JP3457211B2 - Processing device and processing method - Google Patents

Processing device and processing method

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JP3457211B2
JP3457211B2 JP08914899A JP8914899A JP3457211B2 JP 3457211 B2 JP3457211 B2 JP 3457211B2 JP 08914899 A JP08914899 A JP 08914899A JP 8914899 A JP8914899 A JP 8914899A JP 3457211 B2 JP3457211 B2 JP 3457211B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は,例えば半導体ウェ
ハやLCD用ガラス板等の基板を処理する処理装置及び
処理方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a processing apparatus and a processing method for processing a substrate such as a semiconductor wafer or a glass plate for LCD.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に,半導体デバイスの製造工程にお
いては,例えば半導体ウェハ(以下,「ウェハ」とい
う。)の表面に付着したパーティクル,有機汚染物,金
属不純物等のコンタミネーションを除去するために洗浄
処理システムが使用されている。その中の一つとして枚
葉式の洗浄処理システムには,一般にスピン型の処理装
置が備えられている。
2. Description of the Related Art Generally, in a semiconductor device manufacturing process, for example, cleaning is performed to remove contaminants such as particles, organic contaminants, and metal impurities attached to the surface of a semiconductor wafer (hereinafter referred to as "wafer"). The processing system is in use. As one of them, a single-wafer cleaning processing system is generally equipped with a spin type processing device.

【0003】この処理装置には,例えば,特開平8−1
41518号や特開平8−141519号等に開示され
ている,いわゆるスクラブ洗浄処理を行う処理装置が知
られている。このスクラブ洗浄処理は,ウェハの表面に
ブラシやスポンジ等の部材を具備する処理体を回転させ
ながら接触させて,ウェハの表面に付着したパーティク
ル等をこすり落とすものである。この従来の処理装置
は,昇降及び回動自在なアーム部材の先端部に,押圧手
段を設けている。この押圧手段の下方に,出力軸として
昇降及び回転自在なシャフトを配置し,このシャフトの
下端部に処理体を取り付けている。
An example of this processing apparatus is Japanese Patent Laid-Open No. 8-1
There is known a processing device for performing a so-called scrub cleaning process, which is disclosed in JP-A-41518 and JP-A-8-141519. In this scrub cleaning process, a treatment object provided with a member such as a brush or sponge is brought into contact with the surface of the wafer while rotating, and particles and the like adhering to the surface of the wafer are scraped off. In this conventional processing device, a pressing means is provided at the tip of an arm member that can be raised and lowered and rotated. A shaft that can be raised and lowered and rotated as an output shaft is arranged below the pressing means, and a processing body is attached to the lower end of the shaft.

【0004】そして,押圧手段の稼働によって,シャフ
トに上下方向の推力を付与し,この推力が処理体に働
き,処理体がウェハの表面を押圧する構成になってい
る。この処理体に働く推力と処理体の自重との総和が,
処理体によってウェハの表面に加わる接触圧力となる。
ウェハの表面を良好に洗浄処理するためには,この接触
圧力を所定の設定値内で制御することや,処理体を所定
の回転数で回転させることが大切である。
By the operation of the pressing means, a vertical thrust is applied to the shaft, and this thrust acts on the processing body, and the processing body presses the surface of the wafer. The sum of the thrust acting on this processing body and the weight of the processing body is
The contact pressure is applied to the surface of the wafer by the processing body.
In order to satisfactorily clean the surface of the wafer, it is important to control the contact pressure within a predetermined set value and rotate the processing body at a predetermined rotation speed.

【0005】ここで,押圧手段の具体的な構成を述べる
と,押圧手段においては動力源として,伸縮自在なベロ
ーズやエアシリンダ等が用いられている。そして,例え
ば,動力源がベローズであれば,ベローズの下端にシャ
フトを接続し,ベローズの伸縮稼働によってシャフトに
上下方向の推力を付与する。また,エアシリンダであれ
ば,エアシリンダの下方にシャフトを設け,エアシリン
ダの昇降稼働によって同様にシャフトに推力を付与す
る。
Here, the specific structure of the pressing means will be described. In the pressing means, an expandable bellows, an air cylinder or the like is used as a power source. Then, for example, if the power source is a bellows, a shaft is connected to the lower end of the bellows, and a vertical thrust is applied to the shaft by the expansion and contraction operation of the bellows. In the case of an air cylinder, a shaft is provided below the air cylinder, and thrust is similarly applied to the shaft as the air cylinder moves up and down.

【0006】一方,処理体の回転を制御する回転手段
も,アーム部材に設けられている。回転手段の具体的な
構成を述べると,シャフトから離れた位置,例えばアー
ム部材の基端部にモータを設け,このモータに回転自在
に固着された駆動プーリを配置し,前記シャフトの胴体
に従動プーリを固着し,これら駆動プーリと従動プーリ
との間にベルトとを巻回する。そして,モータが回転稼
働すると,その回転駆動はベルトからシャフトへ伝達さ
れ,処理体が回転する構成になっている。そして,この
ような昇降及び回転自在なシャフトは,アーム部材に設
けられた軸受を介してその動作が支持されている。
On the other hand, rotating means for controlling the rotation of the processing body is also provided on the arm member. A specific configuration of the rotating means will be described. A motor is provided at a position distant from the shaft, for example, at a base end portion of an arm member, and a drive pulley fixed rotatably to the motor is arranged to follow the body of the shaft. The pulley is fixed, and the belt is wound between the drive pulley and the driven pulley. When the motor rotates, the rotational drive is transmitted from the belt to the shaft, and the processing body rotates. The operation of such a shaft that can be raised and lowered and rotated is supported by a bearing provided on the arm member.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら,従来の
処理装置において,処理体の押圧力及び回転を制御する
ためには,シャフトと軸受同士の摺動抵抗,前記従動プ
ーリを介してシャフトにかかるベルトの張力の悪影響,
さらに時として,ベルトの緩みによる伝達損失等を考慮
しなければならない。従って,例えば洗浄処理中におい
て,処理体の押圧力及び回転を制御することは,必ずし
も容易ではなかった。
However, in the conventional processing apparatus, in order to control the pressing force and the rotation of the processing body, the sliding resistance between the shaft and the bearing, and the belt applied to the shaft via the driven pulley. Adverse effect of the tension of
In addition, sometimes it is necessary to consider transmission loss due to belt loosening. Therefore, it is not always easy to control the pressing force and rotation of the processing body during the cleaning processing, for example.

【0008】また,ベルトやプーリ等の複雑な伝達部品
を有した回転手段では,アーム部材の構造が複雑化して
いた。また,ベルトを駆動プーリと従動プーリとの間で
回すと,ベルトとプーリ同士が擦れ合い発塵する。同様
に,シャフトと軸受同士が擦れ合い発塵する。この発塵
が周囲に拡散すれば,ウェハに対してパーティクル付着
の原因となり,洗浄処理の効率が低下してしまう。
Further, in the rotating means having complicated transmission parts such as belts and pulleys, the structure of the arm member is complicated. Further, when the belt is rotated between the drive pulley and the driven pulley, the belt and the pulley rub against each other and dust is generated. Similarly, the shaft and bearing rub against each other and generate dust. If this dust diffuses to the surroundings, it causes particles to adhere to the wafer, and the cleaning process efficiency decreases.

【0009】従って,本発明の目的は,回転手段からの
回転駆動を処理体に伝達する仕組みを簡単にし,発塵の
防止や処理体の押圧力及び回転の制御を容易に行える処
理装置を提供する。
Therefore, an object of the present invention is to provide a processing device that simplifies the mechanism for transmitting the rotational drive from the rotating means to the processing body and can easily prevent dust generation and control the pressing force and rotation of the processing body. To do.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに,本発明は,基板の表面に接触する処理体と,基板
に対して前記処理体を押圧させる押圧手段と,前記処理
体を回転させる回転手段とを備えた処理装置において,
前記押圧手段の上方に前記回転手段を配置し,前記押圧
手段の出力軸を前記押圧手段の上方及び下方の両方に突
出させ,前記回転手段の回転軸に駆動噛合部材を取り付
け,前記出力軸の上端部に従動噛合部材を取り付け,前
記駆動噛合部材と前記従動噛合部材とを噛み合わせるこ
とにより,前記駆動噛合部材と前記従動噛合部材とが相
対的に昇降移動でき,かつ,前記回転手段の回転稼働に
伴い前記回転手段の回転駆動を前記出力軸に伝達するよ
うに構成し,前記出力軸の下端部に対して前記処理体を
取り付け,前記出力軸を上下方向に昇降自在に構成した
ことを特徴とする。
In order to solve the above problems, the present invention provides a processing body that contacts the surface of a substrate, a pressing means that presses the processing body against the substrate, and the processing body. In a processing device having a rotating means for rotating,
The rotating means is arranged above the pressing means, the output shaft of the pressing means is projected both above and below the pressing means, and a drive mesh member is attached to the rotating shaft of the rotating means, By attaching a driven meshing member to the upper end and meshing the drive meshing member and the driven meshing member, the drive meshing member and the driven meshing member are in phase with each other.
It is configured to be capable of moving up and down relative to each other, and configured to transmit the rotational drive of the rotating means to the output shaft as the rotating operation of the rotating means is performed, and the processing body is attached to the lower end of the output shaft. It is characterized in that the output shaft is vertically movable.

【0011】この処理装置によれば,出力軸の上端を押
圧手段の上方にまで突出させて,この突出上端部に,回
転手段からの回転駆動を直接的に伝達させて出力軸を回
転させる。これにより,出力軸から種々の外乱要素(ベ
ルトの張力等)が排除され,処理体の押圧力及び回転の
制御が容易になる。また,ベルトやプーリ等の複雑な伝
達部品を設ける必要がなくなる。
According to this processing apparatus, the upper end of the output shaft is projected to above the pressing means, and the rotational drive from the rotating means is directly transmitted to the protruding upper end portion to rotate the output shaft. As a result, various disturbance elements (belt tension, etc.) are eliminated from the output shaft, and it becomes easy to control the pressing force and rotation of the processing body. Further, it is not necessary to provide complicated transmission parts such as belts and pulleys.

