JP3638524B2 - 波長可変レーザの特徴付けと実波長の決定方法 - Google Patents

波長可変レーザの特徴付けと実波長の決定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3638524B2
JP3638524B2 JP2000604503A JP2000604503A JP3638524B2 JP 3638524 B2 JP3638524 B2 JP 3638524B2 JP 2000604503 A JP2000604503 A JP 2000604503A JP 2000604503 A JP2000604503 A JP 2000604503A JP 3638524 B2 JP3638524 B2 JP 3638524B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filter
wavelength
current
laser
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000604503A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003523616A (ja
Inventor
レンルンド、マルクス
アンデルソン、ラルス
Original Assignee
アルティテュン アクチボラゲット
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from SE9900536A external-priority patent/SE518827C2/sv
Application filed by アルティテュン アクチボラゲット filed Critical アルティテュン アクチボラゲット
Publication of JP2003523616A publication Critical patent/JP2003523616A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3638524B2 publication Critical patent/JP3638524B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/0687Stabilising the frequency of the laser
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/0014Measuring characteristics or properties thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
    • H01S5/06255Controlling the frequency of the radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
    • H01S5/06255Controlling the frequency of the radiation
    • H01S5/06256Controlling the frequency of the radiation with DBR-structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/06832Stabilising during amplitude modulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/1028Coupling to elements in the cavity, e.g. coupling to waveguides adjacent the active region, e.g. forward coupled [DFC] structures
    • H01S5/1032Coupling to elements comprising an optical axis that is not aligned with the optical axis of the active region
    • H01S5/1035Forward coupled structures [DFC]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【0001】
本発明は、波長可変レーザを迅速に特徴付けするための方法に関するものである。
本方法は、放出波長に関してレーザを評価および選択することと、良好な動作点を系統的に探索することに適用可能である。
【0002】
波長可変半導体レーザは、いくつかの部分からなり、各部分に対して電流が流される。この部分の数は、通常、3または4である。レーザの波長、出力及びモードは、各部分へに流れる電流を調整することにより制御される。モード純度は、レーザがある動作点にあること、すなわち、駆動電流の組合せからある距離を離れていることを示し、そこでは、いわゆるモードジャンプがおこり、レーザ動作が安定し、サイドモードの押さえ込みが高くなっている状態にある。
【0003】
通信アプリケーションの場合には、駆動電流と温度を一旦、設定した後は、レーザは、長期間にわたり、その波長を極めて高い精度に保つことができることが必要となる。これについての通常の精度は、0.1ナノメータであり、通常の期間は、20年である。
【0004】
レーザを制御可能とするためには、レーザの挙動を各駆動電流の関数として表すことが必要である。これは、レーザの製造後でレーザの使用前に必要なことである。
【0005】
ここで1つ問題になることは、レーザにはヒステリシスがあるということである。これは、所定の駆動電流の設定、すなわち所定の動作点に対し前記の駆動電流を変えながら目標とすべき動作点に到達するように、レーザが通過する経路に依存して、レーザは、出力と波長について異なる出力信号を与えるということである。従って、このような場合には、所定の駆動電流の設定によっては、期待される波長あるいは出力を与えられるかどうかは定かではない。
【0006】
波長可変レーザの場合には、放出光線の波長は、主に可変部を通過する電流や、その部分の電位差によって決定される。出力は、レーザのゲイン部への電流あるいは当該部の電位差によって制御される。
【0007】
可変部や可変部の一部分によって実現可能なすべての制御の組合せは、レーザを特徴付ける際に調べられる。特徴付け処理の最中に放出される光線の波長とサイドモード抑制が調べられ、出力調節は、ゲイン部の制御によって行われる。
【0008】
実現可能な制御の多数の組合せは、通常、幾百億に及び、この中から100以下の数に絞って選択する必要があるが、レーザ動作の不可能な組合せも含めて、膨大な数のデータが生成される。
【0009】
レーザを特徴付ける方法は、スウェーデン特許9900536−5に記載されたものがある。本特許によると、レーザのヒステリシスについても考慮されている。本特許は、正確な波長をもたらすことのない制御の組合せを除外して、迅速に峻別する方法に関するものである。
【0010】
前述の特許は、波長可変レーザを評価し、少なくともその1つは、反射部となり、他方は、位相部となる2つ又はそれ以上の可変部を含み、注入される電流を変化させることができ、レーザのための適切な動作点を決定する方法に関するものである。本発明によると、レーザによって放出される光線の一部は、ファブリ・ペローフィルタと第1および第2の検出器とを含む構成部に導かれる。前記の検出器は、光線の出力を測定し、対応する検出信号を与えるものである。検出器は、ファブリ・ペローフィルタに関係して配置され、検出信号は、少なくともフィルタによって与えられた複数の波長の中から検出光線の波長に関する情報を含む。可変部を通過する電流は、異なる電流の組合せをもたらすように走査され、この走査の間に2つの検出信号間の比が測定される。この検出信号間の比が所定の範囲に収まる場合に、電流の組合せは、格納され、放出される光線は、ファブリ・ペローフィルタによって与えられた複数の波長の中の1つに収まることが示される。
【0011】
上述の公知の特許によると、この発明の1つの問題は、動作ポイントがどのチャネルに属しているかを知るための情報が得られないということにある。従って、多数の動作点を決定し分類することが必要となる。これは、手作業、かつ、従来の機器を用いて行わなければならない。
【0012】
この問題は、本発明によって解決される。
【0013】
本発明は、波長可変レーザを評価し、適切なレーザ動作点を決定する方法に関する。ここで、レーザは、入力電流が変化できる1つ又はそれ以上の可変部を有する。また、本発明は、波長を周期的に変化させる信号を発生させるファブリ・ペローフィルタのような周期フィルタの形をした第1のフィルタを含む構成に、第1及び第2のレーザによって発射された光を導く部分と、光の出力を測定し対応する測定信号を出力するようになされた第1及び第2の検出器が特徴である。ここで、前記測定信号が少なくともフィルタによって与えられた複数の波長の中から検出された光の波長に関する情報を含むように、これらの検出器は、周期フィルタに対して配置される。また、第2のフィルタは、周期フィルタに対して並列に配置され、波長に対して単調に反応するフィルタから構成され、第2のフィルタを介して伝送された光は、光の出力とその波長に対応した測定信号を出力する第3の検出器に入力されている。また、調整部に入力される電流は、異なる電流の組合せを通るように走査される。また、2つの検出器の信号の比は、各走査の間に測定される。さらに、放出された光が周期フィルタによって与えられた複数の波長の1つに含まれることを表すように、検出器の信号の比は、予め定められた範囲内に留まっている時には、対応する波長を区別するように、第3の検出器によって検出される。また、前記の同調電流の制御の組合せは、対応する波長とともに記録および格納される。
【0014】
以下、添付図面を参照して、本発明を詳細に説明し、本発明の好適な実施例を示す。
【0015】
DBRレーザは、ブラッグ反射体1、位相部2及びゲイン部3という3つの部分から構成されている。各部は、各部に流入する電流によって制御される。
【0016】
図1は、波長可変格子結合サンプル・リフレクタ(GCSR)レーザの断面図である。このレーザは、ブラッグ反射体7、位相部8、カプラ9及びゲイン部10という4つの部分から構成されている。各部は、各部に流入する電流によって制御される。
【0017】
DBRレーザは、ブラッグ反射体1、位相部2及びゲイン部3という3つの部分から構成されている。各部は、各部に流入する電流によって制御される。
【0018】
また、サンプル格子DBRレーザは、4つの部分から構成されており、その外部は、ブラッグ反射体であり、位相部とゲイン部は、その間に配置されている。
【0019】
レーザには他の種類もあるが、これら3種類のレーザは、同一種類である。
【0020】
本発明については、図1に示したGCSRレーザに関連して以下、説明する。本発明は、いかなる特定の種類の波長可変レーザにも限定されるものではなく、以下に示す以外の波長可変レーザにも適用可能なものである。
【0021】
本発明は、波長可変レーザを評価し、適切なレーザ動作点を決定する方法に関するものである。従って、レーザは、1つまたはそれ以上の調整可能部を含み、その各部は、既知の方法で流入する電流を変化させる。レーザは、少なくとも1つの反射体部と、1つの位相部を含むような種類のレーザとしてもよい。また、レーザは、1つの調整可能部のみを含む種類のレーザであってもよいし、あるいは反射体に流入する電流を調整する以外の何らかの機構によってレーザを調整するような種類のレーザであってもよい。
【0022】
図2は、本発明で用いられる構成を示すブロック図である。15は、GCSRレーザを示し、16は、レーザの反射体部と、各々コンダクタ17、18を介して位相部と結合部とに電流を流入する電流発生器を示す。レーザの出力は、レーザゲイン部に接続されたコンダクタ21を介して出力調節回路20によって制御される。
【0023】
レーザは、フロントミラーからレンズ群22を介して、光コンダクタ23、例えば光ファイバに向けて光を放出する。この光コンダクタは、光の一部を第2の光コンダクタに切り換える光スプリッタあるいは光分配器26に光を導く。この光の残り部分は、さらに、コンダクタ25に導かれる。光スプリッタ26は、例えば、光の10%をコンダクタ23からコンダクタ24に分配する。
【0024】
光コンダクタ24は、光を2つのコンダクタ28、29に等分に分配するように機能する第2の光スプリッタあるいは分配器27に光を導く。レンズ30とレンズ31は、光コンダクタの各端部に配置されている。ファブリ・ペローフィルタ32あるいは何がしかの対応する周期フィルタがレンズ30の光路の下流側に配置されている。フィルタ32は、公知の技術によるものであり、ここでは詳細には説明しない。ファブリ・ペローフィルタは、いくつかの波長、通常は、所定の波長の倍数となる波長を持つ光のみを通過させるように設計されている。ファブリ・ペローフィルタは、この他の波長では、より低い又はより高い透過性を示す。なお、これらのファブリ・ペローフィルタに対応した特性を持つ他の周期フィルタを代わりに使うこともできる。
【0025】
図4は、波形の関数として、周期フィルタの下流出力を概略的に示す。
【0026】
第1の検出器33がレンズ31の下流側に配置され、第2の検出器34がファブリ・ペローフィルタの下流側に配置されている。検出器33と34は、光の出力を計測し、対応する測定出力をそれぞれ増幅器35と36を介してA/D変換器37と20に送るように機能する。
【0027】
A/D変換器37、出力調節回路20及び電流発生器16は、すべて、データバス38を介してマイクロ・プロセッサ39に接続されている。マイクロ・プロセッサは、好適な既知の方法によって、A/D変換器37と出力調節回路20からの信号に応じて電流発生器と出力調整回路を制御する。
【0028】
前方に放出された光の一部は、ファブリ・ペローフィルタ32を介して第1の検出器33と第2の検出器34に通される。
【0029】
電流は、異なる電流の組合せを通るように、調整部18、19、21によって走査される。2つの検出信号I1とI2の間の比は、この走査の間に測定される。
【0030】
調整部を通過する電流を走査する際には、リフレクタ電流が内部走査変数となる。すなわち、反射体信号は、他の同調電流を一定に保ちながら、他の同調電流の異なる組合せについて走査される。リフレクタ電流は、最初は、ある方向に走査され、次にそれと反対の方向に走査され、その初期値に戻る。例えば、リフレクタ電流は、ゼロ値から走査され、その最大値に達した後、ゼロ値に戻る。
【0031】
本実施例での電流制御では、各部を流れる電流は、電流発生器によって制御されるか、又は前記の各部の電圧を制御することにより制御される。
【0032】
図2に示した実施例の場合、第1の一検出器と第2の検出器とファブリ・ペローフィルタは、レーザの前方ミラーに近接して配置されている。これに代えて、これらの機器は、同様に、レーザの後方ミラーに近接して配置することも可能であり、この場合には、レーザの後方ミラーから放出される光は、波長を決定するために用いられる。
【0033】
さらに、ファブリ・ペローフィルタと、第1の検出器ならびに第2の検出器は、少なくとも波長を検出できるように、図4に示したものとは異なる方法で互いの位置関係をもたせながら配置することも可能である。第1の検出器と第2の検出器は、ファブリ・ペローフィルタを通過する光及び/またはファブリ・ペローフィルタに向けて反射される光について、波長を検出するような測定のために設けられている。
【0034】
ヒステリシスを持つこれらの部分について、リフレクタ電流や他の同調電流に関するヒステリシス領域に存在するこれらの動作点は、動作中のレーザに対して好ましくない動作点となる。
【0035】
通信レーザは、いわゆるチャネル計画に含まれる所定の波長で動作するように構成する必要があり、ここでは、各チャネルは、明確な波長に対応付けられている。本発明によれば、ファブリ・ペローフィルタ32は、チャネル計画に含まれる各波長に対して所定の伝送特性を持つように構成されている。
【0036】
検出器32と33から得られる検出信号I1とI2の間の比が予め定められた範囲に留まる時には、放出される光は、ファブリ・ペローフィルタによって与えられた複数の波長の1つに含まれ、前記I1とI2の比は、前記電流の両走査方向にある所定のリフレクタ電流の前記範囲に入っていることを表している。
【0037】
この範囲は、チャネル計画の許容チャネル幅によって与えられる。
【0038】
従って、この制御の組合せによって、望ましい波長を生み出すが、ヒステリシス効果は、もたらさないような結果が得られる。
【0039】
ある場合には、リフレクタ電流以外のヒステリシス効果を持つ1つ又はそれ以上の他の部分の同調電流を走査して、意図した動作点でヒステリシスが発生するかどうかを判定することが望ましい。
【0040】
上述したことは、前述の特許文献からも明白である。
【0041】
本発明によると、第2のフィルタ43は、周期フィルタ32と平行に設けられている。レンズ30の上流側の光コンダクタ28中の光強度の半分を光スプリッタ45によって切り換え、光をレンズ47を介して第3のフィルタ43に導く光コンダクタ46に通すことが好ましい。第2のフィルタ43は、その応答が波長に応じて単調に変化するフィルタである。この様子を図5に示す。ここでは、伝送される出力Pは、波長に対して単調に変化することが示されている。第2のフィルタを介して伝送される光は、第3の検出器に導かれ、第3の検出器は、光の出力とその波長に対応した検出信号13を増幅器54を介してA/D変換器に送る。A/D変換器は、前記のデータバス38に接続される。
【0042】
図3は、既知の単調変化するフィルタの一例を図示する。フィルタは、波長選択誘電フィルタである。光は、フィルタの上流で分割され、光の各部は、表面に薄膜が蒸着されたガラス49、50を通過する。光がガラスを通過した後、検出器51、52によって出力が検出され、各検出器の出力信号は、その出力信号が波長の測定結果となるオペ・アンプ53に渡される。
【0043】
第2のフィルタの他の実施例は、ファイバ結合器の形を持つ光スプリッタの波長検出として実装される。
【0044】
上述したように、電流は、調整部17、18、19を介して走査され、2つの検出信号I1、I2の比は、この走査の間に測定される。検出信号(I1、I2)の比が予め定められた範囲に留まる場合は、放出された光は、周期フィルタ32によって与えられた複数の波長の中の1つの波長を持つことを示し、第3の検出器44は、注目する波長を選別するように検出動作を行う。同調電流の制御の組合せは、注目する波長とともに記録および格納される。このために、I1、I2、I3は、データバスを介してマイクロ・プロセッサに導かれる。なお、前記プロセッサは、動作点と波長の評価を行い、結果を格納するように設けられている。このマイクロ・プロセッサは、後に、所望の波長で動作するようにレーザを制御するために用いられる。
【0045】
このように、第3の検出器からの信号は、レーザの波長の明確な測定値を提供するものとなる。しかし、この測定の精度は、周期フィルタ中の各ピークを確実に識別するのには十分ではあるが、レーザの異なる動作点を評価するという観点からは、それ自身では不十分なものである。従って、所望の波長を与える全ての動作点を決定することが可能となる。
【0046】
このように、本発明は、2つのフィルタを通過する光の出力を極めて高速で計測することにより、レーザを特徴づけることができ、また、チャネル計画中の全ての所望のチャネルについてのレーザの動作点を自動的に決定することができる。
【0047】
本発明の一実施例によれば、第1の検出器33からの信号は、出力調節回路20に送られる。この回路は、レーザを制御して、一定の出力を持つ光を出力するように構成されている。これにより、可能な動作点を決定するために比I1/I2を容易に用いることができる。
【0048】
本発明の他の実施例では、モニタ・ダイオードを第1及び第2の検出器が配置された側のレーザの反対側に配置し、このモニタ・ダイオードによってレーザからの放出光を測定する。
【0049】
検出器40からの信号は、増幅器41を介してA/D変換器42に渡され、A/D変換器の出力は、マイクロ・プロセッサに送られる。本実施例によれば、後方に放出される光の出力と、前方に放出される光の出力の比が最小となるように、1つ又はそれ以上の同調電流が選択され、これにより、チャネルについて前記の可能な動作点の中から最適な動作点が選択されるものとなる。
【0050】
前述したようにファブリ・ペローフィルタを用いることにより、これらの制御の全ての組合せは、電流の比I1/I2が峻別された所定の範囲の中に留まることを要求する基準を満たす必要がなくなる。
【0051】
さらに、通信の目的という点については、レーザがヒステリシスを起こさない範囲に留まるチャネル計画中の波長当り1つの制御の組合せを識別するのに十分なものとなる。
【0052】
このように、本発明は、序文で述べた問題を解決するものとなる。
【0053】
本発明は、様々な実施例を引用し、GCSRレーザに関連して説明したものではあるが、記述された構成の構造設計は、同様の結果をもたらす範囲で変更が可能である。また、本発明は、GCSRレーザ以外のレーザに対しても適用可能である。
【0054】
従って、請求の範囲で様々な変化と変形が可能であるため、本発明は、上記の実施例に限定されることはない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 波長可変格子結合サンプル・リフレクタ(GCSR)レーザの断面図。
【図2】 本発明による構成を示す概略ブロック図。
【図3】 単調フィルタを図示したもの。
【図4】 波長の関数として周期フィルタのレーザ出力を示したもの。
【図5】 波長の関数として単調変化フィルタのレーザ出力を示したもの。

Claims (7)

  1. 波長可変レーザ(15)を評価し、適切なレーザ動作点を決定する方法であって、
    波長可変レーザは、流入電流が可変となる1つあるいはそれ以上の数の調整可能部を含み、
    波長とともに周期的に変化する信号を発生する周期フィルタとして形成されたファブリ・ペローフィルタのような第1のフィルタ(32)と、光の出力を測定し、それに対応する検出信号(I1、I2)を発生するように構成された第1の検出器(33)及び第2の検出器(34)とからなる構成に波長可変レーザからの放出光の一部を導き、
    検出信号が少なくとも第1のフィルタによって与えられた複数の波長の中から検出された光の波長に関する情報を含むように第1のフィルタに関連して第1及び第2の検出器を配置し、
    第2のフィルタ(43)を第1のフィルタと平行して配置し、第2のフィルタは、その応答が波長に関して単調に変化するようなフィルタであり、
    第2のフィルタを通過した光を光出力と波長に対応する検出信号(3)を発生させる第3の検出器(44)に導き、
    異なる電流の組合せを通るように調整部(17、18、19)を通る電流を走査し、
    走査の間に2つの検出信号(I1、I2)の比を測定し、
    第3の検出器を制御し、2つの検出信号の比が予め定められた範囲にあり、第1のフィルタによって与えられた複数の波長の1つに放出光が含まれることを示す場合に適切な波長を峻別し、
    注目する波長とともに同調電流の制御の組合せを記録および保存することを特徴とする前記方法。
  2. 請求項1記載の方法であって、
    調整部(17、18、19)を通過する電流が異なる電流の組合せを通るように走査される場合には、リフレクタ電流一方向に走査され、その後、反対方向に走査され初期値に戻される内部走査変数とし、
    前記比がリフレクタ電流の両方の走査方向で任意のリフレクタ電流の予め定められた範囲にある場合には、同調電流の組合せと波長とを格納することを特徴とする前記方法。
  3. 請求項1または2記載の方法であって、
    第1のフィルタ(32)は、所望の波長を含むチャネル計画に含まれる各波長については、所定の通過特性を持ち、他の波長については、それとは異なる通過特性を持つことを特徴とする前記方法。
  4. 請求項1、2または3記載の方法であって、
    波長可変レーザ(15)の前方ミラーの第1の検出器(33)から波長可変レーザを制御するように構成された出力調節回路(20)に信号を送り、前方ミラーから一定出力で光を放出するようにしたことを特徴とする前記方法。
  5. 請求項1、2、3または4記載の方法であって、
    波長可変レーザ(15)によって放出された光を測定するために第1の検出器(33)及び第2の検出器(34)が配置された側とは反対側の波長可変レーザの側にモニタ・ダイオード(40)を配置し、
    後方に放出される光の出力と前方に放出される光の出力との比を最小化するように、1つ又はそれ以上の同調電流を調整し波長可変レーザの動作点を最適化することを特徴とする前記方法。
  6. 請求項1、2、3、4または5記載の方法であって、
    考えられる動作点でヒステリシスが発生するかどうかを決定するために、リフレクタ電流以外の1つ又はそれ以上の同調電流をヒステリシス効果を持つ部分に走査することを特徴とする前記方法。
  7. 請求項1、2、3、4、5または6記載の方法であって、
    各々の所望の波長について1つの動作点が得られるまで複数の可能な動作点で波長可変レーザ(15)によって伝送される波長を測定し、各動作点での制御の組合せを保存することを特徴とする前記方法。
JP2000604503A 1999-02-17 2000-02-15 波長可変レーザの特徴付けと実波長の決定方法 Expired - Fee Related JP3638524B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9900536A SE518827C2 (sv) 1999-02-17 1999-02-17 Metod för karakterisering av en avstämbar laser
SE9900536-5 1999-02-17
SE9903039-7 1999-08-27
SE9903039A SE514188C2 (sv) 1999-02-17 1999-08-27 Metod för karakterisering av en avstämbar laser och bestämmande av aktuell våglängd
PCT/SE2000/000294 WO2000054381A1 (en) 1999-02-17 2000-02-15 A method of characterising a tuneable laser and determining actual wavelength

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003523616A JP2003523616A (ja) 2003-08-05
JP3638524B2 true JP3638524B2 (ja) 2005-04-13

Family

ID=26663507

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000604503A Expired - Fee Related JP3638524B2 (ja) 1999-02-17 2000-02-15 波長可変レーザの特徴付けと実波長の決定方法

Country Status (10)

Country Link
US (1) US6587485B1 (ja)
EP (1) EP1166409B1 (ja)
JP (1) JP3638524B2 (ja)
CN (1) CN1164016C (ja)
AT (1) ATE342595T1 (ja)
AU (1) AU3202900A (ja)
CA (1) CA2360962A1 (ja)
DE (1) DE60031254D1 (ja)
SE (1) SE514188C2 (ja)
WO (1) WO2000054381A1 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE518827C2 (sv) 1999-02-17 2002-11-26 Altitun Ab Metod för karakterisering av en avstämbar laser
SE518381C2 (sv) * 2000-04-05 2002-10-01 Altitun Ab Metod för frekvens- och modstabilisering av en avstämbar laser
EP1172905A1 (en) * 2000-07-11 2002-01-16 Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw A method and apparatus for controlling a laser structure
US20020181515A1 (en) * 2001-05-31 2002-12-05 Kennet Vilhemsson Apparatus and method for controlling the operating wavelength of a laser diode
US7154607B2 (en) * 2002-11-04 2006-12-26 Therma-Wave, Inc. Flat spectrum illumination source for optical metrology
GB2399875B (en) 2003-03-24 2006-02-22 Tsunami Photonics Ltd Optical wavelength meter
JP4713073B2 (ja) * 2003-10-30 2011-06-29 富士通株式会社 波長可変レーザ及びその制御方法
US7228030B2 (en) * 2004-03-29 2007-06-05 Intel Corporation Method and apparatus providing an output coupler for an optical beam
JP5645631B2 (ja) * 2010-12-13 2014-12-24 三菱電機株式会社 波長モニタ、光モジュールおよび波長モニタ方法
US20130094527A1 (en) * 2011-10-13 2013-04-18 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Wavelength monitor, wavelength lockable laser diode and method for locking emission wavelength of laser diode
CN105115700B (zh) * 2015-07-28 2017-12-19 武汉光迅科技股份有限公司 一种多通道可调激光器的性能测试装置
CN105826811B (zh) * 2016-05-06 2020-10-23 华中科技大学 一种可调谐激光器的表征方法及装置
JP6919603B2 (ja) 2018-03-12 2021-08-18 オムロン株式会社 波長検出装置及び共焦点計測装置
WO2019226337A1 (en) * 2018-05-21 2019-11-28 Google Llc Wavelength drift suppression for burst-mode tunable eml transmitter
CN113392750A (zh) * 2021-06-10 2021-09-14 武汉光迅科技股份有限公司 一种可调谐激光器波长搜寻的方法和装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3421851C2 (de) * 1984-06-13 1997-12-18 Sfim Ind Deutschland Gmbh Verfahren zur Wellenlängen- und Leistungsregelung der Ausgangsstrahlung einer Halbleiterstrahlungsquelle
US4792956A (en) * 1986-05-13 1988-12-20 Litton Systems, Inc. Laser diode intensity and wavelength control
US5019769A (en) * 1990-09-14 1991-05-28 Finisar Corporation Semiconductor laser diode controller and laser diode biasing control method
EP0529732B1 (en) * 1991-08-30 1994-11-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Tunable laser oscillator
FR2694423B1 (fr) * 1992-07-30 1994-12-23 France Telecom Dispositif de contrôle de la puissance de sortie des diodes laser.
EP0774684A3 (en) 1995-11-16 1998-04-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical apparatus and method for producing the same
US5812572A (en) * 1996-07-01 1998-09-22 Pacific Fiberoptics, Inc. Intelligent fiberoptic transmitters and methods of operating and manufacturing the same
NO307357B1 (no) * 1997-02-14 2000-03-20 Optoplan As Anordning for maling av optiske bolgelengder
SE519081C3 (sv) * 1998-01-21 2003-02-19 Altitun Ab Förfarande och anordning för optimering av lasrars operationspunkt, jämte anordning
US6163555A (en) * 1998-06-12 2000-12-19 Nortel Networks Limited Regulation of emission frequencies of a set of lasers
US6750964B2 (en) * 1999-08-06 2004-06-15 Cambridge Research And Instrumentation, Inc. Spectral imaging methods and systems
US6373568B1 (en) * 1999-08-06 2002-04-16 Cambridge Research & Instrumentation, Inc. Spectral imaging system
US6822743B2 (en) * 2001-03-07 2004-11-23 Paul Trinh Integrated-optic channel monitoring

Also Published As

Publication number Publication date
SE9903039L (sv) 2000-08-18
EP1166409A1 (en) 2002-01-02
WO2000054381A1 (en) 2000-09-14
AU3202900A (en) 2000-09-28
SE9903039D0 (sv) 1999-08-27
SE514188C2 (sv) 2001-01-22
CA2360962A1 (en) 2000-09-14
US6587485B1 (en) 2003-07-01
CN1164016C (zh) 2004-08-25
ATE342595T1 (de) 2006-11-15
EP1166409B1 (en) 2006-10-11
CN1340232A (zh) 2002-03-13
JP2003523616A (ja) 2003-08-05
DE60031254D1 (de) 2006-11-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3638524B2 (ja) 波長可変レーザの特徴付けと実波長の決定方法
KR100733172B1 (ko) 튜닝가능 레이저용 제어기와 제어 방법 및 레이저 시스템
US6782017B1 (en) Wavelength locker and wavelength discriminating apparatus
JP4104925B2 (ja) 波長可変半導体レーザの波長制御装置
US6826206B1 (en) Method of characterizing a tuneable laser
US11923659B2 (en) Optical module, method for controlling wavelength thereof, and method for calibration thereof
JP2002503036A (ja) レーザーの動作点を最適化する方法およびこの方法を実行するための装置
CN109412014B (zh) 一种可调谐激光器的波长定标装置及相应的波长定标方法
US6658028B1 (en) Method of wavelength locking and mode monitoring a tuneable laser
US6518563B1 (en) Detecting aging of optical components
US6535532B1 (en) Method and apparatus to select optimal operating conditions in a digital wavelength stabilized control system
US10673205B2 (en) Wavelength tunable laser module and method of controlling wavelength thereof
JP4141715B2 (ja) 波長可変半導体レーザの波長制御装置、波長制御方法および波長可変半導体レーザ装置
US7436864B2 (en) Method for optimising the calibration process of a tuneable laser
JP4141714B2 (ja) 半導体レーザ装置
US6765938B2 (en) System for controlling wavelength of laser beam
JPH10326939A (ja) 多波長光源用波長安定化装置
JP2935472B2 (ja) 光波長可変フィルタ制御方法及び装置
JPH08213687A (ja) レーザ過電流警報発生回路
JPH0835910A (ja) 波長可変素子の動特性測定装置
IES83362Y1 (en) Method for optimising the calibration process of a tuneable laser
IE20020187U1 (en) Method for optimising the calibration process of a tuneable laser

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040727

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041027

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041224

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050111

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees