JP3780634B2 - Chromatographic signal processor - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、クロマトグラフ用信号処理装置に関する。本発明のクロマトグラフ用信号処理装置は、ガスクロマトグラフ装置、液体クロマトグラフ装置等、試料中の各成分を時間的に分離して検出するクロマトグラフ装置全般に利用することができる。
【0002】
【従来の技術】
図5は、ガスクロマトグラフ装置の一般的な構成を示す図である。カラム18入口に設けられた試料気化室10には、キャリアガス流路12、パージ流路14及びスプリット流路16が接続されている。キャリアガス流路12には流量調節器13が設けられており、一定流量のキャリアガス(He等の不活性ガス)が試料気化室10に供給される。パージ流路14は、試料気化室10の上部に取り付けられたシリコンゴム等から成るセプタム11が放出する不所望のガスを試料気化室10から排出するためのものである。このパージ流路14には圧力センサ15が備えられており、圧力センサ15と試料気化室10との間には殆ど流路抵抗がないため、圧力センサ15で検出されるガス圧は試料気化室10内のガス圧(つまりカラム18入口圧)と看做すことができる。また、スプリット流路16には電磁弁17が設けられており、所定割合のキャリアガス及び試料気化室10内で気化した試料ガスをスプリット流路16を通して排出することにより、カラム18に導入する試料の量を調整している。
【0003】
カラム18にスプリット比(スプリット流路16に流すガス流量の全流量に対する割合)で決まる一定流量のキャリアガスを流しているとき、セプタム11を介して試料気化室10に試料溶液を注入する。試料溶液は気化し、キャリアガス流に乗ってカラム18に運ばれる。カラム18を通過する間に試料中の各成分は時間的に分離し、カラム18出口に設けられた検出器19にて順次検出される。検出器19の出力信号は増幅器20にて増幅された後に信号処理部21に入力される。信号処理部21は、順次得られる検出信号をA/D変換器によりディジタル値に変換し、これを基にクロマトグラムを作成する。そして、クロマトグラムに現われる各ピークを解析することにより、各成分の定性及び定量分析を実行する。表示部23には、クロマトグラムや定量及び定性分析の結果が表示される。図6(a)は、このようなクロマトグラムのピーク波形の一部を示す図である。
【0004】
上記クロマトグラフ分析の過程で、クロマトグラムに影響を及ぼすノイズには種々のものがあるが、検出器19や増幅器20等の電子回路にて発生する固有ノイズ(例えば熱ノイズ等)や外部からの飛込みノイズ等は比較的その周波数が高い。この種のノイズは、例えば炎光光度検出器(FPD)等の光検知器を利用した検出器で比較的大きく、また検出感度を高くしようとするとより大きくなる傾向にある。このような高周波ノイズが存在すると、クロマトグラムのピーク波形は図6(b)に示すようになる。これらノイズを試料成分のピークであると認識してしまうと正確な分析ができないから、信号処理部21ではクロマトグラムを作成する前又は作成する際に、高周波ノイズを除去するべく適当なフィルタ処理がなされる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
すなわち、ノイズの周波数域はピーク波形の周波数成分よりも高いから、低域通過形フィルタを用いて高周波域のノイズのみを除去する。ところが、同一の試料に対する分析であっても、クロマトグラフの分析条件(例えば、カラム入口圧、カラム寸法等)によってピーク形状(つまりピークの周波数成分)は相違するため、適切なフィルタ処理を行なうには低域通過形フィルタの遮断周波数を切り替える必要がある。
【0006】
そこで、従来のガスクロマトグラフ装置では、次の二種類のフィルタ処理の方法が用いられている。その一つは、増幅器20と信号処理部21のA/D変換器との間に、スイッチにて時定数の切替可能なアナログフィルタを設けるようにしたものであり、測定者のスイッチ操作により適当に該フィルタの時定数を変更できるようにしている。また、他の一つは、ディジタル信号処理によって高周波成分を有する波形を除去するようにしたものであり、図6(a)に示すピークの半値幅Wh(強度がピーク値の1/2となるピークの時間幅)の閾値を信号処理条件の一つとして測定者が入力設定部22から入力すると、信号処理部21は、クロマトグラムを作成する際に上記閾値以下の半値幅を有するパルス波形をノイズと看做して除去するようにしている。
【0007】
しかしながら、上述のようなフィルタの切替操作や半値幅の設定は全て測定者が試行錯誤的に行なう必要があり、単に手間がかかるのみならず熟練を要する作業であった。また、熟練者であっても最適にフィルタの遮断周波数や半値幅を設定するのは困難であって、図6(b)に示すようにクロマトグラムに高周波ノイズが残ってS/N比が劣化したり、逆に、図6(c)に示すようにピーク波形のリーディング及びテイリングが広がり、隣接するピークp1、p2の分離が困難になる恐れがあった。
