JP3490582B2 - Substrate processing equipment - Google Patents

Substrate processing equipment

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JP3490582B2
JP3490582B2 JP1392697A JP1392697A JP3490582B2 JP 3490582 B2 JP3490582 B2 JP 3490582B2 JP 1392697 A JP1392697 A JP 1392697A JP 1392697 A JP1392697 A JP 1392697A JP 3490582 B2 JP3490582 B2 JP 3490582B2
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chemical
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体基板や液
晶ガラス基板などの薄板状基板(以下、単に「基板」と
称する)に対して熱処理および薬液処理を含む一連の処
理を行う基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus for performing a series of processes including heat treatment and chemical treatment on a thin substrate (hereinafter simply referred to as "substrate") such as a semiconductor substrate or a liquid crystal glass substrate. .

【0002】[0002]

【従来の技術】基板処理に際しては、その雰囲気の制御
が重要であるため、上記のような基板処理装置は通常ク
リーンルームなどの清浄な環境に設置されている。特に
薬液処理部(例えば、基板表面にフォトレジストを塗布
するレジスト塗布処理部や露光後の基板を現像する現像
処理部など)は、その雰囲気の清浄度のみならず温度や
湿度も処理結果に大きな影響を及ぼすため、厳密に雰囲
気制御を行う必要がある。
2. Description of the Related Art In the processing of substrates, it is important to control the atmosphere, and thus the substrate processing apparatus as described above is usually installed in a clean environment such as a clean room. In particular, the chemical solution processing section (for example, a resist coating processing section for coating a photoresist on the surface of a substrate or a development processing section for developing a substrate after exposure) has a large effect on not only the cleanliness of the atmosphere but also the temperature and humidity. Since it has an influence, it is necessary to strictly control the atmosphere.

【0003】そこで、従来より、薬液処理部に対して
は、装置外部に設けられた温湿度管理ユニットによって
温度および湿度が調整、制御された空気を供給するよう
に構成している。このような温湿度管理ユニットとして
は、装置本体とは別のスペースに設置されたものや、装
置の上面全体を覆うように設置されたものがある。
Therefore, conventionally, the chemical liquid processing unit is configured to be supplied with air whose temperature and humidity are adjusted and controlled by a temperature / humidity management unit provided outside the apparatus. As such a temperature / humidity management unit, there are a unit installed in a space different from the main body of the device and a unit installed so as to cover the entire upper surface of the device.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な温湿度管理ユニットの場合、その設置スペースが必要
となるため、基板処理システム全体としてのフットプリ
ント(基板処理装置が平面的に占有する面積)が大きな
ものとなり、クリーンルームの効率的な利用を妨げるこ
とになる。
However, in the case of the temperature / humidity management unit as described above, an installation space for the unit is required, so that the footprint of the substrate processing system as a whole (the area occupied by the substrate processing apparatus in a plane) is required. ) Will become a big factor and hinder the efficient use of the clean room.

【0005】また、温湿度管理ユニットを装置外部に設
置しているため、温度および湿度が調整された空気をダ
クトによって装置まで導く必要がある。このときに、ダ
クトのためのスペースも必要になるため、基板処理シス
テム全体としてのフットプリントがさらに増大するとい
う問題がある。さらに、当該ダクトからの放熱(又はダ
クト外部からの吸熱)等によって熱的なエネルギーロス
が発生するとともに、薬液処理部における空気の温調が
困難になるという問題も生じる。
Further, since the temperature / humidity management unit is installed outside the apparatus, it is necessary to introduce air whose temperature and humidity are adjusted to the apparatus by a duct. At this time, since a space for the duct is also required, there is a problem that the footprint of the entire substrate processing system is further increased. Further, there is a problem that thermal energy loss occurs due to heat radiation from the duct (or heat absorption from the outside of the duct) and the like, and it becomes difficult to control the temperature of the air in the chemical liquid processing section.

