JP3395346B2 - フィレ座標生成方法およびその装置 - Google Patents
フィレ座標生成方法およびその装置Info
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- JP3395346B2 JP3395346B2 JP09152094A JP9152094A JP3395346B2 JP 3395346 B2 JP3395346 B2 JP 3395346B2 JP 09152094 A JP09152094 A JP 09152094A JP 9152094 A JP9152094 A JP 9152094A JP 3395346 B2 JP3395346 B2 JP 3395346B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像データをラスタス
キャンすることにより画像中の検出対象領域毎にフィレ
座標を生成するフィレ座標生成方法およびその装置に関
するものである。
キャンすることにより画像中の検出対象領域毎にフィレ
座標を生成するフィレ座標生成方法およびその装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の外接長方形を生成する方法を図５
〜図８を用いて説明する。図５は従来のフィレ座標生成
装置の要部を示すブロック図、図６は従来のフィレ座標
生成装置がフィレ座標を生成する手順を示すフローチャ
ートである。図７は従来のフィレ座標生成装置がフィレ
座標を生成する手順を説明するイメージ図であり、図７
（ａ）は仮ラベリングのイメージを示し、図７（ｂ）は
本ラベリングの完了したイメージを示し、図７（ｃ）は
フィレ座標の生成を示すイメージ図である。図８は仮ラ
ベリングから本ラベリングに変換するためのテーブルを
示す説明図であり、図８（ａ）は接続テーブル、図８
（ｂ）はラベル変換テーブルである。
〜図８を用いて説明する。図５は従来のフィレ座標生成
装置の要部を示すブロック図、図６は従来のフィレ座標
生成装置がフィレ座標を生成する手順を示すフローチャ
ートである。図７は従来のフィレ座標生成装置がフィレ
座標を生成する手順を説明するイメージ図であり、図７
（ａ）は仮ラベリングのイメージを示し、図７（ｂ）は
本ラベリングの完了したイメージを示し、図７（ｃ）は
フィレ座標の生成を示すイメージ図である。図８は仮ラ
ベリングから本ラベリングに変換するためのテーブルを
示す説明図であり、図８（ａ）は接続テーブル、図８
（ｂ）はラベル変換テーブルである。
【０００３】図５に示すように、フィレ座標生成装置
は、撮像カメラ１と、検出対象抽出部２と、フィレ座標
生成部３とを備えている。撮像カメラ１は、検知領域を
撮像して監視画像の映像信号を出力する。検出対象抽出
部２は、撮像カメラ１の出力する監視画像と検出対象物
の写っていない背景画像との差分をとった差分画像を出
力する。フィレ座標生成部３は、検出対象抽出部２の出
力する差分画像を所定の閾値で二値化処理して二値化処
理画像を生成すると共に、該二値化処理画像から検出対
象領域毎に外接長方形を表すフィレ座標を生成する。
は、撮像カメラ１と、検出対象抽出部２と、フィレ座標
生成部３とを備えている。撮像カメラ１は、検知領域を
撮像して監視画像の映像信号を出力する。検出対象抽出
部２は、撮像カメラ１の出力する監視画像と検出対象物
の写っていない背景画像との差分をとった差分画像を出
力する。フィレ座標生成部３は、検出対象抽出部２の出
力する差分画像を所定の閾値で二値化処理して二値化処
理画像を生成すると共に、該二値化処理画像から検出対
象領域毎に外接長方形を表すフィレ座標を生成する。
【０００４】検出対象抽出部２は、Ａ／Ｄ変換手段２０
と、ＶＲＡＭ２１と、差分手段２２とを備えている。Ａ
／Ｄ変換手段２０は、撮像カメラ１の出力する映像信号
から、撮像画像の各画素毎の明暗レベルをデジタル値に
変換して出力する。ＶＲＡＭ２１は、検知領域に検出対
象物のいないときに撮像した、検出対象物の写っていな
い背景画像の各画素毎の明暗レベルのデジタル値を記憶
している。差分手段２２は、撮像カメラ１の撮像して出
力する監視画像の明暗レベルと、ＶＲＡＭ２１の記憶し
ている背景画像の明暗レベルとの、対応する画素毎の差
分値を求めて出力する。
と、ＶＲＡＭ２１と、差分手段２２とを備えている。Ａ
／Ｄ変換手段２０は、撮像カメラ１の出力する映像信号
から、撮像画像の各画素毎の明暗レベルをデジタル値に
変換して出力する。ＶＲＡＭ２１は、検知領域に検出対
象物のいないときに撮像した、検出対象物の写っていな
い背景画像の各画素毎の明暗レベルのデジタル値を記憶
している。差分手段２２は、撮像カメラ１の撮像して出
力する監視画像の明暗レベルと、ＶＲＡＭ２１の記憶し
ている背景画像の明暗レベルとの、対応する画素毎の差
分値を求めて出力する。
【０００５】フィレ座標生成部３は、ＲＡＭ３０と、中
央処理装置３１と、ＶＲＡＭ３２，３３と、ラベリング
手段３４とを備えている。ＶＲＡＭ３２は、前記差分画
像の各画素を所定の閾値で二値化処理した二値化データ
を記憶するための記憶部である。ＶＲＡＭ３３は、ラベ
リング手段３４がＶＲＡＭ３２に格納している二値化デ
ータに基づいて二値化処理画像の中の連続する検出対象
領域毎（塊毎）に異なるラベルを付すラベリング処理を
行う場合に、中間的に必要となる仮ラベリングの結果を
格納する記憶部である。ＲＡＭ３０は、ラベリング手段
３４が仮ラベリングを行うときに、本ラベリングのため
の準備として仮ラベルと仮ラベルとの関係を記憶する接
続テーブル（図８（ａ）に示す）やラベル変換テーブル
（図８（ｂ）に示す）やフィレ座標テーブル（図示せ
ず）などを格納する。
央処理装置３１と、ＶＲＡＭ３２，３３と、ラベリング
手段３４とを備えている。ＶＲＡＭ３２は、前記差分画
像の各画素を所定の閾値で二値化処理した二値化データ
を記憶するための記憶部である。ＶＲＡＭ３３は、ラベ
リング手段３４がＶＲＡＭ３２に格納している二値化デ
ータに基づいて二値化処理画像の中の連続する検出対象
領域毎（塊毎）に異なるラベルを付すラベリング処理を
行う場合に、中間的に必要となる仮ラベリングの結果を
格納する記憶部である。ＲＡＭ３０は、ラベリング手段
３４が仮ラベリングを行うときに、本ラベリングのため
の準備として仮ラベルと仮ラベルとの関係を記憶する接
続テーブル（図８（ａ）に示す）やラベル変換テーブル
（図８（ｂ）に示す）やフィレ座標テーブル（図示せ
ず）などを格納する。
【０００６】次に、図５に示すフィレ座標生成装置の動
作を図６のフローチャートを用いて説明する。図５に示
すフィレ座標生成装置にあっては、撮像カメラ１により
通常の濃淡画像が監視画像として撮像され、検出対象抽
出部２に入力される（ステップＳ１０）。検出対象抽出
部２は、撮像カメラ１の出力する監視画像と検出対象物
の写っていない背景画像との差分をとった差分画像を出
力する（ステップＳ１１）。
作を図６のフローチャートを用いて説明する。図５に示
すフィレ座標生成装置にあっては、撮像カメラ１により
通常の濃淡画像が監視画像として撮像され、検出対象抽
出部２に入力される（ステップＳ１０）。検出対象抽出
部２は、撮像カメラ１の出力する監視画像と検出対象物
の写っていない背景画像との差分をとった差分画像を出
力する（ステップＳ１１）。
【０００７】差分演算は、監視画像データをＤ(I) 、Ｖ
ＲＡＭ２１の中の対応する背景画像データをＢ(I) 、差
分結果をＣ(I) とすると、（１）式のように表すことが
できる。
ＲＡＭ２１の中の対応する背景画像データをＢ(I) 、差
分結果をＣ(I) とすると、（１）式のように表すことが
できる。
【０００８】
Ｃ(I) ＝｜Ｄ(I) −Ｂ(I) ｜ …………………………………………（１）
差分結果Ｃ(I) は、検出対象抽出部２から出力され、フ
ィレ座標生成部３へ入力される。入力された差分結果Ｃ
(I) は、所定の閾値Ｔによって二値化処理が成される。
すなわち、二値化処理後の結果をＯ(I) とすると、差分
結果Ｃ(I) と閾値Ｔと二値化処理後の結果Ｏ(I) との間
には下記の（２）式のような関係付けが行われ、該結果
Ｏ(I) はＶＲＡＭ３２に格納される。
ィレ座標生成部３へ入力される。入力された差分結果Ｃ
(I) は、所定の閾値Ｔによって二値化処理が成される。
すなわち、二値化処理後の結果をＯ(I) とすると、差分
結果Ｃ(I) と閾値Ｔと二値化処理後の結果Ｏ(I) との間
には下記の（２）式のような関係付けが行われ、該結果
Ｏ(I) はＶＲＡＭ３２に格納される。
【０００９】
Ｃ(I) ≧ＴのときＯ(I) ＝１、Ｃ(I) ＜ＴのときＯ(I) ＝０ ……（２）
ここまでの処理により、監視画像と背景画像との間の明
暗レベルの変化のあったところの二値化処理画像、すな
わち、監視画像中にのみ存在する物体の領域をＯ(I) ＝
１の画素とした二値化処理画像が抽出できる。次に、Ｏ
(I) ＝１の領域を塊毎に分類するために、Ｏ(I) ＝１の
画素のうち隣接している画素には同じラベルを与えるラ
ベリング処理を行う。
暗レベルの変化のあったところの二値化処理画像、すな
わち、監視画像中にのみ存在する物体の領域をＯ(I) ＝
１の画素とした二値化処理画像が抽出できる。次に、Ｏ
(I) ＝１の領域を塊毎に分類するために、Ｏ(I) ＝１の
画素のうち隣接している画素には同じラベルを与えるラ
ベリング処理を行う。
【００１０】ラベリング処理については図７を用いて説
明する。二値化処理画像に対して左上から右下にかけて
水平走査を行う要領でラスタスキャンを行いながら、各
ライン毎に水平方向の接続関係を調べて、Ｏ(I) ＝１の
画素が隣接していれば同じラベルを、Ｏ(I) ＝１の画素
が隣接していなければ新しいラベルを付けていく。ま
た、１ライン分のデータをバッファリングすることによ
り二値化処理画像での垂直方向の接続関係を調べて、Ｏ
(I) ＝１の画素が隣接していれば同じラベルを付ける
（ステップＳ１２）。隣接の定義は通常４近傍と８近傍
とがあるが、ここでは８近傍が採用されており、垂直方
向の接続関係を調べるときにＯ(I) ＝１の画素の真上の
画素のみでなく、真上の画素の両隣の画素についても調
べる。
明する。二値化処理画像に対して左上から右下にかけて
水平走査を行う要領でラスタスキャンを行いながら、各
ライン毎に水平方向の接続関係を調べて、Ｏ(I) ＝１の
画素が隣接していれば同じラベルを、Ｏ(I) ＝１の画素
が隣接していなければ新しいラベルを付けていく。ま
た、１ライン分のデータをバッファリングすることによ
り二値化処理画像での垂直方向の接続関係を調べて、Ｏ
(I) ＝１の画素が隣接していれば同じラベルを付ける
（ステップＳ１２）。隣接の定義は通常４近傍と８近傍
とがあるが、ここでは８近傍が採用されており、垂直方
向の接続関係を調べるときにＯ(I) ＝１の画素の真上の
画素のみでなく、真上の画素の両隣の画素についても調
べる。
【００１１】図７（ａ）のＡ点にあっては、垂直方向の
接続関係でラベル１に接続しているのでラベル１を付け
る。一方、図７（ａ）のＢ点にあっては、左隣にはＯ
(I) ＝１の画素（ラベルを持った画素）が無いと共に真
上および真上の画素の両隣にもＯ(I) ＝１の画素（ラベ
ルを持った画素）が無いので、新規にラベル３を割り当
てる。図７（ａ）のＣ点にあっては、垂直方向の接続関
係よりも水平方向の接続関係を優先して、ラベル３にラ
ベリングするが、垂直方向の接続関係によりラベル２と
ラベル３とは接続関係にあるので、図８（ａ）のような
接続テーブルをＲＡＭ３０に生成する（ステップＳ１
３）。
接続関係でラベル１に接続しているのでラベル１を付け
る。一方、図７（ａ）のＢ点にあっては、左隣にはＯ
(I) ＝１の画素（ラベルを持った画素）が無いと共に真
上および真上の画素の両隣にもＯ(I) ＝１の画素（ラベ
ルを持った画素）が無いので、新規にラベル３を割り当
てる。図７（ａ）のＣ点にあっては、垂直方向の接続関
係よりも水平方向の接続関係を優先して、ラベル３にラ
ベリングするが、垂直方向の接続関係によりラベル２と
ラベル３とは接続関係にあるので、図８（ａ）のような
接続テーブルをＲＡＭ３０に生成する（ステップＳ１
３）。
【００１２】そして、順次上述のような仮ラベリングを
全画素に対して行い、図８（ａ）に示すような接続テー
ブルをＲＡＭ３０に完成すると共に、最終的に図８
（ｂ）に示すようなラベル変換テーブルをＲＡＭ３０に
生成する（ステップＳ１４）。また、仮ラベリングの結
果はＶＲＡＭ３３に書き込まれる。
全画素に対して行い、図８（ａ）に示すような接続テー
ブルをＲＡＭ３０に完成すると共に、最終的に図８
（ｂ）に示すようなラベル変換テーブルをＲＡＭ３０に
生成する（ステップＳ１４）。また、仮ラベリングの結
果はＶＲＡＭ３３に書き込まれる。
【００１３】次に中央処理装置３１は、ＶＲＡＭ３３か
ら仮ラベリングの結果を読み出し、図８（ｂ）のような
ラベル変換テーブルに従ったラベル変換（本ラベリン
グ）を行って、再びＶＲＡＭ３３に書き込む（ステップ
Ｓ１５）。ＶＲＡＭ３３に書き込まれた本ラベリングの
結果は、図７（ｂ）のように成っている。中央処理装置
３１は、この本ラベリングの結果を利用して、監視画像
中にのみ存在する物体の領域であるＯ(I) ＝１の各検出
対象領域毎のフィレ座標（外接長方形）を求める（ステ
ップＳ１６）。
ら仮ラベリングの結果を読み出し、図８（ｂ）のような
ラベル変換テーブルに従ったラベル変換（本ラベリン
グ）を行って、再びＶＲＡＭ３３に書き込む（ステップ
Ｓ１５）。ＶＲＡＭ３３に書き込まれた本ラベリングの
結果は、図７（ｂ）のように成っている。中央処理装置
３１は、この本ラベリングの結果を利用して、監視画像
中にのみ存在する物体の領域であるＯ(I) ＝１の各検出
対象領域毎のフィレ座標（外接長方形）を求める（ステ
ップＳ１６）。
【００１４】フィレ座標生成部３の中央処理装置３１
は、次のようにしてＲＡＭ３０にフィレ座標テーブルを
生成する。すなわち、中央処理装置３１は、本ラベリン
グの結果を格納したＶＲＡＭ３３をラスタスキャンす
る。中央処理装置３１は、例えばラベル[L] の付けられ
た画素Ｌに遭遇（アクセス）すると、該画素Ｌの座標
｛X(L),Y(L) ｝とＲＡＭ３０のフィレ座標テーブルに記
憶されているラベル[L] のフィレ座標[Xmin (L), Xmax
(L), Ymin (L), Ymax (L)]とを比較して、「X(L)＜ X
min (L) ならば Xmin (L) をX(L)に更新」するし、「X
(L)＞ Xmax (L) ならば X max (L) をX(L)に更新」する
し、「Y(L)＜ Ymin (L) ならば Ymin (L) をY(L)に更
新」するし、「Y(L)＞ Ymax (L) ならば Ymax (L) をY
(L)に更新」する。また、中央処理装置３１は、例えば
ラベル[L] の付けられた画素Ｌに遭遇（アクセス）した
ものの、ＲＡＭ３０のフィレ座標テーブルにラベル[L]
のフィレ座標[Xmi n (L), Xmax (L), Ymin (L), Y
max (L)]が存在していなければ、ＲＡＭ３０のフィレ座
標テーブルにラベル[L] のフィレ座標[Xmin (L), Xmax
(L), Ymin (L), Y max (L)]を生成する。
は、次のようにしてＲＡＭ３０にフィレ座標テーブルを
生成する。すなわち、中央処理装置３１は、本ラベリン
グの結果を格納したＶＲＡＭ３３をラスタスキャンす
る。中央処理装置３１は、例えばラベル[L] の付けられ
た画素Ｌに遭遇（アクセス）すると、該画素Ｌの座標
｛X(L),Y(L) ｝とＲＡＭ３０のフィレ座標テーブルに記
憶されているラベル[L] のフィレ座標[Xmin (L), Xmax
(L), Ymin (L), Ymax (L)]とを比較して、「X(L)＜ X
min (L) ならば Xmin (L) をX(L)に更新」するし、「X
(L)＞ Xmax (L) ならば X max (L) をX(L)に更新」する
し、「Y(L)＜ Ymin (L) ならば Ymin (L) をY(L)に更
新」するし、「Y(L)＞ Ymax (L) ならば Ymax (L) をY
(L)に更新」する。また、中央処理装置３１は、例えば
ラベル[L] の付けられた画素Ｌに遭遇（アクセス）した
ものの、ＲＡＭ３０のフィレ座標テーブルにラベル[L]
のフィレ座標[Xmi n (L), Xmax (L), Ymin (L), Y
max (L)]が存在していなければ、ＲＡＭ３０のフィレ座
標テーブルにラベル[L] のフィレ座標[Xmin (L), Xmax
(L), Ymin (L), Y max (L)]を生成する。
【００１５】上述のフィレ座標の生成過程を図７（ｃ）
を用いて説明する。図７（ｃ）の図中の画素Ａまではラ
ベルを持つ画素がないので、画素Ａは最初のラベル付き
の画素である。従って、フィレ座標生成部３の中央処理
装置３１は、画素Ａの座標｛X(A),Y(A) ｝に基づいて、
ラベル[1] のフィレ座標[Xmin (1)=X(A),Xmax (1)=X
(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] を新規にＲＡＭ３
０に登録する。次に、中央処理装置３１は、ラベル[1]
の画素A'に遭遇（アクセス）すると、既にラベル[1] の
フィレ座標がＲＡＭ３０に存在しているので、画素A'の
座標｛X(A'),Y(A')｝とＲＡＭ３０のフィレ座標テーブ
ルに記憶されているラベル[1] のフィレ座標[Xmin (1)=
X(A),Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] と
を比較する。すると、図７（ｃ）の場合にあっては、X
(A') ＜ Xmin (1) 、Y(A') ＞ Ymax (1) であるから、
ＲＡＭ３０のフィレ座標テーブルに記憶されているラベ
ル[1] のフィレ座標[Xmin (1)=X(A),Xmax (1)=X(A),Y
min (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] を、フィレ座標[X
min (1)=X(A'), Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Y
max (1)=Y(A')]に更新する。
を用いて説明する。図７（ｃ）の図中の画素Ａまではラ
ベルを持つ画素がないので、画素Ａは最初のラベル付き
の画素である。従って、フィレ座標生成部３の中央処理
装置３１は、画素Ａの座標｛X(A),Y(A) ｝に基づいて、
ラベル[1] のフィレ座標[Xmin (1)=X(A),Xmax (1)=X
(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] を新規にＲＡＭ３
０に登録する。次に、中央処理装置３１は、ラベル[1]
の画素A'に遭遇（アクセス）すると、既にラベル[1] の
フィレ座標がＲＡＭ３０に存在しているので、画素A'の
座標｛X(A'),Y(A')｝とＲＡＭ３０のフィレ座標テーブ
ルに記憶されているラベル[1] のフィレ座標[Xmin (1)=
X(A),Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] と
を比較する。すると、図７（ｃ）の場合にあっては、X
(A') ＜ Xmin (1) 、Y(A') ＞ Ymax (1) であるから、
ＲＡＭ３０のフィレ座標テーブルに記憶されているラベ
ル[1] のフィレ座標[Xmin (1)=X(A),Xmax (1)=X(A),Y
min (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] を、フィレ座標[X
min (1)=X(A'), Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Y
max (1)=Y(A')]に更新する。
【００１６】以下同様の処理を実行することで、図７
（ｃ）の場合にあっては、最終的にラベル[1] とラベル
[2] とラベル[3] との３個のフィレ座標が生成され、ラ
ベル[1] の最終的なフィレ座標は[Xmin (1)=X(D),Xmax
(1)=X(B),Ymin (1)=Y(A),Ymax(1)=Y(G)] 、ラベル[2]
の最終的なフィレ座標は[Xmin (2)=X(E),Xmax (2)=X
