JP3850012B2 - Fine wire extensometer and fine wire elongation measuring device using the same - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、細線の引張試験に用いる細線伸び計及びこれを用いた細線伸び計測装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般の材料の応力とひずみとの関係及びヤング率の計測は、引張試験機などの材料試験機を用いて行われる。引張試験では、試験片の断面に引張力を均一に作用させることや、破断にいたるまでの変形を十分に生じさせることが必要であるため、例えば金属材料の引張試験に用いられる試験片は、JIS Z 2201により規定されている。いずれの試験片を用いるかは、各材料規格の規定による。
【0003】
そして引張試験機は、試験片の標点距離を定める取り付け部に直接取り付けられた伸び計により、試験片に生じた伸びを測定するのが一般的であった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、従来の伸び計を用いた技術を細線の伸び計測に応用すると種々の困難が生じる。
【0005】
図8は従来の接触式伸び計測装置の例であり、この伸び計測装置は取り付け部105,106が試験片である細線101の標点X,Yの位置に直接取り付けられる。細線101の両端部には細線端固定具107,108を固定し、これらの細線端固定具107,108を図示しない引張試験機で引張って細線101に張力を与えることにより、細線101の引張試験を行う。このとき、自在関節102は、標点距離(X−Y)が引張試験によって広がるのを妨げず、標点距離の変化は、例えば、電磁誘導による誘導電流の測定を利用した変位計測器103で行う。
【0006】
そして、細線101など、伸び測定対象の剛性が小さい場合には、伸び計測装置を吊りひも104などの吊り具で吊るすなどして伸び計測装置の自重が細線101に与える影響を除去する必要があるが、吊り具によって標点X,Yに力がかからないように伸び計測装置を取り付けることは困難である。
【0007】
更に、引張試験によって標点距離が広がると重心も変化するので、図9のように取り付け部105,106にはやがて不平衡な力F1 ,F2 が加わって細線101に曲げモーメントを発生し、このことによって、細線101に加わる張力が変化したり、場合によっては図10のように細線101の固定部位110(図9に示す取り付け部107等)付近に剪断力F3 が生じて断線する。そのため、小さな負荷を与える細線101の引張試験は困難であった。また細線101は、細線101についた曲がり癖など細線自身のもつ剛性により、伸び計の取り付け、芯出し、伸び計の標点距離の保持、引張試験機への取り付け、及び伸び計測等が困難であった。
【0008】
これらに対し、カメラにより試験片が伸びる様子を画像として取り込んで解析したり、レーザ光線の照射によって発生するスペクトルパターンを仮想的標点として追跡したりして、非接触で試験片の伸びを測定する方法があるが、極細の光ファイバーケーブルなどの細線は丸くて細いため、画像やスペクトルパターンを取りこむことが難しかった。
【0009】
従って、本発明は上記の問題点に鑑み、細線に曲げモーメントのような外力が加わって引張試験の張力にくるいが生じたり、細線が切れたりすることがなく、しかも、細線に曲がり癖がついていても伸び計への取り付けなどが容易であり、また、細線の伸びを既存の非接触式変位測定方法でも確実に測定することができる細線伸び計及びこれを用いた細線伸び計測装置を提供することを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する第1発明の細線伸び計は、試験片である細線を嵌め込むための第1の嵌め込み溝を軸方向の全長に渡って形成した第1のロッドと、この第1のロッドよりも太い筒状で且つ前記細線を嵌め込むための第2の嵌め込み溝を軸方向の全長に渡って形成した第2ロッドとを有し、前記第1のロッドの一部を前記第2のロッドに挿入して、ロッド全体を軸方向に伸縮自在とし、且つ、前記第1の嵌め込み溝の一部と前記第2の嵌め込み溝の一部とを重ね合わせて、これらの溝を一直線状にし、これらの溝の全長に渡って前記細線を嵌め込むように構成した細線取り付け具と、
前記細線を第1の標点位置において前記第1のロッドに固定する第1の細線固定手段と、
前記細線を第2の標点位置において前記第2のロッドに固定する第2の細線固定手段とを備えてなることを特徴とする。
【0011】
また、第2発明の細線伸び計は、第1発明の細線伸び計において、
前記第1及び第2の細線固定手段は、
前記第1のロッドに形成した第1の固定溝に嵌合する第1の爪を有し、この第1の爪によって前記細線を前記第1のロッドに押し付けるようにして固定する第1のクリップ治具と、
前記第2のロッドに形成した第2の固定溝に嵌合する第2の爪を有し、この第2の爪によって前記細線を前記第2のロッドに押し付けるようにして固定する第2のクリップ治具とであることを特徴とする。
【0012】
また、第3発明の細線伸び計は、第1又は第2発明の細線伸び計において、
前記第1のロッドと第2のロッドの何れか一方に回転止めピンを固定し、他方に回転止め台を固定して、前記回転止めピンを前記回転止め台の穴に軸方向に移動自在に挿入することにより、前記第1のロッドと前記第2のロッドとが軸回りに相対的に回転するのを防ぐように構成したことを特徴とする。
【0013】
また、第4発明の細線伸び計は、第1,第2又は第3発明の細線伸び計において、
前記第1のロッドと第2のロッドの伸縮を阻止する固定ねじを設けたことを特徴とする。
【0014】
また、第5発明の細線伸び計測装置は、第1,第2,第3又は第4発明の細線伸び計と、
前記細線を軸方向に引張ったとき、前記細線の伸びとともに軸方向に変位する前記細線伸び計の第1のロッドの変位量を、非接触で測定する第1の非接触式変位測定手段と、
前記細線を軸方向に引張ったとき、前記細線の伸びとともに軸方向に変位する前記細線伸び計の第2のロッドの変位量を、非接触で測定する第2の非接触式変位測定手段とを備えたことを特徴とする。
【0015】
また、第6発明の細線伸び計測装置は、第5発明の細線伸び計測装置において、前記第1及び第2の非接触式変位測定手段は、
前記第1のロッドの端部を間に挟んで第1のレーザ光源と第1のレーザ受光器とを対向配置して、前記第1のレーザ光源から前記第1のロッドの端部及びその近傍にレーザ光線を照射し、このレーザ光線を前記第1のレーザ受光器で受光してレーザ光線の幅を測定することより、前記第1のロッドの変位を測定する第1の非接触式変位測定装置と、
前記第2のロッドの端部を間に挟んで第2のレーザ光源と第2のレーザ受光器とを対向配置して、前記第2のレーザ光源から前記第2のロッドの端部及びその近傍にレーザ光線を照射し、このレーザ光線を前記第2のレーザ受光器で受光してレーザ光線の幅を測定することより、前記第2のロッドの変位を測定する第2の非接触式変位測定装置とであることを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。
【0017】
図1は本発明の実施の形態に係る細線伸び計の構成を示す断面図、図2(a)は図1のA−A線矢視断面、図2(b)は図2(a)から第1のロッドを抽出して示す断面図、図2(c)は図2(a)から第2のロッドを抽出して示す断面図、図3(a)は図1のB−B線矢視断面図、図3(b)は図1のC−C線矢視断面図である。
【0018】
また、図4(a)はクリップ治具の爪を第1のロッドの固定溝に嵌合させるときの状態を示す説明図、図4(b)はクリップ治具の爪を第2のロッドの固定溝に嵌合させるときの状態を示す説明図、図5は細線の両端部を細線端固定具で固定した状態を示す説明図、図6は細線伸び計測装置の全体的な構成と前記細線伸び計による測定原理とを示す説明図、図7は細線の引張試験結果を示すグラフである。
【0019】
図1及び図2に示すように、細線伸び計20は、第1のロッド21、第2のロッド22、固定ねじ23、回転止めピン24、回転止め台26及びクリップ治具30を備えてなるものである。
【0020】
ロッド21は円筒状であり、その外周部には細線1を嵌め込むための嵌め込み溝28aが、軸方向(X軸方向)の全長に渡って形成されている。この嵌め込み溝28aは横断面がV字状であってロッド21の軸心にまで達しており、前記軸心に向かうほど間隔が狭まっている。ロッド22はロッド21よりも太い円筒状であり、その外周部には細線1を嵌め込むための嵌め込み溝28bが、X軸方向の全長に渡って形成されている。この嵌め込み溝28bも横断面がV字状であってロッド22の軸心にまで達しており、前記軸心に向かうほど間隔が狭まっている。
【0021】
そして、内筒であるロッド21の一部を外筒であるロッド22に挿入している。このことにより、ロッド21,22全体をX軸方向に伸縮自在とし、且つ、嵌め込み溝28aの一部と嵌め込み溝28bの一部とを重ね合わせて、これらの溝28a,28bを一直線状とし、これらの溝28a,28bの全長に渡って細線1を嵌め込むように構成している。かくして、細線1を取り付けるための細線取り付け具が構成されている。なお、この細線取り付け具は軽量のものである、即ち、ロッド21,22などの構成部材が軽量の材料で構成されている。
【0022】
また、ロッド21の外周面にはL字状の回転止めピン24を固定し、ロッド22の外周面には回転止め台26を固定している。そして、回転止めピン24のX軸方向に沿う部分24aを、回転止め台26にX軸方向に沿って形成した穴26aに挿入している。このことにより、回転止めピン24と回転止め台26はX軸方向には移動自在である一方、X軸方向と直交する方向への相対的な移動は阻止される。従って、回転止めピン24と回転止め台26は、ロッド21,22が、X軸方向に伸縮するのを妨げることなく、X軸回りに相対的に回転するを防止する。
【0023】
固定ねじ23は回転止め台26に設けられており、回転止め台26及びロッド22にねじ込まれて、先端がロッド22の外周面に当接することにより、ロッド21,22の伸縮を阻止するようになっている。
【0024】
また、細線1は、クリップ治具30により第1の標点位置においてロッド21に固定され、且つ、他のクリップ治具30により第2の標点位置においてロッド22に固定されている。図3に示すように、これらのクリップ治具30は同じ構成のものであり、軽量で弾性を有する薄い材料で製作されている。
【0025】
具体的には、U字状のバネ34の両端部にクリップつまみ31aとクリップつまみ31bとがそれぞれ固定されており、バネ34はクリップつまみ31a,31bをこれらの先端側が互いに近づく方向に付勢している。クリップつまみ31bの先端部には楔状の爪32を有している。また、クリップつまみ31aの先端側は、ロッド21,22の外周面に沿うように湾曲している。一方、ロッド21の端部には側面視がV字状の固定溝33aが形成されており、ロッド22の端部にも側面視がV字状の固定溝33bが形成されている。これらの固定溝33a,33bはロッド21,22の軸心まで達している。
【0026】
従って、クリップ治具30は、図3(a)及び(b)に一点鎖線で示すようにバネ34のバネ力に抗してクリップつまみ31a,31bを広げてから、図3(a)及び(b)に実線で示すようにロッド21,22の端部にそれぞれ装着する。このとき、クリップつまみ31aの先端側がロッド21,22の外周面に接触するとともに、クリップつまみ31bの爪32がロッド21,22の固定溝33a,33bに嵌合して細線1をロッド21,22に押し付ける。なお、爪32を固定溝33a,33bに嵌合させるときの状態は図4に示す通りである。
【0027】
