JP3863423B2 - 論理回路の故障箇所推定方法、および、論理回路の故障箇所推定プログラム - Google Patents
論理回路の故障箇所推定方法、および、論理回路の故障箇所推定プログラム Download PDFInfo
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、論理回路の故障箇所推定方法に関し、特に、論理回路のテスト結果から取得されたフェイル情報に基づき論理回路の故障箇所を推定する、論理回路の故障箇所推定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種の論理回路の故障箇所推定方法は、論理回路の故障箇所を推定するため、一般的な構成のコンピュータに論理回路の故障箇所推定プログラムをインストールして各コマンド入力に応じて実行させることにより実施される。
【0003】
たとえば、図5は、この従来の論理回路の故障箇所推定方法の概略処理を示す流れ図である。この従来の論理回路の故障箇所推定方法では、まず、ステップ51において、故障シミュレータを用いて、論理回路内部に故障を仮定して機能もしくは論理シミュレーションを行い、そのシミュレーション結果と期待値とを照合し、仮定した故障箇所と、その故障を検出したテストベクタとを対応付けた故障辞書を作成し、ステップ52において、論理回路の実際のテスト結果からフェイル情報を取得する。次に、ステップ53において、フェイル情報のフェイルピンおよびフェイルベクタに対応して故障辞書をそれぞれ検索し、仮定の故障箇所を求め、ステップ54において、複数得られた仮定の故障箇所の中から、優先順位付けを行って故障箇所の推定を行う。
【0004】
また、他の従来の論理回路の故障箇所推定方法として、たとえば、電子ビームテスタを用いて、論理回路の上位階層から故障箇所を推定し、階層境界の内部信号を観測し、故障箇所を論理回路の下位階層へ順に絞り込んでいく方法もある。
【0005】
さらに、別の従来の論理回路の故障箇所推定方法として、特開平8−146093号公報に記載されているように、論理回路をラッチと組合せ回路とに分割しゲートレベルで故障箇所を推定する方法もある。この方法では、故障出力に故障を伝搬する可能性のある組合せ回路をダイナミックに抽出して、組合せ回路毎に論理状態および故障の伝搬する経路を推定し、入力方向に溯ることにより故障箇所を推定する。ここで、組合せ回路の論理状態とは、一つの信号線の論理値だけでなく、回路内部の全ノード、すなわち、信号線、ゲート、ゲート端子、入出力端子が0/1/X「Don’t Care」/Z「ハイインピーダンス」/U「不定」などの論理値を持っている状態のことである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
従来の、故障シミュレータによる論理回路の故障箇所推定手法では、故障辞書を予め作成しておく必要があるが、故障辞書の作成は多大な故障シミュレーション時間を要するため、LSIが大規模化すればするほど計算時間も膨大となり、故障辞書のファイルも非常に大きくなるという問題があった。また、故障シミュレーションで用いる故障モデルは単一縮退故障が一般的であるため、ブリッジ故障などの多重故障では実際と一致しないこともあり、また、故障シミュレーションモデルを多重故障に拡張すると、故障シミュレーションの処理時間の点で実用的でないという問題が挙げられる。
【0007】
また、従来の、電子ビームテスタを用いた論理回路の故障箇所推定方法では、論理回路の上位階層から下位階層へ故障箇所を逐次観測しながら絞り込んでいくため有効な手段であるが、LSI化された論理回路が大規模化し、多層配線構造になると、下層配線の電位が観測不可能になるという問題がある。
【0008】
また、従来の、ゲートレベルでの故障箇所推定手法の場合は、組合せ回路毎に故障箇所を推定できるため有効な手段であるが、ゲート単位での推定処理のため、大規模LSIに対する精度と処理時間が問題となる。
【0009】
したがって、本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、その主たる目的は、大規模化、多層配線化する論理回路に対して、回路ブロック単位の機能レベルで、短時間に故障箇所を推定することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
そのため、本発明は、論理回路のテスト結果から取得されたフェイル情報に基づき前記論理回路の故障箇所を推定する、論理回路の故障箇所推定方法において、前記論理回路をハードウェア記述言語で回路ブロック単位に機能記述した記述情報に基づき機能シミュレーションしてテスト入力に対する全回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値を取得するステップと、前記フェイル情報またはフェイル伝搬推定情報に基づき前記記述情報から接続元のフェイル出力ポートまたはフェイル推定出力ポートを検索しフェイル推定回路ブロックを抽出する抽出ステップと、前記フェイル推定回路ブロックごとに決定グラフをそれぞれ作成する作成ステップと、前記決定グラフを用いて前記フェイル推定回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値に基づき機能シミュレーションし前記決定グラフの全ノードの期待値をそれぞれ取得するステップと、前記フェイル出力ポートおよび前記フェイル推定出力ポートに対応したノードを起点としてフェイルベクタに基づき各ノードの出力推定および期待値比較により各ノードのフェイル推定を入力方向に行い、フェイル伝搬経路を推定し、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報を前記フェイル伝搬推定情報として登録する推定ステップと、前記フェイル伝搬元ノード全てが入力ポートと対応しないか判定し、入力ポートと対応するフェイル伝搬元ノードが有る場合、前記抽出ステップに戻る判定ステップと、前記故障箇所推定情報をリスト出力する出力ステップとを含み、前記故障箇所推定方法は機能レベルでの故障箇所推定であることを特徴としている。
【0011】
また、前記作成ステップが、前記フェイル推定回路ブロックの回路記述部に対し、その処理順序に従って状態を割り当て、現状態,状態遷移条件,次の状態および動作でテーブル構成される状態テーブルを作成し、前記状態テーブルに記述された入力ポート,ラッチ,状態の変数または値を読み出す処理をそれぞれ読出ノードとして設定し、前記状態テーブルに記述された論理演算子,算術演算子,比較演算子の処理をそれぞれ操作ノードとして設定し、前記状態テーブルに記述された出力ポート,ラッチ,状態の変数への代入に対応して、前記読出ノードまたは前記操作ノードの出力の1つを他の出力の2値制御により選択割り当て決定し書き込む処理をそれぞれ割当決定ノードおよび書込ノードとして設定するステップである。
【0012】
また、前記推定ステップが、前記フェイル出力ポートおよび前記フェイル推定出力ポートに対応した書込ノードを起点としてフェイルベクタに基づき、入力方向に時刻を遡って、各ノードの出力を推定し、各ノードの期待値と比較して、各ノードのフェイル推定を行い、フェイル伝搬経路を推定し、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を前記故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報を前記フェイル伝搬推定情報として登録するステップである。
【0013】
また、前記出力ステップが、前記故障箇所推定情報をハードウェア記述言語の記述情報へ変換しリスト出力するステップである。
【0014】
また、本発明は、論理回路のテスト結果から取得されたフェイル情報に基づき前記論理回路の故障箇所を推定する推定処理をコンピュータに実行させる、論理回路の故障箇所推定プログラムにおいて、前記推定処理が、前記論理回路をハードウェア記述言語で回路ブロック単位に機能記述した記述情報に基づき機能シミュレーションしてテスト入力に対する全回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値を取得するステップと、前記フェイル情報またはフェイル伝搬推定情報に基づき前記記述情報から接続元のフェイル出力ポートまたはフェイル推定出力ポートを検索しフェイル推定回路ブロックを抽出する抽出ステップと、前記フェイル推定回路ブロックごとに決定グラフをそれぞれ作成する作成ステップと、前記決定グラフを用いて前記フェイル推定回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値に基づき機能シミュレーションし前記決定グラフの全ノードの期待値をそれぞれ取得するステップと、前記フェイル出力ポートおよび前記フェイル推定出力ポートに対応したノードを起点としてフェイルベクタに基づき各ノードの出力推定および期待値比較により各ノードのフェイル推定を入力方向に行い、フェイル伝搬経路を推定し、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報を前記フェイル伝搬推定情報として登録する推定ステップと、前記フェイル伝搬元ノード全てが入力ポートと対応しないか判定し、入力ポートと対応するフェイル伝搬元ノードが有る場合、前記抽出ステップに戻る判定ステップと、前記故障箇所推定情報をリスト出力する出力ステップとを含み、前記故障箇所推定プログラムは機能レベルでの故障箇所推定を実施するプログラムであることを特徴としている。
【0015】
また、前記作成ステップが、前記フェイル推定回路ブロックの回路記述部に対し、その処理順序に従って状態を割り当て、現状態,状態遷移条件,次の状態および動作でテーブル構成される状態テーブルを作成し、前記状態テーブルに記述された入力ポート,ラッチ,状態の変数または値を読み出す処理をそれぞれ読出ノードとして設定し、前記状態テーブルに記述された論理演算子,算術演算子,比較演算子の処理をそれぞれ操作ノードとして設定し、前記状態テーブルに記述された出力ポート,ラッチ,状態の変数への代入に対応して、前記読出ノードまたは前記操作ノードの出力の1つを他の出力の2値制御により選択割り当て決定し書き込む処理をそれぞれ割当決定ノードおよび書込ノードとして設定するステップである。
【0016】
また、前記推定ステップが、前記フェイル出力ポートおよび前記フェイル推定出力ポートに対応した書込ノードを起点としてフェイルベクタに基づき、入力方向に時刻を遡って、各ノードの出力を推定し、各ノードの期待値と比較して、各ノードのフェイル推定を行い、フェイル伝搬経路を推定し、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を前記故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報を前記フェイル伝搬推定情報として登録するステップである。
【0017】
また、前記出力ステップが、前記故障箇所推定情報をハードウェア記述言語の記述情報へ変換しリスト出力するステップである。
【0020】
【発明の実施の形態】
次に、本発明について図面を参照して説明する。本発明による論理回路の故障箇所推定方法は、従来と同じく、論理回路の故障箇所を推定するため、一般的な構成のコンピュータに論理回路の故障箇所推定プログラムをインストールして各コマンド入力に応じて実行させることにより実施される。
【0021】
図1は、本発明による論理回路の故障箇所推定方法の実施形態を示す流れ図である。図1を参照すると、本実施形態の論理回路の故障箇所推定方法は、まず、ステップ11において、論理回路のテスト結果からフェイル情報を取得する。このフェイル情報には、各ピンの判定/非判定,フェイルピン,フェイルベクタの情報が含まれている。
【0022】
ステップ12において、Verilog HDL、VHDLなどのハードウェア記述言語で論理回路を回路ブロック単位に機能記述した記述情報に基づき機能シミュレーションし、テスト入力に対する全回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値を取得する。
【0023】
ステップ13において、フェイル情報またはフェイル伝搬推定情報に基づき、記述情報から、接続元のフェイル出力ポートまたはフェイル推定出力ポートを検索し、フェイル出力ポートまたはフェイル推定出力ポートを有するフェイル推定回路ブロックを抽出する。
【0024】
ステップ14において、フェイル推定回路ブロックごとに、フェイル推定回路ブロックの回路記述部をデータ処理単位のノードおよび結線によりデータフロー表示して全条件に対する動作を決定する決定グラフをそれぞれ作成する。
【0025】
この決定グラフとして、たとえば、テクニカルレポート,デパートメント・オブ・インフォメーション・エンド・コンピュータサイエンス,ユニバーシティ・オブ・カリフォニア,1992「Technical Report,Deartment of Computer Science,1992」にアサインメント・デシジョン・ダイアグラム・フォ・ハイレベル・シンセシス「Assingnment Decision Diagram for High−Level Synthesis」の題名の論文で発表されているADD「Assignment Decision Diagram」がある。
【0026】
このとき、フェイル推定回路ブロックの回路記述部に対し、その処理順序に従って状態を割り当てて、現状態,状態遷移条件,次の状態および動作でテーブル構成される状態テーブルを作成し、この状態テーブルに記述された入力ポート,ラッチ,状態の変数または値を読み出す処理をそれぞれ読出ノードとして設定し、状態テーブルに記述された論理演算子,算術演算子,比較演算子の処理をそれぞれ操作ノードとして設定する。また、状態テーブルに記述された出力ポート,ラッチ,状態の変数への代入に対応して、読出ノードまたは操作ノードの出力の1つを他の出力の2値制御により選択割り当て決定し書き込む処理をそれぞれ割当決定ノードおよび書込ノードとして設定する。
【0027】
ステップ15において、決定グラフを用いて、フェイル推定回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値に基づき機能シミュレーションし、決定グラフの全ノードの期待値をそれぞれ取得する。
【0028】
ステップ16において、決定グラフごとに、フェイル出力ポートおよび前記フェイル推定出力ポートに対応した書込ノードを起点として、フェイルベクタに基づき、入力方向に時刻を遡って、各ノードの出力を推定し、各ノードの期待値と比較して、各ノードのフェイル推定を行い、フェイル伝搬経路を推定する。また、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を前記故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報をフェイル伝搬推定情報として登録する。
【0029】
ステップ17において、フェイル伝搬元ノード全てが入力ポートと対応しないか判定し、入力ポートと対応するフェイル伝搬元ノードが有る場合、ステップ13に戻る。
【0030】
ステップ18において、故障箇所推定情報をリスト出力する。
【0031】
次に、上述した、本実施形態の論理回路の故障箇所推定方法におけるステップ14,16の決定グラフ作成,フェイル伝搬推定について、具体的な回路ブロック例を用いてそれぞれ追加説明する。
【0032】
たとえば、図2は、HLSynth89「Fourth International Workshop on High−Level Synthesis」で用いられたベンチマーク回路counterのVHDL記述例を示す説明図である。図2を参照すると、このベンチマーク回路counterの記述は、4ビットのカウンター回路を記述し、clock、count、up、countinは入力ポートの変数または信号であり、countoutは出力ポートの変数または信号であり、また、iは内部のラッチの変数または信号である(以後、「変数または信号」を「変数」に統一して呼称し、場合によっては、便宜上、「変数i」などを「i」などと略称する)。clockが‘1’になったら、iをcountoutに代入し、次に、count=‘1’の場合、up=‘1’ならば、iが4ビット・ハイか否かに対応して4ビット・ロウまたはi+1を代入してカウントアップし、up!=‘1’ならば、iが4ビット・ロウか否かに対応して4ビット・ハイまたはi−1を代入してカウントダウンし、count=‘0’の場合は、countinをiに代入する。
【0033】
図1のステップ14では、この図2のVHDL記述例に基づき、決定グラフが作成される。
【0034】
まず、図2で示したベンチマーク回路counterのVHDL記述の処理順序に従って、状態ST0〜ST3を割り当てて、現状態,状態遷移条件,次の状態および動作でテーブル構成される状態テーブルを作成する。図3は、この状態テーブルの例を示す説明図である。
【0035】
状態ST0では、clock=‘1’の場合、次の状態ST1へ遷移し、clock=‘1’でない場合、状態ST3へ遷移する。状態ST1では、iをcountoutへ代入し、次の状態ST2へ遷移する。状態ST2では、count=‘1’の場合、up=‘1’か否かを判定する。up=‘1’の場合、i=‘1111’であるか否かを判定する。i=‘1111’の場合、iに‘0000’を代入し、i=‘1111’でない場合、iにi+1を代入する。また、up=‘1’でない場合は、i=‘0000’であるか否かを判定し、i=‘0000’の場合、iに‘1111’を代入し、i=‘0000’でない場合、iにi−1を代入する。また、count=‘1’でない場合、countinをiに代入する。次に、状態ST3へ遷移する。状態ST3では、次の状態ST0へ遷移する。
【0036】
次に、この状態テーブル例に対応して決定グラフを作成する。図4は、図3の状態テーブル例に対応して作成された決定グラフ例を示す説明図である。
【0037】
状態テーブルに記述された入力ポートの変数clock,count,up,countinと、ラッチの変数iと、状態の変数STATEと、値ST0,ST1,ST2,ST3,‘1’,‘1111’,‘0000’とを読み出す処理をそれぞれ読出ノードとして設定する。また、状態テーブルに記述されたAND,OR,NOTなどの論理演算子の処理と、+,−,×,=,!(NOT EQUAL)などの算術演算子の処理と、<,>,=<,=>などの比較演算子の処理とをそれぞれ操作ノードとして設定する。また、状態テーブルに記述された出力ポートの変数countout、ラッチの変数i、および状態の変数STATEへの代入に対応して、読出ノードまたは操作ノードの出力の1つを他の出力の2値制御により選択割り当て決定し書き込む処理をそれぞれ割当決定ノードおよび書込ノードとして設定する。
【0038】
なお、この図3の決定グラフ例のノードには含まれていないが、2次元記憶装置などの多次元変数をインデックスに対応して書き込み/読み出す処理をノードとして設定することもできる。
【0039】
また、図1のステップ16では、この図3の決定グラフ例を用いてフェイル伝搬経路が推定される。
【0040】
今、時刻t−1,t,t+1,t+2のSTATE=ST0でclock=‘1’となり、時刻tに、countout=‘0011’が出力されたとする。
【0041】
countout=‘0011’となるためには、countoutの書込ノード前段の割当決定ノード,その入力の接続先ノードへ順に遡り、STATE=ST1で、iの読出ノードの出力を割当決定していることから、iの読出ノードの出力は‘0011’と推定され、すなわち、STATE=ST1且つi=‘0011’と推定される。さらに、STATE=ST1となるためには、STATEの書込ノード,その入力の接続先ノードへ順に遡り、clock=‘1’且つSTATE=ST0と推定される。
【0042】
同様にして、STATE=ST0となるためには、1クロック前の時刻t−1において、STATE=ST3と推定される。このとき、iの書込ノードは割当決定されていないので、STATE=ST3且つi=‘0011’と推定される。さらに、STATE=ST3となるためには、clock!=‘1’且つSTATE=ST0、または、STATE=ST2と推定される。ここで、時刻t−1のSTATE=ST0ではclock=‘1’、すなわち、次の時刻tを待っている状態であるから、時刻を遡って、時刻t−1のSTATE=ST2と推定する。
【0043】
STATE=ST2では、iの書込ノード前段の割当決定ノード,その入力の接続先ノードへそれぞれ遡り、次の5パターンの条件および動作が推定候補となる。
パターン1
「STATE=ST2」且つ「count=‘1’」且つ「up=‘1’」且つ「i=‘1111’」の条件で、iの書込ノード前段の割当決定ノードが‘0000’を割り当て決定
パターン2
「STATE=ST2」且つ「count=‘1’」且つ「up=‘1’」且つ「i!=‘1111’」の条件で、iの書込ノード前段の割当決定ノードが「i+1」を割り当て決定
パターン3
「STATE=ST2」且つ「count=‘1’」且つ「up!=‘1’」且つ「i=‘0000’」の条件で、iの書込ノード前段の割当決定ノードが‘1111’を割り当て決定
パターン4
「STATE=ST2」且つ「count=‘1’」且つ「up!=‘1’」且つ「i!=‘0000’」の条件で、iの書込ノード前段の割当決定ノードが「i−1」を割り当て決定
パターン5
「STATE=ST2」且つ「count!=‘1’」の条件で、iの書込ノード前段の割当決定ノードがcountinを割り当て決定
ここで、STATE=ST3且つi=‘0011’と推定されてきたので、パターン1および3の場合は成立しない。パターン2の場合は、「STATE=ST2」且つ「count=‘1’」且つ「up=‘1’」且つ「i=‘0010’」と推定される。パターン4の場合は、「STATE=ST2」且つ「count=‘1’」且つ「up!=‘1’」且つ「i=‘0100’」と推定される。パターン5の場合は、「STATE=ST2」且つ「count!=‘1’」且つ「countin=‘0011’」と推定される。
【0044】
さらに、時刻t−1でSTATE=ST2となるためには、時刻t−1でSTATE=ST1が推定され、状態ST1では、countoutの書込ノード前段の割当決定ノードがiを割り当て決定し、書込ノードが出力する。すなわち、1クロック前の時刻t−1のcountoutが出力される。
【0045】
以上の処理により、出力ポートに対応した書込ノードの時刻tの出力から、時刻t−1の各ノードの出力が推定され、時刻t−1のSTATE=ST1では、「count=‘1’且つup=‘1’且つi=‘0010’」、「count=‘1’且つup!=‘1’且つi=‘0100’」、または、「count!=‘1’且つcountin=‘0011’」と推定される。
【0046】
以上のように、フェイル出力ポートまたはフェイル推定出力ポートに対応したノードおよびベクタを起点として、決定グラフの各ノードの出力を推定しながら、未推定の読出ノードの出力を順次推定し、推定結果と、フェイル情報もしくは期待値とを比較し、各ノードのフェイル推定を行い、フェイル伝搬経路を推定することができる。また、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を前記故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報をフェイル伝搬推定情報として登録する。
【0047】
この後のステップで、フェイル伝搬元ノード全てが入力ポートと対応しなくなるまで、フェイル伝搬のフェイル推定回路ブロックを抽出し、追加説明した決定グラフ作成およびフェイル伝搬経路推定を繰り返し、故障箇所推定情報をリスト出力する。
【0048】
このため、本実施形態の論理回路の故障箇所推定方法は、論理回路の記述情報から抽出したフェイル推定回路ブロックごとに、決定グラフ作成と、決定グラフを用いたフェイル伝搬経路推定を行い、回路ブロック単位の機能レベルで故障箇所を推定することができ、ゲートレベルでの故障推定に比べて、基本要素が少なくなるため、推定処理数が少なくなり、推定処理時間が短縮できる。
【0049】
なお、本実施形態の論理回路の故障箇所推定方法では、フェイル推定回路ブロックに対応した決定グラフのノードの情報を故障箇所推定情報として登録しリスト出力するとして説明したが、本実施形態の変形例として、故障箇所推定情報として登録された、決定グラフのノードの情報をハードウェア記述言語の記述情報へ変換しリスト出力することもできる。これにより、故障箇所推定結果を機能設計へフィードバックすることが容易になる。
【0050】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明による、論理回路の故障箇所推定方法は、論理回路をハードウェア記述言語で回路ブロック単位に機能記述した記述情報からフェイル推定回路ブロックを抽出し、抽出したフェイル推定回路ブロックごとに、決定グラフ作成と、決定グラフを用いたフェイル伝搬経路推定を行い、回路ブロック単位の機能レベルで故障箇所を推定することができ、ゲートレベルでの故障推定に比べて、基本要素が少なくなるため、推定処理数が少なくなり、推定処理時間が短縮できるなどの効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による論理回路の故障箇所推定方法の実施形態を示す流れ図である。
【図2】ベンチマーク回路counterのVHDL記述例を示す説明図である。
【図3】 図2のVHDL記述例に対する状態テーブルの例を示す説明図である。
【図4】図4は、図3の状態テーブル例に対応して作成された決定グラフ例を示す説明図である。
【図5】従来の論理回路の故障箇所推定方法の概略処理を示す流れ図である。
【符号の説明】
11〜18,51〜54 ステップ
Claims (8)
- 論理回路のテスト結果から取得されたフェイル情報に基づき前記論理回路の故障箇所を推定する、論理回路の故障箇所推定方法において、
前記論理回路をハードウェア記述言語で回路ブロック単位に機能記述した記述情報に基づき機能シミュレーションしてテスト入力に対する全回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値を取得するステップと、
前記フェイル情報またはフェイル伝搬推定情報に基づき前記記述情報から接続元のフェイル出力ポートまたはフェイル推定出力ポートを検索しフェイル推定回路ブロックを抽出する抽出ステップと、
前記フェイル推定回路ブロックごとに決定グラフをそれぞれ作成する作成ステップと、
前記決定グラフを用いて前記フェイル推定回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値に基づき機能シミュレーションし前記決定グラフの全ノードの期待値をそれぞれ取得するステップと、
前記フェイル出力ポートおよび前記フェイル推定出力ポートに対応したノードを起点としてフェイルベクタに基づき各ノードの出力推定および期待値比較により各ノードのフェイル推定を入力方向に行い、フェイル伝搬経路を推定し、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報を前記フェイル伝搬推定情報として登録する推定ステップと、
前記フェイル伝搬元ノード全てが入力ポートと対応しないか判定し、入力ポートと対応するフェイル伝搬元ノードが有る場合、前記抽出ステップに戻る判定ステップと、
前記故障箇所推定情報をリスト出力する出力ステップとを含み、前記故障箇所推定方法は機能レベルでの故障箇所推定であることを特徴とする論理回路の故障箇所推定方法。 - 前記作成ステップが、前記フェイル推定回路ブロックの回路記述部に対し、その処理順序に従って状態を割り当て、現状態,状態遷移条件,次の状態および動作でテーブル構成される状態テーブルを作成し、前記状態テーブルに記述された入力ポート,ラッチ,状態の変数または値を読み出す処理をそれぞれ読出ノードとして設定し、前記状態テーブルに記述された論理演算子,算術演算子,比較演算子の処理をそれぞれ操作ノードとして設定し、前記状態テーブルに記述された出力ポート,ラッチ,状態の変数への代入に対応して、前記読出ノードまたは前記操作ノードの出力の1つを他の出力の2値制御により選択割り当て決定し書き込む処理をそれぞれ割当決定ノードおよび書込ノードとして設定するステップであることを特徴とする、請求項1記載の、論理回路の故障箇所推定方法。
- 前記推定ステップが、前記フェイル出力ポートおよび前記フェイル推定出力ポートに対応した書込ノードを起点としてフェイルベクタに基づき、入力方向に時刻を遡って、各ノードの出力を推定し、各ノードの期待値と比較して、各ノードのフェイル推定を行い、フェイル伝搬経路を推定し、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を前記故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報を前記フェイル伝搬推定情報として登録するステップであることを特徴とする、請求項2記載の、論理回路の故障箇所推定方法。
- 前記出力ステップが、前記故障箇所推定情報をハードウェア記述言語の記述情報へ変換しリスト出力するステップであることを特徴とする、請求項2または3記載の、論理回路の故障箇所推定方法。
- 論理回路のテスト結果から取得されたフェイル情報に基づき前記論理回路の故障箇所を推定する推定処理をコンピュータに実行させる、論理回路の故障箇所推定プログラムにおいて、
前記推定処理が、前記論理回路をハードウェア記述言語で回路ブロック単位に機能記述した記述情報に基づき機能シミュレーションしてテスト入力に対する全回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値を取得するステップと、
前記フェイル情報またはフェイル伝搬推定情報に基づき前記記述情報から接続元のフェイル出力ポートまたはフェイル推定出力ポートを検索しフェイル推定回路ブロックを抽出する抽出ステップと、
前記フェイル推定回路ブロックごとに決定グラフをそれぞれ作成する作成ステップと、
前記決定グラフを用いて前記フェイル推定回路ブロックの入出力ポートまたはラッチの期待値に基づき機能シミュレーションし前記決定グラフの全ノードの期待値をそれぞれ取得するステップと、
前記フェイル出力ポートおよび前記フェイル推定出力ポートに対応したノードを起点としてフェイルベクタに基づき各ノードの出力推定および期待値比較により各ノードのフェイル推定を入力方向に行い、フェイル伝搬経路を推定し、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報を前記フェイル伝搬推定情報として登録する推定ステップと、
前記フェイル伝搬元ノード全てが入力ポートと対応しないか判定し、入力ポートと対応するフェイル伝搬元ノードが有る場合、前記抽出ステップに戻る判定ステップと、
前記故障箇所推定情報をリスト出力する出力ステップとを含み、前記故障箇所推定プログラムは機能レベルでの故障箇所推定を実施するプログラムであることを特徴とする論理回路の故障箇所推定プログラム。 - 前記作成ステップが、前記フェイル推定回路ブロックの回路記述部に対し、その処理順序に従って状態を割り当て、現状態,状態遷移条件,次の状態および動作でテーブル構成される状態テーブルを作成し、前記状態テーブルに記述された入力ポート,ラッチ,状態の変数または値を読み出す処理をそれぞれ読出ノードとして設定し、前記状態テーブルに記述された論理演算子,算術演算子,比較演算子の処理をそれぞれ操作ノードとして設定し、前記状態テーブルに記述された出力ポート,ラッチ,状態の変数への代入に対応して、前記読出ノードまたは前記操作ノードの出力の1つを他の出力の2値制御により選択割り当て決定し書き込む処理をそれぞれ割当決定ノードおよび書込ノードとして設定するステップであることを特徴とする、請求項5記載の、論理回路の故障箇所推定プログラム。
- 前記推定ステップが、前記フェイル出力ポートおよび前記フェイル推定出力ポートに対応した書込ノードを起点としてフェイルベクタに基づき、入力方向に時刻を遡って、各ノードの出力を推定し、各ノードの期待値と比較して、各ノードのフェイル推定を行い、フェイル伝搬経路を推定し、このフェイル伝搬経路のフェイル伝搬元ノードと入力ポートとの対応に基づき、対応しないノードの情報を前記故障箇所推定情報として登録し、対応した入力ポートの情報を前記フェイル伝搬推定情報として登録するステップであることを特徴とする、請求項6記載の、論理回路の故障箇所推定プログラム。
- 前記出力ステップが、前記故障箇所推定情報をハードウェア記述言語の記述情報へ変換しリスト出力するステップであることを特徴とする、請求項5,6または7記載の、論理回路の故障箇所推定プログラム。
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