(F),Ymin (2)=Y(C),Ymax (2)=Y(K)] 、ラベル[3] の最
終的なフィレ座標は[Xmin (3)=X(H),Xmax (3)=X(I),Y
min (3)=Y(H),Ymax (3)=Y(J)] に成る。
（ｃ）の場合にあっては、最終的にラベル[1] とラベル
[2] とラベル[3] との３個のフィレ座標が生成され、ラ
ベル[1] の最終的なフィレ座標は[Xmin (1)=X(D),Xmax
(1)=X(B),Ymin (1)=Y(A),Ymax(1)=Y(G)] 、ラベル[2]
の最終的なフィレ座標は[Xmin (2)=X(E),Xmax (2)=X
(F),Ymin (2)=Y(C),Ymax (2)=Y(K)] 、ラベル[3] の最
終的なフィレ座標は[Xmin (3)=X(H),Xmax (3)=X(I),Y
min (3)=Y(H),Ymax (3)=Y(J)] に成る。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ように、ラベリング画像を生成してからフィレ座標を得
る方法では、少なくとも仮ラベリング画像を一時的に記
憶するための画像メモリ（ＶＲＡＭ３３）が必要である
からハードウェア構成が大きくなってしまうと共に、フ
ィレ座標を得るために必要なラスタスキャンの回数とし
ては、仮ラベリング処理時に１回と、本ラベリング処理
兼フィレ座標算出に１回とで、合計２回のラスタスキャ
ンが必要であるから、フィレ座標を生成するまでの処理
時間に多くの時間を要してしまうと言う問題点があっ
た。
ように、ラベリング画像を生成してからフィレ座標を得
る方法では、少なくとも仮ラベリング画像を一時的に記
憶するための画像メモリ（ＶＲＡＭ３３）が必要である
からハードウェア構成が大きくなってしまうと共に、フ
ィレ座標を得るために必要なラスタスキャンの回数とし
ては、仮ラベリング処理時に１回と、本ラベリング処理
兼フィレ座標算出に１回とで、合計２回のラスタスキャ
ンが必要であるから、フィレ座標を生成するまでの処理
時間に多くの時間を要してしまうと言う問題点があっ
た。
【００１８】本発明は、上記の問題点を解決するために
成されたもので、その目的とするところは、ハードウェ
ア構成を小さくすると共にフィレ座標を生成するまでの
処理時間を短くするためのフィレ座標生成方法およびそ
の装置を提供することにある。
成されたもので、その目的とするところは、ハードウェ
ア構成を小さくすると共にフィレ座標を生成するまでの
処理時間を短くするためのフィレ座標生成方法およびそ
の装置を提供することにある。
【００１９】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の問題点を
解決するために、請求項１記載の発明にあっては、処理
を施した画像データをラスタスキャンすることにより画
像中の検出対象領域毎のフィレ座標をフィレ座標テーブ
ルに生成するフィレ座標生成方法において、前記画像デ
ータのラスタスキャン中に前記検出対象領域を構成する
対象画素にアクセスした場合、該対象画素の座標である
対象画素座標が前記フィレ座標テーブルの記憶している
外接長方形に隣接するか否かを判定し、隣接するならば
該対象画素座標が前記フィレ座標テーブルの記憶してい
る外接長方形の内部にあるか外部にあるかを判定し、外
部にあるならば前記フィレ座標テーブルのフィレ座標を
該対象画素座標に基づいて更新し、隣接しないならば該
対象画素座標を新規のフィレ座標としてフィレ座標テー
ブルに登録し、前記フィレ座標テーブルに記憶している
各外接長方形同士が結合可能か否かを判定し、結合可能
であるならば一方の外接長方形が結合することによって
大きくなるか否かを判定し、大きくなるならば前記フィ
レ座標テーブルの一方の外接長方形のフィレ座標を他方
の外接長方形のフィレ座標に基づいて更新することを特
徴とする方法である。
解決するために、請求項１記載の発明にあっては、処理
を施した画像データをラスタスキャンすることにより画
像中の検出対象領域毎のフィレ座標をフィレ座標テーブ
ルに生成するフィレ座標生成方法において、前記画像デ
ータのラスタスキャン中に前記検出対象領域を構成する
対象画素にアクセスした場合、該対象画素の座標である
対象画素座標が前記フィレ座標テーブルの記憶している
外接長方形に隣接するか否かを判定し、隣接するならば
該対象画素座標が前記フィレ座標テーブルの記憶してい
る外接長方形の内部にあるか外部にあるかを判定し、外
部にあるならば前記フィレ座標テーブルのフィレ座標を
該対象画素座標に基づいて更新し、隣接しないならば該
対象画素座標を新規のフィレ座標としてフィレ座標テー
ブルに登録し、前記フィレ座標テーブルに記憶している
各外接長方形同士が結合可能か否かを判定し、結合可能
であるならば一方の外接長方形が結合することによって
大きくなるか否かを判定し、大きくなるならば前記フィ
レ座標テーブルの一方の外接長方形のフィレ座標を他方
の外接長方形のフィレ座標に基づいて更新することを特
徴とする方法である。
【００２０】また、請求項２記載の発明にあっては、処
理を施した画像データをラスタスキャンすることにより
画像中の検出対象領域毎の外接長方形であるフィレ座標
をフィレ座標テーブルに生成するフィレ座標生成装置で
あって、前記画像データのラスタスキャン中に前記検出
対象領域を構成する対象画素にアクセスした場合に該対
象画素の座標である対象画素座標が前記フィレ座標テー
ブルの記憶している外接長方形に隣接するか否かを判定
する隣接判定手段と、前記隣接判定手段が隣接すると判
定したならば該対象画素座標が前記フィレ座標テーブル
の記憶している外接長方形の内部にあるか外部にあるか
を判定する内外判定手段と、前記内外判定手段が外部に
あると判定したならば前記フィレ座標テーブルのフィレ
座標を該対象画素座標に基づいて更新するフィレ座標更
新手段と、前記隣接判定手段が隣接しないと判定したな
らば該対象画素座標を新規のフィレ座標としてフィレ座
標テーブルに登録するフィレ座標新規登録手段と、前記
フィレ座標テーブルに記憶している各外接長方形同士が
結合可能か否かを判定する結合判定手段と、前記結合判
定手段が結合可能と判定したならば一方の外接長方形が
結合することによって大きくなるか否かを判定する拡大
判定手段と、前記拡大判定手段が大きくなると判定した
ならば前記フィレ座標テーブルの一方の外接長方形のフ
ィレ座標を他方の外接長方形のフィレ座標に基づいて更
新するフィレ座標再更新手段を設けたことを特徴とする
ものである。
理を施した画像データをラスタスキャンすることにより
画像中の検出対象領域毎の外接長方形であるフィレ座標
をフィレ座標テーブルに生成するフィレ座標生成装置で
あって、前記画像データのラスタスキャン中に前記検出
対象領域を構成する対象画素にアクセスした場合に該対
象画素の座標である対象画素座標が前記フィレ座標テー
ブルの記憶している外接長方形に隣接するか否かを判定
する隣接判定手段と、前記隣接判定手段が隣接すると判
定したならば該対象画素座標が前記フィレ座標テーブル
の記憶している外接長方形の内部にあるか外部にあるか
を判定する内外判定手段と、前記内外判定手段が外部に
あると判定したならば前記フィレ座標テーブルのフィレ
座標を該対象画素座標に基づいて更新するフィレ座標更
新手段と、前記隣接判定手段が隣接しないと判定したな
らば該対象画素座標を新規のフィレ座標としてフィレ座
標テーブルに登録するフィレ座標新規登録手段と、前記
フィレ座標テーブルに記憶している各外接長方形同士が
結合可能か否かを判定する結合判定手段と、前記結合判
定手段が結合可能と判定したならば一方の外接長方形が
結合することによって大きくなるか否かを判定する拡大
判定手段と、前記拡大判定手段が大きくなると判定した
ならば前記フィレ座標テーブルの一方の外接長方形のフ
ィレ座標を他方の外接長方形のフィレ座標に基づいて更
新するフィレ座標再更新手段を設けたことを特徴とする
ものである。
【００２１】
【作用】以上のように構成したことにより、請求項１記
載の発明にあっては、例えば二値化処理を施した画像の
各画素データをラスタスキャンし、このラスタスキャン
中に検出対象領域を構成する対象画素にアクセスした場
合、該対象画素の座標である対象画素座標が前記フィレ
座標テーブルの記憶している外接長方形に隣接するか否
かを判定し、隣接するならば該対象画素座標が前記フィ
レ座標テーブルの記憶している外接長方形の内部にある
か外部にあるかを判定し、外部にあるならば前記フィレ
座標テーブルのフィレ座標を該対象画素座標に基づいて
更新し、隣接しないならば該対象画素座標を新規のフィ
レ座標としてフィレ座標テーブルに登録し、前記フィレ
座標テーブルに記憶している各外接長方形同士が結合可
能か否かを判定し、結合可能であるならば一方の外接長
方形が結合することによって大きくなるか否かを判定
し、大きくなるならば前記フィレ座標テーブルの一方の
外接長方形のフィレ座標を他方の外接長方形のフィレ座
標に基づいて更新する方法であるので、二値化処理した
二値化画像にフィレ座標を生成するための前処理として
ラベリング処理を施す必要が無く、二値化画像のラスタ
スキャンから直接的にフィレ座標を得ることができる。
また、最終段階において、結合可能な外接長方形同士を
結合し、外接長方形のフィレ座標を再更新することがで
きる。
載の発明にあっては、例えば二値化処理を施した画像の
各画素データをラスタスキャンし、このラスタスキャン
中に検出対象領域を構成する対象画素にアクセスした場
合、該対象画素の座標である対象画素座標が前記フィレ
座標テーブルの記憶している外接長方形に隣接するか否
かを判定し、隣接するならば該対象画素座標が前記フィ
レ座標テーブルの記憶している外接長方形の内部にある
か外部にあるかを判定し、外部にあるならば前記フィレ
座標テーブルのフィレ座標を該対象画素座標に基づいて
更新し、隣接しないならば該対象画素座標を新規のフィ
レ座標としてフィレ座標テーブルに登録し、前記フィレ
座標テーブルに記憶している各外接長方形同士が結合可
能か否かを判定し、結合可能であるならば一方の外接長
方形が結合することによって大きくなるか否かを判定
し、大きくなるならば前記フィレ座標テーブルの一方の
外接長方形のフィレ座標を他方の外接長方形のフィレ座
標に基づいて更新する方法であるので、二値化処理した
二値化画像にフィレ座標を生成するための前処理として
ラベリング処理を施す必要が無く、二値化画像のラスタ
スキャンから直接的にフィレ座標を得ることができる。
また、最終段階において、結合可能な外接長方形同士を
結合し、外接長方形のフィレ座標を再更新することがで
きる。
【００２２】また、請求項２記載の発明にあっては、隣
接判定手段は、例えば二値化処理を施した画像の各画素
データをラスタスキャンし、このラスタスキャン中に検
出対象領域を構成する対象画素にアクセスした場合、該
対象画素の座標である対象画素座標が前記フィレ座標テ
ーブルの記憶している外接長方形に隣接するか否かを判
定する。内外判定手段は、前記隣接判定手段が隣接する
と判定したならば該対象画素座標が前記フィレ座標テー
ブルの記憶している外接長方形の内部にあるか外部にあ
るかを判定する。フィレ座標更新手段は、前記内外判定
手段が外部にあると判定したならば前記フィレ座標テー
ブルのフィレ座標を該対象画素座標に基づいて更新す
る。座標新規登録手段は、前記隣接判定手段が隣接しな
いと判定したならば該対象画素座標を新規のフィレ座標
としてフィレ座標テーブルに登録する。結合判定手段
は、前記フィレ座標テーブルに記憶している各外接長方
形同士が結合可能か否かを判定する。拡大判定手段は、
前記結合判定手段が結合可能と判定したならば一方の外
接長方形が結合することによって大きくなるか否かを判
定する。フィレ座標再更新手段は、前記拡大判定手段が
大きくなると判定したならば前記フィレ座標テーブルの
一方の外接長方形のフィレ座標を他方の外接長方形のフ
ィレ座標に基づいて更新する。従って、二値化処理した
二値化画像にフィレ座標を生成するための前処理として
ラベリング処理を施す必要が無く、二値化画像のラスタ
スキャンから直接的にフィレ座標を得ることができる。
また、結合可能な外接長方形同士を結合し、外接長方形
のフィレ座標を再更新することができる。
接判定手段は、例えば二値化処理を施した画像の各画素
データをラスタスキャンし、このラスタスキャン中に検
出対象領域を構成する対象画素にアクセスした場合、該
対象画素の座標である対象画素座標が前記フィレ座標テ
ーブルの記憶している外接長方形に隣接するか否かを判
定する。内外判定手段は、前記隣接判定手段が隣接する
と判定したならば該対象画素座標が前記フィレ座標テー
ブルの記憶している外接長方形の内部にあるか外部にあ
るかを判定する。フィレ座標更新手段は、前記内外判定
手段が外部にあると判定したならば前記フィレ座標テー
ブルのフィレ座標を該対象画素座標に基づいて更新す
る。座標新規登録手段は、前記隣接判定手段が隣接しな
いと判定したならば該対象画素座標を新規のフィレ座標
としてフィレ座標テーブルに登録する。結合判定手段
は、前記フィレ座標テーブルに記憶している各外接長方
形同士が結合可能か否かを判定する。拡大判定手段は、
前記結合判定手段が結合可能と判定したならば一方の外
接長方形が結合することによって大きくなるか否かを判
定する。フィレ座標再更新手段は、前記拡大判定手段が
大きくなると判定したならば前記フィレ座標テーブルの
一方の外接長方形のフィレ座標を他方の外接長方形のフ
ィレ座標に基づいて更新する。従って、二値化処理した
二値化画像にフィレ座標を生成するための前処理として
ラベリング処理を施す必要が無く、二値化画像のラスタ
スキャンから直接的にフィレ座標を得ることができる。
また、結合可能な外接長方形同士を結合し、外接長方形
のフィレ座標を再更新することができる。
【００２３】
【実施例】以下、本発明に係るフィレ座標生成方法およ
びその装置の一実施例を図１〜図４に基づいて詳細に説
明する。
びその装置の一実施例を図１〜図４に基づいて詳細に説
明する。
【００２４】図１は、フィレ座標生成装置の要部を示す
ブロック図、図２はフィレ座標を生成する手順を示すフ
ローチャートである。図３はフィレ座標を生成する手順
を説明するイメージ図であり、図３（ａ）〜（ｄ）は途
中経過を説明するイメージ図、図３（ｅ）は最終的に生
成されたそれぞれのフィレ座標を説明するイメージ図で
ある。図４はラスタスキャンしながらフィレ座標をフィ
レ座標テーブルに生成する手順を示すフローチャートで
ある。
ブロック図、図２はフィレ座標を生成する手順を示すフ
ローチャートである。図３はフィレ座標を生成する手順
を説明するイメージ図であり、図３（ａ）〜（ｄ）は途
中経過を説明するイメージ図、図３（ｅ）は最終的に生
成されたそれぞれのフィレ座標を説明するイメージ図で
ある。図４はラスタスキャンしながらフィレ座標をフィ
レ座標テーブルに生成する手順を示すフローチャートで
ある。
【００２５】図１に示すように、フィレ座標生成装置
は、撮像カメラ１と、検出対象抽出部２と、フィレ座標
生成部３とを備えている。撮像カメラ１は、検知領域を
撮像して監視画像の映像信号を出力する。検出対象抽出
部２は、撮像カメラ１の出力する監視画像と検出対象物
の写っていない背景画像との差分をとった差分画像を出
力する。フィレ座標生成部３は、検出対象抽出部２の出
力する差分画像を所定の閾値で二値化処理して二値化処
理画像を生成すると共に、該二値化処理画像から検出対
象領域毎に外接長方形を表すフィレ座標を生成する。
は、撮像カメラ１と、検出対象抽出部２と、フィレ座標
生成部３とを備えている。撮像カメラ１は、検知領域を
撮像して監視画像の映像信号を出力する。検出対象抽出
部２は、撮像カメラ１の出力する監視画像と検出対象物
の写っていない背景画像との差分をとった差分画像を出
力する。フィレ座標生成部３は、検出対象抽出部２の出
力する差分画像を所定の閾値で二値化処理して二値化処
理画像を生成すると共に、該二値化処理画像から検出対
象領域毎に外接長方形を表すフィレ座標を生成する。
【００２６】検出対象抽出部２は、Ａ／Ｄ変換手段２０
と、ＶＲＡＭ２１と、差分手段２２とを備えている。Ａ
／Ｄ変換手段２０は、撮像カメラ１の出力する映像信号
から、撮像画像の各画素毎の明暗レベルをデジタル値に
変換して出力する。ＶＲＡＭ２１は、検知領域に検出対
象物のいないときに撮像した、検出対象物の写っていな
い背景画像の各画素毎の明暗レベルのデジタル値を記憶
している。差分手段２２は、撮像カメラ１の撮像して出
力する監視画像の明暗レベルと、ＶＲＡＭ２１の記憶し
ている背景画像の明暗レベルとの、対応する画素毎の差
分値を求めて出力する。
と、ＶＲＡＭ２１と、差分手段２２とを備えている。Ａ
／Ｄ変換手段２０は、撮像カメラ１の出力する映像信号
から、撮像画像の各画素毎の明暗レベルをデジタル値に
変換して出力する。ＶＲＡＭ２１は、検知領域に検出対
象物のいないときに撮像した、検出対象物の写っていな
い背景画像の各画素毎の明暗レベルのデジタル値を記憶
している。差分手段２２は、撮像カメラ１の撮像して出
力する監視画像の明暗レベルと、ＶＲＡＭ２１の記憶し
ている背景画像の明暗レベルとの、対応する画素毎の差
分値を求めて出力する。
【００２７】フィレ座標生成部３は、ＲＡＭ３０と、中
央処理装置３１と、ＶＲＡＭ３２とを備えている。ＶＲ
ＡＭ３２は、前記差分画像の各画素を所定の閾値で二値
化処理した二値化データを記憶するための記憶部であ
る。ＲＡＭ３０は、フィレ座標テーブルなどを格納する
ためなどに用いられる。
央処理装置３１と、ＶＲＡＭ３２とを備えている。ＶＲ
ＡＭ３２は、前記差分画像の各画素を所定の閾値で二値
化処理した二値化データを記憶するための記憶部であ
る。ＲＡＭ３０は、フィレ座標テーブルなどを格納する
ためなどに用いられる。
【００２８】次に、図１に示すフィレ座標生成装置の動
作を図２のフローチャートを用いて説明する。図１に示
すフィレ座標生成装置にあっては、撮像カメラ１により
通常の濃淡画像が監視画像として撮像され、検出対象抽
出部２に入力される（ステップＳ２０）。検出対象抽出
部２は、撮像カメラ１の出力する監視画像と検出対象物
の写っていない背景画像との差分をとった差分画像を出
力する（ステップＳ２１）。
作を図２のフローチャートを用いて説明する。図１に示
すフィレ座標生成装置にあっては、撮像カメラ１により
通常の濃淡画像が監視画像として撮像され、検出対象抽
出部２に入力される（ステップＳ２０）。検出対象抽出
部２は、撮像カメラ１の出力する監視画像と検出対象物
の写っていない背景画像との差分をとった差分画像を出
力する（ステップＳ２１）。
【００２９】差分演算は、監視画像データをＤ(I) 、Ｖ
ＲＡＭ２１の中の対応する背景画像データをＢ(I) 、差
分結果をＣ(I) とすると、（１）式のように表すことが
できる。
ＲＡＭ２１の中の対応する背景画像データをＢ(I) 、差
分結果をＣ(I) とすると、（１）式のように表すことが
できる。
【００３０】
Ｃ(I) ＝｜Ｄ(I) −Ｂ(I) ｜ …………………………………………（１）
差分結果Ｃ(I) は、検出対象抽出部２から出力され、フ
ィレ座標生成部３へ入力される。入力された差分結果Ｃ
(I) は、所定の閾値Ｔによって二値化処理が成される。
すなわち、二値化処理後の結果をＯ(I) とすると、差分
結果Ｃ(I) と閾値Ｔと二値化処理後の結果Ｏ(I) との間
には下記の（２）式のような関係付けが行われ、該結果
Ｏ(I) はＶＲＡＭ３２に格納される。
ィレ座標生成部３へ入力される。入力された差分結果Ｃ
(I) は、所定の閾値Ｔによって二値化処理が成される。
すなわち、二値化処理後の結果をＯ(I) とすると、差分
結果Ｃ(I) と閾値Ｔと二値化処理後の結果Ｏ(I) との間
には下記の（２）式のような関係付けが行われ、該結果
Ｏ(I) はＶＲＡＭ３２に格納される。
【００３１】
Ｃ(I) ≧ＴのときＯ(I) ＝１、Ｃ(I) ＜ＴのときＯ(I) ＝０ ……（２）
ここまでの処理により、監視画像と背景画像との間の明
暗レベルの変化のあったところの二値化処理画像、すな
わち、監視画像中にのみ存在する物体の領域をＯ(I) ＝
１の画素とした二値化処理画像が抽出できる。
暗レベルの変化のあったところの二値化処理画像、すな
わち、監視画像中にのみ存在する物体の領域をＯ(I) ＝
１の画素とした二値化処理画像が抽出できる。
【００３２】フィレ座標生成部３の中央処理装置３１
は、ＶＲＡＭ３２に格納されている二値化処理画像に対
して左上から右下にかけて水平走査を行う要領でラスタ
スキャンを行い、検出対象領域毎のフィレ座標をＲＡＭ
３０に生成する（ステップＳ２２）。
は、ＶＲＡＭ３２に格納されている二値化処理画像に対
して左上から右下にかけて水平走査を行う要領でラスタ
スキャンを行い、検出対象領域毎のフィレ座標をＲＡＭ
３０に生成する（ステップＳ２２）。
【００３３】以下に、図３および図４を用いてフィレ座
標の生成方法を説明する。図３において、「ｏ」は検出
対象領域の画素、つまり、Ｏ(I) ＝１の画素である。フ
ィレ座標生成部３の中央処理装置３１は、ＶＲＡＭ３２
に格納されている二値化処理画像に対して、図３（ａ）
に示すように、左上からラスタスキャン（図４のステッ
プ１００）を行って、Ｏ(I) ＝１の画素であるか否かを
順次判定していく（図４のステップ１０１）。すると、
中央処理装置３１は、Ｏ(I) ＝１の画素である画素Ａを
アクセスする。画素Ａをアクセスした中央処理装置３１
は、該画素Ａの座標｛X(A),Y(A) ｝を認識すると共にＲ
ＡＭ３０に格納されているフィレ座標テーブルをアクセ
スし、該画素ＡはＲＡＭ３０に格納されて現存する外接
長方形に結合できるか否かを判定する（図４のステップ
１０２）。
標の生成方法を説明する。図３において、「ｏ」は検出
対象領域の画素、つまり、Ｏ(I) ＝１の画素である。フ
ィレ座標生成部３の中央処理装置３１は、ＶＲＡＭ３２
に格納されている二値化処理画像に対して、図３（ａ）
に示すように、左上からラスタスキャン（図４のステッ
プ１００）を行って、Ｏ(I) ＝１の画素であるか否かを
順次判定していく（図４のステップ１０１）。すると、
中央処理装置３１は、Ｏ(I) ＝１の画素である画素Ａを
アクセスする。画素Ａをアクセスした中央処理装置３１
は、該画素Ａの座標｛X(A),Y(A) ｝を認識すると共にＲ
ＡＭ３０に格納されているフィレ座標テーブルをアクセ
スし、該画素ＡはＲＡＭ３０に格納されて現存する外接
長方形に結合できるか否かを判定する（図４のステップ
１０２）。
【００３４】画素Ａはラスタスキャン中の中央処理装置
３１が最初にアクセスしたＯ(I) ＝１の画素であるの
で、ＲＡＭ３０に格納されて現存する外接長方形（フィ
レ座標）は全く無い。そこで、中央処理装置３１は、画
素Ａの座標｛X(A),Y(A) ｝に基づいて、ＲＡＭ３０の第
１番目のフィレ座標テーブルに、フィレ座標[Xmin (1)=
X(A),Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] を
生成する（図４のステップ１０６）。
３１が最初にアクセスしたＯ(I) ＝１の画素であるの
で、ＲＡＭ３０に格納されて現存する外接長方形（フィ
レ座標）は全く無い。そこで、中央処理装置３１は、画
素Ａの座標｛X(A),Y(A) ｝に基づいて、ＲＡＭ３０の第
１番目のフィレ座標テーブルに、フィレ座標[Xmin (1)=
X(A),Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] を
生成する（図４のステップ１０６）。
【００３５】次に、中央処理装置３１は、Ｏ(I) ＝１の
画素である画素Ａ’をアクセスする。画素Ａ’をアクセ
スした中央処理装置３１は、該画素Ａ’の座標｛X(A'),
Y(A') ｝を認識すると共にＲＡＭ３０に格納されている
フィレ座標テーブルをアクセスし、該画素Ａ’はＲＡＭ
３０に格納されて現存する外接長方形に結合できるか否
かを判定する。すなわち、中央処理装置３１は、ＲＡＭ
３０に格納されているフィレ座標テーブルから、テーブ
ル番号の小さい順に読み出すと共に画素Ａ’の結合でき
る外接長方形を探し、最後まで結合できなければ、画素
Ａ’の座標｛X(A'),Y(A') ｝に基づいて、ＲＡＭ３０の
第２番目のフィレ座標テーブルに、フィレ座標[X
min (2)=X(A'), Xmax (2)=X(A'), Ymin (2)=Y(A'), Y
max (2)=Y(A')]を生成する。
画素である画素Ａ’をアクセスする。画素Ａ’をアクセ
スした中央処理装置３１は、該画素Ａ’の座標｛X(A'),
Y(A') ｝を認識すると共にＲＡＭ３０に格納されている
フィレ座標テーブルをアクセスし、該画素Ａ’はＲＡＭ
３０に格納されて現存する外接長方形に結合できるか否
かを判定する。すなわち、中央処理装置３１は、ＲＡＭ
３０に格納されているフィレ座標テーブルから、テーブ
ル番号の小さい順に読み出すと共に画素Ａ’の結合でき
る外接長方形を探し、最後まで結合できなければ、画素
Ａ’の座標｛X(A'),Y(A') ｝に基づいて、ＲＡＭ３０の
第２番目のフィレ座標テーブルに、フィレ座標[X
min (2)=X(A'), Xmax (2)=X(A'), Ymin (2)=Y(A'), Y
max (2)=Y(A')]を生成する。
【００３６】ところで、ＲＡＭ３０に既に格納されてい
る第Ｎ番目のフィレ座標テーブルのフィレ座標に画素
Ａ’を結合するか否かは、次の結合条件式で判定する。
すなわち、結合条件式は、 条件Ｑ1 → Xmin (N) ≦X(A') ≦ Xmax (N) 条件Ｑ2 → ｜X(A') − Xmin (N) ｜≦Ｔd 条件Ｑ3 → ｜X(A') − Xmax (N) ｜≦Ｔd 条件Ｑ4 → Ymin (N) ≦Y(A') ≦ Ymax (N) 条件Ｑ5 → ｜Y(A') − Ymin (N) ｜≦Ｔd 条件Ｑ6 → ｜Y(A') − Ymax (N) ｜≦Ｔd とするとき、次の（３）式であり、 （Ｑ1 ∪Ｑ2 ∪Ｑ3 ）∩（Ｑ4 ∪Ｑ5 ∪Ｑ6 ）………………………（３） （３）式が成立する場合に第Ｎ番目のフィレ座標テーブ
ルのフィレ座標に画素Ａ’を結合する。
る第Ｎ番目のフィレ座標テーブルのフィレ座標に画素
Ａ’を結合するか否かは、次の結合条件式で判定する。
すなわち、結合条件式は、 条件Ｑ1 → Xmin (N) ≦X(A') ≦ Xmax (N) 条件Ｑ2 → ｜X(A') − Xmin (N) ｜≦Ｔd 条件Ｑ3 → ｜X(A') − Xmax (N) ｜≦Ｔd 条件Ｑ4 → Ymin (N) ≦Y(A') ≦ Ymax (N) 条件Ｑ5 → ｜Y(A') − Ymin (N) ｜≦Ｔd 条件Ｑ6 → ｜Y(A') − Ymax (N) ｜≦Ｔd とするとき、次の（３）式であり、 （Ｑ1 ∪Ｑ2 ∪Ｑ3 ）∩（Ｑ4 ∪Ｑ5 ∪Ｑ6 ）………………………（３） （３）式が成立する場合に第Ｎ番目のフィレ座標テーブ
ルのフィレ座標に画素Ａ’を結合する。
【００３７】但し、 Xmin (N) は第Ｎ番目の外接長
方形の最小Ｘ座標 Xmax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｙ座標 Ｔd は結合する際の閾値である。
方形の最小Ｘ座標 Xmax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｙ座標 Ｔd は結合する際の閾値である。
【００３８】なお、閾値Ｔd は、Ｔd ＝１ならば隣接す
る画素だけを結合することを意味する。つまり、Ｔd が
小さいほど画素は結合し難くなり、Ｔd が大きいほど画
素は結合し易くなる。以下の説明にあってはＴd ＝１と
して説明する。
る画素だけを結合することを意味する。つまり、Ｔd が
小さいほど画素は結合し難くなり、Ｔd が大きいほど画
素は結合し易くなる。以下の説明にあってはＴd ＝１と
して説明する。
【００３９】さて、図３（ａ）の画素Ａ’について閾値
Ｔd ＝１として結合判定をしてみる。図３（ａ）の画素
Ａ’をアクセスする時点では、ＲＡＭ３０の第１番目の
フィレ座標テーブルにフィレ座標[Xmin (1)=X(A),Xmax
(1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Yma x (1)=Y(A)] が存在するの
みである。従って、このフィレ座標[Xmin (1)=X(A),X
max (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] の外接長
方形に対して結合条件式（３）が成立するか否かをみる
（ステップ１０２）と、｜X(A') − Xmax (N) ｜≦Ｔd
＝１で且つ｜Y(A') − Ymax (N) ｜≦Ｔd ＝１であり、
結合条件式（３）が成立するので、画素Ａ’をフィレ座
標[Xmin (1)=X(A),Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax
(1)=Y(A)] の外接長方形に対して結合する（ステップ１
０３）。
Ｔd ＝１として結合判定をしてみる。図３（ａ）の画素
Ａ’をアクセスする時点では、ＲＡＭ３０の第１番目の
フィレ座標テーブルにフィレ座標[Xmin (1)=X(A),Xmax
(1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Yma x (1)=Y(A)] が存在するの
みである。従って、このフィレ座標[Xmin (1)=X(A),X
max (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax (1)=Y(A)] の外接長
方形に対して結合条件式（３）が成立するか否かをみる
（ステップ１０２）と、｜X(A') − Xmax (N) ｜≦Ｔd
＝１で且つ｜Y(A') − Ymax (N) ｜≦Ｔd ＝１であり、
結合条件式（３）が成立するので、画素Ａ’をフィレ座
標[Xmin (1)=X(A),Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),Ymax
(1)=Y(A)] の外接長方形に対して結合する（ステップ１
０３）。
【００４０】ついで、結合条件式（３）で結合できると
判定された画素に対しては、該画素を結合することによ
って外接長方形が大きくなるか否かを調べ（ステップ１
０４）、外接長方形が大きくなる場合にはフィレ座標テ
ーブルを更新する（ステップ１０５）。
判定された画素に対しては、該画素を結合することによ
って外接長方形が大きくなるか否かを調べ（ステップ１
０４）、外接長方形が大きくなる場合にはフィレ座標テ
ーブルを更新する（ステップ１０５）。
【００４１】このフィレ座標テーブルの更新は次の更新
条件で判定する。すなわち、 条件Ｑ7 → X(A') ＜ Xmin (N) のとき Xmin (N) をX
(A') に更新する。
条件で判定する。すなわち、 条件Ｑ7 → X(A') ＜ Xmin (N) のとき Xmin (N) をX
(A') に更新する。
【００４２】条件Ｑ8 → X(A') ＞ Xmax (N) のとき X
max (N) をX(A') に更新する。 条件Ｑ9 → Y(A') ＜ Ymin (N) のとき Ymin (N) をY
(A') に更新する。
max (N) をX(A') に更新する。 条件Ｑ9 → Y(A') ＜ Ymin (N) のとき Ymin (N) をY
(A') に更新する。
【００４３】条件Ｑ10→ Y(A') ＞ Ymax (N) のとき Y
max (N) をY(A') に更新する。 但し Xmin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｘ座標 Xmax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｙ座標であ
る。
max (N) をY(A') に更新する。 但し Xmin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｘ座標 Xmax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｙ座標であ
る。
【００４４】さて、画素Ａ’の場合は、X(A') ＜ Xmin
(1) で且つ Y(A')＞ Ymax (1) であるから、条件Ｑ7 に
より Xmin (1) をX(A') に更新し、条件Ｑ10により Y
max (1) をY(A') に更新する。中央処理装置３１は、こ
の更新結果を、ＲＡＭ３０のフィレ座標テーブルに書き
込む。つまり、この時点でのＲＡＭ３０のフィレ座標テ
ーブルには、フィレ座標[Xmin (1)=X(A'), Xmax (1)=X
(A),Ymin (1)=Y(A), Y ma x (1)=Y(A')]が格納されてい
る。
(1) で且つ Y(A')＞ Ymax (1) であるから、条件Ｑ7 に
より Xmin (1) をX(A') に更新し、条件Ｑ10により Y
max (1) をY(A') に更新する。中央処理装置３１は、こ
の更新結果を、ＲＡＭ３０のフィレ座標テーブルに書き
込む。つまり、この時点でのＲＡＭ３０のフィレ座標テ
ーブルには、フィレ座標[Xmin (1)=X(A'), Xmax (1)=X
(A),Ymin (1)=Y(A), Y ma x (1)=Y(A')]が格納されてい
る。
【００４５】フィレ座標生成部３の中央処理装置３１
は、ついで図３（ａ）に示す画素Ａ”にラスタスキャン
を進め、画素Ａ”の座標｛X(A"),Y(A") ｝とＲＡＭ３０
のフィレ座標テーブルに格納されている現時点のフィレ
座標[Xmin (1)=X(A'), Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),
Y max (1)=Y(A')]とに基づいて、前述の結合条件式
（３）の成否と更新条件Ｑ7 〜Ｑ10の成否とを判定す
る。画素Ａ”にあっては、 Xmi n (1) ≦X(A") ≦ Xmax
(1) 且つ Ymin (1) ≦Y(A") ≦ Ymax (1) であり結合条
件式（３）は成立するものの、更新条件Ｑ7 〜Ｑ10のい
ずれもが成立しない。従って、フィレ座標生成部３の中
央処理装置３１は、画素Ａ”をアクセスしたからと言っ
て、ＲＡＭ３０に新規にフィレ座標を生成することもし
ないし、ＲＡＭ３０に現存するフィレ座標を更新するこ
ともしない。
は、ついで図３（ａ）に示す画素Ａ”にラスタスキャン
を進め、画素Ａ”の座標｛X(A"),Y(A") ｝とＲＡＭ３０
のフィレ座標テーブルに格納されている現時点のフィレ
座標[Xmin (1)=X(A'), Xmax (1)=X(A),Ymin (1)=Y(A),
Y max (1)=Y(A')]とに基づいて、前述の結合条件式
（３）の成否と更新条件Ｑ7 〜Ｑ10の成否とを判定す
る。画素Ａ”にあっては、 Xmi n (1) ≦X(A") ≦ Xmax
(1) 且つ Ymin (1) ≦Y(A") ≦ Ymax (1) であり結合条
件式（３）は成立するものの、更新条件Ｑ7 〜Ｑ10のい
ずれもが成立しない。従って、フィレ座標生成部３の中
央処理装置３１は、画素Ａ”をアクセスしたからと言っ
て、ＲＡＭ３０に新規にフィレ座標を生成することもし
ないし、ＲＡＭ３０に現存するフィレ座標を更新するこ
ともしない。
【００４６】中央処理装置３１は、順次ラスタスキャン
を進め、該ラスタスキャンが図３（ｂ）に示す画素Ｅに
達すると画素Ｅを次のように処理する。すなわち、中央
処理装置３１が画素Ｅをアクセスする時点では、ＲＡＭ
３０に外接長方形Ｒ1 のフィレ座標と、外接長方形Ｒ2
のフィレ座標とが生成されている。そこで、画素Ｅをア
クセスした中央処理装置３１は、座標｛X(E),Y(E) ｝に
位置する画素Ｅを、外接長方形Ｒ1 のフィレ座標と外接
長方形Ｒ2 のフィレ座標とのいずれに結合すべきか、あ
るいは、結合すべきフィレ座標が無く新規にフィレ座標
を生成するべきかを前述の結合条件式（３）から調べ
る。
を進め、該ラスタスキャンが図３（ｂ）に示す画素Ｅに
達すると画素Ｅを次のように処理する。すなわち、中央
処理装置３１が画素Ｅをアクセスする時点では、ＲＡＭ
３０に外接長方形Ｒ1 のフィレ座標と、外接長方形Ｒ2
のフィレ座標とが生成されている。そこで、画素Ｅをア
クセスした中央処理装置３１は、座標｛X(E),Y(E) ｝に
位置する画素Ｅを、外接長方形Ｒ1 のフィレ座標と外接
長方形Ｒ2 のフィレ座標とのいずれに結合すべきか、あ
るいは、結合すべきフィレ座標が無く新規にフィレ座標
を生成するべきかを前述の結合条件式（３）から調べ
る。
【００４７】すると、画素Ｅにあっては、｜X(E)− X
min (1) ｜＞Ｔd ＝１且つ｜Y(E)− Y max (1) ｜＞Ｔd
＝１であるので第１番目の外接長方形Ｒ1 とは結合しな
いものの、｜X(E)− Xmin (2) ｜＝１≦Ｔd 且つ｜Y(E)
− Ymax (2) ｜＝１≦Ｔd であるので第２番目の外接長
方形Ｒ2 と結合する。ついで、更新条件Ｑ7 〜Ｑ10を調
べると、X(E)＜ Xmin (2) であるから更新条件Ｑ7 が成
立して Xmin (2) をX(E)に更新すると共に、Y(E)＞ Y
max (2) であるから更新条件Ｑ10が成立して Ymax(2)
をY(E)に更新する。
min (1) ｜＞Ｔd ＝１且つ｜Y(E)− Y max (1) ｜＞Ｔd
＝１であるので第１番目の外接長方形Ｒ1 とは結合しな
いものの、｜X(E)− Xmin (2) ｜＝１≦Ｔd 且つ｜Y(E)
− Ymax (2) ｜＝１≦Ｔd であるので第２番目の外接長
方形Ｒ2 と結合する。ついで、更新条件Ｑ7 〜Ｑ10を調
べると、X(E)＜ Xmin (2) であるから更新条件Ｑ7 が成
立して Xmin (2) をX(E)に更新すると共に、Y(E)＞ Y
max (2) であるから更新条件Ｑ10が成立して Ymax(2)
をY(E)に更新する。
【００４８】さて、中央処理装置３１は、更に順次ラス
タスキャンを進め、該ラスタスキャンが図３（ｃ）に示
す画素Ｉ’に達すると画素Ｉ’を次のように処理する。
すなわち、中央処理装置３１が画素Ｉ’をアクセスする
時点では、ＲＡＭ３０に外接長方形Ｒ1 のフィレ座標
と、外接長方形Ｒ2 のフィレ座標と、外接長方形Ｒ3 の
フィレ座標とが生成されている。そこで、画素Ｉ’をア
クセスした中央処理装置３１は、座標｛X(I'),Y(I') ｝
に位置する画素Ｉ’を、外接長方形Ｒ1 のフィレ座標と
外接長方形Ｒ2 のフィレ座標と外接長方形Ｒ3 のフィレ
座標とのいずれに結合すべきか、あるいは、結合すべき
フィレ座標が無く新規にフィレ座標を生成するべきかを
前述の結合条件式（３）から調べる（ステップ１０
２）。
タスキャンを進め、該ラスタスキャンが図３（ｃ）に示
す画素Ｉ’に達すると画素Ｉ’を次のように処理する。
すなわち、中央処理装置３１が画素Ｉ’をアクセスする
時点では、ＲＡＭ３０に外接長方形Ｒ1 のフィレ座標
と、外接長方形Ｒ2 のフィレ座標と、外接長方形Ｒ3 の
フィレ座標とが生成されている。そこで、画素Ｉ’をア
クセスした中央処理装置３１は、座標｛X(I'),Y(I') ｝
に位置する画素Ｉ’を、外接長方形Ｒ1 のフィレ座標と
外接長方形Ｒ2 のフィレ座標と外接長方形Ｒ3 のフィレ
座標とのいずれに結合すべきか、あるいは、結合すべき
フィレ座標が無く新規にフィレ座標を生成するべきかを
前述の結合条件式（３）から調べる（ステップ１０
２）。
【００４９】すると、考え方は前述の画素Ｅの場合と同
様なので詳しい説明は省略するが、画素Ｉ’にあって
は、第１番目の外接長方形Ｒ1 と第２番目の外接長方形
Ｒ2 と第３番目の外接長方形Ｒ3 とのいずれとも結合し
ない。そこで、中央処理装置３１は、ＲＡＭ３０に第４
番目の外接長方形Ｒ4 すなわちフィレ座標[Xmin (4)=X
(I'), Xmax (4)=X(I'), Ymin (4)=Y(I'), Ymax (4)=Y
(I')]を新規に生成する（ステップ１０６）。
様なので詳しい説明は省略するが、画素Ｉ’にあって
は、第１番目の外接長方形Ｒ1 と第２番目の外接長方形
Ｒ2 と第３番目の外接長方形Ｒ3 とのいずれとも結合し
ない。そこで、中央処理装置３１は、ＲＡＭ３０に第４
番目の外接長方形Ｒ4 すなわちフィレ座標[Xmin (4)=X
(I'), Xmax (4)=X(I'), Ymin (4)=Y(I'), Ymax (4)=Y
(I')]を新規に生成する（ステップ１０６）。
【００５０】以上のようにして、中央処理装置３１が最
後の画素まで処理を終えると、図３（ｄ）に示すような
