JP3412394B2 - Connection unit for continuity withstand voltage test - Google Patents

Connection unit for continuity withstand voltage test

Info

Publication number
JP3412394B2
JP3412394B2 JP10146796A JP10146796A JP3412394B2 JP 3412394 B2 JP3412394 B2 JP 3412394B2 JP 10146796 A JP10146796 A JP 10146796A JP 10146796 A JP10146796 A JP 10146796A JP 3412394 B2 JP3412394 B2 JP 3412394B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductor
flexible wiring
wiring body
withstand voltage
connection unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP10146796A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH09288142A (en
Inventor
弘之 米川
憲治 水谷
武 石垣
和生 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP10146796A priority Critical patent/JP3412394B2/en
Publication of JPH09288142A publication Critical patent/JPH09288142A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3412394B2 publication Critical patent/JP3412394B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Multi-Conductor Connections (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は導通耐圧検査用接続
ユニットに関し、特に、フレキシブルフラットケーブル
(FFC)やフレキシブルプリント回路(FPC)(以
下、「フレキシブル配線体」と総称する)の導通耐圧試
験を行うための導通耐圧検査用接続ユニットに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a connection withstand voltage test connection unit, and more particularly to a connection withstand voltage test of a flexible flat cable (FFC) and a flexible printed circuit (FPC) (hereinafter collectively referred to as "flexible wiring body"). The present invention relates to a connection withstand voltage test connection unit for performing the test.

【0002】[0002]

【従来の技術】図8は従来のフレキシブル配線体Fの平
面略図である。同図に示すように、一般にこの種のフレ
キシブル配線体Fは、ベースフィルム1の上に略線状の
導体2を布線することによって、互いに平行な複数条の
導体パターンPを形成した後、この導体パターンPの上
にカバーレイフィルム3を貼り合わせて形成されたもの
である。上記ベースフィルム1およびカバーレイフィル
ム3は、例えば厚さ25μm(粘着層を含むと75μ
m)のポリエステルフィルムが最も広く採用され、耐熱
性を必要としない場合にはポリ塩化フィルムが採用され
る。他方、上記導体2はその用途によって断面が円形の
円形電線や断面が矩形の平形電線が採用される。例え
ば、平形電線の場合、幅0.5mm×厚さ35μmの錫
メッキ軟銅箔が採用されている。導体2を布線する際に
は、所定の基準面F1から設定されるマージン幅Mを隔
てて一定の導体ピッチPW毎に布線される。
2. Description of the Related Art FIG. 8 is a schematic plan view of a conventional flexible wiring body F. As shown in the figure, generally, in this kind of flexible wiring body F, a plurality of conductor patterns P parallel to each other are formed by laying a substantially linear conductor 2 on a base film 1, The cover lay film 3 is laminated on the conductor pattern P to be formed. The base film 1 and the coverlay film 3 have a thickness of 25 μm (75 μm including an adhesive layer), for example.
The polyester film of m) is most widely used, and when heat resistance is not required, a polychlorinated film is used. On the other hand, as the conductor 2, a circular electric wire having a circular cross section or a flat electric wire having a rectangular cross section is adopted depending on its application. For example, in the case of a flat electric wire, a tin-plated annealed copper foil having a width of 0.5 mm and a thickness of 35 μm is used. When laying the conductors 2, the conductors 2 are laid at a constant conductor pitch PW with a margin width M set from a predetermined reference plane F1.

【0003】フレキシブル配線体Fは、通常、図示のよ
うな流線形または矩形に形成されており、その一部分
(主として両端部)においては、上記ベースフィルム1
またはカバーレイフィルム3の何れか一方が除去されて
上記導体パターンPが露出している。このフレキシブル
配線体Fを製造する過程においては、導体パターンPを
構成する各導体2の導通の良否と各導体2、2間の耐圧
の良否を検査(以下、「導通耐圧検査」という)する必
要がある。そこで従来は、導通耐圧検査装置によって、
フレキシブル配線体Fの導通耐圧検査を行っていた。
The flexible wiring body F is usually formed in a streamlined shape or a rectangular shape as shown in the drawings, and a part (mainly both ends) thereof has the above-mentioned base film 1.
Alternatively, one of the coverlay films 3 is removed to expose the conductor pattern P. In the process of manufacturing the flexible wiring body F, it is necessary to inspect whether or not the conductors 2 forming the conductor pattern P have good continuity and whether the withstand voltage between the conductors 2 and 2 is good (hereinafter referred to as "conduction withstand voltage inspection"). There is. Therefore, in the past, the conduction withstand voltage inspection device
The flexible wiring body F was subjected to a conduction withstand voltage test.

【0004】図9は、一般的な導通耐圧検査装置の概略
構成を示す斜視図である。同図に示すように、従来の導
通検査装置100は、被検査品となるフレキシブル配線
体Fの導通状態を電気的に検査する検査ユニット110
と、検査ユニット110にフレキシブル配線体Fを電気
的に接続するための接続ユニット120とを含んでい
る。上記接続ユニット120は、クリップ状の本体12
1と、本体121に設けられたプローブ122とを含ん
でいる。プローブ122は、フレキシブル配線体Fの導
体露出部に点接触するピン状の導通部材である。導通耐
圧検査を行う際には、上記本体121によってフレキシ
ブル配線体の導体2の露出部を挟むことによって、プロ
ーブ122を露出部に例えば1kgfの力で点接触さ
せ、上記検査ユニット110によって例えば3Vの電圧
を1秒間印加して導通検査を行うとともに、1000V
の電圧を3秒間印加して、耐圧検査を行っていた。
FIG. 9 is a perspective view showing a schematic structure of a general conduction withstand voltage inspection device. As shown in the figure, the conventional continuity inspection apparatus 100 electrically inspects a flexible wiring body F, which is an inspected product, for electrical continuity.
And a connection unit 120 for electrically connecting the flexible wiring body F to the inspection unit 110. The connection unit 120 includes a clip-shaped main body 12
1 and a probe 122 provided on the main body 121. The probe 122 is a pin-shaped conductive member that comes into point contact with the exposed conductor of the flexible wiring body F. When conducting the withstand voltage test, by sandwiching the exposed portion of the conductor 2 of the flexible wiring body by the main body 121, the probe 122 is brought into point contact with the exposed portion with a force of, for example, 1 kgf, and the inspection unit 110 causes a voltage of, for example, 3V. Voltage is applied for 1 second to conduct continuity test and 1000V
The voltage was applied for 3 seconds to perform a withstand voltage test.

【0005】図10は、従来の導通耐圧検査用ユニット
による検査状態の概要を示す概略図である。同図に示す
ように、プローブ122は、フレキシブル配線体Fの導
体ピッチPWに対応して等間隔を隔てている。これらプ
ローブ122を導体2の露出部分2A(図において斜線
で示す部分)に位置決めするために、フレキシブル配線
体Fの配線パターンPのマージン幅Mの基準となる基準
面F1を本体121(図9参照)の位置決め部材121
Aによって位置決めし、プローブ122を導体2に点接
触させていた。
FIG. 10 is a schematic view showing the outline of the inspection state by the conventional conduction withstand voltage inspection unit. As shown in the figure, the probes 122 are equally spaced in accordance with the conductor pitch PW of the flexible wiring body F. In order to position these probes 122 on the exposed portion 2A of the conductor 2 (the hatched portion in the drawing), the reference plane F1 serving as the reference for the margin width M of the wiring pattern P of the flexible wiring body F is set on the main body 121 (see FIG. 9). ) Positioning member 121
It was positioned by A and the probe 122 was in point contact with the conductor 2.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような条件で導通耐圧検査を行った場合、フレキシブル
配線体Fのフィルム1、3の材質や厚さ等の関係から、
導体2の露出部分が反り返ったまま塑性変形を来すとい
う問題があった。加えて、ピン状のプローブ122が導
体2に点接触した状態で加圧されることから、導体2の
表面にプローブ122の傷がつきやすくなるという問題
もあった。このため、フレキシブル配線体Fの外観を損
ね、電気的な障害(接触抵抗が大きくなる)が発生する
等、不良品となるおそれもあった。そのような問題を解
決するために、接触子の接触圧力を低く設定することも
考えられるが、その場合には、耐電圧試験時にリーク放
電が生じやすくなり、好ましくない。
However, in the case of conducting the withstand voltage test under the above-mentioned conditions, the relationship between the material and thickness of the films 1 and 3 of the flexible wiring body F,
There is a problem that the exposed portion of the conductor 2 is plastically deformed while being warped. In addition, since the pin-shaped probe 122 is pressed in a state of being in point contact with the conductor 2, there is a problem that the probe 122 is easily scratched on the surface of the conductor 2. For this reason, there is a possibility that the appearance of the flexible wiring body F is impaired and electrical failure (contact resistance increases) may occur, resulting in a defective product. In order to solve such a problem, the contact pressure of the contact may be set low, but in that case, leak discharge is likely to occur during the withstand voltage test, which is not preferable.

【0007】また、マージン幅Mを基準にして位置決め
する際に、ピン状のプローブ122を点接触させている
場合には、各導体2、2間のピッチPWに狂いが生じて
いる場合(例えば図10に示すの導体2)、これらが
短絡していない限り、ピッチPWの狂いを検出すること
ができないという問題もあった。本発明は上記不具合に
鑑みてなされたものであり、フレキシブル配線体Fに悪
影響を及ぼすことなくフレキシブル配線体Fの導通耐圧
検査を効率よく行うことのできる導通耐圧検査用接続ユ
ニットを提供することを課題としている。
Further, when the pin-shaped probe 122 is in point contact when positioning with reference to the margin width M, when the pitch PW between the conductors 2 and 2 is distorted (for example, There is also a problem that the deviation of the pitch PW cannot be detected unless the conductor 2) shown in FIG. 10 is short-circuited. The present invention has been made in view of the above-described problems, and it is an object of the present invention to provide a connection withstand voltage inspection connection unit capable of efficiently performing a withstand voltage inspection of a flexible wiring body F without adversely affecting the flexible wiring body F. It is an issue.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、絶縁性樹脂フィルムと、一部が露出して
いる状態で樹脂フィルムにラミネートされて所定の導体
パターンを形成している複数の互いに平行な導体とを有
するフレキシブル配線体の導通耐圧検査を行う導通耐圧
検査用接続ユニットにおいて、上記フレキシブル配線体
の各導体に対応して設けられ、当該導体の露出部分に少
なくとも線接触可能な導体接続部分を有するフラットケ
ーブルで構成された接触子を有し、 接触子の導体接続部
分を定位置に固定するベースと、 ベースに固定された導
体接続部分にフレキシブル配線体の導体露出部分が接合
するように、フレキシブル配線体を位置決めする位置決
め部材と、 位置決めされたフレキシブル配線体を上記ベ
ース上の導体接続部分に押圧可能な押圧板と、 押圧板を
手動で操作するためのハンドル機構と を備えたことを特
徴とする導通耐圧検査用接続ユニットである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides an insulating resin film and a part of the resin film laminated to form a predetermined conductor pattern by being laminated on the resin film. In a connection unit for conducting withstand voltage test for conducting a withstand voltage test of a flexible wiring body having a plurality of mutually parallel conductors that are provided, it is provided corresponding to each conductor of the flexible wiring body, and at least a line contact is made to the exposed portion of the conductor. have a contact that is constituted by a flat cable with the possible conductive connection portion, the conductor connecting portion of the contact
Base that holds the minute in place and a guide that is fixed to the base.
The exposed conductor part of the flexible wiring body is joined to the body connection part
To position the flexible wiring body so that
The flexible member and the positioned flexible wiring
A pressing plate that can be pressed against the conductor connection part on the base, and a pressing plate.
Manually is conductive breakdown voltage test connection unit, characterized in that a handle mechanism for manipulating.

【0009】この発明では、導通耐圧検査において、接
触子としてのフラットケーブルの導体接続部分が、被検
査品としてのフレキシブル配線体の導体の露出部分に少
なくとも線接触状態で接触する。ここで「少なくとも線
接触可能な」とは、ある程度の長さを以て接触すること
をいい、好ましくは平形電線同士による接触状態を含む
概念である。接触子としてのフラットケーブルの導体
は、好ましくは、断面が矩形の平角電線である。さら
に、好ましくは、被検査品としてのフレキシブル配線体
の導体と同種の導体を用いることが好ましい。また、こ
の発明では、フレキシブル配線体を接触子としてのフラ
ットケーブルケーブルの導体接続部分に対して精緻に位
置決めすることが可能になる。その状態で、ハンドル機
構を手動で操作することにより、予め接触子の導体接続
部分に位置決めされたフレキシブル配線体の導体接続部
分を押付け、ベースと押圧板との間で挟持し、加圧する
ことが可能になる。
According to the present invention, in the continuity withstand voltage test, the conductor connecting portion of the flat cable as the contactor comes into contact with the exposed portion of the conductor of the flexible wiring body as the inspection object in at least a line contact state. Here, "at least line contact is possible" means that they are in contact with each other with a certain length, and preferably the concept includes a contact state between flat electric wires. The conductor of the flat cable as the contactor is preferably a rectangular electric wire having a rectangular cross section. Furthermore, it is preferable to use the same kind of conductor as the conductor of the flexible wiring body as the inspected product. Also, this
In the invention, the flexible wiring body is used as a contactor.
Precisely positioned with respect to the conductor connection part of the cable
It becomes possible to arrange. In that state, handle machine
Conductor connection of the contactor in advance by manually operating the structure
Conductor connection part of flexible wiring body positioned in the part
Press the minute, sandwich between the base and the pressure plate, and pressurize
It will be possible.

【0010】また、請求項2記載の発明は、請求項1記
載の導通耐圧検査用接続ユニットにおいて、上記フラッ
トケーブルの導体接続部分は、検査されるフレキシブル
配線体の導体よりも導体幅が広くなっているものであ
る。この特定事項を含む発明では、製品としてのフレキ
シブル配線体の導体ピッチが正規の仕様と異なっている
場合には、導体ピッチがずれている導体が、それと近接
する側の導体に対応する接触子の導体接続部分と接触
し、短絡が生じることになる。
According to a second aspect of the present invention, in the connection unit for conducting withstand voltage inspection according to the first aspect, the conductor connecting portion of the flat cable has a conductor width wider than that of the conductor of the flexible wiring body to be inspected. It is what In the invention including this specific matter, when the conductor pitch of the flexible wiring body as a product is different from the regular specifications, the conductors whose conductor pitch is deviated are the contactors corresponding to the conductors on the side close to the conductor. This will come into contact with the conductor connecting portion and cause a short circuit.

【0011】また、請求項3記載の発明は、請求項1ま
たは2記載の導通耐圧検査用接続ユニットにおいて、上
記フラットケーブルの導体接続部分の有効接触長さは、
フレキシブル配線体の導体と接触するのに必要な長さよ
りも長く設定されているとともに、その先端部が上記フ
レキシブル配線体の導体の露出部分と接触するように配
置されているものである。
According to a third aspect of the present invention, in the connection unit for conducting withstand voltage test according to the first or second aspect, the effective contact length of the conductor connecting portion of the flat cable is
The length is set to be longer than the length required to contact the conductor of the flexible wiring body, and the tip end portion is arranged so as to contact the exposed portion of the conductor of the flexible wiring body.

【0012】この構成では、接触子としてのフラットケ
ーブルの導体接続部分の先端を製品としてのフレキシブ
ル配線体の導体に接触させ、導通耐圧検査が行われる。
使用を継続することにより、フレキシブル配線体との接
触部分に外傷、摩耗等が生じて使用不能となった場合、
これを裁断して残余の導体接続部分を新たに用いること
が可能になる。
In this structure, the tip of the conductor connecting portion of the flat cable as the contactor is brought into contact with the conductor of the flexible wiring body as the product, and the conduction withstand voltage test is performed.
If it becomes unusable due to external damage, wear, etc. on the contact part with the flexible wiring body due to continued use,
By cutting this, it becomes possible to newly use the remaining conductor connecting portion.

【0013】[0013]

【0014】[0014]

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の好ましい実施の形態について説明する。なお、
以下の説明において、上述した従来の技術と同等の部材
には同一の符号を付し、説明を省略する。図1は本発明
の実施の一形態における導通耐圧検査用接続ユニットを
採用した導通耐圧検査装置10の概略構成を示す斜視図
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Referring to the accompanying drawings,
A preferred embodiment of the present invention will be described. In addition,
In the following description, the same members as those of the above-described conventional technique are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a conduction withstand voltage inspection device 10 employing a conduction withstand voltage inspection connection unit according to an embodiment of the present invention.

【0016】同図を参照して、図示の導通耐圧検査装置
10は、周知の検査ユニット110に本発明の骨子とな
る導通耐圧検査用接続ユニット20を接続したものであ
る。上記接続ユニット20は、ベース21と、ベース2
1の上に固定された位置決め機構22と、位置決め機構
22に固定された接触子としてのフラットケーブル23
と、フラットケーブル23に被検査品であるフレキシブ
ル配線体Fを押圧するためのプレス機構24とを含んで
いる。
Referring to FIG. 1, the conduction withstand voltage inspection apparatus 10 shown in the figure is a well-known inspection unit 110 to which a connection withstand voltage inspection connection unit 20, which is the essence of the present invention, is connected. The connection unit 20 includes a base 21 and a base 2.
Positioning mechanism 22 fixed on top of No. 1 and flat cable 23 as a contactor fixed on positioning mechanism 22
And a pressing mechanism 24 for pressing the flexible wiring body F, which is the inspection object, against the flat cable 23.

【0017】図2は、図1の導通耐圧検査用接続ユニッ
トに検査される被検査品としてのフレキシブル配線体の
一部を破断して示す正面略図である。図2に示すよう
に、図示の具体例におけるフレキシブル配線体Fは、最
終製品となるフラットケーブルの導体パターンPが連続
して複数個並設されているいわゆる中間成形品であり、
最終的には仮想線F2に示す概ね流線形の外形線に沿っ
て裁断されるものである。このフレキシブル配線体F
は、全体として導体パターンPが並ぶ方向に長く延びる
略長方形に形成されている。
FIG. 2 is a schematic front view showing a partially cutaway portion of a flexible wiring body as an inspected product which is inspected by the connection unit for conducting withstand voltage inspection of FIG. As shown in FIG. 2, the flexible wiring body F in the illustrated specific example is a so-called intermediate molded product in which a plurality of conductor patterns P of a flat cable as a final product are continuously arranged in parallel,
Finally, it is cut along a substantially streamlined outline indicated by the imaginary line F2. This flexible wiring body F
Is formed in a substantially rectangular shape extending long in the direction in which the conductor patterns P are arranged.

【0018】図3は、図1の導通耐圧検査用接続ユニッ
トに採用されている位置決め機構を一部破断して示す斜
視図である。図3に示すように、位置決め機構22は、
ベース21(図1参照)の上に交換可能に取り付けられ
る取付け台22Aを有している。取付け台22Aは、平
面視略長方形に形成されており、その長手方向両端側上
面には、一対のクランプ22Bが設けられている。各ク
ランプ22Bは、それぞれ接触子としてのフラットケー
ブル23を固定するためのものであり、取付け台22A
の長辺に沿って取付け台22Aに固定された固定板22
Cと、固定板22Cとの間で上記フラットケーブル23
を挟み込む挟持板22Dとを備えている。固定板22C
には、ねじ孔22Hが螺設されており、このねじ孔22
Hに螺合するボルト22Eを挟持板22Dに挿通するこ
とにより、詳しくは図5において後述するように、両板
22C、22D間でフラットケーブル23を挟み込むよ
うにしている。両クランプ22B、22Bの間には、フ
レキシブル配線体Fに対応する位置決め部材23E、2
3Fが配設されており、取付け台22Aに固定されてい
る。そして、これら位置決め部材23E、23Fによっ
て、詳しくは後述するフラットケーブル23の導体接続
部分23Cにフレキシブル配線体Fの導体露出部分2A
が接合するように、フレキシブル配線体Fを位置決めで
きるようになっている。なお、各挟持板22Dには、位
置決め用の一対の突起22Gがそれぞれ設けられてお
り、被検査品となるフレキシブル配線体Fに対応したフ
ラットケーブル23を精緻に位置決めできるようになっ
ている。
FIG. 3 is a partially cutaway perspective view of the positioning mechanism used in the connection withstand voltage inspection connection unit of FIG. As shown in FIG. 3, the positioning mechanism 22 includes
The base 22 (see FIG. 1) has a mounting base 22A that is replaceably mounted. The mounting base 22A is formed in a substantially rectangular shape in a plan view, and a pair of clamps 22B is provided on the upper surfaces of both ends in the longitudinal direction of the mounting base 22A. Each clamp 22B is for fixing the flat cable 23 as a contactor, and is attached to the mount 22A.
Plate 22 fixed to the mounting base 22A along the long side of the
C and the fixed plate 22C between the flat cable 23
And a sandwiching plate 22D for sandwiching. Fixed plate 22C
A screw hole 22H is screwed into the screw hole 22.
The flat cable 23 is sandwiched between both plates 22C and 22D by inserting a bolt 22E screwed into H into the sandwiching plate 22D, as will be described later in detail in FIG. Positioning members 23E, 2 corresponding to the flexible wiring body F are provided between the clamps 22B, 22B.
3F is provided and fixed to the mounting base 22A. The positioning members 23E and 23F allow the conductor exposed portion 2A of the flexible wiring body F to be attached to the conductor connecting portion 23C of the flat cable 23 which will be described in detail later.
The flexible wiring body F can be positioned so that they are joined together. Each sandwiching plate 22D is provided with a pair of positioning projections 22G so that the flat cable 23 corresponding to the flexible wiring body F to be inspected can be precisely positioned.

【0019】図1および図3に示すように、フラットケ
ーブル23は、一対の樹脂フィルム23A間に略線状の
導体23Bをラミネートした帯状のものであり、その一
端部には、導体23Bが露出している導体接続部分23
Cが形成されているとともに、他端部には、接続用コネ
クタ23Dが取り付けられており、この接続用コネクタ
23Dを検査ユニット110のコネクタ111と接続す
ることにより、導体23Bによって特定される極毎にフ
レキシブル配線体Fの導体2を検査ユニット110に接
続できるようになっている。上記導体23Bは、フレキ
シブル配線体Fと同種の錫メッキ軟銅箔で形成された平
形電線であり、これによって、フレキシブル配線体Fの
導体2との面接触が確保されている。また、同種の材質
を採用しているので、被検査品の材質が軟らかい場合で
も、傷や塑性変形が起きにくくなっている。
As shown in FIGS. 1 and 3, the flat cable 23 is a belt-shaped one in which a substantially linear conductor 23B is laminated between a pair of resin films 23A, and the conductor 23B is exposed at one end thereof. Conductor connection part 23
C is formed, and a connecting connector 23D is attached to the other end, and by connecting this connecting connector 23D to the connector 111 of the inspection unit 110, each pole specified by the conductor 23B. Moreover, the conductor 2 of the flexible wiring body F can be connected to the inspection unit 110. The conductor 23B is a flat electric wire formed of a tin-plated annealed copper foil of the same kind as the flexible wiring body F, whereby the surface contact with the conductor 2 of the flexible wiring body F is ensured. Further, since the same kind of material is used, even if the material of the inspected product is soft, scratches and plastic deformation are less likely to occur.

【0020】図4は図1の導通耐圧検査用接続ユニット
に検査されるフレキシブル配線体と接触子としてのフラ
ットケーブルとの関係を示しており、(A)はフラット
ケーブルおよび正規のフレキシブル配線体の要部を拡大
して示す平面略図、(B)はフラットケーブルおよび導
体ピッチ不良を来しているフレキシブル配線体の要部を
拡大して示す平面略図である。
FIG. 4 shows the relationship between the flexible wiring body to be inspected by the connection unit for conducting withstand voltage inspection of FIG. 1 and the flat cable as a contact. FIG. 4A shows the flat cable and the regular flexible wiring body. FIG. 2B is an enlarged schematic plan view showing an essential part, and FIG. 2B is an enlarged schematic plan view showing an essential part of a flexible cable having a flat cable and defective conductor pitch.

【0021】図4(A)に示すように、フラットケーブ
ル23の各導体23Bは、被検査品としてのフレキシブ
ル配線体Fの各導体2に対応して形成されており、フレ
キシブル配線体Fの導体ピッチPWと同一寸法のピッチ
間隔PHを隔てて導体パターンを形成している。さらに
フラットケーブル23の各導体23Bは、平角電線で形
成されており、これによって、フレキシブル配線体Fの
各導体2に対して面接触できるようになっている。但
し、図示の具体例において、フラットケーブル23の各
導体23Bの導体幅Dは、被検査品としてのフレキシブ
ル配線体Fの各導体2の導体幅DWよりも広く設定され
ている。これにより、仮に図4(B)に示すように、製
品としてのフレキシブル配線体Fの導体ピッチPWが正
規の仕様と異なっている場合(例えば、図4(B)に示
すように、の極の導体2がの極の導体2に近接して
いる場合)には、たとえ導体パターンPのマージン幅M
が正規の寸法であったとしても、導体ピッチPWがずれ
ている導体2(図示の例ではの極の導体)が、それと
近接する側の導体(図示の例ではの極の導体)に対応
する接触子としてのフラットケーブル23の導体接続部
分(の極のもの)23Cと接触し、との極の導体
接続部分に短絡が生じることになる。無論、上記マージ
ン幅Mが正規の寸法と異なる場合には、各導体ピッチP
Wが正規であっても、短絡が生じるので、これを検出す
ることができる。
As shown in FIG. 4 (A), each conductor 23B of the flat cable 23 is formed corresponding to each conductor 2 of the flexible wiring body F as the inspected product. Conductor patterns are formed with a pitch interval PH having the same size as the pitch PW. Further, each conductor 23B of the flat cable 23 is formed of a rectangular electric wire, so that each conductor 2 of the flexible wiring body F can be brought into surface contact. However, in the illustrated specific example, the conductor width D of each conductor 23B of the flat cable 23 is set to be wider than the conductor width DW of each conductor 2 of the flexible wiring body F as the inspected product. As a result, as shown in FIG. 4B, when the conductor pitch PW of the flexible wiring body F as a product is different from the regular specifications (for example, as shown in FIG. (Where the conductor 2 is close to the conductor 2 of the pole), even if the margin width M of the conductor pattern P is
Is a regular size, the conductor 2 (the conductor of the pole in the illustrated example) whose conductor pitch PW is displaced corresponds to the conductor on the side close to it (the conductor of the pole in the illustrated example). The flat cable 23 as a contactor comes into contact with the conductor connecting portion (of its pole) 23C, and a short circuit occurs at the conductor connecting portion of the pole. Of course, when the margin width M is different from the regular size, each conductor pitch P
Even if W is normal, since a short circuit occurs, this can be detected.

【0022】図5は、図1の導通耐圧検査用接続ユニッ
トに検査されるフレキシブル配線体と接触子としてのフ
ラットケーブルの断面略図である。同図に示すように、
フラットケーブル23の導体接続部分23Cは、その先
端部がクランプ22Bによって下向きに挟み込まれ、ク
ランプ22Bの挟持板22Dの上で巻き返されることに
よって、挟持板22D上で上向きに露出している。この
取付け状態において、導体接続部分23Cの全長Lのう
ち、挟み込みに要する挟み代L1を差し引いた有効接触
長さLEは、フレキシブル配線体Fの導体2に接触する
のに必要な長さLWよりも長く設定されている。これと
ともに、導体接続部分23Cの先端側部分が上記フレキ
シブル配線体Fの導体2の露出部分2Aと接触するよう
に配置されている。なお、図示の具体例では、フラット
ケーブル23の導体接続部分23Cを挟み込んでいるた
め、その挟み代L1だけ有効接触長さLEが短くなって
いるが、両面に粘着面を有するテープを用いてフラット
ケーブル23を固定する構成を採用してもよい。その場
合には、フラットケーブル23の固定強度が弱くはなる
ものの挟み代L1が0になるので、有効接触長さLEを
長く設定することが可能になる。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of a flexible wiring body to be inspected by the connection unit for conducting withstand voltage inspection of FIG. 1 and a flat cable as a contact. As shown in the figure,
The conductor connecting portion 23C of the flat cable 23 has its tip end sandwiched downward by the clamp 22B and is rewound on the sandwiching plate 22D of the clamp 22B, so that it is exposed upward on the sandwiching plate 22D. In this attached state, the effective contact length LE of the total length L of the conductor connecting portion 23C, less the sandwiching margin L1 required for sandwiching, is greater than the length LW required to contact the conductor 2 of the flexible wiring body F. It is set long. At the same time, the tip end side portion of the conductor connecting portion 23C is arranged so as to come into contact with the exposed portion 2A of the conductor 2 of the flexible wiring body F. In the illustrated example, since the conductor connecting portion 23C of the flat cable 23 is sandwiched, the effective contact length LE is shortened by the sandwiching margin L1. A configuration in which the cable 23 is fixed may be adopted. In that case, although the fixing strength of the flat cable 23 becomes weak, the sandwiching margin L1 becomes 0, so that the effective contact length LE can be set long.

【0023】図6は、図1の導通耐圧検査用接続ユニッ
トに採用されているプレス機構24の一部を破断して示
す斜視図である。同図および図1に示すように、プレス
機構24は、ベース21に立設された一対のピラー24
Aを含んでいる。各ピラー24Aの上端部は、直角に屈
曲して位置決め機構22の真上に臨んでいるとともに、
その両側部には、自由端が把手24Bで連結された一対
のハンドル24Cの基端部が軸24Dで連結されてい
る。他方、各ピラー24Aの上端部には、取付け部材2
4Eが挟み込まれて固定されており、この取付け部材2
4Eには、昇降ロッド24Fが上下に昇降可能に取り付
けられている。昇降ロッド24Fとハンドル24Cと
は、リンク部材24Gを介して連結されている。リンク
部材24Gとハンドル24Cとは、図示しないカム面を
介して連結されており、ハンドル24Cが図6の矢印A
1で示すように回動すると、あるストロークまではリン
ク部材24Gが下方に降下して昇降ロッド24Fを押し
下げ、その後のストロークで矢印A2回りに回動して昇
降ロッド24Fを押し下げるようになっている。他方、
昇降ロッド24Fの下端部には、装着部材24Hを介し
て押圧板24Jが着脱可能に固定されており、この押圧
板24Jによって、位置決め機構22に位置決めされた
フレキシブル配線体Fを上記ベース21上の導体接続部
分23Cに押圧可能になっている。なお、上述した昇降
ロッド24Fの上端部には、大径の頭部24Kが形成さ
れており、この頭部24Kと上記取付け部材24Eとの
間には、圧縮コイルばね24Lが介装されている。従っ
て、この圧縮コイルばね24Lにより、上記プレス機構
24は、自由状態において、図1に示す姿勢に維持さ
れ、上記押圧板24Jを位置決め機構22の真上に浮揚
させている。
FIG. 6 is a perspective view showing a part of the pressing mechanism 24 adopted in the connection unit for conducting withstand voltage inspection of FIG. As shown in FIG. 1 and FIG. 1, the press mechanism 24 includes a pair of pillars 24 provided upright on the base 21.
Contains A. The upper end of each pillar 24A is bent at a right angle to face directly above the positioning mechanism 22, and
The base ends of a pair of handles 24C, the free ends of which are connected by grips 24B, are connected to both sides by shafts 24D. On the other hand, the mounting member 2 is attached to the upper end of each pillar 24A.
4E is sandwiched and fixed, and this mounting member 2
An elevating rod 24F is attached to 4E so as to be vertically movable. The elevating rod 24F and the handle 24C are connected via a link member 24G. The link member 24G and the handle 24C are connected via a cam surface (not shown), and the handle 24C is indicated by an arrow A in FIG.
When it is rotated as shown by 1, the link member 24G descends downward until a certain stroke to push down the elevating rod 24F, and in a subsequent stroke, it rotates around arrow A2 to push down the elevating rod 24F. . On the other hand,
A pressing plate 24J is detachably fixed to a lower end portion of the elevating rod 24F via a mounting member 24H, and the flexible wiring body F positioned by the positioning mechanism 22 is mounted on the base 21 by the pressing plate 24J. The conductor connecting portion 23C can be pressed. A large-diameter head 24K is formed at the upper end of the lifting rod 24F described above, and a compression coil spring 24L is interposed between the head 24K and the mounting member 24E. . Therefore, in the free state, the compression coil spring 24L maintains the pressing mechanism 24 in the posture shown in FIG.

【0024】以上の構成では、図1に示すように、位置
決め機構22に被検査品としてのフレキシブル配線体F
を位置決めし、プレス機構24を操作することによっ
て、フレキシブル配線体Fを接触子としてのフラットケ
ーブル23の導体接続部分23C(図2参照)に押圧
し、所期の導通耐圧検査を行うことが可能になる。この
際、上述した実施の形態では、接触子としてのフラット
ケーブル23の導体接続部分23Cが、被検査品として
のフレキシブル配線体Fの導体2の露出部分2Aに少な
くとも線接触状態(図示の具体例では平形電線同士によ
る接触状態)で接触するので、導通耐圧検査のために、
接触子23とフレキシブル配線体Fとの間に高い圧力を
付加しても、製品としてのフレキシブル配線体Fに塑性
変形が生じたり傷が入ったりする虞れがない。
With the above construction, as shown in FIG. 1, the positioning mechanism 22 is provided with a flexible wiring body F as an inspected product.
The flexible wiring body F can be pressed against the conductor connecting portion 23C (see FIG. 2) of the flat cable 23 serving as a contactor by positioning and operating the press mechanism 24 to perform the intended conduction withstand voltage test. become. At this time, in the above-described embodiment, the conductor connecting portion 23C of the flat cable 23 as the contactor is at least in line contact with the exposed portion 2A of the conductor 2 of the flexible wiring body F as the inspection object (the specific example shown in the drawing). Since they contact each other with flat electric wires, contact each other for conducting withstand voltage inspection.
Even if a high pressure is applied between the contactor 23 and the flexible wiring body F, there is no possibility that the flexible wiring body F as a product will be plastically deformed or damaged.

【0025】従って、フレキシブル配線体Fに悪影響を
及ぼすことなくフレキシブル配線体Fの導通耐圧検査を
効率よく行うことができるという顕著な効果を奏する。
また、図4(B)に示すように、製品としてのフレキシ
ブル配線体Fの導体ピッチPWが正規の仕様と異なって
いる場合に、これを電気的に検出することが可能になる
という利点がある。
Therefore, there is a remarkable effect that the conductive breakdown voltage test of the flexible wiring body F can be efficiently performed without adversely affecting the flexible wiring body F.
Further, as shown in FIG. 4 (B), when the conductor pitch PW of the flexible wiring body F as a product is different from the regular specifications, there is an advantage that it can be electrically detected. .

【0026】加えて、使用不能となった部位を裁断して
残余の導体接続部分23Cを新たに用いることが可能に
なるので、接触子23のメンテナンスが容易になるとい
う利点がある。特に、上述した位置決め機構22やプレ
ス機構24を採用した場合には、被検査品としてのフレ
キシブル配線体Fを接触子23に精緻に位置決めできる
ので、フレキシブル配線体Fが、最終製品となる導体パ
ターンPを連続的に有する中間成形品であったとして
も、このフレキシブル配線体Fの各導体パターンPをま
とめて検査することが可能になるという利点がある。加
えて、ハンドル機構24によってフレキシブル配線体F
の導体接続部分23Cを加圧することが可能になるの
で、フレキシブル配線体Fの面積が広い場合であって
も、充分な加圧力を付与することができるという利点が
ある。
In addition, since it becomes possible to cut the unusable portion and newly use the remaining conductor connecting portion 23C, there is an advantage that the maintenance of the contact 23 becomes easy. In particular, when the positioning mechanism 22 and the press mechanism 24 described above are adopted, the flexible wiring body F as the inspection object can be precisely positioned on the contact 23, so that the flexible wiring body F becomes the final product conductor pattern. Even if it is an intermediate molded product having P continuously, there is an advantage that the conductor patterns P of the flexible wiring body F can be collectively inspected. In addition, a flexible wiring body F is provided by the handle mechanism 24.
Since it is possible to apply pressure to the conductor connecting portion 23C, there is an advantage that sufficient pressure can be applied even when the flexible wiring body F has a large area.

【0027】上述した実施の形態は本発明の好ましい具
体例に過ぎず、本発明は上述した実施の形態に限定され
ない。図7は、本発明の実施の別の形態を示す斜視図で
ある。同図に示す導通耐圧検査用接続ユニット30は、
矩形の板状のベース31と、ベース31の両側部に設け
られた一対のヒンジ32(一方のみ図示)と、ヒンジ3
2を介してベース31と連結される可動板33と、可動
板33の一端部をベース31の一端部31に付勢するね
じりコイルばね34(破線でのみ図示)とを設け、ベー
ス31の一端部に上述したクランプ22を設け、可動板
33の一端部に押圧板35を枢支したクリップ型のもの
である。この導体耐圧検査用接続ユニット30は、図8
で説明したような流線型のフレキシブル配線体(フラッ
トケーブル)Fを検査する場合に好適に採用されるもの
であり、従来の接続ユニットとは、上記クランプ22に
固定されている接触子が図1の実施の形態と同様なフラ
ットケーブル23で構成されている点、およびフレキシ
ブル配線体Fを上記押圧板35でフラットケーブル23
に押圧している点が相違している。この形態を採用した
場合においても、フレキシブル配線体Fに悪影響を及ぼ
すことなくフレキシブル配線体Fの導通耐圧検査を効率
よく行うことができる。
The above-described embodiments are merely preferable specific examples of the present invention, and the present invention is not limited to the above-described embodiments. FIG. 7 is a perspective view showing another embodiment of the present invention. The connection withstand voltage test connection unit 30 shown in FIG.
A rectangular plate-shaped base 31, a pair of hinges 32 (only one is shown) provided on both sides of the base 31, and a hinge 3
A movable plate 33 connected to the base 31 via the two and a torsion coil spring 34 (shown only by a broken line) for urging one end of the movable plate 33 to the one end 31 of the base 31 are provided. It is a clip type in which the above-mentioned clamp 22 is provided on a portion and a pressing plate 35 is pivotally supported on one end of a movable plate 33. This conductor withstand voltage inspection connection unit 30 is shown in FIG.
It is preferably used when inspecting the streamlined flexible wiring body (flat cable) F as described in 1., and the conventional connection unit is the contactor fixed to the clamp 22 shown in FIG. The flat cable 23 is similar to that of the embodiment, and the flexible wiring body F is fixed to the flat cable 23 by the pressing plate 35.
The difference is that they are pressed against. Even in the case of adopting this form, it is possible to efficiently perform the conductive breakdown voltage test of the flexible wiring body F without adversely affecting the flexible wiring body F.

【0028】その他、本発明の特許請求の範囲内で種々
の設計変更が可能であることは云うまでもない。
Needless to say, various design changes can be made within the scope of the claims of the present invention.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、接
触子としてのフラットケーブルの導体接続部分が、被検
査品としてのフレキシブル配線体の導体の露出部分に接
触状態で接触するので、導通耐圧検査のために、接触子
とフレキシブル配線体との間に高い圧力を付加しても、
製品としてのフレキシブル配線体に塑性変形が生じたり
傷が入ったりする虞れがない。従って、フレキシブル配
線体に悪影響を及ぼすことなくフレキシブル配線体の導
通耐圧検査を行うことができるという顕著な効果を奏す
る。また、被検査品としてのフレキシブル配線体を接触
子としてのフラットケーブルに精緻に位置決めできるの
で、フレキシブル配線体が、最終製品となる導体パター
ンを連続的に有する中間成形品であったとしても、この
フレキシブル配線体の各導体パターンをまとめて検査す
ることが可能になるという利点がある。加えて、ハンド
ル機構によってフレキシブル配線体の導体接続部分を加
圧することが可能になるので、フレキシブル配線体の面
積が広い場合であっても、充分な加圧力を付与すること
ができるという利点がある。
As described above, according to the present invention, since the conductor connecting portion of the flat cable as the contactor comes into contact with the exposed portion of the conductor of the flexible wiring body as the inspection object in a contact state, conduction is achieved. Even if a high pressure is applied between the contactor and the flexible wiring for the pressure resistance test,
There is no fear that the flexible wiring body as a product will be plastically deformed or damaged. Therefore, there is a remarkable effect that the conduction withstand voltage test of the flexible wiring body can be performed without adversely affecting the flexible wiring body. In addition, contact the flexible wiring body as the inspected product.
Can be precisely positioned on the flat cable as a child
The flexible wiring body is the conductor pattern that is the final product.
Even if it is an intermediate molded product that has
Collectively inspect each conductor pattern of the flexible wiring body
It has the advantage of being able to In addition, the hand
The flexible mechanism adds the conductor connection part of the flexible wiring body.
Since it is possible to press the surface of the flexible wiring body
Apply sufficient pressure even when the product is wide
The advantage is that

【0030】また、請求項2記載の発明では、製品とし
てのフレキシブル配線体の導体ピッチが正規の仕様と異
なっている場合に、これを電気的に検出することが可能
になるという利点がある。また、請求項3記載の発明で
は、使用不能となった部位を裁断して残余の導体接続部
分を新たに用いることが可能になるので、接触子として
のフラットケーブルのメンテナンスが容易になるという
利点がある。
Further, the invention according to claim 2 has an advantage that it is possible to electrically detect when the conductor pitch of the flexible wiring body as a product is different from the regular specifications. Further, in the invention according to claim 3, since it becomes possible to cut the unusable portion and newly use the remaining conductor connecting portion, it is easy to maintain the flat cable as the contactor. There is.

【0031】[0031]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の一形態における導通耐圧検査用
接続ユニットを採用した導通耐圧検査装置の概略構成を
示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a conduction withstand voltage inspection device adopting a conduction withstand voltage inspection connection unit according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の導通耐圧検査用接続ユニットに検査され
る被検査品としてのフレキシブル配線体の一部を破断し
て示す正面略図である。
FIG. 2 is a schematic front view showing a partially cutaway portion of a flexible wiring body as a product to be inspected, which is inspected by the connection withstand voltage inspection connection unit of FIG.

【図3】図1の導通耐圧検査用接続ユニットに採用され
ている位置決め機構を一部破断して示す斜視図である。
3 is a perspective view showing a partially broken cutaway view of a positioning mechanism used in the connection unit for conducting withstand voltage inspection of FIG. 1. FIG.

【図4】図1の導通耐圧検査用接続ユニットに検査され
るフレキシブル配線体と接触子としてのフラットケーブ
ルとの関係を示しており、(A)はフラットケーブルお
よび正規のフレキシブル配線体の要部を拡大して示す平
面略図、(B)はフラットケーブルおよび導体ピッチ不
良を来しているフレキシブル配線体の要部を拡大して示
す平面略図である。
FIG. 4 shows a relationship between a flexible wiring body to be inspected by the connection unit for conducting withstand voltage inspection of FIG. 1 and a flat cable as a contactor. (A) is a main portion of the flat cable and the regular flexible wiring body. FIG. 3B is an enlarged schematic plan view showing a main portion of a flat cable and a flexible wiring body having a defective conductor pitch.

【図5】図1の導通耐圧検査用接続ユニットに検査され
るフレキシブル配線体と接触子としてのフラットケーブ
ルの断面略図である。
5 is a schematic cross-sectional view of a flexible wiring body and a flat cable as a contactor to be inspected by the connection withstand voltage inspection connection unit of FIG.

【図6】図1の導通耐圧検査用接続ユニットに採用され
ているプレス機構の一部を破断して示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a cutaway part of a press mechanism employed in the connection withstand voltage inspection connection unit of FIG. 1.

【図7】本発明の実施の別の形態を示す斜視図である。FIG. 7 is a perspective view showing another embodiment of the present invention.

【図8】従来のフレキシブル配線体の平面略図である。FIG. 8 is a schematic plan view of a conventional flexible wiring body.

【図9】一般的な導通耐圧検査装置の概略構成を示す斜
視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a schematic configuration of a general conduction withstand voltage inspection device.

【図10】従来の導通耐圧検査用ユニットによる検査状
態の概要を示す概略図である。
FIG. 10 is a schematic diagram showing an outline of an inspection state by a conventional conduction withstand voltage inspection unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 導通耐圧検査装置 20 導通耐圧検査用接続ユニット 22 位置決め機構 23 フラットケーブル(接触子) 24 プレス機構 30 導通耐圧検査用接続ユニット 10 Continuity voltage tester 20 Connection unit for continuity voltage test 22 Positioning mechanism 23 Flat cable (contactor) 24 Press mechanism 30 Connection unit for continuity voltage test

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 和生 三重県四日市市西末広町1番14号 住友 電装株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−102565(JP,A) 特開 昭62−59871(JP,A) 実開 平3−28474(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/02 H01R 9/00 - 9/09 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Kazuo Ito 1-1-14 Nishisuehiro-cho, Yokkaichi-shi, Mie Sumitomo Wiring Systems, Ltd. (56) References JP 61-102565 (JP, A) JP Sho 62-59871 (JP, A) Actual Kaihei 3-28474 (JP, U) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01R 31/02 H01R 9/00-9/09

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】絶縁性樹脂フィルムと、一部が露出してい
る状態で樹脂フィルムにラミネートされて所定の導体パ
ターンを形成している複数の互いに平行な導体とを有す
るフレキシブル配線体の導通耐圧検査を行う導通耐圧検
査用接続ユニットにおいて、 上記フレキシブル配線体の各導体に対応して設けられ、
当該導体の露出部分に少なくとも線接触可能な導体接続
部分を有するフラットケーブルで構成された接触子を有
し、 接触子の導体接続部分を定位置に固定するベースと、 ベースに固定された導体接続部分にフレキシブル配線体
の導体露出部分が接合するように、フレキシブル配線体
を位置決めする位置決め部材と、 位置決めされたフレキシブル配線体を上記ベース上の導
体接続部分に押圧可能な押圧板と、 押圧板を手動で操作するためのハンドル機構と を備えた
ことを特徴とする導通耐圧検査用接続ユニット。
1. A conductive withstand voltage of a flexible wiring body having an insulating resin film and a plurality of parallel conductors which are laminated on the resin film with a part exposed to form a predetermined conductor pattern. In the connection unit for conducting withstand voltage test, which is to be inspected, provided corresponding to each conductor of the flexible wiring body,
A contact formed of a flat cable having a conductor connecting portion capable of making at least line contact with the exposed portion of the conductor;
Then , the flexible wiring body is attached to the base that fixes the conductor connection part of the contact in place and the conductor connection part that is fixed to the base.
Flexible wiring body so that the exposed conductors of
The positioning member for positioning the flexible wiring body that is positioned on the base.
Continuity breakdown voltage test connection unit <br/> be characterized with the body connecting portion allows pressing a pressing plate and a handle mechanism for manipulating the pressing plate manually.
【請求項2】請求項1記載の導通耐圧検査用接続ユニッ
トにおいて、 上記フラットケーブルの導体接続部分は、検査されるフ
レキシブル配線体の導体よりも導体幅が広くなっている
ことを特徴とする導通耐圧検査用接続ユニット
2. The connection unit for conducting withstand voltage inspection according to claim 1, wherein the conductor connecting portion of the flat cable has a conductor width wider than that of the conductor of the flexible wiring body to be inspected.
A connection unit for conducting withstand voltage test, which is characterized in that
【請求項3】請求項1または2記載の導通耐圧検査用接
続ユニットにおいて、 上記フラットケーブルの導体接続部分の有効接触長さ
は、フレキシブル配線体の導体と接触するのに必要な長
さよりも長く設定されているとともに、その先端部が上
記フレキシブル配線体の導体の露出部分と接触するよう
に配置されていることを特徴とする導通耐圧検査用接続
ユニット
3. The connection unit for conducting withstand voltage test according to claim 1 or 2, wherein an effective contact length of a conductor connecting portion of the flat cable is longer than a length required for contacting the conductor of the flexible wiring body. The connection for conducting withstand voltage test, which is set and is arranged so that its tip portion contacts the exposed portion of the conductor of the flexible wiring body.
Unit .
JP10146796A 1996-04-23 1996-04-23 Connection unit for continuity withstand voltage test Expired - Fee Related JP3412394B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10146796A JP3412394B2 (en) 1996-04-23 1996-04-23 Connection unit for continuity withstand voltage test

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10146796A JP3412394B2 (en) 1996-04-23 1996-04-23 Connection unit for continuity withstand voltage test

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09288142A JPH09288142A (en) 1997-11-04
JP3412394B2 true JP3412394B2 (en) 2003-06-03

Family

ID=14301530

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10146796A Expired - Fee Related JP3412394B2 (en) 1996-04-23 1996-04-23 Connection unit for continuity withstand voltage test

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3412394B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103913670B (en) * 2014-04-21 2016-08-17 深圳闻信电子有限公司 A kind of FFC special high-pressure test-based examination machine
CN113504492B (en) * 2021-07-09 2024-03-08 歌尔科技有限公司 Wire body fixed subassembly and test fixture

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09288142A (en) 1997-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102086390B1 (en) Probe pin
KR930007338A (en) Inspection electrode unit for printed wiring boards, inspection apparatus including the same, and inspection method for printed wiring boards
US20060279317A1 (en) Test apparatus capable of accurately connecting a test object to a substrate
US4943768A (en) Testing device for electrical circuit boards
JP3412394B2 (en) Connection unit for continuity withstand voltage test
US6825679B2 (en) Electrically conductive structure and method for implementing circuit changes on printed circuit boards
JP2004178951A (en) Socket for electric parts
TWM469489U (en) Testing assembly and electrical testing device
CN1106581A (en) Elecrical connector
JP2010019672A (en) Substrate body
TW200716994A (en) Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method
US4887030A (en) Testing device for electrical circuit boards
US6563332B2 (en) Checker head
US11751326B2 (en) Electronic apparatus and inspection method
KR101345921B1 (en) Apparatus for inspecting panel
JPH0684379U (en) Jig for inspection device of integrated circuit
JPH11135386A (en) Aging jig for chip capacitor
WO2024018535A1 (en) Anisotropically conductive connector, anisotropically conductive connector having frame, and inspection apparatus
JP2948802B2 (en) Electrical connection members
JPH06260799A (en) Circuit board inspecting method, and circuit board
JPH1026646A (en) Contact device
JPS58155374A (en) Tester for printed circuit board
JPH065243B2 (en) Board inspection equipment
JP3760655B2 (en) Aging equipment
KR0161866B1 (en) Manual socket for electrical characteristics testing of semiconductor

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090328

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100328

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110328

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120328

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees