JP3782382B2 - 変調信号解析装置及び受信モジュール評価システム - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、移動体通信システムにおける基地局や移動局に組込まれ、CDMA方式の変調信号を受信する受信モジュールにおける受信性能を試験するための変調信号解析装置、及びこの変調信号解析装置が組込まれた受信モジュール評価システムに関する。
【0002】
【従来の技術】
移動体通信システムにおける基地局や移動局に組込まれ、変調信号を受信する受信モジュールにおける受信性能を試験する場合、一般に、図3に示すように、試験信号発生器1から、実際に基地局と移動局との間で送受信される変調信号を模擬した試験信号aを試験対象の受信モジュール2へ印加する。そして、この試験対象の受信モジュール2から出力される出力信号を測定信号bとして変調信号解析装置3へ入力する。理想的な受信モジュール2においては、受信モジュール2から出力される出力信号(測定信号b)の波形は受信モジュール2へ入力される試験信号aの波形に等しい筈である。
【0003】
試験信号発生器1内において、PN(擬似ランダム)信号発生部4から出力されるPN信号からなるデータ信号を変調部6で搬送波信号を用いて直交変調して試験信号aとして出力する。
【0004】
変調信号解析装置3は、入力信号(試験信号a)のノイズレベルNIと出力信号(測定信号b)のノイズレベルNOとの比で示される雑音指数NF(Noise Figure =NO/NI)を測定するとともに、この直交変調されている測定信号bの変調精度EVM(Error Vector Magnitude)を測定する。
【0005】
この変調精度EVMを図4を用いて説明する。QPSK変調されている測定信号bを復調すると、図4(a)に示すように、雑音がなくて、理想的に復調されると、IQ座標において、45°、135°、225°、315°の各位置に同心円上にそれぞれ理想シンボル点7が出現する。しかし、雑音や受信モジュール2の特性上の欠陥があると、理想シンボル点7から離れた位置に実際のシンボル点8が出現する。この実際のシンボル点8と理想シンボル点7との正規化された距離を変調精度EVMと言う。図4(a)に示すように、この変調精度EVMの距離が小さい場合は正しく復調される。
【0006】
しかし、図4(b)に示すように、この変調精度EVMの距離が大きくなり、実際のシンボル点8が他の象限に移動すると、この実際のシンボル点8が誤って復調される。その結果、最終的に復調されたデータ信号にビット誤りが発生する。この場合、測定される変調精度EVMは、最も近い理想シンボル点7からの距離となるので、測定される変調精度EVMは実際の変調精度EVMより小さい値となる。すなわち、測定される変調精度EVMは、ビット誤りが発生しない範囲で有効である。
【0007】
したがって、ビット誤りが発生する割合は、図4(b)に示すように、実際の変調精度EVMの大きさの程度に対応する。この実際の変調精度EVMの大きさは、前述した雑音指数NFに対応する。換言すれば、最終的に復調されたデータ信号のビット誤り率BER(Bit Error Rate)は雑音指数NFから算出できる。
【0008】
一般に、移動体通信システムにおいては、基地局、移動局の受信性能を示す指標として、前述したビット誤り率BERを用いることが多いが、変調信号解析装置3としては、最終的に復調されたデータ信号のビット誤り率BERを測定することなく、雑音指数NFの測定のみを実施して、計算で試験対象の受信モジュール2の存在に起因するビット誤り率BERを算出していた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、移動体通信システムにおける基地局と移動局との間でCDMA方式の変調信号が送受信される場合、図5に示すように、試験信号発生器10からCDMA方式の変調信号からなる試験信号a1を試験対象の受験モジュール11へ印加する必要がある。
【0010】
しかし、CDMA方式を採用した移動体通信システムでは、システム自体が各移動局からの電波相互間に干渉が存在することを前提として設計されている。
【0011】
したがって、試験信号発生器10内において、PN(擬似ランダム)信号発生部4から出力されるPN信号からなるデータ信号に対して誤り訂正符号付加部5で誤り訂正符号を付加して、この誤り訂正符号が付されたデータ信号を拡散部12で、別のPN符号を用いてスペクトラム拡散を実施する。スペクトラム拡散されたデータ信号を変調部6で直交変調して試験信号a1として出力する。
【0012】
そのため、基地局や移動局における受信モジュール11の受信性能は、受信信号を復調処理13を行い、さらに、誤り訂正処理15を行った後のデータ信号におけるビット誤り率BERで規定される。
【0013】
すなわち、誤り訂正後のデータ信号におけるビット誤り率BERは、誤り訂正処理15の寄与率が非常に大きいので、図3に示す変調信号解析装置3のように、雑音指数NFからビット誤り率BERを算出することはできない。
【0014】
さらに、受信モジュールにおいては、自動利得制御AGC(Auto Gain Control)などの制御機能を有している場合もある。CDMA方式ではこの自動利得制御AGCの不安定性などが、ある特定のコード間において大きな干渉が生じることがあり、こういったCDMA方式特有の現象は雑音指数NFの測定値には現れない。
【0015】
そのため、CDMA方式を採用した移動体通信システムでは、基地局・移動局の受信モジュールに対する受信性能は、システム要求仕様で定められている最終のデータ信号におけるビット誤り率BERを直接測定して、評価することが望ましい。
【0016】
従来、試験対象の受信モジュール11の受信性能を最終のデータ信号におけるビット誤り率BERで評価するには、図6に示すように、試験対象の受信モジュール11から出力される測定信号b1をA/D変換器16でサンプリングすることでデジタル値に変換し、パーソナルコンピュータ(PC)等からなる信号解析装置17でソフト的に解析する手法が採用されていた。
【0017】
しかし、十分な測定精度を確保するためには、W―CDMA方式では最大50000ブロック(約1000秒)の測定が要求されており、解析に必要なサンプリング値のデータサイズが数100Gbyteを超え、現実的な方法ではなかった。
【0018】
また、自動利得制御AGCなどの制御機能を操作した場合、制御後一定時間の間のみ受信性能が悪化する場合がある。このような現象は従来の変調精度EVM測定で行われている波形蓄積型の間欠的な測定で評価することは難しく、また、前述したように、変調精度EVMはビット誤りを起こすエラーを適切に表すことができない。
【0019】
CDMA方式を採用した移動体通信システム、特に基地局の受信部においては、希望波の電力よりも干渉波の電力が大きい場合(変調精度EVMの平均値が100%を超える条件)で使用される場合が多いため、これを適切に評価するためには、ビット誤り率BERの時間的な変化を測定する必要がある。
【0020】
これに関して、図6に示した、従来のA/D変換されたサンプリング結果をPCからなる信号解析装置17でソフト的に解析する方法は、試験対象の受信モジュール11の自動利得制御AGC等の制御を変更した時の過渡的な性能の変化が、制御した時点で得ることができないため、制御機能の評価の方法としても適切でなかった。
【0021】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、試験対象の受信モジュールの受信性能をほぼ実時間でデータ信号のビット誤り率BERでもって評価でき、さらに、必要に応じて、雑音指数NFや変調精度EVMも評価できる変調信号解析装置及びこの変調信号解析装置を用いた受信モジュール評価システムを提供することを目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】
本発明は、データ信号をスペクトラム拡散しかつ直交変調した試験信号を試験対象受信モジュールへ印加した場合に、この試験対象受信モジュールの出力信号を測定信号として取込んで解析する変調信号解析装置に適用される。
【0023】
そして、上記課題を解消するために、本発明の変調信号解析装置においては、入力された測定信号をA/D変換するA/D変換器と、A/D変換された測定信号の波形データを記憶する波形メモリと、波形メモリに記憶された波形データを用いて測定信号の雑音指数及び変調精度をソフト的に算出する信号解析部と、A/D変換された測定信号の波形と直交変調の同期シンボルの理想値となる基準波形との相関値から測定信号の波形同期点を検出する波形同期検出回路と、A/D変換された測定信号の波形の時間位相を前記検出された波形同期点に基づいて補正する時間位相補正回路と、時間位相が補正された各シンボル点の位相を対応する各理想シンボル点に補正するシンボル点位相補正回路と、補正された各シンボル点からデータ信号を復調する復調回路と、復調されたデータ信号の誤り率を測定する誤り測定回路と、表示器と、信号解析部で算出された測定信号の雑音指数と変調精度、及び誤り測定回路で測定されたデータ信号の誤り率を表示器へ表示出力する表示制御部とを備えている。
【0024】
このように構成された変調信号解析装置においては、試験対象の受信モジュールから出力された測定信号の雑音指数NF及び変調精度EVMは、測定信号の波形が一旦波形メモリに記憶されたのち、波形メモリから読出されて例えばDSP(Digital Signal Processor)等で構成された信号解析部においてソフト的に算出される。
【0025】
一方、試験対象の受信モジュールから出力された測定信号の復調後のデータ信号の誤り率BERは、測定信号がA/D変換器でデジタルの測定信号にA/D変換されたのち、復調されて復調後のデータ信号となり、誤り測定回路で、ほぼ実時間で測定される。
【0026】
なお、ここで上述した実時間(リアルタイム)とは、CDMA方式を採用した移動体通信システムの復調可能な最小時間(CDMA2000ではフレーム、W-CDMAではブロック)毎に、データ信号の誤り率BERを測定することを示す。
【0027】
このように、試験対象の受信モジュールから出力された測定信号の雑音指数NF、変調精度EVM、誤り率BERを測定可能である。
【0028】
また別の発明は、上述した発明の変調信号解析装置に対して、復調されたデータ信号のビット誤りをこのデータ信号に付加された誤り訂正符号を用いて訂正する誤り訂正回路と、この誤り訂正された後のデータ信号に含まれる誤りの誤り率を測定する第2の誤り測定回路とを備えている。さらに、表示制御部はこの第2の誤り測定回路で測定された誤り訂正後のデータ信号の誤り率をも表示器へ表示出力する。
【0029】
このように、構成された変調信号解析装置においては、復調後のデータ信号は、誤り訂正された後、誤り率BERがほぼ実時間で測定される。よって、より正確な誤り率BERが得られる。
【0030】
さらに、別の発明は、データ信号をスペクトラム拡散しかつ直交変調した試験信号を発生する試験信号発生器と、この試験信号発生器から出力された試験信号が試験対象受信モジュールへ印加された場合に、この試験対象受信モジュールの出力信号を測定信号として取込んで解析する先の発明の変調信号解析装置とを備えた受信モジュール評価システムである。
【0031】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の各実施形態を図面を用いて説明する。
(第1実施形態)
図1は本発明の第1実施形態に係る変調信号解析装置の概略構成を示すブロック図である。図5に示す従来の試験信号発生器と同一部分には同一符号を付して重複する部分の詳細説明を省略する。
【0032】
図1において、図5に示す従来の試験信号発生器10と同一構成の試験信号発生器10から出力されたCDMA方式の変調信号からなる試験信号a1は試験対象の受験モジュール11へ印加される。この試験対象の受験モジュール11から出力された出力信号は測定信号b1として、変調信号解析装置内のA/D変換器16へ入力される。A/D変換器16は、入力された測定信号b1を所定のサンプリング周期でデジタルの測定信号b2にA/D変換する。
【0033】
A/D変換器16でA/D変換されたデジタルの測定信号b2は次の波形メモリ18へ入力される。波形メモリ18は、デジタルの測定信号b2の波形データを一定波長数分だけ記憶保持する。
【0034】
例えば、DSP等で構成された信号解析部19は、波形メモリ18に記憶された測定信号b2の波形データを用いて、測定信号b2の雑音指数NFをソフト的に算出する。なお、受信モジュール11へ印加される試験信号a1のノイズレベルは予め測定されている。
【0035】
さらに、この信号解析部19は、波形メモリ18に記憶された測定信号b2の波形データを用いて、測定信号b2を復調して、前述した図4に示す変調精度EVMをソフト的に算出する。そして、信号解析部19は、算出した雑音指数NF及び変調精度EVMをコンピュータからなる表示制御部20へ送出する。
【0036】
一方、A/D変換器16でA/D変換されたデジタルの測定信号b2は波形メモリ18へ書込まれると共に、波形同期検出回路21及び時間位相補正回路22へ入力される。
【0037】
波形同期検出回路21は、A/D変換された測定信号b2の波形と同期シンボルの理想値となる基準波形との相関値から測定信号b2の波形同期点を検出する。
【0038】
波形同期検出回路21は、検出した波形同期点を時間位相補正回路22へ送出する。
【0039】
時間時間位相補正回路22は、A/D変換された測定信号b2の波形の時間位相を、前記検出された波形同期点に基づいて補正する。この補正によって、各シンボル点8の時間位相は理想シンボル点7に一致する。
【0040】
シンボル点位相補正回路24は、図4に示す各シンボル点8の平均位置を理想シンボル点7の位置へ移動させるシンボル点位相補正を実施する。
【0041】
そして、復調回路25は、このシンボル点位相補正された各シンボル点8から、データ信号を復調し、これを復調後のデータ信号d1として、次の誤り訂正回路29へ送出すると共に、ビット誤り検出回路27へ送出する。
【0042】
ビット誤り検出回路27は、入力された復調後のデータ信号d1に含まれる各ビットのビット誤りを検出する。ビット誤り率算出回路28は、ビット誤り検出回路27で検出されたビット誤りに基づいて、復調後のデータ信号d1のビット誤り率BER1を算出して、表示制御部20へ送出する。
【0043】
