JP3422334B2 - 地絡検出装置の校正試験回路 - Google Patents
地絡検出装置の校正試験回路Info
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- JP3422334B2 JP3422334B2 JP11409493A JP11409493A JP3422334B2 JP 3422334 B2 JP3422334 B2 JP 3422334B2 JP 11409493 A JP11409493 A JP 11409493A JP 11409493 A JP11409493 A JP 11409493A JP 3422334 B2 JP3422334 B2 JP 3422334B2
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- Japan
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- zero
- phase
- phase current
- ground fault
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は地絡検出装置の零相電流
センサおよび零相電圧センサを校正する校正試験回路に
関する。
センサおよび零相電圧センサを校正する校正試験回路に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の地絡検出装置の校正試験回路は図
２に示すように構成してある。１１は零相電流センサと
零相電圧センサを具えた地絡検出装置で、零相電流セン
サおよび零相電圧センサの端子を配電線１４に接続して
ある。１２は地絡検出装置に接続した信号処理回路で、
零相電流センサおよび零相電圧センサの出力信号を処理
してその出力を表示装置１３に出力するように構成して
ある。１５は配電線１４に接続したトランスで、１次側
星型結線の中性点を直接接地し、２次側三角型結線の１
角を開いて零相電圧計１６を接続してある。１７は配電
線と大地間の等価線路容量、１８は基準となる地絡電流
を計測する零相電流計である。零相電流計 １８の一端を
配電線１４の一線に接続し、他端を地絡を発生させる切
替スイッチ１９に接続してしてある。さらに切替スイッ
チ１９の先端は地絡電流を調整する地絡抵抗２０を直列
に接続し接地してある。このように構成した校正回路に
通電し、切替スイッチ１９を地絡抵抗２０の側から短絡
側に切り替えると、等価線路容量１７に充電されていた
電荷が切替スイッチ１９を介して大地に零相電流が流
れ、零相電流計１８が零相電流値を、零相電圧計１６が
零相電圧を検出する。同時に、地絡検出装置１１の零相
電流センサが零相電流値を、零相電圧センサが零相電圧
値を検出し、信号処理回路１２で信号処理して表示装置
１３に表示する。表示装置１３に表示された零相電流値
および零相電圧値が、零相電流計１８および零相電圧計
１６で検出した零相電流値および零相電圧値と異なると
きは、零相電流計１８および零相電圧計１６で測定した
零相電流値および零相電圧値になるように、信号処理回
路１２の増幅ゲインを調整し校正していた。
２に示すように構成してある。１１は零相電流センサと
零相電圧センサを具えた地絡検出装置で、零相電流セン
サおよび零相電圧センサの端子を配電線１４に接続して
ある。１２は地絡検出装置に接続した信号処理回路で、
零相電流センサおよび零相電圧センサの出力信号を処理
してその出力を表示装置１３に出力するように構成して
ある。１５は配電線１４に接続したトランスで、１次側
星型結線の中性点を直接接地し、２次側三角型結線の１
角を開いて零相電圧計１６を接続してある。１７は配電
線と大地間の等価線路容量、１８は基準となる地絡電流
を計測する零相電流計である。零相電流計 １８の一端を
配電線１４の一線に接続し、他端を地絡を発生させる切
替スイッチ１９に接続してしてある。さらに切替スイッ
チ１９の先端は地絡電流を調整する地絡抵抗２０を直列
に接続し接地してある。このように構成した校正回路に
通電し、切替スイッチ１９を地絡抵抗２０の側から短絡
側に切り替えると、等価線路容量１７に充電されていた
電荷が切替スイッチ１９を介して大地に零相電流が流
れ、零相電流計１８が零相電流値を、零相電圧計１６が
零相電圧を検出する。同時に、地絡検出装置１１の零相
電流センサが零相電流値を、零相電圧センサが零相電圧
値を検出し、信号処理回路１２で信号処理して表示装置
１３に表示する。表示装置１３に表示された零相電流値
および零相電圧値が、零相電流計１８および零相電圧計
１６で検出した零相電流値および零相電圧値と異なると
きは、零相電流計１８および零相電圧計１６で測定した
零相電流値および零相電圧値になるように、信号処理回
路１２の増幅ゲインを調整し校正していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、等価線路容
量１７には地絡を発生させる直前まで３相電圧が印加さ
れているため、電荷が常に充電されている。この状態で
地絡を発生させると、零相電流と共に等価線路容量に充
電された電荷も放電される。この充電電荷は切替スイッ
チ１９を閉路するタイミングに依存しているため、放電
である過渡現象を含む場合がある。この場合、地絡検出
装置側では、この過渡現象を含んだ零相電圧及び零相電
流を測定しており、校正試験回路側では、過渡現象終了
後の低い値を測定していた。したがって、基準となる零
相電流値および零相電圧値の精度が悪いため 、 地絡検出
装置の零相電流センサおよび零相電圧センサの精度が悪
いという問題があった。そこで、本発明は、校正用の電
源側に過渡現象を含まないようにし、地絡検出装置の零
相電圧センサおよび零相電流センサを高精度で安定性よ
く校正できるようにすることを目的する。
量１７には地絡を発生させる直前まで３相電圧が印加さ
れているため、電荷が常に充電されている。この状態で
地絡を発生させると、零相電流と共に等価線路容量に充
電された電荷も放電される。この充電電荷は切替スイッ
チ１９を閉路するタイミングに依存しているため、放電
である過渡現象を含む場合がある。この場合、地絡検出
装置側では、この過渡現象を含んだ零相電圧及び零相電
流を測定しており、校正試験回路側では、過渡現象終了
後の低い値を測定していた。したがって、基準となる零
相電流値および零相電圧値の精度が悪いため 、 地絡検出
装置の零相電流センサおよび零相電圧センサの精度が悪
いという問題があった。そこで、本発明は、校正用の電
源側に過渡現象を含まないようにし、地絡検出装置の零
相電圧センサおよび零相電流センサを高精度で安定性よ
く校正できるようにすることを目的する。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明は零相電流および零相電圧を供給する電源
と、零相電流計および零相電圧計と、零相電流を投入す
る切替スイッチとを備え、配電線に接続される地絡検出
装置の零相電流センサおよび零相電圧センサを校正する
校正試験回路において、前記地絡検出装置はその両端に
各相をそれぞれ短絡した試験回路を接続し、前記電源は
校正試験用の電源に絶縁トランスと零相電流調整用の摺
動型トランスとバイパス抵抗とを接続した零相電流発生
部と、前記校正試験用の電源に接続され、かつ第２の絶
縁トランスと零相電圧調整用の第２の摺動型トランスと
を接続した零相電圧発生部とからなり、前記切替スイッ
チは一方を前記試験回路に、他方を前記零相電流発生部
および零相電圧発生部に接続した構成にしている。
め、本発明は零相電流および零相電圧を供給する電源
と、零相電流計および零相電圧計と、零相電流を投入す
る切替スイッチとを備え、配電線に接続される地絡検出
装置の零相電流センサおよび零相電圧センサを校正する
校正試験回路において、前記地絡検出装置はその両端に
各相をそれぞれ短絡した試験回路を接続し、前記電源は
校正試験用の電源に絶縁トランスと零相電流調整用の摺
動型トランスとバイパス抵抗とを接続した零相電流発生
部と、前記校正試験用の電源に接続され、かつ第２の絶
縁トランスと零相電圧調整用の第２の摺動型トランスと
を接続した零相電圧発生部とからなり、前記切替スイッ
チは一方を前記試験回路に、他方を前記零相電流発生部
および零相電圧発生部に接続した構成にしている。
【作用】切替スイッチにより零相電流発生部から地絡検
出装置の試験回路に校正用の零相電流を流すと、零相電
流発生部のバイパス抵抗５と地絡検出装置側とは並列に
接続されているため、インピーダンスの低い地絡検出装
置側へ零相電流が流れる。このとき容量性負荷の変化は
無視できる程度に小さいので、充電電荷による過渡現象
は無視できる程度のものとなる。したがって、地絡検出
装置の零相電流値センサおよび零相電圧センサを高精度
で安定して校正できる。
出装置の試験回路に校正用の零相電流を流すと、零相電
流発生部のバイパス抵抗５と地絡検出装置側とは並列に
接続されているため、インピーダンスの低い地絡検出装
置側へ零相電流が流れる。このとき容量性負荷の変化は
無視できる程度に小さいので、充電電荷による過渡現象
は無視できる程度のものとなる。したがって、地絡検出
装置の零相電流値センサおよび零相電圧センサを高精度
で安定して校正できる。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の実施例を図に基づいて説明す
る。本発明は、地絡検出装置を実地に設置する前に校正
するものである。図１に本発明の地絡検出装置の校正試
験回路を示す。図において、１は校正試験用の電源に接
続した絶縁トランス、２は零相電流の位相を遅延させる
遅延コイル、３は零相電流を調節する摺動型トランス、
４は試験時の零相電流を制限する制限抵抗器、５はバイ
パス抵抗、６は零相電流を測定する零相電流計、７は切
替スイッチ、８は校正試験用の電源に接続した第２の絶
縁トランス、９は零相電圧を調整する第２の摺動型トラ
ンス、１０は零相電圧を測定する零相電圧計である。Ａ
は零相電流発生部、Ｂは零相電圧発生部、Ｃは試験回路
である。零相電流発生部Ａは、電源側から絶縁トランス
１、遅延コイル２、摺動型変圧器 ３、制限抵抗４、バイ
パス抵抗５、零相電流計６の順に接続している。零相電
圧発生部Ｂは、電源側から絶縁トランス８、摺動型トラ
ンス９、零相電圧計１０の順に接続している。試験回路
Ｃは、地絡検出装置の両端の各相をそれぞれ短絡した回
路にしている。切替スイッチ７は、一方を試験回路Ｃ
に、他方を零相電流発生部Ａおよび零相電圧発生部Ｂに
接続し、地絡検出装置１１の校正試験をしていないとき
は、試験回路Ｃを閉路し、校正試験をするときは、切替
スイッチの接点が零相電流発生部Ａおよび零相電圧発生
部Ｂの回路に接続されるように構成してある。次に動作
について説明する。図１は切り替えスイッチ７を試験回
路Ｃを閉路した状態を示すものである。この状態の零相
電流発生部Ａは、絶縁トランス１の出力と遅延コイル２
と摺動トランス３と制限抵抗４とバイパス抵抗５と零相
電流計６を接続した回路を形成し零相電流はこの回路を
流れている。零相電流の調整は摺動トランス３で、零相
電圧の調整は第２の摺動型トランスでそれぞれ行う。切
替スイッチ７を試験回路Ｃから零相電流発生部Ａおよび
零相電圧発生部Ｂ側に切り替えると、零相電流発生部Ａ
のバイパス抵抗５と試験回路Ｃは並列に接続されるた
め、零相電流はインピーダンスの低い試験回路Ｃへ流れ
る。このとき容量性負荷の変化は無視できる程度なの
で、充電電荷による過渡現象も無視できる程度となる。
したがって、校正の基準となる零相電流および零相電圧
は、過渡現象を生ずることはない。このため、正確な基
準値が得られ地絡検出装置１１の零相電流センサおよび
零相電圧センサを精度よく校正することができる。
る。本発明は、地絡検出装置を実地に設置する前に校正
するものである。図１に本発明の地絡検出装置の校正試
験回路を示す。図において、１は校正試験用の電源に接
続した絶縁トランス、２は零相電流の位相を遅延させる
遅延コイル、３は零相電流を調節する摺動型トランス、
４は試験時の零相電流を制限する制限抵抗器、５はバイ
パス抵抗、６は零相電流を測定する零相電流計、７は切
替スイッチ、８は校正試験用の電源に接続した第２の絶
縁トランス、９は零相電圧を調整する第２の摺動型トラ
ンス、１０は零相電圧を測定する零相電圧計である。Ａ
は零相電流発生部、Ｂは零相電圧発生部、Ｃは試験回路
である。零相電流発生部Ａは、電源側から絶縁トランス
１、遅延コイル２、摺動型変圧器 ３、制限抵抗４、バイ
パス抵抗５、零相電流計６の順に接続している。零相電
圧発生部Ｂは、電源側から絶縁トランス８、摺動型トラ
ンス９、零相電圧計１０の順に接続している。試験回路
Ｃは、地絡検出装置の両端の各相をそれぞれ短絡した回
路にしている。切替スイッチ７は、一方を試験回路Ｃ
に、他方を零相電流発生部Ａおよび零相電圧発生部Ｂに
接続し、地絡検出装置１１の校正試験をしていないとき
は、試験回路Ｃを閉路し、校正試験をするときは、切替
スイッチの接点が零相電流発生部Ａおよび零相電圧発生
部Ｂの回路に接続されるように構成してある。次に動作
について説明する。図１は切り替えスイッチ７を試験回
路Ｃを閉路した状態を示すものである。この状態の零相
電流発生部Ａは、絶縁トランス１の出力と遅延コイル２
と摺動トランス３と制限抵抗４とバイパス抵抗５と零相
電流計６を接続した回路を形成し零相電流はこの回路を
流れている。零相電流の調整は摺動トランス３で、零相
電圧の調整は第２の摺動型トランスでそれぞれ行う。切
替スイッチ７を試験回路Ｃから零相電流発生部Ａおよび
零相電圧発生部Ｂ側に切り替えると、零相電流発生部Ａ
のバイパス抵抗５と試験回路Ｃは並列に接続されるた
め、零相電流はインピーダンスの低い試験回路Ｃへ流れ
る。このとき容量性負荷の変化は無視できる程度なの
で、充電電荷による過渡現象も無視できる程度となる。
したがって、校正の基準となる零相電流および零相電圧
は、過渡現象を生ずることはない。このため、正確な基
準値が得られ地絡検出装置１１の零相電流センサおよび
零相電圧センサを精度よく校正することができる。
【０００７】
【発明の効果】本発明は、地絡検出装置に各相を短絡し
た試験回路を用い、これに過渡現象のない零相電流発生
部からの電流および零相電圧発生部からの電圧を印加す
るので、零相電流センサ、零相電圧センサを高精度で、
安定性良く校正することができる。
た試験回路を用い、これに過渡現象のない零相電流発生
部からの電流および零相電圧発生部からの電圧を印加す
るので、零相電流センサ、零相電圧センサを高精度で、
安定性良く校正することができる。
【図１】 本発明の実施例を示す地絡検出装置の校正試
験回路
験回路
【図２】 従来の地絡検出装置の校正試験回路
１ 絶縁トランス
２ 遅延コイル
３ 摺動型トランス
４ 制限抵抗器
５ バイパス抵抗
６、１８ 零相電流計
７、１９ 切替スイッチ ８ 第２の
絶縁トランス９ 第２の
摺動型トランス
１０、１６ 零相電圧計
１１ 地絡検出装置
１２ 信号処理回路
１３ 表示器１４ 配電線 １５ トランス １７ 等価線路容量 ２０ 地絡抵抗
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 19/00 - 19/32
G01R 29/16
G01R 31/02 - 31/07
Claims (1)
- 【請求項１】 零相電流および零相電圧を供給する電源
と、零相電流計および零相電圧計と、零相電流を投入す
る切替スイッチとを備え、配電線に接続される地絡検出
装置の零相電流センサおよび零相電圧センサを校正する
校正試験回路において、 前記地絡検出装置はその両端に各相をそれぞれ短絡した
試験回路を接続し、前記電源は、校正試験用の電源に絶
縁トランスと零相電流調整用の摺動型トランスとバイパ
ス抵抗とを接続した零相電流発生部と、前記校正試験用
の電源に接続され、かつ第２の絶縁トランスと零相電圧
調整用の第２の摺動型トランスとを接続した零相電圧発
生部とからなり、前記切替スイッチは一方を前記試験回
路に、他方を前記零相電流発生部および零相電圧発生部
に接続したことを特徴する地絡検出装置の校正試験回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11409493A JP3422334B2 (ja) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | 地絡検出装置の校正試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11409493A JP3422334B2 (ja) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | 地絡検出装置の校正試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06300788A JPH06300788A (ja) | 1994-10-28 |
| JP3422334B2 true JP3422334B2 (ja) | 2003-06-30 |
Family
ID=14628961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11409493A Expired - Fee Related JP3422334B2 (ja) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | 地絡検出装置の校正試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3422334B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103226165B (zh) * | 2013-04-08 | 2015-04-08 | 无锡凌湖科技有限公司 | Tmr自校零数字电流传感器及其自校零方法 |
| CN103792412B (zh) * | 2014-01-26 | 2018-04-03 | 南京捷泰电力设备有限公司 | 一种带有校准接口的计量ct及其计量电路 |
| KR102158595B1 (ko) * | 2020-04-29 | 2020-09-22 | 디아이케이(주) | 절연 감시 시스템 |
-
1993
- 1993-04-16 JP JP11409493A patent/JP3422334B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06300788A (ja) | 1994-10-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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