JP3690489B2 - ダイオキシン簡易分析法および装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はダイオキシン簡易分析法および装置に関し、さらに詳しくはごみ焼却処理施設や工場などの周辺の大気、排ガス、土壌または燃焼灰（フライアッシュ）中のダイオキシン類およびフラン類の濃度を、ガスクロマトグラフィーを用いて簡易かつ迅速に検出、計測し、その発生推移状況を容易に連続的にモニターすることができるダイオキシン簡易分析法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ごみ焼却処理施設や工場プラント等の周辺の大気、排ガス、土壌または焼却灰中のダイオキシン類およびフラン類（以下、単にＤＸＮ類ということがある）は、厚生省「廃棄物処理におけるダイオキシン類標準測定分析マニュアル」やＪＩＳ Ｋ０３１１、Ｋ０３１２等に準拠した高分解能ガスクロマトグラフィー質量分析法（ＧＣ／ＭＳ）を用いて分析されている。この質量分析法は、大気、排気ガス、土壌サンプルなどの被検試料に、酸処理、抽出処理、濃縮処理、クリーンアップ処理などの多数の前処理を施した後、該試料中に含まれるほぼ全ＤＸＮ類を抽出して濃縮し、これらの各成分について高分解能ＧＣ／ＭＳで定量分析するものである。
【０００３】
ＪＩＳ Ｋ０３１１等で対象となるダイオキシン類は、４塩素〜８塩素化ダイオキシン約２００種類である。従って、ＪＩＳ Ｋ０３１１等の前処理の中で最も重要な工程は、４塩素〜８塩素化ダイオキシン約２００種類をＧＣ／ＭＳで検出する際に妨害となる混入物（妨害物質）を除去するクリーンアップ処理である。このクリーンアップ処理は、(1) 硫酸処理−シリカゲルクロマトグラフ操作または多層シリカゲルクロマトグラフ操作、(2) アルミナカラムクロマトグラフ操作および(3) 活性炭カラムクロマトグラフ操作の３つの工程と、各工程後に行われる濃縮工程を有し、この３種類のクロマトグラフ操作によって抽出液に含まれる妨害物質が除去され、さらにＧＣ／ＭＳ測定結果により必要に応じて上記▲１▼〜▲３▼の操作が再度施される。
【０００４】
上記した従来技術（ＪＩＳ Ｋ０３１１等）において、４塩素〜８塩素化ダイオキシン約２００種類を試料の中に残そうとすると、妨害となる混入物を完全に除去することは大変困難であるが、高分解能ＧＣ／ＭＳでは、妨害物質が試料中に少量残っている場合でも、質量数の違いによって目的対象物と妨害混入物を分別（選択）して定量分析することが可能である（ただし、妨害物質の量が多すぎる場合は困難である）。
しかしながら、上記公定法に基づいて高分解能ＧＣ／ＭＳを用いて測定するためには、公定法（またはＪＩＳ Ｋ０３１１、０３１２）に記された複雑な前処理（酸処理、抽出処理、濃縮処理、クリーンアップ処理）を行った試料を用いる必要がある。この前処理操作は複雑で、早くても１週間程度の時間が必要であり、またその後のＧＣ／ＭＳ分析でも全ダイオキシン類の濃度の測定に２日程度の所要時間が必要である。従って、分析メーカにサンプルを出した後、分析結果が判明するのは、通常、２週間〜１か月後となり、迅速に分析結果が得られないという欠点があった。さらに１週間以上作業が継続するため、器具、人等の健康安全性の面で極めて問題があった。従って、簡便に迅速にＤＸＮ類が計測できる方法および装置が強く要望されていた。
【０００５】
一方、前処理をほとんど行わずに抽出処理のみを行った抽出液を高分解能ＧＣ／ＭＳ（分解能１００００以上）を用いて測定した場合、該抽出液中に混入している妨害成分によってダイオキシン類およびフラン類をほとんど検出することはできず、また装置内が妨害成分で汚染されて使用不可になることがあった。
また上記酸処理、抽出処理、濃縮処理、クリーンアップ処理などの前処理を行った試料について、低分解能ＧＣ／ＭＳや、ＳＡＷ／ＧＣ（表面弾性波検出：ガスクロマトグラフィー）等の通常のガスクロマトグラフィーで測定すると、ダイオキシン類と同じ保持時間を持つ妨害物質が検出されるため、ダイオキシン類を定量することはできなかった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
本発明者らは、先に、試料ガス中に含まれる特定の１または２種のダイオキシンの濃度を測定し、該測定値から、あらかじめ調べておいた特定ダイオキシン濃度と全ＤＸＮ類濃度またはＴＥＱ（毒性等量）との相関関係に基づいて全ＤＸＮ類濃度またはＴＥＱを概算する、迅速で簡易なダイオキシン類の測定方法を提案した（特願平１１−１２３３５４号）。この方法では、４塩素〜８塩素化ダイオキシン（約２００〜２１０種類）を妨害物質とともに捕集剤に吸着して捕集した後、該捕集剤を加熱装置によって加熱し、同時に不活性ガスを流して妨害物質を系外に排除し、続いて捕集剤を加熱装置でさらに加熱して特定ダイオキシンを捕集剤から脱離させ、該脱離した特定ダイオキシンをガスクロマトグラフに導入してその濃度が測定される。
【０００７】
しかし、上記方法では、試料ガスに多量の妨害成分が含まれる条件下では、捕集剤を加熱装置によって加熱し、同時に不活性ガスを流しても、完全に妨害物質を系外に排除することができない場合があり、その後に捕集剤から脱離した特定ダイオキシンに妨害物質等が混入し易く、正確なダイオキシンの濃度が測定できない場合のあることがわかった。捕集剤を加熱装置により高温状態のまま保持し続ければ、妨害混入物を系外に排除できるが、長時間捕集剤を高温下におくと捕集剤に吸着したダイオキシン類が分解または生成して捕集剤中のダイオキシン類の濃度が変化するため、正確な試料ガス中のダイオキシン濃度が測定できなくなる。
【０００８】
本発明の課題は、上記技術の問題点を解決し、大気、土壌、焼却灰などに含まれる全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性当量）を簡易かつ迅速に測定することができるダイオキシン簡易分析法および装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、大気、排ガス、土壌、燃焼灰等の被検試料に含まれるダイオキシン類およびフラン類のうち、４塩素化〜７塩素化ダイオキシン類とピレン等の妨害混入物を排除し、８塩素化ダイオキシン（オクタクロロジベンゾジオキシン、以下「Ｏ８ＣＤＤ」と略す）のみを短時間で分画処理し、該分画処理した試料をガスクロマトグラフに導入してＯ８ＣＤＤ濃度のみを迅速に定量することにより、全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）を迅速かつ簡易に概算することができることを見出し、本発明に到達したものである。
すなわち、本願で特許請求される発明は以下のとおりである。
【００１０】
（１）被検試料中のダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）をガスクロマトグラフィーを用いて測定するダイオキシン分析法において、前記被検試料中から、オクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を除去した後、前記試料中に含まれるオクタクロロジベンゾジオキシンを抽出してガスクロマトグラフィーによりその濃度を測定し、該測定値から、あらかじめ求めておいたオクタクロロジベンゾジオキシン濃度と全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）との関係に基づいて全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）を算出することを特徴とするダイオキシン簡易分析法。
（２）前記被検試料が、大気、排ガス、土壌または燃焼灰に含まれるダイオキシン類およびフラン類を有機溶剤を用いて抽出した抽出液であり、該抽出液を、アルミナを充填したカラムクロマトグラフのカラムに注入し、さらにジクロロメタン３〜７ vol％を含むヘキサン溶液を流下させてオクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を除去し、その後、ジクロロメタン２０〜７０ vol％を含むヘキサン溶液を流下させてオクタクロロジベンゾジオキシンを溶出させ、該溶出液に含まれるオクタクロロジベンゾジオキシンの濃度をガスクロマトグラフィーにより測定することを特徴とする（１）に記載のダイオキシン簡易分析法。
【００１１】
（３）前記被検試料が、ダイオキシン類およびフラン類を含むガスであり、該ガス中のダイオキシン類およびフラン類を捕集剤に吸着させた後、該捕集剤に吸着されたオクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を有機溶剤で洗い流して除去し、その後、該捕集剤に吸着されているオクタクロロジベンゾジオキシンを有機溶剤で抽出し、該有機溶剤の溶液に含まれるオクタジクロロジベンゾジオキシンの濃度をガスクロマトグラフィーにより測定することを特徴とする（１）に記載のダイオキシン簡易分析法。
（４）大気、排ガスなどの被検試料ガス中に含まれるダイオキシン類およびフラン類を捕集剤に吸着して捕集する手段と、該ダイオキシン類およびフラン類を捕集した捕集剤からオクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を有機溶剤で洗い流す手段と、上記成分が洗い流された捕集剤からオクタクロロジベンゾジオキシンを有機溶剤で抽出する手段と、該オクタクロロジベンゾジオキシンの抽出液をガスクロマトグラフに供給してオクタクロロジベンゾジオキシンの濃度を測定する手段と、該測定値から、あらかじめ求めておいたオクタクロロジベンゾジオキシン濃度と全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）との関係に基づいて全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）を算出する手段とを備えたことを特徴とするダイオキシン簡易分析装置。
【００１２】
【作用】
本発明によれば、大気、排ガス、土壌または燃焼灰等の被検試料中に含まれるＤＸＮ類から、Ｏ８ＣＤＤのほぼ全量を簡易な方法で短時間に分取し、該分取したＯ８ＣＤＤの濃度をガスクロマトグラフィー（高分解能ＧＣ／ＭＳ、ポータブルタイプの低分解能ＧＣ／ＭＳ、ＳＡＷ／ＧＣを用いて短時間（数１０秒〜数１０分間）に検出し、その検出値とあらかじめ求めておいたデータに基づいて全ＤＸＮ類濃度または全毒性等量（ＴＥＱ）を容易に求めることができる。
【００１３】
本発明者らは、大気、排ガス、土壌または燃焼灰等から抽出されたダイオキシン類およびフラン類を含む被検試料中のダイオキシン類およびフラン類の濃度を簡易的かつ迅速的に測定する方法を開発するため、ＳＡＷ／ＧＣおよび低分解能（分解能２０００）ＧＣ／ＭＳを用いて実験を行った。その結果、被検試料中には、ダイオキシン類以外にＰＣＢ、ピレン、ベンゾピレン等の多環芳香族化合物（妨害物質）が多数含まれており、比較的他のダイオキシン類の検出ピークと離れているＯ８ＣＤＤの検出ピークですら、妨害物質の検出ピークに影響（ピークの重なり等）する場合があることがわかった。すなわち、妨害物質が試料中に多量（Ｏ８ＣＤＤピークの数〜数千倍の妨害物質）に含まれると、妨害物質の検出ピークが巨大になり、Ｏ８ＣＤＤの検出ピークの位置まで占有し、Ｏ８ＣＤＤの検出ピークが妨害物質の検出ピークの中に吸収され、その結果、Ｏ８ＣＤＤを測定できなくなる。
【００１４】
一方、試料中の４〜７塩素化ダイオキシン類およびフラン類と妨害物質の含有量が少ない場合には、Ｏ８ＣＤＤと妨害物質の検出ピークは良好に分離することがわかった。
従って、被検試料中から全ＤＸＮ類とＰＣＢ、ピレン、ベンゾピレン等の多環芳香族化合物を抽出（または捕集）した後、４〜７塩素化のＤＸＮ類（約２１０種類）をＰＣＢ、ピレン、ベンゾピレン等の多環芳香族化合物とともに取り除き、一種類のダイオキシン、すなわちＯ８ＣＤＤのみを少量の溶媒中に分取し、これをガスクロマトグラフに導入してＯ８ＣＤＤのみの濃度を測定すれば、短時間で迅速な検出が可能となる。
【００１５】
図１(a) には本発明の方法で分取した液中の高分解能ＧＣ／ＭＳで検出した各種ダイオキシンの濃度を示し、図１(b) には従来のＪＩＳ法で得られたクリーンナップ処理液中の高分解能ＧＣ／ＭＳで検出した各種ダイオキシンの濃度を示した。また図２(a) には本発明の方法で分取した液のクロマトグラムを示し、図２(b) には従来のＪＩＳ法で得られたクリーンナップ処理液のクロマトグラムを示した。
これらの図１および図２から本発明の方法で分取された液には、４〜７塩素化ダイオキシンおよび妨害物質が除かれており、Ｏ８ＣＤＤのほぼ全量が捕集されることが示される。
以下に被検試料からＯ８ＣＤＤのみを分取する方法について、(i) 被検試料が有機溶剤による抽出液である場合と、(ii)被検試料が試料ガスである場合に分けて詳しく説明する。
【００１６】
【発明の実施の形態】
(i）被検試料が、有機溶剤を用いて抽出した抽出液である場合のＯ８ＣＤＤの分取方法
まず、大気、排ガス、土壌または燃焼灰に含まれるダイオキシン類は、トルエン等の任意の抽出溶媒を用いて公知の方法で抽出する。
次に、この抽出液を、アルミナを充填したカラムクロマトグラフに注入した後、これにジクロロメタン３〜７ vol％（好ましくは４〜６ vol％) を含むヘキサン溶液を流下させ、Ｏ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害物質を除去する。その後、ジクロロメタン２０〜７０ vol％( 好ましくは４０〜６０ vol％) を含むヘキサン溶液を流下させ、Ｏ８ＣＤＤを溶出させて分取する。次いで、該溶出液をガスクロマトグラフに導入してＯ８ＣＤＤの濃度を測定する。このときに使用するガスクロマトグラフは、高分解能のものに限られず、一般的なガスクロマトグラフを用いることができる。
【００１７ 】
Ｏ８ＣＤＤ以外の成分を除去するためのジクロロメタンのヘキサン溶液濃度が３ vol％未満では、カラムクロマトグラフに供給する液が大量に必要となり、滴下時間が長くなり、迅速な測定ができなくなる。例えば、２４０mL必要な場合で１．４３mL／分で滴下した場合には１６８分必要となる。なお、ＪＩＳ Ｋ０３１１に示された０〜２ vol％のジクロロメタンのヘキサン溶液濃度のものを用いた場合には、１日（８時間）でＯ８ＣＤＤを分取し、濃度を測定することはできない。またジクロロメタンのヘキサン溶液濃度が７ vol％を超えると、妨害成分（ピレン、ベンゾピレン、４〜７塩素化のダイオキシン類等）とともにＯ８ＣＤＤが流下し、除去されてしまうため、正確なＯ８ＣＤＤの濃度の測定ができなくなる。
またＯ８ＣＤＤを分取するためのジクロロメタンのヘキサン溶液濃度が２０ vol％未満では、溶出量（時間）が多くなり、Ｏ８ＣＤＤを短時間に流出させて分取することができず、また７０ vol％を超えると、Ｏ８ＣＤＤより高沸点の妨害成分が流出するなどの問題が生じる。
なお、抽出液に多量の妨害成分が存在する場合には、上記ジクロロメタン３〜７ vol％を含むヘキサン溶液を流下する前に、ジクロロメタン０〜２ vol％を含むヘキサン溶液の任意量を流下させてもよい。
【００１８】
カラムクロマトグラフに用いるカラムのサイズには特に制約はなく、任意の内径のものが使用できるが、一般的には内径１０mm程度のものが使用される。カラムの内径が１０mm未満では、溶媒の流速が低下するため滴下時間が増加しやすく、内径１０mmを超える場合には妨害成分とＯ８ＣＤＤの分離が不完全となる場合がある。
またカラムに充填するアルミナとしては活性アルミナなどの公知のものが使用でき、その使用量も任意の量でよいが、内径１０ｍｍ程度のカラムを使用する場合には７g 前後の使用量とするが好ましい。アルミナ量が７g 未満の場合は、妨害成分とＯ８ＣＤＤの分離が不完全となり易く、アルミナ量が７g を超える場合は溶媒の流速が低下するため滴下時間が増大し易い。
【００１９】
図３には、ジクロロメタンのヘキサン溶液濃度とＯ８ＣＤＤ溶出時間との関係、ジクロロメタンのヘキサン溶液濃度とＨ７ＣＤＤ（７塩素化ダイオキシン）および妨害物質の含有率との関係を示した。図３は、ジクロロメタン濃度が３〜７ vol％であれば４時間以内でＯ８ＣＤＤをカラム充填物に残留させてＨ７ＣＤＤや他の妨害物質を除去できることを示す。一方、ジクロロメタン濃度が７ vol％を超えた場合、Ｏ８ＣＤＤをカラム充填物に残留させる条件ではカラム充填物にＨ７ＣＤＤや他の妨害物質が残留してしまうため、Ｏ８ＣＤＤの定量が困難となる。
【００２０】
具体的には、アルミナ充填カラムクロマトグラフを用いて以下のようにしてＯ８ＣＤＤの分取を行うことができる（図４参照）。
まず、カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め、アルミナ７g(かさ容積１０〜１２cm3)とヘキサンの混合物をカラムクロマトグラフ管に充填し、さらに、その上層に硫酸ナトリウムを１〜２g 充填し、液面を硫酸ナトリウムの上面までさげる。土壌または燃焼灰試料を有機溶媒を用いて抽出した液（ダイオキシン抽出液）を移し入れ、ヘキサン０．５〜１mLで数回洗い込み、液面を硫酸ナトリウムの上面まで下げた後、ジクロロメタン３〜７ vol％を含むヘキサン溶液をアルミナかさ容積の４〜１０倍量（４０〜１００mL）を流下させる。この流下液４０〜１００mL中にＰＣＢ、ピレン、ベンゾピレン、４〜７塩素化のダイオキシン類が含まれる。
【００２１】
次に、ジクロロメタン５０ vol％を含むヘキサン溶液をアルミナかさ容積の１〜５倍量（１０〜５０mL）を流し、得られた液を試料とする。この試料１０〜５０mL中にＯ８ＣＤＤが含まれる。この試料を必要に応じて濃縮した後、ガスクロマトグラフィーを用いてＯ８ＣＤＤの濃度を定量する。定量値から、あらかじめ求めておいたＯ８ＣＤＤ濃度と全ＤＸＮ類濃度またはＴＥＱとの関係に基づいて、全ダイオキシン類およびフラン類またはＴＥＱが求められる。
本発明において、溶媒滴下速度（時間）は、カラムクロマトグラフ管の内径１０mm、アルミナ量７g の条件下では１．４３mL／分とするのが好ましい。
このような方法によれば、１〜２時間でＯ８ＣＤＤを分取でき、従って、２〜３時間で全ダイオキシン類およびフラン類の濃度の連続測定（モニタリング）をすることができる。
【００２２】
(ii)被検試料が、ダイオキシン類およびフラン類を含む試料ガスである場合のＯ８ＣＤＤの分取方法
被検試料が大気または排ガスなどの試料ガスである場合には、図５に示すフローチャートに従った工程（手順）によりＯ８ＣＤＤを分取し、ガスクロマトグラフィーによる測定に供される。
すなわち、試料ガス中のダイオキシン類およびフラン類を捕集剤に吸着させる工程Ｉと、該捕集剤に吸着されたＯ８ＣＤＤ以外ＤＸＮ類および妨害物質を有機溶媒で洗い流して除去する工程IIと、該捕集剤に吸着されているＯ８ＣＤＤを別の有機溶媒で溶出して分取する工程III と、該溶出液中のＯ８ＣＤＤの濃度をガスクロマトグラフィーにより測定する工程IVが順に行われる。
【００２３】
具体的には試料ガス中の全ダイオキシン類と妨害物質を、捕集剤に吸着した後、該捕集剤を保有する容器をバルブ切替えにより別系統にスライドし、有機溶媒を試料ガス捕集時と同じ方向に流すことによって該捕集剤に吸着したＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害物質が除去される。さらに該捕集剤容器をバルブ切替えにより別系統にスライドし、別の有機溶媒を試料ガス捕集時と反対方向に流すことによって捕集剤に吸着したＯ８ＣＤＤを溶出させて分取する。有機溶媒を試料ガス捕集時と同じ方向に流すことによって、全種（２００種以上）のＤＸＮ類を捕集剤に捕集させつつ妨害物質を除去し、かつ該捕集剤からさらに有機溶媒により全ＤＸＮ類を溶出させて捕集することは非常に困難であるが、本発明のように有機溶媒を試料ガス捕集時と同じ方向に流してＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類を妨害物質とともに除去し、その後に逆方向から有機溶媒を流してＯ８ＣＤＤの一種類のみを溶出させることは容易である。
【００２４】
本発明において、捕集剤としては、炭素材、酸化マグネシウム材等が用いられる。
また捕集剤に吸着した妨害混入物を除去する（排ガス捕集時と同じ方向に流す）ための有機溶媒としては、ヘキサン、アセトン、メタノール、ジクロロベンゼンおよびその混合液を用いることができる。
また捕集剤に吸着したＯ８ＣＤＤを溶出させる（排ガス捕集時と反対方向に流す）ための有機溶媒としては、トルエン、ヘキサン、アセトン、ベンゼン、ジクロロベンゼンおよびその混合液を用いることができる。
一種類のダイオキシン（Ｏ８ＣＤＤ）のみを溶媒中に分取したサンプルは、短時間でガスクロマトグラフィーで検出することが可能である。
【００２５】
図６は、本発明の一実施例を示すダイオキシン簡易分析装置の説明図であり、この装置を用いて行われる工程１〜工程IVの説明を図７および図８に示した。
このダイオキシン簡易分析装置は、排ガス中のダイオキシン類および妨害混入物を捕集するための捕集剤を保有した捕集剤容器３と、該捕集剤容器３を保持し、かつ該捕集剤容器３を次工程（工程II〜IV) にスライドさせる回転ホルダ２１と、排ガス流路１から排ガスを前記捕集剤容器３に供給するバルブ２および捕集剤容器３を通過した排ガスを排出させるバルブ４と、該排ガスの流量を測定する流量計６および該流量計６に排ガスを供給するポンプ５とを備える。これらは工程Ｉの操作で使用される。
【００２６】
また工程Ｉの操作終了後に前記回転ホルダー２１によりスライドされた捕集剤容器３に溶媒タンク７からポンプ８を介して有機溶媒を供給するバルブ９および該有機溶媒を該捕集剤容器３から排出させるバルブ１０と、該バルブ１０から排出された有機溶媒を貯留する廃液タンク１１を有する。これらは工程IIの操作で使用される。
さらに工程IIの操作終了後に前記回転ホルダー２１によりスライドされた捕集剤容器３に溶液タンク１２からポンプ１３により有機溶媒を供給するバルブ１４および前記捕集剤容器３を通過した有機溶媒を排出させるバルブ１５と、該バルブ１５から排出された有機溶媒を捕集する試料容器１７と、該試料容器１７を保持する回転ホルダ２２とを有する。これらは工程III の操作で使用される。
さらに前記回転ホルダ２２に保持された試料容器１７内の試料液を濃縮させる濃縮器１８と、濃縮液の一定量がオートサンプラ１９により供給されて該液中のＯ８ＣＤＤ濃度を測定するガスクロマトグラフ２０とを有する。これらは工程IVの操作で使用される。
【００２７】
このような構成において、各工程Ｉ〜IVの操作は以下のように行われる（図７および図８参照）。
〔工程Ｉ（ガス捕集）〕
試料ガスは、排ガス流路１からポンプ５および流量計６によりその流量が調整されて捕集剤容器３に導入される。この時の試料ガスは、バルブ２を経て捕集剤容器３を通過する際にガス中のＤＸＮ類および妨害混入物が該容器内に充填された捕集剤に捕集される。捕集剤容器３を通過したガスは、バルブ４を通過してポンプ５により系外に排出される。
【００２８】
〔工程II（ＤＸＮ類および妨害物質の除去）〕
工程ＩでＤＸＮ類等を捕集した捕集剤容器３は、回転ホルダ２１によってスライドされて以下の工程IIの操作が行われる。すなわち、溶媒タンク７からポンプ８を介して有機溶媒が捕集剤容器３に導入される。この時の有機溶媒は、工程Ｉにおける排ガス供給方向と同じ方向に供給され、バルブ９を経て捕集剤容器３の捕集剤に捕集されたＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害混入物を該捕集剤から脱離させる。捕集剤容器３を通過した上記脱離成分を含む有機溶媒はバルブ１０を経て廃液タンク１１に排出される。
【００２９】
〔工程III 〕（Ｏ８ＣＤＤ溶出）
工程IIでＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害物質が除去された捕集剤容器３は回転ホルダ２１によってさらにスライドされて以下の工程III の操作が行われる。すなわち、溶媒タンク１２からポンプ１３を介して有機溶媒が捕集剤容器３に導入される。この時の有機溶媒は、工程IIにおける有機溶媒の供給方向と逆の方向に供給され、バルブ１４を経て捕集剤容器３の捕集剤に保持されたＯ８ＣＤＤを脱離させる。捕集剤容器３を通過したＯ８ＣＤＤを含む有機溶媒は、バルブ１５およびバルブ１６を通過して試料容器１７に分取される。
【００３０】
〔工程IV〕（ガスクロ測定）
工程III でＯ８ＣＤＤを含む試料液が分取された試料容器１７は回転ホルダ２２によってスライドされて以下の工程IVの操作が行われる。まず濃縮器１８からＮ2 ガスが試料容器１７に供給されて所定量に濃縮される。次に濃縮されたＯ８ＣＤＤを含む試料液は、オートサンプラ１９によって所定量サンプリングされ、ガスクロマトグラフ２０に供給されてＯ８ＣＤＤの濃度が測定される。
【００３１】
【実施例】
以下、本発明を実施例によりさらに詳しく説明する。
実施例１
本発明によるダイオキシン抽出液からのＯ８ＣＤＤ分取法を用いて、ごみ焼却処理場の飛灰のダイオキシン類の濃度を同時測定した。
飛灰１g をふた付きガラス製試験管に入れた後、トルエン５mLを加えて試験管のふたをした。この試験管を小型超音波照射装置に配置し、１分間超音波照射した後、小型超音波照射装置から試験管を取り出し、試験管立てに試験管を立て３分間放置した。試験管内は、上がトルエン層（透明：ダイオキシン抽出液）、下が灰層（黒色）の２層にわかれた。なお、ここまでの操作は、任意の抽出方法で抽出してもよい。
【００３２】
ダイオキシン抽出液５mLを新たな試験管に移し、０．５mLになるまで高純度窒素ガス（純度：９９．９９９９％）を試験管内に吹き付けて濃縮した。
ビードレックス社製透明摺合クロマトグラフ管（内径１０mm、長さ３００mm）の底部に溶媒洗浄済の脱脂綿１０mgを詰め、硫酸ナトリウムを１g 充填し、和光純薬社製活性アルミナ７g とヘキサン（ＰＣＢ分析用）５〜２０mLの混合物をカラムクロマトグラフ管に充填し、さらに、その上層に硫酸ナトリウムを１g 充填した。ヘキサン３０〜５０mLを流下させた後、液面を上層の硫酸ナトリウムの上面までさげる。０．５mLのダイオキシン抽出液を移し入れ、ヘキサン０．５〜１mLで数回洗い込み、液面を硫酸ナトリウムの上面まで下げた後、ジクロロメタン４ vol％を含むヘキサン溶液４０mLを流下させた。つぎにジクロロメタン５０ vol％を含むヘキサン溶液１０mLを流して試料（この１０mL中にＯ８ＣＤＤが含まれる）とした。
【００３３】
この時の各溶媒の滴下する速度は、約１．４３mL／分であった。この試料を０．１mLに濃縮した後、ガスクロマトグラフィー（ＳＡＷ／ＧＣ）でＯ８ＣＤＤを定量した。Ｏ８ＣＤＤ定量値から全ダイオキシン類量およびＴＥＱを算出して、ＳＡＷ／ＧＣのパソコンのディスプレイに表示した。全所要時間は約２時間であった。
同一灰について５回繰り返して測定を行った結果、サンプル灰中の全ダイオキシン類量は、１１５〜１３５ng/g（灰）、ＴＥＱは、１．５〜１．８ng/g（灰）であった。本システムを用いれば、ダイオキシン類を２時間間隔でモニタリングできる。
【００３４】
実施例２
実施例１において、活性アルミナを充填したカラムクロマトグラフに、ダイオキシン抽出液を入れ、ヘキサン０．５〜１mLで数回洗い込み、液面を硫酸ナトリウムの上面まで下げた後、ヘキサン溶液２００mLを流下させた以外は、実施例１と同様にしてＯ８ＣＤＤの定量を行い、該定量値から全ダイオキシン類量およびＴＥＱを算出した。
このときの全所要時間は約４時間であった。また同一灰について５回繰り返して測定を行った結果、サンプル灰中の全ダイオキシン類量は、１２０〜１４０ng/g（灰）、ＴＥＱは、１．６〜１．９ng/g（灰）であった。
【００３５】
比較例１
従来の高分解能ＧＣ／ＭＳ（厚生省「廃棄物処理におけるダイオキシン類標準測定分析マニュアル」等に準拠した高分解能ガスクロマトグラフ／質量分析法）を用いて、実施例１と同じごみ焼却処理場の灰のダイオキシン類を測定した。試料灰の抽出処理およびＧＣ／ＭＳ測定に１１日間を要した。
その結果、サンプル灰中の全ダイオキシン類量は、１３３ng/g（灰）、ＴＥＱは、１．８ng/g（灰）であった。
【００３６】
比較例２
実施例１と同じごみ焼却処理場の灰のダイオキシン類を測定した。実施例１と同じ方法によって抽出したダイオキシン抽出液５mLを新たな試験管に移し、０．５mLになるまで高純度窒素ガス（純度：９９．９９９９％）を試験管内に吹き付けて濃縮した。この試料を０．１mLに濃縮した後、ガスクロマトグラフィー（ＳＡＷ／ＧＣ）でＯ８ＣＤＤを定量した。
その結果、測定クロマトグラムには多数の妨害ピークが存在し、Ｏ８ＣＤＤを定量できなかった。
【００３７】
実施例３
図６に示すダイオキシン簡易測定装置を用いてごみ焼却処理場の排ガスのダイオキシン類を測定した。
ごみ焼却処理場の煙道から排ガス１m3を、捕集剤（炭素ピッチ系繊維状炭素材、２ｇ）を保有させた捕集剤容器３に供給してＤＸＮ類および妨害物質を捕集した。次いで捕集剤容器３をスライドし、該捕集剤容器３に溶媒タンク７からヘキサン５００mLを流した後、さらに捕集剤容器３をスライドし、該捕集剤容器３に溶媒タンク１２からトルエン１００mLを流して試料容器１７に収容した。つぎに試料容器１７に収容されたＯ８ＣＤＤを含むトルエン溶液を、濃縮器１８によってＮ2 を吹き付けて２００μL に濃縮した。この濃縮液は、オートサンプラ（インジェクタ）１９によって１μL がガスクロマトグラフ２０に注入され、Ｏ８ＣＤＤ濃度が測定された。Ｏ８ＣＤＤ定量値から全ダイオキシン類量およびＴＥＱを算出してパソコンのディスプレイに表示した。
その結果、排ガスサンプル中の全ダイオキシン類量は、１８５０ng/m3 、ＴＥＱは、１８ng/m3 であった。本システムを用いれば、ダイオキシン類を簡易モニタリング測定できる。
【００３８】
実施例４
実施例３と同じ装置を用いて、実施例１と同時に同じごみ焼却処理場の排ガス１m3を捕集剤容器３に供給してＤＸＮ類および妨害物質を捕集した。この捕集剤容器３をスライドし、該捕集剤容器３に溶媒タンク７からアセトン２００mLを流した後、さらに捕集剤容器３をスライドし、捕集剤剤容器３に溶媒タンク１２からヘキサン／ジクロロメタン（重量比１：１）溶液５０mLを流し、試料容器１７に収容した。つぎに試料容器１７に収容されたＯ８ＣＤＤを含む溶液を、濃縮器１８によりＮ2 を吹き付けて２００μL に濃縮した。この濃縮液は、オートサンプラ（インジェクタ）１９によって１μL がガスクロマトグラフに注入されてＯ８ＣＤＤ濃度が測定された。Ｏ８ＣＤＤ定量値から全ダイオキシン類量およびＴＥＱを算出してパソコンのディスプレイに表示した。
その結果、排ガスサンプル中の全ダイオキシン類量は、１９２０ng/m3 、ＴＥＱは、１９ng/m3 であった。
【００３９】
比較例３
従来の高分解能ＧＣ／ＭＳ（厚生省「廃棄物処理におけるダイオキシン類標準測定分析マニュアル」等に準拠した高分解能ガスクロマトグラフ／質量分析法）を用いて、実施例３と同じごみ焼却処理場の排ガスのダイオキシン類を同時に測定した。試料の抽出処理およびＧＣ／ＭＳ測定に１１日間を要した。
その結果、サンプル灰中の全ダイオキシン類量は、１９００ng/m3 、ＴＥＱは、１８ng/m3 であった。
【００４０】
比較例４
本発明者らが先に特願平１１−１２３３５４号で提案したダイオキシン簡易測定法に基づいて、実施例３と同じごみ焼却処理場の排ガス中のダイオキシン類を同時に測定した。
具体的には、捕集剤（イオン交換樹脂（ＸＡＤ−２樹脂）５０ｇ）に排ガス１m3を通過させてＤＸＮ類および妨害物質を吸着させ、捕集した後、該捕集剤を加熱装置によって加熱し、同時に不活性ガスを流してＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害物質を系外に排除し、続いて捕集剤を加熱装置でさらに加熱してＯ８ＣＤＤを該捕集剤から脱離させ、該脱離したＯ８ＣＤＤをガスクロマトグラフに導入してその濃度を測定した。
その結果、測定クロマトグラムには多数の妨害ピークが存在し、Ｏ８ＣＤＤを定量できなかった。
【００４１】
【発明の効果】
本発明のダイオキシン簡易分析法および装置によれば、被検試料に多量の妨害有機物が混入している場合でも、Ｏ８ＣＤＤのみを容易に分取することができ、該Ｏ８ＣＤＤの濃度に基づいて全ダイオキシン類の濃度およびＴＥＱをリアルタイムに算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の方法で分取した液および従来のＪＩＳ法でクリーンナップ処理された液の高分解能ＧＣ／ＭＳにより検出された各ダイオキシンの濃度を示す図。
【図２】本発明の方法で分取した液および従来のＪＩＳ法でクリーンナップ処理された液のクロマトグラムを示す図。
【図３】ジククロメタンのヘキサン溶液濃度とＯ８ＣＤＤ溶出時間との関係、ジクロロメタンのヘキサン溶液濃度とＨ７ＣＤＤおよび妨害物質の含有率との関係を示す図。
【図４】本発明によるカラムクロマトグラフを用いたＯ８ＣＤＤの分取法の説明図。
【図５】本発明による試料排ガスからのＯ８ＣＤＤの分取法のフロー図。
【図６】本発明の一実施例を示すダイオキシン簡易分析装置の説明図。
【図７】図６の装置を用いた工程Ｉおよび工程IIの説明図。
【図８】図６の装置を用いた工程III および工程IVの説明図。
【符号の説明】
１…排ガス流路（煙道）、２…バルブ、３…捕集剤容器、４…バルブ、５…ポンプ、６…流量計、７…溶媒タンク、８…ポンプ、９…バルブ、１０…バルブ、１１…廃液タンク、１２…溶媒タンク、１３…ポンプ、１４…バルブ、１５…バルブ、１６…バルブ、１７…試料容器、１８…濃縮器（Ｎ2 吹き付け器）、１９…オートサンプラ、２０…ガスクロマトグラフ、２１…回転ホルダ（捕集剤容器用）、２２…回転ホルダ（試料容器用）。
【発明の属する技術分野】
本発明はダイオキシン簡易分析法および装置に関し、さらに詳しくはごみ焼却処理施設や工場などの周辺の大気、排ガス、土壌または燃焼灰（フライアッシュ）中のダイオキシン類およびフラン類の濃度を、ガスクロマトグラフィーを用いて簡易かつ迅速に検出、計測し、その発生推移状況を容易に連続的にモニターすることができるダイオキシン簡易分析法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ごみ焼却処理施設や工場プラント等の周辺の大気、排ガス、土壌または焼却灰中のダイオキシン類およびフラン類（以下、単にＤＸＮ類ということがある）は、厚生省「廃棄物処理におけるダイオキシン類標準測定分析マニュアル」やＪＩＳ Ｋ０３１１、Ｋ０３１２等に準拠した高分解能ガスクロマトグラフィー質量分析法（ＧＣ／ＭＳ）を用いて分析されている。この質量分析法は、大気、排気ガス、土壌サンプルなどの被検試料に、酸処理、抽出処理、濃縮処理、クリーンアップ処理などの多数の前処理を施した後、該試料中に含まれるほぼ全ＤＸＮ類を抽出して濃縮し、これらの各成分について高分解能ＧＣ／ＭＳで定量分析するものである。
【０００３】
ＪＩＳ Ｋ０３１１等で対象となるダイオキシン類は、４塩素〜８塩素化ダイオキシン約２００種類である。従って、ＪＩＳ Ｋ０３１１等の前処理の中で最も重要な工程は、４塩素〜８塩素化ダイオキシン約２００種類をＧＣ／ＭＳで検出する際に妨害となる混入物（妨害物質）を除去するクリーンアップ処理である。このクリーンアップ処理は、(1) 硫酸処理−シリカゲルクロマトグラフ操作または多層シリカゲルクロマトグラフ操作、(2) アルミナカラムクロマトグラフ操作および(3) 活性炭カラムクロマトグラフ操作の３つの工程と、各工程後に行われる濃縮工程を有し、この３種類のクロマトグラフ操作によって抽出液に含まれる妨害物質が除去され、さらにＧＣ／ＭＳ測定結果により必要に応じて上記▲１▼〜▲３▼の操作が再度施される。
【０００４】
上記した従来技術（ＪＩＳ Ｋ０３１１等）において、４塩素〜８塩素化ダイオキシン約２００種類を試料の中に残そうとすると、妨害となる混入物を完全に除去することは大変困難であるが、高分解能ＧＣ／ＭＳでは、妨害物質が試料中に少量残っている場合でも、質量数の違いによって目的対象物と妨害混入物を分別（選択）して定量分析することが可能である（ただし、妨害物質の量が多すぎる場合は困難である）。
しかしながら、上記公定法に基づいて高分解能ＧＣ／ＭＳを用いて測定するためには、公定法（またはＪＩＳ Ｋ０３１１、０３１２）に記された複雑な前処理（酸処理、抽出処理、濃縮処理、クリーンアップ処理）を行った試料を用いる必要がある。この前処理操作は複雑で、早くても１週間程度の時間が必要であり、またその後のＧＣ／ＭＳ分析でも全ダイオキシン類の濃度の測定に２日程度の所要時間が必要である。従って、分析メーカにサンプルを出した後、分析結果が判明するのは、通常、２週間〜１か月後となり、迅速に分析結果が得られないという欠点があった。さらに１週間以上作業が継続するため、器具、人等の健康安全性の面で極めて問題があった。従って、簡便に迅速にＤＸＮ類が計測できる方法および装置が強く要望されていた。
【０００５】
一方、前処理をほとんど行わずに抽出処理のみを行った抽出液を高分解能ＧＣ／ＭＳ（分解能１００００以上）を用いて測定した場合、該抽出液中に混入している妨害成分によってダイオキシン類およびフラン類をほとんど検出することはできず、また装置内が妨害成分で汚染されて使用不可になることがあった。
また上記酸処理、抽出処理、濃縮処理、クリーンアップ処理などの前処理を行った試料について、低分解能ＧＣ／ＭＳや、ＳＡＷ／ＧＣ（表面弾性波検出：ガスクロマトグラフィー）等の通常のガスクロマトグラフィーで測定すると、ダイオキシン類と同じ保持時間を持つ妨害物質が検出されるため、ダイオキシン類を定量することはできなかった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
本発明者らは、先に、試料ガス中に含まれる特定の１または２種のダイオキシンの濃度を測定し、該測定値から、あらかじめ調べておいた特定ダイオキシン濃度と全ＤＸＮ類濃度またはＴＥＱ（毒性等量）との相関関係に基づいて全ＤＸＮ類濃度またはＴＥＱを概算する、迅速で簡易なダイオキシン類の測定方法を提案した（特願平１１−１２３３５４号）。この方法では、４塩素〜８塩素化ダイオキシン（約２００〜２１０種類）を妨害物質とともに捕集剤に吸着して捕集した後、該捕集剤を加熱装置によって加熱し、同時に不活性ガスを流して妨害物質を系外に排除し、続いて捕集剤を加熱装置でさらに加熱して特定ダイオキシンを捕集剤から脱離させ、該脱離した特定ダイオキシンをガスクロマトグラフに導入してその濃度が測定される。
【０００７】
しかし、上記方法では、試料ガスに多量の妨害成分が含まれる条件下では、捕集剤を加熱装置によって加熱し、同時に不活性ガスを流しても、完全に妨害物質を系外に排除することができない場合があり、その後に捕集剤から脱離した特定ダイオキシンに妨害物質等が混入し易く、正確なダイオキシンの濃度が測定できない場合のあることがわかった。捕集剤を加熱装置により高温状態のまま保持し続ければ、妨害混入物を系外に排除できるが、長時間捕集剤を高温下におくと捕集剤に吸着したダイオキシン類が分解または生成して捕集剤中のダイオキシン類の濃度が変化するため、正確な試料ガス中のダイオキシン濃度が測定できなくなる。
【０００８】
本発明の課題は、上記技術の問題点を解決し、大気、土壌、焼却灰などに含まれる全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性当量）を簡易かつ迅速に測定することができるダイオキシン簡易分析法および装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、大気、排ガス、土壌、燃焼灰等の被検試料に含まれるダイオキシン類およびフラン類のうち、４塩素化〜７塩素化ダイオキシン類とピレン等の妨害混入物を排除し、８塩素化ダイオキシン（オクタクロロジベンゾジオキシン、以下「Ｏ８ＣＤＤ」と略す）のみを短時間で分画処理し、該分画処理した試料をガスクロマトグラフに導入してＯ８ＣＤＤ濃度のみを迅速に定量することにより、全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）を迅速かつ簡易に概算することができることを見出し、本発明に到達したものである。
すなわち、本願で特許請求される発明は以下のとおりである。
【００１０】
（１）被検試料中のダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）をガスクロマトグラフィーを用いて測定するダイオキシン分析法において、前記被検試料中から、オクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を除去した後、前記試料中に含まれるオクタクロロジベンゾジオキシンを抽出してガスクロマトグラフィーによりその濃度を測定し、該測定値から、あらかじめ求めておいたオクタクロロジベンゾジオキシン濃度と全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）との関係に基づいて全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）を算出することを特徴とするダイオキシン簡易分析法。
（２）前記被検試料が、大気、排ガス、土壌または燃焼灰に含まれるダイオキシン類およびフラン類を有機溶剤を用いて抽出した抽出液であり、該抽出液を、アルミナを充填したカラムクロマトグラフのカラムに注入し、さらにジクロロメタン３〜７ vol％を含むヘキサン溶液を流下させてオクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を除去し、その後、ジクロロメタン２０〜７０ vol％を含むヘキサン溶液を流下させてオクタクロロジベンゾジオキシンを溶出させ、該溶出液に含まれるオクタクロロジベンゾジオキシンの濃度をガスクロマトグラフィーにより測定することを特徴とする（１）に記載のダイオキシン簡易分析法。
【００１１】
（３）前記被検試料が、ダイオキシン類およびフラン類を含むガスであり、該ガス中のダイオキシン類およびフラン類を捕集剤に吸着させた後、該捕集剤に吸着されたオクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を有機溶剤で洗い流して除去し、その後、該捕集剤に吸着されているオクタクロロジベンゾジオキシンを有機溶剤で抽出し、該有機溶剤の溶液に含まれるオクタジクロロジベンゾジオキシンの濃度をガスクロマトグラフィーにより測定することを特徴とする（１）に記載のダイオキシン簡易分析法。
（４）大気、排ガスなどの被検試料ガス中に含まれるダイオキシン類およびフラン類を捕集剤に吸着して捕集する手段と、該ダイオキシン類およびフラン類を捕集した捕集剤からオクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を有機溶剤で洗い流す手段と、上記成分が洗い流された捕集剤からオクタクロロジベンゾジオキシンを有機溶剤で抽出する手段と、該オクタクロロジベンゾジオキシンの抽出液をガスクロマトグラフに供給してオクタクロロジベンゾジオキシンの濃度を測定する手段と、該測定値から、あらかじめ求めておいたオクタクロロジベンゾジオキシン濃度と全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）との関係に基づいて全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）を算出する手段とを備えたことを特徴とするダイオキシン簡易分析装置。
【００１２】
【作用】
本発明によれば、大気、排ガス、土壌または燃焼灰等の被検試料中に含まれるＤＸＮ類から、Ｏ８ＣＤＤのほぼ全量を簡易な方法で短時間に分取し、該分取したＯ８ＣＤＤの濃度をガスクロマトグラフィー（高分解能ＧＣ／ＭＳ、ポータブルタイプの低分解能ＧＣ／ＭＳ、ＳＡＷ／ＧＣを用いて短時間（数１０秒〜数１０分間）に検出し、その検出値とあらかじめ求めておいたデータに基づいて全ＤＸＮ類濃度または全毒性等量（ＴＥＱ）を容易に求めることができる。
【００１３】
本発明者らは、大気、排ガス、土壌または燃焼灰等から抽出されたダイオキシン類およびフラン類を含む被検試料中のダイオキシン類およびフラン類の濃度を簡易的かつ迅速的に測定する方法を開発するため、ＳＡＷ／ＧＣおよび低分解能（分解能２０００）ＧＣ／ＭＳを用いて実験を行った。その結果、被検試料中には、ダイオキシン類以外にＰＣＢ、ピレン、ベンゾピレン等の多環芳香族化合物（妨害物質）が多数含まれており、比較的他のダイオキシン類の検出ピークと離れているＯ８ＣＤＤの検出ピークですら、妨害物質の検出ピークに影響（ピークの重なり等）する場合があることがわかった。すなわち、妨害物質が試料中に多量（Ｏ８ＣＤＤピークの数〜数千倍の妨害物質）に含まれると、妨害物質の検出ピークが巨大になり、Ｏ８ＣＤＤの検出ピークの位置まで占有し、Ｏ８ＣＤＤの検出ピークが妨害物質の検出ピークの中に吸収され、その結果、Ｏ８ＣＤＤを測定できなくなる。
【００１４】
一方、試料中の４〜７塩素化ダイオキシン類およびフラン類と妨害物質の含有量が少ない場合には、Ｏ８ＣＤＤと妨害物質の検出ピークは良好に分離することがわかった。
従って、被検試料中から全ＤＸＮ類とＰＣＢ、ピレン、ベンゾピレン等の多環芳香族化合物を抽出（または捕集）した後、４〜７塩素化のＤＸＮ類（約２１０種類）をＰＣＢ、ピレン、ベンゾピレン等の多環芳香族化合物とともに取り除き、一種類のダイオキシン、すなわちＯ８ＣＤＤのみを少量の溶媒中に分取し、これをガスクロマトグラフに導入してＯ８ＣＤＤのみの濃度を測定すれば、短時間で迅速な検出が可能となる。
【００１５】
図１(a) には本発明の方法で分取した液中の高分解能ＧＣ／ＭＳで検出した各種ダイオキシンの濃度を示し、図１(b) には従来のＪＩＳ法で得られたクリーンナップ処理液中の高分解能ＧＣ／ＭＳで検出した各種ダイオキシンの濃度を示した。また図２(a) には本発明の方法で分取した液のクロマトグラムを示し、図２(b) には従来のＪＩＳ法で得られたクリーンナップ処理液のクロマトグラムを示した。
これらの図１および図２から本発明の方法で分取された液には、４〜７塩素化ダイオキシンおよび妨害物質が除かれており、Ｏ８ＣＤＤのほぼ全量が捕集されることが示される。
以下に被検試料からＯ８ＣＤＤのみを分取する方法について、(i) 被検試料が有機溶剤による抽出液である場合と、(ii)被検試料が試料ガスである場合に分けて詳しく説明する。
【００１６】
【発明の実施の形態】
(i）被検試料が、有機溶剤を用いて抽出した抽出液である場合のＯ８ＣＤＤの分取方法
まず、大気、排ガス、土壌または燃焼灰に含まれるダイオキシン類は、トルエン等の任意の抽出溶媒を用いて公知の方法で抽出する。
次に、この抽出液を、アルミナを充填したカラムクロマトグラフに注入した後、これにジクロロメタン３〜７ vol％（好ましくは４〜６ vol％) を含むヘキサン溶液を流下させ、Ｏ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害物質を除去する。その後、ジクロロメタン２０〜７０ vol％( 好ましくは４０〜６０ vol％) を含むヘキサン溶液を流下させ、Ｏ８ＣＤＤを溶出させて分取する。次いで、該溶出液をガスクロマトグラフに導入してＯ８ＣＤＤの濃度を測定する。このときに使用するガスクロマトグラフは、高分解能のものに限られず、一般的なガスクロマトグラフを用いることができる。
【００１７ 】
Ｏ８ＣＤＤ以外の成分を除去するためのジクロロメタンのヘキサン溶液濃度が３ vol％未満では、カラムクロマトグラフに供給する液が大量に必要となり、滴下時間が長くなり、迅速な測定ができなくなる。例えば、２４０mL必要な場合で１．４３mL／分で滴下した場合には１６８分必要となる。なお、ＪＩＳ Ｋ０３１１に示された０〜２ vol％のジクロロメタンのヘキサン溶液濃度のものを用いた場合には、１日（８時間）でＯ８ＣＤＤを分取し、濃度を測定することはできない。またジクロロメタンのヘキサン溶液濃度が７ vol％を超えると、妨害成分（ピレン、ベンゾピレン、４〜７塩素化のダイオキシン類等）とともにＯ８ＣＤＤが流下し、除去されてしまうため、正確なＯ８ＣＤＤの濃度の測定ができなくなる。
またＯ８ＣＤＤを分取するためのジクロロメタンのヘキサン溶液濃度が２０ vol％未満では、溶出量（時間）が多くなり、Ｏ８ＣＤＤを短時間に流出させて分取することができず、また７０ vol％を超えると、Ｏ８ＣＤＤより高沸点の妨害成分が流出するなどの問題が生じる。
なお、抽出液に多量の妨害成分が存在する場合には、上記ジクロロメタン３〜７ vol％を含むヘキサン溶液を流下する前に、ジクロロメタン０〜２ vol％を含むヘキサン溶液の任意量を流下させてもよい。
【００１８】
カラムクロマトグラフに用いるカラムのサイズには特に制約はなく、任意の内径のものが使用できるが、一般的には内径１０mm程度のものが使用される。カラムの内径が１０mm未満では、溶媒の流速が低下するため滴下時間が増加しやすく、内径１０mmを超える場合には妨害成分とＯ８ＣＤＤの分離が不完全となる場合がある。
またカラムに充填するアルミナとしては活性アルミナなどの公知のものが使用でき、その使用量も任意の量でよいが、内径１０ｍｍ程度のカラムを使用する場合には７g 前後の使用量とするが好ましい。アルミナ量が７g 未満の場合は、妨害成分とＯ８ＣＤＤの分離が不完全となり易く、アルミナ量が７g を超える場合は溶媒の流速が低下するため滴下時間が増大し易い。
【００１９】
図３には、ジクロロメタンのヘキサン溶液濃度とＯ８ＣＤＤ溶出時間との関係、ジクロロメタンのヘキサン溶液濃度とＨ７ＣＤＤ（７塩素化ダイオキシン）および妨害物質の含有率との関係を示した。図３は、ジクロロメタン濃度が３〜７ vol％であれば４時間以内でＯ８ＣＤＤをカラム充填物に残留させてＨ７ＣＤＤや他の妨害物質を除去できることを示す。一方、ジクロロメタン濃度が７ vol％を超えた場合、Ｏ８ＣＤＤをカラム充填物に残留させる条件ではカラム充填物にＨ７ＣＤＤや他の妨害物質が残留してしまうため、Ｏ８ＣＤＤの定量が困難となる。
【００２０】
具体的には、アルミナ充填カラムクロマトグラフを用いて以下のようにしてＯ８ＣＤＤの分取を行うことができる（図４参照）。
まず、カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め、アルミナ７g(かさ容積１０〜１２cm3)とヘキサンの混合物をカラムクロマトグラフ管に充填し、さらに、その上層に硫酸ナトリウムを１〜２g 充填し、液面を硫酸ナトリウムの上面までさげる。土壌または燃焼灰試料を有機溶媒を用いて抽出した液（ダイオキシン抽出液）を移し入れ、ヘキサン０．５〜１mLで数回洗い込み、液面を硫酸ナトリウムの上面まで下げた後、ジクロロメタン３〜７ vol％を含むヘキサン溶液をアルミナかさ容積の４〜１０倍量（４０〜１００mL）を流下させる。この流下液４０〜１００mL中にＰＣＢ、ピレン、ベンゾピレン、４〜７塩素化のダイオキシン類が含まれる。
【００２１】
次に、ジクロロメタン５０ vol％を含むヘキサン溶液をアルミナかさ容積の１〜５倍量（１０〜５０mL）を流し、得られた液を試料とする。この試料１０〜５０mL中にＯ８ＣＤＤが含まれる。この試料を必要に応じて濃縮した後、ガスクロマトグラフィーを用いてＯ８ＣＤＤの濃度を定量する。定量値から、あらかじめ求めておいたＯ８ＣＤＤ濃度と全ＤＸＮ類濃度またはＴＥＱとの関係に基づいて、全ダイオキシン類およびフラン類またはＴＥＱが求められる。
本発明において、溶媒滴下速度（時間）は、カラムクロマトグラフ管の内径１０mm、アルミナ量７g の条件下では１．４３mL／分とするのが好ましい。
このような方法によれば、１〜２時間でＯ８ＣＤＤを分取でき、従って、２〜３時間で全ダイオキシン類およびフラン類の濃度の連続測定（モニタリング）をすることができる。
【００２２】
(ii)被検試料が、ダイオキシン類およびフラン類を含む試料ガスである場合のＯ８ＣＤＤの分取方法
被検試料が大気または排ガスなどの試料ガスである場合には、図５に示すフローチャートに従った工程（手順）によりＯ８ＣＤＤを分取し、ガスクロマトグラフィーによる測定に供される。
すなわち、試料ガス中のダイオキシン類およびフラン類を捕集剤に吸着させる工程Ｉと、該捕集剤に吸着されたＯ８ＣＤＤ以外ＤＸＮ類および妨害物質を有機溶媒で洗い流して除去する工程IIと、該捕集剤に吸着されているＯ８ＣＤＤを別の有機溶媒で溶出して分取する工程III と、該溶出液中のＯ８ＣＤＤの濃度をガスクロマトグラフィーにより測定する工程IVが順に行われる。
【００２３】
具体的には試料ガス中の全ダイオキシン類と妨害物質を、捕集剤に吸着した後、該捕集剤を保有する容器をバルブ切替えにより別系統にスライドし、有機溶媒を試料ガス捕集時と同じ方向に流すことによって該捕集剤に吸着したＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害物質が除去される。さらに該捕集剤容器をバルブ切替えにより別系統にスライドし、別の有機溶媒を試料ガス捕集時と反対方向に流すことによって捕集剤に吸着したＯ８ＣＤＤを溶出させて分取する。有機溶媒を試料ガス捕集時と同じ方向に流すことによって、全種（２００種以上）のＤＸＮ類を捕集剤に捕集させつつ妨害物質を除去し、かつ該捕集剤からさらに有機溶媒により全ＤＸＮ類を溶出させて捕集することは非常に困難であるが、本発明のように有機溶媒を試料ガス捕集時と同じ方向に流してＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類を妨害物質とともに除去し、その後に逆方向から有機溶媒を流してＯ８ＣＤＤの一種類のみを溶出させることは容易である。
【００２４】
本発明において、捕集剤としては、炭素材、酸化マグネシウム材等が用いられる。
また捕集剤に吸着した妨害混入物を除去する（排ガス捕集時と同じ方向に流す）ための有機溶媒としては、ヘキサン、アセトン、メタノール、ジクロロベンゼンおよびその混合液を用いることができる。
また捕集剤に吸着したＯ８ＣＤＤを溶出させる（排ガス捕集時と反対方向に流す）ための有機溶媒としては、トルエン、ヘキサン、アセトン、ベンゼン、ジクロロベンゼンおよびその混合液を用いることができる。
一種類のダイオキシン（Ｏ８ＣＤＤ）のみを溶媒中に分取したサンプルは、短時間でガスクロマトグラフィーで検出することが可能である。
【００２５】
図６は、本発明の一実施例を示すダイオキシン簡易分析装置の説明図であり、この装置を用いて行われる工程１〜工程IVの説明を図７および図８に示した。
このダイオキシン簡易分析装置は、排ガス中のダイオキシン類および妨害混入物を捕集するための捕集剤を保有した捕集剤容器３と、該捕集剤容器３を保持し、かつ該捕集剤容器３を次工程（工程II〜IV) にスライドさせる回転ホルダ２１と、排ガス流路１から排ガスを前記捕集剤容器３に供給するバルブ２および捕集剤容器３を通過した排ガスを排出させるバルブ４と、該排ガスの流量を測定する流量計６および該流量計６に排ガスを供給するポンプ５とを備える。これらは工程Ｉの操作で使用される。
【００２６】
また工程Ｉの操作終了後に前記回転ホルダー２１によりスライドされた捕集剤容器３に溶媒タンク７からポンプ８を介して有機溶媒を供給するバルブ９および該有機溶媒を該捕集剤容器３から排出させるバルブ１０と、該バルブ１０から排出された有機溶媒を貯留する廃液タンク１１を有する。これらは工程IIの操作で使用される。
さらに工程IIの操作終了後に前記回転ホルダー２１によりスライドされた捕集剤容器３に溶液タンク１２からポンプ１３により有機溶媒を供給するバルブ１４および前記捕集剤容器３を通過した有機溶媒を排出させるバルブ１５と、該バルブ１５から排出された有機溶媒を捕集する試料容器１７と、該試料容器１７を保持する回転ホルダ２２とを有する。これらは工程III の操作で使用される。
さらに前記回転ホルダ２２に保持された試料容器１７内の試料液を濃縮させる濃縮器１８と、濃縮液の一定量がオートサンプラ１９により供給されて該液中のＯ８ＣＤＤ濃度を測定するガスクロマトグラフ２０とを有する。これらは工程IVの操作で使用される。
【００２７】
このような構成において、各工程Ｉ〜IVの操作は以下のように行われる（図７および図８参照）。
〔工程Ｉ（ガス捕集）〕
試料ガスは、排ガス流路１からポンプ５および流量計６によりその流量が調整されて捕集剤容器３に導入される。この時の試料ガスは、バルブ２を経て捕集剤容器３を通過する際にガス中のＤＸＮ類および妨害混入物が該容器内に充填された捕集剤に捕集される。捕集剤容器３を通過したガスは、バルブ４を通過してポンプ５により系外に排出される。
【００２８】
〔工程II（ＤＸＮ類および妨害物質の除去）〕
工程ＩでＤＸＮ類等を捕集した捕集剤容器３は、回転ホルダ２１によってスライドされて以下の工程IIの操作が行われる。すなわち、溶媒タンク７からポンプ８を介して有機溶媒が捕集剤容器３に導入される。この時の有機溶媒は、工程Ｉにおける排ガス供給方向と同じ方向に供給され、バルブ９を経て捕集剤容器３の捕集剤に捕集されたＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害混入物を該捕集剤から脱離させる。捕集剤容器３を通過した上記脱離成分を含む有機溶媒はバルブ１０を経て廃液タンク１１に排出される。
【００２９】
〔工程III 〕（Ｏ８ＣＤＤ溶出）
工程IIでＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害物質が除去された捕集剤容器３は回転ホルダ２１によってさらにスライドされて以下の工程III の操作が行われる。すなわち、溶媒タンク１２からポンプ１３を介して有機溶媒が捕集剤容器３に導入される。この時の有機溶媒は、工程IIにおける有機溶媒の供給方向と逆の方向に供給され、バルブ１４を経て捕集剤容器３の捕集剤に保持されたＯ８ＣＤＤを脱離させる。捕集剤容器３を通過したＯ８ＣＤＤを含む有機溶媒は、バルブ１５およびバルブ１６を通過して試料容器１７に分取される。
【００３０】
〔工程IV〕（ガスクロ測定）
工程III でＯ８ＣＤＤを含む試料液が分取された試料容器１７は回転ホルダ２２によってスライドされて以下の工程IVの操作が行われる。まず濃縮器１８からＮ2 ガスが試料容器１７に供給されて所定量に濃縮される。次に濃縮されたＯ８ＣＤＤを含む試料液は、オートサンプラ１９によって所定量サンプリングされ、ガスクロマトグラフ２０に供給されてＯ８ＣＤＤの濃度が測定される。
【００３１】
【実施例】
以下、本発明を実施例によりさらに詳しく説明する。
実施例１
本発明によるダイオキシン抽出液からのＯ８ＣＤＤ分取法を用いて、ごみ焼却処理場の飛灰のダイオキシン類の濃度を同時測定した。
飛灰１g をふた付きガラス製試験管に入れた後、トルエン５mLを加えて試験管のふたをした。この試験管を小型超音波照射装置に配置し、１分間超音波照射した後、小型超音波照射装置から試験管を取り出し、試験管立てに試験管を立て３分間放置した。試験管内は、上がトルエン層（透明：ダイオキシン抽出液）、下が灰層（黒色）の２層にわかれた。なお、ここまでの操作は、任意の抽出方法で抽出してもよい。
【００３２】
ダイオキシン抽出液５mLを新たな試験管に移し、０．５mLになるまで高純度窒素ガス（純度：９９．９９９９％）を試験管内に吹き付けて濃縮した。
ビードレックス社製透明摺合クロマトグラフ管（内径１０mm、長さ３００mm）の底部に溶媒洗浄済の脱脂綿１０mgを詰め、硫酸ナトリウムを１g 充填し、和光純薬社製活性アルミナ７g とヘキサン（ＰＣＢ分析用）５〜２０mLの混合物をカラムクロマトグラフ管に充填し、さらに、その上層に硫酸ナトリウムを１g 充填した。ヘキサン３０〜５０mLを流下させた後、液面を上層の硫酸ナトリウムの上面までさげる。０．５mLのダイオキシン抽出液を移し入れ、ヘキサン０．５〜１mLで数回洗い込み、液面を硫酸ナトリウムの上面まで下げた後、ジクロロメタン４ vol％を含むヘキサン溶液４０mLを流下させた。つぎにジクロロメタン５０ vol％を含むヘキサン溶液１０mLを流して試料（この１０mL中にＯ８ＣＤＤが含まれる）とした。
【００３３】
この時の各溶媒の滴下する速度は、約１．４３mL／分であった。この試料を０．１mLに濃縮した後、ガスクロマトグラフィー（ＳＡＷ／ＧＣ）でＯ８ＣＤＤを定量した。Ｏ８ＣＤＤ定量値から全ダイオキシン類量およびＴＥＱを算出して、ＳＡＷ／ＧＣのパソコンのディスプレイに表示した。全所要時間は約２時間であった。
同一灰について５回繰り返して測定を行った結果、サンプル灰中の全ダイオキシン類量は、１１５〜１３５ng/g（灰）、ＴＥＱは、１．５〜１．８ng/g（灰）であった。本システムを用いれば、ダイオキシン類を２時間間隔でモニタリングできる。
【００３４】
実施例２
実施例１において、活性アルミナを充填したカラムクロマトグラフに、ダイオキシン抽出液を入れ、ヘキサン０．５〜１mLで数回洗い込み、液面を硫酸ナトリウムの上面まで下げた後、ヘキサン溶液２００mLを流下させた以外は、実施例１と同様にしてＯ８ＣＤＤの定量を行い、該定量値から全ダイオキシン類量およびＴＥＱを算出した。
このときの全所要時間は約４時間であった。また同一灰について５回繰り返して測定を行った結果、サンプル灰中の全ダイオキシン類量は、１２０〜１４０ng/g（灰）、ＴＥＱは、１．６〜１．９ng/g（灰）であった。
【００３５】
比較例１
従来の高分解能ＧＣ／ＭＳ（厚生省「廃棄物処理におけるダイオキシン類標準測定分析マニュアル」等に準拠した高分解能ガスクロマトグラフ／質量分析法）を用いて、実施例１と同じごみ焼却処理場の灰のダイオキシン類を測定した。試料灰の抽出処理およびＧＣ／ＭＳ測定に１１日間を要した。
その結果、サンプル灰中の全ダイオキシン類量は、１３３ng/g（灰）、ＴＥＱは、１．８ng/g（灰）であった。
【００３６】
比較例２
実施例１と同じごみ焼却処理場の灰のダイオキシン類を測定した。実施例１と同じ方法によって抽出したダイオキシン抽出液５mLを新たな試験管に移し、０．５mLになるまで高純度窒素ガス（純度：９９．９９９９％）を試験管内に吹き付けて濃縮した。この試料を０．１mLに濃縮した後、ガスクロマトグラフィー（ＳＡＷ／ＧＣ）でＯ８ＣＤＤを定量した。
その結果、測定クロマトグラムには多数の妨害ピークが存在し、Ｏ８ＣＤＤを定量できなかった。
【００３７】
実施例３
図６に示すダイオキシン簡易測定装置を用いてごみ焼却処理場の排ガスのダイオキシン類を測定した。
ごみ焼却処理場の煙道から排ガス１m3を、捕集剤（炭素ピッチ系繊維状炭素材、２ｇ）を保有させた捕集剤容器３に供給してＤＸＮ類および妨害物質を捕集した。次いで捕集剤容器３をスライドし、該捕集剤容器３に溶媒タンク７からヘキサン５００mLを流した後、さらに捕集剤容器３をスライドし、該捕集剤容器３に溶媒タンク１２からトルエン１００mLを流して試料容器１７に収容した。つぎに試料容器１７に収容されたＯ８ＣＤＤを含むトルエン溶液を、濃縮器１８によってＮ2 を吹き付けて２００μL に濃縮した。この濃縮液は、オートサンプラ（インジェクタ）１９によって１μL がガスクロマトグラフ２０に注入され、Ｏ８ＣＤＤ濃度が測定された。Ｏ８ＣＤＤ定量値から全ダイオキシン類量およびＴＥＱを算出してパソコンのディスプレイに表示した。
その結果、排ガスサンプル中の全ダイオキシン類量は、１８５０ng/m3 、ＴＥＱは、１８ng/m3 であった。本システムを用いれば、ダイオキシン類を簡易モニタリング測定できる。
【００３８】
実施例４
実施例３と同じ装置を用いて、実施例１と同時に同じごみ焼却処理場の排ガス１m3を捕集剤容器３に供給してＤＸＮ類および妨害物質を捕集した。この捕集剤容器３をスライドし、該捕集剤容器３に溶媒タンク７からアセトン２００mLを流した後、さらに捕集剤容器３をスライドし、捕集剤剤容器３に溶媒タンク１２からヘキサン／ジクロロメタン（重量比１：１）溶液５０mLを流し、試料容器１７に収容した。つぎに試料容器１７に収容されたＯ８ＣＤＤを含む溶液を、濃縮器１８によりＮ2 を吹き付けて２００μL に濃縮した。この濃縮液は、オートサンプラ（インジェクタ）１９によって１μL がガスクロマトグラフに注入されてＯ８ＣＤＤ濃度が測定された。Ｏ８ＣＤＤ定量値から全ダイオキシン類量およびＴＥＱを算出してパソコンのディスプレイに表示した。
その結果、排ガスサンプル中の全ダイオキシン類量は、１９２０ng/m3 、ＴＥＱは、１９ng/m3 であった。
【００３９】
比較例３
従来の高分解能ＧＣ／ＭＳ（厚生省「廃棄物処理におけるダイオキシン類標準測定分析マニュアル」等に準拠した高分解能ガスクロマトグラフ／質量分析法）を用いて、実施例３と同じごみ焼却処理場の排ガスのダイオキシン類を同時に測定した。試料の抽出処理およびＧＣ／ＭＳ測定に１１日間を要した。
その結果、サンプル灰中の全ダイオキシン類量は、１９００ng/m3 、ＴＥＱは、１８ng/m3 であった。
【００４０】
比較例４
本発明者らが先に特願平１１−１２３３５４号で提案したダイオキシン簡易測定法に基づいて、実施例３と同じごみ焼却処理場の排ガス中のダイオキシン類を同時に測定した。
具体的には、捕集剤（イオン交換樹脂（ＸＡＤ−２樹脂）５０ｇ）に排ガス１m3を通過させてＤＸＮ類および妨害物質を吸着させ、捕集した後、該捕集剤を加熱装置によって加熱し、同時に不活性ガスを流してＯ８ＣＤＤ以外のＤＸＮ類および妨害物質を系外に排除し、続いて捕集剤を加熱装置でさらに加熱してＯ８ＣＤＤを該捕集剤から脱離させ、該脱離したＯ８ＣＤＤをガスクロマトグラフに導入してその濃度を測定した。
その結果、測定クロマトグラムには多数の妨害ピークが存在し、Ｏ８ＣＤＤを定量できなかった。
【００４１】
【発明の効果】
本発明のダイオキシン簡易分析法および装置によれば、被検試料に多量の妨害有機物が混入している場合でも、Ｏ８ＣＤＤのみを容易に分取することができ、該Ｏ８ＣＤＤの濃度に基づいて全ダイオキシン類の濃度およびＴＥＱをリアルタイムに算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の方法で分取した液および従来のＪＩＳ法でクリーンナップ処理された液の高分解能ＧＣ／ＭＳにより検出された各ダイオキシンの濃度を示す図。
【図２】本発明の方法で分取した液および従来のＪＩＳ法でクリーンナップ処理された液のクロマトグラムを示す図。
【図３】ジククロメタンのヘキサン溶液濃度とＯ８ＣＤＤ溶出時間との関係、ジクロロメタンのヘキサン溶液濃度とＨ７ＣＤＤおよび妨害物質の含有率との関係を示す図。
【図４】本発明によるカラムクロマトグラフを用いたＯ８ＣＤＤの分取法の説明図。
【図５】本発明による試料排ガスからのＯ８ＣＤＤの分取法のフロー図。
【図６】本発明の一実施例を示すダイオキシン簡易分析装置の説明図。
【図７】図６の装置を用いた工程Ｉおよび工程IIの説明図。
【図８】図６の装置を用いた工程III および工程IVの説明図。
【符号の説明】
１…排ガス流路（煙道）、２…バルブ、３…捕集剤容器、４…バルブ、５…ポンプ、６…流量計、７…溶媒タンク、８…ポンプ、９…バルブ、１０…バルブ、１１…廃液タンク、１２…溶媒タンク、１３…ポンプ、１４…バルブ、１５…バルブ、１６…バルブ、１７…試料容器、１８…濃縮器（Ｎ2 吹き付け器）、１９…オートサンプラ、２０…ガスクロマトグラフ、２１…回転ホルダ（捕集剤容器用）、２２…回転ホルダ（試料容器用）。
Claims (4)
- 被検試料中のダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）をガスクロマトグラフィーを用いて測定するダイオキシン分析法において、前記被検試料中から、オクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を除去した後、前記試料中に含まれるオクタクロロジベンゾジオキシンを抽出してガスクロマトグラフィーによりその濃度を測定し、該測定値から、あらかじめ求めておいたオクタクロロジベンゾジオキシン濃度と全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）との関係に基づいて全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）を算出することを特徴とするダイオキシン簡易分析法。
- 前記被検試料が、大気、排ガス、土壌または燃焼灰に含まれるダイオキシン類およびフラン類を有機溶剤を用いて抽出した抽出液であり、該抽出液を、アルミナを充填したカラムクロマトグラフのカラムに注入し、さらにジクロロメタン３〜７ vol％を含むヘキサン溶液を流下させてオクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を除去し、その後、ジクロロメタン２０〜７０ vol％を含むヘキサン溶液を流下させてオクタクロロジベンゾジオキシンを溶出させ、該溶出液に含まれるオクタクロロジベンゾジオキシンの濃度をガスクロマトグラフィーにより測定することを特徴とする請求項１に記載のダイオキシン簡易分析法。
- 前記被検試料が、ダイオキシン類およびフラン類を含むガスであり、該ガス中のダイオキシン類およびフラン類を捕集剤に吸着させた後、該捕集剤に吸着されたオクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を有機溶剤で洗い流して除去し、その後、該捕集剤に吸着されているオクタクロロジベンゾジオキシンを有機溶剤で抽出し、該有機溶剤の溶液に含まれるオクタジクロロジベンゾジオキシンの濃度をガスクロマトグラフィーにより測定することを特徴とする請求項１に記載のダイオキシン簡易分析法。
- 大気、排ガスなどの被検試料ガス中に含まれるダイオキシン類およびフラン類を捕集剤に吸着して捕集する手段と、該ダイオキシン類およびフラン類を捕集した捕集剤からオクタクロロジベンゾジオキシン以外のダイオキシン類およびフラン類ならびにオクタクロロジベンゾジオキシン成分のガスクロマトグラフィーによる検出を妨害する妨害物質を有機溶剤で洗い流す手段と、上記成分が洗い流された捕集剤からオクタクロロジベンゾジオキシンを有機溶剤で抽出する手段と、該オクタクロロジベンゾジオキシンの抽出液をガスクロマトグラフに供給してオクタクロロジベンゾジオキシンの濃度を測定する手段と、該測定値から、あらかじめ求めておいたオクタクロロジベンゾジオキシン濃度と全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）との関係に基づいて全ダイオキシン類およびフラン類の濃度またはＴＥＱ（毒性等量）を算出する手段とを備えたことを特徴とするダイオキシン簡易分析装置。
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