JP3403818B2 - Inspection method and device for mounted parts - Google Patents

Inspection method and device for mounted parts

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JP3403818B2
JP3403818B2 JP16165694A JP16165694A JP3403818B2 JP 3403818 B2 JP3403818 B2 JP 3403818B2 JP 16165694 A JP16165694 A JP 16165694A JP 16165694 A JP16165694 A JP 16165694A JP 3403818 B2 JP3403818 B2 JP 3403818B2
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    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K3/303Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品の実装工程に
おいて、実装されたチップ部品の実装状態を検査する実
装部品検査方法とその装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mounting component inspection method and apparatus for inspecting the mounting state of mounted chip components in the mounting process of electronic components.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近になって、高密度実装化が進み、電
子部品が小型化し、実装ピッチが狭くなったので、目視
による検査が困難になり、電子部品の実装状態の検査を
画像処理技術で自動的に行う実装部品検査方法とその装
置に対する需要がますます増大している。
2. Description of the Related Art Recently, high-density mounting has progressed, electronic components have become smaller, and the mounting pitch has become narrower, so visual inspection becomes difficult. There is an increasing demand for automated mounting part inspection methods and their equipment.

【0003】上記の需要に合わせて、レーザ方式の実装
部品検査方法とその装置、異なる波長の光を発光する円
環照明を段差を付け、且つ、同心状に配した実装部品検
査方法とその装置等が実用化されたが、どれも未だ、高
精度、高速、高信頼性、低コストの生産現場の要求を満
たすに至っていない。
According to the above demands, a laser-type mounted component inspection method and its device, and a mounted component inspection method and device in which annular illuminations for emitting light of different wavelengths are stepped and arranged concentrically Etc. have been put into practical use, but none of them have yet to meet the demands of high-precision, high-speed, high-reliability and low-cost production sites.

【0004】これらの中では、カラー画像処理技術を使
用した実装部品検査方法とその装置が、上記の生産現場
の要求を満たす最有力候補となっているが、未だ、改善
すべき問題点がある。
Of these, the mounted component inspection method and apparatus using the color image processing technique are the most promising candidates for satisfying the requirements of the above-mentioned production site, but there are still problems to be improved. .

【0005】以下に、カラー画像処理技術を使用した実
装部品検査方法とその装置の従来例、例えば、特開平4
−348052号公報に記載の実装部品検査装置を、図
11に基づいて説明する。
The following is a conventional example of a mounting component inspection method and apparatus using the color image processing technique, for example, Japanese Patent Laid-Open No. Hei 4 (1999) -264.
The mounted component inspection device described in Japanese Patent No. 348052 will be described with reference to FIG.

【0006】図11において、チップ部品2の有無を検
査する場合には、カラーカメラ21が、チップ部品2を
実装した検査対象実装回路基板1を撮像し、そのカラー
映像信号をA/D変換して前記検査対象実装回路基板1
の3原色カラー画像データとし、色変換部22で、前記
検査対象実装回路基板1の3原色カラー画像データを、
色抽出部23が処理し易い形に変換する。色抽出部23
では、各種の検査対象チップ部品2の各ボディ色につい
て予め設定されている色成分のみを抽出し、有無判定部
24が、前記の抽出された各色成分の存在位置を、基準
位置と比較して、前記各種の検査対象チップ部品2の有
無を判定する。
In FIG. 11, when the presence or absence of the chip component 2 is inspected, the color camera 21 images the inspection target mounting circuit board 1 on which the chip component 2 is mounted, and A / D converts the color video signal. The inspection target mounted circuit board 1
3 primary color image data, and the color conversion unit 22 converts the 3 primary color image data of the inspection target mounting circuit board 1 into
The color extracting unit 23 converts the color into a form that can be easily processed. Color extraction unit 23
Then, only the color components preset for each body color of each type of chip component 2 to be inspected are extracted, and the presence / absence determining unit 24 compares the existing position of each extracted color component with the reference position. The presence / absence of each of the various types of chip components 2 to be inspected is determined.

【0007】チップ部品2のずれを検査する場合には、
前記のようにして、検査対象チップ部品2の有無を判定
した後に、エッジ位置検出部25が、明度画像データか
ら、前記検査対象チップ部品2の電極部のエッジ位置を
検出し、実装ずれ量演算部26が、前記の検出されたエ
ッジ位置を、基準位置と比較して前記検査対象チップ部
品2の実装ずれ量を演算し、判定部27が、前記の演算
された前記検査対象チップ部品2の実装ずれ量を、予め
設定された実装ずれ量許容値と比較して、実装ずれ量の
良否判定を行い、検査結果表示部28が検査結果を表示
する。
When inspecting the displacement of the chip component 2,
After determining the presence or absence of the inspection target chip component 2 as described above, the edge position detection unit 25 detects the edge position of the electrode portion of the inspection target chip component 2 from the brightness image data and calculates the mounting deviation amount. The unit 26 compares the detected edge position with a reference position to calculate the mounting deviation amount of the inspection target chip component 2, and the determination unit 27 determines the calculated inspection target chip component 2 of the inspection target chip component 2. The mounting deviation amount is compared with a preset mounting deviation amount allowable value to determine whether the mounting deviation amount is good or bad, and the inspection result display unit 28 displays the inspection result.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来例
の構成では、部品の有無検出を色抽出で判定する場合、
実装回路基板上の各種検査対象チップ部品のボディ色が
多くなると、所定の色を抽出するための色抽出パラメー
タの設定数が多くなり、その操作が煩雑で、一般の作業
者が使いこなすことが困難になるという問題点がある。
However, in the configuration of the above conventional example, when the presence / absence detection of a part is determined by color extraction,
When the body color of each chip part to be inspected on the mounted circuit board increases, the number of color extraction parameters for extracting a predetermined color increases, and the operation is complicated and difficult for general workers to use. There is a problem that becomes.

【0009】特に、検査対象チップ部品のボディ色が回
路基板の色と同色の緑の場合には、その部品のボディ部
と共に回路基板の緑色部分が抽出されるので、有無判定
ができなくなるという問題点がある。
In particular, when the body color of the chip component to be inspected is green, which is the same color as the color of the circuit board, the green portion of the circuit board is extracted together with the body portion of the component, so that the presence / absence determination cannot be performed. There is a point.

【0010】又、部品の有無検出をエッジ検出で判定す
る場合、リフロー後のチップ部品の電極部の輝度レベル
変化量の分布や、輝度の分布が、チップ部品が実装され
ずに半田だけが溶着しているランド部分の輝度レベル変
化量の分布や、輝度の分布に類似しているので、チップ
部品の色と回路基板の色とが同色であれば、電極部と半
田だけが溶着しているランド部分とをエッジ検出で判別
できなくなり、部品の有無検出は事実上不可能であると
いう問題点がある。
Further, when the presence / absence detection of the component is judged by the edge detection, the distribution of the luminance level change amount of the electrode part of the chip component after the reflow and the luminance distribution show that only the solder is welded without mounting the chip component. Since the distribution of the brightness level change of the land part and the distribution of the brightness are similar, if the color of the chip component and the color of the circuit board are the same, only the electrode part and the solder are welded. There is a problem in that the land portion cannot be discriminated by the edge detection, and it is practically impossible to detect the presence or absence of the component.

