JP3426793B2 - Method and apparatus for manufacturing polycrystalline semiconductor - Google Patents

Method and apparatus for manufacturing polycrystalline semiconductor

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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体材料を溶融し固
化させて多結晶半導体とする、多結晶半導体の製造方法
及び製造装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for producing a polycrystalline semiconductor by melting and solidifying a semiconductor material into a polycrystalline semiconductor.

【0002】[0002]

【従来の技術】多結晶半導体の製造方法として、例えば
特開昭62−167213号に開示される如く、原料シ
リコンをるつぼ内で溶融し、その溶融シリコンを冷却し
て固化し、多結晶シリコンとする方法が知られている。
2. Description of the Related Art As a method for producing a polycrystalline semiconductor, for example, as disclosed in JP-A-62-167213, raw material silicon is melted in a crucible, and the molten silicon is cooled and solidified to obtain polycrystalline silicon. It is known how to do it.

【0003】図5は、従来の多結晶シリコンの製造工程
を説明するための工程別の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory view for each step for explaining the conventional manufacturing process of polycrystalline silicon.

【0004】まず図5(a)に示すように、るつぼ1内
に原料シリコン2を入れ、図示しないヒーターにより加
熱して原料シリコン2を溶融し、同図(b)に示すよう
に溶融シリコン3とする。
First, as shown in FIG. 5 (a), the raw material silicon 2 is put into the crucible 1 and heated by a heater (not shown) to melt the raw material silicon 2, and the molten silicon 3 is melted as shown in FIG. 5 (b). And

【0005】次いで、るつぼ1の加熱を中止して、溶融
シリコン3を冷却する。溶融シリコン3は、その温度が
融点温度(1415℃)以下となると凝固し、同図
(c)に示すように、多結晶シリコン6となる。
Next, the heating of the crucible 1 is stopped and the molten silicon 3 is cooled. The molten silicon 3 is solidified when its temperature becomes equal to or lower than the melting point temperature (1415 ° C.), and becomes polycrystalline silicon 6 as shown in FIG.

【0006】その後、同図(d)に示すように、多結晶
シリコン6を引き上げる。
After that, the polycrystalline silicon 6 is pulled up as shown in FIG.

【0007】ところが、この従来の方法では、図5
(c)の工程に於ける溶融シリコン3の冷却を、自然冷
却で行うために、長時間を要するという問題があった。
However, according to this conventional method, as shown in FIG.
There is a problem that it takes a long time to cool the molten silicon 3 in the step (c) by natural cooling.

【0008】そこで、この冷却に要する時間を短くする
ために、図6に示す装置が提案されている。この従来装
置に於いては、るつぼ1の下部に、冷却水9を循環させ
る冷却装置8を設けている。この冷却装置8は、上下方
向に移動可能となるべく可動部を有している。
Therefore, in order to shorten the time required for this cooling, an apparatus shown in FIG. 6 has been proposed. In this conventional device, a cooling device 8 for circulating cooling water 9 is provided below the crucible 1. The cooling device 8 has a movable portion so as to be vertically movable.

【0009】そして、冷却時には、この冷却装置8とる
つぼ1との間の間隔dを小さくすることにより熱伝導を
良くし、溶融シリコン3を効率的に冷却する。また、原
料シリコンの加熱時には、間隔dを大きくしてるつぼ1
を冷却装置8から断熱している。
At the time of cooling, the heat conduction is improved by reducing the distance d between the cooling device 8 and the crucible 1, and the molten silicon 3 is cooled efficiently. In addition, when heating the raw material silicon, the crucible 1 having a large distance d is used.
Is insulated from the cooling device 8.

【0010】また、図7の構造の製造装置も提案されて
いる。この別の従来装置に於いては、るつぼ1の下部
に、2枚の断熱板10a及び10bを有した、断熱部1
0を備えている。そして、断熱部10の下部に、冷却水
9を循環させる冷却装置8が設けられている。
A manufacturing apparatus having the structure shown in FIG. 7 has also been proposed. In this other conventional device, the heat insulating part 1 having two heat insulating plates 10a and 10b under the crucible 1 is provided.
It has 0. A cooling device 8 that circulates the cooling water 9 is provided below the heat insulating unit 10.

【0011】上記2枚の断熱板10a及び10bには、
図8の平面図に示すように、4つの孔11、11…が夫
々設けられている。
The two heat insulating plates 10a and 10b are
As shown in the plan view of FIG. 8, four holes 11, 11, ... Are provided respectively.

【0012】そして冷却時には、図9(a)に示すよう
に、これらの孔11、11…が互いに重なり合うように
断熱板10a及び10bが配置される。この配置とする
ことにより、溶融シリコン3の放熱は、これらの孔1
1、11…を介して効率的に行われることとなる。
At the time of cooling, as shown in FIG. 9A, the heat insulating plates 10a and 10b are arranged so that the holes 11, 11 ... Overlap each other. With this arrangement, the heat radiation of the molten silicon 3 can be prevented by these holes 1
It will be efficiently carried out through 1, 11 ...

【0013】また加熱時には、図(b)に示すよう
に、2枚の断熱板10a及び10bに設けられた孔1
1、11…が、互いを遮るように、断熱板10a及び1
0bが配置される。この配置とすることにより、るつぼ
1を冷却装置8と断熱することができ、溶融シリコン3
を効率的に加熱することができる。
At the time of heating, as shown in FIG. 9 (b), the holes 1 provided in the two heat insulating plates 10a and 10b.
The heat insulating plates 10a and 10a so that 1, 11, ...
0b is arranged. With this arrangement, the crucible 1 can be insulated from the cooling device 8 and the molten silicon 3
Can be efficiently heated.

【0014】従って、本従来装置によれば、2枚の断熱
板の配置関係により簡単に熱伝導を制御できることとな
る。
Therefore, according to the conventional device, the heat conduction can be easily controlled by the arrangement relationship of the two heat insulating plates.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】然し乍ら、上記従来装
置には、以下のような問題点が存在していた。即ち、図
6に示した従来装置に於いては、冷却部8を上下に移動
させるための可動部が必要となるために、この可動部の
長期の信頼性が問題となっていた。
However, the above conventional device has the following problems. That is, in the conventional device shown in FIG. 6, since a movable part for moving the cooling part 8 up and down is required, long-term reliability of this movable part has been a problem.

【0016】また、図7に示した別の従来装置に於いて
は、溶融シリコン3の冷却が断熱板10a,10bに設
けられた孔11、11…を介して行われるため、均一な
冷却が行われず、溶融シリコン3中で温度ムラが生じ、
得られた多結晶シリコンの特性が不均一なものとなって
いた。
Further, in another conventional apparatus shown in FIG. 7, since the molten silicon 3 is cooled through the holes 11, 11 ... Provided in the heat insulating plates 10a, 10b, uniform cooling is achieved. Not performed, temperature unevenness occurs in the molten silicon 3,
The characteristics of the obtained polycrystalline silicon were non-uniform.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明の多結晶半導体の
製造方法は、るつぼ内の半導体材料を加熱、溶融した
後、該半導体材料を前記るつぼを介して設けられた冷却
装置により冷却することで多結晶化せしめる多結晶半導
体の製造方法であって、前記るつぼと前記冷却装置との
間に互いに密接すべく設けられた熱伝導制御部の、内部
を、前記加熱時には減圧状態とすると共に、前記冷却時
には加圧状態とすることを特徴としている。
In the method for producing a polycrystalline semiconductor according to the present invention, after heating and melting a semiconductor material in a crucible, the semiconductor material is cooled by a cooling device provided through the crucible. In the method of manufacturing a polycrystalline semiconductor to be polycrystallized in, in the heat conduction control unit provided to be in close contact with each other between the crucible and the cooling device, the inside, with a reduced pressure state at the time of heating, It is characterized in that a pressure is applied during the cooling.

【0018】また、本発明の多結晶半導体の製造装置
は、るつぼと、冷却装置との間に、互いに密接すべく設
けられた熱伝導制御部を備えた多結晶半導体の製造装置
であって、前記熱伝導制御部は、その内部が、前記るつ
ぼへの加熱時又は冷却時に、夫々、減圧状態又は加圧状
態とされることを特徴としている。
The polycrystalline semiconductor manufacturing apparatus of the present invention is a polycrystalline semiconductor manufacturing apparatus including a heat conduction control unit provided in close contact with each other between a crucible and a cooling device, The heat conduction control unit is characterized in that the inside thereof is brought into a depressurized state or a pressurized state, respectively, when heating or cooling the crucible.

【0019】[0019]

【作用】本発明の製造方法によれば、加熱時にはるつぼ
と冷却装置との間に、互いに密接すべく設けた熱伝導制
御部の、内部を減圧状態とすることにより、熱伝導が抑
制されるので、るつぼ内の原料シリコンを効率的に加
熱,溶融することができる。
According to the manufacturing method of the present invention, the heat conduction is suppressed by depressurizing the inside of the heat conduction control portion provided so as to be in close contact with each other between the crucible and the cooling device during heating. Therefore, the raw material silicon in the crucible can be efficiently heated and melted.

【0020】また、冷却時には上記熱伝導制御部内にガ
スを封入或いは循環させて加圧状態とすることにより、
熱伝導が良くなるので、るつぼを冷却装置により効果的
に冷却できる。さらには、熱伝導制御部はるつぼ及び冷
却装置と互いに密接して設けられているので、温度ムラ
を生じさせることなく溶融シリコンを均一に冷却でき、
特性の均一な多結晶半導体を製造できる。
Further, at the time of cooling, by enclosing or circulating a gas in the heat conduction control section to bring it into a pressurized state,
Since the heat conduction is improved, the crucible can be effectively cooled by the cooling device. Furthermore, since the heat conduction control unit is provided in close contact with the crucible and the cooling device, it is possible to uniformly cool the molten silicon without causing temperature unevenness,
A polycrystalline semiconductor having uniform characteristics can be manufactured.

【0021】加えて本発明の製造装置は、るつぼと冷却
装置との間に、るつぼの熱伝導を制御する熱伝導制御部
を互いに密接して設けており、可動部がないので、長期
の信頼性を有すると共に、溶融半導体材料の冷却時に温
度ムラが生じることがなく、特性の均一な多結晶半導体
を製造できる。
In addition, in the manufacturing apparatus of the present invention, the heat conduction control sections for controlling the heat conduction of the crucible are provided in close contact with each other between the crucible and the cooling apparatus, and since there is no movable section, long-term reliability is ensured. It is possible to manufacture a polycrystalline semiconductor having uniform properties and having uniform properties without causing temperature unevenness when the molten semiconductor material is cooled.

【0022】[0022]

【実施例】図1は、本発明の多結晶半導体の製造装置の
概略構造図である。同図に於いて、10が本発明の特徴
である熱伝導制御部であり、1はるつぼ、8は冷却部で
ある。そして熱伝導制御部10は、ガス導入部11及び
排気部12を備えている。
1 is a schematic structural diagram of an apparatus for producing a polycrystalline semiconductor according to the present invention. In the figure, 10 is a heat conduction control unit, which is a feature of the present invention, 1 is a crucible, and 8 is a cooling unit. The heat conduction control unit 10 includes a gas introduction unit 11 and an exhaust unit 12.

【0023】この本発明装置を用いて、多結晶シリコン
を製造する工程を、以下に説明する。
A process for producing polycrystalline silicon using the apparatus of the present invention will be described below.

【0024】図2は、本発明の製造方法を説明するため
の工程別説明図である。
2A to 2D are explanatory views for each step for explaining the manufacturing method of the present invention.

【0025】まず、第1の工程に於いては、同図(a)
に示すように、るつぼ1内に原料シリコン2を入れ、熱
伝導制御部10内を、排気部12から1Pa以下の減圧
状態となるまで排気する。この状態で、図示しないヒー
ターをもちいて原料シリコン2を加熱し、溶融させて同
図(b)に示すように、溶融シリコン3とする。この
時、熱伝導制御部10を減圧状態としたことにより、る
つぼ1を冷却装置8と断熱することができ、原料シリコ
ン2を効率的に加熱することができる。
First, in the first step, FIG.
As shown in FIG. 3, the raw material silicon 2 is put in the crucible 1 and the heat conduction control unit 10 is exhausted from the exhaust unit 12 until the pressure is reduced to 1 Pa or less. In this state, the raw material silicon 2 is heated and melted by using a heater (not shown) to form the molten silicon 3 as shown in FIG. At this time, the heat conduction control unit 10 is depressurized, so that the crucible 1 can be insulated from the cooling device 8, and the raw material silicon 2 can be efficiently heated.

【0026】尚、熱伝導制御部10を熱伝導率の小さい
材料で構成すれば、該制御部10の表面を介した熱伝導
も小さくなるので一層効果的である。
If the heat conduction control section 10 is made of a material having a low heat conductivity, the heat conduction through the surface of the control section 10 is also reduced, which is more effective.

【0027】次いで、第2の工程に於いては、るつぼ1
の加熱を中止して、熱伝導制御部10内に、ガス導入部
11からArを導入して加圧状態とする。このようにす
ることで、るつぼ1の下部からの放熱を促進させること
ができ、効率的な冷却が可能となる。また、るつぼ1の
冷却は、熱伝導制御部10と接する面から均一に行われ
るので、溶融シリコン3中に温度ムラが生じることもな
い。
Next, in the second step, the crucible 1
Then, the heating is stopped, and Ar is introduced into the heat conduction control unit 10 from the gas introduction unit 11 to bring it into a pressurized state. By doing so, heat dissipation from the lower part of the crucible 1 can be promoted and efficient cooling can be achieved. Further, since the crucible 1 is cooled uniformly from the surface in contact with the heat conduction control unit 10, there is no temperature unevenness in the molten silicon 3.

【0028】尚、この際Arを熱伝導制御部10内に封
じ込める必要はなく、Ar或いはHe,Xe等の希ガス
をガス導入部11から導入しつつ排気部12から排気す
ることによって、熱伝導制御部10内を循環させるよう
にしても良い。また、熱伝導制御部10の内部は必ずし
も大気圧以上の圧力とする必要はなく、数10Pa以上
の圧力とすれば良い。
At this time, it is not necessary to confine Ar in the heat conduction control unit 10, and Ar or a rare gas such as He or Xe is introduced from the gas introduction unit 11 and exhausted from the exhaust unit 12 so as to conduct heat conduction. You may make it circulate in the control part 10. In addition, the inside of the heat conduction control unit 10 does not necessarily have to have a pressure of atmospheric pressure or more, and may have a pressure of several tens Pa or more.

【0029】この状態で、溶融シリコン3の温度が融点
温度(1415℃)以下となって凝固し、同図(c)に
示すように、多結晶シリコン6となるまで冷却する。
In this state, the temperature of the molten silicon 3 is lowered to the melting point temperature (1415 ° C.) or lower to solidify, and the polycrystalline silicon 6 is cooled as shown in FIG.

【0030】その後、第3の工程に於いては、同図
(d)に示すように多結晶シリコン6を引き上げる。
Then, in the third step, the polycrystalline silicon 6 is pulled up as shown in FIG.

【0031】尚、上記第2の工程と、第3の工程との間
で、熱伝導制御部10を再度排気して減圧状態とし、多
結晶シリコン6を1200〜1300℃でアニールして
も良い。こうすることで、多結晶シリコン6中のクラッ
クの発生を防止することができる。
Between the second step and the third step, the heat conduction control section 10 may be evacuated again to a reduced pressure state, and the polycrystalline silicon 6 may be annealed at 1200 to 1300.degree. . By doing so, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the polycrystalline silicon 6.

【0032】以上説明したように、本発明の装置では、
従来装置のような冷却装置8を上下に移動するための可
動部がないので、長期の信頼性を有している。また、る
つぼ1の効率的な加熱及び冷却が可能となると共に、冷
却時に温度ムラが生じることもない。
As described above, in the device of the present invention,
Since there is no movable part for moving the cooling device 8 up and down like the conventional device, it has long-term reliability. In addition, the crucible 1 can be efficiently heated and cooled, and temperature unevenness does not occur during cooling.

【0033】得られた多結晶シリコンから切り出したウ
エハーを用いて太陽電池を形成し、その出力を測定し
た。図3は、出力の分布を示す特性図である。また、図
4は、図7の別の従来装置を用いて製造した多結晶シリ
コンウエハーから形成した太陽電池の出力の分布であ
る。
A solar cell was formed using the wafer cut out from the obtained polycrystalline silicon, and its output was measured. FIG. 3 is a characteristic diagram showing an output distribution. Further, FIG. 4 is a distribution of output of a solar cell formed from a polycrystalline silicon wafer manufactured by using another conventional device of FIG. 7.

【0034】この従来装置を用いた場合には、前述した
ように、溶融シリコンの冷却時に温度ムラが生じるため
に、得られた多結晶シリコンの特性が不均一なものとな
る。この傾向は、特にるつぼ1の下部で顕著であり、図
4に示すように、この部分からスライスして得られたウ
エハーを用いて形成した太陽電池の出力は、劣悪なもの
となっている。
When this conventional apparatus is used, as described above, the characteristics of the obtained polycrystalline silicon become non-uniform due to temperature unevenness during cooling of the molten silicon. This tendency is particularly remarkable in the lower part of the crucible 1, and as shown in FIG. 4, the output of the solar cell formed using the wafer obtained by slicing from this portion is poor.

【0035】これに対し、本発明の装置を用いた場合に
は、溶融シリコン3を均一に冷却できるので、図3に示
すように均一な出力が得られる。
On the other hand, when the apparatus of the present invention is used, the molten silicon 3 can be cooled uniformly, so that a uniform output can be obtained as shown in FIG.

【0036】尚、以上の実施例では多結晶シリコンを例
にとって説明したが、これに限るものではなく、一般の
多結晶半導体の製造に用いることができる。
In the above embodiments, polycrystalline silicon has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and it can be used for manufacturing a general polycrystalline semiconductor.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の製造方法
によれば、るつぼの効率的な加熱及び冷却が可能となる
とともに、特性の均一な多結晶半導体を製造できる。
As described above, according to the manufacturing method of the present invention, it is possible to efficiently heat and cool the crucible, and it is possible to manufacture a polycrystalline semiconductor having uniform characteristics.

【0038】加えて本発明の製造装置は、可動部を有し
ないので、長期の信頼性を有している。
In addition, since the manufacturing apparatus of the present invention has no movable part, it has long-term reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の多結晶半導体の製造装置の概略構造
図である。
FIG. 1 is a schematic structural diagram of a polycrystalline semiconductor manufacturing apparatus of the present invention.

【図2】 本発明の製造方法を説明するための工程別説
明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram for each step for explaining the manufacturing method of the present invention.

【図3】 本発明の製造装置により製造された多結晶シ
リコンから切り出したウエハーを用いて形成した太陽電
池の出力の分布を示す特性図である。
FIG. 3 is a characteristic diagram showing an output distribution of a solar cell formed by using a wafer cut out from polycrystalline silicon manufactured by the manufacturing apparatus of the present invention.

【図4】 別の従来装置により製造された多結晶シリコ
ンから切り出したウエハーを用いて形成した太陽電池の
出力の分布を示す特性図である。
FIG. 4 is a characteristic diagram showing an output distribution of a solar cell formed by using a wafer cut out from polycrystalline silicon manufactured by another conventional apparatus.

【図5】 従来装置を用いて多結晶シリコンを製造する
工程を説明するための説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram for explaining a step of manufacturing polycrystalline silicon using a conventional apparatus.

【図6】 従来装置の概略構造図である。FIG. 6 is a schematic structural diagram of a conventional device.

【図7】 別の従来装置の概略構造図である。FIG. 7 is a schematic structural diagram of another conventional device.

【図8】 断熱板の平面図である。FIG. 8 is a plan view of a heat insulating plate.

【図9】 断熱板の配置図である。FIG. 9 is a layout view of a heat insulating plate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…るつぼ、8…冷却装置、10…熱伝導制御部 1 ... crucible, 8 ... cooling device, 10 ... heat conduction control unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C30B 1/00 - 35/00 C01B 33/037 H01L 31/04 H01L 21/208 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) C30B 1/00-35/00 C01B 33/037 H01L 31/04 H01L 21/208

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 るつぼ内の半導体材料を加熱、溶融した
後、該半導体材料を前記るつぼを介して設けられた冷却
装置により冷却することで多結晶化せしめる多結晶半導
体の製造方法であって、 前記るつぼと前記冷却装置との間に、互いに密接すべく
設けられた熱伝導制御部の、内部を、前記加熱時には減
圧状態とすると共に、前記冷却時には加圧状態とするこ
とを特徴とする多結晶半導体の製造方法。
1. A method for producing a polycrystalline semiconductor, comprising: heating and melting a semiconductor material in a crucible; and cooling the semiconductor material by a cooling device provided through the crucible to polycrystallize the semiconductor material. Between the crucible and the cooling device, the inside of the heat conduction control unit provided so as to be in close contact with each other is set to a depressurized state during the heating and a pressurized state during the cooling. Manufacturing method of crystalline semiconductor.
【請求項2】 るつぼと、冷却装置との間に、互いに密
接すべく設けられた熱伝導制御部を備えた多結晶半導体
の製造装置であって、 前記熱伝導制御部は、その内部が、前記るつぼへの加熱
時又は冷却時に、夫々、減圧状態又は加圧状態とされる
ことを特徴とする多結晶半導体の製造装置。
2. A manufacturing apparatus for a polycrystalline semiconductor, comprising a heat conduction control section provided so as to be in close contact with each other between a crucible and a cooling apparatus, wherein the heat conduction control section has An apparatus for producing a polycrystalline semiconductor, which is in a depressurized state or a pressurized state when heating or cooling the crucible, respectively.
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