【0006】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、フットプリントを増大させることなく、薬液処
理部に対して温度および湿度が調整された空気を安定し
て供給することができる基板処理装置を提供することを
目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and a substrate capable of stably supplying temperature- and humidity-adjusted air to a chemical treatment unit without increasing the footprint. An object is to provide a processing device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、基板に対して熱処理および薬液
処理を含む一連の処理を行う基板処理装置であって、
(a) 前記薬液処理を行う薬液処理部と、(b) 前記薬液処
理部の鉛直方向上方に設けられ、前記熱処理を行う熱処
理部と、(c) 前記薬液処理部の直上であって前記薬液処
理部と前記熱処理部との間に配置され、前記薬液処理部
に温度および湿度が調整された温湿調空気を供給する空
気調整部と、を備えている。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention of claim 1 is a substrate processing apparatus for performing a series of processes including heat treatment and chemical treatment on a substrate,
(a) a chemical treatment unit for performing the chemical treatment, (b) a heat treatment unit provided vertically above the chemical treatment unit for performing the heat treatment, and (c) the chemical treatment just above the chemical treatment unit. An air conditioning unit that is disposed between the processing unit and the heat treatment unit and that supplies temperature and humidity adjusted temperature and humidity controlled air to the chemical liquid processing unit.

【0008】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
に係る基板処理装置において、(d)前記薬液処理部、前
記熱処理部および前記空気調整部に接して設けられた搬
送路と、(e) 前記搬送路上を移動可能に設置され、前記
薬液処理部および前記熱処理部に対して基板の受け渡し
を行う基板搬送装置と、をさらに備え、前記搬送路と前
記空気調整部との間では空気の流通が遮断されている。
According to a second aspect of the invention, in the substrate processing apparatus according to the first aspect of the invention, (d) a transport path provided in contact with the chemical liquid processing section, the heat treatment section and the air conditioning section, (e) further provided with a substrate transfer device that is movably installed on the transfer path and transfers the substrate to the chemical solution processing section and the heat treatment section, and between the transfer path and the air adjusting section. Air circulation is blocked.

【0009】また、請求項3の発明は、請求項1または
請求項2の発明に係る基板処理装置において、前記薬液
処理部に供給された前記温湿調空気を前記空気調整部に
還流し、前記空気調整部において再利用を行っている。
According to a third aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first or second aspect of the invention, the temperature / humidity adjusted air supplied to the chemical liquid processing section is returned to the air adjusting section, Reuse is performed in the air conditioning unit.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0011】図1は、本発明に係る基板処理装置の概略
平面配置図である。また、図2は、図1の基板処理装置
の模式的斜視図である。なお、図1から図4の各図に
は、その方向関係を明確にするためXYZ直角座標系を
付している。ここでは、床面に平行な水平面をXY面と
し、鉛直方向をZ方向としている。そして、(+X)方
向と(−X)方向とを区別しない場合には単に「X方
向」と呼ぶ(「Y」および「Z」についても同様とす
る)。
FIG. 1 is a schematic plan layout view of a substrate processing apparatus according to the present invention. 2 is a schematic perspective view of the substrate processing apparatus of FIG. In addition, in each of FIGS. 1 to 4, an XYZ rectangular coordinate system is attached to clarify the directional relationship. Here, the horizontal plane parallel to the floor surface is the XY plane, and the vertical direction is the Z direction. When the (+ X) direction and the (−X) direction are not distinguished, they are simply referred to as the “X direction” (the same applies to “Y” and “Z”).

【0012】図1に示すように、基板処理装置は、基板
の搬出入を行うインデクサIDと、基板の搬送が行われ
る搬送路Rと、第1処理部群Aと、第2処理部群Bとを
備えている。
As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus includes an indexer ID for loading / unloading a substrate, a transport path R for transporting the substrate, a first processing section group A, and a second processing section group B. It has and.

【0013】インデクサIDは、図示を省略する基板収
納カセットを載置するとともに、当該カセットから基板
を払い出し又は格納する基板移載装置を備えている。そ
して、インデクサIDは、未処理基板を第1処理部群A
および第2処理部群Bに供給するとともに、処理済み基
板を収容する役割を果たしている。また、インデクサI
Dには制御部10が設けられており、当該制御部10は
後述する基板搬送ロボットの動作、種々の熱処理、薬液
処理および空気調整ユニットなど基板処理装置の各種動
作を管理・制御している。なお、図2には、図示の便宜
上インデクサIDの記載は省略している。
The indexer ID is provided with a substrate transfer device for placing a substrate storage cassette (not shown) on it and discharging or storing the substrate from the cassette. Then, the indexer ID uses the unprocessed substrate as the first processing unit group A.
And supplies the second processing unit group B and stores the processed substrate. Also, indexer I
A control unit 10 is provided in D, and the control unit 10 manages and controls various operations of the substrate processing robot such as an operation of a substrate transfer robot described later, various heat treatments, chemical solutions, and an air conditioning unit. In FIG. 2, the indexer ID is omitted for convenience of illustration.

【0014】搬送路Rには、図2に示すように、2台の
基板搬送ロボットTH、TCが設けられている。これら
基板搬送ロボットTH、TCは、インデクサIDおよび
第1処理部群A、第2処理部群Bに含まれる各処理部間
における基板の循環搬送を担当する。ここで、基板搬送
ロボットTCは、搬送路Rにおいて下方より立設され、
また、基板搬送ロボットTHは、搬送路Rにおいて基板
搬送ロボットTCとは異なる高さに上方より懸吊されて
いる。そして、2台の基板搬送ロボットTH、TCは共
にX方向に移動自在であり、さらに高さ方向(Z方向)
駆動および回転駆動が可能に構成されている。
On the transfer path R, as shown in FIG. 2, two substrate transfer robots TH and TC are provided. The substrate transfer robots TH and TC are in charge of circulating transfer of substrates between the indexer ID and the processing units included in the first processing unit group A and the second processing unit group B. Here, the substrate transfer robot TC is erected from below in the transfer path R,
Further, the substrate transfer robot TH is suspended from above in the transfer path R at a height different from that of the substrate transfer robot TC. The two substrate transfer robots TH and TC are both movable in the X direction and further in the height direction (Z direction).
It can be driven and rotated.

【0015】第1処理部群Aおよび第2処理部群Bは搬
送路Rを挟むようにして対向して設けられている。図3
は、図1のIII−III位置から(−Y)方向に見た基板処
理装置の概略側面配置図であり、第1処理部群Aの側面
構造を示している。図示の如く、第1処理部群Aは、上
から順に加熱処理部列HL、冷却処理部列CL、空気調
整ユニットF、薬液処理部列LLを鉛直方向に重なるよ
うに配設した多段処理部列である。また、第2処理部群
Bも第1処理部群Aを同様の構成である。なお、ケミカ
ルキャビネットCBは第1処理部群A、第2処理部群B
および搬送路Rの全体における基底部であり、レジスト
や現像液などの薬液を貯蔵する薬液タンクや処理後の廃
液を回収する廃液回収ユニットが配設されるスペースで
ある。
The first processing section group A and the second processing section group B are provided so as to face each other with the transport path R interposed therebetween. Figure 3
FIG. 3 is a schematic side view layout view of the substrate processing apparatus as viewed in the (−Y) direction from the position III-III in FIG. 1, showing a side structure of the first processing unit group A. As shown in the figure, the first processing unit group A is a multi-stage processing unit in which a heating processing unit row HL, a cooling processing unit row CL, an air conditioning unit F, and a chemical liquid processing unit row LL are arranged in this order from the top so as to overlap in the vertical direction. It is a column. The second processing unit group B has the same configuration as the first processing unit group A. The chemical cabinet CB has a first processing group A and a second processing group B.
Further, it is a base portion of the entire transport path R, and is a space in which a chemical liquid tank for storing a chemical liquid such as a resist or a developing liquid and a waste liquid recovery unit for recovering a waste liquid after processing are arranged.

【0016】上記において加熱処理部列HLには、複数
のホットプレート(加熱処理部)が水平方向(X方向)
および鉛直方向(Z方向)に2次元的に配列されてい
る。同様に、冷却処理部列CLにも複数のクールプレー
ト(冷却処理部)が水平方向(X方向)および鉛直方向
(Z方向)に2次元的に配列されている。ここで、ホッ
トプレートは基板に加熱処理を施すオーブンであり、ま
た、クールプレートは加熱された基板を冷却するための
冷却プレートである。従って、ホットプレートおよびク
ールプレートは基板に対して熱の授受を行う処理部とみ
なすことができ、以下、本明細書中においては、これら
を総称して「熱処理部」と呼ぶ。
In the above, a plurality of hot plates (heat processing units) are arranged in the horizontal direction (X direction) in the heat processing unit row HL.
And are arranged two-dimensionally in the vertical direction (Z direction). Similarly, a plurality of cool plates (cooling processing units) are two-dimensionally arranged in the horizontal direction (X direction) and the vertical direction (Z direction) in the cooling processing unit row CL. Here, the hot plate is an oven that heats the substrate, and the cool plate is a cooling plate that cools the heated substrate. Therefore, the hot plate and the cool plate can be regarded as a processing unit that transfers heat to and from the substrate, and in the present specification, these are collectively referred to as a “heat treatment unit”.

【0017】また、薬液処理部列LLには、水平方向
(X方向)にスピンコータ(回転式レジスト塗布装置)
SC1、SC2およびスピンデベロッパ(回転式現像装
置)SD1が1次元的に配列されている(図2参照)。
スピンコータおよびスピンデベロッパは、それぞれレジ
ストおよび現像液を使用しつつ所定の処理を行う処理部
であり、本明細書中ではこれらを総称して薬液処理部と
いう。
Further, a spin coater (rotary resist coating device) is provided in the horizontal direction (X direction) in the chemical solution processing unit row LL.
SC1, SC2 and spin developer (rotary developing device) SD1 are arranged one-dimensionally (see FIG. 2).
The spin coater and the spin developer are processing units that perform predetermined processing while using a resist and a developing solution, respectively, and are collectively referred to as a chemical solution processing unit in this specification.

【0018】また、空気調整ユニットFは、薬液処理部
列LLの直上であって薬液処理部列LLと冷却処理部列
CLとの間に配置されている。言い換えると、空気調整
ユニットFは、熱処理部と薬液処理部との間に挟み込ま
れて配置されている。そして、空気調整ユニットFは、
空気中に浮遊している微粒子(パーティクル)が除去さ
れてさらに温度および湿度が調整された空気(温湿調空
気)を各薬液処理部に供給する機能を有している。この
空気調整ユニットFの構成については、後にさらに説明
する。
The air conditioning unit F is arranged directly above the chemical treatment unit row LL and between the chemical treatment unit row LL and the cooling treatment unit row CL. In other words, the air conditioning unit F is arranged so as to be sandwiched between the heat treatment section and the chemical solution treatment section. And the air conditioning unit F
It has a function of supplying fine chemicals (particles) floating in the air and supplying air (temperature and humidity controlled air) whose temperature and humidity are adjusted to each chemical liquid processing section. The structure of the air conditioning unit F will be further described later.

【0019】本発明に係る基板処理装置では、空気調整
ユニットFが熱処理部と薬液処理部との間に配置されて
いるため、当該空気調整ユニットFのための特別なスペ
ースを設ける必要がなくなり、基板処理装置全体として
のフットプリントの増大を防ぐことができる。また、空
気調整ユニットFは薬液処理部の直上に位置し、両処理
部間にダクトを設ける必要がないため、熱的なエネルギ
ーロスを低減できるとともに、薬液処理部に温度および
湿度が調整された空気を安定して供給することができ
る。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, since the air conditioning unit F is arranged between the heat treatment section and the chemical solution processing section, it is not necessary to provide a special space for the air conditioning unit F. It is possible to prevent an increase in the footprint of the substrate processing apparatus as a whole. Further, since the air conditioning unit F is located directly above the chemical treatment section and it is not necessary to provide a duct between both treatment sections, thermal energy loss can be reduced and the temperature and humidity are regulated in the chemical treatment section. Air can be stably supplied.

【0020】図4は、図1のV−V位置から(+X)方
向に見た基板処理装置の側面構成図である。なお、図4
中の太線矢印は、空気調整ユニットF周辺の空気の流れ
を示すものである。図示のように、この位置においては
第1処理部群Aに上から順にホットプレートHP1、H
P2、HP3、クールプレートCP1、CP2、空気調
整ユニットF、スピンコータSC1が配置されている。
また、同様に、この位置において、第2処理部群Bには
上から順にホットプレートHP4、HP5、HP6、ク
ールプレートCP3、CP4、空気調整ユニットF、ス
ピンコータSC3が配置されている。そして、両処理部
群の間には2台の基板搬送ロボットTH、TCが設けら
れている。
FIG. 4 is a side view of the substrate processing apparatus viewed in the (+ X) direction from the VV position in FIG. Note that FIG.
The thick arrow in the middle indicates the flow of air around the air conditioning unit F. As shown in the figure, at this position, the hot plates HP1, H
P2, HP3, cool plates CP1, CP2, an air conditioning unit F, and a spin coater SC1 are arranged.
Similarly, at this position, hot plates HP4, HP5, HP6, cool plates CP3, CP4, an air conditioning unit F, and a spin coater SC3 are arranged in this order in the second processing unit group B from the top. Two substrate transfer robots TH and TC are provided between both processing unit groups.

【0021】基板搬送ロボットTCはX方向駆動機構2
0とZ方向(鉛直方向)駆動機構30と回動機構40と
アームスライド機構50とを備えている。また、基板搬
送ロボットTHもX方向駆動機構60が異なる他は、基
板搬送ロボットTCと同様の駆動機構を備えている。X
方向駆動機構20、60は、その設置される位置が異な
るものの、共に螺軸に螺合したナット部材をモータによ
って正逆回転させることにより、ロボットをレール上に
おいてX方向に移動する構成である。また、Z方向駆動
機構30は、パンタグラフ構造の屈伸駆動を利用した駆
動機構である。さらに、回動機構40およびアームスラ
イド機構50は、基板搬送ロボットTC、THのアーム
を水平面内において回動させる機能およびそのアームを
前進後退させる機能を担っている。
The substrate transfer robot TC has an X-direction drive mechanism 2
0 and Z direction (vertical direction) drive mechanism 30, rotation mechanism 40, and arm slide mechanism 50 are provided. The substrate transfer robot TH is also provided with the same drive mechanism as the substrate transfer robot TC except that the X-direction drive mechanism 60 is different. X
Although the directional drive mechanisms 20 and 60 are installed at different positions, they are configured to move the robot in the X direction on the rails by rotating the nut members screwed on the screw shafts forward and backward by the motor. The Z-direction drive mechanism 30 is a drive mechanism that uses bending and stretching drive of a pantograph structure. Further, the rotation mechanism 40 and the arm slide mechanism 50 have a function of rotating the arms of the substrate transfer robots TC and TH in a horizontal plane and a function of moving the arms forward and backward.

【0022】基板搬送ロボットTC、THは上記各駆動
機構を備えることによって搬送路R上を移動すること
と、薬液処理部や熱処理部にアクセスし、それら各処理
部との間で基板の受け渡しを行うことが可能となる。な
お、ここで考えている基板処理装置においては、薬液処
理部で処理される基板への熱的影響を防ぐため、基板搬
送ロボットTCが薬液処理部および冷却処理部にアクセ
スし、基板搬送ロボットTHが加熱処理部および冷却処
理部にアクセスするように制御している。
The substrate transfer robots TC and TH are provided with the respective drive mechanisms described above to move on the transfer path R and to access the chemical solution processing section and the heat processing section to transfer the substrates to and from the processing sections. It becomes possible to do. In the substrate processing apparatus considered here, the substrate transfer robot TC accesses the chemical processing unit and the cooling processing unit to prevent thermal influence on the substrate processed in the chemical processing unit, and the substrate transfer robot TH Controls to access the heat treatment section and the cooling treatment section.

【0023】次に、空気調整ユニットFの構成について
説明する。既述したように、空気調整ユニットFは薬液
処理部列LLの直上、すなわちスピンコータSC1、S
C2、SC3、SC4、スピンデベロッパSD1、SD
2(図2参照)の直上に設けられている。
Next, the structure of the air conditioning unit F will be described. As described above, the air conditioning unit F is located immediately above the chemical treatment unit row LL, that is, the spin coaters SC1 and S.
C2, SC3, SC4, spin developers SD1, SD
2 (see FIG. 2).

【0024】図5は、空気調整ユニットFの構成図であ
る。空気調整ユニットFは、ファン70と温湿度制御部
80とフィルタ90とを備えている。そして、温湿度制
御部80は、冷凍機81とヒータ82と加湿器83とを
備えている。ファン70の回転によって上方より取り入
れられた空気には、冷凍機81およびヒータ82によっ
て温度調節が行われ、さらに加湿器83によって湿度調
整が行われる。この際に、薬液処理部に設けた温湿度セ
ンサー(図示省略)の検知した信号に基づいて、当該薬
液処理部に供給される空気が所定の温度および湿度とな
るように温湿度調整が行われる。温湿度調整が行われた
空気は、フィルタ90を通過することによってパーティ
クルが除去された後、空気調整ユニットFの下方に送り
出される。なお、フィルタ90に使用するフィルタとし
ては、ヘパフィルタ(HEPA, Highefficiency particulat
e air-filter)や、より高い清浄度が要求される場合に
はウルパフィルタ(ULPA, Ultra low penetration air-f
ilter)を用いるようにすればよい。
FIG. 5 is a block diagram of the air conditioning unit F. The air conditioning unit F includes a fan 70, a temperature / humidity controller 80, and a filter 90. The temperature / humidity control unit 80 includes a refrigerator 81, a heater 82, and a humidifier 83. The temperature of the air taken in from above by the rotation of the fan 70 is adjusted by the refrigerator 81 and the heater 82, and the humidity is adjusted by the humidifier 83. At this time, temperature / humidity adjustment is performed based on a signal detected by a temperature / humidity sensor (not shown) provided in the chemical liquid processing unit so that the air supplied to the chemical liquid processing unit has a predetermined temperature and humidity. . The air whose temperature and humidity have been adjusted passes through the filter 90 to remove particles, and then is sent out below the air conditioning unit F. As a filter used for the filter 90, a hepa filter (HEPA, High efficiency particulat
e air-filter) and ULPA (Ultra low penetration air-f) when higher cleanliness is required.
ilter) should be used.

【0025】図4に戻り、空気調整ユニットFは、基板
処理装置中において図中の開口部W2より外部の空気を
取り入れている。そして、図中の位置W1の部分は閉鎖
されている。すなわち、空気調整ユニットFと搬送路R
との空気の流通は遮断されており、空気調整ユニットF
が搬送路Rより空気を取り入れることはない。
Returning to FIG. 4, the air conditioning unit F takes in outside air from the opening W2 in the drawing in the substrate processing apparatus. The portion at the position W1 in the figure is closed. That is, the air conditioning unit F and the transport path R
The flow of air to and from
Does not take in air from the transport path R.

【0026】搬送路Rにおいては、基板搬送ロボットT
C、THが移動しているためパーティクルが発生してい
ることもあり、また、複数の加熱処理部からの放熱によ
り空気の温度が上昇していることもある。本発明に係る
基板処理装置では、空気調整ユニットFが搬送路Rより
空気を取り入れることはないため、パーティクルを含ん
だり或いは温度が上昇した空気を当該空気調整ユニット
Fが取り入れることがなくなり、その結果空気調整ユニ
ットFの負担を軽減することができる。
In the transfer path R, the substrate transfer robot T
Particles may be generated because C and TH are moving, and the temperature of the air may be increased due to heat radiation from the plurality of heat treatment units. In the substrate processing apparatus according to the present invention, since the air conditioning unit F does not take in air from the transfer path R, the air conditioning unit F does not take in air that contains particles or whose temperature has risen. The load on the air conditioning unit F can be reduced.

【0027】また、空気調整ユニットFからスピンコー
タSC1(又はスピンコータSC3)に供給された温湿
度調整済みの空気は、そのスピンコータSC1中におい
てダウンフロー(上方から下方に向かう一方向流)を形
成した後、開口部W3を経て上昇し、開口部W2から流
入した空気と合流して、再び空気調整ユニットFに取り
込まれ、再利用される。
The temperature-humidity-adjusted air supplied from the air conditioning unit F to the spin coater SC1 (or spin coater SC3) forms a downflow (one-way flow from the upper side to the lower side) in the spin coater SC1. , Rises through the opening W3, merges with the air that has flowed in through the opening W2, is taken into the air conditioning unit F again, and is reused.

【0028】このようにすれば、既に温度および湿度が
調整された空気を再利用することになるため、熱的なエ
ネルギーロスを低減できるとともに、空気調整ユニット
Fの負担を軽減することが可能となる。
In this way, the air whose temperature and humidity have already been adjusted is reused, so that it is possible to reduce the thermal energy loss and the load on the air adjustment unit F. Become.

【0029】以上、本発明の実施形態について説明した
が、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
例えば、基板搬送ロボットは、2台に限定されるもので
はなく、1台であってもよく、その駆動機構もプーリと
ベルトを用いたベルト送り機構など公知の駆動機構が適
用できる。
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments.
For example, the substrate transfer robot is not limited to two units, and may be one unit, and the drive mechanism thereof may be a known drive mechanism such as a belt feed mechanism using a pulley and a belt.

【0030】また、フィルタ90に使用するフィルタと
しては、アンモニアガスなどを吸着する化学吸着フィル
タをさらに備えるようにしてもよい。
The filter used in the filter 90 may further include a chemical adsorption filter for adsorbing ammonia gas or the like.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上、説明したように、請求項1の発明
によれば、薬液処理を行う薬液処理部と、薬液処理部の
鉛直方向上方に設けられ、熱処理を行う熱処理部と、薬
液処理部の直上であって薬液処理部と熱処理部との間に
配置され、薬液処理部に温度および湿度が調整された温
湿調空気を供給する空気調整部とを備えているため、当
該空気調整部のための特別なスペースを設ける必要がな
くなり、基板処理装置全体としてのフットプリントの増
大を防ぐことができる。また、空気調整部は薬液処理部
の直上に位置し、両処理部間に温湿調空気を導くための
ダクトを設ける必要がないため、熱的なエネルギーロス
を低減できるとともに、薬液処理部に温度および湿度が
調整された空気を安定して供給することができる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the chemical solution processing section for performing the chemical solution processing, the heat treatment section provided vertically above the chemical solution processing section for performing the heat treatment, and the chemical solution processing are provided. The air conditioner, which is disposed directly above the chemical treatment unit and between the chemical treatment unit and the heat treatment unit, and which includes an air conditioning unit for supplying temperature and humidity regulated air whose temperature and humidity are regulated to the chemical treatment unit. It is not necessary to provide a special space for the part, and it is possible to prevent an increase in the footprint of the substrate processing apparatus as a whole. Further, since the air conditioning unit is located directly above the chemical treatment unit and it is not necessary to provide a duct for guiding the temperature and humidity controlled air between both treatment units, thermal energy loss can be reduced and the chemical treatment unit can be reduced. Air whose temperature and humidity have been adjusted can be stably supplied.

【0032】また、請求項2の発明によれば、薬液処理
部、熱処理部および空気調整部に接して設けられ、基板
搬送装置が移動可能に設置された搬送路と当該空気調整
部との間では空気の流通が遮断されているため、基板搬
送装置の移動によりパーティクルを含んだり或いは熱処
理部により温度が上昇した搬送路上の空気が空気調整部
に取り入れられることがなく、空気調整部の負担を軽減
することができる。
According to the second aspect of the present invention, between the liquid adjusting section, the heat treating section and the air adjusting section, between the conveying path in which the substrate conveying apparatus is movably installed and the air adjusting section. Since the air flow is blocked, the air on the transfer path that contains particles due to the movement of the substrate transfer device or the temperature of the transfer path whose temperature has risen due to the heat treatment section is not taken into the air adjustment section. Can be reduced.

【0033】また、請求項3の発明によれば、薬液処理
部に供給された温湿調空気を空気調整部に還流し、空気
調整部において再利用を行っているため、熱的なエネル
ギーロスを低減できるとともに、空気調整部の負担を軽
減することが可能となる。
Further, according to the third aspect of the invention, since the temperature and humidity controlled air supplied to the chemical liquid processing section is returned to the air conditioning section and reused in the air conditioning section, thermal energy loss is caused. It is possible to reduce the load and the load on the air adjusting unit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る基板処理装置の概略平面配置図で
ある。
FIG. 1 is a schematic plan layout view of a substrate processing apparatus according to the present invention.

【図2】図1の基板処理装置の模式的斜視図である。FIG. 2 is a schematic perspective view of the substrate processing apparatus of FIG.

【図3】図1のIII−III位置から(−Y)方向に見た基
板処理装置の概略側面配置図である。
3 is a schematic side view layout view of the substrate processing apparatus as viewed in the (−Y) direction from the position III-III in FIG. 1. FIG.

【図4】図1のV−V位置から(+X)方向に見た基板
処理装置の側面構成図である。
FIG. 4 is a side view of the substrate processing apparatus viewed from the VV position in FIG. 1 in the (+ X) direction.

【図5】空気調整ユニットFの構成図である。5 is a configuration diagram of an air conditioning unit F. FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

HL 加熱処理部列 CL 冷却処理部列 LL 薬液処理部列 F 空気調整ユニット TC、TH 基板搬送ロボット R 搬送路 HL heat treatment section line CL cooling processing line LL Chemical treatment line F Air conditioning unit TC, TH substrate transfer robot R transport path

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/02 H01L 21/027 H01L 21/68 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/02 H01L 21/027 H01L 21/68

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板に対して熱処理および薬液処理を含
む一連の処理を行う基板処理装置であって、 (a) 前記薬液処理を行う薬液処理部と、 (b) 前記薬液処理部の鉛直方向上方に設けられ、前記熱
処理を行う熱処理部と、 (c) 前記薬液処理部の直上であって前記薬液処理部と前
記熱処理部との間に配置され、前記薬液処理部に温度お
よび湿度が調整された温湿調空気を供給する空気調整部
と、を備えることを特徴とする基板処理装置。
1. A substrate processing apparatus for performing a series of processing including heat treatment and chemical processing on a substrate, comprising: (a) a chemical processing section for performing the chemical processing; and (b) a vertical direction of the chemical processing section. A heat treatment unit provided above and performing the heat treatment, and (c) arranged directly above the chemical liquid treatment unit and between the chemical liquid treatment unit and the heat treatment unit, and adjusting the temperature and humidity in the chemical liquid treatment unit. An air conditioning unit for supplying the controlled temperature and humidity controlled air.
【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置において、 (d) 前記薬液処理部、前記熱処理部および前記空気調整
部に接して設けられた搬送路と、 (e) 前記搬送路上を移動可能に設置され、前記薬液処理
部および前記熱処理部に対して基板の受け渡しを行う基
板搬送装置と、をさらに備え、 前記搬送路と前記空気調整部との間では空気の流通が遮
断されていることを特徴とする基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein (d) a transfer path provided in contact with the chemical processing section, the thermal processing section and the air conditioning section, and (e) movable on the transfer path. And a substrate transfer device that transfers a substrate to the chemical solution processing unit and the heat treatment unit, and air flow is blocked between the transfer path and the air adjusting unit. And a substrate processing apparatus.
【請求項3】 請求項1または請求項2記載の基板処理
装置において、 前記薬液処理部に供給された前記温湿調空気を前記空気
調整部に還流し、前記空気調整部において再利用を行う
ことを特徴とする基板処理装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the temperature / humidity adjusted air supplied to the chemical liquid processing unit is returned to the air adjusting unit and is reused in the air adjusting unit. A substrate processing apparatus characterized by the above.
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