したがって、ビット誤り検出回路27及びビット誤り率算出回路28は、復調されたデータ信号の誤り率を測定する誤り測定回路を構成する。
【0044】
誤り訂正回路29は、復調されたデータ信号に含まれるビット誤りを、このデータ信号に付加された誤り訂正符号を用いて訂正する。そして、誤り訂正後のデータ信号d2として外部に出力すると共に、ビット誤り検出回路30、フレーム誤り検出回路32aへ送出する。
【0045】
ビット誤り検出回路30は、入力された誤り訂正後のデータ信号d2に含まれる各ビットのビット誤りを検出する。ビット誤り率算出回路31は、ビット誤り検出回路30で検出されたビット誤りに基づいて、誤り訂正後のデータ信号d2のビット誤り率BER2を算出して、表示制御部20へ送出する。
なお、ビット誤り検出回路30及びビット誤り率算出回路31は第2の誤り測定回路を構成する。
【0046】
したがって、ビット誤り検出回路30及びビット誤り率算出回路31は、誤り訂正された後のデータ信号の誤り率を測定する誤り測定回路を構成する。
【0047】
フレーム誤り検出回路32aは、入力された誤り訂正後のデータ信号d2に付加されているCRC(Cyclic Redundancy Check)を用いて、フレームの誤りを検出する。フレーム誤り率算出回路32は、フレーム誤り検出回路32aで検出されたフレーム誤りに基づいて、測定信号b2のフレーム誤り率FER(Fame Error Rate)を算出する。
【0048】
なお、フレーム誤り率FERとは、移動体通信システムにおいて基地局と移動局との間で送受信される信号に、CDMA2000方式の変調信号を採用する場合、この変調信号は所定ビット数からなる複数のフレームで構成されているが、この各フレームにビット誤りが1個でも含まれる割合を示す。フレーム誤り率算出回路32は、算出したフレーム誤り率FERを表示制御部20へ送出する。
【0049】
表示制御部20は、入力された雑音指数NF、変調精度EVM、復調後のビット誤り率BER1、誤り訂正後のビット誤り率BER2、フレーム誤り率FERを表示器33へ表示出力する。
【0050】
このように構成された変調信号解析装置においては、試験信号発生器10から出力されたCDMA方式の変調信号からなる試験信号a1は試験対象の受信モジュール11へ入力される。受信モジュール11から出力される受信信号は測定信号b1として、変調信号解析装置へ入力される。変調信号解析装置へ入力された測定信号b1は、A/D変換器16でデジタルの測定信号b2へ変換されて、波形メモリ18に解析に必要な波形数分だけ一旦記憶される。そして、DSPからなる信号解析部19は、この波形メモリ18に記憶された波形データを用いて、測定信号b2(b1)の雑音指数NF及び変調度EVMを算出する。
【0051】
さらに、変調信号解析装置へ入力された測定信号b1における、復調後のデータ信号d1のビット誤り率BER1、誤り訂正後のデータ信号d2のビット誤り率BER2、フレーム誤り率FERが各回路27、28、30、31、32a、32でほぼ実時間で測定される。具体的には、変調信号解析装置へ測定信号b1が入力されてから、最終のデータ信号d2のビット誤り率BER2が算出されるまでの時間は、[(固定値)±(0.5フレーム)]以内とほぼ固定されている。
【0052】
その結果、試験対象の受信モジュール11において、例えば、自動利得制御AGC等の制御を変更した時の各ビット誤り率BER1、BER2やフレーム誤り率FERの過渡的な変化が、制御した時点で得ることができ、試験対象の受信モジュール11における動的な受信特性を定量的に把握できる。
【0053】
さらに、実時間によるビット誤り率BER1、BER2 、フレーム誤り率FERの他に、雑音指数NF及び変調度EVMをも測定している。したがって、試験対象の受信モジュール11の受信感度の評価にはビット誤り率BER1、BER2 、フレーム誤り率FERを採用し、試験対象の受信モジュール11の特性の直線性等の基本特性の評価には簡易な雑音指数NF及び変調度EVMを採用すればよい。このように、試験評価目的に応じて測定項目を選択することが可能である。
【0054】
なお、本発明の変調信号解析装置は、上述した実施形態に限定されるものではない。W−CDMA方式の変調信号を試験信号a1として採用する場合には、フレーム誤り率算出回路32の代わりに、誤りビットが含まれるブロックの割合を示すブロック誤り率BLER(Block Error Rate)を算出するブロック誤り率算出回路を設けてもよい。
【0055】
さらに、A/D変換器16の前段にミキサ等を設けることにより、この変調信号解析装置に入力される測定信号として、高周波(RF)信号や中間周波数(IF)信号等の種々の信号形態を選択することが可能となる。
【0056】
(第2実施形態)
図2は本発明の第2実施形態の受信モジュール評価システムの概略構成図である。図5、図1と同一部分には同一符号を付して重複する部分の詳細説明を省略する。
