JP3434805B2 - 半導体装置及び実装用配線基板 - Google Patents

半導体装置及び実装用配線基板

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JP3434805B2
JP3434805B2 JP2001085905A JP2001085905A JP3434805B2 JP 3434805 B2 JP3434805 B2 JP 3434805B2 JP 2001085905 A JP2001085905 A JP 2001085905A JP 2001085905 A JP2001085905 A JP 2001085905A JP 3434805 B2 JP3434805 B2 JP 3434805B2
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、BGA(Ball Grid
Array)型パッケージがマザーボード等の実装用配線基
板に搭載された半導体装置及び実装用配線基板に関し、
特に、BGA型パッケージの4隅部に整合する部分に接
合強度を高めるための補強用ランドを設けた配線基板に
おいて、衝撃等を受けてBGA型パッケージの4隅部の
ハンダボールに加えてその隣のハンダボールがランドか
ら外れてしまった場合もBGA型パッケージと実装用配
線基板との電気的接続が保持される半導体装置及び実装
用配線基板に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は従来のBGA型パッケージを配線
基板としてのマザーボードに実装する方法を示す組立斜
視図、図5はBGA型パッケージの裏面図である。図4
に示すように、従来のBGA型パッケージ100におい
ては、絶縁性の基板114上に半導体チップ(ICチッ
プ)112が搭載されており、この半導体チップ112
は基板114上の配線(図示せず)とワイヤボンディン
グにより接続された後、モールド樹脂111により埋め
込まれて封止されている。また、図5に示すように、基
板114の裏面には、ハンダボール113が格子状に配
列されている。このハンダボール113のうち、基板1
14の4隅部に位置する夫々4個のハンダボールは、補
強用ハンダボール115であり、符号116はこの補強
用ハンダボール115の隣のハンダボールを示す。
【0003】このBGA型パッケージ100が実装され
る配線用基板としてのマザーボード120は、その表面
にハンダボール113と整合する位置にランド121が
設けられている。従って、このランド121も格子状に
配列されているが、マザーボード120の4隅部に位置
するランドは、その他のランド121の2つを連結した
約2倍の大きさを有する補強用ランド122である。ま
た、符号123はこの補強用ランド122の隣のランド
である。
【0004】このBGA型パッケージ100を、マザー
ボード120上に、ハンダボール113,115,11
6が夫々ランド121,122,123に整合するよう
に、重ね、ハンダボールを加熱して両者をハンダ付けす
る。この場合に、各補強用ランド122には2個の補強
用ハンダボール115が接合される。
【0005】この補強用ハンダボール115及び補強用
ランド122には信号が入出力されない。そして、4隅
部の補強用ランド122を通常のランド121よりも大
きくすることにより、ハンダ量を大きくし、これによ
り、落下衝撃等の衝撃力が内部のハンダボール113に
伝わるのを軽減している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
半導体装置において、強い衝撃力が印加された場合に
は、補強用ハンダボール115が補強用ランド122か
ら剥がれるが、更に強い衝撃力を受けた場合には、補強
用ハンダボール115が剥がれるのに加えて、その隣の
ハンダボール116も剥がれてしまうことがある。この
隣のハンダボール116及び隣のランド123は信号の
入出力に関与する通常の端子であり、隣のハンダボール
116と隣のランド123とが剥がれてしまうと、パッ
ケージ100とマザーボード120との接続がなくな
り、不良品となるため、従来の半導体装置は信頼性が不
十分であるという問題点がある。
【0007】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、補強用ハンダボールに加えて、その隣のハ
ンダボールまでも剥がれるような強い衝撃力を受けた場
合であっても、BGA型パッケージと配線基板との接続
を保持できる半導体装置及び実装用配線基板を提供する
ことを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願第1発明に係る半導
体装置は、基板表面に半導体チップが搭載され基板裏面
に格子状にハンダボールが配置されたBGA型パッケー
ジと、前記ハンダボールに整合する位置に形成されたラ
ンドを有する配線基板とを有し、前記ハンダボールを前
記ランドにハンダ付けして前記パッケージが前記配線基
板に実装された半導体装置において、前記配線基板の4
隅部に設けたランドは補強用ランドであり、前記パッケ
ージの基板裏面の4隅部に設けたハンダボールは補強用
ハンダボールであって、前記配線基板の特定の補強用ラ
ンドに隣接するランドとこの特定の補強用ランドと異な
る他の補強用ランドとが前記配線基板上で配線により接
続されており、前記特定の補強用ランドに隣接するラン
ドに対応するハンダボールと前記他の補強用ランドに対
応する補強用ハンダボールとが前記パッケージの基板上
で接続されていることを特徴とする。
【0009】この半導体装置において、例えば、前記特
定の補強用ランドと前記他の補強用ランドとは、前記配
線基板の対角線上で離隔する位置に設けられたものであ
る。
【0010】本願第2発明に係る半導体装置は、基板表
面に半導体チップが搭載され基板裏面に格子状にハンダ
ボールが配置されたBGA型パッケージと、前記ハンダ
ボールに整合する位置に形成されたランドを有する配線
基板とを有し、前記ハンダボールを前記ランドにハンダ
付けして前記パッケージが前記配線基板に実装された半
導体装置において、前記配線基板の4隅部に設けたラン
ドは補強用ランドであり、前記パッケージの基板裏面の
4隅部に設けたハンダボールは補強用ハンダボールであ
って、前記配線基板の特定の補強用ランドに隣接するラ
ンドと他のランドとが前記配線基板上で配線により接続
されており、前記特定の補強用ランドに隣接するランド
に対応するハンダボールと前記他のランドに対応する他
のハンダボールとが前記パッケージの基板上で接続され
ていることを特徴とする。
【0011】この半導体装置において、前記他のランド
及び前記他のハンダボールは、例えば、夫々前記配線基
板及び前記パッケージ基板の中央部に配置されたもので
ある。
【0012】また、これらの半導体装置において、例え
ば、前記補強用ランドは他のランドの複数個分の大きさ
を有し、各補強用ランドに複数個のハンダボールが接合
されるものである。
【0013】本願第3発明に係る実装用配線基板は、B
GA型パッケージの格子状に配置されたハンダボールに
整合する位置に形成されたランドを有し、前記ハンダボ
ールを前記ランドにハンダ付けして前記パッケージを実
装する実装用配線基板において、その4隅部に設けたラ
ンドは補強用ランドであり、特定の補強用ランドに隣接
するランドとこの特定の補強用ランドと異なる他の補強
用ランドとが前記配線基板上で配線により接続されてい
ることを特徴とする。
【0014】本願第4発明に係る実装用配線基板は、B
GA型パッケージの格子状に配置されたハンダボールに
整合する位置に形成されたランドを有し、前記ハンダボ
ールを前記ランドにハンダ付けして前記パッケージを実
装する実装用配線基板において、その4隅部に設けたラ
ンドは補強用ランドであり、特定の補強用ランドに隣接
するランドと他のランドとが前記配線基板上で配線によ
り接続されていることを特徴とする。
【0015】本発明においては、強い衝撃力を受け、特
定の補強用ハンダボールがそれに対応する補強用ランド
から剥がれると共に、その隣のハンダボールも隣のラン
ドから剥がれた場合であっても、この隣のランドは例え
ば対角線上に離隔する他の補強用ランドに配線により接
続されており、また、隣のハンダボールはBGA基板上
で同じく前記他の補強用ランドに対応する他の補強用ハ
ンダボールに配線により接続されているので、実装用配
線基板の前記隣のランドに入力された信号は、前記配線
を介して前記他の補強用ランドに入力され、この他の補
強用ランドからそれに接続された他の補強用ハンダボー
ルとBGA基板に設けた配線を介してBGA基板の前記
隣のハンダボールに入力される。従って、BGA基板上
の半導体チップに対し、隣のハンダボールが隣のランド
から剥がれなかった場合と同様に、この隣のハンダボー
ルを介して入力されるべき信号が、この隣のハンダボー
ルに接続された端子から半導体チップに入力される。
【0016】4隅部の特定の補強用ハンダボール及び補
強用ランドが剥がれるような強い衝撃力を受けた場合で
も、対角線上に位置する他の補強用ハンダボール及び他
の補強用ランドにはそれほどの衝撃力が印加されること
はないので、この他の補強用ハンダボールが他の補強用
ランドから剥がれることはない。このため、BGA型パ
ッケージと実装用配線基板との間の電気的接続は確実に
保持される。
【0017】なお、補強用ランド及び補強用ハンダボー
ルは半導体装置に衝撃力が印加された場合にその衝撃力
を最も受けやすい4隅部に設けられている。この補強用
ランド及び補強用ハンダボールは本来信号の送受に関与
しないものであるから、衝撃力により剥がれてもよい
が、その隣のランド及びハンダボールは、補強用ランド
及び補強用ハンダボールに次いで大きな衝撃力を受ける
部分であると共に、信号の送受に関与するものである。
このため、この隣のランド及び隣のハンダボールにおい
て、最も衝撃力による不良が発生しやすい。しかし、本
発明においては、この隣のランドから隣のハンダボール
が剥がれても、配線を介して迂回して信号が両者間に伝
達される。従って、本発明により、不良品の発生を確実
に防止することができる。
【0018】この場合に、隣のランドと隣のハンダボー
ルとが剥がれた場合に接続を確保するための部分は、前
述の他の補強用ランド及び他の補強用ハンダボールの他
に、例えば、格子状に配列されたランド及びハンダボー
ルを使用することもできる。この信号の送受を行うラン
ド及びハンダボールを使用して迂回する場合は、可及的
に中央部のランド及びハンダボールを使用することが好
ましい。いずれの4隅部に衝撃力が印加された場合で
も、この中央部において衝撃力が約半減するため、この
中央部は、衝撃力が最も小さい部分ではないが、衝撃力
の印加場所によらず、常に衝撃力が小さくなっており、
この中央部において、ハンダボールとランドとが剥がれ
にくいからである。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について添
付の図面を参照して具体的に説明する。図1は本発明の
第1実施例に係る半導体装置の実装方法を示す組立斜視
図、図2は本実施例のBGA型パッケージの裏面を示す
図である。図1に示すように、BGA型パッケージ1に
おいては、絶縁性の基板14上に半導体チップ(ICチ
ップ)12が搭載されており、この半導体チップ12は
基板14上の配線(図示せず)とワイヤボンディングに
より接続された後、モールド樹脂11により埋め込まれ
て封止されている。また、図2に示すように、基板14
の裏面にはハンダボール13が格子状に配置されてお
り、これらのハンダボール13は基板14に設けたビア
ホール(図示せず)を介して基板14上の配線に接続さ
れている。これらのハンダボールのうち、基板14の4
隅部に位置する夫々4個のハンダボールは、補強用ハン
ダボール15であり、符号16はこの補強用ハンダボー
ル15の隣のハンダボールである。
【0020】このBGA型パッケージ1が実装される配
線用基板としてのマザーボード2は、その表面にハンダ
ボール13と整合する位置にランド21が設けられてい
る。このマザーボード2は例えばプリント基板であり、
ランド21はマザーボード2内の配線を介して外部に導
出されている。
【0021】ランド21はハンダボール13と接続され
るものであり、従って、ランド21も格子状に配列され
ているが、マザーボード2の4隅部に位置するランド
は、その他のランド21を2個連結した大きさを有する
補強用ランド22である。符号23は、隣のハンダボー
ル16に対応する隣のランドである。補強用ランド22
はマザーボード2の4隅部に夫々2個づつ設けられてお
り、各補強用ランド22には2個の補強用ハンダボール
15が接続される。また、マザーボード2の各2個の補
強用ランド22が設けられた各隅部に隣接する夫々2個
のランドは、隣のランド23である。
【0022】本実施例においては、この補強用ランド2
2の隣のランド23と、この補強用ランド22から対角
線上に離隔する位置の他の補強用ランド22とが配線2
4により接続されている。また、これに合わせて、BG
A型パッケージ1の補強用ハンダボール15の隣のハン
ダボール16と、この補強用ハンダボール15から対角
線上に離隔する位置の他の補強用ハンダボール15とが
基板14に設けた配線(図示せず)により接続されてい
る。なお、各2個の他の補強用ハンダボール15が1個
の他の補強用ランド22に接続されるものであるから、
この隣のハンダボール16と接続される他の補強用ハン
ダボール15は、その2個のうち1個だけ隣のハンダボ
ール16に接続しても良いし、双方の他の補強用ハンダ
ボール15を隣のハンダボール16に接続してもよい。
【0023】上述の如く構成されたBGA型パッケージ
1はマザーボード2の上に各ランド21の位置と各ハン
ダボール13の位置とを整合させて重ね、加熱してハン
ダボール13をランド21に接合する。このとき、補強
用ハンダボール15は補強用ランド22に接合され、基
板14とマザーボード2との機械的な接合強度を高め
る。
【0024】次に、上述の如く構成された本実施例の半
導体装置の動作について説明する。マザーボード2の外
部導出配線を介して各ランド21に入力された信号は、
そのランド21に接続されたハンダボール13及び基板
14上の配線を介して半導体チップ12に入力される。
逆に、半導体チップ12から出力された信号は、ハンダ
ボール13及びランド21を介してマザーボード2に伝
達される。
【0025】而して、この半導体装置に衝撃力が印加さ
れた場合、この衝撃力が最も強く印加される部分はマザ
ーボード2の4隅部であるので、その衝撃力の印加位置
により、マザーボード2の4隅部の中の特定の隅部の補
強用ランド22に接合されていた補強用ハンダボール1
5が補強用ランド22から剥がれる。それと同時に、こ
の衝撃力が大きい場合は、この特定の補強用ランド22
の隣のランド23に接合されていた隣のハンダボール1
6もこの隣のランド23から剥がれる。本実施例におい
ては、この隣のランド23は対角線上に離隔する他の補
強用ランド22に配線24を介して接続されているの
で、マザーボード2内でこの隣のランド23に接続され
ている外部導出用配線は、隣のランド23から配線24
を介して他の補強用ランド22に接続され、更に、この
他の補強用ランド22に接続されている他の補強用ハン
ダボール15に接続され、この他の補強用ハンダボール
15に基板14に設けられた配線を介して接続された隣
のハンダボール16に接続される。従って、このハンダ
ボールが剥がれた隣のランド23を介して本来入出力す
べき信号は、この隣のランド23から、配線24、他の
補強用ランド22及び他の補強用ハンダボール15を迂
回して、隣のハンダボール16に入力され、隣のランド
23と隣のハンダボール16との間の電気信号の接続関
係が維持される。なお、この電気信号の中には電源も含
む。
【0026】このようにして、本実施例によれば、衝撃
力により、電気信号を送受すべきランドからハンダボー
ルが剥がれた場合であっても、本来電気信号の送受に関
与しない補強用ランド及び補強用ハンダボールを利用し
て接続を確保するから、半導体装置が不良品となること
が回避され、信頼性を著しく向上させることができる。
半導体装置に衝撃力が印加された場合に、その衝撃力を
最も大きく受ける部位は4隅部であり、従って、この部
位は従来から電気信号の送受に関与しない機械的接合力
の補強用のランド及びハンダボールとして使用されてき
たが、この補強用ランドに隣接するランドは、電気信号
を送受すべきランドの中で最も大きな衝撃力を受ける部
位であり、衝撃力が過大であった場合に、この隣のラン
ドから隣のハンダボールが剥がれてしまう。しかし、本
実施例においては、この隣のランドから隣のハンダボー
ルが剥がれてもその接続関係は維持される。よって、本
実施例により、衝撃力による不良品の発生を著しく低減
することができ、信頼性を著しく高めることができる。
【0027】次に、本発明の第2実施例について説明す
る。図3は本発明の第2実施例に係る半導体装置の組立
方法を示す分解斜視図である。図3において、図1及び
図2と同一構成物には同一符号を付しその詳細な説明は
省略する。なお、BGA型パッケージ1の裏面のハンダ
ボールの配列は図2に示す第1実施例と同様である。
【0028】本実施例においては、マザーボード2の4
隅部の補強用ランド25として、4個分のランド21に
相当する1個の大型のランドが設けられている。そし
て、この補強用ランド25に隣接する1個の隣のランド
23が、対角線上に離隔する他の補強用ランド25に配
線24により接続されている。
【0029】また、本実施例のBGA型パッケージ1に
おいても、補強用ハンダボール15と隣のハンダボール
16との接続関係は、図3に示す補強用ランド25と隣
のランド23との接続関係に対応するものである。な
お、各補強用ランド25に対して4個の補強用ハンダボ
ール15が接続される。
【0030】本実施例においても、衝撃力により、特定
の補強用ランド25から補強用ハンダボール15が剥が
れると共に、その隣のランド23から隣のハンダボール
16が剥がれた場合であっても、この隣のランド23に
おける接続が維持される。
【0031】なお、上記各実施例は、補強用ランドの隣
のランドからハンダボールが剥がれた場合に、対角線上
に離隔する他の補強用ランドを利用して信号を迂回させ
るものである。しかし、本発明はこれに限らず、例え
ば、対角線上に離隔する他の補強用ランドではなく、特
定の補強用ランドからマザーボードの辺縁にそって離隔
する2個の他の補強用ランドのいずれかを使用して信号
を迂回させても良い。
【0032】また、補強用ランドではなく、信号の送受
に関与していないランドがあれば、そのランドを利用し
て、衝撃力を受けやすい隣のランドの信号を迂回させる
こととしても良い。つまり、隣のランド23とランド2
1とを配線24により接続する。この場合に、隣のラン
ド23に接続されるランド21は、可及的に中央部のラ
ンドであることが好ましい。衝撃力を受けた場合に最も
大きな力を受けるのは隅部に近いランドであるが、最も
衝撃力が小さくなるのは、その対角線上に離隔する隅部
に近いランドである。しかし、4隅部のなかのどの隅部
に衝撃力が印加されるかは不明であるので、いずれの隅
部に衝撃力を印加されてもその影響が最も少なくなるも
のとして中央部がある。そこで、この中央部のランドを
信号迂回用のランドとすれば、隣のランドの接続関係を
確実に維持できる。
【0033】また、この迂回用のランド(補強用ランド
も含めて)は、1個に限らず複数個としてもよい。更
に、BGA型パッケージが搭載される配線基板は、マザ
ーボード2に限定されるものではなく、カード基板又は
マルチチップモジュール基板(MCM基板)等でもよ
い。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
強い衝撃力を受けて、補強用ハンダボールが補強用ラン
ドから剥がれるのに加えて、その隣のハンダボールが隣
のランドから剥がれた場合でも、他の補強用ランドとこ
れに接続された他の補強用ハンダボールを介して信号を
迂回させて隣のハンダボールに信号を伝達するので、隣
のランドと隣のハンダボールとの間の接続関係が維持さ
れる。また、この迂回用の経路は、他の補強用ランド及
び他の補強用ハンダボールに限らず、ランド及びハンダ
ボールを経由しても同様の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係る半導体装置の実装方
法を示す組立斜視図である。
【図2】本実施例のBGA型パッケージの裏面を示す図
である。
【図3】本発明の第2実施例に係る半導体装置の実装方
法を示す組立斜視図である。
【図4】従来の半導体装置の実装方法を示す組立斜視図
である。
【図5】従来のBGA型パッケージの裏面を示す図であ
る。
【符号の説明】
1、100;BGA型パッケージ半導体装置 2、120;マザーボード 11、111;モールド樹脂 12、112;半導体チップ 13、113;ハンダボール 14、114;基板 15、115;補強用ハンダボール 16、116;隣のハンダボール 21、121;ランド 22、25、122;補強用ランド 23、123;隣のランド 24;配線
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 311 H01L 21/92

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板表面に半導体チップが搭載され基板
    裏面に格子状にハンダボールが配置されたBGA型パッ
    ケージと、前記ハンダボールに整合する位置に形成され
    たランドを有する配線基板とを有し、前記ハンダボール
    を前記ランドにハンダ付けして前記パッケージが前記配
    線基板に実装された半導体装置において、前記配線基板
    の4隅部に設けたランドは補強用ランドであり、前記パ
    ッケージの基板裏面の4隅部に設けたハンダボールは補
    強用ハンダボールであって、前記配線基板の特定の補強
    用ランドに隣接するランドとこの特定の補強用ランドと
    異なる他の補強用ランドとが前記配線基板上で配線によ
    り接続されており、前記特定の補強用ランドに隣接する
    ランドに対応するハンダボールと前記他の補強用ランド
    に対応する補強用ハンダボールとが前記パッケージの基
    板上で接続されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記特定の補強用ランドと前記他の補強
    用ランドとは、前記配線基板の対角線上で離隔する位置
    に設けられたものであることを特徴とする請求項1に記
    載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 基板表面に半導体チップが搭載され基板
    裏面に格子状にハンダボールが配置されたBGA型パッ
    ケージと、前記ハンダボールに整合する位置に形成され
    たランドを有する配線基板とを有し、前記ハンダボール
    を前記ランドにハンダ付けして前記パッケージが前記配
    線基板に実装された半導体装置において、前記配線基板
    の4隅部に設けたランドは補強用ランドであり、前記パ
    ッケージの基板裏面の4隅部に設けたハンダボールは補
    強用ハンダボールであって、前記配線基板の特定の補強
    用ランドに隣接するランドと他のランドとが前記配線基
    板上で配線により接続されており、前記特定の補強用ラ
    ンドに隣接するランドに対応するハンダボールと前記他
    のランドに対応する他のハンダボールとが前記パッケー
    ジの基板上で接続されていることを特徴とする半導体装
    置。
  4. 【請求項4】 前記他のランド及び前記他のハンダボー
    ルは、夫々前記配線基板及び前記パッケージ基板の中央
    部に配置されたものであることを特徴とする請求項3に
    記載の半導体装置。
  5. 【請求項5】 前記補強用ランドは他のランドの複数個
    分の大きさを有し、各補強用ランドに複数個のハンダボ
    ールが接合されるものであることを特徴とする請求項1
    乃至4のいずれか1項に記載の半導体装置
  6. 【請求項6】 BGA型パッケージの格子状に配置され
    たハンダボールに整合する位置に形成されたランドを有
    し、前記ハンダボールを前記ランドにハンダ付けして前
    記パッケージを実装する実装用配線基板において、その
    4隅部に設けたランドは補強用ランドであり、特定の補
    強用ランドに隣接するランドとこの特定の補強用ランド
    と異なる他の補強用ランドとが前記配線基板上で配線に
    より接続されていることを特徴とする実装用配線基板。
  7. 【請求項7】 BGA型パッケージの格子状に配置され
    たハンダボールに整合する位置に形成されたランドを有
    し、前記ハンダボールを前記ランドにハンダ付けして前
    記パッケージを実装する実装用配線基板において、その
    4隅部に設けたランドは補強用ランドであり、特定の補
    強用ランドに隣接するランドと他のランドとが前記配線
    基板上で配線により接続されていることを特徴とする実
    装用配線基板。
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