JP3505757B2 - 超音波スペクトラム顕微鏡 - Google Patents

超音波スペクトラム顕微鏡

Info

Publication number
JP3505757B2
JP3505757B2 JP33392593A JP33392593A JP3505757B2 JP 3505757 B2 JP3505757 B2 JP 3505757B2 JP 33392593 A JP33392593 A JP 33392593A JP 33392593 A JP33392593 A JP 33392593A JP 3505757 B2 JP3505757 B2 JP 3505757B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transducer
spherical
sample
lens
backing material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP33392593A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07198689A (ja
Inventor
雅顕 谷中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Inc filed Critical Toppan Inc
Priority to JP33392593A priority Critical patent/JP3505757B2/ja
Publication of JPH07198689A publication Critical patent/JPH07198689A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3505757B2 publication Critical patent/JP3505757B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、試料の反射係数の入射
角依存性を測定して試料の膜厚や特性を測定する超音波
スペクトラム顕微鏡に係り、特に、測定入射角の小さい
試料の測定に好適な超音波スペクトラム顕微鏡に関す
る。 【0002】 【従来の技術】例えば試料の全体膜厚分布や密着性およ
び材質等を正確に測定,評価する測定手段として超音波
スペクトラム顕微鏡が使用されている。超音波スペクト
ラム顕微鏡には図に示すようなSPPレンズが使用さ
れる。このSPPレンズは超音波を集束させる球面レン
ズ19と試料7から反射する超音波の中の特定入射角成
分のみを受信する平面レンズ20を有する。図示のよう
に、球面レンズ19と平面レンズ20は互いに傾斜して
配設され、ホルダ21に一体的に固定される。球面レン
ズ19の試料7側には凹球面22が形成され、平面レン
ズ20の試料7側には平坦面23がそれぞれ形成され
る。また、球面レンズ19および平面レンズ20にはト
ランスデューサ24が固着される。球面レンズ19から
の超音波は伝達媒体(例えば水)9を通り試料7に集束
されるべく発信され、試料7の表面からの反射波の内、
平坦面23と直交する入射角成分の超音波が平面レンズ
20により選択的に受信される。SPPレンズは入射角
を変えることにより反射係数が変化する入射角依存性を
有する試料7の各特性を測定するものに好適である。こ
の場合、入射角θが臨界角に相当する値になると試料7
の表面に表面波が生じ前記臨界角およびそのときの周波
数等から試料7の膜厚等の測定,特性評価が行われる。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】図に示すように、球
面レンズ19と平面レンズ20は互いに傾斜してホルダ
21に固定されると共に、トランスデューサ24を配設
するための遅延材25が設けられている。一方、試料7
によっては臨界角が小さいものがあり、この場合には測
定入射角を小さくする必要がある。そのため、球面レン
ズ19および平面レンズ20の傾斜角を小さくする必要
があるが、傾斜角を小さくすると遅延材25の断面積が
小さくなり、トランスデューサ24の電極面積も小さく
なる。スペクトラム顕微鏡では受信側に入射される超音
波の周波数成分は大小さまざまであり、遅延材25内で
屈折,干渉する。そのため、トランスデューサ24が小
さいと受信出来ない周波数成分が増加し、所謂周波数分
散(周波数によって強度が変ること)が大となる問題点
が生じる。特に、セラミックコーティングなどの音速の
速い層状物質の場合には低入射角が必要なため従来のS
PPレンズでは精密な測定,特性評価が困難となる問題
点があった。更に、伝達媒体9内において音波は周波数
の2乗に比例して減衰するため、高周波帯のSPPレン
ズは低周波帯のものに比べて減衰が大きく音波強度が低
くなり、大きな面積のトランスデューサ24が必要とな
るが、前記理由によりトランスデューサ24の面積が小
さくなるため周波数分散が大となる。そのため、薄い膜
状物質の定量的測定が困難となる。 【0004】図に示したSPPSレンズにおいて平面
レンズ20側のトランスデューサ24の面積を大きくす
る手段として平面レンズ20の遅延材25中心線より右
側にトランスデューサ24を広げることは可能である。
しかしながら、トランスデューサ24の中心が前記中心
線よりずれると測定結果に悪影響を及ぼすことが計算お
よび実験上明らかにされている。 【0005】本発明は、以上の事情に鑑みて創案された
ものであり、トランスデューサの面積を広くし周波数分
散を小さくし得ると共に、試料の内容に合わせて入射角
を任意に変化させることが出来、高精度な測定,評価が
可能になる超音波スペクトラム顕微鏡を提供することを
目的とする。 【0006】 【課題を解決するための手段】本発明は、以上の目的を
達成するために、バッキング材に超音波を集束させる機
能をもつ球面トランスデューサと前記試料から反射した
超音波の中の特定の入射角成分のみを受信する機能をも
つ平面トランスデューサを設けてなる超音波スペクトラ
ム顕微鏡を構成するものであって、前記バッキング材が
試料側を向いて形成される平坦な一面と球面状の他面を
形成するものからなり、前記一面に平面トランスデュー
サが設けられ前記他面に球面トランスデューサが設けら
れることを特徴とする。 【0007】 【作用】本発明のSPPレンズは従来のそれぞれ独立の
球面レンズおよび平面レンズを有するものと異なり一体
的構造のものからなる。すなわち、単一のバッキング材
の一面および他面に超音波の集束用の球面トランスデュ
ーサと受信用の平面トランスデューサを設けたものから
なる。そのため、バッキング材のトランスデューサ取り
付け面積を増大させることにより周波数分散の抑制され
たトランスデューサを形成することが出来る。また、バ
ッキング材を傾斜させることにより任意の入射角の超音
波を発信,受信させることが出来る。以上により、低入
射角の薄い膜状物質の測定,特性評価を高精度に行うこ
とが出来る。 【0008】 【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づき説明す
る。図1は別体の球面トランスデューサと平面トランス
デューサを用いた本発明の一実施例の構造を説明するた
めの断面図、図2は図1の測定方法を説明するための線
である。 【0009】図1に示すように、この超音波スペクトラ
ム顕微鏡1は、バッキング材3と球面トランスデューサ
4および平面トランスデューサ5からなるSPPレンズ
2と、発信側の球面トランスデューサ4に連結する電気
インパルス手段6と、受信側の平面トランスデューサ5
に連結し試料7の測定,特性評価を行う画像処理手段8
等から構成される。なお、SPPレンズ2は伝達媒体の
水9を介して試料7と相対向する位置に配設される。S
PPレンズ2のバッキング材3は試料7側を向く一面に
平坦面10を形成すると共に、前記一面と相対向する他
面に球状面11を形成する透明体からなる。なお、バッ
キング材3は従来のSPPレンズの遅延材に相当するも
のである。バッキング材3の平坦面10には平面トラン
スデューサ5が固定され、球状面11には球面トランス
デューサ4が固定される。また、バッキング材3は図略
の回動機構部に回動可能に支持される。更に、試料面に
沿って2次元的に走査される。 【0010】電気インパルス手段6から発信される所定
周波数帯の超音波は球面トランスデューサ4により球面
波となり、矢印Aのようにバッキング材3内を進み、バ
ッキング材3と水9の界面で屈折し、試料7上の焦点P
に集束する。この発信波は焦点Pで反射する。反射波の
内、焦点Pから垂直に矢印Bのように反射した超音波成
分のみが選択的に平面トランスデューサ5に入射し受信
される。一方、バッキング材3を適宜回動することによ
り、入射角を任意に変えることが出来、例えば臨界角に
おける反射係数等を求めることが出来る。図示のよう
に、バッキング材3の平坦面10および球状面11は任
意の面積にすることが可能であり、球面トランスデュー
サ4および平面トランスデューサ5の電極面積を増大す
ることが出来る。これにより周波数分散を小さくするこ
とが出来る。 【0011】図1のSPPレンズ2の場合、図示のよう
に球面トランスデューサ4から発信される入射波が平面
トランスデューサ5を通過してから試料7側に入射され
る。そのため、平面トランスデューサ5は入射波の影響
を受ける。平面トランスデューサ5が受信する超音波は
試料7からの反射波に限定することが必要なため次のよ
うな方法で入射波と反射波を分離する。図2は横軸に経
過時間tをとり、縦軸に平面トランスデューサ5が受信
する超音波の振幅を示したものである。時間tiは球面
トランスデューサ4から発信された入射波がバッキング
材3を通過し平面トランスデューサ5に到達するまでの
時間を示し、時間trは前記入射波が水9内を通し試料
7で反射し、その反射波が平面トランスデューサ5に到
達するまでの遅延時間を示す。平面トランスデューサ5
の解析範囲を時間trの部位に限定して行うようにフィ
ルタがけをすることにより時間tiにおける入射波の影
響を取り除くことが出来る。 【0012】 【発明の効果】本発明によれば、次のような顕著な効果
を奏する。 1)超音波を集束させる機能をもつ球面トランスデュー
サと特定の入射角成分だけを選択受信する機能を有する
平面トランスデューサを一体化する構造を採用すること
により試料の材質,形状等に対応し得る面積化されたト
ランスデューサを形成することが出来る。 2)トランスデューサが有限である事に起因する周波数
分散が大になる欠点を低減することが出来、試料の高精
度な測定,特性評価が出来る。 3)セラミックコーティングなどの音速の速い層状物質
で測定入射角が小さい物質の定量的測定が可能になり使
用範囲が拡大する。 4)全体構造がコンパクトにまとめられる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の一実施例の全体構造を示す断面図。 【図2】図1の実施例による測定方法を説明するための
線図。 【図3】従来のSPPレンズの断面図。 【符号の説明】 1 超音波スペクトラム顕微鏡 2 SPPレンズ 3 バッキング材 4 球面トランスデューサ 5 平面トランスデューサ 6 電気インパルス手段 7 試料 8 画像処理手段 9 水 10 平坦面 11 球状面

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 バッキング材にトランスデューサを設
    け、受信波の画像処理手段を有する超音波スペクトラム
    顕微鏡において、 バッキング材に超音波を集束させる機能をもつ球面トラ
    ンスデューサと前記試料から反射した超音波の中の特定
    の入射角成分のみを受信する機能をもつ平面トランスデ
    ューサを設けたものであって、 前記バッキング材が試料側を向いて形成される平坦な一
    面と球面状の他面を形成するものからなり、前記一面に
    平面トランスデューサが設けられ前記他面に球面トラン
    スデューサが設けられてなる 超音波スペクトラム顕微
    鏡。
JP33392593A 1993-12-28 1993-12-28 超音波スペクトラム顕微鏡 Expired - Fee Related JP3505757B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33392593A JP3505757B2 (ja) 1993-12-28 1993-12-28 超音波スペクトラム顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33392593A JP3505757B2 (ja) 1993-12-28 1993-12-28 超音波スペクトラム顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07198689A JPH07198689A (ja) 1995-08-01
JP3505757B2 true JP3505757B2 (ja) 2004-03-15

Family

ID=18271505

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33392593A Expired - Fee Related JP3505757B2 (ja) 1993-12-28 1993-12-28 超音波スペクトラム顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3505757B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7611465B2 (en) * 2003-07-15 2009-11-03 Board Of Regents, The University Of Texas System Rapid and accurate detection of bone quality using ultrasound critical angle reflectometry

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07198689A (ja) 1995-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5079952A (en) Ultrasonic transducer assembly and ultrasonic acoustic microscope
US4967873A (en) Acoustic lens apparatus
JP3505757B2 (ja) 超音波スペクトラム顕微鏡
CA1225733A (en) Scanning acoustic microscope
Smolorz et al. Focusing PVDF transducers for acoustic microscopy
EP0121690B1 (en) Acoustic microscope
JPH03113362A (ja) 円錐状超音波偏向要素
US6543287B1 (en) Method for acoustic imaging by angle beam
JP3379166B2 (ja) 超音波スペクトラム顕微鏡
JP3505753B2 (ja) 超音波スペクトラム顕微鏡
JP2883051B2 (ja) 超音波臨界角探傷装置
CN109374739B (zh) 一种基于环形面阵的超声显微镜及方法
JP3261827B2 (ja) 超音波スペクトラム顕微鏡
JP2580766B2 (ja) 超音波顕微鏡レンズおよびそのレンズを用いた反射波採取方法
JP2667684B2 (ja) 焦点探触子
SU1610427A1 (ru) Способ определени акустических характеристик образца
JP3027495B2 (ja) 超音波プローブ
JPH05256828A (ja) 音波変換素子
JPH0731169Y2 (ja) 超音波探触子
JPS62130351A (ja) 超音波顕微鏡用音響レンズ
JPS60174911A (ja) 超音波顕微鏡
JP3404844B2 (ja) 超音波スペクトラム顕微鏡
Canumalla Metrology of adhesive layers using acoustic microscopy
JPH0755778A (ja) 超音波探触子
Fitting et al. A hemispherical test fixture for measuring the wavefields generated in an anisotropic solid

Legal Events

Date Code Title Description
A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20031208

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071226

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081226

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091226

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees