、微細凹部20に相対する位置において、液体供給手段と絶縁膜表面との相対移動速度を低下させることによっても、十分な量の液体を供給することができる。また、微細凹部20に相対する位置において、液体供給手段からの液体供給量を増加させることによっても、十分な量の液体を供給することができる。なお、少量の液体を複数回にわたって供給し、複数回に分けて微細凹部内に液体を充填することも可能である。
【0041】
次に、図4(2)に示すように、液体26を乾燥させる。具体的には、加熱により液体26に含まれる有機溶媒を蒸発させる。なお、パターン被膜におけるボイドの発生を回避するため、乾燥温度は有機溶媒の沸点以下の温度とする。例えば、有機溶媒がオクタンの場合には、沸点が170℃程度であるから、窒素雰囲気中において、150℃以下で5分以上加熱する。次に、アニール処理を行う。ITOのアニール処理温度は、例えば500℃以上である。
【0042】
次に、図4(3)に示すように、フッ素樹脂重合膜22を除去する。具体的には、上述した親液処理と同様に、紫外線を照射することにより、フッ素樹脂重合膜を分解して除去する。以上により、ITOによる配線パターン28が形成される。
【0043】
上述した第2実施形態に係る膜形成方法により、絶縁膜の表面にITOによる配線パターンが形成されるとともに、微細凹部内にITOが充填される。この点従来は、真空装置が必要なスパッタにより微細凹部内にITOを充填し、また絶縁膜の表面にITO被膜を形成していたので、多くの製造コストを必要とするという問題があった。
【0044】
しかし、第2実施形態に係る膜形成方法では、微細凹部を有する被処理部材表面に対して、ITO被膜材料の有機溶媒溶液を液体供給手段により供給しつつ、液体供給手段を相対移動させて被処理部材表面に前記液体を塗布するとともに、微細凹部内の気体を溶解可能な量の前記液体で、微細凹部の開口部を覆うことにより、微細凹部内に前記液体を充填した後に、前記液体を加熱して有機溶媒を蒸発させることにより、被処理部材表面にITO被膜を形成するとともに、微細凹部内にITO被膜材料を充填する構成とした。
【0045】
これにより、液体を微粒子化することなく、成膜と同時に微細凹部に被膜材料を充填することができる。なお、液体供給手段により必要量の液体を連続供給することができる。また、複数の微細凹部や潜在的な微細凹部に対して、効率的に被膜材料を充填することができる。従って、製造コストを低減することができる。
【0046】
また従来は、ITO被膜の表面をCMP等により研磨加工して膜厚を調整していたので、多くの製造コストを必要とするという問題があった。しかし、第2実施形態に係る膜形成方法では、液体供給手段の液体供給口と被処理部材表面との距離を調整することにより、また前記相対移動の速度を調整することにより、また液体供給手段からの液体供給量を調整することにより、被処理部材表面に前記液体を所望厚さで塗布する構成とした。これにより、被膜表面のCMP等による研磨加工が不要となり、製造コストを低減することができる。
【0047】
また従来は、ITO被膜をエッチングすることによりパターニングを行っていたので、多くの製造コストを必要とするという問題があった。しかし、第2実施形態に係る膜形成方法では、被処理部材表面における被膜形成部分以外の部分を予め撥液処理しておくとともに、被処理部材表面における被膜形成部分を予め親液処理しておく構成とした。これにより、ITO被膜形成後のエッチングが不要となり、製造コストを大幅に低減することができる。
【0048】
なお第2実施形態では、ITO被膜材料の有機溶媒溶液を使用して、ITOにより配線パターンを形成する場合について説明したが、これ以外にも、アルミ又は銅被膜材料の有機溶媒溶液を使用して、アルミ又は銅により配線パターンを形成することもできる。また、二酸化シリコン等の絶縁膜材料の有機溶媒溶液を使用して、層間絶縁膜の形成及び補修を行うことも可能である。一方、第2実施形態では、空気雰囲気で微細凹部の充填を行ったが、より有機溶媒への溶解性が高い二酸化炭素雰囲気又は窒素雰囲気において微細凹部の充填を行えば、より確実に被膜材料の有機溶媒溶液を微細凹部内に充填することができる。
【0049】
なお、本発明に係る微細凹部内への物質充填方法及び被膜形成方法により、機能的な薄膜を基板上に形成した構造体は、例えば半導体デバイス、電気回路、表示体モジュール、発光素子などのデバイスに適用される。その一例を図7及び図8に示す。図7は例えば、半導体デバイス、電気回路、表示体モジュールの概略図であり、図8は、例えば発光素子を形成した微細構造体の概略図である。図7において、主に半導体デバイスおよび電気回路の機能的薄膜214は例えば配線パターンの金属薄膜であり、また表示体モジュールの機能的薄膜214は例えばカラーフィルタの有機分子膜である。図7ではカラーフィルタの一例を示しているが、本発明の被膜形成方法を用いて他の機能的薄膜を形成することに差異はない。図8において、発光素子の機能的薄膜214は例えば発光層に使用する有機EL(electroluminescence)の薄膜であり、透明基板211上に形成された図中記載の透明電極215と対をなす電極(不図示)を形成して、上記機能的薄膜214を挟み込む形で素子を形成する。また、上記電極についても、本発明の被膜形成方法を用いて形成できる点は言うまでもない。なお上記機能的薄膜214の膜厚は、微細構造体を如何なる用途のものにするかにより任意であるが、0.02〜4μmとするのが好ましい。これらに本発明の成膜方法を適用したものは高品質であり、その製造工程の簡略化、製造コスト面においても従来法に勝るものである。
【0050】
【発明の効果】
本発明に係る物質充填方法は、凹部を有する被処理部材に対して、凹部内の気体を溶解させ得る溶媒に前記凹部への充填物質からなる溶質を混合させた溶液が充填された液体供給手段により溶液を供給しつつ、液体供給手段と被処理部材表面とを相対移動させ、凹部内の気体を溶解可能な量の液体で凹部開口を覆い、
凹部内気体を前記溶媒に溶解させることによって凹部内に液体を充填する構成としたので、製造コストを低減することができる。
【0051】
また、本発明に係る膜形成方法は、被処理部材表面の凹部内に膜を形成させる膜形成方法において、凹部内の気体を溶解させ得る溶媒に前記凹部への成膜用充填物質からなる溶質を混合させた溶液が充填された液体供給手段により溶液を供給しつつ、液体供給手段と被処理部材表面とを相対移動させ、凹部内の気体を溶解可能な量の液体で凹部開口を覆い、凹部内気体を前記溶媒に溶解させることによって凹部内に液体を充填し、前記溶液を加熱して前記溶媒を蒸発させることにより、前記被処理部材の凹部内に前記膜材料からなる膜を形成する構成としたので、製造コストを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1実施形態に係る物質充填方法の説明図である。
【図2】 配線パターンの説明図であり、(1)は配線パターン形成前の状態であり、(2)は配線パターン形成後の状態である。
【図3】 第2実施形態に係る膜形成方法の第1説明図である。
【図4】 第2実施形態に係る膜形成方法の第2説明図である。
【図5】 従来技術に係る膜形成方法の第1説明図である。
【図6】 従来技術に係る膜形成方法の第2説明図である。
【図7】 微細構造体の第1説明図である。
【図8】 微細構造体の第2説明図である。
【符号の説明】
1………被処理部材、2………微細凹部、2a………開口部、5………液体供給手段、5a………液体供給口、6………液体、8………矢印、10………基板、12………MOSトランジスタ、14………ゲート電極、15………絶縁膜、20………微細凹部、22………フッ素樹脂重合膜、26………液体、27………ITO被膜、28………配線パターン、30………レジスト。211………基板、214………機能的薄膜、215………透明電極、220………微細構造体。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a substance filling method, a film forming method, a device, and a device manufacturing method.
[0002]
[Prior art]
Generally, a semiconductor device is manufactured by forming a plurality of semiconductor elements on a substrate surface and forming a wiring pattern on an upper layer portion thereof. In FIG. 2A, a MOS transistor 12 is formed as a semiconductor element on the surface of a silicon substrate. Further, a silicon dioxide film is formed as an insulating film 15 on the surface. Then, a wiring pattern is formed on the surface of the insulating film 15 with ITO which is a conductive material. Here, since it is necessary to ensure conduction from the wiring pattern to the gate electrode 14, a minute recess (contact hole) 20 having a diameter of about 1 μm is formed from the surface of the insulating film 15 to the gate electrode 14. Therefore, as shown in FIG. 2 (2), a wiring pattern 28 made of ITO is formed on the surface of the silicon dioxide film while filling the fine recesses 20 with ITO.
[0003]
5 and 6 are explanatory views of a conventional wiring pattern forming method. Each of FIGS. 5 and 6 is an enlarged view of a portion A in FIG. Conventionally, in order to fill a fine recess with a conductive material, it has been considered that the filling material needs to be processed smaller than the diameter of the fine recess and injected into the fine recess. Therefore, as shown in FIG. 5 (2), the fine recesses 20 shown in FIG. 5 (1) are filled with ITO fine particles by sputtering. At the same time, an ITO film 27 is formed on the surface of the silicon dioxide film. Therefore, as shown in FIG. 5 (3), the surface of the ITO film 27 is polished by CMP or the like.
[0004]
Next, a wiring pattern 28 is formed from the ITO film 27. Specifically, as shown in FIG. 6A, a resist 30 is applied to the surface of the ITO film 27, and the resist 30 is patterned by photolithography. Next, as shown in FIG. 6B, the ITO film 27 is etched using the patterned resist 30 as a mask. Then, if the resist 30 is removed as shown in FIG. 6C, a wiring pattern 28 made of ITO is formed.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
In the above method, an ITO film is formed by sputtering. However, since sputtering requires a vacuum apparatus, there is a problem that a lot of manufacturing costs are required.
Further, in the above method, since the ITO material is filled in the fine recesses, it is necessary to perform sputtering for a relatively long time. Then, an ITO film having a thickness greater than the necessary thickness is formed on the surface of the member to be processed other than the fine recesses, and an operation of flattening by CMP (Chemical Mechanical Polishing) or the like is required. Since the abrasive used for this CMP is expensive, there is a problem that a lot of manufacturing costs are required after all.
[0006]
Furthermore, in the above method, it is necessary to perform patterning by etching the ITO film, but it is difficult to etch the ITO film. That is, since etching using a gas containing fluorine or chlorine cannot be performed, it is necessary to perform etching using an organic metal, iodine, or the like, and there is a problem that a large manufacturing cost is required.
[0007]
The present invention focuses on the above-described problems, and an object thereof is to provide a substance filling method and a film forming method capable of reducing the manufacturing cost. Another object of the present invention is to provide a substance filling method and a film forming method capable of cleaning or sealing the recess. In addition, it aims at provision of the device manufactured using said substance filling method and film forming method, and its manufacturing method.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
  In order to achieve the above object, the material filling method according to the present invention is a solution in which a solute composed of a filling material in the recess is mixed with a solvent capable of dissolving the gas in the recess in a member to be processed having the recess. While the solution is supplied by the liquid supply means filled with the liquid, the liquid supply means and the surface of the member to be processed are moved relative to each other, the opening of the recess is covered with an amount of liquid capable of dissolving the gas in the recess, and the gas in the recess is Filling the recess with a liquid by dissolving in the solvent, filling the recess with the solution, and then heating the solution to evaporate the solvent, thereby filling and solidifying the solute in the recess. It is characterized by. As a result, the liquid can be filled in the recess without making the liquid into fine particles, so that the manufacturing cost can be reduced. In addition, it is possible to supply an amount of liquid that can dissolve all the gas in the recesses, and fill the recesses with a single liquid, supplying a small amount of liquid multiple times, and dividing the recesses into multiple times. It is also possible to fill the interior with a liquid.
[0009]
  The ink jet nozzle is relatively moved along the opening of the recess with respect to the surface of the processing member having the recess, and is composed of a solute composed of a substance filling the recess and a solvent capable of dissolving the gas in the recess. Supplying the solution onto the recess, covering the opening of the recess with the solution, dissolving the gas in the recess in the solvent, and filling the solution in the recess; and in the recess After filling the solution, the solution is heated to evaporate the solvent, whereby the solute is filled and solidified in the recess. In this case, since a required amount of liquid can be continuously supplied by the liquid supply means, the manufacturing cost can be reduced. The member to be processed may be a film having a recess in addition to a silicon substrate or a glass substrate. The coating is, for example, an interlayer insulating film, passivation, or a photosensitive film such as a resist.
[0010]
  The aboveGas-soluble solventMay be configured to be an organic solvent. Since the organic solvent has a property of dissolving air, it can be replaced with air in the recess. Therefore, filling work in the air becomes possible, and the manufacturing cost can be reduced.it can.
[0011]
  The solute isThe structure may be a conductive material. The conductive material may be ITO. In addition, raw materials such as an interlayer insulating film, passivation, or a photosensitive film such as a resist can be used as the solute. Thereby, a solute substance can be filled in the recess.
[0012]
The surface of the member to be processed having the recess may be preliminarily liquid repellent before filling the recess with the liquid. When the surface of the member to be treated is subjected to the liquid repellent treatment, the liquid is not applied, but even if the inside of the concave portion is subjected to the liquid repellent treatment, the gas in the concave portion is replaced with the liquid, so that the liquid can be filled. Therefore, the liquid can be filled only in the recess.
[0013]
  On the other hand, according to the present inventionDevice is a semiconductor deviceOr an electric circuit, a display pair module, a color filter, a light emitting element, or the like.
[0014]
  On the other hand, the film forming method according to the present invention is a film forming method in which a film is formed in a recess on the surface of a member to be processed. In the film forming method, a solute composed of a filling material for film formation in the recess is dissolved in a solvent capable of dissolving the gas in the recess. While the solution is supplied by the liquid supply means filled with the mixed solution, the liquid supply means and the surface of the member to be processed are moved relative to each other, and the recess opening is covered with an amount of liquid that can dissolve the gas in the recess. By dissolving the gas in the recess in the solvent, the recess is filled with a liquid, and the solution is heated to evaporate the solvent, thereby forming a film made of the film material in the recess of the member to be processed. The configuration.
[0015]
Thus, the film material can be filled in the recess simultaneously with the film formation without forming the liquid into fine particles. Note that a required amount of liquid can be continuously supplied by the liquid supply means. In addition, the film material can be efficiently filled into the plurality of recesses and potential recesses. Therefore, the manufacturing cost can be reduced.
[0016]
The liquid may be applied to the surface of the member to be processed with a desired thickness by adjusting the distance between the liquid supply port of the liquid supply means and the surface of the member to be processed. The liquid supply unit and the surface of the member to be processed may be relatively moved, and the liquid may be applied to the surface of the member to be processed with a desired thickness by adjusting the speed of the relative movement. Moreover, it is good also as a structure which apply | coats the said liquid by the desired thickness to the said to-be-processed member surface by adjusting the liquid supply amount from the said liquid supply means. As a result, polishing processing by CMP or the like on the film surface becomes unnecessary, and the manufacturing cost can be reduced.
[0017]
Further, before applying the liquid to the surface of the member to be processed, a part other than the film forming part on the surface of the member to be processed may be subjected to a liquid repellent treatment in advance. Further, before the liquid is applied to the surface of the member to be processed, a film forming portion on the surface of the member to be processed may be subjected to a lyophilic process in advance. Thereby, the etching after film formation becomes unnecessary, and the manufacturing cost can be reduced.
[0018]
The film material may be a conductive film material or an ITO film material. In particular, the manufacturing cost can be significantly reduced by eliminating the need for etching after forming the ITO film.
The film material may be a film material having electrical insulation or a silicon oxide film material.
[0019]
On the other hand, the device according to the present invention is configured to be manufactured using the substance filling method according to any one of claims 8 to 11. The device can be a semiconductor device, an electric circuit, a display module, a color filter, a light emitting element, or the like.
[0020]
  On the other hand, the device manufacturing method according to the present invention is a device manufacturing method in which a liquid material is filled in a recess of a member to be processed to form a film, and the film is formed in the recess in a solvent capable of dissolving the gas in the recess. While supplying the solution by the liquid supply means filled with the solution mixed with the solute composed of the filling material, the liquid supply means and the surface of the member to be processed are relatively moved to dissolve the gas in the recess. The recess material is covered with the film material by dissolving the gas in the recess in the solvent, filling the recess with a liquid, and heating the solution to evaporate the solvent. A film was formed. Thereby, manufacturing cost can be reduced.
[0021]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Preferred embodiments of a substance filling method, a film forming method, a device and a manufacturing method thereof according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Note that what is described below is only one aspect of the embodiment of the present invention, and the present invention is not limited thereto.
[0022]
First, the first embodiment will be described. FIG. 1 is an explanatory diagram of a substance filling method according to the first embodiment. In the substance filling method according to the first embodiment, the liquid supply means 5 and the surface of the member 1 to be processed are relatively supplied to the surface of the member 1 having the fine recesses 2 while the liquid 6 is supplied by the liquid supply means 5. By moving and covering the opening 2a of the fine recess 2 with the liquid 6 capable of dissolving the gas in the fine recess 2, the gas in the fine recess 2 is dissolved in the liquid 6, and the liquid 6 is contained in the fine recess 2. Is to be filled.
[0023]
In the first embodiment, the liquid 6 is filled into the fine recess 2 formed in the member 1 to be processed. In addition, the to-be-processed member 1 may be a film having fine recesses in addition to a silicon substrate or a glass substrate. The coating is, for example, an interlayer insulating film, passivation, or a photosensitive film such as a resist. The diameter of the fine recess 2 is, for example, about 4 μm. The liquid 6 is a substance capable of dissolving the gas in the fine recess 2, and for example, when the gas in the fine recess 2 is air, the liquid 6 can be an organic solvent. The organic solvent is suitable because it has good gas solubility, but is not particularly limited thereto, and other gas-soluble solvents such as aqueous solutions may be used. On the other hand, a slit type liquid supply means is used as the liquid supply means 5. The slit type liquid supply means has a slit-like liquid supply port 5a extending in the thickness direction of the paper surface, and is formed so that the liquid 6 can be continuously supplied from the liquid supply port 5a. The opening width W of the liquid supply port 5a is, for example, about 0.3 mm, and the length (depth) is, for example, about 150 to 500 mm. An ink jet may be used instead of the slit type liquid supply means.
[0024]
Then, as shown in FIG. 1 (1), the liquid supply means 5 is disposed above the member 1 to be processed. The distance between the liquid supply means 5 and the surface of the member 1 to be processed is, for example, about 0.2 mm. Next, the liquid 6 is discharged from the liquid supply port 5a. The discharged liquid 6 is spread radially on the surface of the member 1 to be processed. In addition, when the surface of the member 1 to be processed has liquid repellency, the discharged liquid 6 has a substantially spherical shape with a diameter of about 4 mm, for example. Next, the liquid supply means 5 is moved in the direction of the arrow 8 while continuously supplying the liquid 6 from the liquid supply port 5a. The moving speed is, for example, 5 mm / s. Then, the liquid 6 is applied to the surface of the member 1 to be processed.
[0025]
Then, as shown in FIG. 1 (2), the liquid supply means 5 is moved to a position facing the fine recess 2. As a result, the liquid 6 covers the opening 2 a of the fine recess 2. Here, for example, when the gas in the fine recess 2 is air and the liquid 6 is an organic solvent, the organic solvent has a property of dissolving air, so the gas in the fine recess 2 is dissolved in the liquid 6. In addition, since the volume of the fine recessed part 2 is very small, the liquid quantity of the liquid 6 supplied continuously is an amount which can melt | dissolve all the gas in the fine recessed part 2. FIG. Accordingly, when all the gas in the fine recess 2 is dissolved in the liquid 6, as shown in FIG. 1 (3), the gas in the fine recess 2 is replaced with the liquid 6, and the liquid 6 is filled in the fine recess 2. Is done.
[0026]
In FIG. 1, the liquid supply means 5 is disposed above the member 1 to be processed and the liquid 6 is discharged downward. However, the liquid supply means 5 is disposed below the member 1 to be processed and the liquid is directed upward. 6 may be discharged. Even in this case, since the gas in the fine recess 2 is dissolved in the liquid 6, the liquid can be filled in the fine recess 2.
[0027]
In the substance filling method according to the first embodiment described above, the liquid supply means 5 and the surface of the member 1 to be processed are supplied to the surface of the member 1 having the fine recesses 2 while supplying the liquid 6 by the liquid supply means 5. The liquid 6 is filled in the fine recess 2 by covering the opening 2a of the fine recess 2 with an amount of the liquid 6 capable of dissolving the gas in the fine recess 2. As a result, the liquid can be filled into the fine recesses without being atomized. Note that a required amount of liquid can be continuously supplied by the liquid supply means. Further, the liquid can be efficiently filled into the plurality of fine concave portions and the potential fine concave portions. Therefore, the manufacturing cost can be reduced.
[0028]
In addition, if the organic solvent which has the property to melt | dissolve air is used as the liquid 6, it will become possible to fill a fine recessed part in an air atmosphere, and can reduce manufacturing cost. Moreover, when the organic solvent etc. which have the washing | cleaning effect | action of the to-be-processed member 1 are used as the liquid 6, the inside of the fine recessed part 2 with the surface of the to-be-processed member 1 can be wash | cleaned. As an example in that case, ozone water etc. are mentioned, for example.
[0029]
Further, when a solute organic solvent solution or the like is used as the liquid 6, after the liquid 6 is filled in the fine recess 2, the member to be processed is heated to evaporate the organic solvent. The solute can be solidified. As the solute, a conductive material such as ITO, an interlayer insulating film, a passivation, or a photosensitive film such as a resist can be used.
[0030]
In addition, before performing the substance filling method according to the first embodiment described above, the surface of the member 1 to be processed can be subjected to liquid repellent treatment in advance. As a specific liquid repellent treatment, a fluororesin polymer film or the like may be formed on the surface of the member 1 to be treated. Thereby, the liquid 6 apply | coated to the to-be-processed member 1 surface can be removed easily. Even if the liquid repellent treatment is performed in the fine recess 2 at the same time as the surface of the member 1 to be processed, the gas in the fine recess 2 is replaced with the liquid 6, so that the liquid 6 is filled in the fine recess 2. be able to. As a result, the liquid 6 can be filled only in the fine recess 2. Then, various substrates and various coatings can be repaired by evaporating the filled organic solvent and solidifying the solute in the fine recesses 2.
[0031]
Next, a second embodiment will be described. 3 and 4 are explanatory views of the film forming method according to the second embodiment. Each of FIGS. 3 and 4 is an enlarged view of a portion A in FIG. The film forming method according to the second embodiment is a method of forming a wiring pattern with ITO, and an organic solvent solution 26 of an ITO coating material is supplied to the insulating film 15 having the fine recesses 20 by a liquid supply means. Meanwhile, the liquid supply means is relatively moved to apply the liquid 26 to the surface of the insulating film 15, and the opening of the fine recess 20 is covered with an amount of the liquid 26 that can dissolve the gas in the fine recess 20. Thus, after the gas in the fine recesses is dissolved in the liquid 26 and the liquid 26 is filled in the fine recesses 20, the liquid 26 is heated to evaporate the organic solvent. A wiring pattern is formed by the ITO coating, and the ITO coating material is solidified in the fine recesses 20. Note that the description of the same configuration as in the first embodiment is omitted.
[0032]
In FIG. 2A, a MOS transistor 12 is formed as a semiconductor element on the surface of a substrate 10 such as silicon. In the MOS transistor 12, a gate electrode 14 is formed of polysilicon or the like, and an insulating film 15 is formed of a silicon oxide film or the like on the surface thereof. Since the wiring pattern is formed on the surface of the insulating film 15, it is necessary to ensure conduction from the gate electrode 14 to the wiring pattern. Therefore, a minute recess (contact hole) 20 is formed in the insulating film 15 on the gate electrode 14. In the second embodiment, as shown in FIG. 2B, the fine recesses 20 are filled with conductive ITO, and a wiring pattern made of ITO is formed on the surface of the insulating film 15.
[0033]
ITO is made of indium oxide (In2OThree) Tin oxide (SnO)2) Is doped with 1 to 5% by weight. In the second embodiment, a liquid in which ultrafine ITO particles are dispersed in an organic solvent is used. That is, in the present invention, the liquid includes a liquid material in which, for example, ultrafine particles of ITO are dispersed in an organic solvent as described above. In addition, the liquid (2-10% of tin (Sn) addition) which melt | dissolved dibutyltin diacetate (DBTDA) and indium acetylacetonate (InAA) in the organic solvent can also be used. Organic solvents include octane (C8H18), Ethanol, higher alcohols having 5 or more carbon atoms, or organic esters such as n-butyl acetate can be used and diluted to a concentration of about 0.02 mol / L. The configuration of the liquid supply means is the same as that in the first embodiment.
[0034]
Next, a specific procedure of the film forming method according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 3 and 4 are enlarged views of a portion A in FIG.
[0035]
First, the entire surface of the insulating film 15 shown in FIG. Specifically, as shown in FIG. 3B, a fluororesin polymer film 22 having liquid repellency with respect to the organic solvent is formed on the entire surface of the insulating film 15. In addition, what is necessary is just to have liquid repellency with respect to an organic solvent, for example, you may form a silicone resin polymer film etc. other than a fluororesin polymer film. Note that a film having volatility with respect to electromagnetic waves such as ultraviolet rays is preferably formed. As a raw material liquid for fluoropolymer film, CFourFTenOr C8F18A liquid organic material composed of linear PFC such as is used. When this linear PFC gas is turned into plasma, the linear PFC is activated, and reaches the surface of the insulating film 15 and polymerizes, whereby a fluororesin polymer film is formed on the surface of the insulating film 15.
[0036]
Next, as shown in FIG. 3 (3), a lyophilic process is performed on the wiring pattern forming portion on the surface of the insulating film 15. Specifically, the fluororesin polymer film 22 formed in the wiring pattern forming portion is irradiated with ultraviolet rays. The bond of the fluororesin polymer film 22 is cut and removed by irradiation with ultraviolet rays. In addition, organic substances and the like attached to the part are also decomposed and removed. Thereby, lyophilicity with respect to the organic solvent is imparted to the wiring pattern forming portion on the surface of the insulating film 15 including the fine recess 20. In other words, the liquid repellent treatment is performed on the portion other than the wiring pattern forming portion.
[0037]
Next, as shown in FIG. 4A, a liquid 26 in which ultrafine particles of ITO are dispersed in an organic solvent is applied to the surface of the insulating film 15. The specific method is the same as in the first embodiment. First, the liquid 26 is discharged from the liquid supply port of the liquid supply means, and its tip is brought into contact with one end portion of the surface of the insulating film 15. Next, the liquid supply means is moved to apply the liquid 26 to the surface of the insulating film 15 (see FIG. 1A). Next, the liquid supply means is moved to a position facing the fine recess 20 (see FIG. 1 (2)). And the liquid 26 is filled in the fine recessed part 20 (refer FIG. 1 (3)). Thereafter, the liquid supply means is moved to the other end of the surface of the insulating film 15 to apply the liquid 26 to the entire surface of the insulating film 15.
[0038]
Here, since the liquid repellent treatment with respect to the organic solvent is performed on portions other than the wiring pattern forming portion on the surface of the insulating film 15, the liquid 26 hardly remains. The slightly remaining liquid can be easily removed by tilting the member to be processed. As a result, the liquid 26 is applied only to the wiring pattern forming portion. In addition, since the liquid 26 is applied in the raised state due to the liquid repellency of the fluororesin polymer film 22 at the end of the wiring pattern forming portion, the liquid 26 can be applied thicker than the fluororesin polymer film 22.
[0039]
When applying the liquid 26 to the surface of the insulating film 15, the thickness of the liquid 26 to be applied can be adjusted by adjusting the distance between the liquid supply port of the liquid supply means and the surface of the insulating film 15. it can. The thickness of the liquid 26 to be applied can also be adjusted by adjusting the speed of relative movement between the liquid supply means and the surface of the insulating film 15. The thickness of the liquid 26 to be applied can also be adjusted by adjusting the amount of liquid supplied from the liquid supply means. Then, by adjusting the thickness of the liquid 26 to be applied, a film having a desired thickness can be obtained after the liquid 26 is dried.
[0040]
In order to fill the liquid 26 in the fine recess 20, it is necessary to supply an amount of the liquid 26 that can dissolve the gas in the fine recess 20. Therefore, a sufficient amount of liquid can be supplied by reducing the distance between the liquid supply port of the liquid supply means and the surface of the insulating film at a position facing the fine recess 20. A sufficient amount of liquid can also be supplied by reducing the relative movement speed between the liquid supply means and the insulating film surface at a position facing the fine recess 20. A sufficient amount of liquid can also be supplied by increasing the amount of liquid supplied from the liquid supply means at a position facing the fine recess 20. It is also possible to supply a small amount of liquid a plurality of times and fill the fine recesses with the liquid in a plurality of times.
[0041]
Next, as shown in FIG. 4B, the liquid 26 is dried. Specifically, the organic solvent contained in the liquid 26 is evaporated by heating. In addition, in order to avoid generation | occurrence | production of the void in a pattern film, drying temperature shall be the temperature below the boiling point of an organic solvent. For example, when the organic solvent is octane, since the boiling point is about 170 ° C., heating is performed at 150 ° C. or less for 5 minutes or more in a nitrogen atmosphere. Next, an annealing process is performed. The annealing temperature of ITO is, for example, 500 ° C. or higher.
[0042]
Next, as shown in FIG. 4 (3), the fluororesin polymer film 22 is removed. Specifically, as in the lyophilic treatment described above, the fluororesin polymer film is decomposed and removed by irradiating with ultraviolet rays. Thus, the wiring pattern 28 made of ITO is formed.
[0043]
By the film forming method according to the second embodiment described above, a wiring pattern made of ITO is formed on the surface of the insulating film, and ITO is filled in the fine recesses. Conventionally, ITO has been filled in the fine recesses by sputtering that requires a vacuum device, and an ITO film has been formed on the surface of the insulating film.
[0044]
However, in the film forming method according to the second embodiment, the organic solvent solution of the ITO coating material is supplied to the surface of the processing target member having the fine recesses by the liquid supply means, and the liquid supply means is relatively moved. The liquid is applied to the surface of the processing member, and the liquid is filled in the fine recess by covering the opening of the fine recess with an amount of the liquid that can dissolve the gas in the fine recess. By heating and evaporating the organic solvent, an ITO film was formed on the surface of the member to be processed, and the ITO film material was filled in the fine recesses.
[0045]
Thus, the coating material can be filled in the fine recesses simultaneously with the film formation without forming the liquid into fine particles. Note that a required amount of liquid can be continuously supplied by the liquid supply means. In addition, the coating material can be efficiently filled into the plurality of fine recesses and potential fine recesses. Therefore, the manufacturing cost can be reduced.
[0046]
Conventionally, the surface of the ITO film has been polished by CMP or the like to adjust the film thickness, so that there has been a problem that a large production cost is required. However, in the film forming method according to the second embodiment, the liquid supply means is adjusted by adjusting the distance between the liquid supply port of the liquid supply means and the surface of the member to be processed, and by adjusting the speed of the relative movement. The liquid was supplied to the surface of the member to be processed with a desired thickness by adjusting the amount of liquid supplied from the substrate. This eliminates the need for polishing by CMP or the like on the surface of the coating, thereby reducing the manufacturing cost.
[0047]
Conventionally, patterning is performed by etching the ITO film, and thus there is a problem that a lot of manufacturing costs are required. However, in the film forming method according to the second embodiment, the portions other than the film forming portion on the surface of the member to be processed are subjected to liquid repellent treatment in advance, and the film forming portion on the surface of the member to be processed is subjected to lyophilic treatment in advance. The configuration. This eliminates the need for etching after forming the ITO film, and can greatly reduce the manufacturing cost.
[0048]
In addition, in 2nd Embodiment, although the case where an organic solvent solution of ITO film material was used and a wiring pattern was formed by ITO was demonstrated, the organic solvent solution of aluminum or a copper film material was used in addition to this. The wiring pattern can also be formed of aluminum or copper. In addition, an interlayer insulating film can be formed and repaired using an organic solvent solution of an insulating film material such as silicon dioxide. On the other hand, in the second embodiment, the fine recesses are filled in an air atmosphere. However, if the fine recesses are filled in a carbon dioxide atmosphere or a nitrogen atmosphere having a higher solubility in an organic solvent, the coating material can be more reliably filled. An organic solvent solution can be filled into the fine recesses.
[0049]
The structure in which the functional thin film is formed on the substrate by the material filling method and the film forming method in the fine recess according to the present invention is, for example, a device such as a semiconductor device, an electric circuit, a display module, and a light emitting element. Applies to An example is shown in FIGS. For example, FIG. 7 is a schematic view of a semiconductor device, an electric circuit, and a display module, and FIG. 8 is a schematic view of a microstructure in which a light emitting element is formed, for example. In FIG. 7, the functional thin film 214 of the semiconductor device and the electric circuit is mainly a metal thin film of a wiring pattern, for example, and the functional thin film 214 of the display module is, for example, an organic molecular film of a color filter. Although an example of a color filter is shown in FIG. 7, there is no difference in forming another functional thin film using the film forming method of the present invention. In FIG. 8, a functional thin film 214 of the light emitting element is, for example, an organic EL (electroluminescence) thin film used for the light emitting layer. The device is formed by sandwiching the functional thin film 214 therebetween. Needless to say, the electrode can also be formed by using the film forming method of the present invention. The thickness of the functional thin film 214 is arbitrary depending on the intended use of the microstructure, but is preferably 0.02 to 4 μm. Those to which the film forming method of the present invention is applied are of high quality, and the manufacturing process is simplified and the manufacturing cost is superior to the conventional method.
[0050]
【The invention's effect】
  The substance filling method according to the present invention is a liquid supply means in which a member to be processed having a recess is filled with a solution in which a solute composed of the filler is mixed with a solvent capable of dissolving the gas in the recess. The liquid supply means and the surface of the member to be processed are moved relative to each other while supplying the solution, and the recess opening is covered with an amount of liquid capable of dissolving the gas in the recess.
Since the recess is filled with the liquid by dissolving the gas in the recess in the solvent, the manufacturing cost can be reduced.
[0051]
  Further, the film forming method according to the present invention is a film forming method for forming a film in a recess on the surface of a member to be processed. In the film forming method, a solute comprising a filling material for film formation in the recess is dissolved in a solvent capable of dissolving the gas in the recess. While the solution is supplied by the liquid supply means filled with the mixed solution, the liquid supply means and the surface of the member to be processed are moved relative to each other, and the recess opening is covered with an amount of liquid that can dissolve the gas in the recess. By dissolving the gas in the recess in the solvent, the recess is filled with a liquid, and the solution is heated to evaporate the solvent, thereby forming a film made of the film material in the recess of the member to be processed. Since it was set as the structure, manufacturing cost can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram of a substance filling method according to a first embodiment.
FIG. 2 is an explanatory diagram of a wiring pattern, where (1) is a state before the wiring pattern is formed, and (2) is a state after the wiring pattern is formed.
FIG. 3 is a first explanatory view of a film forming method according to a second embodiment.
FIG. 4 is a second explanatory diagram of the film forming method according to the second embodiment.
FIG. 5 is a first explanatory view of a film forming method according to a conventional technique.
FIG. 6 is a second explanatory diagram of a film forming method according to the prior art.
FIG. 7 is a first explanatory diagram of a microstructure.
FIG. 8 is a second explanatory diagram of a microstructure.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ......... To-be-processed member, 2 ...... Fine recessed part, 2a ...... Opening part, 5 ...... Liquid supply means, 5a ...... Liquid supply port, 6 ...... Liquid, 8 ...... Arrow, DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ......... Substrate, 12 ......... MOS transistor, 14 ......... Gate electrode, 15 ......... Insulating film, 20 ......... Fine recess, 22 ......... Fluoropolymer polymer film, 26 ......... Liquid, 27 ……… ITO coating, 28 ……… Wiring pattern, 30 ……… Resist. 211... Substrate, 214... Functional thin film, 215... Transparent electrode, 220.

Claims (13)

凹部を有する被処理部材に対して、凹部内の気体を溶解させ得る溶媒に前記凹部への充填物質からなる溶質を混合させた溶液が充填された液体供給手段により溶液を供給しつつ、液体供給手段と被処理部材表面とを相対移動させ、凹部内の気体を溶解可能な量の液体で凹部開口を覆い、
凹部内気体を前記溶媒に溶解させることによって凹部内に液体を充填し、
前記凹部内に前記溶液を充填した後に、前記溶液を加熱して前記溶媒を蒸発させることにより、前記凹部内に前記溶質を充填固化させることを特徴とする物質充填方法。
While supplying a solution to a member to be processed having a recess by supplying a solution by a liquid supply means in which a solvent in which a gas in the recess is dissolved is mixed with a solute composed of a substance filling the recess, the liquid is supplied. The relative movement of the means and the surface of the member to be processed, the recess opening is covered with an amount of liquid capable of dissolving the gas in the recess,
Filling the recess with liquid by dissolving the gas in the recess in the solvent,
A method of filling a substance, wherein after filling the recess with the solution, the solution is heated to evaporate the solvent to fill and solidify the solute in the recess.
凹部を有する被処理部材表面に対してインクジェットノズルを前記凹部の開口に沿って相対移動させることにより前記凹部への充填物質からなる溶質と前記凹部内の気体を溶解させ得る溶媒とからなる溶液を前記凹部上に供給する工程と、
前記溶液により前記凹部の開口部を覆い、前記凹部内の気体を前記溶媒中に溶解させ、前記凹部内に前記溶液を充填する工程と、
前記凹部内に前記溶液を充填した後に、前記溶液を加熱して前記溶媒を蒸発させることにより、前記凹部内に前記溶質を充填固化させることを特徴とする物質充填方法。
A solution composed of a solute composed of a substance filling the recess and a solvent capable of dissolving the gas in the recess by moving the inkjet nozzle relative to the surface of the member having the recess along the opening of the recess. Supplying the concave portion;
Covering the opening of the recess with the solution, dissolving the gas in the recess in the solvent, and filling the solution in the recess;
A method of filling a substance, wherein after filling the recess with the solution, the solution is heated to evaporate the solvent to fill and solidify the solute in the recess.
前記気体溶解性溶媒は、有機溶媒であることを特徴とする、請求項1または2に記載の物質充填方法。The method for filling a substance according to claim 1, wherein the gas-soluble solvent is an organic solvent. 前記凹部内に前記溶液を充填する前に、
前記凹部を有する前記被処理部材表面を予め撥液処理することを特徴とする、請求項1ないし3のいずれかに記載の物質充填方法。
Before filling the recess into the solution,
4. The substance filling method according to claim 1, wherein the surface of the member to be processed having the concave portion is subjected to a liquid repellent treatment in advance.
請求項1ないし4のいずれかに記載の物質充填方法を使用して製造したことを特徴とするデバイス。A device manufactured using the material filling method according to claim 1. 被処理部材表面の凹部内に膜を形成させる膜形成方法において、
凹部内の気体を溶解させ得る溶媒に前記凹部への成膜用充填物質からなる溶質を混合させた溶液が充填された液体供給手段により溶液を供給しつつ、液体供給手段と被処理部材表面とを相対移動させ、凹部内の気体を溶解可能な量の液体で凹部開口を覆い、
凹部内気体を前記溶媒に溶解させることによって凹部内に液体を充填し、
前記溶液を加熱して前記溶媒を蒸発させることにより、前記被処理部材の凹部内に前記膜材料からなる膜を形成することを特徴とする膜形成方法。
In the film forming method of forming a film in the recesses on the surface of the processing target member
While supplying the solution by the liquid supply means in which the solvent in which the gas in the recess can be dissolved is mixed with the solute composed of the filling material for film formation in the recess, the liquid supply means, the surface of the member to be processed, The relative opening is moved, and the recess opening is covered with an amount of liquid capable of dissolving the gas in the recess,
Filling the recess with liquid by dissolving the gas in the recess in the solvent,
A film forming method comprising: forming a film made of the film material in a concave portion of the member to be processed by heating the solution and evaporating the solvent.
前記液体供給手段の液体供給口と前記被処理部材表面との間の距離を調整することにより、前記被処理部材表面に前記液体を所望厚さで塗布することを特徴とする、請求項6に記載の膜形成方法。The liquid is applied to the surface of the member to be processed at a desired thickness by adjusting a distance between the liquid supply port of the liquid supply unit and the surface of the member to be processed. The film formation method of description. 前記液体供給手段と前記被処理部材表面とを相対移動させ、前記相対移動の速度を調整することにより、前記被処理部材表面に前記溶液を所望厚さで塗布することを特徴とする、請求項6に記載の膜形成方法。The liquid is applied to the surface of the member to be processed at a desired thickness by relatively moving the liquid supply unit and the surface of the member to be processed and adjusting the speed of the relative movement. 7. The film forming method according to 6. 前記液体供給手段からの溶液供給量を調整することにより、前記被処理部材表面に前記溶液を所望厚さで塗布することを特徴とする請求項6に記載の膜形成方法。The film forming method according to claim 6, wherein the solution is applied to the surface of the member to be processed with a desired thickness by adjusting a solution supply amount from the liquid supply unit. 前記被処理部材表面に前記溶液を塗布する前に、
前記被処理部材表面における膜形成部分以外の部分を予め撥液処理することを特徴とする、請求項6ないし9のいずれかに記載の膜形成方法。
Before applying the solution to the surface of the member to be processed,
10. The film forming method according to claim 6, wherein a portion other than the film forming portion on the surface of the member to be processed is subjected to a liquid repellent treatment in advance.
前記被処理部材表面に前記溶液を塗布する前に、
前記被処理部材表面における膜形成部分を予め親液処理することを特徴とする、請求項6ないし10のいずれかに記載の膜形成方法。
Before applying the solution to the surface of the member to be processed,
The film forming method according to claim 6, wherein a film forming portion on the surface of the member to be processed is subjected to lyophilic treatment in advance.
請求項6ないし11のいずれかに記載の膜形成方法を使用して製造したことを特徴とするデバイス。A device manufactured using the film forming method according to claim 6. 被処理部材の凹部内に液状材料を充填し膜を形成するデバイスの製造方法において、
凹部内の気体を溶解させ得る溶媒に前記凹部への成膜用充填物質からなる溶質を混合させた溶液が充填された液体供給手段により溶液を供給しつつ、液体供給手段と被処理部材表面とを相対移動させ、凹部内の気体を溶解可能な量の液体で凹部開口を覆い、
凹部内気体を前記溶媒に溶解させることによって凹部内に液体を充填し、
前記溶液を加熱して前記溶媒を蒸発させることにより、前記被処理部材表面に前記膜材料からなる膜を形成することを特徴とするデバイスの製造方法。
In a method for manufacturing a device in which a liquid material is filled in a recess of a member to be processed to form a film,
While supplying the solution by the liquid supply means in which the solvent in which the gas in the recess can be dissolved is mixed with the solute composed of the filling material for film formation in the recess, the liquid supply means, the surface of the member to be processed, The relative opening is moved, and the recess opening is covered with an amount of liquid capable of dissolving the gas in the recess,
Filling the recess with liquid by dissolving the gas in the recess in the solvent,
A device manufacturing method, comprising: forming a film made of the film material on the surface of the member to be processed by heating the solution and evaporating the solvent.
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