JP2002164646A - Soldering and removing apparatus - Google Patents

Soldering and removing apparatus

Info

Publication number
JP2002164646A
JP2002164646A JP2000359444A JP2000359444A JP2002164646A JP 2002164646 A JP2002164646 A JP 2002164646A JP 2000359444 A JP2000359444 A JP 2000359444A JP 2000359444 A JP2000359444 A JP 2000359444A JP 2002164646 A JP2002164646 A JP 2002164646A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hot air
bit
vacuum
circuit board
soldering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000359444A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiyoshi Matsumoto
清 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP2000359444A priority Critical patent/JP2002164646A/en
Publication of JP2002164646A publication Critical patent/JP2002164646A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a soldering and removing device having a function of moving an electronic component with a pressure suitable for soldering and removing without applying an excessive pressure to the component. SOLUTION: The device is provided with a vacuum bit 12 for sucking an electronic component, a hot air supplying means 13 for supplying hot air around the bit 12, a servo motor 11 for moving up and down a base having the bit 12 and the means 13 against an electronic circuit board P, and a table 3 for holding the board P to move it in a horizontal direction. In the device, a load cell 15 detects a load of a vacuum pipe 14 for supplying a negative pressure to the bit 12 to control the motor 11.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント回路基板
に電子部品を位置決めして半田付けしたり、またプリン
ト回路基板に半田付けされている電子部品を取り外すた
めの装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for positioning and soldering an electronic component to a printed circuit board, and for removing an electronic component soldered to the printed circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】半田付け装置は、プリント回路基板上に
ICを取り付ける場合には、例えば特開平8-46351号公
報に見られるように昇降可能な熱風噴射装置の先端のバ
キュームビットにICを吸着させて、ICを吸着しクリ
ームハンダの塗布されたプリント基板上の該当する導電
パターン上に降下、載置して一定温度に制御された熱風
をノズルから噴射して加熱するように構成されている。
また、プリント回路基板に半田付けされたICの取り外
しは、ノズルを基板上のICに接触させ加熱、ノズル内
のバキュームビットに吸着して基板から取り外す方法に
行われている。
2. Description of the Related Art When mounting an IC on a printed circuit board, a soldering device adsorbs the IC to a vacuum bit at a tip end of a hot air injection device which can be moved up and down as shown in, for example, JP-A-8-46351. Then, the IC is sucked, dropped and placed on the corresponding conductive pattern on the printed circuit board on which the cream solder is applied, and heated by blowing hot air controlled at a constant temperature from a nozzle. .
Removal of an IC soldered to a printed circuit board is performed by bringing a nozzle into contact with an IC on the board, heating, adsorbing a vacuum bit in the nozzle, and removing the IC from the board.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本来の
ハンダ溶融温度とかけ離れた温度設定を行わざるをえ
ず、また垂直軸(Z軸)方向の位置制御、ひいては取り
付け、取り外し時の部品の基板に対する押し圧力は、降
下位置をストッパで制限する手法、若しくはスプリング
やは重り等の付勢力で制限しているため、正確に設定す
ることが困難である。さらに、最近の極微細部品例えば
CSP、マイクロBGAやフリップチップ等のように厚
さが数ミリ以下の半導体装置においては、押し圧やZ方
向の位置の誤差、加熱時の熱膨張により容易に破損する
という問題がある。本発明はこのような問題に鑑みてな
されたものであって、その目的とするところは、電子部
品に過剰な圧力を作用させることなく、半田付け、また
は取り外しに適した圧力で電子部品を移動させる機能を
備えた半田付け、取り外し装置を提供することである。
However, the temperature must be set far from the original melting temperature of the solder, and the position of the component in the vertical axis (Z-axis) direction must be controlled. It is difficult to set the pressing force accurately because the pressing position is limited by a method of restricting the descending position by a stopper or by a biasing force such as a spring or a weight. Furthermore, semiconductor devices having a thickness of several millimeters or less, such as recent ultra-fine parts such as CSP, micro BGA, and flip chips, are easily damaged by a pressing force, a positional error in the Z direction, and thermal expansion during heating. There is a problem of doing. The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to move an electronic component with a pressure suitable for soldering or removal without applying excessive pressure to the electronic component. It is an object of the present invention to provide a soldering and detaching device having a function of causing the soldering and the removing.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明はこのような課題
を達成するために、電子部品を吸引するバキュームビッ
トと、前記バキュームビットの近傍に熱風を供給する熱
風供給手段と、前記バキュームビット及び熱風供給手段
が取付けられた基台を回路基板に昇降させる昇降手段
と、電子回路基板を保持して水平方向に移動するテーブ
ルとからなる電子部品半田付け、取り外し装置におい
て、前記バキュームビットに負圧を供給するバキューム
パイプの荷重を検出する荷重検出手段を備え、前記荷重
検出手段からの信号に基づいて前記昇降手段を制御する
ようにした。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a vacuum bit for sucking an electronic component, a hot air supply means for supplying hot air near the vacuum bit, the vacuum bit and In an electronic component soldering / dismounting apparatus comprising: elevating means for elevating and lowering a base on which a hot air supply means is mounted on a circuit board; and a table which holds an electronic circuit board and moves in a horizontal direction, a negative pressure Load detecting means for detecting the load of the vacuum pipe for supplying the pressure, and controlling the elevating means based on a signal from the load detecting means.

【0005】[0005]

【作用】バキュームビットに保持された電子部品が回路
基板に所定の圧力で押圧された時点で、降下が停止する
ので、電子部品に過剰な応力が作用することに起因する
電子部品の破損が防止される。
When the electronic component held by the vacuum bit is pressed against the circuit board with a predetermined pressure, the descent stops, so that the electronic component is prevented from being damaged due to excessive stress acting on the electronic component. Is done.

【0006】[0006]

【発明の実施態様】そこで以下に本発明の詳細を図示し
た実施例に基づいて説明する。図1(イ)、(ロ)は、
それぞれ本発明の装置の一実施例を示す図であって、水
平基台1と垂直基台2とを備え、水平基台1には回路基
板Pの平面位置を設定するX−Yテーブル3が設けら
れ、上部にスライドカバー4、5が設けられている。一
方、垂直基台2には熱風噴射装置6、及びタッチパネル
式ディスプレイ7、及び非常停止指令スイッチ8が設け
られている。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention. Figures 1 (a) and (b)
1 is a view showing an embodiment of the apparatus of the present invention, each of which includes a horizontal base 1 and a vertical base 2, and an XY table 3 for setting a planar position of a circuit board P is provided on the horizontal base 1. The slide covers 4 and 5 are provided on the upper part. On the other hand, the vertical base 2 is provided with a hot air injection device 6, a touch panel display 7, and an emergency stop command switch 8.

【0007】図2は、同上装置の概要を示すものであっ
て、熱風噴射装置6は、エンコーダ10に接続されたサ
ーボモータ11により水平基台1に垂直に移動可能に垂
直基台2に取付けられている。熱風噴射装置6は、下端
に負圧により半導体装置を吸着するバキュームビット1
2が着脱可能に取付けられ、またこのバキュームビット
12に熱風を供給するエアヒータ13と、バキュームビ
ット12に負圧を供給するバキュームパイプ14と、バ
キュームパイプ12の上部を支持し、バキュームビット
の加圧力を検出するロードセル15、及び温度検出手
段、この実施例では熱電対16を収容して構成されてい
る。
FIG. 2 shows an outline of the above apparatus. A hot air injection device 6 is mounted on a vertical base 2 so as to be vertically movable on a horizontal base 1 by a servomotor 11 connected to an encoder 10. Have been. The hot air injection device 6 has a vacuum bit 1 at its lower end for adsorbing a semiconductor device by negative pressure.
An air heater 13 for supplying hot air to the vacuum bit 12, a vacuum pipe 14 for supplying a negative pressure to the vacuum bit 12, and an upper portion of the vacuum pipe 12 for supporting the vacuum bit 12. And a temperature detecting means, in this embodiment, a thermocouple 16.

【0008】ロードセル15、図3に示したように水平
面内での揺動を防止しつつ、上下方向に弾性変形可能な
支持体30、この実施例では、十字状の枝部31を有す
る弾性板の中心にバキュームパイプ14を貫通させて固
定するとともに、枝部31にストレインゲージ32を貼
着して構成されている。
As shown in FIG. 3, a load cell 15, a support 30 capable of elastically deforming in a vertical direction while preventing rocking in a horizontal plane, an elastic plate having a cross-shaped branch 31 in this embodiment. The vacuum pipe 14 is penetrated and fixed at the center, and a strain gauge 32 is attached to the branch portion 31.

【0009】また熱電対16は、2本の熱電対線34、
35をバキュームパイプ14の上端から下端まで貫通さ
せて、図4に示したようにバキュームビット12に保持
されている半導体装置Dの上面に当接するように熱接点
36を形成して構成されている。なお、図中符号37
は、エアヒータ13からの熱風をバキュームビット12
に導風するノズルを示す。
The thermocouple 16 has two thermocouple wires 34,
The thermal contact 36 is formed so as to penetrate through the vacuum pipe 14 from the upper end to the lower end and to contact the upper surface of the semiconductor device D held by the vacuum bit 12 as shown in FIG. . Note that reference numeral 37 in FIG.
Transmits hot air from the air heater 13 to the vacuum bit 12.
Shows the nozzle that guides the air.

【0010】バキュームビット12の下方には、バキュ
ームビット12に把持された半導体装置の裏面、及び回
路基板Pの表面を撮影する撮像装置17が進退可能に配
置されている。この撮像装置17は、特開平7-115300号
公報に見られるようにビームスプリツタと、矩形状に配
置された発光素子と、撮像素子とを備え、ビームスプリ
ッタにより上下の画像を合成してCCDにより電気信号
に変換するように構成されている。またX−Yテーブル
3の裏面と基台1との間には、回路基板Pの裏面のバキ
ュームビットに対向する位置に、回路基板Pの当接する
温度検出手段18と熱風供給装置19とからなるボトム
ヒータが配置されている。
Below the vacuum bit 12, an imaging device 17 for photographing the back surface of the semiconductor device gripped by the vacuum bit 12 and the front surface of the circuit board P is disposed so as to be able to advance and retreat. This imaging device 17 includes a beam splitter, a light emitting element arranged in a rectangular shape, and an imaging element as seen in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-115300, and combines the upper and lower images with the beam splitter to form a CCD. To convert the signal into an electric signal. Further, between the back surface of the XY table 3 and the base 1, a temperature detecting means 18 and a hot air supply device 19 are provided at a position opposite to the vacuum bit on the back surface of the circuit board P, in contact with the circuit board P. A bottom heater is provided.

【0011】これら温度検出手段18と熱風供給装置1
9は、図5に示したように駆動手段38により軸39を
中心に回動可能な基台40に一体に取付けられ、熱風供
給装置19に連通するノズル40により熱風を回路基板
Pの裏面に供給するように構成されている。さらに、半
導体部品Dを供給するパーツフィーダ20と対向する位
置、及び回路基板Pに対向する位置にはそれぞれ測高手
段、この実施例ではレーザー測離装置21、22が配置
されている。
The temperature detecting means 18 and the hot air supply device 1
Reference numeral 9 denotes a unit which is integrally mounted on a base 40 rotatable about a shaft 39 by a driving means 38 as shown in FIG. 5, and applies hot air to the back surface of the circuit board P by a nozzle 40 communicating with the hot air supply device 19. It is configured to supply. Further, at a position facing the parts feeder 20 for supplying the semiconductor component D and a position facing the circuit board P, height measuring means, in this embodiment, laser distance measuring devices 21 and 22 are arranged.

【0012】一方、制御装置23は、エンコーダ10、
ロードセル15、熱電対16、18からの信号及びタッ
チパネル7からの指令を受けて、熱風噴射装置6の昇
降、熱風の温度、バキュームビット12による押圧力、
引き上げ力の制御、レーザー測離装置21、22からの
信号により半導体装置Dの厚み測定、さらにはタッチパ
ネル7の表示モードを変更するように構成されている。
On the other hand, the control device 23 comprises the encoder 10,
In response to the signals from the load cell 15, the thermocouples 16 and 18 and the command from the touch panel 7, the hot air injection device 6 is raised and lowered, the temperature of the hot air, the pressing force by the vacuum bit 12,
It is configured to control the lifting force, measure the thickness of the semiconductor device D by a signal from the laser distance measuring devices 21 and 22, and further change the display mode of the touch panel 7.

【0013】タッチパネル7は、図6に示したように一
部領域、この実施例では右上4分の1の領域に、表示領
域50を、また周囲に熱風供給装置19の移動制御ボタ
ン、その下段に撮像装置17の移動制御ボタンなどを配
して構成されている。なお、図中符号51は、手動操作
用のノブを示す。
As shown in FIG. 6, the touch panel 7 has a display area 50 in a partial area, in this embodiment, an upper right quarter, a movement control button of the hot air supply device 19 around the display area 50, and a lower part thereof. And a control button for moving the imaging device 17. Reference numeral 51 in the figure indicates a knob for manual operation.

【0014】この実施例において、タッチパネル7によ
り半田付すべき半導体装置Dに適した加熱プロフィール
を設定ボタンにより設定するか、または予め登録されて
いる加熱プロフィール(図7)のデータを呼び出す。熱
風半田付けすべき半導体装置Dがパーツフィーダ20に
より所定位置に搬送されてくると、レーザー測離装置2
1によりパーツフィーダ20のベースと半導体装置Dの
表面との距離L1、L2を測定して半導体装置Dの厚み
(L1−L2)を検出する。
In this embodiment, a heating profile suitable for the semiconductor device D to be soldered by the touch panel 7 is set by a setting button or data of a heating profile (FIG. 7) registered in advance is called. When the semiconductor device D to be hot-air soldered is transported to a predetermined position by the parts feeder 20, the laser distance measuring device 2
1, the distances L1 and L2 between the base of the parts feeder 20 and the surface of the semiconductor device D are measured to detect the thickness (L1-L2) of the semiconductor device D.

【0015】パーツフィーダ20により半導体装置Dを
バキュームビット12の直下に搬送してバキュームビッ
ト12に保持させる。この状態では、図4に示したよう
に半導体装置Dの表面に熱電対の熱接点36が接触して
半導体装置Dの表面温度が信号として制御装置23に入
力している。
The semiconductor device D is transported directly below the vacuum bit 12 by the parts feeder 20 and is held by the vacuum bit 12. In this state, as shown in FIG. 4, the thermal contact 36 of the thermocouple contacts the surface of the semiconductor device D, and the surface temperature of the semiconductor device D is input to the control device 23 as a signal.

【0016】ついで、図示しないセンタリング装置に移
動させてバキュームビット12と半導体装置との相対位
置を規制し、またX−Yテーブル3を移動させて回路基
板Pの所定の導電パターンをバキュームビット12の直
下に移動させる。なお、センタリング装置は、例えば特
開平5-48299号公報に示されているように、半導体装置
の4辺を規制する爪を中心方向に付勢手段により付勢し
て構成することができる。
Then, the vacuum bit 12 is moved to a centering device (not shown) to regulate the relative position between the vacuum bit 12 and the semiconductor device, and the XY table 3 is moved to move a predetermined conductive pattern of the circuit board P to the vacuum bit 12. Move directly below. The centering device can be configured by urging a claw that regulates four sides of the semiconductor device in the center direction by urging means, as shown in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-48299.

【0017】必要に応じて撮像装置17をこの領域に移
動させると、半導体装置Dの底面と回路基板の導電パタ
ーンとの画像がハーフミラーにより合成され、タッチパ
ネル7の画像表示領域50に映し出しされる。この画像
を見ながら図示しない微動装置によりX−Yテーブル3
の位置を微調整する。
When the imaging device 17 is moved to this area as required, the image of the bottom surface of the semiconductor device D and the conductive pattern of the circuit board are combined by a half mirror and displayed on the image display area 50 of the touch panel 7. . While viewing this image, the XY table 3 is moved by a fine movement device (not shown).
Fine-tune the position of.

【0018】位置合わせが終了した段階で、カバー4、
5を閉じてボタンを押圧すると、サーボモータ11が高
速作動して熱風噴射装置6が降下し、その高さがエンコ
ーダ10により検出される。所定位置まで降下した段階
で、サーボモータ11が低速回転してさらに降下を続行
する。半導体装置Dの底面が回路基板Pに接触すると、
バキュームパイプ14に反力が作用してロードセル15
から荷重信号が出力する。荷重が所定の値、例えば0.
1gに到達した時点で、サーボモータ11が停止する。
これにより、半導体装置Dが回路基板Pに半田付けに適
した圧力で位置決めされる。
When the positioning is completed, the cover 4,
When the button 5 is closed and the button is pressed, the servomotor 11 operates at a high speed to lower the hot air injection device 6, and the height is detected by the encoder 10. At the stage where the servo motor 11 has descended to the predetermined position, the servo motor 11 rotates at a low speed and continues to descend further. When the bottom surface of the semiconductor device D contacts the circuit board P,
The reaction force acts on the vacuum pipe 14 and the load cell 15
Outputs a load signal. When the load is a predetermined value, for example, 0.
When it reaches 1 g, the servomotor 11 stops.
As a result, the semiconductor device D is positioned on the circuit board P with a pressure suitable for soldering.

【0019】ついで、タッチパネル7により加熱を指令
すると、半導体装置Dの表面に接触している熱接点36
により検出される温度の時間パターンが、予め設定され
た状態となるようにエアヒータ13への電力が制御され
る。この加熱にともなう半導体装置D、また回路基板P
が熱膨張してバキュームビット12への反力(圧力)が
上昇すると、バキュームパイプ14を介してロードセル
15の荷重も増加するので、サーボモータ11が逆転し
て半導体装置Dの押圧力を一定に維持する。
Next, when a command for heating is given by the touch panel 7, the thermal contacts 36 in contact with the surface of the semiconductor device D are contacted.
The power to the air heater 13 is controlled such that the time pattern of the temperature detected by the above becomes a preset state. The semiconductor device D accompanying this heating and the circuit board P
When the reaction force (pressure) to the vacuum bit 12 rises due to thermal expansion, the load of the load cell 15 also increases through the vacuum pipe 14, so that the servomotor 11 reversely rotates to keep the pressing force of the semiconductor device D constant. maintain.

【0020】これにより、半導体装置Dが回路基板に常
に一定の圧力で押圧されるため、半導体装置Dの破損
や、また半田つぶれによる短絡を防止することができ
る。このようにして回路基板Pに塗布された半田クリー
ム、または半導体装置Dの半田粒子が溶融した時点で、
熱風の供給を停止し、半田が固化した時点でサーボモー
タ11を逆転させ、熱風噴射装置6を元の位置に上昇さ
せる。
As a result, the semiconductor device D is constantly pressed against the circuit board with a constant pressure, so that damage to the semiconductor device D and short-circuit due to crushed solder can be prevented. When the solder cream applied to the circuit board P or the solder particles of the semiconductor device D is melted,
The supply of hot air is stopped, and when the solder is solidified, the servomotor 11 is rotated in the reverse direction, and the hot air injection device 6 is raised to the original position.

【0021】なお、半田付け時に、必要に応じてボトム
ヒータを構成する温度検出手段18と熱風供給装置19
とを回路基板側に進出させ、回路基板Pに温度検出手段
18を接触させ、回路基板の温度が所定のパターンとな
るように熱風供給装置19を作動させて回路基板側から
も加熱するようにしてもよい。このように回路基板Pを
も加熱することにより、半導体装置Dの過熱を防止して
確実に半田付けを行うことができる。
At the time of soldering, a temperature detecting means 18 and a hot air supply device 19 constituting a bottom heater as required.
Are advanced to the circuit board side, the temperature detecting means 18 is brought into contact with the circuit board P, and the hot air supply device 19 is operated so that the temperature of the circuit board becomes a predetermined pattern so that the circuit board side is also heated. You may. By heating the circuit board P in this way, the semiconductor device D can be prevented from overheating and soldering can be reliably performed.

【0022】一方、回路基板Pに半田付けされている半
導体装置Dを交換のために取り外す場合には、X−Yテ
ーブル3を移動させて当該半導体装置をレーザー測離装
置22に対向させて半導体装置Dの表面までの距離L3
を測定する。ついで、回路基板Pの半導体装置Dをバキ
ュームビット12の直下に移動させ、撮像装置17によ
り半導体装置Dとバキュームビット12との合成画像を
タッチパネルに映し出し、位置を微調整する。
On the other hand, when the semiconductor device D soldered to the circuit board P is to be removed for replacement, the XY table 3 is moved so that the semiconductor device faces the laser distance measuring device 22 and the semiconductor device D is removed. Distance L3 to the surface of device D
Is measured. Next, the semiconductor device D of the circuit board P is moved directly below the vacuum bit 12, and a composite image of the semiconductor device D and the vacuum bit 12 is displayed on the touch panel by the imaging device 17, and the position is finely adjusted.

【0023】位置合わせが終了した段階で、ボタンを押
圧すると、サーボモータ11が高速作動して熱風噴射装
置6が降下し、その高さがエンコーダ10により検出さ
れる。所定位置まで降下した段階で、サーボモータ11
が低速回転してさらに降下を続行する。バキュームビッ
ト12が半導体装置に接触すると、バキュームパイプ1
4に反力が作用してロードセル15から荷重信号が出力
する。荷重が所定の値、例えば0.1gに到達した時点
で、サーボモータ11が停止する。
When the button is pressed at the stage when the positioning is completed, the servomotor 11 operates at a high speed to lower the hot air injection device 6, and the height thereof is detected by the encoder 10. At the stage where the servo motor 11
Rotates at low speed and continues to descend further. When the vacuum bit 12 contacts the semiconductor device, the vacuum pipe 1
4 applies a reaction force to the load cell 15 to output a load signal. When the load reaches a predetermined value, for example, 0.1 g, the servomotor 11 stops.

【0024】ついで、加熱を開始すると、半導体表面に
接触している熱電対により検出される温度の時間パター
ンが、予め設定された状態となるようにエアヒータ13
への電力が制御され、半導体装置Dを固定している溶融
した時点で、サーボモータ11を逆転駆動すると、半導
体装置Dがバキュームビット12に把持されて回路基板
Pから剥がれる。
Next, when heating is started, the air heater 13 is set so that the time pattern of the temperature detected by the thermocouple in contact with the semiconductor surface becomes a preset state.
When the power to the semiconductor device D is controlled and the semiconductor device D is fixed and melted, when the servo motor 11 is driven in the reverse direction, the semiconductor device D is gripped by the vacuum bit 12 and peeled off from the circuit board P.

【0025】なお、このときロードセル15から負の荷
重信号が出力した場合には、未溶融の半田が存在するか
らサーボーモータ11を正転させて、再び熱風を供給し
て半田を再加熱する。これにより、半導体装置Dや回路
基板Pに無理な負荷を作用させることなく、安全、確実
に半導体装置を取り外すことができる。また、上述の実
施例においては半導体装置の半田付け、取り外しに例を
採って説明したが、小型の電子部品に適用しても同様の
作用を奏することは明らかである。さらに、上述の実施
例においては、熱電対により半導体装置や回路基板の温
度を測定しているが、抵抗測温素子を使用しても同様の
作用を奏することは明らかである。
If a negative load signal is output from the load cell 15 at this time, since the unmelted solder is present, the servo motor 11 is rotated forward and hot air is supplied again to reheat the solder. Thus, the semiconductor device can be safely and securely removed without applying an excessive load to the semiconductor device D or the circuit board P. Further, in the above-described embodiment, an example has been described in which the semiconductor device is soldered and removed. However, it is apparent that the same effect is exerted even when applied to a small electronic component. Further, in the above-described embodiment, the temperature of the semiconductor device or the circuit board is measured by a thermocouple. However, it is obvious that the same operation can be obtained by using a resistance temperature measuring element.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように本発明においては、
バキュームビットに負圧を供給するバキュームパイプの
荷重を検出する荷重検出手段を備え、荷重検出手段から
の信号に基づいて昇降手段を制御するようにしたので、
バキュームビットに保持された電子部品が回路基板に所
定の圧力で押圧された時点で、降下が停止させて、電子
部品に過剰な応力による破損を防止することができる。
As described above, in the present invention,
Since the load detecting means for detecting the load of the vacuum pipe for supplying the negative pressure to the vacuum bit is provided, and the lifting means is controlled based on a signal from the load detecting means,
When the electronic component held by the vacuum bit is pressed against the circuit board with a predetermined pressure, the descent is stopped, and damage to the electronic component due to excessive stress can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図(イ)、(ロ)は、それぞれ本発明の装置の
一実施例をカバーを閉じた状態、及びカバーを明けた状
態で示す図である。
FIGS. 1 (a) and 1 (b) are views showing an embodiment of the apparatus of the present invention with a cover closed and a cover opened, respectively.

【図2】本発明の装置の一実施例を示す構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram showing an embodiment of the apparatus of the present invention.

【図3】図(イ)、(ロ)は、それぞれ同上装置を構成
するロードセルの一実施例を示す断面図と、上面図であ
る。
FIGS. 3A and 3B are a cross-sectional view and a top view, respectively, showing one embodiment of a load cell constituting the same device.

【図4】同上装置を構成する熱電対の一実施例をバキュ
ームビット近傍の構造で示す図である。
FIG. 4 is a view showing an embodiment of a thermocouple constituting the above device in a structure near a vacuum bit.

【図5】同上装置に使用するボトムヒータの一実施例を
示す図である。
FIG. 5 is a view showing one embodiment of a bottom heater used in the above device.

【図6】同上装置に使用するタッチパネルの一実施例を
示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing one embodiment of a touch panel used in the above device.

【図7】半導体装置の加熱プロフィールの一例を示す線
図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a heating profile of a semiconductor device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 水平基台 2 垂直基台 3 テーブル 4、5 スライドカバー 6 熱風噴射装置 7 タッチパネル式ディスプレイ 8 非常停止指令スイッチ 10 エンコーダ 11 サーボーモータ 12 バキュームビット 13 エアヒータ 14 バキュームパイプ 15 ロードセル 16、18 熱電対 17 撮像装置 18 温度検出手段 19 熱風供給装置 20 パーツフィーダ 21、22 レーザー測離装置 23 制御装置 30 支持体 31 枝部 32 ストレインゲージ 34、35 熱電対線 36 熱接点 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Horizontal base 2 Vertical base 3 Table 4, 5 Slide cover 6 Hot air injection device 7 Touch panel display 8 Emergency stop command switch 10 Encoder 11 Servo motor 12 Vacuum bit 13 Air heater 14 Vacuum pipe 15 Load cell 16, 18 Thermocouple 17 Imaging device Reference Signs List 18 Temperature detecting means 19 Hot air supply device 20 Parts feeder 21, 22 Laser distance measuring device 23 Control device 30 Support body 31 Branch 32 Strain gauge 34, 35 Thermocouple wire 36 Hot contact

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // B23K 101:42 B23K 101:42 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) // B23K 101: 42 B23K 101: 42

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子部品を吸引するバキュームビット
と、前記バキュームビットの近傍に熱風を供給する熱風
供給手段と、前記バキュームビット及び熱風供給手段が
取付けられた基台を回路基板に昇降させる昇降手段と、
電子回路基板を保持して水平方向に移動するテーブルと
からなる電子部品半田付け、取り外し装置において、 前記バキュームビットに負圧を供給するバキュームパイ
プの荷重を検出する荷重検出手段を備え、前記荷重検出
手段からの信号に基づいて前記昇降手段を制御する半田
付け、取り外し装置。
1. A vacuum bit for sucking an electronic component, hot air supply means for supplying hot air to the vicinity of the vacuum bit, and elevating means for raising and lowering a base on which the vacuum bit and the hot air supply means are mounted on a circuit board. When,
An electronic component soldering / dismounting apparatus comprising a table which holds an electronic circuit board and moves in a horizontal direction, the apparatus further comprising: load detecting means for detecting a load on a vacuum pipe for supplying a negative pressure to the vacuum bit; A soldering / dismounting device for controlling the lifting / lowering means based on a signal from the means.
【請求項2】 前記熱風供給手段により熱風が供給され
ている期間、前記荷重検出手段により検出される荷重が
一定となるように前記基台が昇降制御される請求項1に
記載の半田付け、取り外し装置
2. The soldering method according to claim 1, wherein the base is controlled to move up and down so that the load detected by the load detection unit is constant during a period in which the hot air is supplied by the hot air supply unit. Removal device
【請求項3】 前記バキュームビットに吸着された電子
部品の表面に当接する温度検出手段が前記バキュームビ
ットに内蔵されている請求項1に記載の半田付け、取り
外し装置。
3. The soldering and removing device according to claim 1, wherein temperature detecting means for abutting on the surface of the electronic component attracted to the vacuum bit is built in the vacuum bit.
【請求項4】 前記熱風の温度が、予め設定された温度
プロフィールデータに基づいて制御される請求項1に記
載の半田付け、取り外し装置。
4. The apparatus according to claim 1, wherein the temperature of the hot air is controlled based on preset temperature profile data.
【請求項5】前記バキュームビットの下方で、かつ前記
テーブルの裏面に位置する領域に、前記電子回路基板の
裏面に当接する温度検出手段と、熱風供給手段とが配置
されている請求項1に記載の半田付け、取り外し装置。
5. The apparatus according to claim 1, further comprising: a temperature detection unit that contacts the back surface of the electronic circuit board; and a hot air supply unit, in a region below the vacuum bit and on a back surface of the table. Soldering and removing device as described.
JP2000359444A 2000-11-27 2000-11-27 Soldering and removing apparatus Withdrawn JP2002164646A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000359444A JP2002164646A (en) 2000-11-27 2000-11-27 Soldering and removing apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000359444A JP2002164646A (en) 2000-11-27 2000-11-27 Soldering and removing apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002164646A true JP2002164646A (en) 2002-06-07

Family

ID=18831205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000359444A Withdrawn JP2002164646A (en) 2000-11-27 2000-11-27 Soldering and removing apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002164646A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100515643C (en) * 2004-06-28 2009-07-22 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Constant temperature type hot-press jointing device and method
CN105234159A (en) * 2015-11-17 2016-01-13 成都移动魔方科技有限公司 Automatic recovery system of electronic products
CN105234160A (en) * 2015-11-17 2016-01-13 成都移动魔方科技有限公司 Automatic recovery method of electronic products
CN105345476A (en) * 2015-11-17 2016-02-24 成都移动魔方科技有限公司 Automatic recycling device for electronic products
CN115365600A (en) * 2022-09-16 2022-11-22 李文雄 Welding-disassembling device and welding-disassembling method for circuit board chip
CN115502503A (en) * 2022-09-16 2022-12-23 李文雄 Automatic chip dismounting device and automatic chip dismounting method

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100515643C (en) * 2004-06-28 2009-07-22 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Constant temperature type hot-press jointing device and method
CN105234159A (en) * 2015-11-17 2016-01-13 成都移动魔方科技有限公司 Automatic recovery system of electronic products
CN105234160A (en) * 2015-11-17 2016-01-13 成都移动魔方科技有限公司 Automatic recovery method of electronic products
CN105345476A (en) * 2015-11-17 2016-02-24 成都移动魔方科技有限公司 Automatic recycling device for electronic products
CN115365600A (en) * 2022-09-16 2022-11-22 李文雄 Welding-disassembling device and welding-disassembling method for circuit board chip
CN115502503A (en) * 2022-09-16 2022-12-23 李文雄 Automatic chip dismounting device and automatic chip dismounting method
CN115365600B (en) * 2022-09-16 2023-09-15 李文雄 Welding and disassembling device and welding and disassembling method for circuit board chip
CN115502503B (en) * 2022-09-16 2023-09-19 李文雄 Automatic chip disassembling device and automatic chip disassembling method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4736355B2 (en) Component mounting method
JP4880055B2 (en) Electronic component mounting apparatus and method
JP5014151B2 (en) Chip mounting apparatus and chip mounting method
JP4359545B2 (en) Contact load control method for electronic component mounting apparatus
US6734537B1 (en) Assembly process
JP2002164646A (en) Soldering and removing apparatus
JPH09153525A (en) Bonder and bonding method
US20070284042A1 (en) Electronic parts removing apparatus and method
WO2002049094A1 (en) Method and apparatus for mounting a chip
JP2003179100A (en) Apparatus and method for manufacturing electronic component
JP2006294958A (en) Apparatus for soldering and removing electronic component
JPH11297749A (en) Flip-chip bonding apparatus and method therefor
JP2005223000A (en) Reworking device and temperature heating method thereof
KR100811117B1 (en) Electronic circuit board repair device
TW200820849A (en) Optical module producing method and apparatus
KR101591125B1 (en) Chip mounting apparatus
JP2002368395A (en) Method for fixing component by thermal compression bonding and apparatus therefor
JP2006344871A (en) Method and apparatus of reflow soldering
JP2006073873A (en) Method and apparatus for mounting electronic component
KR100693813B1 (en) Electronic circuit board repair method
JPH0572153A (en) Measuring device for soldering performance of cream solder
JP3567898B2 (en) Chip crimping equipment
JP2008210948A (en) Bonding apparatus
JPH0555744A (en) Mounting parts loading/unloading apparatus
JP3214298B2 (en) Sub-board bonding apparatus and bonding method

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20080205