JP3754575B2 - 形状解析装置及び方法 - Google Patents
形状解析装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3754575B2 JP3754575B2 JP14223899A JP14223899A JP3754575B2 JP 3754575 B2 JP3754575 B2 JP 3754575B2 JP 14223899 A JP14223899 A JP 14223899A JP 14223899 A JP14223899 A JP 14223899A JP 3754575 B2 JP3754575 B2 JP 3754575B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- geometric
- geometric element
- elements
- shape analysis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は形状解析装置及び方法に関し、特に円や直線などの幾何要素が複数種類集まって構成される図形のデータから元の形状を推定する装置及び方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、2次元あるいは3次元の形状データを入力して解析し、元の形状を推定する技術が知られており、解析結果をCADデータとしてリバースエンジニアリングに利用するなど幅広い用途が期待されている。
【0003】
特開平6−50749号公報には、予め直線、円、楕円、球、平面、円筒、円錐などの幾何形状を表す数式を保持し、測定子から得られたデータとこれら幾何形状とを比較して最も誤差の小さい幾何形状を入力データの形状と認識する技術が開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来技術は、基本的に被測定物に測定子を接触させて被測定物の形状を測定するもので、測定子の測定方向に依存して形状が決定されるため、任意の入力データに対応できない問題がある。
【0005】
また、直線、円、楕円、球、平面、円筒、円錐などの幾何形状の内、最も誤差の小さい形状を入力データの形状であると認識しているので、仮に被測定物が円や直線などの幾何要素が複数種類集まって構成されている場合でも、円あるいは直線のいずれの方が誤差が小さいかを判定して認識してしまうので、結果として被測定物の形状を誤認識してしまうおそれがある(本来は直線と円を組み合わせた形状であっても、単一の楕円あるいは単一の円と認識してしまう)。
【0006】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、円と直線の組み合わせなど、複数種類の幾何要素から構成される図形データを入力し、元の図形を高精度に推定できる形状解析装置及び方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、図形データの形状を解析する形状解析装置であって、入力されたデータを構成する複数データに対し、複数の幾何要素をあてはめて各々の誤差を算出する第1演算手段と、所定の許容誤差範囲内で、前記幾何要素をあてはめることのできる最大データ数を算出する第2演算手段と、前記幾何要素毎に算出された最大データ数の中で最も多いデータ数に相当する幾何要素を前記複数データの形状と決定する決定手段と、前記決定手段で決定された幾何要素のうちの隣接する第1幾何要素と第2幾何要素が互いに異なる幾何要素である場合に、前記第1幾何要素を延長した線と前記第2幾何要素を延長した線の交点と前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点との距離を算出し、前記距離が所定値未満であれば前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点を前記交点で置換し、前記距離が所定値以上であれば前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点同士を接続線で接続する手段とを有することを特徴とする。
【0008】
最大データ数の多い方の幾何要素は、より多いデータにあてはめることができたことを意味するから、この幾何要素をそのデータの形状と決定することで高精度に形状解析することができる。
【0009】
ここで、前記複数の幾何要素は、少なくとも直線と円を含むのが好適であるが、他の2次元形状(楕円や放物線)を用いることもできる。もちろん、幾何要素は2次元に限定されず、3次元(例えば平面、球、円錐その他)を用いることもできる。
【0010】
前記複数データの数は3以上であることが好適である。また、前記所定の許容誤差を前記幾何要素毎に異なる値に設定することができる。これにより、特定の幾何要素を優先的にあてはめて所望の解析結果が得られる。
【0011】
また、本発明では前記入力データを予め平滑化する平滑化手段を有することもできる。これにより、滑らかな解析結果を得ることができる。
【0012】
また、本発明では、図形データの形状を解析する形状解析方法を提供する。この方法は、(a)入力データを構成する複数データに対し、複数の幾何要素を順次あてはめて各々の誤差を算出するステップと、(b)所定の許容誤差範囲内で、前記幾何要素をあてはめることのできる最大データ数を順次算出するステップと、(c)前記幾何要素毎に算出された最大データ数の中で最も多いデータ数に相当する幾何要素を前記複数データの形状と決定するステップと、(d)前記(c)ステップで決定された幾何要素のうちの隣接する第1幾何要素と第2幾何要素が互いに異なる幾何要素である場合に、前記第1幾何要素を延長した線と前記第2幾何要素を延長した線の交点と前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点との距離を算出し、前記距離が所定値未満であれば前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点を前記交点で置換し、前記距離が所定値以上であれば前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点同士を接続線で接続するステップとを有することを特徴とする。
【0013】
前記複数の幾何要素は、少なくとも直線と円を含むことが好適であるが、他の2次元あるいは三次元の幾何要素を用いることもできる。前記(a)〜(c)のステップを繰り返すことにより、前記入力データの全てを前記複数の幾何要素で近似することができる。
【0014】
前記複数のデータは少なくとも3個以上であることが好適であり、前記所定の許容誤差は、前記幾何要素毎に異なる値に設定することができる。
【0015】
また、前記(a)ステップの前に、前記入力データを平滑化するステップをさらに有することもできる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【0017】
図1には、本実施形態の構成ブロック図が示されている。本実施形態の形状解析装置は、通常のコンピュータシステムを用いて構成することができる。
【0018】
データ入力端子1は、三次元測定機や非接触の画像測定機で得られたサンプルの測定データを入力する端子であり、測定データは例えば2次元データ群(xi、yi)(i=1、2、3、・・であり、サンプルの幾何形状が2次元の場合である)としてコンピュータ16に供給される。なお、本実施形態で解析すべきサンプルは、長方形のみや円のみ、あるいは楕円のみのような単一の図形要素ではなく、複数の図形要素(直線と円、曲率半径の異なる複数の円、直線と複数の円など)が連続した複雑な幾何図形であり、データ群(xi、yi)には複数の図形要素が含まれているとする。また、データを得るための測定機は上記の他に任意の機器を用いることができる。もちろん、サンプルは2次元に限定されるものではなく、関数で表現できるn次元(n≧2)形状を対象とすることができる。
【0019】
入力装置10は、キーボードやマウスなどで構成され、ユーザは入力データ群を直線と円で近似するために必要なパラメータを設定することができる。パラメータとしては、処理対象のデータ群を直線で近似する場合の線の許容誤差値、円で近似する場合の円の許容誤差値、近似の誤差を評価するための許容誤差δその他がある。
【0020】
表示装置12は、CRTや液晶で構成され、入力データ群を円及び直線で近似することで解析した結果を表示する。
【0021】
出力装置14は、プリンタやプロッタで構成され、表示装置12に表示された解析結果を出力する。
【0022】
コンピュータ16は、入力端子1からのデータ群を入力するとともに表示装置12や出力装置14に解析データを出力するI/F、CPU、解析結果や解析プログラムを記憶するメモリで構成される。CPUは、メモリに記憶された解析プログラムを読み込んで順次実行することにより、入力データ群を円と直線で近似し、得られた結果をI/Fを介して出力する。
【0023】
以下、CPUで実行される入力データの解析処理について詳細に説明する。
【0024】
図2には、CPUの全体処理フローチャートが示されている。まず、測定データを入力する(S101)。次に、ユーザが入力装置10からパラメータを入力する(S102)。パラメータには、入力データに応じて常に変更する必要がある主パラメータと、通常はデフォルト値でよいがより詳細な解析を行いたい場合に変更する副パラメータがある。主パラメータは、上述した許容誤差値δ、線の許容誤差値δLIN、円の許容誤差値δCIRであり、副パラメータは初期あてはめ点数や探索回数、交点処理の有無、最大離れ距離である。初期あてはめ点数とは、入力データ群から最初に抽出して処理対象とするデータ数であり、装置側で自動的に設定する他、ユーザが手動で設定(例えば5個)することができる。探索回数とは、要素の範囲を順次拡大して同一要素であるか否かの計算を行う回数の上限値であり、交点処理とは、全要素の計算終了後に各要素の交点計算を行って要素同士を接続する処理をいい、最大離れ距離とは、交点処理時に交点の有無を確認する最大距離をいう。
【0025】
パラメータを入力した後、これらのパラメータを用いて入力データ群を円及び直線で近似する自動近似を実行し(S103)、得られた結果要素を表示装置12や出力装置14に出力する(S104)。なお、結果要素とは、具体的には得られた要素情報(円か直線か)及びその要素数である。
【0026】
図3には、図2における円・直線の自動近似実行処理(S103)の詳細フローチャートが示されている。まず、CPUは入力されたパラメータ(主パラメータ)のチェックを行う(S201)。例えば、線の許容誤差値δLINや円の許容誤差値δCIRが正であるか否かを判定する、許容誤差値δが正であるか否かを判定するなどである。入力パラメータに異常がないと判定された場合には、次に入力データ群の全要素の計算を実行する(S202)。そして、全要素について円または直線で近似した後、交点処理を実行するか否かを判定する(S203)。ユーザが交点処理の実行を希望する場合には、所定の交点処理を行う(S204)。交点処理とは、異なる幾何要素(円要素と直線要素、あるいは曲率の異なる円要素同士)が隣接する場合に各幾何要素の端点同士を接続するための処理である。例えば要素1、2が隣接して存在する場合、要素1を延長した線と要素2を延長した線の交点を求め、要素1、2の端点をこの交点で置き換える、あるいは交点までの距離が所定値以上大きい場合には要素の端点同士を接続線で接続する。交点処理により要素の端点同士を接続することで、サンプルのより望ましい解析結果を得ることができる。
【0027】
図4には、図3における全要素の計算実行処理(S202)の詳細フローチャートが示されている。まず、CPUはあてはめ点数が自動に設定されているか、あるいは手動に設定されているかを判定する(S301)。あてはめ点数が自動に設定されている場合には、初期あてはめ点数を1だけインクリメントして(S302)、要素の計算を行う(S303)。なお、初期あてはめ値のデフォルト値は、例えば2とすることができ、この場合第1回目は初期あてはめ数を3として計算を行うことになる。また、要素の計算処理では、入力データ群から初期あてはめ数に相当するデータを抽出し、抽出データに対して円で近似するか直線で近似するかを判定する。
【0028】
要素の計算処理を実行した後、NG要素が最小の計算結果をメモリに保持する(S304)。ここで、NG要素とは、円でも直線でも近似できない要素をいう。直線を決定する場合には最低2点、円を決定する場合には最低3点のデータが必要であることから、直線か円かを判別するためには最低3点のデータが必要となる。このため、1要素中のデータに許容誤差を超えてしまうデータが存在し、結果として1要素中の許容誤差以内のデータ数が3点に満たないもの(例えば、初期あてはめ点数のデータの先頭から順次、許容誤差内か否かのチェックを行い、最初の3点以前で許容誤差を超えた場合など)はNG要素に判別される。なお、最小の計算結果を保持するとは、具体的にはまず第1回目の計算を行ってそのNG要素及び結果要素をメモリに保持し、第2回目の計算を行ってそのNG要素の数をメモリに保持されたNG要素の数と比較し、第2回目のNG要素の数の方が小さい場合にはメモリの保持内容を入れ替え、以下同様の入れ替えを行うことを意味する。
【0029】
NG要素が最小の計算結果をメモリに保持した後、あてはめ点数が所定の制限値に達したか否かを判定し(S305)、制限値に達していない場合にはS302以降の処理を繰り返す。これにより、例えばあてはめ点数が3から所定の制限値(例えば10)に至るなかで、NG要素の数が最小となるあてはめ点数及びそのときの結果要素が得られることになる。
【0030】
一方、あてはめ点数が手動でユーザが設定する場合には、あてはめ点数を設定された個数に固定し(例えば、5個)、S303と同様の要素計算を行う(S306)。得られたNG要素や結果要素はメモリに保持する。
【0031】
図5には、図4における要素計算処理(S303、S306)の詳細フローチャートが示されている。まず、CPUは1要素分、つまりあてはめ点数分のデータを円あるいは直線で近似する(S401)。具体的には、円で近似できる場合には中心座標と半径のパラメータ、直線で近似できる場合には法線ベクトルと原点までの距離のパラメータを算出する。
【0032】
近似パラメータ(以下では、適宜「あてはめパラメータ」と称する)が算出された後、このパラメータを結果要素のパラメータに変換する(S402)。結果要素のパラメータとは、具体的には要素の種類を表すパラメータと要素の始点、終点を表すパラメータである。変換して得られたパラメータはメモリに格納する(S403)。以上の処理を、残りの入力データに対して順次行い、入力データに関する全要素を計算する(S404)。
【0033】
図6には、図5における1要素分の計算処理(S401)の詳細フローチャートが示されている。CPUは、まず初期データ範囲を計算する(S501)。これは、上述したように要素が円であるか直線であるかを判別するためには3点以上が必要であるため、入力データ数(xi、yi)が3以上あるか否かを確認するためにカウントする処理である。そして、入力データ数が3以上であることを確認すると(S502)、1要素分の計算に用いるデータを確保する(S503)。入力データ群が閉輪郭(閉曲線)である場合には、入力データの終点を含むデータの確保時には始点のデータも含めて1要素分のデータとする。入力データ群が開輪郭(開曲線)である場合には、始点から初めて終点で終わるようにデータを確保する。確保するデータ数は、要素計算の1回目は初期あてはめ点数と同一であるが、2回目以降は誤差チェック結果によって有効と判定された範囲のデータ数となる。なお、要素のデータ数が3に満たない場合には、NGとする(S508)。