第１番目〜第４番目の外接長方形Ｒ1,Ｒ2,Ｒ3,Ｒ4 のフ
ィレ座標がそれぞれＲＡＭ３０に生成されている。な
お、それぞれの外接長方形Ｒ1,Ｒ2,Ｒ3,Ｒ4 をフィレ座
標で示すと下記のようになる。すなわち、外接長方形Ｒ
1 のフィレ座標は [Xmin (1)=X(D),Xmax (1)=X(B),Ymin (1)=Y(A),Y
max (1)=Y(G)] 外接長方形Ｒ2 のフィレ座標は [Xmin (2)=X(E),Xmax (2)=X(F),Ymin (2)=Y(C),Y
max (2)=Y(K)] 外接長方形Ｒ3 のフィレ座標は [Xmin (3)=X(H),Xmax (3)=X(L),Ymin (3)=Y(H),Y
max (3)=Y(J)] 外接長方形Ｒ4 のフィレ座標は [Xmin (4)=X(I'), Xmax (4)=X(I),Ymin (4)=Y(I'), Y
max (4)=Y(I')] である。
後の画素まで処理を終えると、図３（ｄ）に示すような
第１番目〜第４番目の外接長方形Ｒ1,Ｒ2,Ｒ3,Ｒ4 のフ
ィレ座標がそれぞれＲＡＭ３０に生成されている。な
お、それぞれの外接長方形Ｒ1,Ｒ2,Ｒ3,Ｒ4 をフィレ座
標で示すと下記のようになる。すなわち、外接長方形Ｒ
1 のフィレ座標は [Xmin (1)=X(D),Xmax (1)=X(B),Ymin (1)=Y(A),Y
max (1)=Y(G)] 外接長方形Ｒ2 のフィレ座標は [Xmin (2)=X(E),Xmax (2)=X(F),Ymin (2)=Y(C),Y
max (2)=Y(K)] 外接長方形Ｒ3 のフィレ座標は [Xmin (3)=X(H),Xmax (3)=X(L),Ymin (3)=Y(H),Y
max (3)=Y(J)] 外接長方形Ｒ4 のフィレ座標は [Xmin (4)=X(I'), Xmax (4)=X(I),Ymin (4)=Y(I'), Y
max (4)=Y(I')] である。
【００５１】ここまでの処理では、上に凹の領域に対し
ては、図３（ｄ）に示す外接長方形Ｒ4 のような偽の外
接長方形が生成されている。従って、この偽の外接長方
形を除去する必要がある。そこで、生成したフィレ座標
を使ってこの偽の外接長方形を除去する処理を説明す
る。
ては、図３（ｄ）に示す外接長方形Ｒ4 のような偽の外
接長方形が生成されている。従って、この偽の外接長方
形を除去する必要がある。そこで、生成したフィレ座標
を使ってこの偽の外接長方形を除去する処理を説明す
る。
【００５２】まず、第１番目の外接長方形Ｒ1 と結合可
能な外接長方形があるか否かを調べる。調べる順番は番
号の若い順である。結合可能であるか否かの条件は次の
通りである。すなわち、外接長方形結合条件式は、 条件Ｑ11→ Xmin (N) ≦ Xmin (P) ≦ Xmax (N) 条件Ｑ12→ Xmin (N) ≦ Xmax (P) ≦ Xmax (N) 条件Ｑ13→ Ymin (N) ≦ Ymin (P) ≦ Ymax (N) 条件Ｑ14→ Ymin (N) ≦ Ymax (P) ≦ Ymax (N) とするとき、次の（４）式であり、 （Ｑ11∪Ｑ12）∩（Ｑ13∪Ｑ14） ………………………（４） （４）式が成立する場合に、第Ｎ番目の外接長方形に第
Ｐ番目の外接長方形を結合する。すなわち、第Ｎ番目の
フィレ座標テーブルのフィレ座標に第Ｐ番目のフィレ座
標テーブルのフィレ座標を結合する。
能な外接長方形があるか否かを調べる。調べる順番は番
号の若い順である。結合可能であるか否かの条件は次の
通りである。すなわち、外接長方形結合条件式は、 条件Ｑ11→ Xmin (N) ≦ Xmin (P) ≦ Xmax (N) 条件Ｑ12→ Xmin (N) ≦ Xmax (P) ≦ Xmax (N) 条件Ｑ13→ Ymin (N) ≦ Ymin (P) ≦ Ymax (N) 条件Ｑ14→ Ymin (N) ≦ Ymax (P) ≦ Ymax (N) とするとき、次の（４）式であり、 （Ｑ11∪Ｑ12）∩（Ｑ13∪Ｑ14） ………………………（４） （４）式が成立する場合に、第Ｎ番目の外接長方形に第
Ｐ番目の外接長方形を結合する。すなわち、第Ｎ番目の
フィレ座標テーブルのフィレ座標に第Ｐ番目のフィレ座
標テーブルのフィレ座標を結合する。
【００５３】但し Xmin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の
最小Ｘ座標 Xmax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｙ座標 Xmin (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最小Ｘ座標 Xmax (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最大Ｙ座標であ
る。
最小Ｘ座標 Xmax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｙ座標 Xmin (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最小Ｘ座標 Xmax (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最大Ｙ座標であ
る。
【００５４】さて、図３（ｄ）に示す外接長方形Ｒ1,Ｒ
2,Ｒ3,Ｒ4 について外接長方形結合条件式（４）で判定
すると次のようになる。すなわち、外接長方形Ｒ1 と外
接長方形Ｒ2 との関係を外接長方形結合条件式（４）で
判定すると、 Xmin (2) ＞ X max (1) 、 Xmax (2) ＞ X
max (1) であり、外接長方形結合条件式（４）を満足し
ないから、第１番目の外接長方形Ｒ1 に第２番目の外接
長方形Ｒ2 を結合しない。次に、外接長方形Ｒ1 と外接
長方形Ｒ3 との関係を外接長方形結合条件式（４）で判
定すると、この場合も結合しない結果となる。以下同様
に処理を続けると、外接長方形Ｒ3 と外接長方形Ｒ4 と
の関係を外接長方形結合条件式（４）で判定することに
なる。
2,Ｒ3,Ｒ4 について外接長方形結合条件式（４）で判定
すると次のようになる。すなわち、外接長方形Ｒ1 と外
接長方形Ｒ2 との関係を外接長方形結合条件式（４）で
判定すると、 Xmin (2) ＞ X max (1) 、 Xmax (2) ＞ X
max (1) であり、外接長方形結合条件式（４）を満足し
ないから、第１番目の外接長方形Ｒ1 に第２番目の外接
長方形Ｒ2 を結合しない。次に、外接長方形Ｒ1 と外接
長方形Ｒ3 との関係を外接長方形結合条件式（４）で判
定すると、この場合も結合しない結果となる。以下同様
に処理を続けると、外接長方形Ｒ3 と外接長方形Ｒ4 と
の関係を外接長方形結合条件式（４）で判定することに
なる。
【００５５】外接長方形Ｒ3 と外接長方形Ｒ4 との関係
を外接長方形結合条件式（４）で判定すると、 X
min (3) ≦ Xmin (4) ≦ Xmax (3) 且つ Ymin (3) ≦ Y
min (4) ≦Ymax (3) であり、外接長方形結合条件式
（４）を満足するから、第３番目の外接長方形Ｒ3 に第
４番目の外接長方形Ｒ4 を結合する。この第３番目の外
接長方形Ｒ3 への第４番目の外接長方形Ｒ4 の結合にあ
っては、具体的には、ＲＡＭ３０に生成されている外接
長方形Ｒ4 のフィレ座標を消去することであり、外接長
方形Ｒ4 のフィレ座標を消去する前に、第３番目の外接
長方形Ｒ3 に第４番目の外接長方形Ｒ4 を結合するに当
たって、第３番目の外接長方形Ｒ3 が大きくなるか否か
を確認して大きくなる場合にあっては更新する。この更
新は次の外接長方形更新条件に従って行う。すなわち、
外接長方形更新条件は、 条件Ｑ15→ Xmin (P) ＜ Xmin (N) のとき Xmin (N) を
Xmin (P) に更新する。
を外接長方形結合条件式（４）で判定すると、 X
min (3) ≦ Xmin (4) ≦ Xmax (3) 且つ Ymin (3) ≦ Y
min (4) ≦Ymax (3) であり、外接長方形結合条件式
（４）を満足するから、第３番目の外接長方形Ｒ3 に第
４番目の外接長方形Ｒ4 を結合する。この第３番目の外
接長方形Ｒ3 への第４番目の外接長方形Ｒ4 の結合にあ
っては、具体的には、ＲＡＭ３０に生成されている外接
長方形Ｒ4 のフィレ座標を消去することであり、外接長
方形Ｒ4 のフィレ座標を消去する前に、第３番目の外接
長方形Ｒ3 に第４番目の外接長方形Ｒ4 を結合するに当
たって、第３番目の外接長方形Ｒ3 が大きくなるか否か
を確認して大きくなる場合にあっては更新する。この更
新は次の外接長方形更新条件に従って行う。すなわち、
外接長方形更新条件は、 条件Ｑ15→ Xmin (P) ＜ Xmin (N) のとき Xmin (N) を
Xmin (P) に更新する。
【００５６】条件Ｑ16→ Xmax (P) ＞ Xmax (N) のとき
Xmax (N) を Xmax (P) に更新する。
Xmax (N) を Xmax (P) に更新する。
【００５７】条件Ｑ17→ Ymin (P) ＜ Ymin (N) のとき
Ymin (N) を Ymin (P) に更新する。
Ymin (N) を Ymin (P) に更新する。
【００５８】条件Ｑ18→ Ymax (P) ＞ Ymax (N) のとき
Ymax (N) を Ymax (P) に更新する。
Ymax (N) を Ymax (P) に更新する。
【００５９】但し Xmin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の
最小Ｘ座標 Xmax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｙ座標 Xmin (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最小Ｘ座標 Xmax (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最大Ｙ座標であ
る。
最小Ｘ座標 Xmax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (N) は第Ｎ番目の外接長方形の最大Ｙ座標 Xmin (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最小Ｘ座標 Xmax (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最大Ｘ座標 Ymin (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最小Ｙ座標 Ymax (P) は第Ｐ番目の外接長方形の最大Ｙ座標であ
る。
【００６０】上述の外接長方形更新条件を図３（ｄ）の
第３番目の外接長方形Ｒ3 と第４番目の外接長方形Ｒ4
とに適用すると、 Xmin (4) ＞ Xmin (3) 、 Xmax (4)
＝ X max (3) 、 Ymin (4) ＝ Ymin (3) 、 Ymax (4) ＜
Ymax (3) であるから、条件Ｑ15〜Ｑ18のいずれをも満
たさない。従って、図３の場合にあっては、第３番目の
外接長方形Ｒ3 を更新すること無しに、ＲＡＭ３０に生
成されている第４番目の外接長方形Ｒ4 のフィレ座標を
消去し、最終的に図３（ｅ）に示すような外接長方形Ｒ
1,Ｒ2,Ｒ3 を得ることができる。図３（ｅ）と従来の技
術で説明した図７（ｃ）とを比較すると明らかのよう
に、それぞれ同じ外接長方形が生成されていることが分
かる。
第３番目の外接長方形Ｒ3 と第４番目の外接長方形Ｒ4
とに適用すると、 Xmin (4) ＞ Xmin (3) 、 Xmax (4)
＝ X max (3) 、 Ymin (4) ＝ Ymin (3) 、 Ymax (4) ＜
Ymax (3) であるから、条件Ｑ15〜Ｑ18のいずれをも満
たさない。従って、図３の場合にあっては、第３番目の
外接長方形Ｒ3 を更新すること無しに、ＲＡＭ３０に生
成されている第４番目の外接長方形Ｒ4 のフィレ座標を
消去し、最終的に図３（ｅ）に示すような外接長方形Ｒ
1,Ｒ2,Ｒ3 を得ることができる。図３（ｅ）と従来の技
術で説明した図７（ｃ）とを比較すると明らかのよう
に、それぞれ同じ外接長方形が生成されていることが分
かる。
【００６１】
【発明の効果】本発明のフィレ座標生成方法およびその
装置は上述のように構成したものであるから、請求項１
記載の発明にあっては、二値化処理した二値化画像にフ
ィレ座標を生成するための前処理としてラベリング処理
を施すこと無く、二値化画像のラスタスキャンから直接
的にフィレ座標を得ることができるので、使用するＲＡ
ＭやＶＲＡＭの記憶容量を少なくできると共に、二値化
画像から高速にフィレ座標を得ることができる優れたフ
ィレ座標生成方法を提供できると言う効果を奏し、請求
項２記載の発明にあっては、使用するＲＡＭやＶＲＡＭ
の記憶容量を少なくできると共に、高速で検出対象物を
検出できる優れたフィレ座標生成装置を提供できると言
う効果を奏する。
装置は上述のように構成したものであるから、請求項１
記載の発明にあっては、二値化処理した二値化画像にフ
ィレ座標を生成するための前処理としてラベリング処理
を施すこと無く、二値化画像のラスタスキャンから直接
的にフィレ座標を得ることができるので、使用するＲＡ
ＭやＶＲＡＭの記憶容量を少なくできると共に、二値化
画像から高速にフィレ座標を得ることができる優れたフ
ィレ座標生成方法を提供できると言う効果を奏し、請求
項２記載の発明にあっては、使用するＲＡＭやＶＲＡＭ
の記憶容量を少なくできると共に、高速で検出対象物を
検出できる優れたフィレ座標生成装置を提供できると言
う効果を奏する。
【図１】本発明に係るフィレ座標生成装置の一実施例の
要部を示すブロック図である。
要部を示すブロック図である。
【図２】上記実施例のフィレ座標を生成する手順を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図３】上記実施例のフィレ座標を生成する手順を説明
するイメージ図である。
するイメージ図である。
【図４】上記実施例のラスタスキャンしながらフィレ座
標を生成する手順を示すフローチャートである。
標を生成する手順を示すフローチャートである。
【図５】従来のフィレ座標生成装置の要部を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図６】従来のフィレ座標を生成する手順を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図７】従来のフィレ座標を生成する手順を説明するイ
メージ図である。
メージ図である。
【図８】従来のフィレ座標生成装置が仮ラベルから本ラ
ベルに変換するためのテーブルを示す説明図である。
ベルに変換するためのテーブルを示す説明図である。
Ｒ1 外接長方形
Ｒ2 外接長方形
Ｒ3 外接長方形
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 昭61−234480（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−115780（ＪＰ，Ａ)
特開 昭61−286987（ＪＰ，Ａ)
特開 昭55−44910（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G06T 7/00 - 7/60
G06T 1/00
Claims (2)
- 【請求項１】 処理を施した画像データをラスタスキャ
ンすることにより画像中の検出対象領域毎のフィレ座標
をフィレ座標テーブルに生成するフィレ座標生成方法に
おいて、前記画像データのラスタスキャン中に前記検出
対象領域を構成する対象画素にアクセスした場合、該対
象画素の座標である対象画素座標が前記フィレ座標テー
ブルの記憶している外接長方形に隣接するか否かを判定
し、隣接するならば該対象画素座標が前記フィレ座標テ
ーブルの記憶している外接長方形の内部にあるか外部に
あるかを判定し、外部にあるならば前記フィレ座標テー
ブルのフィレ座標を該対象画素座標に基づいて更新し、
隣接しないならば該対象画素座標を新規のフィレ座標と
してフィレ座標テーブルに登録し、前記フィレ座標テー
ブルに記憶している各外接長方形同士が結合可能か否か
を判定し、結合可能であるならば一方の外接長方形が結
合することによって大きくなるか否かを判定し、大きく
なるならば前記フィレ座標テーブルの一方の外接長方形
のフィレ座標を他方の外接長方形のフィレ座標に基づい
て更新することを特徴とするフィレ座標生成方法。 - 【請求項２】 処理を施した画像データをラスタスキャ
ンすることにより画像中の検出対象領域毎の外接長方形
であるフィレ座標をフィレ座標テーブルに生成するフィ
レ座標生成装置であって、前記画像データのラスタスキ
ャン中に前記検出対象領域を構成する対象画素にアクセ
スした場合に該対象画素の座標である対象画素座標が前
記フィレ座標テーブルの記憶している外接長方形に隣接
するか否かを判定する隣接判定手段と、前記隣接判定手
段が隣接すると判定したならば該対象画素座標が前記フ
ィレ座標テーブルの記憶している外接長方形の内部にあ
るか外部にあるかを判定する内外判定手段と、前記内外
判定手段が外部にあると判定したならば前記フィレ座標
テーブルのフィレ座標を該対象画素座標に基づいて更新
するフィレ座標更新手段と、前記隣接判定手段が隣接し
ないと判定したならば該対象画素座標を新規のフィレ座
標としてフィレ座標テーブルに登録するフィレ座標新規
登録手段と、前記フィレ座標テーブルに記憶している各
外接長方形同士が結合可能か否かを判定する結合判定手
段と、前記結合判定手段が結合可能と判定したならば一
方の外接長方形が結合することによって大きくなるか否
かを 判定する拡大判定手段と、前記拡大判定手段が大き
くなると判定したならば前記フィレ座標テーブルの一方
の外接長方形のフィレ座標を他方の外接長方形のフィレ
座標に基づいて更新するフィレ座標再更新手段を設けた
ことを特徴とするフィレ座標生成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09152094A JP3395346B2 (ja) | 1994-04-28 | 1994-04-28 | フィレ座標生成方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09152094A JP3395346B2 (ja) | 1994-04-28 | 1994-04-28 | フィレ座標生成方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07296162A JPH07296162A (ja) | 1995-11-10 |
| JP3395346B2 true JP3395346B2 (ja) | 2003-04-14 |
Family
ID=14028695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09152094A Expired - Fee Related JP3395346B2 (ja) | 1994-04-28 | 1994-04-28 | フィレ座標生成方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3395346B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105716540B (zh) * | 2016-02-01 | 2018-05-29 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 二次电池方形壳体与顶盖r角装配属性的检测方法 |
-
1994
- 1994-04-28 JP JP09152094A patent/JP3395346B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07296162A (ja) | 1995-11-10 |
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