かくして、細線1は標点位置においてロッド21,22にそれぞれ固定される。このとき、細線1の標点距離は固定溝33aと固定溝33bとの間の距離Lであり、ロッド21,22の全長はロッド21の端27aからロッド22の端27bまでの距離L1 である。
【0028】
図5に示すように、細線1は両端を伸び計20(ロッド21,22)の外まで延ばした状態で設置される。そして、細線1の両端は細線端固定具50よってそれぞれ固定する。細線1の引張試験は、引張試験機で細線端固定具50を引張ることにより行う。
【0029】
図6に示すように、細線1を引張ることにより、細線1の標点間距離がΔLだけ伸びてL+ΔLになると、この細線1の伸びに伴ってロッド21,22が伸長し、ロッド21,22の全長はL1+ΔLとなる。すなわち、細線1の伸びΔLは、ロッド21,22の両端27a,27bに生じた変位と同じである。従って、このロッド21,22の両端27a,27bの変位ΔLを計測することで、細線1の伸びΔLを測定することができる。
【0030】
そこで、ロッド21,22の両端27a,27bの変位を変位測定装置によって計測するが、この場合、細線1に加える張力を精確に保つためには、細線1及び伸び計20に非接触で変位測定を行うことが望ましい。このため、本実施の形態では、図6に示すようなレーザ光線を利用した非接触式変位測定装置よってロッド21,22の両端27a,27bの変位測定を行う。
【0031】
具体的には、図6に示すように、ロッド21の端部を間に挟んでレーザ光源41aとレーザ受光器42aとを対向配置して、レーザ光源41aからロッド21の端部及びその近傍にレーザ光線43aを照射し、このレーザ光線43aをレーザ受光器42aで受光する。このとき、レーザ光源41aから出射されるレーザ光線の幅はL2 であるが、その一部がロッド21の端部に遮られることにより、レーザ受光器42aで受光されるレーザ光線の幅はL3 ( <L2 )となる。そして、このレーザ光線の幅L3 がロッド21の端27aの変位量に応じて変化する。従って、レーザ受光器42aでレーザ光線の幅L3 を測定することにより、ロッド21の端27aの変位量を測定することができる。
【0032】
同様に、ロッド22の端部を間に挟んでレーザ光源41bとレーザ受光器42bとを対向配置して、レーザ光源41bからロッド22の端部及びその近傍にレーザ光線43bを照射し、このレーザ光線43bをレーザ受光器42bで受光する。このとき、レーザ光源41bから出射されるレーザ光線の幅はL2 であるが、その一部がロッド22の端部に遮られることにより、レーザ受光器42bで受光されるレーザ光線の幅はL3 ( <L2 )となる。そして、このレーザ光線の幅L3 がロッド22の端27bの変位量に応じて変化する。従って、レーザ受光器42bでレーザ光線の幅L3 を測定することにより、ロッド22の端27bの変位量を測定することができる。
【0033】
次に、細線伸び計20を用いた細線1の引張試験手順について説明する(図1〜図6参照)。
【0034】
まず、ロッド21,22を適宜伸縮して固定溝33a,33bの間隔を所定の標点距離Lとし、この標点距離Lを保持した状態で固定ねじ23によりロッド21,22を固定して、これらの伸縮を阻止する。
【0035】
この状態で細線1をロッド21,22の嵌め込み溝28a,28bに嵌め込み、クリップ治具30によって細線1を第1の標点位置(固定溝33aの位置)においてロッド21に固定し、且つ、他のクリップ治具30によって細線1を第2の標点位置(固定溝33bの位置)においてロッド22に固定する。このとき、ロッド21,22は固定ねじ23により固定されているため伸縮しない。
【0036】
続いて、細線1の両端部に細線端固定具50を取り付ける。細線伸び計20への細線1の取り付けと、細線1の端部への細線端固定具50の取り付けとが完了したら、固定ねじ23を緩めてロッド21,22を伸縮可能とし、細線1を図示しない引張試験機に取り付ける。この引張り前の細線1の標点距離Lはロッド21,22の固定溝33a,33bの間の距離Lである。
【0037】
次に、引張試験機により細線端固定具50をX軸方向に引張ることによって、細線1にX軸方向の張力を与える。その結果、細線1が伸び、この細線1の伸びとともにロッド21,22も伸長して、ロッド21,22の両端27a,27aがX軸方向に変位する。即ち、ロッド21,22は細線1に対してそれぞれ一点(固定溝33a,33b部分)で固定され、且つ、相互にX軸方向に伸縮自在であるため、細線1の伸びはそのままロッド全体の伸びに反映される。また、このとき、回転止めピン23と回転止め台26の働きにより、ロッド21,22はX軸方向に案内され、ロッド21,22がX軸回りに相対的に回転することはない。
【0038】
そして、ロッド21の端27aの変位量をレーザ光源41aとレーザ受光器42aとを用いて測定し、ロッド22の端27bの変位量をレーザ光源41bとレーザ受光器42bとを用いて測定する。かくして、細線1の伸び量ΔLを測定することができる。
【0039】
図7には細線の引張試験の結果の一例を示す。同図において、横軸は細線に生じたひずみ(伸び)を表し、縦軸は応力を表す。引張試験は、細線(試験片)として全長120mmの紫外線硬化型樹脂で被覆された光ファイバ(直径0.25mm)を用い、この光ファイバに対して引張試験機により一定の速さで引張るようにして負荷(張力)を与えることにより、行った。また、このときの標点距離50mmである。
【0040】
図7の応力ひずみ図は微小な荷重においても直線性を示し、この結果は、曲げやモーメントによる試験片への影響がほとんどなく、光ファイバ(試験片)の伸び計への取り付け、芯出し、伸び計の標点距離の保持がうまく行われていることを示している。
【0041】
以上のように、本実施の形態によれば、細線1をロッド21,22の嵌め込み溝28a,28bに全長に渡って嵌め込んで固定するため、細線1に曲げモーメントが加わって引張試験の張力にくるいが生じたり、細線が切れたりする虞がない。しかも、細線1を細長い嵌め込み溝28a,28bに嵌め込んでから、クリップ治具30でロッド21,22に固定することができるため、細線1に曲がり癖がついていても容易に細線1を細線伸び計20に取り付けることができる。
