JP3517163B2 - 靴または靴底パーツの適合方法 - Google Patents
靴または靴底パーツの適合方法Info
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- A43D—MACHINES, TOOLS, EQUIPMENT OR METHODS FOR MANUFACTURING OR REPAIRING FOOTWEAR
- A43D1/00—Foot or last measuring devices; Measuring devices for shoe parts
- A43D1/02—Foot-measuring devices
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- A43—FOOTWEAR
- A43D—MACHINES, TOOLS, EQUIPMENT OR METHODS FOR MANUFACTURING OR REPAIRING FOOTWEAR
- A43D1/00—Foot or last measuring devices; Measuring devices for shoe parts
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- A43D1/025—Foot-measuring devices comprising optical means, e.g. mirrors, photo-electric cells, for measuring or inspecting feet
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- A43D1/02—Foot-measuring devices
- A43D1/027—Shoe fit indicating devices
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Footwear And Its Accessory, Manufacturing Method And Apparatuses (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は靴または靴底パーツ
の適合方法に関するものである。
の適合方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】足の形状に合った靴を着用することは、
足や下肢への負担を軽減するなどの意味において極めて
重要である。そこで、従来より、足の形を測定する方法
が種々提案されている（たとえば、特開平２−２２８９
４４号公報）。
足や下肢への負担を軽減するなどの意味において極めて
重要である。そこで、従来より、足の形を測定する方法
が種々提案されている（たとえば、特開平２−２２８９
４４号公報）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記先行技術
では、足の形状を測定することはできても、足の形状に
合った靴を、測定結果から直ちに求めることは難しい。
では、足の形状を測定することはできても、足の形状に
合った靴を、測定結果から直ちに求めることは難しい。
【０００４】したがって、本発明の主目的は、測定結果
に応じて足型に合った靴や靴底パーツを直ちに適合させ
得ることを目的とする。
に応じて足型に合った靴や靴底パーツを直ちに適合させ
得ることを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、まず、足の内外への傾角と足のアーチの
高さ率とから足型を決定することのできる表または出力
装置を予め用意する。また、前記表または出力装置に基
づいて決定される足型に対応する靴または靴底パーツを
予め複数種類用意する。さらに、前記傾角と前記アーチ
の高さ率とを測定するための足型測定器を予め用意す
る。測定者は前記足型測定器により前記傾角およびアー
チの高さ率を測定し、この測定された傾角およびアーチ
の高さ率に基づいて前記表または出力装置から足型を決
定する。該決定された足型に対応する靴または靴底パー
ツを前記予め用意された靴または靴パーツから選択す
る。
に、本発明は、まず、足の内外への傾角と足のアーチの
高さ率とから足型を決定することのできる表または出力
装置を予め用意する。また、前記表または出力装置に基
づいて決定される足型に対応する靴または靴底パーツを
予め複数種類用意する。さらに、前記傾角と前記アーチ
の高さ率とを測定するための足型測定器を予め用意す
る。測定者は前記足型測定器により前記傾角およびアー
チの高さ率を測定し、この測定された傾角およびアーチ
の高さ率に基づいて前記表または出力装置から足型を決
定する。該決定された足型に対応する靴または靴底パー
ツを前記予め用意された靴または靴パーツから選択す
る。
【０００６】本発明において、「足の内外への傾角」と
は、踵骨を背面から見た踵の中心線が鉛直線となす角度
をいう。また、「アーチの高さ率」とは足長に対する舟
状骨の高さの比をいう。
は、踵骨を背面から見た踵の中心線が鉛直線となす角度
をいう。また、「アーチの高さ率」とは足長に対する舟
状骨の高さの比をいう。
【０００７】また、本発明において、前記傾角および高
さ率などのパラメータを測定するための「足型測定器」
は、足載台の上に定規や分度器を有する測定器の他に、
イメージセンサやスキャナユニットなどを用いて足を二
次元ないし三次元的に計測する装置（たとえば、特開昭
６１−１９１３０６号、同６２−５３６０３号、特表平
５−５０６３６９号、同５−５０７６３０号参照）を含
む。
さ率などのパラメータを測定するための「足型測定器」
は、足載台の上に定規や分度器を有する測定器の他に、
イメージセンサやスキャナユニットなどを用いて足を二
次元ないし三次元的に計測する装置（たとえば、特開昭
６１−１９１３０６号、同６２−５３６０３号、特表平
５−５０６３６９号、同５−５０７６３０号参照）を含
む。
【０００８】本発明において、足型を決定することので
きる表としては、前記各パラメータおよび決定される足
型をマトリクス状に配列したものがある。一方、前記足
型を決定することのできる「出力装置」とは、コンピュ
ータなどのＣＰＵに前記各パラメータが入力されると、
足型の種別等を出力できる機器を意味し、たとえば、パ
ソコンや専用器の表示器（液晶、ブラウン管等）ないし
プリンタをいう。なお、この場合、マイクロコンピュー
タのＲＡＭに前記表に相当するデータを予め記憶させて
おく必要がある。
きる表としては、前記各パラメータおよび決定される足
型をマトリクス状に配列したものがある。一方、前記足
型を決定することのできる「出力装置」とは、コンピュ
ータなどのＣＰＵに前記各パラメータが入力されると、
足型の種別等を出力できる機器を意味し、たとえば、パ
ソコンや専用器の表示器（液晶、ブラウン管等）ないし
プリンタをいう。なお、この場合、マイクロコンピュー
タのＲＡＭに前記表に相当するデータを予め記憶させて
おく必要がある。
【０００９】また、「靴底パーツ」とは、たとえば靴の
中敷のように靴に対して取り外し・取り付けが自在なパ
ーツ（部品）をいう。なお、「靴底パーツ」としては、
基本中敷に粘着ないし接着される貼着パーツを予め複数
種類用意し、決定された足型に応じて前記貼着パーツを
選択して、当該貼着パーツを基本中敷に貼着してもよ
い。また、靴底パーツではなく、足型に応じて靴自体を
複数種類予め用意し、適合させてもよい。
中敷のように靴に対して取り外し・取り付けが自在なパ
ーツ（部品）をいう。なお、「靴底パーツ」としては、
基本中敷に粘着ないし接着される貼着パーツを予め複数
種類用意し、決定された足型に応じて前記貼着パーツを
選択して、当該貼着パーツを基本中敷に貼着してもよ
い。また、靴底パーツではなく、足型に応じて靴自体を
複数種類予め用意し、適合させてもよい。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
にしたがって説明する。まず、本発明方法に用いる足型
測定器の一例について簡単に説明する。図１（ａ）にお
いて、足型測定器１は足載台１０を有する。前記足載台
１０の表面１１には、左右の足を載せる位置を示す一対
の平行なライン１２が表示してある。前記足載台１０上
には、前記ライン１２に平行なスケール１５が表示して
ある。また、前記足載台１０には、足の前後の端部に当
接させる一対のＬ型スライダ１３，１４が設けてある。
これらのスライダ１３，１４は、前記スケール１５の長
手方向に足載台１０に摺動自在に設けてある。したがっ
て、足をライン１２上に載せ、足の前後の端部に前記Ｌ
型スライダ１３，１４を当接させ、スケール１５の目盛
りを読むことで、足長Ｆを測定することができる。
にしたがって説明する。まず、本発明方法に用いる足型
測定器の一例について簡単に説明する。図１（ａ）にお
いて、足型測定器１は足載台１０を有する。前記足載台
１０の表面１１には、左右の足を載せる位置を示す一対
の平行なライン１２が表示してある。前記足載台１０上
には、前記ライン１２に平行なスケール１５が表示して
ある。また、前記足載台１０には、足の前後の端部に当
接させる一対のＬ型スライダ１３，１４が設けてある。
これらのスライダ１３，１４は、前記スケール１５の長
手方向に足載台１０に摺動自在に設けてある。したがっ
て、足をライン１２上に載せ、足の前後の端部に前記Ｌ
型スライダ１３，１４を当接させ、スケール１５の目盛
りを読むことで、足長Ｆを測定することができる。
【００１１】足載台１０の略中央にはハイトゲージ１６
が設けてある。該ハイトゲージ１６のポール部１７には
目盛り（図示せず）が設けてあると共に、ピン１８が上
下に摺動自在に設けてある。したがって、ピン１８の位
置を足の所定の高さ基準点に合致させることで“アーチ
の高さ”を測定することができる。
が設けてある。該ハイトゲージ１６のポール部１７には
目盛り（図示せず）が設けてあると共に、ピン１８が上
下に摺動自在に設けてある。したがって、ピン１８の位
置を足の所定の高さ基準点に合致させることで“アーチ
の高さ”を測定することができる。
【００１２】前記足載台１０には、分度器１９が左右に
摺動自在に設けてある。該分度器１９は、足の内外への
傾角つまり踵骨の背面から踵骨の傾きを測定するための
ものである。
摺動自在に設けてある。該分度器１９は、足の内外への
傾角つまり踵骨の背面から踵骨の傾きを測定するための
ものである。
【００１３】つぎに、測定パラメータについて説明す
る。高さ率α 図２（ａ）において、高さ基準点Ｐ１は“アーチＡの高
さ”つまり舟状骨Ｂ１の高さを測定するための基準点で
ある。この高さ基準点Ｐ１は、舟状骨Ｂ１の粗面と呼ば
れる位置に設定するのが好ましく、一般には足の内側面
において内側に出っ張った部分に相当する。アーチの高
さｈは、足ｆを足載台１０の表面１１に載せた場合に、
該表面１１から前記高さ基準点Ｐ１までの高さによって
定義される。
る。高さ率α 図２（ａ）において、高さ基準点Ｐ１は“アーチＡの高
さ”つまり舟状骨Ｂ１の高さを測定するための基準点で
ある。この高さ基準点Ｐ１は、舟状骨Ｂ１の粗面と呼ば
れる位置に設定するのが好ましく、一般には足の内側面
において内側に出っ張った部分に相当する。アーチの高
さｈは、足ｆを足載台１０の表面１１に載せた場合に、
該表面１１から前記高さ基準点Ｐ１までの高さによって
定義される。
【００１４】アーチの高さ率αは、足長Ｆに対するアー
チの高さｈの比をいい、たとえば下記の(1) 式で定義さ
れる。 α＝100h／Ｆ …(1) したがって、アーチの高さ率αを測定することで、足の
長さにかかわらず、アーチＡの湾曲の度合を知ることが
できる。なお、足長Ｆは足の前端から後端までの全長を
いう。
チの高さｈの比をいい、たとえば下記の(1) 式で定義さ
れる。 α＝100h／Ｆ …(1) したがって、アーチの高さ率αを測定することで、足の
長さにかかわらず、アーチＡの湾曲の度合を知ることが
できる。なお、足長Ｆは足の前端から後端までの全長を
いう。
【００１５】傾角θ
図２（ｂ）に示すように、傾角θは、踵の背面から見た
踵骨Ｂ２の傾きの度合であり、たとえば、踵骨Ｂ２の上
下方向に沿った基準線Ｃと鉛直線Ｖとのなす角θで定義
される。前記基準線Ｃは、下基準点Ｐ２と上基準点Ｐ３
とを結んだ直線で定義される。
踵骨Ｂ２の傾きの度合であり、たとえば、踵骨Ｂ２の上
下方向に沿った基準線Ｃと鉛直線Ｖとのなす角θで定義
される。前記基準線Ｃは、下基準点Ｐ２と上基準点Ｐ３
とを結んだ直線で定義される。
【００１６】前記下基準点Ｐ２は、図２（ｃ）の踵骨Ｂ
２の下端部と思われる箇所で、図２（ｂ）の踵部Ｆ１を
左右に２等分する位置に設定される。一方、上基準点Ｐ
３は、図２（ｃ）の踵骨Ｂ２の上端部と思われる箇所
で、図２（ｂ）の踵骨Ｂ２を左右に２等分する位置に設
定される。なお、前記上基準点Ｐ３は、一般に、外踝Ｆ
２の下端レベルに存在する。
２の下端部と思われる箇所で、図２（ｂ）の踵部Ｆ１を
左右に２等分する位置に設定される。一方、上基準点Ｐ
３は、図２（ｃ）の踵骨Ｂ２の上端部と思われる箇所
で、図２（ｂ）の踵骨Ｂ２を左右に２等分する位置に設
定される。なお、前記上基準点Ｐ３は、一般に、外踝Ｆ
２の下端レベルに存在する。
【００１７】前記傾角θを測定することで、足の内反や
外反の度合を知ることができる。ここで、「内反」と
は、踏まず部が浮き上がって足（踵骨）が外側OUT へ傾
いた状態をいい、一方、「外反」とは、土踏まずが沈む
ように、図２（ｂ）のように足（踵骨）が内側INへ傾い
た状態をいう。
外反の度合を知ることができる。ここで、「内反」と
は、踏まず部が浮き上がって足（踵骨）が外側OUT へ傾
いた状態をいい、一方、「外反」とは、土踏まずが沈む
ように、図２（ｂ）のように足（踵骨）が内側INへ傾い
た状態をいう。
【００１８】類別原理
本発明においては、後述するように前記傾角θとアーチ
の高さ率αに基づいて足型を類別するのであるが、その
原理について簡単に説明する。今、図２（ａ）のアーチ
Ａの高さｈが同じでも踵が内側に傾いた外反では、足の
アーチが下方へ下がる傾向にあるので、踏まず部Ｆ３が
偏平なローアーチに近い状態になり易い。一方、同じア
ーチの高さｈでも踵が外側に傾いた内反では、足のアー
チＡが上がる傾向にあるので、踏まず部Ｆ３が大きく凹
んだハイアーチに近い状態になり易い。そのため、本適
合方法では、以下に説明するように、傾角θとアーチの
高さ率αとを合成して足型を複数種類に分類している。
の高さ率αに基づいて足型を類別するのであるが、その
原理について簡単に説明する。今、図２（ａ）のアーチ
Ａの高さｈが同じでも踵が内側に傾いた外反では、足の
アーチが下方へ下がる傾向にあるので、踏まず部Ｆ３が
偏平なローアーチに近い状態になり易い。一方、同じア
ーチの高さｈでも踵が外側に傾いた内反では、足のアー
チＡが上がる傾向にあるので、踏まず部Ｆ３が大きく凹
んだハイアーチに近い状態になり易い。そのため、本適
合方法では、以下に説明するように、傾角θとアーチの
高さ率αとを合成して足型を複数種類に分類している。
【００１９】つぎに、図３の足型決定表Ｓについて説明
する。この足型決定表Ｓは、測定されたアーチの高さ率
αおよび傾角θから足型を決定するための表である。足
型の分離としては、たとえば、ローアーチ型Ｌ、平均ア
ーチ型Ｎおよびハイアーチ型Ｈの３種類に分類する。こ
こで、ローアーチ型Ｌは、比較的アーチの高さ率αが小
さく、かつ、外反の度合が通常ないしは大きい型をい
う。一方、ハイアーチ型Ｈは、比較的アーチの高さ率α
が大きく、かつ、内反の度合が通常ないしは大きい型を
いう。
する。この足型決定表Ｓは、測定されたアーチの高さ率
αおよび傾角θから足型を決定するための表である。足
型の分離としては、たとえば、ローアーチ型Ｌ、平均ア
ーチ型Ｎおよびハイアーチ型Ｈの３種類に分類する。こ
こで、ローアーチ型Ｌは、比較的アーチの高さ率αが小
さく、かつ、外反の度合が通常ないしは大きい型をい
う。一方、ハイアーチ型Ｈは、比較的アーチの高さ率α
が大きく、かつ、内反の度合が通常ないしは大きい型を
いう。
【００２０】また、本足型決定表Ｓでは、平均アーチ型
Ｎとアーチの高さ率αが同じであっても外反の度合が所
定値よりも大きい場合には、実質的な土踏まずの高さを
低く設定して（みなして）、ローアーチ型Ｌに分類して
いる。一方、本足型決定表Ｓでは、平均アーチ型Ｎとア
ーチの高さ率αが同じであっても内反の度合が所定値よ
りも大きい場合には、実質的な土踏まずの高さを高く設
定して（みなして）ハイアーチ型Ｈに分類している。す
なわち、傾角θでアーチの高さ率αを補正して、実際の
土踏まずの凹み量に応じて、足型を前記３つの型Ｌ，
Ｎ，Ｈに分類している。
Ｎとアーチの高さ率αが同じであっても外反の度合が所
定値よりも大きい場合には、実質的な土踏まずの高さを
低く設定して（みなして）、ローアーチ型Ｌに分類して
いる。一方、本足型決定表Ｓでは、平均アーチ型Ｎとア
ーチの高さ率αが同じであっても内反の度合が所定値よ
りも大きい場合には、実質的な土踏まずの高さを高く設
定して（みなして）ハイアーチ型Ｈに分類している。す
なわち、傾角θでアーチの高さ率αを補正して、実際の
土踏まずの凹み量に応じて、足型を前記３つの型Ｌ，
Ｎ，Ｈに分類している。
【００２１】また、本足型決定表Ｓでは、前記アーチの
高さ率αおよび傾角θから必ずしも一義的に足型を決定
せずに、シューフィッター等による選択の余地を残して
いる。たとえばα＝14.5〜17.5で外反３°〜内反２°の
場合、通常、足型は平均アーチ型Ｎとされるが、Ｏ脚の
人ではハイアーチ型Ｈとされる。また、同程度のアーチ
の高さ率αおよび傾角θを有する人であっても、他の要
因により足型Ｌ，Ｎ，Ｈを選択する余地を残している。
しかし、本発明ではアーチの高さ率αおよび傾角θをこ
の足型決定表Ｓよりも細かく分けて、測定されたアーチ
の高さ率αおよび傾角θから、足型を一義的に決定でき
るようにしてもよい。
高さ率αおよび傾角θから必ずしも一義的に足型を決定
せずに、シューフィッター等による選択の余地を残して
いる。たとえばα＝14.5〜17.5で外反３°〜内反２°の
場合、通常、足型は平均アーチ型Ｎとされるが、Ｏ脚の
人ではハイアーチ型Ｈとされる。また、同程度のアーチ
の高さ率αおよび傾角θを有する人であっても、他の要
因により足型Ｌ，Ｎ，Ｈを選択する余地を残している。
しかし、本発明ではアーチの高さ率αおよび傾角θをこ
の足型決定表Ｓよりも細かく分けて、測定されたアーチ
の高さ率αおよび傾角θから、足型を一義的に決定でき
るようにしてもよい。
【００２２】つぎに、前記足型Ｌ，Ｎ，Ｈに対応する中
敷（靴底パーツの一例）について説明する。図４は平均
アーチ型Ｎに対応する平均アーチ型中敷２Ｎを模式的に
示す。図５はローアーチ型Ｌに対応するローアーチ型中
敷２Ｌを模式的に示す。図６はハイアーチ型Ｈに対応す
るハイアーチ型中敷２Ｈを模式的に示す。前記各中敷２
Ｎ，２Ｌ，２Ｈは、以下に説明するように、同一形状の
基本中敷部２０に各付加部２１〜２６を一体に成形して
なる。
敷（靴底パーツの一例）について説明する。図４は平均
アーチ型Ｎに対応する平均アーチ型中敷２Ｎを模式的に
示す。図５はローアーチ型Ｌに対応するローアーチ型中
敷２Ｌを模式的に示す。図６はハイアーチ型Ｈに対応す
るハイアーチ型中敷２Ｈを模式的に示す。前記各中敷２
Ｎ，２Ｌ，２Ｈは、以下に説明するように、同一形状の
基本中敷部２０に各付加部２１〜２６を一体に成形して
なる。
【００２３】図４に示すように、前記平均アーチ型中敷
２Ｎは、基本中敷部２０に一点鎖線で示す平均付加部２
１が一体に成形されてなる。前記平均付加部２１は、標
準的な足に合致するように、平均アーチ型中敷２Ｎにお
ける内踏まず部の表面に滑らかな隆起を形成する。
２Ｎは、基本中敷部２０に一点鎖線で示す平均付加部２
１が一体に成形されてなる。前記平均付加部２１は、標
準的な足に合致するように、平均アーチ型中敷２Ｎにお
ける内踏まず部の表面に滑らかな隆起を形成する。
【００２４】図５に示すように、前記ローアーチ型中敷
２Ｌは、基本中敷部２０にローアーチパッド部２２、中
足骨パッド部２３および内パッド部２４が一体に成形さ
れてなる。一点鎖線で示す前記ローアーチパッド部２２
は、前記平均付加部２１に近似した形状で、ローアーチ
型中敷２Ｌにおける内踏まず部の表面に滑らかな隆起を
形成する。二点鎖線で示す前記中足骨パッド部２３は、
中央の若干前方に小さな隆起を形成し、足の横アーチを
保持する。破線で示す内パッド部２４は、基本中敷部２
０の裏側に踏まず部から後足部にわたって設けられ、中
央から足の内側に向って滑らかな盛り上がりを付加して
いる。
２Ｌは、基本中敷部２０にローアーチパッド部２２、中
足骨パッド部２３および内パッド部２４が一体に成形さ
れてなる。一点鎖線で示す前記ローアーチパッド部２２
は、前記平均付加部２１に近似した形状で、ローアーチ
型中敷２Ｌにおける内踏まず部の表面に滑らかな隆起を
形成する。二点鎖線で示す前記中足骨パッド部２３は、
中央の若干前方に小さな隆起を形成し、足の横アーチを
保持する。破線で示す内パッド部２４は、基本中敷部２
０の裏側に踏まず部から後足部にわたって設けられ、中
央から足の内側に向って滑らかな盛り上がりを付加して
いる。
【００２５】図６に示すように、前記ハイアーチ型中敷
２Ｈは、基本中敷部２０に前記平均付加部２１、裏側ア
ーチパッド部２５および外パッド部２６が一体に形成さ
れてなる。破線で示す前記裏側アーチパッド部２５は、
基本中敷部２０の裏側における内踏まず部に滑らかな盛
り上がりを付加しており、ハイアーチ型中敷２Ｈの踏ま
ず部を実質的に高くしている。破線で示す前記外パッド
部２６は、基本中敷部２０の裏側の外足部に設けられ、
中央から足の外側に向って滑らかな盛り上がりを付加し
ている。
２Ｈは、基本中敷部２０に前記平均付加部２１、裏側ア
ーチパッド部２５および外パッド部２６が一体に形成さ
れてなる。破線で示す前記裏側アーチパッド部２５は、
基本中敷部２０の裏側における内踏まず部に滑らかな盛
り上がりを付加しており、ハイアーチ型中敷２Ｈの踏ま
ず部を実質的に高くしている。破線で示す前記外パッド
部２６は、基本中敷部２０の裏側の外足部に設けられ、
中央から足の外側に向って滑らかな盛り上がりを付加し
ている。
【００２６】つぎに、中敷の適合方法について説明す
る。まず、予め、図１の足型測定器１、図３の足型決定
表Ｓおよび図４〜図６の３種類の中敷２Ｎ，２Ｌ，２Ｈ
を用意しておく。また、計測に先立って、図２（ａ）の
高さ基準点Ｐ１と図２（ｂ）の下基準点Ｐ２および上基
準点Ｐ３に、シールなどを貼付して目印を付加する。つ
ぎに、顧客（被計測者）が図１（ｂ）の足の中央ライン
Ｆｃを図１（ａ）のライン１２に合わせた状態で、足載
台１０上に立つ。
る。まず、予め、図１の足型測定器１、図３の足型決定
表Ｓおよび図４〜図６の３種類の中敷２Ｎ，２Ｌ，２Ｈ
を用意しておく。また、計測に先立って、図２（ａ）の
高さ基準点Ｐ１と図２（ｂ）の下基準点Ｐ２および上基
準点Ｐ３に、シールなどを貼付して目印を付加する。つ
ぎに、顧客（被計測者）が図１（ｂ）の足の中央ライン
Ｆｃを図１（ａ）のライン１２に合わせた状態で、足載
台１０上に立つ。
【００２７】その後、店員（測定者）はＬ型スライダ１
４、１３を足の前後端に当接させて、足長Ｆを測定す
る。一方、図２（ａ）の高さ基準点Ｐ１のマークの高さ
をハイトゲージ１６で測定し、高さｈを求める。
４、１３を足の前後端に当接させて、足長Ｆを測定す
る。一方、図２（ａ）の高さ基準点Ｐ１のマークの高さ
をハイトゲージ１６で測定し、高さｈを求める。
【００２８】一方、図２（ｂ）の下基準点Ｐ２に図１
（ａ）の分度器１９の基準点を合致させ、図２（ｂ）の
上基準点Ｐ３の位置から傾角θを測定する。
（ａ）の分度器１９の基準点を合致させ、図２（ｂ）の
上基準点Ｐ３の位置から傾角θを測定する。
【００２９】前記計測後、店員は、前述の(1) 式に従っ
て、前記高さｈおよび足長Ｆからアーチの高さ率αを算
出する。この算出後、店員は図３の足型決定表Ｓを見て
前記アーチの高さ率αと傾角θから足型Ｌ，Ｎ，Ｈを決
定する。続いて、店員は前記決定された足型Ｌ，Ｎ，Ｈ
に対応する図４〜図６の中敷２Ｎ，２Ｌ，２Ｈを選択し
て、当該中敷を靴の内部に装着し、客に試着させる。こ
のように、本適合方法では、測定結果に応じて中敷を直
ちに選択でき、足型に合った靴を直ちに適合させること
ができる。
て、前記高さｈおよび足長Ｆからアーチの高さ率αを算
出する。この算出後、店員は図３の足型決定表Ｓを見て
前記アーチの高さ率αと傾角θから足型Ｌ，Ｎ，Ｈを決
定する。続いて、店員は前記決定された足型Ｌ，Ｎ，Ｈ
に対応する図４〜図６の中敷２Ｎ，２Ｌ，２Ｈを選択し
て、当該中敷を靴の内部に装着し、客に試着させる。こ
のように、本適合方法では、測定結果に応じて中敷を直
ちに選択でき、足型に合った靴を直ちに適合させること
ができる。
【００３０】なお、本発明においては、図４〜図６の中
敷を選択する変わりに靴自体や他のパーツを選択しても
よい。たとえば、図４〜図６の基本中敷部２０を基準の
共通中敷として用意すると共に、付加部２１〜２６を付
加パーツ（貼着パーツ）として前記共通中敷とは別に用
意し、測定結果に応じて前記付加パーツを選択し、該選
択した付加パーツを共通中敷に貼着ないし接着して、靴
の内部に装着してもよい。また、足型およびパーツ等の
種類は２種以上であればよい。
敷を選択する変わりに靴自体や他のパーツを選択しても
よい。たとえば、図４〜図６の基本中敷部２０を基準の
共通中敷として用意すると共に、付加部２１〜２６を付
加パーツ（貼着パーツ）として前記共通中敷とは別に用
意し、測定結果に応じて前記付加パーツを選択し、該選
択した付加パーツを共通中敷に貼着ないし接着して、靴
の内部に装着してもよい。また、足型およびパーツ等の
種類は２種以上であればよい。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
予め足型を決定する表または出力装置を用意すると共
に、足型の類型に応じた靴または靴底パーツを用意する
ので、測定結果に応じて足型に合った靴や靴底パーツを
直ちに選択することができるから、迅速かつ容易に足型
に合った靴を適合させることができる。特に、本発明で
は、個人差の大きい土踏まずのアーチ形状に応じた足型
を計測できるのであるが、単にアーチの高さを測定する
のではなく、更に、アーチの高さを足の傾角で補正する
から、実質的な土踏まずの高さを把握することができ
る。したがって、個人差の大きいアーチ形状に応じた靴
を容易に適合させることができる。
予め足型を決定する表または出力装置を用意すると共
に、足型の類型に応じた靴または靴底パーツを用意する
ので、測定結果に応じて足型に合った靴や靴底パーツを
直ちに選択することができるから、迅速かつ容易に足型
に合った靴を適合させることができる。特に、本発明で
は、個人差の大きい土踏まずのアーチ形状に応じた足型
を計測できるのであるが、単にアーチの高さを測定する
のではなく、更に、アーチの高さを足の傾角で補正する
から、実質的な土踏まずの高さを把握することができ
る。したがって、個人差の大きいアーチ形状に応じた靴
を容易に適合させることができる。
【００３２】また、靴底パーツとして中敷を複数種類用
意すれば、元々、中敷は靴の内部に着脱自在なものであ
るから、コストアップを招くおそれがない。
意すれば、元々、中敷は靴の内部に着脱自在なものであ
るから、コストアップを招くおそれがない。
【００３３】一方、靴底パーツとして共通中敷に貼着す
る付加パーツを複数種類用意すれば、中敷の形状を細く
設定することができるから、差程コストアップを招くこ
となく、多様な足型に対応することができる。
る付加パーツを複数種類用意すれば、中敷の形状を細く
設定することができるから、差程コストアップを招くこ
となく、多様な足型に対応することができる。
【図１】（ａ）は本発明に用いることのできる足型測定
器、（ｂ）は足裏を示す底面図である。
器、（ｂ）は足裏を示す底面図である。
【図２】（ａ）はアーチの高さを示す足の側面図、
（ｂ）は傾角を示すための足の後面図、（ｃ）は足の骨
の内側面図である。
（ｂ）は傾角を示すための足の後面図、（ｃ）は足の骨
の内側面図である。
【図３】足型決定表の平面図である。
【図４】平均アーチ型中敷の平面図および断面図であ
る。
る。
【図５】ローアーチ型中敷の平面図および断面図であ
る。
る。
【図６】ハイアーチ型中敷の平面図および断面図であ
る。
る。
１：足型測定器
２Ｎ，２Ｌ，２Ｈ：中敷
Ｆ：足長
ｈ：高さ
θ：傾角
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 大室 守
神戸市中央区港島中町７丁目１番１ 株
式会社アシックス内
(56)参考文献 特開 平２−228944（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
A43B 13/14
A43D 1/02
Claims (5)
- 【請求項１】 足の内外への傾角と足のアーチの高さ率
とから足型を決定することのできる表または出力装置を
予め用意し、 前記表または出力装置に基づいて決定される足型に対応
する靴または靴底パーツを予め複数種類用意し、 前記傾角とアーチの高さ率とを測定するための足型測定
器を予め用意し、 前記足型測定器により前記傾角およびアーチの高さ率を
測定し、 この測定された傾角およびアーチの高さ率に基づいて前
記表または出力装置から足型を決定し、 該決定された足型に対応する靴または靴底パーツを前記
予め用意された靴または靴パーツから選択する靴または
靴底パーツの適合方法であって、 足長および舟状骨の高さを測定し、前記足長に対する舟
状骨の高さの比から前記アーチの高さ率を求めることを
特徴とする靴または靴底パーツの適合方法。 - 【請求項２】 足の内外への傾角と足のアーチの高さ率
とから足型を決定することのできる表または出力装置を
予め用意し、 前記表または出力装置に基づいて決定される足型に対応
する靴または靴底パーツを予め複数種類用意し、 前記傾角とアーチの高さ率とを測定するための足型測定
器を予め用意し、 前記足型測定器により前記傾角およびアーチの高さ率を
測定し、 この測定された傾角およびアーチの高さ率に基づいて前
記表または出力装置から足型を決定し、 該決定された足型に対応する靴または靴底パーツを前記
予め用意された靴または靴パーツから選択する靴または
靴底パーツの適合方法であって、 踵骨の背面から踵骨の傾きを測定して前記傾角を求める
靴または靴底パーツの適合方法。 - 【請求項３】 足の内外への傾角と足のアーチの高さ率
とから足型を決定することのできる表または出力装置を
予め用意し、 前記表または出力装置に基づいて決定される足型に対応
する靴または靴底パーツを予め複数種類用意し、 前記傾角とアーチの高さ率とを測定するための足型測定
器を予め用意し、 前記足型測定器により前記傾角およびアーチの高さ率を
測定し、 この測定された傾角およびアーチの高さ率に基づいて前
記表または出力装置から足型を決定し、 該決定された足型に対応する靴または靴底パーツを前記
予め用意された靴または靴パーツから選択する靴または
靴底パーツの適合方法であって、 前記足型をローアーチ型、平均アーチ型およびハイアー
チ型の３つ以上の型に分類し、該各分類について前記靴
または靴底パーツを設け、 平均アーチ型とアーチの高さ率が同じであっても前記足
が内側へ傾いた外反が大きい場合にはローアーチ型に分
類し、 一方、平均アーチ型とアーチの高さ率が同じであっても
前記足が外側へ傾いた内反が大きい場合にはハイアーチ
型に分類するようにした靴または靴底パーツの適合方
法。 - 【請求項４】 足の内外への傾角と足のアーチの高さ率
とから足型を決定することのできる表または出力装置を
予め用意し、 前記表または出力装置に基づいて決定される足型に対応
する靴または靴底パーツを予め複数種類用意し、 前記傾角とアーチの高さ率とを測定するための足型測定
器を予め用意し、 前記足型測定器により前記傾角およびアーチの高さ率を
測定し、 この測定された傾角およびアーチの高さ率に基づいて前
記表または出力装置から足型を決定し、 該決定された足型に対応する靴または靴底パーツを前記
予め用意された靴または靴パーツから選択する靴または
靴底パーツの適合方法であって、 前記靴底パーツは、ローアーチ型、平均アーチ型および
ハイアーチ型の少なくとも３種類の中敷を備えている靴
底パーツの適合方法。 - 【請求項５】 足の内外への傾角と足のアーチの高さ率
とから足型を決定することのできる表または出力装置を
予め用意し、 前記表または出力装置に基づいて決定される足型に対応
する靴または靴底パーツを予め複数種類用意し、 前記傾角とアーチの高さ率とを測定するための足型測定
器を予め用意し、 前記足型測定器により前記傾角およびアーチの高さ率を
測定し、 この測定された傾角およびアーチの高さ率に基づいて前
記表または出力装置から足型を決定し、 該決定された足型に対応する靴または靴底パーツを前記
予め用意された靴または靴パーツから選択する靴または
靴底パーツの適合方法であって、 前記靴底パーツは、基準の共通中敷に貼着される付加パ
ーツからなる靴底パーツの適合方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28286999A JP3517163B2 (ja) | 1999-10-04 | 1999-10-04 | 靴または靴底パーツの適合方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28286999A JP3517163B2 (ja) | 1999-10-04 | 1999-10-04 | 靴または靴底パーツの適合方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003328195A Division JP3970822B2 (ja) | 2003-09-19 | 2003-09-19 | 靴または靴底パーツの適合方法、選定システムおよび選定装置ならびに足型の決定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001104005A JP2001104005A (ja) | 2001-04-17 |
| JP3517163B2 true JP3517163B2 (ja) | 2004-04-05 |
Family
ID=17658149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28286999A Expired - Fee Related JP3517163B2 (ja) | 1999-10-04 | 1999-10-04 | 靴または靴底パーツの適合方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3517163B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3921453B2 (ja) * | 2003-04-04 | 2007-05-30 | 株式会社アシックス | 足の傾角測定方法、靴または靴用中敷選択方法、靴または靴用中敷製造方法、および、足の傾角測定装置 |
| US7089152B2 (en) | 2003-06-19 | 2006-08-08 | Mizuno Corporation | System and method for assisting shoe selection |
| JP7079862B2 (ja) | 2019-06-26 | 2022-06-02 | 株式会社アシックス | マーカレス足寸法推定装置、マーカレス足寸法推定方法およびマーカレス足寸法推定プログラム |
-
1999
- 1999-10-04 JP JP28286999A patent/JP3517163B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001104005A (ja) | 2001-04-17 |
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