JP3630784B2 - Manufacturing method of image forming apparatus - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は画像表示装置や記録装置等の画像形成装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
画像形成装置のうち、平板型画像表示装置には、プラズマディスプレイ、EL表示装置、電子線を用いた平板型表示装置があり、近年、これらに対し、大画面、高精細化の要求が増大し、ますます自発光型画像形成装置に対するニーズが高まりつつある。
【0003】
電子線を用いた平板型画像形成装置としては、例えばフェースプレートとバックプレートに挟まれた真空パネル内に電子ビームを発生する電子源として、表面伝導型電子放出素子を用い、該電子ビームを加速し、蛍光体に照射し発光させ、画像を形成させる薄型の画像形成装置が本出願人より出願されている(特開平3−261024号公報参照)。
【0004】
このような表面伝導型電子放出素子を用いた平板型画像形成装置の断面を図8に示す。図8において、1は青板ガラス等の絶縁材で構成される基板、即ち、バックプレート、3は一定の間隔(2μm程度)を隔てて設置された素子電極、2は有機Pdを塗布して形成した導電性薄膜、4は電子放出部であり、素子電極間に電圧を印加し通電加熱を行い電子放出部4を形成し、電子放出部4より電子を放出させる。表面伝導型電子放出素子としては、この他、SnO膜を用いたもの、Au薄膜によるもの〔G. Dittmer:Thin Solid Films,9,317(1972)〕、In薄膜によるもの〔M. Hartwell and C. G. Fonstad:IEEE Trans. ,ED Conf. ,519(1975)〕、カーボン薄膜によるもの〔荒木久他:真空,第26巻,第1号、第22頁(1983)〕等が報告されている。
【0005】
さらに図8において、105はバックプレート1の上に形成された絶縁層、6は該絶縁層105上に形成され、電子ビームが通過する穴を持った変調電極であるグリッド、10はAl薄膜のメタルバック9で覆われた蛍光体8をパネル内面側に設置された青板ガラス7からなるフェースプレート、12は低融点ガラスであり、外枠11を挟んでフェースプレート10とバックプレート1を加熱、接着、固定し、平板型画像形成装置を形成する。
【0006】
このような平板型画像形成装置の製造においては、フェースプレート10、枠11、バックプレート1に低融点ガラス12を塗布し、電気炉内で固着するとき、蛍光体8の位置と電子放出部との位置合わせを行った後、治具等により固定した後、電気炉に入れて低融点ガラスの融点以上の温度に加熱し、接着、固定する。
【0007】
次にバックプレート1とフェースプレート10の間の空気を排気管(図示せず)を通して、ターボ分子ポンプ等の真空ポンプによって圧力が1×10−6Torr以下に真空排気する。次に、電圧を印加し通電処理を行い、電子放出部4を形成する。さらに、この画像形成装置全体をベーキングし脱ガスを十分行った後、ゲッター材(図示せず)を飛ばす。最後に排気管(図示せず)を封じ切る。
【0008】
以上のようにして製造した画像形成装置において、表面伝導型電子放出素子、グリッド6を駆動装置に接続し、メタルバック9を高圧電源に接続する。画像形成装置の内部は圧力が1×10−6Torr以下の真空に維持され、駆動装置によって電極3間に駆動パルス電圧を印加すると電子がビーム状に放出され、該電子ビームはグリッド6を通過し、不図示の高圧電源からメタルバック9に印加された正の高電圧によって加速され、蛍光体8に衝突しこれを発光させる。前記電子ビームは駆動装置(不図示)によってグリッド6に印加する電圧で制御でき、それによって蛍光体の発光を制御でき、所望の画像を形成できる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記のような画像形成装置の製造において、フェースプレートとバックプレートとの従来の接着、固定方法には次のような問題点があった。
【0010】
即ち、フェースプレート、枠、バックプレートを固着する時、蛍光体の位置と電子放出素子部との位置合わせを行った後、治具等により固定した後、電気炉等に入れて本焼成し固着させ、真空もれのない強固な接着を得る。しかし、低融点ガラスは温度が上昇するにつれ、粘性が低下し、液化するので、予めフェースプレートとバックプレートの位置合わせを行っておき、治具等で固定しておいても、低融点ガラスの粘性低下により、バックプレートとフェースプレートが移動し、位置ズレが生じ、蛍光体の位置と電子放出部との位置もずれてしまい、精度よく作成するのが難しかった。また、そのため、歩留りも悪く、コストがかかるという問題点があった。
【0011】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明者らは、上記平板型画像形成装置の製造方法におけるこれらの諸問題を解決すべく、鋭意研究を重ねた結果、位置合わせ工程と、加熱、固着工程とを、同一装置内において並行して行うことにより、上記問題を解決できることを見いだし、本発明を完成したものであり、本発明により、次のような平板型画像形成装置の製造方法が提供される。
【0012】
即ち、本発明の平板型画像形成装置の製造方法は、蛍光体を有するフェースプレートと、該蛍光体を発光させるエネルギービームを発生させるための発生源あるいは電極を有するバックプレートを相対向して配置し、両者を加熱し接着、固定する平板型画像形成装置の製造方法において、フェースプレートとバックプレートとを接合する接合剤が軟化している間、該フェースプレートとバックプレートとの位置ずれを検出し、該検出結果に基づいてフェースプレートとバックプレートとの位置合わせを行うことを特徴とする画像形成装置の製造方法である。
【0014】
【発明の実施の形態】
本発明において、蛍光体を発光させる電子ビームを発生させるための発生源としては、表面伝導型電子放出素子を複数並列に配置し結線してなる素子列を少なくとも1列以上有し、各素子を駆動するための配線を有する電子源を好ましく使用するが、熱カソードを用いた熱電子源、電界放出型電子放出素子〔W. P.Dyke & W. W. Dolan,Field emission,Advance in Electron Physics,8,89(1956)及びC. A. Spindt,Physical properties of thin−film field emission cathodeswith molybdenum cones,J. Appl. Phys. ,47,5248(1976)等〕、金属/絶縁層/金属型電子放出素子〔C. A. Mead,The tunnel−emission amplifier,J. Appl. Phys. ,32,646(1961)等〕も使用することができる。
【0015】
以下、図面を参照しながら本発明を詳細に説明する。
【0016】
図1は本発明によって製造される平板型画像形成装置の一つである画像表示装置の一態様の斜視図である。図1において、1はバックプレート、3は素子電極、4は電子放出部、5は電子通過孔、6はグリッド、10は透明なガラス基板7よりなり、蛍光体8およびメタルバック9を有するフェースプレート、11は枠、12は低融点ガラスである。図1において、フェースプレート10はその断面、及びバックプレート1側が斜視できるように切除されている。
【0017】
本発明の製造方法は、このような平板型画像形成装置のバックプレート1およびフェースプレート10をそれぞれ枠11と低融点ガラス12により位置精度良く固着する方法であり、図2及び図5にその概略を示すような製造装置を用いる。図2において、14は電気炉、15はアライメント検出装置、16は制御装置、17は調整機構である。また、1はバックプレート、10はフェースプレート、11は枠を示す。図5は、図2に示すものと調整機構17がバックプレート1側にあるという点で異なり、本発明においては、いずれの側に調整機構があってもよい。
【0018】
本発明においては、内側に電子放出素子を有するバックプレート1、内側表面に蛍光体8を塗布し、さらに蛍光体の表面に導電性を持たせたフェースプレート10及び枠11の接着すべき部位に予め低融点ガラスを塗布し、これら全体を加熱できる容器を備えた電気炉14に入れ、バックプレート1及びフェースプレート10を治具等で固定し、電気炉の温度を上昇させて、画像形成装置を加熱し、アライメント検出装置15を使用し、バックプレート1とフェースプレート10のアライメントマークを合わせ、位置合わせを行う。電気炉の温度が上昇すると低融点ガラスの粘性が低下し、液化するので、フェースプレート10とバックプレート1がそれぞれ移動し、位置がずれる。そして、そのずれをアライメント検出装置15によって検出し、制御装置16からの信号を受け、調整機構17によってフェースプレート10又はバックプレート1が調整される。このようにして位置ずれの調整を行う。
【0019】
図3及び図4に位置ずれの調整法の一態様を示す。図3及び図4はアライメント部を拡大した斜視図であり、フェースプレート10にアライメントマーク20(本態様では十字を使用)があり、バックプレート1にアラインメントマーク20が記されている。これらを合わせることにより位置合わせが行われ、図3のように、互いにずれていることがアライメント検出装置15によって検出されると、制御装置16からの信号を受け、調整機構17により、図4のように、フェースプレート10が調整される。
【0020】
図6及び図7にも同様な調整法が示されているが、これは図5に示す製造装置のバックプレート1を調整する態様に対応した例である。
【0021】
ここで位置合わせに用いるアライメントマークの形状は限定されるものでなく、バックプレート1では、電子放出素子を形成する時に同時に形成できる。また、フェースプレート10においても同様で、蛍光体等を形成する時、同時に形成すればよい。また、ずれの検知は、光学的なものに限定されず、要するに加熱された炉の中で、ずれを検知できればどのようなものでもよい。
【0022】
また、フェースプレート10、バックプレート1、枠11を封着するのに、低融点ガラスを用いるほか、接着剤による封着等、炉中で接着できる方法であれば、その方法は限定されない。
【0023】
その後、ゆっくり冷却し、室温に戻し、画像形成装置を電気炉から取り出す。
【0024】
なお、図2及び図5には、加熱手段として、ヒータを図示したが、本発明においては特にこれに限定されることはなく、所望の温度で、所定時間加熱できるものであれば、どのようなものを用いてもよい。
【0025】
このように、フェースプレート10とバックプレート1の位置が調整された状態で、低融点ガラスが固着し、封着が完了し、真空もれのない強固な接着を得ることができる。フェースプレート10の各色蛍光体とバックプレート1の電子放出素子とを高い精度で位置合わせする必要があるため、調整機構17の精度は、±10μmの精度をもつことが好ましく、同等の精度で封着する。
【0026】
上記、図1のバックプレート側の表面伝導型電子放出素子の基本的構成を図9に示す。図9(a)は平面図であり、(b)は断面図である。なお、図9において図1と同じ符号は同じ部材を示すものであり、2は導電性の薄膜を示す。
【0027】
バックプレート1としては、例えば石英ガラス、Na等の不純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青板ガラスにスパッタ法等によりSiOを積層した積層体、アルミナなどのセラミックス等が用いられる。
【0028】
素子電極3の材料としては、一般的導体材料が用いられ、例えばNi、Cr、Au、Mo、W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等の金属あるいは合金及びPd、Ag、Au、RuO、Pd−Ag等の金属あるいは金属酸化物とガラス等から構成される印刷導体、In−SnO等の透明導電体及びポリシリコン等の半導体材料から適宜選択される。
【0029】
素子電極間隔L、素子電極長さW1、導電性膜2の形状等は、応用される形態等によって適宜設計される。
【0030】
素子電極間隔Lは、数百Å〜数百μmであることが好ましく、より好ましくは、素子電極間に印加する電圧等により、数μm〜数十μmである。
【0031】
素子電極長さW1は、電極の抵抗値や電子放出特性を考慮すると、好ましくは数μm〜数百μmであり、また素子電極厚さdは数百Å〜数μmである。
【0032】
電子放出素子の電子放出部4を含む導電性膜2において、電子放出部4は粒径が数十Åの導電性微粒子かならなり、導電性膜2は導電性微粒子膜からなる場合もある。微粒子膜とは複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒子が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接、あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜をさす。その膜厚は、素子電極3へのステップカバレージ、素子電極間の抵抗値等により適宜選択され、好ましくは数Å〜数千Åで、特に好ましくは10Å〜200Åであり、その抵抗値は10〜10Ω/口のシート抵抗値である。
【0033】
この導電性膜2を構成する材料としては、例えば、Pd、Ru、Ag、Au、Ti、In、Cu、Cr、Fe、Zn、Sn、Ta、W、Pb等の金属、PdO、SnO、In、PbO、Sb等の酸化物、HfB、ZrB、LaB、CeB、YB、GdB等の硼化物、TiC、ZrC、HfC、TaC、SiC、WC等の炭化物、TiN、ZrN、HfN等の窒化物、Si、Ge等の半導体、カーボン、AgMg、NiCu等を挙げることができる。
【0034】
電子放出部4には亀裂が含まれており、電子放出はこの亀裂付近から行われる。
【0035】
このような表面伝導型電子放出素子の製法としては種々の方法があるが、その一例を図10を用いて簡単に説明する。
【0036】
1)バックプレート(基板)1を十分に洗浄した後、真空蒸着法、スパッタ法等により素子電極材料を堆積させた後、フォトリソグラフィー技術により、基板1の面上に素子電極3を形成する(図10(a))。
【0037】
2)素子電極3を設けた基板1上に、有機金属溶液を塗布して放置することにより、両素子電極間を連絡して有機金属薄膜を形成する。なお、有機金属溶液とは、上記導電性膜2の構成材料の金属を主元素とする有機化合物の溶液である。この後、有機金属薄膜を加熱焼成処理しリフトオフ、エッチング等によりパターンニングされた導電性膜2を形成する(図10(b))。なお、ここでは、有機金属溶液の塗布法により説明したが、これに限ることなく、例えば真空蒸着法、スパッタ法、化学的気相堆積法、分散塗布法、デイッピング法、スピナー法等によって有機金属膜を形成することもできる。
【0038】
3)この後、適当な真空雰囲気下でフォーミングと呼ばれる通電処理を施す。素子電極3間に不図示の電源より通電すると、導電性膜2の部位に構造の変化した電子放出部4が形成される(図10(c))。この通電処理により、導電性膜2を局所的に破壊、変形もしくは変質せしめ、構造の変化した部位が電子放出部4である。
【0039】
4)好ましくは、このようにして作成した電子放出素子を、フォーミング工程での真空度より高い真空雰囲気、例えば約10−6Torr以下にして動作駆動する。
【0040】
なお、フォーミング工程以降は、通常、バックプレート及びフェースプレートの固着、封着後に行われる。
【0041】
本発明に好適に用いる電子ビーム発生源としての電子源は、このような表面伝導型電子放出素子を複数個配列して結線して用いる。この配列の方法としては、並列に複数個の電子放出素子を配列し個々の電子放出素子の両端(両素子電極)を配線にて結線した梯子型配置及びm本のX方向配線の上にn本のY方向配線を層間絶縁層を介して設置し、電子放出素子の一対の素子電極に夫々X方向配線、Y方向配線を接続した単純マトリクス配置を挙げることができる。
【0042】
フェースプレート10とバックプレート1の間には、特に梯子型配置の場合、図1に示すように、グリッド6が設けられる。このグリッド6は、電子放出素子から放出された電子ビームを変調することのできる電極である。グリッド6は、バックプレート1の上方に、レジストをパターニングしてエッチングを行い、例えば厚さ1μmのAu配線を行った後、例えばスパッタ等の方法により絶縁材の膜を形成し、さらに絶縁膜の上にAu、Al、Cu等の金属を蒸着し、電子通過孔5をエッチングして形成する。
【0043】
【実施例】
〔実施例1〕
図10に示す工程に従い、PdO膜を用いる電子放出素子を電子源として用いて、図1に示す画像表示装置を作成した。
【0044】
まず、ガラス基板1にリフトオフ法によって、間隙幅2μm、間隙長さ400μm、厚さ1000ÅのAuの素子電極3を作成した〔図10(a)〕。
【0045】
次に、有機Pd溶液〔CCP4230O奥野製薬(株)製〕を塗布し、300℃で15分間焼成した。次にレジストパターンをパターニングし、エッチングを行い、電極3に跨がり両電極3の間隙を覆い、該間隙方向に長さ280μm(図9のW2に相当)、幅30μmのパターンの導電性膜2を作成した〔図10(b)〕。このような工程によって、表面伝導型電子放出素子を同一ガラス基板上に図1に示すように梯子状に配列して600×400個作成した。
【0046】
さらに、上記基板(バックプレート)1上に、絶縁材であるSiOの10μm厚さの膜をスパッタにより形成し、さらにこの絶縁膜上にAuを蒸着し、エッチングを行い、電子通過孔5、グリッド6をバックプレート1に一体に作成した。
【0047】
また、別の透明ガラス基板上に蛍光体8を予め塗布し、その表面を平滑化処理してAlを真空蒸着してメタルバック(アノード電極)9を形成してフェースプレート10を得た。
【0048】
次に、フェースプレート10、高さ5mmの枠11及びバックプレート1の接着すべき部位に予め低融点ガラス12を塗布し、図1のように配置して、図2に示した製造装置の電気炉14に入れた。電気炉14の温度を上昇させ、430℃、1時間加熱し、アライメント検出装置15を使用して、フェースプレート10とバックプレート1のアライメントマーク(図3及び図4に示した十字を使用)を合わせ、位置合わせを行った。図2の装置においては、位置合わせ、即ち、位置ずれの調整は前述したように、検出装置15によってずれが検出され、制御装置16からの信号を受けた調整機構17によってフェースプレート10が調整され、位置合わせが行われる。
【0049】
このように、フェースプレート10とバックプレート1の位置が調整された状態で低融点ガラス12が固着し、封着が完了し、真空もれのない強固な接着が得られた。
【0050】
電気炉14の温度をゆっくり冷却させてから取り出し、排気管からターボ分子ポンプによって、画像表示装置内を10−6Torr以下に真空排気した。その後、配線を通して電極3間に5Vを印加し、1素子当たり約20mAの電流を流し、通電処理を行い、電子放出部4を形成させた。
【0051】
続いて、ホットプレートによって、画像表示装置を約130℃に加熱し、排気管(図示せず)より真空引きを行い、画像表示装置内を10−6Torr以下に真空排気した。画像表示装置の真空容器内に設置したゲッター材(図示せず)を飛ばした後、排気管をガスバーナーで加熱し、封じ切った。
【0052】
本実施例によると、電気炉に入れる前に位置合わせの必要がなく、電気炉内にアライメント機能を持っており、温度上昇させている間に位置合わせができ、位置合わせの時間が短縮された。
【0053】
〔実施例2〕
図5に示した製造装置を用いて、実施例1と全く同様にして図1に示した画像表示装置を製造した。
【0054】
まず、実施例1と同様にして、電子放出素子、グリッド6等を有するバックプレート1を作成し、次に、蛍光体を予め塗布し、導電性を持たせたフェースプレート10、枠11及びバックプレート1の接着すべき部位に低融点ガラス12を塗布し、図5に示す製造装置の電気炉14に入れ、電気炉の温度を上昇させ、430℃で1時間加熱し、アライメント検出装置15を用いて、フェースプレート10とバックプレート1のアライメントマーク(図6及び図7に示した十字)を合わせて、位置合わせを行った。位置ずれの調整は調整機構17により、バックプレート1が調整されて、位置合わせが行われた。
【0055】
その後、実施例1と同様に画像表示装置内を真空排気し、通電処理を施し、さらに真空排気し、排気管を加熱し封じ切った。
【0056】
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、バックプレート及びフェースプレートを接着、固定する際に、フェースプレートとバックプレートとの位置合わせを行う工程と、フェースプレート、枠、バックプレートを加熱、接着、固定する工程とを、同一装置内において並行して行うため、精度のよい封着を失敗なく行うことができる。そのため、蛍光体と電子放出素子の位置のよく一致した、従って画質のシャープな画像形成装置を歩留りよく製造することができ、生産性の向上、製造コスト低減をはかることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によって製造される画像形成装置の一態様を示す画像表示装置の斜視図である。
【図2】本発明の画像形成装置の製造装置の一態様を示す概略図である。
【図3】フェースプレートとバックプレートの調整を示すアライメントマーク部の拡大図である。
【図4】フェースプレートとバックプレートの調整を示すアライメントマーク部の拡大図である。
【図5】本発明の画像形成装置の製造装置の一態様を示す概略図である。
【図6】フェースプレートとバックプレートの調整を示すアライメントマーク部の拡大図である。
【図7】フェースプレートとバックプレートの調整を示すアライメントマーク部の拡大図である。
【図8】本発明によって製造される画像形成装置の一態様を示す断面図である。
【図9】本発明に用いられる電子源の電子放出素子の基本構成を示す平面図及び断面図である
【図10】電子放出素子の作成工程を示す断面図である。
【符号の説明】
1 バックプレート(絶縁性基板)
2 導電性膜
3 素子電極
4 電子放出部
5 電子通過孔
6 グリッド
7 透明な基板
8 蛍光体
9 メタルバック
10 フェースプレート
11 枠
12 低融点ガラス
14 電気炉
15 アライメント検出装置
16 制御装置
17 調整機構
20 アライメントマーク
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method of manufacturing an image forming apparatus such as an image display device or a recording device.
[0002]
[Prior art]
Among the image forming apparatuses, the flat type image display apparatus includes a plasma display, an EL display apparatus, and a flat type display apparatus using an electron beam. In recent years, demands for large screens and high definition have increased. There is a growing need for self-luminous image forming apparatuses.
[0003]
As a flat type image forming apparatus using an electron beam, for example, a surface conduction electron-emitting device is used as an electron source for generating an electron beam in a vacuum panel sandwiched between a face plate and a back plate, and the electron beam is accelerated. A thin image forming apparatus for irradiating a phosphor to emit light and forming an image has been filed by the present applicant (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-261024).
[0004]
FIG. 8 shows a cross section of a flat plate type image forming apparatus using such a surface conduction electron-emitting device. In FIG. 8, 1 is a substrate made of an insulating material such as blue plate glass, that is, a back plate, 3 is an element electrode placed at a fixed interval (about 2 μm), and 2 is formed by applying organic Pd. The electroconductive thin film 4 is an electron emission portion, and a voltage is applied between the element electrodes to conduct heating and form the electron emission portion 4, and electrons are emitted from the electron emission portion 4. Other examples of surface conduction electron-emitting devices include those using SnO 2 films and those using Au thin films [G. Dittmer: Thin Solid Films, 9, 317 (1972)], using In 2 O 3 thin film [M. Hartwell and C.H. G. Fonstad: IEEE Trans. , ED Conf. 519 (1975)], and those using carbon thin films [Hisa Araki et al .: Vacuum, Vol. 26, No. 1, pp. 22 (1983)] have been reported.
[0005]
Further, in FIG. 8, 105 is an insulating layer formed on the back plate 1, 6 is a grid formed on the insulating layer 105, and is a modulation electrode having a hole through which an electron beam passes, and 10 is an Al thin film. A phosphor 8 covered with a metal back 9 is a face plate made of blue glass 7 placed on the inner surface of the panel, 12 is a low melting glass, and the face plate 10 and the back plate 1 are heated with the outer frame 11 sandwiched between them. Adhering and fixing to form a flat image forming apparatus.
[0006]
In the manufacture of such a flat type image forming apparatus, when the low melting point glass 12 is applied to the face plate 10, the frame 11, and the back plate 1 and fixed in an electric furnace, the position of the phosphor 8 and the electron emission portion After performing the above positioning, after fixing with a jig or the like, it is put in an electric furnace and heated to a temperature equal to or higher than the melting point of the low-melting glass to be bonded and fixed.
[0007]
Next, the air between the back plate 1 and the face plate 10 is evacuated to a pressure of 1 × 10 −6 Torr or less by a vacuum pump such as a turbo molecular pump through an exhaust pipe (not shown). Next, a voltage is applied and an energization process is performed to form the electron emission portion 4. Further, after the entire image forming apparatus is baked and sufficiently degassed, a getter material (not shown) is blown off. Finally, the exhaust pipe (not shown) is sealed off.
[0008]
In the image forming apparatus manufactured as described above, the surface conduction electron-emitting device and the grid 6 are connected to a driving device, and the metal back 9 is connected to a high voltage power source. The inside of the image forming apparatus is maintained at a vacuum of 1 × 10 −6 Torr or less, and when a driving pulse voltage is applied between the electrodes 3 by the driving device, electrons are emitted in the form of a beam, and the electron beam passes through the grid 6. Then, it is accelerated by a positive high voltage applied to the metal back 9 from a high voltage power source (not shown), and collides with the phosphor 8 to emit light. The electron beam can be controlled by a voltage applied to the grid 6 by a driving device (not shown), whereby the emission of the phosphor can be controlled and a desired image can be formed.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the manufacture of the image forming apparatus as described above, the conventional bonding and fixing method between the face plate and the back plate has the following problems.
[0010]
That is, when fixing the face plate, frame, and back plate, after aligning the position of the phosphor with the electron-emitting device, fixing it with a jig, etc., then placing it in an electric furnace or the like and firing and fixing To obtain a strong bond without vacuum leakage. However, as the temperature of the low melting point glass rises, the viscosity decreases and liquefies. Therefore, even if the face plate and the back plate are aligned in advance and fixed with a jig or the like, the low melting point glass Due to the lowering of the viscosity, the back plate and the face plate move to cause positional deviation, and the position of the phosphor and the position of the electron emitting portion are also shifted, making it difficult to produce with high accuracy. For this reason, there is a problem that the yield is poor and the cost is high.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
Therefore, as a result of intensive studies to solve these problems in the method for manufacturing the flat-plate-type image forming apparatus, the present inventors have conducted an alignment process and a heating and fixing process in the same apparatus. It has been found that the above problems can be solved by carrying out in parallel, and the present invention has been completed. The present invention provides the following method for manufacturing a flat type image forming apparatus.
[0012]
That is, in the method for manufacturing a flat-plate-type image forming apparatus of the present invention, a face plate having a phosphor and a back plate having a source or an electrode for generating an energy beam for emitting the phosphor are arranged opposite to each other. In the manufacturing method of the flat plate type image forming apparatus in which both are bonded and fixed by heating , the positional displacement between the face plate and the back plate is shifted while the bonding agent for bonding the face plate and the back plate is softened. A method for manufacturing an image forming apparatus, comprising: detecting and aligning a face plate and a back plate based on the detection result .
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
In the present invention, as a generation source for generating an electron beam that emits a phosphor, it has at least one element row formed by arranging and connecting a plurality of surface conduction electron-emitting devices in parallel, An electron source having wiring for driving is preferably used. A thermoelectron source using a thermal cathode, a field emission type electron-emitting device [W. P. Dyke & W. W. Dolan, Field emission, Advances in Electron Physics, 8, 89 (1956) and C.I. A. Spindt, Physical properties of thin-film field emission catalyst with molecular denes, J. MoI. Appl. Phys. , 47, 5248 (1976), etc.], metal / insulating layer / metal-type electron-emitting device [C. A. Mead, The tunnel-emission amplifier, J. Am. Appl. Phys. , 32, 646 (1961), etc.] can also be used.
[0015]
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0016]
FIG. 1 is a perspective view of an embodiment of an image display apparatus which is one of flat plate image forming apparatuses manufactured according to the present invention. In FIG. 1, 1 is a back plate, 3 is a device electrode, 4 is an electron emission portion, 5 is an electron passage hole, 6 is a grid, 10 is a face made of a transparent glass substrate 7, and having a phosphor 8 and a metal back 9. A plate, 11 is a frame, and 12 is a low-melting glass. In FIG. 1, the face plate 10 is cut so that the cross section and the back plate 1 side can be seen.
[0017]
The manufacturing method of the present invention is a method for fixing the back plate 1 and the face plate 10 of such a flat type image forming apparatus with a frame 11 and a low melting point glass 12 with high positional accuracy, respectively. A manufacturing apparatus as shown in FIG. In FIG. 2, 14 is an electric furnace, 15 is an alignment detection device, 16 is a control device, and 17 is an adjustment mechanism. Reference numeral 1 denotes a back plate, 10 denotes a face plate, and 11 denotes a frame. FIG. 5 differs from that shown in FIG. 2 in that the adjusting mechanism 17 is on the back plate 1 side. In the present invention, the adjusting mechanism may be on either side.
[0018]
In the present invention, the back plate 1 having the electron-emitting device on the inside, the phosphor 8 is applied to the inner surface, and the face plate 10 and the frame 11 are made to adhere to the surface of the phosphor having conductivity. An image forming apparatus in which low melting point glass is applied in advance and placed in an electric furnace 14 provided with a container capable of heating the whole, the back plate 1 and the face plate 10 are fixed with a jig or the like, and the temperature of the electric furnace is increased. Then, the alignment detection device 15 is used to align the alignment marks on the back plate 1 and the face plate 10 to perform alignment. When the temperature of the electric furnace rises, the viscosity of the low melting point glass decreases and liquefies, so that the face plate 10 and the back plate 1 move, and the positions are shifted. Then, the deviation is detected by the alignment detection device 15, receives a signal from the control device 16, and the face plate 10 or the back plate 1 is adjusted by the adjustment mechanism 17. In this way, the positional deviation is adjusted.
[0019]
FIG. 3 and FIG. 4 show one aspect of the positional deviation adjustment method. 3 and 4 are enlarged perspective views of the alignment portion. The face plate 10 has an alignment mark 20 (a cross is used in this embodiment), and the back plate 1 has an alignment mark 20 written thereon. By aligning these, alignment is performed, and when the alignment detection device 15 detects that they are shifted from each other as shown in FIG. 3, a signal from the control device 16 is received, and the adjustment mechanism 17 in FIG. Thus, the face plate 10 is adjusted.
[0020]
6 and 7 also show a similar adjustment method, which is an example corresponding to the aspect of adjusting the back plate 1 of the manufacturing apparatus shown in FIG.
[0021]
Here, the shape of the alignment mark used for alignment is not limited, and the back plate 1 can be formed simultaneously with the formation of the electron-emitting device. Similarly, the face plate 10 may be formed at the same time when the phosphor or the like is formed. Further, the detection of the shift is not limited to an optical one, and in short, any detection is possible as long as the shift can be detected in a heated furnace.
[0022]
In addition to using low melting point glass for sealing the face plate 10, the back plate 1 and the frame 11, the method is not limited as long as it can be bonded in a furnace, such as sealing with an adhesive.
[0023]
Then, it cools slowly, returns to room temperature, and takes out an image forming apparatus from an electric furnace.
[0024]
In FIGS. 2 and 5, a heater is illustrated as a heating means. However, the present invention is not particularly limited to this, and any method can be used as long as it can be heated at a desired temperature for a predetermined time. You may use anything.
[0025]
Thus, in a state where the positions of the face plate 10 and the back plate 1 are adjusted, the low-melting point glass is fixed, sealing is completed, and strong adhesion without leakage can be obtained. Since it is necessary to align each color phosphor of the face plate 10 and the electron-emitting device of the back plate 1 with high accuracy, the accuracy of the adjusting mechanism 17 is preferably ± 10 μm, and sealed with equal accuracy. To wear.
[0026]
FIG. 9 shows a basic configuration of the surface conduction electron-emitting device on the back plate side in FIG. FIG. 9A is a plan view, and FIG. 9B is a cross-sectional view. 9, the same reference numerals as those in FIG. 1 denote the same members, and 2 denotes a conductive thin film.
[0027]
As the back plate 1, for example, quartz glass, glass with reduced impurity content such as Na, blue plate glass, a laminated body in which SiO 2 is laminated on the blue plate glass by a sputtering method, ceramics such as alumina, or the like is used.
[0028]
As a material of the element electrode 3, a general conductive material is used, for example, a metal or alloy such as Ni, Cr, Au, Mo, W, Pt, Ti, Al, Cu, Pd, and Pd, Ag, Au, RuO 2. , Pd—Ag or other metal or metal oxide and a printed conductor composed of glass or the like, a transparent conductor such as In 2 O 3 —SnO 2, or a semiconductor material such as polysilicon.
[0029]
The element electrode interval L, the element electrode length W1, the shape of the conductive film 2, and the like are appropriately designed according to the applied form and the like.
[0030]
The element electrode interval L is preferably several hundred to several hundred μm, and more preferably several μm to several tens μm depending on the voltage applied between the element electrodes.
[0031]
The element electrode length W1 is preferably several μm to several hundred μm in consideration of the resistance value of the electrode and electron emission characteristics, and the element electrode thickness d is several hundred to several μm.
[0032]
In the conductive film 2 including the electron emission portion 4 of the electron-emitting device, the electron emission portion 4 is made of conductive fine particles having a particle size of several tens of millimeters, and the conductive film 2 may be made of a conductive fine particle film. The fine particle film is a film in which a plurality of fine particles are aggregated, and the fine structure indicates not only a state where the fine particles are dispersed and arranged, but also a film in which the fine particles are adjacent to each other or overlap each other (including islands). . The film thickness is appropriately selected depending on the step coverage to the element electrode 3, the resistance value between the element electrodes, and the like, preferably several to several thousand, particularly preferably 10 to 200, and the resistance is 10 3. It is a sheet resistance value of -10 7 Ω / mouth.
[0033]
Examples of the material constituting the conductive film 2 include metals such as Pd, Ru, Ag, Au, Ti, In, Cu, Cr, Fe, Zn, Sn, Ta, W, and Pb, PdO, SnO 2 , Oxides such as In 2 O 3 , PbO, Sb 2 O 3 , borides such as HfB 2 , ZrB 2 , LaB 6 , CeB 6 , YB 4 , GdB 4 , TiC, ZrC, HfC, TaC, SiC, WC, etc. Carbides, nitrides such as TiN, ZrN, and HfN, semiconductors such as Si and Ge, carbon, AgMg, and NiCu.
[0034]
The electron emission portion 4 includes a crack, and the electron emission is performed from the vicinity of the crack.
[0035]
There are various methods for manufacturing such a surface conduction electron-emitting device, and an example thereof will be briefly described with reference to FIG.
[0036]
1) After sufficiently cleaning the back plate (substrate) 1, an element electrode material is deposited by vacuum deposition, sputtering, or the like, and then an element electrode 3 is formed on the surface of the substrate 1 by a photolithography technique ( FIG. 10 (a)).
[0037]
2) An organic metal solution is applied on the substrate 1 provided with the element electrode 3 and left to stand, thereby forming an organic metal thin film in communication between both element electrodes. The organometallic solution is a solution of an organic compound containing a metal as a constituent material of the conductive film 2 as a main element. Thereafter, the organic metal thin film is heated and baked to form a conductive film 2 patterned by lift-off, etching, or the like (FIG. 10B). Here, the application method of the organic metal solution has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, the organic metal solution may be formed by vacuum evaporation, sputtering, chemical vapor deposition, dispersion coating, dipping, spinner, or the like. A film can also be formed.
[0038]
3) Thereafter, an energization process called forming is performed in an appropriate vacuum atmosphere. When electricity is supplied between the element electrodes 3 from a power source (not shown), the electron emission portion 4 having a changed structure is formed in the portion of the conductive film 2 (FIG. 10C). By this energization process, the conductive film 2 is locally broken, deformed or altered, and the site where the structure is changed is the electron emission portion 4.
[0039]
4) Preferably, the electron-emitting device fabricated in this way is driven to operate in a vacuum atmosphere higher than the degree of vacuum in the forming process, for example, about 10 −6 Torr or less.
[0040]
Note that the steps after the forming step are usually performed after the back plate and the face plate are fixed and sealed.
[0041]
An electron source as an electron beam generating source preferably used in the present invention uses a plurality of such surface-conduction electron-emitting devices arranged and connected. As a method of this arrangement, a plurality of electron-emitting devices are arranged in parallel and both ends (both device electrodes) of each electron-emitting device are connected by wiring, and n on the m X-directional wirings. A simple matrix arrangement in which a Y-direction wiring of a book is installed via an interlayer insulating layer, and an X-direction wiring and a Y-direction wiring are connected to a pair of element electrodes of the electron-emitting device, respectively.
[0042]
A grid 6 is provided between the face plate 10 and the back plate 1 as shown in FIG. The grid 6 is an electrode that can modulate the electron beam emitted from the electron-emitting device. The grid 6 is formed by patterning a resist on the back plate 1 and performing etching. After performing Au wiring having a thickness of 1 μm, for example, an insulating material film is formed by a method such as sputtering. A metal such as Au, Al, Cu or the like is deposited thereon, and the electron passage hole 5 is formed by etching.
[0043]
【Example】
[Example 1]
In accordance with the process shown in FIG. 10, the image display apparatus shown in FIG. 1 was prepared using an electron-emitting device using a PdO film as an electron source.
[0044]
First, an Au element electrode 3 having a gap width of 2 μm, a gap length of 400 μm, and a thickness of 1000 mm was formed on the glass substrate 1 by a lift-off method [FIG. 10A].
[0045]
Next, an organic Pd solution [CCP4230O manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.] was applied and baked at 300 ° C. for 15 minutes. Next, the resist pattern is patterned and etched to cover the gap between the electrodes 3 and cover the gap between the electrodes 3. The conductive film 2 has a pattern length of 280 μm (corresponding to W2 in FIG. 9) and a width of 30 μm. [Fig. 10 (b)]. Through this process, 600 × 400 surface-conduction electron-emitting devices were arranged on the same glass substrate in a ladder shape as shown in FIG.
[0046]
Further, a 10 μm thick film of SiO 2 as an insulating material is formed on the substrate (back plate) 1 by sputtering, and Au is vapor-deposited on the insulating film, and etching is performed. The grid 6 was formed integrally with the back plate 1.
[0047]
Further, the phosphor 8 was previously applied on another transparent glass substrate, the surface was smoothed, and Al was vacuum deposited to form a metal back (anode electrode) 9 to obtain a face plate 10.
[0048]
Next, low melting point glass 12 is applied in advance on the face plate 10, the frame 11 having a height of 5 mm, and the portion to be bonded to the back plate 1, and arranged as shown in FIG. Placed in furnace 14. The temperature of the electric furnace 14 is increased, heated at 430 ° C. for 1 hour, and the alignment detection device 15 is used to mark the alignment marks on the face plate 10 and the back plate 1 (using the crosses shown in FIGS. 3 and 4). Alignment was performed. In the apparatus of FIG. 2, as described above, the alignment, that is, the adjustment of the displacement is detected by the detection device 15, and the face plate 10 is adjusted by the adjustment mechanism 17 that receives the signal from the control device 16. , Alignment is performed.
[0049]
As described above, the low melting point glass 12 was fixed in a state where the positions of the face plate 10 and the back plate 1 were adjusted, sealing was completed, and strong adhesion with no vacuum leakage was obtained.
[0050]
The temperature of the electric furnace 14 was slowly cooled and taken out, and the inside of the image display device was evacuated to 10 −6 Torr or less by a turbo molecular pump from the exhaust pipe. Thereafter, 5 V was applied between the electrodes 3 through the wiring, a current of about 20 mA was applied per element, an energization process was performed, and the electron emission portion 4 was formed.
[0051]
Subsequently, the image display device was heated to about 130 ° C. with a hot plate, evacuated from an exhaust pipe (not shown), and the inside of the image display device was evacuated to 10 −6 Torr or less. After the getter material (not shown) installed in the vacuum container of the image display apparatus was blown, the exhaust pipe was heated with a gas burner and sealed.
[0052]
According to this embodiment, there is no need for alignment before entering the electric furnace, the electric furnace has an alignment function, alignment can be performed while the temperature is raised, and the alignment time is shortened. .
[0053]
[Example 2]
Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 5, the image display apparatus shown in FIG. 1 was manufactured in exactly the same manner as in Example 1.
[0054]
First, a back plate 1 having electron-emitting devices, grids 6 and the like is prepared in the same manner as in Example 1, and then a face plate 10, a frame 11, and a back that have been pre-coated with a phosphor to have conductivity. The low melting point glass 12 is applied to the part of the plate 1 to be bonded, placed in the electric furnace 14 of the manufacturing apparatus shown in FIG. 5, the temperature of the electric furnace is increased, and the alignment detection apparatus 15 is heated at 430 ° C. for 1 hour. Using the alignment marks (the crosses shown in FIGS. 6 and 7) on the face plate 10 and the back plate 1, the alignment was performed. The adjustment of the positional deviation was performed by adjusting the back plate 1 by the adjusting mechanism 17.
[0055]
Thereafter, the inside of the image display device was evacuated in the same manner as in Example 1, energized, further evacuated, and the exhaust pipe was heated and sealed.
[0056]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, when the back plate and the face plate are bonded and fixed, the step of aligning the face plate and the back plate, the face plate, the frame, and the back plate are heated and bonded. Since the fixing step is performed in parallel in the same apparatus, accurate sealing can be performed without failure. Therefore, it is possible to manufacture an image forming apparatus in which the positions of the phosphor and the electron-emitting device are in good agreement, and thus sharp in image quality, with a high yield, and the productivity can be improved and the manufacturing cost can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view of an image display device showing an embodiment of an image forming apparatus manufactured according to the present invention.
FIG. 2 is a schematic view showing an aspect of an image forming apparatus manufacturing apparatus according to the present invention.
FIG. 3 is an enlarged view of an alignment mark portion showing adjustment of a face plate and a back plate.
FIG. 4 is an enlarged view of an alignment mark portion showing adjustment of a face plate and a back plate.
FIG. 5 is a schematic view showing an aspect of an image forming apparatus manufacturing apparatus according to the present invention.
FIG. 6 is an enlarged view of an alignment mark portion showing adjustment of a face plate and a back plate.
FIG. 7 is an enlarged view of an alignment mark portion showing adjustment of a face plate and a back plate.
FIG. 8 is a cross-sectional view showing an aspect of an image forming apparatus manufactured according to the present invention.
FIGS. 9A and 9B are a plan view and a cross-sectional view showing the basic configuration of the electron-emitting device of the electron source used in the present invention. FIGS. 10A and 10B are cross-sectional views showing the steps for producing the electron-emitting device.
[Explanation of symbols]
1 Back plate (insulating substrate)
2 Conductive film 3 Element electrode 4 Electron emission portion 5 Electron passage hole 6 Grid 7 Transparent substrate 8 Phosphor 9 Metal back 10 Face plate 11 Frame 12 Low melting point glass 14 Electric furnace 15 Alignment detection device 16 Control device 17 Adjustment mechanism 20 Alignment mark

Claims (3)

蛍光体を有するフェースプレートと、該蛍光体を発光させるエネルギービームを発生させるための発生源あるいは電極を有するバックプレートを相対向して配置し、両者を加熱し接着、固定する平板型画像形成装置の製造方法において、フェースプレートとバックプレートとを接合する接合剤が軟化している間、該フェースプレートとバックプレートとの位置ずれを検出し、該検出結果に基づいてフェースプレートとバックプレートとの位置合わせを行うことを特徴とする画像形成装置の製造方法。A face plate having a phosphor, to face the back plate having a source or electrodes for generating an energy beam to emit fluorescent body arranged, bonded by heating both, flat type image forming for fixing In the manufacturing method of the apparatus, while the bonding agent for bonding the face plate and the back plate is softened, a positional deviation between the face plate and the back plate is detected, and the face plate and the back plate are detected based on the detection result. A method of manufacturing an image forming apparatus, characterized in that alignment of the image forming apparatus is performed . 前記エネルギービームを発生させるための発生源として、電子源を用いることを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置の製造方法。 The energy beam as a source for generating a manufacturing method of an image forming apparatus according to claim 1, characterized by using the electron source. 前記電子源が表面伝導型電子放出素子を複数個配置し結線してなる素子列を少なくとも1列以上有することを特徴とする請求項2に記載の画像形成装置の製造方法。3. The method of manufacturing an image forming apparatus according to claim 2 , wherein the electron source has at least one element row formed by arranging and connecting a plurality of surface conduction electron-emitting devices.
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