JP3717491B2 - 放射線映像装置及びその焦点調整方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は映像装置に係り、より詳しくは放射線を用いて被照体の映像物を獲得する放射線映像装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
放射線映像装置は医療分野と産業分野で非常に有用に用いられている。医療分野では身体の異常有無を判別するのに用いられ、産業分野では製品の状態判別に用いられる。産業分野においては、例えば分解しにくい製品の内部状態を観測するか、製品の結合状態などを検査するのに放射線映像装置が用いられる。
【0003】
図1は、産業分野で製品検査に用いられる従来の放射線映像装置を示すものである。図1に示すように、ロボットテーブル104の上方に設けられた放射線発生部102から放射線が照射されると、この放射線がロボットテーブル104上に設けられたスターテストパターン106を透過することにより、放射線検出部108にスターテストパターン106の透過映像110が形成される。図1に示すスターテストパターン106は放射線発生装置の焦点を測定するための道具である。スターテストパターン106は鉛スポークを放射状に配列したものであって、この鉛スポークの厚さは放射状の中心部に行くほど細くなる。
【0004】
図2A及び図2Bは、従来の放射線映像装置により獲得したテストパターンの透過映像を示すものであって、図2Aは焦点の良好な状態を示し、図2Bは焦点の不良な状態を示すものである。図2Aにおいて、透過映像の中心付近にも鉛スポークパターンが明らかであることから、焦点の良好な状態が分かる。一方、図2Bにおいては、中心付近の鉛スポークパターンが明でないことから、焦点の不良な状態が分かる。
【0005】
焦点が不良であると、高解像度を期待し難いため、焦点を再調整しなければならない。図1に示す従来の放射線映像装置の焦点調整方法を図3のフローチャートに基づいて説明する。まず、ロボットテーブル104にスターテストパターン106を装着し(S302)、このスターテストパターン106に放射線を照射して透過映像110を獲得する(S304)。この透過映像110の焦点の良否を肉眼で判別し(S306)、焦点が不良であると(S308で「NO」)、焦点関連変数を修正し(S310)、放射線映像獲得段階S304を再開する。仮に、焦点調整のためにスターテストパターン106を装着しようとするときに、ロボットテーブル104に被照体が装着されていると、先に被照体を除去した後、スターテストパターン106を再装着する。
【0006】
放射線映像装置の解像度を決定する条件のうちには、放射線光源の焦点大きさと、透過映像を得るための撮像装置の焦点などがある。放射線光源の焦点大きさは、X線管の場合、電圧、電流などによって異なるが、被照体の物性値に応じて電圧、電流を調整することが頻繁に発生する。また、撮像装置の焦点もいろいろな要因によって異なり得る。仮に、放射線光源の焦点、又は撮像装置の焦点のような解像度決定条件が変更されると、最適の解像度を得るため、焦点を再調整しなければならない。従来は使用者が肉眼で焦点の良否を判別するため、焦点の良否判定に個人差が大きく、焦点の再調整に長時間がかかる。
【特許文献1】
韓国特許公開第1998-76118号公報
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、本発明は前記のような従来の問題点を鑑みてなされたもので、ロボットテーブルにテストパターン装着用ジグを設け、これにいろいろの種類のテストパターンを予め装着し、必要に応じてロボットテーブルの位置を調整してテストパターンの放射線透過映像で獲得できるようにすることにより、焦点調整時ごとに適切な補正用パターンを簡便に使用可能にする放射線映像装置及びその焦点調整方法を提供することにその目的がある。
【0008】
本発明のほかの目的は、焦点調整の際、テストパターンの放射線透過映像の画素値の偏差を比較して焦点の良否を判別する過程及び解像度関連変数の調整をコンピュータと連動して自動に実行するようにしたことにより、肉眼判別で獲得できない高精度の焦点調整を可能にする放射線映像装置及びその焦点調整方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
前記のような目的を達成するため、本発明は、放射線を被照体に照射させる放射線発生部と、被照体を固定させる被照体固定部材及びテストパターン装着部材を含み、放射線が被照体に照射されるように位置が変更できる可変ロボットテーブルと、放射線を被照体に照射することにより形成される放射線透過映像を発生させる放射線検出部とを含んでなる放射線映像装置を提供する。
【0010】
また、本発明は、放射線を被照体に照射させる放射線発生部と、被照体を位置付ける被照体固定部材及び一つ以上のテストパターンを収容するテストパターン装着部材を含む可変ロボットテーブルと、放射線を被照体に照射することにより形成される放射線透過映像を発生させる放射線検出部とを有する放射線映像装置の焦点調整方法において、テストパターンの放射線透過映像を獲得する段階と、前記テストパターンの放射線透過映像に所定の半径を有する円を設定する段階と、前記円の円周上に位置する画素の画素値を検出する段階と、前記円の円周上に位置する画素の画素値の標準偏差を算出する段階と、前記標準偏差が前もって設定された臨界値より小さいと、前記円の半径を解像度の指標因子と判定する段階とを含んでなる放射線映像装置の焦点調整方法を提供する。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明による放射線映像装置及びその焦点調整方法の好ましい実施例を図4ないし図8に基づいて詳細に説明する。
図4は、本発明による放射線映像装置の構成を示す図である。同図に示すように、ロボットテーブル404の上方に設けられた放射線発生部402から照射された放射線はロボットテーブル404に付着されたスターテストパターン406を透過して、放射線検出部408にスターテストパターン406の透過映像410が形成されるようにする。この放射線検出部408と放射線発生部402を制御部412と連動させると、本発明による焦点調整方法を具現するのに必要な画素値の検出と標準偏差の算出などが自動に行われるので、放射線映像装置の焦点調整時間が短縮するだけでなく、より正確な焦点調整作業が可能になる。
【0012】
被照体404bが位置するロボットテーブル404には、スターテストパターン406が装着されるパターン装着用ジグ404aが固着される。このパターン装着用ジグ404aには一つ以上のスターテストパターン406が搭載されているため(図5B参照)、焦点調整のときには、ロボットテーブル404の位置を調整して放射線発生部402とスターテストパターン406と放射線検出部408を一列に整列した後、スターテストパターン406に放射線を照射して透過映像410を獲得する。したがって、焦点調整を再び実施しなければならない場合にも、別途のテストパターンの交換過程なしで、ジグ404aに搭載されているいろいろな種類のテストパターンの一つを選択して、ただロボットテーブル404の位置を調整するだけで、新たなテストパターンが適用された焦点調整を簡便に実施することができる。この際、ロボットテーブル404の位置調整だけで新たなテストパターンが適用された焦点調整が実施できるので、ロボットテーブル404上の被照体404bを除去することが不要である。
【0013】
図5Aは、本発明による放射線映像装置のロボットテーブル404を示す図である。ロボットテーブル404は、x軸、y軸、z軸方向に3次元運動できるように、別途の動力装置(図示せず)に連動する。このロボットテーブル404は基本的に中心部が開放された方形フレームで構成される。中心部が開放された理由は、放射線を照射したとき、被照体の純粋透過映像を得るためである。
【0014】
ロボットテーブル404において、フレーム構造の両端にはガイドレール506a、506bが平行に設けられ、このガイドレール506a、506b上には、一対の被照体固定部材504a、504bがガイドレール506a、506bに沿って直線移動できるように設けられる。この被照体固定部材504a、504bはそれぞれモータ502a、502bにより駆動され、x軸方向に直線運動する。被照体(図示せず)は二つの被照体固定部材504a、504b間に挿着される。
【0015】
被照体固定部材504bの外側面には、パターン装着用ジグ404aが結合される。パターン装着用ジグ404aには多数のテストパターン装着部508が設けられ、このテストパターン装着部508にいろいろな種類のテストパターンを装着しておき、被照体固定部材504bを移動させ放射線を照射すると、所望のテストパターンの放射線透過映像を容易に獲得することができる。すなわち、本発明によるパターン装着用ジグ404aが装着されたロボットテーブル404を用いると、テストパターンを交換する不便なしに多様な種類のテストパターンを用いて便利に焦点調整が行える。
【0016】
図5Bは、図4に示す放射線映像装置のロボットテーブルに装着されるテストパターン装着用ジグ404aを示すものである。同図に示すように、テストパターン装着用ジグ404aには、多数の多様なテストパターンが装着できるように、空間が設けられている。使用者は多数のテストパターンのなかで所要のパターンを簡単に選択することができるので、便利である。
【0017】
図6は、本発明による放射線映像装置により獲得したテストパターンの透過映像において、画素値検出位置を示す円の半径とその円周上に位置する画素値の標準偏差の相互関係を示すグラフである。同図に示すように、円の半径が減少するほどその円周上の画素値の標準偏差も一緒に減少することが分かる。すなわち、スターテストパターンの放射線透過映像において、中心部に行くほど鉛スポークの鮮明度が低下して鉛スポークパターンと地色が区分できないほどになるが、このときの標準偏差は0に近くなる。反対に、透過映像の外側では鉛スポークパターンと地色が鮮明に対比することになるが、このときの標準偏差は相対的に非常に大きい。
【0018】
図7A及び図7Bは、本発明による放射線映像装置により獲得したテストパターンの映像物を示すもので、図7Aは焦点の良好な状態を示し、図7Bは焦点の不良な状態を示す。図7Aにおいて、透過映像中心部の一部を除けば、鉛スポークが比較的明らかに現われているので、焦点が良好なことが分かる。
【0019】
図7Aの透過映像において、中心部の円は、画素値をサンプリングする位置を示す。円周上の画素値の標準偏差が前もって設定された臨界値に到達するまで、この円の半径を段々減少させると、透過映像において鉛スポークパターンが消失される地点が分る。鉛スポークパターンが消失された地点は現在の条件での解像度の程度を示す。
【0020】
すなわち、鉛スポークパターンが消失された地点の半径が小さいほど高解像度であることを意味するので、解像度関連変数を調整しながら鉛スポークパターンの消失地点が最小となるように解像度関連変数値を調整すると、最高解像度の映像を獲得することができる。すなわち、解像度関連変数の初期値から始まり、テストパターンの透過映像において円の位置、つまり画素値検出位置を段々狭めながら画素値の標準偏差を算出し、標準偏差が臨界値に到達すると、そのときの円の半径を測定し、再び一定の間隔で解像度関連変数を変化させ、その都度、画素値の標準偏差が臨界値となる円の半径を測定する。解像度関連変数の全範囲でこの過程を行った後、測定された円の半径が最小となる解像度関連変数値が正に現在の条件での解像度が最大となる変数値となる。したがって、この値で解像度関連変数値を調整すると、最高解像度を獲得することができる。
【0021】
本発明において、鉛スポークパターンの消失地点を探し出す方法には、円の大きさを最大値から次第に最小値に減少させる方法と、最小値から次第に最大値まで拡大させる方法がある。以下に説明する本発明による放射線映像装置の焦点調整方法の実施例においては、円の大きさを最大値から始まり、段々縮小していく場合を例として説明する。
【0022】
本発明による放射線映像装置の焦点判別方法を図8に基づいて説明するとつぎのようである。まず、スターテストパターン406を装着し、放射線がスターテストパターン406を透過するようにロボットテーブル404の位置を調整する(S802)。ロボットテーブル404の位置調整が完了すると、スターテストパターン406の放射線透過映像を獲得する(S804)。この透過映像において、スターテストパターンの中心点から一定半径の円を設定した後(S806)、その円周上に位置する画素値を検出する(S808)。当該画素の画素値が検出されると、検出された画素値の標準偏差を算出し(S810)、前もって設定された臨界値と比較する(S812)。算出された標準偏差を臨界値と比較することは、現在設定されている円の位置(又は大きさ)が透過映像の鉛スポークパターン消失地点と一致するかを判別するためである。
【0023】
標準偏差が臨界値より大きいと、現在の円の位置が鉛スポークパターンの消失地点と一致しなく、円の半径を減少させる必要があることを意味する。したがって、標準偏差が臨界値より大きいと(S812で「NO」)、円の半径を減少させ(S814)、新しい大きさの円を設定した後、円周上の画素値の検出段階(S808)に復帰する。反対に、標準偏差が臨界値より小さいと(S812で「YES」)、現在の円の位置と透過映像の鉛スポークパターンの消失地点が一致すると判定する(S816)。この際、円の半径が小さいほど焦点は最適の状態となる。
【0024】
したがって、一定の範囲を有する解像度関連変数の全範囲にわたって一定間隔で変数を増加させていきながら円の半径を測定し、測定された円のうち、最小半径の円での焦点関連変数を取って本発明による放射線映像装置の解像度関連変数値を調整すると、最高解像度の映像を獲得することができる。
【0025】
すなわち、円の半径が最小である解像度関連変数を獲得するための焦点関連変数を獲得したかを判定する(S818)。焦点関連変数が獲得されていないと(S818で「NO」)、焦点関連変数を一定間隔で増加させた後(S822)、テストパターンの映像を獲得する段階に復帰する。円の半径が最小である解像度関連変数を獲得するための焦点関連変数が獲得されると(S818で「YES」)、焦点関連変数を用いて焦点を調整する(S820)。
【0026】
このような本発明による放射線映像装置の焦点調整方法において、円周上の画素値検出、標準偏差算出、標準偏差と臨界値の比較、円の半径と基準値の比較、焦点の良否判断、及び解像度関連変数の調整の全てがコンピュータと連動して自動に行われる。したがって、従来の肉眼で焦点の良否を判定することに比較してみると、より正確に焦点の良否を判定することができるだけでなく、最高解像度となるように関連変数を自動に調整することができるので、焦点調整にかかる時間を大きく節減することができる。
【0027】
本発明による放射線映像装置の焦点調整方法においては、スターテストパターンだけでなく、図5Bに示すようないろいろの種類のテストパターンを適用して焦点を調整することができる。スターテストパターンを用いて焦点を調整するときに円周上の画素値の標準偏差を用いるがごとくに、ほかの種類のテストパターンを用いて焦点を調整する場合は、円を始めとするいろいろなほかの形態の図形を用いてその図形上の画素値の分布特性を用いて焦点の良否を判定するように構成する。
【0028】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、焦点調整を容易に行えるため、いろいろな種類のテストパターンが装着されるテストパターン装着部を有する放射線映像装置と、その焦点調整方法を提供する。また、コンピュータにより画素値の標準偏差と臨界値を比較して焦点の良否を判定するため、焦点調整にかかる時間をかなり短縮させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来の放射線映像装置を示す斜視図である。
【図2A】 従来の放射線映像装置により獲得したテストパターンの透過映像において、焦点の良好な状態を示すものである。
【図2B】 従来の放射線映像装置により獲得したテストパターンの透過映像において、焦点の不良な状態を示すものである。
【図3】 図1に示す放射線映像装置の焦点調整方法を示すフローチャートである。
【図4】 本発明による放射線装置の構成を示す斜視図である。
【図5A】 図4に示す放射線映像装置のロボットテーブルを示す斜視図である。
【図5B】 図4に示す放射線映像装置のロボットテーブルに装着されるテストパターン装着用ジグを示す平面図である。
【図6】 図4に示す放射線映像装置により獲得したテストパターンの透過映像において、画素値検出位置を示す円の半径とその円周上に位置する画素値の標準偏差の相互関係を示すグラフである。
【図7A】 図4に示す放射線映像装置により獲得したテストパターンの映像において、焦点の良好な状態を示すものである。
【図7B】 図4に示す放射線映像装置により獲得したテストパターンの映像において、焦点の不良な状態を示すものである。
【図8】 図4に示す放射線映像装置の自動焦点調整方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
102、402 放射線発生部
104、404 ロボットテーブル
106、406 スターテストパターン
108、408 放射線検出部
110、410 スターテストパターンの透過映像
404a パターン装着用ジグ
404b 被照体

Claims (30)

  1. 放射線映像装置において、
    放射線を被照体に照射させる放射線発生部と、
    被照体を固定させる被照体固定部材及びテストパターン装着部材を含み、放射線が被照体に照射されるように位置が変更できる可変ロボットテーブルと、
    放射線を被照体に照射することにより形成される放射線透過映像を発生させる放射線検出部と
    発生された放射線透過映像に所定の半径を有する円を設定し、前記円の円周上に位置する画素の画素値の標準偏差を算出し、前記算出された標準偏差が前もって設定された臨界値より小さいと、前記円の半径を解像度の指標因子と判定する制御部とを含むことを特徴とする放射線映像装置。
  2. 前記テストパターン装着部材は前記被照体固定部材に固定されることを特徴とする請求項1に記載の放射線映像装置。
  3. 前記被照体固定部材は被照体を配置させる一対の直線運動部からなり、前記テストパターン装着部材は前記一対の直線運動部のいずれか一つに装着されることを特徴とする請求項2に記載の放射線映像装置。
  4. 前記テストパターン装着部材の位置は前記直線運動部を移動させることにより調整されることを特徴とする請求項3に記載の放射線映像装置。
  5. 前記テストパターン装着部材は一つ以上のテストパターンを装着するためのパターン装着部を有するジグからなることを特徴とする請求項1に記載の放射線映像装置。
  6. 放射線を被照体に照射させる放射線発生部と、被照体を位置付ける被照体固定部材及び一つ以上のテストパターンを収容するテストパターン装着部材を含む可変ロボットテーブルと、放射線を被照体に照射することにより形成される放射線透過映像を発生させる放射線検出部とを有する放射線映像装置の焦点調整方法において、
    テストパターンの放射線透過映像を獲得する段階と、
    前記テストパターンの放射線透過映像に所定の半径を有する円を設定する段階と、
    前記円の円周上に位置する画素の画素値を検出する段階と、
    前記円の円周上に位置する画素の画素値の標準偏差を算出する段階と、
    前記標準偏差が前もって設定された臨界値より小さいと、前記円の半径を解像度の指標因子と判定する段階とを含んでなることを特徴とする放射線映像装置の焦点調整方法。
  7. 前記方法は、
    前記標準偏差が前記前もって設定された臨界値より大きいと、前記標準偏差が前記臨界値より小さくなるまで前記円の半径を変化させる段階と、
    前記標準偏差が前記臨界値より小さいとともに前記円の半径が基準値より小さいと、前記円の半径を解像度の指標因子と判定する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  8. 前記方法は、前記標準偏差が前記臨界値より大きいと、前記円の半径を変化させた後、前記円の円周上に位置する画素の画素値を検出する段階に復帰する段階をさらに含むことを特徴とする請求項に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  9. 前記円の半径を変化させる段階は、前記円の半径を段々減少させることと前記円の半径を段々増加させることのいずれか一つからなることを特徴とする請求項に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  10. 前記方法は、前記標準偏差が前記臨界値より小さいと、前記円の半径が最小である解像度関連変数を探し出す段階をさらに含むことを特徴とする請求項に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  11. 前記方法は、前記円の半径が最小である解像度関連変数を獲得するための焦点関連変数を探し出すため、前記解像度関連変数を一定の間隔で調整した後、テストパターンの映像を獲得する段階に復帰する段階をさらに含むことを特徴とする請求項10に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  12. 前記テストパターンは、鉛スポークが前記テストパターンの中心側に行くほど細くなるように放射状に形成されたスターテストパターンであることを特徴とする請求項に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  13. 前記可変ロボットテーブルは3軸方向に移動可能であることを特徴とする請求項1に記載の放射線映像装置。
  14. 前記放射線映像装置は、放射線映像装置の放射線透過映像の焦点を調整する制御部をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の放射線映像装置。
  15. 前記制御部は、前記発生された放射線透過映像に位置する画素の画素値の分配特性によって前記焦点が良好であるかを判定することを特徴とする請求項14に記載の放射線映像装置。
  16. 前記制御部は、前記画素の画素値の分配特性によって前記発生された放射線透過映像の解像度関連変数を調整することを特徴とする請求項15に記載の放射線映像装置。
  17. 前記放射線映像装置は、発生された放射線透過映像に所定の特徴を有する形状を設定し、前記形状上に位置する画素の画素値の標準偏差を算出し、前記算出された標準偏差が前もって設定された臨界値より小さいと、前記形状の特徴を解像度の指標因子と判定する制御部をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の放射線映像装置。
  18. 前記可変ロボットテーブルは、
    前記直線運動部が移動するように案内するガイドレールと、
    前記直線運動部を駆動させる一つ以上の作動モータとをさらに含むことを特徴とする請求項3に記載の放射線映像装置。
  19. 前記画素の画素値を検出する段階と、前記標準偏差を算出する段階と、前記円の半径を解像度の指標因子を判定する段階とは、前記放射線映像装置の制御部に連動して自動に実施されることを特徴とする請求項に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  20. 前記方法は、前記円の半径が最小である前記解像度関連変数を用いて焦点を調整する段階をさらに含むことを特徴とする請求項10に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  21. 前記方法は、前記焦点関連変数を用いて焦点を調整する段階をさらに含むことを特徴とする請求項11に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  22. 前記方法は、前記焦点関連変数を用いて解像度関連変数の値を調整することにより放射線透過映像の所望解像度を獲得する段階をさらに含むことを特徴とする請求項11に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  23. 前記解像度関連変数を一定の間隔で調整する段階は前記放射線映像装置の制御部に連動して自動に実施されることを特徴とする請求項11に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  24. 放射線を被照体に照射させる放射線発生部と、被照体を位置付ける被照体固定部材及び一つ以上のテストパターンを収容するテストパターン装着部材を含む可変ロボットテーブルと、放射線を被照体に照射することにより形成される放射線透過映像を発生させる放射線検出部とを有する放射線映像装置の焦点調整方法において、
    テストパターンの放射線透過映像を獲得する段階と、
    前記テストパターンの放射線透過映像に所定の特徴を有する形状を設定する段階と、
    前記形状上に位置する画素の画素値を検出する段階と、
    前記形状上に位置する画素の画素値の標準偏差を算出する段階と、
    前記標準偏差が前もって設定された臨界値より小さいと、前記形状の特徴を解像度の指標因子と判定する段階とを含んでなることを特徴とする放射線映像装置の焦点調整方法。
  25. 前記方法は、
    前記標準偏差が前記前もって設定された臨界値より大きいと、前記標準偏差が前記臨界値より小さくなるまで前記形状の特徴を変化させる段階と、
    前記標準偏差が前記臨界値より小さいとともに前記形状の特徴が基準値より小さいと、前記形状の特徴を解像度の指標因子と判定する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項24に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  26. 前記方法は、前記標準偏差が前記臨界値より大きいと、前記形状の特徴を変化させた後、前記形状上に位置する画素の画素値を検出する段階に復帰する段階をさらに含むことを特徴とする請求項25に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  27. 前記方法は、前記標準偏差が前記臨界値より小さいと、前記形状の特徴が最小である解像度関連変数を探し出す段階をさらに含むことを特徴とする請求項24に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  28. 前記方法は、前記形状の特徴が最小である解像度関連変数を獲得するための焦点関連変数を探し出すため、前記解像度関連変数を一定の間隔で調整した後、テストパターンの映像を獲得する段階に復帰する段階をさらに含むことを特徴とする請求項27に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  29. 前記方法は、前記焦点関連変数を用いて焦点を調整する段階をさらに含むことを特徴とする請求項28に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
  30. 前記方法は、前記形状の特徴が最小である解像度関連変数を用いて焦点を調整する段階をさらに含むことを特徴とする請求項27に記載の放射線映像装置の焦点調整方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10539517B2 (en) * 2017-09-08 2020-01-21 Sumitomo Chemical Company, Limited Checking device and checking method
US10551329B2 (en) * 2017-09-08 2020-02-04 Sumitomo Chemical Company, Limted Checking device

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006032607B4 (de) * 2006-07-11 2011-08-25 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH, 73447 Anordnung zur Erzeugung elektromagnetischer Strahlung und Verfahren zum Betreiben der Anordnung
US20090268953A1 (en) * 2008-04-24 2009-10-29 Apteryx, Inc. Method for the automatic adjustment of image parameter settings in an imaging system
JP5151805B2 (ja) * 2008-08-26 2013-02-27 株式会社島津製作所 X線検査装置の調整方法
EP2787486A1 (en) * 2013-04-04 2014-10-08 Océ-Technologies B.V. Method for estimating the amount of an unconsumed part of a consumable
DE102013214482B4 (de) * 2013-07-24 2021-07-15 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Prüfkörper für ein 3d-röntgensystem und verfahren zur bestimmung der ortsauflösung eines 3d-röntgensystems mittels des prüfkörpers
JP6693437B2 (ja) * 2017-02-13 2020-05-13 トヨタ自動車株式会社 X線ct分解能評価装置
WO2019016855A1 (ja) * 2017-07-18 2019-01-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ X線検査装置の検査条件設定方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4649561A (en) * 1983-11-28 1987-03-10 Ben Arnold Test phantom and method of use of same
JPH02267894A (ja) * 1989-04-10 1990-11-01 Toshiba Corp X線発生器の焦点補正装置
KR0143972B1 (ko) * 1993-03-31 1998-07-15 김광호 비데오 카메라의 자동초점조절방법 및 장치
JPH0779961A (ja) 1993-09-20 1995-03-28 Hitachi Ltd 透過像立体撮像表示方法およびその装置
AU7255196A (en) * 1995-11-28 1997-06-19 Analogic Corporation Precalibrating x-ray tube focal spot
KR100606490B1 (ko) * 1997-04-08 2006-07-31 엑스레이 테크놀로지즈 피티와이 리미티드 극소형 대상물의 고 분해능 X-ray 이미징
US6314201B1 (en) * 1998-10-16 2001-11-06 Agilent Technologies, Inc. Automatic X-ray determination of solder joint and view delta Z values from a laser mapped reference surface for circuit board inspection using X-ray laminography
US6694047B1 (en) * 1999-07-15 2004-02-17 General Electric Company Method and apparatus for automated image quality evaluation of X-ray systems using any of multiple phantoms
US6373917B1 (en) * 2000-08-30 2002-04-16 Agilent Technologies, Inc. Z-axis elimination in an X-ray laminography system using image magnification for Z plane adjustment
JP2003151795A (ja) * 2001-11-13 2003-05-23 Japan Science & Technology Corp 面焦点x線管とポリキャピラリ−を用いた単色x線撮影装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10539517B2 (en) * 2017-09-08 2020-01-21 Sumitomo Chemical Company, Limited Checking device and checking method
US10551329B2 (en) * 2017-09-08 2020-02-04 Sumitomo Chemical Company, Limted Checking device

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