【0034】
1要素分のデータを確保した後、要素の延長処理に移行する(S504)。この処理では、1要素分のデータに対して円と直線の要素パラメータを両方算出し、算出されたパラメータに対して誤差チェックを行う。そして、誤差が許容範囲を超えるまで要素分のデータを順次延長していき、円の最大データ数と直線の最大データ数とを比較する。そして、要素に対応するデータ数が多い方をそのデータの要素(円あるいは直線)として確定する。なお、この処理については後に詳述する。
【0035】
要素を延長した後、上述したあてはめパラメータを計算する。あてはめパラメータは、線要素の場合には
【数1】
nxx+nyy+c=0 ・・・(1)
における法線ベクトル(nx、ny)と原点までの距離cであり、円要素の場合には
【数2】
{(x−a)2+(y−b)2}0.5−r=0 ・・・(2)
における中心(a、b)と半径rである。このとき、残差二乗和も併せて算出する。
【0036】
そして、あてはめパラメータを計算した後、パラメータチェック処理を行う(S505)。パラメータチェックについても後述する。以上の処理を1要素分のデータを含む入力データについて繰り返し実行し(S506)、得られた要素情報、すなわち要素のあてはめパラメータをメモリに保持する(S507)。
【0037】
図7には、図6における要素の延長処理の詳細フローチャートが示されている。まず、1要素分のデータについて線のパラメータ計算を行う(S601)。すなわち、対象となるm個のデータに対して
【数3】
a0x+a1y+a2=0 ・・・(3)
という評価関数を用いて直線のあてはめを行い、パラメータa0、a1、a2を算出する。そして、得られた直線の結果が、m個の測定データに対する許容誤差値δLINの範囲内であるか否かをチェックする(S602)。誤差範囲内であれば、m個以上の測定データに対して順次(1ずつ増やして)同様の直線あてはめ、パラメータ計算、誤差チェックを行い、許容範囲を超えない最大データ数を算出する。
【0038】
同様に、同一のm個のデータに対して円のパラメータ計算を行う(S603)。すなわち、対象となるm個のデータに対して
【数4】
(x−a0)2+(y−a1)2−a22=0 ・・・(4)
という評価関数を用いて円のあてはめを行い、パラメータa0、a1、a2を算出する。そして、得られた円の結果が、m個の測定データに対する許容誤差値δCIRの範囲内であるか否かをチェックする(S604)。許容範囲内であれば、m個以上の測定データに対して順次(1ずつ増やして)同様の円あてはめ、パラメータ計算、誤差チェックを行い、許容範囲を超えない最大データ数を算出する。
【0039】
そして、円と直線の計算が共に正常に終了した場合には、直線のデータ数と円のデータ数とを比較し(S606)、直線のデータ数の方が多い場合にはその要素を直線とみなして要素(線)とデータ位置を確定する(S607)。一方、円のデータ数の方が多い場合にはその要素を円とみなして要素(円)とデータ位置を確定する(S608)。なお、両者のデータ数が等しい場合には、いずれと確定しても良いが、本実施形態では円と確定している。
【0040】
一方、円と直線の計算が正常に終了できなかった場合には、その要素を正常に終了した方の要素とみなして確定する(S609、S610)。
図8には、図6におけるS505のパラメータチェック処理の詳細フローチャートが示されている。まず、CPUはデータ数が減少したか否かを判定する(S701)。1要素分のデータでNGが生じるとデータ数が減少することになるからYESと判定され、次に第1回目の計算であるかを判定する(S702)。第1回目の計算である場合には、前回の結果が未だメモリに保持されておらず、この結果を利用することができないので、新たなデータを確保し(S703)、確保したデータ数が3より小さいか否かを確認する(S704)。データ数が3以上存在する場合にはパラメータ計算処理を実行してあてはめパラメータを得る(S708)。得られたあてはめパラメータをメモリに保持し(S706)、終了フラグをセットする(S707)。
【0041】
一方、確保したデータ数が3に満たない場合には、その要素をNGと判定し(S705)、メモリに保持する(S706)。
【0042】
また、S702にてNO、すなわちデータ数が減少したのが2回目以降の計算であった場合には、終了フラグをセットして(S707)、メモリに保持されている前回の結果、すなわち許容誤差範囲内にあるデータ群のあてはめパラメータを取り出して1要素として確定する。そして、その要素の終点の次のデータ(許容範囲外と判定されたデータのこと)から新たな要素分のデータを新規に確保し、1要素分の計算を繰り返す。なお、データ数が減少しなかった場合には、その結果を保持しておき(S709)、次の計算に移行する。
【0043】
このように、本実施形態では、1要素分のデータを確保してそのデータに対して直線と円をともにあてはめ、一定の誤差範囲内という条件のもとで近傍のデータがどこまで延長できるかを探索し、直線をあてはめた場合の延長結果の総データ数と、円をあてはめた場合の延長結果の総データ数とを比較し、総データ数の多い方の形状、すなわちより広い範囲であてはめることができた形状をその要素の形状と特定していく。従って、異なる要素が連続して存在する幾何図形でも、迅速かつ確実に直線または円で近似、すなわち解析することができる。
【0044】
なお、本実施形態では、1要素内のデータ数が3個に満たない場合にはNGと判定しているが、このような判定を無くすことも可能である。この場合、2点のデータは全て直線で近似されることになるため、解析結果は滑らかなものではなくなる可能性がある。しかしながら、CPUが線要素の数を順次カウントし、所定数以上となった場合には解析の途中であっても設定されている許容誤差が適当ではないとして許容誤差を増大させて再度解析し直すことで、所望の、つまり滑らかな解析結果を得ることができる。
【0045】
また、本実施形態では、入力データをそのまま解析しているが、入力データに対して前処理を施してある程度平滑化し、平滑化されたデータを解析の対象とすることも好適である。
【0046】
このような前処理としては、入力データを所定の次数(例えば1次の項まで)の自由曲線で近似する処理を用いることができる。入力データを自由曲線で近似し、得られた自由曲線をさらに点列に分離し、分離した各点を新たな入力データとみなして上述した処理を実行すればよい。
【0047】
また、本実施形態では、円と直線で元の形状を解析したが、必要に応じて円と直線以外の幾何要素、例えば楕円などを追加して解析することも可能である。この場合、1要素分のデータに対して直線あてはめ、円あてはめ、楕円あてはめを順次実行し、最もデータ数の多い形状をその要素の形状と確定すればよい。幾何要素として、平面や球、円錐などの3次元形状を用いた場合も同様である。
【0048】
また、本実施形態において、直線の許容誤差値δLINと円の許容誤差値δCIRは同一ではなく異なる値とすることができる。これにより、最終的に得られる結果の直線、円の要素数を調整することが可能となる。例えば、直線の許容誤差値δLINを円の許容誤差値δCIRより緩和すると、最終結果には直線が多く含まれるようになる。
【0049】
さらに、本願出願人は、先に特願平10−141338号にて、1要素分のデータを確保してその要素が直線か円かを曲率半径に基づいて判定し、許容誤差範囲内に収まる全てのデータを近似した直線または円の一部とみなし、許容誤差範囲外のデータは他の要素であると判定して全ての入力データを直線または円で近似していく形状解析方法を提案したが、本実施形態の形状解析手法を先提案の方法と組み合わせ、両方法を適宜切り替えるように構成することも可能である。例えば、測定データ中に曲率半径の異なる、円らしきデータが複数存在する場合には、複数の幾何要素を順次あてはめて最も妥当な形状を採用する本実施形態の方法に切り替えて解析を行うことが有効であろう。
【0050】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の形状解析装置及び方法によれば、円と直線の組み合わせなど、複数種類の幾何要素から構成される図形データを入力して元の図形を高精度に推定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態の構成ブロック図である。
【図2】 本発明の実施形態の全体処理フローチャートである。
【図3】 図2における自動近似処理の詳細フローチャートである。
【図4】 図3における全要素の計算実行処理の詳細フローチャートである。
【図5】 図4における要素の計算処理の詳細フローチャートである。
【図6】 図5における1要素分の計算処理の詳細フローチャートである。
【図7】 図6における要素の延長処理の詳細フローチャートである。
【図8】 図6におけるパラメータチェック処理の詳細フローチャートである。
【符号の説明】
1 入力端子、10 入力装置、12 表示装置、14 出力装置、16 コンピュータ。
Claims (11)
- 図形データの形状を解析する形状解析装置であって、
入力されたデータを構成する複数データに対し、複数の幾何要素をあてはめて各々の誤差を算出する第1演算手段と、
所定の許容誤差範囲内で、前記幾何要素をあてはめることのできる最大データ数を算出する第2演算手段と、
前記幾何要素毎に算出された最大データ数の中で最も多いデータ数に相当する幾何要素を前記複数データの形状と決定する決定手段と、
前記決定手段で決定された幾何要素のうちの隣接する第1幾何要素と第2幾何要素が互いに異なる幾何要素である場合に、前記第1幾何要素を延長した線と前記第2幾何要素を延長した線の交点と前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点との距離を算出し、前記距離が所定値未満であれば前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点を前記交点で置換し、前記距離が所定値以上であれば前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点同士を接続線で接続する手段と、
を有することを特徴とする形状解析装置。 - 前記複数の幾何要素は、少なくとも直線と円を含むことを特徴とする請求項1記載の形状解析装置。
- 前記複数データの数は3以上であることを特徴とする請求項1、2のいずれかに記載の形状解析装置。
- 前記所定の許容誤差は、前記幾何要素毎に異なる値に設定されることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の形状解析装置。
- 前記入力データを予め平滑化する平滑化手段をさらに有することを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の形状解析装置。
- 図形データの形状を解析する形状解析方法であって、
(a)入力データを構成する複数データに対し、複数の幾何要素を順次あてはめて各々の誤差を算出するステップと、
(b)所定の許容誤差範囲内で、前記幾何要素をあてはめることのできる最大データ数を順次算出するステップと、
(c)前記幾何要素毎に算出された最大データ数の中で最も多いデータ数に相当する幾何要素を前記複数データの形状と決定するステップと、
(d)前記(c)ステップで決定された幾何要素のうちの隣接する第1幾何要素と第2幾何要素が互いに異なる幾何要素である場合に、前記第1幾何要素を延長した線と前記第2幾何要素を延長した線の交点と前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点との距離を算出し、前記距離が所定値未満であれば前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点を前記交点で置換し、前記距離が所定値以上であれば前記第1幾何要素及び前記第2幾何要素の端点同士を接続線で接続するステップと、
を有することを特徴とする形状解析方法。 - 前記複数の幾何要素は、少なくとも直線と円を含むことを特徴とする請求項6記載の形状解析方法。
- 前記(a)〜(c)のステップを繰り返すことにより、前記入力データの全てを前記複数の幾何要素で近似することを特徴とする請求項6、7のいずれかに記載の形状解析方法。
- 前記複数のデータは少なくとも3個以上であることを特徴とする請求項6〜8のいずれかに記載の形状解析方法。
- 前記所定の許容誤差は、前記幾何要素毎に異なる値に設定されることを特徴とする請求項6〜9のいずれかに記載の形状解析方法。
- 前記(a)ステップの前に、前記入力データを平滑化するステップをさらに有することを特徴とする請求項6〜10のいずれかに記載の形状解析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14223899A JP3754575B2 (ja) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 形状解析装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14223899A JP3754575B2 (ja) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 形状解析装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000331171A JP2000331171A (ja) | 2000-11-30 |
JP3754575B2 true JP3754575B2 (ja) | 2006-03-15 |
Family
ID=15310655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14223899A Expired - Fee Related JP3754575B2 (ja) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 形状解析装置及び方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3754575B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3821739B2 (ja) | 2002-03-22 | 2006-09-13 | 株式会社ミツトヨ | 測定データ整形方法 |
US6895359B2 (en) * | 2002-11-25 | 2005-05-17 | Mitutoyo Corporation | Workpiece coordinate system origin setting method, workpiece coordinate system origin setting program and workpiece coordinate system origin setting device of a surface property measuring machine |
JP4163545B2 (ja) | 2003-04-11 | 2008-10-08 | 株式会社ミツトヨ | 真円度測定機用基準治具 |
US8508588B2 (en) * | 2010-05-19 | 2013-08-13 | General Electric Company | Methods and systems for identifying well wall boundaries of microplates |
-
1999