【0008】
本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、適切なフィルタ処理を行なうことにより良好なクロマトグラムを得ることができるクロマトグラフ用信号処理装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために成された本発明は、試料を気体又は液体である移動相に乗せてカラム中に流通させ、時間的に分離して溶出する試料中の各成分をカラム出口に設けた検出器により検出するクロマトグラフのための信号処理装置において、
d)検出器の出力信号の高周波域を遮断する、遮断周波数可変のフィルタと、
e)カラム寸法、カラムオーブンの温度、カラム入口圧、キャリアガスの粘性係数、カラムの種類、検出器の種類、スプリット比、カラム内壁に塗布された固定相の厚さ、試料気化室内に導入される試料溶液の量の少なくとも1以上に応じて該フィルタの遮断周波数を決定する決定手段と、
f)前記フィルタにて処理された信号に基づいてクロマトグラムを作成する処理手段と、
を備えることを特徴としている。
【0010】
なお、ここで、クロマトグラフ分析の条件とは、該分析に際し試料成分のピーク波形の形状(急峻さ)に影響を及ぼし得る、又は高周波ノイズの周波数帯域に影響を及ぼし得るような条件であって、例えば、ガスクロマトグラフ装置では、カラムの寸法、カラムオーブンの温度、カラム入口圧、キャリアガスの粘性係数、カラムの種類、検出器の種類、更にスプリット分析の場合にはスプリット比、等のことである。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明に係るクロマトグラフ用信号処理装置では、決定手段は、分析に必要な上記分析条件の入力設定値、或いは、カラムオーブンの温度やカラム入口圧等の分析時にモニタを行なうものに関してはそのモニタ値に基づいて、カラムから溶出する成分のピークの急峻さ(つまり周波数)や高周波ノイズの周波数域を考慮して遮断周波数を決定し、該遮断周波数をフィルタに指示する。すなわち、例えば、キャピラリカラムではカラム内径が小さいほど分離段数が多くなり、各ピークは急峻になる。従って、遮断周波数を相対的に高くする。フィルタは、指示された遮断周波数をもって検出器の出力信号の低域成分のみを通過させ、試料成分によるピークに関係しない高周波域を遮断する。そして、処理手段は、この高周波域の不所望の成分が除去された信号を基にクロマトグラムを作成する。
【0012】
【発明の効果】
従って、本発明のクロマトグラフ用信号処理装置によれば、分析条件等に応じて最適な遮断周波数をもって検出器の出力信号がフィルタ処理されるので、試料成分により現われるピークの欠損や変形は小さく、一方、検出器等で発生する不所望の高周波ノイズは的確に除去される。その結果、良好なクロマトグラムが得られるので、該クロマトグラムに基づいて行なわれる定性及び定量分析の正確性が向上する。
【0013】
また、測定者自らが分析条件等を考慮してフィルタを切り替えたり信号処理条件を入力設定したりする等の手間が不要になるので、分析が効率的に行なえると共にこのような作業に関する熟練も必要なくなる。
【0014】
【実施例】
本発明に係るクロマトグラフ用信号処理装置の一実施例を図を参照して説明する。図1は、本実施例のガスクロマトグラフ装置の信号処理部を中心とする構成図である。本実施例では、高周波ノイズ除去のためのフィルタ処理はいわゆるディジタルフィルタにより実現される。
【0015】
カラム出口に設けられた検出器19の検出信号は増幅器20により増幅されて、信号処理部21のA/D変換部30によりディジタル信号に変換された後にフィルタ演算部31に与えられる。入力設定部22には後述のような各種の分析条件が測定者により入力設定され、遮断周波数決定部33はこれらの分析条件に基づいて適切な遮断周波数fcを決定して係数演算部32に与える。係数演算部32は、遮断周波数を指示されたfcとするように予め定められた構成のディジタルフィルタの係数を計算し、フィルタ演算部31に設定する。フィルタ演算部31は低域通過形ディジタルフィルタの構成を有し、ディジタル化された検出信号をフィルタ処理してクロマトグラム作成部34へ与える。
【0016】
フィルタ演算部31は例えば周知のFIRフィルタであって、図2に示す構成を有するものとすることができる。入力データxnはM個の遅延素子40によりサンプリング毎に順次シフトされ、各遅延素子40の出力データにはそれぞれ所定の係数h0〜hMが乗じられる。各乗算器41の出力は加算器42により加算され、出力データynが取り出される。このようなフィルタの基本構成として次数Mやサンプリング周波数は予め定められており、各係数h0〜hMの値を変えることにより伝達特性つまり周波数特性を変えることができる。このフィルタ演算部31による周波数特性は図3に示すようになる。つまり、遮断周波数fcにおいて、その信号レベルは低周波域の通過帯域の信号レベルから3〔dB〕減衰する。なお、このフィルタ演算部31はCPUを中心とするマイクロコンピュータに所定の制御プログラムを実行させることによりいわゆるソフトウエア的に実行することもできるし、所定段数のシフトレジスタ、係数メモリ、乗算器、加算器及びクロック発生回路等を用いてハードウエア的に構成することもできる。
【0017】
係数演算部32は遮断周波数fcが指示されると、所定の演算方法により上記係数h0〜hMを計算する。周波数特性から係数を計算するには、周知の幾つかの方法があり、例えば、フーリエ級数展開を利用する方法、窓関数(例えばブラックマン窓、ハミング窓等)を利用する方法、チェビシェフ近似を利用する方法等が知られている(参考文献:三谷正昭著「ディジタルフィルタデザイン」、昭晃堂)。いずれの方法を用いるかにより周波数特性のリップル等は相違するが、いずれにしても所定の周波数特性を与えるフィルタ係数を算出することができる。
【0018】
フィルタ演算部31の周波数特性は、図3に示すように、相対的に低い周波数成分を有するピークを通過させる一方、相対的に高い周波数成分を有するノイズを除去するような特性とする必要がある。そこで、遮断周波数決定部33は、例えば次のように遮断周波数を決定している。検出器19にて検出される各試料成分に対応するピーク形状は、様々な分析条件の影響を受ける。すなわち、以下のような各分析条件において試料成分のピークは急峻に(周波数が高く)なる。
(1)カラム内径dが小さい。
(2)カラム長Lが短い。
(3)カラムオーブンの温度Tが高い。
(4)カラム入口圧Pが高い。
(5)スプリット比rが大きい(カラムに導入される試料の割合が低い)。
(6)カラムがキャピラリカラムである場合、カラム内壁に塗布された固定相の厚さDが薄い。
(7)試料気化室に注入される試料溶液の量Sが少ない。
【0019】
このようにピークの周波数が高いときには遮断周波数fcを高くする必要がある。これらの分析条件は、通常、クロマトグラフ分析に先立って入力設定部22から測定者により入力設定される。そこで、例えば、上記のような各分析条件に対しそれぞれ所定の閾値を予め適当に定めておき、入力設定された分析条件を該閾値と比較することにより、次のようにして二つの遮断周波数のいずれか一方を選択する。すなわち、カラム内径d、カラム長L、カラムオーブン温度T、カラム入口圧P、スプリット比r、固定相の厚さD、試料注入量Sに対してそれぞれ定めた閾値d1、L1、T1、P1、r1、D1、S1に対し、d≧d1、L≧L1、T≦T1、P≦P1、r≦r1、D≧D1又はS≧S1である場合、fc=fc1とする。一方、d<d1、L<L1、T>T1、P>P1、r>r1、D<D1且つS<S1である場合、fc=fc2 する。ここでfc1<fc2である。なお、カラムにキャピラリカラム以外のものを使用する場合には固定相の厚さDは無視する。
【0020】
また、より精緻に遮断周波数を決定したいときには、例えば以下のように予め定めた計算式に基づいて遮断周波数fcを得るようにしてもよい。
fc=fc0・(k1/d2)・(k2/L)・(k3・T)・(k4・P)・(k5・r)・(k6/D)・(k7/S)
ここで、k1〜k7は所定の定数である。このような定数は予め実験等により求めて、遮断周波数決定部33に備えられたメモリに格納しておく。上記計算式によれば、上記各分析条件に応じて、ピークの周波数が高いときには遮断周波数fcが高く、逆にピークの周波数が低いときには遮断周波数fcが低くなる。
【0021】
また、上記分析条件以外にもカラムの種類、例えば充填カラム(パックドカラム)、中空管カラム(ワイドボアカラム)、キャピラリカラム等によって、また充填カラムの場合には充填材の種類等によってもピークの周波数が変動する。そこで、このようなカラムの種類等の条件も遮断周波数fcを決定する際に考慮することが好ましい。
【0022】
更に、上記分析条件はいずれもカラムを通過する各試料成分のピークの周波数に影響を与える要因であったが、それ以外に、検出器19の種類等、高周波ノイズの周波数帯域に影響を与える要因が存在する。そこで、使用する検出器19の種類(例えば、熱伝導度検出器、炎光光度検出器、エレクトロンキャプチャ検出器等)を入力設定し、これによって遮断周波数fcを変えるようにしてもよい。また、熱伝導度検出器を使用する場合には、メイクアップガスの有無やその流量によりピークの急峻さが変化するから、これらも考慮するようにしてもよい。
【0023】
また、上記実施例では、分析条件として測定者により入力設定される数値や選択を利用して遮断周波数を決定するようにしている。しかしながら、例えば、カラム入口圧P、カラムオーブン温度T等は、分析に際して、圧力センサ15やカラムオーブンに付設された温度センサによりモニタされる。そこで、上記のように入力設定された値を用いる代わりに、このようなモニタ値を利用することもできる。
【0024】
