JP3629404B2 - Processing equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明が属する技術分野】
本発明は、例えばLCDガラス基板等の被処理体に対してレジスト塗布、露光および現像処理のような複数の処理を施す処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
液晶表示装置(LCD)の製造においては、基板であるLCDガラス基板に、所定の膜を成膜した後、フォトレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、回路パターンに対応してレジスト膜を露光し、これを現像処理するという、いわゆるフォトリソグラフィー技術により回路パターンを形成する。
【0003】
このフォトリソグラフィー技術では、被処理体であるLCD基板は、アドヒージョン(疎水化)処理→レジスト塗布→プリベーク→露光→現像→ポストベークという一連の処理を経てレジスト層に所定の回路パターンを形成する。
【0004】
従来、このような処理は、各処理を行う処理ユニットを搬送路の両側にプロセスフローを意識した形態で配置し、搬送路を走行可能な搬送装置により各処理ユニットへの被処理体の搬入出を行うプロセスブロックを一または複数配置してなる処理システムにより行われている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、近時、LCD基板は大型化の要求が強く、一辺が1mにも及ぶような巨大なものまで出現するに至り、上述のような平面的な配置を有する処理システムではフットプリントが極めて大きなものとなってしまい、省スペースの観点からフットプリントの縮小が強く求められている。
【0006】
フットプリントを小さくするためには、処理ユニットを上下方向に重ねることが考えられるが、現行の処理システムにおいては、スループット向上の観点から搬送装置は大型の基板を水平方向に高速かつ高精度に移動させており、高さ方向にも高速かつ高精度に移動させることには自ずから限界がある。また、基板の大型化にともない処理ユニットも大型化しており、レジスト塗布処理ユニットや現像処理ユニット等のスピナー系のユニットは重ねて設けることは極めて困難である。
【0007】
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、スループットを低下させることなく、かつ装置構成上の問題を伴うことなくフットプリントを小さくすることができる、複数の処理ユニットを備えた処理装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決する手段】
上記課題を解決するために、本発明は、被処理体に液体の塗布処理および熱的処理を含む複数の工程からなる処理を施す処理装置であって、水平に延びる水平搬送路の両側に被処理体に塗布処理を施す複数の塗布系処理ユニットが配置され、前記水平搬送路を移動する第1の搬送装置により前記水平搬送路の両側に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第1の処理部と、垂直に延びる垂直搬送路の周囲に被処理体に熱的処理を施す複数の熱的処理ユニットを上下方向に積層して構成された処理ブロックが配置され、前記垂直搬送路を移動する第2の搬送装置により前記垂直搬送路の周囲に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第2の処理部とを具備し、前記第1の処理部と前記第2の処理部とは、前記水平搬送路の一端と前記処理ブロックの1つで接触していることを特徴とする処理装置を提供する。
【0009】
また、本発明は、被処理体に対して液体の塗布処理および熱的処理を含む複数の工程からなる処理を施す処理装置であって、水平に延びる水平搬送路の両側に被処理体に塗布処理を施す複数の塗布系処理ユニットが配置され、前記水平搬送路を移動する第1の搬送装置により前記水平搬送路の両側に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる2つの第1の処理部と、垂直に延びる垂直搬送路の周囲に被処理体に熱的処理を施す複数の熱的処理ユニットを上下方向に積層して構成された処理ブロックが配置され、前記垂直搬送路を移動する第2の搬送装置により前記垂直搬送路の周囲に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第2の処理部とを具備し、前記2つの第1の処理部の間に前記第2の処理部が配置され、前記2つの第1の処理部の水平搬送路は直線状をなすように配置され、前記第1の処理部と前記第2の処理部とは、前記水平搬送路の一端と前記処理ブロックの1つで接触していることを特徴とする処理装置を提供する。
【0010】
さらに、本発明は、被処理体に対して液体の塗布処理および熱的処理を含む複数の工程からなる処理を施す処理装置であって、水平に延びる水平搬送路の両側に被処理体に塗布処理を施す複数の塗布系処理ユニットとして被処理体を洗浄する洗浄処理ユニット、被処理体にレジストを塗布するレジスト塗布ユニット、露光後のレジストの現像処理を行う現像処理ユニットが配置され、前記水平搬送路を移動する第1の搬送装置により前記水平搬送路に沿って設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる2つの第1の処理部と、垂直に延びる垂直搬送路の周囲に被処理体に熱的処理を施す複数の熱的処理ユニットが上下方向に積層して構成された処理ブロックが配置され、前記垂直搬送路を移動する第2の搬送装置により前記垂直搬送路の周囲に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第2の処理部とを具備し、前記2つの第1の処理部の間に前記第2の処理部が配置され、前記2つの第1の処理部の一方は、塗布系処理ユニットとして前記洗浄処理ユニットを前記水平搬送路の両側に配置し、他方は、前記塗布系処理ユニットとして前記水平搬送路の一方側に前記レジスト塗布ユニットを、他方側に前記現像処理ユニットを配置し、前記2つの第1の処理部の水平搬送路は直線上をなすように配置され、前記第1の処理部と前記第2の処理部とは、前記水平搬送路の一端と前記処理ブロックの1つで接触していることを特徴とする処理装置を提供する。
【0011】
本発明によれば、水平搬送路の両側に塗布処理を施す複数の塗布系処理ユニットを設け、水平搬送路を移動する第1の搬送装置により水平搬送路の両側に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第1の処理部と、垂直搬送路の周囲に被処理体に熱的処理を施す複数の熱的処理ユニットを上下方向に積層して構成された処理ブロックを配置し、垂直搬送路を移動する第2の搬送装置により垂直搬送路の周囲に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第2の処理部とを具備するので、上下に重ねることに支障がない熱的処理ユニットを第2の処理部に配置することによりフットプリントを小さくすることができ、しかも第1の搬送装置は水平搬送路に沿って水平に移動し、第2の搬送装置は垂直搬送路に沿って垂直に移動するので、搬送装置の機能分離が可能となり、スループットを高く維持することができる。また、この場合に、2つの第1の処理部の間に第2の処理部を配置することにより、第2の処理部にはどちらの第1の処理部からもアクセス可能となり、一層スループットを向上させることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は本発明の一実施形態に係るLCD基板のレジスト塗布現像処理装置を示す平面図、図2はその内部を示す側面図である。
【0013】
このレジスト塗布現像処理装置100は、複数の基板Gを収容するカセットCを載置するカセットステーション1と、基板Gにレジスト塗布および現像を含む一連の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた処理ステーション2と、露光装置80との間で基板Gの受け渡しを行うためのインターフェイスステーション3とを備えており、処理部2の両端にそれぞれカセットステーション1およびインターフェイスステーション3が配置されている。
【0014】
カセットステーション1は、カセットCと処理ステーション2との間でLCD基板Gの搬送を行うための搬送機構11を備えており、このカセットステーション1において外部に対するカセットCの搬入出が行われる。また、搬送機構11は搬送アーム11aを有し、カセットCの配列方向に沿って設けられた搬送路10上を移動可能であり、搬送アーム11aによりカセットCと処理ステーション2との間で基板Gの搬送が行われる。
【0015】
処理ステーション2は、2つの水平搬送処理部(第1の処理部)21a,21bと、2つの垂直搬送処理部(第2の処理部)22a,22bを有しており、カセットステーション1側からインターフェイスステーション3側に向けて水平搬送処理部21a、垂直搬送処理部22a、水平搬送処理部21b、垂直搬送処理部22bの順に直線状に配置されている。
【0016】
インターフェイスステーション3は、処理ステーション2との間で基板を受け渡しする際に一時的に基板を保持するエクステンション71と、さらにその両側に設けられた、バッファーカセットを配置する2つのバッファーステージ72と、これらと露光装置80との間の基板Gの搬入出を行う搬送機構74とを備えている。搬送機構74はエクステンション71およびバッファステージ72の配列方向に沿って設けられた搬送路73上を移動可能な搬送アーム74aを備え、この搬送アーム74aにより処理ステーション2と露光装置80との間で基板Gの搬送が行われる。
【0017】
次に、処理ステーション2について詳細に説明する。
水平搬送処理部21aは、中央にカセットステーション1からインターフェイスステーション3に向かう方向に延びる水平搬送路31を有し、水平搬送路31に沿って水平方向に移動可能な水平方向搬送装置32を有している。そして、水平搬送路31に沿って、その一方側にはエキシマユニット(EXCIMER)33とスクラバ洗浄ユニット(SCR)34とが配置されており、他方側には2つのスクラバ洗浄ユニット(SCR)35、36が配置されている。
【0018】
水平搬送処理部21bは、中央にカセットステーション1からインターフェイスステーション3に向かう方向に延びる搬送路51を有し、搬送路51に沿って水平方向に移動可能な水平方向搬送装置52を備えている。そして、搬送路51に沿って、その一方側にはレジスト塗布処理ユニット(CT)53a、減圧乾燥ユニット(VU)53b、周縁レジスト除去ユニット(ER)53cが一体化したレジスト処理ブロック53が配置されており、他方側には3つの現像処理ユニット(DEV)54,55,56が配置されている。レジスト処理ブロック53では、水平方向搬送装置52により基板Gがレジスト塗布処理ユニット(CT)53aに搬入され、そこでレジスト液塗布が実施され、その後レジスト処理ブロック53内のサブアーム(図示せず)により減圧乾燥ユニット(VU)53bに搬送されて減圧乾燥され、さらにサブアームにより周縁レジスト除去ユニット(ER)53cに搬送されて基板G周縁の余分なレジストが除去され、その後水平方向搬送装置52により基板Gがレジスト処理ブロック53から搬出されるようになっている。
【0019】
垂直搬送処理部22aは、垂直方向(図1紙面に対して垂直)に延びる垂直搬送路41を有し、垂直搬送路41に沿って上下方向に移動可能な垂直方向搬送装置42を有している。そして、垂直搬送路41の周囲には、それぞれ4つの熱的処理ユニットが上下に積み重ねられて構成された4つの処理ブロック43,44,45,46が配置されている。これら熱的処理ユニットは、いずれも載置台(図示せず)に基板Gを載置した状態で熱的処理を行うようになっている。
【0020】
4つの処理ブロックのうち、処理ブロック43は、下から順に水平搬送処理部21aとの間で基板Gを受け渡し、かつ基板Gを冷却するエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)、基板Gを冷却するクーリングユニット(COL)、および基板Gを加熱処理する2つのホットプレートユニット(HP)が配置されている。また処理ブロック44および45は、いずれも4つのホットプレートユニット(HP)が配置されている。さらに処理ブロック46は、下から順に水平搬送処理部21bとの間で基板Gを受け渡し、かつ基板Gを冷却するエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)、2つのクーリングユニット(COL)、および基板Gに疎水化処理を施すアドヒージョン処理ユニット(AD)が配置されている。
【0021】
垂直搬送処理部22bは、垂直方向(図1の紙面に対して垂直)に延びる垂直搬送路61を有し、垂直搬送路61に沿って上下方向に移動可能な垂直方向搬送装置62を有している。そして、垂直搬送路61の周囲の三方には、それぞれ4つの熱的処理ユニットが上下に積み重ねられて構成された3つの処理ブロック63,64,65が配置され、一方側はインターフェイスステーション3に面している。これら熱的処理ユニットも垂直搬送処理部22aの熱的処理ユニットと同様、いずれも載置台(図示せず)に基板Gを載置した状態で熱的処理を行うようになっている。
【0022】
3つの処理ブロックのうち、処理ブロック63は、下から順に水平搬送処理部21bとの間で基板Gを受け渡し、かつ基板Gを冷却するエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)、クーリングユニット(COL)、および基板Gを加熱処理する2つのホットプレートユニット(HP)が配置されている。また処理ブロック64および65は、いずれもクーリングユニット(COL)の上に3つのホットプレートユニット(HP)が配置されている。また、垂直方向搬送装置62は、インターフェイスステーション3との間で基板Gの受け渡しを行うようになっている。
【0023】
なお、各処理ユニットには、各処理ブロックの搬送装置によって基板を出し入れするための搬出入口15が設けられており、この搬出入口15は図示しないシャッターにより開閉可能となっている。
【0024】
水平方向搬送装置32および52は、同じ構造を有しており、図3に示すように、水平搬送路31,51に沿って移動可能な装置本体91と、装置本体91に対して上下動および旋回動が可能なベース部材92と、ベース部材92上を水平方向に沿ってそれぞれ独立して移動可能な上下2枚の基板支持部材93a,93bとを備えている。そして、ベース部材92の中央部と装置本体91とが連結部94により連結されている。装置本体91に内蔵された図示しないモーターによって連結部94を介してベース部材92が旋回動される。このような機構により基板Gの水平方向の移動および旋回動を高速で行うことができる。また、ベース部材92は、装置本体91内に内蔵されたモーターにより垂直方向にも移動可能となっており、搬送位置の上下方向の微調整が可能となっている。
【0025】
垂直方向搬送装置42および62は、同じ構造を有しており、図4に示すように、垂直方向に延在し、垂直壁101a,101bおよびそれらの間の側面開口部101cを有する筒状支持体101と、その内側に筒状支持体101に沿って垂直方向に昇降自在に設けられた基板受け渡し部102とを有している。筒状支持体101はモータ103の回転駆動力によって回転可能となっており、それにともなって基板受け渡し部102も一体的に回転されるようになっている。
【0026】
基板受け渡し部102は、搬送基台110と、搬送基台110に沿って前後に移動可能な2本の基板保持アーム111,112とを備えており、これらアーム111,112は、筒状支持体101の側面開口部101cを通過可能な大きさを有している。この基板受け渡し部102は、モータ104によってベルト105を駆動させることにより昇降するようになっている。なお、符号106は駆動プーリー、107は従動プーリーである。このような機構により基板Gの垂直方向の移動および旋回動を高速で行うことができる。
【0027】
このように構成されたレジスト塗布現像処理システムにおいては、カセットステーション1に配置されたカセットC内の基板Gが、搬送機構11により処理ステーション2に搬送される。基板Gは、水平方向搬送装置32により水平搬送処理部21aに搬入され、まず、エキシマユニット(EXCIMER)33によりスクラブ前処理が行われ、スクラバ洗浄ユニット(SCR)34,35,36のいずれかでスクラバ洗浄が施される。その後基板Gは、水平方向搬送装置32により、垂直搬送処理部22aにおける処理ブロック43のエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に搬送される。
【0028】
エクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に配置された基板Gは、垂直搬送処理部22aの垂直方向搬送装置42によりいずれかのホットプレートユニット(HP)に搬送されて加熱処理され、いずれかの冷却ユニット(COL)に搬送されて冷却された後、レジストの定着性を高めるために処理ブロック46のアドヒージョン処理ユニット(AD)に搬送され、そこで疎水化処理(HMDS処理)される。その後、基板Gはクーリングユニット(COL)に搬送されて冷却後、処理ブロック46のエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に搬送される。クーリングユニット(COL)を経ずに直接基板Gをエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に搬送して冷却を行うようにしてもよい。
【0029】
エクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に配置された基板Gは、水平搬送処理部21bの水平方向搬送装置52により、レジスト処理ブロック53のレジスト塗布処理ユニット(CT)53aに搬送される。このレジスト塗布処理ユニット(CT)53aでは基板Gに対するレジスト液塗布が実施され、その後レジスト処理ブロック53内のサブアーム(図示せず)により減圧乾燥ユニット(VU)53bに搬送されて減圧乾燥され、さらにサブアームにより周縁レジスト除去ユニット(ER)53cに搬送されて基板G周縁の余分なレジストが除去される。そして、周縁レジスト除去終了後、基板Gは水平方向搬送装置52によりレジスト処理ブロック53から搬出される。このように、レジスト塗布処理ユニット(CT)53aの後に減圧乾燥ユニット(VU)53bを設けるのは、レジストを塗布した基板Gをプリベーク処理した後や現像処理後のポストベーク処理した後に、リフトピン、固定ピン等の形状が基板Gに転写されることがあるが、このように減圧乾燥ユニット(VU)により加熱せずに減圧乾燥を行うことにより、レジスト中の溶剤が徐々に放出され、加熱して乾燥する場合のような急激な乾燥が生じず、レジストに悪影響を与えることなくレジストの乾燥を促進させることができ、基板上に転写が生じることを有効に防止することができるからである。
【0030】
このようにして塗布処理が終了した後、基板Gは水平方向搬送装置52により、垂直搬送処理部22bにおける処理ブロック63のエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に搬送される。
【0031】
エクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に配置された基板Gは、垂直搬送処理部22bの垂直方向搬送装置62により処理ブロック63,64,65のいずれかのホットプレートユニット(HP)に搬送されてプリベーク処理され、その後いずれかの冷却ユニット(COL)に搬送されて冷却される。
【0032】
その後、基板Gはインターフェイスステーション3のエクステンション71に配置され、搬送機構74により露光装置80に搬送されてそこで所定のパターンが露光される。
【0033】
露光終了後、基板Gは再びインターフェイスステーション3を介して処理ステーション2に搬入され、垂直搬送処理ユニット22bの垂直方向搬送装置62により処理ブロック63のエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に配置され、水平搬送処理ブロック21bの水平方向搬送装置52により現像処理ユニット54,55,56のいずれかに搬送されて現像処理され、所定の回路パターンが形成される。
【0034】
現像処理された基板Gは、水平方向搬送装置52により、垂直搬送処理部22aにおける処理ブロック46のエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に搬送され、垂直方向搬送装置42によりいずれかのホットプレートユニット(HP)に搬送されてポストベーク処理が施された後、いずれかの冷却ユニット(COL)にて冷却され、処理ブロック43のエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)に搬送される。そして、エクステンションクーリングユニット(EXTCOL)の基板Gは、水平搬送処理部21aの水平方向搬送装置32によりカセットステーション1へ向けて搬送され、搬送機構11によってカセットステーション1上の所定のカセットCに収容される。
【0035】
以上のように本実施形態によれば、水平搬送路31,51に沿ってレジスト塗布処理ユニット(CT)53a、現像処理ユニット(DEV)54,55,56、スクラバ洗浄ユニット(SCR)34,35,36等の塗布系処理ユニットを設け、水平搬送路31,51を移動する水平方向搬送装置32,52によりこれら塗布系処理ユニットに対する被処理体の搬送を行う水平搬送処理部21a,21bと、垂直搬送路41,61に沿って積層して複数の熱的処理ユニット垂直を設け、垂直搬送路41,61を移動する垂直方向搬送装置42,62により垂直搬送路に沿って設けられた複数の熱的処理ユニットに対する基板Gの搬送を行う垂直搬送処理部22a,22bとを具備するが、このように上下に重ねることに支障がない熱的処理ユニットを上下に重ねて垂直搬送処理部22a,22bを構成することによりその分フットプリントを小さくすることができる。しかも、垂直搬送処理部22a,22bは複数の熱的処理ユニットを積層して構成された処理ブロックを垂直搬送路41,61の周囲に配置しているのでフットプリントを一層小さくすることができる。また上下に重ねることに支障がある塗布系処理ユニットは水平に配置して水平搬送処理部21a,21bを構成し、垂直搬送処理部22a,22bとは異なる搬送装置で搬送するので、水平搬送処理ユニット21a,21bの水平方向搬送装置32,52は水平方向の移動が高速で行えるものを用い、垂直搬送処理ユニット22a,22bの垂直方向搬送装置42,62は垂直方向の移動が高速で行えるものを用いることができ、搬送装置の機能分離が可能となりスループットを高く維持することができる。
【0036】
また、2つの水平搬送処理部21a,21bの間に垂直搬送処理部22aが配置しているので、垂直搬送処理部22aにはどちらの水平搬送処理部21a,21bからもアクセス可能となり、スループットが極めて高いものとすることができる。さらに、2つの水平搬送処理部21a,21bの搬送路31および51は、垂直搬送処理部22aを挟んで直線状に配置されているので、各処理ユニットに対する基板Gの搬送が容易である。さらにまた、垂直搬送処理部22a,22bの水平搬送部21a,21bとの境界に位置する処理ブロック43,46,63には、水平搬送処理部と垂直搬送処理部との間で基板Gを受け渡すための受け渡しユニットとして機能するエクステンションクーリングユニット(EXTCOL)が設けられているので、水平搬送処理部と垂直搬送処理部との間の基板Gの搬送がスムーズである。
【0037】
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では、主に複数のスクラバ洗浄ユニットで一つの水平搬送処理部を構成し、主にレジスト処理ユニットと現像処理ユニットとで他の水平搬送処理部を構成したが、これに限らず、他の組み合わせであってもよい。例えば、レジス処理ユニットのみ、現像処理ユニットのみで一つの水平搬送処理部を構成してもよい。また、装置レイアウトも上記実施形態に限るものではなく、水平搬送処理部および垂直搬送処理部は、1つであっても3以上であってもよいし、これらの数がそれぞれ異なっていても同じであってもよい。また水平搬送処理部同士、垂直搬送処理部同士が連続していてもよい。さらに、処理に関しても上記のようにレジスト塗布現像装置による処理に限られるものではなく、他の一連の処理を行う装置に適用することも可能である。さらにまた、被処理体としてLCD基板を用いた場合について示したが、これに限らずカラーフィルター等の他の被処理体の処理の場合にも適用可能であることはいうまでもない。
【0038】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、水平搬送路の両側に塗布処理を施す複数の塗布系処理ユニットを設け、水平搬送路を移動する第1の搬送装置により水平搬送路の両側に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第1の処理部と、垂直搬送路の周囲に被処理体に熱的処理を施す複数の熱的処理ユニットを上下方向に積層して構成された処理ブロックを配置し、垂直搬送路を移動する第2の搬送装置により垂直搬送路の周囲に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第2の処理部とを具備するので、上下に重ねることに支障がない熱的処理ユニットを第2の処理部に配置することによりフットプリントを小さくすることができ、しかも第1の搬送装置は水平搬送路に沿って水平に移動し、第2の搬送装置は垂直搬送路に沿って垂直に移動するので、搬送装置の機能分離が可能となり、スループットを高く維持することができる。また、この場合に、2つの第1の処理部の間に第2の処理部を配置することにより、第2の処理部にはどちらの第1の処理部からもアクセス可能となり、一層スループットを向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係るLCD基板のレジスト塗布現像処理装置を示す平面図。
【図2】本発明の一実施形態に係るLCD基板のレジスト塗布現像処理装置の内部を示す側面図。
【図3】水平方向搬送装置の概略構成を示す側面図。
【図4】水平方向搬送装置の概略構成を示す断面図。
【符号の説明】
1……カセットステーション
2……処理ステーション
3……インターフェイスステーション
21a,21b……水平搬送処理部(第1の処理部)
22a,22b……垂直搬送処理部(第2の処理部)
31,51……水平搬送路
32,52……水平方向搬送装置(第1の搬送装置)
41,61……垂直搬送路
42,62……垂直方向搬送装置(第2の搬送装置)
34,35,36……スクラバ洗浄ユニット(SCR)
43,44,45,46,63,64,65……処理ブロック
53……レジスト処理ブロック
53a……レジスト塗布処理ユニット
54,55,56……現像処理ユニット
100……レジスト塗布現像処理装置
G……LCD基板[0001]
[Technical field to which the invention belongs]
The present invention relates to a processing apparatus that performs a plurality of processes such as resist coating, exposure, and development on an object to be processed such as an LCD glass substrate.
[0002]
[Prior art]
In the manufacture of a liquid crystal display (LCD), a predetermined film is formed on an LCD glass substrate, which is a substrate, and a resist film is then formed by applying a photoresist solution, and a resist film is formed corresponding to a circuit pattern. A circuit pattern is formed by a so-called photolithography technique of exposing and developing this.
[0003]
In this photolithography technique, a predetermined circuit pattern is formed on a resist layer through a series of processes of an adhesion (hydrophobization) process → resist coating → pre-baking → exposure → development → post-baking on an LCD substrate which is an object to be processed.
[0004]
Conventionally, in such processing, processing units for performing each processing are arranged on both sides of the transport path in a form that is conscious of the process flow, and the processing object is carried into and out of each processing unit by a transport device that can travel on the transport path. Is performed by a processing system in which one or a plurality of process blocks are arranged.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, recently, there is a strong demand for large-sized LCD substrates, and even a huge one having a side as long as 1 m has appeared. In a processing system having a planar arrangement as described above, the footprint is extremely large. There is a strong demand for a reduction in footprint from the viewpoint of space saving.
[0006]
In order to reduce the footprint, it is conceivable to stack the processing units in the vertical direction. However, in the current processing system, the transfer device moves a large substrate in the horizontal direction at high speed and high precision from the viewpoint of improving throughput. Therefore, there is a limit to the movement in the height direction with high speed and high accuracy. In addition, the processing unit is also enlarged with the increase in size of the substrate, and it is extremely difficult to provide spinner units such as a resist coating processing unit and a development processing unit in an overlapping manner.
[0007]
The present invention has been made in view of such circumstances, and a processing apparatus having a plurality of processing units that can reduce the footprint without reducing the throughput and without causing problems in the apparatus configuration. The purpose is to provide.
[0008]
[Means for solving the problems]
To solve the above problem,The present invention is a processing apparatus for performing a process consisting of a plurality of processes including a liquid application process and a thermal process on an object to be processed, and a horizontal conveyance path extending horizontallyOn both sidesA plurality of coating system processing units for performing a coating process on an object to be processed are arranged, and the horizontal transport path is moved by a first transport device that moves in the horizontal transport path.On both sidesA first processing unit that transports the object to be processed to each processing unit provided, and a vertical transport path that extends verticallyAroundA plurality of thermal processing units for performing thermal processing on an object to be processedProcessing block constructed by stacking up and downIs arranged, and the vertical transport path is moved by a second transport device that moves in the vertical transport pathAroundA second processing unit that transports the object to be processed to each processing unit provided.The first processing unit and the second processing unit are in contact with one end of the horizontal conveyance path at one of the processing blocks.A processing apparatus is provided.
[0009]
AlsoThe present invention is a processing apparatus for performing a process comprising a plurality of steps including a liquid application process and a thermal process on an object to be processed, and a horizontal conveyance path extending horizontallyOn both sidesA plurality of coating system processing units for performing a coating process on an object to be processed are arranged, and the horizontal transport path is moved by a first transport device that moves in the horizontal transport path.On both sidesTwo first processing units for transporting the object to be processed to each processing unit provided, and a vertical transport path extending verticallyAroundA plurality of thermal processing units for performing thermal processing on an object to be processedProcessing block constructed by stacking up and downIs arranged, and the vertical transport path is moved by a second transport device that moves in the vertical transport pathAroundA second processing unit that transports the object to be processed to each processing unit provided, and the second processing unit is disposed between the two first processing units.The horizontal conveying paths of the two first processing units are arranged in a straight line, and the first processing unit and the second processing unit include one end of the horizontal conveying path and the processing block. Touching by oneA processing apparatus is provided.
[0010]
Furthermore, the present invention is a processing apparatus for performing processing consisting of a plurality of processes including liquid application processing and thermal processing on an object to be processed, which is applied to the object to be processed on both sides of a horizontally extending horizontal conveyance path. A cleaning processing unit that cleans the target object as a plurality of coating system processing units that perform processing, a resist coating unit that applies a resist to the target object, and a development processing unit that develops the resist after exposure are disposed, Two first processing units in which the object to be processed is transferred to each processing unit provided along the horizontal transfer path by the first transfer apparatus that moves along the transfer path, and the periphery of the vertical transfer path that extends vertically A processing block in which a plurality of thermal processing units that perform thermal processing on the object to be processed are stacked in the vertical direction is disposed, and the second transport device that moves on the vertical transport path causes the A second processing unit that conveys the object to be processed to each processing unit provided around the direct conveyance path, and the second processing unit is disposed between the two first processing units. One of the two first processing units is arranged on both sides of the horizontal transport path as the coating system processing unit, and the other is one side of the horizontal transport path as the coating system processing unit. The resist coating unit is disposed on the other side, and the development processing unit is disposed on the other side. The horizontal transport paths of the two first processing units are arranged on a straight line, and the first processing unit and the second processing unit The processing unit provides a processing apparatus in which one end of the horizontal conveyance path is in contact with one of the processing blocks.
[0011]
According to the present invention, the horizontal conveyance pathApply coating on both sidespluralCoating systemA horizontal transport path is provided by a first transport device provided with a processing unit and moving in the horizontal transport pathOn both sidesA first processing unit that transports an object to be processed to each processing unit provided, and a vertical transport path;Apply thermal treatment to the object to be treatedpluralThermalProcessing unitArrange processing blocks that are stacked in the vertical direction,Vertical transport path by the second transport device moving on the vertical transport pathAroundSince it has the 2nd processing part in which the processed object is conveyed to each processing unit provided, there is no problem in stacking up and down.ThermalThe footprint can be reduced by arranging the processing unit in the second processing unit, and the first transport device moves horizontally along the horizontal transport path, and the second transport device moves to the vertical transport path. Move vertically alongSoCapable of separating the functions of the transport deviceAndThroughput can be kept high. Further, in this case, by arranging the second processing unit between the two first processing units, the second processing unit can be accessed from either of the first processing units, and the throughput is further increased. Can be improved.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a plan view showing a resist coating and developing apparatus for an LCD substrate according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a side view showing the inside thereof.
[0013]
The resist coating and developing
[0014]
The
[0015]
The processing station 2 has two horizontal transfer processing units (first processing units) 21a and 21b and two vertical transfer processing units (second processing units) 22a and 22b. The horizontal
[0016]
The interface station 3 includes an
[0017]
Next, the processing station 2 will be described in detail.
The horizontal
[0018]
The horizontal
[0019]
The vertical
[0020]
Among the four processing blocks, the
[0021]
The vertical
[0022]
Among the three processing blocks, the
[0023]
Each processing unit is provided with a loading / unloading
[0024]
The
[0025]
The vertical conveying
[0026]
The
[0027]
In the resist coating and developing processing system configured as described above, the substrate G in the cassette C disposed in the
[0028]
The substrate G placed in the extension cooling unit (EXTCOL) is transported to one of the hot plate units (HP) by the
[0029]
The substrate G placed in the extension cooling unit (EXTCOL) is transported to the resist coating processing unit (CT) 53a of the resist
[0030]
After the coating process is completed in this way, the substrate G is transferred by the
[0031]
The substrate G placed in the extension cooling unit (EXTCOL) is transferred to the hot plate unit (HP) of the processing blocks 63, 64, 65 by the
[0032]
Thereafter, the substrate G is placed on the
[0033]
After the exposure is completed, the substrate G is again carried into the processing station 2 through the interface station 3, and is placed in the extension cooling unit (EXTCOL) of the
[0034]
The developed substrate G is transported to the extension cooling unit (EXTCOL) of the
[0035]
As described above, according to the present embodiment, the resist coating processing unit (CT) 53a, the development processing units (DEV) 54, 55, and 56, and the scrubber cleaning units (SCR) 34 and 35 are provided along the
[0036]
Further, since the vertical
[0037]
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, A various deformation | transformation is possible. For example, in the above-described embodiment, one horizontal conveyance processing unit is mainly configured by a plurality of scrubber cleaning units, and the other horizontal conveyance processing unit is mainly configured by a resist processing unit and a development processing unit. Alternatively, other combinations may be used. For example, one horizontal conveyance processing unit may be configured by only the resist processing unit or only the development processing unit. Further, the apparatus layout is not limited to the above embodiment, and the number of horizontal conveyance processing units and the vertical conveyance processing units may be one or three or more, and the same is true even if these numbers are different. It may be. Further, the horizontal conveyance processing units and the vertical conveyance processing units may be continuous. Further, the processing is not limited to the processing by the resist coating and developing apparatus as described above, and can be applied to an apparatus for performing another series of processing. Furthermore, although the case where the LCD substrate is used as the object to be processed has been described, it is needless to say that the present invention is not limited to this and can be applied to the case of processing other objects to be processed such as a color filter.
[0038]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the horizontal conveyance pathApply coating on both sidespluralCoating systemA horizontal transport path is provided by a first transport device provided with a processing unit and moving in the horizontal transport pathOn both sidesA first processing unit that transports an object to be processed to each processing unit provided, and a vertical transport path;Apply thermal treatment to the object to be treatedpluralThermalProcessing unitArrange processing blocks that are stacked in the vertical direction,Vertical transport path by the second transport device moving on the vertical transport pathAroundSince it has the 2nd processing part in which the processed object is conveyed to each processing unit provided, there is no problem in stacking up and down.ThermalThe footprint can be reduced by arranging the processing unit in the second processing unit, and the first transport device moves horizontally along the horizontal transport path, and the second transport device moves to the vertical transport path. Move vertically alongSoCapable of separating the functions of the transport deviceAndThroughput can be kept high. Further, in this case, by arranging the second processing unit between the two first processing units, the second processing unit can be accessed from either of the first processing units, and the throughput is further increased. Can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing a resist coating and developing apparatus for an LCD substrate according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a side view showing the inside of an LCD substrate resist coating and developing treatment apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a side view showing a schematic configuration of a horizontal conveyance device.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a horizontal conveyance device.
[Explanation of symbols]
1 ... Cassette station
2 ... Processing station
3 …… Interface station
21a, 21b ... Horizontal conveyance processing section (first processing section)
22a, 22b... Vertical conveyance processing unit (second processing unit)
31, 51 ... Horizontal conveyance path
32, 52 ... Horizontal direction transport device (first transport device)
41, 61 …… Vertical transport path
42, 62 ... Vertical transfer device (second transfer device)
34, 35, 36 ... Scrubber cleaning unit (SCR)
43, 44, 45, 46, 63, 64, 65 ... processing block
53 …… Regist processing block
53a: Resist coating unit
54, 55, 56 ... Development processing unit
100: Resist coating and developing apparatus
G …… LCD substrate
Claims (7)
水平に延びる水平搬送路の両側に被処理体に塗布処理を施す複数の塗布系処理ユニットが配置され、前記水平搬送路を移動する第1の搬送装置により前記水平搬送路の両側に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第1の処理部と、
垂直に延びる垂直搬送路の周囲に被処理体に熱的処理を施す複数の熱的処理ユニットを上下方向に積層して構成された処理ブロックが配置され、前記垂直搬送路を移動する第2の搬送装置により前記垂直搬送路の周囲に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第2の処理部と
を具備し、
前記第1の処理部と前記第2の処理部とは、前記水平搬送路の一端と前記処理ブロックの1つで接触していることを特徴とする処理装置。A processing apparatus for performing a process consisting of a plurality of steps including a liquid application process and a thermal process on an object to be processed,
A plurality of coating system processing units for applying a coating process to the object to be processed are arranged on both sides of a horizontal conveyance path extending horizontally, and provided on both sides of the horizontal conveyance path by a first conveyance device that moves on the horizontal conveyance path. A first processing unit in which the object to be processed is conveyed to each processing unit;
A processing block configured by vertically stacking a plurality of thermal processing units for performing thermal processing on an object to be processed is disposed around a vertically extending vertical transport path , and moves along the vertical transport path. A second processing unit that transports the object to be processed to each processing unit provided around the vertical transport path by a transport device ;
The processing apparatus, wherein the first processing unit and the second processing unit are in contact with one end of the horizontal conveyance path at one of the processing blocks .
水平に延びる水平搬送路の両側に被処理体に塗布処理を施す複数の塗布系処理ユニットが配置され、前記水平搬送路を移動する第1の搬送装置により前記水平搬送路の両側に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる2つの第1の処理部と、
垂直に延びる垂直搬送路の周囲に被処理体に熱的処理を施す複数の熱的処理ユニットを上下方向に積層して構成された処理ブロックが配置され、前記垂直搬送路を移動する第2の搬送装置により前記垂直搬送路の周囲に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第2の処理部と
を具備し、
前記2つの第1の処理部の間に前記第2の処理部が配置され、
前記2つの第1の処理部の水平搬送路は直線状をなすように配置され、
前記第1の処理部と前記第2の処理部とは、前記水平搬送路の一端と前記処理ブロックの1つで接触していることを特徴とする処理装置。A processing apparatus for performing processing consisting of a plurality of steps including liquid application processing and thermal processing on an object to be processed,
A plurality of coating system processing units for applying a coating process to the object to be processed are arranged on both sides of a horizontal conveyance path extending horizontally, and provided on both sides of the horizontal conveyance path by a first conveyance device that moves on the horizontal conveyance path. Two first processing units in which the object to be processed is conveyed to each processing unit;
A processing block configured by vertically stacking a plurality of thermal processing units for performing thermal processing on an object to be processed is disposed around a vertically extending vertical transport path , and moves along the vertical transport path. A second processing unit that transports the object to be processed to each processing unit provided around the vertical transport path by a transport device;
The second processing unit is disposed between the two first processing units ,
The horizontal conveyance paths of the two first processing units are arranged to form a straight line,
The processing apparatus, wherein the first processing unit and the second processing unit are in contact with one end of the horizontal conveyance path at one of the processing blocks .
水平に延びる水平搬送路の両側に被処理体に塗布処理を施す複数の塗布系処理ユニットとして被処理体を洗浄する洗浄処理ユニット、被処理体にレジストを塗布するレジスト塗布ユニット、露光後のレジストの現像処理を行う現像処理ユニットが配置され、前記水平搬送路を移動する第1の搬送装置により前記水平搬送路に沿って設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる2つの第1の処理部と、 A cleaning unit for cleaning the object to be processed as a plurality of coating system processing units for applying the object to the object to be processed on both sides of a horizontal conveyance path extending horizontally, a resist coating unit for applying a resist to the object to be processed, and a resist after exposure A development processing unit for performing the development processing is disposed, and two first objects are conveyed to each processing unit provided along the horizontal conveyance path by a first conveyance device that moves along the horizontal conveyance path. 1 processing unit;
垂直に延びる垂直搬送路の周囲に被処理体に熱的処理を施す複数の熱的処理ユニットが上下方向に積層して構成された処理ブロックが配置され、前記垂直搬送路を移動する第2の搬送装置により前記垂直搬送路の周囲に設けられた各処理ユニットに対する被処理体の搬送が行われる第2の処理部と A processing block configured by vertically stacking a plurality of thermal processing units for performing thermal processing on the object to be processed is disposed around a vertically extending vertical transport path, and moves along the vertical transport path. A second processing unit for transporting the object to be processed to each processing unit provided around the vertical transport path by a transport device;
を具備し、Comprising
前記2つの第1の処理部の間に前記第2の処理部が配置され、 The second processing unit is disposed between the two first processing units,
前記2つの第1の処理部の一方は、塗布系処理ユニットとして前記洗浄処理ユニットを前記水平搬送路の両側に配置し、他方は、前記塗布系処理ユニットとして前記水平搬送路 One of the two first processing units arranges the cleaning unit as a coating system processing unit on both sides of the horizontal transport path, and the other serves as the coating system processing unit as the horizontal transport path. の一方側に前記レジスト塗布ユニットを、他方側に前記現像処理ユニットを配置し、The resist coating unit is disposed on one side, and the development processing unit is disposed on the other side,
前記2つの第1の処理部の水平搬送路は直線上をなすように配置され、 The horizontal transport paths of the two first processing units are arranged to form a straight line,
前記第1の処理部と前記第2の処理部とは、前記水平搬送路の一端と前記処理ブロックの1つで接触していることを特徴とする処理装置。 The processing apparatus, wherein the first processing unit and the second processing unit are in contact with one end of the horizontal conveyance path at one of the processing blocks.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000141700A JP3629404B2 (en) | 2000-05-15 | 2000-05-15 | Processing equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000141700A JP3629404B2 (en) | 2000-05-15 | 2000-05-15 | Processing equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001326157A JP2001326157A (en) | 2001-11-22 |
JP3629404B2 true JP3629404B2 (en) | 2005-03-16 |
Family
ID=18648781
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
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-
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Publication number | Publication date |
---|---|
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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