【0012】この処理装置によれば,回転手段の回転稼
働に伴い,駆動噛合部材が回転し,駆動噛合部材と従動
噛合部材とが噛み合う。そして,従動噛合部材の回転に
伴い,出力軸と処理体が一体となって回転する。
According to this processing apparatus , the drive meshing member rotates with the rotation operation of the rotating means, and the drive meshing member and the driven meshing member mesh with each other. Then, as the driven mesh member rotates, the output shaft and the processing body rotate together.

【0013】この場合,前記回転手段の回転軸に平行な
第1の突起部を前記駆動噛合部材に設け,前記出力軸に
平行な第2の突起部を前記従動噛合部材に設け,かつ,
前記回転手段の回転軸と前記出力軸とを同芯上に配置
し,前記駆動噛合部材と前記従動噛合部材とを相対的に
昇降移動できるように,前記第1の突起部と前記第2の
突起部とを係合させるのがよい。かかる構成によれば,
回転手段の回転軸と出力軸とを同芯上に配置しているた
め,駆動噛合部材と前従動噛合部材とを相対的に昇降移
動させても,第1の突起部と第2の突起部とが係合した
状態となっている。これにより,出力軸の昇降移動に伴
って,駆動噛合部材に対して従動噛合部材を昇降移動さ
せても,前記駆動噛合部材と前従動噛合部材との噛み合
わせを好適に維持できる。
In this case, a first protrusion parallel to the rotation axis of the rotating means is provided on the drive meshing member, and a second protrusion parallel to the output shaft is provided on the driven meshing member, and
The rotating shaft of the rotating means and the output shaft are concentrically arranged, and the first protrusion and the second protrusion are arranged so that the driving engagement member and the driven engagement member can be moved up and down relatively. It is good to engage with the protrusion. According to this configuration,
Since the rotating shaft of the rotating means and the output shaft are arranged concentrically with each other, even if the drive meshing member and the front driven meshing member are moved up and down relatively, the first protrusion and the second protrusion are formed. And are in the engaged state. Accordingly, even if the driven meshing member is moved up and down with respect to the drive meshing member as the output shaft is moved up and down, the meshing between the drive meshing member and the front driven meshing member can be preferably maintained.

【0014】前記駆動噛合部材は,前記回転軸に接続さ
れた第1の接続板と,この第1の接続板に取り付けられ
た水平支軸と,この水平支軸により支持されたローラと
を備え,前記従動噛合部材は,前記出力軸に接続された
第2の接続板と,この第2の接続板から立設し,かつ開
口によって略凹形状に形成された垂直部材とを備え,前
記開口を介して前記ローラを前記垂直部材に係合させる
ことにより,前記回転手段の回転駆動を前記出力軸に伝
達する構成であってもよい。かかる構成によれば,駆動
噛合部材と従動噛合部材とを好適に噛み合わせて,回転
手段の回転駆動を出力軸に伝達することができる。ま
た,開口を介してローラを垂直部材に係合させているの
で,回転手段の回転駆動を出力軸に伝達する際には,ロ
ーラと垂直部材とが擦れ合うことがない。これにより,
パーティクルの発生を防止でき,ローラ,垂直部材の摩
耗を無くすことができる。
The drive mesh member includes a first connecting plate connected to the rotary shaft, a horizontal support shaft attached to the first connecting plate, and a roller supported by the horizontal support shaft. The driven meshing member includes a second connecting plate connected to the output shaft, and a vertical member standing upright from the second connecting plate and having a substantially concave shape by an opening. The rotation drive of the rotating means may be transmitted to the output shaft by engaging the roller with the vertical member via. According to this structure, the drive engagement member and the driven engagement member can be appropriately engaged with each other, and the rotational drive of the rotating means can be transmitted to the output shaft. Further, since the roller is engaged with the vertical member through the opening, the roller and the vertical member do not rub each other when transmitting the rotational drive of the rotating means to the output shaft. By this,
Generation of particles can be prevented, and wear of rollers and vertical members can be eliminated.

【0015】前記押圧手段は,気体を用いて,前記出力
軸の上下方向の推力を制御する構成であることが好まし
い。かかる構成によれば,出力軸の上下方向の推力の制
御を気体の特性に基づいて行い,これによって,出力軸
の下端に取り付けられた処理体の接触圧力を制御する。
この場合,請求項6に記載したように,気体の供給圧に
よって出力軸の上下方向の推力を制御すれば,処理体の
接触圧力を円滑に制御できる。また,請求項7に記載し
たように,前記押圧手段は,気体が供給される供給室
と,気体が供給されると共に気体が排気される給排気室
とを有し,前記供給室若しくは給排気室に前記出力軸の
下降移動を制限するストッパが設けられていることが好
ましい。
It is preferable that the pressing means is constructed to control the thrust of the output shaft in the vertical direction by using gas. According to this structure, the thrust of the output shaft in the vertical direction is controlled based on the characteristics of the gas, and thereby the contact pressure of the processing body attached to the lower end of the output shaft is controlled.
In this case, as described in claim 6, if the thrust force in the vertical direction of the output shaft is controlled by the gas supply pressure, the contact pressure of the processing body can be smoothly controlled. Further, as described in claim 7, the pressing means has a supply chamber to which a gas is supplied, and a supply / exhaust chamber to which the gas is supplied and the gas is exhausted. It is preferable that the chamber is provided with a stopper that limits the downward movement of the output shaft.

【0016】また,前記押圧手段に気体供給路を接続
し,前記気体供給路に気圧調整機構を設け,さらに,
記気圧調整機構は,処理すべき基板に対する処理体の所
定の接触圧力を設定し,この所定の接触圧力になるよう
に前記出力軸の上下方向の推力を制御する構成であって
もよい。かかる構成によれば,気体調整機構によって,
基板に対して所定の接触圧力を加えることができるの
で,好適な処理を行うことができる。
Further, connecting the gas supply passage to said pressing means, a pressure adjusting mechanism provided in the gas supply path, further, the pressure adjusting mechanism sets a predetermined contact pressure of the treated relative to the substrate to be processed The thrust in the vertical direction of the output shaft may be controlled so that the predetermined contact pressure is obtained. According to such a configuration, by the gas adjusting mechanism,
Since a predetermined contact pressure can be applied to the substrate, suitable processing can be performed.

【0017】前記押圧手段に前記出力軸の回転及び昇降
動作を支持するエアベアリングを設けることが好まし
い。かかる構成によれば,エアベアリングは,気体を用
いて出力軸を中空に浮かせ摩擦のない状態を作り出し
て,出力軸の昇降及び回転動作を支持する。従って,従
来のような軸受との擦れ合いが無くなる。
[0017] It is preferable to provide an air bearing for supporting the rotation and vertical movement of said output shaft to said pressing means. According to such a configuration, the air bearing uses the gas to float the output shaft in the air to create a frictionless state, and supports the lifting and rotating operations of the output shaft. Therefore, friction with the conventional bearing is eliminated.

【0018】前記出力軸の下方外周部の雰囲気と,前記
駆動噛合部材及び前記従動噛合部材の雰囲気とを排気す
る排気手段を設けたことが好ましい。かかる構成によれ
ば,仮に出力軸の下方外周部と駆動噛合部材及び前記従
動噛合部材とで発塵しても,排気手段で排気して,周囲
に拡散するのを未然に防止する。
The atmosphere and the lower outer peripheral portion of the output shaft, it is preferable provided with exhaust means for exhausting the atmosphere in the drive engaging member and the driven engaging member. According to this structure, even if dust is generated between the lower outer peripheral portion of the output shaft and the drive meshing member and the driven meshing member, it is prevented from being exhausted by the exhaust means and diffused to the surroundings.

【0019】また,本発明は,基板の表面に処理体を接
触させ,該処理体を押圧しながら回転させて基板を処理
する処理方法において,前記処理体を支持する押圧手段
出力軸と,前記処理体を回転駆動する回転手段の回転
軸とが,駆動噛合部材と従動噛合部材とを介して直列に
配置されており,前記押圧手段の上方に前記回転手段が
配置されており,かつ,前記駆動噛合部材と前記従動噛
合部材とが相対的に昇降移動でき,前記基板の表面に処
理体を接触させる前に,処理する際の処理体の所定の接
触圧力を設定する工程と,前記基板の表面に処理体を接
触させる工程と,前記出力軸に上向きの推力を働かせる
ことにより,前記所定の接触圧力になるように処理体の
押圧力を調整する工程とを有することを特徴とする。
Further, according to the present invention, in a processing method of processing a substrate by bringing a processing body into contact with a surface of a substrate and rotating the processing body while pressing the processing body, a pressing means for supporting the processing body.
An output shaft of the rotating member and a rotating shaft of a rotating means for rotating and driving the processing body are arranged in series via a driving meshing member and a driven meshing member, and the rotating means is arranged above the pressing means.
The drive meshing member and the driven mesh.
If members and can be relatively moved up and down, the contact prior to contacting the treated body surface of the substrate, a step of setting the predetermined contact pressure of the processing member at the time of treatment, the treatment member on the surface of the substrate And a step of adjusting the pressing force of the processing body so that the predetermined contact pressure is achieved by exerting an upward thrust on the output shaft.

【0020】かかる方法によれば,処理体の接触圧力
は,処理体の押圧力(処理体に働く上下方向の推力)と
処理体の自重できまるが,処理体の押圧力を調整するこ
とによって,所定の接触圧力で基板を処理することが可
能となる。
According to such a method, the contact pressure of the processing body can be determined by the pressing force of the processing body (the vertical thrust acting on the processing body) and the self-weight of the processing body, but by adjusting the pressing force of the processing body , It becomes possible to process the substrate with a predetermined contact pressure.