次に、本発明のクロマトグラフ用信号処理装置の他の実施例を図4により説明する。上記実施例ではディジタルフィルタを用いていたが、本実施例ではアナログフィルタを使用している。すなわち、増幅器20の出力段にアナログフィルタ50を設け、該フィルタ50の出力信号をA/D変換部30によりディジタル信号に変換してクロマトグラム作成部34に入力するようにしている。図4に記載のアナログフィルタ50は演算増幅器OPを用いた低域通過形フィルタであって、二個の値の相違するコンデンサC1、C2を有し、リレーRLにてコンデンサC1、C2を切り替えることにより遮断周波数fcが選択できるようになっている。勿論、アナログフィルタ50の構成はこれに限定されない。
【0025】
遮断周波数決定部33は上記実施例と同様に遮断周波数fcを決定し、リレー駆動部51はその遮断周波数fcに応じて所定のコンデンサC1、C2が選択されるようにリレーRLを駆動する。これにより、フィルタ50の周波数特性が切り替えられて、ピーク波形にあまり影響を与えずに高周波ノイズが効果的に除去される。
【0026】
なお、上記実施例は一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行なえることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のクロマトグラフ用信号処理装置の一実施例の構成図。
【図2】 図1のフィルタ演算部の構成の一例を示す図。
【図3】 図2のフィルタの周波数特性を示す図。
【図4】 本発明のクロマトグラフ用信号処理装置の他の実施例の構成図。
【図5】 ガスクロマトグラフ装置の一般的な構成図。
【図6】 クロマトグラムのピーク波形の一例を示す図。
【符号の説明】
18…カラム 19…検出器
21…信号処理部 22…入力設定部
30…A/D変換部 31…フィルタ演算部
32…係数演算部 33…遮断周波数決定部
34…クロマトグラム作成部 40…遅延素子
41…乗算器 42…加算器
50…アナログフィルタ 51…リレー駆動部[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a chromatographic signal processing apparatus. The chromatographic signal processing apparatus of the present invention can be used for all chromatographic apparatuses that separate and detect each component in a sample in time, such as a gas chromatograph apparatus and a liquid chromatograph apparatus.
[0002]
[Prior art]
FIG. 5 is a diagram showing a general configuration of a gas chromatograph apparatus. A carrier gas channel 12, a purge channel 14 and a
[0003]
When a carrier gas having a constant flow rate determined by the split ratio (ratio of the gas flow rate flowing through the
[0004]
There are various types of noise that affect the chromatogram during the chromatographic analysis, but there are inherent noises (such as thermal noise) generated in electronic circuits such as the
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
That is, since the frequency range of noise is higher than the frequency component of the peak waveform, only the high frequency range noise is removed using a low-pass filter. However, even when analyzing the same sample, the peak shape (that is, the frequency component of the peak) differs depending on chromatographic analysis conditions (for example, column inlet pressure, column dimensions, etc.). Needs to switch the cutoff frequency of the low-pass filter.
[0006]
Therefore, in the conventional gas chromatograph apparatus, the following two types of filter processing methods are used. One of them is that an analog filter whose time constant can be switched by a switch is provided between the
[0007]
However, the above-described filter switching operation and half-width setting must all be performed by the measurer through trial and error, which is not only time-consuming but also requires skill. Moreover, it is difficult for even an expert to set the filter cutoff frequency and half-value width optimally, and as shown in FIG. 6B, high frequency noise remains in the chromatogram and the S / N ratio deteriorates. On the contrary, as shown in FIG. 6 (c), the reading and tailing of the peak waveform spread, and there is a possibility that it becomes difficult to separate the adjacent peaks p1 and p2.
[0008]
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a chromatographic signal processing apparatus capable of obtaining a good chromatogram by performing appropriate filter processing. There is.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a sample at a column outlet, in which a sample is placed in a gas or liquid mobile phase and circulated through the column, and each component in the sample that is separated and eluted in time is provided. In a signal processing device for a chromatograph to be detected by a detector,
d) a variable cutoff frequency filter that cuts off the high frequency range of the detector output signal;
e) Column dimensions, column oven temperature, column inlet pressure, carrier gas viscosity coefficient, column type, detector type, split ratio, thickness of stationary phase applied to the inner wall of the column, introduced into the sample vaporization chamber Determining means for determining a cutoff frequency of the filter in accordance with at least one of the amount of the sample solution to be obtained;
f) processing means for creating a chromatogram based on the signal processed by the filter;
It is characterized by having.
[0010]
Here, the conditions for chromatographic analysis are conditions that can affect the shape (steepness) of the peak waveform of the sample component during the analysis, or can affect the frequency band of high-frequency noise. For example, in a gas chromatograph, column dimensions, column oven temperature, column inlet pressure, carrier gas viscosity coefficient, column type, detector type, and split ratio in the case of split analysis, etc. is there.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
In the chromatograph signal processing apparatus according to the present invention, the determining means monitors the input set values of the analysis conditions necessary for the analysis, or monitors what is monitored at the time of analysis such as column oven temperature and column inlet pressure. Based on the value, the cutoff frequency is determined in consideration of the steepness (that is, the frequency) of the peak of the component eluted from the column and the frequency range of the high frequency noise, and the cutoff frequency is indicated to the filter. That is, for example, in a capillary column, the smaller the column inner diameter, the greater the number of separation stages, and each peak becomes steeper. Therefore, the cut-off frequency is made relatively high. The filter passes only the low frequency component of the output signal of the detector with the indicated cutoff frequency, and cuts off the high frequency region not related to the peak due to the sample component. Then, the processing means creates a chromatogram based on the signal from which undesired components in the high frequency range are removed.
[0012]
【The invention's effect】
Therefore, according to the chromatographic signal processing apparatus of the present invention, the output signal of the detector is filtered with the optimum cutoff frequency according to the analysis conditions and the like, so that the loss or deformation of the peak that appears due to the sample component is small, On the other hand, undesired high frequency noise generated by a detector or the like is accurately removed. As a result, a good chromatogram is obtained, so that the accuracy of qualitative and quantitative analysis performed based on the chromatogram is improved.
[0013]
In addition, since the operator himself / herself does not need to switch filters or input and set signal processing conditions in consideration of analysis conditions, etc., analysis can be performed efficiently and skill in such work can be obtained. No longer needed.
[0014]
【Example】
An embodiment of a chromatographic signal processing apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram centering on a signal processing unit of the gas chromatograph apparatus of the present embodiment. In this embodiment, the filter processing for removing high frequency noise is realized by a so-called digital filter.
[0015]
The detection signal of the
[0016]
The
[0017]
When the cutoff frequency fc is instructed, the coefficient calculation unit 32 calculates the coefficients h0 to hM by a predetermined calculation method. There are several well-known methods for calculating a coefficient from frequency characteristics, for example, a method using Fourier series expansion, a method using a window function (eg, Blackman window, Hamming window, etc.), and a Chebyshev approximation. (Reference: “Digital Filter Design” written by Masaaki Mitani, Shosodo). Although the ripple or the like of the frequency characteristic differs depending on which method is used, in any case, a filter coefficient that gives a predetermined frequency characteristic can be calculated.
[0018]
As shown in FIG. 3, the frequency characteristic of the
(1) The column inner diameter d is small.
(2) The column length L is short.
(3) The temperature T of the column oven is high.
(4) The column inlet pressure P is high.
(5) The split ratio r is large (the ratio of the sample introduced into the column is low).
(6) When the column is a capillary column, the thickness D of the stationary phase applied to the inner wall of the column is thin.
(7) The amount S of the sample solution injected into the sample vaporizing chamber is small.
[0019]
Thus, when the peak frequency is high, it is necessary to increase the cutoff frequency fc. These analysis conditions are usually input and set by the measurer from the
[0020]
Further, when it is desired to determine the cut-off frequency more precisely, for example, the cut-off frequency fc may be obtained based on a predetermined calculation formula as follows.
fc = fc0 · (k1 / d 2) · (k2 / L) · (k3 · T) · (k4 · P) · (k5 · r) · (k6 / D) · (k7 / S)
Here, k1 to k7 are predetermined constants. Such a constant is obtained in advance by experiments or the like and stored in a memory provided in the cutoff
[0021]
In addition to the above analysis conditions, the peak may also be caused by the type of column, for example, a packed column (packed column), a hollow tube column (wide bore column), a capillary column, etc. The frequency of fluctuates. Therefore, it is preferable to consider such conditions as the type of column when determining the cutoff frequency fc.
[0022]
Furthermore, all the analysis conditions described above were factors that affect the peak frequency of each sample component passing through the column, but other factors that affect the frequency band of high-frequency noise such as the type of
[0023]
In the above-described embodiment, the cutoff frequency is determined using a numerical value or selection input and set by the measurer as the analysis condition. However, for example, the column inlet pressure P, the column oven temperature T, and the like are monitored by the
[0024]
Next, another embodiment of the chromatographic signal processing apparatus of the present invention will be described with reference to FIG. In the above embodiment, a digital filter is used, but in this embodiment, an analog filter is used. That is, an
[0025]
The cut-off
[0026]
The above-described embodiment is an example, and it is obvious that changes and modifications can be made as appropriate within the scope of the present invention.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of a chromatographic signal processing apparatus of the present invention.
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a configuration of a filter calculation unit in FIG. 1;
FIG. 3 is a diagram illustrating frequency characteristics of the filter of FIG. 2;
FIG. 4 is a configuration diagram of another embodiment of the chromatographic signal processing apparatus of the present invention.
FIG. 5 is a general configuration diagram of a gas chromatograph apparatus.
FIG. 6 is a diagram showing an example of a peak waveform of a chromatogram.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (1)
a)検出器の出力信号の高周波域を遮断する、遮断周波数可変のフィルタと、
b)カラム寸法、カラムオーブンの温度、カラム入口圧、キャリアガスの粘性係数、カラムの種類、検出器の種類、スプリット比、カラム内壁に塗布された固定相の厚さ、試料気化室内に導入される試料溶液の量の少なくとも1以上に応じて該フィルタの遮断周波数を決定する決定手段と、
c)前記フィルタにて処理された信号に基づいてクロマトグラムを作成する処理手段と、
を備えることを特徴とするクロマトグラフ用信号処理装置。A signal processing device for a chromatograph in which a sample is placed in a gas or liquid mobile phase and circulated in the column, and each component in the sample that is separated and eluted is detected by a detector provided at the column outlet. In
a) a variable cutoff frequency filter that cuts off the high frequency range of the detector output signal;
b) Column dimensions, column oven temperature, column inlet pressure, carrier gas viscosity coefficient, column type, detector type, split ratio, thickness of stationary phase applied to the inner wall of the column, introduced into the sample vaporization chamber Determining means for determining a cutoff frequency of the filter in accordance with at least one of the amount of the sample solution to be obtained;
c) processing means for creating a chromatogram based on the signal processed by the filter;
A signal processing apparatus for chromatograph, comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16188597A JP3780634B2 (en) | 1997-06-03 | 1997-06-03 | Chromatographic signal processor |
Applications Claiming Priority (1)
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JP16188597A JP3780634B2 (en) | 1997-06-03 | 1997-06-03 | Chromatographic signal processor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH10332662A JPH10332662A (en) | 1998-12-18 |
JP3780634B2 true JP3780634B2 (en) | 2006-05-31 |
Family
ID=15743848
Family Applications (1)
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