JP3862832B2 - Work reversing machine and polishing device - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はワーク反転機に関し、特にドライとウエットの2種類のワークの反転に同時に使用できるワーク反転機及び該ワーク反転機を用いたポリッシング装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】
半導体ウエハの製造工程においては半導体ウエハ表面を鏡面化するポリッシング装置が使用されている。
【0003】
図10は本願出願人によって示される一般的なポリッシング装置の内部構造を示す概略平面図である。同図に示すようにポリッシング装置はポリッシング部130と洗浄部150とから構成されている。
【0004】
ポリッシング部130はターンテーブル133の両側にトップリング135を取り付けたトップリングユニット137と、ドレッシングツール139を取り付けたドレッシングユニット141とを設置し、さらにワーク受渡装置143を設置して構成されている。
【0005】
洗浄部150は、中央に矢印Z方向に移動可能な2台の搬送ロボット151,153を設置し、その一方側に1次・2次洗浄機155,157とスピン乾燥機(又は洗浄機能付きスピン乾燥機)159を並列に設置し、他方側にウエット用のワーク反転機161と、ドライ用のワーク反転機163を並列に設置して構成されている。
【0006】
ここで図11は洗浄部150の内部を詳細に示す要部斜視図である。同図に示すように、ウエット用のワーク反転機161の周囲は液体飛散防止用の防水カバー171で覆われている。
【0007】
また搬送ロボット151,153はいずれもその上面に2組ずつのアーム機構154を取り付けて構成されている。各アーム機構154の先端にはそれぞれ半導体ウエハを保持するハンド255,256,257,258が取り付けられている。なおハンド255,256と、ハンド257,258はそれぞれ上下に重なるように配置されている。
【0008】
また3つのハンド255,256,258はいずれもその表面に半導体ウエハを載置して保持するタイプのハンドであり、もう1つのハンド257はその表面に半導体ウエハを真空吸着して保持する真空吸着機構付きのハンドである。
【0009】
ここでこのポリッシング装置全体の動作を図10,図11を用いて説明すると、研磨前の半導体ウエハを収納したカセット165が図示する位置にセットされると、搬送ロボット153のハンド257が該カセット165から半導体ウエハを1枚ずつ取り出してワーク反転機163に受け渡して反転する。さらに該半導体ウエハはワーク反転機163から搬送ロボット151のハンド255に受け渡されてポリッシング部130のワーク受渡装置143(図10参照)に搬送される。
【0010】
ワーク受渡装置143上の半導体ウエハは、矢印Pで示すように回動するトップリングユニット137のトップリング135下面に保持されてターンテーブル133上に移動され、回転する研磨面134上で研磨される。このとき研磨面134上には図示しない供給管から砥液が供給され、半導体ウエハは砥液の介在下で研磨面134との相対運動により研磨される。尚、研磨面134としては、ターンテーブル上に研磨パッドが貼着されている。
【0011】
研磨後の半導体ウエハは再びワーク受渡装置143に戻され、搬送ロボット151のハンド256(図11参照)によってワーク反転機161に受け渡されてリンス液でリンスされながら反転された後、ハンド256によって1次洗浄機155に移送されて洗浄され、さらにハンド256によって2次洗浄機157に移送されて洗浄され、ハンド258によってスピン乾燥機159に移送されスピン乾燥された後、ハンド257によって元のカセット165に戻される。上記ワーク反転機161でリンスするのは、研磨液などが付着した半導体ウエハが乾燥しないようにするためである。
【0012】
なお図10に示すドレッシングユニット141は適宜矢印Rで示すようにターンテーブル133上に移動し、回転するドレッシングツール139を回転する研磨面134に押し付け、研磨面134の再生(目立て)を行なう。
【0013】
ところで上記ポリッシング装置においてワーク反転機161,163を2台設置しているのは、ウエット用のワーク反転機161では前記真空吸着機構付きのハンド257が使用できないからである。以下具体的に説明する。
【0014】
即ち、上記ポリッシング装置のように半導体ウエハをリンスしながら反転させるウエット用のワーク反転機161には、リンス用の水が周囲に飛散しないようにその周囲を防水カバー171(図11参照)で覆っている。
【0015】
ここで図12はこの種の従来の防水カバー171を示す概略側断面図である。
同図に示すように防水カバー171はワーク反転機161全体を覆うように形成され、その前面にウエット用のハンド256を挿入する開口175を設け、且つ該開口175の内側に該開口175を開閉するように上下に移動するシャッター177を取り付けて構成されている。
【0016】
そしてシャッター177を開放した状態で開口175からハンド256を挿入してワーク反転機161に渡した後、ハンド256を引き出してシャッター177を閉じ、この状態でリンス液でリンスしてその乾燥を防止しながら半導体ウエハを反転し、次にリンスを中断してシャッター177を開けてハンド256で半導体ウエハを取り出す。
【0017】
ここでもし、前記真空吸着機構付きのハンド257がカセット165から取り出したドライ状態の半導体ウエハをウエット用のワーク反転機161に受け渡してこれを反転させることができれば、前記ドライ用のワーク反転機163は不要となって好適である。
【0018】
しかしながらもし真空吸着機構付きのハンド257をワーク反転機161の防水カバー171内に挿入して半導体ウエハを受け渡すと、リンス時に防水カバー171内にまき散らされた液体の内、防水カバー171の上面や開口175の上辺に付着していた液体が水滴となって落下し、これがハンド257の表面に付着して真空吸着用孔から真空ライン内に液体が吸い込まれ、真空吸着機構の故障を招いてしまう。
【0019】
従って真空吸着機構付きのハンド257を使用する場合には、リンス機能を持たないドライ用のワーク反転機163が別途必要になってしまうのである。なおカセット165からの半導体ウエハの取り出しや収納は、その構造上、真空吸着機構付きのハンド257を用いなければ行なえない。
【0020】
本発明は上述の点に鑑みてなされたものでありその目的は、たとえ防水カバー付きのワーク反転機に真空吸着機構付きのハンドを挿入してもハンド上に液体が付着せず、これによってドライとウエットの両者のハンドに兼用できるワーク反転機及びポリッシング装置を提供することにある。
【0021】
【課題を解決するための手段】
上記問題点を解決するため本発明は、ワークを保持する構造のロボットのハンドとの間でワークの受渡しを行なうと共に受け取った前記ワークを反転するワーク反転機構を有するワーク反転機において、前記ワーク反転機構の周囲を液体飛散防止用の防水カバーで囲い、且つ該防水カバーには、該防水カバー内に前記ハンドを挿入した際の、前記ハンドの少なくとも前記ワークに覆われていない部分の真上の領域を開放する上部開放機構を設け、該防水カバー内面に付着した水滴が前記ロボットのハンド上に落下しないように構成した。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
〔第一実施形態〕
図1は本発明の第一実施形態にかかるドライ/ウエット兼用ワーク反転機10を示す図であり、同図(a)は正面図、同図(b)は同図(a)のA−A断面図である。
【0023】
同図に示すようにこのドライ/ウエット兼用ワーク反転機10は、半導体ウエハを把持するとともに把持した半導体ウエハを反転するワーク反転機構11の周囲を液体飛散防止用の防水カバー21で覆って構成されている。
【0024】
そして本実施形態の場合、防水カバー21の上面から前面にわたる部分にこれを開放する開口23を設け、且つ該開口23の部分に該開口23を塞ぐ略半円筒状のスクリーン25を取り付けている。なおこの開口23とスクリーン25によって上部開放機構が構成されている。
【0025】
そしてこのスクリーン25はその一端側面から回転軸27を突出し、該回転軸27に回転駆動機構(開閉手段)29を取り付けている。該回転駆動機構29は、前記スクリーン25を図1(b)に示す位置から左下方向(矢印B方向)に回動するように構成されている。
【0026】
この防水カバー21の内部には、ワーク反転機構11が把持した半導体ウエハにリンス液を供給するリンス液供給手段132が設けられている。
【0027】
本実施形態では、リンス液供給手段132はワーク反転機構11の上方と下方にそれぞれ1つずつ備えられている。この2つのリンス液供給手段132により、反転される半導体ウエハの両面にリンス液が供給され、半導体ウエハ表面に付着した砥液を洗い流すと共に、半導体ウエハと砥液の乾燥を防止し、砥液が乾燥固化して半導体ウエハ表面へ固着するのを防止する。
【0028】
また、図示はしないが、防水カバー21で囲まれた空間の内部雰囲気を下方へ排気するための排気ダクトが、ドライ/ウエット兼用ワーク反転機10の下部に設けられている。反転機内部の空気を排気ダクトによって下方へ吸引することにより、半導体ウエハへリンス水をリンスすることによって発生したミストが、反転機10の外部へ飛散するのを防ぐ。
【0029】
このドライ/ウエット兼用ワーク反転機10は、ドライ用とウエット用のワーク反転機を1台で処理できるものであり、従って図10に示すポリッシング装置で言えば、2台のワーク反転機161,163を本実施形態のもの一台に置き換えることのできるものである。従って図10に示すポリッシング装置に図1に示すドライ/ウエット兼用ワーク反転機10を設置したものとして、以下このドライ/ウエット兼用ワーク反転機10の動作を説明する。
【0030】
即ちポリッシング部130で研磨終了した後の半導体ウエハを、ウエット用のハンド256(図11参照)によって上記ドライ/ウエット兼用ワーク反転機10内に収納し、ハンド256を引き出してからスクリーン25を閉じ、この状態で半導体ウエハを反転しながらリンスを行なうとする。このとき防水カバー21の内面全体にはリンス液が飛び散って付着し水滴となっている。
【0031】
次に前記回転駆動機構29を駆動してスクリーン25を下方向(矢印B方向)に回動すると、図2に示すようにスクリーン25はワーク反転機構11の下側に移動して開口23が開放し、この開口23から図11に示すウエット用のハンド256を挿入して半導体ウエハを取り出す。
【0032】
次に研磨前の半導体ウエハをカセット165から取り出して保持しているドライ用のハンド257を、このドライ/ウエット兼用ワーク反転機10の開口23内に挿入し、該半導体ウエハをワーク反転機構11に把持させる。
【0033】
このとき開口23はスクリーン25が下方向に回動することで、その上部は何ものもない開放状態となっているので、前記リンス時に防水カバー21やスクリーン25の内面に付着して水滴となったリンス液が、ハンド257の上に落ちてくることはない。従って該ハンド257に設けた真空吸着機構が破壊される恐れはない。
【0034】
なおドライ用のハンド257は図3に示すように、その上面の真空吸着孔260により半導体ウエハ100を吸着保持した状態で防水カバー21内に挿入されるので、半導体ウエハ100の上面に落下する液体はハンド257にはかからない。従ってその分開口23の大きさを小さくしても良い。
【0035】
ここで図6は防水カバー21に対するハンド257の位置を比較して示す図である。
【0036】
即ち図6(a)に示すように、ハンド257の防水カバー21への挿入位置を、真空吸着孔260を含むハンド257全体が開口23内に位置するように構成すれば、該ハンド257の上に半導体ウエハ100があるなしにかかわらず、ハンド257上にリンス液が落下せず、最も安全である。しかしながらこのように構成すると、防水カバー21内へ半導体ウエハ100を深く挿入することはできない。
【0037】
そこで図6(b)に示すように、スクリーン25が開口23を塞いだ際に、該スクリーン25の上端辺が開口23から防水カバー21内に侵入して該防水カバー21と重なるオーバーラップ部Pを設け、且つスクリーン25が回転移動して開放された開口23にハンド257を挿入する際は、該オーバーラップ部Pの真下の位置までハンド257の先端、すなわち真空吸着孔260が到達するように構成しても良い。
【0038】
オーバーラップ部Pの防水カバー21側の部分は、リンス時にスクリーン25に覆われているので、スクリーン25が開放されたときに濡れていない。従ってハンド257が侵入しても該防水カバー21の部分Pからは液体が落下しない。従ってハンド257の上に半導体ウエハ100があるなしにかかわらず、ハンド257上には液体が落下せず、この場合も安全である。しかもその分防水カバー21内へ半導体ウエハ100を深く挿入でき、防水機構の小型化が図れる。
【0039】
なおオーバーラップ部Pの長さを長くすることによって、さらに半導体ウエハ100を防水カバー21内へ深く挿入できる。
【0040】
安全を考えれば上述のように構成するのが適当であるが、それほど安全を考慮する必要のない場合は、図6(c)に示すように、ハンド257の半導体ウエハ100が載っていない面のみが開口23内に位置するようにハンド257を挿入しても良い。
【0041】
ハンド257の上には半導体ウエハ100が載っているので、たとえ防水カバー21から液体が落下してきても該液体は半導体ウエハ100に付着し、ハンド257に付着せず、真空吸着孔260へも液体が浸入しない。
【0042】
つまり本発明は、防水カバー21内に挿入されるハンド257の上面全体の真上全ての範囲を開放する必要はなく、少なくともハンド257の半導体ウエハ100が載っていない面が防水カバー21内で移動する範囲の真上を開放する様にすれば良い。さらに好ましくは挿入したハンド257の先端、すなわち真空吸着孔260がスクリーン25と防水カバー21のオーバーラップ部Pの真下の位置にくるように構成すれば良い。
【0043】
ところで上記実施形態では、スクリーン25が開口23を開放するとき、図1(b)の矢印B方向に移動するようにしているが、図13(a)に示すように、スクリーン25は矢印B方向と逆方向、即ち矢印D方向に移動することで開口23を開放するようにしても良い。
【0044】
この場合、図13(a)に示すようにスクリーン25が開口23を塞いだ際に、該スクリーン25の上端辺が防水カバー21と重なってオーバーラップ部Pが形成されるようにし、オーバーラップ部Pの防水カバー21側の部分が濡れないようにするのが望ましい。
【0045】
そしてスクリーン25を矢印D方向に移動して行き、図13(b)に示すように該スクリーン25が防水カバー21のオーバーラップ部Pと重ならない位置(又はそれ以上移動した位置)まで移動することで開口23を開放すれば、オーバーラップ部Pの防水カバー21側の部分は濡れておらず、且つ内面が濡れているスクリーン25が該オーバーラップ部Pの真下に位置しないので、前述した図6(b)の効果、即ち防水カバー21内のオーバーラップ部Pの真下の位置までハンド257の先端、すなわち真空吸着孔260を挿入でき、その分半導体ウエハ100を深く挿入でき、防水機構の小型化が図れるという効果が生じる。
【0046】
〔第二実施形態〕
図4は本発明の第二実施形態を示す図であり、同図(a)は正面図、同図(b)は同図(a)のC−C断面図である。同図に示すようにこのドライ/ウエット兼用ワーク反転機10−2はワーク反転機構11−2の周囲を液体飛散防止用の防水カバー21−2で覆っている。
【0047】
そして本実施形態にかかる防水カバー21−2は、縦方向に長尺な円筒状部材からなり、その上端は開放されて上部開口40となり、またその正面には防水カバー21−2の上辺aから前面の部分にかけて切欠きからなるハンド挿入部41を設けて構成されている。
【0048】
またハンド挿入部41の下方には、上下方向(矢印V方向)にスライドすることで前記ハンド挿入部41を開閉する遮蔽部材43が設置されている。
【0049】
この防水カバー21−2の内部には、ワーク反転機構11−2が把持した半導体ウエハにリンス液を供給するリンス液供給手段132−2がワーク反転機構11−2の上方と下方に各1つずつ設けられている。
【0050】
このドライ/ウエット兼用ワーク反転機10−2の場合、例えばポリッシング部30で研磨終了した後の半導体ウエハを、ウエット用のハンド256(図11参照)によってドライ/ウエット兼用ワーク反転機10−2内に収納してハンド256を引き出してから遮蔽部材43を上昇してハンド挿入部41を閉じ、この状態で半導体ウエハを反転しながらリンスを行なうとする。
【0051】
このとき防水カバー21−2の内面全体にはリンス液が飛び散って周囲に付着する。この実施形態の場合、防水カバー21−2の上面は上部開口40となっているが、該上部開口40の位置は防水カバー21−2を縦方向に長尺に構成しているのでワーク反転機構11−2の位置よりもかなり上方に位置し、このため前記飛び散ったリンス液がこの上部開口40までは届かず、外部に飛散する恐れはない。
【0052】
次に遮蔽部材43を下降してハンド挿入部41を開き、このハンド挿入部41からハンド256を挿入して半導体ウエハを取り出す。
【0053】
一方研磨前の半導体ウエハを図11に示すカセット165から取り出して保持しているドライ用のハンド257を、前記ハンド挿入部41から挿入し、該半導体ウエハをワーク反転機構11−2に把持させる。
【0054】
このとき上部は上部開口40となっており、しかもハンド挿入部41は切欠きなので、その上部は何ものもない開放状態となっている。従って、前記リンス時に防水カバー21−2や遮蔽部材43の内面に付着して水滴となったリンス液が、ハンド257の上に落ちてくることはない。
【0055】
なおこの実施形態においても、ハンド257の上面全体の真上全ての範囲を開放する上部開口40を設ける必要はなく、少なくともハンド257の半導体ウエハ100が載っていない面が防水カバー21−2内で移動する範囲の真上を開放する開口であれば良い。
【0056】
また上記第二実施形態では遮蔽部材43を平板状に形成したが、該遮蔽部材43の形状は種々の変形が可能であり、例えばワーク反転機構11−2を囲むように筒形状に形成しても良い。即ちこの場合はワーク反転機構11−2を筒状の遮蔽部材43と筒状の防水カバー21−2で2重に囲むことになる。
【0057】
〔第三実施形態〕
図5は本発明の第三実施形態を示す図であり、同図(a)は正面図、同図(b)は概略側断面図である。このドライ/ウエット兼用ワーク反転機10−3はワーク反転機構11−3の周囲を液体飛散防止用の防水カバー21−3で覆っている。
【0058】
そしてこの防水カバー21−3は、その中央において縦割りに2分割された左右の防水カバー21−3a,21−3bによって構成されるとともに、左右の防水カバー21−3a,21−3bはその下端中央の回転軸51を中心にして左右に開くように構成されている。
【0059】
つまり左右の防水カバー21−3a,21−3bが一点鎖線で示すように開くことによってハンドが挿入される部分の真上の空間を開放するように構成されている。なおこの左右の防水カバー21−3a,21−3bによって上部開放機構が構成されている。
【0060】
この防水カバー21−3の内部にはリンス液供給手段132−3がワーク反転機構11−3の上方と下方に各1つずつ設けられている。
【0061】
この実施形態の場合も、ドライ用のハンド257を挿入する際に、その上部は何ものもない開放状態となっている。従ってリンス時に防水カバー21−3の内面に付着して水滴となったリンス液が、ハンド257の上に落ちてくることはなく、ウエット用のハンドと共用できる。
【0062】
なお図5に示す実施形態の場合、左右の防水カバー21−3a,21−3bを回転軸51を中心に開くように構成したが、両防水カバー21−3a,21−3bを例えば水平に左右に移動したり、別の回転軸を中心に開くように構成したりするなど、種々の変形が可能である。
【0063】
なおこの実施形態においても、ハンド257の上面全体の真上全ての範囲を開放するように左右の防水カバー21−3a,21−3bを開く必要はなく、少なくともハンド257の半導体ウエハ100が載っていない面が防水カバー21−3a,21−3b内で移動する範囲の真上を開放する分だけ開けば良い。
【0064】
〔第四実施形態〕
図7は本発明の第四実施形態を示す図であり、同図(a)は概略側断面図、同図(b)は概略正断面図である。このドライ/ウエット兼用ワーク反転機10−4はワーク反転機構11−4の周囲を液体飛散防止用の防水カバー21−4で囲っている。
【0065】
この防水カバー21−4は、前記図4に示す防水カバー21−2と同様に、その上端が上部開口40−4となっており、またその正面には孔からなるハンド挿入部41−4が設けられている。
【0066】
そしてこの実施形態の場合、防水カバー21−4の内側に上下動自在であって上昇した位置においてワーク反転機構11−4を囲むように設置される筒形状の遮蔽部材45を具備している。なお、リンス液供給手段132−4はこの遮蔽手段45の内部にワーク反転機構11−4の上方と下方に各1つずつ設置されている。
【0067】
このドライ/ウエット兼用ワーク反転機10−4の場合、図8に示すように遮蔽部材45を図示しない駆動手段によって下降した状態で、研磨液などが付着した半導体ウエハをウエット用のハンド256(図11参照)によってハンド挿入部41−4から挿入してワーク反転機構11−4に渡し、ハンド256を引き出した後に遮蔽部材45を上昇させて図7に示す状態とした後に半導体ウエハを反転しながらリンスする。
【0068】
このとき飛び散るリンス液は、遮蔽部材45によって遮蔽され、その外側には飛び散らない。
【0069】
次に遮蔽部材45を下降して図8に示す状態とし、ハンド挿入部41−4からハンド256を挿入して半導体ウエハを取り出す。
【0070】
次にドライ状態の半導体ウエハを保持しているハンド257を、ハンド挿入部41−4から挿入し、該半導体ウエハをワーク反転機構11−4に把持させる。
【0071】
このときハンド257の上部には何ものもない開放状態なので、リンス液がハンド257上に落ちてくることはない。
【0072】
この実施形態の場合、遮蔽部材45の構造上、少なくとも防水カバー21−4のハンド挿入部41−4及びその近傍にリンス液は飛び散らないので、ハンド挿入部41−4には図4に示す遮蔽部材43を設置する必要はない。もちろん設置しても良い。
【0073】
本発明は上記各実施形態に限定されず、例えば以下のような種々の変形が可能である。
▲1▼図9(a)に示すように防水カバー21−5の上側の部分を、円弧状のスクリーン25−5の形状に合わせて円弧状に形成しても良い。このように構成すれば、該防水カバー21−5に付着したリンス液が防水カバー21−5を伝って落下し易くなる。
【0074】
▲2▼図9(b)に示すように防水カバー21−6のハンド挿入部41−6を切欠き(図4の41参照)でなく、孔としても良い。この場合、遮蔽部材43−6は該ハンド挿入部41−6及びハンド挿入部41−6の周囲の防水カバー21−6内面、特にハンド挿入部41−6の上部の部分にリンス液が飛散しないように作用し、これによってハンドにリンス液が垂れなくなる。
【0075】
▲3▼また上記各実施形態は本発明をポリッシング装置に利用した場合を説明したが、本発明はポリッシング装置以外の各種装置に取り付けたワーク反転機にも利用できる。
【0076】
▲4▼ワーク反転機が反転するワークは、半導体ウエハに限られず、LCD,コンパクトディスク等、他のワークでも良い。
【0077】
▲5▼リンス液供給手段は、上記各実施形態ではワーク反転機構の上方と下方に各1つずつ備えた例を示したが、個数や位置はこれに限定されず、反転される半導体ウエハの表裏面にリンス液が供給できれば良い。
【0078】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように本発明によれば、防水カバー内でリンス液などの液体を使用した後にドライ用のハンドを挿入しても、該ハンド上に液体が垂れてくることはなく、従ってドライとウエットの両者のハンドに兼用できるワーク反転機及び該ワーク反転機を用いたポリッシング装置が提供できるという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施形態にかかるドライ/ウエット兼用ワーク反転機を示す図であり、同図(a)は正面図、同図(b)は同図(a)のA−A断面図である。
【図2】ドライ/ウエット兼用ワーク反転機10の動作説明図である。
【図3】ドライ用のハンド257の上に半導体ウエハ100を吸着保持した状態を示す図である。
【図4】本発明の第二実施形態を示す図であり、同図(a)は正面図、同図(b)は同図(a)のC−C断面図である。
【図5】本発明の第三実施形態を示す図であり、同図(a)は正面図、同図(b)は概略側断面図である。
【図6】防水カバー21へのハンド257の挿入位置を比較して示す図である。
【図7】本発明の第四実施形態を示す図であり、同図(a)は概略側断面図、同図(b)は概略正断面図である。
【図8】ドライ/ウエット兼用ワーク反転機10−4の動作説明図である。
【図9】図9(a),(b)はそれぞれ他の実施形態を示す図である。
【図10】本願出願人が発明したポリッシング装置の内部構造を示す概略平面図である。
【図11】洗浄部150の内部を詳細に示す要部斜視図である。
【図12】従来の防水カバー171を示す概略側断面図である。
【図13】図13(a),(b)は第一実施形態にかかるスクリーン25の他の移動方法を示す図である。
【符号の説明】
10 ドライ/ウエット兼用ワーク反転機
11 ワーク反転機構
21 防水カバー
23 開口
25 スクリーン
29 回転駆動機構(開閉駆動手段)
10−2 ドライ/ウエット兼用ワーク反転機
11−2 ワーク反転機構
21−2 防水カバー
40 上部開口
41 ハンド挿入部
10−3 ドライ/ウエット兼用ワーク反転機
11−3 ワーク反転機構
21−3 防水カバー
21−3a 左防水カバー
21−3b 右防水カバー
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a work reversing machine, and more particularly to a work reversing machine that can be used simultaneously for reversing two types of work, dry and wet, and a polishing apparatus using the work reversing machine.
[0002]
[Prior art and problems to be solved by the invention]
In the manufacturing process of a semiconductor wafer, a polishing apparatus that mirrors the surface of the semiconductor wafer is used.
[0003]
FIG. 10 is a schematic plan view showing the internal structure of a general polishing apparatus shown by the applicant of the present application. As shown in the figure, the polishing apparatus includes a polishing unit 130 and a cleaning unit 150.
[0004]
The polishing unit 130 includes a top ring unit 137 having a top ring 135 attached to both sides of a turntable 133, a dressing unit 141 having a dressing tool 139 attached thereto, and a work delivery device 143.
[0005]
The cleaning unit 150 has two transfer robots 151 and 153 movable in the direction of arrow Z in the center, and primary and secondary cleaning machines 155 and 157 and a spin dryer (or a spin with a cleaning function) on one side thereof. (Dryer) 159 is installed in parallel, and a wet work reversing machine 161 and a dry work reversing machine 163 are installed in parallel on the other side.
[0006]
Here, FIG. 11 is a perspective view of a main part showing the inside of the cleaning unit 150 in detail. As shown in the drawing, the periphery of the wet work reversing machine 161 is covered with a waterproof cover 171 for preventing liquid scattering.
[0007]
Each of the transfer robots 151 and 153 is configured by attaching two sets of arm mechanisms 154 to the upper surface thereof. Hands 255, 256, 257, and 258 for holding semiconductor wafers are attached to the tips of the arm mechanisms 154, respectively. The hands 255 and 256 and the hands 257 and 258 are arranged so as to overlap each other.
[0008]
The three hands 255, 256, and 258 are all of the type that holds and holds a semiconductor wafer on the surface thereof, and the other hand 257 is a vacuum suction that holds and holds the semiconductor wafer on the surface thereof. It is a hand with a mechanism.
[0009]
Here, the operation of the entire polishing apparatus will be described with reference to FIGS. 10 and 11. When the cassette 165 containing the semiconductor wafer before polishing is set at the position shown in the figure, the hand 257 of the transfer robot 153 is moved to the cassette 165. The semiconductor wafers are taken out one by one and transferred to the work reversing machine 163 and reversed. Further, the semiconductor wafer is transferred from the work reversing machine 163 to the hand 255 of the transfer robot 151 and transferred to the work transfer device 143 (see FIG. 10) of the polishing unit 130.
[0010]
The semiconductor wafer on the workpiece delivery device 143 is held on the lower surface of the top ring 135 of the top ring unit 137 that rotates as indicated by the arrow P, is moved onto the turntable 133, and is polished on the rotating polishing surface 134. . At this time, the polishing liquid is supplied onto the polishing surface 134 from a supply pipe (not shown), and the semiconductor wafer is polished by relative movement with the polishing surface 134 under the presence of the polishing liquid. As the polishing surface 134, a polishing pad is stuck on a turntable.
[0011]
The polished semiconductor wafer is returned to the workpiece delivery device 143 again, delivered to the workpiece reversing machine 161 by the hand 256 (see FIG. 11) of the transfer robot 151, and inverted while being rinsed with the rinsing liquid. After being transferred to the primary cleaner 155 for cleaning, further transferred to the secondary cleaner 157 by the hand 256 for cleaning, transferred to the spin dryer 159 by the hand 258 and spin dried, the original cassette is then transferred by the hand 257. Return to 165. The reason for rinsing with the work reversing machine 161 is to prevent the semiconductor wafer to which the polishing liquid or the like has adhered from drying.
[0012]
The dressing unit 141 shown in FIG. 10 is appropriately moved on the turntable 133 as indicated by an arrow R, and the rotating dressing tool 139 is pressed against the rotating polishing surface 134 to regenerate (sharp) the polishing surface 134.
[0013]
Incidentally, the two work reversing machines 161 and 163 are installed in the polishing apparatus because the wet work reversing machine 161 cannot use the hand 257 with the vacuum suction mechanism. This will be specifically described below.
[0014]
That is, the wet work reversing machine 161 for reversing the semiconductor wafer while rinsing the semiconductor wafer as in the above polishing apparatus is covered with a waterproof cover 171 (see FIG. 11) so that the water for rinsing is not scattered around. ing.
[0015]
Here, FIG. 12 is a schematic sectional side view showing a conventional waterproof cover 171 of this type.
As shown in the figure, the waterproof cover 171 is formed so as to cover the entire work reversing machine 161, provided with an opening 175 for inserting a wet hand 256 on the front surface, and opening / closing the opening 175 inside the opening 175. Thus, a shutter 177 that moves up and down is attached.
[0016]
Then, with the shutter 177 open, the hand 256 is inserted from the opening 175 and delivered to the work reversing machine 161. Then, the hand 256 is pulled out and the shutter 177 is closed. In this state, rinsing is performed to prevent drying. Then, the semiconductor wafer is reversed, and then the rinsing is interrupted, the shutter 177 is opened, and the semiconductor wafer is taken out by the hand 256.
[0017]
Here, if the dry semiconductor wafer taken out from the cassette 165 by the hand 257 with the vacuum suction mechanism can be transferred to the wet work reversing machine 161 and reversed, the dry work reversing machine 163 can be used. Is unnecessary and suitable.
[0018]
However, if the hand 257 with a vacuum suction mechanism is inserted into the waterproof cover 171 of the work reversing machine 161 and the semiconductor wafer is delivered, the upper surface of the waterproof cover 171 among the liquid scattered in the waterproof cover 171 during rinsing. Or the liquid adhering to the upper side of the opening 175 falls as water droplets, which adheres to the surface of the hand 257 and is sucked into the vacuum line from the vacuum suction hole, resulting in failure of the vacuum suction mechanism. End up.
[0019]
Therefore, when using the hand 257 with a vacuum suction mechanism, a dry work reversing machine 163 having no rinsing function is required separately. The semiconductor wafer can be taken out and stored from the cassette 165 only by using a hand 257 with a vacuum suction mechanism because of its structure.
[0020]
The present invention has been made in view of the above points, and its purpose is to prevent liquid from adhering to the hand even if a hand with a vacuum suction mechanism is inserted into a work reversing machine with a waterproof cover. An object of the present invention is to provide a work reversing machine and a polishing apparatus that can be used for both hands.
[0021]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, the present invention provides a work reversing machine having a work reversing mechanism for delivering a work to a robot hand having a structure for holding a work and reversing the received work. The mechanism is surrounded by a waterproof cover for preventing liquid splashing, and the waterproof cover is directly above the portion of the hand that is not covered with the work when the hand is inserted into the waterproof cover. An upper opening mechanism that opens the area is provided so that water droplets attached to the inner surface of the waterproof cover do not fall on the hand of the robot.
[0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[First embodiment]
FIG. 1 is a view showing a dry / wet combined work reversing machine 10 according to a first embodiment of the present invention, in which FIG. 1 (a) is a front view and FIG. 1 (b) is an AA view of FIG. It is sectional drawing.
[0023]
As shown in the figure, this dry / wet combination work reversing machine 10 is configured to hold a semiconductor wafer and cover the periphery of a work reversing mechanism 11 for reversing the held semiconductor wafer with a waterproof cover 21 for preventing liquid scattering. ing.
[0024]
In the case of this embodiment, an opening 23 is provided in a portion extending from the upper surface to the front surface of the waterproof cover 21, and a substantially semi-cylindrical screen 25 that closes the opening 23 is attached to the opening 23. The opening 23 and the screen 25 constitute an upper opening mechanism.
[0025]
The screen 25 protrudes from the side surface of one end of the rotary shaft 27, and a rotary drive mechanism (opening / closing means) 29 is attached to the rotary shaft 27. The rotation drive mechanism 29 is configured to rotate the screen 25 in the lower left direction (arrow B direction) from the position shown in FIG.
[0026]
Inside the waterproof cover 21 is provided a rinsing liquid supply means 132 for supplying a rinsing liquid to the semiconductor wafer held by the work reversing mechanism 11.
[0027]
In the present embodiment, one rinse liquid supply means 132 is provided above and below the workpiece reversing mechanism 11. The two rinsing liquid supply means 132 supply the rinsing liquid to both sides of the semiconductor wafer to be inverted, washing away the abrasive liquid adhering to the surface of the semiconductor wafer, and preventing the semiconductor wafer and the abrasive liquid from drying. Prevents solidification by drying and solidification on the surface of the semiconductor wafer.
[0028]
Although not shown, an exhaust duct for exhausting the internal atmosphere of the space surrounded by the waterproof cover 21 downward is provided in the lower part of the dry / wet combined work reversing machine 10. By sucking the air inside the reversing machine downward by the exhaust duct, the mist generated by rinsing the rinsing water to the semiconductor wafer is prevented from scattering outside the reversing machine 10.
[0029]
The dry / wet combined work reversing machine 10 can process both the dry and wet work reversing machines. Therefore, in the polishing apparatus shown in FIG. 10, two work reversing machines 161 and 163 are used. Can be replaced with one in the present embodiment. Therefore, assuming that the polishing / reversing work reversing machine 10 shown in FIG. 1 is installed in the polishing apparatus shown in FIG.
[0030]
That is, the semiconductor wafer after polishing by the polishing unit 130 is stored in the dry / wet combined work reversing machine 10 by the wet hand 256 (see FIG. 11), the hand 256 is pulled out, and then the screen 25 is closed. Assume that rinsing is performed while inverting the semiconductor wafer in this state. At this time, the rinse liquid scatters and adheres to the entire inner surface of the waterproof cover 21 to form water droplets.
[0031]
Next, when the rotational drive mechanism 29 is driven to rotate the screen 25 downward (arrow B direction), the screen 25 moves to the lower side of the work reversing mechanism 11 as shown in FIG. Then, a wet hand 256 shown in FIG. 11 is inserted from the opening 23 to take out the semiconductor wafer.
[0032]
Next, a dry hand 257 holding and holding the semiconductor wafer before polishing from the cassette 165 is inserted into the opening 23 of the dry / wet work reversing machine 10, and the semiconductor wafer is inserted into the work reversing mechanism 11. Hold it.
[0033]
At this time, the opening 23 is opened in an open state because the screen 25 is rotated downward, so that it adheres to the waterproof cover 21 and the inner surface of the screen 25 during the rinsing to form water droplets. The rinse liquid does not fall on the hand 257. Therefore, there is no possibility that the vacuum suction mechanism provided in the hand 257 is destroyed.
[0034]
As shown in FIG. 3, the dry hand 257 is inserted into the waterproof cover 21 while the semiconductor wafer 100 is sucked and held by the vacuum suction hole 260 on the upper surface thereof, so that the liquid falling on the upper surface of the semiconductor wafer 100 can be obtained. Does not reach the hand 257. Therefore, the size of the opening 23 may be reduced accordingly.
[0035]
Here, FIG. 6 is a diagram comparing the position of the hand 257 with respect to the waterproof cover 21.
[0036]
That is, as shown in FIG. 6A, if the insertion position of the hand 257 into the waterproof cover 21 is configured so that the entire hand 257 including the vacuum suction hole 260 is positioned within the opening 23, Regardless of whether or not the semiconductor wafer 100 is present, the rinse liquid does not fall on the hand 257, which is the safest. However, with this configuration, the semiconductor wafer 100 cannot be inserted deeply into the waterproof cover 21.
[0037]
Therefore, as shown in FIG. 6B, when the screen 25 closes the opening 23, the upper end side of the screen 25 enters the waterproof cover 21 from the opening 23 and overlaps the waterproof cover 21. When the hand 257 is inserted into the opening 23 opened by the rotational movement of the screen 25, the tip of the hand 257, that is, the vacuum suction hole 260 reaches the position just below the overlap portion P. It may be configured.
[0038]
Since the portion of the overlap portion P on the waterproof cover 21 side is covered with the screen 25 during rinsing, it is not wet when the screen 25 is opened. Therefore, even if the hand 257 enters, the liquid does not fall from the portion P of the waterproof cover 21. Therefore, regardless of whether or not the semiconductor wafer 100 is on the hand 257, the liquid does not fall on the hand 257, which is also safe in this case. In addition, the semiconductor wafer 100 can be inserted deeply into the waterproof cover 21, and the waterproof mechanism can be downsized.
[0039]
The semiconductor wafer 100 can be further inserted deeply into the waterproof cover 21 by increasing the length of the overlap portion P.
[0040]
In view of safety, it is appropriate to configure as described above. However, when it is not necessary to consider safety so much, as shown in FIG. 6C, only the surface of the hand 257 on which the semiconductor wafer 100 is not mounted is provided. May be inserted so that is located in the opening 23.
[0041]
Since the semiconductor wafer 100 is placed on the hand 257, even if the liquid falls from the waterproof cover 21, the liquid adheres to the semiconductor wafer 100, does not adhere to the hand 257, and does not adhere to the vacuum suction hole 260. Does not penetrate.
[0042]
That is, according to the present invention, it is not necessary to open the entire range directly above the entire upper surface of the hand 257 inserted into the waterproof cover 21, and at least the surface of the hand 257 on which the semiconductor wafer 100 is not mounted moves within the waterproof cover 21. It is sufficient to open just above the range. More preferably, the distal end of the inserted hand 257, that is, the vacuum suction hole 260 may be configured to be positioned immediately below the overlap portion P of the screen 25 and the waterproof cover 21.
[0043]
By the way, in the said embodiment, when the screen 25 opens the opening 23, it is made to move to the arrow B direction of FIG.1 (b), but as shown to Fig.13 (a), the screen 25 is the arrow B direction. The opening 23 may be opened by moving in the opposite direction, that is, in the direction of the arrow D.
[0044]
In this case, as shown in FIG. 13A, when the screen 25 closes the opening 23, the upper end side of the screen 25 overlaps the waterproof cover 21 to form an overlap portion P, and the overlap portion It is desirable to prevent the portion of P on the waterproof cover 21 side from getting wet.
[0045]
Then, the screen 25 is moved in the direction of the arrow D and moved to a position where the screen 25 does not overlap with the overlap portion P of the waterproof cover 21 (or a position moved further) as shown in FIG. If the opening 23 is opened, the portion of the overlap portion P on the waterproof cover 21 side is not wet, and the screen 25 whose inner surface is wet is not located directly below the overlap portion P. The effect of (b), that is, the tip of the hand 257, that is, the vacuum suction hole 260, can be inserted to a position just below the overlap portion P in the waterproof cover 21, and the semiconductor wafer 100 can be inserted deeply, and the waterproof mechanism can be downsized The effect that can be achieved.
[0046]
[Second Embodiment]
4A and 4B are views showing a second embodiment of the present invention, in which FIG. 4A is a front view, and FIG. 4B is a cross-sectional view taken along the line CC in FIG. As shown in the figure, the dry / wet combined work reversing machine 10-2 covers the periphery of the work reversing mechanism 11-2 with a waterproof cover 21-2 for preventing liquid scattering.
[0047]
And the waterproof cover 21-2 concerning this embodiment consists of a cylindrical member long in the vertical direction, the upper end is open | released and becomes the upper opening 40, and the front side from the upper side a of the waterproof cover 21-2 A hand insertion portion 41 having a notch is provided over the front portion.
[0048]
A shielding member 43 that opens and closes the hand insertion portion 41 by sliding in the vertical direction (arrow V direction) is installed below the hand insertion portion 41.
[0049]
Inside the waterproof cover 21-2, there is one rinse liquid supply means 132-2 for supplying a rinse liquid to the semiconductor wafer held by the work reversing mechanism 11-2, one above and below the work reversing mechanism 11-2. It is provided one by one.
[0050]
In the case of this dry / wet combined work reversing machine 10-2, for example, the semiconductor wafer after the polishing by the polishing unit 30 is finished in the dry / wet combined work reversing machine 10-2 by a wet hand 256 (see FIG. 11). Then, the hand 256 is pulled out, the shielding member 43 is raised, the hand insertion portion 41 is closed, and rinsing is performed while inverting the semiconductor wafer in this state.
[0051]
At this time, the rinse liquid scatters and adheres to the entire inner surface of the waterproof cover 21-2. In the case of this embodiment, the upper surface of the waterproof cover 21-2 is the upper opening 40, and the position of the upper opening 40 is configured so that the waterproof cover 21-2 is elongated in the vertical direction. Therefore, the scattered rinse liquid does not reach the upper opening 40 and there is no possibility of scattering outside.
[0052]
Next, the shielding member 43 is lowered to open the hand insertion portion 41, and the hand 256 is inserted from the hand insertion portion 41 to take out the semiconductor wafer.
[0053]
On the other hand, a dry hand 257 that holds and holds the semiconductor wafer before polishing from the cassette 165 shown in FIG. 11 is inserted from the hand insertion portion 41, and the work reversing mechanism 11-2 grips the semiconductor wafer.
[0054]
At this time, the upper portion is the upper opening 40 and the hand insertion portion 41 is notched, so that the upper portion is in an open state with nothing. Accordingly, the rinsing liquid that adheres to the inner surfaces of the waterproof cover 21-2 and the shielding member 43 and becomes water droplets during the rinsing does not fall on the hand 257.
[0055]
Also in this embodiment, it is not necessary to provide the upper opening 40 that opens the entire range directly above the entire upper surface of the hand 257, and at least the surface of the hand 257 on which the semiconductor wafer 100 is not placed is within the waterproof cover 21-2. Any opening that opens right above the moving range may be used.
[0056]
In the second embodiment, the shielding member 43 is formed in a flat plate shape, but the shape of the shielding member 43 can be variously modified. For example, the shielding member 43 is formed in a cylindrical shape so as to surround the workpiece reversing mechanism 11-2. Also good. That is, in this case, the work reversing mechanism 11-2 is doubly surrounded by the cylindrical shielding member 43 and the cylindrical waterproof cover 21-2.
[0057]
[Third embodiment]
FIG. 5 is a view showing a third embodiment of the present invention, where FIG. 5 (a) is a front view and FIG. 5 (b) is a schematic side sectional view. The dry / wet combined work reversing machine 10-3 covers the periphery of the work reversing mechanism 11-3 with a waterproof cover 21-3 for preventing liquid scattering.
[0058]
The waterproof cover 21-3 includes left and right waterproof covers 21-3a and 21-3b that are divided into two at the center, and the left and right waterproof covers 21-3a and 21-3b have lower ends. It is configured to open to the left and right around the central rotation shaft 51.
[0059]
That is, the right and left waterproof covers 21-3a and 21-3b are configured to open as shown by the alternate long and short dash lines so as to open a space immediately above the portion into which the hand is inserted. The left and right waterproof covers 21-3a and 21-3b constitute an upper opening mechanism.
[0060]
Inside the waterproof cover 21-3, one rinse liquid supply means 132-3 is provided above and below the work reversing mechanism 11-3.
[0061]
Also in this embodiment, when the dry hand 257 is inserted, the upper portion is in an open state with nothing. Therefore, the rinsing liquid that has adhered to the inner surface of the waterproof cover 21-3 during the rinsing process and formed water droplets does not fall on the hand 257, and can be shared with the wet hand.
[0062]
In the case of the embodiment shown in FIG. 5, the left and right waterproof covers 21-3a and 21-3b are configured to open around the rotation shaft 51. However, both the waterproof covers 21-3a and 21-3b are, for example, horizontally left and right. It is possible to make various modifications such as moving to the center or opening about another rotation axis.
[0063]
Also in this embodiment, it is not necessary to open the left and right waterproof covers 21-3a and 21-3b so as to open the entire range directly above the upper surface of the hand 257, and at least the semiconductor wafer 100 of the hand 257 is mounted. What is necessary is just to open only the part which does not have a surface which opens in the waterproof covers 21-3a and 21-3b just above the range which moves.
[0064]
[Fourth embodiment]
FIGS. 7A and 7B are diagrams showing a fourth embodiment of the present invention, in which FIG. 7A is a schematic side sectional view, and FIG. 7B is a schematic front sectional view. The dry / wet combined work reversing machine 10-4 surrounds the work reversing mechanism 11-4 with a waterproof cover 21-4 for preventing liquid scattering.
[0065]
As with the waterproof cover 21-2 shown in FIG. 4, the waterproof cover 21-4 has an upper opening 40-4 at the upper end, and a hand insertion portion 41-4 made of a hole on the front. Is provided.
[0066]
In the case of this embodiment, a cylindrical shielding member 45 is provided inside the waterproof cover 21-4 so as to be movable up and down so as to surround the work reversing mechanism 11-4. The rinsing liquid supply means 132-4 is installed inside the shielding means 45 one above each below the work reversing mechanism 11-4.
[0067]
In the dry / wet combination work reversing machine 10-4, as shown in FIG. 8, a wet hand 256 (FIG. 11) is inserted from the hand insertion portion 41-4 and transferred to the workpiece reversing mechanism 11-4, and after the hand 256 is pulled out, the shielding member 45 is raised to the state shown in FIG. Rinse.
[0068]
The rinse liquid splashed at this time is shielded by the shielding member 45, and does not splash outside.
[0069]
Next, the shielding member 45 is lowered to the state shown in FIG. 8, and the hand 256 is inserted from the hand insertion portion 41-4 to take out the semiconductor wafer.
[0070]
Next, the hand 257 holding the semiconductor wafer in the dry state is inserted from the hand insertion portion 41-4, and the semiconductor reversing mechanism 11-4 grips the semiconductor wafer.
[0071]
At this time, since there is nothing in the upper portion of the hand 257, the rinse liquid does not fall on the hand 257.
[0072]
In the case of this embodiment, since the rinsing liquid does not scatter at least in the hand insertion portion 41-4 of the waterproof cover 21-4 and the vicinity thereof due to the structure of the shielding member 45, the shield shown in FIG. There is no need to install the member 43. Of course you may install.
[0073]
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications such as the following are possible.
(1) As shown in FIG. 9A, the upper portion of the waterproof cover 21-5 may be formed in an arc shape in accordance with the shape of the arc-shaped screen 25-5. If comprised in this way, the rinse liquid adhering to this waterproof cover 21-5 will fall easily along the waterproof cover 21-5.
[0074]
(2) As shown in FIG. 9B, the hand insertion portion 41-6 of the waterproof cover 21-6 may be a hole instead of a notch (see 41 in FIG. 4). In this case, the shielding member 43-6 does not scatter the rinsing liquid on the inner surface of the waterproof cover 21-6 around the hand insertion portion 41-6 and the hand insertion portion 41-6, particularly on the upper portion of the hand insertion portion 41-6. This prevents the rinse liquid from dripping onto the hand.
[0075]
{Circle around (3)} In the above embodiments, the case where the present invention is applied to a polishing apparatus has been described. However, the present invention can also be applied to a work reversing machine attached to various apparatuses other than the polishing apparatus.
[0076]
(4) The work to be reversed by the work reversing machine is not limited to a semiconductor wafer, but may be another work such as an LCD or a compact disk.
[0077]
(5) In each of the above embodiments, the rinsing liquid supply means is provided above and below the workpiece reversing mechanism. It is sufficient if a rinsing liquid can be supplied to the front and back surfaces.
[0078]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the present invention, even if a drying hand is inserted after using a liquid such as a rinsing liquid in the waterproof cover, the liquid does not drip on the hand. It has an excellent effect that a work reversing machine that can be used for both dry and wet hands and a polishing apparatus using the work reversing machine can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a view showing a dry / wet combined work reversing machine according to a first embodiment of the present invention, in which FIG. 1 (a) is a front view and FIG. 1 (b) is an AA view of FIG. It is sectional drawing.
FIG. 2 is an operation explanatory diagram of a dry / wet combined work reversing machine 10;
FIG. 3 is a view showing a state in which a semiconductor wafer 100 is sucked and held on a dry hand 257;
4A and 4B are diagrams showing a second embodiment of the present invention, in which FIG. 4A is a front view, and FIG. 4B is a cross-sectional view taken along the line CC in FIG.
5A and 5B are views showing a third embodiment of the present invention, in which FIG. 5A is a front view, and FIG. 5B is a schematic side sectional view.
6 is a diagram showing a comparison of the insertion position of the hand 257 into the waterproof cover 21. FIG.
7A and 7B are diagrams showing a fourth embodiment of the present invention, where FIG. 7A is a schematic side sectional view, and FIG. 7B is a schematic front sectional view.
FIG. 8 is an operation explanatory diagram of the dry / wet combined work reversing machine 10-4.
FIGS. 9A and 9B are diagrams showing other embodiments, respectively.
FIG. 10 is a schematic plan view showing the internal structure of a polishing apparatus invented by the present applicant.
FIG. 11 is a perspective view of a main part showing details of the inside of the cleaning unit 150;
12 is a schematic sectional side view showing a conventional waterproof cover 171. FIG.
FIGS. 13A and 13B are diagrams showing another moving method of the screen 25 according to the first embodiment.
[Explanation of symbols]
10 Dry / Wet Combined Work Reversing Machine
11 Work reversing mechanism
21 waterproof cover
23 Opening
25 screens
29 Rotation drive mechanism (open / close drive means)
10-2 Dry / Wet Combined Work Reversing Machine
11-2 Work reversing mechanism
21-2 Waterproof cover
40 Upper opening
41 Hand insertion part
10-3 Dry / Wet Combined Work Reversing Machine
11-3 Work reversing mechanism
21-3 Waterproof cover
21-3a Left waterproof cover
21-3b Right waterproof cover

Claims (7)

ワークを保持する構造のロボットのハンドとの間でワークの受渡しを行なうと共に受け取った前記ワークを反転するワーク反転機構を有するワーク反転機において、
前記ワーク反転機構の周囲を液体飛散防止用の防水カバーで囲い、且つ該防水カバーには、該防水カバー内に前記ハンドを挿入した際の、前記ハンドの少なくとも前記ワークに覆われていない部分の真上の領域を開放する上部開放機構を設け、該防水カバー内面に付着した水滴が前記ロボットのハンド上に落下しないようにしたことを特徴とするワーク反転機。
In a work reversing machine having a work reversing mechanism for delivering and reversing the received work with a robot hand having a structure for holding the work,
The work reversing mechanism is surrounded by a waterproof cover for preventing liquid scattering, and the waterproof cover has at least a portion of the hand that is not covered by the work when the hand is inserted into the waterproof cover. A work reversing machine characterized in that an upper opening mechanism that opens an area directly above is provided so that water droplets adhering to the inner surface of the waterproof cover do not fall on the hand of the robot.
前記上部開放機構は、防水カバーにその上面から前面にわたる部分を開放する開口を設け、且つ該開口に該開口を塞ぐスクリーンを取り付け、さらに該スクリーンを移動せしめることで防水カバーの前記領域を開放する開閉駆動手段を設けることで構成されていることを特徴とする請求項1記載のワーク反転機。The upper opening mechanism is provided with an opening for opening a portion extending from the upper surface to the front surface of the waterproof cover, and a screen for closing the opening is attached to the opening, and the area of the waterproof cover is opened by moving the screen. The work reversing machine according to claim 1, wherein the work reversing machine is configured by providing an opening / closing drive means. 前記スクリーンが前記開口を塞いだ際に該スクリーンの上端辺が該開口から防水カバー内に侵入して該防水カバーと重なるように構成し、且つ該スクリーンが移動して開放された前記開口から前記防水カバー内に挿入される前記ハンドの先端は、前記スクリーンと防水カバーの重なる部分の真下の位置まで到達するように構成されていることを特徴とする請求項2記載のワーク反転機。The screen is configured such that when the screen closes the opening, the upper end side of the screen enters the waterproof cover through the opening and overlaps the waterproof cover, and the screen is moved and opened from the opening. The work reversing machine according to claim 2, wherein the tip of the hand inserted into the waterproof cover is configured to reach a position directly below a portion where the screen and the waterproof cover overlap. 前記上部開放機構は、前記防水カバーを縦割りに2分割するとともに、分割された左右の防水カバーを左右に開くことで防水カバーの前記領域を開放するように構成したことを特徴とする請求項1記載のワーク反転機。The upper opening mechanism is configured to divide the waterproof cover into two vertically and to open the region of the waterproof cover by opening the divided left and right waterproof covers left and right. The work reversing machine according to 1. ロボットのハンドとの間でワークの受渡しを行なうと共に受け取った前記ワークを反転するワーク反転機構を有するワーク反転機において、
前記ワーク反転機構の周囲を液体飛散防止用の防水カバーで囲い、且つ該防水カバーの上面には上部開口を設け、該防水カバーには前記ハンドを挿入する孔又は切欠きからなるハンド挿入部を設け、さらに該防水カバーの内側には上下動自在であって上昇した位置においてハンド挿入部及びその近傍に水が飛散しないように形成された遮蔽部材を設けたことを特徴とするワーク反転機。
In a work reversing machine having a work reversing mechanism for delivering a work to and from a robot hand and reversing the received work,
The work reversing mechanism is surrounded by a waterproof cover for preventing splashing of liquid, and an upper opening is provided on the upper surface of the waterproof cover, and the waterproof cover has a hand insertion portion including a hole or a notch for inserting the hand. A work reversing machine provided with a shielding member formed on the inner side of the waterproof cover so as to be movable up and down so that water does not scatter in the vicinity of the hand insertion portion and the vicinity thereof.
ワークを反転するワーク反転機構と、
前記ワーク反転機構によって保持されたワークにリンス液を供給するためのリンス液供給手段と、
前記ワーク反転機構を囲うカバーと、
を備えるワーク反転機であって、
前記ワーク反転機は、
ワークを搬送するためのロボットのハンドが前記カバー内に入り込み、ワークが前記ワーク反転機構と前記ハンドとの間で受け渡しされる際に、ハンドの、少なくとも前記ワークによって覆われていない部分の上方の領域が開放されているように構成されていることを特徴とするワーク反転機。
A work reversing mechanism for reversing the work,
Rinsing liquid supply means for supplying a rinsing liquid to the work held by the work reversing mechanism;
A cover surrounding the workpiece reversing mechanism;
A work reversing machine comprising:
The work reversing machine is
When a robot hand for transporting a workpiece enters the cover and the workpiece is transferred between the workpiece reversing mechanism and the hand, at least above the portion of the hand not covered by the workpiece. A work reversing machine characterized in that the area is open.
少なくともワークを保持するトップリングと、該トップリングに保持したワークの表面を研磨する研磨面を有するターンテーブルと、前記ワークの受け渡しを行うハンドを有するロボットと、該ハンドとの間で前記ワークの受け渡しを行うと共に受け取ったワークを反転するワーク反転機とを具備し、
前記ワーク反転機として、請求項1乃至6の内の何れか1項記載のワーク反転機を用いたことを特徴とするポリッシング装置。
A top ring that holds at least the workpiece, a turntable having a polishing surface that polishes the surface of the workpiece held on the top ring, a robot having a hand that transfers the workpiece, and the workpiece between the hand A work reversing machine for delivering and reversing the received work,
A polishing apparatus using the work reversing machine according to claim 1 as the work reversing machine.
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