【0011】又、部品の位置ずれをエッジ検出で判定す
る場合、リフロー後のチップ部品のずれ検査において
は、リフロー炉での酸化等の影響で、実装部品周辺のプ
リント配線パターンの輝度レベルと実装部品の電極部の
輝度レベルとが類似しており、プリント配線パターンを
電極と誤認識し、位置ずれの誤判定を引き起こすという
問題点がある。
Further, in the case where the displacement of the component is judged by the edge detection, in the displacement inspection of the chip component after the reflow, the brightness level and the mounting of the printed wiring pattern around the mounting component are affected by the influence of oxidation in the reflow furnace. There is a problem that the brightness level of the electrode part of the component is similar, and the printed wiring pattern is erroneously recognized as an electrode, which causes an erroneous determination of misalignment.

【0012】又、リフロー後のチップ部品のずれ検査に
おいて、電極付チップ部品の実装位置が大幅にずれてい
るにも関わらず、ランド上に固着した半田の輝度レベル
と、部品の電極部の輝度レベルとが近いために、前記半
田を部品の電極と誤認識し、部品が正常に実装されてい
るとの誤判定を引き起こすという問題点がある。
Further, in the inspection of the displacement of the chip component after the reflow, the luminance level of the solder fixed on the land and the luminance of the electrode portion of the component are detected even though the mounting position of the electrode-equipped chip component is largely displaced. Since the levels are close to each other, there is a problem that the solder is erroneously recognized as an electrode of a component, and an erroneous determination that the component is normally mounted is caused.

【0013】更に、電極付チップ部品の表裏反転検査を
する場合、電極付チップ部品の裏面のボディ色は白色で
あり、そのために、検査対象チップ部品の裏面の電極部
の輝度レベルと、裏面のボディ色の輝度レベルとが略同
一になり、色抽出においても、部品の電極部と裏面のボ
ディ色とが、同時に色抽出されてしまい、表裏判定が事
実上不可能になるという問題点がある。
Further, when performing the front-back reversal inspection of the electrode-equipped chip component, the body color of the back surface of the electrode-equipped chip component is white. Therefore, the brightness level of the electrode portion on the back surface of the chip component to be inspected and the back surface The brightness level of the body color becomes almost the same, and even in the color extraction, the electrode part of the component and the body color of the back surface are simultaneously extracted, which makes it virtually impossible to determine the front and back sides. .

【0014】本発明は、上記の問題点を解決し、カラー
画像処理技術により、高精度、高速、高信頼性、低コス
トで部品の有無判定、位置ずれ判定、表裏判定が可能な
実装部品検査方法とその装置の提供を課題とする。
The present invention solves the above-mentioned problems, and uses a color image processing technique to inspect mounted parts capable of highly accurate, high-speed, highly reliable and low-cost component presence / absence determination, position displacement determination, front / back determination. It is an object to provide a method and an apparatus therefor.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本願第1発明の実装部品
検査方法は、検査対象実装回路基板をカラー撮像し、そ
のカラー映像信号をA/D変換して前記検査対象実装回
路基板の3原色カラー画像データとし、前記3原色カラ
ー画像データからフラックス色を抽出するフラックス色
抽出エリアを、正規に実装された部品の電極間中央部の
両脇に流れ出たフラックス部を含むエリアに設定し、色
抽出手段が、前記フラックス色抽出エリア内から、フラ
ックス色の色成分を有する画素を抽出し、認識判定部
が、前記の抽出画素数をカウントし、カウントされた画
素数の過少から部品無しを検出することを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a mounted component inspection method, wherein a mounting target circuit board to be inspected is color imaged, and a color video signal thereof is A / D converted to obtain three primary colors of the mounting target circuit board to be inspected. As the color image data, the flux color extraction area for extracting the flux color from the three primary color image data is set to the area including the flux portions flowing out to the both sides of the central portion between the electrodes of the regularly mounted component, and the color is set. Extraction means extracts pixels having a color component of the flux color from within the flux color extraction area, and a recognition determination unit counts the number of extracted pixels, and detects the absence of a component from the excessive number of counted pixels. It is characterized by doing.

【0016】本願第2発明の実装部品検査方法は、検査
対象実装回路基板をカラー撮像し、そのカラー映像信号
をA/D変換して前記検査対象実装回路基板の3原色カ
ラー画像データとし、前記3原色カラー画像データから
電極色を抽出する電極色抽出エリアを、正規に実装され
た部品の電極間方向の両脇にあり、この両脇から少し離
れ、且つ、この両脇に平行な部分を含むエリアに設定
し、色抽出手段が、前記電極色抽出エリア内から、電極
色の色成分を有する画素を抽出し、認識判定部が、前記
の抽出画素数をカウントし、カウントされた画素数の過
多から部品のずれを判定することを特徴とする。
In the mounting component inspection method of the second invention of the present application, the mounting target circuit board to be inspected is color imaged, and the color video signal is A / D converted into the three primary color image data of the mounting target circuit board to be inspected. The electrode color extraction areas for extracting the electrode colors from the three primary color image data are located on both sides of the regularly mounted parts in the direction between the electrodes, and a little away from both sides and parallel to these sides. In the area including, the color extraction means extracts the pixel having the color component of the electrode color from the electrode color extraction area, the recognition determination unit counts the number of extracted pixels, and the counted number of pixels The feature is that the deviation of the parts is determined from the excess of.

【0017】本願第3発明の実装部品検査方法は、検査
対象実装回路基板をカラー撮像し、そのカラー映像信号
をA/D変換して前記検査対象実装回路基板の3原色カ
ラー画像データとし、前記3原色カラー画像データから
部品の裏の色を抽出する裏色抽出エリアを、正規に実装
された部品の電極間中央部を含むエリアに設定し、色抽
出手段が、前記裏色抽出エリア内から、部品の裏の色の
色成分を有する画素を抽出し、認識判定部が、前記の抽
出画素数をカウントし、カウントされた画素数の過多か
ら部品の表裏反転を検出することを特徴とする。
In the mounting component inspection method of the third invention of the present application, the mounting target circuit board to be inspected is color imaged, and the color video signal is A / D converted into the three primary color image data of the mounting target circuit board to be inspected. The back color extraction area for extracting the back color of the component from the three primary color image data is set to an area including the central portion between the electrodes of the properly mounted component, and the color extraction means selects from the back color extraction area. A pixel having a color component of the back color of the component is extracted, the recognition determination unit counts the number of extracted pixels, and detects the inversion of the component from the front side based on the excessive number of the counted pixels. .

【0018】本願第4発明の実装部品検査装置は、検査
対象実装回路基板をカラー撮像するカラー画像撮像手段
と、そのカラー映像信号をA/D変換して前記検査対象
実装回路基板の3原色カラー画像データとするカラー画
像処理部と、正規に実装された部品の電極間中央部の両
脇に流れ出たフラックス部を含むエリアを、前記3原色
カラー画像データからフラックス色を抽出するフラック
ス色抽出エリアに指定する指令を記憶するフラックス色
抽出エリア記憶手段と、前記フラックス色抽出エリア内
から、フラックス色の色成分を有する画素を抽出する色
抽出手段と、前記の抽出画素数をカウントし、カウント
された画素数の過少から部品無しを検出する認識判定部
とを有することを特徴とする。
The mounted component inspection apparatus according to the fourth aspect of the present invention comprises a color image pickup means for picking up a color image of the mounting target circuit board to be inspected, and A / D conversion of the color video signal from the color image signal, and the three primary colors of the mounting circuit board to be inspected. A flux color extraction area for extracting a flux color from the three primary color image data is an area including a color image processing section for image data and a flux section flowing out on both sides of a central portion between electrodes of a properly mounted component. Flux color extraction area storage means for storing a command to specify, a color extraction means for extracting pixels having a color component of a flux color from within the flux color extraction area, and the number of extracted pixels is counted and counted. And a recognition determination unit that detects the absence of a component from the excessive number of pixels.

【0019】本願第5発明の実装部品検査装置は、検査
対象実装回路基板をカラー撮像するカラー画像撮像手段
と、そのカラー映像信号をA/D変換して前記検査対象
実装回路基板の3原色カラー画像データとするカラー画
像処理部と、正規に実装された部品の電極間方向の両脇
にあり、この両脇から少し離れ、且つ、この両脇に平行
な部分を含むエリアを、前記3原色カラー画像データか
ら電極色を抽出する電極色抽出エリアに指定する指令を
記憶する電極色抽出エリア記憶手段と、前記電極色抽出
エリア内から、電極色の色成分を有する画素を抽出する
色抽出手段と、前記の抽出画素数をカウントし、カウン
トされた画素数の過多から部品のずれを判定する認識判
定部とを有することを特徴とする。
The mounted component inspection apparatus according to the fifth aspect of the present invention comprises a color image pickup means for picking up a color image of the mounting target circuit board to be inspected, and A / D conversion of the color video signal of the color image signal, and the three primary colors of the mounting circuit board to be inspected. The color image processing unit for image data and the areas on both sides in the inter-electrode direction of the normally mounted component, which are a little away from the both sides and include a part parallel to the both sides, are the three primary colors. Electrode color extraction area storage means for storing a command for designating an electrode color extraction area for extracting an electrode color from color image data, and color extraction means for extracting a pixel having a color component of the electrode color from within the electrode color extraction area. And a recognition determination unit that counts the number of extracted pixels and determines the deviation of the component from the excessive number of counted pixels.

【0020】本願第6発明の実装部品検査装置は、検査
対象実装回路基板をカラー撮像するカラー画像撮像手段
と、そのカラー映像信号をA/D変換して前記検査対象
実装回路基板の3原色カラー画像データとするカラー画
像処理部と、正規に実装された部品の電極間中央部を含
むエリアを、前記3原色カラー画像データから部品の裏
の色を抽出する裏色抽出エリアに指定する指令を記憶す
る裏色抽出エリア記憶手段と、前記裏色抽出エリア内か
ら、部品の裏の色の色成分を有する画素を抽出する色抽
出手段と、前記の抽出画素数をカウントし、カウントさ
れた画素数の過多から部品の表裏反転を検出する認識判
定部とを有することを特徴とする。
The mounted component inspection apparatus according to the sixth aspect of the present invention is a color image pickup means for picking up a color image of a mounting target circuit board to be inspected, and A / D conversion of the color video signal from the color image signal, and the three primary colors of the mounting circuit board to be inspected. A command for designating a color image processing unit as image data and an area including the central portion between the electrodes of the component mounted properly as a back color extraction area for extracting the back color of the component from the three primary color image data is issued. Back color extraction area storage means for storing, color extraction means for extracting pixels having a color component of the back color of the component from the back color extraction area, counting the number of extracted pixels, and counting pixels It is characterized by having a recognition determination unit that detects the reverse of the front and back of the component from the excessive number.

【0021】[0021]

【作用】本願第1、第4発明の実装部品検査方法とその
装置は、検査対象実装回路基板において、部品が実装さ
れていない場合には、その部品の電極が半田付けされる
べき2つのランド上に塗布された半田の周囲にあるフラ
ックスは相互に分離しており、これらの分離している中
間部分にはフラックス部が無く、部品が実装された場合
には、2つのランド上の半田周囲にあるフラックスが、
部品の周囲に、にじみ出ていることを利用するもので、
リフロー後の検査対象実装回路基板をカラー撮像し、そ
のカラー映像信号をA/D変換して前記検査対象実装回
路基板の3原色カラー画像データとした後、前記3原色
カラー画像データからフラックス色を抽出するフラック
ス色抽出エリアを、正規に実装された部品の電極間中央
部の両脇に流れ出たフラックス部を含むエリアに設定
し、色抽出手段が、前記フラックス色抽出エリア内か
ら、フラックス色の色成分を有する画素を抽出し、認識
判定部が、前記の抽出画素数をカウントし、カウントさ
れた画素数の過少から部品無しを検出する。
The mounting component inspection method and apparatus according to the first and fourth inventions of the present application provide two lands to which the electrodes of the component are soldered when the component is not mounted on the mounting target circuit board to be inspected. The flux around the solder applied above is separated from each other, and there is no flux part in the separated middle part, and when parts are mounted, the solder surroundings on two lands Flux in
It uses the bleeding around the parts,
Color images of the mounting target circuit board to be inspected after reflow are taken, and the color video signals are A / D converted into three primary color image data of the mounting circuit board to be inspected. Then, flux colors are extracted from the three primary color image data. The flux color extraction area to be extracted is set to an area including the flux portion flowing out to both sides of the central portion between the electrodes of the regularly mounted component, and the color extraction means selects the flux color from the inside of the flux color extraction area. A pixel having a color component is extracted, the recognition determination unit counts the number of extracted pixels, and detects the absence of a component from the number of counted pixels being too small.

【0022】本願第2、第5発明の実装部品検査方法と
その装置は、検査対象実装回路基板において、部品がず
れている場合には、正規に実装された部品の電極間方向
の両脇にあり、この両脇から少し離れ、且つ、この両脇
に平行な部分を含むエリアに、部品の電極部がはみ出し
ていることを利用するもので、検査対象実装回路基板を
カラー撮像し、そのカラー映像信号をA/D変換して前
記検査対象実装回路基板の3原色カラー画像データとし
た後、前記3原色カラー画像データから電極色を抽出す
る電極色抽出エリアを、正規に実装された部品の電極間
方向の両脇にあり、この両脇から少し離れ、且つ、この
両脇に並行な部分を含むエリアに設定し、色抽出手段
が、前記電極色抽出エリア内から、電極色の色成分を有
する画素を抽出し、認識判定部が、前記の抽出画素数を
カウントし、カウントされた画素数の過多から部品のず
れを判定する。
The mounted component inspection method and apparatus according to the second and fifth inventions of the present invention are arranged on both sides in the inter-electrode direction of a component which is normally mounted when the component is misaligned on the mounted circuit board to be inspected. Yes, it uses the fact that the electrode part of the component is protruding in an area that is slightly away from both sides and that is parallel to both sides. After the video signal is A / D converted into the three-primary-color image data of the mounting target circuit board to be inspected, the electrode-color extraction area for extracting the electrode color from the three-primary-color image data is provided in the regularly mounted component. It is located on both sides in the direction between the electrodes, and is set to an area that is slightly apart from both sides and that includes parallel portions on both sides, and the color extraction means selects the color component of the electrode color from within the electrode color extraction area. Extract pixels with Identification determination unit determines a deviation of part of the extracted number of pixels of the counting, the counted excessive number of pixels.

【0023】本願第3、第6発明の実装部品検査方法と
その装置は、検査対象実装回路基板において、部品が表
裏反転している場合には、正規に実装された部品の電極
間中央部を含むエリアは、部品の裏の色、即ち、白色を
していることを利用するもので、検査対象実装回路基板
をカラー撮像し、そのカラー映像信号をA/D変換して
前記検査対象実装回路基板の3原色カラー画像データと
した後、前記3原色カラー画像データから部品の裏の色
を抽出する裏色抽出エリアを、正規に実装された部品の
電極間中央部を含むエリアに設定し、色抽出手段が、前
記裏色抽出エリア内から、部品の裏の色の色成分を有す
る画素を抽出し、認識判定部が、前記の抽出画素数をカ
ウントし、カウントされた画素数の過多から部品の表裏
反転を検出する。
In the mounting component inspection method and the apparatus thereof according to the third and sixth inventions of the present application, in the mounting target circuit board to be inspected, when the components are turned upside down, the central portion between the electrodes of the properly mounted components is The area to be included utilizes the color of the back of the component, that is, the white color. The color image of the mounting target circuit board to be inspected is picked up, and the color video signal is A / D converted to obtain the mounting circuit to be inspected. After the three primary color image data of the board is set, a back color extraction area for extracting the back color of the component from the three primary color image data is set to an area including the central portion between the electrodes of the normally mounted component, The color extraction means extracts pixels having a color component of the back color of the component from the back color extraction area, the recognition determination unit counts the number of extracted pixels, and the number of counted pixels is excessive. Detects front / back inversion of parts.

【0024】[0024]

【実施例】本発明の実装部品検査方法を使用する実装部
品検査装置の第1〜第4実施例を図1〜図10に基づい
て説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First to fourth embodiments of a mounting component inspecting apparatus using the mounting component inspecting method of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0025】図1は、第1〜第4実施例に共通に使用さ
れる実装部品検査装置の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the arrangement of a mounted component inspection apparatus commonly used in the first to fourth embodiments.

【0026】図1において、チップ部品2を実装した検
査対象実装回路基板1が、XYテーブルコントローラで
動作を制御されるXYテーブルに載置され、カラーCC
Dカメラ4が、チップ部品2を実装した検査対象実装回
路基板1を撮像し、そのカラー映像信号をA/D変換し
て前記検査対象実装回路基板1の3原色カラー画像デー
タとする。
In FIG. 1, an inspection target mounting circuit board 1 on which a chip component 2 is mounted is placed on an XY table whose operation is controlled by an XY table controller, and a color CC is mounted.
The D camera 4 picks up an image of the inspection target mounting circuit board 1 on which the chip component 2 is mounted, and A / D converts the color video signal to obtain the three primary color image data of the inspection target mounting circuit board 1.

【0027】カラー画像処理部8の色座標変換手段9
が、前記検査対象実装回路基板1の3原色カラー画像デ
ータを、指定された抽出指定色を抽出し易いように変換
する。
Color coordinate conversion means 9 of the color image processing section 8
Converts the three primary color image data of the mounting circuit board 1 to be inspected so that the designated extraction designated color can be easily extracted.

【0028】記憶部7には、前記の指定された抽出指定
色の夫々について、その抽出指定色を抽出すべきそれぞ
れの色抽出エリアを記憶している色抽出エリア記憶手段
7a、7b、7c・・・があり、下記の色抽出手段10
に色抽出エリアを指定する。
In the storage section 7, for each of the designated extraction designated colors, color extraction area storage means 7a, 7b, 7c. .., and the following color extraction means 10
Specify the color extraction area in.

【0029】カラー画像処理部8の色抽出手段10で
は、指定された色抽出エリアから、前記抽出指定色の色
成分のみを抽出し、予め設定されている色抽出閾値に基
づいて2値化する。
The color extraction means 10 of the color image processing unit 8 extracts only the color component of the extraction designated color from the designated color extraction area and binarizes it based on a preset color extraction threshold. .

【0030】認識判定部5が、前記2値画像の画素数を
カウントし、カウントされた画素数の多少によって、各
種の判定を行う。
The recognition determination unit 5 counts the number of pixels of the binary image, and makes various determinations depending on the number of counted pixels.

【0031】次に、リフロー後の部品の有無を判定する
本発明の第1実施例を、図1〜図3に基づいて説明す
る。
Next, a first embodiment of the present invention for determining the presence / absence of parts after reflow will be described with reference to FIGS.

【0032】図3は、本実施例のフラックス色抽出エリ
ア30の設定を示す。
FIG. 3 shows the setting of the flux color extraction area 30 of this embodiment.

【0033】図1、図3において、記憶部7のフラック
ス色抽出エリア記憶手段7aが記憶している実装情報に
基づいて、制御部6が、前記検査対象実装回路基板1の
3原色カラー画像データに、各部品の実装状態を検査す
る検査エリア20とフラックス色を抽出するフラックス
色抽出エリア30とを設定する。図3の左は、部品2が
実装されていない場合の、ランド上の半田23、23と
半田周囲のフラックス部22b、22bとを示し、右
は、部品2が実装された場合の、部品2と部品2の電極
部21、21と部品2の周囲ににじみ出た部品周囲のフ
ラックス部22aとを示す。図3から明らかなように、
部品2の有無によって、フラックス部の形状が異なり、
部品2が実装されていない場合には、半田周囲のフラッ
クス部22b、22bが分離しており、これらの中間に
はフラックス部が無い。部品2が実装された場合には、
部品2の周囲に半田周囲のフラックス部22b、22b
がにじみ出て繋がっている。フラックス色抽出エリア3
0は、フラックス色を抽出するエリアであり、部品2の
有無を判定するために、正規に実装された部品の電極間
中央部の両側部を含むエリアになっている。このエリア
には、部品2が実装された場合には、フラックスがにじ
み出て存在し、部品2が実装されていない場合には、フ
ラックスが存在しない。
In FIGS. 1 and 3, based on the mounting information stored in the flux color extraction area storage unit 7a of the storage unit 7, the control unit 6 controls the three primary color image data of the mounting circuit board 1 to be inspected. In addition, an inspection area 20 for inspecting the mounting state of each component and a flux color extraction area 30 for extracting the flux color are set. The left side of FIG. 3 shows the solder 23, 23 on the land and the flux portions 22b, 22b around the solder when the component 2 is not mounted, and the right side thereof is the component 2 when the component 2 is mounted. 2 shows the electrode portions 21 and 21 of the component 2 and the flux portion 22a around the component that oozes around the component 2. As is clear from FIG.
The shape of the flux part depends on the presence or absence of the component 2,
When the component 2 is not mounted, the flux portions 22b, 22b around the solder are separated, and there is no flux portion between them. When the component 2 is mounted,
Flux parts 22b, 22b around the solder around the component 2
It oozes out and is connected. Flux color extraction area 3
0 is an area for extracting the flux color, and is an area including both sides of the central portion between the electrodes of the component which is normally mounted in order to determine the presence or absence of the component 2. In this area, the flux oozes out when the component 2 is mounted, and the flux does not exist when the component 2 is not mounted.

【0034】次に、図2に基づいて、本実施例の動作を
説明する。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIG.

【0035】図2のステップ#1において、検査エリア
20を設定する。
In step # 1 of FIG. 2, the inspection area 20 is set.

【0036】ステップ#2において、フラックス色抽出
エリア30を設定する。
In step # 2, the flux color extraction area 30 is set.

【0037】ステップ#3において、フラックス色抽出
エリア30内で、フラックス色を抽出し、予め設定して
ある色抽出閾値に基づいて2値化する。
In step # 3, the flux color is extracted in the flux color extraction area 30 and binarized based on a preset color extraction threshold value.

【0038】ステップ#4において、2値化されたフラ
ックス色抽出画素の数をカウントする。
In step # 4, the number of binarized flux color extraction pixels is counted.

【0039】ステップ#5において、前記のカウントさ
れたフラックス色抽出画素の数を、予め設定された画素
数範囲に適合する場合は部品有りと判定し、適合しない
場合は部品無しと判定する。
In step # 5, it is determined that there is a component if the counted number of the flux color extraction pixels is within the preset range of the number of pixels, and if there is no match, it is determined that there is no component.

【0040】次に、リフロー後の部品ずれを判定する本
発明の第2実施例を、図1、図4、図5に基づいて説明
する。
Next, a second embodiment of the present invention for determining a component deviation after reflow will be described with reference to FIGS. 1, 4 and 5.

【0041】図5は、本実施例の電極色抽出エリア40
の設定を示す。
FIG. 5 shows the electrode color extraction area 40 of this embodiment.
Indicates the setting of.

【0042】図1、図5において、記憶部7の電極色抽
出エリア記憶手段7bが記憶している実装情報に基づい
て、制御部6が、前記検査対象実装回路基板2の3原色
カラー画像データに、各部品の実装状態を検査する検査
エリア20と電極色を抽出する電極色抽出エリア40と
を設定する。図5の左は、部品2がずれて実装されてい
る場合の、位置ずれしている部品2と部品2の電極2
1、21とランド上の半田23、23と半田周囲のフラ
ックス部22b、22bとを示し、右は、部品2が実装
された場合の、部品2と部品2の電極部21、21と部
品2の周囲ににじみ出た部品周囲のフラックス部22a
とを示す。図5から明らかなように、部品2が位置ずれ
した場合、部品2の電極部21、21は、正規に実装さ
れた場合の部品2の位置の両側にはみ出している。電極
色抽出エリア40は、電極部21に対応する色を抽出す
るエリアで、部品2のずれを判定するために、正規に実
装された部品の電極間方向の両脇にあり、この両脇から
少し離れ、且つ、この両脇に平行な部分を含むエリアに
設定される。この電極色抽出エリア40には、部品2が
正規に実装された場合には電極部21は存在せず、ずれ
て実装された場合には電極部21が存在する。
In FIGS. 1 and 5, based on the mounting information stored in the electrode color extraction area storage unit 7b of the storage unit 7, the control unit 6 controls the three primary color image data of the mounting circuit board 2 to be inspected. In addition, an inspection area 20 for inspecting the mounting state of each component and an electrode color extraction area 40 for extracting the electrode color are set. The left side of FIG. 5 shows the misaligned component 2 and the electrode 2 of the component 2 when the component 2 is mounted with displacement.
1 and 21, the solders 23 and 23 on the land and the flux portions 22b and 22b around the solder, and the right part is the component 2 and the electrode portions 21 and 21 of the component 2 and the component 2 when the component 2 is mounted. Flux part 22a around the parts exuding around the
And indicates. As is clear from FIG. 5, when the component 2 is displaced, the electrode portions 21, 21 of the component 2 are projected to both sides of the position of the component 2 when the component 2 is properly mounted. The electrode color extraction area 40 is an area for extracting a color corresponding to the electrode portion 21. The electrode color extraction area 40 is located on both sides in the inter-electrode direction of a component that is normally mounted in order to determine the displacement of the component 2. The area is set a little away and includes parallel parts on both sides. In the electrode color extraction area 40, the electrode portion 21 does not exist when the component 2 is properly mounted, and the electrode portion 21 exists when the component 2 is mounted with a shift.

【0043】次に、図4に基づいて、本実施例の動作を
説明する。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIG.

【0044】図4のステップ#6において、検査エリア
20を設定する。
In step # 6 of FIG. 4, the inspection area 20 is set.

【0045】ステップ#7において、電極色抽出エリア
40を設定する。
In step # 7, the electrode color extraction area 40 is set.

【0046】ステップ#8において、電極色抽出エリア
40内で、電極色を抽出し、予め設定してある色抽出閾
値に基づいて2値化する。
In step # 8, the electrode color is extracted in the electrode color extraction area 40 and binarized based on a preset color extraction threshold value.

【0047】ステップ#9において、2値化された電極
色抽出画素の数をカウントする。
In step # 9, the number of binarized electrode color extraction pixels is counted.

【0048】ステップ#10において、前記のカウント
された電極色抽出画素の数が、予め設定された画素数以
上の場合はずれ有りと判定し、未満の場合はずれ無しと
判定する。
In step # 10, if the number of counted electrode color extraction pixels is equal to or larger than the preset number of pixels, it is determined that there is a deviation, and if it is less than that, it is determined that there is no deviation.

【0049】次に、リフロー後の部品有無と部品ずれと
を判定する本発明の第3実施例を、図1、図6〜図8に
基づいて説明する。
Next, a third embodiment of the present invention for determining the presence / absence of parts and the deviation of parts after reflow will be described with reference to FIGS. 1 and 6 to 8.

【0050】図7は、本実施例のフラックス色抽出エリ
ア30と電極色抽出エリア40との設定を示す。
FIG. 7 shows the settings of the flux color extraction area 30 and the electrode color extraction area 40 of this embodiment.

【0051】図1、図7において、記憶部7のフラック
ス色抽出エリア記憶手段7aと電極色抽出エリア記憶手
段7bとが記憶している実装情報に基づいて、制御部6
が、前記検査対象実装回路基板2の3原色カラー画像デ
ータに、各部品の実装状態を検査する検査エリア20と
フラックス色を抽出するフラックス色抽出エリア30と
電極色を抽出する電極色抽出エリア40とを設定する。
図7の左は、部品2がずれて実装されている場合の、位
置ずれしている部品2と部品2の電極21、21とラン
ド上の半田23、23と半田周囲のフラックス部22
b、22bとフラックスがにじみ出したにじみ出しフラ
ックス部22c、22cとを示し、右は、部品2が実装
された場合の、部品2と部品2の電極部21、21と部
品2の周囲ににじみ出た部品周囲のフラックス部22a
とを示す。図7から明らかなように、部品2が位置ずれ
した場合、部品2の電極部21、21は、正規に実装さ
れた場合の部品2の位置の両側にはみ出し、正規に実装
された場合には電極部21、21が存在しない位置に存
在する。電極色抽出エリア40は、電極部21に対応す
る色を抽出するエリアで、部品2のずれを判定するため
に、正規に実装された部品の電極間方向の両脇にあり、
この両脇から少し離れ、且つ、この両脇に平行な部分を
含むエリアに設定される。
In FIGS. 1 and 7, the control unit 6 is based on the mounting information stored in the flux color extraction area storage unit 7a and the electrode color extraction area storage unit 7b of the storage unit 7.
In the three primary color image data of the circuit board 2 to be inspected, an inspection area 20 for inspecting the mounting state of each component, a flux color extraction area 30 for extracting a flux color, and an electrode color extraction area 40 for extracting an electrode color are included. And.
On the left side of FIG. 7, when the component 2 is mounted while being displaced, the component 2 and the electrodes 21, 21 of the component 2, the solder 23, 23 on the land, and the flux portion 22 around the solder are displaced.
b and 22b and flux bleeding flux portions 22c and 22c where the flux oozes out, and the right portion bleeds around the component 2 and the electrode portions 21 and 21 of the component 2 and the component 2 when the component 2 is mounted. Flux part 22a around parts
And indicates. As is clear from FIG. 7, when the component 2 is displaced, the electrode portions 21, 21 of the component 2 protrude to both sides of the position of the component 2 when it is properly mounted, and when the component 2 is properly mounted, The electrodes 21 and 21 are present at positions where they are not present. The electrode color extraction area 40 is an area for extracting a color corresponding to the electrode portion 21, and is located on both sides in the inter-electrode direction of a component mounted in order to determine the displacement of the component 2,
The area is set a little away from both sides and includes an area parallel to both sides.

【0052】フラックス色抽出エリア30は、フラック
ス色を抽出するエリアであり、部品2の有無を判定する
ために、正規に実装された部品の電極間中央部の両側部
を含むエリアになっている。そして、左は、部品2がず
れて実装された場合を示し、フラックスには、部品2の
両側ににじみ出しているにじみ出しフラックス部22
c、22cがあるので、部品2がずれて実装されていて
も、フラックス色抽出エリア30内からは、フラックス
部22c、22cが検出される。
The flux color extraction area 30 is an area for extracting the flux color, and is an area including both side portions of the central portion between the electrodes of the component mounted in order to determine the presence or absence of the component 2. . The left side shows the case where the component 2 is mounted with a shift, and the flux has a bleeding flux portion 22 that oozes out on both sides of the component 2.
Since there are c and 22c, the flux parts 22c and 22c are detected from the inside of the flux color extraction area 30 even if the component 2 is mounted while being displaced.

【0053】次に、図6に基づいて、本実施例の動作を
説明する。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIG.

【0054】図6のステップ#11において、検査エリ
ア20を設定する。
In step # 11 of FIG. 6, the inspection area 20 is set.

【0055】ステップ#12において、フラックス色抽
出エリア30を設定する。
In step # 12, the flux color extraction area 30 is set.

【0056】ステップ#13において、電極色抽出エリ
ア40を設定する。
In step # 13, the electrode color extraction area 40 is set.

【0057】ステップ#14において、フラックス色抽
出エリア30内で、フラックス色を抽出し、予め設定し
てある色抽出閾値1に基づいて2値化する。
In step # 14, the flux color is extracted in the flux color extraction area 30 and binarized based on the preset color extraction threshold value 1.

【0058】ステップ#15において、電極色抽出エリ
ア40内で、電極色を抽出し、予め設定してある色抽出
閾値2に基づいて2値化する。
In step # 15, the electrode color is extracted in the electrode color extraction area 40 and binarized based on the preset color extraction threshold value 2.

【0059】ステップ#16において、2値化されたフ
ラックス色抽出画素の数をカウントする。
In step # 16, the number of binarized flux color extraction pixels is counted.

【0060】ステップ#17において、前記のカウント
されたフラックス色抽出画素の数を、予め設定された画
素数範囲の画素数がある場合は部品有りと判定してステ
ップ#18に進み、ない場合部品無しと判定する。
In step # 17, if the number of the counted flux color extraction pixels is the number of pixels in the preset pixel number range, it is determined that there is a component, and the process proceeds to step # 18. Determined as none.

【0061】ステップ#18において、2値化された電
極色抽出画素の数をカウントする。
In step # 18, the number of binarized electrode color extraction pixels is counted.

【0062】ステップ#19において、前記のカウント
された電極色抽出画素の数を、予め設定された画素数範
囲の画素数がある場合はずれ有りと判定し、ない場合は
ずれ無しと判定する。
In step # 19, it is determined that there is a deviation in the number of counted electrode color extraction pixels when there is a number of pixels in a preset pixel number range, and it is determined that there is no deviation.

【0063】上記の場合、同時に2種類の2値画像が得
られ、同時に2種類の2値画像が処理される。この処理
を図8に示す。図8は、8ビットで構成される1バイト
であり、8ビットの各ビット位置毎に、1種類の2値画
像の有無を1、0で割りつける。例えば、図8に示すよ
うに、第5ビットにフラックスが抽出されている2値画
像の画素の有無を1、0で割りつける。第6ビットに電
極が抽出されている2値画像の画素の有無を1、0で割
りつける。これによって8種類の2値画像の処理を同時
に行える。本実施例では、色抽出手段10でも8種類の
色を同時に抽出できるようにした。
In the above case, two kinds of binary images are obtained at the same time, and two kinds of binary images are processed at the same time. This process is shown in FIG. FIG. 8 is one byte composed of 8 bits, and the presence / absence of one type of binary image is allocated by 1 and 0 for each bit position of 8 bits. For example, as shown in FIG. 8, the presence or absence of a pixel of a binary image in which the flux is extracted at the 5th bit is assigned 1 or 0. The presence or absence of the pixel of the binary image in which the electrode is extracted in the 6th bit is assigned by 1 and 0. As a result, eight kinds of binary images can be processed at the same time. In the present embodiment, the color extracting means 10 can also extract eight types of colors at the same time.

【0064】次に、リフロー後に、電極付チップ部品の
表裏反転を判定する本発明の第4実施例を、図1、図
9、図10に基づいて説明する。
Next, a fourth embodiment of the present invention for determining whether the chip parts with electrodes are turned upside down after reflow will be described with reference to FIGS. 1, 9 and 10.

【0065】図10は、本実施例の裏色抽出エリア50
の設定を示す。
FIG. 10 shows the back color extraction area 50 of this embodiment.
Indicates the setting of.

【0066】図1、図10において、記憶部7の裏色抽
出エリア記憶手段7cが記憶している実装情報に基づい
て、制御部6が、前記検査対象実装回路基板2の3原色
カラー画像データに、各部品の実装状態を検査する検査
エリア20と裏の色を抽出する裏色抽出エリア50とを
設定する。図10の左は、部品2が表裏反転して実装さ
れている表裏反転部品2aの裏色部51と部品2の裏面
の電極21a、21aとを示し、右は、部品2が正規に
実装された場合の、部品2と部品2の電極部21、21
と部品2のボディ色部52とを示す。図10から明らか
なように、部品2が表裏反転した場合には、部品2aの
中央部は裏色部であり、正規に実装された部品2の中央
部はボディ色部52である。従って、裏色抽出エリア5
0は、部品2の裏面の色、即ち、白色を抽出するエリア
で、部品2の中央部に設定される。
1 and 10, based on the mounting information stored in the back color extraction area storage means 7c of the storage unit 7, the control unit 6 controls the three primary color image data of the inspection target mounting circuit board 2 to be used. In addition, an inspection area 20 for inspecting the mounting state of each component and a back color extraction area 50 for extracting the back color are set. The left side of FIG. 10 shows the back color part 51 of the front / back inverted component 2a and the electrodes 21a, 21a on the back side of the component 2 in which the component 2 is mounted by flipping the component 2 upside down, and the right side shows that the component 2 is properly mounted. In the case of the component 2, the electrode parts 21 and 21 of the component 2
And the body color portion 52 of the component 2. As is clear from FIG. 10, when the component 2 is turned upside down, the central portion of the component 2a is the back color portion, and the central portion of the properly mounted component 2 is the body color portion 52. Therefore, the back color extraction area 5
0 is an area for extracting the color of the back surface of the component 2, that is, white, and is set in the central portion of the component 2.

【0067】次に、図9に基づいて、本実施例の動作を
説明する。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIG.

【0068】図9のステップ#20において、検査エリ
ア20を設定する。
In step # 20 of FIG. 9, the inspection area 20 is set.

【0069】ステップ#21において、裏色抽出エリア
50を設定する。
In step # 21, the back color extraction area 50 is set.

【0070】ステップ#22において、裏色抽出エリア
50内で、白色成分色を抽出し、予め設定してある色抽
出閾値に基づいて2値化する。
In step # 22, the white component color is extracted in the back color extraction area 50 and binarized based on a preset color extraction threshold value.

【0071】ステップ#23において、2値化された白
色抽出画素の数をカウントする。
In step # 23, the number of binarized white extracted pixels is counted.

【0072】ステップ#24において、前記のカウント
された白色抽出画素の数が、予め設定された画素数以上
であれば表裏反転と判定し、未満の場合は正規と判定す
る。
In step # 24, if the number of counted white extracted pixels is equal to or more than the preset number of pixels, it is determined that the front and back are reversed, and if it is less than that, it is determined that it is normal.

【0073】[0073]

【発明の効果】本願第1、第4発明の実装部品検査方法
とその装置は、3原色カラー画像データからフラックス
色を抽出するフラックス色抽出エリアを、正規に実装さ
れた部品の電極間中央部の両脇に流れ出たフラックス部
を含むエリアに設定することにより、カラー画像処理技
術を利用して、実装回路基板の部品の有無を、チップ部
品のボディ色に関係無く、高精度、高速、高信頼性、低
コストで検査できるという効果を奏する。
According to the mounting component inspection method and apparatus of the first and fourth inventions of the present application, the flux color extraction area for extracting the flux color from the three primary color image data is provided in the central portion between the electrodes of the components which are normally mounted. By setting the area including the flux flowing out on both sides of the board, the color image processing technology can be used to determine the presence / absence of parts on the mounting circuit board, regardless of the body color of the chip parts. It has an effect that inspection can be performed with reliability and low cost.

【0074】本願第2、第5発明の実装部品検査方法と
その装置は、3原色カラー画像データから電極色を抽出
する電極色抽出エリアを、正規に実装された部品の電極
間方向の両脇にあり、この両脇から少し離れ、且つ、こ
の両脇に並行な部分を含むエリアに設定することによ
り、カラー画像処理技術を利用して、部品の実装ずれの
有無を、チップ部品のボディ色に関係無く、高精度、高
速、高信頼性、低コストで検査できるという効果を奏す
る。
In the mounting component inspection method and the apparatus thereof according to the second and fifth inventions of the present application, the electrode color extraction areas for extracting the electrode colors from the three primary color image data are provided on both sides in the inter-electrode direction of the components which are normally mounted. The color image processing technology is used to determine the presence or absence of component mounting misalignment by setting the area slightly apart from both sides and including parallel parts on both sides. Irrespective of the above, there is an effect that inspection can be performed with high accuracy, high speed, high reliability, and low cost.

【0075】本願第3、第6発明の実装部品検査方法と
その装置は、3原色カラー画像データから部品の裏の色
を抽出する裏色抽出エリアを、正規に実装された部品の
電極間中央部を含むエリアに設定することにより、カラ
ー画像処理技術を利用して、部品の表裏反転実装の有無
を、チップ部品の裏の色に関係無く、高精度、高速、高
信頼性、低コストで検査できるという効果を奏する。
In the mounting component inspection method and the apparatus thereof according to the third and sixth inventions of the present application, the back color extraction area for extracting the back color of the component from the three primary color image data is provided at the center between the electrodes of the components which are normally mounted. By setting the area including the parts, it is possible to use the color image processing technology to determine whether or not the parts are mounted upside down with high accuracy, high speed, high reliability, and low cost regardless of the color of the backside of the chip part. It has the effect of being able to inspect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実装部品検査方法を使用する実装部品
検査装置の第1〜第4実施例に共通の構成を示すブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration common to first to fourth embodiments of a mounted component inspection device using a mounted component inspection method of the present invention.

【図2】本発明の実装部品検査方法の第1実施例を示す
フローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing a first embodiment of the mounted component inspection method of the present invention.

【図3】本発明の実装部品検査方法の第1実施例で使用
するフラックス色抽出エリアを示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a flux color extraction area used in the first embodiment of the mounting component inspection method of the present invention.

【図4】本発明の実装部品検査方法の第2実施例を示す
フローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing a second embodiment of the mounted component inspection method of the present invention.

【図5】本発明の実装部品検査方法の第2実施例で使用
する電極色抽出エリアを示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an electrode color extraction area used in a second embodiment of the mounted component inspection method of the present invention.

【図6】本発明の実装部品検査方法の第3実施例を示す
フローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart showing a third embodiment of the mounted component inspection method of the present invention.

【図7】本発明の実装部品検査方法の第3実施例で使用
するフラックス色抽出エリアと電極色抽出エリアとを示
す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a flux color extraction area and an electrode color extraction area used in a third embodiment of the mounted component inspection method of the present invention.

【図8】本発明の実装部品検査方法の第3実施例で使用
する2値画像のビット割り付けを示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing bit allocation of a binary image used in the third embodiment of the mounted component inspection method of the present invention.

【図9】本発明の実装部品検査方法の第4実施例を示す
フローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing a fourth embodiment of the mounted component inspection method of the present invention.

【図10】本発明の実装部品検査方法の第4実施例で使
用する裏色抽出エリアを示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a back color extraction area used in a fourth embodiment of the mounting component inspection method of the present invention.

【図11】実装部品検査装置の従来例の構成を示すブロ
ック図である。
FIG. 11 is a block diagram showing a configuration of a conventional example of a mounted component inspection device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回路基板 2 部品 2a 表裏反転部品 4 カラーCCDカメラ 5 認識判定部 6 制御部 7 記憶手段 7a フラックス色抽出エリア記憶手段 7b 電極色抽出エリア記憶手段 7c 裏色抽出エリア記憶手段 8 カラー画像処理部 9 色座標変換手段 10 色抽出手段 20 検査エリア 21 電極部 22a 部品周囲のフラックス部 22b 半田周囲のフラックス部 22c にじみ出しフラックス部 23 ランド上の半田 30 フラックス色抽出エリア 40 電極色抽出エリア 50 裏色抽出エリア 1 circuit board 2 parts 2a Reversed parts 4 color CCD camera 5 Recognition judgment section 6 control unit 7 storage means 7a Flux color extraction area storage means 7b Electrode color extraction area storage means 7c Back color extraction area storage means 8 Color image processing unit 9-color coordinate conversion means 10 color extraction means 20 inspection areas 21 Electrode part 22a Flux part around parts 22b Flux part around solder 22c Bleeding flux part 23 Solder on land 30 Flux color extraction area 40 electrode color extraction area 50 Back color extraction area

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 王生 和宏 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−41578(JP,A) 特開 平6−45799(JP,A) 特開 平2−138804(JP,A) 特開 平2−21208(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 13/08 H05K 13/04 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Kazuhiro Wang, 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (56) Reference JP-A-2-41578 (JP, A) JP-A-6 -45799 (JP, A) JP-A-2-138804 (JP, A) JP-A-2-21208 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H05K 13/08 H05K 13/04

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 検査対象実装回路基板をカラー撮像し、
そのカラー映像信号をA/D変換して前記検査対象実装
回路基板の3原色カラー画像データとし、前記3原色カ
ラー画像データからフラックス色を抽出するフラックス
色抽出エリアを、正規に実装された部品の電極間中央部
の両脇に流れ出たフラックス部を含むエリアに設定し、
色抽出手段が、前記フラックス色抽出エリア内から、フ
ラックス色の色成分を有する画素を抽出し、認識判定部
が、前記の抽出画素数をカウントし、カウントされた画
素数の過少から部品無しを検出することを特徴とする実
装部品検査方法。
1. A color image of a mounting circuit board to be inspected is picked up,
The color video signal is A / D converted into three primary color image data of the mounting circuit board to be inspected, and a flux color extraction area for extracting a flux color from the three primary color image data is provided for a normally mounted component. Set it in the area including the flux that has flowed out to both sides of the central part between the electrodes,
The color extraction means extracts pixels having a color component of the flux color from within the flux color extraction area, and the recognition determination unit counts the number of extracted pixels, and determines that there is no part from the excessive number of counted pixels. A method for inspecting mounted parts, which is characterized by detecting.
【請求項2】 検査対象実装回路基板をカラー撮像し、
そのカラー映像信号をA/D変換して前記検査対象実装
回路基板の3原色カラー画像データとし、前記3原色カ
ラー画像データから電極色を抽出する電極色抽出エリア
を、正規に実装された部品の電極間方向の両脇にあり、
この両脇から少し離れ、且つ、この両脇に平行な部分を
含むエリアに設定し、色抽出手段が、前記電極色抽出エ
リア内から、電極色の色成分を有する画素を抽出し、認
識判定部が、前記の抽出画素数をカウントし、カウント
された画素数の過多から部品のずれを判定することを特
徴とする実装部品検査方法。
2. A color image of a mounting circuit board to be inspected is picked up,
The color video signal is A / D converted into the three primary color image data of the inspection target mounted circuit board, and the electrode color extraction area for extracting the electrode color from the three primary color image data is provided for the normally mounted component. Located on both sides in the direction between the electrodes,
The color extraction means extracts a pixel having a color component of the electrode color from the electrode color extraction area by setting the area slightly apart from the both sides and including a portion parallel to the both sides, and the recognition determination is performed. A mounting component inspection method, wherein the unit counts the number of extracted pixels, and determines a component deviation from the excessive number of counted pixels.
【請求項3】 検査対象実装回路基板をカラー撮像し、
そのカラー映像信号をA/D変換して前記検査対象実装
回路基板の3原色カラー画像データとし、前記3原色カ
ラー画像データから部品の裏の色を抽出する裏色抽出エ
リアを、正規に実装された部品の電極間中央部を含むエ
リアに設定し、色抽出手段が、前記裏色抽出エリア内か
ら、部品の裏の色の色成分を有する画素を抽出し、認識
判定部が、前記の抽出画素数をカウントし、カウントさ
れた画素数の過多から部品の表裏反転を検出することを
特徴とする実装部品検査方法。
3. A color image of the mounting circuit board to be inspected is picked up,
The color video signal is A / D converted into the three primary color image data of the mounting circuit board to be inspected, and the back color extraction area for extracting the back color of the component from the three primary color image data is normally mounted. Set in an area including the central part between the electrodes of the component, the color extraction means extracts pixels having a color component of the color of the back side of the component from the back color extraction area, and the recognition determination unit performs the extraction. A method for inspecting a mounted component, which comprises counting the number of pixels and detecting whether the component is turned upside down from the excessive number of counted pixels.
【請求項4】 検査対象実装回路基板をカラー撮像する
カラー画像撮像手段と、そのカラー映像信号をA/D変
換して前記検査対象実装回路基板の3原色カラー画像デ
ータとするカラー画像処理部と、正規に実装された部品
の電極間中央部の両脇に流れ出たフラックス部を含むエ
リアを、前記3原色カラー画像データからフラックス色
を抽出するフラックス色抽出エリアに指定する指令を記
憶するフラックス色抽出エリア記憶手段と、前記フラッ
クス色抽出エリア内から、フラックス色の色成分を有す
る画素を抽出する色抽出手段と、前記の抽出画素数をカ
ウントし、カウントされた画素数の過少から部品無しを
検出する認識判定部とを有することを特徴とする実装部
品検査装置。
4. A color image pickup means for picking up a color image of a mounting target circuit board to be inspected, and a color image processing section for A / D converting the color video signal into three primary color image data of the mounting circuit board to be inspected. , A flux color that stores a command to specify an area including a flux portion that flows out on both sides of the central portion between the electrodes of a normally mounted component as a flux color extraction area that extracts a flux color from the three primary color image data Extraction area storage means, color extraction means for extracting pixels having a color component of a flux color from within the flux color extraction area, and the number of extracted pixels is counted. A mounted component inspection device, comprising: a recognition determination unit for detecting.
【請求項5】 検査対象実装回路基板をカラー撮像する
カラー画像撮像手段と、そのカラー映像信号をA/D変
換して前記検査対象実装回路基板の3原色カラー画像デ
ータとするカラー画像処理部と、正規に実装された部品
の電極間方向の両脇にあり、この両脇から少し離れ、且
つ、この両脇に平行な部分を含むエリアを、前記3原色
カラー画像データから電極色を抽出する電極色抽出エリ
アに指定する指令を記憶する電極色抽出エリア記憶手段
と、前記電極色抽出エリア内から、電極色の色成分を有
する画素を抽出する色抽出手段と、前記の抽出画素数を
カウントし、カウントされた画素数の過多から部品のず
れを判定する認識判定部とを有することを特徴とする実
装部品検査装置。
5. A color image pickup means for picking up a color image of a mounting target circuit board to be inspected, and a color image processing section for A / D converting the color video signal into three primary color image data of the mounting target circuit board to be inspected. , Electrode areas are extracted from the three primary color image data in areas that are on both sides in the inter-electrode direction of the regularly mounted component, and are slightly apart from the both sides and that include a part parallel to the both sides. Electrode color extraction area storage means for storing a command to specify in the electrode color extraction area, color extraction means for extracting pixels having a color component of the electrode color from within the electrode color extraction area, and counting the number of extracted pixels Then, the mounted component inspection device is provided with a recognition determination unit that determines a displacement of the component based on an excessive number of counted pixels.
【請求項6】 検査対象実装回路基板をカラー撮像する
カラー画像撮像手段と、そのカラー映像信号をA/D変
換して前記検査対象実装回路基板の3原色カラー画像デ
ータとするカラー画像処理部と、正規に実装された部品
の電極間中央部を含むエリアを、前記3原色カラー画像
データから部品の裏の色を抽出する裏色抽出エリアに指
定する指令を記憶する裏色抽出エリア記憶手段と、前記
裏色抽出エリア内から、部品の裏の色の色成分を有する
画素を抽出する色抽出手段と、前記の抽出画素数をカウ
ントし、カウントされた画素数の過多から部品の表裏反
転を検出する認識判定部とを有することを特徴とする実
装部品検査装置。
6. A color image pickup means for picking up a color image of a mounting target circuit board to be inspected, and a color image processing section for A / D converting the color video signal into three primary color image data of the mounting circuit board to be inspected. A back color extraction area storage means for storing a command for designating an area including a central portion between the electrodes of the component which is normally mounted as a back color extraction area for extracting the back color of the component from the three primary color image data. A color extracting means for extracting pixels having a color component of the back color of the component from the inside of the back color extraction area, counting the number of extracted pixels, and reversing the front and back of the component from the excessive number of counted pixels. A mounted component inspection device, comprising: a recognition determination unit for detecting.
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