【0042】
更に、引張試験においては、細線そのものの伸びを直接測定するのではなく、ロッド21,22の変位を測定することよって細線1の伸びを測定するため、既存の非接触式変位測定装置によって容易に細線1の伸びを測定することができる。即ち、ロッド21,22は細線1に比べて十分太いため、その両端27a,27bの変位検出には既存の非接触で物体の変位を測定する方法を適用することができ、その結果、細線1の伸び測定を非接触で行うことが可能となる。
【0043】
また、クリップ治具30は固定溝33a,33bに嵌合する爪32を有し、この爪32によって細線1をロッド21,22に押し付ける構成であるため、構成が簡易であり、且つ、確実に細線1をロッド21,22に固定することができる。
【0044】
また、ロッド21に回転止めピン24を固定し、ロッド22に回転止め台26を固定して、回転止めピン24を回転止め台26の穴26aに軸方向に移動自在に挿入することにより、ロッド21,22がX軸回りに相対的に回転するのを防ぐように構成したため、引張試験においてロッド21,22が相対的にX軸回りに回転して引張試験の張力をくるわすことなどを確実に防止することができる。
【0045】
また、細線1を取り付けるとき、固定ねじ23によってロッド21,22の伸縮を阻止することができるため、容易に細線1をロッド21,22へ取り付けることができ、且つ、引張試験前に細線1に対してX軸方向の力を加えることなく取り付けることができる。
【0046】
そして、上記のような細線伸び計20を用いた細線伸び計測装置では、細線1に対して非接触式変位測定装置により精度のよい伸び測定を容易に行うことができる。
【0047】
なお、上記では、非接触式変位測定装置として、レーザ光源41a,41bとレーザ受光器42a,42bとを備えた装置を用いたが、必ずしもこれに限定するものではなく、ロッド21,22の両端27a,27bの変位を非接触で行う装置としては、例えば、光の他、音や電磁波等を利用した装置でもよく、また、ロッド21,22は細線1に比べて十分太いため、ロッド21,22の画像をカメラなどで取りこんで変位測定をしたり、レーザ光線の照射により発生するスペクトルパターンの移動を追跡する送り量測定装置よってロッド21,22の両端27a,27bの移動量(変位量)を検出するようにしてもよい。
【0048】
また、上記のクリップ治具30はバネ34を用いたものであるが、必ずしもこれに限定するものではなく、例えばバネ34に代わりに形状記憶合金を用いてクリップ治具を作製し、この形状記憶合金が所定の形状に戻ろうとする力によって細線1をロッド21,22に固定するようにしてもよい。
【0049】
また、上記では、回転止めピン24と回転止め台26とによってロッド21,22がX軸回りに相対的に回転するのを防止しているが、必ずしもこれに限定するものではなく、例えばロッド21の外径とロッド22の内径が略等しくて両者の隙間が小さい場合には、ロッド21,22がX軸回りに相対的に回転しようとしても、これをロッド21の嵌め込み溝28aとロッド22の嵌め込み溝28bとの重なり部分において規制することができる。
【0050】
【発明の効果】
以上実施の形態とともに具体的に説明にたように、第1発明の細線伸び計によれば、細線を第1のロッドと第2のロッドの嵌め込み溝に全長に渡って嵌め込んで固定するため、細線に曲げモーメントが加わって引張試験の張力にくるいを生じせしめたり、細線が切れたりする虞がない。しかも、細線を嵌め込み溝に嵌め込んでから、第1の細線固定手段と第1の細線固定手段とで第1のロッドと第2のロッドとに固定することができるため、細線に曲がり癖がついていても容易に細線を細線伸び計に取り付けることができる。
【0051】
更に、引張試験においては、細線そのものの伸びを直接測定するのではなく、第1のロッドと第2のロッドの変位を測定することよって細線の伸びを測定するため、既存の非接触式変位測定装置でも容易に細線の伸びを測定することができる。即ち、第1及び第2のロッドは細線に比べて十分太いため、その両端の変位検出には既存の非接触で物体の変位を測定する方法を適用することができ、その結果、細線の伸び測定を非接触で行うことが可能となる。
【0052】
また、第2発明の細線伸び計によれば、第1及び第2のクリップ治具は固定溝に嵌合する爪を有し、この爪によって細線を第1のロッドと第2のロッドとに押し付ける構成であるため、構成が簡易であり、且つ、確実に細線を第1のロッドと第2のロッドとに固定することができる。
【0053】
また、第3発明の細線伸び計によれば、第1のロッドと第2のロッドの何れか一方に回転止めピンを固定し、他方に回転止め台を固定して、回転止めピンを回転止め台の穴に軸方向に移動自在に挿入することにより、第1のロッドと第2のロッドとが軸回りに相対的に回転するのを防ぐように構成したため、引張試験において第1のロッドと第2のロッドとが軸回りに相対的に回転して引張試験の張力をくるわすことなどを確実に防止することができる。
【0054】
また、第4発明の細線伸び計によれば、細線を取り付けるとき、固定ねじによって第1及び第2のロッドの伸縮を阻止することができるため、容易に細線を第1及び第2のロッドへ取り付けることができ、且つ、引張試験前に細線に対して軸方向の力を加えることなく取り付けることができる。
【0055】
そして、第5又は第6発明の細線伸び計測装置では、上記のような第1,第2,第3又は第4発明の細線伸び計を用いるため、細線に対して非接触式変位測定装置により精度のよい伸び測定を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る細線伸び計の構成を示す断面図である。
【図2】(a)は図1のA−A線矢視断面、(b)は(a)から第1のロッドを抽出して示す断面図、(c)は(a)から第2のロッドを抽出して示す断面図である。
【図3】(a)は図1のB−B線矢視断面図、(b)は図1のC−C線矢視断面図である。
【図4】(a)はクリップ治具の爪を第1のロッドの固定溝に嵌合させるときの状態を示す説明図、(b)はクリップ治具の爪を第2のロッドの固定溝に嵌合させるときの状態を示す説明図である。
【図5】細線の両端部を細線端固定具で固定した状態を示す説明図である。
【図6】細線伸び計測装置の全体的な構成と前記細線伸び計による測定原理とを示す説明図である。
【図7】細線の引張試験結果を示すグラフである。
【図8】従来の接触式伸び計測装置の例を示す構成図である。
【図9】前記接触式伸び計測装置による引張試験において発生する曲げモーメントの説明図である。
【図10】前記接触式伸び計測装置による引張試験において発生する剪断力の説明図である。
【符号の説明】
1 細線(試験片)
20 細線伸び計
21 ロッド(内筒)
22 ロッド(外筒)
23 固定ねじ
24 回転止めピン
26 回転止め台
26a 回転止め台の穴
27a,27b ロッドの端
28a,28b 嵌め込み溝
30 クリップ治具
31a,31b クリップつまみ
32 爪
33 固定溝(V型溝)
34 バネ
41a,41b レーザ光源
42a,42b レーザ受光器
43a,43b レーザ光線[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a fine wire extensometer used for a fine wire tensile test and a fine wire elongation measuring apparatus using the same.
[0002]
[Prior art]
The relation between the stress and strain of a general material and the measurement of Young's modulus are performed using a material testing machine such as a tensile testing machine. In the tensile test, it is necessary to apply a tensile force uniformly to the cross section of the test piece and to cause sufficient deformation until the breakage occurs. For example, a test piece used for a tensile test of a metal material is: It is defined by JIS Z 2201. Which specimen is used depends on the specifications of each material standard.
[0003]
And it was common for the tensile tester to measure the elongation generated in the test piece by an extensometer directly attached to the attachment portion that determines the gauge distance of the test piece.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, various difficulties arise when a conventional technique using an extensometer is applied to the measurement of the elongation of a thin wire.
[0005]
FIG. 8 shows an example of a conventional contact-type elongation measuring device. This elongation measuring device is directly attached to the positions of the marks X and Y of the
[0006]
When the rigidity of the elongation measurement target such as the
[0007]
Furthermore, since the center of gravity changes as the gauge distance increases in the tensile test, unbalanced forces F 1 and F 2 are applied to the
[0008]
On the other hand, the state of the test piece extending by the camera is captured and analyzed as an image, or the spectral pattern generated by the laser beam irradiation is traced as a virtual target to measure the elongation of the test piece in a non-contact manner. However, it is difficult to capture images and spectral patterns because thin wires such as ultra-fine optical fiber cables are round and thin.
[0009]
Therefore, in view of the above-mentioned problems, the present invention does not cause an external force such as a bending moment to be applied to the thin wire, thereby causing the tension of the tensile test to be distorted or breaking the thin wire. Even if it is attached, it is easy to attach to an extensometer, etc., and a thin wire extensometer and a thin wire elongation measuring device using this can be measured with the existing non-contact displacement measurement method. The task is to do.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
A thin wire extensometer according to a first aspect of the present invention for solving the above-described problems is a first rod in which a first fitting groove for fitting a thin wire as a test piece is formed over the entire length in the axial direction, and the first rod A second rod that has a thicker cylindrical shape and a second fitting groove for fitting the thin wire over the entire length in the axial direction, and a part of the first rod is the second rod The rod is inserted into the rod so that the entire rod can be expanded and contracted in the axial direction, and a part of the first fitting groove and a part of the second fitting groove are overlapped to make these grooves straight. A fine wire fitting configured to fit the fine wire over the entire length of these grooves;
First fine wire fixing means for fixing the fine wire to the first rod at a first gauge position;
And a second fine wire fixing means for fixing the fine wire to the second rod at a second mark position.
[0011]
The fine wire extensometer of the second invention is the fine wire extensometer of the first invention,
The first and second thin wire fixing means are:
A first clip that has a first claw that fits into a first fixing groove formed in the first rod, and is fixed by pressing the fine wire against the first rod by the first claw. A jig,
A second clip having a second claw that fits into a second fixing groove formed on the second rod, and fixing the thin wire against the second rod by the second claw; It is a jig.
[0012]
The thin wire extensometer of the third invention is the thin wire extensometer of the first or second invention,
A rotation stop pin is fixed to one of the first rod and the second rod, a rotation stop base is fixed to the other, and the rotation stop pin is axially movable in the hole of the rotation stop base. By inserting, the first rod and the second rod are configured to prevent relative rotation about the axis.
[0013]
The thin wire extensometer of the fourth invention is the thin wire extensometer of the first, second or third invention,
A fixing screw for preventing expansion and contraction of the first rod and the second rod is provided.
[0014]
Moreover, the thin wire elongation measuring device of the fifth invention comprises the thin wire extensometer of the first, second, third or fourth invention,
A first non-contact displacement measuring means for measuring, in a non-contact manner, a displacement amount of the first rod of the fine wire extensometer that is displaced in the axial direction along with the extension of the thin wire when the thin wire is pulled in an axial direction;
A second non-contact displacement measuring means for measuring, in a non-contact manner, a displacement amount of the second rod of the fine wire extensometer that is displaced in the axial direction along with the elongation of the thin wire when the thin wire is pulled in the axial direction; It is characterized by having.
[0015]
Further, the fine wire elongation measuring device of the sixth invention is the fine wire elongation measuring device of the fifth invention, wherein the first and second non-contact displacement measuring means are:
A first laser light source and a first laser receiver are arranged opposite to each other with an end portion of the first rod interposed therebetween, and the end portion of the first rod and the vicinity thereof from the first laser light source. A first non-contact displacement measurement that measures the displacement of the first rod by irradiating a laser beam to the laser beam, receiving the laser beam with the first laser receiver, and measuring the width of the laser beam. Equipment,
A second laser light source and a second laser receiver are disposed opposite each other with the end of the second rod interposed therebetween, and the end of the second rod and its vicinity from the second laser light source. Is irradiated with a laser beam, and the laser beam is received by the second laser receiver and the width of the laser beam is measured to measure the displacement of the second rod. It is a device.
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0017]
1 is a cross-sectional view showing a configuration of a fine wire extensometer according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 (a) is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1, and FIG. 2 (b) is from FIG. FIG. 2C is a sectional view showing the first rod extracted, FIG. 2C is a sectional view showing the second rod extracted from FIG. 2A, and FIG. 3A is a BB line arrow in FIG. FIG. 3B is a cross-sectional view taken along the line CC of FIG.
[0018]
4 (a) is an explanatory view showing a state when the claw of the clip jig is fitted into the fixing groove of the first rod, and FIG. 4 (b) is a diagram showing the claw of the clip jig of the second rod. FIG. 5 is an explanatory diagram showing a state where both ends of the fine wire are fixed with a fine wire end fixture, and FIG. 6 is an overall configuration of the thin wire elongation measuring device and the fine wire. FIG. 7 is a graph showing the results of a tensile test of thin wires.
[0019]
As shown in FIGS. 1 and 2, the
[0020]
The
[0021]
A part of the
[0022]
Further, an L-shaped
[0023]
The fixing
[0024]
Further, the
[0025]
Specifically, a
[0026]
Therefore, the
[0027]
Thus, the
[0028]
As shown in FIG. 5, the
[0029]
As shown in FIG. 6, when the distance between the gauge points of the
[0030]
Therefore, the displacements of both ends 27a and 27b of the
[0031]
Specifically, as shown in FIG. 6, a laser light source 41a and a laser receiver 42a are arranged opposite to each other with the end portion of the
[0032]
Similarly, the
[0033]
Next, the tensile test procedure of the
[0034]
First, the
[0035]
In this state, the
[0036]
Subsequently, the fine
[0037]
Next, the tension | tensile_strength in the X-axis direction is given to the thin wire |
[0038]
Then, the displacement amount of the end 27a of the
[0039]
FIG. 7 shows an example of the results of a thin wire tensile test. In the figure, the horizontal axis represents the strain (elongation) generated in the thin line, and the vertical axis represents the stress. In the tensile test, an optical fiber (diameter: 0.25 mm) covered with an ultraviolet curable resin having a total length of 120 mm is used as a thin wire (test piece), and the optical fiber is pulled at a constant speed by a tensile tester. And applying a load (tension). In addition, the gauge distance at this time is 50 mm.
[0040]
The stress-strain diagram in FIG. 7 shows linearity even with a minute load. This result shows that there is almost no influence on the test piece due to bending or moment, and the optical fiber (test piece) is attached to an extensometer, centered, This shows that the extensometer is well maintained.
[0041]
As described above, according to the present embodiment, since the
[0042]
Furthermore, in the tensile test, the elongation of the
[0043]
Further, the
[0044]
Further, the
[0045]
Further, when attaching the
[0046]
In the thin wire elongation measuring device using the
[0047]
In the above description, a device provided with
[0048]
Further, the
[0049]
In the above description, the
[0050]
【The invention's effect】
As specifically described in conjunction with the above embodiment, according to the thin wire extensometer of the first invention, the thin wire is fitted into the fitting grooves of the first rod and the second rod over the entire length and fixed. There is no risk that a bending moment will be applied to the fine wire, causing a tension in the tensile test, or that the fine wire will be broken. In addition, since the fine wire is fitted into the fitting groove, it can be fixed to the first rod and the second rod by the first fine wire fixing means and the first fine wire fixing means. Even if it is attached, a thin wire can be easily attached to a thin wire extensometer.
[0051]
Furthermore, in the tensile test, since the elongation of the thin wire is not measured directly but by measuring the displacement of the first rod and the second rod, the existing non-contact displacement measurement is performed. The elongation of the thin wire can be easily measured even with the apparatus. In other words, since the first and second rods are sufficiently thicker than the thin wire, the existing method of measuring the displacement of the object in a non-contact manner can be applied to the displacement detection at both ends, and as a result, the elongation of the thin wire Measurement can be performed without contact.
[0052]
According to the fine wire extensometer of the second invention, the first and second clip jigs have claws that fit into the fixing grooves, and the fine wires are divided into the first rod and the second rod by the claws. Since it is the structure pressed, a structure is simple and can fix a thin wire | line to a 1st rod and a 2nd rod reliably.
[0053]
Further, according to the thin wire extensometer of the third invention, the rotation prevention pin is fixed to one of the first rod and the second rod, the rotation stopper is fixed to the other, and the rotation prevention pin is prevented from rotating. Since it is configured to prevent the first rod and the second rod from rotating relative to each other around the axis by inserting the first rod and the second rod so as to be movable in the axial direction, It is possible to reliably prevent the second rod from rotating relative to the axis and twisting the tensile test.
[0054]
Further, according to the thin wire extensometer of the fourth invention, when the thin wire is attached, the first and second rods can be prevented from expanding and contracting by the fixing screw, so that the thin wire can be easily transferred to the first and second rods. It can be attached and can be attached without applying an axial force to the thin wire before the tensile test.
[0055]
And, in the thin wire elongation measuring device of the fifth or sixth invention, since the thin wire extensometer of the first, second, third or fourth invention as described above is used, a non-contact displacement measuring device is used for the thin wire. Elongation measurement with high accuracy can be easily performed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a configuration of a fine wire extensometer according to an embodiment of the present invention.
2A is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1, FIG. 2B is a cross-sectional view showing the first rod extracted from FIG. 1A, and FIG. It is sectional drawing which extracts and shows a rod.
3A is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 1, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line CC in FIG.
FIGS. 4A and 4B are explanatory views showing a state when the clip jig claw is fitted into the fixing groove of the first rod, and FIG. 4B is the clip jig claw fixing the second rod fixing groove. It is explanatory drawing which shows a state when making it fit.
FIG. 5 is an explanatory view showing a state in which both ends of a fine wire are fixed with a fine wire end fixing tool.
FIG. 6 is an explanatory diagram showing an overall configuration of a fine wire elongation measuring device and a measurement principle using the fine wire extensometer.
FIG. 7 is a graph showing the results of a thin wire tensile test.
FIG. 8 is a configuration diagram showing an example of a conventional contact type elongation measuring device.
FIG. 9 is an explanatory diagram of a bending moment generated in a tensile test by the contact-type elongation measuring device.
FIG. 10 is an explanatory diagram of a shear force generated in a tensile test by the contact-type elongation measuring device.