【0057】
この第2実施形態の受信モジュール評価システムは、図5に示す従来の試験信号発生器10と同一構成の試験信号発生器10から出力されたCDMA方式の変調信号からなる試験信号a1は試験対象の受験モジュール11へ印加される。この試験対象の受験モジュール11から出力された出力信号は測定信号b1として、図1に示した第1実施形態の変調信号解析装置と同一構成の変調信号解析装置34へ入力される。
【0058】
このように構成された第2実施形態の受信モジュール評価システムにおいても、変調信号解析装置34は、入力された測定信号b1における実時間によるビット誤り率BER1、BER2 、フレーム誤り率FERの他に、雑音指数NF及び変調度EVMも測定している。したがって、第1実施形態の変調信号解析装置と同様な作用効果を得ることができる。
【0059】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の変調信号解析装置、及びこの変調信号解析装置が組込まれた受信モジュール評価システムにおいては、入力された測定信号に対して実時間で復調、及び誤り訂正を実施している。したがって、試験対象の受信モジュールの受信性能をほぼ実時間でデータ信号のビット誤り率BERで評価でき、さらに、必要に応じて、雑音指数NFや変調精度EVMも評価できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る変調信号解析装置の概略構成を示すブロック図
【図2】本発明の第2実施形態に係わる受信モジュール評価システムの概略構成図
【図3】従来の受信モジュールの評価方法を示す図
【図4】直交変調における理想シンボル点と復調された実際のシンボル点との関係を示す図
【図5】CDMA方式の変調信号を用いた受信モジュールの評価方法を示す図
【図6】従来のCDMA方式の変調信号を用いた受信モジュールの評価システムを示す図
【符号の説明】
4…PN信号発生部
5…誤り訂正符号付加部
6…変調部
10…試験信号発生器
11…試験対象の受信モジュール
12…拡散部
16…A/D変換器
18…波形メモリ
19…信号解析部
20…表示制御部
21…波形同期検出回路
22…時間位相補正回路
24…シンボル点位相補正回路
25…復調回路
27、30…ビット誤り検出回路
28、31…ビット誤り率算出回路
29…誤り訂正回路
32…フレーム誤り率算出回路
32a…フレーム誤り検出回路
33…表示器
34…変調信号解析装置
Claims (3)
- データ信号をスペクトラム拡散しかつ直交変調した試験信号を試験対象受信モジュールへ印加した場合に、この試験対象受信モジュールの出力信号を測定信号として取込んで解析する変調信号解析装置において、
入力された測定信号をA/D変換するA/D変換器(16)と、
このA/D変換された測定信号の波形データを記憶する波形メモリ(18)と、
この波形メモリに記憶された波形データを用いて前記測定信号の雑音指数及び変調精度をソフト的に算出する信号解析部(19)と、
前記A/D変換された測定信号の波形と直交変調の同期シンボルの理想値となる基準波形との相関値から前記測定信号の波形同期点を検出する波形同期検出回路(21)と、
前記A/D変換された測定信号の波形の時間位相を前記検出された波形同期点に基づいて補正する時間位相補正回路(22)と、
この時間位相が補正された各シンボル点の位相を対応する各理想シンボル点に補正するシンボル点位相補正回路(24)と、
この補正された各シンボル点からデータ信号を復調する復調回路(25)と、
この復調されたデータ信号の誤り率を測定する誤り測定回路(27、28)と、
表示器(33)と、
前記信号解析部で算出された測定信号の雑音指数と変調精度、及び前記誤り測定回路で測定されたデータ信号の誤り率を前記表示器へ表示出力する表示制御部(20)と
を備えた変調信号解析装置。 - 前記復調されたデータ信号のビット誤りをこのデータ信号に付加された誤り訂正符号を用いて訂正する誤り訂正回路(29)と、この誤り訂正された後のデータ信号に含まれる誤りの誤り率を測定する第2の誤り測定回路(30、31)とを備え、
前記表示制御部はこの第2の誤り測定回路で測定された誤り訂正後のデータ信号の誤り率をも前記表示器へ表示出力する
ことを特徴とする請求項1記載の変調信号解析装置。 - データ信号をスペクトラム拡散しかつ直交変調した試験信号を発生する試験信号発生器(10)と、この試験信号発生器から出力された試験信号が試験対象受信モジュール(11)へ印加された場合に、この試験対象受信モジュールの出力信号を測定信号として取込んで解析する請求項1又は2記載の変調信号解析装置(34)とを備えた受信モジュール評価システム。
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