- 1999-05-21 JP JP14223899A patent/JP3754575B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000331171A (ja) | 2000-11-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
OuYang et al. | On the normal vector estimation for point cloud data from smooth surfaces | |
US6683985B1 (en) | Method of discriminating shape of free-form curved surface | |
EP2589026B1 (en) | Method and apparatus for detecting repetitive structures in 3d mesh models | |
CN107610110B (zh) | 一种全局和局部特征相结合的跨尺度图像质量评价方法 | |
US20090136114A1 (en) | Multi-modality inspection method with data validation and data fusion | |
CN113361143B (zh) | 一种凹陷管道应变解析计算及评价方法和装置 | |
CN114081471B (zh) | 一种基于三维图像与多层感知的脊柱侧弯cobb角测量方法 | |
US5734751A (en) | Ellipse-like curve recognition by calculation of distances of points on the curve from FOCI | |
US8249392B2 (en) | Method for aligning point clouds | |
JP3754575B2 (ja) | 形状解析装置及び方法 | |
US6711530B1 (en) | Method for evaluating error in shape of free curved surface | |
EP1846833A1 (en) | Apparatus and method for determining intersections | |
CN107194994A (zh) | 一种无标定曲面点云数据重建圆柱面的方法及装置 | |
US6965688B2 (en) | Three-dimensional model analyzing apparatus detecting and smoothing edges before analytic operation | |
JPH11339052A (ja) | 形状解析装置及び方法 | |
Chung et al. | A simple recursive tessellator for adaptive surface triangulation | |
CN115205251A (zh) | 一种光学遥感影像几何质量可用性评价方法 | |
CN115272594A (zh) | 一种基于geotools的等值面生成方法 | |
CN113837995A (zh) | 一种人体肢体围度测量方法、装置、智能终端及存储介质 | |
JP4097164B2 (ja) | 立体形状記述方法 | |
JPH08235368A (ja) | ベジェ曲線と2次元図形との交点算出方法及びこれを実現する図形処理装置 | |
CN109885981A (zh) | 一种基于结构安全系数的疲劳分析方法 | |
JP2002277236A (ja) | 公差判定方法 | |
CN111862322B (zh) | 一种拱轴线提取方法及装置 | |
Barone et al. | Grid pattern for in-plane strain measurements by digital image processing |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050808 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050913 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051109 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20051109 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20051213 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20051216 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3754575 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111222 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141222 Year of fee payment: 9 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |