JP3732074B2 - Deposition equipment - Google Patents

Deposition equipment Download PDF

Info

Publication number
JP3732074B2
JP3732074B2 JP2000210189A JP2000210189A JP3732074B2 JP 3732074 B2 JP3732074 B2 JP 3732074B2 JP 2000210189 A JP2000210189 A JP 2000210189A JP 2000210189 A JP2000210189 A JP 2000210189A JP 3732074 B2 JP3732074 B2 JP 3732074B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hearth
film forming
guide member
film
plasma beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000210189A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2002030422A (en
Inventor
了治 筑後
俊之 酒見
逸史 飯尾
陽 三好
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP2000210189A priority Critical patent/JP3732074B2/en
Publication of JP2002030422A publication Critical patent/JP2002030422A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3732074B2 publication Critical patent/JP3732074B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術の分野】
本発明は、プラズマビームを用いて基板上に透明導電膜等を形成するための成膜装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
プラズマビームを用いる成膜装置として、例えば特開平9−194232号公報に開示のイオンプレーティング装置がある。このイオンプレーティング装置では、圧力勾配型のプラズマガンからのプラズマビームをハースに導き、ハースに設けた中空コーン状のガイド部材に通したインジウム及び錫の酸化物(ITO)からなる材料タブレットの上端を昇華させつつこれを徐々に押し上げる。材料タブレット上端から出射した蒸発物質は、プラズマビーム中でイオン化され、イオン化した材料粒子がハースと対向して搬送される基板の表面に付着し、ここにITO膜が形成される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記のような成膜装置では、ハースとして、通常は導電性及び熱伝導率の高い銅を用いるが、銅は比較的低温でもインジウムと反応しやすい性質を有するため、材料タブレットがハースのガイド部材の内面に固着して材料タブレットを押し上げることが困難になる場合がある。
【0004】
一方、ガイド部材が過度に冷却されると、材料タブレットの中央と周辺との間で温度差が生じることになり、材料タブレット中央部のみが深く掘れて安定な成膜が困難になる場合がある。
【0005】
さらに、プラズマビームがガイド部材に対して偏って若しくは集中して入射する場合があり、このような場合、材料タブレットが偏心して窪む片掘れが生じ、安定な成膜に支障が生じる場合がある。
【0006】
そこで、本発明は、材料タブレットとガイド部材の固着を防止し、また材料タブレットが不均一に掘れることを防止して、安定した成膜を可能にする成膜装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明の成膜装置は、プラズマビームを成膜室中に供給するプラズマ源と、成膜室中に配置されプラズマビームを導くハースと、ハースに材料蒸発源として膜材料を連続的に供給する材料供給装置とを備える成膜装置であって、ハースが、上部に膜材料を通す貫通孔を有する環状のガイド部材を備え、このガイド部材が、外側の本体層と、この本体層よりも膜材料に対して相対的に反応しにくい材料で形成された内側層とを有する。
【0008】
この場合、ガイド部材が、外側の本体層と、この本体層よりも膜材料に対して相対的に反応しにくい材料で形成された内側層とを有するので、成膜中に膜材料がガイド部材の内側に付着することを防止しつつ、ガイド部材全体としての冷却能力や導電性等を維持することができる。
【0009】
また、本発明の別の成膜装置は、プラズマビームを成膜室中に供給するプラズマ源と、成膜室中に配置されプラズマビームを導くハースと、ハースに材料蒸発源として膜材料を連続的に供給する材料供給装置とを備える成膜装置であって、ハースが、上部に膜材料を通す貫通孔を有する環状のガイド部材を備え、このガイド部材が、外側の本体層と、この本体層よりも相対的に熱伝導率の低い材料で形成された内側層とを有する。
【0010】
この場合、内側層が本体層よりも相対的に熱伝導率の低い材料で形成されているので、膜材料からガイド部材への放熱を比較的緩やかなものとして膜材料の温度を比較的均一な温度に維持することができる。よって、例えば棒状の膜材料が比較的均等な深さで掘れるようになり、均一で安定しかつ迅速な成膜が可能になる。
【0011】
上記装置の好ましい態様では、前記内側層が、前記本体層よりも相対的に耐熱温度の高い材料で形成されている。
【0012】
この場合、前記内側層が前記本体層よりも相対的に耐熱温度の高い材料で形成されているので、膜材料の温度が比較的高くなっても、ガイド部材が破損したり、膜材料とガイド部材とが反応することを防止できる。
【0013】
また、上記装置の好ましい態様では、本体層が銅からなり、内側層がステンレス鋼からなる。
【0014】
この場合、膜材料がガイド部材の内側に付着することを効果的に防止することができ、膜材料中の温度分布の均一化が容易となる。また、内側層が磁性体であるステンレス鋼で形成されることになるので、ガイド部材の先端近傍で磁力線が膜材料を取り巻く磁性体に引き寄せられ、ガイド部材の先端の直上方でプラズマビームを比較的均一に広げることになる。この結果、膜材料の上面が比較的均一に加熱され、膜材料が均一に消費され、安定した成膜が可能になる。
【0015】
また、本発明のさらに別の成膜装置は、プラズマビームを成膜室中に供給するプラズマ源と、成膜室中に配置されプラズマビームを導くハースと、ハースに材料蒸発源として膜材料を連続的に供給する材料供給装置とを備える成膜装置であって、ハースが、上部に膜材料を通す貫通孔を有する環状のガイド部材と、このガイド部材の上部外周に設けた磁性材料からなる磁性部材とを備える。
【0016】
この場合、磁性材料からなる磁性部材をガイド部材の上部外周に設けているので、ガイド部材の先端近傍で磁力線がガイド部材を取り巻く磁性部材に引き寄せられ、ガイド部材の先端の直上方でプラズマビームを比較的均一に広げることになる。この結果、膜材料の上面が比較的均一に加熱され、膜材料の上部が均一に消耗し、安定した成膜が可能になる。
【0017】
また、上記装置の好ましい態様では、ハースの周囲に環状に配置された磁石、又は磁石及びコイルからなりハースの近接した上方の磁界を制御する磁場制御部材をさらに備え、プラズマ源は、アーク放電を利用した圧力勾配型のプラズマガンである。
【0018】
この場合、磁場制御部材によってハースに入射するプラズマビームをカスプ状磁場で修正してより均一な厚みの膜を形成することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
〔第1実施形態〕
図1は、第1実施形態の成膜装置の全体構造を概略的に説明する図である。この成膜装置は、成膜室である真空容器10と、真空容器10中にプラズマビームPBを供給するプラズマ源であるプラズマガン30と、真空容器10内の底部に配置されてプラズマビームPBが入射する陽極部材50と、成膜の対象である液晶ガラス板等の基板を保持する基板保持部材WHを陽極部材50の上方で適宜移動させる搬送機構60とを備える。
【0020】
プラズマガン30は、特開平9−194232号公報等に開示の圧力勾配型のプラズマガンであり、その本体部分は、真空容器10の側壁に設けられた筒状部12に装着されている。この本体部分は、陰極31によって一端が閉塞されたガラス管32からなる。ガラス管32内には、モリブデンMoで形成された円筒33が陰極31に固定されて同心に配置されており、この円筒33内には、LaB6で形成された円盤34とタンタルTaで形成されたパイプ35とが内蔵されている。ガラス管32の両端部のうち陰極31とは反対側の端部と、真空容器10に設けた筒状部12の端部との間には、第1及び第2中間電極41、42が同心で直列に配置されている。一方の第1中間電極41内には、プラズマビームPBを収束するための環状永久磁石44が内蔵されている。第2中間電極42内にも、プラズマビームPBを収束するための電磁石コイル45が内蔵されている。なお、筒状部12の周囲には、陰極31側で発生して第1及び第2中間電極41、42まで引き出されたプラズマビームPBを真空容器10内に導くステアリングコイル47が設けられている。
【0021】
プラズマガン30の動作は、図示を省略するガン駆動装置によって制御されている。これにより、陰極31への給電をオン・オフしたりこれへの供給電圧等を調整することができ、さらに第1及び第2中間電極41、42、電磁石コイル45、及びステアリングコイル47への給電を調整することができる。つまり、真空容器10中に供給されるプラズマビームPBの強度や分布状態を制御することができるようになる。
【0022】
なお、プラズマガン30の最も内心側に配置されるパイプ35は、プラズマビームPBのもととなるAr等のキャリアガスをプラズマガン30ひいては真空容器10中に導入するためものであり、流量計93及び流量調節弁94を介してキャリアガス源90に接続されている。
【0023】
真空容器10中の下部に配置された陽極部材50は、プラズマビームPBを下方に導く主陽極であるハース51と、その周囲に配置された環状の補助陽極52とからなる。
【0024】
前者のハース51は、導電材料で形成されるとともに、接地された真空容器10に図示を省略する絶縁物を介して支持されている。このハース51は、適当な正電位に制御されており、プラズマガン30から出射したプラズマビームPBを下方に吸引する。なお、ハース51は、プラズマガン30からのプラズマビームPBが入射する中央部に、材料蒸発源である棒状の材料ロッド53が装填されている貫通孔51aを有している。この材料ロッド53は、膜材料である酸化インジウムの粉末と酸化錫との粉末とを焼結して固めたものであり、プラズマビームPBからの電流によって加熱されて昇華し、基板上にITO膜を形成するための材料蒸気を発生する。真空容器10下部に設けた材料供給装置58は、材料ロッド53を次々にハース51の貫通孔51aに装填するとともに、装填した材料ロッド53を徐々に上昇させる構造となっており、材料ロッド53の上端が蒸発して消耗しても、この上端をハース51の凹部から常に一定量だけ突出させることができる。
【0025】
後者の補助陽極52は、ハース51の周囲にこれと同心に配置された環状の容器により構成されている。この環状容器内には、フェライト等で形成された環状の永久磁石55と、これと同心に積層されたコイル56とが収納されている。これら永久磁石55及びコイル56は、磁場制御部材であり、ハース51の直上方にカスプ状磁場を形成する。これにより、ハース51に入射するプラズマビームPBの向き等を修正することができる。
【0026】
補助陽極52内のコイル56は電磁石を構成し、図示を省略する陽極電源装置から給電されて、永久磁石55により発生する中心側の磁界と同じ向きになるような付加的磁界を形成する。これにより、コイル56に供給する電流を変化させることができ、ハース51に入射するプラズマビームPBの向きの微調整が可能になる。
【0027】
補助陽極52の容器も、ハース51と同様に導電性材料で形成される。この補助陽極52は、ハース51に対して図示を省略する絶縁物を介して取り付けられている。補助陽極52に印加する電圧変化させることによってハース51の上方の電界を補的に制御できる。すなわち、補助陽極52の電位をハース51と同じにすると、プラズマビームPBもこれに引き寄せられてハース51へのプラズマビームPBの供給が減少する。一方、補助陽極52の電位を真空容器10と同じ程度に下げると、プラズマビームPBがハース51に引き寄せられて材料ロッド53が加熱される。
【0028】
搬送機構60は、搬送路61内に水平方向に等間隔で配列されて基板保持部材WHの端部を支持する複数のコロ62と、これらのコロ62を適当な速度で回転させて基板保持部材WHを一定速度で移動させる駆動装置(図示を省略)とを備える。
【0029】
酸素ガス供給装置71は、真空容器10に適当なタイミングで適当な量の酸素ガスを供給するためのものである。酸素ガスを収容する酸素ガス源71aからの供給ラインは、流量調節弁71b及び流量計71cを介して真空容器10に接続されている。キャリアガス供給装置72は、真空容器10に適当なタイミングで適当な量のキャリアガスを供給するためのものである。キャリアガス源90から分岐されたキャリアガスは、キャリアガス供給装置72の流量調節弁72b及び流量計72cを介して真空容器10に直接導入される。なお、排気装置76は、排気ポンプ76bにより、真空ゲート76aを介して真空容器10内のガスを適宜排気する。
【0030】
図2は、ハース51のより詳細な構造を説明する側方断面図である。ハース51は、冷却用のキャビティCを備えるベース部材151と、ベース部材151上に固定されるコーン状のガイド部材251とを備える。ベース部材151とガイド部材251とは、それぞれに設けた開口151a、251aの中心を一致させて固定されている。これにより、ハース51の中心に材料ロッド53を上方に繰り出すための円筒状の貫通孔51aが形成される。
【0031】
ベース部材151は、銅製で、高い熱伝導度と導電性を有し、キャビティCに供給される冷却水によって冷却される。
【0032】
ガイド部材251は、外側の本体層251bと、開口251a側の内側層251cとからなる。前者の本体層251bは、銅製で、高い熱伝導度と導電性を有し、ベース部材151と電気的及び機械的に接続されて適当な電位及び温度に維持される。一方、内側層251cは、例えばSUS430等のステンレス鋼製で、高い耐熱性を有するが、銅製の本体層251bよりも熱伝導度や導電性の点で多少劣る。このため、プラズマビームPBによって材料ロッド53が加熱されると、内側層251cがバリアとなって放熱をある程度制限するので、材料ロッド53が比較的均一かつ高温に維持される。このように、材料ロッド53が均一に加熱されると、材料ロッド53が比較的均等に消費されることになり、材料ロッド53の上面53aが比較的平坦なものとなるので、均一で安定した成膜が可能になる。しかも、材料ロッド53を高温にすることで、成膜速度を増加させることができる。また、内側層251cがステンレス鋼で形成されているので、材料ロッド53が加熱されても内側層251cに付着しにくい。さらに、内側層251cがステンレス鋼で形成されているので、ガイド部材251の先端近傍で磁力線が内側層251cに引き寄せられ、ガイド部材251の先端の直上方で磁束密度が減少してプラズマビームPBが広げられる。この結果、材料ロッド53の上面53aが比較的均一に加熱され、安定した成膜が可能になる。
【0033】
図3は、ガイド部材251の先端近傍における磁力線の分布を概念的に説明する図である。図からも明らかなように、上方からガイド部材251に入射する磁力線は、磁性体である内側層251cに収束するので、ガイド部材251上方の磁束密度が均一に低下する。つまり、ガイド部材251上方でプラズマビームPBが広げられ、材料ロッド53上部が成膜に伴って偏って窪む片掘れを防止することができる。
【0034】
以下、図1に示す成膜装置の動作について説明する。この成膜装置による成膜時には、プラズマガン30の陰極31と真空容器10内のハース51との間で放電を生じさせ、これによりプラズマビームPBを生成する。このプラズマビームPBは、ステアリングコイル47と補助陽極52内の永久磁石55等とにより決定される磁界に案内されてハース51に到達する。ハース51の材料ロッド53は、プラズマビームPBからの電流により加熱され、材料ロッド53の先端が昇華してここから膜材料の蒸気が安定して出射する。この蒸気は、プラズマビームPBによりイオン化され、例えば負電圧が印加された基板の表面に付着して被膜を形成する。
【0035】
上記成膜装置では、材料ロッド53を案内するガイド部材251の内側にステンレス鋼製の内側層251cを設けているので、成膜に際してプラズマビームPBによって材料ロッド53が加熱されると、内側層251cが放熱をある程度制限する。この結果、材料ロッド53が比較的均一かつ高温に維持されて、比較的均等に消費され、材料ロッド53の上面53aが比較的平坦なものとなって均一で安定した成膜が可能になる。この際、ステンレス製の内側層251cには、材料ロッド53が付着しにくいので、材料ロッド53の円滑な供給が可能になる。さらに、ガイド部材251の先端近傍で磁力線がステンレス鋼製の内側層251cに引き寄せられ、ガイド部材251の先端の直上方でプラズマビームPBを広げるので、材料ロッド53の上面53aが比較的均一に加熱され、さらに安定した成膜が可能になる。
【0036】
〔第2実施形態〕
図4は、第2実施形態に係る成膜装置の要部を説明する図である。なお、第2実施形態の成膜装置は、第1実施形態の成膜装置の変形例であり、同一部分には同一の符号を付して重複説明を省略する。
【0037】
この場合、ハース51は、ベース部材151上に固定されるガイド部材551の上部外周に、磁性材料からなる環状の磁性部材651を備える。前者のガイド部材551は、銅製で、ベース部材151と電気的及び機械的に接続されて適当な電位及び温度に維持される。後者の磁性部材651は、ステンレス鋼製で、ガイド部材551の先端近傍の磁力線を引き寄せるので、ガイド部材251の先端の直上方で磁束密度が減少してプラズマビームPBが広げられる。この結果、材料ロッド53の上面53aが比較的均一に加熱され、安定した成膜が可能になる。
【0038】
以上、実施形態に即して本発明を説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、他の膜材料として、SiO2、MgO等の酸化物を用いて成膜を行う場合にも、ガイド部材251の内側にステンレス鋼製の内側層251cを設けることによって、材料ロッド53の付着を防止しつつ材料ロッド53の上面53aを平坦なものとすることができ、均一で安定した成膜が可能になる。
【0039】
また、内側層251cの厚さや磁性部材651の形状や配置も、適宜設定を変更することができる。
【0040】
また、内側層251cの材料は、必ずしもSUS430等の磁性体に限るものではなく、他の磁性を有しない材料(例えばSUS304)とすることができる。さらに、磁性部材651の材料も、ステンレス鋼に限るものではなく、鉄等の他の材料とすることができる。
【0041】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明の成膜装置によれば、ガイド部材が外側の本体層とこの本体層よりも膜材料に対して相対的に反応しにくい材料で形成された内側層とを有するので、成膜中に膜材料がガイド部材の内側に付着することを防止しつつ、ガイド部材全体としての冷却能力や導電性等を維持することができる。
【0042】
また、本発明の別の成膜装置によれば、内側層が本体層よりも相対的に熱伝導率の低い材料で形成されているので、膜材料からガイド部材への放熱を比較的緩やかなものとして膜材料の温度を比較的均一な温度に維持することができる。よって、例えば棒状の膜材料が比較的均等な深さで掘れるようになり、均一で安定しかつ迅速な成膜が可能になる。
【0043】
また、本発明のさらに別の成膜装置によれば、磁性材料からなる磁性部材をガイド部材の上部外周に設けているので、ガイド部材の先端近傍で磁力線がガイド部材を取り巻く磁性部材に引き寄せられ、ガイド部材の先端の直上方でプラズマビームを比較的均一に広げることになる。この結果、膜材料の上面が比較的均一に加熱され、膜材料の上部が均一に消耗し、安定した成膜が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態の成膜装置の全体構造を説明する図である。
【図2】図1の成膜装置に組み込まれるハースの構造を説明する側方断面図である。
【図3】ガイド部材の先端近傍における磁力線の分布を概念的に説明する図である。
【図4】第2実施形態の成膜装置に組み込まれるハースの構造を説明する側方断面図である。
【符号の説明】
10 真空容器
30 プラズマガン
31 陰極
47 ステアリングコイル
50 陽極部材
51 ハース
52 補助陽極
53 材料ロッド
55 永久磁石
56 コイル
60 搬送機構
62 コロ
90 キャリアガス源
251 ガイド部材
251b 本体層
251c 内側層
651 磁性部材
WH 基板保持部材
[0001]
[Field of the Invention]
The present invention relates to a film forming apparatus for forming a transparent conductive film or the like on a substrate using a plasma beam.
[0002]
[Prior art]
As a film forming apparatus using a plasma beam, for example, there is an ion plating apparatus disclosed in JP-A-9-194232. In this ion plating apparatus, the upper end of a material tablet made of indium and tin oxide (ITO) is guided through a hollow cone-shaped guide member provided in the hearth through a plasma beam from a pressure gradient type plasma gun to the hearth. This is gradually pushed up while sublimating. The evaporating substance emitted from the upper end of the material tablet is ionized in the plasma beam, and the ionized material particles adhere to the surface of the substrate conveyed opposite to the hearth, and an ITO film is formed here.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
In the film forming apparatus as described above, copper having high conductivity and heat conductivity is usually used as the hearth. However, since copper has a property of easily reacting with indium even at a relatively low temperature, the material tablet is a hearth guide member. It may be difficult to push up the material tablet by adhering to the inner surface.
[0004]
On the other hand, if the guide member is excessively cooled, a temperature difference will occur between the center and the periphery of the material tablet, and only the center part of the material tablet may be deeply dug to make stable film formation difficult. .
[0005]
Furthermore, the plasma beam may be incident on the guide member in a biased or concentrated manner. In such a case, the material tablet may be decentered and recessed, and stable film formation may be hindered. .
[0006]
Accordingly, an object of the present invention is to provide a film forming apparatus that prevents the material tablet and the guide member from adhering to each other and prevents the material tablet from being dug unevenly, thereby enabling stable film formation. .
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, a film forming apparatus of the present invention includes a plasma source for supplying a plasma beam into a film forming chamber, a hearth disposed in the film forming chamber and guiding the plasma beam, and a film as a material evaporation source in the hearth. A material supply device for continuously supplying a material, wherein the hearth includes an annular guide member having a through-hole through which the film material passes, and the guide member is connected to the outer body layer. And an inner layer formed of a material that is relatively less reactive with the membrane material than the main body layer.
[0008]
In this case, since the guide member has an outer main body layer and an inner layer formed of a material that is relatively less reactive with the film material than the main body layer, the film material is guided during film formation. It is possible to maintain the cooling capacity, conductivity, and the like of the entire guide member while preventing adhesion to the inside of the guide member.
[0009]
Further, another film forming apparatus of the present invention includes a plasma source for supplying a plasma beam into a film forming chamber, a hearth disposed in the film forming chamber for guiding the plasma beam, and a film material as a material evaporation source in the hearth continuously. A material supply device for supplying the material, wherein the hearth includes an annular guide member having a through-hole through which the film material passes, and the guide member includes an outer body layer and the body. And an inner layer formed of a material having a lower thermal conductivity than the layer.
[0010]
In this case, since the inner layer is formed of a material having a lower thermal conductivity than that of the main body layer, heat radiation from the film material to the guide member is relatively gentle, and the temperature of the film material is relatively uniform. Can be maintained at temperature. Therefore, for example, a rod-shaped film material can be dug at a relatively uniform depth, and uniform, stable and rapid film formation becomes possible.
[0011]
In a preferred aspect of the above device, the inner layer is formed of a material having a relatively higher heat resistant temperature than the main body layer.
[0012]
In this case, since the inner layer is formed of a material having a relatively high heat resistance temperature than the main body layer, even if the temperature of the film material is relatively high, the guide member may be damaged or the film material and the guide It can prevent that a member reacts.
[0013]
Moreover, in the preferable aspect of the said apparatus, a main body layer consists of copper and an inner side layer consists of stainless steel.
[0014]
In this case, the film material can be effectively prevented from adhering to the inside of the guide member, and the temperature distribution in the film material can be made uniform easily. In addition, since the inner layer is made of stainless steel, which is a magnetic material, the lines of magnetic force are attracted to the magnetic material surrounding the film material near the tip of the guide member, and the plasma beam is compared directly above the tip of the guide member. Will spread evenly. As a result, the upper surface of the film material is heated relatively uniformly, the film material is consumed uniformly, and stable film formation becomes possible.
[0015]
Further, another film forming apparatus of the present invention includes a plasma source for supplying a plasma beam into the film forming chamber, a hearth disposed in the film forming chamber for guiding the plasma beam, and a film material as a material evaporation source for the hearth. A film forming apparatus comprising a material supply device that continuously supplies a hearth comprising an annular guide member having a through-hole through which a film material passes, and a magnetic material provided on an upper outer periphery of the guide member A magnetic member.
[0016]
In this case, since the magnetic member made of a magnetic material is provided on the upper outer periphery of the guide member, the magnetic lines of force are attracted to the magnetic member surrounding the guide member near the tip of the guide member, and the plasma beam is generated immediately above the tip of the guide member. It spreads relatively uniformly. As a result, the upper surface of the film material is heated relatively uniformly, the upper part of the film material is evenly consumed, and stable film formation becomes possible.
[0017]
In a preferred aspect of the above apparatus, the apparatus further comprises a magnet arranged in an annular shape around the hearth, or a magnetic field control member that controls the upper magnetic field close to the hearth, and the plasma source performs arc discharge. This is a pressure gradient type plasma gun.
[0018]
In this case, a film having a more uniform thickness can be formed by correcting the plasma beam incident on the hearth by the magnetic field control member with a cusp-like magnetic field.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
[First Embodiment]
FIG. 1 is a diagram schematically illustrating the overall structure of the film forming apparatus according to the first embodiment. The film forming apparatus includes a vacuum container 10 that is a film forming chamber, a plasma gun 30 that is a plasma source that supplies a plasma beam PB into the vacuum container 10, and a plasma beam PB that is disposed at the bottom of the vacuum container 10. An incident anode member 50 and a transport mechanism 60 that appropriately moves a substrate holding member WH for holding a substrate such as a liquid crystal glass plate to be deposited above the anode member 50 are provided.
[0020]
The plasma gun 30 is a pressure gradient type plasma gun disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-194232 and the like, and its main body portion is attached to a cylindrical portion 12 provided on the side wall of the vacuum vessel 10. The main body portion is composed of a glass tube 32 whose one end is closed by a cathode 31. In the glass tube 32, a cylinder 33 made of molybdenum Mo is fixed to the cathode 31 and arranged concentrically. In the cylinder 33, a disk 34 made of LaB 6 and tantalum Ta are formed. The pipe 35 is built in. The first and second intermediate electrodes 41, 42 are concentric between the end of the glass tube 32 opposite to the cathode 31 and the end of the cylindrical portion 12 provided in the vacuum vessel 10. Are arranged in series. In the first intermediate electrode 41, an annular permanent magnet 44 for converging the plasma beam PB is incorporated. An electromagnetic coil 45 for converging the plasma beam PB is also built in the second intermediate electrode 42. A steering coil 47 that guides the plasma beam PB generated on the cathode 31 side and drawn to the first and second intermediate electrodes 41 and 42 into the vacuum vessel 10 is provided around the cylindrical portion 12. .
[0021]
The operation of the plasma gun 30 is controlled by a gun driving device (not shown). Thus, the power supply to the cathode 31 can be turned on / off, the supply voltage to the cathode 31 can be adjusted, and the power supply to the first and second intermediate electrodes 41, 42, the electromagnet coil 45, and the steering coil 47. Can be adjusted. That is, the intensity and distribution state of the plasma beam PB supplied into the vacuum vessel 10 can be controlled.
[0022]
The pipe 35 arranged on the innermost side of the plasma gun 30 is for introducing a carrier gas such as Ar, which is the source of the plasma beam PB, into the plasma gun 30 and thus into the vacuum vessel 10. And is connected to a carrier gas source 90 via a flow rate adjusting valve 94.
[0023]
The anode member 50 disposed in the lower part of the vacuum vessel 10 includes a hearth 51 that is a main anode for guiding the plasma beam PB downward, and an annular auxiliary anode 52 disposed around the anode 51.
[0024]
The former hearth 51 is made of a conductive material and is supported by a grounded vacuum vessel 10 via an insulator (not shown). The hearth 51 is controlled to an appropriate positive potential and sucks the plasma beam PB emitted from the plasma gun 30 downward. The hearth 51 has a through hole 51a in which a rod-shaped material rod 53, which is a material evaporation source, is loaded at the center where the plasma beam PB from the plasma gun 30 is incident. This material rod 53 is obtained by sintering and hardening indium oxide powder and tin oxide powder, which are film materials, and is heated and sublimated by the current from the plasma beam PB to form an ITO film on the substrate. Generate material vapor to form. The material supply device 58 provided in the lower part of the vacuum vessel 10 has a structure in which the material rods 53 are successively loaded into the through holes 51a of the hearth 51 and the loaded material rods 53 are gradually raised. Even if the upper end evaporates and wears, the upper end can always protrude from the recess of the hearth 51 by a certain amount.
[0025]
The latter auxiliary anode 52 is constituted by an annular container disposed concentrically around the hearth 51. In this annular container, an annular permanent magnet 55 made of ferrite or the like and a coil 56 laminated concentrically therewith are accommodated. The permanent magnet 55 and the coil 56 are magnetic field control members, and form a cusp-like magnetic field directly above the hearth 51. Thereby, the direction of the plasma beam PB incident on the hearth 51 can be corrected.
[0026]
The coil 56 in the auxiliary anode 52 constitutes an electromagnet, and is supplied with power from an anode power supply device (not shown) to form an additional magnetic field that has the same direction as the magnetic field on the center side generated by the permanent magnet 55. Thereby, the current supplied to the coil 56 can be changed, and the direction of the plasma beam PB incident on the hearth 51 can be finely adjusted.
[0027]
The container of the auxiliary anode 52 is also made of a conductive material, like the hearth 51. The auxiliary anode 52 is attached to the hearth 51 via an insulator (not shown). By changing the voltage applied to the auxiliary anode 52, the electric field above the hearth 51 can be controlled complementarily. That is, when the potential of the auxiliary anode 52 is made the same as that of the hearth 51, the plasma beam PB is also attracted thereto, and the supply of the plasma beam PB to the hearth 51 is reduced. On the other hand, when the potential of the auxiliary anode 52 is lowered to the same level as that of the vacuum vessel 10, the plasma beam PB is attracted to the hearth 51 and the material rod 53 is heated.
[0028]
The transport mechanism 60 is arranged in the transport path 61 at equal intervals in the horizontal direction and supports a plurality of rollers 62 that support the end portions of the substrate holding member WH, and rotates these rollers 62 at an appropriate speed to rotate the substrate holding member. And a drive device (not shown) that moves the WH at a constant speed.
[0029]
The oxygen gas supply device 71 is for supplying an appropriate amount of oxygen gas to the vacuum vessel 10 at an appropriate timing. A supply line from an oxygen gas source 71a that stores oxygen gas is connected to the vacuum vessel 10 via a flow rate control valve 71b and a flow meter 71c. The carrier gas supply device 72 is for supplying an appropriate amount of carrier gas to the vacuum vessel 10 at an appropriate timing. The carrier gas branched from the carrier gas source 90 is directly introduced into the vacuum vessel 10 through the flow rate adjustment valve 72b and the flow meter 72c of the carrier gas supply device 72. The exhaust device 76 appropriately exhausts the gas in the vacuum vessel 10 through the vacuum gate 76a by the exhaust pump 76b.
[0030]
FIG. 2 is a side sectional view for explaining a more detailed structure of the hearth 51. The hearth 51 includes a base member 151 having a cooling cavity C, and a cone-shaped guide member 251 fixed on the base member 151. The base member 151 and the guide member 251 are fixed so that the centers of the openings 151a and 251a provided in the base member 151 and the guide member 251 coincide with each other. Thereby, a cylindrical through-hole 51 a for feeding the material rod 53 upward is formed in the center of the hearth 51.
[0031]
The base member 151 is made of copper, has high thermal conductivity and conductivity, and is cooled by cooling water supplied to the cavity C.
[0032]
The guide member 251 includes an outer main body layer 251b and an inner layer 251c on the opening 251a side. The former body layer 251b is made of copper, has high thermal conductivity and conductivity, is electrically and mechanically connected to the base member 151, and is maintained at an appropriate potential and temperature. On the other hand, the inner layer 251c is made of, for example, stainless steel such as SUS430 and has high heat resistance. However, the inner layer 251c is somewhat inferior in terms of thermal conductivity and conductivity than the copper main body layer 251b. For this reason, when the material rod 53 is heated by the plasma beam PB, the inner layer 251c acts as a barrier to restrict heat dissipation to some extent, so that the material rod 53 is maintained at a relatively uniform and high temperature. Thus, when the material rod 53 is uniformly heated, the material rod 53 is consumed relatively evenly, and the upper surface 53a of the material rod 53 becomes relatively flat, so that the material rod 53 is uniform and stable. Film formation becomes possible. In addition, the film forming speed can be increased by setting the material rod 53 to a high temperature. Further, since the inner layer 251c is formed of stainless steel, it is difficult to adhere to the inner layer 251c even if the material rod 53 is heated. Further, since the inner layer 251c is formed of stainless steel, the magnetic lines of force are attracted to the inner layer 251c near the tip of the guide member 251, and the magnetic flux density decreases just above the tip of the guide member 251 so that the plasma beam PB is generated. Can be spread. As a result, the upper surface 53a of the material rod 53 is heated relatively uniformly, and stable film formation becomes possible.
[0033]
FIG. 3 is a diagram for conceptually explaining the distribution of the lines of magnetic force in the vicinity of the tip of the guide member 251. As is clear from the figure, the lines of magnetic force incident on the guide member 251 from above converge on the inner layer 251c, which is a magnetic body, so that the magnetic flux density above the guide member 251 decreases uniformly. That is, the plasma beam PB is spread above the guide member 251, and it is possible to prevent digging in which the upper portion of the material rod 53 is unevenly depressed as the film is formed.
[0034]
Hereinafter, the operation of the film forming apparatus shown in FIG. 1 will be described. During film formation by this film formation apparatus, a discharge is generated between the cathode 31 of the plasma gun 30 and the hearth 51 in the vacuum vessel 10, thereby generating a plasma beam PB. The plasma beam PB reaches the hearth 51 while being guided by a magnetic field determined by the steering coil 47 and the permanent magnet 55 in the auxiliary anode 52. The material rod 53 of the hearth 51 is heated by the current from the plasma beam PB, the tip of the material rod 53 is sublimated, and the vapor of the film material is stably emitted therefrom. This vapor is ionized by the plasma beam PB and adheres to, for example, the surface of the substrate to which a negative voltage is applied to form a film.
[0035]
In the film forming apparatus, since the inner layer 251c made of stainless steel is provided inside the guide member 251 for guiding the material rod 53, the inner layer 251c is heated when the material rod 53 is heated by the plasma beam PB during film formation. Limits heat dissipation to some extent. As a result, the material rod 53 is maintained relatively uniformly and at a high temperature and consumed relatively evenly, and the upper surface 53a of the material rod 53 becomes relatively flat, and uniform and stable film formation is possible. At this time, since the material rod 53 does not easily adhere to the stainless inner layer 251c, the material rod 53 can be supplied smoothly. Further, the lines of magnetic force are attracted to the stainless steel inner layer 251c near the tip of the guide member 251, and the plasma beam PB is expanded just above the tip of the guide member 251, so that the upper surface 53a of the material rod 53 is heated relatively uniformly. In addition, more stable film formation becomes possible.
[0036]
[Second Embodiment]
FIG. 4 is a diagram for explaining a main part of the film forming apparatus according to the second embodiment. The film forming apparatus according to the second embodiment is a modification of the film forming apparatus according to the first embodiment, and the same portions are denoted by the same reference numerals and redundant description is omitted.
[0037]
In this case, the hearth 51 includes an annular magnetic member 651 made of a magnetic material on the outer periphery of the upper portion of the guide member 551 fixed on the base member 151. The former guide member 551 is made of copper and is electrically and mechanically connected to the base member 151 to be maintained at an appropriate potential and temperature. The latter magnetic member 651 is made of stainless steel and attracts the magnetic field lines near the tip of the guide member 551. Therefore, the magnetic flux density decreases just above the tip of the guide member 251 and the plasma beam PB is expanded. As a result, the upper surface 53a of the material rod 53 is heated relatively uniformly, and stable film formation becomes possible.
[0038]
As described above, the present invention has been described according to the embodiment, but the present invention is not limited to the above embodiment. For example, when the film is formed using an oxide such as SiO 2 or MgO as another film material, the material rod 53 can be adhered by providing the inner layer 251c made of stainless steel inside the guide member 251. Thus, the upper surface 53a of the material rod 53 can be made flat, and uniform and stable film formation is possible.
[0039]
Also, the thickness of the inner layer 251c and the shape and arrangement of the magnetic member 651 can be changed as appropriate.
[0040]
Further, the material of the inner layer 251c is not necessarily limited to a magnetic material such as SUS430, and may be another material having no magnetism (for example, SUS304). Furthermore, the material of the magnetic member 651 is not limited to stainless steel, and may be other materials such as iron.
[0041]
【The invention's effect】
As is apparent from the above description, according to the film forming apparatus of the present invention, the guide member is formed of the outer body layer and the inner layer formed of a material that is relatively less reactive with the film material than the body layer. Therefore, it is possible to maintain the cooling capacity, conductivity, and the like of the entire guide member while preventing the film material from adhering to the inside of the guide member during film formation.
[0042]
Further, according to another film forming apparatus of the present invention, since the inner layer is formed of a material having a relatively lower thermal conductivity than that of the main body layer, heat radiation from the film material to the guide member is relatively moderate. As a result, the temperature of the film material can be maintained at a relatively uniform temperature. Therefore, for example, a rod-shaped film material can be dug at a relatively uniform depth, and uniform, stable and rapid film formation becomes possible.
[0043]
According to still another film forming apparatus of the present invention, since the magnetic member made of a magnetic material is provided on the upper outer periphery of the guide member, the magnetic lines of force are attracted to the magnetic member surrounding the guide member in the vicinity of the tip of the guide member. The plasma beam is spread relatively uniformly just above the tip of the guide member. As a result, the upper surface of the film material is heated relatively uniformly, the upper part of the film material is evenly consumed, and stable film formation becomes possible.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram illustrating the overall structure of a film forming apparatus according to a first embodiment.
FIG. 2 is a side cross-sectional view illustrating the structure of a hearth incorporated in the film forming apparatus of FIG.
FIG. 3 is a diagram conceptually illustrating the distribution of magnetic lines of force in the vicinity of the tip of the guide member.
FIG. 4 is a side sectional view for explaining the structure of a hearth incorporated in a film forming apparatus according to a second embodiment.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Vacuum vessel 30 Plasma gun 31 Cathode 47 Steering coil 50 Anode member 51 Hearth 52 Auxiliary anode 53 Material rod 55 Permanent magnet 56 Coil 60 Conveying mechanism 62 Roller 90 Carrier gas source 251 Guide member 251b Main body layer 251c Inner layer 651 Magnetic member WH Substrate Holding member

Claims (6)

プラズマビームを成膜室中に供給するプラズマ源と、前記成膜室中に配置され前記プラズマビームを導くハースと、前記ハースに材料蒸発源として膜材料を連続的に供給する材料供給装置とを備える成膜装置であって、
前記ハースは、冷却用のキャビティを備えるベース部材と、当該ベース部材上に固定されるとともに前記膜材料を通す開口を有する環状のガイド部材を備え、当該ガイド部材は、外側の本体層と、当該本体層よりも前記膜材料に対して相対的に反応しにくい材料で形成された内側層とを有することを特徴とする成膜装置。
A plasma source for supplying a plasma beam into the film forming chamber; a hearth disposed in the film forming chamber for guiding the plasma beam; and a material supply device for continuously supplying a film material to the hearth as a material evaporation source. A film forming apparatus comprising:
The hearth is provided with a base member comprising a cavity for cooling, and an annular guide member having an opening through which said membrane material is fixed to the base member, the guide member includes an outer body layer, And an inner layer formed of a material that is relatively less reactive with the film material than the main body layer.
プラズマビームを成膜室中に供給するプラズマ源と、前記成膜室中に配置され前記プラズマビームを導くハースと、前記ハースに材料蒸発源として膜材料を連続的に供給する材料供給装置とを備える成膜装置であって、
前記ハースは、冷却用のキャビティを備えるベース部材と、当該ベース部材上に固定されるとともに前記膜材料を通す開口を有する環状のガイド部材を備え、当該ガイド部材は、外側の本体層と、当該本体層よりも相対的に熱伝導率の低い材料で形成された内側層とを有することを特徴とする成膜装置。
A plasma source for supplying a plasma beam into the film forming chamber; a hearth disposed in the film forming chamber for guiding the plasma beam; and a material supply device for continuously supplying a film material to the hearth as a material evaporation source. A film forming apparatus comprising:
The hearth is provided with a base member comprising a cavity for cooling, and an annular guide member having an opening through which said membrane material is fixed to the base member, the guide member includes an outer body layer, And an inner layer formed of a material having a relatively lower thermal conductivity than the main body layer.
前記内側層は、前記本体層よりも相対的に耐熱温度の高い材料で形成されていることを特徴とする請求項2記載の成膜装置。  The film forming apparatus according to claim 2, wherein the inner layer is formed of a material having a relatively high heat resistant temperature than the main body layer. 前記本体層は銅からなり、前記内側層はステンレス鋼からなることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか記載の成膜装置。  The film forming apparatus according to claim 1, wherein the main body layer is made of copper, and the inner layer is made of stainless steel. 前記内側層は、前記ベース部材と前記ガイド部材とを貫通する貫通孔のうち前記ガイド部材側に形成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか記載の成膜装置。  5. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the inner layer is formed on the guide member side in a through-hole penetrating the base member and the guide member. プラズマビームを成膜室中に供給するプラズマ源と、前記成膜室中に配置され前記プラズマビームを導くハースと、前記ハースに材料蒸発源として膜材料を連続的に供給する材料供給装置とを備える成膜装置であって、
前記ハースは、上部に前記膜材料を通す貫通孔を有する環状のガイド部材と、当該ガイド部材の上部外周に設けた磁性材料からなる磁性部材とを備えることを特徴とする成膜装置。
A plasma source for supplying a plasma beam into the film forming chamber; a hearth disposed in the film forming chamber for guiding the plasma beam; and a material supply device for continuously supplying a film material to the hearth as a material evaporation source. A film forming apparatus comprising:
The hearth includes a ring-shaped guide member having a through-hole through which the film material passes, and a magnetic member made of a magnetic material provided on the outer periphery of the guide member.
JP2000210189A 2000-07-11 2000-07-11 Deposition equipment Expired - Fee Related JP3732074B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000210189A JP3732074B2 (en) 2000-07-11 2000-07-11 Deposition equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000210189A JP3732074B2 (en) 2000-07-11 2000-07-11 Deposition equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002030422A JP2002030422A (en) 2002-01-31
JP3732074B2 true JP3732074B2 (en) 2006-01-05

Family

ID=18706482

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000210189A Expired - Fee Related JP3732074B2 (en) 2000-07-11 2000-07-11 Deposition equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3732074B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5063143B2 (en) 2007-03-02 2012-10-31 株式会社リケン Arc type evaporation source
JP5832985B2 (en) 2012-11-09 2015-12-16 住友重機械工業株式会社 Deposition equipment
JP6122169B1 (en) * 2016-03-15 2017-04-26 株式会社東芝 Processing device and collimator

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002030422A (en) 2002-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002030426A (en) Method and system for film deposition
JP3732074B2 (en) Deposition equipment
JP2002180240A (en) Film forming apparatus
JP2001348662A (en) Method and apparatus for depositing film
JP3806834B2 (en) Method for forming silicon oxynitride
JP2002060929A (en) Method and system for depositing ito film
JP2002115049A (en) Method and system for film deposition
JP2001295031A (en) Method and apparatus for film deposition
JP2002047559A (en) Ito film, and film deposition method thereof
JP3765990B2 (en) Conductor forming method and apparatus
JP2002241926A (en) Method and system for film deposition
JP4056680B2 (en) Film forming apparatus and method
JP2003105526A (en) Method of depositing silicon compound film
JP2005272965A (en) Electrode member and deposition system equipped therewith
JP2002249871A (en) Film depositing equipment
JP2001192817A (en) Film deposition method and system
JP4339562B2 (en) Ion plating method and apparatus therefor
JP2946404B2 (en) Ion plating device
JP2002030425A (en) System and method for film deposition
JP5805553B2 (en) Deposition equipment
TWI828095B (en) Film forming device
JP7120540B2 (en) Ion irradiation apparatus, ion irradiation method, film formation apparatus, and film formation method
JP2000026953A (en) Plasma treating method and plasma treating device
JP2000282223A (en) Device and method for film formation
CN114855139A (en) Processing apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050309

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050329

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050530

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20051004

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20051011

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081021

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091021

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091021

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101021

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees