JP3475776B2 - Flip chip bonding apparatus and flip chip bonding method - Google Patents

Flip chip bonding apparatus and flip chip bonding method

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JP3475776B2
JP3475776B2 JP09464698A JP9464698A JP3475776B2 JP 3475776 B2 JP3475776 B2 JP 3475776B2 JP 09464698 A JP09464698 A JP 09464698A JP 9464698 A JP9464698 A JP 9464698A JP 3475776 B2 JP3475776 B2 JP 3475776B2
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bonding
flip chip
bonding head
predetermined portion
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琢也 大賀
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    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
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  • Die Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はフリップチップ(電
極面を基板に向けて載置され、導電性のバンプを介して
上記基板と電気的な接合を行う半導体素子)を基板(具
体的には、例えばプリント基板又はICパッケージ)に
ボンディングするフリップチップボンディング装置及び
フリップチップボンディング方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate (specifically, a semiconductor device which is placed with the electrode surface facing the substrate and electrically connected to the substrate through a conductive bump). , A flip chip bonding apparatus and a flip chip bonding method for bonding to a printed circuit board or an IC package, for example.

【0002】[0002]

【従来の技術】フリップチップと配線基板とを接合する
フリップチップボンディング装置は、一般に高さ調整機
構または加圧調整機構、あるいはその両者を搭載してお
り、その制御方法も以下のような例が知られている。
2. Description of the Related Art A flip chip bonding apparatus for joining a flip chip and a wiring board is generally equipped with a height adjusting mechanism, a pressure adjusting mechanism, or both, and the control method thereof is as follows. Are known.

【0003】以下に、従来のフリップチップボンディン
グ装置について説明する。例えば特開平8−13023
1号公報においては、まずフリップチップを吸着、加熱
するヒートツールを、ACサーボモータによってフリッ
プチップが配線基板のバンプに接触するまで降下させ
る。次に、ロードセルによりフリップチップと配線基板
の接触を検知するとヒートツールを停止させ、この位置
を基準位置とする。次に加熱を開始しヒートツールの温
度が設定温度に達すると、ヒートツール基準位置から設
定量だけ降下させて吸着を停止して釈放し、さらに、ヒ
ートツールを上昇させるフリップチップボンディング装
置の制御方法が記載されている。
A conventional flip chip bonding apparatus will be described below. For example, JP-A-8-13023
In Japanese Patent Laid-Open No. 1-81, a heat tool for adsorbing and heating a flip chip is first lowered by an AC servomotor until the flip chip comes into contact with a bump on a wiring board. Next, when the load cell detects contact between the flip chip and the wiring board, the heat tool is stopped and this position is set as the reference position. Next, when heating is started and the temperature of the heat tool reaches the set temperature, it is lowered from the heat tool reference position by the set amount, adsorption is stopped and released, and then the heat tool is raised. Is listed.

【0004】また、例えば特開平8−204391号公
報における半導体実装装置においては、半導体素子等を
保持するツールに、配線基板に対する高さ方向の位置調
整をするとともに半導体素子を介した配線基板への荷重
調整を行なうリニアモータを設けている。そして、この
装置の動作は、まず位置決め動作によりツールを降下さ
せ半導体素子を配線基板に接地させ、接地したか否かの
当接検出を、リニアモータのトルク(電流)指令値の上
昇を用いて検出し、加圧状態に入る。加圧は加圧値に比
例する電流をリニアモータに一定時間印加することで行
う。加圧が終了すると、位置決め動作に入りツールを上
昇させ、原点位置に位置決めする。
Further, for example, in the semiconductor mounting device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-204391, a tool for holding a semiconductor element or the like is adjusted in position in the height direction with respect to the wiring board, and the wiring board is mounted via the semiconductor element. A linear motor for adjusting the load is provided. The operation of this device is as follows. First, the tool is lowered by the positioning operation to ground the semiconductor element to the wiring board, and contact detection of whether or not it is grounded is performed by using the increase in the torque (current) command value of the linear motor. Detect and enter the pressurized state. Pressurization is performed by applying a current proportional to the pressurization value to the linear motor for a certain period of time. When the pressurization is completed, the positioning operation is started and the tool is raised and positioned at the origin position.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、これら従来
のフリップチップボンディング装置では、フリップチッ
プを保持しているツールの下降を電気的に制御している
ため、フリップチップの導電性のバンプと配線基板を接
触させ加熱し接着する時に、所定のボンディング荷重で
フリップチップを配線基板に押し付けながらフリップチ
ップの高さの制御を行なうことは困難であり、例えば、
オーバーシュートにより隣接するバンプがつぶれすぎて
回路を短絡させたり、荷重不足により半田の接着性の劣
化などが起こることがあった。
However, in these conventional flip chip bonding apparatuses, since the descent of the tool holding the flip chip is electrically controlled, the conductive bump of the flip chip and the wiring board are not controlled. When contacting, heating and adhering, it is difficult to control the height of the flip chip while pressing the flip chip against the wiring substrate with a predetermined bonding load.
Adjacent bumps may be crushed too much due to overshoot to short-circuit the circuit, or the load may be insufficient to deteriorate the adhesiveness of the solder.

【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、確実な電気的接続が可能なフリップチップボンディ
ングを実現することを目的とする。加えて、オーバーシ
ュートによりバンプをつぶしすぎて隣り合うバンプと短
絡するという不具合をなくし、安定したフリップチップ
ボンディングを行なうことを目的とする。また、フリッ
プチップボンディングを簡単な機構で可能にすることを
目的とする。
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to realize flip chip bonding capable of reliable electrical connection. In addition, it is an object of the present invention to eliminate the problem that the bumps are crushed too much due to overshoot and short-circuited with the adjacent bumps, and stable flip chip bonding is performed. Another object is to enable flip chip bonding with a simple mechanism.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明に係るフリップ
チップボンディング装置は、フリップチップを該フリッ
プチップに形成された導電性のバンプを介して基板に電
気的に接続するフリップチップボンディング装置におい
て、上記フリップチップを吸着するチップ吸着手段と、
上記チップ吸着手段を機械的に停止する停止手段と、駆
動手段により上記基板の表面に対し垂直な方向に駆動さ
れ、かつ上記チップ吸着手段が可動自在に取り付けられ
るとともに、上記停止手段が固着されたボンディングヘ
ッドと、上記ボンディングヘッドの所定部と上記チップ
吸着手段の所定部との相対距離を計測する計測手段と、
上記相対距離の設定値を記憶する記憶手段と、上記相対
距離の計測値と上記相対距離の設定値とを比較して、上
記測定値と設定値が等しくなる位置で上記ボンディング
ヘッドを停止させるように、上記駆動手段による上記ボ
ンディングヘッドの駆動制御を行う制御手段と、上記制
御手段による上記ボンディングヘッドの停止後におい
て、上記チップ吸着手段を上記停止手段による停止位置
まで押圧して移動させる加圧手段とを備えたことを特徴
とするものである。
A flip chip bonding apparatus according to the present invention is a flip chip bonding apparatus for electrically connecting a flip chip to a substrate via a conductive bump formed on the flip chip. Chip suction means for sucking a flip chip,
Stopping means for mechanically stopping the chip suction means, and driving means for driving the chip suction means in a direction perpendicular to the surface of the substrate, the chip suction means being movably attached, and the stopping means being fixed. A bonding head, a measuring means for measuring a relative distance between a predetermined portion of the bonding head and a predetermined portion of the chip suction means,
The storage means for storing the set value of the relative distance is compared with the measured value of the relative distance and the set value of the relative distance, and the bonding head is stopped at a position where the measured value and the set value are equal. A control means for controlling the drive of the bonding head by the drive means, and a pressing means for pressing and moving the chip suction means to a stop position by the stop means after the bonding head is stopped by the control means. It is characterized by having and.

【0008】又、上記計測手段は、ボンディングヘッド
の所定部とチップ吸着手段の所定部との相対距離を計測
する代わりに、ボンディングヘッドの所定部と基板表面
との相対距離を計測することを特徴とするものである。
Further, the measuring means measures the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the substrate surface, instead of measuring the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means. It is what

【0009】又、上記加圧手段はエアシリンダであるこ
とを特徴とするものである。
The pressurizing means is an air cylinder.

【0010】又、上記加圧手段によるバンプへの荷重の
印加中に、上記バンプを加熱し溶融又は変形させる加熱
手段を備えたことを特徴とするものである。
Further, the present invention is characterized in that a heating means for heating the bump to melt or deform it while the load is applied to the bump by the pressing means is provided.

【0011】この発明に係るフリップチップボンディン
グ方法は、フリップチップを該フリップチップに形成さ
れた導電性のバンプを介して基板に電気的に接続するフ
リップチップボンディング方法において、ボンディング
ヘッドに可動自在に取り付けられたチップ吸着手段に上
記フリップチップを吸着させ、上記ボンディングヘッド
を上記基板の表面に対し垂直な方向に移動させ、上記ボ
ンディングヘッドの所定部と上記チップ吸着手段の所定
部との相対距離が設定値に等しくなる位置で上記ボンデ
ィングヘッドを停止させ、上記ボンディングヘッドの停
止後に、上記チップ吸着手段を押圧して上記基板表面に
垂直に基板方向へ移動させ、上記ボンディングヘッドに
固着された停止手段による停止位置で、上記チップ吸着
手段を機械的に停止させることを特徴とするものであ
る。
A flip chip bonding method according to the present invention is a flip chip bonding method in which a flip chip is electrically connected to a substrate through a conductive bump formed on the flip chip, and is movably attached to a bonding head. The flip chip is attracted to the chip suction means, and the bonding head is moved in a direction perpendicular to the surface of the substrate, and the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means is set. The bonding head is stopped at a position equal to the value, and after the bonding head is stopped, the chip suction means is pressed to move in the direction perpendicular to the substrate surface in the substrate direction, and the stopping means fixed to the bonding head is used. At the stop position, mechanically stop the chip suction means. It is characterized in that to.

【0012】また、上記のようにボンディングヘッドの
所定部とチップ吸着手段の所定部との相対距離が設定値
に等しくなる位置でボンディングヘッドを停止させる代
わりに、ボンディングヘッドの所定部と基板表面との相
対距離が設定値に等しくなる位置でボンディングヘッド
を停止させることを特徴とするものである。
Further, instead of stopping the bonding head at the position where the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means becomes equal to the set value as described above, the predetermined portion of the bonding head and the substrate surface are It is characterized in that the bonding head is stopped at a position where the relative distance is equal to the set value.

【0013】又、上記バンプへの荷重の印加中に、上記
バンプを加熱し溶融又は変形させることを特徴とするも
のである。
Further, the present invention is characterized in that the bumps are heated to melt or deform while the load is applied to the bumps.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】実施の形態1.本発明の一実施の
形態を図1乃至図5を用いて以下に説明する。図1はこ
の発明に係るフリップチップボンディング装置を示す要
部断面図であり、本装置の構成要素である記憶手段及び
制御手段の図示は省略している。又、図2は上記記憶手
段及び制御手段を含む、以下に説明する計測手段、加圧
手段、加熱手段及び駆動手段といった各構成要素の相互
の関係を示す概念図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiment 1. An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 5. FIG. 1 is a cross-sectional view of essential parts showing a flip-chip bonding apparatus according to the present invention, and illustration of storage means and control means, which are constituent elements of this apparatus, is omitted. Further, FIG. 2 is a conceptual diagram showing the mutual relation of each constituent element including the storage means and the control means described below, such as a measuring means, a pressurizing means, a heating means and a driving means.

【0015】図1において、1はフリップチップであ
り、2はボンディングステージ3上に載置された、フリ
ップチップ1が導電性のバンプ4を介して電気的に接続
される配線基盤である。
In FIG. 1, 1 is a flip chip, and 2 is a wiring board mounted on a bonding stage 3 to which the flip chip 1 is electrically connected via conductive bumps 4.

【0016】又、12は図1に図示していない制御手段
からの制御信号Aにより制御される駆動手段であり、1
1はこの駆動手段12によりX、Y、Z方向に駆動され
るボンディングヘッドであり、7はこのボンディングヘ
ッド11にリニアガイド13を介して上下動自在に取り
付けられ、フリップチップ1を吸引口9からのエアの吸
引により真空吸引可能なチップ吸着手段である。
Numeral 12 is a drive means controlled by a control signal A from a control means not shown in FIG.
Reference numeral 1 is a bonding head that is driven in the X, Y, and Z directions by the driving means 12, and 7 is attached to the bonding head 11 via a linear guide 13 so as to be vertically movable, and the flip chip 1 is sucked from a suction port 9. It is a chip suction means capable of vacuum suction by suctioning air.

【0017】又、14はボンディングヘッド11に固着
され、チップ吸着手段7の下降を機械的に制限するメカ
ニカルストッパであり、15はボンディングヘッド11
の所定部とチップ吸着手段7の所定部とのギャップ(具
体的には、本実施の形態においては、ボンディングヘッ
ド11の上記メカニカルストッパ14の上端部と同じ高
さの部分と、チップ吸着部7のメカニカルストッパとの
接触部分との相対距離である)を計測し、計測値φを上
記の図示していない制御手段に送る計測手段である変位
計である。ここで、上記チップ吸着手段7は自重又は図
示しないバネなどにより、弱い力で上記メカニカルスト
ッパ14に押しつけられている。
Further, 14 is a mechanical stopper fixed to the bonding head 11 and mechanically restricting the lowering of the chip suction means 7, and 15 is the bonding head 11.
Between a predetermined portion of the chip suction means 7 and a predetermined portion of the chip suction means 7 (specifically, in the present embodiment, a portion having the same height as the upper end portion of the mechanical stopper 14 of the bonding head 11 and the chip suction portion 7). Is a relative distance from the contact portion with the mechanical stopper) and sends the measured value φ to the control means (not shown). Here, the chip suction means 7 is pressed against the mechanical stopper 14 by its own weight or a spring (not shown) with a weak force.

【0018】ここで、図2を参照する。上述のように、
変位計15は計測値φを制御手段5に送る。又、この図
において、上記ギャップの所望の設定値ψを記憶する記
憶手段であり、上記制御手段5により、ギャップの計測
値φとギャップの設定値ψとが比較され、このギャップ
の計測値φとギャップの設定値ψとが等しくなる位置で
ボンディングヘッド11が停止するように、上記制御信
号Aが駆動手段12に送られ、ボンディングヘッド11
の上下動が制御される。
Referring now to FIG. As mentioned above,
The displacement meter 15 sends the measured value φ to the control means 5. Further, in this figure, it is a storage means for storing the desired set value ψ of the gap, and the control means 5 compares the measured value φ of the gap with the set value ψ of the gap, and the measured value φ of this gap is compared. And the gap setting value ψ are equal, the control signal A is sent to the driving means 12 so that the bonding head 11 stops at a position where the bonding head 11 is stopped.
The vertical movement of is controlled.

【0019】又、図2において、16は、上述のボンデ
ィングヘッド11の停止後に、チップ吸着手段7を介し
てバンプ4に所定の荷重を印加し、チップ吸着手段7が
メカニカルストッパ14により停止する位置まで押し下
げることができる加圧手段であるエアシリンダである。
ここで、エアシリンダ16による荷重制御は、制御手段
5から精密圧力調整弁10に制御信号Bが送られ、圧力
調整が行われることにより実現している。又、荷重を印
加しない状態においては、エアシリンダ16の可動シャ
フトはチップ吸着手段7に接触させないようにしてい
る。
Further, in FIG. 2, reference numeral 16 is a position where a predetermined load is applied to the bump 4 via the chip suction means 7 after the above-mentioned bonding head 11 is stopped, and the chip suction means 7 is stopped by the mechanical stopper 14. It is an air cylinder that is a pressurizing means that can be pushed down.
Here, the load control by the air cylinder 16 is realized by sending a control signal B from the control means 5 to the precision pressure adjusting valve 10 to perform pressure adjustment. Further, when the load is not applied, the movable shaft of the air cylinder 16 is prevented from coming into contact with the tip suction means 7.

【0020】又、図1及び図2において、8は制御手段
5からの制御信号Cを受けて、エアシリンダ16による
荷重印加状態において、バンプ4を加熱する加熱手段で
あるヒータツールである。ここで、このヒータツール8
はチップ吸着手段7に固定されており、かつ、内部にヒ
ータを内蔵している。
Further, in FIGS. 1 and 2, reference numeral 8 is a heater tool which is a heating means for receiving the control signal C from the control means 5 and heating the bumps 4 in a state where a load is applied by the air cylinder 16. Here, this heater tool 8
Is fixed to the chip suction means 7 and has a heater built therein.

【0021】次に、上記フリップチップボンディング装
置の動作について説明する。まず、チップ吸着手段7で
フリップチップ1を吸着した状態で、ボンディングヘッ
ド11を制御手段5からの制御信号Aに応じる駆動手段
12を用いて降下させる。すると、やがてフリップチッ
プの導電性のバンプ4と配線基板2の導電性のバンプが
接触する。そしてさらにボンディングヘッド11を降下
させると、チップ吸着手段7は静止したままでボンディ
ングヘッド11だけが移動するので、メカニカルストッ
パ14とチップ吸着手段7との間にギャップφが生じ
る。変位計15により検出される前記ギャップφが、記
憶手段6に記憶されている設定値ψと等しくなったとこ
ろで、ボンディングヘッド11を制御手段5からの制御
信号Aに応じる上記駆動手段12を用いて停止させる。
Next, the operation of the flip chip bonding apparatus will be described. First, the bonding head 11 is moved down by using the driving means 12 according to the control signal A from the control means 5 while the flip-chip 1 is sucked by the chip suction means 7. Then, the conductive bumps 4 of the flip chip and the conductive bumps of the wiring board 2 come into contact with each other. Then, when the bonding head 11 is further lowered, only the bonding head 11 moves while the chip suction means 7 remains stationary, so that a gap φ is generated between the mechanical stopper 14 and the chip suction means 7. When the gap φ detected by the displacement gauge 15 becomes equal to the set value ψ stored in the storage means 6, the bonding head 11 is driven by the drive means 12 which responds to the control signal A from the control means 5. Stop.

【0022】そして、制御手段5からの制御信号Bに応
じ精密に空気圧を調整することができる精密圧力調整弁
10により、ボンディング荷重が精密に調整されている
エアシリンダを用いて、チップ吸着手段7を介してバン
プ4にボンディング荷重を印加する。これにより、フリ
ップチップのバンプ4と配線基板2上のバンプとが押し
付けられる。
Then, the chip suction means 7 is used by using the air cylinder whose bonding load is precisely adjusted by the precision pressure control valve 10 capable of precisely controlling the air pressure in accordance with the control signal B from the control means 5. A bonding load is applied to the bumps 4 via. As a result, the bump 4 on the flip chip and the bump on the wiring board 2 are pressed against each other.

【0023】次いで、制御手段5からの制御信号Cに応
じるヒータツール8を用いて、バンプ4を加熱する。そ
の結果、バンプ4が溶融あるいは変形し、チップ吸着手
段7はギャップψだけ移動する。そして、メカニカルス
トッパ14にあたるところ(停止位置)で停止し、フリ
ップチップ1は設定した高さ(停止位置)に保持され
る。そして、所定時間たったところで加熱を停止すると
同時にチップ吸着を停止して釈放し、ヒータツール8を
上昇させる。
Next, the bumps 4 are heated by using the heater tool 8 according to the control signal C from the control means 5. As a result, the bump 4 is melted or deformed, and the chip suction means 7 moves by the gap ψ. Then, it stops at a position corresponding to the mechanical stopper 14 (stop position), and the flip chip 1 is held at the set height (stop position). Then, after a lapse of a predetermined time, the heating is stopped and at the same time the chip adsorption is stopped and released, and the heater tool 8 is raised.

【0024】上記の動作を図3乃至図5を用いて説明す
る。図3乃至図5はフリップチップボンディング装置の
動作を順に示す要部断面図である。まず、図3に示すよ
うに、ボンディングステージ3上に載置した配線基板2
の上方で、フリップチップ1を真空吸着により保持した
ボンディングヘッド11を下降させ、フリップチップ1
のバンプ4と配線基板2のバンプを接触させる。このと
きチップ吸着手段7は、図示しないバネあるいは自重に
より、弱い力でボンディングヘッド11のメカニカルス
トッパ14に押しつけられているので、小さな衝撃荷重
で接触させることができる。
The above operation will be described with reference to FIGS. 3 to 5 are cross-sectional views of main parts showing the operation of the flip chip bonding apparatus in order. First, as shown in FIG. 3, the wiring board 2 placed on the bonding stage 3
The bonding head 11 holding the flip chip 1 by vacuum suction is lowered above the
The bumps 4 and the wiring board 2 are brought into contact with each other. At this time, since the chip suction means 7 is pressed against the mechanical stopper 14 of the bonding head 11 by a spring (not shown) or its own weight with a weak force, it can be brought into contact with a small impact load.

【0025】さらに、ボンディングヘッド11を下降さ
せると、チップ吸着手段7は静止したままであるので、
図4に示すようにメカニカルストッパ14とチップ吸着
手段7の間にギャップφが生じ、これを変位計15によ
り検出する。検出されたギャップφが設定値ψに等しく
なる位置でボンディンヘッド11を静止させる。
Further, when the bonding head 11 is lowered, the chip suction means 7 remains stationary.
As shown in FIG. 4, a gap φ is generated between the mechanical stopper 14 and the chip suction means 7, and this is detected by the displacement gauge 15. The bondin head 11 is stopped at a position where the detected gap φ is equal to the set value ψ.

【0026】この状態で、図5に示すように、精密圧力
調整弁10で設定荷重に対応するように精密に圧力調整
された空気を供給して、エアシリンダ16によりチップ
吸着手段7を介してフリップチップ1のバンプ4にボン
ディング荷重を印加し、フリップチップ1のバンプ4と
配線基板2のバンプを押しつける。次い、でヒータツー
ル8を用いてバンプ4を加熱する。その結果、バンプ4
が溶融あるいは変形してチップ吸着手段7はギャップ設
定値ψだけ移動する。そして、メカニカルストッパ14
にあたる位置で停止する。
In this state, as shown in FIG. 5, air whose pressure has been precisely adjusted by the precision pressure adjusting valve 10 to correspond to the set load is supplied, and the air cylinder 16 passes through the tip suction means 7. A bonding load is applied to the bumps 4 on the flip chip 1 to press the bumps 4 on the flip chip 1 and the bumps on the wiring board 2. Next, the bumps 4 are heated by using the heater tool 8 at. As a result, bump 4
Is melted or deformed, and the chip suction means 7 moves by the gap setting value ψ. Then, the mechanical stopper 14
Stop at the position corresponding to.

【0027】次に、所定時間経過したところで、ヒータ
ツール8の加熱を停止すると同時にフリップチップ1の
吸着を停止して釈放し、上記ヒータツール8を上昇させ
る。
Next, when a predetermined time has elapsed, the heating of the heater tool 8 is stopped and at the same time the adsorption of the flip chip 1 is stopped and released, and the heater tool 8 is raised.

【0028】本実施の形態においては、ボンディング荷
重の印加のためのアクチュエータとしてエアシリンダを
用いているが、その代わりに、リニアモータを利用して
もよい。
In the present embodiment, the air cylinder is used as the actuator for applying the bonding load, but a linear motor may be used instead.

【0029】上記のようにしているため、本実施の形態
においては、精密に調整されたボンディング荷重を、加
熱する前にフリップチップ1に印加できるため、バンプ
4表面に酸化膜があっても破壊され、確実なフリップチ
ップボンディングを行なうことができる。
As described above, in the present embodiment, a precisely adjusted bonding load can be applied to the flip chip 1 before heating, so that even if there is an oxide film on the surface of the bump 4, it is destroyed. As a result, reliable flip chip bonding can be performed.

【0030】又、フリップチップ1を保持したチップ吸
着手段7のボンディング方向への高さの制御は、加熱さ
れたバンプ4が急速に溶融あるいは変形してチップ吸着
手段7が高速で降下してとしても、メカニカルストッパ
14でチップ吸着部7の下降、つまりはフリップチップ
1の下降を機械的に停止させることができるため、オー
バーシュートによりバンプ4をつぶしすぎて隣り合うバ
ンプと短絡することがなく、安定したフリップチップボ
ンディングを行なうことができる。
The height of the chip suction means 7 holding the flip chip 1 in the bonding direction is controlled by the heated bumps 4 being rapidly melted or deformed and the chip suction means 7 descending at a high speed. Also, since the mechanical stopper 14 can mechanically stop the lowering of the chip suction portion 7, that is, the lowering of the flip chip 1, the bumps 4 are not crushed too much by an overshoot and short-circuited with the adjacent bumps. Stable flip chip bonding can be performed.

【0031】加えて、フリップチップボンディング動作
を上記のような簡単な機構で可能にすることができる。
In addition, the flip chip bonding operation can be made possible by the simple mechanism as described above.

【0032】実施の形態2.本実施の形態2は、フリッ
プチップ1の高さを決める手段として、実施の形態1に
示したような、フリップチップ1の導電性のバンプ4と
配線基板2の導電性のバンプが接触した点を基準位置と
して、そこからの押し込み量ψを設定するものでなく、
その代わりに、図6に示すように、配線基板2の表面の
位置を検知する接触式あるいは非接触式の変位計15a
を設けて、配線基板2の表面を基準位置として、チップ
吸着手段7がメカニカルストッパ14にあたり停止した
ときに、フリップチップ1が所定の高さとなるようにボ
ンディングヘッド11の高さαを設定するものである。
その他の点については、実施の形態1と同様である。
Embodiment 2. In the second embodiment, as a means for determining the height of the flip chip 1, the conductive bumps 4 of the flip chip 1 and the conductive bumps of the wiring board 2 are in contact with each other as shown in the first embodiment. With the reference position as the reference position,
Instead, as shown in FIG. 6, a displacement meter 15a of contact type or non-contact type that detects the position of the surface of the wiring board 2 is used.
To set the height α of the bonding head 11 so that the flip chip 1 has a predetermined height when the chip suction means 7 hits the mechanical stopper 14 and stops with the surface of the wiring board 2 as a reference position. Is.
The other points are similar to those of the first embodiment.

【0033】ここで、前述の実施の形態1においては、
バンプの製造上のばらつきから予想外に大きなバンプが
形成されてしまった場合、その大なバンプが配線基板2
と接触する位置が基準位置となり、そのため、ばらつき
を考慮しない押し込み量ψで押し込んだ場合には、上記
大きなバンプ以外のバンプは配線基板2と不完全にしか
接触しない場合がある。
Here, in the above-described first embodiment,
If a large bump is unexpectedly formed due to variations in the manufacturing process of the bump, the large bump is formed on the wiring board 2.
The position where the bumps other than the above-mentioned large bumps contact the wiring substrate 2 may be incompletely contacted when the pressing amount ψ that does not consider the variation is pressed.

【0034】一方、本実施の形態においては、基板2表
面を基準位置としているため、上記予想外に大きなバン
プの存在を考慮しなくても、基板2表面から一定の高さ
にフリップチップ1を押し下げるため、上記大きなバン
プ以外のバンプも完全に配線基板2と接触するという効
果を有する。
On the other hand, in the present embodiment, since the surface of the substrate 2 is used as the reference position, the flip chip 1 is set at a certain height from the surface of the substrate 2 without considering the existence of the unexpectedly large bump. Since the bumps are pushed down, the bumps other than the large bumps can be brought into complete contact with the wiring board 2.

【0035】[0035]

【発明の効果】この発明に係るフリップチップボンディ
ング装置は、フリップチップを該フリップチップに形成
された導電性のバンプを介して基板に電気的に接続する
フリップチップボンディング装置において、上記フリッ
プチップを吸着するチップ吸着手段と、上記チップ吸着
手段を機械的に停止する停止手段と、駆動手段により上
記基板の表面に対し垂直な方向に駆動され、かつ上記チ
ップ吸着手段が可動自在に取り付けられるとともに、上
記停止手段が固着されたボンディングヘッドと、上記ボ
ンディングヘッドの所定部と上記チップ吸着手段の所定
部との相対距離を計測する計測手段と、上記相対距離の
設定値を記憶する記憶手段と、上記相対距離の計測値と
上記相対距離の設定値とを比較して、上記測定値と設定
値が等しくなる位置で上記ボンディングヘッドを停止さ
せるように、上記駆動手段による上記ボンディングヘッ
ドの駆動制御を行う制御手段と、上記制御手段による上
記ボンディングヘッドの停止後において、上記チップ吸
着手段を上記停止手段による停止位置まで押圧して移動
させる加圧手段とを備えたことを特徴とするものであ
る。
The flip-chip bonding apparatus according to the present invention is a flip-chip bonding apparatus for electrically connecting a flip-chip to a substrate via conductive bumps formed on the flip-chip. Chip suction means, stop means for mechanically stopping the chip suction means, and driving means in the direction perpendicular to the surface of the substrate, and the chip suction means is movably attached and A bonding head to which a stopping means is fixed, a measuring means for measuring a relative distance between a predetermined portion of the bonding head and a predetermined portion of the chip suction means, a storage means for storing a set value of the relative distance, and a relative distance. Compare the measured value of the distance with the set value of the relative distance, and make sure that the measured value and the set value are equal. Control means for controlling the drive of the bonding head by the drive means so as to stop the bonding head, and after stopping the bonding head by the control means, move the chip suction means to the stop position by the stop means. It is characterized by comprising a pressing means for pressing and moving.

【0036】したがって、加熱前に荷重を導電性のバン
プに印加することができ、バンプ表面に酸化膜等の絶縁
膜がある場合においても、それを破壊することができ、
確実な電気的接続が可能なフリップチップボンディング
を実現することができる。加えて、上記フリップチップ
を吸着したチップ吸着手段の下降は停止手段により機械
的に停止させられるため、バンプが加熱され急速に溶融
あるいは変形し、チップ吸着手段が高速に降下したとし
ても、オーバーシュートによりバンプをつぶしすぎて隣
り合うバンプと短絡するという不具合はなく、安定した
フリップチップボンディングを行なうことができる。ま
た、フリップチップボンディングを上記のように簡単な
機構で可能にすることができる。
Therefore, a load can be applied to the conductive bumps before heating, and even if an insulating film such as an oxide film is present on the bump surface, it can be destroyed.
Flip chip bonding capable of reliable electrical connection can be realized. In addition, since the lowering of the chip suction means that has sucked the flip chip is mechanically stopped by the stop means, even if the bump is heated and rapidly melted or deformed, and the chip suction means descends at high speed, an overshoot occurs. Therefore, there is no problem that the bumps are crushed too much and short-circuited with the adjacent bumps, and stable flip chip bonding can be performed. Further, flip chip bonding can be enabled by the simple mechanism as described above.

【0037】又、上記計測手段は、ボンディングヘッド
の所定部とチップ吸着手段の所定部との相対距離を計測
する代わりに、ボンディングヘッドの所定部と基板表面
との相対距離を計測することを特徴とするので、バンプ
の製造上のばらつきから予想外に大きなバンプが形成さ
れた場合においても、上記基板表面から一定の高さにフ
リップチップを押し下げるものであるため、上記大きな
バンプ以外のバンプの上記基板との電気的な接触も可能
となる、という効果をさらに有する。
Further, the measuring means measures the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the substrate surface, instead of measuring the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means. Therefore, even if an unexpectedly large bump is formed due to manufacturing variations of the bump, the flip chip is pushed down to a certain height from the substrate surface. It further has the effect that electrical contact with the substrate is also possible.

【0038】又、上記加圧手段はエアシリンダであるこ
とを特徴とするので、簡単かつ軽量な機構で設定圧力を
上記バンプに印加することが可能となる。
Further, since the pressurizing means is an air cylinder, it is possible to apply the set pressure to the bumps with a simple and lightweight mechanism.

【0039】又、上記加圧手段によるバンプへの荷重の
印加中に、上記バンプを加熱し溶融又は変形させる加熱
手段を備えたことを特徴とするので、上記加熱手段によ
る加熱前にバンプに荷重を印加することができ、バンプ
表面に酸化膜等の絶縁膜がある場合においても、それを
あらかじめ破壊しておくことができるとともに、バンプ
の溶融又は変形により、より確実な電気的接続が可能と
なる。
Further, since the heating means is provided for heating and melting or deforming the bump while the load is applied to the bump by the pressing means, the bump is loaded before heating by the heating means. Can be applied, and even if there is an insulating film such as an oxide film on the bump surface, it can be destroyed in advance and more reliable electrical connection can be made by melting or deforming the bump. Become.

【0040】この発明に係るフリップチップボンディン
グ方法は、フリップチップを該フリップチップに形成さ
れた導電性のバンプを介して基板に電気的に接続するフ
リップチップボンディング方法において、ボンディング
ヘッドに可動自在に取り付けられたチップ吸着手段に上
記フリップチップを吸着させ、上記ボンディングヘッド
を上記基板の表面に対し垂直な方向に移動させ、上記ボ
ンディングヘッドの所定部と上記チップ吸着手段の所定
部との相対距離が設定値に等しくなる位置で上記ボンデ
ィングヘッドを停止させ、上記ボンディングヘッドの停
止後に、上記チップ吸着手段を押圧して上記基板表面に
垂直に基板方向へ移動させ、上記ボンディングヘッドに
固着された停止手段による停止位置で、上記チップ吸着
手段を機械的に停止させることを特徴とするものであ
る。
The flip-chip bonding method according to the present invention is a flip-chip bonding method for electrically connecting a flip-chip to a substrate through conductive bumps formed on the flip-chip. The flip chip is attracted to the chip suction means, and the bonding head is moved in a direction perpendicular to the surface of the substrate, and the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means is set. The bonding head is stopped at a position equal to the value, and after the bonding head is stopped, the chip suction means is pressed to move in the direction perpendicular to the substrate surface in the substrate direction, and the stopping means fixed to the bonding head is used. At the stop position, mechanically stop the chip suction means. It is characterized in that to.

【0041】したがって、加熱前に荷重を導電性のバン
プに印加することができ、バンプ表面に酸化膜等の絶縁
膜がある場合においても、それを破壊することができ、
確実な電気的接続が可能なフリップチップボンディング
を実現することができる。加えて、上記フリップチップ
を吸着したチップ吸着手段の下降は停止手段により機械
的に停止させられるため、バンプが加熱され急速に溶融
あるいは変形し、チップ吸着手段が高速に降下したとし
ても、オーバーシュートによりバンプをつぶしすぎて隣
り合うバンプと短絡するという不具合はなく、安定した
フリップチップボンディングを行なうことができる。
Therefore, a load can be applied to the conductive bumps before heating, and even if an insulating film such as an oxide film is present on the bump surface, it can be destroyed.
Flip chip bonding capable of reliable electrical connection can be realized. In addition, since the lowering of the chip suction means that has sucked the flip chip is mechanically stopped by the stop means, even if the bump is heated and rapidly melted or deformed, and the chip suction means descends at high speed, an overshoot occurs. Therefore, there is no problem that the bumps are crushed too much and short-circuited with the adjacent bumps, and stable flip chip bonding can be performed.

【0042】また、上記のようにボンディングヘッドの
所定部とチップ吸着手段の所定部との相対距離が設定値
に等しくなる位置でボンディングヘッドを停止させる代
わりに、ボンディングヘッドの所定部と基板表面との相
対距離が設定値に等しくなる位置でボンディングヘッド
を停止させることを特徴とするので、バンプの製造上の
ばらつきから予想外に大きなバンプが形成された場合に
おいても、上記基板表面から一定の高さにフリップチッ
プを押し下げるものであるため、上記大きなバンプ以外
のバンプの上記基板との電気的な接触も可能となる、と
いう効果をさらに有する。
Further, instead of stopping the bonding head at the position where the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means becomes equal to the set value as described above, the predetermined portion of the bonding head and the substrate surface are Since the bonding head is stopped at a position where the relative distance of the bumps becomes equal to the set value, even if unexpectedly large bumps are formed due to variations in manufacturing of the bumps, a constant height from the substrate surface can be maintained. In addition, since the flip chip is pushed down, there is the effect that bumps other than the large bumps can be electrically contacted with the substrate.

【0043】又、上記バンプへの荷重の印加中に、上記
バンプを加熱し溶融又は変形させることを特徴とするの
で、より高品質のフリップチップボンディングを行うこ
とができる。
Further, since the bumps are heated to melt or deform while applying a load to the bumps, higher quality flip chip bonding can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 この発明に係るフリップチップボンディング
装置の一実施の形態を示す要部断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of essential parts showing an embodiment of a flip chip bonding apparatus according to the present invention.

【図2】 この発明にかかるフリップチップボンディン
グ装置の構成要素である記憶手段、制御手段、計測手
段、加圧手段、加熱手段及び駆動手段の相互の関係を示
す概念図である。
FIG. 2 is a conceptual diagram showing a mutual relationship among a storage unit, a control unit, a measuring unit, a pressurizing unit, a heating unit and a driving unit, which are components of the flip chip bonding apparatus according to the present invention.

【図3】 この発明に係るフリップチップボンディング
装置の動作を示す要部断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of an essential part showing the operation of the flip chip bonding apparatus according to the present invention.

【図4】 この発明に係るフリップチップボンディング
装置の動作を示す要部断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of an essential part showing the operation of the flip chip bonding apparatus according to the present invention.

【図5】 この発明に係るフリップチップボンディング
装置の動作を示す要部断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view of an essential part showing the operation of the flip chip bonding device according to the present invention.

【図6】 この発明に係るフリップチップボンディング
装置の他の実施の形態を示す要部断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view of essential parts showing another embodiment of the flip chip bonding apparatus according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 フリップチップ、 2 基板、 4
バンプ、5 制御手段、 6 記憶手段、
7 チップ吸着手段、8 加熱手段、 11 ボ
ンディングヘッド、 12 駆動手段。
1 flip chip, 2 substrate, 4
Bumps, 5 control means, 6 storage means,
7 chip adsorption means, 8 heating means, 11 bonding head, 12 driving means.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 311 H01L 21/52 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60 311 H01L 21/52

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 フリップチップを該フリップチップに形
成された導電性のバンプを介して基板に電気的に接続す
るフリップチップボンディング装置において、 上記フリップチップを吸着するチップ吸着手段と、 上記チップ吸着手段を機械的に停止する停止手段と、 駆動手段により上記基板の表面に対し垂直な方向に駆動
され、かつ上記チップ吸着手段が可動自在に取り付けら
れるとともに、上記停止手段が固着されたボンディング
ヘッドと、 上記ボンディングヘッドの所定部と上記チップ吸着手段
の所定部との相対距離を計測する計測手段と、 上記相対距離の設定値を記憶する記憶手段と、 上記相対距離の計測値と上記相対距離の設定値とを比較
して、上記測定値と設定値が等しくなる位置で上記ボン
ディングヘッドを停止させるように、上記駆動手段によ
る上記ボンディングヘッドの駆動制御を行う制御手段
と、 上記制御手段による上記ボンディングヘッドの停止後に
おいて、上記チップ吸着手段を上記停止手段による停止
位置まで押圧して移動させる加圧手段とを備えたことを
特徴とするフリップチップボンディング装置。
1. A flip chip bonding apparatus for electrically connecting a flip chip to a substrate through a conductive bump formed on the flip chip, and a chip suction means for sucking the flip chip, and the chip suction means. Stopping means for mechanically stopping, a bonding head driven by a driving means in a direction perpendicular to the surface of the substrate, the chip suction means being movably attached, and the stopping means being fixed. Measuring means for measuring the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means, storage means for storing the set value of the relative distance, setting of the measured value of the relative distance and the relative distance Compare the value and stop the bonding head at the position where the measured value and the set value are equal, Control means for controlling the drive of the bonding head by the drive means, and pressurizing means for pressing and moving the chip suction means to the stop position by the stop means after the bonding head is stopped by the control means. A flip chip bonding device characterized by being provided.
【請求項2】 計測手段は、ボンディングヘッドの所定
部とチップ吸着手段の所定部との相対距離を計測する代
わりに、ボンディングヘッドの所定部と基板表面との相
対距離を計測することを特徴とする請求項1記載のフリ
ップチップボンディング装置。
2. The measuring means, instead of measuring the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means, measures the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the substrate surface. The flip chip bonding apparatus according to claim 1.
【請求項3】 加圧手段はエアシリンダであることを特
徴とする請求項1又は2記載のフリップチップボンディ
ング装置。
3. The flip chip bonding apparatus according to claim 1, wherein the pressing means is an air cylinder.
【請求項4】 加圧手段によるバンプへの荷重の印加中
に、上記バンプを加熱し溶融又は変形させる加熱手段を
備えたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項
記載のフリップチップボンディング装置。
4. The flip according to claim 1, further comprising heating means for heating the bump to melt or deform it while applying a load to the bump by the pressing means. Chip bonding equipment.
【請求項5】 フリップチップを該フリップチップに形
成された導電性のバンプを介して基板に電気的に接続す
るフリップチップボンディング方法において、 ボンディングヘッドに可動自在に取り付けられたチップ
吸着手段に上記フリップチップを吸着させ、 上記ボンディングヘッドを上記基板の表面に対し垂直な
方向に移動させ、 上記ボンディングヘッドの所定部と上記チップ吸着手段
の所定部との相対距離が設定値に等しくなる位置で上記
ボンディングヘッドを停止させ、 上記ボンディングヘッドの停止後に、上記チップ吸着手
段を押圧して上記基板表面に垂直に基板方向へ移動さ
せ、 上記ボンディングヘッドに固着された停止手段による停
止位置で、上記チップ吸着手段を機械的に停止させるこ
とを特徴とするフリップチップボンディング方法。
5. A flip chip bonding method for electrically connecting a flip chip to a substrate through a conductive bump formed on the flip chip, wherein the flip is mounted on a chip suction means movably attached to a bonding head. The chip is sucked, the bonding head is moved in a direction perpendicular to the surface of the substrate, and the bonding is performed at a position where the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means is equal to a set value. The head is stopped, and after the bonding head is stopped, the chip suction means is pressed to move in the substrate direction perpendicular to the substrate surface, and the chip suction means is stopped at the stop position fixed by the bonding head. Flip chip bonder characterized by mechanically stopping Packaging method.
【請求項6】 ボンディングヘッドの所定部とチップ吸
着手段の所定部との相対距離が設定値に等しくなる位置
でボンディングヘッドを停止させる代わりに、ボンディ
ングヘッドの所定部と基板表面との相対距離が設定値に
等しくなる位置でボンディングヘッドを停止させること
を特徴とする請求項5記載のフリップチップボンディン
グ方法。
6. Instead of stopping the bonding head at a position where the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the predetermined portion of the chip suction means becomes equal to a set value, the relative distance between the predetermined portion of the bonding head and the substrate surface is changed. 6. The flip chip bonding method according to claim 5, wherein the bonding head is stopped at a position equal to the set value.
【請求項7】 バンプへの荷重の印加中に、上記バンプ
を加熱し溶融又は変形させることを特徴とする請求項5
又は6記載のフリップチップボンディング方法。
7. The bump is heated to melt or deform while the load is being applied to the bump.
Or the flip chip bonding method according to item 6.
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