JP3387180B2 - Proximity switch - Google Patents

Proximity switch

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JP3387180B2
JP3387180B2 JP30753193A JP30753193A JP3387180B2 JP 3387180 B2 JP3387180 B2 JP 3387180B2 JP 30753193 A JP30753193 A JP 30753193A JP 30753193 A JP30753193 A JP 30753193A JP 3387180 B2 JP3387180 B2 JP 3387180B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は近接スイッチに関し、特
にその感度調整及び感度設定に特徴を有する近接スイッ
チに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a proximity switch, and more particularly to a proximity switch characterized by its sensitivity adjustment and sensitivity setting.

【0002】[0002]

【従来の技術】高周波発振型の近接スイッチは物体の近
接時に発振の振幅の低下を検出する振幅検波型と、周波
数の変化に基づいて物体の近接を検出する周波数検波型
とがある。一般に磁性金属を検出する近接スイッチで
は、振幅検波型の近接スイッチが広く用いられている。
図13は従来の振幅検波型近接スイッチの一例を示すブ
ロック図である。本図において発振コイルLとコンデン
サCの並列共振回路1と共に発振回路2が構成されてい
る。発振回路2の出力は検波回路3によって検波され、
信号処理回路4によって発振レベルの低下が検出され
る。そして発振の低下が検出されれば出力回路5を介し
て物体検知信号が出力される。又電源回路6は各ブロッ
クに電源を供給するものである。ここで発振回路2には
感度を調整するための感度調整抵抗Reが接続されてい
る。
2. Description of the Related Art Proximity switches of high-frequency oscillation type include an amplitude detection type that detects a decrease in oscillation amplitude when an object approaches, and a frequency detection type that detects proximity of an object based on a change in frequency. In general, an amplitude detection type proximity switch is widely used as a proximity switch for detecting magnetic metal.
FIG. 13 is a block diagram showing an example of a conventional amplitude detection type proximity switch. In this figure, an oscillating circuit 2 is configured together with a parallel resonance circuit 1 of an oscillating coil L and a capacitor C. The output of the oscillation circuit 2 is detected by the detection circuit 3,
The signal processing circuit 4 detects a decrease in the oscillation level. When the decrease in oscillation is detected, the object detection signal is output via the output circuit 5. The power supply circuit 6 supplies power to each block. Here, the oscillation circuit 2 is connected with a sensitivity adjustment resistor Re for adjusting the sensitivity.

【0003】図14はこの並列共振回路1と共に構成さ
れる発振回路2の一例を示す回路図である。本図におい
て並列共振回路1には抵抗R1、ダイオードD1,D2
を介してトランジスタQ1のベースが接続される。トラ
ンジスタQ1のベースには電源より定電流が供給されて
おり、そのエミッタ側には抵抗R2,R3,R4が接地
端との間に直列接続される。そして抵抗R2,R3の中
点がトランジスタQ2のベースに接続され、そのエミッ
タには前述した感度調整抵抗Reが接続される。トラン
ジスタQ2のコレクタ側には、トランジスタQ3,Q4
から成るカレントミラー回路が接続されており、トラン
ジスタQ2に流れる電源と同じ電流値の電流がトランジ
スタQ4を介して並列共振回路1に帰還され、正帰還ル
ープが構成されて発振している。図15(a)は感度調
整抵抗Reが小〜大に変化したときの発振振幅と検出物
体までの距離の関係を示すグラフである。本図より明ら
かなように物体までの距離が特定の位置で発振が急激に
開始、停止することとなる。このような発振を硬発振と
称している。
FIG. 14 is a circuit diagram showing an example of an oscillating circuit 2 configured together with the parallel resonant circuit 1. In the figure, the parallel resonance circuit 1 includes a resistor R1 and diodes D1 and D2.
The base of the transistor Q1 is connected via. A constant current is supplied to the base of the transistor Q1 from the power source, and resistors R2, R3, and R4 are connected in series between the base of the transistor Q1 and the ground terminal. The middle point of the resistors R2 and R3 is connected to the base of the transistor Q2, and the emitter thereof is connected to the sensitivity adjusting resistor Re described above. Transistors Q3 and Q4 are provided on the collector side of the transistor Q2.
Is connected to the current mirror circuit, and a current having the same current value as that of the power supply flowing in the transistor Q2 is fed back to the parallel resonant circuit 1 via the transistor Q4 to form a positive feedback loop and oscillate. FIG. 15A is a graph showing the relationship between the oscillation amplitude and the distance to the detection object when the sensitivity adjustment resistance Re changes from small to large. As is clear from this figure, oscillation suddenly starts and stops at a specific position at a distance to the object. Such oscillation is called hard oscillation.

【0004】図16は周波数検波型の近接スイッチの一
例を示すブロック図である。本図ではセンサヘッド11
と信号処理ユニット12とを分離した分離型の近接スイ
ッチについて示している。センサヘッド11はコイル及
びコンデンサから成る並列共振回路11aと温度検出素
子11bを含んでいる。又信号処理ユニット12はこの
並列共振回路11aに接続される発振回路13を有して
おり、その出力端は周波数カウンタ14に接続される。
周波数カウンタ14は発振回路の発振周波数を検出する
ものであって、その出力はマイクロコンピュータ15で
構成される信号処理部15aに接続される。又センサヘ
ッド11の感温素子11bが信号処理ユニット12内の
温度検出回路16に入力される。温度検出回路16は温
度情報をマイクロコンピュータ15内に出力するもので
ある。マイクロコンピュータ15は所定の周波数を閾値
として物体の有無を判別するものであって、その出力は
出力ポート15bを介して出力バッファ回路17より出
力される。又感度設定時には設定部18より入力ポート
15cを介して信号処理部15aに入力される。
FIG. 16 is a block diagram showing an example of a frequency detection type proximity switch. In this figure, the sensor head 11
It shows a separation type proximity switch in which the signal processing unit 12 and the signal processing unit 12 are separated. The sensor head 11 includes a parallel resonance circuit 11a including a coil and a capacitor and a temperature detection element 11b. Further, the signal processing unit 12 has an oscillating circuit 13 connected to the parallel resonant circuit 11a, and its output end is connected to a frequency counter 14.
The frequency counter 14 detects the oscillating frequency of the oscillating circuit, and its output is connected to the signal processing unit 15a composed of the microcomputer 15. Further, the temperature sensitive element 11b of the sensor head 11 is input to the temperature detection circuit 16 in the signal processing unit 12. The temperature detection circuit 16 outputs temperature information to the microcomputer 15. The microcomputer 15 determines the presence / absence of an object using a predetermined frequency as a threshold value, and its output is output from the output buffer circuit 17 via the output port 15b. When the sensitivity is set, the signal is input from the setting unit 18 to the signal processing unit 15a via the input port 15c.

【0005】このような周波数検波型の近接スイッチで
は、図15(b)に示すように物体までの距離Lに対し
て周波数fが連続して変化する。従って閾値レベルをテ
ィーチングすることによって動作距離を調整するものが
知られている。
In such a frequency detection type proximity switch, the frequency f continuously changes with respect to the distance L to the object as shown in FIG. 15 (b). Therefore, it is known that the operating distance is adjusted by teaching the threshold level.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかるに前述した振幅
検波型の近接スイッチでは、以下のような欠点があっ
た。 感度調整が感度調整抵抗Reを変化させるという手動
で行われるため、調整に熟練を要し、作業者によって調
整位置のばらつきが発生するという欠点があった。 感度調整抵抗Reの可変抵抗器の回転角度と検出動作
距離とは比例しないため、最適点に調整することが難し
く、感に頼った調整と動作確認とを繰り返す必要があっ
た。 特に長距離の動作点を設定する場合には、検出物体の
有無によって発振コイルのコンダクタンスの変化が小さ
くなる。そのため最適点に調整することが難しく、又振
動等により可変抵抗器の位置が少しずれただけでも動作
点が大きく変わってしまうという欠点があった。 又近接スイッチは物体の通過検知だけに用いる場合が
最も多いが、この場合にも物体を配置した状態で可変抵
抗の調整や動作確認が必要となる。特に物体を動かしに
くい場合には、調整が困難になるという欠点があった。
However, the above-mentioned amplitude detection type proximity switch has the following drawbacks. Since the sensitivity adjustment is performed manually by changing the sensitivity adjustment resistance Re, there is a drawback in that the adjustment requires skill and the operator may have variations in the adjustment position. Since the rotation angle of the variable resistor of the sensitivity adjustment resistor Re is not proportional to the detection operation distance, it is difficult to adjust it to the optimum point, and it is necessary to repeat the adjustment and the operation confirmation depending on the feeling. Especially when a long-distance operating point is set, the change in the conductance of the oscillation coil becomes small depending on the presence or absence of the detection object. Therefore, there is a drawback that it is difficult to adjust to the optimum point, and the operating point changes greatly even if the position of the variable resistor is slightly displaced due to vibration or the like. Further, the proximity switch is most often used only for detecting the passage of an object, but in this case also, it is necessary to adjust the variable resistance and confirm the operation with the object arranged. Especially, when the object is difficult to move, there is a drawback that the adjustment becomes difficult.

【0007】一方周波数検波型の近接スイッチにおいて
は、以下のような欠点があった。 物体の接近による発振周波数の変化は振幅検波型の近
接スイッチにおけるコンダクタンス変化よりも小さく、
使用温度による周波数変動が動作点に大きな影響を与え
る。従って温度検出回路を要し、マイクロコンピュータ
内での温度補償処理が必要となるが、1台毎にスクリー
ニングを行って補正する必要があり、製造工程が長く複
雑になるという欠点があった。 センサヘッドを近接スイッチ本体と分離する構造の近
接スイッチでは、センサヘッドが本体と対応付けられる
ため、使用時の融通性がなくなる。従っていずれか一方
のみが破損した場合にも全体を交換する必要があった。 更にセンサヘッドには温度検出素子が必要となって、
小型化が難しくなる。又センサヘッドと本体側との接続
ケーブル数が増えるため、接続工程も増加するという欠
点もあった。 更に感度設定時には検出物体の有無から閾値を決定し
ているため、検出物体の単なる通過検出のように、特に
高精度を必要としない感度設定の場合にも検出物体が接
近した状態と物体のない状態とで2回のティーチングが
必要となり、操作が複雑になるという欠点があった。
On the other hand, the frequency detection type proximity switch has the following drawbacks. The change in oscillation frequency due to the approach of an object is smaller than the change in conductance in an amplitude detection type proximity switch,
Frequency fluctuations due to operating temperature greatly affect the operating point. Therefore, a temperature detection circuit is required, and temperature compensation processing in the microcomputer is required, but it is necessary to perform screening and correction for each unit, which has a drawback that the manufacturing process becomes long and complicated. In the proximity switch having a structure in which the sensor head is separated from the proximity switch main body, the sensor head is associated with the main body, so that flexibility in use is lost. Therefore, even if only one of them was damaged, it was necessary to replace the whole. Furthermore, the sensor head requires a temperature detection element,
Miniaturization becomes difficult. Further, since the number of connecting cables between the sensor head and the main body side increases, there is also a drawback that the connecting process also increases. Further, since the threshold is determined from the presence or absence of the detected object when setting the sensitivity, even when the sensitivity setting does not particularly require high accuracy, such as the simple detection of the passage of the detected object, the detected object is close to the object and there is no object. There is a drawback in that the teaching is required twice depending on the state and the operation becomes complicated.

【0008】本発明はこのような従来の近接スイッチの
感度調整方法の問題点に鑑みてなされたものであって、
構造を複雑にすることなく容易に感度設定を行い、感度
設定時の異常を判別できるようにすることを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the problems of the conventional method for adjusting the sensitivity of the proximity switch.
The purpose is to easily set the sensitivity without making the structure complicated and to be able to determine an abnormality at the time of setting the sensitivity.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本願の請求項1の発明
は、発振コイル、及び物体の接近を検出する距離Lonよ
り物体の離間を検出する距離Loff が遠くなるように物
体の検知信号によって発振状態を変化させる応差回路を
含む発振回路と、発振回路の帰還電流を切換えることに
よってその感度を調整する感度調整回路と、感度調整回
路にスイッチ信号を出力することによって発振回路の感
度を調整するスイッチ制御手段と、発振回路の出力を検
波する検波回路と、検波回路の出力に基づいて発振又は
その停止によって物体の有無を判別する信号処理手段
と、ティーチング状態を入力するティーチングスイッチ
と、を具備するものであり、応差回路は、距離LonとL
off との差であるヒステリシス幅を複数段階に変化させ
るものであり、スイッチ制御手段は、物体を検出すべき
でない状態でティーチングスイッチが投入されたときに
帰還電流を調整可能範囲の最も大きく発振開始状態から
発振停止まで連続的に変化させ、発振停止時の帰還電流
I(N1)を検出することと、帰還電流を発振停止状態
の値から順次上昇させ発振開始時の帰還電流I(N2)
を検出することと、物体を検知すべき位置に近接させた
状態でティーチングスイッチが投入されたときに帰還電
流を調整可能範囲の最も大きく発振開始状態から発振停
止まで連続的に変化させ、発振停止時の帰還電流I(N
3)を検出することとを行う第2の帰還電流更新手段
と、第2の帰還電流更新手段より検出された帰還電流I
(N3)がI(N2)より小さい場合に応差回路のヒス
テリシス幅を小さくし、第2の帰還電流更新手段での処
理を繰り返し、新たに第2の帰還電流更新手段より検出
された帰還電流I(N3)がI(N2)より小さい場合
に設定不能を検出する第3の異常検出手段と、第3の異
常状態検出手段より異常が検出されないときに帰還電流
I(B)を第2の帰還電流更新手段により検出されたI
(N2),I(N3)の中間に設定する第2の感度設定
手段と、有することを特徴とするものである。
The invention according to claim 1 of the present application
Is the distance Lon for detecting the approach of the oscillation coil and the object.
The distance Loff for detecting the separation of
A hysteresis circuit that changes the oscillation state according to the body detection signal
For switching between the oscillation circuit including and the feedback current of the oscillation circuit
Therefore, the sensitivity adjustment circuit that adjusts the sensitivity and the sensitivity adjustment circuit
Output of the switch signal to the circuit
Switch control means for adjusting the
Oscillates based on the output of the detection circuit and the detection circuit
Signal processing means for determining the presence or absence of an object by the stop
And a teaching switch to input the teaching status
, And the hysteresis circuit has distances Lon and L
Change the hysteresis width, which is the difference from off, in multiple steps
The switch control means should detect the object.
When the teaching switch is turned on when it is not
Adjust the feedback current to the maximum adjustable range from the oscillation start state
Feedback current when oscillation is stopped by continuously changing until oscillation stops
Detection of I (N1) and oscillation of feedback current
The feedback current I (N2) at the start of oscillation
Detecting the object and moving the object close to the position to be detected
When the teaching switch is turned on in
The maximum flow adjustable range is from the oscillation start state to the oscillation stop state.
The feedback current I (N
Second feedback current updating means for detecting 3)
And the feedback current I detected by the second feedback current updating means.
If (N3) is smaller than I (N2), hysteresis of hysteresis circuit
The process of the second feedback current updating means is made smaller by narrowing the theresis width.
Repeat the process and newly detect by the second feedback current updating means.
When the generated feedback current I (N3) is smaller than I (N2)
A third abnormality detecting means for detecting the inability to set
Feedback current when no abnormality is detected by the normal state detection means
I (B) is I detected by the second feedback current updating means.
Second sensitivity setting set between (N2) and I (N3)
Means and having.

【0010】本願の請求項2の発明は、請求項1の近接
スイッチにおいて、第2の帰還電流更新手段により帰還
電流を最大値としたときに発振が開始しない状態を判別
する第1の異常検出手段を有することを特徴とするもの
である。
The invention of claim 2 of the present application is the proximity of claim 1.
In the switch, feedback by the second feedback current updating means
Determines the state where oscillation does not start when the current is at the maximum value
Characterized by having a first abnormality detecting means for
Is.

【0011】本願の請求項3の発明は、請求項1又は2
の近接スイッチにおいて、第2の帰還電流更新手段にお
いて帰還電流を最小状態に変化させるまでに発振が停止
しないときの異常を判別する第2の異常検出手段と、を
有することを特徴とするものである。
The invention of claim 3 of the present application is the same as that of claim 1 or 2.
In the proximity switch of, the second feedback current updating means
Oscillation stops until the feedback current changes to the minimum state
Second abnormality detecting means for determining an abnormality when not
It is characterized by having.

【0012】[0012]

【0013】[0013]

【0014】本願の請求項6の発明では、発振回路は、
近接を検出する距離と離間を検出する距離とを複数段階
に変化させる複数の応差回路を有するものであることを
特徴とするものである。
In the invention of claim 6 of the present application, the oscillation circuit is
The present invention is characterized by having a plurality of differential circuits that change the distance for detecting proximity and the distance for detecting separation in a plurality of steps.

【0015】[0015]

【作用】本願の請求項1の発明では、ワーク有り無しテ
ィーチングにおいて検出すべき物体を接近させず、又は
検出すべきでない状態に配置した状態でティーチングス
イッチを投入する。このとき第2の帰還電流更新手段に
より帰還電流が徐々に上昇し、発振停止時の帰還電流I
(N1)を検出する。又発振停止状態から帰還電流を徐
々に小さくして発振を開始する点の帰還電流I(N2)
を検出する。応差回路によって振幅特性曲線が変化する
ので、I(N1)とI(N2)とは異なる値となる。次
に物体を検知すべき位置で近接させた状態でティーチン
グスイッチを投入する。このとき帰還電流の抵抗値を最
小値から徐々に上昇させ、発振停止時の帰還電流I(N
3)を検出する。そしてI(N2)とI(N3)とを比
較し、応差回路によってオフ状態とならない状態が判別
されれば、応差回路のヒステリシス幅を小さくして同様
の処理を繰り返す。こうして再びI(N2)とI(N
3)とを比較し、応差回路によってオフ状態とならない
状態が判別されれば、あらかじめこれを異常状態として
設定を行わない。一方異常がなければI(N2)とI
(N3)の中間値に帰還電流を設定するようにしてい
る。
In the invention of claim 1 of the present application, the work presence / absence test is performed.
Do not bring the object to be detected in the approach, or
Teachings are placed in a state where they should not be detected.
Switch on the switch. At this time, the second feedback current updating means
The feedback current gradually increases, and the feedback current I when the oscillation is stopped
(N1) is detected. The feedback current is gradually reduced from the oscillation stopped state.
Feedback current I (N2) at the point where oscillation is made smaller by gradually decreasing
To detect. Amplitude characteristic curve changes depending on the hysteresis circuit
Therefore, I (N1) and I (N2) have different values. Next
Titin while keeping the object close to where it should be detected
Switch on. At this time, set the resistance value of the feedback current to the maximum.
The feedback current I (N
3) is detected. Then, I (N2) and I (N3) are compared.
By comparison, the state that does not turn off by the hysteresis circuit is determined
If this is the case, reduce the hysteresis width of the hysteresis circuit
The process of is repeated. Thus again I (N2) and I (N
Compared with 3), it is not turned off by the hysteresis circuit.
If the condition is determined, this is set as an abnormal condition in advance.
Do not set. On the other hand, if there is no abnormality, I (N2) and I
The feedback current is set to the intermediate value of (N3)
It

【0016】更に請求項2及び3の発明では、上記の作
用に加えて、帰還電流が最大状態で判別が開始しない異
常や、帰還電流が最小状態で発振が停止しない場合の異
常を判別するようにしている。
Further, in the inventions of claims 2 and 3, the above-mentioned operation is performed.
In addition to the above, the difference does not start when the feedback current is maximum.
Ordinarily, when the feedback current is at a minimum and the oscillation does not stop,
I always try to judge.

【0017】[0017]

【実施例】図1は本発明の第1実施例による高周波発振
型の近接スイッチ20の構成を示すブロック図である。
本図において前述した従来例の振幅検波型近接スイッチ
と同一部分は同一符号を付して詳細な説明を省略する。
本実施例においてもLC並列共振回路1と共に発振回路
2が構成されている。そして発振回路2にはその感度調
整を行うための感度調整回路21が設けられる。感度調
整回路21は外部からのスイッチ信号に基づいて発振回
路の感度調整抵抗を変化させ、発振感度を調整するため
の調整回路である。さて本実施例では近接スイッチのモ
ードを動作モード「RUN」と感度設定のためのセット
モード「SET」に切換えるモード切換スイッチ22、
及びティーチング時に用いられるティーチングスイッチ
23が設けられている。これらのスイッチからの信号は
マイクロコンピュータ24に入力される。マイクロコン
ピュータ24はモード切換スイッチ22及びティーチン
グスイッチ23からの入力に基づいて、後述するように
ワーク無しティーチングを行い、感度設定値をスイッチ
信号によって感度調整回路21に設定するものであっ
て、スイッチ制御手段を構成している。そして発振回路
2の出力は検波回路3を介してマイクロコンピュータ2
4の信号処理手段24aに与えられる。信号処理手段2
4aは従来例と同様に検波回路3の出力レベルを所定の
閾値で弁別することによって物体の有無を判別するもの
であり、その出力は出力回路5を介して外部に出力され
る。又信号処理手段24aでは物体の検知時に発振回路
2の発振状態を切換え、応差を設けて物体の位置の微小
な変動やノイズ等による誤動作を検知するようにしてい
る。
1 is a block diagram showing the structure of a high-frequency oscillation type proximity switch 20 according to a first embodiment of the present invention.
In the figure, the same parts as those of the conventional amplitude detection type proximity switch described above are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted.
Also in this embodiment, the oscillator circuit 2 is configured together with the LC parallel resonance circuit 1. Then, the oscillation circuit 2 is provided with a sensitivity adjustment circuit 21 for adjusting its sensitivity. The sensitivity adjustment circuit 21 is an adjustment circuit for adjusting the oscillation sensitivity by changing the sensitivity adjustment resistance of the oscillation circuit based on a switch signal from the outside. In the present embodiment, the mode changeover switch 22 for changing the mode of the proximity switch between the operation mode "RUN" and the set mode "SET" for sensitivity setting,
Also, a teaching switch 23 used for teaching is provided. The signals from these switches are input to the microcomputer 24. The microcomputer 24 performs teaching without a work based on inputs from the mode changeover switch 22 and the teaching switch 23, and sets a sensitivity set value in the sensitivity adjusting circuit 21 by a switch signal as described later. Constitutes a means. The output of the oscillation circuit 2 is sent to the microcomputer 2 via the detection circuit 3.
4 to the signal processing means 24a. Signal processing means 2
Reference numeral 4a is for discriminating the presence or absence of an object by discriminating the output level of the detection circuit 3 by a predetermined threshold value as in the conventional example, and the output thereof is outputted to the outside through the output circuit 5. Further, the signal processing means 24a switches the oscillation state of the oscillation circuit 2 at the time of detecting an object and provides a hysteresis so as to detect a small fluctuation in the position of the object or a malfunction due to noise or the like.

【0018】図2は本実施例の並列共振回路1と発振回
路2及び感度調整回路21の構成を示す回路図である。
本図において前述した従来例と同一部分は同一符号を付
して詳細な説明を省略する。本実施例においても並列共
振回路1にダイオードD1,D2及びトランジスタQ1
〜Q4を有する発振回路2が接続されている。そして発
振回路2の感度調整用抵抗Reの位置には、図示のよう
に抵抗RA ,RB1,RB2,RB3・・・から成る抵抗群が
並列に接続される。抵抗RB1,RB2,RB3・・・にはこ
れを切換えるスイッチ回路として、夫々スイッチSW
1,SW2・・・が夫々直列に接続されている。これら
のスイッチはマイクロコンピュータ24からのスイッチ
信号に基づいて開閉され、並列の合成抵抗が前述した抵
抗Reに代えて用いられる。このためマイクロコンピュ
ータ24からの制御によって発振回路の感度が調整でき
るように構成されている。ここでこのスイッチ数をSW
1〜SW11までの11個とし、これに夫々直列に接続
される抵抗もRB1〜RB11 とする。これらの抵抗RB(i)
はRBi=R0 ・2i (i=1〜11)となる抵抗値が設定
されているものとする。こうすればスイッチSW1〜S
W11の11ビットのスイッチをオンオフすることによ
って、2048段階で合成抵抗値Reが設定できることとな
る。そしてこの発振回路2には抵抗R4に並列にトラン
ジスタQ5が接続される。トランジスタQ5は発振状態
ではオフとしておき、物体の接近によって発振が停止す
ればオンとし、帰還電流を減少させる。こうすれば物体
が近接スイッチに接近してオンとなる距離Lon、オフと
なる距離Loff に差を付けることができる。以下この距
離の差を応差という。このトランジスタQ5は前述した
マイクロコンピュータ24の信号処理手段24aの出力
によって制御される。ここでトランジスタQ5と抵抗R
4とは発振回路2内の応差回路を構成している。
FIG. 2 is a circuit diagram showing the configuration of the parallel resonant circuit 1, the oscillator circuit 2 and the sensitivity adjusting circuit 21 of this embodiment.
In this figure, the same parts as those of the conventional example described above are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. Also in this embodiment, the parallel resonant circuit 1 includes the diodes D1 and D2 and the transistor Q1.
The oscillator circuit 2 having Q4 is connected. A resistor group composed of resistors RA , RB1 , RB2 , RB3 ... Is connected in parallel to the position of the sensitivity adjusting resistor Re of the oscillator circuit 2, as shown in the figure. Each of the resistors R B1 , R B2 , R B3, ...
1, SW2 ... Are connected in series. These switches are opened and closed based on a switch signal from the microcomputer 24, and a parallel combined resistance is used instead of the resistance Re described above. Therefore, the sensitivity of the oscillation circuit can be adjusted under the control of the microcomputer 24. Here, switch this switch to SW
There are eleven switches from 1 to SW11, and the resistors connected in series to them are also R B1 to R B11 . These resistances R B (i)
Shall resistance becomes R Bi = R 0 · 2 i (i = 1~11) are set. By doing this, the switches SW1 to S
By turning on and off the 11-bit switch of W11, the combined resistance value Re can be set in 2048 steps. A transistor Q5 is connected to the oscillator circuit 2 in parallel with the resistor R4. The transistor Q5 is turned off in the oscillating state, and turned on when the oscillation stops due to the approach of an object to reduce the feedback current. By doing so, it is possible to make a difference between the distance Lon at which the object comes close to the proximity switch and is on and the distance Loff at which it is off. Hereinafter, this difference in distance is referred to as a hysteresis. The transistor Q5 is controlled by the output of the signal processing means 24a of the microcomputer 24 described above. Here, transistor Q5 and resistor R
Reference numeral 4 constitutes a differential circuit in the oscillation circuit 2.

【0019】図3(a)は検出物体(ワーク)までの設
定距離Lに対する並列共振回路1のコイルのコンダクタ
ンスgの変化を示すグラフ、(b)は感度調整抵抗(合
成抵抗)Reの値と発振が停止状態になるまでの動作距
離Lの変化を示すグラフ、(c)は無しティーチングで
の近接スイッチと検出物体との関係を示す図である。又
図4は検出物体を用いない感度調整(ワーク無しティー
チング)をする場合における全体の動作を示すフローチ
ャートである。ワーク無しティーチング時にはまずステ
ップ31において、モード切換スイッチ22を「RU
N」から「SET」モードとする。このとき図3(c)
に示すように近接スイッチ20の前方には検出物体を接
近させておかないものとする。そしてティーチングスイ
ッチ23を最初に押下する。こうすればルーチン33に
進んでワーク無しティーチング処理が実行される。
FIG. 3A is a graph showing changes in the conductance g of the coil of the parallel resonant circuit 1 with respect to the set distance L to the detected object (work), and FIG. 3B is the value of the sensitivity adjustment resistance (composite resistance) Re. FIG. 6 is a graph showing a change in the operating distance L until the oscillation is stopped, and FIG. 7C is a diagram showing a relationship between the proximity switch and the detection object in the no teaching. FIG. 4 is a flowchart showing the entire operation when sensitivity adjustment (teaching without a work) is performed without using a detection object. At the time of teaching without a work, first, in step 31, the mode changeover switch 22 is set to "RU".
From "N" to "SET" mode. At this time, FIG. 3 (c)
It is assumed that the detection object is not approached in front of the proximity switch 20 as shown in FIG. Then, the teaching switch 23 is first depressed. By doing this, the routine proceeds to the routine 33, and the workless teaching process is executed.

【0020】図5はこのワーク無しティーチング処理の
動作を示すフローチャートである。感度調整回路21
は、ポインタnに対応した感度調整用抵抗の抵抗値をと
るものとする。このポインタnは例えば11ビット、即
ち0〜2047の値をとるものとし、Re(0)では全ての
スイッチSW1〜SW11をオンとしてReが最小の状
態とし、Re(2047)では全てのスイッチSW1〜SW
11がオフ、即ちReは最大状態とし、この間はnに対
応して変化するものとする。まずステップ51において
はポインタnを0とし、感度調整抵抗ReをRe
(0)、即ち最小値に設定する。そしてステップ52に
進み発振の振幅が信号処理手段24aの閾値Vth以下で
あるかどうかをチェックする。このときReが最小値で
あるため正常なセンサヘッドが接続されている場合に
は、物体が接近していない状態では発振回路2は定常値
で発振しており、発振振幅は閾値を越えている。しかし
断線や誤接続の場合には閾値を越えないことが考えられ
る。従ってこの場合にはステップ53に進んでエラー処
理1を行う。
FIG. 5 is a flow chart showing the operation of the teaching process without a work. Sensitivity adjustment circuit 21
Is the resistance value of the sensitivity adjusting resistor corresponding to the pointer n. The pointer n has, for example, 11 bits, that is, a value of 0 to 2047. In Re (0), all the switches SW1 to SW11 are turned on to set Re to the minimum state, and in Re (2047), all the switches SW1 to SW11 are set. SW
11 is off, that is, Re is in the maximum state, and during this period, it changes corresponding to n. First, in step 51, the pointer n is set to 0 and the sensitivity adjustment resistor Re is set to Re.
(0), that is, set to the minimum value. Then, the routine proceeds to step 52, where it is checked whether the amplitude of oscillation is less than or equal to the threshold value Vth of the signal processing means 24a. At this time, since Re is the minimum value, when a normal sensor head is connected, the oscillation circuit 2 oscillates at a steady value when the object is not approaching, and the oscillation amplitude exceeds the threshold value. . However, in the case of disconnection or incorrect connection, the threshold value may not be exceeded. Therefore, in this case, the process proceeds to step 53 and error processing 1 is performed.

【0021】さて正常なセンサヘッドが接続され、発振
回路が定常値で発振している場合には、振幅レベルは信
号処理手段24aの閾値Vthより十分高い状態となって
いる。このときはステップ54に進んでポインタnをイ
ンクリメントし、Re(n)を出力ポートを介して感度
調整回路21に設定する。そしてステップ55に進ん
で、nが最大値、この場合には2047に達したかどうかを
チェックする。最大値以下であればステップ56に進ん
で発振の振幅が低下し閾値以下となったかどうかをチェ
ックする。閾値以下でなければステップ54に戻って更
にポインタnをインクリメントして同様の処理を繰り返
す。こうすればnが最大値、この場合には2047に達する
までに発振の振幅が閾値以下となる。しかし何らかの異
常状態、例えば接続不可能なセンサヘッドが接続されて
いる場合には、nが最大になっても発振の振幅レベルが
高い場合が考えられ、このときにはステップ57に進ん
でエラー処理2を行う。
When a normal sensor head is connected and the oscillation circuit oscillates at a steady value, the amplitude level is sufficiently higher than the threshold value Vth of the signal processing means 24a. At this time, the routine proceeds to step 54, where the pointer n is incremented and Re (n) is set in the sensitivity adjustment circuit 21 via the output port. Then, the routine proceeds to step 55, where it is checked whether or not n has reached the maximum value, in this case 2047. If it is below the maximum value, the routine proceeds to step 56, where it is checked whether or not the amplitude of oscillation is reduced and is below the threshold value. If it is not less than the threshold value, the process returns to step 54, the pointer n is further incremented, and the same processing is repeated. In this way, the amplitude of oscillation becomes less than or equal to the threshold value before n reaches the maximum value, 2047 in this case. However, in some abnormal state, for example, when a sensor head that cannot be connected is connected, the oscillation amplitude level may be high even if n is maximized. In this case, the process proceeds to step 57 and the error process 2 is executed. To do.

【0022】さて正常な場合には感度調整抵抗の特定の
値で振幅が急激に小さくなり、発振が停止する。そうす
ればステップ56よりステップ58に進んでトランジス
タQ5をオンとする。更にステップ59においてこのと
きの感度調整抵抗値Re(n)をRe(N1)とする。
このように発振回路2は一定のReの値で発振が急激に
停止する。これは図3(b)において発振停止を示す曲
線が水平になった点を示している。従ってこのときの距
離L1がこの並列共振回路1のセンサヘッドの最大検出
距離である。従って物体を安定して検出するためにはこ
れより短い距離を設定する必要がある。
In a normal case, the amplitude sharply decreases at a specific value of the sensitivity adjusting resistor, and the oscillation stops. Then, the process proceeds from step 56 to step 58 to turn on the transistor Q5. Further, in step 59, the sensitivity adjustment resistance value Re (n) at this time is set to Re (N1).
In this way, the oscillation circuit 2 suddenly stops oscillating at a constant value of Re. This indicates the point where the curve indicating the oscillation stop becomes horizontal in FIG. Therefore, the distance L1 at this time is the maximum detection distance of the sensor head of the parallel resonance circuit 1. Therefore, in order to detect the object stably, it is necessary to set a distance shorter than this.

【0023】そしてステップ60に進んでポインタnを
ディクリメントする。そしてステップ61において振幅
が閾値Vthを越えるかどうかをチェックし、越えるまで
ステップ61,62の処理を繰り返す。閾値を越えれば
ステップ62に進んでそのときのRe(n)の値をRe
(N2)とする。このRe(N2)は後述するワーク有
り無しティーチングに用いられる。そしてステップ64
に進んで無しティーチングでの感度調整抵抗Re(A)
をRe(N1)との関係によって定める。即ちRe
(A)はRe(N1)の抵抗値に所定の係数α、例えば
0.7 〜0.8 を乗じた値としてもよい(但し0<α<
1)。又Re(N1)から一定値Rxを減算した値をR
e(A)として設定してもよい。ここでマイクロコンピ
ュータ24はステップ51,54,56,58,59に
おいてティーチングスイッチ23が投入されたとき、感
度調整抵抗を調整可能範囲のもっとも小さい発振開始状
態から発振停止まで連続的に上昇させ、Re(N1)を
検出する第1の抵抗値更新手段24bの機能を達成して
おり、ステップ52,53は感度調整抵抗Reを最小値
としたときに振幅が閾値以下である場合の異常状態を判
別する第1の異常検出手段24cの機能を達成してい
る。又マイクロコンピュータ24はステップ55,57
において、感度調整抵抗の抵抗値Reが最大となっても
発振が停止しない場合の異常を検出する第2の異常検出
手段24dの機能を達成しており、ステップ64におい
て発振停止が検知されたときの感度調整抵抗の抵抗値R
e(N1)から設定すべき感度調整抵抗Re(A)を算
出する第1の感度設定手段24eの機能を達成してい
る。
Then, in step 60, the pointer n is decremented. Then, in step 61, it is checked whether or not the amplitude exceeds the threshold value Vth, and the processes of steps 61 and 62 are repeated until it exceeds. If the threshold value is exceeded, the process proceeds to step 62, where the value of Re (n) at that time is Re
(N2). This Re (N2) is used for teaching with or without a work described later. And step 64
Proceed to step No and the sensitivity adjustment resistance Re (A) in teaching
Is determined by the relationship with Re (N1). That is Re
(A) is a predetermined coefficient α for the resistance value of Re (N1), for example,
It may be a value multiplied by 0.7 to 0.8 (where 0 <α <
1). The value obtained by subtracting the constant value Rx from Re (N1) is R
It may be set as e (A). Here the microcomputer 24 when the teaching switch 23 is turned on in step 51,54,56,58,59, continuously increase the sensitivity adjustment resistor from the smallest oscillation starting state of the adjustment range until the oscillation stops, Re The function of the first resistance value updating means 24b for detecting (N1) is achieved, and in steps 52 and 53, when the sensitivity adjusting resistance Re is set to the minimum value, the abnormal state is judged when the amplitude is below the threshold value. The function of the first abnormality detecting means 24c is achieved. The microcomputer 24 also executes steps 55 and 57.
In the above, when the oscillation stop is detected in step 64, the function of the second abnormality detecting means 24d for detecting the abnormality when the oscillation does not stop even when the resistance value Re of the sensitivity adjusting resistor becomes maximum is achieved. Resistance value R of the sensitivity adjustment resistor
The function of the first sensitivity setting means 24e for calculating the sensitivity adjustment resistance Re (A) to be set from e (N1) is achieved.

【0024】さてルーチン33を終了すると、ワーク無
しティーチングのみで感度設定が完了したこととなるた
め、モード切換スイッチ22を「RUN」に切換えて通
常の動作モードに進む。この場合はここで設定されたR
e(A)に対する距離Lonaが無しティーチングでの設
定距離となる。この状態ではトランジスタQ5はオフ状
態であり、図3(c)においてこの距離Lona 内に検出
物体26が通過すれば物体を検出することができる。物
体検知後にはトランジスタQ5がオンとなるため、次に
オフとなる距離Loffaは図3(c)に示すようにLona
より長い距離となる。
When the routine 33 is finished, the sensitivity setting is completed only by teaching without a work. Therefore, the mode selector switch 22 is switched to "RUN" to proceed to the normal operation mode. In this case, R set here
The distance Lona with respect to e (A) is the set distance in the no teaching. In this state, the transistor Q5 is off, and the object can be detected if the detection object 26 passes within this distance Lona in FIG. 3 (c). Since the transistor Q5 is turned on after the object is detected, the distance Loffa at which it is turned off next is Lona as shown in FIG.
It will be a longer distance.

【0025】次に本発明の第2実施例の近接スイッチ2
0Aについて図6を参照しつつ説明する。本図において
第1実施例と同一部分は同一符号を付して詳細な説明を
省略する。本実施例においても並列共振回路1と共に発
振回路2が構成され、その出力は検波回路3を介してマ
イクロコンピュータ25に入力される。出力回路5,感
度調整回路21及びモード切換スイッチ22とティーチ
ングスイッチ23についても第1実施例と同様である。
本実施例では検出物体のない状態とある状態とを2回テ
ィーチングし、これによって最適の閾値を設定するワー
ク有り無しティーチングを行っている。このティーチン
グでは段差を有する検出物体の突起部分のみを検出する
ような用途に用いることができる。
Next, the proximity switch 2 according to the second embodiment of the present invention.
0A will be described with reference to FIG. In this figure, the same parts as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted. Also in this embodiment, the parallel resonance circuit 1 and the oscillation circuit 2 are configured, and the output thereof is input to the microcomputer 25 via the detection circuit 3. The output circuit 5, the sensitivity adjustment circuit 21, the mode changeover switch 22 and the teaching switch 23 are the same as those in the first embodiment.
In the present embodiment, teaching with and without a detected object is performed twice, and teaching with or without a work is performed by which the optimum threshold value is set. This teaching can be used for the purpose of detecting only the protruding portion of the detection object having a step.

【0026】図7(a)はワークまでの設定距離Lに対
するコイルのコンダクタンスの変化を示すグラフ、
(b)は感度調整抵抗(合成抵抗)Reの値と発振停止
状態になるまでの動作距離Lの変化を示すグラフ、
(c),(d)はこのときの近接スイッチ20と検出物
体27との関係を示す図である。又図8は感度調整抵抗
Reに対する発振振幅の変化を示すグラフである。ワー
ク有り無しティーチングは例えば図7(c)に示すよう
に、段差を有する検出物体27において近接スイッチ側
に突出した突起部27aを検出するような用途に用いら
れる。この場合には検出物体27の突出しない部分をま
ず近接スイッチ20Aに対向させた状態で「SET」モ
ードとし、1回目のティーチングスイッチ23を押下す
る。このときの近接スイッチ20と検出物体27の検知
面までの距離をL2とする。そうすれば図9に示すステ
ップ41,42を介してルーチン43に進む。ルーチン
43は図5に示すワーク無しティーチングのルーチン3
3と同様の処理が行われる。この場合には図8に示すよ
うに感度調整抵抗Re(n)を徐々に上昇させる。そし
てステップ52〜55のループにおいてnを順次インク
リメントしていく。そしてReが所定値となれば図8の
曲線Aに沿って発振振幅が徐々に低下していく。そして
ステップ56において閾値を越えるA1の抵抗値をステ
ップ59においてRe(N1)とする。ステップ58で
はトランジスタQ5がオンとなるため、Re−振幅曲線
は曲線Aから曲線B上の点B1に以降することとなる。
そしてステップ60,61のループでRe(n)を減少
させることにより、曲線B上を右上向きに上昇すること
となる。そしてステップ61において振幅が閾値を越え
る点B2に達すればトランジスタQ5がオフとなるた
め、再び曲線Aに戻る。このときの値がRe(N2)と
なる。ワーク有り無しティーチングでは、ステップ45
でモード切換スイッチ22を「RUN」とすることな
く、更に図7(d)に示すように検出物体27の突起部
27aを近接スイッチ20Aに対向させてティーチング
スイッチ23を押下する。このときの近接スイッチ20
Aと検出物体27の検知面までの距離をL3とする。こ
のスイッチ23が押下された場合には、ステップ45よ
りルーチン46に進んでワーク有り無しティーチングを
実行する。
FIG. 7A is a graph showing changes in the conductance of the coil with respect to the set distance L to the work,
(B) is a graph showing changes in the value of the sensitivity adjustment resistance (composite resistance) Re and the operating distance L until the oscillation is stopped
(C), (d) is a figure which shows the relationship between the proximity switch 20 and the detection object 27 at this time. FIG. 8 is a graph showing a change in oscillation amplitude with respect to the sensitivity adjustment resistance Re. The teaching with or without a work is used for detecting a protrusion 27a protruding toward the proximity switch side in a detection object 27 having a step as shown in FIG. 7C, for example. In this case, the non-protruding portion of the detection object 27 is first made to face the proximity switch 20A, the "SET" mode is set, and the teaching switch 23 is pressed for the first time. The distance between the proximity switch 20 and the detection surface of the detection object 27 at this time is L2. Then, the routine proceeds to the routine 43 through steps 41 and 42 shown in FIG. Routine 43 is a routine 3 for teaching without a work shown in FIG.
The same process as 3 is performed. In this case, the sensitivity adjustment resistance Re (n) is gradually increased as shown in FIG. Then, n is sequentially incremented in the loop of steps 52 to 55. When Re reaches a predetermined value, the oscillation amplitude gradually decreases along the curve A in FIG. Then, in step 56, the resistance value of A1 exceeding the threshold value is set to Re (N1) in step 59. In step 58, the transistor Q5 is turned on, so that the Re-amplitude curve goes from the curve A to the point B1 on the curve B.
Then, by decreasing Re (n) in the loop of steps 60 and 61, the curve B rises to the upper right. When the amplitude reaches the point B2 where the amplitude exceeds the threshold value in step 61, the transistor Q5 is turned off, and the curve A is returned to again. The value at this time is Re (N2). For teaching with / without work, step 45
Then, without setting the mode changeover switch 22 to "RUN", the protrusion 27a of the detection object 27 is made to face the proximity switch 20A and the teaching switch 23 is pushed down as shown in FIG. 7D. Proximity switch 20 at this time
The distance between A and the detection surface of the detection object 27 is L3. When the switch 23 is pressed, the routine proceeds from step 45 to the routine 46, and the teaching with / without work is executed.

【0027】ルーチン46は図10に示すように、まず
ステップ71においてルーチン33と同様に感度調整抵
抗をRe(0)、即ち最小値に設定する。そしてトラン
ジスタQ5をオフとし、ステップ73に進んでポインタ
nをインクリメントし、新たな感度調整抵抗Re(n)
を設定する。そしてステップ74に進んでそのときの振
幅が閾値以下となったかどうかをチェックし、閾値以下
でなければステップ73に戻って同様の処理を繰り返
す。このときは図8のRe−振幅特性曲線Cに沿って左
下向きに移動する。こうして曲線C上の点C1に達して
閾値以下となればステップ75に進み、そのときの感度
調整抵抗Re(n)をRe(N3)とする。この距離L
3でのコイルのコンダクタンスをg3 とする。そしてス
テップ76に進んでRe(N2)とRe(N3)とを比
較する。Re(N3)の方が小さければ曲線Cは曲線A
と曲線Bとの間にはないため、検出不能状態ではない。
しかしRe(N2)の方が小さければ、曲線Cは曲線A
とBとの間にあり、後述するように検出は不可能である
ので、ステップ76に進んでエラー処理を行う。Re
(N2)の方が大きければ検出不能状態ではないため、
ステップ77に進んでワーク有り無しティーチングでの
感度調整抵抗値Re(B)をRe(N2)とRe(N
3)の中間値に設定する。Re(B)はこれらの中央値
が好ましく、Re(B)={Re(N2)+Re(N
3)}/2とする。
As shown in FIG. 10, the routine 46 first sets the sensitivity adjustment resistance to Re (0), that is, the minimum value in step 71, as in the routine 33. Then, the transistor Q5 is turned off, the process proceeds to step 73, the pointer n is incremented, and a new sensitivity adjustment resistor Re (n) is added.
To set. Then, the process proceeds to step 74, and it is checked whether the amplitude at that time is less than or equal to the threshold value. If it is not less than the threshold value, the process returns to step 73 and the same processing is repeated. At this time, it moves to the lower left along the Re-amplitude characteristic curve C in FIG. In this way, when the point C1 on the curve C is reached and becomes equal to or less than the threshold value, the process proceeds to step 75, and the sensitivity adjustment resistance Re (n) at that time is set to Re (N3). This distance L
Let g 3 be the conductance of the coil at 3 . Then, in step 76, Re (N2) and Re (N3) are compared. If Re (N3) is smaller, curve C is curve A
Since it is not between the curve B and the curve B, it is not in the undetectable state.
However, if Re (N2) is smaller, curve C becomes curve A.
Since it is between B and B and cannot be detected as will be described later, the routine proceeds to step 76 and error processing is performed. Re
If (N2) is larger, it is not in the undetectable state.
Proceeding to step 77, the sensitivity adjustment resistance value Re (B) during teaching with and without work is set to Re (N2) and Re (N
Set to the intermediate value of 3). These median values are preferable for Re (B), and Re (B) = {Re (N2) + Re (N
3)} / 2.

【0028】図11はこうして設定された感度調整抵抗
Re(B)を発振回路2の感度値として設定した場合
の、物体までの距離Lに対する発振振幅の変化を示して
いる。ここでRe(B)は前述したRe(N2)とRe
(N3)の中間値であるが、Reは前述したように11
ビットで表現されており、完全にRe(N2)とRe
(N3)の1/2とできない場合がある。又物体がLon
b 以内に接近し、物体検知状態となればトランジスタQ
5をオンするため、閾値となる距離が長くなる。この距
離Loffbが図7(c)のティーチングの際の距離L2よ
り大きければ、検出物体27の基台部27bが近接スイ
ッチ20Aと対向しても物体の非検知状態とはならなく
なる。従って常に物体検知状態となってしまうという異
常状態である。これは図11において突起部28aと基
台部28bの間隔が小さい検出物体28等を検出する場
合であり、図8の曲線においては曲線Cが曲線AとBと
の間にあることを示している。この異常は感度調整抵抗
値Re(N2)の方がRe(N3)より小さければ生じ
ることとなるため、これをステップ76によって検出
し、ステップ78に進んでエラー処理を行っている。こ
うすればエラーが生じる状態では閾値を設定しないた
め、未然に誤動作を防止することができる。
FIG. 11 shows the change in the oscillation amplitude with respect to the distance L to the object when the sensitivity adjustment resistance Re (B) set in this way is set as the sensitivity value of the oscillation circuit 2. Here, Re (B) is the same as Re (N2) and Re described above.
Although it is an intermediate value of (N3), Re is 11 as described above.
It is expressed in bits, and is completely Re (N2) and Re
In some cases, it cannot be half of (N3). The object is Lon
Transistor Q when approaching within b and detecting an object
Since 5 is turned on, the threshold distance becomes long. If this distance Loffb is larger than the distance L2 at the time of teaching in FIG. 7C, even if the base portion 27b of the detection object 27 faces the proximity switch 20A, the object is not in the non-detection state. Therefore, this is an abnormal state in which the object detection state is always obtained. This is a case of detecting the detection object 28 or the like in which the interval between the protrusion 28a and the base 28b is small in FIG. 11, and shows that the curve C is between the curves A and B in the curve of FIG. There is. This abnormality occurs when the sensitivity adjustment resistance value Re (N2) is smaller than Re (N3). Therefore, this abnormality is detected in step 76, and the process proceeds to step 78 to perform error processing. In this way, the threshold value is not set in the state where an error occurs, so that malfunction can be prevented in advance.

【0029】ここでマイクロコンピュータ25はステッ
プ51,54,56,58,59においてティーチング
スイッチ23が投入されたとき、感度調整抵抗を調整可
能範囲のもっとも小さい発振開始状態から発振停止まで
連続的に上昇させ、Re(N1)を検出し、発振停止後
に感度調整抵抗の抵抗値をその値から順次下降させ、発
振開始時の感度調整抵抗の抵抗値Re(N2)を検出す
る第2の抵抗値更新手段25bの機能を達成しており、
ステップ52,53は感度調整抵抗Reを最小値とした
ときに振幅が閾値以下である場合の異常状態を判別する
第1の異常検出手段25cの機能を達成している。又マ
イクロコンピュータ25はステップ55,57におい
て、感度調整抵抗の抵抗値Reが最大となっても発振が
停止しない場合の異常を検出する第2の異常検出手段2
5dの機能を達成している。又マイクロコンピュータ2
5はステップ71〜75において2度目のティーチング
スイッチが投入されたときに感度調整抵抗を調整可能範
囲の最も小さい発振開始状態から発振停止まで連続的に
上昇させ、抵抗値Re(N3)を検出する第3の抵抗値
更新手段25eの機能を達成しており、ステップ76に
おいて抵抗値Re(N3)がRe(N2)より大きい場
合に設定不能を検出する第3の異常検出手段25fの機
能を達成しており、ステップ77において第2の抵抗値
更新手段により発振停止が検知されたときの感度調整抵
抗の抵抗値Re(N2)とRe(N3)とに基づいてそ
の中間に感度調整抵抗Re(B)を設定する第2の感度
設定手段25gの機能を達成している。
The rise where the microcomputer 25 when the teaching switch 23 is turned on in step 51,54,56,58,59, the sensitivity adjustment resistor from the smallest oscillation starting state of the adjustment range continuously until the oscillation stops The second resistance value update for detecting Re (N1), detecting the resistance value Re (N2) of the sensitivity adjustment resistor at the start of oscillation by sequentially decreasing the resistance value of the sensitivity adjustment resistor from that value after the oscillation is stopped. Has achieved the function of means 25b,
Steps 52 and 53 achieve the function of the first abnormality detecting means 25c that determines an abnormal state when the amplitude is equal to or smaller than the threshold value when the sensitivity adjustment resistance Re is set to the minimum value. Also, the microcomputer 25 detects the abnormality when the oscillation does not stop even if the resistance value Re of the sensitivity adjusting resistor becomes maximum in steps 55 and 57.
The function of 5d is achieved. Also microcomputer 2
In step 5, when the teaching switch is turned on for the second time in steps 71 to 75, the sensitivity adjustment resistance is continuously increased from the oscillation start state of the smallest adjustable range to the oscillation stop, and the resistance value Re (N3) is detected. The function of the third resistance value updating means 25e is achieved, and the function of the third abnormality detecting means 25f for detecting the setting failure is achieved when the resistance value Re (N3) is larger than Re (N2) in step 76. Therefore, based on the resistance values Re (N2) and Re (N3) of the sensitivity adjustment resistor when the oscillation stop is detected by the second resistance value updating means in step 77, the sensitivity adjustment resistor Re ( The function of the second sensitivity setting means 25g for setting B) is achieved.

【0030】さてこのルーチン46を終了すると、ステ
ップ47に進んでモード切換スイッチ22が「RUN」
状態となったかどうかをチェックする。「RUN」状態
であれば、ワーク有り無しティーチングで設定した感度
調整値Re(B)に基づいて物体の有無が判別される。
こうすれば図11に示すように距離Lonb ,Loffbを閾
値の距離として、段差を有する検出物体27の突起部2
7aのみを検出するように調整することができる。
When this routine 46 is completed, the routine proceeds to step 47, where the mode changeover switch 22 is set to "RUN".
Check if the condition is reached. In the "RUN" state, the presence / absence of an object is determined based on the sensitivity adjustment value Re (B) set by teaching with or without a work.
In this way, as shown in FIG. 11, the distances Lonb and Loffb are set as threshold distances, and the protrusion 2 of the detection object 27 having a step is formed.
It can be adjusted to detect only 7a.

【0031】尚本実施例ではステップ71において発振
が停止している状態を検出していないが、図5のステッ
プ52,53と同様に発振が停止している異常状態を検
出する異常検出機能を設けるようにしてもよい。又ステ
ップ73,74において図5のステップ55,57と同
様にnが最大値となっても発振が停止しない異常状態を
検出する異常検出機能を設けるようにしてもよい。
In this embodiment, the state in which the oscillation is stopped is not detected in step 71, but an abnormality detection function for detecting an abnormal state in which the oscillation is stopped is provided as in steps 52 and 53 in FIG. It may be provided. Further, as in steps 55 and 57 in FIG. 5, in steps 73 and 74, an abnormality detection function may be provided to detect an abnormal state in which oscillation does not stop even when n reaches the maximum value.

【0032】又本実施例ではトランジスタQ5のオンオ
フによって設定距離に応差を付けヒステリシスを設ける
ようにしているが、図8に示すように曲線A,B間に曲
線Cが入る場合には検出が不能となる。この場合には応
差の幅を小さくするようにして検出を可能とするように
構成することも可能である。図12はこのような2種類
の応差を有する発振回路及び感度調整回路の構成を示す
回路図である。図2と同一部分は同一符号を付して詳細
な説明を省略する。本実施例では抵抗R4とトランジス
タQ5とに代えて、抵抗R4a,R4bを直列接続し、
抵抗R4aと接地端との間にスイッチングトランジスタ
Q6、抵抗R4bと接地端との間にスイッチングトラン
ジスタQ7を接続する。そして通常モードではトランジ
スタQ7は常にオフ状態としておき、前述したフローチ
ャートのステップ58,62,72においてトランジス
タQ5に代えてトランジスタQ6をオンオフさせるよう
にする。又ステップ76においてRe(N2)がRe
(N3)より大きければ、トランジスタQ6とQ7とを
切換え、トランジスタQ6を常にオフ、ステップ58,
62,72においてトランジスタQ7をオンオフするよ
うに構成してもよい。この場合には応差の距離Loff −
Lonが小さくなるため、図8の曲線においては曲線Aと
Bとの間隔が小さくなって微小な段差を有する検出物体
を検出できることとなる。そしてトランジスタQ7によ
ってもステップ76においてエラー状態となるためエラ
ー処理を行うものとする。
In the present embodiment, the transistor Q5 is turned on and off to provide a hysteresis for the set distance, but as shown in FIG. 8, when the curve C is between the curves A and B, detection cannot be performed. Becomes In this case, it is also possible to reduce the width of the hysteresis to enable detection. FIG. 12 is a circuit diagram showing a configuration of an oscillation circuit and a sensitivity adjustment circuit having such two types of hysteresis. The same parts as those in FIG. 2 are designated by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted. In this embodiment, instead of the resistor R4 and the transistor Q5, resistors R4a and R4b are connected in series,
A switching transistor Q6 is connected between the resistor R4a and the ground terminal, and a switching transistor Q7 is connected between the resistor R4b and the ground terminal. Then, in the normal mode, the transistor Q7 is kept in the off state at all times, and the transistor Q6 is turned on / off in place of the transistor Q5 in steps 58, 62, and 72 of the above-mentioned flowchart. In step 76, Re (N2) is Re
If it is larger than (N3), the transistors Q6 and Q7 are switched and the transistor Q6 is always turned off.
The transistors Q7 may be turned on / off at 62 and 72. In this case, the differential distance Loff −
Since Lon becomes small, the distance between the curves A and B in the curve of FIG. 8 becomes small, and a detection object having a minute step can be detected. Since the transistor Q7 also enters an error state in step 76, error processing is performed.

【0033】又本実施例では感度調整抵抗の抵抗値を変
化させることによって帰還電流を切換えその感度を調整
するようにしているが、帰還電流を直接制御手段から切
換えて感度を調整することができる。この場合には感度
調整抵抗は帰還電流と反比例の関係にたっているため、
実施例での感度調整抵抗の抵抗値を大きくすることは帰
還電流を小さくすることに相当する。又第1の帰還電流
更新手段はRe(N1)に代えて帰還電流I(N1)を
検出し、第2の帰還電流更新手段はRe(N1),Re
(N2)に代えて帰還電流I(N1),I(N2)を検
出し、Re(N3)に代えて帰還電流I(N3)を検出
するものとする。又第3の異常検出手段は帰還電流I
(N3)がI(N2)より小さい場合に応差回路のヒス
テリシス幅を小さくし、第2の帰還電流更新手段での処
理を繰り返し、新たに第2の帰還電流更新手段より検出
された帰還電流I(N3)がI(N2)より小さい場合
設定不能を検出するものとする。又第1の感度設定手
段は帰還電流I(N1)に基づいて帰還電流I(A)を
設定するものとし、第2の感度設定手段は帰還電流I
(N1),I(N2),I(N3)に基づいてI(B)
を設定するものとする。又本実施例では高周波発振型の
近接スイッチについて説明しているが、本発明によるテ
ィーチングと異常検出は一定の距離で発振が急速に開始
する硬発振型の近接スイッチに適用することができる。
即ち静電容量型の近接スイッチにおいても動作距離を外
部から連続して変化させることができれば、本発明によ
るティーチングと異常検出とを適用することが可能とな
る。
In this embodiment, the feedback current is switched and the sensitivity is adjusted by changing the resistance value of the sensitivity adjusting resistor, but the sensitivity can be adjusted by directly switching the feedback current from the control means. . In this case, the sensitivity adjustment resistor is in inverse proportion to the feedback current, so
Increasing the resistance value of the sensitivity adjusting resistor in the embodiment corresponds to decreasing the feedback current. Further, the first feedback current updating means detects the feedback current I (N1) instead of Re (N1), and the second feedback current updating means Re (N1), Re.
It is assumed that the feedback currents I (N1) and I (N2) are detected instead of (N2), and the feedback current I (N3) is detected instead of Re (N3). Further, the third abnormality detecting means is the feedback current I.
If (N3) is smaller than I (N2), hysteresis of hysteresis circuit
The process of the second feedback current updating means is made smaller by narrowing the theresis width.
Repeat the process and newly detect by the second feedback current updating means.
When the generated feedback current I (N3) is smaller than I (N2)
It is intended to detect the non-set. The first sensitivity setting means sets the feedback current I (A) based on the feedback current I (N1), and the second sensitivity setting means sets the feedback current I (N).
I (B) based on (N1), I (N2), I (N3)
Shall be set. Further, although the high frequency oscillation type proximity switch has been described in the present embodiment, the teaching and the abnormality detection according to the present invention can be applied to the hard oscillation type proximity switch in which oscillation rapidly starts at a certain distance.
That is, even in the capacitance type proximity switch, if the operating distance can be continuously changed from the outside, the teaching and the abnormality detection according to the present invention can be applied.

【0034】[0034]

【発明の効果】請求項1の発明では、段差を有する検出
物体を段差の中間に閾値を設定するため、ワーク有り無
しティーチングを行っている。このときにも発振回路の
応差によってオフ状態が検出できないことが第3の異常
検出手段により検出されれば、応差の距離を小さくして
同様の処理を繰り返すことによって、段差の小さい物体
をも検出することができるようにしている。更に発振回
路の応差によってオフ状態が検出できない場合には、未
然に異常状態を検出している。従って段差が小さい物体
に対して誤って感度設定値を設定することがなく、動作
を確実にすることができる。
According to the first aspect of the invention, the detection having a step is provided.
Since there is a threshold value for the object in the middle of the step, there is no work
I am teaching. Also at this time, the oscillation circuit
The third abnormality is that the off state cannot be detected due to the hysteresis.
If it is detected by the detection means, reduce the hysteresis distance.
By repeating the same process, an object with a small step
Is also able to be detected. Further oscillation times
If the off state cannot be detected due to the hysteresis of the road,
Abnormal condition is detected. Therefore, an object with a small step
Operates without accidentally setting the sensitivity setting value for
Can be ensured.

【0035】請求項2及び3の発明では、これらに第
1,第2の異常検出手段を設けることによってセンサヘ
ッドの接続異常や断線等を検出することができる。
According to the inventions of claims 2 and 3,
By providing the first and second abnormality detecting means,
It is possible to detect an abnormal connection or disconnection of the head.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例による振幅検波型の近接ス
イッチのブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of an amplitude detection type proximity switch according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施例による発振回路及び感度調
整回路の構成を示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of an oscillation circuit and a sensitivity adjustment circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図3】(a)はワーク設定距離に対するコイルのコン
ダクタンス、(b)は動作距離に対する発振を開始/停
止する感度調整抵抗Reの値の変化を示すグラフ、
(c)は無しティーチングでの近接スイッチと検出物体
の関係を示す図である。
3A is a graph showing a conductance of a coil with respect to a work setting distance, and FIG. 3B is a graph showing a change in a value of a sensitivity adjustment resistance Re for starting / stopping oscillation with respect to an operating distance;
(C) is a diagram showing a relationship between a proximity switch and a detected object in the non-teaching.

【図4】本実施例のティーチング処理の全体を示すフロ
ーチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing an entire teaching process of this embodiment.

【図5】ワーク無しティーチングの動作を示すフローチ
ャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing an operation of teaching without a work.

【図6】本発明の第2実施例による振幅検波型の近接ス
イッチのブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram of an amplitude detection type proximity switch according to a second embodiment of the present invention.

【図7】(a)はワーク設定距離に対するコイルのコン
ダクタンス、(b)は動作距離に対する発振を開始/停
止する感度調整抵抗Reの値の変化を示すグラフ、
(c),(d)はワーク有り無しティーチングでの近接
スイッチとワークとの関係を示す図である。
7A is a graph showing a conductance of a coil with respect to a work set distance, and FIG. 7B is a graph showing a change in a value of a sensitivity adjustment resistance Re for starting / stopping oscillation with respect to an operating distance;
(C), (d) is a figure which shows the relationship between a proximity switch and work in teaching with or without work.

【図8】感度調整抵抗Reに対する発振振幅の変化を示
すグラフである。
FIG. 8 is a graph showing a change in oscillation amplitude with respect to the sensitivity adjustment resistance Re.

【図9】ワーク有り無しティーチングの全体動作を示す
フローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing the entire operation of teaching with or without a work.

【図10】ワーク有り無しティーチングの処理を示すフ
ローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing a teaching process with or without a work.

【図11】本実施例によるワーク有り無しティーチング
での検出可能なワークと検出不可能なワークを示す図で
ある。
FIG. 11 is a diagram showing a work that can be detected and a work that cannot be detected by teaching with or without a work according to the present embodiment.

【図12】応差の距離を変更させる複数の応差回路を有
する発振回路の一例を示す回路図である。
FIG. 12 is a circuit diagram showing an example of an oscillator circuit having a plurality of hysteresis circuits that change the distance of hysteresis.

【図13】従来の振幅検波型近接スイッチの全体構成を
示すブロック図である。
FIG. 13 is a block diagram showing the overall configuration of a conventional amplitude detection proximity switch.

【図14】従来の振幅検波型近接スイッチの発振回路を
示す回路図である。
FIG. 14 is a circuit diagram showing an oscillation circuit of a conventional amplitude detection proximity switch.

【図15】(a)は振幅検波型近接スイッチのワーク設
定距離Lに対する発振回路の振幅を示すグラフ、(b)
はワーク設定距離に対する発振周波数の変化を示すグラ
フである。
15A is a graph showing the amplitude of the oscillation circuit with respect to the work setting distance L of the amplitude detection type proximity switch, and FIG.
6 is a graph showing a change in oscillation frequency with respect to a work set distance.

【図16】従来の周波数検波型近接スイッチの一例を示
すブロック図である。
FIG. 16 is a block diagram showing an example of a conventional frequency detection type proximity switch.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 並列共振回路 2 発振回路 3 検波回路 4 信号処理回路 5 出力回路 20,20A 近接スイッチ 21 感度調整回路 22 モード切換スイッチ 23 ティーチングスイッチ 24,25 マイクロコンピュータ 24a,25a 信号処理手段 24b 第1の抵抗値更新手段 24c,25c 第1の異常検出手段 24d,25d 第2の異常検出手段 24e 第1の感度設定手段 25b 第2の抵抗値更新手段 25e 第3の抵抗値更新手段 25f 第3の異常検出手段 25g 第2の感度設定手段 27,28 検出物体 1 parallel resonant circuit 2 oscillator circuits 3 Detection circuit 4 Signal processing circuit 5 output circuits 20, 20A proximity switch 21 Sensitivity adjustment circuit 22 Mode selector switch 23 Teaching switch 24,25 microcomputer 24a, 25a Signal processing means 24b First resistance value updating means 24c, 25c First abnormality detecting means 24d, 25d Second abnormality detecting means 24e First sensitivity setting means 25b Second resistance value updating means 25e Third resistance value updating means 25f Third abnormality detecting means 25g Second sensitivity setting means 27,28 Detection object

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上田 正純 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オムロン株式会社内 (56)参考文献 特開 平5−218845(JP,A) 特開 昭63−302376(JP,A) 特開 昭59−207740(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03K 17/00 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Masazumi Ueda, Omron Co., Ltd., No. 10, Hanazono Dodo-cho, Ukyo-ku, Kyoto City, Kyoto Prefecture (56) Reference JP-A-5-218845 (JP, A) JP-A-63- 302376 (JP, A) JP 59-207740 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H03K 17/00

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 発振コイル、及び物体の接近を検出する
距離Lonより物体の離間を検出する距離Loff が遠くな
るように物体の検知信号によって発振状態を変化させる
応差回路を含む発振回路と、 前記発振回路の帰還電流を切換えることによってその感
度を調整する感度調整回路と、 前記感度調整回路にスイッチ信号を出力することによっ
て前記発振回路の感度を調整するスイッチ制御手段と、 前記発振回路の出力を検波する検波回路と、 前記検波回路の出力に基づいて発振又はその停止によっ
て物体の有無を判別する信号処理手段と、 ティーチング状態を入力するティーチングスイッチと、
を具備するものであり、前記応差回路は、 距離LonとLoff との差であるヒステリシス幅を複数段
階に変化させるものであり、 前記スイッチ制御手段は、 物体を検出すべきでない状態で前記ティーチングスイッ
チが投入されたときに前記帰還電流を調整可能範囲の最
も大きく発振開始状態から発振停止まで連続的に変化さ
せ、発振停止時の帰還電流I(N1)を検出すること
と、帰還電流を発振停止状態の値から順次上昇させ発振
開始時の帰還電流I(N2)を検出することと、物体を
検知すべき位置に近接させた状態で前記ティーチングス
イッチが投入されたときに前記帰還電流を調整可能範囲
の最も大きく発振開始状態から発振停止まで連続的に変
化させ、発振停止時の帰還電流I(N3)を検出するこ
ととを行う第2の帰還電流更新手段と、前記第2の帰還電流更新手段より検出された帰還電流I
(N3)がI(N2)より小さい場合に前記応差回路の
ヒステリシス幅を小さくし、前記第2の帰還電流更新手
段での処理を繰り返し、新たに前記第2の帰還電流更新
手段より検出された帰還電流I(N3)がI(N2)よ
り小さい場合に設定不能を検出する第3 の異常検出手段
と、 前記第3の異常状態検出手段より異常が検出されないと
きに帰還電流I(B)を前記第2の帰還電流更新手段に
より検出されたI(N2),I(N3)の中間に設定す
る第2の感度設定手段と、有するものであることを特徴
とする近接スイッチ。
1. An oscillating circuit including an oscillating coil, and a differential circuit for changing an oscillating state according to a detection signal of an object such that a distance Loff for detecting an object separation is longer than a distance Lon for detecting an object approach. A sensitivity adjustment circuit that adjusts the sensitivity by switching the feedback current of the oscillation circuit, a switch control unit that adjusts the sensitivity of the oscillation circuit by outputting a switch signal to the sensitivity adjustment circuit, and an output of the oscillation circuit. A detection circuit for detecting, a signal processing means for determining the presence or absence of an object by oscillation or its stop based on the output of the detection circuit, a teaching switch for inputting a teaching state,
And the hysteresis circuit has a plurality of hysteresis widths that are differences between the distances Lon and Loff.
It is intended to vary the floor, the switch control means, continuously from highest oscillation starting state of the adjustment range the feedback current when the teaching switch in a state that should not detect the object is turned until the oscillation stops To detect the feedback current I (N1) when the oscillation is stopped, and to sequentially increase the feedback current from the value in the oscillation stopped state to detect the feedback current I (N2) when the oscillation is started. When the teaching switch is turned on in the state of being brought close to the position to be detected, the feedback current is continuously changed from the oscillation start state to the oscillation stop state with the largest adjustable range, and the feedback current I ( Second feedback current updating means for detecting N3) and the feedback current I detected by the second feedback current updating means.
If (N3) is smaller than I (N2),
By reducing the hysteresis width, the second feedback current update procedure
Repeat the process at the stage to newly update the second feedback current
The feedback current I (N3) detected by the means is I (N2)
Third anomaly detection means for detecting inability to set when the size is too small
And the feedback current I (B) is set to an intermediate value between I (N2) and I (N3) detected by the second feedback current updating means when no abnormality is detected by the third abnormal state detecting means. A proximity switch having a second sensitivity setting means.
【請求項2】 前記第2の帰還電流更新手段により帰還
電流を最大値としたときに発振が開始しない状態を判別
する第1の異常検出手段を有することを特徴とする請求
記載の近接スイッチ。
2. The proximity according to claim 1, further comprising: first abnormality detecting means for determining a state where oscillation does not start when the feedback current is maximized by the second feedback current updating means. switch.
【請求項3】 前記第2の帰還電流更新手段において帰
還電流を最小状態に変化させるまでに発振が停止しない
ときの異常を判別する第2の異常検出手段と、を有する
ことを特徴とする請求項1又は2記載の近接スイッチ。
3. A second abnormality detecting means for determining an abnormality when oscillation is not stopped before the feedback current is changed to the minimum state in the second feedback current updating means. The proximity switch according to Item 1 or 2 .
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