JP3615533B2 - トラッキングサーボオフセットの調整方法、および光ディスク装置 - Google Patents
トラッキングサーボオフセットの調整方法、および光ディスク装置 Download PDFInfo
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は光ディスク装置に関し、さらに詳しくは、光ディスク装置におけるレーザパワーの調整方法およびトラッキングサーボオフセットの調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】
光ディスク装置では、レーザ光をトラックに追従させるトラッキングサーボ制御を行ない、レーザ光をディスクの半径方向に振幅させている。しかし、この振幅のセンターはトラックのセンターからわずかにずれている。このずれ幅を「トラッキングサーボオフセット」という。
【０００３】
このトラッキングサーボオフセットを可能な限り小さくするために、従来は光ディスク装置の製品出荷時にこのオフセットも上記記録パワーと同様に経験値に基づいて適宜調整していた。
【０００４】
しかしながら、トラッキングサーボオフセットもディスクごとに異なっているため、上記記録パワーと同様に製品出荷時に調整しただけでは、ディスクによっては正確な記録および再生を行なうことができない場合がある。
【０００５】
したがってこの発明の目的は、光ディスクに応じてトラッキングサーボオフセットを最小化することが可能な光ディスク装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この発明による１つのトラッキングサーボオフセットの調整方法は、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録して再生し、その再生したデータの第１および第２の基準エラー数をそれぞれ計測するステップと、互いに異なる複数のレーザパワーの各々で所定のトラックにデータを記録した後、第１および第２のトラックからデータをそれぞれ再生し、その再生したデータの第１および第２のエラー数をそれぞれ計測するステップと、第１および第２のエラー数を第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較し、第１の基準エラー数に対する第１のエラー数の変化量が第２の基準エラー数に対する第２のエラー数の変化量よりも大きい場合はトラッキングセンターを第２のトラック側にずらし、第２の基準エラー数に対する第２のエラー数の変化量が第１の基準エラー数に対する第１のエラー数の変化量よりも大きい場合はトラッキングセンターを第１のトラック側にずらすステップとを含む。
【０００７】
この発明によるもう１つのトラッキングサーボオフセットの調整方法は、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックに予め定められたデータをそれぞれ記録するステップと、第１のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第１の基準エラー数を計測し、かつ、第２のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第２の基準エラー数を計測するステップと、第１および第２の基準エラー数を計測した後、所定のレーザパワーで所定のトラックにデータを記録するステップと、所定のトラックにデータを記録した後、第１のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第１のエラー数を計測し、かつ、第２のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第２のエラー数を計測するステップと、第１および第２のエラー数を第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較するステップと、比較するステップの結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数よりも多くかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数と同じ場合はトラッキングセンターを第２のトラック側にずらし、第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録するステップに戻るステップと、比較するステップの結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数と同じでかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数よりも多い場合はトラッキングセンターを第１のトラック側にずらし、第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録するステップに戻るステップと、比較するステップの結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数と同じでかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数と同じ場合は所定のレーザパワーを所定量増大させ、所定のトラックにデータを記録するステップに戻るステップとを含む。
【０００８】
上記トラッキングサーボオフセットの調整方法においては、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータが記録されかつ再生され、その再生されたデータの第１および第２の基準エラー数がそれぞれ計測される。また、所定のトラックにデータが記録された後、第１および第２のトラックからデータがそれぞれ再生され、その再生されたデータの第１および第２のエラー数がそれぞれ計測される。第１のトラックのエラー数の変化量の方が大きい場合、トラッキングセンターは第２のトラック側にずらされ、他方、第２のトラックのエラー数の変化量の方が大きい場合、トラッキングセンターは第１のトラック側にずらされる。したがって、トラッキングサーボオフセットは光ディスクごとに最小化される。
【０００９】
この発明によるさらにもう１つの光ディスク装置は、レーザ光により光ディスクにデータを記録しかつ光ディスクからデータを再生する光学ヘッドと、レーザ光が光ディスクのトラックを追従するようにレーザ光を振幅させるトラッキングサーボ制御手段と、光学ヘッドにより光ディスクから再生されたデータのエラーを訂正し、そのエラー数を出力する誤り訂正回路と、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録して再生するよう光学ヘッドを制御する第１の制御手段と、互いに異なる複数のレーザパワーの各々で所定のトラックにデータを記録した後、第１および第２のトラックからデータをそれぞれ再生するよう光学ヘッドを制御する第２の制御手段と、第２の制御手段により再生されたデータに応じて誤り訂正回路から出力される第１および第２のエラー数を第１の制御手段により再生されたデータに応じて誤り訂正回路から出力される第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較し、第１の基準エラー数に対する第１のエラー数の変化量が第２の基準エラー数に対する第２のエラー数の変化量よりも大きい場合はレーザ光の振幅のトラッキングセンターを第２のトラック側にずらし、第２の基準エラー数に対する第２のエラー数の変化量が第１の基準エラー数に対する第１のエラー数の変化量よりも大きい場合はトラッキングセンターを第１のトラック側にずらす手段とを含む。
【００１０】
この発明によるさらにもう１つの光ディスク装置は、レーザ光により光ディスクにデータを記録しかつ光ディスクからデータを再生する光学ヘッドと、レーザ光が光ディスクのトラックを追従するようにレーザ光を振幅させるトラッキングサーボ制御手段と、光学ヘッドにより光ディスクから再生されたデータのエラーを訂正し、そのエラー数を出力する誤り訂正回路と、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックに予め定められたデータをそれぞれ記録するよう光学ヘッドを制御する第１の制御手段と、第１のトラックからデータを再生し、かつ、第２のトラックからデータを再生するよう光学ヘッドを制御する第２の制御手段と、第１および第２のトラックからデータを再生した後、所定のレーザパワーで所定のトラックにデータを記録するよう光学ヘッドを制御する第３の制御手段と、所定のトラックにデータを記録した後、第１のトラックからデータを再生し、かつ、第２のトラックからデータを再生するよう光学ヘッドを制御する第４の制御手段と、第４の制御手段により再生されたデータに応じて誤り訂正回路から出力される第１および第２のエラー数を第２の制御手段により再生されたデータに応じて誤り訂正回路から出力される第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較する比較手段と、比較手段による比較の結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数よりも多くかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数と同じ場合はレーザ光の振幅のトラッキングセンターを第２のトラック側にずらし、第１の制御手段に処理を戻す手段と、比較手段による比較の結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数と同じでかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数よりも多い場合はトラッキングセンターを第１のトラック側にずらし、第１の制御手段に処理を戻す手段と、比較手段による比較の結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数と同じでかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数と同じ場合は所定のレーザパワーを所定量増大させ、第３の制御手段に処理を戻す手段とを備える。
【００１１】
上記光ディスク装置においては、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータが記録されかつ再生され、その再生されたデータの第１および第２の基準エラー数がそれぞれ計測される。また、所定のトラックにデータが記録された後、第１および第２のトラックからデータがそれぞれ再生され、その再生されたデータの第１および第２のエラー数がそれぞれ計測される。第１のトラックのエラー数の変化量が大きい場合、トラッキングセンターは第２のトラック側にずらされ、他方、第２のトラックのエラー数の変化量が大きい場合はトラッキングセンターは第１のトラック側にずらされる。したがって、トラッキングサーボオフセットは光ディスクごとに最小化される。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。
【００１３】
図１を参照して、この発明の実施の形態による光ディスク装置は、光磁気ディスク１０にレーザ光を照射する光学ヘッド１２と、光磁気ディスク１０に磁界を印加する磁気ヘッド１４とを備える。記録時において、光学ヘッド１２はレーザ光をパルス照射または連続照射し、その一方で磁気ヘッド１４は入力データに応じて磁界を印加する。これにより、光学ヘッド１２および磁気ヘッド１４は光磁気ディスク１０にデータを記録する。また、再生時において、光学ヘッド１２はレーザ光をパルス照射または連続照射する。これにより、光学ヘッド１２は光磁気ディスク１０からデータを再生して光磁気信号ＲＦを出力する。
【００１４】
この光ディスク装置はさらに、光学ヘッド１２に含まれる半導体レーザを駆動するレーザ駆動回路１６と、磁気ヘッド１４を駆動する磁気ヘッド駆動回路１８と、光学ヘッド１２から出力されるアナログ光磁気信号ＲＦをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器２０と、Ａ／Ｄ変換器２０から出力されるデジタル光磁気信号ＲＦの誤りを訂正して再生データを出力するＥＣＣデコーダ（誤り訂正回路ともいう）２２と、入力データに誤り訂正符号を付加して磁気ヘッド駆動回路１８に与えるＥＣＣエンコーダ２４と、光学ヘッド１２により光磁気ディスク１０から読出したアドレスを検出するアドレス検出回路２６と、この光ディスク装置全体を制御するＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）やメモリなどからなるシステムマイクロコンピュータ２８とを備える。
【００１５】
システムマイクロコンピュータ２８は、光学ヘッド１２から出力されるフォーカスエラー信号（図示せず）に応じてレーザ光の合焦点が光磁気ディスク１０の信号記録面を追従するように光学ヘッド１２に含まれる対物レンズをその光軸方向に振幅させるフォーカスサーボ制御を行なうとともに、光学ヘッド１２から出力されるトラッキングエラー信号（図示せず）に応じてレーザ光が光磁気ディスク１０のトラックを追従するように対物レンズを光磁気ディスク１０の半径方向に振幅させるトラッキングサーボ制御を行なう。
【００１６】
ＥＣＣデコーダ２２は、誤りを訂正したデータの数（エラー数）ＮＥをシステムマイクロコンピュータ２８に与える。Ａ／Ｄ変換器２０から出力される光磁気信号ＲＦはシステムマイクロコンピュータ２８にも与えられる。光磁気ディスク１０の近傍には温度センサ３０が設けられ、このセンサ３０により検出された光磁気ディスク１０近傍の温度はシステムマイクロコンピュータ２８に与えられる。システムマイクロコンピュータ２８は、たとえばこの温度センサ３０により光ディスク１０付近の温度変化を検出したとき、ＥＣＣデコーダ２２から与えられるエラー数ＮＥに基づいて後に詳述するようにトラッキングサーボオフセットおよびレーザパワーのキャリブレーションを行なう。
【００１７】
また、この光ディスク装置には、外部から与えられる入力データとシステムマイクロコンピュータ２８から出力される所定のデータとを切換えるスイッチ３２と、ＥＣＣエンコーダ２４の出力とシステムマイクロコンピュータ２８の出力とを切換えるスイッチ３４とが設けられている。データ記録時には、スイッチ３２は入力データ側に切換えられかつスイッチ３４はＥＣＣエンコーダ２４側に切換えられる。これにより、入力データはＥＣＣエンコーダ２４を介して磁気ヘッド駆動回路１８に与えられる。また、キャリブレーション時には、スイッチ３２はシステムマイクロコンピュータ２８側に切換えられかつスイッチ３４はＥＣＣエンコーダ２４側に切換えられる。これにより、システムマイクロコンピュータ２８からの所定のデータはＥＣＣエンコーダ２４を介して磁気ヘッド駆動回路１８に与えられる。
【００１８】
あるいは、エラー訂正符号を付加しないテストデータを記録する場合には、スイッチ３４はシステムマイクロコンピュータ２８側に切り換えられる。これにより、ＥＣＣエンコーダ２４、ＥＣＣデコーダ２２を動作させないでキャリブレーションを行なうことができる。
【００１９】
図２（ａ）を参照して、この光磁気ディスク１０は、同心円状の複数のゾーンＺ（１）〜（ｎ）（ｎは２以上の整数）を有する。光磁気ディスク１０上にはトラックがスパイラル状または同心円状に形成されており、図２（ｂ）に示されるように各ゾーンには複数のトラック３６が含まれている。トラック３６は、図２（ｃ）に示されるように交互に形成されたランド３６Ｌおよびグループ３６Ｇからなる。データを記録するためのデータ領域３８の先頭にはアドレス領域４０が設けられている。このアドレス領域４０ではグルーブ３６Ｇの側壁４２がアドレスに応じてウォブリングされている。
【００２０】
各ゾーンに含まれる複数のトラック３６のうち連続する数トラック（たとえば５トラック）がライトテストゾーン４４を構成している。ライトテストゾーン４４は、後述するようにレーザパワーを最適化するために所定のデータを試し書きするために設けられている。ライトテストゾーン４４は各ゾーンごとに設けられているから、この光磁気ディスク１０全体には複数（ｎ個）のライトテストゾーン４４が所定間隔ごと（たとえば半径１０ミリごと）に設けられている。このライトテストゾーン４４には、トラッキングサーボオフセットやレーザパワーのキャリブレーションに必要なデータが記録され、通常の入力データは記録されない。
【００２１】
次に、この光ディスク装置の動作について説明する。この光ディスク装置におけるシステムマイクロコンピュータ２８は図３に示されるプログラムに従って動作する。
【００２２】
まずステップＳ１で、レーザパワーの調整が必要か否かを判断する。レーザパワーを最適値に設定したりあるいはレーザパワーが最適値に設定されているか否かをチェックする必要がある場合として、以下の場合がある。
【００２３】
（１）光磁気ディスク１０を交換したとき
現在装着されている光磁気ディスクを別の光磁気ディスクと取換えた場合、その新たな光磁気ディスクに最適なレーザパワーは前の光磁気ディスクに最適なレーザパワーと異なっている可能性がある。そのため、光磁気ディスク１０を交換するたびに後述するレーザパワーの調整を行なう。光磁気ディスク１０の交換を自動的に検出するためには、たとえば光磁気ディスク１０からの反射光量の変化を光学ヘッド１２を用いてシステムマイクロコンピュータ２８により検出すればよい。
【００２４】
（２）光磁気ディスク１０の半径上における光学ヘッド１２の位置が変化したとき
所望のトラックにアクセスするために、光学ヘッド１２をスレッド送り機構（図示せず）により光磁気ディスク１０の半径方向に高速で移動させる場合があるが、光磁気ディスク１０の反りなどが原因で光磁気ディスク１０のチルト角はその半径上の位置で異なっている。チルト角が異なっていると、たとえレーザパワーが一定であってもレーザスポットのサイズが変化し、レーザパワーの実行値が変化してしまうことになる。そのため、この場合は、光学ヘッド１２の位置に応じて最適なレーザパワーとなるように調整を行なう。光学ヘッド１２の位置はシステムマイクロコンピュータ２８自身が制御しているので、システムマイクロコンピュータ２８が光学ヘッド１２を移動させたときレーザパワーの調整を行なえばよい。
【００２５】
（３）光磁気ディスク１０の線速度が変化したとき
レーザ光の照射位置があるゾーンから別のゾーンに移動すると、線速度が変化する。線速度が変化すると、レーザパワーが一定であっても単位時間当りの照射面積が変化するため、レーザパワーの実行値が変化する。そのため、光磁気ディスク１０の線速度が変化した場合はレーザパワーの調整を行なう必要がある。光磁気ディスク１０の線速度はスピンドルサーボによりシステムマイクロコンピュータ２８自身が制御しているため、システムマイクロコンピュータ２８が光磁気ディスク１０の線速度を変化させたときレーザパワーの調整を行なえばよい。
【００２６】
（４）光磁気ディスク１０または光学ヘッド１２付近の温度が変化したとき
光磁気ディスク１０内に形成されている記録膜の感度や光学ヘッド１２内に含まれている半導体レーザの出力は一般に温度依存性を有している。そのため、その付近の温度が変化した場合はレーザパワーを再調整する必要がある。光磁気ディスク１０付近の温度は温度センサ３０により計測される。光学ヘッド１２付近の温度を計測するためには、温度センサを光学ヘッド１２の内部またはその外壁に設ければよい。システムマイクロコンピュータ２８は光磁気ディスク１０または光学ヘッド１２付近の温度変化を検出したとき後述するレーザパワーの調整を行なう。
【００２７】
（５）光磁気ディスク１０から再生されたデータのエラー数ＮＥが予め定められた許容 数を超えたとき
後述するようにレーザパワーはＥＣＣデコーダ２２により訂正されるデータの数ＮＥが最小になるように設定されるが、上記（１）〜（４）以外の要因でレーザパワーの最適値が変化し、エラー数ＮＥが増加する場合がある。エラー数ＮＥがシステムの許容値を超えた場合はレーザパワーを再調整する必要がある。そのため、システムマイクロコンピュータ２８はＥＣＣデコーダ２２により訂正されたエラー数ＮＥを監視し、このエラー数ＮＥが所定の許容数を超えたとき後述するレーザパワーの調整を行なう。
【００２８】
システムマイクロコンピュータ２８はこれらの状況変化を監視し、上記（１）〜（５）の条件のうち１つでも成立した場合は下記ステップＳ２およびＳ３を実行する。また、これに代えて、上記（１）〜（５）の条件のうち２つ以上が同時に成立した場合に下記ステップＳ２およびＳ３を実行するようにしてもよい。
【００２９】
ステップＳ１でレーザパワーの調整が必要と判断すると、まずステップＳ２でトラッキングサーボオフセットの調整を行ない、続いてステップＳ３でレーザパワーの調整を行なう。
【００３０】
トラッキングサーボオフセットおよびレーザパワーの調整のために、図４に示されるように、５本のトラックＬ１，Ｇ１，Ｌ２，Ｇ２，Ｌ３からなるライトテストゾーン４４を用いる。より具体的には、３本のランドトラックＬ１〜Ｌ３と２本のグルーブトラックＧ１，Ｇ２が走っている。
【００３１】
システムマイクロコンピュータ２８は、図５に示されるプログラムに従ってトラッキングサーボオフセットの調整を行なう。
【００３２】
まずステップＳ２０で、グルーブトラックＧ１およびＧ２に予め定められた既知のデータＤ１を最高レーザパワーＰｍａｘで記録し、引続きその記録したデータＤ１を再生する。この再生データはＥＣＣデコーダ２２により誤り訂正が行なわれる。システムマイクロコンピュータ２８はこのときのエラー数ＥＧ１Ｈ０を計測し、メモリ（図示せず）に格納する。
【００３３】
続いてステップＳ２１で、ランドトラックＬ１およびＬ２に予め定められた既知のデータＤ２を最高レーザパワーＰｍａｘで記録し、続いてグルーブトラックＧ１に記録したデータＤ１を再び再生する。システムマイクロコンピュータ２８はこの再生データのエラー数ＥＧ１Ｈ１を計測し、メモリに格納する。
【００３４】
続いてステップＳ２２で、システムマイクロコンピュータ２８はステップＳ２１で計測したエラー数ＥＧ１Ｈ１をステップＳ２０で計測したエラー数ＥＧ１Ｈ０と比較する。ステップＳ２０では最高レーザパワーＰｍａｘでデータＤ１を記録してその直後に再生しているから、このときのエラー数ＥＧ１Ｈ０は最小となるはずである。一方、ステップＳ２１では最高レーザパワーＰｍａｘでグルーブトラックＧ１の両側に隣接するランドトラックＬ１およびＬ２にデータＤ２を記録した後、再びグルーブトラックＧ１からデータＤ１を再生しているから、このときのエラー数ＥＧ１Ｈ１はクロスイレーズにより大幅に増加しているはずである。しかしながら、エラー数ＥＧ１Ｈ１がエラー数ＥＧ１Ｈ０よりも十分に多くない場合は何らかの不具合が発生していると考えられるから、ステップＳ２３でトラッキングサーボオフセットの調整は不能と判断し、それを示すフラグを立てる。これで処理は終了する。
【００３５】
通常、エラー数ＥＧ１Ｈ１はエラー数ＥＧ１Ｈ０よりも十分に多いから、処理はステップＳ２４に移る。ステップＳ２４で、まず、ランドトラックＬ１からデータＤ２を再生し、その再生データのエラー数ＥＬ１０を計測してメモリに格納する。同様に、ランドトラックＬ２からデータＤ２を再生し、その再生データのエラー数ＥＬ２０を計測してメモリに格納する。これらエラー数ＥＬ１０，ＬＥ２０を以下「基準エラー数」という。そして、システムマイクロコンピュータ２８はレーザ駆動回路１６を制御し、これにより光学ヘッド１２に含まれる半導体レーザの記録パワーＰｎを最低Ｐｍｉｎに設定する。
【００３６】
このように基準エラー数ＥＬ１０，ＥＬ２０を計測した後、ステップＳ２５でグルーブトラックＧ１に所定のレーザパワーＰｎでデータを記録する。このレーザパワーＰｎは最初に最低レーザパワーＰｍｉｎに設定され、後述するステップＳ２９で最高レーザパワーＰｍａｘまで段階的に高くされる。ここでは、たとえばＰｍｉｎ，Ｐ１，Ｐ２，…，Ｐ１４，Ｐｍａｘの順にレーザパワーは１６段階で高くなる。平均線速度が５ｍ／ｓの場合、最低レーザパワーＰｍｉｎは８ｍＷに設定され、最高レーザパワーＰｍａｘは１１〜１２ｍＷに設定される。そして、各段階でのレーザパワーの増加量は０．１〜０．５ｍＷに設定される。
【００３７】
このようにグルーブトラックＧ１にレーザパワーＰｎでデータを記録した後、ステップＳ２６でランドトラックＬ１およびＬ２からそれぞれデータを再生する。より具体的には、ランドトラックＬ１からデータを再生し、その再生したデータのエラー数ＥＬ１ｎを計測してメモリに格納する。さらに、ランドトラックＬ２からデータを再生し、その再生したデータのエラー数ＥＬ２ｎを計測してメモリに格納する。
【００３８】
続いてステップＳ２７Ａ〜２７Ｃで、ステップＳ２６で計測したエラー数ＥＬ１ｎ，ＥＬ２ｎを基準エラー数ＥＬ１０，ＥＬ２０とそれぞれ比較する。
【００３９】
ステップＳ２７Ａでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０よりも多くかつエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０と同じと判断した場合は、ステップＳ２８ＡでトラッキングセンターをランドトラックＬ２側にずらし、ステップＳ２１に戻る。トラッキングセンターをランドトラックＬ２側にずらすためには、システムマイクロコンピュータ２８がレーザ光の照射位置がランドトラックＬ２側に寄るようにトラッキングサーボ制御に必要なパラメータを変更する。
【００４０】
他方、ステップＳ２７Ａでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０よりも多くないかまたはエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０と同じでない場合は、ステップＳ２７Ｂに移る。
【００４１】
ステップＳ２７Ｂでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０と同じでかつエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０よりも多いと判断した場合は、ステップ２８ＢでトラッキングセンターをランドトラックＬ１側にずらし、ステップＳ２１に戻る。トラッキングセンターをランドトラックＬ１側にずらすためには、システムマイクロコンピュータ２８はレーザ光の照射位置がランドトラックＬ１側に寄るようにトラッキングサーボ制御に必要なパラメータを変更する。
【００４２】
他方、エラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０と同じでないかまたはエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０よりも多くない場合は、ステップＳ２７Ｃに移る。
【００４３】
ステップＳ２７Ｃでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０よりも多くないかまたはエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０よりも多くないと判断した場合、即ち、ステップＳ２７Ｃでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０と同じであり、かつエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０と同じであると判断した場合は、ステップＳ２９でｎをインクリメントし、これによりレーザパワーＰｎを所定量だけ増大させる。レーザパワーＰｎを増大させた後は、ステップＳ２５に戻る。
【００４４】
他方、エラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０よりも多くかつエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０よりも多い場合は、以上のトラッキングサーボオフセットの調整がすべて終了する。
【００４５】
仮にトラッキングセンターがランドトラックＬ１側に偏っていたとすると、グルーブトラックＧ１への記録パワーを徐々に上げていく間にグルーブトラックＧ１からランドトラックＬ１へのクロスイレーズが増大し、ランドトラックＬ１からの再生データのエラー数ＥＬ１ｎが多くなる。したがって、ランドトラックＬ１のエラー数ＥＬ１ｎが多くなるということはトラッキングセンターがランドトラックＬ１側に偏っていることを意味し、この場合はトラッキングセンターをランドトラックＬ２側にずらす。
【００４６】
他方、仮にトラッキングセンターがランドトラックＬ２側に偏っていたとすると、グルーブトラックＧ１への記録パワーを徐々に上げていく間にグルーブトラックＧ１からランドトラックＬ２へのクロスイレーズが増大し、ランドトラックＬ２からの再生データのエラー数ＥＬ２ｎが多くなる。したがって、ランドトラックＬ２のエラー数ＥＬ２ｎが多くなるということはトラッキングセンターがランドトラックＬ２側に偏っていることを意味し、この場合はトラッキングセンターをＬ１側にずらす。
【００４７】
このようにトラッキングセンターを少しずらしてみて、再びステップＳ２１〜Ｓ２６を繰返し、ステップＳ２７Ａ〜Ｓ２７ＣでトラッキングセンターがグルーブトラックＧ１のセンターに一致したか否かをチェックする。
【００４８】
トラッキングセンターがグルーブトラックＧ１のセンターに一致した場合は、グルーブトラックＧ１への記録パワーを徐々に上げていくとランドトラックＬ１のエラー数ＥＬ１ｎとランドトラックＬ２のエラー数ＥＬ２ｎとが同時に増大し始める。したがって、この場合にトラッキングサーボオフセットの調整が終了する。
【００４９】
ここでは、グルーブトラックへの記録パワーを上げていき、その両側に隣接するランドトラックのエラー数の増大をみているが、逆に、ランドトラックへの記録パワーを上げていき、その両側に隣接するグルーブトラックのエラー数の増大をみるようにしてもよい
次に、図３に示されるステップＳ３で、システムマイクロコンピュータ２８は図６に示されるプログラムに従ってレーザパワーの調整を行なう。ここでは記録パワーの調整を行ない、再生パワーは一定とする。
【００５０】
ある１本のトラックにデータを記録して再生した場合、その再生データのエラー数、つまりビットエラーレートＢＥＲは、図７中に曲線４６で示されるように、レーザパワーＰＷが高くなるにつれて減少し、やがて一定の最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎに収束する。一方、両側に隣接する２本のトラックにデータを記録した後、その間のトラックからデータを再生した場合、その再生データのビットエラーレートＢＥＲは、図７中に曲線４８で示されるように、その両側のトラックへの記録に必要なレーザパワーＰＷが十分に低い間は最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎとなるが、そのレーザパワーＰＷが高くなるにつれて増加する。
【００５１】
ここで、曲線４６で示されるように、レーザパワーＰＷを上げていった場合にビットエラーレートＢＥＲが最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎにほぼ到達したときのレーザパワーを以下「最低限界レーザパワーＰＬ」という。また、曲線４８で示されるように、レーザパワーＰＷを上げていった場合にビットエラーレートＢＥＲが最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎから増加し始めるときのレーザパワーを以下「最高限界レーザパワーＰＨ」という。
【００５２】
後述するレーザパワーの調整に際しては、上記最低限界レーザパワーＰＬおよび最高限界レーザパワーＰＨを見出し、レーザパワーをその間に設定する。
【００５３】
図６を参照して、まずステップＳ３０で、グルーブトラックＧ１およびＧ２に所定の既知のデータＤ１を最高レーザパワーＰｍａｘで記録し、その直後にその記録したデータＤ１を再生する。このとき、ＥＣＣデコーダ２２により訂正された再生データのエラー数ＥＧ２Ｈ０を計測してメモリに格納する。
【００５４】
続いてステップ３１で、ランドトラックＬ１およびＬ２に所定の既知のデータＤ２を最高レーザパワーＰｍａｘで記録し、グルーブトラックＧ１からデータＤ１を再生する。このとき、ＥＣＣデコーダ２２により訂正された再生データのエラー数ＥＧ１Ｈ１を計測してメモリに格納する。ここで、データＤ２はデータＤ１と異なっている。
【００５５】
続いてステップＳ３２で、ステップＳ３１で計測したエラー数ＥＧ１Ｈ１をステップＳ３０で計測したエラー数ＥＧ１Ｈ０と比較する。グルーブＧ１，Ｇ２には最高レーザパワーＰｍａｘでデータＤ１を記録して再生しているから、このときのエラー数ＥＧ２Ｈ０は最小となるはずである。また、グルーブトラックＧ１の両側に隣接するランドトラックＬ１およびＬ２に最高レーザパワーＰｍａｘでデータＤ２を記録した後、再びグルーブトラックＧ１のデータを再生しているから、このときのエラー数ＥＧ１Ｈ１はクロスイレーズにより最大となるはずである。したがって、ステップＳ３２ではエラー数ＥＧ１Ｈ１の方がエラー数ＥＧ１Ｈ０よりもかなり多くなるはずであるが、そうならない場合は何らかの不具合が発生していると判断し、ステップＳ３３でレーザパワーの調整は不能とし、それを示すフラグを立てる。これで処理は終了する。
【００５６】
他方、ステップＳ３２でエラー数ＥＧ１Ｈ１の方がエラー数ＥＧ１Ｈ０よりも十分に多いと判断した場合は、ステップＳ３４でランドトラックＬ２からデータＤ２を再生し、その再生データのエラー数ＥＬ２Ｈを計測してメモリに格納する。
【００５７】
続いてステップＳ３５で、グルーブトラックＧ１およびＧ２に所定の既知のデータＤ３を最低レーザパワーＰｍｉｎで記録し、その直後にそのグルーブトラックＧ１に記録したデータＤ３を再生し、その再生データのエラー数ＥＧ１０を計測してメモリに格納する
続いてステップＳ３６で、ランドトラックＬ２からデータＤ２を再生し、その再生データのエラー数ＥＬ２０を計測してメモリに格納する。
【００５８】
続いてステップＳ３７で、エラー数ＥＬ２０をエラー数ＥＬ２Ｈと比較する。グルーブトラックＧ１およびＧ２に最低レーザパワーＰｍｉｎでデータＤ３を記録した後に、その間のランドトラックＬ２のデータを再生しているから、エラー数ＥＬ２０がエラー数ＥＬ２Ｈよりも多くなることは通常起こらない。したがって、エラー数ＥＬ２０の方がエラー数ＥＬ２Ｈよりも多い場合は、ステップＳ３３でレーザパワーの調整は不能と判断し、それを示すフラグを立てる。これで処理は終了する。
【００５９】
他方、ステップＳ３７でエラー数ＥＬ２０がエラー数ＥＬ２Ｈよりも多くない場合、ステップＳ３８でｎを初期値０に設定し、これによりレーザパワーＰｎを最低レーザパワーＰｍｉｎ（＝Ｐ０）に初期化する。
【００６０】
続いてステップＳ３９で、ｎをインクリメントし、これによりレーザパワーＰｎを所定量だけ増大させる。このステップＳ３９から後述するステップＳ４４までは繰返しループを形成しており、レーザパワーは所定量ずつ増加することになる。
【００６１】
続いてステップＳ４０で、グルーブトラックＧ１およびＧ２にデータＤ３をレーザパワーＰｎでそれぞれ記録し、その直後にそのグルーブトラックＧ１からデータＤ３を再生する。このとき、その再生データのエラー数ＥＧ１ｎを計測してメモリに格納する。
【００６２】
続いてステップＳ４１で、ステップＳ４０で今回計測したエラー数ＥＧ１ｎを前回計測したエラー数ＥＧ１ｎ−１と比較する。
【００６３】
ここでは、同一のグルーブトラックＧ１にデータＤ３を繰返し記録して再生しているので、図７中の曲線４６に示されるように、レーザパワーＰｎが最低限界レーザパワーＰＬよりも低い範囲内では今回のエラー数ＥＧ１ｎの方が前回のエラー数ＥＧ１ｎ−１よりも少なくなる。しかしながら、レーザパワーＰｎが最低限界レーザパワーＰＬよりもワンステップ高く設定された場合は、今回のエラー数ＥＧ１ｎが前回のエラー数ＥＧ１ｎ−１よりも少なくなることはない。したがって、この場合は、ステップＳ４２で前回のレーザパワーＰｎ−１を最低限界レーザパワーＰＬとしてメモリに格納する。
【００６４】
他方、ステップＳ４１で今回のエラー数ＥＧ１ｎが前回のエラー数ＥＧ１ｎ−１よりも少ない場合は、ステップＳ４３でランドトラックＬ２からデータを再生し、その再生データのエラー数ＥＬ２ｎを計測してメモリに格納する。
【００６５】
続いてステップＳ４４で、ステップＳ４３で今回計測したエラー数ＥＬ２ｎを前回計測したエラー数ＬＥ２ｎ−１と比較する。今回のエラー数ＥＬ２ｎは、グルーブトラックＧ１およびＧ２への記録パワーをワンステップ増大させた後にその間のランドトラックＬ２からデータを再生したときに得たものであるから、図７中の曲線４８に示されるようにレーザパワーＰｎが最高限界レーザパワーＰＨよりも低い範囲内では今回のエラー数ＥＬ２ｎが前回のエラー数ＥＬ２ｎ−１よりも多くなることはない。この場合、処理はステップＳ３９に戻り、レーザパワーをもうワンステップ増大させる。
【００６６】
他方、レーザパワーＰｎが最高限界レーザパワーＰＨよりもワンステップ高く設定されると、今回のエラー数ＥＬ２ｎは前回のエラー数ＥＬ２ｎ−１よりも多くなる。したがって、この場合は、ステップＳ４５で前回のレーザパワーＰｎ−１を最高限界レーザパワーＰＨとしてメモリに格納する。
【００６７】
最後にステップＳ４６で、記録に実際に用いるレーザパワーＰＷを最低限界レーザパワーＰＬと最高限界レーザパワーＰＨとの間に設定し、レーザパワー調整の終了を示すフラグを立てる。そして、上述した一連のレーザパワーの調整処理はすべて終了する。
【００６８】
上記実施の形態ではビットエラーレートＢＥＲが最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎに達したときのレーザパワーＰＷを最低限界レーザパワーＰＬに設定し、ビットエラーレートＢＥＲが最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎよりも高くなり始めたときのレーザパワーＰＷを最高限界レーザパワーＰＨと設定している。しかしながら、これに代えて、最低限界レーザパワーＰＬをもう少し低く設定し、最高限界レーザパワーＰＨをもう少し高く設定してもよい。この方が最低レーザパワーの設定マージンがより広くなる。この場合、ビットエラーレートＢＥＲが若干高くなるが、システムの許容範囲内であれば差支えない。このように、最低および最高限界レーザパワーＰＬ，ＰＨを設定するためには、ステップＳ４１の条件式「ＥＧ１ｎ＜ＥＧ１ｎ−１」を「ＥＧ１ｎ＜（ＥＧ１ｎ−１）−α」に変更し、ステップＳ４４の条件式「ＥＬ２ｎ＞ＥＬ２ｎ−１」を「ＥＬ２ｎ＞（ＥＬ２ｎ−１）＋α」に変更すればよい。ここで、αは正の予め定められた整数である。
【００６９】
以上のようにこの発明の実施の形態によれば、記録パワーの調整が必要となるたびに記録パワーを最適化しているため、常に正確なデータの記録および再生が可能になる。
【００７０】
また、記録パワーを最適化する前にトラッキングサーボオフセットを最小化しているため、記録パワーの正確な最適化が可能になるとともに、常に正確なトラッキングサーボ制御が可能になる。
【００７１】
また、この光磁気ディスク１０にはライトテストゾーン４４を所定間隔ごとに複数設けているため、半径方向の位置でチルト角が異なっていても、ゾーンＺ（１）〜（ｎ）ごとにレーザパワーの最適化が可能になる。
【００７２】
なお、上記実施の形態ではトラッキングサーボオフセットおよびレーザパワーの調整用に設けられたライトテストゾーン４４に所定のデータを試し書きすることによりトラッキングサーボオフセットやレーザパワーの調整を行なっているが、連続して空いているトラックが数本あれば、これらのトラックの全部または一部に所定のデータを試し書きすることによりトラッキングサーボオフセットやレーザパワーの調整を行なうようにしてもよい。
【００７３】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【００７４】
【発明の効果】
以上のようにこの発明によれば、所定のトラックの両側に隣接するトラックにデータを記録して再生し、その間のトラックにデータを記録する際のレーザパワーを段階的に変えていき、その両側のトラックからの再生データのエラー数に応じてトラッキングセンターをずらしているため、トラッキングセンターをトラックのセンターにすることができ、その結果、正確なトラッキングサーボ制御が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態による光ディスク装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】（ａ）は図１中の光磁気ディスクのゾーン構成を示す平面図であり、（ｂ）は（ａ）中のある１つのゾーンのトラック構成を示す平面図であり、（ｃ）は（ｂ）中の数本のトラックの具体的な構造を示す平面図である。
【図３】図１に示された光ディスク装置によるキャリブレーション動作を示すフローチャートである。
【図４】図２（ｃ）中のライトテストゾーンのトラック構造を示す斜視図である。
【図５】図３中のトラッキングサーボオフセットの調整動作を詳細に示すフローチャートである。
【図６】図３中のレーザパワーの調整動作を詳細に示すフローチャートである。
【図７】ビットエラーレートのレーザパワー依存性を示す図である。
【符号の説明】
１０ 光磁気ディスク、１２ 光学ヘッド、１４ 磁気ヘッド、２２ ＥＣＣデコーダ、２８ システムマイクロコンピュータ、３６ トラック、４４ ライトテストゾーン。
【発明の属する技術分野】
この発明は光ディスク装置に関し、さらに詳しくは、光ディスク装置におけるレーザパワーの調整方法およびトラッキングサーボオフセットの調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】
光ディスク装置では、レーザ光をトラックに追従させるトラッキングサーボ制御を行ない、レーザ光をディスクの半径方向に振幅させている。しかし、この振幅のセンターはトラックのセンターからわずかにずれている。このずれ幅を「トラッキングサーボオフセット」という。
【０００３】
このトラッキングサーボオフセットを可能な限り小さくするために、従来は光ディスク装置の製品出荷時にこのオフセットも上記記録パワーと同様に経験値に基づいて適宜調整していた。
【０００４】
しかしながら、トラッキングサーボオフセットもディスクごとに異なっているため、上記記録パワーと同様に製品出荷時に調整しただけでは、ディスクによっては正確な記録および再生を行なうことができない場合がある。
【０００５】
したがってこの発明の目的は、光ディスクに応じてトラッキングサーボオフセットを最小化することが可能な光ディスク装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この発明による１つのトラッキングサーボオフセットの調整方法は、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録して再生し、その再生したデータの第１および第２の基準エラー数をそれぞれ計測するステップと、互いに異なる複数のレーザパワーの各々で所定のトラックにデータを記録した後、第１および第２のトラックからデータをそれぞれ再生し、その再生したデータの第１および第２のエラー数をそれぞれ計測するステップと、第１および第２のエラー数を第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較し、第１の基準エラー数に対する第１のエラー数の変化量が第２の基準エラー数に対する第２のエラー数の変化量よりも大きい場合はトラッキングセンターを第２のトラック側にずらし、第２の基準エラー数に対する第２のエラー数の変化量が第１の基準エラー数に対する第１のエラー数の変化量よりも大きい場合はトラッキングセンターを第１のトラック側にずらすステップとを含む。
【０００７】
この発明によるもう１つのトラッキングサーボオフセットの調整方法は、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックに予め定められたデータをそれぞれ記録するステップと、第１のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第１の基準エラー数を計測し、かつ、第２のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第２の基準エラー数を計測するステップと、第１および第２の基準エラー数を計測した後、所定のレーザパワーで所定のトラックにデータを記録するステップと、所定のトラックにデータを記録した後、第１のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第１のエラー数を計測し、かつ、第２のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第２のエラー数を計測するステップと、第１および第２のエラー数を第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較するステップと、比較するステップの結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数よりも多くかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数と同じ場合はトラッキングセンターを第２のトラック側にずらし、第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録するステップに戻るステップと、比較するステップの結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数と同じでかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数よりも多い場合はトラッキングセンターを第１のトラック側にずらし、第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録するステップに戻るステップと、比較するステップの結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数と同じでかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数と同じ場合は所定のレーザパワーを所定量増大させ、所定のトラックにデータを記録するステップに戻るステップとを含む。
【０００８】
上記トラッキングサーボオフセットの調整方法においては、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータが記録されかつ再生され、その再生されたデータの第１および第２の基準エラー数がそれぞれ計測される。また、所定のトラックにデータが記録された後、第１および第２のトラックからデータがそれぞれ再生され、その再生されたデータの第１および第２のエラー数がそれぞれ計測される。第１のトラックのエラー数の変化量の方が大きい場合、トラッキングセンターは第２のトラック側にずらされ、他方、第２のトラックのエラー数の変化量の方が大きい場合、トラッキングセンターは第１のトラック側にずらされる。したがって、トラッキングサーボオフセットは光ディスクごとに最小化される。
【０００９】
この発明によるさらにもう１つの光ディスク装置は、レーザ光により光ディスクにデータを記録しかつ光ディスクからデータを再生する光学ヘッドと、レーザ光が光ディスクのトラックを追従するようにレーザ光を振幅させるトラッキングサーボ制御手段と、光学ヘッドにより光ディスクから再生されたデータのエラーを訂正し、そのエラー数を出力する誤り訂正回路と、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録して再生するよう光学ヘッドを制御する第１の制御手段と、互いに異なる複数のレーザパワーの各々で所定のトラックにデータを記録した後、第１および第２のトラックからデータをそれぞれ再生するよう光学ヘッドを制御する第２の制御手段と、第２の制御手段により再生されたデータに応じて誤り訂正回路から出力される第１および第２のエラー数を第１の制御手段により再生されたデータに応じて誤り訂正回路から出力される第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較し、第１の基準エラー数に対する第１のエラー数の変化量が第２の基準エラー数に対する第２のエラー数の変化量よりも大きい場合はレーザ光の振幅のトラッキングセンターを第２のトラック側にずらし、第２の基準エラー数に対する第２のエラー数の変化量が第１の基準エラー数に対する第１のエラー数の変化量よりも大きい場合はトラッキングセンターを第１のトラック側にずらす手段とを含む。
【００１０】
この発明によるさらにもう１つの光ディスク装置は、レーザ光により光ディスクにデータを記録しかつ光ディスクからデータを再生する光学ヘッドと、レーザ光が光ディスクのトラックを追従するようにレーザ光を振幅させるトラッキングサーボ制御手段と、光学ヘッドにより光ディスクから再生されたデータのエラーを訂正し、そのエラー数を出力する誤り訂正回路と、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックに予め定められたデータをそれぞれ記録するよう光学ヘッドを制御する第１の制御手段と、第１のトラックからデータを再生し、かつ、第２のトラックからデータを再生するよう光学ヘッドを制御する第２の制御手段と、第１および第２のトラックからデータを再生した後、所定のレーザパワーで所定のトラックにデータを記録するよう光学ヘッドを制御する第３の制御手段と、所定のトラックにデータを記録した後、第１のトラックからデータを再生し、かつ、第２のトラックからデータを再生するよう光学ヘッドを制御する第４の制御手段と、第４の制御手段により再生されたデータに応じて誤り訂正回路から出力される第１および第２のエラー数を第２の制御手段により再生されたデータに応じて誤り訂正回路から出力される第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較する比較手段と、比較手段による比較の結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数よりも多くかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数と同じ場合はレーザ光の振幅のトラッキングセンターを第２のトラック側にずらし、第１の制御手段に処理を戻す手段と、比較手段による比較の結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数と同じでかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数よりも多い場合はトラッキングセンターを第１のトラック側にずらし、第１の制御手段に処理を戻す手段と、比較手段による比較の結果、第１のエラー数が第１の基準エラー数と同じでかつ第２のエラー数が第２の基準エラー数と同じ場合は所定のレーザパワーを所定量増大させ、第３の制御手段に処理を戻す手段とを備える。
【００１１】
上記光ディスク装置においては、所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータが記録されかつ再生され、その再生されたデータの第１および第２の基準エラー数がそれぞれ計測される。また、所定のトラックにデータが記録された後、第１および第２のトラックからデータがそれぞれ再生され、その再生されたデータの第１および第２のエラー数がそれぞれ計測される。第１のトラックのエラー数の変化量が大きい場合、トラッキングセンターは第２のトラック側にずらされ、他方、第２のトラックのエラー数の変化量が大きい場合はトラッキングセンターは第１のトラック側にずらされる。したがって、トラッキングサーボオフセットは光ディスクごとに最小化される。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。
【００１３】
図１を参照して、この発明の実施の形態による光ディスク装置は、光磁気ディスク１０にレーザ光を照射する光学ヘッド１２と、光磁気ディスク１０に磁界を印加する磁気ヘッド１４とを備える。記録時において、光学ヘッド１２はレーザ光をパルス照射または連続照射し、その一方で磁気ヘッド１４は入力データに応じて磁界を印加する。これにより、光学ヘッド１２および磁気ヘッド１４は光磁気ディスク１０にデータを記録する。また、再生時において、光学ヘッド１２はレーザ光をパルス照射または連続照射する。これにより、光学ヘッド１２は光磁気ディスク１０からデータを再生して光磁気信号ＲＦを出力する。
【００１４】
この光ディスク装置はさらに、光学ヘッド１２に含まれる半導体レーザを駆動するレーザ駆動回路１６と、磁気ヘッド１４を駆動する磁気ヘッド駆動回路１８と、光学ヘッド１２から出力されるアナログ光磁気信号ＲＦをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器２０と、Ａ／Ｄ変換器２０から出力されるデジタル光磁気信号ＲＦの誤りを訂正して再生データを出力するＥＣＣデコーダ（誤り訂正回路ともいう）２２と、入力データに誤り訂正符号を付加して磁気ヘッド駆動回路１８に与えるＥＣＣエンコーダ２４と、光学ヘッド１２により光磁気ディスク１０から読出したアドレスを検出するアドレス検出回路２６と、この光ディスク装置全体を制御するＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）やメモリなどからなるシステムマイクロコンピュータ２８とを備える。
【００１５】
システムマイクロコンピュータ２８は、光学ヘッド１２から出力されるフォーカスエラー信号（図示せず）に応じてレーザ光の合焦点が光磁気ディスク１０の信号記録面を追従するように光学ヘッド１２に含まれる対物レンズをその光軸方向に振幅させるフォーカスサーボ制御を行なうとともに、光学ヘッド１２から出力されるトラッキングエラー信号（図示せず）に応じてレーザ光が光磁気ディスク１０のトラックを追従するように対物レンズを光磁気ディスク１０の半径方向に振幅させるトラッキングサーボ制御を行なう。
【００１６】
ＥＣＣデコーダ２２は、誤りを訂正したデータの数（エラー数）ＮＥをシステムマイクロコンピュータ２８に与える。Ａ／Ｄ変換器２０から出力される光磁気信号ＲＦはシステムマイクロコンピュータ２８にも与えられる。光磁気ディスク１０の近傍には温度センサ３０が設けられ、このセンサ３０により検出された光磁気ディスク１０近傍の温度はシステムマイクロコンピュータ２８に与えられる。システムマイクロコンピュータ２８は、たとえばこの温度センサ３０により光ディスク１０付近の温度変化を検出したとき、ＥＣＣデコーダ２２から与えられるエラー数ＮＥに基づいて後に詳述するようにトラッキングサーボオフセットおよびレーザパワーのキャリブレーションを行なう。
【００１７】
また、この光ディスク装置には、外部から与えられる入力データとシステムマイクロコンピュータ２８から出力される所定のデータとを切換えるスイッチ３２と、ＥＣＣエンコーダ２４の出力とシステムマイクロコンピュータ２８の出力とを切換えるスイッチ３４とが設けられている。データ記録時には、スイッチ３２は入力データ側に切換えられかつスイッチ３４はＥＣＣエンコーダ２４側に切換えられる。これにより、入力データはＥＣＣエンコーダ２４を介して磁気ヘッド駆動回路１８に与えられる。また、キャリブレーション時には、スイッチ３２はシステムマイクロコンピュータ２８側に切換えられかつスイッチ３４はＥＣＣエンコーダ２４側に切換えられる。これにより、システムマイクロコンピュータ２８からの所定のデータはＥＣＣエンコーダ２４を介して磁気ヘッド駆動回路１８に与えられる。
【００１８】
あるいは、エラー訂正符号を付加しないテストデータを記録する場合には、スイッチ３４はシステムマイクロコンピュータ２８側に切り換えられる。これにより、ＥＣＣエンコーダ２４、ＥＣＣデコーダ２２を動作させないでキャリブレーションを行なうことができる。
【００１９】
図２（ａ）を参照して、この光磁気ディスク１０は、同心円状の複数のゾーンＺ（１）〜（ｎ）（ｎは２以上の整数）を有する。光磁気ディスク１０上にはトラックがスパイラル状または同心円状に形成されており、図２（ｂ）に示されるように各ゾーンには複数のトラック３６が含まれている。トラック３６は、図２（ｃ）に示されるように交互に形成されたランド３６Ｌおよびグループ３６Ｇからなる。データを記録するためのデータ領域３８の先頭にはアドレス領域４０が設けられている。このアドレス領域４０ではグルーブ３６Ｇの側壁４２がアドレスに応じてウォブリングされている。
【００２０】
各ゾーンに含まれる複数のトラック３６のうち連続する数トラック（たとえば５トラック）がライトテストゾーン４４を構成している。ライトテストゾーン４４は、後述するようにレーザパワーを最適化するために所定のデータを試し書きするために設けられている。ライトテストゾーン４４は各ゾーンごとに設けられているから、この光磁気ディスク１０全体には複数（ｎ個）のライトテストゾーン４４が所定間隔ごと（たとえば半径１０ミリごと）に設けられている。このライトテストゾーン４４には、トラッキングサーボオフセットやレーザパワーのキャリブレーションに必要なデータが記録され、通常の入力データは記録されない。
【００２１】
次に、この光ディスク装置の動作について説明する。この光ディスク装置におけるシステムマイクロコンピュータ２８は図３に示されるプログラムに従って動作する。
【００２２】
まずステップＳ１で、レーザパワーの調整が必要か否かを判断する。レーザパワーを最適値に設定したりあるいはレーザパワーが最適値に設定されているか否かをチェックする必要がある場合として、以下の場合がある。
【００２３】
（１）光磁気ディスク１０を交換したとき
現在装着されている光磁気ディスクを別の光磁気ディスクと取換えた場合、その新たな光磁気ディスクに最適なレーザパワーは前の光磁気ディスクに最適なレーザパワーと異なっている可能性がある。そのため、光磁気ディスク１０を交換するたびに後述するレーザパワーの調整を行なう。光磁気ディスク１０の交換を自動的に検出するためには、たとえば光磁気ディスク１０からの反射光量の変化を光学ヘッド１２を用いてシステムマイクロコンピュータ２８により検出すればよい。
【００２４】
（２）光磁気ディスク１０の半径上における光学ヘッド１２の位置が変化したとき
所望のトラックにアクセスするために、光学ヘッド１２をスレッド送り機構（図示せず）により光磁気ディスク１０の半径方向に高速で移動させる場合があるが、光磁気ディスク１０の反りなどが原因で光磁気ディスク１０のチルト角はその半径上の位置で異なっている。チルト角が異なっていると、たとえレーザパワーが一定であってもレーザスポットのサイズが変化し、レーザパワーの実行値が変化してしまうことになる。そのため、この場合は、光学ヘッド１２の位置に応じて最適なレーザパワーとなるように調整を行なう。光学ヘッド１２の位置はシステムマイクロコンピュータ２８自身が制御しているので、システムマイクロコンピュータ２８が光学ヘッド１２を移動させたときレーザパワーの調整を行なえばよい。
【００２５】
（３）光磁気ディスク１０の線速度が変化したとき
レーザ光の照射位置があるゾーンから別のゾーンに移動すると、線速度が変化する。線速度が変化すると、レーザパワーが一定であっても単位時間当りの照射面積が変化するため、レーザパワーの実行値が変化する。そのため、光磁気ディスク１０の線速度が変化した場合はレーザパワーの調整を行なう必要がある。光磁気ディスク１０の線速度はスピンドルサーボによりシステムマイクロコンピュータ２８自身が制御しているため、システムマイクロコンピュータ２８が光磁気ディスク１０の線速度を変化させたときレーザパワーの調整を行なえばよい。
【００２６】
（４）光磁気ディスク１０または光学ヘッド１２付近の温度が変化したとき
光磁気ディスク１０内に形成されている記録膜の感度や光学ヘッド１２内に含まれている半導体レーザの出力は一般に温度依存性を有している。そのため、その付近の温度が変化した場合はレーザパワーを再調整する必要がある。光磁気ディスク１０付近の温度は温度センサ３０により計測される。光学ヘッド１２付近の温度を計測するためには、温度センサを光学ヘッド１２の内部またはその外壁に設ければよい。システムマイクロコンピュータ２８は光磁気ディスク１０または光学ヘッド１２付近の温度変化を検出したとき後述するレーザパワーの調整を行なう。
【００２７】
（５）光磁気ディスク１０から再生されたデータのエラー数ＮＥが予め定められた許容 数を超えたとき
後述するようにレーザパワーはＥＣＣデコーダ２２により訂正されるデータの数ＮＥが最小になるように設定されるが、上記（１）〜（４）以外の要因でレーザパワーの最適値が変化し、エラー数ＮＥが増加する場合がある。エラー数ＮＥがシステムの許容値を超えた場合はレーザパワーを再調整する必要がある。そのため、システムマイクロコンピュータ２８はＥＣＣデコーダ２２により訂正されたエラー数ＮＥを監視し、このエラー数ＮＥが所定の許容数を超えたとき後述するレーザパワーの調整を行なう。
【００２８】
システムマイクロコンピュータ２８はこれらの状況変化を監視し、上記（１）〜（５）の条件のうち１つでも成立した場合は下記ステップＳ２およびＳ３を実行する。また、これに代えて、上記（１）〜（５）の条件のうち２つ以上が同時に成立した場合に下記ステップＳ２およびＳ３を実行するようにしてもよい。
【００２９】
ステップＳ１でレーザパワーの調整が必要と判断すると、まずステップＳ２でトラッキングサーボオフセットの調整を行ない、続いてステップＳ３でレーザパワーの調整を行なう。
【００３０】
トラッキングサーボオフセットおよびレーザパワーの調整のために、図４に示されるように、５本のトラックＬ１，Ｇ１，Ｌ２，Ｇ２，Ｌ３からなるライトテストゾーン４４を用いる。より具体的には、３本のランドトラックＬ１〜Ｌ３と２本のグルーブトラックＧ１，Ｇ２が走っている。
【００３１】
システムマイクロコンピュータ２８は、図５に示されるプログラムに従ってトラッキングサーボオフセットの調整を行なう。
【００３２】
まずステップＳ２０で、グルーブトラックＧ１およびＧ２に予め定められた既知のデータＤ１を最高レーザパワーＰｍａｘで記録し、引続きその記録したデータＤ１を再生する。この再生データはＥＣＣデコーダ２２により誤り訂正が行なわれる。システムマイクロコンピュータ２８はこのときのエラー数ＥＧ１Ｈ０を計測し、メモリ（図示せず）に格納する。
【００３３】
続いてステップＳ２１で、ランドトラックＬ１およびＬ２に予め定められた既知のデータＤ２を最高レーザパワーＰｍａｘで記録し、続いてグルーブトラックＧ１に記録したデータＤ１を再び再生する。システムマイクロコンピュータ２８はこの再生データのエラー数ＥＧ１Ｈ１を計測し、メモリに格納する。
【００３４】
続いてステップＳ２２で、システムマイクロコンピュータ２８はステップＳ２１で計測したエラー数ＥＧ１Ｈ１をステップＳ２０で計測したエラー数ＥＧ１Ｈ０と比較する。ステップＳ２０では最高レーザパワーＰｍａｘでデータＤ１を記録してその直後に再生しているから、このときのエラー数ＥＧ１Ｈ０は最小となるはずである。一方、ステップＳ２１では最高レーザパワーＰｍａｘでグルーブトラックＧ１の両側に隣接するランドトラックＬ１およびＬ２にデータＤ２を記録した後、再びグルーブトラックＧ１からデータＤ１を再生しているから、このときのエラー数ＥＧ１Ｈ１はクロスイレーズにより大幅に増加しているはずである。しかしながら、エラー数ＥＧ１Ｈ１がエラー数ＥＧ１Ｈ０よりも十分に多くない場合は何らかの不具合が発生していると考えられるから、ステップＳ２３でトラッキングサーボオフセットの調整は不能と判断し、それを示すフラグを立てる。これで処理は終了する。
【００３５】
通常、エラー数ＥＧ１Ｈ１はエラー数ＥＧ１Ｈ０よりも十分に多いから、処理はステップＳ２４に移る。ステップＳ２４で、まず、ランドトラックＬ１からデータＤ２を再生し、その再生データのエラー数ＥＬ１０を計測してメモリに格納する。同様に、ランドトラックＬ２からデータＤ２を再生し、その再生データのエラー数ＥＬ２０を計測してメモリに格納する。これらエラー数ＥＬ１０，ＬＥ２０を以下「基準エラー数」という。そして、システムマイクロコンピュータ２８はレーザ駆動回路１６を制御し、これにより光学ヘッド１２に含まれる半導体レーザの記録パワーＰｎを最低Ｐｍｉｎに設定する。
【００３６】
このように基準エラー数ＥＬ１０，ＥＬ２０を計測した後、ステップＳ２５でグルーブトラックＧ１に所定のレーザパワーＰｎでデータを記録する。このレーザパワーＰｎは最初に最低レーザパワーＰｍｉｎに設定され、後述するステップＳ２９で最高レーザパワーＰｍａｘまで段階的に高くされる。ここでは、たとえばＰｍｉｎ，Ｐ１，Ｐ２，…，Ｐ１４，Ｐｍａｘの順にレーザパワーは１６段階で高くなる。平均線速度が５ｍ／ｓの場合、最低レーザパワーＰｍｉｎは８ｍＷに設定され、最高レーザパワーＰｍａｘは１１〜１２ｍＷに設定される。そして、各段階でのレーザパワーの増加量は０．１〜０．５ｍＷに設定される。
【００３７】
このようにグルーブトラックＧ１にレーザパワーＰｎでデータを記録した後、ステップＳ２６でランドトラックＬ１およびＬ２からそれぞれデータを再生する。より具体的には、ランドトラックＬ１からデータを再生し、その再生したデータのエラー数ＥＬ１ｎを計測してメモリに格納する。さらに、ランドトラックＬ２からデータを再生し、その再生したデータのエラー数ＥＬ２ｎを計測してメモリに格納する。
【００３８】
続いてステップＳ２７Ａ〜２７Ｃで、ステップＳ２６で計測したエラー数ＥＬ１ｎ，ＥＬ２ｎを基準エラー数ＥＬ１０，ＥＬ２０とそれぞれ比較する。
【００３９】
ステップＳ２７Ａでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０よりも多くかつエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０と同じと判断した場合は、ステップＳ２８ＡでトラッキングセンターをランドトラックＬ２側にずらし、ステップＳ２１に戻る。トラッキングセンターをランドトラックＬ２側にずらすためには、システムマイクロコンピュータ２８がレーザ光の照射位置がランドトラックＬ２側に寄るようにトラッキングサーボ制御に必要なパラメータを変更する。
【００４０】
他方、ステップＳ２７Ａでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０よりも多くないかまたはエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０と同じでない場合は、ステップＳ２７Ｂに移る。
【００４１】
ステップＳ２７Ｂでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０と同じでかつエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０よりも多いと判断した場合は、ステップ２８ＢでトラッキングセンターをランドトラックＬ１側にずらし、ステップＳ２１に戻る。トラッキングセンターをランドトラックＬ１側にずらすためには、システムマイクロコンピュータ２８はレーザ光の照射位置がランドトラックＬ１側に寄るようにトラッキングサーボ制御に必要なパラメータを変更する。
【００４２】
他方、エラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０と同じでないかまたはエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０よりも多くない場合は、ステップＳ２７Ｃに移る。
【００４３】
ステップＳ２７Ｃでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０よりも多くないかまたはエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０よりも多くないと判断した場合、即ち、ステップＳ２７Ｃでエラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０と同じであり、かつエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０と同じであると判断した場合は、ステップＳ２９でｎをインクリメントし、これによりレーザパワーＰｎを所定量だけ増大させる。レーザパワーＰｎを増大させた後は、ステップＳ２５に戻る。
【００４４】
他方、エラー数ＥＬ１ｎが基準エラー数ＥＬ１０よりも多くかつエラー数ＥＬ２ｎが基準エラー数ＥＬ２０よりも多い場合は、以上のトラッキングサーボオフセットの調整がすべて終了する。
【００４５】
仮にトラッキングセンターがランドトラックＬ１側に偏っていたとすると、グルーブトラックＧ１への記録パワーを徐々に上げていく間にグルーブトラックＧ１からランドトラックＬ１へのクロスイレーズが増大し、ランドトラックＬ１からの再生データのエラー数ＥＬ１ｎが多くなる。したがって、ランドトラックＬ１のエラー数ＥＬ１ｎが多くなるということはトラッキングセンターがランドトラックＬ１側に偏っていることを意味し、この場合はトラッキングセンターをランドトラックＬ２側にずらす。
【００４６】
他方、仮にトラッキングセンターがランドトラックＬ２側に偏っていたとすると、グルーブトラックＧ１への記録パワーを徐々に上げていく間にグルーブトラックＧ１からランドトラックＬ２へのクロスイレーズが増大し、ランドトラックＬ２からの再生データのエラー数ＥＬ２ｎが多くなる。したがって、ランドトラックＬ２のエラー数ＥＬ２ｎが多くなるということはトラッキングセンターがランドトラックＬ２側に偏っていることを意味し、この場合はトラッキングセンターをＬ１側にずらす。
【００４７】
このようにトラッキングセンターを少しずらしてみて、再びステップＳ２１〜Ｓ２６を繰返し、ステップＳ２７Ａ〜Ｓ２７ＣでトラッキングセンターがグルーブトラックＧ１のセンターに一致したか否かをチェックする。
【００４８】
トラッキングセンターがグルーブトラックＧ１のセンターに一致した場合は、グルーブトラックＧ１への記録パワーを徐々に上げていくとランドトラックＬ１のエラー数ＥＬ１ｎとランドトラックＬ２のエラー数ＥＬ２ｎとが同時に増大し始める。したがって、この場合にトラッキングサーボオフセットの調整が終了する。
【００４９】
ここでは、グルーブトラックへの記録パワーを上げていき、その両側に隣接するランドトラックのエラー数の増大をみているが、逆に、ランドトラックへの記録パワーを上げていき、その両側に隣接するグルーブトラックのエラー数の増大をみるようにしてもよい
次に、図３に示されるステップＳ３で、システムマイクロコンピュータ２８は図６に示されるプログラムに従ってレーザパワーの調整を行なう。ここでは記録パワーの調整を行ない、再生パワーは一定とする。
【００５０】
ある１本のトラックにデータを記録して再生した場合、その再生データのエラー数、つまりビットエラーレートＢＥＲは、図７中に曲線４６で示されるように、レーザパワーＰＷが高くなるにつれて減少し、やがて一定の最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎに収束する。一方、両側に隣接する２本のトラックにデータを記録した後、その間のトラックからデータを再生した場合、その再生データのビットエラーレートＢＥＲは、図７中に曲線４８で示されるように、その両側のトラックへの記録に必要なレーザパワーＰＷが十分に低い間は最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎとなるが、そのレーザパワーＰＷが高くなるにつれて増加する。
【００５１】
ここで、曲線４６で示されるように、レーザパワーＰＷを上げていった場合にビットエラーレートＢＥＲが最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎにほぼ到達したときのレーザパワーを以下「最低限界レーザパワーＰＬ」という。また、曲線４８で示されるように、レーザパワーＰＷを上げていった場合にビットエラーレートＢＥＲが最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎから増加し始めるときのレーザパワーを以下「最高限界レーザパワーＰＨ」という。
【００５２】
後述するレーザパワーの調整に際しては、上記最低限界レーザパワーＰＬおよび最高限界レーザパワーＰＨを見出し、レーザパワーをその間に設定する。
【００５３】
図６を参照して、まずステップＳ３０で、グルーブトラックＧ１およびＧ２に所定の既知のデータＤ１を最高レーザパワーＰｍａｘで記録し、その直後にその記録したデータＤ１を再生する。このとき、ＥＣＣデコーダ２２により訂正された再生データのエラー数ＥＧ２Ｈ０を計測してメモリに格納する。
【００５４】
続いてステップ３１で、ランドトラックＬ１およびＬ２に所定の既知のデータＤ２を最高レーザパワーＰｍａｘで記録し、グルーブトラックＧ１からデータＤ１を再生する。このとき、ＥＣＣデコーダ２２により訂正された再生データのエラー数ＥＧ１Ｈ１を計測してメモリに格納する。ここで、データＤ２はデータＤ１と異なっている。
【００５５】
続いてステップＳ３２で、ステップＳ３１で計測したエラー数ＥＧ１Ｈ１をステップＳ３０で計測したエラー数ＥＧ１Ｈ０と比較する。グルーブＧ１，Ｇ２には最高レーザパワーＰｍａｘでデータＤ１を記録して再生しているから、このときのエラー数ＥＧ２Ｈ０は最小となるはずである。また、グルーブトラックＧ１の両側に隣接するランドトラックＬ１およびＬ２に最高レーザパワーＰｍａｘでデータＤ２を記録した後、再びグルーブトラックＧ１のデータを再生しているから、このときのエラー数ＥＧ１Ｈ１はクロスイレーズにより最大となるはずである。したがって、ステップＳ３２ではエラー数ＥＧ１Ｈ１の方がエラー数ＥＧ１Ｈ０よりもかなり多くなるはずであるが、そうならない場合は何らかの不具合が発生していると判断し、ステップＳ３３でレーザパワーの調整は不能とし、それを示すフラグを立てる。これで処理は終了する。
【００５６】
他方、ステップＳ３２でエラー数ＥＧ１Ｈ１の方がエラー数ＥＧ１Ｈ０よりも十分に多いと判断した場合は、ステップＳ３４でランドトラックＬ２からデータＤ２を再生し、その再生データのエラー数ＥＬ２Ｈを計測してメモリに格納する。
【００５７】
続いてステップＳ３５で、グルーブトラックＧ１およびＧ２に所定の既知のデータＤ３を最低レーザパワーＰｍｉｎで記録し、その直後にそのグルーブトラックＧ１に記録したデータＤ３を再生し、その再生データのエラー数ＥＧ１０を計測してメモリに格納する
続いてステップＳ３６で、ランドトラックＬ２からデータＤ２を再生し、その再生データのエラー数ＥＬ２０を計測してメモリに格納する。
【００５８】
続いてステップＳ３７で、エラー数ＥＬ２０をエラー数ＥＬ２Ｈと比較する。グルーブトラックＧ１およびＧ２に最低レーザパワーＰｍｉｎでデータＤ３を記録した後に、その間のランドトラックＬ２のデータを再生しているから、エラー数ＥＬ２０がエラー数ＥＬ２Ｈよりも多くなることは通常起こらない。したがって、エラー数ＥＬ２０の方がエラー数ＥＬ２Ｈよりも多い場合は、ステップＳ３３でレーザパワーの調整は不能と判断し、それを示すフラグを立てる。これで処理は終了する。
【００５９】
他方、ステップＳ３７でエラー数ＥＬ２０がエラー数ＥＬ２Ｈよりも多くない場合、ステップＳ３８でｎを初期値０に設定し、これによりレーザパワーＰｎを最低レーザパワーＰｍｉｎ（＝Ｐ０）に初期化する。
【００６０】
続いてステップＳ３９で、ｎをインクリメントし、これによりレーザパワーＰｎを所定量だけ増大させる。このステップＳ３９から後述するステップＳ４４までは繰返しループを形成しており、レーザパワーは所定量ずつ増加することになる。
【００６１】
続いてステップＳ４０で、グルーブトラックＧ１およびＧ２にデータＤ３をレーザパワーＰｎでそれぞれ記録し、その直後にそのグルーブトラックＧ１からデータＤ３を再生する。このとき、その再生データのエラー数ＥＧ１ｎを計測してメモリに格納する。
【００６２】
続いてステップＳ４１で、ステップＳ４０で今回計測したエラー数ＥＧ１ｎを前回計測したエラー数ＥＧ１ｎ−１と比較する。
【００６３】
ここでは、同一のグルーブトラックＧ１にデータＤ３を繰返し記録して再生しているので、図７中の曲線４６に示されるように、レーザパワーＰｎが最低限界レーザパワーＰＬよりも低い範囲内では今回のエラー数ＥＧ１ｎの方が前回のエラー数ＥＧ１ｎ−１よりも少なくなる。しかしながら、レーザパワーＰｎが最低限界レーザパワーＰＬよりもワンステップ高く設定された場合は、今回のエラー数ＥＧ１ｎが前回のエラー数ＥＧ１ｎ−１よりも少なくなることはない。したがって、この場合は、ステップＳ４２で前回のレーザパワーＰｎ−１を最低限界レーザパワーＰＬとしてメモリに格納する。
【００６４】
他方、ステップＳ４１で今回のエラー数ＥＧ１ｎが前回のエラー数ＥＧ１ｎ−１よりも少ない場合は、ステップＳ４３でランドトラックＬ２からデータを再生し、その再生データのエラー数ＥＬ２ｎを計測してメモリに格納する。
【００６５】
続いてステップＳ４４で、ステップＳ４３で今回計測したエラー数ＥＬ２ｎを前回計測したエラー数ＬＥ２ｎ−１と比較する。今回のエラー数ＥＬ２ｎは、グルーブトラックＧ１およびＧ２への記録パワーをワンステップ増大させた後にその間のランドトラックＬ２からデータを再生したときに得たものであるから、図７中の曲線４８に示されるようにレーザパワーＰｎが最高限界レーザパワーＰＨよりも低い範囲内では今回のエラー数ＥＬ２ｎが前回のエラー数ＥＬ２ｎ−１よりも多くなることはない。この場合、処理はステップＳ３９に戻り、レーザパワーをもうワンステップ増大させる。
【００６６】
他方、レーザパワーＰｎが最高限界レーザパワーＰＨよりもワンステップ高く設定されると、今回のエラー数ＥＬ２ｎは前回のエラー数ＥＬ２ｎ−１よりも多くなる。したがって、この場合は、ステップＳ４５で前回のレーザパワーＰｎ−１を最高限界レーザパワーＰＨとしてメモリに格納する。
【００６７】
最後にステップＳ４６で、記録に実際に用いるレーザパワーＰＷを最低限界レーザパワーＰＬと最高限界レーザパワーＰＨとの間に設定し、レーザパワー調整の終了を示すフラグを立てる。そして、上述した一連のレーザパワーの調整処理はすべて終了する。
【００６８】
上記実施の形態ではビットエラーレートＢＥＲが最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎに達したときのレーザパワーＰＷを最低限界レーザパワーＰＬに設定し、ビットエラーレートＢＥＲが最低ビットエラーレートＢＥＲｍｉｎよりも高くなり始めたときのレーザパワーＰＷを最高限界レーザパワーＰＨと設定している。しかしながら、これに代えて、最低限界レーザパワーＰＬをもう少し低く設定し、最高限界レーザパワーＰＨをもう少し高く設定してもよい。この方が最低レーザパワーの設定マージンがより広くなる。この場合、ビットエラーレートＢＥＲが若干高くなるが、システムの許容範囲内であれば差支えない。このように、最低および最高限界レーザパワーＰＬ，ＰＨを設定するためには、ステップＳ４１の条件式「ＥＧ１ｎ＜ＥＧ１ｎ−１」を「ＥＧ１ｎ＜（ＥＧ１ｎ−１）−α」に変更し、ステップＳ４４の条件式「ＥＬ２ｎ＞ＥＬ２ｎ−１」を「ＥＬ２ｎ＞（ＥＬ２ｎ−１）＋α」に変更すればよい。ここで、αは正の予め定められた整数である。
【００６９】
以上のようにこの発明の実施の形態によれば、記録パワーの調整が必要となるたびに記録パワーを最適化しているため、常に正確なデータの記録および再生が可能になる。
【００７０】
また、記録パワーを最適化する前にトラッキングサーボオフセットを最小化しているため、記録パワーの正確な最適化が可能になるとともに、常に正確なトラッキングサーボ制御が可能になる。
【００７１】
また、この光磁気ディスク１０にはライトテストゾーン４４を所定間隔ごとに複数設けているため、半径方向の位置でチルト角が異なっていても、ゾーンＺ（１）〜（ｎ）ごとにレーザパワーの最適化が可能になる。
【００７２】
なお、上記実施の形態ではトラッキングサーボオフセットおよびレーザパワーの調整用に設けられたライトテストゾーン４４に所定のデータを試し書きすることによりトラッキングサーボオフセットやレーザパワーの調整を行なっているが、連続して空いているトラックが数本あれば、これらのトラックの全部または一部に所定のデータを試し書きすることによりトラッキングサーボオフセットやレーザパワーの調整を行なうようにしてもよい。
【００７３】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【００７４】
【発明の効果】
以上のようにこの発明によれば、所定のトラックの両側に隣接するトラックにデータを記録して再生し、その間のトラックにデータを記録する際のレーザパワーを段階的に変えていき、その両側のトラックからの再生データのエラー数に応じてトラッキングセンターをずらしているため、トラッキングセンターをトラックのセンターにすることができ、その結果、正確なトラッキングサーボ制御が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態による光ディスク装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】（ａ）は図１中の光磁気ディスクのゾーン構成を示す平面図であり、（ｂ）は（ａ）中のある１つのゾーンのトラック構成を示す平面図であり、（ｃ）は（ｂ）中の数本のトラックの具体的な構造を示す平面図である。
【図３】図１に示された光ディスク装置によるキャリブレーション動作を示すフローチャートである。
【図４】図２（ｃ）中のライトテストゾーンのトラック構造を示す斜視図である。
【図５】図３中のトラッキングサーボオフセットの調整動作を詳細に示すフローチャートである。
【図６】図３中のレーザパワーの調整動作を詳細に示すフローチャートである。
【図７】ビットエラーレートのレーザパワー依存性を示す図である。
【符号の説明】
１０ 光磁気ディスク、１２ 光学ヘッド、１４ 磁気ヘッド、２２ ＥＣＣデコーダ、２８ システムマイクロコンピュータ、３６ トラック、４４ ライトテストゾーン。
Claims (4)
- トラッキングサーボ制御によるレーザ光の振幅のトラッキングセンターを光ディスクのトラックのセンターに一致させるトラッキングサーボオフセットの調整方法であって、
所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録して再生し、その再生したデータの第１および第２の基準エラー数をそれぞれ計測するステップと、
互いに異なる複数のレーザパワーの各々で前記所定のトラックにデータを記録した後、前記第１および第２のトラックからデータをそれぞれ再生し、その再生したデータの第１および第２のエラー数をそれぞれ計測するステップと、
前記第１および第２のエラー数を前記第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較し、前記第１の基準エラー数に対する前記第１のエラー数の変化量が前記第２の基準エラー数に対する前記第２のエラー数の変化量よりも大きい場合は前記トラッキングセンターを前記第２のトラック側にずらし、前記第２の基準エラー数に対する前記第２のエラー数の変化量が前記第１の基準エラー数に対する前記第１のエラー数の変化量よりも大きい場合は前記トラッキングセンターを前記第１のトラック側にずらすステップとを含む、トラッキングサーボオフセットの調整方法。 - トラッキングサーボ制御によるレーザ光の振幅のトラッキングセンターを光ディスクのトラックのセンターに一致させるトラッキングサーボオフセットの調整方法であって、
所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックに予め定められたデータをそれぞれ記録するステップと、
前記第１のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第１の基準エラー数を計測し、かつ、前記第２のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第２の基準エラー数を計測するステップと、
前記第１および第２の基準エラー数を計測した後、所定のレーザパワーで前記所定のトラックにデータを記録するステップと、
前記所定のトラックにデータを記録した後、前記第１のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第１のエラー数を計測し、かつ、前記第２のトラックからデータを再生し、その再生したデータの第２のエラー数を計測するステップと、
前記第１および第２のエラー数を前記第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較するステップと、
前記比較するステップの結果、前記第１のエラー数が前記第１の基準エラー数よりも多くかつ前記第２のエラー数が前記第２の基準エラー数と同じ場合は前記トラッキングセンターを前記第２のトラック側にずらし、前記第１および第２のトラックに前記データをそれぞれ記録するステップに戻るステップと、
前記比較するステップの結果、前記第１のエラー数が前記第１の基準エラー数と同じでかつ前記第２のエラー数が前記第２の基準エラー数よりも多い場合は前記トラッキングセンターを前記第１のトラック側にずらし、前記第１および第２のトラックに前記データをそれぞれ記録するステップに戻るステップと、
前記比較するステップの結果、前記第１のエラー数が前記第１の基準エラー数と同じでかつ前記第２のエラー数が前記第２の基準エラー数と同じ場合は前記所定のレーザパワーを所定量増大させ、前記所定のトラックにデータを記録するステップに戻るステップとを含む、トラッキングサーボオフセットの調整方法。 - レーザ光により光ディスクにデータを記録しかつ前記光ディスクからデータを再生する光学ヘッドと、
前記レーザ光が前記光ディスクのトラックを追従するように前記レーザ光を振幅させるトラッキングサーボ制御手段と、
前記光学ヘッドにより前記光ディスクから再生されたデータのエラーを訂正し、そのエラー数を出力する誤り訂正回路と、
所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックにデータをそれぞれ記録して再生するよう前記光学ヘッドを制御する第１の制御手段と、
互いに異なる複数のレーザパワーの各々で前記所定のトラックにデータを記録した後、前記第１および第２のトラックからデータをそれぞれ再生するよう前記光学ヘッドを制御する第２の制御手段と、
前記第２の制御手段により再生されたデータに応じて前記誤り訂正回路から出力される第１および第２のエラー数を前記第１の制御手段により再生されたデータに応じて前記誤り訂正回路から出力される第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較し、前記第１の基準エラー数に対する前記第１のエラー数の変化量が前記第２の基準エラー数に対する前記第２のエラー数の変化量よりも大きい場合は前記レーザ光の振幅のトラッキングセンターを前記第２のトラック側にずらし、前記第２の基準エラー数に対する前記第２のエラー数の変化量が前記第１の基準エラー数に対する前記第１のエラー数の変化量よりも大きい場合は前記トラッキングセンターを前記第１のトラック側にずらす手段とを含む、光ディスク装置。 - レーザ光により光ディスクにデータを記録しかつ前記光ディスクからデータを再生する光学ヘッドと、
前記レーザ光が前記光ディスクのトラックを追従するように前記レーザ光を振幅させるトラッキングサーボ制御手段と、
前記光学ヘッドにより前記光ディスクから再生されたデータのエラーを訂正し、そのエラー数を出力する誤り訂正回路と、
所定のトラックの両側に隣接する第１および第２のトラックに予め定められたデータをそれぞれ記録するよう前記光学ヘッドを制御する第１の制御手段と、
前記第１のトラックからデータを再生し、かつ、前記第２のトラックからデータを再生するよう前記光学ヘッドを制御する第２の制御手段と、
前記第１および第２のトラックからデータを再生した後、所定のレーザパワーで前記所定のトラックにデータを記録するよう前記光学ヘッドを制御する第３の制御手段と、
前記所定のトラックにデータを記録した後、前記第１のトラックからデータを再生し、かつ、前記第２のトラックからデータを再生するよう前記光学ヘッドを制御する第４の制御手段と、
前記第４の制御手段により再生されたデータに応じて前記誤り訂正回路から出力される第１および第２のエラー数を前記第２の制御手段により再生されたデータに応じて前記誤り訂正回路から出力される第１および第２の基準エラー数とそれぞれ比較する比較手段と、
前記比較手段による比較の結果、前記第１のエラー数が前記第１の基準エラー数よりも多くかつ前記第２のエラー数が前記第２の基準エラー数と同じ場合は前記レーザ光の振幅のトラッキングセンターを前記第２のトラック側にずらし、前記第１の制御手段に処理を戻す手段と、
前記比較手段による比較の結果、前記第１のエラー数が前記第１の基準エラー数と同じでかつ前記第２のエラー数が前記第２の基準エラー数よりも多い場合は前記トラッキングセンターを前記第１のトラック側にずらし、前記第１の制御手段に処理を戻す手段と、
前記比較手段による比較の結果、前記第１のエラー数が前記第１の基準エラー数と同じでかつ前記第２のエラー数が前記第２の基準エラー数と同じ場合は前記所定のレーザパワーを所定量増大させ、前記第３の制御手段に処理を戻す手段とを備える、光ディスク装置。
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