【0021】かかる構成によれば,回転軸と出力軸とが
直列に配置されているため,回転軸から出力軸に直接的
に回転駆動が伝達される。このような直接的な回転駆動
の伝達であるために,出力軸に外乱が入り込まなくな
り,出力軸の昇降動作や回転動作が安定する。
According to this structure, since the rotary shaft and the output shaft are arranged in series, the rotary drive is directly transmitted from the rotary shaft to the output shaft. Because of this direct transmission of rotational drive, disturbance does not enter the output shaft, and the lifting and rotating operations of the output shaft are stable.

【0022】また,前記基板の表面に処理体を接触させ
ている間,基板を回転させるようにしてもよい。
Further, while contacting the treated body surface of the substrate, it may be to rotate the substrate.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下,本発明の好ましい実施の形
態を,基板の一例としてウェハの表面を洗浄処理するよ
うに構成された表面処理装置に基づいて説明する。図1
は,本実施の形態にかかる表面処理装置7を組み込んだ
洗浄処理システム1の斜視図である。洗浄処理システム
1は,キャリアC単位でウェハWを搬入し,ウェハWを
一枚ずつ洗浄,乾燥を行い,キャリア単位でウェハWを
搬出するように構成されている。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described on the basis of a surface processing apparatus configured to clean a surface of a wafer as an example of a substrate. Figure 1
FIG. 1 is a perspective view of a cleaning processing system 1 incorporating a surface processing device 7 according to this embodiment. The cleaning processing system 1 is configured to carry in the wafer W in units of carrier C, clean and dry the wafers W one by one, and carry out the wafer W in carrier.

【0024】この洗浄処理システム1には,ウェハWを
収納したキャリアCを4個分載置できる載置部2が設け
られている。洗浄処理システム1の中央には,載置部2
に載置されたキャリアCから処理工程前のウェハWを一
枚ずつ取り出し,また,処理工程後のウェハWをキャリ
アCに収納する取出収納アーム3が配置されている。こ
の取出収納アーム3の背部には,取出収納アーム3との
間でウェハWの授受を行う搬送機構である搬送アーム4
が待機している。搬送アーム4は,洗浄処理システム1
の中央に設けられた搬送路6に沿って移動可能に設けら
れている。搬送路6の両側には,各種の処理装置が配置
されている。具体的には,搬送路6の一方の側方には,
例えばウェハWの表面を洗浄するための表面処理装置7
と,ウェハWの裏面を洗浄するための裏面処理装置8と
が並んで配置されている。また,搬送路6の他方の側方
には,加熱装置9が4基積み重ねて設けられている。こ
の加熱装置9は,ウェハWを加熱して乾燥させるための
手段である。この加熱装置9に隣接して2基のウェハ反
転装置10が積み重ねて設けられている。
The cleaning processing system 1 is provided with a mounting portion 2 on which four carriers C containing wafers W can be mounted. In the center of the cleaning processing system 1, a mounting section 2 is provided.
A take-out storing arm 3 for taking out the wafers W before the processing process one by one from the carrier C placed on the substrate C and for storing the wafers W after the processing process in the carrier C is arranged. At the back of the unloading / accommodating arm 3, a transfer arm 4 serving as a transfer mechanism for transferring the wafer W to / from the unloading / accommodating arm 3.
Is waiting. The transfer arm 4 is the cleaning processing system 1
It is provided so as to be movable along the transport path 6 provided at the center of the. Various processing devices are arranged on both sides of the transport path 6. Specifically, on one side of the transport path 6,
For example, a surface treatment device 7 for cleaning the surface of the wafer W
And a back surface processing device 8 for cleaning the back surface of the wafer W are arranged side by side. Further, four heating devices 9 are stacked and provided on the other side of the transport path 6. The heating device 9 is means for heating and drying the wafer W. Adjacent to the heating device 9, two wafer reversing devices 10 are stacked and provided.

【0025】ここで,表面処理装置7の構成について説
明する。図2は,表面処理装置7の平面図であり,図3
は,その側面図である。ケース20のほぼ中央に,ウェ
ハWを水平に吸着保持した状態でモータ21によって回
転するスピンチャック22と,このスピンチャック22
及びウェハWを包囲しウェハWの表面に供給した処理液
等が周囲に飛び散ることを防止するカップ23とを備え
ている。そして,ケース20の一側近傍に,ウェハWの
表面に処理体24接触させて洗浄するスクラブ洗浄機2
5が配置されている。図2で示したスクラブ洗浄機25
は,ウェハWから離れた位置で待機した状態を示してい
る。また,ケース20の前面側には,図示しないシャッ
タによって開閉自在な搬入出口7aが設けられており,
この搬入出口7aを介して,搬送アーム4によりウェハ
Wが表面処理装置7に対して搬入出されるようになって
いる。
Here, the structure of the surface treatment apparatus 7 will be described. 2 is a plan view of the surface treatment apparatus 7, and FIG.
Is a side view thereof. A spin chuck 22 rotated by a motor 21 in a state in which a wafer W is horizontally attracted and held in a substantially center of a case 20, and the spin chuck 22.
And a cup 23 that surrounds the wafer W and prevents the processing liquid and the like supplied to the surface of the wafer W from scattering around. Then, a scrub cleaning machine 2 for cleaning the surface of the wafer W by bringing the surface of the wafer W into contact with the processing body 24 near one side of the case 20
5 are arranged. The scrubbing machine 25 shown in FIG.
Shows the state of waiting at a position away from the wafer W. Further, on the front side of the case 20, there is provided a loading / unloading port 7a which can be opened and closed by a shutter (not shown).
The wafer W is carried in and out of the surface processing apparatus 7 by the carrier arm 4 via the carry-in / out port 7a.

【0026】このスクラブ洗浄機25のアーム部材26
を動作させる機構を以下に述べると,先ず,図4に示す
ように,前述ケース20の基台30の下面に,ブラケッ
ト31が固定され,このブラケット31にシリンダ32
が取り付けられている。このシリンダ32のロッド33
は,モータ34及び減速機構35を上面に配置している
支持板36を支持している。モータ34の回転は,ベル
ト37を介して,減速機構35に伝達されるようになっ
ている。
The arm member 26 of the scrubbing machine 25
The mechanism for operating the above will be described below. First, as shown in FIG. 4, a bracket 31 is fixed to the lower surface of the base 30 of the case 20, and a cylinder 32 is attached to the bracket 31.
Is attached. Rod 33 of this cylinder 32
Supports a support plate 36 on which the motor 34 and the speed reduction mechanism 35 are arranged. The rotation of the motor 34 is transmitted to the reduction mechanism 35 via the belt 37.

【0027】減速機構35のシャフト38の上部は,基
台30を遊貫して支持柱39の下端部が取り付けられ,
この支持柱39の上端部は,アーム部材26の基端部に
固着されている。これらシャフト38,支持柱39の外
周は,アーム部材26の基端部下面に取り付けられた筒
状のカバー40で覆われ,このカバー40の内周下端部
には,基台30に固定された筒状のカバー41が位置し
ている。こうして,シリンダ32の昇降稼働は,ロッド
33から支持柱39に伝わってアーム部材26を昇降移
動(図4中の往復矢印Aの方向)させ,モータ34の稼
働は,減速機構35から支持柱39に伝わってアーム部
材26を回動移動(図4中の往復回動矢印Bの方向)さ
せる構成になっている。
The upper end of the shaft 38 of the speed reduction mechanism 35 is attached to the lower end of the support column 39 while freely penetrating the base 30.
The upper end of the support column 39 is fixed to the base end of the arm member 26. The outer peripheries of the shaft 38 and the support columns 39 are covered with a cylindrical cover 40 attached to the lower surface of the base end portion of the arm member 26, and the inner peripheral lower end portion of the cover 40 is fixed to the base 30. The tubular cover 41 is located. In this way, the lifting operation of the cylinder 32 is transmitted from the rod 33 to the support pillar 39 to move the arm member 26 up and down (in the direction of the reciprocating arrow A in FIG. 4), and the operation of the motor 34 is performed from the reduction mechanism 35 to the support pillar 39. The arm member 26 is rotated and moved (in the direction of the reciprocating rotation arrow B in FIG. 4).

【0028】図5に示すように,アーム部材26は,フ
レーム26aと,カバー26bとを有している。ここ
で,アーム部材26の基端部及び中央部には,処理体2
4を回転させるため,従来であれば備えられているはず
の,モータ及びモータの回転駆動を処理体24に伝達す
る従動プーリ及びベルト等から成る複雑な伝達部品が設
けれていない。即ち,アーム部材26は,少なくとも基
端部近傍が中空に形成されており,スクラブ洗浄機25
の稼働中,アーム部材26内で,伝達部品同士の摩擦に
よる発塵が存在しない。
As shown in FIG. 5, the arm member 26 has a frame 26a and a cover 26b. Here, at the base end portion and the central portion of the arm member 26, the processing body 2
In order to rotate the motor 4, a complicated transmission component including a motor and a driven pulley and a belt for transmitting the rotational drive of the motor to the processing body 24, which is conventionally provided, is not provided. That is, at least the vicinity of the base end of the arm member 26 is formed to be hollow, and the scrub cleaning machine 25
During operation, no dust is generated in the arm member 26 due to friction between the transmission parts.

【0029】そして,アーム部材26の先端部には,フ
レーム26a上に固定されたエアシリンダ50が配置さ
れている。このエアシリンダ50に固定されているブラ
ケット51の上面に,モータ52を固定している。これ
により,エアシリンダ50の上方にモータ52を配置で
きる。そして,エアシリンダ50のロッド53をエアシ
リンダ50の上方及び下方の両方に突出させている。こ
のロッド53の上端部にモータ52の回転駆動を伝達す
ることにより,ロッド53及び前記処理体24とを一体
的に回転(図5中の往復回動矢印Cの方向)させるよう
に構成している。一方,ロッド53の下端部に,下部部
材54,取付具55を介して処理体24を着脱自在に取
り付け,エアシリンダ50の昇降稼働に伴い,ロッド5
3及び処理体24とを一体となって上下方向(図5中の
往復矢印Dの方向)に昇降移動させるように構成してい
る。
An air cylinder 50 fixed on the frame 26a is arranged at the tip of the arm member 26. A motor 52 is fixed to the upper surface of a bracket 51 fixed to the air cylinder 50. As a result, the motor 52 can be arranged above the air cylinder 50. The rod 53 of the air cylinder 50 is projected above and below the air cylinder 50. By transmitting the rotational drive of the motor 52 to the upper end of the rod 53, the rod 53 and the processing body 24 are integrally rotated (in the direction of the reciprocating rotation arrow C in FIG. 5). There is. On the other hand, the processing body 24 is detachably attached to the lower end portion of the rod 53 through the lower member 54 and the attachment 55, and the rod 5 is moved along with the lifting operation of the air cylinder 50.
3 and the processing body 24 are configured to move up and down in the vertical direction (the direction of the reciprocating arrow D in FIG. 5).

【0030】ここで,モータ52の回転駆動をロッド5
3に伝達する構成を詳しく説明すると,図6に示すよう
に,モータ52の回転軸56に駆動噛合部材60を取り
付けている。この駆動噛合部材60は,円柱部61の外
周面の適宜三箇所に,回転軸56に平行な第1の突起部
62を設けている。一方,駆動噛合部材60の下方に
は,円盤部63の上面周縁部の適宜三箇所に,ロッド5
3に平行な第2の突起部64を立設している従動噛合部
材65が配置されている。この従動噛合部材65は,第
1の突起部62同士の間に第2の突起部64を配置でき
るように,上部部材66を介してロッド53の上端部に
取り付けられている。図示の如く回転軸56とロッド5
3とは同芯上に配置されているので,駆動噛合部材60
に対して従動噛合部材65を昇降移動させても,第1の
突起部62と第2の突起部64とを係合させた状態にで
きる。なお,駆動噛合部材60,従動噛合部材65は,
ポリエチレンテレフレート(PET)などの樹脂からな
っている。
Here, the rotation of the motor 52 is controlled by the rod 5
3, the drive meshing member 60 is attached to the rotary shaft 56 of the motor 52, as shown in FIG. The drive meshing member 60 is provided with first protrusions 62 parallel to the rotating shaft 56 at appropriate three positions on the outer peripheral surface of the columnar portion 61. On the other hand, below the drive meshing member 60, the rods 5 are provided at appropriate three positions on the peripheral portion of the upper surface of the disk portion 63.
A driven meshing member 65 is provided on which a second protruding portion 64 parallel to 3 is provided upright. The driven engagement member 65 is attached to the upper end of the rod 53 via the upper member 66 so that the second protrusion 64 can be arranged between the first protrusions 62. Rotating shaft 56 and rod 5 as shown
3 is arranged concentrically with the drive meshing member 60.
On the other hand, even when the driven meshing member 65 is moved up and down, the first protrusion 62 and the second protrusion 64 can be brought into the engaged state. The drive meshing member 60 and the driven meshing member 65 are
It is made of resin such as polyethylene terephthalate (PET).

【0031】そして,モータ52の回転稼働に伴い,突
起部62の側面と柱部64の側面とを接触させて,駆動
噛合部材60と従動噛合部材65とを噛み合わせること
により,モータ52の回転駆動をロッド53に直接的に
伝達する構成になっている。これにより,従来のような
ベルトの緩み等を心配することがなく,容易な処理体2
4の回転の制御を行えるようになっている。
As the motor 52 rotates, the side surface of the protrusion 62 and the side surface of the column portion 64 are brought into contact with each other to engage the drive meshing member 60 and the driven meshing member 65, thereby rotating the motor 52. The drive is directly transmitted to the rod 53. As a result, there is no need to worry about loosening of the belt as in the conventional case, and an easy processing body 2
The rotation of 4 can be controlled.

【0032】図7に示すように,エアシリンダ50の内
部には,気体が供給される給気室50aと,気体が供給
されると共に気体が排気される給排気室50bが形成さ
れている。給排気室50bは給気室50aよりも上側に
位置し,給気室50aと給排気室50bとはお互いに連
通している。また,前記ロット53は,この給気室50
a,給排気室50bを貫通しており,ロッド53にはリ
ング状のストッパ70が取り付けられている。このスト
ッパ70は,供給室50a内に設置され,ロッド53が
エアシリンダ50から抜け出すことを防止している。な
お,ストッパ70を給排気室50b内に設置できるよう
にロッド53に取り付けてもよい。
As shown in FIG. 7, an air supply chamber 50a to which gas is supplied and an air supply / exhaust chamber 50b to which gas is exhausted are formed inside the air cylinder 50. The air supply / exhaust chamber 50b is located above the air supply chamber 50a, and the air supply chamber 50a and the air supply / exhaust chamber 50b communicate with each other. Further, the lot 53 is provided in the air supply chamber 50.
A, a ring-shaped stopper 70 is attached to the rod 53, passing through the air supply / exhaust chamber 50b. The stopper 70 is installed in the supply chamber 50a and prevents the rod 53 from coming out of the air cylinder 50. The stopper 70 may be attached to the rod 53 so that the stopper 70 can be installed in the air supply / exhaust chamber 50b.

【0033】エアシリンダ50の給気室50aには,気
体供給路71が接続され,気体供給路71の途中には,
気体の供給圧を調整する電空レギュレータ72が設けら
れている。この電空レギュレータ72には制御部73が
接続され,制御部73は,この電空レギュレータ72に
所定の電気信号を出力し,エアシリンダ50内に流通す
る気体の供給圧を調整するようになっている。従って,
ロッド53の上下方向の推力は,気体供給路71から供
給される気体の供給圧によって自在に制御される構成に
なっている。
A gas supply passage 71 is connected to the air supply chamber 50a of the air cylinder 50, and in the middle of the gas supply passage 71,
An electropneumatic regulator 72 that adjusts the gas supply pressure is provided. A control unit 73 is connected to the electropneumatic regulator 72, and the control unit 73 outputs a predetermined electric signal to the electropneumatic regulator 72 to adjust the supply pressure of the gas flowing in the air cylinder 50. ing. Therefore,
The vertical thrust of the rod 53 is freely controlled by the supply pressure of the gas supplied from the gas supply passage 71.

【0034】スクラブ洗浄処理中では,この気体供給路
71から供給される気体の供給圧によって,図示の如く
ストッパ70を浮上させた状態にする。そして,ウェハ
Wの表面から処理体24を離れさせない程度にロッド5
3に上向きの推力を付与し,処理体24の自重とロッド
53によって処理体24に働くの推力との差が,所定の
接触圧力,例えば60gf以下の接触圧力になるように
構成している。また,従来のように,プーリを介してロ
ッド53にベルトを巻回すことがないため,ロッド53
の推力にベルトの張力等の悪影響が及ぼさないようにな
っている。
During the scrub cleaning process, the stopper 70 is floated as shown by the supply pressure of the gas supplied from the gas supply passage 71. Then, the rod 5 does not separate the processing body 24 from the surface of the wafer W.
An upward thrust is applied to 3 so that the difference between the own weight of the processing body 24 and the thrust acting on the processing body 24 by the rod 53 is a predetermined contact pressure, for example, a contact pressure of 60 gf or less. Further, unlike the conventional case, since the belt is not wound around the rod 53 via the pulley, the rod 53
The thrust of the belt is not adversely affected by the tension of the belt or the like.

【0035】図8は,電空レギュレータ72と制御部7
3との関係を示す回路図であるが,制御部73が電空レ
ギュレータ72に電気信号を出力する際の仕組みを述べ
ると,まず,図2及び図3に示すように,ウェハWから
離れた位置で処理体24の接触圧力を測定する測定セン
サ74を設ける。この測定センサ74は,例えばロード
セルからなるものであり,荷重により生じる歪みを電気
的抵抗値の変動分として検出するものである。そして,
洗浄処理以外でスクラブ洗浄機25が待機している時
に,測定センサ74に処理体24を接触させて,その接
触圧力を測定する。この測定結果に基づき,処理体24
の接触圧力が所定の値に達するための電気信号のデータ
を制御部73に記憶させておく。そして,実際の洗浄処
理の段階になれば,制御部73が,この記憶したデータ
に基づいて所定の電気信号を電空レギュレータ72に送
信し,エアシリンダ50に供給する気体の供給圧を調整
し,ロッド53の推力,処理体24の接触圧力を制御す
るようになっている。こうして,処理体24の接触圧力
を円滑に制御できるようになっている。なお,この場
合,洗浄処理中の処理体24の接触圧力を正確に測定す
るために,図3に示すように,測定センサ74の測定面
74aの高さが,スピンチャック22に保持されたウェ
ハWの表面の高さと等しいことが好ましい。また,処理
体24の接触圧力は,制御部73が電空レギュレータ7
2を制御することによって,10gf,20gf,30
gf,40gf,50gfというように変更可能調整で
ある。
FIG. 8 shows an electropneumatic regulator 72 and a control unit 7.
3 is a circuit diagram showing the relationship with FIG. 3, but when the mechanism when the control unit 73 outputs an electric signal to the electropneumatic regulator 72 is described, first, as shown in FIG. 2 and FIG. A measurement sensor 74 for measuring the contact pressure of the processing body 24 at the position is provided. The measurement sensor 74 is composed of, for example, a load cell, and detects strain caused by a load as a variation of the electric resistance value. And
When the scrubbing machine 25 is on standby other than the cleaning process, the processing body 24 is brought into contact with the measurement sensor 74 and the contact pressure is measured. Based on this measurement result, the processing body 24
Data of an electric signal for the contact pressure to reach a predetermined value is stored in the control unit 73. Then, when the stage of the actual cleaning process is reached, the control unit 73 transmits a predetermined electric signal to the electropneumatic regulator 72 based on the stored data, and adjusts the supply pressure of the gas supplied to the air cylinder 50. , The thrust of the rod 53 and the contact pressure of the processing body 24 are controlled. In this way, the contact pressure of the processing body 24 can be smoothly controlled. In this case, in order to accurately measure the contact pressure of the processing body 24 during the cleaning process, as shown in FIG. 3, the height of the measurement surface 74a of the measurement sensor 74 is set so that the wafer held by the spin chuck 22 is It is preferably equal to the height of the surface of W. Further, regarding the contact pressure of the processing body 24, the control unit 73 controls the electropneumatic regulator 7
By controlling 2, 10 gf, 20 gf, 30
Adjustable adjustments such as gf, 40gf, and 50gf.

【0036】さらに,図7に示すように,エアシリンダ
50内部において,リング状で多孔質セラミックのエア
ベアリング75,76を上下2箇所に設け,これらエア
ベアリング75,76に気体を供給するエアベアリング
用の気体供給路77をエアシリンダ50に接続する。気
体供給路77は途中で分流し,給気室50a,給排気室
50bに気体を供給できるようになっている。そして,
このエアベアリング用の気体供給路77から気体を供給
されたエアベアリング75,76は,ロッド53を中空
に浮上させた状態にし,摩擦のない状態を作り出す。そ
して,ロッド53の昇降及び回転動作を安定して行える
ように,その動作を支持するようになっている。従っ
て,摺動抵抗が零に等しく,耐耗性に優れている。な
お,エアシリンダ50では,中で気体が溜まらないよう
に気体排気路78が給排気室50bに接続されている。
Further, as shown in FIG. 7, inside the air cylinder 50, ring-shaped porous ceramic air bearings 75 and 76 are provided at two upper and lower positions, and air bearings for supplying gas to these air bearings 75 and 76 are provided. The gas supply path 77 for air is connected to the air cylinder 50. The gas supply path 77 is divided in the middle so that the gas can be supplied to the air supply chamber 50a and the air supply / exhaust chamber 50b. And
The air bearings 75 and 76 supplied with the gas from the gas supply passage 77 for the air bearing make the rod 53 float in a hollow state and create a frictionless state. The operation of the rod 53 is supported so that it can be stably moved up and down and rotated. Therefore, the sliding resistance is equal to zero and the wear resistance is excellent. In the air cylinder 50, the gas exhaust passage 78 is connected to the air supply / exhaust chamber 50b so that gas does not accumulate inside.

【0037】また,気体供給路71,77に対しては,
図7に示す如く別々の気体供給源から気体を送り込むよ
うにしていたが,共通の気体供給源から気体供給路7
1,77に対してそれぞれ気体を送り込むようにしても
よい。なお,気体供給路77から給気室50a,給排気
室50bに対して常時気体が供給されるようになってい
る。これに対し,気体供給路71からは給気室50aに
対して処理体24を押圧するときにのみ気体が供給され
るようになっている。
Further, for the gas supply paths 71 and 77,
As shown in FIG. 7, the gas is sent from separate gas supply sources, but the gas supply path 7 is supplied from the common gas supply source.
A gas may be sent to each of 1 and 77. The gas is always supplied from the gas supply passage 77 to the air supply chamber 50a and the air supply / exhaust chamber 50b. On the other hand, the gas is supplied from the gas supply passage 71 only when the processing body 24 is pressed against the air supply chamber 50a.

【0038】また,図5に示すように,アーム部材26
の先端部には,ロッド53の下方外周部及び下部部材5
4を包囲すべく,上端がフレーム26bに固定された保
護カバー80が配置されている。この保護カバー80及
び前記ブラケット51には,発塵を排気する排気チュー
ブ81,82がそれぞれ接続され,これら排気チューブ
81,82は合流部83で,図示しない真空吸引装置に
接続されている排気管路84に合流している。仮に駆動
噛合部材60と従動噛合部材65とを噛み合わせたり,
ロッド63を昇降移動させたりすることにより,発塵し
ても,排気チューブ81,82によってアーム部材26
外に排気される構成になっている。従って,洗浄処理中
に,ウェハWの表面にパーティクルが落下する心配がな
い。
As shown in FIG. 5, the arm member 26
At the tip end of the lower part of the rod 53 and the lower member 5
A protective cover 80, the upper end of which is fixed to the frame 26b, is arranged so as to surround 4. Exhaust tubes 81 and 82 for exhausting dust are connected to the protective cover 80 and the bracket 51, respectively, and the exhaust tubes 81 and 82 are confluent portions 83 and connected to a vacuum suction device (not shown). It merges into road 84. For example, the drive meshing member 60 and the driven meshing member 65 may be meshed with each other,
Even if dust is generated by moving the rod 63 up and down, the exhaust tubes 81 and 82 cause the arm member 26 to move.
It is configured to be exhausted to the outside. Therefore, there is no concern that particles will fall onto the surface of the wafer W during the cleaning process.

【0039】処理体24は,その下面にウェハWの表面
を綺麗に洗浄処理すべくブラシやスポンジ等の処理部材
85を具備している。洗浄対象によって,処理部材85
を,適宜毛足の硬いナイロンブラシなどの硬質ブラシ
や,毛足の柔らかい,例えばモヘアブラシなどの軟質ブ
ラシを選択することが可能である。
The processing body 24 is provided with a processing member 85 such as a brush or a sponge on its lower surface in order to clean the surface of the wafer W cleanly. Depending on the cleaning object, the processing member 85
It is possible to appropriately select a hard brush such as a nylon brush having a hard bristle or a soft brush having a soft bristle, for example, a mohair brush.

【0040】その他,アーム部材26に純水供給路86
を設け,処理体24をウェハWに接触させながら,純水
を供給できるようになっている。さらに,表面処理装置
7には,スピンチャック22を挟んでスクラブ洗浄機2
5と対称位置に,図4中のθ’方向に往復自在な純水供
給ノズル87が配置されている。純水供給ノズル87の
アーム先端にはノズル87aが取り付けられ,このノズ
ル87aによって純水が供給されるようになっている。
In addition, the pure water supply path 86 is provided on the arm member 26.
Is provided, and pure water can be supplied while the processing body 24 is in contact with the wafer W. Further, the surface treatment device 7 includes a scrub cleaning machine 2 with a spin chuck 22 interposed therebetween.
A pure water supply nozzle 87 that is reciprocable in the θ ′ direction in FIG. A nozzle 87a is attached to the tip of the arm of the pure water supply nozzle 87, and pure water is supplied by this nozzle 87a.

【0041】次に,以上のように構成された表面処理装
置7を備えた洗浄処理システム1において行われるウェ
ハWの処理を説明する。まず,図示しない搬送ロボット
が未だ洗浄されていないウェハWを例えば25枚ずつ収
納したキャリアCを載置部2に載置する。そして,この
載置部2に載置されたキャリアCから一枚ずつウェハW
が取り出され,取出搬入アーム3を介して搬送アーム4
に受け渡される。そして,表面処理装置7及び裏面処理
装置8を用いて,ウェハWを一枚ずつ洗浄処理し,ウェ
ハWの表裏面に付着している有機汚染物質,パーティク
ル等を除去する。そして,ウェハWを,加熱装置9で加
熱して乾燥させる。所定の処理工程が終了したウェハW
は,搬送アーム4から取出収納アーム3に受け渡され,
再びキャリアCに収納される。
Next, the processing of the wafer W performed in the cleaning processing system 1 equipped with the surface processing apparatus 7 configured as described above will be described. First, a carrier robot (not shown) mounts a carrier C containing, for example, 25 uncleaned wafers W on the mounting unit 2. Then, the wafers W are transferred one by one from the carrier C placed on the placing portion 2.
Is taken out, and the transfer arm 4 is passed through the take-in / take-in arm 3
To be delivered to. Then, the front surface processing apparatus 7 and the back surface processing apparatus 8 are used to wash the wafers W one by one to remove organic contaminants, particles and the like adhering to the front and back surfaces of the wafer W. Then, the wafer W is heated by the heating device 9 to be dried. Wafer W for which a predetermined processing step has been completed
Is transferred from the transfer arm 4 to the take-out storage arm 3,
It is stored in the carrier C again.

【0042】ここで,表面処理装置7での洗浄処理の工
程について説明する。まず,表面処理装置7にウェハW
が搬入出口7aを介して搬入され,スピンチャック22
にウェハWが保持されスピンチャック22の回転が開始
する。そして,図2の待機状態にあったスクラブ洗浄機
25において,シリンダ32及びモータ34の稼働によ
って,アーム部材26を旋回させ,処理体24をウェハ
Wの上方,例えばウェハWの中心付近にまで移動させ
る。なお,スピンチャック22以外の保持手段として,
ウェハWの周縁部を爪やリングを用いて保持するメカニ
カルチャックを用いて,ウェハWを水平に保持するよう
にしてもよい。
Now, the steps of the cleaning process in the surface processing apparatus 7 will be described. First, the wafer W is applied to the surface treatment device 7.
Is loaded through the loading / unloading port 7a, and the spin chuck 22
The wafer W is held on the spin chuck 22 and the spin chuck 22 starts to rotate. Then, in the scrub cleaning machine 25 in the standby state of FIG. 2, the arm member 26 is swung by the operation of the cylinder 32 and the motor 34, and the processing body 24 is moved to above the wafer W, for example, near the center of the wafer W. Let As a holding means other than the spin chuck 22,
The wafer W may be held horizontally by using a mechanical chuck that holds the peripheral portion of the wafer W with a claw or a ring.

【0043】ところで,従来の表面処理装置であれば,
モータ52をロッド53から離れた位置に配置し,ベル
トやプーリなどの伝達部品を介してモータ52の回転駆
動を間接的にロッド53に伝達していた。そのため,ロ
ッド53に種々の外乱要素(ベルトの張力等)が加わ
り,ロッド53の昇降及び回転動作が乱れる可能性があ
った。
By the way, in the case of the conventional surface treatment apparatus,
The motor 52 is arranged at a position distant from the rod 53, and the rotational drive of the motor 52 is indirectly transmitted to the rod 53 via a transmission component such as a belt or a pulley. For this reason, various disturbance elements (belt tension, etc.) are applied to the rod 53, which may disturb the lifting and rotating operations of the rod 53.

【0044】しかしながら,本実施の形態では,エアシ
リンダ50の直ぐ上方にモータ52を配置している。そ
して,モータ52が回転稼働すると,エアシリンダ50
の上方に突出しているロッド53の上端部に,モータ5
2の回転駆動を伝達する。即ち,モータ52の回転稼働
に伴い,駆動噛合部材60が回転し,続いて駆動噛合部
材60と従動噛合部材65とが噛み合う。そして,従動
噛合部材65の回転に伴い,ロッド53と処理体24が
一体となって回転する。このように,直接的にロッド5
3に回転駆動を伝達するので,処理体24の回転の制御
が容易になる。
However, in this embodiment, the motor 52 is arranged immediately above the air cylinder 50. When the motor 52 rotates, the air cylinder 50
On the upper end of the rod 53 protruding above the motor 5
2 to transmit the rotational drive. That is, as the motor 52 rotates, the drive meshing member 60 rotates, and subsequently the drive meshing member 60 and the driven meshing member 65 mesh with each other. Then, with the rotation of the driven meshing member 65, the rod 53 and the processing body 24 integrally rotate. In this way, the rod 5
Since the rotational drive is transmitted to 3, the rotation of the processing body 24 can be easily controlled.

【0045】また,駆動噛合部材60に対して従動噛合
部材65を昇降移動させても,回転軸56とロッド53
とを同芯上に配置しているため,駆動噛合部材60に対
して従動噛合部材65を昇降移動させても,回転軸56
に平行な第1の突起部とロッド53に平行な第2の突起
部とは係合した状態となっている。これにより,ロッド
53の昇降移動に伴って,従動噛合部材65を昇降移動
させても,駆動噛合部材60と従動噛合部材65との噛
み合わせを好適に維持できる。
Even when the driven engagement member 65 is moved up and down with respect to the drive engagement member 60, the rotating shaft 56 and the rod 53
Since and are arranged concentrically, even if the driven meshing member 65 is moved up and down with respect to the drive meshing member 60,
The first protrusion parallel to the rod 53 and the second protrusion parallel to the rod 53 are engaged with each other. Accordingly, even if the driven meshing member 65 is moved up and down as the rod 53 moves up and down, the meshing between the drive meshing member 60 and the driven meshing member 65 can be preferably maintained.

【0046】図3に示したように,シリンダ32の稼働
によって,回転している処理体24をウェハWの表面に
接触させる。そして,エアシリンダ50の稼働により,
処理体24を押圧し,ウェハWの表面に例えば60gf
以下の所定の接触圧力を加える。例えば,処理体24の
重量が約200gとする。そして,エアシリンダ50の
給気室50aへの気体の供給を制御することにより,処
理体24の接触圧力を20gfに調整可能である。この
場合,気体の供給圧によってロッド53の上方向の推力
を制御しているので,処理体24の接触圧力を円滑に制
御できる。こうして,ロッド53の推力及び回転を制御
している間,ロッド53の推力に悪影響を与える要素も
ないので,処理体24の回転の制御が容易になってい
る。
As shown in FIG. 3, by operating the cylinder 32, the rotating processing body 24 is brought into contact with the surface of the wafer W. Then, by operating the air cylinder 50,
By pressing the processing body 24, for example, 60 gf on the surface of the wafer W.
The following predetermined contact pressure is applied. For example, the weight of the processing body 24 is about 200 g. The contact pressure of the processing body 24 can be adjusted to 20 gf by controlling the supply of gas to the air supply chamber 50a of the air cylinder 50. In this case, since the upward thrust of the rod 53 is controlled by the gas supply pressure, the contact pressure of the processing body 24 can be smoothly controlled. Thus, while controlling the thrust and rotation of the rod 53, there is no factor that adversely affects the thrust of the rod 53, so that the rotation of the processing body 24 can be controlled easily.

【0047】しかも,ウェハWに表面に処理体24を接
触させる前に,測定センサ74などを用いて,洗浄処理
する際の処理体24の所定の接触圧力を設定している。
そして,ウェハWに表面に処理体24を接触させ,制御
部73,電空レギュレータ72によって,所定の接触圧
力になるように処理体24の押圧力を調整するので,好
適なスクラブ洗浄を行うことができる。
Moreover, before the processing body 24 is brought into contact with the surface of the wafer W, the measurement sensor 74 or the like is used to set a predetermined contact pressure of the processing body 24 during the cleaning processing.
Then, the processing body 24 is brought into contact with the surface of the wafer W, and the pressing force of the processing body 24 is adjusted by the control unit 73 and the electropneumatic regulator 72 so that the contact pressure becomes a predetermined value. You can

【0048】即ち,ウェハWに純水をかけると共に,ロ
ッド53及び回転軸56を介して押圧力及び回転駆動力
がそれぞれ伝達される処理体24によりウェハWをスク
ラブ洗浄する洗浄方法は,(a)処理体24でウェハW
をスクラブ洗浄する際の所定の接触圧力を設定する工程
と,ロッド53は回転軸56に係合されて回転軸56の
延長線上に直列に配置されていることと,(b)ウェハ
Wをスピンチャック22上に載置する工程と,(c)処
理体24をスピンチャック22上のウェハWの上方に位
置するように移動させる工程と,(d)処理体24をロ
ッド53と共に下降させる工程と,(e)回転軸56か
らロッド53に回転駆動力を伝達することにより処理体
24を回転させる工程と,(f)ウェハWに対する処理
体24の押圧力を,前記工程(a)で設定した所定の接
触圧力になるように調整する工程とを具備する。
That is, a cleaning method in which pure water is applied to the wafer W, and the wafer W is scrubbed by the processing body 24 to which the pressing force and the rotational driving force are respectively transmitted via the rod 53 and the rotating shaft 56, is described in (a) ) Wafer W with processing body 24
A step of setting a predetermined contact pressure at the time of scrubbing the wafer, that the rod 53 is engaged with the rotary shaft 56 and arranged in series on the extension line of the rotary shaft 56, and (b) the wafer W is spun. A step of placing the processing body 24 on the chuck 22, a step of moving the processing body 24 so as to be positioned above the wafer W on the spin chuck 22, and a step of lowering the processing body 24 together with the rod 53. , (E) a step of rotating the processing body 24 by transmitting a rotational driving force from the rotary shaft 56 to the rod 53, and (f) a pressing force of the processing body 24 against the wafer W is set in the step (a). Adjusting to a predetermined contact pressure.

【0049】この洗浄方法において,前記工程(e)及
び工程(f)は,前記工程(a)の後に開始する。ま
た,この洗浄方法において,前記工程(f)は,前記工
程(b)の前に開始してもよい。
In this cleaning method, the steps (e) and (f) are started after the step (a). Further, in this cleaning method, the step (f) may be started before the step (b).

【0050】また,ベルトやプーリ等の複雑な伝達部品
を設ける必要がなくなり,簡単な仕組みでモータ52の
回転駆動をロッド53に伝達するので,アーム部材26
の構成が簡単になる。そして,従来のようなベルトとプ
ーリとの擦れ合いによる発塵も起こらなくなる。
Further, since it is not necessary to provide a complicated transmission component such as a belt or a pulley, and the rotational drive of the motor 52 is transmitted to the rod 53 by a simple mechanism, the arm member 26
Simplifies the configuration. Moreover, dust generation due to the friction between the belt and the pulley unlike the conventional case does not occur.

【0051】一方,図7に示したように,エアシリンダ
50内においては,エアベアリング75,76を用い
て,ロッド53の動作を支持している。これにより,従
来のような軸受との擦れ合うを無くしている。さらに,
図示しない真空吸引装置が稼働し,排気チューブ81,
82による排気が開始される。仮にロッド53の下方外
周部と駆動噛合部材60及び従動噛合部材65とで発塵
しても,排気チューブ81,82によって排気し,周囲
に拡散するのを未然に防止する。
On the other hand, as shown in FIG. 7, in the air cylinder 50, the operation of the rod 53 is supported by using air bearings 75 and 76. This eliminates friction with conventional bearings. further,
The vacuum suction device (not shown) is activated, and the exhaust tube 81,
Exhaust by 82 is started. Even if dust is generated by the lower outer peripheral portion of the rod 53 and the driving meshing member 60 and the driven meshing member 65, the exhaust tubes 81 and 82 exhaust the gas and prevent it from spreading to the surroundings.

【0052】そして,必要であれば,純水供給路86か
ら純水を吐出させながら,モータ34の稼働によって,
アーム部材26を少なくともウェハWの中心から周縁部
まで回動させて,ウェハWの表面を均一に洗浄処理す
る。一方,純水供給ノズル87もウェハWの上方に移動
し,純水をウェハWの表面に供給する。
Then, if necessary, while the pure water is being discharged from the pure water supply path 86, the operation of the motor 34
The arm member 26 is rotated at least from the center of the wafer W to the peripheral portion to uniformly clean the surface of the wafer W. On the other hand, the pure water supply nozzle 87 also moves above the wafer W and supplies pure water to the surface of the wafer W.

【0053】所定の時間が経過後,スクラブ洗浄及び純
水洗浄が共に終了し,ウェハWを搬出する。一方,シリ
ンダ31及びモータ34の稼働によってアーム部材26
を元の待機状態に戻す。純水供給ノズル87もウェハW
の表面から旋回退避させ元の状態に戻す。以後,表面処
理装置7には,次々と新たなウェハWが搬入され,同様
の洗浄処理が連続して繰り返されていく。こうして,キ
ャリアCに処理済みのウェハWが25枚収納されると,
キャリアC単位で洗浄処理システム1外に搬出される。
After a lapse of a predetermined time, the scrub cleaning and the pure water cleaning are completed, and the wafer W is unloaded. On the other hand, when the cylinder 31 and the motor 34 are operated, the arm member 26
To the original standby state. The pure water supply nozzle 87 is also the wafer W
Swing back from the surface of and return to the original state. Thereafter, new wafers W are successively loaded into the surface processing apparatus 7, and the same cleaning process is continuously repeated. Thus, when 25 processed wafers W are stored in the carrier C,
The carrier C unit is carried out of the cleaning processing system 1.

【0054】かくして,本実施の形態の表面処理装置7
によれば,モータ52からの回転駆動をロッド53に直
接的に伝達するので,ロッド53から種々の外乱要素が
排除され,処理体24の押圧力及び回転の制御が容易に
なる。その結果,洗浄処理中は,所定の接触圧力を安定
して得ることが可能となり,洗浄処理の信頼性が向上で
きる。さらに,ベルトやプーリ等の複雑な伝達部品が設
ける必要がないため,アーム部材26の構成が簡単にな
ると共に,アーム部材26内での発塵を防止できる。従
って,表面処理装置7にかかる構成部品の減少や組立作
業の負担軽減化が可能となり,パーティクル付着による
歩留まり低下を防止できる。
Thus, the surface treatment apparatus 7 of this embodiment
According to this, since the rotational drive from the motor 52 is directly transmitted to the rod 53, various disturbance elements are excluded from the rod 53, and the pressing force and rotation of the processing body 24 can be easily controlled. As a result, a predetermined contact pressure can be stably obtained during the cleaning process, and the reliability of the cleaning process can be improved. Furthermore, since it is not necessary to provide a complicated transmission component such as a belt or a pulley, the structure of the arm member 26 is simplified and dust generation inside the arm member 26 can be prevented. Therefore, it is possible to reduce the number of constituent parts related to the surface treatment device 7 and to reduce the burden of assembling work, and it is possible to prevent a reduction in yield due to particle adhesion.

【0055】なお,本発明の実施の形態の一例について
説明したが,本発明はこの例に限定されず種々の様態を
採りうるものである。例えば,駆動噛合部材と従動噛合
部材の変形例を図9に示す。図9に示すように,従動噛
合部材90は,ロッド53の上端部にネジ91により取
り付けられている。従動噛合部材90は,第2の矩形板
92と,第2の矩形板92の左右両側に立設されている
垂直部材93a,93bとを備えている。これら垂直部
材93a,93bは,開口94によって略凹形状に形成
されている。また,駆動噛合部材95は,先と同様にモ
ータ52の回転軸56に接続されている。駆動噛合部材
95は,回転軸56に接続された第1の矩形板96と,
水平支軸97と,一対のローラ98a,98bとを備え
ている。これらローラ98a,98bは,水平支軸97
により第1の矩形板96の短辺側面に回転可能なように
支持されている。そして,図9に示すように,ローラ9
8aは垂直部材93aの開口94に,ローラ98bは垂
直部材93bの開口94にそれぞれ配置されている。
Although an example of the embodiment of the present invention has been described, the present invention is not limited to this example and can take various forms. For example, a modified example of the drive meshing member and the driven meshing member is shown in FIG. As shown in FIG. 9, the driven meshing member 90 is attached to the upper end of the rod 53 with a screw 91. The driven meshing member 90 includes a second rectangular plate 92 and vertical members 93a and 93b that are provided upright on both left and right sides of the second rectangular plate 92. The vertical members 93a and 93b are formed in a substantially concave shape by the opening 94. The drive meshing member 95 is connected to the rotary shaft 56 of the motor 52 as before. The drive meshing member 95 includes a first rectangular plate 96 connected to the rotary shaft 56,
It is provided with a horizontal support shaft 97 and a pair of rollers 98a and 98b. These rollers 98a and 98b are the horizontal support shafts 97
Is rotatably supported on the short side surface of the first rectangular plate 96. Then, as shown in FIG.
8a is arranged in the opening 94 of the vertical member 93a, and the roller 98b is arranged in the opening 94 of the vertical member 93b.

【0056】ロッド53を上方に移動させて従動噛合部
材91を持ち上げると,図9に示すように,ローラ98
a,98bにより開口94に案内されながら従動噛合部
材90が上昇する。駆動噛合部材95と従動噛合部材9
0とは好適に噛み合っており,モータ52の回転駆動を
ロッド53に伝達することができる。また,図示の如
く,各開口94を介してローラ98aを垂直部材93a
に,ローラ98bを垂直部材93bにそれぞれ係合させ
ているので,モータ52の回転駆動をロッド53に伝達
する際には,ローラ98aと垂直部材93aと,ローラ
98bと垂直部材93bとがそれぞれ擦れ合うことがな
い。これにより,パーティクルの発生を防止でき,ロー
ラ98a,98b,垂直部材93a,93bの摩耗を無
くすことができる。
When the driven meshing member 91 is lifted by moving the rod 53 upward, as shown in FIG.
The driven meshing member 90 rises while being guided to the opening 94 by a and 98b. Drive meshing member 95 and driven meshing member 9
It preferably meshes with 0, and the rotational drive of the motor 52 can be transmitted to the rod 53. Further, as shown in the drawing, the roller 98a is connected to the vertical member 93a through each opening 94.
Further, since the roller 98b is engaged with the vertical member 93b, the roller 98a and the vertical member 93a rub against each other and the roller 98b and the vertical member 93b rub against each other when the rotational drive of the motor 52 is transmitted to the rod 53. Never. Thereby, generation of particles can be prevented and wear of the rollers 98a and 98b and the vertical members 93a and 93b can be eliminated.

【0057】また,基板は上記した本実施の形態のよう
に半導体ウェハWに限るものでなく,LCD基板,ガラ
ス基板,CD基板,フォトマスク,プリント基板,セラ
ミック基板等でもあってもよい。
Further, the substrate is not limited to the semiconductor wafer W as in the above-mentioned embodiment, but may be an LCD substrate, a glass substrate, a CD substrate, a photomask, a printed substrate, a ceramic substrate or the like.

【0058】[0058]

【発明の効果】本発明の処理装置によれば,回転手段か
らの回転駆動を出力軸に直接的に伝達するので,出力軸
から種々の外乱要素(ベルトの張力等)が排除され,処
理体の押圧力及び回転の制御が容易になる。その結果,
処理中は,所定の接触圧力を安定して得ることが可能と
なり,処理の信頼性を向上できる。さらに,ベルトやプ
ーリ等の複雑な伝達部品が設ける必要がないため,アー
ム部材の構成が簡単になると共に,アーム部材内での発
塵を防止できる。従って,処理装置にかかる構成部品の
減少や組立作業の負担軽減化が可能となり,パーティク
ル付着による歩留まり低下を防止できる。
According to the processing apparatus of the present invention , the rotational drive from the rotating means is directly transmitted to the output shaft, so that various disturbance elements (belt tension, etc.) are eliminated from the output shaft, and the processing body is processed. It becomes easy to control the pressing force and rotation of. as a result,
During processing, a predetermined contact pressure can be stably obtained, and processing reliability can be improved. Further, since it is not necessary to provide a complicated transmission component such as a belt or a pulley, the structure of the arm member is simplified and dust generation inside the arm member can be prevented. Therefore, it is possible to reduce the number of constituent parts of the processing apparatus and reduce the burden of assembling work, and it is possible to prevent the yield from decreasing due to particle adhesion.

【0059】本発明の処理装置によれば,出力軸を昇降
移動させても,駆動噛合部材と従動噛合部材との噛み合
わせを好適に維持できる。パーティクルの発生を防ぎ,
駆動噛合部材と従動噛合部材の耐耗性に優れている。
た,出力軸の上下方向の推力の制御を気体の特性に基づ
いて行い,特に気体の供給圧によって出力軸の上下方向
の推力を制御すれば,処理体の接触圧力を円滑に制御で
きる。出力軸の必要以上の下降移動を防ぐことができ
る。好適な処理を行うことができる。また,出力軸の昇
降及び回転動作を気体圧を用いて支持するため,出力軸
の軸受に関する摺動抵抗や耐耗性に優れた性質を示す。
また,仮に発塵しても,周囲に拡散するのを未然に防止
する。
According to the processing apparatus of the present invention , even if the output shaft is moved up and down, the engagement between the drive engagement member and the driven engagement member can be maintained appropriately. Prevent the generation of particles ,
The drive meshing member and the driven meshing member have excellent wear resistance. Well
Further, if the vertical thrust of the output shaft is controlled based on the characteristics of the gas, and especially the vertical thrust of the output shaft is controlled by the gas supply pressure, the contact pressure of the processing object can be smoothly controlled. Unnecessary downward movement of the output shaft can be prevented. Suitable processing can be performed. In addition, since the lifting and rotating operations of the output shaft are supported using gas pressure, the bearings of the output shaft have excellent sliding resistance and wear resistance.
Further, even if dust is generated, it is prevented from spreading to the surroundings.

【0060】所定の接触圧力を基板に与えて好適な処理
を行うことができる。
Appropriate processing can be performed by applying a predetermined contact pressure to the substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本実施の形態にかかる表面処理装置を備えた洗
浄処理システムの斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a cleaning treatment system including a surface treatment apparatus according to the present embodiment.

【図2】本実施の形態にかかる表面処理装置の平面図で
ある。
FIG. 2 is a plan view of the surface treatment apparatus according to the present embodiment.

【図3】本実施の形態にかかる表面処理装置の縦断面図
である。
FIG. 3 is a vertical sectional view of the surface treatment apparatus according to the present embodiment.

【図4】スクラブ洗浄機の縦断面図である。FIG. 4 is a vertical sectional view of a scrub cleaning machine.

【図5】アーム部材の縦断面図である。FIG. 5 is a vertical sectional view of an arm member.

【図6】駆動噛合部材と従動噛合部材の拡大斜視図であ
る。
FIG. 6 is an enlarged perspective view of a drive meshing member and a driven meshing member.

【図7】エアシリンダの縦断面図である。FIG. 7 is a vertical sectional view of an air cylinder.

【図8】電空レギュレータと制御部との関係を説明する
回路図である。
FIG. 8 is a circuit diagram illustrating a relationship between an electropneumatic regulator and a control unit.

【図9】駆動噛合部材と従動噛合部材の変形例を示す斜
視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a modified example of a drive meshing member and a driven meshing member.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 洗浄処理システム 7 表面処理装置 24 処理体 26 アーム部材 50 エアシリンダ 53 ロッド 60 駆動噛合部材 62 第1の突起部 64 第2の突起部 65 従動噛合部材 71 気体供給路 72 電空レギュレータ 73 制御部 75,76 エアベアリング W ウェハ 1 Cleaning system 7 Surface treatment equipment 24 Processing body 26 Arm member 50 air cylinder 53 rod 60 Drive mesh member 62 first protrusion 64 Second protrusion 65 Follower meshing member 71 gas supply path 72 Electro-pneumatic regulator 73 Control unit 75,76 Air bearing W wafer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮崎 高典 佐賀県鳥栖市西新町1375番地41号 東京 エレクトロン九州株式会社 佐賀事業所 内 (56)参考文献 特開 平9−326378(JP,A) 特開 平9−148295(JP,A) 特開 平10−321574(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B08B 1/04 H01L 21/304 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Takanori Miyazaki, No. 41, 1375 Nishishinmachi, Tosu City, Saga Prefecture, Tokyo Electron Kyushu Co., Ltd., Saga Works (56) Reference JP-A-9-326378 (JP, A) JP-A-9-148295 (JP, A) JP-A-10-321574 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) B08B 1/04 H01L 21/304

Claims (12)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板の表面に接触する処理体と,基板に
対して前記処理体を押圧させる押圧手段と,前記処理体
を回転させる回転手段とを備えた処理装置において, 前記押圧手段の上方に前記回転手段を配置し, 前記押圧手段の出力軸を前記押圧手段の上方及び下方の
両方に突出させ, 前記回転手段の回転軸に駆動噛合部材を取り付け,前記
出力軸の上端部に従動噛合部材を取り付け,前記駆動噛
合部材と前記従動噛合部材とを噛み合わせることによ
り,前記駆動噛合部材と前記従動噛合部材とが相対的に
昇降移動でき,かつ,前記回転手段の回転稼働に伴い前
記回転手段の回転駆動を前記出力軸に伝達するように構
成し, 前記出力軸の下端部に対して前記処理体を取り付け,前
記出力軸を上下方向に昇降自在に構成したことを特徴と
する,処理装置。
1. A processing apparatus comprising: a processing body that contacts a surface of a substrate; a pressing unit that presses the processing body against the substrate; and a rotating unit that rotates the processing body. The rotating means is disposed on the rotating shaft, the output shaft of the pressing means is projected above and below the pressing means, a drive meshing member is attached to the rotating shaft of the rotating means, and a driven mesh is formed on the upper end of the output shaft. By attaching a member and engaging the driving engagement member and the driven engagement member with each other, the driving engagement member and the driven engagement member are relatively moved to each other.
It is configured so that it can be moved up and down, and that the rotational drive of the rotating means is transmitted to the output shaft when the rotating means rotates, and the processing body is attached to the lower end of the output shaft. A processing device characterized by being configured to be vertically movable.
【請求項2】 前記回転手段の回転軸に平行な第1の突
起部を前記駆動噛合部材に設け,前記出力軸に平行な第
2の突起部を前記従動噛合部材に設け,かつ,前記回転
手段の回転軸と前記出力軸とを同芯上に配置し,前記駆
動噛合部材と前従動噛合部材とを相対的に昇降移動でき
るように,前記第1の突起部と前記第2の突起部とを係
合させることを特徴とする,請求項1に記載の処理装
置。
2. A first protrusion that is parallel to the rotation axis of the rotating means is provided on the drive meshing member, and a second protrusion that is parallel to the output shaft is provided on the driven meshing member. The rotation shaft of the means and the output shaft are arranged concentrically, and the first engagement portion and the second engagement portion are arranged so that the drive engagement member and the front driven engagement member can be moved up and down relatively. The processing device according to claim 1, wherein the processing device and the processing device are engaged with each other.
【請求項3】 前記駆動噛合部材は,前記回転軸に接続
された第1の接続板と,この第1の接続板に取り付けら
れた水平支軸と,この水平支軸により支持されたローラ
とを備え,前記従動噛合部材は,前記出力軸に接続され
た第2の接続板と,この第2の接続板から立設し,かつ
開口によって略凹形状に形成された垂直部材とを備え,
前記開口を介して前記ローラを前記垂直部材に係合させ
ることにより,前記回転手段の回転駆動を前記出力軸に
伝達する構成であることを特徴とする,請求項1に記載
の処理装置。
3. The drive meshing member includes a first connecting plate connected to the rotating shaft, a horizontal support shaft attached to the first connecting plate, and a roller supported by the horizontal support shaft. The driven meshing member includes a second connecting plate connected to the output shaft, and a vertical member standing upright from the second connecting plate and formed in a substantially concave shape by an opening,
The processing apparatus according to claim 1, wherein the roller is engaged with the vertical member through the opening to transmit the rotational drive of the rotating unit to the output shaft.
【請求項4】 前記押圧手段は,気体を用いて,前記出
力軸の上下方向の推力を制御する構成であることを特徴
とする,請求1,2又は3に記載の処理装置。
4. The processing apparatus according to claim 1, wherein the pressing means is configured to control the vertical thrust of the output shaft by using gas.
【請求項5】 前記押圧手段は,気体の供給圧によっ
て,前記出力軸の上下方向の推力を制御する構成である
ことを特徴とする,請求項4に記載の処理装置。
5. The processing apparatus according to claim 4, wherein the pressing unit is configured to control the thrust force of the output shaft in the vertical direction by the supply pressure of gas.
【請求項6】 前記押圧手段は,気体が供給される給気
室と,気体が供給されると共に気体が排気される給排気
室とを有し,前記給気室若しくは給排気室に前記出力軸
の下降移動を制限するストッパが設けられていることを
特徴とする,請求項4又は5に記載の処理装置。
6. The pressing unit has an air supply chamber to which gas is supplied and an air supply / exhaust chamber to which gas is supplied and gas is exhausted, and the output is provided to the air supply chamber or the air supply / exhaust chamber. 6. The processing device according to claim 4, further comprising a stopper that limits the downward movement of the shaft.
【請求項7】 前記押圧手段は,前記ストッパを浮上さ
せた状態にすることが可能であることを特徴とする,請
求項6に記載の処理装置。
7. The processing apparatus according to claim 6, wherein the pressing unit can bring the stopper into a floating state.
【請求項8】 前記押圧手段に気体供給路を接続し,前
記気体供給路に気圧調整機構を設けたことを特徴とす
る,請求項5,又は6に記載の処理装置。
8. The processing apparatus according to claim 5, wherein a gas supply path is connected to the pressing means, and an air pressure adjusting mechanism is provided in the gas supply path.
【請求項9】 前記気圧調整機構は,処理すべき基板に
対する処理体の所定の接触圧力を設定し,この所定の接
触圧力になるように前記出力軸の上下方向の推力を制御
する構成であることを特徴とする,請求項8に記載の処
理装置。
9. The atmospheric pressure adjusting mechanism is configured to set a predetermined contact pressure of a processing body with respect to a substrate to be processed, and to control a thrust force of the output shaft in a vertical direction so as to reach the predetermined contact pressure. The processing device according to claim 8, wherein
【請求項10】 前記押圧手段に前記出力軸の回転及び
昇降動作を支持するエアベアリングを設けたことを特徴
とする,請求項1,2,3,4,5,6,7,8又は9
に記載の処理装置。
10. The pressing means is provided with an air bearing for supporting the rotation and ascending / descending operations of the output shaft, as claimed in claim 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8 or 9.
The processing device according to.
【請求項11】 前記出力軸の下方外周部の雰囲気と,
前記駆動噛合部材及び前記従動噛合部材の雰囲気とを排
気する排気手段を設けたことを特徴とする,請求項1,
2,3,4,5,6,7,8,9又は10に記載の処理
装置。
11. An atmosphere of a lower outer peripheral portion of the output shaft,
The exhaust means for exhausting the atmosphere of the drive engagement member and the driven engagement member is provided.
The processing device according to 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10.
【請求項12】 基板の表面に処理体を接触させ,該処
理体を押圧しながら回転させて基板を処理する処理方法
において, 前記処理体を支持する押圧手段の出力軸と,前記処理体
を回転駆動する回転手段の回転軸とが,駆動噛合部材と
従動噛合部材とを介して直列に配置されており,前記押
圧手段の上方に前記回転手段が配置されており,かつ,
前記駆動噛合部材と前記従動噛合部材とが相対的に昇降
移動でき, 前記基板の表面に処理体を接触させる前に,処理する際
の処理体の所定の接触圧力を設定する工程と, 前記基板の表面に処理体を接触させる工程と, 前記出力軸に上向きの推力を働かせることにより,前記
所定の接触圧力になるように処理体の押圧力を調整する
工程とを有することを特徴とする,処理方法。
12. A treatment object is brought into contact with the surface of a substrate, and the treatment is performed.
A processing method for processing a substrate by rotating the body while pressing it
At Supports the processing bodyOf pressing meansOutput shaft and the processing body
Drive theOf rotation meansThe rotary shaft and the drive mesh member
Are arranged in series with the driven meshing member,Push
The rotating means is arranged above the pressure means, and
The drive meshing member and the driven meshing member move up and down relatively
Can move, When processing before contacting the processing body with the surface of the substrate
A step of setting a predetermined contact pressure of the processing body of A step of bringing a processing body into contact with the surface of the substrate, By applying upward thrust to the output shaft,
Adjust the pressing force of the processing object so that the contact pressure becomes the specified value.
A processing method comprising the steps of:
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