JP3395092B2 - Color filter inspection device - Google Patents

Color filter inspection device

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JP3395092B2
JP3395092B2 JP08576394A JP8576394A JP3395092B2 JP 3395092 B2 JP3395092 B2 JP 3395092B2 JP 08576394 A JP08576394 A JP 08576394A JP 8576394 A JP8576394 A JP 8576394A JP 3395092 B2 JP3395092 B2 JP 3395092B2
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filter substrate
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、カラー液晶表示装置等
に用いられるカラーフィルターを目視で検査するための
カラーフィルター検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a color filter inspection device for visually inspecting a color filter used in a color liquid crystal display device or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】ガラスやプラスチック等の透明基板上に
染料や顔料で着色した樹脂や蒸着膜等で着色層を設け、
この上に透明電極を形成したカラーフィルターを、TF
Tや透明電極を形成した基板と一定のギャップを設けて
配置し、ギャップ内にツイストネマチック液晶等を封入
したカラー液晶表示装置は、テレビやラップトップ型パ
ーソナルコンピューター等に広く用いられている。
2. Description of the Related Art A transparent substrate such as glass or plastic is provided with a colored layer such as a resin or a vapor deposition film colored with a dye or a pigment,
A color filter with a transparent electrode formed on this is
A color liquid crystal display device in which a certain gap is provided with a substrate on which T or a transparent electrode is formed, and a twisted nematic liquid crystal or the like is enclosed in the gap is widely used in televisions, laptop personal computers, and the like.

【0003】ここで用いられるカラーフィルターは、透
明基板上に、隣接する画素を区画し、表示画像のコント
ラストを向上させる遮光層(ブラックマトリックス)を
クロムや黒色顔料を分散した樹脂あるいは樹脂レリーフ
に無電解メッキを施す等により形成し、次いで着色層
を、感光性樹脂等を露光現像して形成した樹脂レリーフ
を順次各色の染料で染色していく方法(染色法)、顔料
等で着色した感光性樹脂をフォトリソグラフィーにより
パターン形成していく方法(顔料分散法)、凹版オフセ
ット等により着色インキを転写し、熱等によりインキ層
を硬化する方法(印刷法)等により形成し、必要に応じ
て耐熱性、耐薬品性等を向上させる透明保護膜を設け、
ITO等を蒸着あるいはスパッタリングすることにより
アクティブマトリックス方式の場合には共通電極、ST
N方式の場合にはストライプ状の電極を形成して、1面
分のカラーフィルターあるいは多面付けされたカラーフ
ィルターが形成されたカラーフィルター基板を得たの
ち、必要に応じて所望のサイズに切断して製造されてい
る。
The color filter used here has a light-shielding layer (black matrix) for partitioning adjacent pixels and improving the contrast of a display image on a transparent substrate, which is not formed on a resin or resin relief in which chrome or a black pigment is dispersed. A method in which a resin layer is formed by applying electrolytic plating, and then a colored layer is formed by exposing and developing a photosensitive resin, and the resin relief is sequentially dyed with dyes of each color (dyeing method). The resin is formed by patterning by photolithography (pigment dispersion method), the color ink is transferred by intaglio offset, and the ink layer is cured by heat (printing method). Provided with a transparent protective film that improves resistance, chemical resistance, etc.
In the case of the active matrix method by depositing or sputtering ITO etc., the common electrode, ST
In the case of the N method, a striped electrode is formed to obtain a color filter substrate on which a color filter for one surface or a multi-sided color filter is formed, and then cut into a desired size if necessary. Are manufactured.

【0004】このようにカラーフィルターの製造は、非
常に多くの工程を経る必要があるが、後のセル組工程や
最終的なカラー液晶表示装置の品質に悪影響を及ぼす種
々の欠陥が発生することがある。例えば、以下のような
ものが挙げられる。 (1) 突起不良 :着色材料やインキ等に混入している異
物や、これらの材料を塗布するときに混入する異物に起
因するもので、液晶セルのセルギャップが突起部では不
均一になるために画像に悪影響を及ぼす。 (2) 汚れ :感光性樹脂の現像時に除去された部分
が再付着したりする等の付着物や、洗浄の不良による汚
れや乾燥ムラ。 (3) 傷 :着色層や透明電極の形成面(以下、膜
面という。)の傷と、その裏面のガラス基板の傷があ
る。 (4) ムラ :着色材料の塗布ムラや染色ムラ。 (5) 白抜け :着色層の欠落。例えば、着色感光性樹
脂を露光後、現像する際に欠落が発生することがある。 (6) 遮光膜不良:ブラックマトリックスの不良。例え
ば、クロム膜を基板上に形成し、ポジレジストを塗布し
てマスク露光する際に、マスクに異物が付着している
と、クロム膜が除去されるべき部分にクロムが黒欠陥と
して残る。クロム欠陥等とも言われる。 (7) ITO不良:透明電極のクラックや欠け。または膜
厚の不均一(干渉色を見ることで判別できる。) (8) ガラス欠け:ガラス基板端面の欠け。セル組等の加
熱工程において、ひびや割れの発生原因となるおそれが
ある。
As described above, the manufacture of the color filter requires a great number of steps, but various defects which adversely affect the subsequent cell assembling step and the quality of the final color liquid crystal display device occur. There is. For example, the following may be mentioned. (1) Protrusion defect: Caused by foreign substances mixed in the coloring material, ink, etc., or foreign substances mixed in when applying these materials, because the cell gap of the liquid crystal cell becomes uneven at the protrusions. Adversely affect the image. (2) Dirt: Adhesion such as reattachment of the removed portion of the photosensitive resin during development, stain due to poor cleaning, and uneven drying. (3) Scratches: There are scratches on the surface where the colored layer and the transparent electrode are formed (hereinafter referred to as the film surface) and scratches on the glass substrate on the back surface. (4) Unevenness: uneven application of coloring material or uneven dyeing. (5) White spots: Missing colored layer. For example, when the colored photosensitive resin is exposed and then developed, chipping may occur. (6) Defective light-shielding film: defective black matrix. For example, when a chrome film is formed on a substrate, a positive resist is applied and mask exposure is performed, and foreign matter adheres to the mask, the chrome remains in the portion where the chrome film should be removed as a black defect. It is also called a chrome defect. (7) ITO defect: crack or chip of transparent electrode. Or the film thickness is not uniform (it can be identified by looking at the interference color). It may cause cracks and cracks in the heating process of the cell assembly and the like.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このような欠陥を検査
する方法としては、作業者がカラーフィルター基板を一
枚ずつ手で保持し、ハロゲンランプやメタルハライドラ
ンプを用いた投光機等の照明に対してカラーフィルター
基板の角度を変えながら、反射光や透過光を利用して目
視で欠陥を認識する方法に専ら頼っているのが現状であ
り、煩雑な手作業によって行われるため、欠陥検査工程
における傷や汚れ等の不良発生が生じていた。
As a method for inspecting such defects, an operator holds each color filter substrate one by one and uses it for illumination of a floodlight or the like using a halogen lamp or a metal halide lamp. On the other hand, the present condition is to rely solely on the method of visually recognizing defects by using reflected light or transmitted light while changing the angle of the color filter substrate, and the defect inspection process is carried out by complicated manual work. Defects such as scratches and stains were generated.

【0006】目視検査を行う装置としては、液晶表示装
置に用いるTFT(薄膜トランジスタ)基板用の検査装
置があるが、ハロゲン光等の投光器を用いた暗視野照明
によってTFT形成面のみを反射検査するのみの装置で
あるために、これをカラーフィルター基板の検査に用い
た場合には、ムラ、白抜け、遮光層不良等の他、カラー
フィルター基板の裏面に発生する傷、汚れ、ガラス欠け
等の欠陥を検出することができず、このようなカラーフ
ィルター膜面の反射検査のみでは検出できない欠陥を検
査できる目視検査装置がないという問題があった。
As a device for performing visual inspection, there is an inspection device for a TFT (thin film transistor) substrate used in a liquid crystal display device, but only a TFT formation surface is subjected to reflection inspection by dark field illumination using a projector such as a halogen light. Since it is a device of the above, when it is used for the inspection of the color filter substrate, in addition to unevenness, white spots, defective light shielding layer, etc., defects such as scratches, stains, glass breakage, etc. occurring on the back surface of the color filter substrate However, there is a problem that there is no visual inspection device that can inspect defects that cannot be detected only by such a reflection inspection of the color filter film surface.

【0007】また、このような目視検査装置には、検査
ステージ一台(すなわち、作業者1名)につき、被検査
物を収納したカセットから被検査物をステージに搬送
し、検査後に被検査物をステージからカセットに搬出す
る搬送ロボットを組み合わせたものがあるが、検査済の
被検査物をステージから取り出して、検査済の被検査物
を収納するカセットに収め、次いで未検査の被検査物を
取りに行き、これを搬送してステージに載せる、という
シークエンスを必要になり、被検査物交換時の待ち時間
が非常に長くなって検査能率が低いという問題があっ
た。
Further, in such a visual inspection apparatus, for one inspection stage (that is, one worker), the inspection object is conveyed from the cassette storing the inspection object to the stage, and the inspection object is inspected after the inspection. There is a combination of a transfer robot that carries out the stage from the stage to the cassette, but the inspected object is taken out from the stage and placed in the cassette that stores the inspected object, and then the uninspected object is placed. There is a problem that a sequence of going to pick up, transporting it, and mounting it on a stage is required, and a waiting time when the object to be inspected is exchanged becomes very long, resulting in low inspection efficiency.

【0008】さらに、カラーフィルターのように多くの
欠陥について検査を行うには、比較的長時間を要するた
めに作業者1名に対して搬送ロボット1台を割り当てる
ことは、ロボットを長時間遊ばせることになり、コスト
面、スペース面での効率が悪いという問題もあった。
Further, since it takes a relatively long time to inspect many defects such as a color filter, allocating one transfer robot to one worker makes the robot play for a long time. Therefore, there is a problem that the efficiency in terms of cost and space is poor.

【0009】また、別の問題点として、カラーフィルタ
ーを手作業で検査するにしろ、目視検査装置を用いて検
査するにしろ、このような最終的な検査より前の各製造
工程において、ライン検査装置等を用いて共通欠陥等を
対象とした大まかな工程検査が行われるが、工程検査の
結果を最終的な検査工程に伝達する手段は、直接カラー
フィルターの裏面に、その位置をマークする等の方法が
採られている。このため、カラーフィルター基板全体の
不良レベルが明らかに許容値を超えている場合でも、作
業者は、そのカラーフィルター基板を取り出して検査を
し、不良の確認を行う必要があり、また、カラーフィル
ターが多面付けされたカラーフィルター基板内の一部の
カラーフィルターのみの不良レベルが許容値を明らかに
超えるような場合でも、作業者は、そのカラーフィルタ
ー基板に多面付けされたすべてのカラーフィルターにつ
いて、その不良レベルを確認する必要があった。
As another problem, whether the color filter is manually inspected or visually inspected, a line inspection is performed in each manufacturing process before such final inspection. Although a rough process inspection for common defects etc. is performed using a device etc., the means for transmitting the result of the process inspection to the final inspection process is to mark the position directly on the back surface of the color filter, etc. The method of is adopted. For this reason, even if the defect level of the color filter substrate as a whole clearly exceeds the allowable value, the operator must take out the color filter substrate and inspect it to confirm the defect. Even if the defect level of only some of the color filters in the multi-sided color filter substrate clearly exceeds the allowable value, the worker should check all the color filters multi-sided on the color filter substrate. It was necessary to confirm the defect level.

【0010】本発明のカラーフィルター検査装置の第1
の目的は、膜面反射検査のみでは検出できない欠陥を検
出可能にすることであり、第2の目的は、第1の目的に
加え、カラーフィルター基板の搬送を自動化するととも
に高速化することであり、第3の目的は、第1または第
2の目的に加え、省スペース化および低コスト化を実現
することであり、第4の目的は、第1ないし第3の目的
に加え、明らかに不良として除去すべきカラーフィルタ
ーの検査を自動的あるいは容易に識別して省略し検査効
率を向上することであり、第5の目的は、第1ないし第
4の目的に加え、さらに後工程での不良選別を容易にす
る不良情報を提供する機能を有するカラーフィルター検
査装置を提供することである。
First of the color filter inspection apparatus of the present invention
The purpose of is to make it possible to detect defects that cannot be detected only by the film surface reflection inspection, and the second purpose is to automate the transfer of the color filter substrate and speed it up in addition to the first purpose. The third purpose is to realize space saving and cost reduction in addition to the first or second purpose, and the fourth purpose is to clearly reduce defects in addition to the first to third purposes. The purpose of the present invention is to improve the inspection efficiency by automatically and easily identifying and omitting the inspection of the color filter to be removed as the fifth objective. It is an object of the present invention to provide a color filter inspection device having a function of providing defect information that facilitates selection.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの本願第1の発明は、基板上に少なくとも着色層が形
成されたカラーフィルター基板の欠陥を目視で検査する
ためのカラーフィルター検査装置であって、前記カラー
フィルター基板を表裏の反転可能に保持するステージに
対して、前記カラーフィルター基板を、その着色層が形
成された面が作業者側に向くように保持した際に、前記
着色層の形成された面の裏面側より光を照射する透過検
査用光源と前記着色層の形成された面の裏面が作業者側
に向くように前記カラーフィルター基板を保持した際
に、上方または作業者側から前記裏面に光を照射する裏
面反射検査用光源と、を配置したことを特徴とするカラ
ーフィルター検査装置である。
The first invention of the present application for solving the above-mentioned problems is a color filter inspection device for visually inspecting a defect of a color filter substrate having at least a colored layer formed on the substrate. Wherein, with respect to the stage that holds the color filter substrate in a reversible manner, the color filter substrate is colored so that the surface on which the colored layer is formed faces the operator. When holding the color filter substrate so that the light source for transmission inspection that irradiates light from the back side of the surface on which the layer is formed and the back surface of the surface on which the colored layer is formed face the worker, A backside reflection inspection light source for irradiating the backside with light from a person side is disposed, and the color filter inspection device is provided.

【0012】本願第2の発明は、複数の未検査カラーフ
ィルター基板が収納されたカセットからステージに未検
査カラーフィルター基板を搬送する第1アームと、ステ
ージから複数の検査済カラーフィルター基板を収納可能
なカセットに検査済カラーフィルター基板を搬送する第
2アームが、旋回可能な支持台に装着された基板搬送ロ
ボットを備えており、第1アームが未検査カラーフィル
ター基板を保持して待機した状態で、第2アームが検査
済カラーフィルター基板を抜き取り、直後に第1アーム
が未検査カラーフィルター基板をステージに搬送するよ
うにしたことを特徴とする請求項1記載のカラーフィル
ター検査装置である。
According to the second aspect of the present invention, a first arm for transporting an uninspected color filter substrate from a cassette accommodating a plurality of uninspected color filter substrates to a stage and a plurality of inspected color filter substrates can be accommodated from the stage. The second arm for transporting the inspected color filter substrate to a different cassette is equipped with a substrate transport robot mounted on a rotatable support, and the first arm holds the uninspected color filter substrate and stands by. 2. The color filter inspection apparatus according to claim 1, wherein the second arm pulls out the inspected color filter substrate, and immediately after that, the first arm conveys the uninspected color filter substrate to the stage.

【0013】本願第3の発明は、裏面反射用光源および
透過検査用光源が配置されたステージを2組備え、この
2組のステージと未検査カラーフィルター基板が収納さ
れたカセットと検査済カラーフィルター基板を収納可能
なカセットを、基板搬送ロボットの周囲に配置し、2組
のステージで基板搬送ロボットを共用するように構成し
たことを特徴とする請求項1または2記載のカラーフィ
ルター検査装置である。
A third invention of the present application comprises two sets of stages on which a light source for back surface reflection and a light source for transmission inspection are arranged, the two sets of stages, a cassette accommodating an uninspected color filter substrate, and an inspected color filter. 3. The color filter inspecting device according to claim 1, wherein a cassette capable of accommodating the substrate is arranged around the substrate transfer robot, and the substrate transfer robot is shared by two sets of stages. .

【0014】本願第4の発明は、複数の未検査カラーフ
ィルター基板が収納されたカセット毎に設けられた光学
読み取り用情報に対応してカセット内のカラーフィルタ
ー基板の各々に対応する基板番号と、この基板番号に対
応した前工程までの不良レベル情報を記憶するデータ記
憶手段と、前記カセットに設けられた光学読み取り用情
報を読み取る光学読み取り手段と、読み取られた光学読
み取り用情報に応じて前記基板番号に対応した前記不良
レベル情報を読み出し、カラーフィルター基板ごとに不
良レベル情報におけるカラーフィルター基板全体の不良
レベルと、カラーフィルター基板を所定の面積に区分し
た各領域内の不良レベルが所定の許容値を超えるか否か
をそれぞれ判定し、全体の不良レベルが許容値を超える
場合には、その基板番号のカラーフィルター基板のステ
ージへの搬送を行わず、許容値以内の場合にはその基板
番号に対応するカラーフィルター基板を搬送ロボットに
よりステージに搬送し、ステージへ搬送されたカラーフ
ィルター基板内の前記区分したいずれかの領域の不良レ
ベルが許容値を超える場合には、その区分した領域の位
置を表示するようにする制御手段と、許容値を超える不
良レベルを有する前記区分した領域の位置を表示する表
示手段とを備えたことを特徴とする請求項1ないし3
いずれかの一つに記載のカラーフィルター検査装置であ
る。
According to a fourth aspect of the present invention, a substrate number corresponding to each color filter substrate in the cassette corresponding to optical reading information provided for each cassette containing a plurality of untested color filter substrates, Data storage means for storing defect level information up to the previous process corresponding to the board number, optical reading means for reading optical reading information provided in the cassette, and the board according to the read optical reading information The defect level information corresponding to the number is read, and the defect level of the entire color filter substrate in the defect level information for each color filter substrate and the defect level in each area obtained by dividing the color filter substrate into a predetermined area have a predetermined allowable value. If the overall defect level exceeds the allowable value, the If the number of the color filter substrate is not transferred to the stage, and if it is within the allowable value, the color filter substrate corresponding to the substrate number is transferred to the stage by the transfer robot, and the color filter substrate in the stage is transferred to the stage. When the defect level of any of the divided areas exceeds the allowable value, the control means for displaying the position of the divided area and the position of the divided area having the defective level exceeding the allowable value are displayed. claims 1, characterized in that a display means for to three
It is the color filter inspection device described in any one of the above.

【0015】本願第5の発明は、不良レベル情報を入力
する手段と、入力された不良レベル情報により、データ
記憶手段に記憶されている前工程までの不良レベル情報
を更新する手段を備えたことを特徴とする請求項4記載
のカラーフィルター検査装置である。
The fifth aspect of the present invention comprises means for inputting the defect level information and means for updating the defect level information up to the previous process stored in the data storage means by the input defect level information. The color filter inspection device according to claim 4.

【0016】本願第6の発明は、前記未検査カラーフィ
ルター基板が収納されたカセットと前記検査済カラーフ
ィルター基板を収納可能なカセットは同一のカセットで
あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかの一
つに記載のカラーフィルター検査装置である。
According to a sixth aspect of the present invention, the cassette in which the uninspected color filter substrate is stored and the cassette in which the inspected color filter substrate can be stored are the same cassette . One of
It is the color filter inspection device described in No. 2.

【0017】[0017]

【作用】前述のカラーフィルターの欠陥は、そのすべて
を検出するためには、以下に示す3種類の検査方法が必
要であることを本発明者らは見出した。 (1) 膜面に発生した突起不良、汚れ、傷、ITO不良、
ガラス欠け → 膜面に対する反射検査(膜面反射検
査) (2) 裏面に発生した傷、汚れ、ガラス欠け → 裏面に
対する反射検査(裏面反射検査) (3) ムラ、白抜け、遮光膜不良、汚れ、傷 → 裏面か
ら光を入射させた透過光検査(透過検査) この内、(2) 、(3) に該当する欠陥については、従来、
目視検査装置が提案されていなかったのである。そこ
で、本願第1の発明においては、カラーフィルター基板
の表裏を反転可能に保持できるステージを備えており、
前記カラーフィルター基板を着色層や透明電極が形成さ
れた面(膜面)を作業者側に向けて保持した際に、膜面
とは反対側の面(裏面)側より検査光を照射する光源を
配置したので透過検査が可能となり、裏面を作業者側に
向けて保持した際に、上方あるいは作業者側より裏面に
検査光を照射する光源を配置しているので裏面反射検査
が可能であり、上記(2) 、(3) に該当するすべての欠陥
の目視検査が可能となる。
The present inventors have found that in order to detect all the defects of the above-mentioned color filter, the following three kinds of inspection methods are necessary. (1) Defects on the film surface, dirt, scratches, defective ITO,
Broken glass → Reflection inspection on the film surface (film surface reflection inspection) (2) Scratches and dirt on the back surface, glass breakage → Reflection inspection on the back surface (back surface reflection inspection) (3) Unevenness, white spots, defective light shielding film, dirt , Scratches → transmitted light inspection with light incident from the back surface (transmission inspection) Of these, the defects corresponding to (2) and (3) are
No visual inspection device was proposed. Therefore, in the first invention of the present application, a stage capable of holding the front and back of the color filter substrate in a reversible manner is provided,
A light source that emits inspection light from the surface (back surface) opposite to the film surface when the color filter substrate is held with the surface (film surface) on which the colored layer or transparent electrode is formed facing toward the operator. Since it is arranged, the transmission inspection can be performed, and when the back side is held toward the worker side, the light source that irradiates the back side with the inspection light from the upper side or the worker side is arranged, so the back surface reflection inspection is possible. It is possible to perform visual inspection for all defects that fall under (2) and (3) above.

【0018】本願第2の発明においては、基板搬送ロボ
ットのアームを2本設け、一方を未検査カラーフィルタ
ー基板の搬送専用とし、他方を検査済の基板の搬送専用
とし、未検査の基板を保持して待機した状態で、検査済
基板のステージからの搬出を行い、直後に未検査の基板
のステージへの搬入を可能にしているので、自動基板搬
送における基板交換に伴う待ち時間を短縮することがで
きる。
In the second invention of the present application, two arms of the substrate transfer robot are provided, one is dedicated to the transfer of the uninspected color filter substrate and the other is dedicated to the transfer of the inspected substrate to hold the uninspected substrate. In this state, the inspected substrate can be unloaded from the stage in the standby state, and the uninspected substrate can be loaded into the stage immediately afterwards, so the waiting time associated with substrate exchange in automatic substrate transfer can be shortened. You can

【0019】本願第3の発明においては、ステージ2組
(作業者2名)で基板搬送ロボット1台を共用するよう
にしたので、基板搬送ロボットの遊び時間を減少させ、
検査装置のコスト低減、省スペース化が可能である。
In the third invention of the present application, since two substrate transfer robots are shared by two sets of stages (two workers), the idle time of the substrate transfer robot is reduced,
It is possible to reduce the cost of the inspection device and save space.

【0020】本願第4の発明においては、前工程での不
良レベル情報を読み込んで、不良レベルが許容値を超え
るか否かを判定し、許容値を超えるものについては、カ
ラーフィルター基板のステージへの搬送を行わず検査を
省略するか、またはその不良部分を表示することで、そ
の不良部分の検査を省略してよいことを作業者に知らせ
るため、検査の二度手間を防止し、作業効率を向上させ
ることができる。
In the fourth invention of the present application, the defect level information in the previous step is read to determine whether the defect level exceeds the allowable value. If the defect level exceeds the allowable value, it is transferred to the stage of the color filter substrate. By skipping the inspection without transporting the defective parts, or by displaying the defective part, the operator is notified that the defective part may be skipped. Can be improved.

【0021】本願第5の発明においては、検査結果に基
づき前工程の不良レベル情報を更新することができるの
で、この情報を後工程となる不良選別工程に用いること
により、不良選別の効率化、自動化が可能である。
In the fifth invention of the present application, the defect level information of the previous process can be updated based on the inspection result. Therefore, by using this information in the subsequent defect selection process, the efficiency of defect selection can be improved. Automation is possible.

【0022】本願第6の発明においては、未検査カラー
フィルター基板が収納されたカセットと検査済カラーフ
ィルター基板を収納可能なカセットを同一のカセットと
して、カセットの未検査カラーフィルターを抜き取った
位置に検査済カラーフィルター基板を戻すようにするこ
とで、より一層検査装置をコンパクトにすることができ
る。
In the sixth aspect of the present invention, the cassette in which the uninspected color filter substrate is stored and the cassette in which the inspected color filter substrate can be stored are the same cassette, and the cassette is inspected at the position where the uninspected color filter is removed. By returning the completed color filter substrate, the inspection device can be made more compact.

【0023】[0023]

【実施例】以下、本発明の詳細を図面を参照して説明す
る。 実施例1 図1は本発明の第1の実施例を概念的に示す斜視図であ
る。説明が複雑になるのを避けるために、図1において
は、カラーフィルター基板を保持する機構やステージを
反転させるための機構は省略してあり、これについては
後述するものとする。図1において、カラーフィルター
検査装置1は、カラーフィルター基板10を保持するた
めのステージ2に対して、カラーフィルター基板10の
着色層11を矢印で示した作業者側に向けて保持した場
合に、カラーフィルター基板10の着色層11や透明電
極等が形成されている面12(図では手前側)の裏面1
3側より光を照射する透過検査用光源4と、カラーフィ
ルター基板10を、その着色層11が形成された面12
の裏面13を作業者側に向けて保持した場合に、上方あ
るいは作業者側から前記裏面に光を照射する裏面反射検
査用光源5とが配置されて構成されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The details of the present invention will be described below with reference to the drawings. First Embodiment FIG. 1 is a perspective view conceptually showing a first embodiment of the present invention. In order to avoid a complicated description, a mechanism for holding the color filter substrate and a mechanism for reversing the stage are omitted in FIG. 1, which will be described later. In FIG. 1, when the color filter inspection apparatus 1 holds the colored layer 11 of the color filter substrate 10 toward the operator side indicated by the arrow, with respect to the stage 2 for holding the color filter substrate 10, The back surface 1 of the surface 12 (front side in the figure) on which the colored layer 11 and the transparent electrode of the color filter substrate 10 are formed.
The light source 4 for transmission inspection, which irradiates light from the 3 side, and the color filter substrate 10, the surface 12 on which the colored layer 11 is formed.
When the back surface 13 is held toward the worker side, the back surface reflection inspection light source 5 is arranged to irradiate the back surface with light from above or from the worker side.

【0024】ステージ2は、この実施例では、x−x’
軸で回転可能なアーム14に、y−y’軸で回転可能な
基板保持プレート15が取り付けられており、基板保持
プレート15に設けられた、図示しない基板保持具によ
りカラーフィルター基板10が保持できるように構成さ
れる。従って、ステージ2は、カラーフィルター基板1
0を回転することが可能なように2軸回転機構を有して
いる。本発明においては、カラーフィルター基板の表裏
を反転することができればよく、例えば、x−x’軸あ
るいはy−y’軸のいずれか一方に回転できればよい
が、本実施例のように2軸回転を可能にしておくと、カ
ラーフィルター基板の角度を調整して、作業者にとって
欠陥を最も検出しやすい照明の条件を得ることができる
ので好ましい。
Stage 2 is, in this embodiment, xx '.
A substrate holding plate 15 rotatable about the yy ′ axis is attached to an arm 14 rotatable about an axis, and the color filter substrate 10 can be held by a substrate holder (not shown) provided on the substrate holding plate 15. Is configured as follows. Therefore, the stage 2 is the color filter substrate 1
It has a biaxial rotation mechanism so that 0 can be rotated. In the present invention, it suffices if the front and back of the color filter substrate can be reversed, for example, it can rotate on either the xx ′ axis or the yy ′ axis. It is preferable to make it possible to adjust the angle of the color filter substrate and obtain the illumination condition in which the operator can most easily detect the defect.

【0025】透過検査用光源4としては、蛍光灯等の光
を白色拡散板を通して照射するようにしたものが好まし
く、いわゆるカラービュアーや、蛍光灯の光を導光路や
導光板等を用いて面光源としたもの、ELを用いた面光
源等を使用することができる。透過検査用光源4の面積
は、カラーフィルター基板10の端部まで検査できる大
きさのものを使用することが好ましい。透過検査用光源
4は、カラーフィルター基板の表裏を反転を行う際に、
ステージ2と干渉しない位置に設けるか、より照明の輝
度を向上させる必要が有る場合には、ステージ回転時に
は後部に退避しており、透過検査時にカラーフィルター
基板10に接近するような機構を設ける必要がある。
As the light source 4 for transmission inspection, it is preferable to irradiate light from a fluorescent lamp or the like through a white diffusion plate, and a so-called color viewer or a surface using a light guide path, a light guide plate or the like for the light of the fluorescent lamp. A light source, a surface light source using EL, or the like can be used. It is preferable to use an area of the transmission inspection light source 4 that is large enough to inspect the end portion of the color filter substrate 10. The transmission inspection light source 4 is used when the front and back of the color filter substrate are reversed.
If it is necessary to provide it at a position where it does not interfere with the stage 2, or if it is necessary to further improve the brightness of the illumination, it is necessary to provide a mechanism that retracts to the rear part when the stage rotates and approaches the color filter substrate 10 during the transmission inspection. There is.

【0026】裏面反射検査用光源5としては、ハロゲン
ランプ等を用いた投光機が使用され、カラーフィルター
基板10を反転させて裏面13を作業者に向けた状態
で、カラーフィルター基板10の裏面13を照明できる
ように、ステージ2の上方、あるいは必要に応じて作業
者の目(頭)の位置近傍に設置される。
A light projector using a halogen lamp or the like is used as the light source 5 for the back surface reflection inspection, and the back surface of the color filter substrate 10 with the back surface 13 facing the operator with the color filter substrate 10 inverted. It is installed above the stage 2 so as to be able to illuminate 13 or near the position of the eyes (head) of the operator as necessary.

【0027】図2は、第1の実施例のカラーフィルター
検査装置を使用したカラーフィルター基板の目視検査の
態様を示す図であり、図2(a)は透過検査を、図2
(b)は裏面反射検査をそれぞれ示している。図2
(a)において、カラーフィルター基板10の透過検査
を行うに際して、カラーフィルター基板10は、ステー
ジ2によって作業者に対して膜面12を上にして傾斜し
た状態で保持されており、透過検査用光源4(カラービ
ュアー)から出射される検査光が、カラーフィルター基
板10の裏面13から透明基板を透過し、さらに膜面1
2の着色層11や透明電極を透過して、斜め上方よりカ
ラーフィルター基板10を観察している作業者に視認さ
れ、例えば、膜面12に汚れ22が付着している場合に
は、透過光が弱められることで欠陥として認識される。
ここで、透過検査用光源4は、使用しない状態では、ス
テージ2の回転を妨げないように後方(図の左側)に退
避しているが、透過検査を行う際にカラーフィルター基
板10に対して前進するように構成される。
FIG. 2 is a view showing a mode of visual inspection of a color filter substrate using the color filter inspection apparatus of the first embodiment. FIG. 2 (a) shows a transmission inspection, and FIG.
(B) has each shown the back surface reflection inspection. Figure 2
In (a), when performing the transmission inspection of the color filter substrate 10, the color filter substrate 10 is held by the stage 2 in a state of being inclined with respect to the operator with the film surface 12 facing upward. Inspection light emitted from the color filter substrate 4 (color viewer) passes through the transparent substrate from the back surface 13 of the color filter substrate 10, and the film surface 1
2 is transmitted through the colored layer 11 and the transparent electrode and is visually recognized by an operator who is observing the color filter substrate 10 from diagonally above. For example, when stains 22 are attached to the film surface 12, transmitted light Is recognized as a defect by weakening.
Here, the transmission inspection light source 4 is retracted rearward (on the left side in the drawing) so as not to hinder the rotation of the stage 2 when not in use. Configured to move forward.

【0028】図2(b)において、カラーフィルター基
板10の着色層の形成されていない裏面13を検査する
に際して、カラーフィルター基板10は、ステージ2に
より前述の透過検査の状態から反転され、作業者に対し
て裏面13を上にして傾斜した状態で保持されており、
作業者の上方に配置された裏面検査用光源5から出射さ
れる検査光により裏面13全体が照明されている。この
ような状態で、作業者20は斜め上方よりカラーフィル
ター基板10の裏面13を観察し、欠陥を検査する。こ
れらの各種検査に使用する光源の切替えは、操作盤に
「透過」スイッチ、「裏面反射」スイッチを設けて、こ
れを作業者が操作することにより行うようにすればよ
い。
In FIG. 2B, when inspecting the back surface 13 of the color filter substrate 10 on which the colored layer is not formed, the color filter substrate 10 is inverted from the above-described state of the transmission inspection by the stage 2 and the operator Is held in an inclined state with the back surface 13 facing up,
The entire back surface 13 is illuminated by the inspection light emitted from the back surface inspection light source 5 arranged above the operator. In this state, the worker 20 observes the back surface 13 of the color filter substrate 10 from diagonally above and inspects for defects. The light source used for these various inspections may be switched by providing a "transmission" switch and a "rear surface reflection" switch on the operation panel and operating the operator.

【0029】図3は、第1の実施例におけるステージ2
の詳細を説明する斜視図である。ステージ2は、x−
x’軸で回転可能なアーム14に、y−y’軸で回転可
能な基板保持プレート15が取り付けられ、さらに基板
保持プレート15には、開口部が設けられており、カラ
ーフィルター基板10の対向する2辺を保持するよう
に、カラーフィルター基板10に対して着脱可能な基板
保持具31が開口部の内側に向かって1辺に対して2基
ずつ設けられている。基板保持具31の先端部はV溝状
になっており、カラーフィルター基板10との接触面積
をできるだけ小さいものとして、汚染等の発生を防いで
いる。基板保持プレート15は、その回転軸の一端に設
けられたギヤ32とパルスモーター33に取り付けられ
たギヤ34を連結するベルト35によって、パルスモー
ター33の動力が伝えられて回転され、カラーフィルタ
ー基板10の反転や微小角度の調整が行われる。また、
アーム14も、その回転軸の一端にギヤ36が設けられ
ており、図示しないモーターからの動力がベルト37に
より伝えられて回転が行われる。これらの回転は、操作
盤に設けられたスイッチあるいはジョイスティックを作
業者が操作することにより制御信号がモーターに伝達さ
れて行われ、特にカラーフィルター基板10の反転は、
反転スイッチを設けて、これを操作することにより自動
的に反転するようにすれば、作業性が良い。
FIG. 3 shows the stage 2 in the first embodiment.
It is a perspective view explaining the detail of. Stage 2 is x-
A substrate holding plate 15 rotatable about the y-y 'axis is attached to the arm 14 rotatable about the x'-axis, and the substrate holding plate 15 is provided with an opening so as to face the color filter substrate 10. In order to hold the two sides, two substrate holders 31 that are attachable to and detachable from the color filter substrate 10 are provided toward the inside of the opening, two groups per side. The tip of the substrate holder 31 has a V-groove shape, and the contact area with the color filter substrate 10 is made as small as possible to prevent the occurrence of contamination and the like. The substrate holding plate 15 is rotated by the power of the pulse motor 33 transmitted by a belt 35 that connects the gear 32 provided at one end of the rotation shaft to the gear 34 attached to the pulse motor 33, and the color filter substrate 10 is rotated. Is reversed and a small angle is adjusted. Also,
The arm 14 is also provided with a gear 36 at one end of its rotation shaft, and is rotated by transmitting power from a motor (not shown) through a belt 37. These rotations are performed by the operator operating a switch or joystick provided on the operation panel to transmit a control signal to the motor, and in particular, inversion of the color filter substrate 10 is performed.
If a reversing switch is provided so that the reversing switch is operated to automatically reverse the reversing switch, workability is improved.

【0030】ステージ2へのカラーフィルター基板の搬
送は、基板搬送ロボットで行うのが好ましく、図3にお
いて基板搬送ロボット41は、基板保持チャック44、
45を備え、前後に伸縮可能な第1アーム42および第
2アーム43が、所定の間隔をもって上下に取り付けら
れており、第1アーム42と第2アームは共に上昇およ
び下降が可能かつ旋回可能な、図示しない支持台に装着
されて構成されている。基板保持チャック44、45の
上面には、カラーフィルター基板10を真空吸着するた
めの吸引孔46が設けられている。基板搬送ロボットの
動作については第2の実施例において詳述する。
The transfer of the color filter substrate to the stage 2 is preferably performed by a substrate transfer robot. In FIG. 3, the substrate transfer robot 41 is a substrate holding chuck 44,
A first arm 42 and a second arm 43, which are provided with 45 and are extendable and retractable in the front-rear direction, are attached vertically with a predetermined interval, and both the first arm 42 and the second arm can move up and down and can swivel. , Is mounted on a support base (not shown). Suction holes 46 for vacuum-sucking the color filter substrate 10 are provided on the upper surfaces of the substrate holding chucks 44 and 45. The operation of the substrate transfer robot will be described in detail in the second embodiment.

【0031】実施例2 図4は、本発明の第2の実施例を概念的に示す平面図で
ある。図4において、カラーフィルター検査装置101
は、基板搬送ロボット141の旋回軸を中心として、未
検査のカラーフィルター基板を複数収納可能なカセット
150、検査済カラーフィルター基板を収納するカセッ
ト151、ステージ102が配置されている。搬送ロボ
ット141は、旋回可能かつ上昇および下降が可能な支
持台147に、前後に伸縮可能な2本のロボットアーム
が第1アーム142を上、第2アーム143を下にして
所定の間隔をもって装着されており、各アームは、それ
ぞれその先端に基板保持チャック144、145が設け
られており、真空吸着によりカラーフィルター基板10
をチャックして搬送を行うよう構成されている。また、
ステージ102には、実施例1と同様に透過検査用光源
4と裏面反射検査用光源5が配置されている。
Embodiment 2 FIG. 4 is a plan view conceptually showing the second embodiment of the present invention. In FIG. 4, a color filter inspection device 101
Centering around the turning axis of the substrate transfer robot 141, a cassette 150 that can store a plurality of untested color filter substrates, a cassette 151 that stores inspected color filter substrates, and a stage 102 are arranged. In the transfer robot 141, two robot arms, which can be extended and retracted forward and backward, are mounted on a support base 147 that can be swung and can be raised and lowered at a predetermined interval with the first arm 142 as the upper side and the second arm 143 as the lower side. Each arm is provided with a substrate holding chuck 144, 145 at the tip thereof, and the color filter substrate 10 is attached by vacuum suction.
Is chucked and conveyed. Also,
The transmission inspection light source 4 and the back surface reflection inspection light source 5 are arranged on the stage 102 as in the first embodiment.

【0032】カラーフィルター基板10を搬送する際の
基板搬送ロボット141の動作の一例を以下に示す。こ
こで、それぞれのアームの基板保持チャックの位置は、
A:未検査カラーフィルター基板カセット150の位
置、B:未検査カラーフィルター基板カセット150よ
り後退した待機位置、C:検査済カラーフィルター基板
カセット151の位置、D:未検査カラーフィルター基
板カセット151より後退した待機位置、E:ステージ
102の位置、F:ステージ102より後退した待機位
置、で表す。 ステップ 第1アーム 第2アーム (1) 初期状態 B 初期状態 B (2) 上昇 B 上昇 B (3) 停止 B 前進 A (4) 上昇 B 上昇 A (5) 停止 B 未検査基板チャック A (6) 上昇 B 上昇 A (7) 停止 B 後退 B (8) 下降 B 下降 B (9) 旋回 F 旋回 F (10) 前進 E 停止 F (11) 上昇 E 上昇 F (12) ステージ上の検査済 E 停止 F 基板をチャック (13) 下降 E 下降 F (14) 後退 F 前進 E (15) 上昇 F 上昇 E (16) 停止 F 未検査基板をステー E ジにのせる。 (17) 下降 F 下降 E (18) 停止 F 後退 F (19) 旋回 D 旋回 D (20) 上昇 D 旋回 D (21) 前進 C 停止 D (22) 下降 C 下降 D (23) 検査済基板をカセッ C 停止 D トに入れる (24) 上昇 C 上昇 D (25) 後退 D 停止 D (26) 旋回(初期状態へ) B 旋回(初期状態へ) B 上記の動作において、ステップ19から次回のステップ
9までがステージ上で検査を行う間に行われ、ステップ
10からステップ17までは、カラーフィルター基板の
交換が行われるためにステージでの検査は停止する。ス
テップ10からステップ14までの第1アームによる検
査済カラーフィルター基板の退出は、第2アームに未検
査カラーフィルターが保持され、待機した状態で行われ
るため、第1アームの後退と同時に開始される第2アー
ムによる未検査カラーフィルターのステージへの積載
(ステップ14〜ステップ18)を非常に迅速に行うこ
とができ、基板交換に伴うタイムロスを減少せることが
できる。なお、本実施例では、第1アームは検査済カラ
ーフィルター基板の退出専用であり、第2アームは未検
査カラーフィルター基板の載置専用としたが、これらを
入れ換えて使用することももちろん可能である。また、
未検査カラーフィルター基板カセット150と検査済カ
ラーフィルターカセット151とが別体の場合について
述べたが、これらを同一のカセットとして、カセット内
の未検査のカラーフィルター基板を抜き取った位置に、
同一のカラーフィルター基板を検査完了後に戻すように
すると、装置をコンパクトにすることができて、省スペ
ース化に有効である。
An example of the operation of the substrate transfer robot 141 when the color filter substrate 10 is transferred is shown below. Here, the position of the substrate holding chuck of each arm is
A: position of uninspected color filter substrate cassette 150, B: standby position retracted from uninspected color filter substrate cassette 150, C: position of inspected color filter substrate cassette 151, D: retracted from uninspected color filter substrate cassette 151 The standby position is indicated by E, the position of the stage 102 is indicated by E, and the standby position retracted from the stage 102 is indicated by F. Step 1st arm 2nd arm (1) Initial state B Initial state B (2) Ascending B Ascending B (3) Stopping B Forwarding A (4) Ascending B Ascending A (5) Stopping B Uninspected substrate chuck A (6) Ascending B Ascending A (7) Stopping B Retreating B (8) Descent B descending B (9) Turning F Turning F (10) Forward E Stopping F (11) Ascending E Ascending F (12) On-stage tested E Stopping F Chuck the board (13) Down E Down F (14) Backward F Forward E (15) Up F F Up E (16) Stop F Place the uninspected board on the stage E. (17) Down F Down E (18) Stop F Backward F (19) Swing D Swing D (20) Up D Swing D (21) Forward C Stop D (22) Down C Down D (23) C Stop D Enter (24) Ascend C Ascend D (25) Retreat D Stop D (26) Turn (to initial state) B Turn (to initial state) B In the above operation, from step 19 to the next step 9 Is performed during the inspection on the stage, and from step 10 to step 17, the inspection on the stage is stopped because the color filter substrate is replaced. The retreat of the inspected color filter substrate by the first arm from step 10 to step 14 is performed in a standby state with the uninspected color filter held by the second arm, so that it starts at the same time as the retreat of the first arm. Loading of the uninspected color filter on the stage by the second arm (steps 14 to 18) can be performed very quickly, and the time loss associated with substrate replacement can be reduced. In this embodiment, the first arm is exclusively used for exiting the inspected color filter substrate, and the second arm is exclusively used for mounting the uninspected color filter substrate, but it is of course possible to use these interchangeably. is there. Also,
The case where the uninspected color filter substrate cassette 150 and the inspected color filter cassette 151 are separate bodies has been described, but these are regarded as the same cassette, and the uninspected color filter substrate in the cassette is removed at the position where
If the same color filter substrate is returned after the inspection is completed, the device can be made compact, which is effective in saving space.

【0033】実施例3 図5は、本発明の第3の実施例を説明する図である。図
5において、カラーフィルター検査装置201は、基板
搬送ロボット241の旋回軸を中心として、未検査のカ
ラーフィルター基板を複数収納可能なカセット250、
検査済カラーフィルター基板を収納するカセット25
1、2組のステージ202、202aが配置されてい
る。搬送ロボット241の構成は、第2の実施例の場合
と同様であるので説明を省略する。搬送ロボット241
の動作も基本的には第2の実施例と同様であるが、カラ
ーフィルター検査装置が2組のステージ202、202
aを備え、2名の作業者により検査を行えるように、各
作業者の使用する操作盤に「基板交換」スイッチを設
け、先にスイッチを押して基板交換の要求信号を発した
作業者側のステージに基板交換を行うようにしている。
このように2組のステージで搬送ロボットを共用するこ
とによって、比較的長時間を要するカラーフィルター基
板の検査中においても、搬送ロボットを遊ばせることが
少なく、また装置の省スペース化、コストダウンにも有
効である。また、未検査カラーフィルター基板カセット
250と検査済カラーフィルター基板カセット251と
を同一のカセットとしてもよい。
Third Embodiment FIG. 5 is a diagram for explaining a third embodiment of the present invention. In FIG. 5, the color filter inspection apparatus 201 includes a cassette 250 capable of accommodating a plurality of uninspected color filter substrates, centering on the turning axis of the substrate transfer robot 241.
Cassette 25 for storing the inspected color filter substrate
One or two sets of stages 202 and 202a are arranged. Since the configuration of the transfer robot 241 is the same as that of the second embodiment, its explanation is omitted. Transfer robot 241
Is basically the same as that of the second embodiment, but the color filter inspection device has two sets of stages 202, 202.
In addition, a "board exchange" switch is provided on the operation panel used by each worker so that the inspection can be performed by two workers, and the operator who has issued the signal for requesting the substrate exchange by pressing the switch first Substrate exchange is performed on the stage.
By thus sharing the transfer robot between the two sets of stages, even during the inspection of the color filter substrate, which takes a relatively long time, the transfer robot is less likely to play, and the space and cost of the device can be saved. Is also effective. Further, the uninspected color filter substrate cassette 250 and the inspected color filter substrate cassette 251 may be the same cassette.

【0034】実施例4 図6は、本発明の第4の実施例を説明する、カラーフィ
ルター基板の搬送制御系のブロック図である。図6にお
いて、搬送制御系300は、光学読み取り手段360、
データ記憶手段370、制御手段380、表示手段39
0から構成されており、制御手段380は中央制御装置
(以下、CPUという。)381、光学読み取り手段制
御回路382、搬送ロボット制御回路383、表示手段
制御回路384、CPU381により実行されるプログ
ラムを格納するプログラムメモリー385を含んでお
り、光学読み取り手段360は光学読み取り手段制御回
路382を介してCPU31に接続され、表示手段39
0は表示手段制御回路384を介してCPU381に接
続されており、外部の搬送ロボット341が搬送ロボッ
ト制御回路383介してCPU381に接続されてい
る。図7はプログラムメモリー385に格納されたプロ
グラムをCPU381により実行して実現される手順を
示すフローチャートである。
Embodiment 4 FIG. 6 is a block diagram of a color filter substrate transport control system for explaining a fourth embodiment of the present invention. In FIG. 6, the conveyance control system 300 includes an optical reading unit 360,
Data storage means 370, control means 380, display means 39
The control means 380 stores a program executed by a central control unit (hereinafter referred to as CPU) 381, an optical reading means control circuit 382, a transfer robot control circuit 383, a display means control circuit 384, and a CPU 381. The optical reading means 360 is connected to the CPU 31 via the optical reading means control circuit 382, and the display means 39 is included.
0 is connected to the CPU 381 via the display control circuit 384, and the external transfer robot 341 is connected to the CPU 381 via the transfer robot control circuit 383. FIG. 7 is a flowchart showing the procedure realized by executing the program stored in the program memory 385 by the CPU 381.

【0035】光学読み取り手段360は、カラーフィル
ター検査装置に搬送されてきた、未検査カラーフィルタ
ー基板を複数枚収納している未検査カラーフィルター基
板カセット350に設けられているバーコード等の光学
読み取り用情報361を読み取るものであり、種々のラ
インセンサーやホログラムスキャナー等が使用できる。
光学読み取り手段360は、制御手段380内の中央制
御装置381(以下、CPUという。)に光学読み取り
手段制御回路382を介して接続されており、未検査カ
ラーフィルター基板カセット350が所定の位置に装着
されると、カセット350に付された光学読み取り用情
報361の読み取りを開始する。(S1) また、CPU381は、データ記憶手段370と接続し
ており、このデータ記憶手段370は、カラーフィルタ
ーの生産ラインを統括する上位コンピューターからなる
サーバー375とLAN(Local Area Ne
twork)376を構成しており、CPU381は読
み取られた光学読み取り用情報361に対応するカセッ
ト350に関する情報(カセット情報)を読み出し、そ
の情報をデータ記憶手段370に格納する。(S2) カセット情報とは、カセット350内に収納されている
個々のカラーフィルター基板に関する情報であり、その
カラーフィルター基板がカセット内の何番目の基板であ
るかを示す基板番号、基板サイズ、品種、ロット番号、
前工程までで発見された欠陥に関する不良レベル情報等
であり、不良レベル情報には、カラーフィルター基板全
体の欠陥の種類、程度、数量等の情報と、カラーフィル
ター基板を所定の面積に区分した各領域内の欠陥の種
類、程度、数量等の情報が含まれる。この実施例では、
1枚の基板に複数のカラーフィルターを多面付けして製
造する場合に、その多面付けされた各カラーフィルター
に対応する領域に区分し、各領域の欠陥の種類、程度、
数の情報が含まれている。
The optical reading means 360 is for optical reading of a bar code or the like provided in an uninspected color filter substrate cassette 350 that contains a plurality of uninspected color filter substrates that have been conveyed to the color filter inspection device. The information 361 is read, and various line sensors and hologram scanners can be used.
The optical reading unit 360 is connected to a central controller 381 (hereinafter referred to as CPU) in the control unit 380 via an optical reading unit control circuit 382, and the uninspected color filter substrate cassette 350 is mounted at a predetermined position. Then, the reading of the optical reading information 361 attached to the cassette 350 is started. (S1) Further, the CPU 381 is connected to the data storage means 370, and the data storage means 370 includes a server 375 including a host computer that controls the color filter production line and a LAN (Local Area Ne).
The CPU 381 reads information (cassette information) about the cassette 350 corresponding to the read optical reading information 361 and stores the information in the data storage unit 370. (S2) The cassette information is information about each color filter substrate stored in the cassette 350, and the substrate number, the substrate size, and the product type that indicate which substrate in the cassette the color filter substrate is. ,Lot number,
The defect level information is related to the defects found in the previous process.The defect level information includes information such as the type, degree, and quantity of defects in the entire color filter substrate, and the color filter substrate divided into predetermined areas. Information such as the type, degree, and quantity of defects in the area is included. In this example,
When a plurality of color filters are attached to one substrate in a multi-faceted manner, it is divided into regions corresponding to the respective multi-faceted color filters, and the type, degree of defects in each region,
It contains a number of information.

【0036】次いで、CPU381は、まず、1番目の
カラーフィルター基板(基板番号1)から、そのカラー
フィルター基板の不良レベル情報が要求仕様の許容値の
範囲内にあるか否かを判定する。具体的には、この判定
処理は2段階で行われる。例えば、カセット350内の
n番目(基板番号n)のカラーフィルター基板について
処理を行う場合を例にとると、第1段階の判定処理で
は、基板番号nのカラーフィルター基板全体の欠陥の程
度あるいは欠陥数が、予めプリセットされた所定の許容
値の範囲内にあるか否かを、欠陥の種類に応じて判定す
る。(S3) 第1段階の判定において、不良レベルが許容値の範囲内
である場合には、S4により、次いで、第2段階の判定
処理が行われる。不良レベルが許容値を超える場合に
は、基板番号nのカラーフィルター基板のステージへの
搬送は行なわず、搬送ロボット341を駆動して、その
まま検査済カラーフィルター用カセットに搬送して収納
させる処理を行い(S5)、その後、基板番号(n+
1)に対する第1段階の判定処理に移行する。
Next, the CPU 381 first determines from the first color filter substrate (substrate number 1) whether or not the defect level information of the color filter substrate is within the range of the required specifications. Specifically, this determination process is performed in two stages. For example, taking the case of processing the n-th (filter number n) color filter substrate in the cassette 350 as an example, in the determination process of the first stage, the degree of defect or the defect of the entire color filter substrate of the substrate number n. Whether or not the number is within the range of a predetermined preset allowable value is determined according to the type of defect. (S3) In the first-stage determination, if the defect level is within the allowable range, then the second-stage determination processing is performed in S4. When the defect level exceeds the allowable value, the color filter substrate of the substrate number n is not transported to the stage, and the transport robot 341 is driven to transport the color filter substrate to the inspected color filter cassette and store it. Perform (S5), then the board number (n +
The procedure moves to the first-stage determination processing for 1).

【0037】第2段階の判定処理では、基板番号nのカ
ラーフィルター基板内の所定の面積に区分された各領域
について、その領域に含まれる欠陥の程度あるい欠陥数
が所定の許容値の範囲内にあるか否かを、欠陥の種類に
応じて判定する。(S6) ここで、基板番号nのカラーフィルター基板は、カラー
フィルターが4面付けされており、各々のカラーフィル
ターに対応するA、B、C、Dの領域に区分されている
とすると、領域A、B、C、Dの各々について、欠陥の
程度あるい欠陥数が所定の許容値の範囲内にあるか否か
の判定が行われる。(S7) すべての領域の不良レベルが、許容値の範囲内である場
合には、CPU381は搬送ロボット制御回路383に
よって搬送ロボット341を駆動して、カセット350
内の基板番号nのカラーフィルター基板をカセットから
取り出して待機させ(S8)、作業者によって操作盤4
00から基板をステージに載置すること要求する信号が
出されるのを待って(S9)、カラーフィルター基板を
ステージに載置させる。(S10) また、例えば、領域Aの欠陥数のみが許容値を超え、領
域B、C、Dの欠陥は許容値の範囲内であった場合に
は、CPU381は搬送ロボット制御回路383によっ
て搬送ロボット341を駆動して、カセット350内の
基板番号nのカラーフィルター基板をカセットから取り
出して待機させ(S11)、作業者によって操作盤40
0から基板をステージに載置すること要求する信号が出
されるのを待って(S12)、カラーフィルター基板を
ステージに載置させる(S14)と共に、表示手段制御
回路384によって液晶ディスプレイ等からなる表示手
段390上の領域Aに対応する位置を表示させる。(S
13)これにより作業者は、カラーフィルター基板の領
域Aは、既に不良であって、検査を行う必要がないこと
を確認することができる。
In the second-stage judgment processing, for each area divided into a predetermined area in the color filter substrate of the substrate number n, the degree of defects contained in the area or the number of defects is within a predetermined allowable range. It is determined whether or not it is within the range according to the type of defect. (S6) Here, it is assumed that the color filter substrate of substrate number n has four color filters attached thereto and is divided into regions A, B, C, and D corresponding to the respective color filters. For each of A, B, C, and D, it is determined whether the degree of defects or the number of defects is within a range of a predetermined allowable value. (S7) When the defect levels in all the areas are within the allowable range, the CPU 381 drives the transfer robot 341 by the transfer robot control circuit 383 to drive the cassette 350.
The color filter substrate with the substrate number n in the inside is taken out from the cassette and made to stand by (S8), and the operator operates the operation panel 4
The color filter substrate is placed on the stage after waiting for a signal from 00 to request placing the substrate on the stage (S9). (S10) Further, for example, when only the number of defects in the area A exceeds the allowable value and the defects in the areas B, C, and D are within the allowable value range, the CPU 381 causes the transfer robot control circuit 383 to cause the transfer robot to operate. 341 is driven to take out the color filter substrate of the substrate number n in the cassette 350 from the cassette and make it stand by (S11).
Waiting for a signal requesting that the substrate be mounted on the stage from 0 (S12), the color filter substrate is mounted on the stage (S14), and the display means control circuit 384 displays a liquid crystal display or the like. The position corresponding to the area A on the means 390 is displayed. (S
13) With this, the operator can confirm that the area A of the color filter substrate is already defective and does not need to be inspected.

【0038】ステージ上に載置されたカラーフィルター
基板について、前述したように目視検査を行い、ここで
新たに発見された欠陥について、その種類、程度、数量
等の不良レベル情報を、操作盤上の入力装置から入力し
て、データ記憶手段370内のカセット情報に追記、更
新する。(S15、S16)次いで、基板番号(n+
1)の処理に移行する。このようにして、カセット35
0内のすべてのカラーフィルター基板について処理を繰
り返して終了した時点(S17)で、更新されたカセッ
ト情報をサーバー375の仮想ディスク、あるいは通信
用パソコンの情報記録媒体にセーブする。(S18)
The color filter substrate placed on the stage was visually inspected as described above, and defect level information such as the type, degree, and quantity of defects newly found here was recorded on the operation panel. Input from the input device to add and update the cassette information in the data storage means 370. (S15, S16) Next, the board number (n +
The process shifts to 1). In this way, the cassette 35
When the processing is repeated for all the color filter substrates in 0 (S17), the updated cassette information is saved in the virtual disk of the server 375 or the information recording medium of the communication personal computer. (S18)

【0039】この実施例においては、不良カラーフィル
ター基板についても、すべて検査済カセットへの搬送を
行い、検査工程から次の不良選別工程へ送られる。不良
選別工程での良品と不良品の選別作業は、更新されたカ
セット情報に基づき動作する選別用のロボットを用いて
行うことにより、人手を介在せずに選別が可能である。
In this embodiment, all defective color filter substrates are also transported to the inspected cassette and sent from the inspection step to the next defect selection step. The non-defective product and the defective product in the defect selection process can be sorted without human intervention by using a sorting robot that operates based on the updated cassette information.

【0040】[0040]

【発明の効果】本願第1の発明のカラーフィルター検査
装置は、従来の膜面反射検査のみでは検出できなかった
種々の欠陥を煩雑な手作業によらず目視検査可能にする
ことができる。本願第2の発明のカラーフィルター検査
装置は、第1の発明の効果に加え、カラーフィルター基
板の搬送を自動化するとともに高速化することができ
る。本願第3の発明のカラーフィルター検査装置は、第
1または第2の発明の効果に加え、省スペース化および
低コスト化を実現することができる。本願第4の発明の
カラーフィルター検査装置は、第1ないし第3の発明の
効果に加え、明らかに不良として除去すべきカラーフィ
ルターの検査を自動的あるいは容易に識別して省略し検
査効率を向上することができる。本願第5の発明のカラ
ーフィルター検査装置は、第1ないし第4の発明の効果
に加え、後工程での不良選別を容易にする不良情報を提
供することができる。本願第6の発明のカラーフィルタ
ー検査装置は、第2ないし第5の発明の効果に加え、装
置の省スペース化を実現できる。
The color filter inspection apparatus according to the first aspect of the present invention enables visual inspection of various defects that could not be detected by the conventional film surface reflection inspection alone, without complicated manual work. In addition to the effect of the first invention, the color filter inspection device of the second invention of the present application can automate the transfer of the color filter substrate and can speed it up. The color filter inspection device of the third invention of the present application can realize space saving and cost reduction in addition to the effects of the first or second invention. In addition to the effects of the first to third inventions, the color filter inspection device of the fourth invention of the present application improves the inspection efficiency by automatically and easily identifying and omitting the inspection of the color filter to be removed as a defect obviously. can do. In addition to the effects of the first to fourth inventions, the color filter inspection device of the fifth invention of the present application can provide defect information that facilitates defect selection in a subsequent process. The color filter inspection device of the sixth invention of the present application can realize space saving of the device in addition to the effects of the second to fifth inventions.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例を概念的に示す斜視図で
ある。
FIG. 1 is a perspective view conceptually showing a first embodiment of the present invention.

【図2】第1の実施例の検査装置を使用した目視検査の
態様を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a mode of visual inspection using the inspection device of the first embodiment.

【図3】第1の実施例におけるステージの詳細を説明す
る図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating details of a stage in the first embodiment.

【図4】本発明の第2の実施例を概念的に示す平面図で
ある。
FIG. 4 is a plan view conceptually showing a second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3の実施例を説明する図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a third embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第4の実施例における搬送制御系ブロ
ック図である。
FIG. 6 is a block diagram of a transfer control system according to a fourth embodiment of the present invention.

【図7】第4の実施例において実行されるプログラムの
手順を示すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart showing a procedure of a program executed in a fourth embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、101、201 カラーフィルター検査装置 2、102、202、202a ステージ 4 透過検査用光源 5 裏面反射検査用光源 10 カラーフィルター基板 11 着色層 12 膜面(着色層の形成された面) 13 裏面(着色層の形成された面の裏面) 14 アーム 15 基板保持プレート 20 作業者 31 基板保持具 41、141、241 基板搬送ロボット 42、142 第1アーム 43、143 第2アーム 44、45、144、145 基板保持チャック 147 支持台 150、250、350 未検査カラーフィルター基板
収納カセット 151、251 検査済カラーフィルター基板収納カセ
ット 300 搬送制御系 360 光学読み取り手段 361 光学読み取り用情報 370 データ記憶手段 375 サーバー(上位コンピューター) 376 LAN 380 制御手段 381 CPU 382 光学読み取り手段制御回路 383 搬送ロボット制御回路 384 表示手段制御回路 385 プログラムメモリー 390 表示手段 400 操作盤
1, 101, 201 Color filter inspection device 2, 102, 202, 202a Stage 4 Light source for transmission inspection 5 Light source for backside reflection inspection 10 Color filter substrate 11 Color layer 12 Film surface (surface on which the color layer is formed) 13 Back surface ( Rear surface of the surface on which the colored layer is formed) 14 Arm 15 Substrate holding plate 20 Worker 31 Substrate holder 41, 141, 241 Substrate transfer robot 42, 142 First arm 43, 143 Second arm 44, 45, 144, 145 Substrate holding chuck 147 Supports 150, 250, 350 Uninspected color filter substrate storage cassettes 151, 251 Inspected color filter substrate storage cassette 300 Transport control system 360 Optical reading means 361 Optical reading information 370 Data storage means 375 Server (upper computer ) 376 LAN 380 control means 381 CPU 382 optical reading means control circuit 383 transfer robot control circuit 384 display means control circuit 385 program memory 390 display means 400 operation panel

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/84 G01N 21/896 G01M 11/00 G02B 5/20 101 Front page continuation (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G01N 21/84 G01N 21/896 G01M 11/00 G02B 5/20 101

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板上に少なくとも着色層が形成された
カラーフィルター基板の欠陥を目視で検査するためのカ
ラーフィルター検査装置であって、 前記カラーフィルター基板を表裏の反転可能に保持する
ステージに対して、 前記カラーフィルター基板を、その着色層が形成された
面が作業者側に向くように保持した際に、前記着色層が
形成された面の裏面側より光を照射する透過検査用光源
と前記着色層の形成された面の裏面が作業者側に向くよ
うに前記カラーフィルター基板を保持した際に、上方ま
たは作業者側から前記裏面に光を照射する裏面反射検査
用光源と、を配置したことを特徴とするカラーフィルタ
ー検査装置。
1. A color filter inspecting apparatus for visually inspecting a color filter substrate having at least a colored layer formed on the substrate for defects, which comprises: A light source for transmission inspection that irradiates light from the back side of the surface on which the colored layer is formed, when the color filter substrate is held so that the surface on which the colored layer is formed faces the operator side. When the color filter substrate is held so that the back surface of the surface on which the colored layer is formed faces the operator side, a back surface reflection inspection light source that irradiates the back surface from above or from the worker side is arranged. A color filter inspection device characterized in that
【請求項2】 複数の未検査カラーフィルター基板が収
納されたカセットからステージに未検査カラーフィルタ
ー基板を搬送する第1アームと、 ステージから複数の検査済カラーフィルター基板を収納
可能なカセットに検査済カラーフィルター基板を搬送す
る第2アームが、 旋回可能な支持台に装着された基板搬送ロボットを備え
ており、 第1アームが未検査カラーフィルター基板を保持して待
機した状態で、第2アームが検査済カラーフィルター基
板を抜き取り、直後に第1アームが未検査カラーフィル
ター基板をステージに搬送するようにしたことを特徴と
する請求項1記載のカラーフィルター検査装置。
2. A first arm for transporting an uninspected color filter substrate from a cassette accommodating a plurality of uninspected color filter substrates to a stage, and an inspected cassette capable of accommodating a plurality of inspected color filter substrates from the stage. The second arm for transporting the color filter substrate is equipped with a substrate transport robot mounted on a swivelable support, and the first arm holds the uninspected color filter substrate and stands by while the second arm moves. 2. The color filter inspection device according to claim 1, wherein the inspected color filter substrate is taken out, and immediately after that, the first arm conveys the uninspected color filter substrate to the stage.
【請求項3】 透過検査用光源および裏面反射用光源が
配置されたステージを2組備え、 この2組のステージと未検査カラーフィルター基板が収
納されたカセットと検査済カラーフィルター基板を収納
可能なカセットを、基板搬送ロボットの周囲に配置し、 2組のステージで基板搬送ロボットを共用するように構
成したことを特徴とする請求項1または2記載のカラー
フィルター検査装置。
3. A stage comprising two sets of a light source for transmission inspection and a light source for backside reflection is provided, and a cassette containing the two sets of stages, an uninspected color filter substrate and an inspected color filter substrate can be stored. The color filter inspection device according to claim 1 or 2, wherein the cassette is arranged around the substrate transfer robot, and the substrate transfer robot is shared by two sets of stages.
【請求項4】 複数の未検査カラーフィルター基板が収
納されたカセット毎に設けられた光学読み取り用情報に
対応してカセット内のカラーフィルター基板の各々に対
応する基板番号と、この基板番号に対応した前工程まで
の不良レベル情報を記憶するデータ記憶手段と、 前記カセットに設けられた光学読み取り用情報を読み取
る光学読み取り手段と、読み取られた光学読み取り用情
報に応じて前記基板番号に対応した前記不良レベル情報
を読み出し、カラーフィルター基板ごとに不良レベル情
報におけるカラーフィルター基板全体の不良レベルと、
カラーフィルター基板を所定の面積に区分した各領域内
の不良レベルが所定の許容値を超えるか否かをそれぞれ
判定し、 全体の不良レベルが許容値を超える場合には、その基板
番号のカラーフィルター基板のステージへの搬送を行わ
ず、 許容値以内の場合にはその基板番号に対応するカラーフ
ィルター基板を搬送ロボットによりステージに搬送し、 ステージに搬送されるカラーフィルター基板内の前記区
分したいずれかの領域の不良レベルが許容値を超える場
合には、その区分した領域の位置を表示するようにする
制御手段と、 許容値を超える不良レベルを有する前記区分した領域の
位置を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする請
求項1ないし3のいずれかの一つに記載のカラーフィル
ター検査装置。
4. A substrate number corresponding to each color filter substrate in the cassette corresponding to optical reading information provided for each cassette containing a plurality of untested color filter substrates, and a corresponding substrate number. The data storage means for storing the defect level information up to the preceding step, the optical reading means for reading the optical reading information provided in the cassette, and the one corresponding to the substrate number according to the read optical reading information. Read the defect level information, and the defect level of the entire color filter substrate in the defect level information for each color filter substrate,
It is judged whether the defect level in each area where the color filter substrate is divided into a predetermined area exceeds a predetermined allowable value. If the overall defect level exceeds the allowable value, the color filter of the substrate number If the substrate is not transported to the stage and it is within the allowable value, the color filter substrate corresponding to that substrate number is transported to the stage by the transport robot, and one of the above-mentioned sections in the color filter substrate transported to the stage is transported. Control means for displaying the position of the divided area when the defective level of the area exceeds the allowable value, and display means for displaying the position of the divided area having the defective level exceeding the allowable value. The color filter inspection device according to any one of claims 1 to 3 , further comprising:
【請求項5】 不良レベル情報を入力する手段と、入力
された不良レベル情報により、データ記憶手段に記憶さ
れている前工程までの不良レベル情報を更新する手段を
備えたことを特徴とする請求項4記載のカラーフィルタ
ー検査装置。
5. A means for inputting defect level information, and means for updating the defect level information up to the previous process stored in the data storage means by the inputted defect level information. Item 4. The color filter inspection device according to item 4.
【請求項6】 前記未検査カラーフィルター基板が収納
されたカセットと前記検査済カラーフィルター基板を収
納可能なカセットは同一のカセットであることを特徴と
する請求項2ないし5のいずれかの一つに記載のカラー
フィルター検査装置。
One either wherein to the claims 2, characterized in that untested color filter substrate capable of accommodating the inspected color filter substrate and housed cassette cassette identical cassette 5 the color filter inspection apparatus according to.
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