[Explanation of symbols]
1 Fine wire (test piece)
20
22 Rod (outer cylinder)
23
34
Claims (6)
前記細線を第1の標点位置において前記第1のロッドに固定する第1の細線固定手段と、
前記細線を第2の標点位置において前記第2のロッドに固定する第2の細線固定手段とを備えてなることを特徴とする細線伸び計。A first rod in which a first fitting groove for fitting a thin wire as a test piece is formed over the entire length in the axial direction, and a cylindrical shape thicker than the first rod and for fitting the thin wire. A second rod having a second fitting groove formed over the entire length in the axial direction, and a part of the first rod is inserted into the second rod so that the entire rod can be expanded and contracted in the axial direction. In addition, a part of the first fitting groove and a part of the second fitting groove are overlapped to form a straight line, and the thin line is fitted over the entire length of these grooves. A fine wire fitting configured as described above,
First fine wire fixing means for fixing the fine wire to the first rod at a first gauge position;
A thin wire extensometer, comprising: a second thin wire fixing means for fixing the thin wire to the second rod at a second gauge position.
前記第1及び第2の細線固定手段は、
前記第1のロッドに形成した第1の固定溝に嵌合する第1の爪を有し、この第1の爪によって前記細線を前記第1のロッドに押し付けるようにして固定する第1のクリップ治具と、
前記第2のロッドに形成した第2の固定溝に嵌合する第2の爪を有し、この第2の爪によって前記細線を前記第2のロッドに押し付けるようにして固定する第2のクリップ治具とであることを特徴とする細線伸び計。In the thin wire extensometer according to claim 1,
The first and second thin wire fixing means are:
A first clip that has a first claw that fits into a first fixing groove formed in the first rod, and is fixed by pressing the fine wire against the first rod by the first claw. A jig,
A second clip having a second claw that fits into a second fixing groove formed on the second rod, and fixing the thin wire against the second rod by the second claw; A fine wire extensometer characterized by being a jig.
前記第1のロッドと第2のロッドの何れか一方に回転止めピンを固定し、他方に回転止め台を固定して、前記回転止めピンを前記回転止め台の穴に軸方向に移動自在に挿入することにより、前記第1のロッドと前記第2のロッドとが軸回りに相対的に回転するのを防ぐように構成したことを特徴とする細線伸び計。In the thin wire extensometer according to claim 1 or 2,
A rotation stop pin is fixed to one of the first rod and the second rod, a rotation stop base is fixed to the other, and the rotation stop pin is axially movable in the hole of the rotation stop base. A thin wire extensometer configured to prevent the first rod and the second rod from rotating relatively around an axis by being inserted.
前記第1のロッドと第2のロッドの伸縮を阻止する固定ねじを設けたことを特徴とする細線伸び計。In the thin wire extensometer according to claim 1, 2, or 3,
A thin wire extensometer, comprising a fixing screw for preventing expansion and contraction of the first rod and the second rod.
前記細線を軸方向に引張ったとき、前記細線の伸びとともに軸方向に変位する前記細線伸び計の第1のロッドの変位量を、非接触で測定する第1の非接触式変位測定手段と、
前記細線を軸方向に引張ったとき、前記細線の伸びとともに軸方向に変位する前記細線伸び計の第2のロッドの変位量を、非接触で測定する第2の非接触式変位測定手段とを備えたことを特徴とする細線伸び計測装置。Fine wire extensometer according to claim 1, 2, 3 or 4,
A first non-contact displacement measuring means for measuring, in a non-contact manner, a displacement amount of the first rod of the fine wire extensometer that is displaced in the axial direction along with the extension of the thin wire when the thin wire is pulled in an axial direction;
A second non-contact displacement measuring means for measuring, in a non-contact manner, a displacement amount of the second rod of the fine wire extensometer that is displaced in the axial direction along with the elongation of the thin wire when the thin wire is pulled in the axial direction; A thin wire elongation measuring device characterized by comprising.
前記第1及び第2の非接触式変位測定手段は、
前記第1のロッドの端部を間に挟んで第1のレーザ光源と第1のレーザ受光器とを対向配置して、前記第1のレーザ光源から前記第1のロッドの端部及びその近傍にレーザ光線を照射し、このレーザ光線を前記第1のレーザ受光器で受光してレーザ光線の幅を測定することより、前記第1のロッドの変位を測定する第1の非接触式変位測定装置と、
前記第2のロッドの端部を間に挟んで第2のレーザ光源と第2のレーザ受光器とを対向配置して、前記第2のレーザ光源から前記第2のロッドの端部及びその近傍にレーザ光線を照射し、このレーザ光線を前記第2のレーザ受光器で受光してレーザ光線の幅を測定することより、前記第2のロッドの変位を測定する第2の非接触式変位測定装置とであることを特徴とする細線伸び計測装置。In the thin wire elongation measuring device according to claim 5,
The first and second non-contact displacement measuring means are:
A first laser light source and a first laser receiver are arranged opposite to each other with an end portion of the first rod interposed therebetween, and the end portion of the first rod and the vicinity thereof from the first laser light source. A first non-contact displacement measurement that measures the displacement of the first rod by irradiating a laser beam to the laser beam, receiving the laser beam with the first laser receiver, and measuring the width of the laser beam. Equipment,
A second laser light source and a second laser receiver are disposed opposite each other with the end of the second rod interposed therebetween, and the end of the second rod and its vicinity from the second laser light source. Is irradiated with a laser beam, and the laser beam is received by the second laser receiver and the width of the laser beam is measured to measure the displacement of the second rod. A thin wire elongation measuring device characterized by being an apparatus.
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